DE60160T1 - Verfahren zur untersuchung von fehlern an glasbahnen und einrichtung zur ausfuehrung dieses verfahrens. - Google Patents

Verfahren zur untersuchung von fehlern an glasbahnen und einrichtung zur ausfuehrung dieses verfahrens.

Info

Publication number
DE60160T1
DE60160T1 DE198282400257T DE82400257T DE60160T1 DE 60160 T1 DE60160 T1 DE 60160T1 DE 198282400257 T DE198282400257 T DE 198282400257T DE 82400257 T DE82400257 T DE 82400257T DE 60160 T1 DE60160 T1 DE 60160T1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light source
network
light
image
controlled
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE198282400257T
Other languages
English (en)
Inventor
Jacques Francois F-34000 Montpellier Leser
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Compagnie Electro Mecanique SA
Original Assignee
Compagnie Electro Mecanique SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Compagnie Electro Mecanique SA filed Critical Compagnie Electro Mecanique SA
Publication of DE60160T1 publication Critical patent/DE60160T1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G01N2021/9586Windscreens

Claims (1)

  1. PATENTANWALT 8900 Augsburg
    ιΛηΛ iijhsnliaci ι CKJive Wolframstraße 9
    JORG-MSCHAEL LEMKE Te|efon 0821/555007
    DIPLOM-INGENIEUR
    Europ. Patentanmeldung 82400257.0 Anm.: Cie Electro Mecanique
    C.E.M. L-ml 196-02
    28. Dezember 1982 Patentansprüche
    Verfahren zur Untersuchung von transparenten Folienmaterialien während des Bandlaufs, um die Fehlstellen des Materials aufzudecken und um einerseits die Fehler und andererseits die auf der genannten transparenten Folie abgelagerten Fremdkörper zu unterscheiden, dadurch gekennzein e t, daß eine der Seiten der genannten transparenten Folie (1) mittels einer Lichtquelle (6) mit schmaler öffnung und mit geringer Stärke beleuchtet wird, die ein diffuses Licht ausstrahlt; daß man mittels eines geeigneten konvergenten optischen Systems (2), das jenseits der anderen Seite der betrachteten transparenten Folie und auf einer zu ihrer Ebene senkrechten Achse angeordnet ist, das reelle scharfe Bild der Lichtquelle (6) in einer imaginären Ebene, die sich vor dem Photodetektor (3) befindet, -abbildet; daß man den Photodetektor (3) an der Stelle aufstellt, wo sich mittels desselben optischen Systems (2) das reelle scharfe Bild der Oberfläche der betrachteten Folie (1) in der Weise bildet, daß seine optische Achse sich von der Lichtquelle (6) in einer Entfernung (x) befindet, so daß er ständig einen Streifen des reellen ·. Bildes der genannten Lichtquelle bekommt, das sich in der vorgelagerten Ebene scharf und auf seiner Höhe unscharf abbildet; daß man die Stärke der
    Lichtquelle (6) genügend schwach regelt, damit die konstante Lichtmenge, "Lichtschwelle" genannt, die vom'Photodetektor (3) empfangen wird, auf dem sich der Streifen des reellen, unscharfen Bildes der Lichtquelle (6) abbildet, immer unter der Reizschwelle, "Fehlerschwelle" genannt, für das Auslösen des Analysensystems bleibt, das die vom Photodetektor (3) ausgestrahlten Signale empfängt und verarbeitet/ wobei die genannte "Fehlerschwelle" erreicht und überschritten wird, wenn ein Fehler auf dem beobachteten Material vorbeizieht, der ein Abweichen des Strahlenbündels durch Brechung hervorruft; daher Bildung eines hellen scharfen Bildes des genannten Fehlers auf dem Photodetektor (3) oberhalb des unscharfen, von ihm ständig teilweise empfangenen Bildes, was die Abgabe eines Signals hervorruft, das von den entsprechenden Geräten aufgenommen und weiterverarbeitet wird, und wobei das Vorbeiziehen eines lxchtundurchlässigen Gegenstandes, der lediglich auf der transparenten beobachteten Folie abgelagert ist, durch seine Lichtundurchlässigkext selbst nur ein Verblassen des reellen Bildes hervorruft, das teilweise vom Photodetektor ständig empfangen wird, dessen Erregung in diesem Fall unter der konstanten "Lichtschwelle" bleibt, wodurch ermöglicht wird, ihn entweder nicht oder ihn als solchen zu bemerken, wobei die Wahrnehmung der Fehler einerseits und des Schmutzes andererseits mittels eines einzigen Photodetektors gewährleistet ist, der eine einmalige Stellung einnimmt.
    Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die optimale Stellung der Lichtquelle (6) in bezug auf die optische Achse des Photodetektor-Systems (3) so ist, daß in diesem Punkt die optische Verstärkung, dargestellt durch Go * optimal ist, wobei A die Amplitude des vom
    Detektorgerät (3) ausgestrahlten Signals ist und (x) die Entfernung der.Lichtquelle (6) von der optischen Achse des Detektorsystems. (3) darstellt, und wobei die genannte Stellung des Detektors in bezug auf die Lichtquelle definiert wird als der Bereich des "Mischfeldes" zwischen dem sogenannten Bereich des "hellen Feldes", das ein Maximum an Beleuchtung aufweist, und dem sogenannten Bereich des "schwarzen Feldes", das dadurch gekennzeichnet ist, daß die lichtundurchlässigen Körper, die einer Lichtausstrahlung ausgesetzt sind, die Wirkung der Beugung hervorrufen, die von dem vorliegenden Verfahren ausgeschlossen ist.
    Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens gemäß allen vorangegangenen Ansprüchen, dadurch gekennzeichn e t, daß die Lichtquelle (6),die sich unter der zu kontrollierenden transparenten Fläche, die vorbeiläuft, befindet, schwach und linear ist, in bezug auf die Richtung des Vorbeilaufens der genannten Fläche in einem Winkel von 45° steht, parallel zur Horizontalebene der genannten Fläche und gleichzeitig parallel zur Vertikalebene, die die optische Achse des konvergenten Systems (2) und das lineare Netz der Photodioden (3) enthält, das das lichtempfangende Element darstellt, und sich letztlich in bezug auf diese Vertikalebene in einer Entfernung (x) befindet, so daß das genannte Detektornetz das berührt, was als der äußerste Streifen des reellen unscharfen Bildes betrachtet werden kann, das von dem optischen System (2) in der Ebene des Photodiodennetzes (3) wiedergegeben wird, das selbst in der Horizontalebene angeordnet ist, auf die das reelle scharfe Bild der zu kontrollierenden transparenten Fläche und jeden Fehlers, den sie aufweisen kann, projiziert wird; wobei die reziproken Längen und Stellungen der Lichtquelle (6) und des Photodiodennetzes so sind, daß das reelle unscharfe Bild, das das optische System (2) von der Licht-
    - 4 - ■
    quelle (6) auf die Ebene des Netzes (3) wiedergibt, die Länge des genannten Netzes abdeckt; das zyklische Abtasten der gesamten Oberfläche des Glases geschieht, ohne daß zwischen der Lichtquelle (6) und dem Photodiodennetz (3) ein bewegliches mechanisches Gerät eingesetzt würde, da ihr elektronisch eine Abtastfrequenz durch das Steuerelement auferlegt wird, wobei das Netz selbst eine eigene Testperiode von Diode zu Diode aufweist.
