DE60107406T2

DE60107406T2 - Informationsspeichervorrichtung und Schreib- und/oder Lesemethode

Info

Publication number: DE60107406T2
Application number: DE60107406T
Authority: DE
Inventors: Toru Kawasaki-shi Ikeda; Shigenori Kawasaki-shi Yanagi
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Panasonic Corp
Priority date: 2001-05-30
Filing date: 2001-09-26
Publication date: 2005-06-30
Anticipated expiration: 2021-09-27
Also published as: JP2002358672A; JP3768415B2; DE60107406D1; US7095690B2; US20020181364A1; EP1274078B1; EP1274078A1

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG
1. Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung betrifft im allgemeinen Schreib- und/oder Löschverfahren und Speichervorrichtungen, und im besonderen ein Schreib- und/oder Löschverfahren (im folgenden einfach als Schreib-/Löschverfahren bezeichnet), das Parameter festlegt, die beim Schreiben und/oder Löschen (Schreiben/Löschen) bezüglich eines Aufzeichnungsmediums in Abhängigkeit von einer Schreib- und/oder Löschenergie (Schreib-/Löschenergie) verwendet werden, und ein Speichermedium, bei dem solch ein Schreib-/Löschverfahren zum Einsatz kommt.
Zusätzlich zu magneto-optischen Platteneinheiten, die Informationen bezüglich eines Stegs einer magneto-optischen Platte aufzeichnen und/oder wiedergeben (aufzeichnen/wiedergeben), werden magneto-optische Platteneinheiten vorgeschlagen, die die Informationen sowohl bezüglich eines Stegs als auch einer Nut der magneto-optischen Platte aufzeichnen/wiedergeben. Durch den Einsatz des sogenannten Steg-Nut-Aufzeichnungssystems, bei dem die Informationen sowohl auf dem Steg als auch auf der Nut der magneto-optischen Platte aufgezeichnet werden, ist es möglich, die Aufzeichnungsdichte auf der magneto-optischen Platte zu erhöhen.
2. Beschreibung der verwandten Technik
In einem optischen Aufzeichnungsmedium, wofür eine magneto-optische Platte ein typisches Beispiel ist, bei dem das Steg-Nut-Aufzeichnungssystem zum Einsatz kommt und eine schmale Spurteilung vorhanden ist, kann sich eine Signalwiedergabeleistung einer Zielspur auf Grund einer Signalinterferenz verschlechtern, die durch ein auf eine Nachbarspur geschriebenes Signal verursacht wird. Es ist bekannt, daß diese Signalinterferenz von einer Schreibenergie eines Lichtstrahls abhängt, der verwendet wird, um das Signal auf die Nachbarspur zu schreiben, und von einem Positionsfehler des Lichtstrahls bezüglich der Spur abhängt. Zusätzlich ist auch bekannt, daß ein tolerierbarer Betrag des Positionsfehlers des Lichtstrahls bezüglich der Spur abnimmt, wenn die Schreibenergie groß wird, und daß der tolerierbare Betrag des Positionsfehlers des Lichtstrahls bezüglich der Spur zunimmt, wenn die Schreibenergie klein wird.
Mit anderen Worten, da das optische Aufzeichnungsmedium die schmale Spurteilung hat, tritt bezüglich der Nachbarspur, die mit der Zielspur benachbart ist, auf die die Informationen geschrieben werden, eine Wärmeleitung auf, falls die Schreibenergie groß ist. Als Resultat kann das auf die Nachbarspur geschriebene Signal gelöscht werden, oder das auf die Zielspur geschriebene Signal kann in die Nachbarspur eindringen. Aus diesem Grund wird der Schreibsignalpegel der Nachbarspur verschlechtert, wenn die Schreibenergie groß ist.
Daher ist ein Verfahren zum Unterdrücken der Verschlechterung des Schreibsignalpegels der Nachbarspur durch Einstellung der Schreibenergie zum Beispiel in der japanischen offengelegten Patentanmeldung Nr. 11-16251 vorgeschlagen worden. Dieses Dokument bildet die Basis der Präambel der Ansprüche 1 und 7. Bei diesem Verfahren erfolgt ein sequentielles Testschreiben eines ersten Testmusters und eines zweiten Testmusters wenigstens auf zwei Nachbarspuren durch einen Lichtemissionsantrieb der Laserdiode durch eine vorbestimmte Lichtemissionsenergie durch eine Nachbarspurbestätigungseinheit, und danach wird das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers überprüft, indem zunächst eine Wiedergabe der Nachbarspur erfolgt, auf der das Testschreiben des ersten Testmusters erfolgte, und wenn kein Datenfehler vorhanden ist, wird die Lichtemissionsener gie, die zum Testschreiben verwendet wird, auf eine Aufzeichnungsenergie eingestellt. Gemäß diesem Vorschlag wird somit, nachdem die Aufzeichnungsenergie bestimmt ist, das Testschreiben mit der vorbestimmten Aufzeichnungsenergie ausgeführt, und nur wenn bestätigt wird, daß kein Datenfehler der Nachbarspur vorhanden ist, wird die bestimmte Aufzeichnungsenergie als effektive Aufzeichnungsenergie eingestellt, die für eine tatsächliche Medienaufzeichnung zu verwenden ist. Auch im Falle eines Mediums, bei dem eine hohe Dichte realisiert wird, indem ein Spurintervall verengt wird, kann eine optimale Aufzeichnung realisiert werden, ohne einen Fehler in Daten der Nachbarspur zu verursachen, auf Grund der eingestellten Aufzeichnungsenergie des Empfangens von Leck-Daten von der Nachbarspur.
Wenn die Schreibenergie jedoch groß ist, dringt das Signal von den Nachbarspuren dennoch ein, wenn von der Zielspur gelesen wird, da das optische Aufzeichnungsmedium die schmale Spurteilung hat. Besonders, wenn die Schreibenergie der Nachbarspur groß ist, dringt das von der Nachbarspur gelesene Signal leicht in das von der Zielspur gelesene Signal ein.
Gemäß der herkömmlichen Speichervorrichtung wird jedoch unter der Annahme, daß der Lichtstrahl die Mitte der Spur auf dem Aufzeichnungsmedium scant, eine Grenze der Schreibenergie erhalten. Wenn eine externe Vibration oder Erschütterung auf die Speichervorrichtung angewendet wird, scant der Lichtstrahl aus diesem Grund tatsächlich eine Position, die von der Mitte der Spur abweicht, und es war möglich, daß sich das Signal der Nachbarspur verschlechtert, wie oben beschrieben.
Andererseits wird in der japanischen offengelegten Patentanmeldung Nr. 2000-182292 ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem die Schreibenergie während eines Schreibwiederho lungsprozesses variiert wird, eine statistische Schreiberfolgsrate bezüglich der Schreibenergie erhalten wird und die Schreibenergie auf der Basis der Schreiberfolgsrate auf einen optimalen Wert gesteuert wird. In diesem Fall werden die Schreibenergie und/oder die Löschenergie vorsätzlich eingestellt, aber es ist erforderlich, einen Spurabseitsdetektionsschnittpegel einzustellen, der zum Detektieren eines Spurabseits des Lichtstrahls verwendet wird, wobei der Fall angenommen wird, daß die Schreibenergie und/oder die Löschenergie hoch ist. Als Resultat wird das Spurabseits sehr streng überwacht, und es bestand die Möglichkeit, daß das Spurabseits mit zu hoher Empfindlichkeit detektiert wurde.
EP-A-0 392 561 offenbart, daß es während des Aufzeichnens von Daten auf der optischen Platte wichtig ist, den Aufzeichnungslichtstrahl auf einer vorbestimmten Spur zu halten. Falls der Lichtstrahl auf eine Nachbarspur springt, werden Daten, die auf jener Spur aufgezeichnet sind, wahrscheinlich zerstört. Um sicherzustellen, daß der Lichtstrahl der gewünschten Spur folgt, wird ein Spurverfolgungssignal mit einem Servoabweichungsschwellenpegel verglichen. Falls der Schwellenpegel überschritten wird, wird das Aufzeichnen unterbrochen.
Gemäß US-A-4 669 072 umfaßt eine Steuervorrichtung zum Steuern eines optischen Videoplattenspielers, der Video- und/oder Audioinformationen auf einem Aufzeichnungsmedium durch einen Lichtstrahl optisch aufzeichnen und wiedergeben kann, eine Spurverfolgungsfehlerdetektionsschaltung, die einen Fehler des Lichtstrahls beim akkuraten Verfolgen einer auf dem Aufzeichnungsmedium gebildeten Spur detektiert, und eine Lichtstrahlsteuersignalgeneratorschaltung, die die Energie des Lichtstrahls als Reaktion auf die Detektion des Spurverfolgungsfehlers durch die Spurverfolgungsfehlerdetek tionsschaltung reduziert, wodurch die Aufzeichnung von Informationen auf dem Aufzeichnungsmedium im Fall des Auftretens eines Spurverfolgungsfehlers verhindert wird.
