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[TECHNISCHES GEBIET]
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Mustergenerator und
eine Prüfvorrichtung,
insbesondere bezieht sie sich auf einen Mustergenerator und eine
Prüfvorrichtung
zum Prüfen
einer elektronischen Vorrichtung.
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[STAND DER TECHNIK]
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Im
Allgemeinen wird ein Mustergenerator für eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer
elektronischen Vorrichtung verwendet. Der Mustergenerator erzeugt Prüfmuster,
die Eingangssignale zum Prüfen
elektronischer Vorrichtungen, die in eine elektronische Vorrichtung
eingegeben werden. Der Mustergenerator erzeugt ein Prüfmuster
aus Musterdaten und Folgedaten.
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Der
Mustergenerator enthält
einen Speicher zum Speichern einer Gruppe von Musterdaten und einer
Gruppe von Folgedaten in der Ausführungsreihenfolge sowie einen
Cachespeicher zum aufeinander folgenden Lesen der Musterdaten und
der Folgedaten aus dem Speicher und zum Speichern derselben. Die
Folgedaten sind eine Gruppe von Befehlen zur Anzeige der Reihenfolge
der Ausgabe der Musterdaten, um ein Prüfmuster zu erzeugen, die aus
einem Sprungbefehl und einem Schleifenbefehl usw. zusammengesetzt
sind.
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Der
Mustergenerator liest aufeinander folgend die Musterdaten und die
Folgedaten aus dem Speicher und speichert dieselben in dem Cachespeicher.
Der Mustergenerator erzeugt auch ein Prüfmuster aus den in dem Cachespeicher
gespeicherten Musterdaten auf der Grundlage der Gruppe der Befehle
der in dem Cachespeicher gespeicherten Folgedaten.
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Die
WO 00/45187 A offenbart
einen algorithmischen Mustergenerator für eine IC-Prüfvorrichtung,
die eine IC-Prüfung
in eine Folge von Prüfzyklen
organisiert, wobei jeder Prüfzyklus
in vier Segmente unterteilt wird. Die Prüfvorrichtung enthält einen
separaten Mustergenerator für
jeden Kanal. Jeder Mustergenerator erzeugt gleichzeitig vier Vektoren
am Beginn jedes Prüfzyklus.
Jeder Mustergenerator enthält
einen Niedriggeschwindigkeits-Vektorspeicher, der große Blöcke von
Vektoren an jeder Adresse speichert, und ein Cachespeichersystem zum
Speichern von Blöcken
von Vektoren, die mit einer niedrigen Frequenz aus dem Vektorspeicher
gelesen wurden, und dann zum Lesen von Vektoren in Sätzen von
16 bei der höheren
Prüfzyklusfrequenz. Das
Cachespeichersystem verwendet zwei interne Cachespeicher in abwechselnder
Weise, wobei Vektoren in einen Cachespeicher geschrieben werden, während Vektoren
aus dem anderen gelesen werden. Eine Vektorausrichtschaltung wählt aus
den Cachespeicher- Ausgangsvektoren
aus, um die vier Vektoren zu dem Kanal für den Prüfzyklus bereitzustellen.
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[OFFENBARUNG DER ERFINDUNG]
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[DURCH DIE ERFINDUNG ZU LÖSENDE PROBLEME]
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Wenn
ein Befehl zum Springen zu den Adressen der Folgedaten und der Musterdaten,
die nicht in dem Cachespeicher gespeichert sind, in der Gruppe der
Befehle der Folgedaten erfasst wird, liest der Mustergenerator aus
den Folgedaten und den Musterdaten entsprechend den Adressen und
speichert dieselben in dem Cachespeicher.
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Wenn
daher die Folgedaten und die Musterdaten aus dem Speicher gelesen
werden, tritt eine Lesezeit auf, so dass eine Zugriffszeit bei der
Erzeugung eines Musters auftritt. Zusätzlich war es erforderlich,
wenn eine Funktionsprüfung
und eine Abtastprüfung
einer elektronischen Vorrichtung durchgeführt wird, die Daten für die Funktionsprüfung und
die Daten für
die Abtastprüfung
in benachbarten Adressräumen
in dem Speicher in der Ausführungsreihenfolge
zu speichern. Daher müssen,
wenn die Daten für
die Abtastprüfung
mehrere Male verwendet werden, mehrere derselben Daten in dem Speicher
gespeichert werden, so dass ein Massenspeicher erforderlich ist.
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Somit
besteht die Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, einen Mustergenerator
und eine Prüfvorrichtung
vorzusehen, um die vorbeschriebenen Probleme zu lösen. Diese
Aufgabe wird durch Kombinieren der in den unabhängigen Ansprüchen genannten
Merkmale gelöst.
Abhängige
Ansprüche definieren
weitere wirksame spezifische Beispiele der vorliegenden Erfindung.