    4. Vorrichtung gemäß Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß, damit die Entfernung (x), in der sich die Lichtquelle von der Vertikalebene befinden muß, , in der sich die optische Achse des konvergenten Systems (2) und das lineare Netz der Photodioden (3) befinden, mit äußerster Präzision unverändert sowie die Parallelität der Lichtquelle (6) und dieser Vertikalebene vollkommen bleiben, um die optische Leistung auf der ganzen Länge des Detektornetzes optimal zu halten trotz der Änderungen, die in der Natur der zu kontrollierenden transparenten Fläche liegen, oder der räumlichen Abweichungen, die mit der Zeit in dem Gestell des Apparates selbst auftauchen können, das lineare Netz der Photodioden (3) auf einer Platte angebracht wird, die mit zwei kreisförmigen Zahnsegmenten (10) versehen ist, die sich diametral entgegengesetzt auf beiden Seiten des Netzes befinden und entweder gleichzeitig oder voneinander getrennt mit gleichen oder verschiedenen Geschwindigkeiten und in der gleichen Richtung oder entgegengesetzt mittels Förderschnecken (VT)/ die wiederum von jeder geeigneten irreversiblen Vorrichtung angetrieben werden können, beauf-
    schlagt werden, und zwar schrittweise, durch zwei Motore (12), die unabhängig voneinander gemäß der von jeder der Photodioden erhaltenen Lichtmenge gesteuert werden, derart, daß das genannte Netz automatisch parallel zu sich selbst oder im Winkel verschoben werden und sogar die beiden Bewegungen gleichzeitig ausführen kann, so daß es sich gemäß ihrer Resultierenden mit einem Maximalwert (kx) verschiebt, wobei k der Verkleinerungskoeffizient des optischen Systems ist.
    5. Vorrichtung gemäß Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn das auf das Photodiodennetz (3) projizierte reelle scharfe Bild der Breite der transparenten Fläche größer als dieses Netz ist, mehrere Detektoreinheiten nebeneinandergestellt werden, die jede auf beiden Seiten der transparenten Fläche (1) eine Lichtquelle (6), ein optisches System (2) und ein Detektornetz (3) haben, wobei jede in einem Winkel von 45° in bezug auf die Laufrichtung der transparenten Fläche steht und wobei der gegenseitige Standort jeder dieser Einheiten bzw. Geräte an den gemeinsamen Grenzen einen Bereich der Überlappung ihrer Lichtprojektion hat, um jede Unterbrechung zwischen ihnen zu vermeiden.
    6. Vorrichtung gemäß Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß ein Geschwindigkeitsmesser (16), der die Information bezüglich der Geschwindigkeit des Vorbeiziehens der zu kontrollierenden transparenten Fläche liefert, es erlaubt, die Koordinaten des eventuell entdeckten Fehlers festzustellen, wobei die Nummer der erregten Photodiode die Abzissen und der Geschwindigkeitsmesser die Ordinaten liefert,
    wobei es die gleiche Information außerdem erlaubt, die Frequenz des Abtastens der Photodiodennetze festzulegen, die notwendig sind, um die ganze Fläche des Bands (1) auf die gleiche Art zu kontrollieren, egal wie groß die Durchlaufgeschwindigkeit ist.
    Vorrichtung gemäß Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein Markierungselement (17) , das durch die so gelieferten Koordinaten-Informationen gesteuert wird und das die materielle Feststellung der Lage des Fehlers auf der so kontrollierten Fläche sicherstellt, aus einem Wagen besteht, der sich auf einem Führungselement befindet, das die ganze Breite des kontrollierten Bands einnimmt, wobei seine Verschiebung durch einen Motor mit verstärktem Anlauf- und Bremsmoment gesteuert wird, der die Abzisseninformationen durch die Nummer der Diode erhält, die von dem entsprechenden Fehler erregt wurde, wobei die Auslösung der Markierung selbst gemäß den Ordinaten geschieht, die durch die Informationen, die der Geschwindigkeitsmesser liefert, festgelegt sind, wobei diese beiden Informationen im Moment der Feststellung des Fehlers gespeichert werden, und wobei die Geschwindigkeitsinformation des Auslösen im Moment des Vorbeiziehens des Fehlers unter dem Markierungsgerät ermöglicht, das einen festen Körper aufweist, der eine sichtbare Markierung auf der kontrollierten Fläche hinterlassen kann, derart, daß das oder die so beschaffenen Markierungsgeräte sich senken, bis sie die Fläche (1) im für die Markierung festgelegten Moment berühren.