EP-A-0 565 162 offenbart, daß das Lesen und Schreiben von Informationen auf den konzentrischen Datenspuren auf einer rotierenden Platte Datenfehlern unterliegt, die sich aus Kopf-Spurverfolgungsfehlern ergeben, die während des Datenspeicherns und während der Datenwiederauffindung auftreten. Ein Verfahren zum Reduzieren sowohl harter (Schreib-)Fehler als auch weicher (Lese-)Fehler während des Schreibens und Lesens von einer Speichervorrichtung ist das Definieren einer Spurmittellinie und das Einrichten von abgegrenzten Spurabseitsregionen um jede Spurmittellinie auf der Platte, nämlich einer Schreibspurabseitsgrenze [engl.: write offtrack limit (WOL)] und Lesespurabseitsgrenze [engl.: read offtrack limit (ROL)]. Das Spurabseitsverfahren sieht ein Schwellenmaß zum Verhindern der Lese- oder Schreibfunktion der Kopfbaugruppe vor. Das heißt, die Schreibfunktion wird verhindert (gesperrt), wenn die Kopfposition die innere oder äußere WOL verläßt. Durch Verhindern des Schreibens von Informationen durch einen Aufzeichnungskopf während eines Überlappens in eine Nachbarspur, das aus einem großen Positionsfehler resultiert, vermeidet diese Grenze harte Datenfehler. Die WOLs definieren eine "Schreibgrenzenbreite" für die Spur. Kopfpositionsfehler, die größer als die Hälfte dieser Schreibgrenzenbreite sind, erzwingen eine definitive Schreibverhinderungsentscheidung.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Daher ist es eine allgemeine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein neues und nützliches Schreib-/Löschverfahren und eine Speichervorrichtung vorzusehen, bei denen die oben beschriebenen Probleme eliminiert sind.
Ein anderes und spezifischeres Ziel der vorliegenden Erfindung ist das Vorsehen eines Schreib-/Löschverfahrens und einer Speichervorrichtung, durch die eine Verschlechterung eines Signals einer Nachbarspur definitiv verhindert werden kann, auch wenn ein Lichtstrahl eine Position scant, die von einer Mitte einer Spur auf einem Aufzeichnungsmedium abweicht, oder ein gewisser Fehler bei einer Schreib-/Löschenergie erzeugt wird.
Noch ein anderes Ziel der vorliegenden Erfindung ist das Vorsehen eines Schreib- und/oder Löschverfahrens, das für eine Speichervorrichtung ausgelegt ist, die eine Funktion zum Verändern einer Schreib- und/oder Löschenergie eines Lichtstrahls bezüglich eines Aufzeichnungsmediums hat, mit dem Schritt zum Einstellen eines Schreib- und/oder Löschschnittpegels zum Detektieren eines Spurabseits des Lichtstrahls bezüglich einer Spur auf dem Aufzeichnungsmedium, wie es in Anspruch 1 definiert ist. Gemäß dem Schreib- und/oder Löschverfahren der vorliegenden Erfindung ist es möglich, die Verschlechterung eines Signals einer Nachbarspur definitiv zu verhindern, auch wenn der Lichtstrahl eine Position scant, die von einer Mitte einer Spur auf dem Aufzeichnungsmedium abweicht, oder ein gewisser Fehler bei der Schreib-/Löschenergie erzeugt wird.
Ein anderes Ziel der vorliegenden Erfindung ist das Vorsehen des obigen Schreib- und/oder Löschverfahrens, bei dem der obenerwähnte Einstellungsschritt ferner wenigstens einen Parameter einstellt, der ausgewählt ist aus einer Gruppe von Schreib- und/oder Löschparametern bestehend aus einer Spurabseitsdetektionszeitkonstante, einem Schreib- und/oder Löschschnittpegel zum Detektieren einer externen Vibration oder Erschütterung, die auf die Speichervorrichtung angewendet wird, und einer Erschütterungsdetektionszeitkonstante zum Detektieren der externen Vibration oder Erschütterung. Gemäß dem Schreib- und/oder Löschverfahren, wie es gerade beschrieben wurde, ist es möglich, die Verschlechterung eines Signals einer Nachbarspur definitiv zu verhindern, auch wenn der Lichtstrahl eine Position scant, die von einer Mitte einer Spur auf dem Aufzeichnungsmedium abweicht, oder ein gewisser Fehler bei der Schreib-/Löschenergie erzeugt wird.
Eine Abhängigkeit der Schreibparameter bezüglich der Schreibenergie kann sich von einer Abhängigkeit der Löschparameter bezüglich der Löschenergie unterscheiden.
Noch ein anderes Ziel der vorliegenden Erfindung ist das Vorsehen einer Speichervorrichtung mit einer Funktion zum Verändern einer Schreib- und/oder Löschenergie eines Lichtstrahls bezüglich eines Aufzeichnungsmediums, mit einer Einstellsektion zum Einstellen eines Schreib- und/oder Löschschnittpegels zum Detektieren eines Spurabseits des Lichtstrahls bezüglich einer Spur auf dem Aufzeichnungsmedium, wie sie in Anspruch 7 definiert ist. Gemäß der Speichervorrichtung der vorliegenden Erfindung ist es möglich, die Verschlechterung eines Signals einer Nachbarspur definitiv zu verhindern, auch wenn der Lichtstrahl eine Position scant, die von einer Mitte einer Spur auf dem Aufzeichnungsmedium abweicht, oder ein gewisser Fehler bei der Schreib-/Löschenergie erzeugt wird.
Ein anderes Ziel der vorliegenden Erfindung ist das Vorsehen der obigen Speichervorrichtung, in der die Einstellsektion ferner wenigstens einen Parameter einstellt, der ausgewählt ist aus einer Gruppe von Schreib- und/oder Löschparametern bestehend aus einer Spurabseitsdetektionszeitkonstante, einem Schreib- und/oder Löschschnittpegel zum Detektieren einer externen Vibration oder Erschütterung, die auf die Speichervorrichtung angewendet wird; und einer Erschütterungsdetektionszeitkonstante zum Detektieren der externen Vibration oder Erschütterung. Gemäß der Speichervorrichtung, wie oben beschrieben, ist es möglich, die Verschlechterung eines Signals einer Nachbarspur definitiv zu verhindern, auch wenn der Lichtstrahl eine Position scant, die von einer Mitte einer Spur auf dem Aufzeichnungsmedium abweicht, oder ein gewisser Fehler bei der Schreib-/Löschenergie erzeugt wird.
Andere Ziele und weitere Merkmale der vorliegenden Erfindung gehen aus der folgenden eingehenden Beschreibung in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen hervor.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
1 ist ein Systemblockdiagramm, das eine Struktur einer ersten Ausführungsform einer Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt;
2 ist eine Querschnittsansicht, die eine allgemeine Struktur eines Gehäuses zeigt;
3 ist ein Systemblockdiagramm, das einen wichtigen Teil der ersten Ausführungsform der Speichervorrichtung zeigt;
4 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern einer Operation einer MPU der ersten Ausführungsform der Speichervorrichtung;
5 ist ein Systemblockdiagramm, das einen wichtigen Teil einer zweiten Ausführungsform der Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt;
6 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern der Operation der MPU der zweiten Ausführungsform der Speichervorrichtung;
7 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern eines Unterbrechungsprozesses der MPU;
8 ist ein Diagramm zum Erläutern einer Beziehung einer Schreibenergie und verschiedener Parameter;
9 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern von Prozessen der MPU und eines ODC, wenn ein Schreibbefehl von einer Hosteinheit ausgegeben wird und
10 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern der Prozesse der MPU und des ODC, wenn der Schreibbefehl von der Hosteinheit ausgegeben wird.
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
Es folgt eine Beschreibung von gegebenen Ausführungsformen eines Schreib-/Löschverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung und einer Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen.
1 ist ein Systemblockdiagramm, das die Struktur einer ersten Ausführungsform der Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt. Die optische Platteneinheit enthält im allgemeinen, wie in 1 gezeigt, eine Steuereinheit 110 und ein Gehäuse 111. Die Steuereinheit 110 enthält eine Mikroprozessoreinheit (MPU) 112, die die Operation der optischen Platteneinheit im allgemeinen steuert, eine Schnittstelle 117, die Befehle und Daten austauscht zwischen einer Hosteinheit (nicht gezeigt), einem optischen Plattencontroller (ODC) 114, der Prozesse ausführt, die zum Lesen und Schreiben von Daten bezüglich einer optischen Platte (nicht gezeigt) erforderlich sind, einem digitalen Signalprozessor (DSP) 116 und einem Speicher 118. Der Speicher 118 wird durch die MPU 112, den ODC 114 und die Schnittstelle 117 gemeinsam verwendet, und er enthält zum Beispiel einen dynamischen Speicher mit wahlfreiem Zugriff (DRAM), einen nichtflüchtigen Speicher, der Steuerprogramme und Flaginformationen speichert, oder dergleichen. Ein Quarzoszillator 3101 ist mit der MPU 112 gekoppelt.
Der ODC 114 enthält einen Formatierer 114-1 und einen Fehlerkorrekturcode-(ECC)-Prozessor 114-2. Bei einem Schreibzugriff teilt der Formatierer 114-1 NRZ-Schreibdaten in Sektoreinheiten der optischen Platte und erzeugt ein Aufzeichnungsformat, und der ECC-Prozessor 114-2 erzeugt einen ECC bezüglich der Sektorschreibdateneinheiten und fügt ihn hinzu und erzeugt auch, falls erforderlich, einen Code der zyklischen Blocksicherung (CRC) und fügt ihn hinzu. Ferner konvertiert der ECC-Prozessor 114-2 die Sektordaten mit dem codierten ECC zum Beispiel in einen 1-7-lauflängenbegrenzten (RLL) Code.
