JP3429165B2 - 光学的記憶装置 - Google Patents
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
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- G11B7/0045—Recording
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＭＯカートリッジ
等のリムーバブルな媒体を用いた光学的記憶装置に関
し、特に、媒体ローディング時にレーザダイオードの発
光パワーを効率的に最適パワーに調整する光学的記憶装
置に関する。
等のリムーバブルな媒体を用いた光学的記憶装置に関
し、特に、媒体ローディング時にレーザダイオードの発
光パワーを効率的に最適パワーに調整する光学的記憶装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクは、近年急速に発展するマル
チメディアの中核となる記憶媒体として注目されてお
り、例えば３．５インチのＭＯカートリッジを見ると、
旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあって
は、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の媒体
も提供されている。
チメディアの中核となる記憶媒体として注目されてお
り、例えば３．５インチのＭＯカートリッジを見ると、
旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあって
は、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の媒体
も提供されている。
【０００３】光ディスク装置では、リード、ライトを安
定して行うためにレーザダイオードの発光パワーを、そ
の時の温度、媒体種別、媒体上の位置（ゾーン）等によ
って適切に設定することが重要である。一般的に高温の
場合は必要とする発光パワーは低くなり、低温では高く
なる。媒体種別は、ピットポジション変調（ＰＰＭ）に
より記録した１２８ＭＢ媒体及び２３０ＭＢ媒体と、記
録密度を高めるためにパルス幅変調（ＰＷＭ）により記
録した５４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒体とに分けられ
る。
定して行うためにレーザダイオードの発光パワーを、そ
の時の温度、媒体種別、媒体上の位置（ゾーン）等によ
って適切に設定することが重要である。一般的に高温の
場合は必要とする発光パワーは低くなり、低温では高く
なる。媒体種別は、ピットポジション変調（ＰＰＭ）に
より記録した１２８ＭＢ媒体及び２３０ＭＢ媒体と、記
録密度を高めるためにパルス幅変調（ＰＷＭ）により記
録した５４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒体とに分けられ
る。
【０００４】ＰＰＭ記録は、リードパワー、イレーズパ
ワー及び記録パワーの３段階で発光パワーを変化させ
る。これに対しＰＷＭ記録では、リードパワー、イレー
ズパワー、第１ライトパワー、及び第２ライトパワーの
４段階に発光パワーを変化させる必要がある。またダイ
レクトオーバライト対応型の媒体のＰＷＭ記録の場合
は、イレーズがないため、リードパワー、アシストパワ
ー、第１ライトパワー、及び第２ライトパワーの４段階
に発光パワーを変化させる必要がある。更に、媒体上の
位置では、内周よりも外周の方が発光パワーを必要とす
る。このように光ディスク装置では、状況に応じて最適
な発光パワーを設定する必要がある。
ワー及び記録パワーの３段階で発光パワーを変化させ
る。これに対しＰＷＭ記録では、リードパワー、イレー
ズパワー、第１ライトパワー、及び第２ライトパワーの
４段階に発光パワーを変化させる必要がある。またダイ
レクトオーバライト対応型の媒体のＰＷＭ記録の場合
は、イレーズがないため、リードパワー、アシストパワ
ー、第１ライトパワー、及び第２ライトパワーの４段階
に発光パワーを変化させる必要がある。更に、媒体上の
位置では、内周よりも外周の方が発光パワーを必要とす
る。このように光ディスク装置では、状況に応じて最適
な発光パワーを設定する必要がある。
【０００５】レーザダイオードの発光制御は、コントロ
ーラで発光パワーの指示データをＤＡコンバータに入力
してアナログ信号に変換し、このアナログ信号により電
流源を制御してレーザダイオードに駆動電流を流して発
光させている。この場合、コントローラで指示した最適
な発光パワーと実際に発光したレーザダイオードの発光
パワーとが一致することが重要となる。
ーラで発光パワーの指示データをＤＡコンバータに入力
してアナログ信号に変換し、このアナログ信号により電
流源を制御してレーザダイオードに駆動電流を流して発
光させている。この場合、コントローラで指示した最適
な発光パワーと実際に発光したレーザダイオードの発光
パワーとが一致することが重要となる。
【０００６】このため光ディスク装置に対する媒体挿入
時に、ＤＡコンバータに対する発光指示データとなるＤ
ＡＣ指示値と、これに基づくレーザダイオードの発光パ
ワーとの関係を正確に設定する発光調整を行っている。
このレーザダイオードの発光調整には、発光粗調整と発
光微調整がある。発光粗調整は、フォーカスサーボ及び
トラックサーボをオフした状態で、ＡＤＣ指示値をＤＡ
コンバータにセットしてレーザダイオードを発光駆動
し、そのモニタ光をＡＤコンバータで測定し、測定パワ
ーが指示パワーに一致するようにＤＡＣ指示値を調整す
る。この場合、測定するモニタ光には媒体からの戻り光
がなく、実際のリード、ライトとは異なる静的な調整と
なる。
時に、ＤＡコンバータに対する発光指示データとなるＤ
ＡＣ指示値と、これに基づくレーザダイオードの発光パ
ワーとの関係を正確に設定する発光調整を行っている。
このレーザダイオードの発光調整には、発光粗調整と発
光微調整がある。発光粗調整は、フォーカスサーボ及び
トラックサーボをオフした状態で、ＡＤＣ指示値をＤＡ
コンバータにセットしてレーザダイオードを発光駆動
し、そのモニタ光をＡＤコンバータで測定し、測定パワ
ーが指示パワーに一致するようにＤＡＣ指示値を調整す
る。この場合、測定するモニタ光には媒体からの戻り光
がなく、実際のリード、ライトとは異なる静的な調整と
なる。
【０００７】これに対し発光微調整は、フォーカスサー
ボ及びトラックサーボをオンしたオントラック制御状
態、即ち実際のリード、ライトと同じモニタ光が媒体戻
り光を含む状態とする。そして、粗調整で得られた発光
パワーとＤＡＣ指示値との関係に基づき、最適パワーに
対応するＤＡＣ指示値をＤＡコンバータにセットしてレ
ーザダイオードを発光駆動し、媒体戻り光を含むモニタ
光を測定し、測定パワーが指示発光パワーに一致するよ
うにＤＡＣ値を調整し、発光パワーとＤＡＣ指示値の関
係を正確に調整する。
ボ及びトラックサーボをオンしたオントラック制御状
態、即ち実際のリード、ライトと同じモニタ光が媒体戻
り光を含む状態とする。そして、粗調整で得られた発光
パワーとＤＡＣ指示値との関係に基づき、最適パワーに
対応するＤＡＣ指示値をＤＡコンバータにセットしてレ
ーザダイオードを発光駆動し、媒体戻り光を含むモニタ
光を測定し、測定パワーが指示発光パワーに一致するよ
うにＤＡＣ値を調整し、発光パワーとＤＡＣ指示値の関
係を正確に調整する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のオン
トラック制御状態で行うレーザダイオードの発光微調整
にあっては、レーザダイオードをライトパワー及びイレ
ーズパワーで発光駆動するため、既存の記録データを破
壊することになる。このため発光微調整はユーザデータ
が記録されていない例えば最インナの非ユーザ領域のテ
ストゾーンを使用する。即ち、発光微調整を開始する際
にキャリッジをテストゾーンにシークし、テストゾーン
へのシーク完了を確認してレーザダイオードの発光調整
を行っている。
トラック制御状態で行うレーザダイオードの発光微調整
にあっては、レーザダイオードをライトパワー及びイレ
ーズパワーで発光駆動するため、既存の記録データを破
壊することになる。このため発光微調整はユーザデータ
が記録されていない例えば最インナの非ユーザ領域のテ
ストゾーンを使用する。即ち、発光微調整を開始する際
にキャリッジをテストゾーンにシークし、テストゾーン
へのシーク完了を確認してレーザダイオードの発光調整
を行っている。
【０００９】この発光調整は例えばイレーズを必要とす
るＰＷＭ記録媒体にあっては、イレーズパワー、第１ラ
イトパワー、及び第２ライトパワーの各々について、ス
パイラル状のトラックに対しオントラック状態を維持し
ながら順番に発光調整を行っていく。またイレーズを必
要としないダイレクトオーバライト対応型のＰＷＭ記録
媒体にあっては、アシストパワーに加算される第１ライ
トパワーと、アシストパワーに加算される第２ライトパ
ワーの各々について、スパイラル状のトラックに対しオ
ントラック状態を維持しながら順番に発光調整を行って
いく。
るＰＷＭ記録媒体にあっては、イレーズパワー、第１ラ
イトパワー、及び第２ライトパワーの各々について、ス
パイラル状のトラックに対しオントラック状態を維持し
ながら順番に発光調整を行っていく。またイレーズを必
要としないダイレクトオーバライト対応型のＰＷＭ記録
媒体にあっては、アシストパワーに加算される第１ライ
トパワーと、アシストパワーに加算される第２ライトパ
ワーの各々について、スパイラル状のトラックに対しオ
ントラック状態を維持しながら順番に発光調整を行って
いく。
【００１０】しかしながら、テストゾーンの途中のトラ
ックにシークして発光調整を開始したような場合、テス
トゾーンの残りトラック数が不足しており、発光調整中
にテストゾーンを超えてライト発光し、システム領域に
配置したコントロールトラックやユーザゾーンのデータ
を破壊してしまう恐れがあった。また従来の発光微調整
にあっては、テストゾーンでオントラック状態に制御し
てレーザダイオードを発光駆動しているが、実際にテス
トデータの書込み等は行わないことから、ＩＤ部とデー
タ部で構成されるトラックのセクタ構造は特に意識せず
に発光調整を行っている。
ックにシークして発光調整を開始したような場合、テス
トゾーンの残りトラック数が不足しており、発光調整中
にテストゾーンを超えてライト発光し、システム領域に
配置したコントロールトラックやユーザゾーンのデータ
を破壊してしまう恐れがあった。また従来の発光微調整
にあっては、テストゾーンでオントラック状態に制御し
てレーザダイオードを発光駆動しているが、実際にテス
トデータの書込み等は行わないことから、ＩＤ部とデー
タ部で構成されるトラックのセクタ構造は特に意識せず
に発光調整を行っている。
【００１１】しかしながら、イレーズやライトの発光パ
ワーに対応するＤＡＣ指示値をＤＡコンバータにセット
してレーザダイオードを発光駆動した場合、ＤＡＣ指示
値が一定であっても、ＡＤコンバータで測定しているモ
ニタ光の測定パワーが部分的に変動する現象が見られ、
調整誤差を生ずる問題があった。本発明は、このような
従来の問題点に鑑みてなされたもので、オントラック制
御状態での発光調整中にテストゾーンを超えてライト発
光して必要データを破壊してしまうことを防止するよう
にした光学的記憶装置を提供することを目的とする。
ワーに対応するＤＡＣ指示値をＤＡコンバータにセット
してレーザダイオードを発光駆動した場合、ＤＡＣ指示
値が一定であっても、ＡＤコンバータで測定しているモ
ニタ光の測定パワーが部分的に変動する現象が見られ、
調整誤差を生ずる問題があった。本発明は、このような
従来の問題点に鑑みてなされたもので、オントラック制
御状態での発光調整中にテストゾーンを超えてライト発
光して必要データを破壊してしまうことを防止するよう
にした光学的記憶装置を提供することを目的とする。
【００１２】また本発明は、オントラック状態での発光
でモニタ光の測定パワーに変動があっても、調整誤差を
起すことなく正確に発光調整できるようにした光学的記
憶装置を提供することを目的とする。
でモニタ光の測定パワーに変動があっても、調整誤差を
起すことなく正確に発光調整できるようにした光学的記
憶装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。まず本発明の光学的記憶装置は、ビーム光を
発光するレーザダイオード１００と、複数のパワーに応
じた駆動電流をレーザダイオード１００に流す発光電流
源回路１５２と、レーザダイオード１００の発光パワー
を規定の目標パワーに制御する自動パワー制御部（ＡＰ
Ｃ）１３８と、レーザダイオード１００のレーザ光を受
光して測定パワーを検出するためのモニタ用ディテクタ
１０２と、モニタ用ディテクタ１０２から得られたモニ
タ電流をパワー測定値として読み込むモニタパワー測定
部１５４とを備える。
図である。まず本発明の光学的記憶装置は、ビーム光を
発光するレーザダイオード１００と、複数のパワーに応
じた駆動電流をレーザダイオード１００に流す発光電流
源回路１５２と、レーザダイオード１００の発光パワー
を規定の目標パワーに制御する自動パワー制御部（ＡＰ
Ｃ）１３８と、レーザダイオード１００のレーザ光を受
光して測定パワーを検出するためのモニタ用ディテクタ
１０２と、モニタ用ディテクタ１０２から得られたモニ
タ電流をパワー測定値として読み込むモニタパワー測定
部１５４とを備える。
【００１４】このような光学的記憶装置につき、本発明
にあっては、発光微調整処理部１６４、自動パワー制御
ホールド部１６６及びテストゾーン確認部１７０を設け
る。発光微調整処理部１６４は、所定のテストゾーンに
シークした後、オントラック制御を有効とした状態で予
め定めたテストパワーでの発光を発光電流源回路１５２
に順次指示してレーザダイオード１００を発光駆動し、
測定パワーが目標パワーとなるように発光電流源回路１
５２の指示値を調整し、この調整結果に基づき、任意の
発光パワーｘに対する発光電流源回路の指示値ｙとの関
係を求める。例えば任意の発光パワーｘに対する発光電
流源回路の指示値ｙとの関係を直線近似により求めて初
期設定したパワーテーブルを補正する。
にあっては、発光微調整処理部１６４、自動パワー制御
ホールド部１６６及びテストゾーン確認部１７０を設け
る。発光微調整処理部１６４は、所定のテストゾーンに
シークした後、オントラック制御を有効とした状態で予
め定めたテストパワーでの発光を発光電流源回路１５２
に順次指示してレーザダイオード１００を発光駆動し、
測定パワーが目標パワーとなるように発光電流源回路１
５２の指示値を調整し、この調整結果に基づき、任意の
発光パワーｘに対する発光電流源回路の指示値ｙとの関
係を求める。例えば任意の発光パワーｘに対する発光電
流源回路の指示値ｙとの関係を直線近似により求めて初
期設定したパワーテーブルを補正する。
【００１５】自動パワー制御ホールド部１６６は、発光
微調整処理部１６４によりレーザダイオード１００を発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り自動パワー制御部
１３８の制御をホールドさせる。このためレーザダイオ
ード１００の発光中は自動パワー発光制御が行われず、
戻り光による発光パワーの誤差を正確に測定し、この誤
差をなくすように発光電流源回路に対する指示値を調整
できる。
微調整処理部１６４によりレーザダイオード１００を発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り自動パワー制御部
１３８の制御をホールドさせる。このためレーザダイオ
ード１００の発光中は自動パワー発光制御が行われず、
戻り光による発光パワーの誤差を正確に測定し、この誤
差をなくすように発光電流源回路に対する指示値を調整
できる。
【００１６】テストゾーン確認部１７０は、発光微調整
処理部１６４によるレーザダイオード１００の発光調整
開始時に現在位置がテストゾーンの範囲内か否か判断
し、テストゾーンの範囲内の場合に発光調整を起動す
る。このように発光調整中に媒体上の現在位置の確認を
随時行い、テストゾーン範囲外にある場合は、再度テス
トゾーン先頭へシークすることによって、ユーザデータ
の破壊を防止する。
処理部１６４によるレーザダイオード１００の発光調整
開始時に現在位置がテストゾーンの範囲内か否か判断
し、テストゾーンの範囲内の場合に発光調整を起動す
る。このように発光調整中に媒体上の現在位置の確認を
随時行い、テストゾーン範囲外にある場合は、再度テス
トゾーン先頭へシークすることによって、ユーザデータ
の破壊を防止する。
【００１７】本発明の具体的な形態にあっては、更に、
差引電流源回路１５６が設けられ、モニタ用ディタクタ
１０２の受光電流から発光パワーと目標パワーの差に相
当する規定の差引電流を差し引いてモニタ電流に変換
し、モニタ電流を前記自動パワー制御部に帰還させる。
この場合、モニタパワー測定部１５５は、差引電流源回
路１５６から得られたモニタ電流をパワー測定値として
読み込みむ。また発光微調整処理部１６４は、所定のテ
ストゾーンにシークした後、オントラック制御を有効と
した状態で予め定めた少なくとも２点のテストパワーで
の発光を発光電流源回路１５４に順次指示してレーザダ
イオード１００を発光駆動すると共に、差引電流源回路
１５６に２点のテストパワーに対応する規定の差引電流
を指示し、モニタパワー測定部１５５の測定パワーが目
標パワーとなるように発光電流源回路１５４の指示値を
調整し、この調整結果に基づき、任意の発光パワーに対
する発光電流源回路１５４の指示値との関係を求める。
差引電流源回路１５６が設けられ、モニタ用ディタクタ
１０２の受光電流から発光パワーと目標パワーの差に相
当する規定の差引電流を差し引いてモニタ電流に変換
し、モニタ電流を前記自動パワー制御部に帰還させる。
この場合、モニタパワー測定部１５５は、差引電流源回
路１５６から得られたモニタ電流をパワー測定値として
読み込みむ。また発光微調整処理部１６４は、所定のテ
ストゾーンにシークした後、オントラック制御を有効と
した状態で予め定めた少なくとも２点のテストパワーで
の発光を発光電流源回路１５４に順次指示してレーザダ
イオード１００を発光駆動すると共に、差引電流源回路
１５６に２点のテストパワーに対応する規定の差引電流
を指示し、モニタパワー測定部１５５の測定パワーが目
標パワーとなるように発光電流源回路１５４の指示値を
調整し、この調整結果に基づき、任意の発光パワーに対
する発光電流源回路１５４の指示値との関係を求める。
【００１８】テストゾーン確認部１７０は、媒体トラッ
クのＩＤ部を読み取ることにより現在位置がトラックゾ
ーンの範囲内か否か判断する。またテストゾーン確認部
１７０は、媒体の径方向に光ビームの結像位置を移動さ
せるポジショナ（ＶＣＭキャリッジ）の絶対位置を位置
センサにより検出して現在位置がトラックゾーンの範囲
内か否か判断してもよい。
クのＩＤ部を読み取ることにより現在位置がトラックゾ
ーンの範囲内か否か判断する。またテストゾーン確認部
１７０は、媒体の径方向に光ビームの結像位置を移動さ
せるポジショナ（ＶＣＭキャリッジ）の絶対位置を位置
センサにより検出して現在位置がトラックゾーンの範囲
内か否か判断してもよい。
【００１９】テストゾーン確認部１７０は、現在位置が
テストゾーン範囲外にある場合は、再度テストゾーンへ
シーク動作を行わせる。またテストゾーン確認部１７０
は、現在位置が認識できない場合は、レーザダイオード
１００の発光調整を禁止する。テストゾーン確認部１７
０は、現在位置を認識する項目として、媒体トラックの
ＩＤ部の読取りと、位置センサで検出した対物レンズの
光ビーム結像位置を媒体の径方向に移動させるポジショ
ナの絶対位置を有し、複数の項目のいずれか１つを選択
して現在位置を認識すると共に、選択した項目では現在
位置が認識できなかった場合は、他の項目に切り替えて
現在位置を認識することが望ましい。
テストゾーン範囲外にある場合は、再度テストゾーンへ
シーク動作を行わせる。またテストゾーン確認部１７０
は、現在位置が認識できない場合は、レーザダイオード
１００の発光調整を禁止する。テストゾーン確認部１７
０は、現在位置を認識する項目として、媒体トラックの
ＩＤ部の読取りと、位置センサで検出した対物レンズの
光ビーム結像位置を媒体の径方向に移動させるポジショ
ナの絶対位置を有し、複数の項目のいずれか１つを選択
して現在位置を認識すると共に、選択した項目では現在
位置が認識できなかった場合は、他の項目に切り替えて
現在位置を認識することが望ましい。
【００２０】発光微調整処理部１６４及びテストゾーン
確認部１７０は、媒体カートリッジが挿入された直後の
イニシャル動作でテストゾーンの確認を伴うレーザダイ
オード１００の発光微調整を行う。また発光微調整処理
部１６４及びテストゾーン確認部１７０は、リトライ動
作でテストゾーンの確認を伴うレーザダイオード１００
の発光微調整を行う。
確認部１７０は、媒体カートリッジが挿入された直後の
イニシャル動作でテストゾーンの確認を伴うレーザダイ
オード１００の発光微調整を行う。また発光微調整処理
部１６４及びテストゾーン確認部１７０は、リトライ動
作でテストゾーンの確認を伴うレーザダイオード１００
の発光微調整を行う。
【００２１】更に、発光微調整処理部１６４及びテスト
ゾーン確認部１７０は、上位装置からのコマンドが発行
されていない状態の場合、一定の時間間隔でテストゾー
ンの確認を伴うレーザダイオード１００の発光微調整を
行う。発光微調整処理部１６４は、装置にローディング
された媒体がピットボジション変調（ＰＰＭ）の記録媒
体の場合、イレーズパワーＥＰ及び第１ライトパワーＷ
Ｐ１の各々を調整する。また装置にローディングされた
媒体がパルス幅変調（ＰＷＭ）の記録媒体の場合、イレ
ーズパワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１、及び第２ラ
イトパワーＷＰ２の各々を調整する。
ゾーン確認部１７０は、上位装置からのコマンドが発行
されていない状態の場合、一定の時間間隔でテストゾー
ンの確認を伴うレーザダイオード１００の発光微調整を
行う。発光微調整処理部１６４は、装置にローディング
された媒体がピットボジション変調（ＰＰＭ）の記録媒
体の場合、イレーズパワーＥＰ及び第１ライトパワーＷ
Ｐ１の各々を調整する。また装置にローディングされた
媒体がパルス幅変調（ＰＷＭ）の記録媒体の場合、イレ
ーズパワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１、及び第２ラ
イトパワーＷＰ２の各々を調整する。
【００２２】また本発明の光学的記憶装置の別の実施形
態にあっては、発光微調整処理部１６４及び自動パワー
制御ホールド部１６６に加え、発光タイミング制御部１
６８を設ける。発光タイミング制御部１６８は、発光微
調整処理部１６４によりレーザダイオード１００を発光
調整する場合、オントラック制御しているトラックセク
タの各々につき、ＩＤ部を避けてデータ部でのみレーザ
ダイオード１００の発光調整を行わせる。
態にあっては、発光微調整処理部１６４及び自動パワー
制御ホールド部１６６に加え、発光タイミング制御部１
６８を設ける。発光タイミング制御部１６８は、発光微
調整処理部１６４によりレーザダイオード１００を発光
調整する場合、オントラック制御しているトラックセク
タの各々につき、ＩＤ部を避けてデータ部でのみレーザ
ダイオード１００の発光調整を行わせる。
【００２３】発光微調整処理部１６４によって、イレー
ズやライトの発光パワーに対応する指示値を発光電流源
回路１５２にセットしてレーザダイオード１００を発光
駆動した場合、指示値が一定であっても、モニタパワー
測定部１５４で測定しているモニタ光の測定パワーが部
分的に変動する現象が見られ、調整誤差を生ずる。本願
発明者が原因を究明したところ、オントラック制御状態
でのモニタ用ディテクタ１０２に対する媒体からの戻り
光が、トラックセクタのＩＤ部とデータ部とで相違する
ことが判った。
ズやライトの発光パワーに対応する指示値を発光電流源
回路１５２にセットしてレーザダイオード１００を発光
駆動した場合、指示値が一定であっても、モニタパワー
測定部１５４で測定しているモニタ光の測定パワーが部
分的に変動する現象が見られ、調整誤差を生ずる。本願
発明者が原因を究明したところ、オントラック制御状態
でのモニタ用ディテクタ１０２に対する媒体からの戻り
光が、トラックセクタのＩＤ部とデータ部とで相違する
ことが判った。
【００２４】即ち、ＩＤ部には物理的なピットで情報が
記録されており、これに対しデータ部は光磁気によるピ
ット記録で物理的には鏡面となっている。このためＩＤ
部からの戻り光は物理ピットの凹凸の影響を受けて変動
を起しており、これが調整誤差の原因となっていること
が判明した。従来の１２３ＭＢ媒体や２３０ＭＢ媒体の
発光微調整では、調整誤差があっても、実際のリード、
ライトに影響がなく、無視することができた。しかし、
５４０ＭＢ媒体や６４０ＭＢ媒体のＰＷＭ記録を行うた
めの発光微調整にあっては、ＩＤ部の戻り光の変動によ
る調整誤差がリード、ライトに大きく影響し、エラーレ
ートを悪化させる原因の１つとなっており、調整誤差の
原因となっていたＩＤ部での調整発光を回避してデータ
部においてのみ調整発光することで、調整誤差の発生が
防止できる。
記録されており、これに対しデータ部は光磁気によるピ
ット記録で物理的には鏡面となっている。このためＩＤ
部からの戻り光は物理ピットの凹凸の影響を受けて変動
