JP2015159494A - 信号処理装置および信号処理方法 - Google Patents

信号処理装置および信号処理方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2015159494A
JP2015159494A JP2014034236A JP2014034236A JP2015159494A JP 2015159494 A JP2015159494 A JP 2015159494A JP 2014034236 A JP2014034236 A JP 2014034236A JP 2014034236 A JP2014034236 A JP 2014034236A JP 2015159494 A JP2015159494 A JP 2015159494A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
signal processing
processing unit
transition
display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014034236A
Other languages
English (en)
Inventor
圭一 吉冨
Keiichi Yoshitomi
圭一 吉冨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP2014034236A priority Critical patent/JP2015159494A/ja
Publication of JP2015159494A publication Critical patent/JP2015159494A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】被測定信号のコンスタレーション表示上で、所望のシンボル点の時間的な先後におけるそのシンボル点の推移を容易に把握することができるように表示する。
【解決手段】信号処理装置100は、被測定対象物からの被測定信号Sに対し所定の解析処理を行う解析処理部40bと、解析処理部によって所定の解析処理をした結果を表示装置に表示するための表示装置制御部40aと、解析処理部によって所定の解析処理をした結果が位相および振幅からなる複数のシンボル点を含むダイアグラムとして表示される場合、タッチセンサまたは操作部によって表示装置に表示された所望のシンボル点が選択されると、選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるように処理するグラフ表示処理部40cとを備える制御装置40を有する。
【選択図】図2

Description

本発明は、シグナルアナライザなどの信号処理装置および信号処理方法に関する。
例えば、携帯電話装置や無線通信装置等の測定対象物から出力される被測定信号に対し、指定された周波数範囲を掃引しながら指定された分析帯域幅で各周波数の振幅値を検出し、この検出値から信号波形、スペクトラム等の画像情報を生成して表示装置に表示して測定信号の解析を行うために信号処理装置が利用されている。
そのような信号処理装置にデジタル無線アプリケーションソフトウェアを組み込むことにより、被対象物の被測定信号のEVM、CCDF等のデジタル変調信号の波形品質評価を行うことができる。
例えば、そのように機能する信号処理装置は、被測定信号を時間領域のIおよびQのデジタルデータに変換し、これからFFT演算によって周波数領域のデジタルデータを生成することができる。この得られたデータは、信号処理装置の表示画面上に波形や数値として表示される。
例えば、信号処理装置は、複素座標上にデジタル変調信号の被測定信号のシンボル点を表示するコンスタレーション表示を表示することができる。
このとき、雑音が少ない場合には、理想シンボル点の位置に、測定したシンボル点がほぼ集まって表示される。
一方、雑音が多い場合には、測定したシンボル点は、理想シンボル点の位置からずれた位置に多数表示される。このように、デジタル変調信号である被測定信号をコンスタレーション表示して品質を評価することができる。
しかし、隣接する理想シンボル点の位相差が小さい場合、わずかでも雑音があると、測定したシンボル点が、隣接するシンボル点同士が接近して混在して表示され、取り得る位相が多数あるデジタル変調信号のとき、ユーザがそのコンスタレーション表示を見ても、被測定信号の品質を評価することが困難になってしまうことがあった。
このため、デジタル変調信号の被測定信号の理想シンボル点が取り得る数の理想位相に、その数より少ない数のグループ別位相を割り当て、被測定信号のシンボル点の位相と理想位相の位相差をシンボル点の理想位相に割り当てられたグループ別位相に加え、シンボル点の振幅とによりコンスタレーション表示を行い、このとき、隣接するグループ別位相の位相差を十分に大きくすることによって、各シンボル点の誤差をコンスタレーション表示に反映しつつ、隣接シンボル点間の位相差が小さすぎることによる誤差の見難さを解消する信号処理装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許第4512835号(特開2009−272831号公報)
例えば特許文献1に記載の信号処理装置は、隣接するシンボル点が混ざり合って見難いことがあったということに対し、表示上シンボル点同士を引き離すように機能するため、見易さを向上している。
しかし、そのような従来技術は、表示上シンボル点が混雑している場合に各シンボル点を見易くすることには対応できたが、所望のシンボル点の時間的な先後におけるそのシンボル点の推移をコンスタレーション上で容易に把握できるようにすることには対応できていない。
本発明は、上述のような課題に鑑みてなされたもので、被測定信号のコンスタレーション表示上で、所望のシンボル点の時間的な先後におけるそのシンボル点の推移を容易に把握することができるように表示する信号処理装置および信号処理方法を提供することを目的とする。