Bei einem Lesezugriff wird eine Rückkonvertierung des 1-7-RLL bezüglich der Sektordaten ausgeführt, und nach Ausführung der CRC werden die Fehlerdetektion und Fehlerkorrektur unter Verwendung des ECC in dem ECC-Prozessor 114-2 ausgeführt. Ferner werden die NRZ-Daten in Sektoreinheiten in dem Formatierer 114-1 verbunden, um einen NRZ-Lesedatenstrom zu der Hosteinheit zu übertragen.
Eine hochintegrierte (LSI) Lese-/Schreibschaltung 120 ist bezüglich des ODC 114 vorgesehen. Diese LSI-Lese-/Schreibschaltung 120 enthält einen Schreibmodulator 121, eine Laserdiodensteuerschaltung 122, einen Lesedemodulator 125 und einen Frequenzsynthesizer 126. Eine Steuerausgabe der Laserdiodensteuerschaltung 122 wird einer Laserdiodeneinheit 130 zugeführt, die in einer optischen Einheit des Gehäuses 111 vorgesehen ist. Die Laserdiodeneinheit 130 enthält integral eine Laserdiode 130-1 und einen Überwachungsdetektor 130-2. Der Schreibmodulator 121 konvertiert die Schreibdaten in das Datenformat der Grübchenpositionsmodulations-(PPM)-Aufzeichnung (oder Markierungsaufzeichnung) oder einer Impulsbreitenmodulations-(PWM)-Aufzeichnung (oder Flankenaufzeichnung).
Wenn Daten bezüglich der optischen Platte unter Verwendung der Laserdiodeneinheit 130 aufgezeichnet und wiedergegeben werden, wird bei dieser Ausführungsform ein beschreib bares magneto-optisches (MO) Kassettenmedium verwendet, bei dem die PWM-Aufzeichnung zum Einsatz kommt, wodurch die Daten in Entsprechung zu der Existenz von Markierungsflanken auf der optischen Platte aufgezeichnet werden. Zusätzlich ist das durch die optische Platte verwendete Aufzeichnungsformat ein 2,3-GB-Format unter Verwendung der magnetischen Superauflösung (MSR) und des ZCAV-Systems. Wenn die optische Platte in die optische Platteneinheit geladen ist, wird zuerst ein Identifikations-(ID)-Abschnitt der optischen Platte gelesen, um den Typ (Speicherkapazität und dergleichen) der optischen Platte in der MPU 112 auf der Basis von Grübchenintervallen des ID-Abschnittes zu erkennen. Die MPU 112 meldet das Erkennungsresultat unter Angabe des Typs der optischen Platte dem ODC 114. Der Typ, der erkannt wird, kann zum Beispiel Informationen enthalten, daß die optische Platte eine 3,5-Zoll-Platte ist und eine Speicherkapazität von 128 MB, 230 MB, 540/640 MB, 1,3 GB oder 2,3 GB hat.
Die LSI-Lese-/Schreibschaltung 120 ist auch als Lesesystem bezüglich des ODC 114 vorgesehen. Der Lesedemodulator 125 und der Frequenzsynthesizer 26 sind in der LSI-Lese-/Schreibschaltung 120 vorgesehen, wie oben beschrieben. Ein ID/MO-Detektor 132 des Gehäuses 111 detektiert einen Laserstrahl, der von der Laserdiode 130-1 emittiert wurde und über die optische Platte zurückgeführt wurde, und ein Detektionssignal von diesem ID/MO-Detektor 132 wird als ID-Signal (Prägegrübchensignal) und MO-Signal über einen Kopfverstärker 134 der LSI-Lese-/Schreibschaltung 120 eingegeben.
Der Lesedemodulator 125 der LSI-Lese-/Schreibschaltung 120 enthält die Funktionen von solchen Schaltungen wie einer automatischen Verstärkungsregelungs-(AGC)-Schaltung, eines Filters und einer Sektormarkierungsdetektionsschaltung. Daher erzeugt der Lesedemodulator 125 einen Lesetakt und Lesedaten von dem eingegebenen ID-Signal und MO-Signal und demoduliert die PWM-Daten zurück in die Original-NRZ-Daten. Da das ZCAV-System eingesetzt wird, steuert die MPU 112 zusätzlich eine Einstellung eines Frequenzteilungsverhältnisses bezüglich des Frequenzsynthesizers 126 der LSI-Lese-/Schreibschaltung 120, um eine Taktfrequenz in Entsprechung zu der Zone zu erzeugen.
Der Frequenzsynthesizer 126 ist eine Phasenregelschleifen-(PLL)-Schaltung mit einem programmierbaren Frequenzteiler und erzeugt als Lesetakt einen Wiedergabereferenztakt mit einer vorbestimmten spezifischen Frequenz in Abhängigkeit von der Zonenposition auf der optischen Platte. Mit anderen Worten, der Frequenzsynthesizer 126 ist aus der PLL-Schaltung mit dem programmierbaren Frequenzteiler gebildet und erzeugt in einem normalen Modus den Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabereferenztakt mit einer Frequenz fo auf der Basis von fo = (m/n)fi gemäß einem Frequenzteilungsverhältnis m/n, das durch die MPU 112 in Abhängigkeit von einer Zonennummer eingestellt wird.
Ein Nenner n des Frequenzteilungsverhältnisses m/n ist ein spezifischer Wert, der von dem Typ der optischen Platte abhängt. Zusätzlich ist ein Zähler m des Frequenzteilungsverhältnisses m/n ein Wert, der sich in Abhängigkeit von der Zonenposition auf der optischen Platte verändert, und Tabelleninformationen der Werte entsprechend den Zonennummern werden im voraus bezüglich jedes Typs einer optischen Platte vorbereitet. Darüber hinaus bezeichnet fi eine Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabereferenztaktfrequenz, die außerhalb des Frequenzsynthesizers 126 erzeugt wird.
Die in der LSI-Lese-/Schreibschaltung 120 demodulierten Lesedaten werden dem Lesesystem des ODC 114 zugeführt, und nach Ausführung der Rückkonvertierung des 1-7-RLL werden die CRC und die ECC-Prozesse durch die Codierfunktion des ECC-Prozessors 114-2 ausgeführt, um die Original-NRZ-Daten wiederherzustellen. Als nächstes verbindet und konvertiert der Formatierer 114-1 die NRZ-Sektordaten zu dem NRZ-Datenstrom, und dieser NRZ-Lesedatenstrom wird über den Speicher 118 und die Schnittstelle 117 zu der Hosteinheit übertragen.
Ein Detektionssignal von einem Temperatursensor 136, der in dem Gehäuse 111 vorgesehen ist, wird bezüglich der MPU 112 über den DSP 116 zugeführt. Auf der Basis einer Umgebungstemperatur innerhalb der optischen Platteneinheit, die durch den Temperatursensor 136 detektiert wird, steuert die MPU 112 die Lichtemissionsenergien für das Lesen, Schreiben und Löschen in der Laserdiodensteuerschaltung 122 auf optimale Werte.
Die MPU 112 steuert einen Spindelmotor 140, der in dem Gehäuse 111 vorgesehen ist, über den DSP 116 und einen Treiber 138. Da in dieser Ausführungsform das ZCAV-System als Aufzeichnungsformat der optischen Platte zum Einsatz kommt, wird der Spindelmotor 140 mit einer konstanten Geschwindigkeit von zum Beispiel 3637 U/min rotiert.
Zusätzlich steuert die MPU 112 einen Elektromagnet 144, der in dem Gehäuse 111 vorgesehen ist, über den DSP 116 und einen Treiber 142. Der Elektromagnet 144 ist auf einer Seite angeordnet, die der Seite der optischen Platte gegenüberliegt, auf die der Laserstrahl innerhalb der optischen Platteneinheit eingestrahlt wird, in die diese optische Platte geladen ist. Dieser Elektromagnet 144 liefert ein externes Magnetfeld auf der optischen Platte zu der Zeit des Aufzeichnens und Löschens. Im Falle der optischen Platte mit dem Format von 1,3 GB oder 2,3 GB unter Einsatz der MSR liefert der Elektromagnet 144 auch das externe Magnetfeld auf der optischen Platte zu der Zeit der MSR-Wiedergabe.
Der DSP 116 ist mit einer Servofunktion zum Positionieren des Laserstrahls von der Laserdiode 130-1 bezüglich der optischen Platte versehen und fungiert als Suchcontroller und Auf-Spur-Controller, die es ermöglichen, daß der Laserstrahl eine Zielspur sucht und auf der Zielspur positioniert werden kann. Die Suchsteuerung und die Auf-Spur-Steuerung können parallel zu dem Schreibzugriff oder dem Lesezugriff der MPU 112 bezüglich eines Hostbefehls gleichzeitig ausgeführt werden.
Um die Servofunktion des DSP 116 zu realisieren, ist ein Fokusfehlersignal-(FES)-Detektor 145 in der optischen Einheit des Gehäuses 111 vorgesehen, um den Laserstrahl zu detektieren, der von der Laserdiode 130-1 emittiert wurde und über die optische Platte zurückgeführt wurde. Eine FES-Detektionsschaltung 146 erzeugt ein FES E1 von einem Detektionssignal, das von dem FES-Detektor 145 empfangen wurde, und gibt dieses FES E1 dem DSP 116 ein.