    Vorrichtung gemäß Anspruch 7, dadurch ge ken nz e i c h η e t, daß die gradlinige Öffnung jedes Behälters, der jede Lichtquelle (6) enthält, einem Druckluftgebläse ausgesetzt ist, das die Verstaubung jeder dieser Quellen verhindern
    - 7 soll.
    9. Vorrichtung nach sämtlichen vorhergehenden Ansprüchen, dad ü r c h g e k en η ζ e i c hne t, daß die elektrischen Signale, die von jeder der Photodioden des Detektornetzes (3) ausgehen, nach Verstärkung einem Komparator (2 6) weitergegeben werden, der übrigens getrennt davon die Information der Lichtschwelle und die der Fehlerschwelle erhält, wodurch es möglich wird, Lichtwerte und Fehlerwerte zu erhalten, die getrennt gespeichert und von einem Rechner analysiert werden können, der lebende oder tote Speicher, aufnehmende Datenverarbeitungsanlage genannt, beinhaltet, welche, abhängig von Außeninformationen, die von jeder Ein- und Ausgabemaschine (27) erhalten werden, Resultate liefert, die, von jeder Störung durch ein Sende-Empfangsgerät (31) gefiltert, das auch die Information des Geschwindigkeitsmessers erhält, zur Entscheidungs-Datenverarbeitungsanlage (21) weitergeleitet werden, die die entsprechenden Befehle an jedes Maschinenelement weitergibt, wie an den Leistungsverstärker (32), um die Beleuchtungsstärke der Lichtquellen (6) zu regeln, damit die Beständigkeit der "Lichtschwelle" an den elektronischen Regeleinrichtungen für die Frequenz des Abtastens der Breite des Bildes durch die Photodioden, das dieselben abhängig von der vom Geschwindigkeitsmesser (16) gelieferten Geschwindigkeitsinformation kontrollieren, und an der Markierungseinrichtung gemäß den Koordinaten des eventuellen Fehlers, sichergestellt ist, wobei die Schrittmotor© (12), die die Entfernung (kx) des Photodiodennetzes (3) in bezug auf das Bild der Lichtquelle sowie seine Parallelität in bezug auf diese aufrecht erhalten sollen, von der empfangenden Datenverarbeitungsanlage gesteuert werden.
    10. Vorrichtung gemäß Anspruch 9, dadurch gekenn-
    — 8 —
    ■»' ft
    zeichnet, daß eine elektronische Abdeckmaske vorgesehen wird, um die Photodioden automatisch blind werden zu lassen, die einer Bildbreite entspricht, die von beiden Seiten des kontrollierten Bands (1) festgelegt ist, egal um welche Breite es sich handelt } so daß weder das Bild des Bandrandes selbst, der nicht immer gradlinig ist, als Fehler gewertet wird noch die Spuren der Antriebsräder, die die Ränder aufweisen.
    11. Vorrichtung gemäß Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn eine überlappungs.fläche (13) zwischen den von mehreren Lichtquellen beleuchteten Flächen existiert, das eventuelle Fehlersignal, das das erste erreichte Netz abgibt, gespeichert wird und die Erregung der entsprechenden Diode oder der entsprechenden Dioden des zweiten Netzes in Richtung des Abspulens, das der gleichen Überlappungsfläche entspricht, verhindert wird bis zu dem Moment, wo der gleiche Fehler in der Höhe der Diode oder der Dioden vorüberzieht, damit dieses zweite Signal gegenüber dem ersten Signal, das schon wegen desselben Fehlers abgegeben worden ist, nicht überflüssig wird.
    12. Vorrichtung gemäß allen vorhergehenden Ansprüchen, d adurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle oder die Lichtquellen (3) aus soviel Leuchtröhren besteht bzw. bestehen, deren Versorgung unter 25 Khz liegt, daß eine vollkommene Kontinuität des Vorgangs aufgrund der geringen Remanenz der Leuchtröhre gewährleistet ist.