を起しており、これが調整誤差の原因となっていること
が判明した。従来の１２３ＭＢ媒体や２３０ＭＢ媒体の
発光微調整では、調整誤差があっても、実際のリード、
ライトに影響がなく、無視することができた。しかし、
５４０ＭＢ媒体や６４０ＭＢ媒体のＰＷＭ記録を行うた
めの発光微調整にあっては、ＩＤ部の戻り光の変動によ
る調整誤差がリード、ライトに大きく影響し、エラーレ
ートを悪化させる原因の１つとなっており、調整誤差の
原因となっていたＩＤ部での調整発光を回避してデータ
部においてのみ調整発光することで、調整誤差の発生が
防止できる。
【００２５】発光タイミング制御部１６８は、ＩＤ情報
の更新を検出した時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の
先頭であると認識してレーザダイオード１００の発光調
整を行わせる。また発光タイミング制御部１６８は、Ｉ
Ｄ部に含まれるセクタマークＳＭを検出してから規定時
間経過した時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の先頭で
あると認識してレーザダイオード１００の発光調整を行
わせる。
の更新を検出した時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の
先頭であると認識してレーザダイオード１００の発光調
整を行わせる。また発光タイミング制御部１６８は、Ｉ
Ｄ部に含まれるセクタマークＳＭを検出してから規定時
間経過した時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の先頭で
あると認識してレーザダイオード１００の発光調整を行
わせる。
【００２６】更に、発光タイミング制御部１６８は、Ｉ
Ｄ部に含まれるアドレスマークを検出してから規定時間
経過した時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の先頭であ
ると認識してレーザダイオード１００の発光調整を行わ
せる。更に又、発光タイミング制御部１６８は、ＩＤ部
の読取信号を所定のスライスレベルと比較した出力が変
動しなくなった時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の先
頭であると認識してレーザダイオード１００の発光調整
を行わせてもよい。
Ｄ部に含まれるアドレスマークを検出してから規定時間
経過した時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の先頭であ
ると認識してレーザダイオード１００の発光調整を行わ
せる。更に又、発光タイミング制御部１６８は、ＩＤ部
の読取信号を所定のスライスレベルと比較した出力が変
動しなくなった時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の先
頭であると認識してレーザダイオード１００の発光調整
を行わせてもよい。
【００２７】発光タイミング制御部１６８は、媒体種別
で決まるデータ部の物理的な長さ及びスピンドルモータ
による媒体回転数に基づいて定めた回数に従って、レー
ザタイオード１００をデータ部のタイミングで間欠的に
発光駆動し、発光期間毎にモニタパワー測定部１５４で
パワー測定を行う。発光タイミング制御部１６８は、Ｉ
Ｄ部の終了を認識できなかった場合は、レーザタイオー
ド１００の発光調整を禁止する。
で決まるデータ部の物理的な長さ及びスピンドルモータ
による媒体回転数に基づいて定めた回数に従って、レー
ザタイオード１００をデータ部のタイミングで間欠的に
発光駆動し、発光期間毎にモニタパワー測定部１５４で
パワー測定を行う。発光タイミング制御部１６８は、Ｉ
Ｄ部の終了を認識できなかった場合は、レーザタイオー
ド１００の発光調整を禁止する。
【００２８】発光タイミング制御部１６８は、ＩＤ部の
終了を判断する項目として、ＩＤ情報の更新時点、セク
タマーク検出から所定時間の経過時点、アドレスマーク
検出から所定時間の経過時点、及びＩＤ信号を所定スラ
イスレベルと比較した信号が変動しなくなった時点を有
し、これら複数の判断項目のいずれか１つを選択してＩ
Ｄ部の終了を判断すると共に、選択した判断項目でＩＤ
部の終了を判断できなかった場合は、他の判断項目に切
り替えて判断するようにしてもよい。
終了を判断する項目として、ＩＤ情報の更新時点、セク
タマーク検出から所定時間の経過時点、アドレスマーク
検出から所定時間の経過時点、及びＩＤ信号を所定スラ
イスレベルと比較した信号が変動しなくなった時点を有
し、これら複数の判断項目のいずれか１つを選択してＩ
Ｄ部の終了を判断すると共に、選択した判断項目でＩＤ
部の終了を判断できなかった場合は、他の判断項目に切
り替えて判断するようにしてもよい。
【００２９】発光微調整処理部１６４及び発光タイミン
グ制御部１６８によるＩＤ部を避けてデータ部でのみレ
ーザダイオード１００の発光微調整を行うタイミングと
しては、媒体カートリッジが挿入された直後のイニシャ
ル動作時、リトライ動作時、及び上位装置からコマンド
が発行されていない状態の場合で一定時間間隔とする。
グ制御部１６８によるＩＤ部を避けてデータ部でのみレ
ーザダイオード１００の発光微調整を行うタイミングと
しては、媒体カートリッジが挿入された直後のイニシャ
ル動作時、リトライ動作時、及び上位装置からコマンド
が発行されていない状態の場合で一定時間間隔とする。
【００３０】更に本発明の別の形態にあっては、発光微
調整処理部１６４及び自動パワー制御ホールド部１６６
に加え、発光タイミング制御部１６８及びテストゾーン
確認部１７０を設けるようにしてもよい。
調整処理部１６４及び自動パワー制御ホールド部１６６
に加え、発光タイミング制御部１６８及びテストゾーン
確認部１７０を設けるようにしてもよい。
【００３１】
＜目 次＞
１．装置構成
２．発光調整
３．発光微調整
１．装置構成
図２は本発明の光学的記憶装置である光ディスクドライ
ブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライ
ブは、コントロールユニット１０とエンクロージャ１１
で構成される。コントロールユニット１０には光ディス
クドライブの全体的な制御を行うＭＰＵ１２、上位装置
との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフ
ェース１７、光ディスク媒体に対するデータのリード・
ライトに必要な処理を行う光ディスクコントローラ（Ｏ
ＤＣ）１４、ＤＳＰ１６、及びバッファメモリ１８が設
けられる。
ブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライ
ブは、コントロールユニット１０とエンクロージャ１１
で構成される。コントロールユニット１０には光ディス
クドライブの全体的な制御を行うＭＰＵ１２、上位装置
との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフ
ェース１７、光ディスク媒体に対するデータのリード・
ライトに必要な処理を行う光ディスクコントローラ（Ｏ
ＤＣ）１４、ＤＳＰ１６、及びバッファメモリ１８が設
けられる。
【００３２】光ディスクコントローラ１４には、ライト
アクセスで媒体の記録フォーマットを生成するフォーマ
ッタ１４−１と、ライトデータからＥＣＣを生成しリー
ドデータにつきエラー検出訂正を行うＥＣＣ部１４−２
としての機能が設けられる。またバッファメモリ１８
は、ＭＰＵ１２、光ディスクコントローラ１４、及び上
位インタフェース１７で共用される。
アクセスで媒体の記録フォーマットを生成するフォーマ
ッタ１４−１と、ライトデータからＥＣＣを生成しリー
ドデータにつきエラー検出訂正を行うＥＣＣ部１４−２
としての機能が設けられる。またバッファメモリ１８
は、ＭＰＵ１２、光ディスクコントローラ１４、及び上
位インタフェース１７で共用される。
【００３３】光ディスクコントローラ１４に対してはラ
イトＬＳＩ回路２０が設けられ、ライトＬＳＩ回路２０
にはエンコーダ２１とレーザダイオード制御回路２２が
設けられる。レーザダイオード制御回路２２の制御出力
は、エンクロージャ１１側の光学ユニットに設けたレー
ザダイオードユニット３０に与えられている。レーザダ
イオードユニット３０はレーザダイオード１００とモニ
タ用ディテクタ１０２を一体に備える。エンコーダ２１
は、ライトデータをＰＰＭ記録またはＰＷＭ記録のでデ
ータ形式に変換する。
イトＬＳＩ回路２０が設けられ、ライトＬＳＩ回路２０
にはエンコーダ２１とレーザダイオード制御回路２２が
設けられる。レーザダイオード制御回路２２の制御出力
は、エンクロージャ１１側の光学ユニットに設けたレー
ザダイオードユニット３０に与えられている。レーザダ
イオードユニット３０はレーザダイオード１００とモニ
タ用ディテクタ１０２を一体に備える。エンコーダ２１
は、ライトデータをＰＰＭ記録またはＰＷＭ記録のでデ
ータ形式に変換する。
【００３４】レーザダイオードユニット３０を使用して
記録再生を行う光ディスク、即ち書替え可能なＭＯカー
トリッジ媒体として、この実施形態にあっては、イレー
ズを必要とする１２８ＭＢ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ、
６４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体、更には、イレーズ
を必要としないダイレクトオーバライト対応型のカート
リッジ媒体のいずれかを使用することができる。
記録再生を行う光ディスク、即ち書替え可能なＭＯカー
トリッジ媒体として、この実施形態にあっては、イレー
ズを必要とする１２８ＭＢ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ、
６４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体、更には、イレーズ
を必要としないダイレクトオーバライト対応型のカート
リッジ媒体のいずれかを使用することができる。
【００３５】このうち１２８ＭＢ及び２３０ＭＢのＭＯ
カートリッジ媒体については、媒体上のマークの有無に
対応してデータを記録するピットポジション記録（ＰＰ
Ｍ記録）を採用している。また媒体の記録フォーマット
はＺＣＡＶであり、１２８ＭＢは１ゾーン、２３０ＭＢ
は１０ゾーンである。また、高密度記録となる５４０Ｍ
Ｂ及び６４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、
マークのエッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させるパ
ルス幅記録（ＰＷＭ記録）を採用している。このＰＷＭ
記録は、マーク記録又はエッジ記録とも呼ばれる。
カートリッジ媒体については、媒体上のマークの有無に
対応してデータを記録するピットポジション記録（ＰＰ
Ｍ記録）を採用している。また媒体の記録フォーマット
はＺＣＡＶであり、１２８ＭＢは１ゾーン、２３０ＭＢ
は１０ゾーンである。また、高密度記録となる５４０Ｍ
Ｂ及び６４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、
マークのエッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させるパ
ルス幅記録（ＰＷＭ記録）を採用している。このＰＷＭ
記録は、マーク記録又はエッジ記録とも呼ばれる。
【００３６】ここで、６４０ＭＢと５４０ＭＢの記憶容
量の差はセクタ容量の違いによるもので、セクタ容量が
２０４８Ｂyte のとき６４０ＭＢとなり、一方、５１２
Ｂyte のときは５４０ＭＢとなる。また媒体の記録フォ
ーマットはゾーンＣＡＶ方式であり、６４０ＭＢは１１
ゾーン、５４０ＭＢは１８ゾーンである。このように本
発明の光ディスクドライブは、１２８ＭＢ、２３０Ｍ
Ｂ、５４０ＭＢまたは６４０ＭＢの各記憶容量のＭＯカ
ートリッジ媒体に対応可能である。したがって光ディス
クドライブにＭＯカートリッジをローディングした際に
は、まず媒体のＩＤ部をリードし、そのピット間隔から
ＭＰＵ１２において媒体の種別を認識し、種別結果を光
ディスクドライブ１４のフォーマッタ１４−１に通知す
ることで、１２８ＭＢまたは２３０ＭＢ媒体であればＰ
ＰＭ記録に対応したフォーマッタ処理を行い、５４０Ｍ
Ｂまたは６４０ＭＢ媒体であれば、ＰＷＭ記録に従った
フォーマッタ処理を行い、またＥＣＣ処理部でライトデ
ータからＥＣＣコードを生成して付加する。そしてライ
トＬＳＩ回路２０のエンコーダ２１でＰＰＭ記録データ
又はＰＷＭ記録データへの変換を行い、レーザダイオー
ド制御回路２２による発光駆動で媒体に書き込む。
量の差はセクタ容量の違いによるもので、セクタ容量が
２０４８Ｂyte のとき６４０ＭＢとなり、一方、５１２
Ｂyte のときは５４０ＭＢとなる。また媒体の記録フォ
ーマットはゾーンＣＡＶ方式であり、６４０ＭＢは１１
ゾーン、５４０ＭＢは１８ゾーンである。このように本
発明の光ディスクドライブは、１２８ＭＢ、２３０Ｍ
Ｂ、５４０ＭＢまたは６４０ＭＢの各記憶容量のＭＯカ
ートリッジ媒体に対応可能である。したがって光ディス
クドライブにＭＯカートリッジをローディングした際に
は、まず媒体のＩＤ部をリードし、そのピット間隔から
ＭＰＵ１２において媒体の種別を認識し、種別結果を光
ディスクドライブ１４のフォーマッタ１４−１に通知す
ることで、１２８ＭＢまたは２３０ＭＢ媒体であればＰ
ＰＭ記録に対応したフォーマッタ処理を行い、５４０Ｍ
Ｂまたは６４０ＭＢ媒体であれば、ＰＷＭ記録に従った
フォーマッタ処理を行い、またＥＣＣ処理部でライトデ
ータからＥＣＣコードを生成して付加する。そしてライ
トＬＳＩ回路２０のエンコーダ２１でＰＰＭ記録データ
又はＰＷＭ記録データへの変換を行い、レーザダイオー
ド制御回路２２による発光駆動で媒体に書き込む。
【００３７】光ディスクドライブ１４に対するリード系
統としては、リードＬＳＩ回路２４が設けられ、リード
ＬＳＩ回路２４にはリード復調回路２５とデコーダ２６
が内蔵される。リードＬＳＩ回路２４に対しては、エン
クロージャ１１に設けたＩＤ／ＭＯ用ディテクタ３２に
よるレーザダイオード３０からのビームの戻り光の受光
信号が、ヘッドアンプ３４を介してＩＤ信号及びＭＯ信
号として入力されている。
統としては、リードＬＳＩ回路２４が設けられ、リード
ＬＳＩ回路２４にはリード復調回路２５とデコーダ２６
が内蔵される。リードＬＳＩ回路２４に対しては、エン
クロージャ１１に設けたＩＤ／ＭＯ用ディテクタ３２に
よるレーザダイオード３０からのビームの戻り光の受光
信号が、ヘッドアンプ３４を介してＩＤ信号及びＭＯ信
号として入力されている。
【００３８】リードＬＳＩ回路２４のリード復調回路２
５には、ＡＧＣ回路、フィルタ、セクタマーク検出回
路、シンセサイザ及びＰＬＬ等の回路機能が設けられ、
入力したＩＤ信号及びＭＯ信号よりリードクロックとリ
ードデータを作成し、デコーダ２６に出力してＰＰＭデ
ータまたはＰＷＭデータを元のＮＲＺデータに復調して
いる。またスピンドルモータ４０の制御として角速度一
定制御（ＣＡＶ制御）を採用していることから、ＭＰＵ
１２からリードＬＳＩ回路２４に内蔵したシンセサイザ
に対しゾーン対応のクロック周波数の切替制御が行われ
ている。
５には、ＡＧＣ回路、フィルタ、セクタマーク検出回
路、シンセサイザ及びＰＬＬ等の回路機能が設けられ、
入力したＩＤ信号及びＭＯ信号よりリードクロックとリ
ードデータを作成し、デコーダ２６に出力してＰＰＭデ
ータまたはＰＷＭデータを元のＮＲＺデータに復調して
いる。またスピンドルモータ４０の制御として角速度一
定制御（ＣＡＶ制御）を採用していることから、ＭＰＵ
１２からリードＬＳＩ回路２４に内蔵したシンセサイザ
に対しゾーン対応のクロック周波数の切替制御が行われ
ている。
【００３９】ＭＰＵ１２に対しては、ＤＳＰ１６を経由
してエンクロージャ１１側に設けた温度センサ３６の検
出信号が与えられている。ＭＰＵ１２は、温度センサ３
６で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイ
オード制御回路２２におけるリード、ライト、イレーズ
の各発光パワーを最適値に制御する。ＭＰＵ１２は、Ｄ
ＳＰ１６を経由してドライバ３８によりエンクロージャ
１１側に設けたスピンドルモータ４０を制御する。ＭＯ
カートリッジの記録フォーマットはゾーンＣＡＶである
ことから、スピンドルモータ４０を例えば３６００ｒｐ
ｍの一定速度で回転させる。
してエンクロージャ１１側に設けた温度センサ３６の検
出信号が与えられている。ＭＰＵ１２は、温度センサ３
６で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイ
オード制御回路２２におけるリード、ライト、イレーズ
の各発光パワーを最適値に制御する。ＭＰＵ１２は、Ｄ
ＳＰ１６を経由してドライバ３８によりエンクロージャ
１１側に設けたスピンドルモータ４０を制御する。ＭＯ
カートリッジの記録フォーマットはゾーンＣＡＶである
ことから、スピンドルモータ４０を例えば３６００ｒｐ
ｍの一定速度で回転させる。
【００４０】またＭＰＵ１２は、ＤＳＰ１６を経由して
ドライバ４２によりエンクロージャ１１側に設けた電磁
石４４を制御する。電磁石４４は装置内にローディング
されたＭＯカートリッジのビーム照射側と反対側に配置
されており、記録時及び消去時に媒体に外部磁界を供給
する。ＤＳＰ１６は、媒体に対しレーザダイオードユニ
ット３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機
能を実現する。このため、エンクロージャ１２側の光学
ユニットに媒体からのビーム戻り光を受光するＦＥＳ用
ディテクタ４５を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエ
ラー信号検出回路）４６が、ＦＥＳ用ディテクタ４５の
受光出力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳ
Ｐ１６に入力している。
ドライバ４２によりエンクロージャ１１側に設けた電磁
石４４を制御する。電磁石４４は装置内にローディング
されたＭＯカートリッジのビーム照射側と反対側に配置
されており、記録時及び消去時に媒体に外部磁界を供給
する。ＤＳＰ１６は、媒体に対しレーザダイオードユニ
ット３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機
能を実現する。このため、エンクロージャ１２側の光学
ユニットに媒体からのビーム戻り光を受光するＦＥＳ用
ディテクタ４５を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエ
ラー信号検出回路）４６が、ＦＥＳ用ディテクタ４５の
受光出力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳ
Ｐ１６に入力している。
【００４１】またエンクロージャ１１側の光学ユニット
に媒体からのビーム戻り光を受光するＴＥＳ用ディテク
タ４７を設け、ＴＥＳ検出回路（トラッキングエラー信
号検出回路）４８がＴＥＳ用ディテクタ４７の受光出力
からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１６
に入力している。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ
検出回路（トラックゼロクロス検出回路）５０に入力さ
れ、トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１
６に入力している。
に媒体からのビーム戻り光を受光するＴＥＳ用ディテク
タ４７を設け、ＴＥＳ検出回路（トラッキングエラー信
号検出回路）４８がＴＥＳ用ディテクタ４７の受光出力
からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１６
に入力している。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ
検出回路（トラックゼロクロス検出回路）５０に入力さ
れ、トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１
６に入力している。
【００４２】エンクロージャ１１側には、媒体に対しレ
ーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検出す
るレンズ位置センサ５４が設けられ、そのレンズ位置検
出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１６に入力している。
またエンクロージャ１１側には、対物レンズを搭載した
可動光学系系を媒体の半径方向に移動するキャリッジの
絶対位置を検出するキャリッジ位置センサ５６が設けら
れ、そのキャリッジ位置検出信号Ｅ５をＤＳＰ１６に入
力している。
ーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検出す
るレンズ位置センサ５４が設けられ、そのレンズ位置検
出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１６に入力している。
またエンクロージャ１１側には、対物レンズを搭載した
可動光学系系を媒体の半径方向に移動するキャリッジの
絶対位置を検出するキャリッジ位置センサ５６が設けら
れ、そのキャリッジ位置検出信号Ｅ５をＤＳＰ１６に入
力している。
【００４３】キャリッジ位置センサ５６としては、キャ
リッジ側に発光素子を搭載すると共にライン状の受光部
を固定し、スポット光の受光位置に応じた差電流を位置
検出信号として出力するＰＳＤ（位置センシング・デバ
イス）を使用する。更にＤＳＰ１６は、媒体上のビーム
スポットの位置を制御するため、ドライバ５８，６２，
６６を介してフォーカスアクチュエータ６０、レンズア
クチュエータ６４及びＶＣＭ６８を制御駆動している。
リッジ側に発光素子を搭載すると共にライン状の受光部
を固定し、スポット光の受光位置に応じた差電流を位置
検出信号として出力するＰＳＤ（位置センシング・デバ
イス）を使用する。更にＤＳＰ１６は、媒体上のビーム
スポットの位置を制御するため、ドライバ５８，６２，
６６を介してフォーカスアクチュエータ６０、レンズア
クチュエータ６４及びＶＣＭ６８を制御駆動している。
【００４４】ここで光ディスクドライブにおけるエンク
ロージャ１１の概略は図３のようになる。図３におい
て、ハウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設け
られ、スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しイン
レットドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入する
ことで、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の
回転軸のハブに装着されるローディングが行われる。
ロージャ１１の概略は図３のようになる。図３におい
て、ハウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設け
られ、スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しイン
レットドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入する
ことで、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の
回転軸のハブに装着されるローディングが行われる。
【００４５】ローディングされたＭＯカートリッジ７０
のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６８により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けら
れている。キャリッジ７６の位置は、絶対位置としてキ
ャリッジ位置センサ５６により検出することができる。
キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載され、固定
光学系７８に設けているレーザダイオードからのビーム
をプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の媒体面
にビームスポットを結像している。
のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６８により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けら
れている。キャリッジ７６の位置は、絶対位置としてキ
ャリッジ位置センサ５６により検出することができる。
キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載され、固定
光学系７８に設けているレーザダイオードからのビーム
をプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の媒体面
にビームスポットを結像している。
【００４６】対物レンズ８０は図２のエンクロージャ１