Ein Spurverfolgungsfehlersignal-(TES)-Detektor 147 ist auch in der optischen Einheit des Gehäuses 111 vorgesehen, um den Laserstrahl zu detektieren, der von der Laserdiode 130-1 emittiert wurde und über die optische Platte zurückgeführt wurde. Eine TES-Detektionsschaltung 148 erzeugt ein TES E2 von einem Detektionssignal, das von dem TES-Detektor 147 empfangen wurde, und gibt dieses TES E2 dem DSP 116 ein. Das TES E2 wird auch einer Spurnulldurchgangs-(TZC)-Detektionsschaltung 150 eingegeben, und diese TZC-Detektionsschaltung 150 erzeugt ein TZC-Signal E3, das dem DSP 116 eingegeben wird.
Ein Linsenpositionssensor 154 ist in dem Gehäuse 111 vorgesehen. Dieser Linsenpositionssensor 154 detektiert eine Position einer Objektivlinse, durch die der Laserstrahl auf die optische Platte eingestrahlt wird. Ein Linsenpositionsdetektionssignal (LPOS) E4 von dem Linsenpositionssensor 154 wird dem DSP 116 eingegeben. Der DSP 116 steuert und betreibt einen Fokusbetätiger 160, einen Linsenbetätiger 164 und einen Schwingspulenmotor (VCM) 168 über entsprechende Treiber 158, 162 und 166, um die Position eines Strahlenpunktes zu steuern, der durch den Laserstrahl auf der optischen Platte gebildet wird.
2 ist eine Querschnittsansicht, die den allgemeinen Aufbau des Gehäuses 111 zeigt. Der Spindelmotor 140 ist, wie in 2 gezeigt, innerhalb einer Umhüllung 167 vorgesehen. Durch Einsetzen einer MO-Kassette 170 in die Umhüllung 167 von der Seite einer Einlaßtür 169 gelangt eine optische Platte (MO-Platte) 172, die im Inneren der MO-Kassette 170 untergebracht ist, mit einem Rotationsschaft des Spindelmotors 140 in Eingriff, wodurch die optische Platte 172 bezüglich der optischen Einheit geladen wird.
Ein Wagen 176 ist unter der geladenen optischen Platte 172 im Inneren der MO-Kassette 170 vorgesehen. Dieser Wagen 176 ist in einer Richtung frei beweglich, die Spuren auf der optischen Platte 172 quert, wenn er durch den VCM 164 angetrieben wird. Eine Objektivlinse 180 ist auf den Wagen 176 montiert. Der Laserstrahl, der von der Laserdiode 130-1 emittiert wird, die innerhalb eines feststehenden optischen Systems 178 vorgesehen ist, wird durch einen Spiegel 182 reflektiert und auf die Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte 172 über die Objektivlinse 180 eingestrahlt, wodurch ein Strahlenpunkt auf der Aufzeichnungsoberfläche gebildet wird.
Die Bewegung der Objektivlinse 180 längs einer optischen Achse wird durch den Fokusbetätiger 160 des in 1 gezeigten Gehäuses gesteuert. Zusätzlich ist die Objektivlinse 180 durch den Linsenbetätiger 164 in einer radialen Richtung, die die Spuren auf der optischen Platte 172 quert, innerhalb eines Bereiches von mehreren zehn Spuren beweglich. Die Position der Objektivlinse 180, die auf den Wagen 176 montiert ist, wird durch den in 1 gezeigten Linsenpositionssensor 154 detektiert. Der Linsenpositionssensor 154 gibt das Linsenpositionsdetektionssignal E4 aus, das an einer neutralen Position, wo die optische Achse der Objektivlinse 180 zu der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte 172 rechtwinklig ist, den Wert Null annimmt und eine Größe und eine Polarität hat, die von dem Betrag abhängen, mit dem sich die optische Achse der Objektivlinse 180 hin zu der inneren oder äußeren peripheren Seite der optischen Platte 172 bewegt.
3 ist ein Systemblockdiagramm, das einen wichtigen Teil dieser ersten Ausführungsform der Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt. In dieser ersten Ausführungsform der Speichervorrichtung wird die vorliegende Erfindung auf eine magneto-optische Platteneinheit angewendet, wie beispielsweise auf jene, die in der japanischen offengelegten Patentanmeldung Nr. 11-16251 vorgeschlagen wurde und mit der Funktion zum Ausführen eines Wiederholungsprozesses versehen ist, wodurch eine Wiederholung ausgeführt wird, bis das Schreiben erfolgreich ist, während die Schreibenergie verändert wird. Zusätzlich kommt bei dieser ersten Ausführungsform der Speichervorrichtung eine erste Ausführungsform eines Schreib-/Löschverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung zum Einsatz. In 3 sind jene Teile, die dieselben wie jene entsprechenden Teile in 1 und 2 sind, mit denselben Bezugszeichen versehen, und eine Beschreibung derselben wird weggelassen.
In 3 enthält die magneto-optische Platteneinheit im allgemeinen die MPU 112, den digitalen Signalprozessor (DSP) 116, einen optischen Kopf 3, eine Photodetektorsektion 4, eine Verstärker- und Filter- und Versetzungsadditionsschaltung (Verstärker-/Filter-/Versetzungsadditionsschaltung) 5, den Treiber 162, den Betätiger 164 und den Speicher 118.
Die MPU 112 enthält die Funktionen eines Rauschfilters 101, eines Unterbrechungscontrollers 102 und eines Lese-/Schreibcontrollers 103. Der Speicher 118 enthält eine ROM-Region und eine RAM-Region. Die ROM-Region speichert Programme, die durch die MPU 112 ausgeführt werden, und verschiedene Daten wie beispielsweise Tabellen, während die RAM-Region solche Daten wie Zwischenresultate von Berechnungen speichert, die durch die MPU 112 vorgenommen wurden.
Der DSP 116 enthält im allgemeinen eine Leseschnitteinstellsektion 21, eine Schreib-/Löschschnitteinstellsektion 22, eine Schaltanordnung 23, einen Digital-Analog-Konverter (DAC) 24, einen Analog-Digital-Konverter (ADC) 25, einen Verstärker 26, einen Komparator 27, einen Spurverfolgungscontroller 28, der eine Phasenkompensationsfilterfunktion enthält, einen DAC 29 und eine Spurverfolgungsfehlersignal-(TES)-Amplituden- und Versetzungsdetektionsschaltung 30. Die magneto-optische Platte 172 kann beliebig in die magneto-optische Platteneinheit geladen werden und aus ihr entladen werden, das heißt, sie ist bezüglich der magnetooptischen Platteneinheit lösbar befestigt. Der Einfachheit halber zeigt 3 nur Abschnitte der Firmware und der Hardware des DSP 116 bezüglich der Einstellung des Schnittpegels, der verwendet wird, um das Spurabseits des Lichtstrahls zu detektieren.
Ein Fokussteuersystem, ein Antriebssystem der magnetooptischen Platte, ein Lese-/Schreibsignalverarbeitungssystem und dergleichen stehen nicht in direktem Zusammenhang mit dem Gegenstand der vorliegenden Erfindung, und die Darstellung solcher Systeme wird in 3 weggelassen. Zusätzlich ist die Basisstruktur der magneto-optischen Platteneinheit nicht auf die in 3 gezeigte Basisstruktur begrenzt, und verschiedene bekannte Basisstrukturen können anstelle derer eingesetzt werden, solange ein Prozessor wie etwa der DSP 116 dazu in der Lage ist, die Operationen auszuführen, die im folgenden beschrieben sind.
In 3 wird ein Lichtstrahl auf die magneto-optische Platte 172 durch den optischen Kopf 3 eingestrahlt, und von dem Lichtstrahl, der von der magneto-optischen Platte 172 reflektiert wird, wird eine Lichtkomponente, die zur Spurverfolgungssteuerung verwendet wird, durch die Photodetektorsektion 4 detektiert. Daher wird das TES dem ADC 25 innerhalb des DSP 116 über die Verstärker-/Filter-/Versetzungsadditionsschaltung 5 zugeführt. Der optische Kopf 3 und die Photodetektorsektion 4 entsprechen der Laserdiodeneinheit 130, dem ID/MO-Detektor 132, dem Kopfverstärker 134, dem FES-Detektor 145 und dem TES-Detektor 147, die in 1 gezeigt sind. Die Verstärker-/Filter-/Versetzungsadditionsschaltung 5 ist mit einer Verstärkungsfunktion, einer Filterfunktion und einer Versetzungsadditionsfunktion versehen. Der ADC 25 führt das digital konvertierte TES dem Verstärker 26 und der TES-Amplituden- und Versetzungsdetektionsschaltung 30 zu. Die TES-Amplituden- und Versetzungsdetektionsschaltung 30 detektiert einen positiven Spitzenwert und einen negativen Spitzenwert des TES und führt die detektierten Spitzenwerte der MPU 112 zu.
Auf der Basis der positiven und negativen Spitzenwerte, die von der TES-Amplituden- und Versetzungsdetektionsschaltung 30 zugeführt werden, führt die MPU 112 einen Versetzungsbetrag der Verstärker-/Filter-/Versetzungsadditionsschaltung 5 über den DAC 24 innerhalb des DSP 16 zu, so daß die Spurverfolgungssteuerung in der Nähe eines TES von Null ausgeführt wird, um die Versetzung des TES zu korrigieren, und sie steuert auch die Verstärkung des Verstärkers 26 innerhalb des DSP 116, so daß die Amplitude des TES eine vorgeschriebene Amplitude erreicht. Daher wird ein normiertes TES, in dem ein Abweichungsbetrag bezüglich des Pegels des TES normiert ist, von dem Verstärker 26 erhalten und dem Komparator 27 zugeführt.