本発明の請求項1に係る信号処理装置(100)は、測定対象物(DUT)からの被測定信号(S)に対して所定の信号処理を施す信号処理部(10)と、タッチセンサ(32a)を備える表示装置(30)と、操作部(50)と、前記信号処理部から所定の信号処理がされた被測定信号が入力されると、前記被測定信号に対し所定の解析処理を行う解析処理部(40b)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果を前記表示装置に表示するための表示装置制御部(40a)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果が位相および振幅からなる複数のシンボル点を含むダイアグラムとして表示される場合、前記タッチセンサまたは前記操作部によって前記表示装置に表示された所望のシンボル点が選択されると、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるように処理するグラフ表示処理部(40c)とを備える制御装置(40)とを備える。
この構成により、本発明の請求項1に係る信号処理装置(100)によると、被測定信号のコンスタレーション表示上で、所望のシンボル点の時間的な先後におけるそのシンボル点の推移を容易に把握することができるように表示が可能になる。
本発明の請求項2に係る信号処理装置において、前記制御装置の前記解析処理部は、ベクトル変調解析を実行してデジタル変調された被測定信号のコンスタレーションおよびアイダイアグラムを生成し、コンスタレーションが、前記シンボル点間を遷移する間のパワーレベルおよび位相を示し、アイダイアグラムが、同相成分および直交成分における前記シンボル点間を遷移する間の経時変化を表すように構成されている。
この構成により、本発明の請求項2に係る信号処理装置は、被測定信号のコンスタレーションおよびアイダイアグラムの表示上で、所望のシンボル点の時間的な先後におけるそのシンボル点の推移を容易に把握することができるように表示する。
本発明の請求項3に係る信号処理装置において、前記制御装置の前記解析処理部は、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムと他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムとを表す線の色、太さ、種別を異ならせることによって、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるようにするように構成されている。
この構成により、本発明の請求項3に係る信号処理装置によると、選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムからさまざまな方法で識別できるようになる。
本発明の請求項4に係る信号処理装置において、前記制御装置の前記解析処理部は、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果として位相および振幅からなる複数のシンボル点間の補間データを算出するように構成されている。
この構成により、本発明の請求項4に係る信号処理装置によると、選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるようになる。
本発明の請求項5に係る信号処理方法は、測定対象物(DUT)からの被測定信号(S)に対して所定の信号処理を施す信号処理部(10)と、タッチセンサ(32a)を備える表示装置(30)と、操作部(50)と、前記信号処理部から所定の信号処理がされた被測定信号が入力されると、前記被測定信号に対し所定の解析処理を行う解析処理部(40b)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果を前記表示装置に表示するための表示装置制御部(40a)と、グラフ表示処理部(40c)とを備える制御装置(40)とを備える信号処理装置によって実行される信号処理方法であって、前記解析処理部が、所定の解析処理をした結果の位相および振幅からなる複数のシンボル点を含むダイアグラムを表示するステップ(ステップS14)と、前記グラフ表示処理部(40c)が、前記タッチセンサまたは前記操作部によって前記表示装置に表示された所望のシンボル点が選択されたか否かを判断するステップ(ステップS15)と、前記グラフ表示処理部(40c)が、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるように処理するステップ(ステップS16)とを含む。
この構成により、本発明の請求項5に係る信号処理方法によると、被測定信号のコンスタレーション表示上で、所望のシンボル点の時間的な先後におけるそのシンボル点の推移を容易に把握することができるように表示することができるようになる。
本発明によると、被測定信号のコンスタレーション表示上で、所望のシンボル点の時間的な先後におけるそのシンボル点の推移を容易に把握することができるように表示する信号処理装置および信号処理方法を提供することができる。
本発明の実施の形態に係る信号処理装置の外観の簡略化した構成を示す図である。 本発明の実施の形態に係る信号処理装置の構成を含む機能ブロック図である。 本発明の実施の形態に係る信号処理装置の表示装置に表示された、被測定対象物の被測定信号のコンスタレーションのシンボル点間の補間を行ったグラフの一例を示す図である。 本発明の実施の形態に係る信号処理装置の表示装置に表示された、被測定対象物の被測定信号のアイパターングラフの一例を示す図である。 本発明の実施の形態に係る信号処理装置の表示装置に表示された、被測定対象物の被測定信号のコンスタレーションのシンボル点間の補間を行ったグラフの一例を示す図である。この図では所望のシンボル点上にマーカを配置している。 図5においてマーカで示しているシンボル点の所定の時間間隔内の推移を強調して示す図である。 本発明の実施の形態に係る信号処理装置の表示装置に表示された、被測定対象物の被測定信号のコンスタレーションのシンボル点間の補間を行ったグラフの一例を示す図である。この図では、図5に示すグラフ上のシンボル点とは異なるシンボル点上にマーカを配置している。 図7においてマーカで示しているシンボル点の所定の時間間隔内の推移を強調して示す図である。 本発明の実施の形態に係る信号処理装置の表示装置に表示された、被測定対象物の被測定信号のアイパターングラフの一例を示す図である。この図ではグラフ上の所望の位置にマーカを配置している。 図9においてマーカで示しているグラフ上の位置を通るシンボル点の所定の時間間隔内の推移を強調して示す図である。 本発明の実施の形態に係る信号処理装置の表示装置に表示された、被測定対象物の被測定信号のアイパターングラフの一例を示す図である。この図では、図9に示すグラフ上の位置とは異なる位置にマーカを配置している。 図11においてマーカで示しているグラフ上の位置を通るシンボル点の所定の時間間隔内の推移を強調して示す図である。 グラフ表示処理部におけるグラフ表示処理の一例に係るフローチャートである。
