JP2014066707A - トリガされた波形記録セグメントを表示する方法及びシステム - Google Patents
トリガされた波形記録セグメントを表示する方法及びシステム Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】非周期的トリガ・イベントを含む完全な波形記録のセグメントを表示できるオシロスコープの形式をある装置がとることができる。記録内の異常の視覚的検出を援助するために、これらセグメントは、互いに垂直及び水平にオフセットされて表示できる。減衰又は時間経過した波形のセグメントも同時に表示できる。
【選択図】図2
Description
なる。
E = Sx.Sy. δ.(xaE. yaE a + xbE. YbE b + …)
ここで、出力ピクセルEと重なる全ての入力ラスタ・ピクセルa、b、・・・に対して加算を実行する。累積された輝度を空間低減係数により低減して、同じ全体輝度を維持する(減衰のない場合)ことに留意されたい。
2 アナログ・デジタル変換器
3 インタフェース経路
4 取込みセクション
4a 取込みメモリ
5 プロセッサ
5a プログラム・メモリ
5b 実行可能なプログラム(命令)
6 入力セクション
7 表示セクション
8 インタフェース・セクション
9 入力経路
40 インタフェース
41 ユーザ・インタフェース表示部分
42 水平位置制御キー
43 垂直位置制御キー
44 時間スケール制御キー
45 オフセット制御キー
46 汎用キー
47 ズーム・キー
Claims (9)
- 第1非周期的トリガ・イベントを含む第1波形記録セグメントを表示することと、
第1イベントと時間軸で整合され、可変経過時間期間だけ上記第1イベントから分離された次の非周期的トリガ・イベントを含み、上記第1波形記録セグメントから垂直及び水平にオフセットされた次の波形記録セグメントを表示することとを具え、
トリガされた波形記録を表示する方法。 - 複数のトリガ・イベントを含む蓄積された第1波形記録から上記第1イベントを識別することと、
識別した上記第1イベントを含む上記第1波形記録セグメントを表す第1イメージ・データを発生することと、
上記可変経過時間期間だけ上記第1イベントから分離している次のイベントを、蓄積された上記第1波形記録から識別することと、
識別された上記次のイベントを含む次の波形記録セグメントを表す次のイメージ・データを発生することと
を更に具えた請求項1の方法。 - 上記第1イメージ・データに基づいて第1表示部分に上記第1波形記録セグメントを表示すると同時に、上記第1表示部分から垂直及び水平にオフセットされた次の表示部分に上記次の波形記録セグメントを表示することを更に具え、上記次のイメージ・データに基づいて上記次のイベントが上記第1イベントに時間軸上で整合している請求項2の方法。
- 第1可変イメージを有する波形の第1減衰セグメントを表示することと、
上記第1可変イメージと異なる第2可変イメージを有し、上記第1減衰セグメントから垂直及び水平にオフセットされた波形の次の減衰セグメントを同時に表示することとを具え、
波形のセグメントを表示する方法。 - 各セグメント内の非周期的トリガ・イベントが同じ時間軸上で整合し、各非周期的トリガ・イベントが可変経過時間期間だけ分離するように上記第1及び次のセグメントを表示することを更に具える請求項4の方法。
- 実行可能な命令を蓄積するプログラム・メモリと、
上記メモリ内に蓄積された上記命令をアクセスし実行して、第1非周期的トリガ・イベントを含む第1波形記録セグメントを表示すると共に、第1イベントと時間軸上で整合し、可変経過時間期間だけ上記第1イベントから分離された次の非周期的トリガ・イベントを含み、上記第1波形記録セグメントから垂直及び水平にオフセットされた次の波形記録セグメントを表示するプロセッサとを具え、
トリガされた波形記録セグメントを表示するシステム。 - 上記プロセッサは、上記メモリ内に蓄積された上記命令をアクセスし実行するように更に動作可能であり、
複数のトリガ・イベントを含む蓄積された第1波形記録から上記第1イベントを識別し、
識別した上記第1イベントを含む上記第1波形記録セグメントを表す第1イメージ・データを発生し、
上記可変経過時間期間だけ上記第1イベントから分離している上記次のイベントを、蓄積された上記第1波形記録から識別し、
上記識別した次のイベントを含む上記次の波形記録セグメントを表す次のイメージ・データを発生する
請求項8のシステム。 - 実行可能な命令を蓄積するプログラム・メモリと、
上記メモリ内に蓄積された上記命令をアクセスし実行して、第1可変イメージを有する波形の第1減衰セグメントを表示すると共に、上記第1可変イメージと異なる第2可変イメージを有し、上記第1減衰セグメントから垂直及び水平にオフセットされた波形の次の減衰セグメントを同時に表示するプロセッサとを具え、
波形のセグメントを表示するシステム。 - 上記第1及び次のセグメントが非周期的波形記録から導出され、上記プロセッサは、更に、上記メモリ内に蓄積された上記命令をアクセスし実行して、各セグメント内の非周期的トリガ・イベントが同じ時間軸で整合し、各非周期的トリガ・イベントが可変経過時間期間だけ分離するように、上記第1及び次のセグメントを表示する請求項8のシステム。
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---|---|---|---|---|
JP6058243B1 (ja) * | 2015-03-19 | 2017-01-11 | 三菱電機株式会社 | 波形表示装置、波形表示方法及び波形表示プログラム |
US10365300B2 (en) * | 2016-02-05 | 2019-07-30 | Tektronix, Inc. | Trigger on final occurrence |
NL2023521B1 (en) | 2019-07-17 | 2021-02-23 | Procentec B V | A method, a diagnosing system and a computer program product for diagnosing a fieldbus type network |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003114240A (ja) * | 2001-06-07 | 2003-04-18 | Agilent Technol Inc | 測定データの検分方法および表示装置 |
JP2004085501A (ja) * | 2002-08-29 | 2004-03-18 | Hioki Ee Corp | 波形記録装置 |
US20040102910A1 (en) * | 2002-11-22 | 2004-05-27 | Letts Peter J. | Methods for displaying jitter and other anomalies in long acquisition data records |
US20050131974A1 (en) * | 2003-12-12 | 2005-06-16 | Letts Peter J. | Method and apparatus for identifying similar events in long data records |
JP2005527836A (ja) * | 2002-05-28 | 2005-09-15 | レクロイ コーポレーション | 順次表示 |
US20050234670A1 (en) * | 2004-04-20 | 2005-10-20 | Hagen Michael S | Three-dimensional correlated data display |