Das normierte TES von dem Verstärker 26 wird auch dem Spurverfolgungscontroller 28 zugeführt. Der Spurverfolgungscontroller 28 führt eine Phasenkompensation und dergleichen bezüglich des normierten TES aus und gibt einen Positionsfehler bezüglich eines Spurverfolgungsziels aus. Dieser Positionsfehler wird dem Betätiger 164 über den DAC 29 und den Treiber 162 zugeführt, um den Betätiger 164 durch ein bekanntes Verfahren zu steuern, damit der optische Kopf 3 gesteuert wird, das heißt, um die Spurverfolgungssteuerung bezüglich des Lichtstrahls auszuführen.
Zu der Zeit des Lesens stellt die MPU 112 in der Leseschnitteinstellsektion 21 einen Leseschnittpegel ein, der zum Detektieren eines Spurabseits während des Lesens angemessen ist. Zusätzlich stellt die MPU 112 zu der Zeit des Schreibens/Löschens in der Schreib-/Löschschnitteinstellsektion 22 einen Schreib-/Löschschnittpegel ein, der berechnet und zum Detektieren des Spurabseits während des Schreibens/Löschens verwendet wird. Ferner führt die MPU 112 der Schaltanordnung 23 ein Identifikationssignal zu, welches das Lesen oder das Schreiben/Löschen angibt. Auf der Basis dieses Identifikationssignals führt die Schaltanordnung 23 daher den Leseschnittpegel von der Leseschnitteinstellsektion 21 dem Komparator 26 während des Lesens zu, und sie führt den Schreib-/Löschschnittpegel von der Schreib-/Löschschnitteinstellsektion 22 dem Komparator 27 während des Schreibens/Löschens zu.
Ein Leseschnittpegel für eine Testspur, die später beschrieben ist, kann in der Leseschnitteinstellsektion 21 auch eingestellt werden, und ein Schreib-/Löschschnittpegel für die Testspur kann in der Schreib-/Löschschnitteinstellsektion 22 ebenfalls eingestellt werden. Daher wird die Darstellung der Einstellsektion zum Einstellen des Lese-/Schreib-/Löschschnittpegels für die Testspur in 3 weggelassen. Die Testspur auf der magneto-optischen Platte 172 ist eine Region, die zum Justieren der Energie des Lichtstrahls durch ein Testschreiben und ein Testlesen vorgesehen ist und zum Beispiel in der japanischen offengelegten Patentanmeldung Nr. 11-16251 vorgeschlagen wird, und auf die Testspur werden keine Nutzerdaten geschrieben. Solch eine Testschreibregion ist wenigstens immer für einen oder mehrere Bereiche vorgesehen, die für jeden Aufzeichnungsmedientyp bestimmt werden.
Zu der Zeit des Lesens vergleicht der Komparator 27, um zu bestimmen, ob das normierte TES von dem Verstärker 26 den Leseschnittpegel überschreitet, der über die Schaltanordnung 23 erhalten wird, und meldet das Vergleichsresultat der MPU 112. Ähnlich führt der Komparator 27 zu der Zeit des Schreibens/Löschens einen Vergleich aus, um zu bestimmen, ob das normierte TES von dem Verstärker 26 den Schreib-/Löschschnittpegel überschreitet, der über die Schaltanordnung 23 erhalten wird, und meldet das Vergleichsresultat der MPU 112. Wenn das von dem Komparator 27 gemeldete Vergleichsresultat angibt, daß das normierte TES den Leseschnittpegel zu der Zeit des Lesens überschreitet (Spurabseitsmeldung), erkennt die MPU 112 ein Spurabseits und macht eine Fehlermitteilung oder dergleichen bezüglich des Lese-/Schreibcontrollers 103 als Reaktion auf die Spurabseitsfehlermeldung. Wenn das von dem Komparator 27 gemeldete Vergleichsresultat andererseits angibt, daß das normierte TES den Schreib-/Löschschnittpegel zu der Zeit des Schreibens/Löschens überschreitet (Spurabseitsmeldung), erkennt die MPU 112 ein Spurabseits und wird eine Unterbrechung bezüglich des Schreib-/Löschprozesses als Reaktion auf die Spurabseitsmeldung erzeugt, um den Schreib-/Löschprozeß durch den Unterbrechungscontroller 102 sofort abzubrechen und eine Datenzerstörung auf der magneto-optischen Platte 172 zu verhindern.
4 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern einer Operation der MPU 112 dieser ersten Ausführungsform der Speichervorrichtung. Der in 4 gezeigte Prozeß wird gestartet, wenn zum Beispiel ein Suchbefehl von der Hosteinheit ausgegeben wird.
In 4 entscheidet Schritt S1, ob eine Sprunginstruktion in Zusammenhang mit dem Suchbefehl ausgegeben wurde oder nicht. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S1 JA lautet, liest Schritt S2 einen Identifikations-(ID)-Informationsabschnitt der magneto-optischen Platte 172, wie z. B. die Sektornummer und die Spurnummer. Schritt S3 entscheidet, ob das Lesen des ID-Abschnittes erfolgreich war oder nicht, und der Prozeß kehrt zu Schritt S2 zurück, falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S3 NEIN lautet. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S3 andererseits JA lautet, entscheidet Schritt S4, ob eine Zielspur, die in dem Suchbefehl enthalten ist, erreicht ist oder nicht, und der Prozeß geht zu Schritt S9 über, der später beschrieben ist, falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S4 JA lautet.
Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S4 NEIN lautet, berechnet Schritt S5 eine Anzahl von Spuren, die zu überspringen sind, um die Zielspur zu erreichen, und Schritt S6 überspringt die berechnete Anzahl von Spuren. Schritt S7 entscheidet, ob der Sprung erfolgreich war oder nicht, und der Prozeß kehrt zu Schritt S2 zurück, falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S7 JA lautet. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S7 NEIN lautet, führt Schritt S8 ein Einziehen auf die Spur wieder aus (im folgenden als Wiedereinziehen bezeichnet), und der Prozeß kehrt zu Schritt S2 zurück.
Schritt S9 entscheidet, ob der Suchbefehl eine Suche auf einer Testspur instruiert oder nicht. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S9 NEIN lautet, entscheidet Schritt S10, ob der Suchbefehl einen Leseprozeß instruiert oder nicht. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S10 JA lautet, stellt Schritt S11 die Energie der Lichtquelle des von dem optischen Kopf 3 emittierten Lichtstrahls auf eine Leseenergie ein, die von dem Sektor der magneto-optischen Platte 172 abhängt, der die Zielspur enthält. Nach Schritt S11 endet der Prozeß, und die Operation geht zu einem bekannten Leseprozeß über. Im Falle des Leseprozesses wird angenommen, daß der angemessene Leseschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits zu der Zeit des Lesens im voraus erhalten und in der Leseschnitteinstellsektion 21 eingestellt wurde, wie oben beschrieben. Da die Leseenergie auf einen Pegel gesteuert wird, der die Nachbarspur auch dann nicht beeinträchtigen würde, wenn zu der Zeit des Lesens ein leichtes Spurabseits auftritt, wird der Leseschnittpegel in Abhängigkeit von der Leseenergie in 4 nicht verändert.
Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S10 andererseits NEIN lautet, entscheidet Schritt S12, ob der Suchbefehl einen Schreibprozeß instruiert oder nicht. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S12 JA lautet, stellt Schritt S13 die Energie der Lichtquelle des Lichtstrahls, der von dem optischen Kopf 3 emittiert wird, auf eine Schreibenergie ein, die von dem Sektor der magneto-optischen Platte 172 abhängt, der die Zielspur enthält. Zusätzlich berechnet Schritt S14 einen Schreibschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits, und der Prozeß geht zu Schritt S19 über, der später beschrieben ist. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S12 NEIN lautet, stellt Schritt S15 die Energie der Lichtquelle des von dem optischen Kopf 3 emittierten Lichtstrahls auf eine Löschenergie ein, die von dem Sektor der magneto-optischen Platte 172 abhängt, der die Zielspur enthält. Darüber hinaus berechnet Schritt S16 einen Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits, und der Prozeß geht zu Schritt S19 über, der später beschrieben ist.
Der Schreibschnittpegel kann zum Beispiel von der folgenden Formel erster Ordnung erhalten werden, wobei RSL einen Schreibschnittpegel bezeichnet, RSLD einen Standardwert des Schreibschnittpegels RSL bezeichnet, A einen Koeffizienten mit negativem Wert bezeichnet und X ein Verhältnis, beschrieben in ±%, einer Schreibenergie zu der Zeit eines Spurabseits und einer Schreibenergie zu der Zeit bezeichnet, wenn die Mitte der Spur durch den Lichtstrahl gescant wird. RSL = RSLD + A ⊆ X
Demnach wird, wenn die Schreibenergie erhöht wird, der Schreibschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits verringert, so daß das Spurabseits unter einer strengen Bedingung überwacht werden kann. Wenn die Schreibenergie andererseits verringert wird, wird der Schreibschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits erhöht, so daß das Spurabseits unter einer entspannteren Bedingung überwacht werden kann.