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[MITTEL ZUM LÖSEN DER PROBLEME]
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Um
das vorbeschriebene Problem zu lösen, ist
ein Mustergenerator zum Erzeugen eines Prüfmusters für die Prüfung einer elektronischen Vorrichtung
aus vorbestimmten Prüfdaten
vorgesehen. Der Mustergenerator enthält einen Hauptspeicher zum Speichern
mehrerer Folgedatenblöcke
für die
Erzeugung eines Prüfmusters;
einen ersten Folgecachespeicher zum aufeinander folgenden Speichern
der Folgedatenblöcke,
einen zweiten Folgecachespeicher; eine Datenentwicklungsschaltung
zum aufeinander folgenden Ausführung
der in dem ersten Cachespeicher gespeicherten Folgedatenblöcke und zum
Erzeugen eines Prüfmusters;
und eine Vorauslesevorrichtung zum, wenn die Datenentwicklungsschaltung
einen Vorauslesebefehl zum Vorauslesen der anderen Folgeblöcke während der
Ausführung eines
Folgedatenblocks erfasst, Lesen der anderen Folgedatenblöcke aus
dem Hauptspeicher und Speichern derselben in dem zweiten Folgecachespeicher.
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Die
Datenentwicklungsschaltung gemäß der Erfindung
liest die anderen Folgedatenblöcke
aus dem zweiten Folgecachespeicher und führt dieselben aus, wenn die
Datenentwicklungsschaltung den Sprungbefehl bei der Ausführung des
anderen Folgedatenblocks nach der Erfassung des Vorauslesebefehls
erfasst. Alternativ kann die Datenentwicklungsschaltung den nachfolgenden
Folgedatenblock aus dem ersten Folgecachespeicher lesen, wenn die
Datenentwicklungsschaltung keinen Sprungbefehl in einem Folgedatenblock
nach der Erfassung des Vorauslesebefehls erfasst.
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Der
Hauptspeicher kann weiterhin mehrere Musterdatenblöcke speichern,
die zu der elektrischen Vorrichtung zu liefernde Signale entsprechend den
Folgedatenblöcken
anzeigen. Der Mustergenerator kann weiterhin einen ersten Mustercachespeicher
zum Speichern von Musterdatenblöcken
entsprechend den in dem ersten Folgecachespeicher gespeicherten
Folgedatenblöcken
und einen zweiten Mustercachespeicher enthalten. Die Vorauslesevorrichtung
kann die Musterdatenblöcke
entsprechend den anderen Folgedatenblöcken aus dem Hauptspeicher
lesen und dieselben in dem zweiten Mustercachespeicher speichern,
wenn die Datenentwicklungsschaltung einen Vorauslesebefehl beim
Vorauslesen der anderen Folgedatenblöcke während der Ausführung eines
Folgedatenblocks erfasst. Die Datenentwicklungsschaltung kann die
Musterdatenblöcke
entsprechend den anderen Folgedatenblöcken entwickeln durch Ausführen der
Folgedatenblöcke, um
ein Prüfmuster
zu erzeugen.
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Der
Vorauslesebefehl bezeichnet die ersten Adressen des Folgedatenblocks
und des entsprechenden Musterdatenblocks, der in dem Hauptspeicher
vorauszulesen ist. Die Vorauslesevorrichtung kann den Folgedatenblock
und den Musterdatenblock aus dem Hauptspeicher unter Verwendung
der bezeichneten ersten Adressen vorauslesen.
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Der
Vorauslesebefehl bezeichnet auch die Kennzeichen des Folgedatenblocks
und des Musterdatenblocks, die vorauszulesen sind. Der Mustergenerator
kann weiterhin einen Bezugsspeicher zum Assoziieren der Kennzeichen
mit jeder durch die Kennzeichen des Folgedatenblocks und des Musterdatenblocks
bezeichneten Adresse in dem Hauptspeicher und zum Speichern derselben
enthalten. Die Vorauslesevorrichtung kann die Adressen des Hauptspeichers
von dem Bezugsspeicher erhalten auf der Grundlage der Kennzeichen
und den Folgedaten block und den Musterdatenblock aus dem Hauptspeicher
auf der Grundlage der erhaltenen Adressen vorauslesen.
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Die
Folgedatenblöcke
können
Abtastfolgedatenblöcke
zum Ausführen
einer Abtastprüfung
für eine
elektronische Vorrichtung enthalten. Die Musterdatenblöcke können Abtastmusterdatenblöcke zum Ausführen einer
Abtastprüfung
für eine
elektronische Vorrichtung enthalten. Die Vorauslesevorrichtung kann
die Abtastfolgedatenblöcke
und die Abtastmusterdatenblöcke
vorauslesen.
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Die
Datenentwicklungsschaltung kann einen Abtastfolgeblock mehrere Male
bei der Erzeugung eines Prüfmusters
ausführen.
Der Hauptspeicher kann mehrere Abtastfolgedatenblöcke in benachbarten Bereichen
speichern. Der Hauptspeicher kann mehrere Abtastmusterdatenblöcke in benachbarten
Bereichen speichern.
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Wenn
die Datenentwicklungsschaltung einen Rückkehrbefehl bei der Rückkehr zu
dem Befehl folgend dem Sprungbefehl in einem Folgedatenblock während der
Ausführung
des anderen Folgedatenblocks erfasst, kann die Datenentwicklungsschaltung dem
Befehl folgend den Rückkehrbefehl
in einem Folgedatenblock aus dem ersten Folgecachespeicher lesen
und denselben ausführen.
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Eine
Prüfvorrichtung
zum Prüfen
einer elektronischen Vorrichtung kann vorgesehen werden, die den
vorgenannten Mustergenerator zum Erzeugen eines Prüfmusters
für die
Prüfung
einer elektronischen Vorrichtung, eine Wellenform-Formungsvorrichtung
zum Formen des Prüfmusters
und eine Bestimmungsschaltung zum Bestimmen, ob die elektronische
Vorrichtung gut oder schlecht ist, auf der Grundlage des von der
elektro nischen Vorrichtung gemäß dem Prüfmuster
ausgegebenen Ausgangssignals, enthält.