WO2005121814A1 (en) * | 2004-06-07 | 2005-12-22 | Zeroplus Technology Co., Ltd. | Logic analyzer and method of analyzing waveform data using the same |
US20090195536A1 (en) * | 2008-02-04 | 2009-08-06 | Justin Ralph Louise | System for three-dimensional rendering of electrical test and measurement signals |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5361776A (en) | 1993-08-06 | 1994-11-08 | Telectronics Pacing Systems, Inc. | Time domain reflectometer impedance sensor method of use and implantable cardiac stimulator using same |
US6163758A (en) * | 1998-06-05 | 2000-12-19 | Tektronix, Inc. | Detection of unusual waveforms |
US6333732B1 (en) * | 1998-06-05 | 2001-12-25 | Tektronix, Inc. | Multi-function digital persistence decay |
US6188384B1 (en) * | 1998-06-05 | 2001-02-13 | Tektronix, Inc. | Reacting to unusual waveforms |
US6947043B1 (en) * | 2000-03-27 | 2005-09-20 | Tektronix, Inc. | Method of operating an oscilloscope |
US6980212B2 (en) * | 2001-04-17 | 2005-12-27 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for computing thresholds for identification of waveform anomalies |
US6807496B2 (en) * | 2002-05-02 | 2004-10-19 | Tektronix, Inc. | Acquisition system for a long record length digital storage oscilloscope |
US6748335B2 (en) | 2002-05-06 | 2004-06-08 | Tektronix, Inc. | Acquisition system for a multi-channel relatively long record length digital storage oscilloscope |
JP2005069859A (ja) * | 2003-08-25 | 2005-03-17 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置及び波形表示装置 |
US7359810B2 (en) * | 2005-03-18 | 2008-04-15 | Tektronix, Inc. | Characterizing newly acquired waveforms for identification of waveform anomalies |
JP4955303B2 (ja) * | 2006-03-23 | 2012-06-20 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | デジタル信号分析プログラム及び波形表示装置 |
US8131489B2 (en) * | 2006-10-27 | 2012-03-06 | Tektronix, Inc. | Long data record analysis |
US8046183B2 (en) * | 2008-03-04 | 2011-10-25 | Tektronix, Inc. | Pre-trigger and post-trigger acquisition for no dead time acquisition system |
US8161497B2 (en) * | 2008-03-26 | 2012-04-17 | Tektronix, Inc. | Holdoff algorithm for no dead time acquisition |
US7855547B2 (en) * | 2008-04-17 | 2010-12-21 | Tektronix, Inc. | Drawing waveforms in no dead time acquisition system |
CN201622296U (zh) * | 2010-04-08 | 2010-11-03 | 佛山市三水区三水中学 | 全音频数字存储示波器 |
-
2012
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-
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003114240A (ja) * | 2001-06-07 | 2003-04-18 | Agilent Technol Inc | 測定データの検分方法および表示装置 |
JP2005527836A (ja) * | 2002-05-28 | 2005-09-15 | レクロイ コーポレーション | 順次表示 |
JP2004085501A (ja) * | 2002-08-29 | 2004-03-18 | Hioki Ee Corp | 波形記録装置 |
US20040102910A1 (en) * | 2002-11-22 | 2004-05-27 | Letts Peter J. | Methods for displaying jitter and other anomalies in long acquisition data records |
US20050131974A1 (en) * | 2003-12-12 | 2005-06-16 | Letts Peter J. | Method and apparatus for identifying similar events in long data records |
US20050234670A1 (en) * | 2004-04-20 | 2005-10-20 | Hagen Michael S | Three-dimensional correlated data display |
WO2005121814A1 (en) * | 2004-06-07 | 2005-12-22 | Zeroplus Technology Co., Ltd. | Logic analyzer and method of analyzing waveform data using the same |
US20090195536A1 (en) * | 2008-02-04 | 2009-08-06 | Justin Ralph Louise | System for three-dimensional rendering of electrical test and measurement signals |
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