Ähnlich kann der Löschschnittpegel von der folgenden Formel erster Ordnung erhalten werden, wobei ESL einen Löschschnittpegel bezeichnet, ESLD einen Standardwert des Löschschnittpegels ESL bezeichnet, B einen Koeffizienten mit negativem Wert bezeichnet und X ein Verhältnis, beschrieben in ±%, einer Löschenergie zu der Zeit eines Spurabseits und einer Löschenergie zu der Zeit bezeichnet, wenn die Mitte der Spur durch den Lichtstrahl gescant wird. Normalerweise ist B < A, und die Energieabhängigkeiten des Löschschnittpegels und des Schreibschnittpegels unterscheiden sich. ESL = ESLD + B ⊆ X
Daher wird, wenn die Löschenergie erhöht wird, der Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits verringert, so daß das Spurabseits unter einer strengen Bedingung überwacht werden kann. Wenn die Löschenergie andererseits verringert wird, wird der Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits erhöht, so daß das Spurabseits unter einer entspannteren Bedingung überwacht werden kann.
Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S9 JA lautet, stellt Schritt S17 die Energie der Lichtquelle des von dem optischen Kopf 3 emittierten Lichtstrahls auf eine Lese-/Schreib-/Löschenergie ein, die von der Testspur der magneto-optischen Platte 172 abhängt. Darüber hinaus berechnet Schritt S18 einen Lese-/Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits für die Testspur der magnetooptischen Platte 172, und der Prozeß geht zu Schritt S19 über. Der Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits für die Testspur wird normalerweise auf einen Wert eingestellt, der größer als der Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits während des normalen Schreib-/Löschprozesses ist (zum Beispiel zweimal so groß), so daß das Spurabseits unter einer entspannten Bedingung überwacht wird.
Schritt S19 stellt den Schnittpegel, der bei Schritt S14, S16 oder S18 berechnet wurde, in der Schnitteinstellsektion 21 oder 22 ein, und der Prozeß endet. Nach dem Prozeßende geht die Operation zu einem bekannten Schreib-/Löschprozeß oder zu einem Testspur-Lese-/Schreib-/Löschprozeß über.
Das Einstellen selbst der Lese-/Schreib-/Löschenergie ist zum Beispiel aus der japanischen offengelegten Patentanmeldung Nr. 11-16251 bekannt, und eine Erläuterung dessen wird in dieser Beschreibung weggelassen.
In dieser Ausführungsform wird der Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits eingestellt, aber es ist auch möglich, ähnlich eine Zeitkonstante zum Detektieren des Spurabseits einzustellen (im folgenden als Spurabseitsdetektionszeitkonstante bezeichnet). In diesem Fall stellen die Schritte S13 und S14 oder die Schritte S15 und S16, die in 4 gezeigt sind, die Spurabseitsdetektionszeitkonstante für das Schreiben/Löschen ein, anstelle oder zusätzlich zu der Berechnung und Einstellung des Schreib-/Löschschnittpegels. Die Spurabseitsdetektionszeitkonstante kann eingestellt werden, indem die Zeitkonstante des Rauschfilters 101 innerhalb der MPU 112 auf der Basis des von dem Komparator 27 gemeldeten Vergleichsresultats eingestellt wird.
Daher ist es möglich, den Schreib-/Löschschnittpegel und/oder die Spurabseitsdetektionszeitkonstante zum Detektieren des Spurabseits in Abhängigkeit von der Veränderung der optimalen Schreib-/Löschenergie zu verändern und einzustellen. Die optimale Schreib-/Löschenergie wird bei jedem Testschreiben/-löschen aktualisiert, aber während des normalen Schreibens/Löschens vor und nach dem Aktualisieren werden der Schreib-/Löschschnittpegel und/oder die Spurabseitsdetektionszeitkonstante nicht verändert.
5 ist ein Systemblockdiagramm, das einen wichtigen Teil einer zweiten Ausführungsform der Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt. In dieser zweiten Ausführungsform der Speichervorrichtung wird die vorliegende Erfindung auf eine magneto-optische Platteneinheit angewendet, wie etwa auf jene, die in der japanischen offengelegten Patentanmeldung Nr. 11-16251 vorgeschlagen wird und mit der Funktion zum Ausführen eines Wiederholungsprozesses versehen ist, bei dem eine Wiederholung ausgeführt wird, bis das Schreiben erfolgreich ist, während die Schreibenergie verändert wird. Zusätzlich kommt bei dieser zweiten Ausführungsform der Speichervorrichtung eine zweite Ausführungsform des Schreib-/Löschverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung zum Einsatz. In 5 sind nur die Hauptelemente gezeigt, und jene Teile, die dieselben wie jene entsprechenden Teile in 3 sind, sind mit denselben Bezugszeichen versehen, und eine Beschreibung derselben wird weggelassen.
In 5 detektiert ein Erschütterungssensor 41 eine externe Vibration oder Erschütterung, die auf die magnetooptische Platteneinheit angewendet wird, und er gibt ein Erschütterungssignal aus. Das Erschütterungssignal wird einem Komparator 44 über eine Verstärker- und Filterschaltung 42 zugeführt, die mit einer Verstärkungsfunktion und einer Filterfunktion versehen ist. Im besonderen verstärkt die Verstärker- und Filterschaltung 42 das Erschütterungssignal auf eine Signalamplitude, mit der eine erforderliche Empfindlichkeit erhalten werden kann, und eliminiert das Rauschen in dem Erschütterungssignal, bevor das Erschütterungssignal dem Komparator 44 zugeführt wird. Andererseits führt die MPU 112 dem Komparator 44 ein Referenzerschütterungssignal über einen DAC 43 zu. Daher nimmt der Komparator 44 einen Vergleich vor, um zu bestimmen, ob das Erschütterungssignal von der Verstärker- und Filterschaltung 42 einen Pegel hat oder nicht, der das Referenzerschütterungssignal überschreitet, und er meldet das Vergleichsresultat der MPU 112. Wenn eine Vergleichsresultatsmeldung (Erschütterungsdetektionsmeldung), die angibt, daß das Erschütterungssignal von der Verstärker- und Filterschaltung 42 einen Pegel hat, der das Referenzerschütterungssignal überschreitet, von dem Komparator 44 zu der Zeit des Schreibens/Löschens empfangen wird, erkennt die MPU 112 eine Erschütterungsdetektion. Zusätzlich wird eine Unterbrechung bezüglich des Schreib-/Löschprozesses als Reaktion auf die Erschütterungsdetektionsmeldung erzeugt, und der Schreib-/Löschprozeß wird durch den Unterbrechungscontroller 102 sofort abgebrochen, um eine Datenzerstörung auf der magneto-optischen Platte 172 zu verhindern.
Der Erschütterungssensor 41 wird aus einem bekannten Element gebildet, das einen Strom oder eine Spannung ausgibt, die von einer internen Verzerrung des Elementes abhängen, wenn eine externe Erschütterung auf das Element angewendet wird. Mit anderen Worten, der Erschütterungssensor 41 gibt einen Strom oder eine Spannung aus, die proportional zu einer auf ihn angewendeten Beschleunigung sind. Aus diesem Grund kann diese Ausgabe des Erschütterungssensors 41 bei einem vorgeschriebenen Schnittpegel abgeschnitten werden, und der Schreib-/Löschprozeß kann abgebrochen werden, wenn diese Ausgabe des Erschütterungssensors 41 den Schnittpegel überschreitet.
6 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern der Operation der MPU 112 dieser zweiten Ausführungsform der Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung. Der in 6 gezeigte Prozeß wird gestartet, wenn zum Beispiel ein Suchbefehl von der Hosteinheit ausgegeben wird. In 6 sind jene Schritte, die dieselben wie die entsprechenden Schritte in 4 sind, mit denselben Bezugszeichen versehen, und eine Beschreibung derselben wird weggelassen.
Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S10 in 6 JA lautet, stellt Schritt S11 die Energie der Lichtquelle des von dem optischen Kopf 3 emittierten Lichtstrahls auf die Leseenergie ein, die von dem Sektor der magneto-optischen Platte 172 abhängt, der die Zielspur enthält, und der Prozeß geht zu Schritt S21 über. Zu der Zeit des Lesens ist es nicht möglich, die Daten auf der magneto-optischen Platte 172 zu zerstören. Daher macht Schritt S21 die Unterbrechung bei dem Schreib-/Löschprozeß, die als Reaktion auf das Erschütterungsdetektionssignal von dem Komparator 44 erzeugt wird, ungültig, und der Prozeß endet, so daß die Operation zu einem bekannten Leseprozeß übergehen kann.
Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S12 JA lautet, stellt Schritt S13 die Energie der Lichtquelle des von dem optischen Kopf 3 emittierten Lichtstrahls auf die Schreibenergie ein, die von dem Sektor der magneto-optischen Platte 172 abhängt, der die Zielspur enthält. Zusätzlich berechnet Schritt S14-1 einen Schreibschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung, und der Prozeß geht zu Schritt S19-1 über, der später beschrieben ist. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S12 NEIN lautet, stellt Schritt S15 die Energie der Lichtquelle des von dem optischen Kopf 3 emittierten Lichtstrahls auf die Löschenergie ein, die von dem Sektor der magneto-optischen Platte 172 abhängt, der die Zielspur enthält. Ferner berechnet Schritt S16-1 einen Löschschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung, und der Prozeß geht zu Schritt S19-1 über, der später beschrieben ist.
Der Schreibschnittpegel kann zum Beispiel von der folgenden Formel erster Ordnung erhalten werden, wobei SRSL einen Schreibschnittpegel bezeichnet, SRSLD einen Standardwert des Schreibschnittpegels SRSL bezeichnet, C einen Koeffizienten mit negativem Wert bezeichnet und X ein Verhältnis, beschrieben in ±%, einer Schreibenergie zu der Zeit eines Spurabseits und einer Schreibenergie zu der Zeit bezeichnet, wenn die Mitte der Spur durch den Lichtstrahl gescant wird. SRSL = SRSLD + C ⊆ X
Daher wird, wenn die Schreibenergie erhöht wird, der Schreibschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung verringert, so daß die Erschütterung unter einer strengen Bedingung überwacht werden kann. Wenn die Schreibenergie andererseits verringert wird, wird der Schreibschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung erhöht, so daß die Erschütterung unter einer entspannteren Bedingung überwacht werden kann.