以下、本発明の実施の形態に係る信号処理装置および信号処理方法について、図面を参照しながら説明する。
なお、図面の理解の容易さの観点から、図面において、信号波形は、実際の測定値ではなく、抽象化もしくは簡略化したもの、または観念的に表したものである。
本発明の実施の形態に係る信号処理装置は、概略を説明すると、例えば、携帯電話装置や基地局などの検査対象物(Device Under Test;DUT)の設計時に作成されたテストパターンに基づいて検査対象物を測定した被測定信号の解析処理を行うためのものである。
ここで、図2に示すDUT1は、検査対象物で、例えば、LTE、LTE−Advanced、WCDMA(登録商標)、cdma2000、PDC、PHS、IEEE802.11a、IEEE802.11b、IEEE802.11g、IEEE802.11n、IEEE802.11acの通信規格を採用する携帯電話装置や基地局などである。
本発明の実施の形態に係る信号処理装置は、例えば、被測定信号Sに対し所定の処理ソフト(スペクトラムアナライズソフトウェア)を用いて所望の周波数スペクトラム波形となるグラフを生成することができる。
本発明の実施の形態に係る信号処理装置は、さらに、その周波数スペクトラム波形のパターン認識処理を行って信号成分を分離させた後、信号成分の中心周波数、信号帯域幅、入力電力値などをパラメータとして、変調システム(通信方式)に応じて特定される解析ソフト(変調システム解析ソフトウェア)に基づいて解析処理を行うことができる。
本発明の実施の形態に係る信号処理装置は、これにより、被測定信号Sの劣化の割合を示す変調精度、キャリア周波数、送信電力や規格値とのマッチングの程度などを判別することができるものである。
具体的に説明すると、図1に、本発明の実施の形態にかかる信号処理装置100の簡略化した外観構成を示す。
信号処理装置100は、手前側のフロントパネルに、各種のキーを備えるパネル部分110を備える。さらに、その信号処理装置100の手前側のフロントパネルには、図1に示すように、表示装置30を組み込むことができる。
また、信号処理装置100は、後述するように、筐体の内部に、信号処理部10(図2)、制御装置40(図2)等を備える。
信号処理装置100のパネル部分110は、電源スイッチ、主機能の設定、実行のためのファンクションキー、ファンクションキーを選択・実行するためのキーを備える。
また、信号処理装置100のパネル部分110は、表示項目の選択や設定の変更のためのロータリノブ・カーソルキー・Enterキー・Cancelキー、シフトキー、テンキー等の切り替えスイッチ類も備える。
また、パネル部分110は、リモート制御状態のときに点灯するリモートランプ、RF信号を入力するためのRF入力コネクタ、USBメモリやUSBタイプのキーボードやマウスを接続するためのUSBコネクタ等も備える。
表示装置30は、信号処理装置100に、例えば取り外し自在に取り付けられている。
表示装置30は、信号処理装置100の被測定信号Sの解析内容に応じて、例えば、図1に示すように、表示画面の右上に、被測定信号Sの解析区間の波形をIQ座標のコンスタレーションとして表示し、表示画面の右下に、被測定信号Sの解析区間の1/8シンボル点ごとのI相およびQ相の正規化した振幅をアイダイアグラムとして表示し、表示画面の左上には被測定信号Sの変調解析の数値結果を表示し、表示画面の左下には被測定信号Sの解析区間の波形のスペクトラムをグラフとして表示することができる。
図2は、本発明の実施の形態に係る信号処理装置100の機能ブロック図である。図2に示すように、信号処理装置100は、信号処理部10、制御装置40、操作部50および表示装置30を備える。
ただし、使用の際の便宜に応じるため、表示装置30を信号処理装置100に組み込まず、別体の携帯情報端末装置を表示装置30として用いるようにしてもよい。
測定対象物のDUT1と信号処理部10とは同軸ケーブルで接続されている。ただし、それらを無線通信で接続してもよい。
信号処理部10は、ATT(アッテネータ;減衰器)11、局部発振器(local oscillator;LO)12、周波数混合器(MIX)13、増幅器14、IF(intermediate frequency;中間周波)フィルタ15、IF増幅器16、検波器17、ビデオ・フィルタ(Video Band Width;VBW)18、増幅器19、ADC(アナログ・デジタル・コンバータ)20、掃引部21、および、ADC22を備える。
ATT11は、内部に抵抗を有し、DUT1からの高周波の被測定信号Sを信号分析可能で測定に影響を与えない最適なミキサ入力レベル(例えば、デシベル)に減衰させるためのもので、インピーダンスを変化させない電子部品である。
局部発振器12は、ローカル信号として、元の被測定信号Sの周波数の値よりも変換先の周波数の値の分だけ高い周波数あるいは低い周波数の正弦波を発生させるものである。局部発振器12から発振されるローカル信号は、掃引部21から出力される掃引ランプ信号により所定の周波数範囲にわたって掃引される。
周波数混合器13は、ヘテロダイン式のスペクトラムアナライザの特徴的な構成要素で、ATT11で減衰された被測定信号Sと局部発振器12から発振されたローカル信号とを混合し、2つの信号の和および差の周波数成分を含む出力信号を生成するものである。
この周波数混合器13からは、掃引動作に同期して変化する中間周波数を含む周波数信号である中間周波数信号が出力される。