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Hier
sind nicht alle erforderlichen Merkmale der vorliegenden Erfindung
in der Zusammenfassung der Erfindung aufgeführt. Die Unterkombinationen der
Merkmale können
die Erfindung werden.
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[WIRKUNG DER ERFINDUNG]
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung können Prüfmuster
wirksam erzeugt werden. Zusätzlich
kann eine elektronische Vorrichtung wirksam geprüft werden. Weiterhin kann die
verwendete Speicherkapazität
herabgesetzt werden.
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[KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN]
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1 zeigt
ein Beispiel für
die Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
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2 zeigt
ein Beispiel für
die Konfiguration eines Mustergenerators 50;
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3 zeigt
ein Beispiel für
die detaillierte Konfiguration einer Speichersteuerschaltung 70,
einer Mustererzeugungsschaltung 80 und eines Sequenzers 90;
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4 zeigt
ein Beispiel für
die Datenkonfiguration eines Hauptspeichers 60;
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5 zeigt
ein Beispiel für
das von dem Mustergenerator 50 erzeugte Prüfmuster;
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6 zeigt
ein Beispiel für
die Arbeitsweise des Mustergenerators 50;
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7 zeigt
ein anderes Beispiel für
die Konfiguration der Prüfvorrichtung 100;
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8 zeigt
ein Beispiel für
die Datenkonfiguration mehrerer Hauptspeicher 60; und
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9 zeigt
ein Beispiel für
die Datenkonfiguration mehrerer Hauptspeicher 60.
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[BESTE ART DER AUSFÜHRUNG DER ERFINDUNG]
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Nachfolgend
wird die vorliegende Erfindung durch bevorzugte Ausführungsbeispiele
beschrieben. Die Ausführungsbeispiele
beschränken
nicht die Erfindung gemäß den Ansprüchen, und
alle Kombinationen der in den Ausführungsbeispielen beschriebenen
Merkmale sind nicht notwendigerweise wesentlich für Mittel
zum Lösen
der Probleme der Erfindung.
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1 zeigt
ein Beispiel für
die Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. Die Prüfvorrichtung 100 prüft eine
elektronische Vorrichtung 200. Die Prüfvorrichtung 100 enthält einen
Mustergenerator 50, eine Wellenform-Formungsvorrichtung 40,
eine Signaleingabe-/-ausgabeschaltung 30 und eine Bestimmungsschaltung 20.
Hier ist die elektronische Vorrichtung 20 eine Vorrichtung,
in Abhängigkeit
von den empfangenen elektrischen Signalen arbeitet. Die elektronische
Vorrichtung 200 enthält
eine Halbleiterschaltung wie ein IC-Chip und eine LSI mit Halbleiterelementen.
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Der
Mustergenerator 50 empfängt
Prüfdaten,
die zum Prüfen
der elektronischen Vorrichtung 200 verwendet werden, von
einer extern vorgesehenen Prüfvorrichtungs-Steuerschaltung 150 und
erzeugt ein Prüfmuster
zum Prüfen
der elektronischen Vorrichtung 200 auf der Grundlage der
Prüfdaten.
Die Prüfvorrichtungs-Steuerschaltung 150 ist
ein Computer wie eine Arbeitsstation. Der Mustergenerator 50 kann
ein Signal für
einen erwarteten Wert erzeugen, das einen von der elektronischen
Vorrichtung 200 auf der Grundlage des eingegebenen Prüfmusters
auszugebenden erwarteten Wert anzeigt.
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Die
Wellenform-Formungsschaltung 40 empfängt und formt ein Prüfmuster
und liefert dasselbe zu dem gewünschten
Zeitpunkt zu der Signaleingabe-/-ausgabeschaltung 30. Die
Signaleingabe-/-ausgabeschaltung 30 liefert das empfangene Prüfmuster
zu der elektronischen Vorrichtung und empfängt das von der elektronischen
Vorrichtung 200 auf der Grundlage des Prüfmusters
ausgegebene Ausgangssignals. Die Signaleingabe-/-ausgabeschaltung 30 liefert
das empfangene Ausgangssignal zu der Bestimmungsschaltung 20.
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Die
Bestimmungsschaltung 20 bestimmt, ob die elektronische
Vorrichtung 200 gut oder schlecht ist, auf der Grundlage
des empfangenen Ausgangssignals. Beispielsweise empfängt die
Bestimmungsschaltung 20 ein Signal für den erwarteten Wert von dem
Mustergenerator 50 und verglicht das Signal für den erwarteten
Wert mit dem Ausgangssignal der elektronischen Vorrichtung 200,
um zu bestimmen, ob die elektronische Vorrichtung 200 gut
oder schlecht ist.
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2 zeigt
ein Beispiel für
die Konfiguration des Mustergenerators 50. Der Mustergenerator 50 enthält einen
Hauptspeicher 60, eine Datenentwicklungsschaltung 170,
einen Sequenzer 90, eine Bussteuerschaltung 110,
eine Algorithmusmuster-Erzeugungsschaltung 120, eine Fangschaltung 130,
eine Fangsteuerschaltung 140 und einen Fehlerspeicher 10.