    13. Vorrichtung' gemäß Msprüch 12, d a d'u roh g e k e η η~ zeichnet, daß für die besondere Kontrolle von ge-
    - 9
    schnittenen Glasbändern, die insbesondere für die Herstellung von z. B. Windschutzscheiben,laminiert oder ge™ härtet, vorgesehen sind, diese Kontrolle sich nicht auf Fehler, selbst kleinste, beschränken darf, die die Kontrolle unter "Mischfeid" erlaubt, sondern bis zur Entdeckung von Schmutz, der trotz der vorherigen Wäsche übrigbleiben konnte, getrieben werden muß, damit die Folie bei der Laminierung oder Härtung von jedem Fehler oder Schmutz befreit ist; die gesamte Beleuchtung "Mischfeid", die insbesondere für die Kontrolle der Fehler bestimmt ist, wird durch eine intensive Beleuchtung (37) vervollständigt, die unter dem Glasband angebracht ist, und durch eine oberhalb gelegene Beleuchtung (39), die diese Kontrolle durch Reflexion vervollständigt; diese zwei Ergänzungsbeleuchtungen sind selbst sowohl zur Horizontalebene des zu kontrollierenden Glases als auch zur Vertikalebene parallel, die die optische Achse und das Photodiodennetz enthält, und ihre jeweiligen Entfernungen (x1) und (x11) zu dieser letzten Ebene sind derart, daß alle beide sich an den unteren Grenzen des "Mischfeldes" befinden.
    14. Vorrichtung gemäß Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß der Geschwindigkeitsmesser (16) in diesem Fall mit einer Tragrolle für das zu kontrollierende Glasband fest verbunden ist.
    15. Vorrichtung gemäß Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der geschliffene Rand des Glasbandes (38), der vom Photodiodennetz als Fehler betrachtet wird, es ermöglicht, die Länge des genannten Bands genau zn bestimmen, demnach in bezug auf seine Fläche und unter Berücksichtigung der Informationen des Geschwindigkeitsmessers die genauen
    - 10 -
    Koordinaten des eventuellen Fehlers oder Schmutzes im Bereich der Oberfläche der kontrollierten Folie festzulegen sowie eine periphere Zone zu schaffen, die abgedeckt werden kann, falls es sich als nützlich erweisen sollte, auf ihrer Fläche keine Fehlererkennung durchzuführen .
DE198282400257T 1981-02-25 1982-02-15 Verfahren zur untersuchung von fehlern an glasbahnen und einrichtung zur ausfuehrung dieses verfahrens. Pending DE60160T1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8104139A FR2500630A1 (fr) 1981-02-25 1981-02-25 Procede pour la recherche des defauts des feuilles de verre et dispositif mettant en oeuvre ce procede

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE60160T1 true DE60160T1 (de) 1983-04-28

Family

ID=9255777

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE198282400257T Pending DE60160T1 (de) 1981-02-25 1982-02-15 Verfahren zur untersuchung von fehlern an glasbahnen und einrichtung zur ausfuehrung dieses verfahrens.
DE8282400257T Expired DE3263483D1 (en) 1981-02-25 1982-02-15 Method for the detection of defects in glass sheets, and device for carrying out such a method

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE8282400257T Expired DE3263483D1 (en) 1981-02-25 1982-02-15 Method for the detection of defects in glass sheets, and device for carrying out such a method

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4492477A (de)
EP (1) EP0060160B1 (de)
JP (1) JPS57160049A (de)
AT (1) ATE13354T1 (de)
CA (1) CA1197915A (de)
DE (2) DE60160T1 (de)
FR (1) FR2500630A1 (de)

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3325125C1 (de) * 1983-07-12 1985-02-14 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen
FR2571143B1 (fr) * 1984-10-02 1988-03-25 Languedoc Verrerie Procede et dispositif de controle sans contact d'objets fabriques automatiquement a haute cadence
ATE38289T1 (de) * 1984-12-14 1988-11-15 Flachglas Ag Verfahren und vorrichtung zum pruefen von transparenten materialbahnen, insbesondere flachglasbaendern.