このように、測定の対象とする周波数(ATT11で減衰された被測定信号Sの周波数)に合わせて、局部発振器12の発振周波数を調整することにより、つまり、測定の対象とする周波数から予め決めた分だけ離れた周波数に設定することにより、測定の対象とする周波数の近傍のスペクトラムを予め決めた固定の周波数(中間周波数;IF)の近傍にコピーしたような信号を得ることができる。
増幅器14は、周波数混合器13からの中間周波数信号を増幅してIFフィルタ15に出力するものである。
IFフィルタ15は、本実施の形態の場合、アナログのバンドパス・フィルタなどで構成されるRBW(Resolution Band Width)フィルタおよび対数増幅器(ログアンプ)によって構成されている。
周波数混合器13からの出力には、測定の対象とする周波数の近傍のスペクトラムに対応する信号成分が中間周波数を中心として現れる。このため、その出力をIFフィルタ15のようにRBWフィルタのような中心周波数が固定の帯域通過フィルタを通すことによって、その周波数の近傍の所定の測定周波数範囲の信号成分を取り出すことができる。
測定周波数範囲は、IFフィルタ15の中心周波数と局部発振器12から発振されるローカル信号の周波数範囲とによって決定される。
IFフィルタ15は、周波数混合器13によって被測定信号Sとローカル信号とを混合させた中間周波数信号がIFフィルタ15の中心周波数の所定の範囲内にあるときに、増幅器14で増幅された中間周波数信号を出力する。
また、IFフィルタ15は、対数増幅器(ログアンプ)を備えている。対数増幅器(ログアンプ)は、被測定信号Sの対数に対応する増幅信号を出力する増幅器なので、このようなIFフィルタ15に被測定信号Sを通過させると、被測定信号Sを対数圧縮した大きなダイナミック・レンジの信号として一括して扱うことができるようになる。
このため、信号処理装置100は、リニアな表示デバイスを用いてデシベルに対応した表示を行うことができるようになる。
本実施の形態においては、周波数混合器13から出力される中間周波数信号が掃引動作に同期して変化する。このため、その変化に応じて、IFフィルタ15によって、1掃引時間(掃引期間)内において、時間経過とともに中間周波数信号に変換された被測定信号Sの各周波数成分における時系列波形である信号が抽出される。
IF増幅器16は、設定される利得に応じてIFフィルタ15から出力される信号の振幅レベルを制御する。これにより、IF増幅器16の利得を変化させると、後述する表示装置30の表示パネル31の信号表示部31aにグラフ化されて表示される信号(周波数スペクトラム波形)の振幅レベルを変化させることができる。
検波器17は、IFフィルタ15で抽出されて、IF増幅器16で振幅レベルが変化された信号を直流に変換する構成要素であり、スペクトラムアナライザとしては、主として包絡線検波器が用いられている。
検波器17は、IF増幅器16から出力されたアナログの周波数スペクトラム波形における各時間軸位置のピーク値を検出し、包絡線検波された状態の最終的な周波数スペクトラム波形を出力する。
検波器17によって掃引期間内において検波された信号は、掃引された周波数における時系列波形の大きさを示す。この場合、表示パネル31における信号表示部31aにおいて、横軸を周波数、縦軸を振幅レベル(デシベル)としてグラフを表示すると、その表示されるグラフは周波数スペクトラム波形になる。
ビデオ・フィルタ18は、ビデオ帯域幅(VBW)フィルタであり、検波器17によって検波された信号のスペクトラムに対してではなく、検波された信号の時間変動に対するフィルタとして機能する。この機能により、ビデオ・フィルタ18は、被測定信号Sの周波数ごとの強度を求め、周波数スペクトラム波形を表示するための映像信号を出力する。
増幅器19は、ビデオ・フィルタ18から入力される映像信号を増幅した後、ADC20に出力する。
ADC20は、増幅器19からの増幅された映像信号をIおよびQのデジタルデータ(時間領域データ)に変換し、その変換したデータを、表示装置30で所定のグラフ表示を行うために制御装置40に出力する。
掃引部21は、局部発振器12から発振されるローカル信号を所定の周波数範囲にわたって掃引させるための掃引ランプ信号を生成するもので、掃引ランプ信号の生成を、設定される掃引時間に応じて制御するものである。
ADC22は、掃引部21において生成される掃引ランプ信号をデジタルデータに変換して制御装置40に出力する。
これにより、制御装置40では、ADC22からのデジタルデータを基準として、掃引部21における掃引ランプ信号を生成するための掃引期間などを制御する。
制御装置40は、ROM42に格納されているプログラムを読み込んで所定の動作を行うため、表示装置制御部40a、解析処理部40b、グラフ表示処理部40cを備える。
表示装置制御部40aは、表示装置30の表示を制御するためのもので、解析処理部40bは、測定対象物のDUT1からの被測定信号Sに対しユーザ所望の解析処理を行うためのものである。
また、解析処理部40bは、ベクトル変調解析を実行してデジタル変調された被測定信号のベクトルダイアグラムおよびアイダイアグラムを生成し、ベクトルダイアグラムが前記シンボル点が遷移する間のパワーレベルを示し、アイダイアグラムが、同相成分および直交成分における前記シンボル点の経時変化を表すように構成されている。
グラフ表示処理部40cは、例えば、被測定信号Sの時間領域のIおよびQのデジタルデータに変換された信号に基づいて、表示装置30の信号表示部31aに、デジタル変調信号の被測定信号Sのシンボル点を表示するコンスタレーションを表示する。
その際に、グラフ表示処理部40cは、マーカを表示するとともに、マーカによって示したグラフ上の所望の位置を通過するシンボル点の時間間隔内の推移を特定して、そのシンボル点の時間間隔内の推移を強調して表示できるように処理を行う。
制御装置40には、RAM(ランダム・アクセス・メモリ)41、格納手段としてのROM(リード・オンリ・メモリ)42が接続されている。
表示装置30は、表示パネル31とタッチパネル32とを備えている。表示パネル31は、例えば、制御装置40からの映像信号を表示する信号表示部31aと、所定の画像を表示する画像表示部31bとを備えている。
タッチパネル32は、信号表示部31aおよび画像表示部31bに対応して設けられ、ユーザ(信号処理装置100の操作者)によるタッチ操作を検知するタッチセンサ32aを備えている。