Die Datenentwicklungsschaltung 170 enthält eine Speichersteuerschaltung 70 und
eine Mustererzeugungsschaltung 80.
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Der
Hauptspeicher 60 speichert Prüfdaten zum Erzeugen von Prüfmustern.
Die Prüfdaten
sind in mehrere Prüfdatenblöcke geteilt
und gespeichert. Beispielsweise speichert der Hauptspeicher 60 mehrere
Musterdatenblöcke,
in die die die zu der elektronischen Vorrichtung 200 zu
liefernden Signale anzeigenden Musterdaten geteilt sind, und mehrere
Folgedatenblöcke,
in die die die Reihenfolge der zu der elektronischen Vorrichtung 20 zu
liefernden Musterdaten anzeigenden Folgedaten geteilt sind, als
die Prüfdatenblöcke. Der
Hauptspeicher 60 assoziiert die Musterdatenblöcke mit
den Folgedatenblöcken und
speichert dieselben.
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Die
Bussteuerschaltung 110 empfängt Anzeigeinformationen, die
die Reihenfolge des Lieferns der Prüfdatenblöcke zu der Mustererzeugungsschaltung 80 und/oder
dem Sequenzer 90 anzeigen, und zeigt der Speichersteuerschaltung 70 aufeinander folgend
an, welche der Musterblöcke
und/oder der Folgedatenblöcke
aus dem Hauptspeicher 60 auf der Grundlage der Anzeigeinformationen
gelesen werden sollen. Die Speichersteuerschaltung 70 liest
aufeinander folgend die Musterdatenblöcke und die Folgedatenblöcke aus
dem Hauptspeicher 60, liefert aufeinander folgend die gelesenen
Musterdatenblöcke
zu der Mustererzeugungsschaltung 80 und liefert auch aufeinander
folgend die gelesenen Folgedatenblöcke zu dem Sequenzer 90.
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Die
Mustererzeugungsschaltung 80n empfängt aufeinander folgend die
Musterdatenblöcke und
erzeugt ein Prüfmuster
auf der Grundlage der Musterdatenblöcke, der Sequenzer 90 speichert
aufeinander folgend die empfangenen Folgedatenblöcke und steuert die Mustererzeugungsschaltung 80 auf
der Grundlage der gespeicherten Folgedatenblöcke. Beispielsweise sind die
Folgedatenblöcke
ein Programm zur Anzeige der Reihenfolge der Ausgabe von Daten in
den Musterdatenblöcken,
um ein Prüfmuster
zu erzeugen, wodurch bewirkt wird, dass die Prüfmuster-Erzeugungsschaltung 80 das
Prüfmuster gemäß dem Programm
erzeugt. Der Sequenzer 90 kann der Mustererzeugungsschaltung 80 die
Adresse des von der Mustererzeugungsschaltung 80 auszugebenden
Musterdatenblocks auf der Grundlage der Folgedatenblöcke aufeinander
folgend anzeigen.
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Wenn
die zu prüfende
elektronische Vorrichtung 200 ein Speicher ist, kann der
Sequenzer 90 ein Anzeigesignal zu der Algorithmusmuster-Erzeugungsschaltung 120 liefern,
um die Erzeugung von Musterdaten für eine Speicherprüfung anzuweisen. Bei
Empfang des Anzeigesignals erzeugt die Algorithmusmuster-Erzeugungsschaltung 120 Musterdaten
für die
Speicherprüfung
auf der Grundlage eines voreingestellten Algorithmus. In diesem
Fall erzeugt die Mustererzeugungsschaltung 80 ein Prüfmuster auf
der Grundlage der Musterdaten für
die Speicherprüfung.
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Die
Fangschaltung 130 und die Fansteuerschaltung 140 speichern
das Bestimmungsergebnis der Bestimmungsschaltung 20 in
dem Fehlerspeicher 10. Die Fangschaltung 130 empfängt die
Adresse des Musterdatenblocks, die der Mustererzeugungsschaltung 80 durch
den Sequenzer 90 angezeigt wird, und/oder die von der Algorithmusmuster-Erzeugungsschaltung 120 erzeugten
Daten für die
Speicherprüfung.
Die Fangschaltung 130 fügt
zu dem Bestimmungsergebnis die entsprechende Adresse des Musterdatenblocks
und/oder die entsprechenden Daten für die Speicherprüfung hinzu. Die
Fangsteuerschaltung 140 empfängt von der Prüfvorrichtungs-Steuerschaltung 150 ein
Anzeigesignal zur Anzeige, ob das Bestimmungsergebnis in dem Fehlerspeicher 10 gespeichert
werden soll, und liefert das Bestimmungsergebnis zu dem Fehlerspeicher 10 auf
der Grundlage des Anzeigesignals.
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Zusätzlich kann,
wenn die Prüfung
durch einen Musterdatenblock beendet ist, die Fangsteuerschaltung 140 die
Bussteuerschaltung 110 von dem Bestimmungsergebnis in dem
Musterdatenblock benachrichtigen. In diesem Fall teilt die Bussteuerschaltung 110 der
Prüfvorrichtungs-Steuerschaltung 150 das
Bestimmungsergebnis mit.
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Zusätzlich speichert
der Fehlerspeicher 10 das Bestimmungsergebnis der Bestimmungsschaltung 20.
