JPH1173668A - 光学的記憶装置 - Google Patents
光学的記憶装置Info
- Publication number
- JPH1173668A JPH1173668A JP9232159A JP23215997A JPH1173668A JP H1173668 A JPH1173668 A JP H1173668A JP 9232159 A JP9232159 A JP 9232159A JP 23215997 A JP23215997 A JP 23215997A JP H1173668 A JPH1173668 A JP H1173668A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power
- light emission
- laser diode
- light
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10595—Control of operating function
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10502—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing characterised by the transducing operation to be executed
- G11B11/10504—Recording
- G11B11/10506—Recording by modulating only the light beam of the transducer
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
することを防止し、媒体戻り光に変動があっても調整誤
差を起すことなく正確に発光調整する。 【解決手段】発光微調整処理部164は、オントラック
状態でテストゾーンにシークし、2点のテストパワーを
発光電流源回路152に順次指示してレーザダイオード
100を発光し、同時に差引電流源回路156に2点の
テストパワーの差引電流を指示し、モニタパワー測定部
154の測定パワーが指示テストパワーとなるように指
示値を調整する。自動パワー制御ホールド部166は、
レーザダイオード100の発光時に自動パワー制御部1
38をホールドさせる。テストゾーン確認部170は、
現在位置がテストゾーンの範囲内の場合に発光調整を起
動し、テストゾーン範囲外にある場合のユーザデータの
破壊を防止する。発光タイミング制御部168はセクタ
のID部を避けてデータ部のみで発光させる。
Description
等のリムーバブルな媒体を用いた光学的記憶装置に関
し、特に、媒体ローディング時にレーザダイオードの発
光パワーを効率的に最適パワーに調整する光学的記憶装
置に関する。
チメディアの中核となる記憶媒体として注目されてお
り、例えば3.5インチのMOカートリッジを見ると、
旧来の128MBや230MBに加え、近年にあって
は、540MBや640MBといった高密度記録の媒体
も提供されている。
定して行うためにレーザダイオードの発光パワーを、そ
の時の温度、媒体種別、媒体上の位置(ゾーン)等によ
って適切に設定することが重要である。一般的に高温の
場合は必要とする発光パワーは低くなり、低温では高く
なる。媒体種別は、ピットポジション変調(PPM)に
より記録した128MB媒体及び230MB媒体と、記
録密度を高めるためにパルス幅変調(PWM)により記
録した540MB媒体及び640BM媒体とに分けられ
る。
ワー及び記録パワーの3段階で発光パワーを変化させ
る。これに対しPWM記録では、リードパワー、イレー
ズパワー、第1ライトパワー、及び第2ライトパワーの
4段階に発光パワーを変化させる必要がある。またダイ
レクトオーバライト対応型の媒体のPWM記録の場合
は、イレーズがないため、リードパワー、アシストパワ
ー、第1ライトパワー、及び第2ライトパワーの4段階
に発光パワーを変化させる必要がある。更に、媒体上の
位置では、内周よりも外周の方が発光パワーを必要とす
る。このように光ディスク装置では、状況に応じて最適
な発光パワーを設定する必要がある。
ーラで発光パワーの指示データをDAコンバータに入力
してアナログ信号に変換し、このアナログ信号により電