本実施の形態において、表示装置30の表示パネル31は、例えば、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display)やELディスプレイ(Electroluminescence Display)などの、フラットパネル・ディスプレイを用いて構成されている。
また、タッチパネル32としては、例えば、人体の一部(指先など)や静電ペンなどの接触を検知して、その検知信号を制御装置40に出力する静電容量方式のものを用いることができる。
それに代えて、ペン先などの堅い物質の接触を検知して、その検知信号を制御装置40に出力する方式のものや、その他の方式(例えば、LCDパネル内にタッチパネルを内蔵するイン・セル型やオン・セル型の構造)のものであってもよい。
表示装置30において、表示パネル31の信号表示部31aに制御装置40から映像信号が入力されると、被測定信号Sの周波数軸上の強度を周波数ドメイン(横軸を周波数、縦軸を振幅レベル)とする、周波数スペクトラム波形のグラフを表示することができる。
このグラフは、後述するスペクトラムアナライズソフトウェア(以下、単にアナライズソフトと記す)による所定のアナライズ処理の結果の一態様である。
さらに、信号表示部31aには、被測定信号Sの選択した信号成分に対する解析処理のための各処理パラメータ(少なくとも、中心周波数、信号帯域幅、および、入力電力値)や、変調システム解析ソフトウェアの変調システムをリストとして表示することができる。
表示パネル31の画像表示部31bには、例えば、図1に示す表示装置30の右端に表示されているファンクションメニューF1からF8や設定値を入力するためのキーボードが表示される。
タッチパネル32は、信号表示部31aに表示されるグラフや画像表示部31bに表示されるファンクションメニューやキーボードなどに対応する位置情報を検知信号として制御装置40に出力する。
タッチパネル32に設けられるタッチセンサ32aが、例えばマトリックス状に配設されたものであれば、タッチパネル32から出力される位置情報は、タッチ位置の行方向の番地と列方向の番地との組み合わせからなる数ビットのデジタルデータとなる。
後述のとおり、タッチパネル32上でのタッチ操作によって、コンスタレーション上の任意のシンボル点やアイダイアグラムの任意の位置を選択することができる。
このように、本実施の形態においては、表示されているグラフ上の任意の位置をタッチすることによって、解析処理の対象となる信号成分の選択を行うことができる。これにより、解析処理の対象となる信号成分選択を表示画面のタッチ操作のみによって行うことができるため、ユーザの直感的な操作が可能となる。
RAM41は、制御装置40の制御動作のための作業エリアとして使用され、または、例えば一時的な記憶手段としても使用されるものである。
ROM42は、被測定信号Sに所定の信号処理を施すためのプログラムを記憶するとともに、このプログラムの実行に伴って処理が制御される解析ソフトなどを格納している。
解析ソフトは、信号処理装置100の各構成要素(11〜22,40など)および表示装置30を動作させて、表示装置30の表示パネル31の表示画面に、測定の対象となる被測定信号Sを周波数と入力電力値(振幅レベル)とのスペクトラムとして、グラフにより表示するためのアプリケーションである。
また、解析ソフトは、信号処理装置100の各構成要素(11〜22,40など)および表示装置30を動作させることによって、被測定信号Sの所定の信号成分に対して所定の解析処理を施すためのアプリケーションでもある。例えば、測定の対象となる被測定信号Sを周波数と入力電力値(振幅レベル)とのスペクトラムとして、信号表示部31aにグラフにより表示することができる。
解析ソフトは、被測定信号Sのスペクトラムから選択された信号成分の少なくとも中心周波数、信号帯域幅および中心周波数と信号帯域幅から特定される測定対象物のDUT1の通信方式(変調システム)ごとに複数用意されている。
操作部50は、例えば、信号処理装置100を操作するためのもので、電源の投入時、測定の開始時、設定などのためにユーザによって操作されるものである。操作部50は、ユーザの操作に応じて、例えば、信号表示部31aに表示された信号成分を選択する際に用いることもできる。
図3は、被測定信号Sの解析区間の波形をIQ座標のコンスタレーションとして表示したものである。つまり、図3は、被測定信号Sのデジタル変調によるデータ信号を2次元の複素平面上に表現した図である。
図3において、横軸は、同相軸で、縦軸は直角位相軸である。この図で示す複素平面は、両軸の0点を中心軸として信号の振幅および位相を示しており、0点からの距離が振幅を表し、0点からの角度が位相を表している。
図3では、デジタル変調の一例として8PSKの信号のコンスタレーションを示しており、8シンボル点S1からS8が円形状に配置されている。8PSKでは、1回の変調(1シンボル点)で3ビット伝送することができる。位相変化は8値である。
また、図3のコンスタレーションでは、補間データの算出を行ってシンボル点の推移も示している。
図4は、被測定信号Sの解析区間の1/8シンボル点ごとのI相およびQ相の正規化した振幅をアイダイアグラムとして示している。縦軸に、I相およびQ相の正規化した振幅を表しており、横軸は、時間軸で、2シンボル点間隔で表示している。
アイダイアグラムによると、物理層における信号障害が、振幅軸(ただし、図9〜図12に示すFSKの場合は、周波数軸)と時間軸の歪みとして観察することができ、歪みがあると、アイダイアグラムの開口部分が狭くなる。これにより、容易に信号の良否の判断を行うことができる。また、アイダイアグラムでアイ交差がシンボル点のライン以外にあるか否かから、シンボルタイミング回復が適正か否かを判断することができる。
図5は、図3に示すコンスタレーションと同様のコンスタレーションを示す。ここでは、シンボル点S1−S8を白抜きの記号に表すことによって概略の位置を明確にしている。
また、図5では、Marker(「マーカ」と称す)と表示された白抜きの矢印のカーソルMの矢印の先が、シンボル点S2の位置(IQ座標上の0.707,0.707)を指している。カーソルMは、例えば、操作部50のキーボードの操作によって移動させることができる。カーソルMの先端をシンボル点S2の位置に配置することによって、シンボル点S2が選択されることになる。