１に示したフォーカスアクチュエータ６０により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６４によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６
に搭載している対物レンズ８０の位置が、図２のレンズ
位置センサ５４により検出される。
１に示したフォーカスアクチュエータ６０により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６４によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６
に搭載している対物レンズ８０の位置が、図２のレンズ
位置センサ５４により検出される。
【００４７】レンズ位置センサ５４は対物レンズ８０の
光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号を零
とし、アウタ側への移動とインナ側への移動に対しそれ
ぞれ異なった極性の移動量に応じたレンズ位置検出信号
Ｅ４を出力する。図４は図３のキャリッジとヘッド光学
系の具体例である。固定光学系７８は、図示しない装置
のフレームに固定され、固定光学系７８の前方にはガイ
ドレール２７５−１，２７５−２に沿って移動自在なキ
ャリッジ７６が設けられる。キャリッジ７６の両側に
は、前後に開口した箱型のキャリッジ駆動コイル２１６
−１，２１６−２が設けられる。
光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号を零
とし、アウタ側への移動とインナ側への移動に対しそれ
ぞれ異なった極性の移動量に応じたレンズ位置検出信号
Ｅ４を出力する。図４は図３のキャリッジとヘッド光学
系の具体例である。固定光学系７８は、図示しない装置
のフレームに固定され、固定光学系７８の前方にはガイ
ドレール２７５−１，２７５−２に沿って移動自在なキ
ャリッジ７６が設けられる。キャリッジ７６の両側に
は、前後に開口した箱型のキャリッジ駆動コイル２１６
−１，２１６−２が設けられる。
【００４８】キャリッジ駆動コイル２１６−１，２１６
−２は、装置フレームに固定された一対のマグネットユ
ニット２７４−１，２７４−２に嵌め込まれている。キ
ャリッジ駆動コイル２１６−１，２１６−２とマグネッ
トユニット２７４−１，２７４−２によって、ボイスコ
イルモータを構成している。キャリッジ７６上には、対
物レンズ８０を備えた光ヘッド可動部２１８が搭載され
ている。光ヘッド可動部２１８は、ビーム入出射口２７
７を有し、固定光学系７８との間で光ビームの入出射を
行っている。キャリッジ７６に搭載された光ヘッド可動
部２１８は、その対物レンズ８０を一部破断して示す光
ディスク７２の下側の媒体面の半径方向にビームスポッ
トを移動させる。
−２は、装置フレームに固定された一対のマグネットユ
ニット２７４−１，２７４−２に嵌め込まれている。キ
ャリッジ駆動コイル２１６−１，２１６−２とマグネッ
トユニット２７４−１，２７４−２によって、ボイスコ
イルモータを構成している。キャリッジ７６上には、対
物レンズ８０を備えた光ヘッド可動部２１８が搭載され
ている。光ヘッド可動部２１８は、ビーム入出射口２７
７を有し、固定光学系７８との間で光ビームの入出射を
行っている。キャリッジ７６に搭載された光ヘッド可動
部２１８は、その対物レンズ８０を一部破断して示す光
ディスク７２の下側の媒体面の半径方向にビームスポッ
トを移動させる。
【００４９】固定光学系７８には、レーザダイオード１
００、モニタ用ディテクタ１０２、ＩＤ／ＭＯ用ディテ
クタ３２、ＦＥＳ用ディクタ４５及びＴＥＳ用ディテク
タ４７が装着されている。図５は図４の固定光学系７８
の詳細である。この光学系には、往路および復路の２つ
の光学系が存在する。まず往路光学系を説明する。レー
ザダイオード１００から出射される発散したレーザ光
は、コリメータレンズ３０２で平行光に変換される。コ
リメータレンズ３０２後の平行光は、ビームスプリッタ
３０４を透過し、対物レンズ８０に入射する。
００、モニタ用ディテクタ１０２、ＩＤ／ＭＯ用ディテ
クタ３２、ＦＥＳ用ディクタ４５及びＴＥＳ用ディテク
タ４７が装着されている。図５は図４の固定光学系７８
の詳細である。この光学系には、往路および復路の２つ
の光学系が存在する。まず往路光学系を説明する。レー
ザダイオード１００から出射される発散したレーザ光
は、コリメータレンズ３０２で平行光に変換される。コ
リメータレンズ３０２後の平行光は、ビームスプリッタ
３０４を透過し、対物レンズ８０に入射する。
【００５０】対物レンズ８０に入射したビーム光は集光
され、ディスク媒体７２上でビームスポットを形成す
る。ディスク媒体７２は、基板７２−１上にＭＯ層７２
−２を設け、円周方向の溝７２−３によって磁化反転ピ
ット８４を形成している。次に復路光学系を説明する。
ディスク媒体７２から反射されたビーム光は、往路と同
じ対物レンズ８０、ビームスプリッタ３０４の経路を逆
にたどり、ビームスプリッタ３０４で反射され、ビーム
スプリッタ３０６に入射する。ビームスプリッタ３０６
は、入射したビーム光を検出レンズ３０８への透過光
と、ウォラストンユニット３１０への反射光に分割す
る。
され、ディスク媒体７２上でビームスポットを形成す
る。ディスク媒体７２は、基板７２−１上にＭＯ層７２
−２を設け、円周方向の溝７２−３によって磁化反転ピ
ット８４を形成している。次に復路光学系を説明する。
ディスク媒体７２から反射されたビーム光は、往路と同
じ対物レンズ８０、ビームスプリッタ３０４の経路を逆
にたどり、ビームスプリッタ３０４で反射され、ビーム
スプリッタ３０６に入射する。ビームスプリッタ３０６
は、入射したビーム光を検出レンズ３０８への透過光
と、ウォラストンユニット３１０への反射光に分割す
る。
【００５１】ウォラストンユニット３１０への反射光
は、偏光成分に応じて更に分割され、ＩＤ／ＭＯ用ディ
テクタ（２分割ディテクタ）３２に入射する。ＩＤ／Ｍ
Ｏ用ディテクタ３２は、受光部３２−１，３２−２を有
する。受光部３２−１，３２−２の受光信号Ｍ１，Ｍ２
は、オペアンプ３２２，３２４に入力され、ＭＯ信号と
ＩＤ信号を出力する。即ち、ＭＯ＝ＩＤ＝Ｍ２−Ｍ１と
なる。
は、偏光成分に応じて更に分割され、ＩＤ／ＭＯ用ディ
テクタ（２分割ディテクタ）３２に入射する。ＩＤ／Ｍ
Ｏ用ディテクタ３２は、受光部３２−１，３２−２を有
する。受光部３２−１，３２−２の受光信号Ｍ１，Ｍ２
は、オペアンプ３２２，３２４に入力され、ＭＯ信号と
ＩＤ信号を出力する。即ち、ＭＯ＝ＩＤ＝Ｍ２−Ｍ１と
なる。
【００５２】ビームスプリッタ３０６から検出レンズ３
０８への透過光は、フーコユニット３１４で分割され、
ＴＥＳ用ディテクタ（２分割ディテクタ）４７とＦＥＳ
用ディテクタ（４分割ディテクタ）４５に入射する。Ｔ
ＥＳ用ディテクタ４７は、受光部４７−１，４７−２を
有し、受光信号Ｔ１，Ｔ２を出力する。受光部４７−
１，４７−２の受光信号Ｔ１，Ｔ２は、オペアンプ３２
６に入力され、ＴＥＳ＝Ｔ１−Ｔ２となるＴＥＳ信号を
出力する。
０８への透過光は、フーコユニット３１４で分割され、
ＴＥＳ用ディテクタ（２分割ディテクタ）４７とＦＥＳ
用ディテクタ（４分割ディテクタ）４５に入射する。Ｔ
ＥＳ用ディテクタ４７は、受光部４７−１，４７−２を
有し、受光信号Ｔ１，Ｔ２を出力する。受光部４７−
１，４７−２の受光信号Ｔ１，Ｔ２は、オペアンプ３２
６に入力され、ＴＥＳ＝Ｔ１−Ｔ２となるＴＥＳ信号を
出力する。
【００５３】フーコユニット３１４において、透過光は
交差プリズム３２０によって更に分割され、ＦＥＳ用デ
ィテクタ４５に入射する。ＦＥＳ用ディテクタ４５は、
４分割した受光部４５−１，４５−２，４５−３，４５
−４を有し、受光信号Ｐ１〜Ｐ４を出力する。受光部４
５−１〜４５−４の受光信号Ｐ１〜Ｐ４は、オペアンプ
３２８に加算入力され、ＦＥＳ信号を出力する。即ち、 ＦＥＳ＝（Ｐ１＋Ｐ３）−（Ｐ２＋Ｐ４） となる。
交差プリズム３２０によって更に分割され、ＦＥＳ用デ
ィテクタ４５に入射する。ＦＥＳ用ディテクタ４５は、
４分割した受光部４５−１，４５−２，４５−３，４５
−４を有し、受光信号Ｐ１〜Ｐ４を出力する。受光部４
５−１〜４５−４の受光信号Ｐ１〜Ｐ４は、オペアンプ
３２８に加算入力され、ＦＥＳ信号を出力する。即ち、 ＦＥＳ＝（Ｐ１＋Ｐ３）−（Ｐ２＋Ｐ４） となる。
【００５４】更にコリメートレンズ３０２とビームスプ
リッタ３０４の間にはハーフミラー３０３が配置され、
レーザ光の一部を分離してモニタ用ディテクタ１０２に
入射している。 ２．発光調整 図６は図２のコントロールユニット１０のライトＬＳＩ
回路２０に設けたレーザダイオード制御回路２２の回路
ブロック図であリ、イレーズを必要とする通常のＭＯカ
ートリッジ媒体を例にとっている。尚、イレーズを必要
としないダイレクトオーバライト対応型のカートリッジ
媒体については、イレーズパワーに代えてライトパワー
を高速に立ち上げるためのアシストパワーが設定され
る。
リッタ３０４の間にはハーフミラー３０３が配置され、
レーザ光の一部を分離してモニタ用ディテクタ１０２に
入射している。 ２．発光調整 図６は図２のコントロールユニット１０のライトＬＳＩ
回路２０に設けたレーザダイオード制御回路２２の回路
ブロック図であリ、イレーズを必要とする通常のＭＯカ
ートリッジ媒体を例にとっている。尚、イレーズを必要
としないダイレクトオーバライト対応型のカートリッジ
媒体については、イレーズパワーに代えてライトパワー
を高速に立ち上げるためのアシストパワーが設定され
る。
【００５５】図６において、レーザダイオードユニット
３０にはレーザダイオード１００とフォトダイオードを
用いたモニタ用ディテクタ１０２が一体に設けられてい
る。レーザダイオード１００は電源電圧Ｖccにより駆動
電流Ｉを受けて発光し、光学ユニットによりレーザビー
ムを生成して媒体面に照射して記録再生を行う。モニタ
用ディテクタ１０２はレーザダイオード１００からの光
の一部を入射し、レーザダイオード１００の発光パワー
に比例した受光電流Ｉ0 を出力する。レーザダイオード
１００に対しては、リードパワー電流源１０４、イレー
ズパワー電流源１０６、第１ライトパワー電流源１０
８、第２ライトパワー電流源１１０が並列接続されてお
り、それぞれリードパワー電流Ｉ0 、イレーズパワー電
流Ｉ１、第１ライトパワー電流Ｉ２、及び第３ライトパ
ワー電流Ｉ３を流すようにしている。
３０にはレーザダイオード１００とフォトダイオードを
用いたモニタ用ディテクタ１０２が一体に設けられてい
る。レーザダイオード１００は電源電圧Ｖccにより駆動
電流Ｉを受けて発光し、光学ユニットによりレーザビー
ムを生成して媒体面に照射して記録再生を行う。モニタ
用ディテクタ１０２はレーザダイオード１００からの光
の一部を入射し、レーザダイオード１００の発光パワー
に比例した受光電流Ｉ0 を出力する。レーザダイオード
１００に対しては、リードパワー電流源１０４、イレー
ズパワー電流源１０６、第１ライトパワー電流源１０
８、第２ライトパワー電流源１１０が並列接続されてお
り、それぞれリードパワー電流Ｉ0 、イレーズパワー電
流Ｉ１、第１ライトパワー電流Ｉ２、及び第３ライトパ
ワー電流Ｉ３を流すようにしている。
【００５６】即ち、リードパワー発光時にはリードパワ
ー電流Ｉ0 が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパ
ワー電流Ｉ0 にイレーズパワー電流Ｉ１を加えた電流
（Ｉ0＋Ｉ１）が流れ、第１ライトパワー発光時には更
に第１ライトパワー電流Ｉ２を加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１
＋Ｉ２）が流れる。また第２ライトパワー発光時には第
２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー電流Ｉ0 及びイ
レーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ
３）が流れる。
ー電流Ｉ0 が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパ
ワー電流Ｉ0 にイレーズパワー電流Ｉ１を加えた電流
（Ｉ0＋Ｉ１）が流れ、第１ライトパワー発光時には更
に第１ライトパワー電流Ｉ２を加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１
＋Ｉ２）が流れる。また第２ライトパワー発光時には第
２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー電流Ｉ0 及びイ
レーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ
３）が流れる。
【００５７】リードパワー電流源１０４に対しては、自
動パワー制御部（以下「ＡＰＣ」という）１３８が設け
られている。ＡＰＣ１３８に対しては目標ＤＡＣレジス
タ１２０及びＤＡコンバータ（以下「ＤＡＣ」という）
１３６を介して、目標パワーとして規定の目標リードパ
ワーが設定されている。このＡＰＣ１３８は、外部信号
によりホールド状態に切り替えることができる。ＡＰＣ
１３８をホールドに切り替えると、ホールド切替時の出
力を維持し、目標リードパワーと測定パワーとの偏差に
基づくフィードバック制御が停止する。
動パワー制御部（以下「ＡＰＣ」という）１３８が設け
られている。ＡＰＣ１３８に対しては目標ＤＡＣレジス
タ１２０及びＤＡコンバータ（以下「ＤＡＣ」という）
１３６を介して、目標パワーとして規定の目標リードパ
ワーが設定されている。このＡＰＣ１３８は、外部信号
によりホールド状態に切り替えることができる。ＡＰＣ
１３８をホールドに切り替えると、ホールド切替時の出
力を維持し、目標リードパワーと測定パワーとの偏差に
基づくフィードバック制御が停止する。
【００５８】イレーズパワー電流源１０６に対しては、
ＥＰ電流指示部としてＥＰ発光ＤＡＣレジスタ１２２及
びＤＡＣ１４０が設けられる。ＷＰ１電流源１０８に対
してはＷＰ１電流指示部としてＷＰ１発光ＤＡＣレジス
タ１２４及びＤＡＣ１４２が設けられ、更に第２ライト
パワー電流源１１０に対してもＷＰ２電流指示部として
ＷＰ２発光ＤＡＣレジスタ１２６及びＤＡＣ１４４が設
けられる。
ＥＰ電流指示部としてＥＰ発光ＤＡＣレジスタ１２２及
びＤＡＣ１４０が設けられる。ＷＰ１電流源１０８に対
してはＷＰ１電流指示部としてＷＰ１発光ＤＡＣレジス
タ１２４及びＤＡＣ１４２が設けられ、更に第２ライト
パワー電流源１１０に対してもＷＰ２電流指示部として
ＷＰ２発光ＤＡＣレジスタ１２６及びＤＡＣ１４４が設
けられる。
【００５９】このため各電流源１０４，１０６，１０
８，１１０の電流は、対応するレジスタ１２０，１２
２，１２４，１２６に対するＤＡＣ指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
ＤＡＣ及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。ＡＰＣ１３８による制御は、フォトディテク
タ１０２の受光電流ｉ0 から得られたモニタ電流ｉm が
目標リードパワーに対応したＤＡＣ１３６の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタ用ディテクタ１０２に対し、リードパワーを超える
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパワー
相当のモニタ電流ｉm をＡＰＣに帰還するため、差引電
流源１１２，１１４，１１６を設けている。
８，１１０の電流は、対応するレジスタ１２０，１２
２，１２４，１２６に対するＤＡＣ指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
ＤＡＣ及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。ＡＰＣ１３８による制御は、フォトディテク
タ１０２の受光電流ｉ0 から得られたモニタ電流ｉm が
目標リードパワーに対応したＤＡＣ１３６の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタ用ディテクタ１０２に対し、リードパワーを超える
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパワー
相当のモニタ電流ｉm をＡＰＣに帰還するため、差引電
流源１１２，１１４，１１６を設けている。
【００６０】イレーズパワー用差引電流源１１２に対し
ては、ＥＰ差引電流指示部としてのＥＰ差引ＤＡＣレジ
スタ１２８及びＤＡＣ１４６により任意の差引電流ｉ１
を設定することができる。第１ライトパワー用差引電流
源１１４に対しては、ＷＰ１差引電流指示部としてのＷ
Ｐ１差引ＤＡＣレジスタ１３０及びＤＡＣ１４８により
任意の差引電流ｉ２を設定することができる。更に第２
ライトパワー差引電流源１１６に対しても、ＷＰ２差引
電流指示部としてのＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ１３２及
びＤＡＣ１５０によって任意の差引電流ｉ３を設定する
ことができる。
ては、ＥＰ差引電流指示部としてのＥＰ差引ＤＡＣレジ
スタ１２８及びＤＡＣ１４６により任意の差引電流ｉ１
を設定することができる。第１ライトパワー用差引電流
源１１４に対しては、ＷＰ１差引電流指示部としてのＷ
Ｐ１差引ＤＡＣレジスタ１３０及びＤＡＣ１４８により
任意の差引電流ｉ２を設定することができる。更に第２
ライトパワー差引電流源１１６に対しても、ＷＰ２差引
電流指示部としてのＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ１３２及
びＤＡＣ１５０によって任意の差引電流ｉ３を設定する
ことができる。
【００６１】この３つの差引電流源ｉ１，ｉ２，ｉ３の
発光モードにおけるモニタ電流ｉmは次のようになる。 リード発光時 ；ｉm ＝ｉ0 イレーズ発光時 ；ｉm ＝ｉ0 −ｉ１ 第１ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
２） 第２ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
３） したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワ
ー、第１または第２ライトパワーのいずれの発光時にあ
っても、対応する差引電流を受光電流ｉ0 から引くこと
で、モニタ電流ｉm はリードパワー相当の電流としてモ
ニタ電圧検出用抵抗１１８に流れ、ＡＰＣ１３８に帰還
される。
発光モードにおけるモニタ電流ｉmは次のようになる。 リード発光時 ；ｉm ＝ｉ0 イレーズ発光時 ；ｉm ＝ｉ0 −ｉ１ 第１ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
２） 第２ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
３） したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワ
ー、第１または第２ライトパワーのいずれの発光時にあ
っても、対応する差引電流を受光電流ｉ0 から引くこと
で、モニタ電流ｉm はリードパワー相当の電流としてモ
ニタ電圧検出用抵抗１１８に流れ、ＡＰＣ１３８に帰還
される。
【００６２】このためＡＰＣ１３８は発光パワーの如何
に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリ
ードパワー電流源１０４を制御し、これによって規定の
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーの自動パワー制御が実現される。この差引電流につい
ても、レジスタ、ＤＡＣおよび定電流源によって、差引
電流源回路が構成されている。
に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリ
ードパワー電流源１０４を制御し、これによって規定の
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーの自動パワー制御が実現される。この差引電流につい
ても、レジスタ、ＤＡＣおよび定電流源によって、差引
電流源回路が構成されている。
【００６３】図６はイレーズを必要とする通常のＭＯカ
ートリッジ媒体を対象としているが、イレーズを必要と
しないダイレクトオーバライト対応のカートリッジ媒体
の場合には、イレーズパワーＥＰ用のレジスタ１２２，
１２８、ＤＡＣ１４０，１４６及び電流源１０６，１１
２を、各々、アシストパワーＰＡ用として使用すればよ
い。勿論、アシストパワーＰＡ専用のレジスタ、ＤＡＣ
及び電流源を設けてもよい。
ートリッジ媒体を対象としているが、イレーズを必要と
しないダイレクトオーバライト対応のカートリッジ媒体
の場合には、イレーズパワーＥＰ用のレジスタ１２２，
１２８、ＤＡＣ１４０，１４６及び電流源１０６，１１
２を、各々、アシストパワーＰＡ用として使用すればよ
い。勿論、アシストパワーＰＡ専用のレジスタ、ＤＡＣ
及び電流源を設けてもよい。
【００６４】このダイレクトオーバライト対応のカート
リッジ媒体の場合には、リードパワー発光時にはリード
パワー電流Ｉ0 が流れ、アシストパワー発光時にはリー
ドパワー電流Ｉ0 にアシストパワー電流Ｉ１を加えた電
流（Ｉ0 ＋Ｉ１）が流れる。第１ライトパワー発光時に
は、更に第１ライトパワー電流Ｉ２をリードパワー電流
Ｉ0 及びアシストパワー電流Ｉ１に加えた加えた電流
（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ２）が流れる。更に第２ライトパワー
発光時には、第２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー
電流Ｉ0 及びイレーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ
0 ＋Ｉ１＋Ｉ３）が流れる。
リッジ媒体の場合には、リードパワー発光時にはリード
パワー電流Ｉ0 が流れ、アシストパワー発光時にはリー
ドパワー電流Ｉ0 にアシストパワー電流Ｉ１を加えた電
流（Ｉ0 ＋Ｉ１）が流れる。第１ライトパワー発光時に
は、更に第１ライトパワー電流Ｉ２をリードパワー電流
Ｉ0 及びアシストパワー電流Ｉ１に加えた加えた電流
（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ２）が流れる。更に第２ライトパワー
発光時には、第２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー
電流Ｉ0 及びイレーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ
0 ＋Ｉ１＋Ｉ３）が流れる。
【００６５】モニタ電流ｉm に対応したモニタ電圧検出
抵抗１１８によるモニタ電圧は、ＡＤコンバータ（以下
「ＡＤＣ」という）１５２によりディジタルデータに変
換され、モニタＡＤＣレジスタ１３４に入力された後、
ＭＰＵ１４側に読み出される。このため、ＡＤＣ１５２
及びモニタＡＤＣレジスタ１３４はモニタ電流ｉm の測
定部を構成する。
抵抗１１８によるモニタ電圧は、ＡＤコンバータ（以下
「ＡＤＣ」という）１５２によりディジタルデータに変
換され、モニタＡＤＣレジスタ１３４に入力された後、
ＭＰＵ１４側に読み出される。このため、ＡＤＣ１５２
及びモニタＡＤＣレジスタ１３４はモニタ電流ｉm の測
定部を構成する。
【００６６】図７は、図４のレーザダイオード制御回路
によりダイレクトオーバライト対応型の５４０ＭＢ又は
６４０ＭＢ媒体のＰＷＭ記録の信号、発光電流、差引電
流及びモニタ電流のタイムチャートである。いま図７
（Ａ）のライトゲートに同期して図７（Ｂ）のライトデ
ータが与えられたとすると、図７（Ｃ）のライトクロッ
クに同期してライトデータは図７（Ｄ）のパルス幅デー
タに変換される。このパルス幅データに基づき、図７
（Ｅ）のようにライトパワーへの立ち上げを高速にでき
るにするためのアシストパルスが生成され、更に図７
（Ｆ）のように第１ライトパルスが生成される。更に図
７（Ｇ）の第２ライトパルスが生成される。
によりダイレクトオーバライト対応型の５４０ＭＢ又は
６４０ＭＢ媒体のＰＷＭ記録の信号、発光電流、差引電
流及びモニタ電流のタイムチャートである。いま図７
（Ａ）のライトゲートに同期して図７（Ｂ）のライトデ
ータが与えられたとすると、図７（Ｃ）のライトクロッ
クに同期してライトデータは図７（Ｄ）のパルス幅デー
タに変換される。このパルス幅データに基づき、図７
（Ｅ）のようにライトパワーへの立ち上げを高速にでき
るにするためのアシストパルスが生成され、更に図７
（Ｆ）のように第１ライトパルスが生成される。更に図
７（Ｇ）の第２ライトパルスが生成される。
【００６７】この第２ライトパルスは図７（Ｄ）のパル
ス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば
先頭のパルス幅データについては４クロックのパルス幅
であり、次のパルス幅データは２クロックであり、次の
パルス幅データは３クロックである。これに対応して図
７（Ｇ）の第２ライトパルスは、図７（Ｆ）の第１ライ
トパルスに続いて先頭データの４クロック幅については
２パルス発生し、次の２クロック幅については０パルス
であり、３番目の３クロック幅については１パルスを発
生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしてい
る。
ス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば
先頭のパルス幅データについては４クロックのパルス幅
であり、次のパルス幅データは２クロックであり、次の
パルス幅データは３クロックである。これに対応して図
７（Ｇ）の第２ライトパルスは、図７（Ｆ）の第１ライ
トパルスに続いて先頭データの４クロック幅については
２パルス発生し、次の２クロック幅については０パルス
であり、３番目の３クロック幅については１パルスを発
生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしてい
る。
【００６８】図７（Ｈ）は、図７（Ｅ）（Ｆ）及び
（Ｇ）のアシストパルス、第１ライトパルス及び第２ラ
イトパルスに基づいた発光電流とパワーである。まずリ
ード電流は常時流してリードパワーＲＰでＤＣ発光させ
ている。このため、アシストパルスに同期して発光電流
（Ｉ0 ＋Ｉ１）が流れ、これによってアシストパワーＰ
Ａ分アップとなり、第１ライトパルスのタイミングで発
光電流Ｉ２が加算されて（Ｉ0 ＋Ｉ１ ＋Ｉ２ ）て第１
ライトパワーＷＰ１分アップとなり、更に第２ライトパ
ルスのタイミングで発光電流Ｉ３が加算されて（Ｉ0 ＋
Ｉ１＋Ｉ３）となって第２ライトパワーＷＰ２分アップ
する。
（Ｇ）のアシストパルス、第１ライトパルス及び第２ラ
イトパルスに基づいた発光電流とパワーである。まずリ
ード電流は常時流してリードパワーＲＰでＤＣ発光させ
ている。このため、アシストパルスに同期して発光電流
（Ｉ0 ＋Ｉ１）が流れ、これによってアシストパワーＰ
Ａ分アップとなり、第１ライトパルスのタイミングで発
光電流Ｉ２が加算されて（Ｉ0 ＋Ｉ１ ＋Ｉ２ ）て第１
ライトパワーＷＰ１分アップとなり、更に第２ライトパ
ルスのタイミングで発光電流Ｉ３が加算されて（Ｉ0 ＋
Ｉ１＋Ｉ３）となって第２ライトパワーＷＰ２分アップ
する。
【００６９】この図７（Ｈ）の発光電流に同期して、図
７（Ｉ）に示す差引電流が図６の差引電流源１１２，１
１４，１１６に流れる。即ち、アシストパワーＰＡ分の
アップに対応する差引電流ｉ１が流れ、次の第１ライト
パワーＷＰ１分のアップ分に対応する差引電流ｉ２を加
算して差引電流（ｉ１＋Ｉｉ）が流れ、更に第２ライト
パワーＷＰ２分のアップに対応する差引電流ｉ３を加算
して差引電流（ｉ１＋ｉ３）が流れる。
７（Ｉ）に示す差引電流が図６の差引電流源１１２，１
１４，１１６に流れる。即ち、アシストパワーＰＡ分の
アップに対応する差引電流ｉ１が流れ、次の第１ライト
パワーＷＰ１分のアップ分に対応する差引電流ｉ２を加
算して差引電流（ｉ１＋Ｉｉ）が流れ、更に第２ライト
パワーＷＰ２分のアップに対応する差引電流ｉ３を加算
して差引電流（ｉ１＋ｉ３）が流れる。
【００７０】このため図７（Ｊ）のモニタ電流ｉm は、
図７（Ｈ）の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流ｉ0 から図７（Ｈ）の差引電流を差し引いた値とな
り、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、ＡＰＣ１３８に帰還される。図８は、ダイ
レクトオーバライト対応型の５４０ＭＢ又は６４０ＭＢ
媒体のＰＷＭ記録時の信号発光電流、差引電流及びモニ
タ電流のタイミングチャートである。図８（Ａ）Ａのラ
イトゲートに同期して図８（Ｂ）のライトデータが与え
られたとすると、図８（Ｃ）のライトクロックに同期し
て図８（Ｄ）のピットエッジパルスが生成される。この
ピットエッジパルスに対応して、図８（Ｅ）のアシスト
パルスと図８（Ｆ）の第１ライトパルスが作られる。Ｐ
ＰＭ記録にあっては、図８（Ｇ）の第２ライトパルスは
使用されない。
図７（Ｈ）の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流ｉ0 から図７（Ｈ）の差引電流を差し引いた値とな
り、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、ＡＰＣ１３８に帰還される。図８は、ダイ
レクトオーバライト対応型の５４０ＭＢ又は６４０ＭＢ
媒体のＰＷＭ記録時の信号発光電流、差引電流及びモニ
タ電流のタイミングチャートである。図８（Ａ）Ａのラ
イトゲートに同期して図８（Ｂ）のライトデータが与え
られたとすると、図８（Ｃ）のライトクロックに同期し
て図８（Ｄ）のピットエッジパルスが生成される。この
ピットエッジパルスに対応して、図８（Ｅ）のアシスト
パルスと図８（Ｆ）の第１ライトパルスが作られる。Ｐ
ＰＭ記録にあっては、図８（Ｇ）の第２ライトパルスは
使用されない。
【００７１】このようなアシストパルス及び第１ライト
パルスによる図８（Ｈ）の発光電流をレーザダイオード
に流すことで、発光パワーＰが得られる。ＰＰＭ記録に
あっては、例えばアシストパワーＰＡはリードパワーＲ
Ｐと同じであることから、アシストパルスのタイミング
であってもリードパワー電流Ｉ0 によるリードパワーＲ
Ｐによる発光が維持される。
パルスによる図８（Ｈ）の発光電流をレーザダイオード
に流すことで、発光パワーＰが得られる。ＰＰＭ記録に
あっては、例えばアシストパワーＰＡはリードパワーＲ
Ｐと同じであることから、アシストパルスのタイミング
であってもリードパワー電流Ｉ0 によるリードパワーＲ
Ｐによる発光が維持される。
【００７２】第１ライトパルスのタイミングでは発光電
流が（Ｉ１＋Ｉ２）に増加して第１ライトパワーＷＰ１
分にアシストパワーＰＡ分を加算したパワーとなる。図
８（Ｈ）の差引電流は第１ライトパルスの発光タイミン
グで差引電流（ｉ１＋ｉ２）を流す。これによって図６
（Ｊ）のモニタ電流ｉm は常にリードパワーの受光電流
相当に維持される。
流が（Ｉ１＋Ｉ２）に増加して第１ライトパワーＷＰ１
分にアシストパワーＰＡ分を加算したパワーとなる。図
８（Ｈ）の差引電流は第１ライトパルスの発光タイミン
グで差引電流（ｉ１＋ｉ２）を流す。これによって図６
（Ｊ）のモニタ電流ｉm は常にリードパワーの受光電流
相当に維持される。
【００７３】図９は図２のＭＰＵ１２により実現される
レーザダイオードの発光制御及び発光調整の機能ブロッ
ク図であり、本発明のオントラック状態で行われる発光
微調整の処理機能も含まれる。図９において、レーザダ
イオード１００のレーザダイオード制御回路２２は、発
光電流源回路１５４、自動パワー制御部１３８（ＡＰ
Ｃ）、モニタパワー測定部１５５及び差引電流源回路１
５６で構成され、詳細は図６のようになる。このレーザ
ダイオード制御回路２２は、パワー設定処理部１６０に
よりリード・ライトの際にパワー設定を受けて制御され
る。パワー設定処理部１６０で使用する最適パワーは、
イレーズ／アシストパワーテーブル１９６、第１ライト
パワーテーブル１９８、及び第２ライトパワ−テーブル
２００に格納されている。尚、イレーズ／アシストパワ
ーテーブル１９６は、専用のイレーズパワーテーブルと
アシストパワーテーブルに別けてもよい。
レーザダイオードの発光制御及び発光調整の機能ブロッ
ク図であり、本発明のオントラック状態で行われる発光
微調整の処理機能も含まれる。図９において、レーザダ
イオード１００のレーザダイオード制御回路２２は、発
光電流源回路１５４、自動パワー制御部１３８（ＡＰ
Ｃ）、モニタパワー測定部１５５及び差引電流源回路１
５６で構成され、詳細は図６のようになる。このレーザ
ダイオード制御回路２２は、パワー設定処理部１６０に
よりリード・ライトの際にパワー設定を受けて制御され
る。パワー設定処理部１６０で使用する最適パワーは、
イレーズ／アシストパワーテーブル１９６、第１ライト
パワーテーブル１９８、及び第２ライトパワ−テーブル
２００に格納されている。尚、イレーズ／アシストパワ
ーテーブル１９６は、専用のイレーズパワーテーブルと
アシストパワーテーブルに別けてもよい。
【００７４】レーザダイオードの発光調整のため、本発
明は、発光粗調整処理部１６２と発光微調整処理部１６
４を設けている。発光粗調整処理部１６２はフォーカス
サーボ及びトラックサーボをオフした状態で発光調整を
実行するのに対し、発光微調整処理部１６４はフォーカ
スサーボ及びトラックサーボをオンし、媒体に対するビ
ームスポットのオントラック制御状態で発光調整を実行
する点が相違する。
明は、発光粗調整処理部１６２と発光微調整処理部１６
４を設けている。発光粗調整処理部１６２はフォーカス
サーボ及びトラックサーボをオフした状態で発光調整を
実行するのに対し、発光微調整処理部１６４はフォーカ
スサーボ及びトラックサーボをオンし、媒体に対するビ
ームスポットのオントラック制御状態で発光調整を実行
する点が相違する。
【００７５】発光微調整処理部１６４については本発明
にあっては、更に、自動パワー制御ホールド部１６６、
発光タイミング制御部１６８及びテストゾーン確認部１
７０を設ている。発光粗調整処理部１６２と発光微調整
処理部１６４に対しては、レジスタ１７５によってロー
ディングされた媒体種別、アクセストラックから求めら
れたゾーン番号、更に図２のエンクロージャ１１側に設
けている温度センサ３６による装置内温度がセットさ
れ、発光調整及び通常の動作時におけるパワー設定処理
に使用される。
にあっては、更に、自動パワー制御ホールド部１６６、
発光タイミング制御部１６８及びテストゾーン確認部１
７０を設ている。発光粗調整処理部１６２と発光微調整
処理部１６４に対しては、レジスタ１７５によってロー
ディングされた媒体種別、アクセストラックから求めら
れたゾーン番号、更に図２のエンクロージャ１１側に設
けている温度センサ３６による装置内温度がセットさ
れ、発光調整及び通常の動作時におけるパワー設定処理
に使用される。
【００７６】また発光粗調整処理部１６２と発光微調整
処理部１６４に対しては、パワーテーブル情報として、
モニタＡＤＣ係数テーブル１８２、ＥＰ／ＰＡ発光ＤＡ
Ｃ係数テーブル１８４、ＥＰ／ＰＡ差引ＤＡＣ係数テー
ブル１８６、ＷＰ１発光ＤＡＣ係数テーブル１８８、Ｗ
Ｐ１差引ＤＡＣ係数テーブル１９０、ＷＰ２発光ＤＡＣ
係数テーブル１９２及びＷＰ２差引ＤＡＣ係数テーブル
１９４が設けられている。尚、ＥＰ／ＰＡ発光ＤＡＣ係
数テーブル１８４とＥＰ／ＰＡ差引ＤＡＣ係数テーブル
１８６は、各々、ＥＰ専用とＰＡ専用のテーブルに別け
てもよい。
処理部１６４に対しては、パワーテーブル情報として、
モニタＡＤＣ係数テーブル１８２、ＥＰ／ＰＡ発光ＤＡ
Ｃ係数テーブル１８４、ＥＰ／ＰＡ差引ＤＡＣ係数テー
ブル１８６、ＷＰ１発光ＤＡＣ係数テーブル１８８、Ｗ
Ｐ１差引ＤＡＣ係数テーブル１９０、ＷＰ２発光ＤＡＣ
係数テーブル１９２及びＷＰ２差引ＤＡＣ係数テーブル
１９４が設けられている。尚、ＥＰ／ＰＡ発光ＤＡＣ係
数テーブル１８４とＥＰ／ＰＡ差引ＤＡＣ係数テーブル
１８６は、各々、ＥＰ専用とＰＡ専用のテーブルに別け
てもよい。
【００７７】モニタＡＤＣ係数テーブル１８２は、図６
のモニタ用のＡＤＣ１５２における入力モニタ電圧を与
える任意のパワーに対する測定パワー値としてのＡＤＣ
出力の直線近似による関係式を発光調整処理で求め、こ
の関係式の傾きａ0 とｙ軸交点ｂ0 を登録している。ま
たテーブル１８４，１８６，１８８，１９０，１９２，
１９４のそれぞれは、図６のＤＡＣ１４０，１４２，１
４４，１４６，１４８，１５０のそれぞれにおける任意
の発光パワーに対するレジスタ指示値（発光ＤＡＣ値）
の関係を、発光調整による測定結果の直線近似により求
めた関係式につき、その傾きとｙ軸交点を格納してい
る。
のモニタ用のＡＤＣ１５２における入力モニタ電圧を与
える任意のパワーに対する測定パワー値としてのＡＤＣ
出力の直線近似による関係式を発光調整処理で求め、こ
の関係式の傾きａ0 とｙ軸交点ｂ0 を登録している。ま
たテーブル１８４，１８６，１８８，１９０，１９２，
１９４のそれぞれは、図６のＤＡＣ１４０，１４２，１
４４，１４６，１４８，１５０のそれぞれにおける任意
の発光パワーに対するレジスタ指示値（発光ＤＡＣ値）
の関係を、発光調整による測定結果の直線近似により求
めた関係式につき、その傾きとｙ軸交点を格納してい
る。
【００７８】図１０は、レーザダイオード１００の発光
パワーｘ［ｍＷ］に対するレジスタ指示値としての発光
ＡＤＣ値ｙの関係であり、発光調整にあっては、Ｑ１と
Ｑ２の２点の発光パワー３ｍＷと９ｍＷで発光し、その
測定パワーが正確に３ｍＷと９ｍＷとなるように発光Ｄ
ＡＣ値ｙを調整し、調整が済んだ２点Ｑ１，Ｑ２を通る
直線の式 ｙ＝ａ・ｘ＋ｂ から傾きａとｙ軸交点ｂを求めてテーブルに登録する。
パワーｘ［ｍＷ］に対するレジスタ指示値としての発光
ＡＤＣ値ｙの関係であり、発光調整にあっては、Ｑ１と
Ｑ２の２点の発光パワー３ｍＷと９ｍＷで発光し、その
測定パワーが正確に３ｍＷと９ｍＷとなるように発光Ｄ
ＡＣ値ｙを調整し、調整が済んだ２点Ｑ１，Ｑ２を通る
直線の式 ｙ＝ａ・ｘ＋ｂ から傾きａとｙ軸交点ｂを求めてテーブルに登録する。
【００７９】ここで発光電流の係数テーブル１８４，１
８８，１９２については、直線近似の関係式をｙ＝ａx
＋ｂで設定していることから、係数ａ１，ａ２，ａ３及
びｙ軸交点ｂ１，ｂ２，ｂ３を登録している。これに対
し差引電流用の係数テーブル１８６，１９０，１９４に
ついては、直線近似の関係式ｙ＝ｃｘ＋ｄを定義してい
ることから、傾きｃ１，ｃ２，ｃ３とｙ軸交点ｂ１，ｂ
２，ｂ３を登録している。
８８，１９２については、直線近似の関係式をｙ＝ａx
＋ｂで設定していることから、係数ａ１，ａ２，ａ３及
びｙ軸交点ｂ１，ｂ２，ｂ３を登録している。これに対
し差引電流用の係数テーブル１８６，１９０，１９４に
ついては、直線近似の関係式ｙ＝ｃｘ＋ｄを定義してい
ることから、傾きｃ１，ｃ２，ｃ３とｙ軸交点ｂ１，ｂ
２，ｂ３を登録している。
【００８０】上位コマンドに基づくリード・ライトでパ
ワー設定を行うパワー設定処理部１６０に対し設けたイ
レーズ／アシストパワーテーブル１９６、第１ライトパ
ワーテーブル１９８は、本来、媒体の全ゾーンに対応し
て固有のパワー値を格納しているものであるが、本発明
にあっては、媒体をローディングした初期状態にあって
は全てのゾーンのパワーはもっておらず、発光調整に必
要な少なくともインナ側とアウタ側の２つのゾーンのパ
ワー値のみが格納されている。
ワー設定を行うパワー設定処理部１６０に対し設けたイ
レーズ／アシストパワーテーブル１９６、第１ライトパ
ワーテーブル１９８は、本来、媒体の全ゾーンに対応し
て固有のパワー値を格納しているものであるが、本発明
にあっては、媒体をローディングした初期状態にあって
は全てのゾーンのパワーはもっておらず、発光調整に必
要な少なくともインナ側とアウタ側の２つのゾーンのパ
ワー値のみが格納されている。
【００８１】このため発光粗調整処理部１６２は、各テ
ーブルに初期設定された２つのゾーンのパワー値を使用
した発光調整によりゾーン番号に対する各パワーを直線
近似する関係式を求め、この関係式から全ゾーンの対応
するパワーを算出してテーブル登録するようになる。具
体的には、発光粗調整処理部１６２によるＡＤＣやＤＡ
Ｃの調整結果を使用して、発光微調整処理部１６４が初
期設定された２ゾーンの発光パワーを使用した発光調整
による測定処理と測定結果に基づく直線近似の関係式に
従った各パワーのゾーンごとの設定を実行する。
ーブルに初期設定された２つのゾーンのパワー値を使用
した発光調整によりゾーン番号に対する各パワーを直線
近似する関係式を求め、この関係式から全ゾーンの対応
するパワーを算出してテーブル登録するようになる。具
体的には、発光粗調整処理部１６２によるＡＤＣやＤＡ
Ｃの調整結果を使用して、発光微調整処理部１６４が初
期設定された２ゾーンの発光パワーを使用した発光調整
による測定処理と測定結果に基づく直線近似の関係式に
従った各パワーのゾーンごとの設定を実行する。
【００８２】更に、上位装置からライトコマンドを受け
た際には、発光調整終了後の状態で調整された各パワー
を使用したテストライトによって、そのときの装置内温
度に対応した各ゾーンの最適ライトパワーを求めて媒体
書込みを行う。図１１は発光粗調整処理において、図６
のモニタＡＤＣ１５２の正規化処理で得られた直線近似
の関係式である。このモニタＡＤＣ１５２の正規化処理
は、目標ＤＡＣレジスタ１２０のＡＤＣ指示値ｙ０に規
定のリードパワーをセットして発光駆動し、モニタＡＤ
Ｃレジスタ１３４の値ｘ０をリードする。
た際には、発光調整終了後の状態で調整された各パワー
を使用したテストライトによって、そのときの装置内温
度に対応した各ゾーンの最適ライトパワーを求めて媒体
書込みを行う。図１１は発光粗調整処理において、図６
のモニタＡＤＣ１５２の正規化処理で得られた直線近似
の関係式である。このモニタＡＤＣ１５２の正規化処理
は、目標ＤＡＣレジスタ１２０のＡＤＣ指示値ｙ０に規
定のリードパワーをセットして発光駆動し、モニタＡＤ
Ｃレジスタ１３４の値ｘ０をリードする。
【００８３】次に、目標ＤＡＣレジスタ１２０にＡＤＣ
指示値ｙ１＝２ｍＷをセットして発光駆動し、モニタＡ
ＤＣレジスタ１３４の値ｘ１をリードする。更に目標Ｄ
ＡＣレジスタ１２０に指示値ｙ２＝４ｍＷをセットして
発光駆動し、モニタＡＤＣレジスタ１３４の値ｘ２をリ
ードする。この処理により、リードパワー、２ｍＷ及び
４ｍＷの３点のパワーに対するＡＤＣ１５２の測定値が
得られる。そこで３つの関係式から係数として傾きａ0
とｙ軸交点ｂ0 を算出して図９のモニタＡＤＣ係数テー
ブル１８２に登録する。したがって、この正規化が済む
と、それ以降はモニタＡＤＣレジスタ１３４から得られ
た測定値ｘを関係式ｙ＝ａ0 ×ｘ＋ｂ0 に代入して測定
パワーｙを算出することになる。なお、この場合には、
３点Ｑ0 ，Ｑ１，Ｑ２を求めて関係式の精度を高めてい
るが、２点の測定であってもよい。
指示値ｙ１＝２ｍＷをセットして発光駆動し、モニタＡ
ＤＣレジスタ１３４の値ｘ１をリードする。更に目標Ｄ
ＡＣレジスタ１２０に指示値ｙ２＝４ｍＷをセットして
発光駆動し、モニタＡＤＣレジスタ１３４の値ｘ２をリ
ードする。この処理により、リードパワー、２ｍＷ及び
４ｍＷの３点のパワーに対するＡＤＣ１５２の測定値が
得られる。そこで３つの関係式から係数として傾きａ0
とｙ軸交点ｂ0 を算出して図９のモニタＡＤＣ係数テー
ブル１８２に登録する。したがって、この正規化が済む
と、それ以降はモニタＡＤＣレジスタ１３４から得られ
た測定値ｘを関係式ｙ＝ａ0 ×ｘ＋ｂ0 に代入して測定
パワーｙを算出することになる。なお、この場合には、
３点Ｑ0 ，Ｑ１，Ｑ２を求めて関係式の精度を高めてい
るが、２点の測定であってもよい。
【００８４】図１２、図１３は、図６のイレーズ用の発
光電流を指示するＤＡＣ１４０とイレーズ用の差引電流
を指示するＤＡＣ１４６の発光粗調整で得られた直線近
似の関係式である。まずモニタＡＤＣ１３４をリードし
ながら測定パワーｘ１＝２ｍＷとなるようにＥＰ電流Ｄ
ＡＣレジスタ１２２に対するレジスタ値ｙを増加し、図
１２のＱ１（ｘ１，ｙ１）を取得する。次にモニタＡＤ
Ｃレジスタ１３４をリードしながら測定パワーがリード
パワーとなるようにＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８のレ
ジスタ値ｚを増加し、図１３のＱ３（ｘ１，ｚ１）を取
得する。
光電流を指示するＤＡＣ１４０とイレーズ用の差引電流
を指示するＤＡＣ１４６の発光粗調整で得られた直線近
似の関係式である。まずモニタＡＤＣ１３４をリードし
ながら測定パワーｘ１＝２ｍＷとなるようにＥＰ電流Ｄ
ＡＣレジスタ１２２に対するレジスタ値ｙを増加し、図
１２のＱ１（ｘ１，ｙ１）を取得する。次にモニタＡＤ
Ｃレジスタ１３４をリードしながら測定パワーがリード
パワーとなるようにＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８のレ
ジスタ値ｚを増加し、図１３のＱ３（ｘ１，ｚ１）を取
得する。
【００８５】次にモニタＡＤＣレジスタ１３４をリード
しながら測定パワーｘ２＝４ｍＷとなるようにＥＰ電流
ＤＡＣレジスタ１２２のレジスタ値ｙを増加し、図１２
のＱ２（ｘ２，ｙ２）を取得する。更にモニタＡＤＣレ
ジスタ１３４をリードしながら測定パワーがリードパワ
ーとなるようにＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８のレジス
タ値ｚを増加し、図１３のＱ４（ｘ２，ｚ２）を取得す
る。
しながら測定パワーｘ２＝４ｍＷとなるようにＥＰ電流
ＤＡＣレジスタ１２２のレジスタ値ｙを増加し、図１２
のＱ２（ｘ２，ｙ２）を取得する。更にモニタＡＤＣレ
ジスタ１３４をリードしながら測定パワーがリードパワ
ーとなるようにＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８のレジス
タ値ｚを増加し、図１３のＱ４（ｘ２，ｚ２）を取得す
る。
【００８６】以上の発光によるパワー測定が済んだなら
ば、図１２の２点Ｑ１（ｘ１，ｙ１），Ｑ２（ｘ２，ｙ
２）を、パワーｘに対するＥＰ電流ＤＡＣレジスタ値ｙ
の直線近似の関係式ｙ＝ａ１・ｘ＋ｂ１に各々代入し、
この２つの代入式から傾きａ１とｙ軸交点ｂ１を算出す
る。次に図１３のように、Ｑ３（ｘ１，ｚ１），Ｑ４
（ｘ２，ｚ２）を、２点を結ぶ直線を近似して関係式ｚ
＝ｃ１・ｘ＋ｄ１に代入して傾きｃ１とｙ軸交点ｄ１を
算出する。
ば、図１２の２点Ｑ１（ｘ１，ｙ１），Ｑ２（ｘ２，ｙ
２）を、パワーｘに対するＥＰ電流ＤＡＣレジスタ値ｙ
の直線近似の関係式ｙ＝ａ１・ｘ＋ｂ１に各々代入し、
この２つの代入式から傾きａ１とｙ軸交点ｂ１を算出す
る。次に図１３のように、Ｑ３（ｘ１，ｚ１），Ｑ４
（ｘ２，ｚ２）を、２点を結ぶ直線を近似して関係式ｚ
＝ｃ１・ｘ＋ｄ１に代入して傾きｃ１とｙ軸交点ｄ１を
算出する。
【００８７】図１２のイレーズパワー発光電流を指示す
るＤＡＣ１４０の任意のパワーに対するレジスタ指示値
の直線近似の関係式の傾きａとｙ軸交点ｂは、図９のＥ
Ｐ／ＰＡ電流ＤＡＣ係数テーブル１８４に登録される。
また図１３のイレーズパワーに対する差引電流用のＤＡ
Ｃ１４６に対するレジスタ値ｙを求める直線近似の関係
式の傾きｃとｙ軸交点ｂは、図９のＥＰ／ＰＡ差引ＤＡ
Ｃ係数テーブル１８６に登録される。
るＤＡＣ１４０の任意のパワーに対するレジスタ指示値
の直線近似の関係式の傾きａとｙ軸交点ｂは、図９のＥ
Ｐ／ＰＡ電流ＤＡＣ係数テーブル１８４に登録される。
また図１３のイレーズパワーに対する差引電流用のＤＡ
Ｃ１４６に対するレジスタ値ｙを求める直線近似の関係
式の傾きｃとｙ軸交点ｂは、図９のＥＰ／ＰＡ差引ＤＡ
Ｃ係数テーブル１８６に登録される。
【００８８】尚、アシストパワーＰＡについては、図６
においてはＥＰ用のＤＡＣ１４０，１４６を代替使用す
ることから、イレーズパワーの調整結果をそのまま使用
できる。またＰＡ専用の回路を設けている場合には、イ
レーズパワーと同様な発光微調整によりアシスト発光電
流とアシスト差引電流の直線近似の傾きとｙ軸交点を求
めて専用テーブルに登録する。
においてはＥＰ用のＤＡＣ１４０，１４６を代替使用す
ることから、イレーズパワーの調整結果をそのまま使用
できる。またＰＡ専用の回路を設けている場合には、イ
レーズパワーと同様な発光微調整によりアシスト発光電
流とアシスト差引電流の直線近似の傾きとｙ軸交点を求
めて専用テーブルに登録する。
【００８９】このような発光粗調整を、第１ライトパワ
ーＷＰ１と第２ライトパワーＷＰ２についても同様に行
う。第１ライトパワーＷＰ１にあっては、基本的にはイ
レーズ用の発光粗調整と同じであるが、ＷＰ１電流ＤＡ
Ｃレジスタ１２４に対する指示パワーが４ｍＷと８ｍＷ
の２点としている点が相違する。そして、任意の第１ラ
イトパワーｘに対するレジスタ値ｙの直線近似の関係式
の傾きａ２とｙ軸交点ｂ２を算出し、また第１ライトパ
ワーｘに対する差引電流のレジスタ値ｚの直線近似の関
係式の傾きｃ２とｙ軸交点ｄ２を算出し、それぞれ図９
のＷＰ１電流ＤＡＣ係数テーブル１８８とＷＰ１差引Ｄ
ＡＣ係数テーブル１９０に登録する。
ーＷＰ１と第２ライトパワーＷＰ２についても同様に行
う。第１ライトパワーＷＰ１にあっては、基本的にはイ
レーズ用の発光粗調整と同じであるが、ＷＰ１電流ＤＡ
Ｃレジスタ１２４に対する指示パワーが４ｍＷと８ｍＷ
の２点としている点が相違する。そして、任意の第１ラ
イトパワーｘに対するレジスタ値ｙの直線近似の関係式
の傾きａ２とｙ軸交点ｂ２を算出し、また第１ライトパ
ワーｘに対する差引電流のレジスタ値ｚの直線近似の関
係式の傾きｃ２とｙ軸交点ｄ２を算出し、それぞれ図９
のＷＰ１電流ＤＡＣ係数テーブル１８８とＷＰ１差引Ｄ
ＡＣ係数テーブル１９０に登録する。
【００９０】また第２ライトパワーについては、イレー
ズ発光粗調整と同じであるが、第１ライトパワーと同様
に４ｍＷと８ｍＷの２点で発光調整し、続いてリードパ
ワーとなるように差引電流を調整している。そして第２
ライトパワー発光の電流指示を行うＤＡＣ１４４につい
ての直線近似の関係式の傾きａ３とｙ軸交点ｂ３を算出
し、また第２ライトパワー発光時の差引電流を指示する
ＤＡＣ１５０についての直線近似の関係式の傾きｃ３と
ｙ軸交点ｄ３を算出し、それぞれ図９のＷＰ２電流ＤＡ
Ｃ係数テーブル１９２及びＷＰ２差引係数テーブル１９
４に登録する。
ズ発光粗調整と同じであるが、第１ライトパワーと同様
に４ｍＷと８ｍＷの２点で発光調整し、続いてリードパ
ワーとなるように差引電流を調整している。そして第２
ライトパワー発光の電流指示を行うＤＡＣ１４４につい
ての直線近似の関係式の傾きａ３とｙ軸交点ｂ３を算出
し、また第２ライトパワー発光時の差引電流を指示する
ＤＡＣ１５０についての直線近似の関係式の傾きｃ３と