流源を制御してレーザダイオードに駆動電流を流して発
光させている。この場合、コントローラで指示した最適
な発光パワーと実際に発光したレーザダイオードの発光
パワーとが一致することが重要となる。
時に、DAコンバータに対する発光指示データとなるD
AC指示値と、これに基づくレーザダイオードの発光パ
ワーとの関係を正確に設定する発光調整を行っている。
このレーザダイオードの発光調整には、発光粗調整と発
光微調整がある。発光粗調整は、フォーカスサーボ及び
トラックサーボをオフした状態で、ADC指示値をDA
コンバータにセットしてレーザダイオードを発光駆動
し、そのモニタ光をADコンバータで測定し、測定パワ
ーが指示パワーに一致するようにDAC指示値を調整す
る。この場合、測定するモニタ光には媒体からの戻り光
がなく、実際のリード、ライトとは異なる静的な調整と
なる。
ボ及びトラックサーボをオンしたオントラック制御状
態、即ち実際のリード、ライトと同じモニタ光が媒体戻
り光を含む状態とする。そして、粗調整で得られた発光
パワーとDAC指示値との関係に基づき、最適パワーに
対応するDAC指示値をDAコンバータにセットしてレ
ーザダイオードを発光駆動し、媒体戻り光を含むモニタ
光を測定し、測定パワーが指示発光パワーに一致するよ
うにDAC値を調整し、発光パワーとDAC指示値の関
係を正確に調整する。
トラック制御状態で行うレーザダイオードの発光微調整
にあっては、レーザダイオードをライトパワー及びイレ
ーズパワーで発光駆動するため、既存の記録データを破
壊することになる。このため発光微調整はユーザデータ
が記録されていない例えば最インナの非ユーザ領域のテ
ストゾーンを使用する。即ち、発光微調整を開始する際
にキャリッジをテストゾーンにシークし、テストゾーン
へのシーク完了を確認してレーザダイオードの発光調整
を行っている。
るPWM記録媒体にあっては、イレーズパワー、第1ラ
イトパワー、及び第2ライトパワーの各々について、ス
パイラル状のトラックに対しオントラック状態を維持し
ながら順番に発光調整を行っていく。またイレーズを必
要としないダイレクトオーバライト対応型のPWM記録
媒体にあっては、アシストパワーに加算される第1ライ
トパワーと、アシストパワーに加算される第2ライトパ
ワーの各々について、スパイラル状のトラックに対しオ
ントラック状態を維持しながら順番に発光調整を行って
いく。
ックにシークして発光調整を開始したような場合、テス
トゾーンの残りトラック数が不足しており、発光調整中
にテストゾーンを超えてライト発光し、システム領域に
配置したコントロールトラックやユーザゾーンのデータ
を破壊してしまう恐れがあった。また従来の発光微調整
にあっては、テストゾーンでオントラック状態に制御し
てレーザダイオードを発光駆動しているが、実際にテス
トデータの書込み等は行わないことから、ID部とデー
タ部で構成されるトラックのセクタ構造は特に意識せず
に発光調整を行っている。
ワーに対応するDAC指示値をDAコンバータにセット
してレーザダイオードを発光駆動した場合、DAC指示
値が一定であっても、ADコンバータで測定しているモ
ニタ光の測定パワーが部分的に変動する現象が見られ、
調整誤差を生ずる問題があった。本発明は、このような
従来の問題点に鑑みてなされたもので、オントラック制
御状態での発光調整中にテストゾーンを超えてライト発
光して必要データを破壊してしまうことを防止するよう
にした光学的記憶装置を提供することを目的とする。
でモニタ光の測定パワーに変動があっても、調整誤差を
起すことなく正確に発光調整できるようにした光学的記
憶装置を提供することを目的とする。
図である。まず本発明の光学的記憶装置は、ビーム光を
発光するレーザダイオード100と、複数のパワーに応
じた駆動電流をレーザダイオード100に流す発光電流
源回路152と、レーザダイオード100の発光パワー
を規定の目標パワーに制御する自動パワー制御部(AP
C)138と、レーザダイオード100のレーザ光を受
光して測定パワーを検出するためのモニタ用ディテクタ
102と、モニタ用ディテクタ102から得られたモニ
タ電流をパワー測定値として読み込むモニタパワー測定
部154とを備える。
にあっては、発光微調整処理部164、自動パワー制御
ホールド部166及びテストゾーン確認部170を設け
