JP2015159494A - 信号処理装置および信号処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】信号処理装置100は、被測定対象物からの被測定信号Sに対し所定の解析処理を行う解析処理部40bと、解析処理部によって所定の解析処理をした結果を表示装置に表示するための表示装置制御部40aと、解析処理部によって所定の解析処理をした結果が位相および振幅からなる複数のシンボル点を含むダイアグラムとして表示される場合、タッチセンサまたは操作部によって表示装置に表示された所望のシンボル点が選択されると、選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるように処理するグラフ表示処理部40cとを備える制御装置40を有する。
【選択図】図2
Description
10 信号処理部
30 表示装置
40 制御装置
40a 表示装置制御部
40b 解析処理部
40c グラフ表示処理部
41 RAM
42 ROM
50 操作部
100 信号処理装置
Claims (5)
- 測定対象物(DUT)からの被測定信号(S)に対して所定の信号処理を施す信号処理部(10)と、
タッチセンサ(32a)を備える表示装置(30)と、
操作部(50)と、
前記信号処理部から所定の信号処理がされた被測定信号が入力されると、前記被測定信号に対し所定の解析処理を行う解析処理部(40b)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果を前記表示装置に表示するための表示装置制御部(40a)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果が位相および振幅からなる複数のシンボル点を含むダイアグラムとして表示される場合、前記タッチセンサまたは前記操作部によって前記表示装置に表示された所望のシンボル点が選択されると、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるように処理するグラフ表示処理部(40c)とを備える制御装置(40)とを備える信号処理装置。 - 前記制御装置の前記解析処理部は、ベクトル変調解析を実行してデジタル変調された被測定信号のコンスタレーションおよびアイダイアグラムを生成し、コンスタレーションが、前記シンボル点間を遷移する間のパワーレベルおよび位相を示し、アイダイアグラムが、同相成分および直交成分における前記シンボル点間を遷移する間の経時変化を表す、請求項1に記載の信号処理装置。
- 前記制御装置の前記解析処理部は、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムと他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムとを表す線の色、太さ、種別を異ならせることによって、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるようにする、請求項1または請求項2に記載の信号処理装置。
- 前記制御装置の前記解析処理部は、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果として位相および振幅からなる複数のシンボル点間の補間データを算出する、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の信号処理装置。
- 測定対象物(DUT)からの被測定信号(S)に対して所定の信号処理を施す信号処理部(10)と、
タッチセンサ(32a)を備える表示装置(30)と、
操作部(50)と、
前記信号処理部から所定の信号処理がされた被測定信号が入力されると、前記被測定信号に対し所定の解析処理を行う解析処理部(40b)と、前記解析処理部によって所定の解析処理をした結果を前記表示装置に表示するための表示装置制御部(40a)と、グラフ表示処理部(40c)とを備える制御装置(40)とを備える信号処理装置によって実行される信号処理方法であって、
前記解析処理部が、所定の解析処理をした結果の位相および振幅からなる複数のシンボル点を含むダイアグラムを表示するステップ(ステップS14)と、前記グラフ表示処理部(40c)が、前記タッチセンサまたは前記操作部によって前記表示装置に表示された所望のシンボル点が選択されたか否かを判断するステップ(ステップS15)と、前記グラフ表示処理部(40c)が、前記選択されたシンボル点の所定の時間間隔内の推移を表すダイアグラムを他の時間間隔内のシンボル点の推移を表すダイアグラムから識別できるように処理するステップ(ステップS16)とを含む、信号処理方法。
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JP2014034236A JP2015159494A (ja) | 2014-02-25 | 2014-02-25 | 信号処理装置および信号処理方法 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022148535A (ja) * | 2021-03-24 | 2022-10-06 | アンリツ株式会社 | 波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法 |
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2014
- 2014-02-25 JP JP2014034236A patent/JP2015159494A/ja active Pending
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