ｙ軸交点ｄ３を算出し、それぞれ図９のＷＰ２電流ＤＡ
Ｃ係数テーブル１９２及びＷＰ２差引係数テーブル１９
４に登録する。
【００９１】図１４は、以上の発光粗調整により登録さ
れた図９の各係数テーブル１８２〜１９４の登録内容で
あり、これらの傾き及びｙ軸交点の値を使用して直線近
似の関係式を作ることで、任意のモニタ電圧測定値から
測定パワーへの変換、及び任意のパワーからＡＤＣに対
する電流指示値への変換が実現できる。 ３．発光微調整 次に図９に設けた発光微調整処理部１６４による本発明
の発光微調整処理を説明する。発光微調整処理部１６４
は、発光粗調整処理部１６２による粗調整が完了した後
に、フォーカスサーボ及びトラックサーボをオンした媒
体に対するビームスポットのオントラック状態でレーザ
ダイオード１００の発光調整を行う。
れた図９の各係数テーブル１８２〜１９４の登録内容で
あり、これらの傾き及びｙ軸交点の値を使用して直線近
似の関係式を作ることで、任意のモニタ電圧測定値から
測定パワーへの変換、及び任意のパワーからＡＤＣに対
する電流指示値への変換が実現できる。 ３．発光微調整 次に図９に設けた発光微調整処理部１６４による本発明
の発光微調整処理を説明する。発光微調整処理部１６４
は、発光粗調整処理部１６２による粗調整が完了した後
に、フォーカスサーボ及びトラックサーボをオンした媒
体に対するビームスポットのオントラック状態でレーザ
ダイオード１００の発光調整を行う。
【００９２】この発光微調整は基本的には発光粗調整と
同じであり、イレーズを必要とするＭＯカートリッジ媒
体にあっては、イレーズパワー、第１ライトパワー及び
第２ライトパワーのそれぞれについて、オントラック制
御を有効とした状態で媒体のテストゾーンにシークし、
予め定めた２点のテストパワーでの発光を発光電流源回
路１５４に順次指示してレーザダイオード１００を発光
駆動する。
同じであり、イレーズを必要とするＭＯカートリッジ媒
体にあっては、イレーズパワー、第１ライトパワー及び
第２ライトパワーのそれぞれについて、オントラック制
御を有効とした状態で媒体のテストゾーンにシークし、
予め定めた２点のテストパワーでの発光を発光電流源回
路１５４に順次指示してレーザダイオード１００を発光
駆動する。
【００９３】同時に、差引電流源回路１５６に２点のテ
ストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、モニタ
パワー測定部１５５の測定パワーが目標テストパワーと
なるように発光電流源回路１５４に対するレジスタ指示
値を調整する。そして、この２点のテストパワーの調整
結果に基づき、任意の発光パワーｘに対する発光電流源
回路１５４のレジスタ指示値ｙとの関係を直線近似によ
り求めて、その傾きとｙ軸交点を登録したテーブル情報
を補正する。
ストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、モニタ
パワー測定部１５５の測定パワーが目標テストパワーと
なるように発光電流源回路１５４に対するレジスタ指示
値を調整する。そして、この２点のテストパワーの調整
結果に基づき、任意の発光パワーｘに対する発光電流源
回路１５４のレジスタ指示値ｙとの関係を直線近似によ
り求めて、その傾きとｙ軸交点を登録したテーブル情報
を補正する。
【００９４】またイレーズを必要としないダイレクトオ
ーバライト対応型のカートリッジ媒体の発光微調整は、
（アシストパワー）＋（第１ライトパワー）及び（アシ
ストパワー）＋（第２ライトパワー）それぞれについ
て、オントラック制御を有効とした状態で媒体のテスト
ゾーンにシークし、予め定めた２点のテストパワーでの
発光を発光電流源回路１５４に順次指示してレーザダイ
オード１００を発光駆動する。
ーバライト対応型のカートリッジ媒体の発光微調整は、
（アシストパワー）＋（第１ライトパワー）及び（アシ
ストパワー）＋（第２ライトパワー）それぞれについ
て、オントラック制御を有効とした状態で媒体のテスト
ゾーンにシークし、予め定めた２点のテストパワーでの
発光を発光電流源回路１５４に順次指示してレーザダイ
オード１００を発光駆動する。
【００９５】同時に、同時に差引電流源回路１５６に２
点のテストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、
モニタパワー測定部１５５の測定パワーが目標テストパ
ワーとなるように発光電流源回路１５４に対するレジス
タ指示値を調整する。そして、この２点のテストパワー
の調整結果に基づき、任意の発光パワーｘに対する発光
電流源回路１５４のレジスタ指示値ｙとの関係を直線近
似により求めて、その傾きとｙ軸交点を登録したテーブ
ル情報を補正する。
点のテストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、
モニタパワー測定部１５５の測定パワーが目標テストパ
ワーとなるように発光電流源回路１５４に対するレジス
タ指示値を調整する。そして、この２点のテストパワー
の調整結果に基づき、任意の発光パワーｘに対する発光
電流源回路１５４のレジスタ指示値ｙとの関係を直線近
似により求めて、その傾きとｙ軸交点を登録したテーブ
ル情報を補正する。
【００９６】このような発光微調整処理部１６４に加え
て本発明にあっては、自動パワー制御ホールド部１６
６、発光タイミング制御部１６８及びテストゾーン確認
部１７０を設けている。自動パワー制御ホールド部１６
６は、発光微調整処理部１６４によりレーザダイオード
１００を発光駆動する際に、発光期間に亘り自動パワー
制御部（ＡＰＣ）１３８をホールド状態に制御する。
て本発明にあっては、自動パワー制御ホールド部１６
６、発光タイミング制御部１６８及びテストゾーン確認
部１７０を設けている。自動パワー制御ホールド部１６
６は、発光微調整処理部１６４によりレーザダイオード
１００を発光駆動する際に、発光期間に亘り自動パワー
制御部（ＡＰＣ）１３８をホールド状態に制御する。
【００９７】このため、テストパワーによるレーザダイ
オード１００の発光中は、自動パワー制御部１３８によ
る目標リードパワーに測定パワーを一致させるためのフ
ィードバック制御は行われず、モニタパワー測定部１５
５においてレーザダイオード１００の指示パワーに基づ
く実際の発光パワーを測定し、発光微調整処理部１６４
による発光電流源回路１５４に対する指示値の調整を正
確にできるようにする。
オード１００の発光中は、自動パワー制御部１３８によ
る目標リードパワーに測定パワーを一致させるためのフ
ィードバック制御は行われず、モニタパワー測定部１５
５においてレーザダイオード１００の指示パワーに基づ
く実際の発光パワーを測定し、発光微調整処理部１６４
による発光電流源回路１５４に対する指示値の調整を正
確にできるようにする。
【００９８】テストゾーン確認部１７０は、発光微調整
処理部１６４によるレーザダイオードのテスト発光によ
る調整時に、ビームスポットの現在位置が予め定めた媒
体のテストゾーンの範囲内か否か判断し、テストゾーン
の範囲内にあることを確認して発光調整を起動する。媒
体のテストゾーンとしては、例えば１２８ＭＢ媒体を例
にとると、図１５のようになる。
処理部１６４によるレーザダイオードのテスト発光によ
る調整時に、ビームスポットの現在位置が予め定めた媒
体のテストゾーンの範囲内か否か判断し、テストゾーン
の範囲内にあることを確認して発光調整を起動する。媒
体のテストゾーンとしては、例えば１２８ＭＢ媒体を例
にとると、図１５のようになる。
【００９９】図１５において、媒体はインナ側よりテス
トゾーン、コントロールトラックゾーン、データゾーン
（ユーザゾーン）、及びコントロールトラックゾーンに
分けられており、それぞれについて半径位置とトラック
番号が決まっている。このうち本発明の発光微調整の際
にシークするテストゾーンは、媒体半径位置にあっては
２３．５３〜２３．７５ｍｍの範囲にあり、トラック番
号は−２９２〜−１７の範囲となる。このテストゾーン
は、２３０ＭＢ媒体、５４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒
体についても、基本的には最インナの非ユーザゾーンを
使用することができる。
トゾーン、コントロールトラックゾーン、データゾーン
（ユーザゾーン）、及びコントロールトラックゾーンに
分けられており、それぞれについて半径位置とトラック
番号が決まっている。このうち本発明の発光微調整の際
にシークするテストゾーンは、媒体半径位置にあっては
２３．５３〜２３．７５ｍｍの範囲にあり、トラック番
号は−２９２〜−１７の範囲となる。このテストゾーン
は、２３０ＭＢ媒体、５４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒
体についても、基本的には最インナの非ユーザゾーンを
使用することができる。
【０１００】再び図９を参照するに、テストゾーン確認
部１７０によるテストゾーンの確認は、レジスタ１７４
に格納されているテストゾーンにシークした際のトラッ
クセクタの読取りによるＩＤ情報、または図３のように
キャリッジ７６の絶対位置を検出するために設けている
キャリッジ位置センサ５６のキャリッジ検出位置を用い
ることができる。
部１７０によるテストゾーンの確認は、レジスタ１７４
に格納されているテストゾーンにシークした際のトラッ
クセクタの読取りによるＩＤ情報、または図３のように
キャリッジ７６の絶対位置を検出するために設けている
キャリッジ位置センサ５６のキャリッジ検出位置を用い
ることができる。
【０１０１】即ち、ＩＤ情報にはトラック番号が含まれ
ることから、このトラック番号と予め割り当てられたテ
ストゾーンのトラック番号の範囲とを比較することによ
り、現在位置がテストゾーンの範囲内か否か判断でき
る。また、図３のキャリッジ位置センサ５６の媒体位置
に対する検出特性は図１６のようになる。この検出特性
において、横軸に示す媒体位置の中のユーザゾーン２５
０に対し、インナ側に位置するテストゾーン２５２に対
応したキャリッジ位置センサ５６のテストゾーン検出範
囲２５４が定まっていることから、テストゾーンにシー
クしたときのキャリッジ位置センサ５６の検出値とテス
トゾーン検出範囲２５４を比較することで、現在位置が
テストゾーンか否か判別できる。
ることから、このトラック番号と予め割り当てられたテ
ストゾーンのトラック番号の範囲とを比較することによ
り、現在位置がテストゾーンの範囲内か否か判断でき
る。また、図３のキャリッジ位置センサ５６の媒体位置
に対する検出特性は図１６のようになる。この検出特性
において、横軸に示す媒体位置の中のユーザゾーン２５
０に対し、インナ側に位置するテストゾーン２５２に対
応したキャリッジ位置センサ５６のテストゾーン検出範
囲２５４が定まっていることから、テストゾーンにシー
クしたときのキャリッジ位置センサ５６の検出値とテス
トゾーン検出範囲２５４を比較することで、現在位置が
テストゾーンか否か判別できる。
【０１０２】ＩＤ情報による現在位置の認識とキャリッ
ジ検出位置による現在位置の認識は、ＩＤ情報がトラッ
ク単位に正確にテストゾーンか否かを判断できるのに対
し、キャリッジ検出位置にあっては、キャリッジ位置セ
ンサ５６の分解能によりテストゾーンの判別精度が決ま
る。通常、キャリッジ位置センサ５６として使用するＰ
ＳＤの検出距離の分解能は１００ミクロンオーダとなる
ことから、例えば図１５に示したテストゾーンとなる半
径位置２３．５３〜２３．７５ｍｍの範囲内にあるか否
かの検出は確実にできる。またテストゾーン確認部１７
０による確認処理としてはＩＤ情報とキャリッジ検出位
置の両方を使用し、例えばＩＤ情報から現在位置が認識
できなかった場合にキャリッジ検出位置により現在位置
を認識するようにしてもよい。逆にキャリッジ検出位置
を優先させ、キャリッジ検出位置から現在位置が認識で
きなかった場合にＩＤ情報から現在位置を認識するよう
にしてもよい。
ジ検出位置による現在位置の認識は、ＩＤ情報がトラッ
ク単位に正確にテストゾーンか否かを判断できるのに対
し、キャリッジ検出位置にあっては、キャリッジ位置セ
ンサ５６の分解能によりテストゾーンの判別精度が決ま
る。通常、キャリッジ位置センサ５６として使用するＰ
ＳＤの検出距離の分解能は１００ミクロンオーダとなる
ことから、例えば図１５に示したテストゾーンとなる半
径位置２３．５３〜２３．７５ｍｍの範囲内にあるか否
かの検出は確実にできる。またテストゾーン確認部１７
０による確認処理としてはＩＤ情報とキャリッジ検出位
置の両方を使用し、例えばＩＤ情報から現在位置が認識
できなかった場合にキャリッジ検出位置により現在位置
を認識するようにしてもよい。逆にキャリッジ検出位置
を優先させ、キャリッジ検出位置から現在位置が認識で
きなかった場合にＩＤ情報から現在位置を認識するよう
にしてもよい。
【０１０３】次に発光タイミング制御部１６８を説明す
る。発光タイミング制御部１６８は、発光微調整処理部
１６４によりレーザダイオード１００をテストパワーで
発光調整する場合、オントラック状態にあるテストゾー
ンのトラックセクタの各々について、各セクタのＩＤ部
を避けてデータ部（ＭＯ部）でのみレーザダイオードの
テストパワーによる発光調整を行わせる。
る。発光タイミング制御部１６８は、発光微調整処理部
１６４によりレーザダイオード１００をテストパワーで
発光調整する場合、オントラック状態にあるテストゾー
ンのトラックセクタの各々について、各セクタのＩＤ部
を避けてデータ部（ＭＯ部）でのみレーザダイオードの
テストパワーによる発光調整を行わせる。
【０１０４】図１７は本発明の発光微調整処理部１６４
による処理動作のタイムチャートであり、イレーズパワ
ーの発光微調整を例にとっている。即ち、図１７（Ａ）
はセクタ情報、図１７（Ｂ）はＩＤ検出信号、図１７
（Ｃ）はライトゲート信号、図１７（Ｄ）はＡＰＣホー
ルド信号、図１７（Ｅ）はイレーズパワー用差引ＤＡＣ
値、図１７（Ｆ）はイレーズパワー用発光ＤＡＣ値、更
に図１７（Ｇ）はモニタＡＤＣ値を表している。
による処理動作のタイムチャートであり、イレーズパワ
ーの発光微調整を例にとっている。即ち、図１７（Ａ）
はセクタ情報、図１７（Ｂ）はＩＤ検出信号、図１７
（Ｃ）はライトゲート信号、図１７（Ｄ）はＡＰＣホー
ルド信号、図１７（Ｅ）はイレーズパワー用差引ＤＡＣ
値、図１７（Ｆ）はイレーズパワー用発光ＤＡＣ値、更
に図１７（Ｇ）はモニタＡＤＣ値を表している。
【０１０５】この図１７のタイムチャートから明らかな
ように、図１７（Ａ）のセクタ情報はＩＤ部とデータ部
で構成されており、ＩＤ部については物理的なピットの
形成で情報を記録しており、データ部については光磁気
記録によるピット形成であることから、物理的には媒体
表面は鏡面となっている。このため、オントラック状態
でレーザダイオード１００を発光駆動した場合、媒体ト
ラック上に対するビームスポットの照射による戻り光
は、ＩＤ部ではその物理的なピットの凹凸により変動す
るが、データ部にあっては物理的な凹凸はないことから
一定レベルに安定している。
ように、図１７（Ａ）のセクタ情報はＩＤ部とデータ部
で構成されており、ＩＤ部については物理的なピットの
形成で情報を記録しており、データ部については光磁気
記録によるピット形成であることから、物理的には媒体
表面は鏡面となっている。このため、オントラック状態
でレーザダイオード１００を発光駆動した場合、媒体ト
ラック上に対するビームスポットの照射による戻り光
は、ＩＤ部ではその物理的なピットの凹凸により変動す
るが、データ部にあっては物理的な凹凸はないことから
一定レベルに安定している。
【０１０６】このような媒体からの戻り光は、図５の光
学系の説明図から明らかなように、ハーフミラー３０３
で反射されてモニタ用ディテクタ１０２に入力してお
り、その結果、図９のモニタパワー測定部１５５で測定
されるテストパワーによる発光時のレーザダイオード１
００の測定パワーが戻り光により変動する。そこで本発
明にあっては、セクタ情報のうちのＩＤ部を避けてデー
タ部についてのみレーザダイオード１００を発光駆動し
て発光調整を行う。このようなセクタ情報のデータ部で
の発光駆動を可能とするため、図１７（Ｂ）のようなＩ
Ｄ検出信号を生成している。
学系の説明図から明らかなように、ハーフミラー３０３
で反射されてモニタ用ディテクタ１０２に入力してお
り、その結果、図９のモニタパワー測定部１５５で測定
されるテストパワーによる発光時のレーザダイオード１
００の測定パワーが戻り光により変動する。そこで本発
明にあっては、セクタ情報のうちのＩＤ部を避けてデー
タ部についてのみレーザダイオード１００を発光駆動し
て発光調整を行う。このようなセクタ情報のデータ部で
の発光駆動を可能とするため、図１７（Ｂ）のようなＩ
Ｄ検出信号を生成している。
【０１０７】このＩＤ検出完了信号は、ＩＤ部の終了位
置でオフからオンに立ち上がり、データ部の中で発光調
整可能な時間に亘ってオン状態を維持してオフとなる。
このＩＤ検出完了信号のオン期間は、データ部の物理的
長さ、媒体の半径位置及びスピンドルモータによる媒体
回転数に基づいて、その長さが予め決められている。図
１７（Ｃ）のライトゲート信号はＩＤ検出完了信号がオ
ンとなったタイミングで有効となり、オン期間の間に例
えば３回のテストパワーによる発光駆動を行わせる。こ
のライトゲート信号のデータ部に対応したオン・オフ期
間における図７（Ｇ）のモニタパワー（モニタＡＤＣ
値）の測定タイミングは、最初のオフ期間Ｐ１のリード
パワーの測定とそれ以降のライトゲート信号のオン状態
におけるＰ２，Ｐ３，Ｐ４の各点でのテストパワーによ
るモニタパワーの測定を行う。
置でオフからオンに立ち上がり、データ部の中で発光調
整可能な時間に亘ってオン状態を維持してオフとなる。
このＩＤ検出完了信号のオン期間は、データ部の物理的
長さ、媒体の半径位置及びスピンドルモータによる媒体
回転数に基づいて、その長さが予め決められている。図
１７（Ｃ）のライトゲート信号はＩＤ検出完了信号がオ
ンとなったタイミングで有効となり、オン期間の間に例
えば３回のテストパワーによる発光駆動を行わせる。こ
のライトゲート信号のデータ部に対応したオン・オフ期
間における図７（Ｇ）のモニタパワー（モニタＡＤＣ
値）の測定タイミングは、最初のオフ期間Ｐ１のリード
パワーの測定とそれ以降のライトゲート信号のオン状態
におけるＰ２，Ｐ３，Ｐ４の各点でのテストパワーによ
るモニタパワーの測定を行う。
【０１０８】図１７（Ｃ）のライトゲート信号は、図１
７（Ｄ）のように、自動パワー制御部１３８に対するＡ
ＰＣホールド信号として出力される。即ち、ライトゲー
ト信号のオンタイミングに同期して自動パワー制御部１
３８のＡＰＣホールド信号もオンし、テストパワーによ
るレーザダイオードの発光タイミングで自動パワー制御
部１３８をホールド状態に切り替え、目標リードパワー
を維持するためのフィードバック制御を解除し、テスト
パワーによるモニタパワーの測定を可能としている。
７（Ｄ）のように、自動パワー制御部１３８に対するＡ
ＰＣホールド信号として出力される。即ち、ライトゲー
ト信号のオンタイミングに同期して自動パワー制御部１
３８のＡＰＣホールド信号もオンし、テストパワーによ
るレーザダイオードの発光タイミングで自動パワー制御
部１３８をホールド状態に切り替え、目標リードパワー
を維持するためのフィードバック制御を解除し、テスト
パワーによるモニタパワーの測定を可能としている。
【０１０９】図１７（Ｅ）のイレーズパワー用差引ＤＡ
Ｃ値は、イレーズパワーの発光調整の間、一定値に維持
される。また図１７（Ｆ）のイレーズパワー用発光ＤＡ
Ｃ値は、例えば１セクタごとにそのときの図１７（Ｇ）
のモニタＡＤＣ値とリードパワーの目標値との誤差を求
め、次のセクタのデータ部の発光調整で発光ＤＡＣ値を
修正して発光調整を行っている。図１７の場合には、３
セクタに亘るデータ部での発光調整によりモニタＡＤＣ
値が目標値に一致するイレーズ用発光ＤＡＣ値の調整状
態が行われている。
Ｃ値は、イレーズパワーの発光調整の間、一定値に維持
される。また図１７（Ｆ）のイレーズパワー用発光ＤＡ
Ｃ値は、例えば１セクタごとにそのときの図１７（Ｇ）
のモニタＡＤＣ値とリードパワーの目標値との誤差を求
め、次のセクタのデータ部の発光調整で発光ＤＡＣ値を
修正して発光調整を行っている。図１７の場合には、３
セクタに亘るデータ部での発光調整によりモニタＡＤＣ
値が目標値に一致するイレーズ用発光ＤＡＣ値の調整状
態が行われている。
【０１１０】次に図９における発光微調整処理部１６４
の処理動作をフローチャートを参照して説明する。図１
８は本発明の発光微調整処理が行われる媒体投入処理の
フローチャートである。この媒体投入処理にあっては、
媒体投入に伴い、まずステップＳ１で装置内温度をチェ
ックし、続いてステップＳ２でスピンドルモータの回転
制御を開始する。
の処理動作をフローチャートを参照して説明する。図１
８は本発明の発光微調整処理が行われる媒体投入処理の
フローチャートである。この媒体投入処理にあっては、
媒体投入に伴い、まずステップＳ１で装置内温度をチェ
ックし、続いてステップＳ２でスピンドルモータの回転
制御を開始する。
【０１１１】次にステップＳ３でキャリッジのアウタ押
付けによるＶＣＭの粗調整を行う。次にステップＳ４で
レーザダイオード１００をオンし、図９の発光粗調整処
理部１６２によってレーザダイオードの発光粗調整を実
行する。続いてステップＳ５で媒体がフルＲＯＭか否か
チェックする。フルＲＯＭか否かのチェックは媒体カー
トリッジのライトプロテクトノブの有無でチェックでき
る。即ち、フルＲＯＭはライトプロテクトノブの部分が
空きとなっていることから、これを検出してフルＲＯＭ
であることを認識し、フルＲＯＭの場合には書替え可能
な媒体に対しリードパワーを下げる。またライトパワー
及びイレーズパワーは使用しないことから、調整は不要
とする。
付けによるＶＣＭの粗調整を行う。次にステップＳ４で
レーザダイオード１００をオンし、図９の発光粗調整処
理部１６２によってレーザダイオードの発光粗調整を実
行する。続いてステップＳ５で媒体がフルＲＯＭか否か
チェックする。フルＲＯＭか否かのチェックは媒体カー
トリッジのライトプロテクトノブの有無でチェックでき
る。即ち、フルＲＯＭはライトプロテクトノブの部分が
空きとなっていることから、これを検出してフルＲＯＭ
であることを認識し、フルＲＯＭの場合には書替え可能
な媒体に対しリードパワーを下げる。またライトパワー
及びイレーズパワーは使用しないことから、調整は不要
とする。
【０１１２】次にステップＳ６でキャリッジを媒体のセ
ンタ付近に移動する。このキャリッジ移動は、ステップ
Ｓ３でアウタ側に押し付けていたＶＣＭの粗調整状態で
規定の加速、定速、減速電流を加えることで行う。次に
ステップＳ７でフォーカスサーボをオンする。続いてス
テップＳ８でトラッキングエラー信号のオフセット調整
を行った後、ステップＳ９でトラッキングエラー信号の
最大振幅が得られるようにフォーカス位置を制御し、最
大振幅が得られたフォーカス位置をフォーカス最適線と
するオフセットを検出し、このオフセットをフォーカス
サーボにセットする。
ンタ付近に移動する。このキャリッジ移動は、ステップ
Ｓ３でアウタ側に押し付けていたＶＣＭの粗調整状態で
規定の加速、定速、減速電流を加えることで行う。次に
ステップＳ７でフォーカスサーボをオンする。続いてス
テップＳ８でトラッキングエラー信号のオフセット調整
を行った後、ステップＳ９でトラッキングエラー信号の
最大振幅が得られるようにフォーカス位置を制御し、最
大振幅が得られたフォーカス位置をフォーカス最適線と
するオフセットを検出し、このオフセットをフォーカス
サーボにセットする。
【０１１３】次にステップＳ１０で、フォーカス最適線
のオフセット検出が済んだ状態でずれたトラッキングエ
ラー信号のオフセットを調整する。続いてステップＳ１
１で、投入した媒体の種別に応じたトラッキングエラー
信号の振幅調整を行う。トラッキングエラー信号の振幅
調整が済んだならば、ステップＳ１２で再度、トラッキ
ングエラー信号のオフセット調整を行う。続いてステッ
プＳ１３でスピンドルモータの回転が規定回転に達した
か否かチェックする。
のオフセット検出が済んだ状態でずれたトラッキングエ
ラー信号のオフセットを調整する。続いてステップＳ１
１で、投入した媒体の種別に応じたトラッキングエラー
信号の振幅調整を行う。トラッキングエラー信号の振幅
調整が済んだならば、ステップＳ１２で再度、トラッキ
ングエラー信号のオフセット調整を行う。続いてステッ
プＳ１３でスピンドルモータの回転が規定回転に達した
か否かチェックする。
【０１１４】次にステップＳ１４でトラックサーボをオ
ンし、これによってビームスポットのオントラック制御
状態が得られる。続いてステップＳ１５でイレーズ発光
確認用スライスレベル（エコースライスレベル）を設定
する。このイレーズ発光確認用スライスレベルの設定
は、媒体の書込みがイレーズ発光、ライト発光、ベリフ
ァイのためのリード発光の３段階で行われ、イレーズ発
光が行われていないと次のライト発光で正常なデータ記
録書込みができないことから、イレーズパワーとリード
パワーの間にイレーズ発光を確認するためのスライスレ
ベルを設定する。
ンし、これによってビームスポットのオントラック制御
状態が得られる。続いてステップＳ１５でイレーズ発光
確認用スライスレベル（エコースライスレベル）を設定
する。このイレーズ発光確認用スライスレベルの設定
は、媒体の書込みがイレーズ発光、ライト発光、ベリフ
ァイのためのリード発光の３段階で行われ、イレーズ発
光が行われていないと次のライト発光で正常なデータ記
録書込みができないことから、イレーズパワーとリード