Die Prüfvorrichtungs-Steuerschaltung 150 kann
das in dem Fehlerspeicher 10 gespeicherte Bestimmungsergebnis
lesen und das Prüfergebnis
der elektronischen Vorrichtung 200 analysieren. Die Prüfvorrichtungs-Steuerschaltung 150 kann
auch das Prüfergebnis
auf der Grundlage des Bestimmungsergebnisses für jeden Musterdatenblock analysieren.
Weiterhin hat bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel der Mustergenerator 50 den
Fehlerspeicher 10. Jedoch braucht der Mustergenerator 50 den
Fehlerspeicher 10 nicht zu haben, sondern die Prüfvorrichtung 100 kann
den Fehlerspeicher 10 haben und die Prüfvorrichtungs-Steuerschaltung 150 kann
bei einem anderen Ausführungsbeispiel
den Fehlerspeicher 10 haben.
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3 zeigt
ein Beispiel für
die detaillierte Konfiguration der Speichersteuerschaltung 70,
der Mustererzeugungsschaltung 80 und des Sequenzers 90.
Die Speichersteuerschaltung 70 enthält eine Vorauslesevorrichtung 72.
Die Mustersteuerschaltung 80 enthält einen Cachespeicher 88 und
eine Mustersteuerschaltung 86. Der Sequenzer 90 enthält einen Cachespeicher 98 und
eine Folgesteuerschaltung 96.
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Die
Speichersteuerschaltung 70 liest Daten aus dem Hauptspeicher 60 auf
der Grundlage von von der Bussteuerschaltung 110 empfangenen
Anzeigeinformationen und speichert dieselben in dem Cachespeicher 88 und
dem Cachespeicher 98. Der Cachespeicher 88 hat
einen ersten Mustercachespeicher 82 und einen zweiten Mustercachespeicher 84.
Der Cachespeicher 98 hat einen ersten Folgecachespeicher 92 und
einen zweiten Folgecachespeicher 94.
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Die
Speichersteuerschaltung 70 speichert aufeinander folgend
die Musterdatenblöcke
in dem ersten Mustercachespeicher 82 und speichert auch aufeinander
folgend die Folgedatenblöcke
in dem ersten Folgecachespeicher 92 auf der Grundlage von von
der Bussteuerschaltung 110 empfangenen Anzeigeinformationen.
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Die
Mustersteuerschaltung 86 erzeugt ein Prüfmuster auf der Grundlage der
in dem ersten Mustercachespeicher 92 gespeicherten Musterdatenblöcke. Beispielsweise
empfängt
die Mustersteuerschaltung 86 aufeinander folgend die Adressen
in dem ersten Mustercachespeicher 82 von der Folgesteuerschaltung 96 und
gibt aufeinander folgend die Musterdaten der empfangenen Adressen
aus, um ein Prüfmuster
zu erzeugen.
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Die
Folgesteuerschaltung 96 ruft aufeinander folgend die in
dem ersten Folgecachespeicher 92 gespeicherten Folgedatenblöcke ab und
führt diese aus.
Beispielsweise sind die Folgedatenblöcke eine Gruppe von Befehlen
enthaltend solche wie einen Sprungbefehl, einen Schleifenbefehl
und einen Rückkehrbefehl.
Die Folgesteuerschaltung 96 zeigt aufeinander folgend die
Adressen in dem ersten Mustercachespeicher 82 der Mustersteuerschaltung 86 auf
der Grundlage des Befehls der Folgedatenblöcke an.
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Wenn
die Folgesteuerschaltung 96 einen Vorauslesebefehl beim
Vorauslesen des anderen Folgedatenblocks während der Ausführung eines
Folgedatenblocks erfasst, teilt die Folgesteuerschaltung 96 der
Vorauslesevorrichtung 72 in der Speichersteuerschaltung 70 den
Vorauslesebefehl mit. Beispielsweise erfasst die Folgesteuerschaltung 96 einen
Vorauslesebefehl beim Vorauslesen der Subroutine des Prüfmusters
während
der Ausführung
des Folgedatenblocks, der die Hauptroutine des Prüfmusters
anzeigt, und die Folgesteuerschaltung 96 benachrichtigt
die Speichersteuerschaltung 70 entsprechend.
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Bei
Empfang der Benachrichtigung über
den Vorauslesebefehl durch die Folgesteuerschaltung 96 liest
die Vorauslesevorrichtung 72 den durch den Vorauslesebefehl
bezeichneten Folgedatenblock aus dem Hauptspeicher 60 und
speichert denselben in dem zweiten Folgecachespeicher 94.
Zusätzlich speichert
die Vorauslesevorrichtung 72 den Musterdatenblock entsprechend
dem in dem zweiten Folgecachespeicher 94 gespeicherten
Folgedatenblock in dem zweiten Mustercachespeicher 84.
Die Vorauslesevorrichtung 72 liest Daten voraus aus dem
Hauptspeicher 60 und speichert diese während der Betätigung der
Mustersteuerschaltung 86.