る。発光微調整処理部164は、所定のテストゾーンに
シークした後、オントラック制御を有効とした状態で予
め定めたテストパワーでの発光を発光電流源回路152
に順次指示してレーザダイオード100を発光駆動し、
測定パワーが目標パワーとなるように発光電流源回路1
52の指示値を調整し、この調整結果に基づき、任意の
発光パワーxに対する発光電流源回路の指示値yとの関
係を求める。例えば任意の発光パワーxに対する発光電
流源回路の指示値yとの関係を直線近似により求めて初
期設定したパワーテーブルを補正する。
微調整処理部164によりレーザダイオード100を発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り自動パワー制御部
138の制御をホールドさせる。このためレーザダイオ
ード100の発光中は自動パワー発光制御が行われず、
戻り光による発光パワーの誤差を正確に測定し、この誤
差をなくすように発光電流源回路に対する指示値を調整
できる。
処理部164によるレーザダイオード100の発光調整
開始時に現在位置がテストゾーンの範囲内か否か判断
し、テストゾーンの範囲内の場合に発光調整を起動す
る。このように発光調整中に媒体上の現在位置の確認を
随時行い、テストゾーン範囲外にある場合は、再度テス
トゾーン先頭へシークすることによって、ユーザデータ
の破壊を防止する。
差引電流源回路156が設けられ、モニタ用ディタクタ
102の受光電流から発光パワーと目標パワーの差に相
当する規定の差引電流を差し引いてモニタ電流に変換
し、モニタ電流を前記自動パワー制御部に帰還させる。
この場合、モニタパワー測定部155は、差引電流源回
路156から得られたモニタ電流をパワー測定値として
読み込みむ。また発光微調整処理部164は、所定のテ
ストゾーンにシークした後、オントラック制御を有効と
した状態で予め定めた少なくとも2点のテストパワーで
の発光を発光電流源回路154に順次指示してレーザダ
イオード100を発光駆動すると共に、差引電流源回路
156に2点のテストパワーに対応する規定の差引電流
を指示し、モニタパワー測定部155の測定パワーが目
標パワーとなるように発光電流源回路154の指示値を
調整し、この調整結果に基づき、任意の発光パワーに対
する発光電流源回路154の指示値との関係を求める。
クのID部を読み取ることにより現在位置がトラックゾ
ーンの範囲内か否か判断する。またテストゾーン確認部
170は、媒体の径方向に光ビームの結像位置を移動さ
せるポジショナ(VCMキャリッジ)の絶対位置を位置
センサにより検出して現在位置がトラックゾーンの範囲
内か否か判断してもよい。
テストゾーン範囲外にある場合は、再度テストゾーンへ
シーク動作を行わせる。またテストゾーン確認部170
は、現在位置が認識できない場合は、レーザダイオード
100の発光調整を禁止する。テストゾーン確認部17
0は、現在位置を認識する項目として、媒体トラックの
ID部の読取りと、位置センサで検出した対物レンズの
光ビーム結像位置を媒体の径方向に移動させるポジショ
ナの絶対位置を有し、複数の項目のいずれか1つを選択
して現在位置を認識すると共に、選択した項目では現在
位置が認識できなかった場合は、他の項目に切り替えて
現在位置を認識することが望ましい。
確認部170は、媒体カートリッジが挿入された直後の
イニシャル動作でテストゾーンの確認を伴うレーザダイ
オード100の発光微調整を行う。また発光微調整処理
部164及びテストゾーン確認部170は、リトライ動
作でテストゾーンの確認を伴うレーザダイオード100
の発光微調整を行う。
ゾーン確認部170は、上位装置からのコマンドが発行
されていない状態の場合、一定の時間間隔でテストゾー
ンの確認を伴うレーザダイオード100の発光微調整を
行う。発光微調整処理部164は、装置にローディング
された媒体がピットボジション変調(PPM)の記録媒
体の場合、イレーズパワーEP及び第1ライトパワーW
P1の各々を調整する。また装置にローディングされた
媒体がパルス幅変調(PWM)の記録媒体の場合、イレ
ーズパワーEP、第1ライトパワーWP1、及び第2ラ
イトパワーWP2の各々を調整する。
態にあっては、発光微調整処理部164及び自動パワー
制御ホールド部166に加え、発光タイミング制御部1
68を設ける。発光タイミング制御部168は、発光微
調整処理部164によりレーザダイオード100を発光