図6には、カーソルMによってシンボル点S2が選択されることによって、シンボル点S2の所定の時間間隔内における推移を表すダイアグラム上の推移t1、t2が、太線の破線によって強調されている状態を示す。
これにより、シンボル点S2の推移を明確に把握することができるようになる。
所定の時間間隔は、この実施の態様では、シンボル点S2の位置を通過する前の一定の時間からシンボル点S2を通過した後の一定の時間の推移であり、例えば、図6に示す実施の態様では、シンボル点S5からシンボル点S2までの推移t1と、シンボル点S2からシンボル点S7までの推移t2とにわたる時間間隔である。
また、それらの推移t1、t2は、他の推移を表す線から容易かつ明確に識別できるように表示されるようにするため、図6では、太線の破線で示しているが、その表示に代えて、線の種別を変えてその推移を実線で表し、その実線に、他の推移を表す実線から明確に識別できる色を付してもよい。
図7は、図5に示すコンスタレーションと同様のコンスタレーションを示す。ここでも、シンボル点S1−S8を白抜きの記号に表すことによってそれらの概略の位置を明確にしている。
また、図7では、Markerと表示された白抜きの矢印のカーソルMの矢印の先が、シンボル点S8の位置(IQ座標上の−0.707,0.707)を指している。カーソルMは、例えば、操作部50のキーボードの操作によって移動させることができる。カーソルMの先端をシンボル点S8の位置に配置することによって、シンボル点S8が選択されることになる。
図8には、カーソルMによってシンボル点S8が選択されると、シンボル点S8の所定の時間間隔におけるダイアグラム上の推移t11、t12が太線の破線として強調されている状態を示す。
これにより、シンボル点S8の推移を明確に把握することができるようになる。
所定の時間間隔は、この実施の態様では、シンボル点S8の位置を通過する前の一定の時間からシンボル点S8を通過した後の一定の時間の推移であり、例えば、シンボル点S5からシンボル点S8までの推移t11と、シンボル点S8からシンボル点S7までの推移t12とにわたる時間間隔である。
また、それらの推移t11、t12は、他の推移を表す線から容易かつ明確に識別できるように表示されるようにするため、図8では、太線の破線で示しているが、その表示に代えて、その推移を表す線を実線とし、その実線の色を他の推移を表す実線から明確に識別できるような色にしてもよい。
図9は、アイダイアグラム上の任意の位置p1をカーソルMの先端で指示している状態を示す。ここでは、理解の容易さのために、白抜きの円によって任意の位置p1を示している。
図10は、カーソルMで選択された任意の位置p1に関するシンボル点の推移t21、t22を太線の破線によって強調して示している。推移t21、t22は、2シンボル点間の推移である。
これにより、選択した位置p1の時間的に先後する所定の時間間隔のシンボル点の推移を明確に把握することができるようになる。
上記の推移t1、t2、t11、t12と同様に、他の推移を表す線から容易かつ明確に識別できるように表示されるようにするため、図10では、太線の破線で示しているが、その表示に代えて、その推移t21、t22を表す線を実線にし、その実線の色を他の推移を表す実線から明確に識別できるような色にしてもよい。
図11は、図10のアイダイアグラムと同様のアイダイアグラムを示す。図11では、図10の任意の位置p1と異なる位置p2をカーソルMの先端で指示している状態を示す。ここでも、理解の容易さのために、白抜きの円によって位置p2を示している。
図12は、カーソルMで選択された任意の位置p2の時間的に先後する所定の時間間隔のシンボル点の推移t31、t32を太線の破線によって強調して示している。推移t31、t32は、2シンボル点間の推移である。
これにより、選択した位置p2に関するシンボル点の推移を明確に把握することができるようになる。
上記の推移t1、t2、t11、t12、t21、t22と同様に、他の推移を表す線から容易かつ明確に識別できるように表示されるようにするため、図12では、推移t31、t32を太線の破線で示しているが、その表示に代えて、その推移を表す線を実線にし、その実線の色を他の推移を表す実線から明確に識別できる色にしてもよい。
図13は、制御装置40によるグラフ表示処理の一例に係るフローチャートである。
信号処理装置100にDUT1から被測定信号Sの入力があり、被測定信号Sが信号処理部10によって所定の処理が行われて制御装置40に入力されると、グラフ表示処理部40cは、まず、被測定信号Sの時間領域データを取得する(ステップS11)。
次に、グラフ表示処理部40cは、ユーザによって設定されたデジタル変調方式に応じてグラフや解析データの表示態様を決定する(ステップS12)。
次に、グラフ表示処理部40cは、被測定信号Sを復調して(ステップS13)、被測定信号Sの解析区間の波形を表示装置30の信号表示部31aに表示する(ステップS14)。この場合、ユーザによって設定されたデジタル変調方式に応じて、波形は、コンスタレーション表示であったり、アイダイアグラムであったりする。
グラフ表示処理部40cは、次に、ユーザが操作部50のキーボードやタッチパネル32によって、シンボル点やシンボル点の推移上の任意の位置を選択したか否かの判別を行う(ステップS15)。
グラフ表示処理部40cは、いずれのシンボル点の選択も行われない場合には、ステップS15の判別を所定の時間周期で繰り返す。
グラフ表示処理部40cは、例えばあるシンボル点の選択が行われた場合には、その選択されたシンボル点の所定の時間間隔における推移を表すダイアグラムを強調表示する(ステップS16)。例えば、推移を表すダイアグラムを太線の破線として表示する。この場合、設定により、太線の破線で表示するのに代えて、その推移を表す線の色を他の推移を表す線から明確に識別できる色にしてもよい。
時間間隔は、被測定信号の解析処理を行う場合に、例えば操作部50のキーボードによるユーザの入力によって任意に設定することができる。