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Wenn
die Folgesteuerschaltung 96 bei der Ausführung der
in dem zweiten Folgecachespeicher 94 gespeicherten Folgedatenblöcke einen
Sprungbefehl nach der Erfassung des Vorauslesebefehls erfasst, liest
die Folgesteuerschaltung 96 die in dem zweiten Folgecachespeicher 96 gespeicherten
Folgedatenblöcke
und führt
diese aus. Dann erzeugt die Mustersteuerschaltung 86 ein
Prüfmuster
auf der Grundlage der entsprechenden, in dem zweiten Mustercachespeicher 84 gespeicherten
Musterdatenblöcke.
In diesem Fall kann die Folgesteuerschaltung 96 die Adresse
in dem zweiten Mustercachespeicher 84 bezeichnen. Zusätzlich kann,
wenn der erste Mustercachespeicher 82 und der zweite Mustercachespeicher 84 zwei
Adressenräume
in demselben Cachespeicher sind, die Folgesteuerschaltung 96 die Adresse
des Cachespeichers verwenden.
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Wenn
die Folgesteuerschaltung 96 keinen Sprungbefehl von dem
Folgedatenblock bei der Ausführung
nach der Erfassung des Vorauslesebefehls erfasst, liest die Folgesteuerschaltung 96 den
nachfolgend auszuführenden
Folgedatenblock, der in dem ersten Folgecachespeicher 92 gespeichert
ist, und führt
denselben aus.
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Hier
kann der Vorauslesebefehl ein Befehl zur Anzeige der ersten Adresse
des vorauszulesenden Folgedatenblocks in dem Hauptspeicher sein. Der
Vorauslesebefehl kann auch ein Befehl zur Anzeige des Kennzeichens
des vorauszulesenden Folgedatenblocks sein. Hier ist das Kennzeichen
eine Information zur Spezifizierung jedes Folgedatenblocks. In diesem
Fall kann der Mustergenerator 50 weiterhin einen Bezugsspeicher 160 zur
Assoziierung eines Kennzeichens mit der ersten Adresse des entsprechenden
Folgedatenblocks in dem Hauptspeicher enthalten, um denselben zu
speichern. Die Folgesteuerschaltung 96 kann der Vorausle sevorrichtung 72 das
Kennzeichen mitteilen. Dann kann die Vorauslesevorrichtung 72 die
Adresse in dem Hauptspeicher aus dem Bezugsspeicher 160 auf
der Grundlage des Kennzeichens herausziehen und den Folgedatenblock
an der herausgezogenen Adresse aus dem Hauptspeicher 60 lesen.
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Zusätzlich liest
die Vorauslesevorrichtung 72 den Musterdatenblock entsprechend
dem gelesenen Folgedatenblock aus dem Hauptspeicher 60 und speichert
denselben in dem zweiten Mustercachespeicher 84. Die Vorauslesevorrichtung 72 liest
die Prüfdaten
aus dem Hauptspeicher 60 voraus und speichert diese in
dem zweiten Mustercachespeicher 84 und dem zweiten Folgecachespeicher 94 während der
Betätigung
der anderen Komponenten des Mustergenerators 50. Hierdurch
kann der Mustergenerator 50 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
die Zugriffszeit zum Lesen von Daten verkürzen und kontinuierlich Prüfmuster
erzeugen. Die Speichersteuerschaltung 70 speichert aufeinander folgend
Prüfdaten
in dem ersten Mustercachespeicher 82 und dem ersten Folgecachespeicher 92 auf der
Grundlage der Anzeigeinformationen. Da die Speichersteuerschaltung 70 auch
aufeinander folgend Prüfdaten
während
der Betätigung
der anderen Komponenten des Mustergenerators 50 speichert, können die
Prüfmuster
kontinuierlich erzeugt werden. Wie somit vorstehend beschrieben
ist, kann der Mustergenerator 50 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
effizient Prüfmuster
erzeugen.
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Der
erste Mustercachespeicher 82 und der zweite Mustercachespeicher 84 können zwei
Adressenräume
in demselben Cachespeicher sein, und sie können zwei Cachespeicher sein.
Zusätzlich
sind der erste Folgecachespeicher 92 und der zweite Folgecachespeicher 92 die selben,
wie vorstehend beschrieben ist.
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Die
Prüfvorrichtung 100 kann
eine Abtastprüfung
für die
elektronische Vorrichtung durchführen.
Hier enthält
die Abtastprüfung
eine Prüfung,
deren Prüfspezifikation
durch IEEE1149.1 bestimmt ist, welche den Abtastpfad der elektronischen
Vorrichtung prüft.
In diesem Fall enthalten die in dem Hauptspeicher 60 gespeicherten
Musterdatenblöcke
Abtastmuster-Datenblöcke
für die
Abtastprüfung.
Die in dem Hauptspeicher 60 gespeicherten Folgedatenblöcke enthalten
Abtastfolge-Datenblöcke
für die
Abtastprüfung.
Zusätzlich
kann die Prüfvorrichtung 100 eine
Kombination aus der Abtastprüfung
und der anderen Prüfung
durchführen.
Beispielsweise kann die Prüfvorrichtung 100 eine
Kombination aus der Abtastprüfung
und einer Funktionsprüfung
zum Prüfen der
logischen Schaltung der elektronischen Vorrichtung durchführen.
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4 zeigt
ein Beispiel für
die Datenkonfiguration eines Hauptspeichers 60. Die Prüfvorrichtung 100 führt eine
Funktionsprüfung
und eine Abtastprüfung
bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel durch.