JPS62138740A (ja) * 1985-12-13 1987-06-22 Hiyuutec:Kk シ−ト面の欠陥検出方法
US4794265A (en) * 1987-05-08 1988-12-27 Qc Optics, Inc. Surface pit detection system and method
US4794264A (en) * 1987-05-08 1988-12-27 Qc Optics, Inc. Surface defect detection and confirmation system and method
JPH01169343A (ja) * 1987-12-25 1989-07-04 Nippon Sheet Glass Co Ltd ガラス板の切口欠点検出装置
DE3816392A1 (de) * 1988-05-13 1989-11-23 Ver Glaswerke Gmbh Verfahren zur bestimmung der optischen qualitaet von flachglas oder flachglasprodukten
US4954891A (en) * 1988-07-11 1990-09-04 Process Automation Business, Inc. Light guided illuminating/sectioning device for sheet inspection system
FR2637067B1 (fr) * 1988-09-23 1991-07-05 Sgn Soc Gen Tech Nouvelle Dispositif de determination de la forme du bord d'un objet galbe
US4914285A (en) * 1988-12-27 1990-04-03 Eastman Kodak Company Control means for web scanning apparatus
JP2795595B2 (ja) * 1992-06-26 1998-09-10 セントラル硝子株式会社 透明板状体の欠点検出方法
JP3178644B2 (ja) * 1995-02-10 2001-06-25 セントラル硝子株式会社 透明板状体の欠点検出方法
US5642198A (en) * 1995-04-03 1997-06-24 Long; William R. Method of inspecting moving material
US5696591A (en) * 1996-01-05 1997-12-09 Eastman Kodak Company Apparatus and method for detecting longitudinally oriented flaws in a moving web
SE9601800D0 (sv) * 1996-05-13 1996-05-13 Svante Bjoerk Ab Anordning och metod för detektering av defekter
WO1997046329A1 (en) * 1996-06-04 1997-12-11 Inex, Inc. Doing Business As Inex Vision Systems, Inc. System and method for stress detection in a molded container
SE511822C2 (sv) 1996-11-13 1999-11-29 Svante Bjoerk Ab Anordning och metod för att markera defekter på en transparent remsa
WO1998034096A1 (en) * 1997-01-31 1998-08-06 Medar, Inc. Method and system for detecting defects in transparent objects having spatial variations in their optical density
US6115118A (en) * 1997-08-25 2000-09-05 Northstar Automotive Glass, Inc. Vehicle windshield scanning system
US6011620A (en) * 1998-04-06 2000-01-04 Northrop Grumman Corporation Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive planar objects
CA2252308C (en) 1998-10-30 2005-01-04 Image Processing Systems, Inc. Glass inspection system
US6359686B1 (en) * 1999-06-29 2002-03-19 Corning Incorporated Inspection system for sheet material
US6633377B1 (en) 2000-04-20 2003-10-14 Image Processing Systems Inc. Dark view inspection system for transparent media
US6501546B1 (en) 2000-05-05 2002-12-31 Photon Dynamics Canada Inc. Inspection system for edges of glass
US6512239B1 (en) 2000-06-27 2003-01-28 Photon Dynamics Canada Inc. Stereo vision inspection system for transparent media
US7169210B2 (en) * 2001-07-31 2007-01-30 Praxair Technology, Inc. Control system for helium recovery
DE10316707B4 (de) * 2003-04-04 2006-04-27 Schott Ag Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material
EP1553403B1 (de) * 2004-01-07 2006-10-04 Volker Dipl.-Ing. Schaft Verfahren und Einrichtung zum Überprüfen eines Glasschutzrohres für die Glühwendel einer Infrarotstrahlerwärmequelle auf Unversertheit
GB2415776B (en) * 2004-06-28 2009-01-28 Carglass Luxembourg Sarl Zug Investigation of vehicle glazing panels