調整する場合、オントラック制御しているトラックセク
タの各々につき、ID部を避けてデータ部でのみレーザ
ダイオード100の発光調整を行わせる。
ズやライトの発光パワーに対応する指示値を発光電流源
回路152にセットしてレーザダイオード100を発光
駆動した場合、指示値が一定であっても、モニタパワー
測定部154で測定しているモニタ光の測定パワーが部
分的に変動する現象が見られ、調整誤差を生ずる。本願
発明者が原因を究明したところ、オントラック制御状態
でのモニタ用ディテクタ102に対する媒体からの戻り
光が、トラックセクタのID部とデータ部とで相違する
ことが判った。
記録されており、これに対しデータ部は光磁気によるピ
ット記録で物理的には鏡面となっている。このためID
部からの戻り光は物理ピットの凹凸の影響を受けて変動
を起しており、これが調整誤差の原因となっていること
が判明した。従来の123MB媒体や230MB媒体の
発光微調整では、調整誤差があっても、実際のリード、
ライトに影響がなく、無視することができた。しかし、
540MB媒体や640MB媒体のPWM記録を行うた
めの発光微調整にあっては、ID部の戻り光の変動によ
る調整誤差がリード、ライトに大きく影響し、エラーレ
ートを悪化させる原因の1つとなっており、調整誤差の
原因となっていたID部での調整発光を回避してデータ
部においてのみ調整発光することで、調整誤差の発生が
防止できる。
の更新を検出した時点で、ID部が終了してデータ部の
先頭であると認識してレーザダイオード100の発光調
整を行わせる。また発光タイミング制御部168は、I
D部に含まれるセクタマークSMを検出してから規定時
間経過した時点で、ID部が終了してデータ部の先頭で
あると認識してレーザダイオード100の発光調整を行
わせる。
D部に含まれるアドレスマークを検出してから規定時間
経過した時点で、ID部が終了してデータ部の先頭であ
ると認識してレーザダイオード100の発光調整を行わ
せる。更に又、発光タイミング制御部168は、ID部
の読取信号を所定のスライスレベルと比較した出力が変
動しなくなった時点で、ID部が終了してデータ部の先
頭であると認識してレーザダイオード100の発光調整
を行わせてもよい。
で決まるデータ部の物理的な長さ及びスピンドルモータ
による媒体回転数に基づいて定めた回数に従って、レー
ザタイオード100をデータ部のタイミングで間欠的に
発光駆動し、発光期間毎にモニタパワー測定部154で
パワー測定を行う。発光タイミング制御部168は、I
D部の終了を認識できなかった場合は、レーザタイオー
ド100の発光調整を禁止する。
終了を判断する項目として、ID情報の更新時点、セク
タマーク検出から所定時間の経過時点、アドレスマーク
検出から所定時間の経過時点、及びID信号を所定スラ
イスレベルと比較した信号が変動しなくなった時点を有
し、これら複数の判断項目のいずれか1つを選択してI
D部の終了を判断すると共に、選択した判断項目でID
部の終了を判断できなかった場合は、他の判断項目に切
り替えて判断するようにしてもよい。
グ制御部168によるID部を避けてデータ部でのみレ
ーザダイオード100の発光微調整を行うタイミングと
しては、媒体カートリッジが挿入された直後のイニシャ
ル動作時、リトライ動作時、及び上位装置からコマンド
が発行されていない状態の場合で一定時間間隔とする。
調整処理部164及び自動パワー制御ホールド部166
に加え、発光タイミング制御部168及びテストゾーン
確認部170を設けるようにしてもよい。
ブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライ
ブは、コントロールユニット10とエンクロージャ11
で構成される。コントロールユニット10には光ディス
クドライブの全体的な制御を行うMPU12、上位装置
との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフ
ェース17、光ディスク媒体に対するデータのリード・
ライトに必要な処理を行う光ディスクコントローラ(O
DC)14、DSP16、及びバッファメモリ18が設
けられる。
アクセスで媒体の記録フォーマットを生成するフォーマ
ッタ14−1と、ライトデータからECCを生成しリー
ドデータにつきエラー検出訂正を行うECC部14−2