パワーの間にイレーズ発光を確認するためのスライスレ
ベルを設定する。
【０１１５】続いてステップＳ１６で、媒体のコントロ
ールトラックにシークしてその内容をリードする。続い
てステップＳ１７で、図９の発光微調整処理部１６４に
よるレーザダイオード駆動電流の発光微調整を実行す
る。最終的にステップＳ１８で、媒体の交代情報をリー
ドしてＲＡＭに展開する。図１９は本発明の発光微調整
処理が実行されるシークリトライ処理のフローチャート
である。上位コマンドに基づく目標トラックへのシーク
が失敗してシークエラーになると、図１９のシークリト
ライ処理が実行される。このシークリトライ処理は、ス
テップＳ１でフォーカスオン状態か否かチェックし、ま
たステップＳ２でトラックオン状態か否かチェックし、
いずれかがオフであればステップＳ６以降の媒体投入処
理と同等な初期化処理を実行した後に、シークリトライ
としての飛び直しを実行する。
ールトラックにシークしてその内容をリードする。続い
てステップＳ１７で、図９の発光微調整処理部１６４に
よるレーザダイオード駆動電流の発光微調整を実行す
る。最終的にステップＳ１８で、媒体の交代情報をリー
ドしてＲＡＭに展開する。図１９は本発明の発光微調整
処理が実行されるシークリトライ処理のフローチャート
である。上位コマンドに基づく目標トラックへのシーク
が失敗してシークエラーになると、図１９のシークリト
ライ処理が実行される。このシークリトライ処理は、ス
テップＳ１でフォーカスオン状態か否かチェックし、ま
たステップＳ２でトラックオン状態か否かチェックし、
いずれかがオフであればステップＳ６以降の媒体投入処
理と同等な初期化処理を実行した後に、シークリトライ
としての飛び直しを実行する。
【０１１６】一方、ステップＳ１でフォーカスオン状態
にあり、またステップＳ２でトラックオン状態にあった
場合には、ステップＳ３でトラックサーボをオンした後
に、ステップＳ４で正常終了か否かチェックし、正常終
了であれば、ステップＳ５で目標トラックに対する飛び
直しとしてのリトライシークを実行する。これに対しス
テップＳ３でトラックサーボをオンしてもステップＳ４
で目標トラックにオントラックする正常終了とならなか
った場合には、ステップＳ６以降の処理に進む。ステッ
プＳ６〜Ｓ８の処理は、図９の媒体投入処理におけるス
テップＳ６〜Ｓ１７と同じであり、ステップＳ１７には
本発明によるレーザダイオードの発光微調整の処理が含
まれている。
にあり、またステップＳ２でトラックオン状態にあった
場合には、ステップＳ３でトラックサーボをオンした後
に、ステップＳ４で正常終了か否かチェックし、正常終
了であれば、ステップＳ５で目標トラックに対する飛び
直しとしてのリトライシークを実行する。これに対しス
テップＳ３でトラックサーボをオンしてもステップＳ４
で目標トラックにオントラックする正常終了とならなか
った場合には、ステップＳ６以降の処理に進む。ステッ
プＳ６〜Ｓ８の処理は、図９の媒体投入処理におけるス
テップＳ６〜Ｓ１７と同じであり、ステップＳ１７には
本発明によるレーザダイオードの発光微調整の処理が含
まれている。
【０１１７】最後のステップＳ１８は、ステップＳ６〜
Ｓ１７の調整処理が正常終了した場合で、目標トラック
への飛び直しとなるシークリトライを実行する。またス
テップＳ６〜Ｓ１７の調整処理のいずれかで異常となっ
た場合には異常終了とする。図２０は図９の媒体投入処
理のステップＳ１７及び図１９のシークリトライ処理の
ステップＳ１７で行われる本発明によるレーザダイオー
ドの発光微調整の概略的なフローチャートである。この
レーザダイオード発光微調整にあっては、まずステップ
Ｓ１でビームスポットを媒体の最インナのテストゾーン
にシークし、ステップＳ２でリードパワーのＡＤＣモニ
タ値を読み取って自動パワー制御のＡＰＣ目標値に設定
する。
Ｓ１７の調整処理が正常終了した場合で、目標トラック
への飛び直しとなるシークリトライを実行する。またス
テップＳ６〜Ｓ１７の調整処理のいずれかで異常となっ
た場合には異常終了とする。図２０は図９の媒体投入処
理のステップＳ１７及び図１９のシークリトライ処理の
ステップＳ１７で行われる本発明によるレーザダイオー
ドの発光微調整の概略的なフローチャートである。この
レーザダイオード発光微調整にあっては、まずステップ
Ｓ１でビームスポットを媒体の最インナのテストゾーン
にシークし、ステップＳ２でリードパワーのＡＤＣモニ
タ値を読み取って自動パワー制御のＡＰＣ目標値に設定
する。
【０１１８】次にステップＳ３でイレーズパワーＥＰの
発光微調整を実行し、続いてステップＳ４で第１ライト
パワーＷＰ１の発光微調整を実行し、更にステップＳ５
で第２ライトパワーＷＰ２の発光微調整を実行し、ステ
ップＳ６で調整値を保存して処理を終了する。もちろん
ステップＳ３〜Ｓ５のイレーズパワー、第１ライトパワ
ー及び第２ライトパワーの発光微調整は、投入媒体がＰ
ＷＭ記録を採用し、イレーズを必要とする５４０ＭＢ媒
体または６４０ＭＢのＭＯカートリッジセ媒体の場合で
ある。
発光微調整を実行し、続いてステップＳ４で第１ライト
パワーＷＰ１の発光微調整を実行し、更にステップＳ５
で第２ライトパワーＷＰ２の発光微調整を実行し、ステ
ップＳ６で調整値を保存して処理を終了する。もちろん
ステップＳ３〜Ｓ５のイレーズパワー、第１ライトパワ
ー及び第２ライトパワーの発光微調整は、投入媒体がＰ
ＷＭ記録を採用し、イレーズを必要とする５４０ＭＢ媒
体または６４０ＭＢのＭＯカートリッジセ媒体の場合で
ある。
【０１１９】これに対しダイレクトオーバライト対応型
のＰＷＭ記録を採用したイレーズを必要としない５４０
ＭＢ媒体または６４０ＭＢの場合には、ステップＳ４，
Ｓ５の第１ライトパワーと第２ライトパワーの発光微調
整を行い、ステップＳ２のイレーズパワーの発光微調整
はスキップする。またＰＰＭ記録の１２８ＭＢ媒体及び
２３０ＭＢ媒体にあっては、ステップＳ３，Ｓ４のイレ
ーズパワーと第１ライトパワーの発光微調整を行い、ス
テップＳ５の第２ライトパワーの発光微調整はスキップ
する。
のＰＷＭ記録を採用したイレーズを必要としない５４０
ＭＢ媒体または６４０ＭＢの場合には、ステップＳ４，
Ｓ５の第１ライトパワーと第２ライトパワーの発光微調
整を行い、ステップＳ２のイレーズパワーの発光微調整
はスキップする。またＰＰＭ記録の１２８ＭＢ媒体及び
２３０ＭＢ媒体にあっては、ステップＳ３，Ｓ４のイレ
ーズパワーと第１ライトパワーの発光微調整を行い、ス
テップＳ５の第２ライトパワーの発光微調整はスキップ
する。
【０１２０】図２１，図２２は、図２０のステップＳ３
のイレーズパワー発光微調整のフローチャートである。
図２１において、まずステップＳ１で発光粗調整で求め
たイレーズパワーＥＰの発光ＤＡＣ値の関係式 ｙ＝ａ１・ｘ＋ｂ１ と差引ＤＡＣ値の関係式 ｚ＝ｃ１・ｘ＋ｄ１ をセットし、続いてステップＳ２で最初のイレーズパワ
ーの発光のためテストパワーｘ１＝３ｍＷを設定して、
ステップＳ１の関係式から発光ＤＡＣ値ｙ１を算出す
る。
のイレーズパワー発光微調整のフローチャートである。
図２１において、まずステップＳ１で発光粗調整で求め
たイレーズパワーＥＰの発光ＤＡＣ値の関係式 ｙ＝ａ１・ｘ＋ｂ１ と差引ＤＡＣ値の関係式 ｚ＝ｃ１・ｘ＋ｄ１ をセットし、続いてステップＳ２で最初のイレーズパワ
ーの発光のためテストパワーｘ１＝３ｍＷを設定して、
ステップＳ１の関係式から発光ＤＡＣ値ｙ１を算出す
る。
【０１２１】またテストパワーｘ１＝３ｍＷについて、
差引ＤＡＣ値の関係式から差引ＤＡＣ値ｚ１を算出す
る。この場合、第１及び第２ライトパワーＷＰ１，ＷＰ
２の発光ＤＡＣ値及び差引ＤＡＣ値はクリアする。次に
ステップＳ３で、テストパワーで発光した際のモニタ測
定値を平均化するためのループ回数ｎ、即ち測定回数を
設定する。次にステップＳ４で、ＩＤ部の検出時間を設
定するＩＤタイマに所定のタイマ値を設定してスタート
する。
差引ＤＡＣ値の関係式から差引ＤＡＣ値ｚ１を算出す
る。この場合、第１及び第２ライトパワーＷＰ１，ＷＰ
２の発光ＤＡＣ値及び差引ＤＡＣ値はクリアする。次に
ステップＳ３で、テストパワーで発光した際のモニタ測
定値を平均化するためのループ回数ｎ、即ち測定回数を
設定する。次にステップＳ４で、ＩＤ部の検出時間を設
定するＩＤタイマに所定のタイマ値を設定してスタート
する。
【０１２２】続いてステップＳ５でＩＤ部の検出の有無
をチェックし、ＩＤ部が検出されるまで、ステップＳ６
でＩＤタイマのタイムアウトをチェックしており、もし
ＩＤタイマがタイムアウトした場合には異常終了とす
る。ステップＳ５でＩＤ検出が認識されると、ステップ
Ｓ７に進み、ＩＤ部の読取りを行う。このＩＤ部の読取
りにより現在位置のトラック番号が認識できることか
ら、ステップＳ８で、予め定めたテストゾーンの境界の
トラック番号との比較によりテストゾーン範囲内か否か
チェックする。
をチェックし、ＩＤ部が検出されるまで、ステップＳ６
でＩＤタイマのタイムアウトをチェックしており、もし
ＩＤタイマがタイムアウトした場合には異常終了とす
る。ステップＳ５でＩＤ検出が認識されると、ステップ
Ｓ７に進み、ＩＤ部の読取りを行う。このＩＤ部の読取
りにより現在位置のトラック番号が認識できることか
ら、ステップＳ８で、予め定めたテストゾーンの境界の
トラック番号との比較によりテストゾーン範囲内か否か
チェックする。
【０１２３】もしテストゾーン範囲を外れていた場合に
はステップＳ９に進み、テストゾーンへのシークを再度
行う。ステップＳ８で現在位置がテストゾーン範囲内で
あった場合には、ステップＳ１０に進み、１セクタ内で
のテストパワーによる発光のループ回数ｍを設定する。
続いてステップＳ１１で、ライトゲートのオンによりス
テップＳ２で設定したテストパワー３ｍＷに対応する発
光ＤＡＣ値ｙ１によるレーザダイオードのイレーズ発光
を行う。
はステップＳ９に進み、テストゾーンへのシークを再度
行う。ステップＳ８で現在位置がテストゾーン範囲内で
あった場合には、ステップＳ１０に進み、１セクタ内で
のテストパワーによる発光のループ回数ｍを設定する。
続いてステップＳ１１で、ライトゲートのオンによりス
テップＳ２で設定したテストパワー３ｍＷに対応する発
光ＤＡＣ値ｙ１によるレーザダイオードのイレーズ発光
を行う。
【０１２４】この発光状態で、ステップＳ１２でモニタ
ＡＤＣ値ｙを読み取り、次のステップＳ１３のライトゲ
ートのオフで発光を停止する。続いてステップＳ１４
で、イレーズパワーの発光調整を行うための平均化回
数、即ちイレーズパワーの発光調整を行うセクタ数ｎが
規定回数に達したか否かチェックし、規定回数未満であ
れば、ステップＳ１５で１セクタ内での発光回数ｍが規
定回数か否かチェックする。
ＡＤＣ値ｙを読み取り、次のステップＳ１３のライトゲ
ートのオフで発光を停止する。続いてステップＳ１４
で、イレーズパワーの発光調整を行うための平均化回
数、即ちイレーズパワーの発光調整を行うセクタ数ｎが
規定回数に達したか否かチェックし、規定回数未満であ
れば、ステップＳ１５で１セクタ内での発光回数ｍが規
定回数か否かチェックする。
【０１２５】規定回数未満であればステップＳ１１に戻
り、次のライトゲートオンでイレーズ発光を行い、ステ
ップＳ１２でそのときのモニタＡＤＣ値ｙを読み取り、
ステップＳ１３のライトゲートオフで発光を停止する処
理を繰り返す。ステップＳ１５で１セクタ内の発光回数
ｍが規定回数に達した場合には、ステップＳ４に戻り、
再度ＩＤタイマにタイマ値を設定してスタートし、新た
なＩＤ検出とテストゾーン範囲の認識に基づく次のセク
タでのテストパワーによるイレーズ発光を行う。
り、次のライトゲートオンでイレーズ発光を行い、ステ
ップＳ１２でそのときのモニタＡＤＣ値ｙを読み取り、
ステップＳ１３のライトゲートオフで発光を停止する処
理を繰り返す。ステップＳ１５で１セクタ内の発光回数
ｍが規定回数に達した場合には、ステップＳ４に戻り、
再度ＩＤタイマにタイマ値を設定してスタートし、新た
なＩＤ検出とテストゾーン範囲の認識に基づく次のセク
タでのテストパワーによるイレーズ発光を行う。
【０１２６】このようなステップＳ４〜Ｓ１５の処理の
繰返しにより、ステップＳ１４で平均化に使用するモニ
タＡＤＣ値ｙの数、即ち平均化回数ｎが規定回数に達し
たら、ステップＳ１６に進み、それまでに得られたモニ
タＡＤＣ値ｙの平均化を行う。続いて図２２のステップ
Ｓ１７に進み、図２０のステップＳ２でＡＰＣ目標値と
して求めているゲートパワーのモニタ測定値である目標
値と平均化モニタＡＤＣ値が略一致するか否か比較す
る。
繰返しにより、ステップＳ１４で平均化に使用するモニ
タＡＤＣ値ｙの数、即ち平均化回数ｎが規定回数に達し
たら、ステップＳ１６に進み、それまでに得られたモニ
タＡＤＣ値ｙの平均化を行う。続いて図２２のステップ
Ｓ１７に進み、図２０のステップＳ２でＡＰＣ目標値と
して求めているゲートパワーのモニタ測定値である目標
値と平均化モニタＡＤＣ値が略一致するか否か比較す
る。
【０１２７】目標値と平均化モニタＡＤＣ値が規定値を
超える誤差の場合には、ステップＳ１８に進み、目標値
が平均化モニタＡＤＣ値より大きいか否かチェックす
る。目標値が大きい場合には平均化モニタＡＤＣ値が小
さいことから、ステップＳ２０に進み、テストパワーを
設定している発光ＤＡＣ値ｙ１を所定の１単位増加させ
る修正を行い、図２１のステップＳ３にリターンして、
修正後の発光ＤＡＣ値ｙ１を用いたイレーズパワーの発
光微調整を実行する。
超える誤差の場合には、ステップＳ１８に進み、目標値
が平均化モニタＡＤＣ値より大きいか否かチェックす
る。目標値が大きい場合には平均化モニタＡＤＣ値が小
さいことから、ステップＳ２０に進み、テストパワーを
設定している発光ＤＡＣ値ｙ１を所定の１単位増加させ
る修正を行い、図２１のステップＳ３にリターンして、
修正後の発光ＤＡＣ値ｙ１を用いたイレーズパワーの発
光微調整を実行する。
【０１２８】またステップＳ１８で平均化モニタＡＤＣ
値が目標値を超えていた場合には、ステップＳ１９に進
み、発光ＤＡＣ値ｙ１を１単位減少させる修正を行い、
同様に図２１のステップＳ３にリターンして、修正後の
発光ＤＡＣ値ｙ１を用いたイレーズパワーの発光微調整
を実行する。ステップＳ１７で目標値と平均化モニタＡ
ＤＣ値が規定誤差範囲で略一致している場合には、最初
のテストパワーｘ１＝３ｍＷによる微調整が終了したも
のと判断し、次のステップＳ２１に進み、イレーズパワ
ーＥＰのテストパワーを２点目のｘ２＝５ｍＷに設定
し、同様にして発光ＤＡＣ値ｙ２を算出し、且つ差引Ｄ
ＡＣ値ｚ２を算出する。
値が目標値を超えていた場合には、ステップＳ１９に進
み、発光ＤＡＣ値ｙ１を１単位減少させる修正を行い、
同様に図２１のステップＳ３にリターンして、修正後の
発光ＤＡＣ値ｙ１を用いたイレーズパワーの発光微調整
を実行する。ステップＳ１７で目標値と平均化モニタＡ
ＤＣ値が規定誤差範囲で略一致している場合には、最初
のテストパワーｘ１＝３ｍＷによる微調整が終了したも
のと判断し、次のステップＳ２１に進み、イレーズパワ
ーＥＰのテストパワーを２点目のｘ２＝５ｍＷに設定
し、同様にして発光ＤＡＣ値ｙ２を算出し、且つ差引Ｄ
ＡＣ値ｚ２を算出する。
【０１２９】この場合にも、第１及び第２ライトパワー
ＷＰ１，ＷＰ２の発光ＤＡＣ値及び差引ＤＡＣ値はクリ
ア状態とする。続いてステップＳ２２で、テストパワー
ｘ２＝５ｍＷとなる２点目のイレーズ発光微調整処理を
実行する。このステップＳ２２の２点目のイレーズ発光
微調整処理は、１点目のステップＳ３〜Ｓ２０の処理と
同じになる。
ＷＰ１，ＷＰ２の発光ＤＡＣ値及び差引ＤＡＣ値はクリ
ア状態とする。続いてステップＳ２２で、テストパワー
ｘ２＝５ｍＷとなる２点目のイレーズ発光微調整処理を
実行する。このステップＳ２２の２点目のイレーズ発光
微調整処理は、１点目のステップＳ３〜Ｓ２０の処理と
同じになる。
【０１３０】ステップＳ２２で２点目のイレーズ発光調
整処理が終了したならば、ステップＳ２３に進み、発光
調整で得た２点（ｘ１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２）の関係
式からイレーズパワーｘとそのレジスタ指示値となる発
光ＤＡＣ値ｙとの関係式 ｙ＝ａ１・ｘ＋ｂ１ の係数ａ１とｙ軸交点ｂ１を算出し、図９に示したＥＰ
発光ＤＡＣ係数テーブル１８４に更新登録する。
整処理が終了したならば、ステップＳ２３に進み、発光
調整で得た２点（ｘ１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２）の関係
式からイレーズパワーｘとそのレジスタ指示値となる発
光ＤＡＣ値ｙとの関係式 ｙ＝ａ１・ｘ＋ｂ１ の係数ａ１とｙ軸交点ｂ１を算出し、図９に示したＥＰ
発光ＤＡＣ係数テーブル１８４に更新登録する。
【０１３１】図２３，図２４は、図２０のステップＳ４
の第１ライトパワーＷＰ１の発光微調整のフローチャー
トである。図２３において、第１ライトパワー発光微調
整は、まずステップＳ１で図２１のイレーズパワー微調
整のステップＳ１と同様、発光粗調整で求めたイレーズ
パワーＥＰの発光ＤＡＣ値及び差引ＤＡＣ値の関係式を
セットした後、のように第１ライトパワーＷＰ１の粗
調整で求めた同じく発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値の関係
式をセットする。続いてステップＳ２で、１点目のテス
トパワーとして ＷＰ１＋ＥＰ＝３ｍＷ＋２ｍＷ＝５ｍＷ をセットする。
の第１ライトパワーＷＰ１の発光微調整のフローチャー
トである。図２３において、第１ライトパワー発光微調
整は、まずステップＳ１で図２１のイレーズパワー微調
整のステップＳ１と同様、発光粗調整で求めたイレーズ
パワーＥＰの発光ＤＡＣ値及び差引ＤＡＣ値の関係式を
セットした後、のように第１ライトパワーＷＰ１の粗
調整で求めた同じく発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値の関係
式をセットする。続いてステップＳ２で、１点目のテス
トパワーとして ＷＰ１＋ＥＰ＝３ｍＷ＋２ｍＷ＝５ｍＷ をセットする。
【０１３２】この第１ライトパワー微調整を実現するた
め、第１ライトパワーＷＰ１＝３ｍＷについてステップ
Ｓ１でセットした関係式から発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ
値を算出し、またイレーズパワーＥＰ＝２ｍＷについて
ステップＳ１でセットした関係式から発光ＤＡＣ値と差
引ＤＡＣ値を算出する。この場合、第２ライトパワーＷ
Ｐ２の発光ＤＡＣ値及び差引ＤＡＣ値はクリアしてい
る。
め、第１ライトパワーＷＰ１＝３ｍＷについてステップ
Ｓ１でセットした関係式から発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ
値を算出し、またイレーズパワーＥＰ＝２ｍＷについて
ステップＳ１でセットした関係式から発光ＤＡＣ値と差
引ＤＡＣ値を算出する。この場合、第２ライトパワーＷ
Ｐ２の発光ＤＡＣ値及び差引ＤＡＣ値はクリアしてい
る。
【０１３３】次のステップＳ３から図２４のステップＳ
２０までの処理は図２１，図２２のイレーズパワー発光
微調整と基本的に同じである。即ち、ステップＳ２１で
ライトゲートのオンによるレーザダイオードの発光に第
１ライトパワーＷＰ１とイレーズパワーＥＰの発光ＤＡ
Ｃ指示値のそれぞれによる電流加算で５ｍＷの発光を行
う点が相違する。また図２４のステップＳ１９，Ｓ２０
において、目標値と平均化モニタＤＡＣ値が一定誤差範
囲で不一致となった場合の修正が、第１ライトパワーＷ
Ｐの発光ＤＡＣ値ｙ１を修正する点で相違する。
２０までの処理は図２１，図２２のイレーズパワー発光
微調整と基本的に同じである。即ち、ステップＳ２１で
ライトゲートのオンによるレーザダイオードの発光に第
１ライトパワーＷＰ１とイレーズパワーＥＰの発光ＤＡ
Ｃ指示値のそれぞれによる電流加算で５ｍＷの発光を行
う点が相違する。また図２４のステップＳ１９，Ｓ２０
において、目標値と平均化モニタＤＡＣ値が一定誤差範
囲で不一致となった場合の修正が、第１ライトパワーＷ
Ｐの発光ＤＡＣ値ｙ１を修正する点で相違する。
【０１３４】図２４のステップＳ１７で１回目の平均化
モニタＤＡＣ値が規定範囲内で目標値に一致した場合に
は、ステップＳ２１に進み、２回目のテストパワーの設
定を行う。２点目についてはイレーズパワー＝２ｍＷと
同じであるが、第１ライトパワーＷＰ１＝７ｍＷに増加
し、テストパワーは９ｍＷとしている。この２点目のテ
ストパワーについても同様にして、設定したそれぞれの
発光パワーの発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値を算出した
後、ステップＳ２２で２点目の第１ライトパワーの発光
調整処理を行う。
モニタＤＡＣ値が規定範囲内で目標値に一致した場合に
は、ステップＳ２１に進み、２回目のテストパワーの設
定を行う。２点目についてはイレーズパワー＝２ｍＷと
同じであるが、第１ライトパワーＷＰ１＝７ｍＷに増加
し、テストパワーは９ｍＷとしている。この２点目のテ
ストパワーについても同様にして、設定したそれぞれの
発光パワーの発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値を算出した
後、ステップＳ２２で２点目の第１ライトパワーの発光
調整処理を行う。
【０１３５】この２点目の第１ライトパワーの発光調整
処理は、図２３のステップＳ３から図２４のステップＳ
２０の処理と同じになる。ステップＳ２２の２点目の第
１ライトパワーの発光調整処理が終了したならば、ステ
ップＳ２３で、発光調整で得た第１ライトパワーに関す
る２点（ｘ１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２）の関係式から第
１ライトパワーの関係式 ｙ＝ａ２・ｘ＋ｂ２ の係数ａ２とｙ軸交点ｂ２を算出し、図９のＷＰ１発光
ＤＡＣテーブルを更新登録する。
処理は、図２３のステップＳ３から図２４のステップＳ
２０の処理と同じになる。ステップＳ２２の２点目の第
１ライトパワーの発光調整処理が終了したならば、ステ
ップＳ２３で、発光調整で得た第１ライトパワーに関す
る２点（ｘ１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２）の関係式から第
１ライトパワーの関係式 ｙ＝ａ２・ｘ＋ｂ２ の係数ａ２とｙ軸交点ｂ２を算出し、図９のＷＰ１発光
ＤＡＣテーブルを更新登録する。
【０１３６】図２５，図２６は、図２０のステップＳ５
の第２ライトパワーＷＰ２の発光微調整のフローチャー
トである。図２５において、第２ライトパワーの発光微
調整は、まずステップＳ１で第１ライトパワーの発光微
調整と同様、イレーズパワーＥＰの発光微調整で求めた
発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値の関係式をセットした後、
発光粗調整で求めた第２ライトパワーＷＰ２の発光ＤＡ
Ｃ値と差引ＤＡＣ値の関係式をセットする。
の第２ライトパワーＷＰ２の発光微調整のフローチャー
トである。図２５において、第２ライトパワーの発光微
調整は、まずステップＳ１で第１ライトパワーの発光微
調整と同様、イレーズパワーＥＰの発光微調整で求めた
発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値の関係式をセットした後、
発光粗調整で求めた第２ライトパワーＷＰ２の発光ＤＡ
Ｃ値と差引ＤＡＣ値の関係式をセットする。
【０１３７】続いてステップＳ２で、１点目のテストパ
ワーとして ＷＰ２＋ＥＰ＝３ｍＷ＋２ｍＷ＝５ｍＷ とし、それぞれの発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値を、ステ
ップＳ１でセットした関係式から算出し、ステップＳ３
〜ステップＳ２０により、１回目の第２ライトパワーの
発光微調整を行う。この１回目の第２ライトパワーの発
光微調整は、図２３，図２４の第１ライトパワー発光調
整と同じである。
ワーとして ＷＰ２＋ＥＰ＝３ｍＷ＋２ｍＷ＝５ｍＷ とし、それぞれの発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値を、ステ
ップＳ１でセットした関係式から算出し、ステップＳ３
〜ステップＳ２０により、１回目の第２ライトパワーの
発光微調整を行う。この１回目の第２ライトパワーの発
光微調整は、図２３，図２４の第１ライトパワー発光調
整と同じである。
【０１３８】図２６のステップＳ１７で１点目の第２ラ
イトパワーの発光調整で平均化モニタＤＡＣ値が目標値
に対する規定誤差範囲内で一致すると、ステップＳ２１
に進み、２点目のテストパワー９ｍＷを設定し、それぞ
れに対応した発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値を算出した
後、ステップＳ２２で２点目の第２ライトパワー発光調
整処理を実行する。
イトパワーの発光調整で平均化モニタＤＡＣ値が目標値
に対する規定誤差範囲内で一致すると、ステップＳ２１
に進み、２点目のテストパワー９ｍＷを設定し、それぞ
れに対応した発光ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値を算出した
後、ステップＳ２２で２点目の第２ライトパワー発光調
整処理を実行する。
【０１３９】そして最終的にステップＳ２３で、発光調
整で得た２点の関係式から第２ライトパワーＷＰ２の関
係式 ｙ＝ａ３・ｘ＋ｂ３ の係数ａ３とｙ軸交点ｂ３を算出し、図９のＷＰ２発光
ＤＡＣテーブル１９２に更新登録する。
整で得た２点の関係式から第２ライトパワーＷＰ２の関