Der Hauptspeicher 60 speichert mehrere Folgedatenblöcke, mehrere
Abtastfolge-Datenblöcke, mehrere
Musterdatenblöcke
und mehrere Abtastmuster-Datenblöcke
jeweils in den kontinuierlichen Bereichen. Der Mustergenerator 50 gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
liest Datenblöcke
auf der Grundlage der ersten Adresse der Datenblöcke für die Abtastprüfung, die
durch den Vorauslesebefehl bezeichnet ist, so dass Datenblöcke für jeden Datenblocktyp
kontinuierlich in dem Hauptspeicher gespeichert werden können.
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Zusätzlich kann
der Mustergenerator gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
kontinuierlich Prüfmuster erzeugen
ohne Speicherung jedes Datenblocks in dem Hauptspeicher in der Ausführungsreihenfolge.
Daher werden Daten leicht hinzugefügt, gelöscht und ersetzt in Einheiten
des Datenblocks.
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5 zeigt
ein Beispiel des von dem Mustergenerator 50 erzeugten Prüfmusters.
Der Mustergenerator 50 erzeugt ein Prüfmuster für die Prüfung durch Kombinieren der
Funktionsprüfung
und der Abtastprüfung
bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel.
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6 zeigt
ein Beispiel für
die Arbeitsweise des Mustergenerators 50. Der Mustergenerator 50 erzeugt
das in 5 gezeigte Prüfmuster
bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel.
Der Mustergenerator 50 führt hauptsächlich Funktionsprüfungen auf der
Grundlage der in dem ersten Folgecachespeicher 92 gespeicherten
Folgedatenblöcke
durch, und er führt
Abtastprüfungen
auf der Grundlage der in dem zweiten Folgecachespeicher 94 gespeicherten Folgedatenblöcke bei
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
durch.
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Zuerst
speichert die Speichersteuerschaltung 70 aufeinander folgend
die Musterdatenblöcke und
die Folgedatenblöcke,
die zur Erzeugung des Prüfmusters
verwendet werden, auf der Grundlage der Anzeigeinformationen in
dem ersten Mustercachespeicher 82 und dem ersten Folgecachespeicher 92.
Hier kann die Speichersteuerschaltung 70 die Datenblöcke löschen, die
bereits ausgeführt
wurden, und aufeinander folgend Datenblöcke in den durch Lösen der
Datenblöcke
erzeugten freien Räumen speichern.
Zusätzlich
kann die Speichersteuerschaltung 70 den nachfolgend zu
speichernden Datenblock über
den Datenblock, der bereits ausgeführt wurde, schreiben. Vorzugsweise
hat der Cachespeicher mehrere Bereiche, die mehrere Datenblöcke speichern
können.
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Der
Sequenzer 90 führt
aufeinander folgend in dem ersten Folgecachespeicher 92 gespeicherte Datenblöcke aus.
Bei Erfassung eines Vorauslesebefehls in dem Folgedatenblock 1 während der
Ausführung
speichert die Vorauslesevorrichtung 72 den Abtastfolge-Datenblock
1, der durch den Vorauslesebefehl bezeichnet ist, in dem zweiten
Folgecachespeicher 94.
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Bei
Erfassung eines Sprungbefehls in dem Folgedatenblock 1 führt der
Sequenzer 90 den Abtastfolge-Datenblock 1, der in dem zweiten
Folgecachespeicher 94 gespeichert ist, aus. Wenn der Sequenzer 90 einen
Rückkehrbefehl
bei der Rückkehr des
Befehls folgend dem Sprungbefehl in dem Folgedatenblock 1 erfasst,
liest der Sequenzer 90 den Befehl folgend dem Sprungbefehl
und führt
diesen aus. Wenn der Sprungbefehl der letzte Befehl in dem Folgedatenblock
1 ist, liest der Sequenzer 90 den nachfolgenden Folgedatenblock
2 aus dem ersten Folgecachespeicher und führt diesen aus.
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Als
Nächstes
erfasst der Sequenzer 90 einen Vorauslesebefehl in dem
nachfolgenden zweiten Datenblock 2 und speichert den bezeichneten
Abtastfolge-Datenblock 2 in dem zweiten Folgecachespeicher 94.
In diesem Fall kann die Vorauslesevorrichtung 72 den Abtastfolge-Datenblock
1 aus dem zweiten Folgecachespeicher löschen.
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Bei
der Erzeugung eines Testmusters kann die Datenentwicklungsschaltung 170 den
Abtastfolge-Datenblock 1 mehrere Male ausführen, wie in 6 gezeigt
ist. Der Mustergenerator 50 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
liest den durch den Vorauslesebefehl bezeichneten Abtastfolge-Datenblock
aus dem Haupt speicher 60 und speichert diesen in dem zweiten
Folgecachespeicher 94. Daher kann der in einem Bereich
in dem Hauptspeicher 60 gespeicherte Datenblock mehrere
Male ausgeführt
werden. Hierdurch kann die Kapazität des Hauptspeichers 60 im
Vergleich mit der Speicherung der Datenblöcke in dem Hauptspeicher 60 in
der Ausführungsreihenfolge
verringert werden.
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Zusätzlich speichert
der Mustergenerator 50 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
die Datenblöcke
für die
Abtastprüfung,
die durch den Vorauslesebefehl in dem Cachespeicher bezeichnet sind,
so dass die Funktionsprüfung
und die Abtastprüfung
wahlweise kombiniert werden können.