としての機能が設けられる。またバッファメモリ18
は、MPU12、光ディスクコントローラ14、及び上
位インタフェース17で共用される。
イトLSI回路20が設けられ、ライトLSI回路20
にはエンコーダ21とレーザダイオード制御回路22が
設けられる。レーザダイオード制御回路22の制御出力
は、エンクロージャ11側の光学ユニットに設けたレー
ザダイオードユニット30に与えられている。レーザダ
イオードユニット30はレーザダイオード100とモニ
タ用ディテクタ102を一体に備える。エンコーダ21
は、ライトデータをPPM記録またはPWM記録のでデ
ータ形式に変換する。
記録再生を行う光ディスク、即ち書替え可能なMOカー
トリッジ媒体として、この実施形態にあっては、イレー
ズを必要とする128MB、230MB、540MB、
640MBのMOカートリッジ媒体、更には、イレーズ
を必要としないダイレクトオーバライト対応型のカート
リッジ媒体のいずれかを使用することができる。
カートリッジ媒体については、媒体上のマークの有無に
対応してデータを記録するピットポジション記録(PP
M記録)を採用している。また媒体の記録フォーマット
はZCAVであり、128MBは1ゾーン、230MB
は10ゾーンである。また、高密度記録となる540M
B及び640MBのMOカートリッジ媒体については、
マークのエッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させるパ
ルス幅記録(PWM記録)を採用している。このPWM
記録は、マーク記録又はエッジ記録とも呼ばれる。
量の差はセクタ容量の違いによるもので、セクタ容量が
2048Byte のとき640MBとなり、一方、512
Byte のときは540MBとなる。また媒体の記録フォ
ーマットはゾーンCAV方式であり、640MBは11
ゾーン、540MBは18ゾーンである。このように本
発明の光ディスクドライブは、128MB、230M
B、540MBまたは640MBの各記憶容量のMOカ
ートリッジ媒体に対応可能である。したがって光ディス
クドライブにMOカートリッジをローディングした際に
は、まず媒体のID部をリードし、そのピット間隔から
MPU12において媒体の種別を認識し、種別結果を光
ディスクドライブ14のフォーマッタ14−1に通知す
ることで、128MBまたは230MB媒体であればP
PM記録に対応したフォーマッタ処理を行い、540M
Bまたは640MB媒体であれば、PWM記録に従った
フォーマッタ処理を行い、またECC処理部でライトデ
ータからECCコードを生成して付加する。そしてライ
トLSI回路20のエンコーダ21でPPM記録データ
又はPWM記録データへの変換を行い、レーザダイオー
ド制御回路22による発光駆動で媒体に書き込む。
統としては、リードLSI回路24が設けられ、リード
LSI回路24にはリード復調回路25とデコーダ26
が内蔵される。リードLSI回路24に対しては、エン
クロージャ11に設けたID/MO用ディテクタ32に
よるレーザダイオード30からのビームの戻り光の受光
信号が、ヘッドアンプ34を介してID信号及びMO信
号として入力されている。
5には、AGC回路、フィルタ、セクタマーク検出回
路、シンセサイザ及びPLL等の回路機能が設けられ、
入力したID信号及びMO信号よりリードクロックとリ
ードデータを作成し、デコーダ26に出力してPPMデ
ータまたはPWMデータを元のNRZデータに復調して
いる。またスピンドルモータ40の制御として角速度一
定制御(CAV制御)を採用していることから、MPU
12からリードLSI回路24に内蔵したシンセサイザ
に対しゾーン対応のクロック周波数の切替制御が行われ
ている。
してエンクロージャ11側に設けた温度センサ36の検
出信号が与えられている。MPU12は、温度センサ3
6で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイ
オード制御回路22におけるリード、ライト、イレーズ
の各発光パワーを最適値に制御する。MPU12は、D
SP16を経由してドライバ38によりエンクロージャ
11側に設けたスピンドルモータ40を制御する。MO
カートリッジの記録フォーマットはゾーンCAVである
ことから、スピンドルモータ40を例えば3600rp
mの一定速度で回転させる。