Ähnlich kann der Löschschnittpegel von der folgenden Formel erster Ordnung erhalten werden, wobei SESL einen Löschschnittpegel bezeichnet, SESLD einen Standardwert des Löschschnittpegels SESL bezeichnet, D einen Koeffizienten mit negativem Wert bezeichnet und X ein Verhältnis, beschrieben in ±%, einer Löschenergie zu der Zeit eines Spurabseits und einer Löschenergie zu der Zeit bezeichnet, wenn die Mitte der Spur durch den Lichtstrahl gescant wird. Normalerweise ist D < C, und die Energieabhängigkeiten des Löschschnittpegels und des Schreibschnittpegels sind verschieden. SESL = SESLD + D ⊆ X
Daher wird, wenn die Löschenergie erhöht wird, der Löschschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung verringert, so daß die Erschütterung unter einer strengen Bedingung überwacht werden kann. Wenn die Löschenergie andererseits verringert wird, wird der Löschschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung erhöht, so daß die Erschütterung unter einer entspannteren Bedingung überwacht werden kann.
Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S9 JA lautet, wird bei Schritt S17 die Energie der Lichtquelle des von dem optischen Kopf 3 emittierten Lichtstrahls auf eine Lese-/Schreib-/Löschenergie eingestellt, die von der Testspur der magneto-optischen Platte 172 abhängt. Des weiteren berechnet Schritt S18-1 einen Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung für die Testspur der magnetooptischen Platte 172, und der Prozeß geht zu Schritt S19-1 über. Der Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung für die Testspur wird normalerweise auf einen Wert gesetzt, der größer als der Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung während des normalen Schreib-/Löschprozesses ist, so daß die Erschütterung unter einer entspannten Bedingung überwacht werden kann.
Schritt S19-1 stellt den Schnittpegel, der bei Schritt S14-1, S16-1 oder S18-1 berechnet wird, in der Schnitteinstellsektion 21 oder 22 ein, und der Prozeß endet. Zu der Zeit des Schreibens/Löschens ist es möglich, die Daten auf der magneto-optischen Platte 172 zu zerstören. Daher macht Schritt S22 die Unterbrechung bei dem Schreib-/Löschprozeß gültig, die als Reaktion auf das Erschütterungsdetektionssignal von dem Komparator 44 erzeugt wurde, und der Prozeß endet, so daß die Operation zu einem bekannten Schreib-/Löschprozeß oder einem Testspurlese-/-schreib-/-löschprozeß übergehen kann.
In dieser Ausführungsform wird der Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung eingestellt, aber es ist auch möglich, ähnlich eine Zeitkonstante zum Detektieren der Erschütterung einzustellen (im folgenden als Erschütterungsdetektionszeitkonstante bezeichnet). In diesem Fall stellen die Schritte S13 und S14-1 oder die Schritte S15 und S16-1, die in 6 gezeigt sind, die Erschütterungsdetektionszeitkonstante für das Schreiben/Löschen anstelle oder zusätzlich zu der Berechnung und Einstellung des Schreib-/Löschschnittpegels ein. Die Erschütterungsdetektionszeitkonstante kann eingestellt werden, indem die Zeitkonstante des Rauschfilters 101 innerhalb der MPU 112 auf der Basis des von dem Komparator 44 mitgeteilten Vergleichsresultats eingestellt wird.
Daher ist es möglich, den Schreib-/Löschschnittpegel und/oder die Erschütterungsdetektionszeitkonstante zum Detektieren der Erschütterung in Abhängigkeit von der Veränderung der optimalen Schreib-/Löschenergie zu verändern und einzustellen. Die optimale Schreib-/Löschenergie wird bei jedem Testschreiben/-löschen aktualisiert, aber während des normalen Schreibens/Löschens vor und nach dem Aktualisieren werden der Schreib-/Löschschnittpegel und/oder die Erschütterungsdetektionszeitkonstante nicht verändert.
In dieser Ausführungsform wird das Referenzerschütterungssignal, das dem in 5 gezeigten Komparator 44 zugeführt wird, das heißt, der Schnittpegel zum Detektieren der Erschütterung, von der MPU 112 über den DAC 43 zugeführt. Ähnlich wie bei der ersten Ausführungsform, die in 3 gezeigt ist, ist es jedoch möglich, die Schnitteinstellsektionen 21 und 22 und die Schaltanordnung 23 zur Zufuhr des Referenzerschütterungssignals zu dem Komparator 44 zu verwenden. In diesem Fall kann der DAC 43 weggelassen werden.
Die Spurabseitsdetektionsfunktion der ersten Ausführungsform enthält die Filterfunktion des Rauschfilters 101 zum Eliminieren des Medienrauschens der magneto-optischen Platte 172, und eine Zeitverzögerung der Spurabseitsdetektion durch die Firmware des DSP 116 ist unvermeidlich. Falls sich der optische Kopf 3 mit hoher Geschwindigkeit wegen der externen Vibration oder Erschütterung bewegt, die auf die magneto-optische Platteneinheit angewendet wird, ist es aus diesem Grund möglich, daß der Lichtstrahl die Nachbarspur bis zu der Zeit, zu der das Spurabseits detektiert wird, bereits erreicht hat. Deshalb kann das Spurabseits unter einer strengeren Bedingung überwacht werden, indem der Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits verringert wird und die Filterzeitkonstante des Rauschfilters 101 verringert wird, so daß es möglich ist, auch eine kleine Abweichung des Spurabseits mit hoher Geschwindigkeit zu detektieren. Wenn das Spurabseits jedoch unter der strengen Bedingung überwacht wird, wird demzufolge auch das Medienrauschen unter der strengen Bedingung überwacht, und es wird schwierig, die Produktivität der magneto-optischen Platte 172 zu verbessern. Daher wird in dieser zweiten Ausführungsform die externe Vibration oder Erschütterung überwacht, und der Schreib-/Löschprozeß wird abgebrochen, wenn die überwachte externe Vibration oder Erschütterung einen Referenzwert überschreitet, um eine Datenzerstörung auf der magneto-optischen Platte 172 zu verhindern.
7 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern eines Unterbrechungsprozesses der MPU 112. Der in 7 gezeigte Prozeß wird durch die MPU 112 in den oben beschriebenen ersten und zweiten Ausführungsformen ausgeführt. In 7 entscheidet Schritt S31, ob die Vergleichsresultatsmeldung von dem Komparator 27 oder 44 eine Unterbrechung bei der MPU 112 instruiert oder nicht. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S31 JA lautet, bricht Schritt S32 den Schreib-/Löschprozeß ab, um eine Datenzerstörung auf der magnetooptischen Platte 172 zu verhindern, und der Prozeß endet. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S31 andererseits NEIN lautet, entscheidet Schritt S33, ob der Schreib-/Löschprozeß geendet hat oder nicht. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S33 NEIN lautet, kehrt der Prozeß zu Schritt S31 zurück. Der Prozeß endet, falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S33 JA lautet.
Als nächstes folgt unter Bezugnahme auf 9 und 10 eine Beschreibung der Prozesse der MPU 112, des ODC 114 und des DSP 116 für den Fall, wenn ein Schreibbefehl von der Hosteinheit ausgegeben wird.
9 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern eines Firmwareprozesses der MPU 112 und des ODC 114, wenn der Schreibbefehl von der Hosteinheit ausgegeben wird. Wenn der Schreibbefehl von der Hosteinheit ausgegeben wird und der in 9 gezeigte Prozeß gestartet wird, initialisiert Schritt S51 einen Wert eines Wiederholungszählers innerhalb der MPU 112. Schritt S52 entscheidet, ob der Wert des Wiederholungszählers kleiner gleich einem vorgeschriebenen Wert ist oder nicht, und der Prozeß endet mit einem abnormen Ende, falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S52 NEIN lautet. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S52 andererseits JA lautet, gibt Schritt S53 einen Schreibbefehl aus und meldet er der MPU 112 eine Anzahl von Wiederholungen, um den Prozeß der MPU 112 und des DSP 116 zu starten, der später in Verbindung mit 10 beschrieben ist. Schritt S54 wartet auf ein Befehlsende von dem Formatierer 114-1, das auftreten wird, wenn der in 10 gezeigte Prozeß endet, und Schritt S55 entscheidet, ob der Prozeß mit einem normalen Ende endet oder nicht. Falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S55 NEIN lautet, inkrementiert Schritt S56 den Wert des Wiederholungszählers um eins, und der Prozeß kehrt zu Schritt S52 zurück. Andererseits endet der Prozeß mit dem normalen Ende, falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S55 JA lautet.