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Bei
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel wird
die Operation für
die Folgedatenblöcke
beschrieben, jedoch führt
der Mustergenerator 50 dieselbe Operation für die Musterdatenblöcke entsprechend
den Folgedatenblöcken
aus.
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7 zeigt
ein anderes Beispiel für
die Konfiguration der Prüfvorrichtung 100.
Die Prüfvorrichtung 100 enthält mehrere
Mustergeneratoren 50 entsprechend mehreren Stiften der
elektronischen Vorrichtung 200. Die Prüfvorrichtung 100 kann
mehrere Wellenform-Formungsvorrichtungen 40 entsprechend
jedem der Mustergeneratoren 50 enthalten.
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Die
Prüfvorrichtungs-Steuerschaltung 150 steuert
individuell jeden der Mustergeneratoren 50. Die Signaleingabe-/-ausgabeschaltung 30 liefert
von jedem der Mustergeneratoren 50 erzeugte Prüfmuster
zu den entsprechenden Stiften der elektronischen Vorrichtung 200.
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Die
elektronische Vorrichtung 200 hat einen Stift für Abtastprüfungen.
Wenn eine Abtastprüfung durchgeführt wird,
kann die Prüfvorrichtung 100 das Prüfmuster
für die
Abtastprüfung
zu dem Stift für
Abtastprüfungen
liefern und das Signal, das direkt davor geliefert wurde, für die anderen
Stifte bewahren. D. h., die Mustergeneratoren 50 entsprechend
den anderen Stiften brauchen nicht irgendein Prüfmuster zu erzeugen, sondern
die Ausgangssignale bewahren.
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8 und 9 zeigen
jedes Beispiel der Datenkonfiguration mehrerer Hauptspeicher 60.
Der Datenbereich jedes der Hauptspeicher 60 ist durch den
entsprechenden Stiftnamen in 8 und 9 gezeigt.
Der Hauptspeicher 60 speichert mehrere Folgedatenblöcke (SQ),
mehrere Abtastfolge-Datenblöcke
(SC), mehrere Musterdatenblöcke
(PD) und mehrere Abtastmuster-Datenblöcke (SP)
sowie der mit Bezug auf 4 beschriebene Hauptspeicher 60.
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Wenn
die Prüfvorrichtung 100 eine
Abtastprüfung
durchführt,
erzeugen die Mustergeneratoren 50, die nicht entsprechend
dem Stift für
die Abtastprüfung
sind, kein Prüfmuster.
Daher speichern die entsprechenden Hauptspeicher 60 nicht
die Abtastmuster-Datenblöcke und
die Abtastfolge-Datenblöcke
für die
Stifte, die nicht für
die Abtastprüfung
verwendet werden. Demgemäß werden
freie Bereiche in dem Adressenraum des Hauptspeichers 60 erzeugt.
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Beispielsweise
ist Stift 1 der Stift für
eine Abtastprüfung,
und Stifte 2–4
sind die Stifte, die nicht für die
Abtastprüfung
verwendet werden. Da der Hauptspeicher 60 nicht die Abtastfolgeblöcke und
die Abtastmuster-Datenblöcke
entsprechend den Stiften 2–4
speichert, werden freie Bereiche 210 und 220 in dem Adressenraum
erzeugt.
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Der
Hauptspeicher 60 gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
kann die in den anderen Mustergeneratoren 50 ausgeführten Datenblöcke speichern.
Beispielsweise kann der Hauptspeicher 60 den Abtastfolge-Datenblock (SC1–n) für den Stift 1
und den Abtastmuster-Datenblock (SP1–n) speichern, wie in 9 gezeigt
ist. In diesem Fall hat ein Mustergenerator 50 Mittel zum
Lesen von Datenblöcken
aus den Hauptspeichern 60 der anderen Mustergeneratoren 50.
Beispielsweise kann die Speichersteuerschaltung 70 Datenblöcke aus
den Hauptspeichern 60 der anderen Mustergeneratoren 50 lesen.
Die Prüfvorrichtung 100 gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
kann effizient den Bereich des Hauptspeichers 60 verwenden,
so dass die Kapazität
des Hauptspeichers 60 verringert werden kann.
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wie
somit vorstehend beschrieben ist, kann die Prüfvorrichtung 100 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
effizient Prüfmuster
erzeugen und die Speicherkapazität
reduzieren.
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Während die
vorliegende Erfindung mit dem Ausführungsbeispiel beschrieben
wurde, ist der technische Bereich der Erfindung nicht auf das vorbeschriebene
Ausführungsbeispiel
beschränkt.
Es ist für
den Fachmann augenscheinlich, dass verschiedene Änderungen und Verbesserungen
zu dem vorbeschriebenen Ausführungsbeispiel
hinzugefügt werden
können.
Es ist anhand des Bereichs der Ansprüche offensichtlich, dass das
Ausführungsbeispiel,
dem derartige Änderungen
oder Verbesserungen hinzugefügt
sind, in dem technischen Bereich der Erfindung enthalten sein kann.
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[GEWERBLICHE ANWENDBARKEIT]
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Gemäß der vorstehend
so beschriebenen vorliegenden Erfindung kann das Prüfmuster
effizient erzeugt werden, eine elektronische Vorrichtung kann effizient
geprüft
werden und die verwendete Speicherkapazität kann verringert werden.