上記の実施の態様では、シンボル点、任意の位置の選択を、操作部50のキーボードを用いて表示装置30の信号表示部31aに表示されているカーソルMを移動させることによって行った。これに代えて、シンボル点、任意の位置の選択を、信号表示部31a上に設けられているタッチパネル32のタッチセンサ32aに例えば指先で触れることによって、行ってもよい。
本発明は上記した実施の形態に限定されるものでなく、特許請求の範囲の技術的範囲には、発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々、設計変更した形態が含まれる。
1 DUT
10 信号処理部
30 表示装置
40 制御装置
40a 表示装置制御部
40b 解析処理部
40c グラフ表示処理部
41 RAM
42 ROM
50 操作部
100 信号処理装置

Claims (5)

  1. 測定対象物(DUT)からの被測定信号(S)に対して所定の信号処理を施す信号処理部(10)と、
    タッチセンサ(32a)を備える表示装置(30)と、
    操作部(50)と、
    前記信号処理部から所定の信号処理がされた被測定信号が入力されると、前記被測定信号に対し所定の解析処理を行う解析処理部(40b)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果を前記表示装置に表示するための表示装置制御部(40a)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果が位相および振幅からなる複数のシンボル点を含むダイアグラムとして表示される場合、前記タッチセンサまたは前記操作部によって前記表示装置に表示された所望のシンボル点が選択されると、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるように処理するグラフ表示処理部(40c)とを備える制御装置(40)とを備える信号処理装置。
  2. 前記制御装置の前記解析処理部は、ベクトル変調解析を実行してデジタル変調された被測定信号のコンスタレーションおよびアイダイアグラムを生成し、コンスタレーションが、前記シンボル点間を遷移する間のパワーレベルおよび位相を示し、アイダイアグラムが、同相成分および直交成分における前記シンボル点間を遷移する間の経時変化を表す、請求項1に記載の信号処理装置。
  3. 前記制御装置の前記解析処理部は、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムと他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムとを表す線の色、太さ、種別を異ならせることによって、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるようにする、請求項1または請求項2に記載の信号処理装置。
  4. 前記制御装置の前記解析処理部は、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果として位相および振幅からなる複数のシンボル点間の補間データを算出する、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の信号処理装置。
  5. 測定対象物(DUT)からの被測定信号(S)に対して所定の信号処理を施す信号処理部(10)と、
    タッチセンサ(32a)を備える表示装置(30)と、
    操作部(50)と、
    前記信号処理部から所定の信号処理がされた被測定信号が入力されると、前記被測定信号に対し所定の解析処理を行う解析処理部(40b)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果を前記表示装置に表示するための表示装置制御部(40a)と、グラフ表示処理部(40c)とを備える制御装置(40)とを備える信号処理装置によって実行される信号処理方法であって、
    前記解析処理部が、所定の解析処理をした結果の位相および振幅からなる複数のシンボル点を含むダイアグラムを表示するステップ(ステップS14)と、前記グラフ表示処理部(40c)が、前記タッチセンサまたは前記操作部によって前記表示装置に表示された所望のシンボル点が選択されたか否かを判断するステップ(ステップS15)と、前記グラフ表示処理部(40c)が、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるように処理するステップ(ステップS16)とを含む、信号処理方法。
JP2014034236A 2014-02-25 2014-02-25 信号処理装置および信号処理方法 Pending JP2015159494A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014034236A JP2015159494A (ja) 2014-02-25 2014-02-25 信号処理装置および信号処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014034236A JP2015159494A (ja) 2014-02-25 2014-02-25 信号処理装置および信号処理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015159494A true JP2015159494A (ja) 2015-09-03

Family

ID=54183185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014034236A Pending JP2015159494A (ja) 2014-02-25 2014-02-25 信号処理装置および信号処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2015159494A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022148535A (ja) * 2021-03-24 2022-10-06 アンリツ株式会社 波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05235141A (ja) * 1992-02-26 1993-09-10 Sony Corp 電子測定器