10 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern des Firmwareprozesses der MPU 112 und des DSP 116 für den Fall, wenn der Schreibbefehl von der Hosteinheit ausgegeben wird. Wenn der Schreibbefehl durch den in 9 gezeigten Schritt S53 ausgegeben wird und der in 10 gezeigte Prozeß gestartet wird, setzt Schritt S61 ein Schreibmodusflag in dem Speicher 118. Schritt S62 führt den Prozeß zu der Zeit der Suche der ersten Ausführungsform, die oben in Verbindung mit 4 beschrieben wurde, oder den Prozeß zu der Zeit der Suche der zweiten Ausführungsform aus, der oben in Verbindung mit 6 beschrieben wurde, und teilt die Anzahl von Wiederholungen der MPU 112 mit. Schritt S63 entscheidet, ob der Prozeß mit einem normalen Ende endet oder nicht, und der Prozeß endet mit einem abnormen Ende, falls das Entscheidungsresultat bei Schritt S63 NEIN lautet. Falls das Entscheidungsresultat andererseits bei Schritt S63 JA lautet, stellt Schritt S64 Schreibparameter und Befehle in dem Formatierer 114-1 ein, und der Prozeß endet mit einem normalen Ende.
Firmwareprozesse, die den in 9 und 10 gezeigten Firmwareprozessen ähnlich sind, werden auch ausgeführt, wenn der von der Hosteinheit ausgegebene Befehl ein Lese-/Löschbefehl ist.
Die oben beschriebenen ersten und zweiten Ausführungsformen können zweckmäßig kombiniert werden. Mit anderen Worten, die Parameter, die in Abhängigkeit von der Schreib-/Löschenergie des Lichtstrahls berechnet und eingestellt werden, können eine Kombination aus zwei oder mehr beliebigen Parametern sein, die ausgewählt werden aus dem Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits, der Spurabseitsdetektionszeitkonstante, dem Schreib-/Löschschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung und der Erschütterungsdetektionszeitkonstante.
Zusätzlich können die Parameter im voraus berechnet und in dem Speicher 118 in Form einer Tabelle gespeichert werden, so daß die Parameter bei Bedarf aus der Tabelle gelesen werden können. 8 ist ein Diagramm zum Erläutern einer Beziehung der Schreibenergie und verschiedener Parameter innerhalb solch einer Tabelle. Die Tabelle speichert, wie in 8 gezeigt, den Wert des Wiederholungszählers, die optimale Schreibenergie, den Schreibschnittpegel zum Detektieren des Spurabseits bezüglich verschiedener Schreibenergien, die Spurabseitsdetektionszeitkonstante, den Schreibschnittpegel zum Detektieren der Erschütterung und die Erschütterungsdetektionszeitkonstante. Der Einfachheit halber zeigt 8 nur die Parameter bezüglich der Schreibenergie. Natürlich können die Parameter bezüglich der Löschenergie berechnet und in einer ähnlichen Tabelle gespeichert werden.
Jede der oben beschriebenen Ausführungsformen berücksichtigt die Kompatibilität der Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung und der herkömmlichen Speichervorrichtung. Mit anderen Worten, die Funktionen der vorliegenden Erfindung sind nicht dazu gedacht, bezüglich eines Aufzeichnungsmediums mit niedriger Dichte zu arbeiten, das zum Beispiel eine Speicherkapazität unter 2,3 GB hat. Falls aber die Kompatibilität der Speichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung und der herkömmlichen Speichervorrichtung nicht berücksichtigt zu werden braucht, können die Funktionen der vorliegenden Erfindung bezüglich des Aufzeichnungsmediums mit niedriger Dichte arbeiten. In diesem Fall ist das Verfahren zum Beurteilen des Aufzeichnungsmedientyps nicht auf das Verfahren zum Beurteilen des Typs gemäß den Grübchen des ID-Abschnittes begrenzt, wie oben beschrieben, und es ist möglich, andere Verfahren einzusetzen, wie etwa ein Verfahren, bei dem Medieninformationen von einer Steuerinformationsregion des Aufzeichnungsmediums gelesen werden.
Zusätzlich ist die Anwendung der vorliegenden Erfindung nicht auf die magneto-optische Platteneinheit begrenzt, und die vorliegende Erfindung ist ähnlich auf verschiedene Arten von Speichervorrichtungen anwendbar, die Speichervorrichtungen enthalten, die optische Aufzeichnungsmedien des magnetooptischen, des Phasenveränderungstyps und dergleichen verwenden, bei denen Systeme zum Einsatz kommen, die sich von den oben beschriebenen unterscheiden, und Speichervorrichtungen, die einen Lichtstrahl zum Aufzeichnen von Informationen auf einem magnetischen Aufzeichnungsmedium als Veränderungen von magneto-optischen Eigenschaften aufzeichnen.
Ferner ist die vorliegende Erfindung nicht auf diese Ausführungsformen begrenzt, sondern verschiedene Veränderungen und Abwandlungen können vorgenommen werden, ohne vom Schutzumfang der vorliegenden Erfindung, wie er in der Ansprüchen definiert ist, abzuweichen.

Claims

Schreib- und/oder Löschverfahren, das für eine Speichervorrichtung (110, 111) ausgelegt ist, mit einer Funktion zum Verändern einer Schreib- und/oder Löschenergie eines Lichtstrahls bezüglich eines Aufzeichnungsmediums (172), gekennzeichnet durch folgenden Schritt: (a) Einstellen (S19) eines Schreib- und/oder Löschschnittpegels zum Detektieren eines Spurabseits des Lichtstrahls bezüglich einer Spur auf dem Aufzeichnungsmedium durch Verringern des Schreib- und/oder Löschschnittpegels in Abhängigkeit von einer Erhöhung der Schreib- und/oder Löschenergie oder Erhöhen des Schreib- und/oder Löschschnittpegels in Abhängigkeit von einer Verringerung der Schreib- und/oder Löschenergie.
Schreib- und/oder Löschverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei dem Schritt (a) auch eine Spurabseitsdetektionszeitkonstante in Abhängigkeit von der Schreib- und/oder Löschenergie eingestellt wird.
Schreib- und/oder Löschverfahren nach irgendeinem der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß bei dem Schritt (a) auch eine Erschütterungsdetektionszeitkonstante zum Detektieren einer externen Vibration oder Erschütterung in Abhängigkeit von der Schreib- und/oder Löschenergie eingestellt wird.
Schreib- und/oder Löschverfahren nach Anspruch 1, wobei bei dem Schritt (a) ferner wenigstens ein Parameter eingestellt wird, der ausgewählt ist aus einer Gruppe von Schreib- und/oder Löschparametern bestehend aus einer Spurabseitsdetektionszeitkonstante, einem Schreib- und/oder Löschschnittpegel zum Detektieren einer externen Vibration oder Erschütterung, die auf die Speichervorrichtung (110, 111) angewendet wird, und einer Erschütterungsdetektionszeitkonstante zum Detektieren der externen Vibration oder Erschütterung.
Schreib- und/oder Löschverfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß sich eine Abhängigkeit der Schreibparameter bezüglich der Schreibenergie von einer Abhängigkeit der Löschparameter bezüglich der Löschenergie unterscheidet.
Schreib- und/oder Löschverfahren nach Anspruch 4 oder 5, ferner gekennzeichnet durch folgenden Schritt: (b) Beurteilen eines Typs des Aufzeichnungsmediums (172), wobei der Schritt (a) ausgeführt wird, wenn bei Schritt (b) beurteilt wird, daß das Aufzeichnungsmedium (172) ein Aufzeichnungsmedium mit hoher Dichte ist.
Speichervorrichtung (110, 111) mit einer Funktion zum Verändern. einer Schreib- und/oder Löschenergie eines Lichtstrahls bezüglich eines Aufzeichnungsmediums (172), gekennzeichnet durch: ein Einstellmittel (21, 22) zum Einstellen eines Schreib- und/oder Löschschnittpegels zum Detektieren eines Spurabseits des Lichtstrahls bezüglich einer Spur auf dem Aufzeichnungsmedium (172) durch Verringern des Schreib- und/oder Löschschnittpegels in Abhängigkeit von einer Erhöhung der Schreib- und/oder Löschenergie oder Erhöhen des Schreib- und/oder Löschschnittpegels in Abhängigkeit von einer Verringerung der Schreib- und/oder Löschenergie.
Speichervorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Einstellmittel (21, 22) auch eine Spurabseitsdetektionszeitkonstante in Abhängigkeit von der Schreib- und/oder Löschenergie einstellt.
Speichervorrichtung nach irgendeinem der Ansprüche 7 und 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Einstellmittel (21, 22) auch eine Erschütterungsdetektionszeitkonstante zum Detektieren einer externen Vibration oder Erschütterung in Abhängigkeit. von der Schreib- und/oder Löschenergie einstellt.
Speichervorrichtung nach Anspruch 7, bei der das Einstellmittel ferner wenigstens einen Parameter einstellt, der ausgewählt ist aus einer Gruppe von Schreib- und/oder Löschparametern bestehend aus einer Spurabseitsdetektionszeitkonstante, einem Schreib- und/oder Löschschnittpegel zum Detektieren einer externen Vibration oder Erschütterung, die auf die Speichervorrichtung angewendet wird, und einer Erschütterungsdetektionszeitkonstante zum Detektieren der externen Vibration oder Erschütterung.
Speichervorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß sich eine Abhängigkeit der Schreibparameter bezüglich der Schreibenergie von einer Abhängigkeit der Löschparameter bezüglich der Löschenergie unterscheidet.
Speichervorrichtung nach Anspruch 10 oder 11, ferner gekennzeichnet durch: ein Beurteilungsmittel zum Beurteilen eines Typs des Aufzeichnungsmediums, wobei das Einstellmittel wenigstens den genannten einen Parameter einstellt, wenn das Beurteilungsmittel beurteilt, daß das Aufzeichnungsmedium ein Aufzeichnungsmedium mit hoher Dichte ist.