KR101079501B1 (ko) * 2004-08-27 2011-11-03 쓰쿠바 세이코 가부시키가이샤 반송 검사 장치 및 반송 장치
WO2006087213A2 (de) * 2005-02-18 2006-08-24 Schott Ag Verfahren und vorrichtung zur erfassung und/oder klassifizierung von fehlstellen
JP4628824B2 (ja) * 2005-03-10 2011-02-09 富士フイルム株式会社 フイルムの欠陥検査装置及びフイルムの製造方法
US7283227B2 (en) * 2005-11-21 2007-10-16 Corning Incorporated Oblique transmission illumination inspection system and method for inspecting a glass sheet
GB0606217D0 (en) * 2006-03-29 2006-05-10 Pilkington Plc Glazing inspection
US7369240B1 (en) 2006-07-20 2008-05-06 Litesentry Corporation Apparatus and methods for real-time adaptive inspection for glass production
GB0702937D0 (en) * 2007-02-15 2007-03-28 Pilkington Group Ltd Glazing inspection
US7551274B1 (en) 2007-02-28 2009-06-23 Lite Sentry Corporation Defect detection lighting system and methods for large glass sheets
KR101209857B1 (ko) * 2009-02-20 2012-12-10 삼성코닝정밀소재 주식회사 유리 표면 이물 검사 장치 및 방법
JP5514955B2 (ja) 2010-04-21 2014-06-04 エルジー・ケム・リミテッド ガラスシート切断装置
DE102010046433B4 (de) * 2010-09-24 2012-06-21 Grenzebach Maschinenbau Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Fehlstellen in kontinuierlich erzeugtem Float-Glas
CN102175690B (zh) * 2011-01-24 2012-11-28 宁波大学 一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置
DE102013002602B4 (de) 2013-02-15 2022-05-05 Hegla Boraident Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Partikeln in Glas
GB201303324D0 (en) * 2013-02-25 2013-04-10 Subterandt Ltd Passive detection of deformation under coatings
US9750832B2 (en) * 2015-01-26 2017-09-05 E & C Manufacturing, LLC Ultraviolet and misting disinfecting unit
EP3076164A1 (de) * 2015-04-03 2016-10-05 AGC Glass Europe Kontrollverfahren für flachglas
KR102499831B1 (ko) * 2016-05-23 2023-02-14 코닝 인코포레이티드 글라스 시트의 무중력 형상 예측 방법 및 무중력 형상 기반 글라스 시트 품질 관리 방법
WO2020060772A1 (en) * 2018-09-19 2020-03-26 Corning Incorporated Methods of measuring a size of edge defects of glass sheets using an edge defect gauge and corresponding edge defect gauge
CN112881428A (zh) * 2021-01-20 2021-06-01 苏州协同创新智能制造装备有限公司 一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2803755A (en) * 1954-12-16 1957-08-20 Gen Electric Automatic inspection gage
US3533706A (en) * 1966-05-02 1970-10-13 Libbey Owens Ford Glass Co Inspecting glass
US3445672A (en) * 1966-08-15 1969-05-20 Philco Ford Corp Flaw detection and marking system
BE699861A (de) * 1967-06-13 1967-11-16
FR2157041A5 (de) * 1971-10-15 1973-06-01 Saint Gobain
US3814946A (en) * 1972-12-04 1974-06-04 Asahi Glass Co Ltd Method of detecting defects in transparent and semitransparent bodies
US3792930A (en) * 1973-05-31 1974-02-19 Ppg Industries Inc System for determining the nature of optical distortion in glass
US3877821A (en) * 1973-07-23 1975-04-15 Inex Inc Apparatus for detecting flaws using an array of photo sensitive devices
US3932042A (en) * 1974-05-20 1976-01-13 Barry-Wehmiller Company Container inspection apparatus and method of inspection
US4038554A (en) * 1976-03-09 1977-07-26 Columbia Research Corporation Detection of flaws in a moving web of transparent material