JPH06232920A (ja) * 1993-02-05 1994-08-19 Yokogawa Electric Corp ディジタル変調信号処理装置
JPH06303262A (ja) * 1993-04-19 1994-10-28 Advantest Corp ディジタル変調信号解析装置
JP2003344456A (ja) * 2002-05-30 2003-12-03 Hioki Ee Corp リサージュ図形表示装置
JP2008232968A (ja) * 2007-03-23 2008-10-02 Tektronix Japan Ltd 信号分析装置、方法及びプログラム
JP2010068234A (ja) * 2008-09-10 2010-03-25 Mitsubishi Electric Corp 変調信号解析方法及び変調信号解析装置
JP2013024835A (ja) * 2011-07-26 2013-02-04 Hioki Ee Corp 測定装置および表示方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05235141A (ja) * 1992-02-26 1993-09-10 Sony Corp 電子測定器
JPH06232920A (ja) * 1993-02-05 1994-08-19 Yokogawa Electric Corp ディジタル変調信号処理装置
JPH06303262A (ja) * 1993-04-19 1994-10-28 Advantest Corp ディジタル変調信号解析装置
JP2003344456A (ja) * 2002-05-30 2003-12-03 Hioki Ee Corp リサージュ図形表示装置
JP2008232968A (ja) * 2007-03-23 2008-10-02 Tektronix Japan Ltd 信号分析装置、方法及びプログラム
JP2010068234A (ja) * 2008-09-10 2010-03-25 Mitsubishi Electric Corp 変調信号解析方法及び変調信号解析装置
JP2013024835A (ja) * 2011-07-26 2013-02-04 Hioki Ee Corp 測定装置および表示方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022148535A (ja) * 2021-03-24 2022-10-06 アンリツ株式会社 波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法
JP7213905B2 (ja) 2021-03-24 2023-01-27 アンリツ株式会社 波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5995450B2 (ja) 試験測定装置及び時間領域情報表示方法
JP6226507B2 (ja) 試験測定機器及びその動作方法
JP2009270896A (ja) 信号分析装置及び周波数領域データ表示方法
JP2015159494A (ja) 信号処理装置および信号処理方法
US9841896B2 (en) Mobile terminal test device
CN107843767B (zh) 用于频谱分析的信号处理方法和系统
JP6862621B2 (ja) 測定装置及び測定方法
US11463285B2 (en) Signal analysis apparatus and signal analysis method
JP2015099128A (ja) 信号処理装置および信号処理方法
US10145877B1 (en) Adaptive noise reduction in a signal analyzer
JP2015129732A (ja) 信号処理装置、信号処理方法および信号処理システム
US9234923B2 (en) Signal processing device and signal processing method
JP2015052519A (ja) 信号処理装置および信号処理方法
JP4216273B2 (ja) デジタル放送信号評価装置
JP6062408B2 (ja) 移動体端末試験装置
US8379707B2 (en) Signal analyzer and methods for displaying constellations
JP2015049212A (ja) 信号処理装置および信号処理方法
JP6959315B2 (ja) 信号解析装置及び信号解析方法
US9443490B2 (en) Selective display of waveforms governed by measured parameters
JP6603183B2 (ja) 信号解析装置及び信号解析方法
JP6603187B2 (ja) 信号解析装置及び信号解析方法
JP6696667B2 (ja) 信号分析装置及び信号分析方法
JP2015143644A (ja) 信号解析装置および信号解析方法
Anbessa Implementation of Spectrum Analysis Functionality for IQ-Signal.
JP2018151281A (ja) 測定装置及び測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160222

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170324

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170815

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170928

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180123