係式 ｙ＝ａ３・ｘ＋ｂ３ の係数ａ３とｙ軸交点ｂ３を算出し、図９のＷＰ２発光
ＤＡＣテーブル１９２に更新登録する。
【０１４０】尚、ダイレクトオーバライト対応型の５４
０ＭＢ、６４０ＭＢカートリッジ媒体の場合には、図２
１乃至図２６におけるイレーズパワーＥＰを、アシスト
パワーＰＡに代替し発光微調整を行えばよい。図２１〜
図２６に示したイレーズパワー、第１ライトパワー及び
第２ライトパワーの発光微調整は、ステップＳ７でＩＤ
部の読取情報からトラック番号を認識し且つＩＤ読取情
報からＩＤ部の終了位置を認識して発光微調整を行って
いるが、本発明の別の実施形態として、ＩＤ部の終了検
出をＩＤ部に含まれているセクタマーク、アドレスマー
ク、更にはＩＤ部のＲＦ検出信号等を使用して検出する
こともできる。またテストゾーン範囲の判定も、ＩＤ部
の検出情報によらず、キャリッジの絶対位置を検出する
ために設けているキャリッジ位置センサ５６の検出信号
を使用してもよい。
０ＭＢ、６４０ＭＢカートリッジ媒体の場合には、図２
１乃至図２６におけるイレーズパワーＥＰを、アシスト
パワーＰＡに代替し発光微調整を行えばよい。図２１〜
図２６に示したイレーズパワー、第１ライトパワー及び
第２ライトパワーの発光微調整は、ステップＳ７でＩＤ
部の読取情報からトラック番号を認識し且つＩＤ読取情
報からＩＤ部の終了位置を認識して発光微調整を行って
いるが、本発明の別の実施形態として、ＩＤ部の終了検
出をＩＤ部に含まれているセクタマーク、アドレスマー
ク、更にはＩＤ部のＲＦ検出信号等を使用して検出する
こともできる。またテストゾーン範囲の判定も、ＩＤ部
の検出情報によらず、キャリッジの絶対位置を検出する
ために設けているキャリッジ位置センサ５６の検出信号
を使用してもよい。
【０１４１】図２７は図９に示した発光微調整処理部１
６４に対し設けている発光タイミング制御部１６８でＩ
Ｄ部の終了位置の検出のために得られるＩＤ検出情報を
示したブロック図である。図２７において、リードＬＳ
Ｉ回路２４はＭＯ／ＩＤ用ディテクタ３２からのＩＤ信
号及びＭＯ信号に基づき、リードクロック及びリードデ
ータを復調して光ディスクコントローラ１４に供給して
いる。光ディスクコントローラ１４は、ＩＤ部のリード
データからＩＤ部更新通知、サーボマーク検出通知、更
にはアドレスマーク検出通知をＭＰＵ１２に対し行う。
またリードＬＳＩ回路２４は、ＭＯ／ＩＤ用ディテクタ
３２から得られたＩＤの処理信号により、ＭＰＵ１２に
対しＩＤ−ＲＦ検出通知を行うことができる。
６４に対し設けている発光タイミング制御部１６８でＩ
Ｄ部の終了位置の検出のために得られるＩＤ検出情報を
示したブロック図である。図２７において、リードＬＳ
Ｉ回路２４はＭＯ／ＩＤ用ディテクタ３２からのＩＤ信
号及びＭＯ信号に基づき、リードクロック及びリードデ
ータを復調して光ディスクコントローラ１４に供給して
いる。光ディスクコントローラ１４は、ＩＤ部のリード
データからＩＤ部更新通知、サーボマーク検出通知、更
にはアドレスマーク検出通知をＭＰＵ１２に対し行う。
またリードＬＳＩ回路２４は、ＭＯ／ＩＤ用ディテクタ
３２から得られたＩＤの処理信号により、ＭＰＵ１２に
対しＩＤ−ＲＦ検出通知を行うことができる。
【０１４２】尚、光ディスクコントローラ１４及びリー
ドＬＳＩ回路２４に対しては、ＭＰＵ１２よりリードア
クセスのためのアドレスデータ例えばトラック番号とセ
クタ番号が与えられ、これに対応したＩＤ情報及びリー
ドデータが得られる。図２８は図２７のリードＬＳＩ回
路２４と光ディスクコントローラ１４のリード系統のブ
ロックである。リードＬＳＩ回路２４において、ディテ
クタ側からのＩＤ信号はＡＧＣ回路４００で増幅された
後、マルチプレクサ４０４に入力している。またＭＯ信
号もＡＧＣ回路４０２で増幅された後、マルチプレクサ
４０４に入力している。マルチプレクサ４０４は、ＩＤ
／ＭＯ切替信号によりＡＧＣ回路４００，４０２のいず
れか一方を選択して出力する。
ドＬＳＩ回路２４に対しては、ＭＰＵ１２よりリードア
クセスのためのアドレスデータ例えばトラック番号とセ
クタ番号が与えられ、これに対応したＩＤ情報及びリー
ドデータが得られる。図２８は図２７のリードＬＳＩ回
路２４と光ディスクコントローラ１４のリード系統のブ
ロックである。リードＬＳＩ回路２４において、ディテ
クタ側からのＩＤ信号はＡＧＣ回路４００で増幅された
後、マルチプレクサ４０４に入力している。またＭＯ信
号もＡＧＣ回路４０２で増幅された後、マルチプレクサ
４０４に入力している。マルチプレクサ４０４は、ＩＤ
／ＭＯ切替信号によりＡＧＣ回路４００，４０２のいず
れか一方を選択して出力する。
【０１４３】本発明によるＩＤ部終了位置の検出の際に
は、マルチプレクサ４０４はＡＧＣ回路４００側に切り
替えられ、ＩＤ信号を微分回路４０６に出力している。
微分回路４０６はＩＤ信号のピークをゼロクロスタイミ
ングで検出し、この検出パルスをＰＬＬ回路４０８に入
力し、ＩＤ部の期間についてはリードデータ信号を出力
する。またＰＬＬ回路４０８は、データ部の期間につい
てはＭＯ信号からリードデータを出力する。
は、マルチプレクサ４０４はＡＧＣ回路４００側に切り
替えられ、ＩＤ信号を微分回路４０６に出力している。
微分回路４０６はＩＤ信号のピークをゼロクロスタイミ
ングで検出し、この検出パルスをＰＬＬ回路４０８に入
力し、ＩＤ部の期間についてはリードデータ信号を出力
する。またＰＬＬ回路４０８は、データ部の期間につい
てはＭＯ信号からリードデータを出力する。
【０１４４】微分回路４０６の出力は更に微分回路４１
０に与えられており、２回微分した信号を比較回路４１
２で所定の閾値と比較することで、ＩＤ部に含まれてい
るセクタパルス信号を得ている。またＩＤ信号を入力し
たＡＧＣ回路４００の出力は比較回路４１４に与えられ
ており、所定の高周波成分でなるＩＤ信号を所定のスラ
イスレベルでカットすることで、ＩＤ信号の期間に亘り
オン状態となるＲＦ検出信号を得ることができる。
０に与えられており、２回微分した信号を比較回路４１
２で所定の閾値と比較することで、ＩＤ部に含まれてい
るセクタパルス信号を得ている。またＩＤ信号を入力し
たＡＧＣ回路４００の出力は比較回路４１４に与えられ
ており、所定の高周波成分でなるＩＤ信号を所定のスラ
イスレベルでカットすることで、ＩＤ信号の期間に亘り
オン状態となるＲＦ検出信号を得ることができる。
【０１４５】光ディスクコントローラ１４のリード系統
は、ＲＬＬデータ復調回路４１６、シンクバイト検出回
路４１８、アドレスマーク検出回路４２０、ＥＣＣ回路
４２２、ＣＲＣチェック回路４２４、ＩＤ検出回路４２
６及びセクタマーク検出回路４２８を備える。リードＬ
ＳＩ回路２４からのリードデータは、まずＲＬＬデータ
復調回路４１６で例えば１−７ＲＬＬ逆変換される。即
ち、光ディスクコントローラ１４のライト系統ではライ
トデータを例えば１−７ＲＬＬ変換していることから、
リード時には逆変換する。この場合、シンクバイト検出
回路４１８によるＩＤ部のシンクバイト検出及びアドレ
スマーク検出回路４２０のアドレスマーク検出の結果が
使用され、セクタ内のデータ部が認識される。
は、ＲＬＬデータ復調回路４１６、シンクバイト検出回
路４１８、アドレスマーク検出回路４２０、ＥＣＣ回路
４２２、ＣＲＣチェック回路４２４、ＩＤ検出回路４２
６及びセクタマーク検出回路４２８を備える。リードＬ
ＳＩ回路２４からのリードデータは、まずＲＬＬデータ
復調回路４１６で例えば１−７ＲＬＬ逆変換される。即
ち、光ディスクコントローラ１４のライト系統ではライ
トデータを例えば１−７ＲＬＬ変換していることから、
リード時には逆変換する。この場合、シンクバイト検出
回路４１８によるＩＤ部のシンクバイト検出及びアドレ
スマーク検出回路４２０のアドレスマーク検出の結果が
使用され、セクタ内のデータ部が認識される。
【０１４６】ＲＬＬデータ復調回路４１６の復調データ
はＥＣＣ回路４２２に与えられる。ここでライト系統
は、ライトデータからＥＣＣコードを生成した際に（ラ
イトデータ＋ＥＣＣコード）を対象にＣＲＣコードを生
成して付加している。このためＣＲＣチェック回路４２
４がリードデータのＣＲＣチェックを行ってＥＣＣ回路
４２２にチェック結果を伝え、ＣＲＣチェック・エラー
がなければＥＣＣ回路４２２はリードデータのエラー検
出訂正を行ってＮＲＺデータとして出力する。
はＥＣＣ回路４２２に与えられる。ここでライト系統
は、ライトデータからＥＣＣコードを生成した際に（ラ
イトデータ＋ＥＣＣコード）を対象にＣＲＣコードを生
成して付加している。このためＣＲＣチェック回路４２
４がリードデータのＣＲＣチェックを行ってＥＣＣ回路
４２２にチェック結果を伝え、ＣＲＣチェック・エラー
がなければＥＣＣ回路４２２はリードデータのエラー検
出訂正を行ってＮＲＺデータとして出力する。
【０１４７】このときＩＤ検出回路４２６はＩＤ部のリ
ードデータからＩＤ部を検出し、ＭＰＵ１２に対しＩＤ
部の終了タイミングでＩＤ検出の更新通知信号を出力す
る。またアドレスマーク検出回路４２０がＩＤ部のリー
ドデータに含まれるアドレスマークを検出し、アドレス
マーク検出信号をＭＰＵ１２に出力する。更にセクタマ
ーク検出回路４２８がＩＤ部の先頭位置にあるセクタマ
ークを検出し、セクタマーク検出信号をＭＰＵ１２に出
力している。
ードデータからＩＤ部を検出し、ＭＰＵ１２に対しＩＤ
部の終了タイミングでＩＤ検出の更新通知信号を出力す
る。またアドレスマーク検出回路４２０がＩＤ部のリー
ドデータに含まれるアドレスマークを検出し、アドレス
マーク検出信号をＭＰＵ１２に出力する。更にセクタマ
ーク検出回路４２８がＩＤ部の先頭位置にあるセクタマ
ークを検出し、セクタマーク検出信号をＭＰＵ１２に出
力している。
【０１４８】図２９のタイムチャートは発光微調整の際
のセクタ情報に対するＩＤ信号、ＲＦ検出信号、セクタ
マーク検出信号、第１アドレスマーク検出信号、第２ア
ドレスマーク検出信号及びＩＤ検出完了信号である。ま
ず図２９（Ａ）のセクタ情報にあっては、セクタ先頭の
ＩＤ部に、サーボマークＳＭ、ＶＦＯ、第１アドレスマ
ークＡＭ１、第１ＩＤ情報１、第２アドレスマークＡＭ
２及び第２ＩＤ情報２が記録されている。
のセクタ情報に対するＩＤ信号、ＲＦ検出信号、セクタ
マーク検出信号、第１アドレスマーク検出信号、第２ア
ドレスマーク検出信号及びＩＤ検出完了信号である。ま
ず図２９（Ａ）のセクタ情報にあっては、セクタ先頭の
ＩＤ部に、サーボマークＳＭ、ＶＦＯ、第１アドレスマ
ークＡＭ１、第１ＩＤ情報１、第２アドレスマークＡＭ
２及び第２ＩＤ情報２が記録されている。
【０１４９】このＩＤ部の記録情報はＰＷＭ記録媒体を
例にとっている。ＰＰＭ記録媒体の場合には、アドレス
マークが第１〜第３アドレスマークＡＭ１〜ＡＭ３の３
つとなる。このようなＩＤ部について、図２９（Ｄ）の
ように、ＩＤ部信号が記録ピットの間隔で決まる高周波
信号として得られる。図２９（Ｃ）のＲＦ検出信号は、
所定のスライスレベルを設定することによってＩＤ部の
間に亘ってオン状態となる。したがって、ＲＦ検出信号
がオンからオフに切り替わるタイミングでＩＤ部の終了
を検出することができる。
例にとっている。ＰＰＭ記録媒体の場合には、アドレス
マークが第１〜第３アドレスマークＡＭ１〜ＡＭ３の３
つとなる。このようなＩＤ部について、図２９（Ｄ）の
ように、ＩＤ部信号が記録ピットの間隔で決まる高周波
信号として得られる。図２９（Ｃ）のＲＦ検出信号は、
所定のスライスレベルを設定することによってＩＤ部の
間に亘ってオン状態となる。したがって、ＲＦ検出信号
がオンからオフに切り替わるタイミングでＩＤ部の終了
を検出することができる。
【０１５０】図２９（Ｄ）のセクタマーク検出信号は、
セクタマークの終了時点でオンする。図２９（Ｅ）の第
１アドレスマーク検出信号は、第１アドレスマークＡＭ
１の終了時点でオンする。図２９（Ｆ）の第２アドレス
マーク検出信号は、第２アドレスマークＡＭ２の終了時
点でオンする。ここで、セクタマーク検出信号、第１ア
ドレスマーク検出信号、第２アドレスマーク検出信号が
オンしてからセクタ情報のＩＤ部の終了時点までの時間
Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３は、予め定まっている。この時間Ｔ１
〜Ｔ３は、セクタ情報を読み取っているトラックの媒体
半径位置、ＩＤ部の円周方向の長さ、スピンドルモータ
による媒体の回転数により定まる時間となる。
セクタマークの終了時点でオンする。図２９（Ｅ）の第
１アドレスマーク検出信号は、第１アドレスマークＡＭ
１の終了時点でオンする。図２９（Ｆ）の第２アドレス
マーク検出信号は、第２アドレスマークＡＭ２の終了時
点でオンする。ここで、セクタマーク検出信号、第１ア
ドレスマーク検出信号、第２アドレスマーク検出信号が
オンしてからセクタ情報のＩＤ部の終了時点までの時間
Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３は、予め定まっている。この時間Ｔ１
〜Ｔ３は、セクタ情報を読み取っているトラックの媒体
半径位置、ＩＤ部の円周方向の長さ、スピンドルモータ
による媒体の回転数により定まる時間となる。
【０１５１】したがってＩＤ部の終了位置の検出につい
ては、セクタマーク検出信号、第１アドレスマーク検出
信号、第２アドレスマーク検出信号がオンしてから予め
定まった規定時間Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３の待ち時間を経過し
た時点で、図２９（Ｇ）のようにＩＤ検出完了信号をオ
ンすればよいことが分かる。もちろん図２９（Ｃ）のＲ
Ｆ検出信号については、オンからオフに切り替わったタ
イミングでＩＤ検出完了信号をオンすればよい。
ては、セクタマーク検出信号、第１アドレスマーク検出
信号、第２アドレスマーク検出信号がオンしてから予め
定まった規定時間Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３の待ち時間を経過し
た時点で、図２９（Ｇ）のようにＩＤ検出完了信号をオ
ンすればよいことが分かる。もちろん図２９（Ｃ）のＲ
Ｆ検出信号については、オンからオフに切り替わったタ
イミングでＩＤ検出完了信号をオンすればよい。
【０１５２】図３０はＩＤ部検出完了に図２９のセクタ
マーク検出信号とアドレスマーク検出信号を使用し、且
つテストゾーン範囲の判断に図３のキャリッジ位置セン
サ５６の検出信号を使用した場合の発光微調整のフロー
チャートである。この発光微調整のフローチャートは、
図２１，図２３，図２５のイレーズパワー，第１ライト
パワー及び第２ライトパワーの発光微調整におけるステ
ップＳ３とステップＳ１０の間の処理を破線で示す代替
ルーチン５００に置き換えることで、それぞれの発光微
調整が実現できる。
マーク検出信号とアドレスマーク検出信号を使用し、且
つテストゾーン範囲の判断に図３のキャリッジ位置セン
サ５６の検出信号を使用した場合の発光微調整のフロー
チャートである。この発光微調整のフローチャートは、
図２１，図２３，図２５のイレーズパワー，第１ライト
パワー及び第２ライトパワーの発光微調整におけるステ
ップＳ３とステップＳ１０の間の処理を破線で示す代替
ルーチン５００に置き換えることで、それぞれの発光微
調整が実現できる。
【０１５３】図３１の代替ルーチン５００において、ま
ずステップＳ１０１でＩＤ部の検出に使用するＩＤ検出
タイマ値を設定してスタートし、次のステップＳ１０２
でセクタマークの検出の有無をチェックしている。セク
タマークを検出するまでは、ステップＳ１０３でタイム
アウトをチェックしている。ステップＳ１０２で正常に
セクタマークが検出されると、ステップＳ１１０に進
み、キャリッジ位置センサの位置情報を読み取って、ス
テップＳ１１１でテストゾーン範囲内か否かチェックす
る。テストゾーン範囲内にあれば、ステップＳ１１３
で、この場合にはセクタマークの検出であることからセ
クタマーク検出時について予め定めた待ち時間Ｔ１の時
間待ちを行った後、ＩＤ部検出完了を認識してステップ
Ｓ１０以降の処理に進む。
ずステップＳ１０１でＩＤ部の検出に使用するＩＤ検出
タイマ値を設定してスタートし、次のステップＳ１０２
でセクタマークの検出の有無をチェックしている。セク
タマークを検出するまでは、ステップＳ１０３でタイム
アウトをチェックしている。ステップＳ１０２で正常に
セクタマークが検出されると、ステップＳ１１０に進
み、キャリッジ位置センサの位置情報を読み取って、ス
テップＳ１１１でテストゾーン範囲内か否かチェックす
る。テストゾーン範囲内にあれば、ステップＳ１１３
で、この場合にはセクタマークの検出であることからセ
クタマーク検出時について予め定めた待ち時間Ｔ１の時
間待ちを行った後、ＩＤ部検出完了を認識してステップ
Ｓ１０以降の処理に進む。
【０１５４】一方、ステップＳ１０２でセクタマークが
検出できずに、ステップＳ３でタイムアウトとなった場
合には、ステップＳ１０４で再度ＩＤ検出タイマ値を設
定してスタートした後、ステップＳ１０５で第１アドレ
スマークＡＭ１の検出をチェックする。第１アドレスマ
ークが正常に検出できると、ステップＳ１１０でキャリ
ッジ位置センサの位置情報を読み取って、ステップＳ１
１１でテストゾーンにあることを認識すると、ステップ
Ｓ１１３でデータ部先頭までの規定時間として、この場
合には第１アドレスマーク検出時の規定時間Ｔ２を待っ
た後、ＩＤ部の終了検出と判断して、ステップＳ１０以
降の処理に進む。
検出できずに、ステップＳ３でタイムアウトとなった場
合には、ステップＳ１０４で再度ＩＤ検出タイマ値を設
定してスタートした後、ステップＳ１０５で第１アドレ
スマークＡＭ１の検出をチェックする。第１アドレスマ
ークが正常に検出できると、ステップＳ１１０でキャリ
ッジ位置センサの位置情報を読み取って、ステップＳ１
１１でテストゾーンにあることを認識すると、ステップ
Ｓ１１３でデータ部先頭までの規定時間として、この場
合には第１アドレスマーク検出時の規定時間Ｔ２を待っ
た後、ＩＤ部の終了検出と判断して、ステップＳ１０以
降の処理に進む。
【０１５５】またステップＳ１０５で第１アドレスマー
クＡＭ１が検出できずに、ステップＳ１０６でタイムア
ウトとなった場合には、ステップＳ１０７でＩＤ検出タ
イマ値を再度設定してスタートした後、ステップＳ１０
８で第２アドレスマークＡＭ２を検出する。第２アドレ
スマークＡＭ２が検出できれば、ステップＳ１１０，Ｓ
１１１を介してステップＳ１１３に進み、第２アドレス
マーク検出時にはデータ部先頭までの規定時間Ｔ３を待
ってＩＤ部の終了を検出し、ステップＳ１０以降の処理
に進む。
クＡＭ１が検出できずに、ステップＳ１０６でタイムア
ウトとなった場合には、ステップＳ１０７でＩＤ検出タ
イマ値を再度設定してスタートした後、ステップＳ１０
８で第２アドレスマークＡＭ２を検出する。第２アドレ
スマークＡＭ２が検出できれば、ステップＳ１１０，Ｓ
１１１を介してステップＳ１１３に進み、第２アドレス
マーク検出時にはデータ部先頭までの規定時間Ｔ３を待
ってＩＤ部の終了を検出し、ステップＳ１０以降の処理
に進む。
【０１５６】ステップＳ１０８で第２アドレスマークが
検出できず、ステップＳ１０９でタイムアウトとなった
場合には、異常終了とする。また、ステップＳ１１１に
おけるキャリッジ位置センサの位置情報に基づきテスト
ゾーン範囲内か否かの判断でテストゾーン範囲を外れて
いた場合には、ステップＳ１１２に進んでテストゾーン
に対する再シークを行った後、ステップＳ１０１からの
処理を繰り返す。
検出できず、ステップＳ１０９でタイムアウトとなった
場合には、異常終了とする。また、ステップＳ１１１に
おけるキャリッジ位置センサの位置情報に基づきテスト
ゾーン範囲内か否かの判断でテストゾーン範囲を外れて
いた場合には、ステップＳ１１２に進んでテストゾーン
に対する再シークを行った後、ステップＳ１０１からの
処理を繰り返す。
【０１５７】図３１は本発明の発光微調整におけるＩＤ
部の終了位置を検出する他の実施形態のフローチャート
であり、図３１と同様、図２１，図２３，図２５のステ
ップＳ３〜Ｓ１０の間に置き変える代替ルーチン６００
として表している。この代替ルーチン６００にあって
は、まずステップＳ２０１でＩＤ検出タイマ値を設定し
てスタートし、ステップＳ２０２でＩＤ部のＲＦ検出を
チェックする。
部の終了位置を検出する他の実施形態のフローチャート
であり、図３１と同様、図２１，図２３，図２５のステ
ップＳ３〜Ｓ１０の間に置き変える代替ルーチン６００
として表している。この代替ルーチン６００にあって
は、まずステップＳ２０１でＩＤ検出タイマ値を設定し
てスタートし、ステップＳ２０２でＩＤ部のＲＦ検出を
チェックする。
【０１５８】ＩＤ部のＲＦ検出信号は図２９（Ｃ）のよ
うにＩＤ部の読取りでオンすることから、これによりＩ
Ｄ部のＲＦ検出を認識してステップＳ２０４に進み、キ
ャリッジ位置センサの位置情報を読み取って、ステップ
Ｓ２０５でテストゾーン範囲内であることを認識する
と、ステップＳ２０６でＲＦ検出終了まで待つ。ＩＤ部
が終了すると、図２９（Ｃ）のようにＲＦ検出信号はオ
ンからオフとなることでＲＦ検出終了を認識し、ステッ
プＳ１０以降の処理に進む。
うにＩＤ部の読取りでオンすることから、これによりＩ
Ｄ部のＲＦ検出を認識してステップＳ２０４に進み、キ
ャリッジ位置センサの位置情報を読み取って、ステップ
Ｓ２０５でテストゾーン範囲内であることを認識する
と、ステップＳ２０６でＲＦ検出終了まで待つ。ＩＤ部
が終了すると、図２９（Ｃ）のようにＲＦ検出信号はオ
ンからオフとなることでＲＦ検出終了を認識し、ステッ
プＳ１０以降の処理に進む。
【０１５９】またステップＳ２０２でＩＤ部のＲＦ検出
が行われずステップＳ２０３でタイムアウトとなれば、
異常終了とする。またステップＳ２０５でテストゾーン
範囲を外れていた場合にはステップＳ２０７に戻り、テ
ストゾーンへシークした後にステップＳ２０１からの処
理を繰り返す。更に、ＩＤ部の終了位置の検出の他の実
施形態として、図２９（Ｃ）（Ｄ）（Ｅ）（Ｆ）のＲＦ
検出信号、セクタマーク検出信号、第１，第２アドレス
マーク検出信号の１または複数の適宜の組合せ、複数の
検出信号のうちの特定のものが検出できなかった場合に
は、他の検出信号によりＩＤ部終了位置を検出すること
で冗長性を高め、確実にＩＤ部の終了位置を検出してデ
ータ部のみでの発光微調整のための発光駆動を行い、戻
り光の変動を受けずに正確な発光調整ができる。
が行われずステップＳ２０３でタイムアウトとなれば、
異常終了とする。またステップＳ２０５でテストゾーン
範囲を外れていた場合にはステップＳ２０７に戻り、テ
ストゾーンへシークした後にステップＳ２０１からの処
理を繰り返す。更に、ＩＤ部の終了位置の検出の他の実
施形態として、図２９（Ｃ）（Ｄ）（Ｅ）（Ｆ）のＲＦ
検出信号、セクタマーク検出信号、第１，第２アドレス
マーク検出信号の１または複数の適宜の組合せ、複数の
検出信号のうちの特定のものが検出できなかった場合に
は、他の検出信号によりＩＤ部終了位置を検出すること
で冗長性を高め、確実にＩＤ部の終了位置を検出してデ
ータ部のみでの発光微調整のための発光駆動を行い、戻
り光の変動を受けずに正確な発光調整ができる。
【０１６０】尚、本発明は、上記の実施形態に示した数
値による限定は受けない。また発光微調整の処理はＭＰ
Ｕによるプログラム制御で実現してもよいし、専用のフ
ァームウエアあるいはＤＳＰのプログラム制御で実現す
るようにしてもよい。
値による限定は受けない。また発光微調整の処理はＭＰ
Ｕによるプログラム制御で実現してもよいし、専用のフ
ァームウエアあるいはＤＳＰのプログラム制御で実現す
るようにしてもよい。
【０１６１】
【発明の効果】以上説明してきたように本発明によれ
ば、媒体のテストゾーンにシークした後のオントラック
制御を有効とした状態で、レーザダイオードの発光タイ
ミングに同期して自動発光パワー制御（ＡＰＣ）をホー
ルドさせながらレーザダイオードの発光パワーの微調整
を行う場合、テストパワーによる発光の際に現在位置が
テストゾーンの範囲内か否か判断し、テストゾーン範囲
外にある場合には再度テストゾーンの先頭にシークする
ことによって、オントラック状態で行う発光微調整の際
に誤ってユーザデータを破壊してしまうことを確実に防
止できる。
ば、媒体のテストゾーンにシークした後のオントラック
制御を有効とした状態で、レーザダイオードの発光タイ
ミングに同期して自動発光パワー制御（ＡＰＣ）をホー
ルドさせながらレーザダイオードの発光パワーの微調整
を行う場合、テストパワーによる発光の際に現在位置が
テストゾーンの範囲内か否か判断し、テストゾーン範囲
外にある場合には再度テストゾーンの先頭にシークする
ことによって、オントラック状態で行う発光微調整の際
に誤ってユーザデータを破壊してしまうことを確実に防
止できる。
【０１６２】またオントラック状態で行う発光微調整に
ついて、セクタのＩＤ部の終了を検出した時点、即ちデ
ータ部の先頭からレーザダイオードの発光駆動による発
光微調整を行うことによって、ＩＤ部での発光駆動によ
る戻り光の変動を測定して調整誤差を発生してしまう問
題を確実に防止でき、高精度の発光微調整を要求される
ＰＷＭ記録の高密度記録媒体に適合した高精度のレーザ
ダイオードによる発光パワーの制御を実現し、高密度記
録媒体の記録再生の信頼性を大幅に向上できる。
ついて、セクタのＩＤ部の終了を検出した時点、即ちデ
ータ部の先頭からレーザダイオードの発光駆動による発
光微調整を行うことによって、ＩＤ部での発光駆動によ
る戻り光の変動を測定して調整誤差を発生してしまう問
題を確実に防止でき、高精度の発光微調整を要求される
ＰＷＭ記録の高密度記録媒体に適合した高精度のレーザ