FR2406916A1 (fr) * 1977-10-18 1979-05-18 Ibm France Systeme de transmission de donnees decentralise
JPS5459982A (en) * 1977-10-20 1979-05-15 Nippon Sheet Glass Co Ltd Device for identifying glass plate default type
US4223346A (en) * 1979-04-05 1980-09-16 Armco Inc. Automatic defect detecting inspection apparatus
US4308959A (en) * 1979-05-30 1982-01-05 Geosource Inc. Roll sorting apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
DE3263483D1 (en) 1985-06-20
EP0060160A1 (de) 1982-09-15
CA1197915A (en) 1985-12-10
JPS57160049A (en) 1982-10-02
US4492477A (en) 1985-01-08
ATE13354T1 (de) 1985-06-15
FR2500630A1 (fr) 1982-08-27
FR2500630B1 (de) 1984-10-05
EP0060160B1 (de) 1985-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60160T1 (de) Verfahren zur untersuchung von fehlern an glasbahnen und einrichtung zur ausfuehrung dieses verfahrens.
DE2428123C2 (de) Anordnung zum Nachweisen von Fehlstellen eines mittels eines Laserstrahls abgetasteten Materials
DE2449958A1 (de) Code-lesevorrichtung
EP0096152A2 (de) Stellungsgeber für Antriebsanlagen, insbesondere von Fahrzeugen
DE2213171C3 (de) Vorrichtung zum Ausrichten zweier mit Ausrichtungsmustern versehener Gegenstände, insbesondere einer transparenten Maske gegenüber einem HaIbleiterplittchen
DE2800415A1 (de) Einrichtung zur feststellung und identifizierung lumineszierender organischer stoffe auf einem werkstueck
DE2244340A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur vorpruefung von kopiervorlagen
EP0811146B1 (de) Verfahren zum messen einer lage einer kante von bahnen oder bogen
DE3737797A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur verarbeitung von entwickelten fotografischen filmen
DE1910049A1 (de) Vorrichtung zum Aufdecken von Maengeln oder Fehlern auf einer Bahn
DE2640442C3 (de) Vorrichtung zur Ermittlung von extremen Dichtewerten
DE1548747B1 (de) Vorrichtung zur Kompensation von Stoereinfluessen im Strahlengang einer foto-elektrischen Abtasteinrichtung
DE3741195A1 (de) Verfahren zur qualitaetskontrolle eines flaechigen objektes, insbesondere zur fehlererkennung bei textilen stoffen, und vorrichtung hierzu
DE1235027B (de) Optisches Informationsdarstellungsgeraet
DE1798349A1 (de) Verfahren,Vorrichtung und Einrichtung zum Auffinden und Klassieren von Fehlern in einem Band oder einem Schleier von Textilfasern
DE1448536B1 (de) Vorrichtung zur Auswertung zweier stereophotographischer lichtdurchlaessiger Bilder
DE2061381A1 (de) Interferometer
DE2718086C2 (de) Vorrichtung zur Feststellung von Oberflächenfehlern von Stahlteilen
DE2101689A1 (de) Anordnung zur Durchführung eines Verfahrens zum berühungslosen optischen Prüfen und Messen von Oberflächen
DE3129808A1 (de) Verfahren zum pruefen von transparenten materialbahnen
DD202470A5 (de) Verfahren und vorrichtung zum pruefen von transparenten material-bahnen
DE2655704B2 (de) Vorrichtung zum Ermitteln von Fremdkörpern in Glasflaschen
DE19506466C1 (de) Vorrichtung zum Messen einer Lage einer Kante von Bogen
DE713102C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung und Aufzeichnung von Bildstandschwankungen bei Laufbildwerfern
DE2614374A1 (de) Anordnung zur spur- und sturzmessung an kraftfahrzeugen