ダイオードによる発光パワーの制御を実現し、高密度記
録媒体の記録再生の信頼性を大幅に向上できる。
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明による光ディスクドライブのブロック図
【図３】ＭＯカートリッジをローディングした装置内部
構造の説明図
構造の説明図
【図４】図３のキャリッジとヘッド光学系の構造説明図
【図５】図４のヘッド光学系の説明図
【図６】図２のレーザダイオード制御回路のブロック図
【図７】ダイレクトオーバライト対応型の媒体を例にと
った本発明のＰＷＭ記録による信号、発光電流、差引電
流及びモニタ電流のタイムチャート
った本発明のＰＷＭ記録による信号、発光電流、差引電
流及びモニタ電流のタイムチャート
【図８】ダイレクトオーバライト対応型の媒体を例にと
った本発明のＰＰＭ記録における信号、発光電流、差引
電流及びモニタ電流のタイムチャート
った本発明のＰＰＭ記録における信号、発光電流、差引
電流及びモニタ電流のタイムチャート
【図９】本発明の発光微調整処理の機能ブロック図
【図１０】本発明の発光微調整で求める発光パワーとＤ
ＡＣ指示値の特性図
ＡＣ指示値の特性図
【図１１】図６のモニタ用ＡＤＣの調整による直線近似
の関係式の説明図
の関係式の説明図
【図１２】図６のイレーズ発光電流における直線近似の
関係式の説明図
関係式の説明図
【図１３】図６のイレーズ差引電流における直線近似の
関係式の説明図
関係式の説明図
【図１４】図６の発光粗調整処理部によるパワーテーブ
ル登録内容の説明図
ル登録内容の説明図
【図１５】媒体のゾーン名、半径位置及びトラック番号
の説明図
の説明図
【図１６】テストゾーンの検出に使用する図３のキャリ
ッジ位置センサの検出特性図
ッジ位置センサの検出特性図
【図１７】本発明による発光微調整のタイムチャート
【図１８】本発明の発光微調整が行われる媒体投入に伴
なう初期化処理のフローチャート
なう初期化処理のフローチャート
【図１９】本発明の発光微調整が行われるシークリトラ
イ処理のフローチャート
イ処理のフローチャート
【図２０】図１１の発光微調整処理のジェネリックフロ
ーチャート
ーチャート
【図２１】本発明によるイレーズパワー微調整のフロー
チャート
チャート
【図２２】本発明によるイレーズパワー微調整のフロー
チャート（続き）
チャート（続き）
【図２３】本発明による第１ライトパワー微調整のフロ
ーチャート
ーチャート
【図２４】本発明による第１ライトパワー微調整のフロ
ーチャート（続き）
ーチャート（続き）
【図２５】本発明による第２ライトパワー微調整のフロ
ーチャート
ーチャート
【図２６】本発明による第２ライトパワー微調整のフロ
ーチャート（続き）
ーチャート（続き）
【図２７】図９の発光タイミング制御部によるＩＤ終了
検出に必要な光ディスクドライブの生成情報を示した回
路ブロック図
検出に必要な光ディスクドライブの生成情報を示した回
路ブロック図
【図２８】図２７のリードＬＳＩ回路及び光ディスクコ
ントローラのリード系統のブロック図
ントローラのリード系統のブロック図
【図２９】図２８のリードＬＳＩ回路で検出されるＩＤ
部の検出情報のタイムチャート
部の検出情報のタイムチャート
【図３０】セクタマークとアドレスマークに基づいてＩ
Ｄ部終了を検出し且つテストゾーンをキャリッジ位置セ
ンサにより検出する処理ルーチンのフローチャート
Ｄ部終了を検出し且つテストゾーンをキャリッジ位置セ
ンサにより検出する処理ルーチンのフローチャート
【図３１】ＩＤ部のＲＦ検出信号に基づいてＩＤ部終了
を検出し且つテストゾーンをキャリッジ位置センサによ
り検出する処理ルーチンのフローチャート
を検出し且つテストゾーンをキャリッジ位置センサによ
り検出する処理ルーチンのフローチャート
【符号の説明】
１０：コントロールユニット
１１：エンクロージャ
１２：ＭＰＵ
１４：光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）
１４−１：フォーマッタ
１４−２：ＥＣＣ処理部
１６：ＤＳＰ
１７：上位インタフェース
１８：バッファメモリ
２０：ライトＬＳＩ回路
２１：エンコーダ
２２：レーザダイオード制御回路（ＬＤ制御回路）
２３：リードＬＳＩ回路
２５：リード復調回路
２６：デコーダ
３０：レーザダイオードユニット
３２：ＩＤ／ＭＯ用ディテクタ
３４：ヘッドアンプ
３６：温度センサ
３８，４２，５８，６２，６６：ドライバ
４０：スピンドルモータ
４４：電磁石
４５：ＦＥＳ用ディテクタ（４分割ディテクタ）
４６：ＦＥＳ検出回路
４７：ＴＥＳ用ディテクタ（２分割ディテクタ）
４８：ＴＥＳ検出回路
５０：ＴＺＣ検出回路
５４：レンズ位置センサ
５６：キャリッジ位置センサ（ＰＳＤ）
６０：フォーカスアクチュエータ
６４：レンズアクチュエータ
６５：ＶＣＭ（キャリッジアクチュエータ）
６６：ハウジング
６８：インレットドア
７０：ＭＯカートリッジ
７２：ＭＯ媒体
７６：キャリッジ
７８：固定光学系
８０：対物レンズ
１００：レーザダイオード（ＬＤ）
１０２：モニタ用ディテクタ（ＰＤ）
１０４：リードパワー電流源
１０６：イレーズパワー電流源
１０８：第１ライトパワー電流源
１１０：第２ライトパワー電流源
１１２：イレーズパワー差引電流源
１１４：第１ライトパワー差引電流源
１１６：第２ライトパワー差引電流源
１１８：モニタ電圧検出抵抗
１２０：目標ＤＡレジスタ（目標ＤＡＣレジスタ）
１２２：イレーズパワー電流レジスタ（ＥＰ電流ＤＡＣ
レジスタ） １２４：第１ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２６：第２ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ２電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２８：イレーズパワー差引ＤＡレジスタ（ＥＰ差引Ｄ
ＡＣレジスタ） １３０：第１ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ１差
引ＤＡＣレジスタ） １３２：第２ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ２差
引ＤＡＣレジスタ） １３４：モニタＡＤＣレジスタ 136,140,142,144,146,148,150 ：ＤＡコンバータ（ＤＡ
Ｃ） １３８：自動パワー制御部（ＡＰＣ） １５２：ＡＤコンバータ（ＡＤＣ） １５４：発光電流源回路 １５５：モニタパワー測定部 １５６：差引電流源回路 １６０：パワー設定処理部 １６２：発光粗調整状態部 １６４：発光微調整処理部 １６６：自動パワー制御ホールド部 １６８：発光タイミング制御部 １７０：テストゾーン確認部 １７２，１７４，１７５：レジスタ １８２：モニタＡＤＣ係数テーブル １８４：ＥＰ／ＰＡ発光ＤＡＣ係数テーブル １８６：ＥＰ／ＰＡ差引ＤＡＣ係数テーブル １８８：ＷＰ１発光ＤＡＣ係数テーブル １９０：ＷＰ１差引ＤＡＣ係数テーブル １９２：ＷＰ２発光ＤＡＣ係数テーブル １９４：ＷＰ２差引ＤＡＣ係数テーブル １９６：イレーズ／：アシストパワーテーブル １９８：第１ライトパワーテーブル ２００：第２ライトパワーテーブル ４００，４０２：ＡＧＣ回路 ４０４：マルチプレクサ ４０６，４１０：微分回路 ４０８：ＰＬＬ回路 ４１２，４１４：比較回路
レジスタ） １２４：第１ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２６：第２ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ２電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２８：イレーズパワー差引ＤＡレジスタ（ＥＰ差引Ｄ
ＡＣレジスタ） １３０：第１ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ１差
引ＤＡＣレジスタ） １３２：第２ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ２差
引ＤＡＣレジスタ） １３４：モニタＡＤＣレジスタ 136,140,142,144,146,148,150 ：ＤＡコンバータ（ＤＡ
Ｃ） １３８：自動パワー制御部（ＡＰＣ） １５２：ＡＤコンバータ（ＡＤＣ） １５４：発光電流源回路 １５５：モニタパワー測定部 １５６：差引電流源回路 １６０：パワー設定処理部 １６２：発光粗調整状態部 １６４：発光微調整処理部 １６６：自動パワー制御ホールド部 １６８：発光タイミング制御部 １７０：テストゾーン確認部 １７２，１７４，１７５：レジスタ １８２：モニタＡＤＣ係数テーブル １８４：ＥＰ／ＰＡ発光ＤＡＣ係数テーブル １８６：ＥＰ／ＰＡ差引ＤＡＣ係数テーブル １８８：ＷＰ１発光ＤＡＣ係数テーブル １９０：ＷＰ１差引ＤＡＣ係数テーブル １９２：ＷＰ２発光ＤＡＣ係数テーブル １９４：ＷＰ２差引ＤＡＣ係数テーブル １９６：イレーズ／：アシストパワーテーブル １９８：第１ライトパワーテーブル ２００：第２ライトパワーテーブル ４００，４０２：ＡＧＣ回路 ４０４：マルチプレクサ ４０６，４１０：微分回路 ４０８：ＰＬＬ回路 ４１２，４１４：比較回路
─────────────────────────────────────────────────────
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(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 7/00 - 7/125
G11B 11/10 - 11/105
Claims (25)
- 【請求項１】ビーム光を発光するレーザダイオードと、 複数のパワーに応じた駆動電流を前記レーザダイオード
に流す発光電流源回路と、 前記レーザダイオードの発光パワーを規定の目標パワー
に制御する自動パワー制御部と、 前記レーザダイオードのレーザ光を受光して測定パワー
を検出するためのモニタ用ディテクタと、 前記モニタ用ディテクタから得られたモニタ電流をパワ
ー測定値として読み込むモニタパワー測定部と、 所定のテストゾーンにシークした後、オントラック制御
を有効とした状態で予め定めたテストパワーでの発光を
前記発光電流源回路に順次指示して前記レーザダイオー
ドを発光駆動し、前記測定パワーが前記目標パワーとな
るように前記発光電流源回路の指示値を調整し、該調整
結果に基づき、任意の発光パワーに対する前記発光電流
源回路の指示値との関係を求める発光微調整処理部と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り前記自動パワー制
御部の制御をホールドさせる自動パワー制御ホールド部
と、 前記発光微調整処理部によるレーザダイオードの発光調
整開始時に現在位置が前記テストゾーンの範囲内か否か
判断し、テストゾーンの範囲内の場合に発光調整を起動
するテストゾーン確認部と、を備えたことを特徴とする
光学的記憶装置。 - 【請求項２】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
更に、前記モニタ用ディテクタの受光電流から発光パワ
ーと目標パワーの差に相当する規定の差引電流を差し引
いてモニタ電流に変換し、該モニタ電流を前記自動パワ
ー制御部に帰還させる差引電流源回路を設け、 前記モニタパワー測定部は、前記差引電流源回路から得
られたモニタ電流をパワー測定値として読み込み、 前記発光微調整処理部は、所定のテストゾーンにシーク
した後、オントラック制御を有効とした状態で予め定め
た少なくとも２点のテストパワーでの発光を前記発光電
流源回路に順次指示して前記レーザダイオードを発光駆
動すると共に、前記差引電流源回路に前記２点のテスト
パワーに対応する規定の差引電流を指示し、前記モニタ
パワー測定部の測定パワーが前記目標パワーとなるよう
に前記発光電流源回路の指示値を調整し、該調整結果に
基づき、任意の発光パワーに対する前記発光電流源回路
の指示値との関係を求めることを特徴とする光学的記憶
装置。 - 【請求項３】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、媒体トラックのＩＤ部を読
み取ることにより現在位置が前記トラックゾーンの範囲
内か否か判断することを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項４】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、位置センサにより媒体の径
方向に光ビームの結像位置を移動させるポジショナの絶
対位置を検出して現在位置が前記トラックゾーンの範囲
内か否か判断することを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項５】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、現在位置がテストゾーン範
囲外にある場合は、再度テストゾーンへシーク動作を行
わせることを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項６】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、現在位置が認識できない場
合は、前記レーザダイオードの発光調整を禁止すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項７】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、現在位置を認識する項目と
して、媒体トラックのＩＤ部の読取りと、位置センサに
より検出した対物レンズの光ビーム結像位置を媒体の径
方向に移動させるポジショナの絶対位置とを有し、該複
数の項目のいずれか１つを選択して現在位置を認識する
と共に、選択した項目では現在位置が認識できなかった
場合は、他の項目に切り替えて現在位置を認識すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項８】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光微調整処理部及びテストゾーン確認部は、媒体
カートリッジが挿入された直後のイニシャル動作でテス
トゾーンの確認を伴う前記レーザダイオードの発光微調
整を行うことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項９】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光微調整処理部及びテストゾーン確認部は、リト
ライ動作でテストゾーンの確認を伴う前記レーザダイオ
ードの発光微調整を行うことを特徴とする光学的記憶装
置。 - 【請求項１０】請求項１記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部及びテストゾーン確認部は、
上位装置からのコマンドが発行されていない状態の場
合、一定の時間間隔でテストゾーンの確認を伴う前記レ
ーザダイオードの発光微調整を行うことを特徴とする光
学的記憶装置。 - 【請求項１１】請求項１記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、 装置にローディングされた媒体がピットボジション変調
（ＰＰＭ）の記録媒体の場合、前記イレーズパワー及び
第１ライトパワーの各々を調整し、 装置にローディングされた媒体がパルス幅変調（ＰＷ
Ｍ）の記録媒体の場合、前記イレーズパワー、第１ライ
トパワー、及び第２ライトパワーの各々を調整すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１２】ビーム光を発光するレーザダイオード
と、 複数のパワーに応じた駆動電流を前記レーザダイオード
に流す発光電流源回路と、 前記レーザダイオードの発光パワーを規定の目標パワー
に制御する自動パワー制御部と、 前記レーザダイオードのレーザ光を受光して測定パワー
を検出するためのモニタ用ディテクタと、 前記モニタ用ディテクタから得られたモニタ電流をパワ
ー測定値として読み込むモニタパワー測定部と、 所定のテストゾーンにシークした後、オントラック制御
を有効とした状態で予め定めたテストパワーでの発光を
前記発光電流源回路に順次指示して前記レーザダイオー
ドを発光駆動し、前記測定パワーが前記目標パワーとな
るように前記発光電流源回路の指示値を調整し、該調整
結果に基づき、任意の発光パワーに対する前記発光電流
源回路の指示値との関係を求める発光微調整処理部と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り前記自動パワー制
御部の制御をホールドさせる自動パワー制御ホールド部
と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光調整する場合、オントラック制御しているトラックセ
クタの各々につき、ＩＤ部を避けてデータ部でのみ前記
レーザダイオードの発光調整を行わせる発光タイミング
制御部と、を設けたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１３】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、更に、前記モニタ用ディテクタの受光電流から発光
パワーと目標パワーの差に相当する規定の差引電流を差
し引いてモニタ電流に変換し、該モニタ電流を前記自動
パワー制御部に帰還させる差引電流源回路を設け、 前記モニタパワー測定部は、前記差引電流源回路から得
られたモニタ電流をパワー測定値として読み込み、 前記発光微調整処理部は、所定のテストゾーンにシーク
した後、オントラック制御を有効とした状態で予め定め
た少なくとも２点のテストパワーでの発光を前記発光電
流源回路に順次指示して前記レーザダイオードを発光駆
動すると共に、前記差引電流源回路に前記２点のテスト
パワーに対応する規定の差引電流を指示し、前記モニタ
パワー測定部の測定パワーが前記目標パワーとなるよう
に前記発光電流源回路の指示値を調整し、該調整結果に
基づき、任意の発光パワーに対する前記発光電流源回路
の指示値との関係を求めることを特徴とする光学的記憶
装置。 - 【請求項１４】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、ＩＤ検出の更新を通
知した時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の先頭である
と認識して前記レーザダイオードの発光調整を行わせる
ことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１５】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、前記ＩＤ部に含まれ
るセクタマークを検出してから規定時間経過した時点
で、ＩＤ部が終了してデータ部の先頭であると認識して
前記レーザダイオードの発光調整を行わせることを特徴
とする光学的記憶装置。 - 【請求項１６】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、前記ＩＤ部に含まれ
るアドレスマークを検出してから規定時間経過した時点
で、ＩＤ部が終了してデータ部の先頭であると認識して
前記レーザダイオードの発光調整を行わせることを特徴
とする光学的記憶装置。 - 【請求項１７】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、ＩＤ部の読取信号を
所定のスライスレベルと比較した出力が変動しなくなっ
た時点で、ＩＤ部が終了してデータ部の先頭であると認
識して前記レーザダイオードの発光調整を行わせること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１８】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、媒体種別で決まるデ
ータ部の物理的な長さ及びスピンドルモータによる媒体
回転数に基づいて定めた回数に従って、前記レーザダイ
オードをデータ部のタイミングで間欠的に発光駆動し、
発光期間毎に前記モニタ測定部でパワー測定を行うこと
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１９】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、前記ＩＤ部の終了を
認識できなかった場合は、前記レーザタイオードの発光
調整を禁止することを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項２０】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、前記ＩＤ部の終了を
判断する項目として、ＩＤ検出の更新時点、セクタマー
ク検出から所定時間の経過時点、アドレスマーク検出か
ら所定時間の経過時点、及びＩＤ信号を所定スライスレ
ベルと比較した信号が変動しなくなった時点を有し、該
複数の判断項目のいずれか１つを選択してＩＤ部の終了
を判断すると共に、選択した判断項目でＩＤ部の終了を
判断できなかった場合は、他の判断項目に切り替えてＩ
Ｄ部の終了を判断することを特徴とする光学的記憶装
置。 - 【請求項２１】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部及び発光タイミング制御部
は、媒体カートリッジが挿入された直後のイニシャル動
作で、ＩＤ部を避けてデータ部でのみ前記レーザダイオ
ードの発光微調整を行うことを特徴とする光学的記憶装
置。 - 【請求項２２】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部及び発光タイミング制御部
は、リトライ動作でＩＤ部を避けてデータ部でのみ前記
レーザダイオードの発光微調整を行うことを特徴とする
光学的記憶装置。 - 【請求項２３】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部及び発光タイミング制御部
は、上位装置からコマンドが発行されていない状態の場
合、一定時間間隔でＩＤ部を避けてデータ部でのみ前記
レーザダイオードの発光微調整を行うことを特徴とする
光学的記憶装置。 - 【請求項２４】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、 装置にローディングされた媒体がピットボジション変調
（ＰＰＭ）の記録媒体の場合、前記イレーズパワー及び
第１ライトパワーの各々を調整し、 装置にローディングされた媒体がパルス幅変調（ＰＷ
Ｍ）の記録媒体の場合、前記イレーズパワー、第１ライ
トパワー、及び第２ライトパワーの各々を調整すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項２５】ビーム光を発光するレーザダイオード
と、 複数のパワーに応じた駆動電流を前記レーザダイオード
に流す発光電流源回路と、 前記レーザダイオードの発光パワーを規定の目標パワー
に制御する自動パワー制御部と、 前記レーザダイオードのレーザ光の一部を受光して受光
電流を出力するモニタ用ディテクタと、 前記モニタ用ディテクタの受光電流から発光パワーと目
標パワーの差に相当する規定の差引電流を差し引いてモ
ニタ電流に変換し、該モニタ電流を前記自動パワー制御
部に帰還させる差引電流源回路と、 前記差引電流源回路から得られたモニタ電流をパワー測
定値として読み込むモニタパワー測定部と、 オントラック制御を有効とした状態で所定のテストゾー
ンにシークし、予め定めた２点のテストパワーでの発光
を順次指示して前記レーザダイオードを発光駆動すると
共に、前記差引電流源回路に前記２点のテストパワーに
対応する規定の差引電流を指示し、前記モニタパワー測
定部の測定パワーが前記目標パワーとなるように前記発
光電流源回路の指示値を調整し、該調整結果に基づき、
任意の発光パワーに対する前記発光電流源回路の指示値
との関係を求める発光微調整処理部と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り前記自動パワー制
御部の制御をホールドさせる自動パワー制御ホールド
と、 前記発光微調整処理部によるレーザダイオードの発光調
整開始時に現在位置が前記テストゾーンの範囲内か否か
判断し、テストゾーンの範囲内の場合に発光調整を起動
するテストゾーン確認部と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光調整する場合、オントラック制御しているトラックセ
クタの各々につき、ＩＤ部を避けてデータ部でのみ前記
レーザダイオードの発光調整を行わせる発光タイミング
制御部と、を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
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| JP3768415B2 (ja) * | 2001-05-30 | 2006-04-19 | 富士通株式会社 | 書き込み／消去方法及び記憶装置 |
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