ドライバ42によりエンクロージャ11側に設けた電磁
石44を制御する。電磁石44は装置内にローディング
されたMOカートリッジのビーム照射側と反対側に配置
されており、記録時及び消去時に媒体に外部磁界を供給
する。DSP16は、媒体に対しレーザダイオード30
からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能を実現
する。このため、エンクロージャ12側の光学ユニット
に媒体からのビーム戻り光を受光するFES用ディテク
タ45を設け、FES検出回路(フォーカスエラー信号
検出回路)46が、FES用ディテクタ45の受光出力
からフォーカスエラー信号E1を作成してDSP16に
入力している。
に媒体からのビーム戻り光を受光するTES用ディテク
タ47を設け、TES検出回路(トラッキングエラー信
号検出回路)48がTES用ディテクタ47の受光出力
からトラッキングエラー信号E2を作成し、DSP16
に入力している。トラッキングエラー信号E2はTZC
検出回路(トラックゼロクロス検出回路)50に入力さ
れ、トラックゼロクロスパルスE3を作成してDSP1
5に入力している。
ーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検出す
るレンズ位置センサ52が設けられ、そのレンズ位置検
出信号(LPOS)E4をDSP16に入力している。
またエンクロージャ11側には、対物レンズを搭載した
可動光学系系を媒体の半径方向に移動するキャリッジの
絶対位置を検出するキャリッジ位置センサ56が設けら
れ、そのキャリッジ位置検出信号E5をDSP16に入
力している。
リッジ側に発光素子を搭載すると共にライン状の受光部
を固定し、スポット光の受光位置に応じた差電流を位置
検出信号として出力するPSD(位置センシング・デバ
イス)を使用する。更にDSP16は、媒体上のビーム
スポットの位置を制御するため、ドライバ58,62,
66を介してフォーカスアクチュエータ60、レンズア
クチュエータ64及びVCM68を制御駆動している。
ロージャ11の概略は図3のようになる。図3におい
て、ハウジング66内にはスピンドルモータ40が設け
られ、スピンドルモータ40の回転軸のハブに対しイン
レットドア68側よりMOカートリッジ70を挿入する
ことで、内部のMO媒体72がスピンドルモータ40の
回転軸のハブに装着されるローディングが行われる。
のMO媒体72の下側には、VCM64により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ76が設けら
れている。キャリッジ76の位置は、絶対位置としてキ
ャリッジ位置センサ56により検出することができる。
キャリッジ76上には対物レンズ80が搭載され、固定
光学系78に設けているレーザダイオードからのビーム
をプリズム82を介して入射し、MO媒体72の媒体面
にビームスポットを結像している。
1に示したフォーカスアクチュエータ60により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ64によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ76
に搭載している対物レンズ80の位置が、図2のレンズ
位置センサ54により検出される。
光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号を零
とし、アウタ側への移動とインナ側への移動に対しそれ
ぞれ異なった極性の移動量に応じたレンズ位置検出信号
E4を出力する。図4は図3のキャリッジとヘッド光学
系の具体例である。固定光学系78は、図示しない装置
のフレームに固定され、固定光学系78の前方にはガイ
ドレール275−1,275−2に沿って移動自在なキ
ャリッジ76が設けられる。キャリッジ76の両側に
は、前後に開口した箱型のキャリッジ駆動コイル216
−1,216−2が設けられる。
−2は、装置フレームに固定された一対のマグネットユ
ニット274−1,274−2に嵌め込まれている。キ
ャリッジ駆動コイル216−1,216−2とマグネッ
トユニット274−1,274−2によって、ボイスコ
イルモータを構成している。キャリッジ76上には、対
物レンズ80を備えた光ヘッド可動部218が搭載され
ている。光ヘッド可動部218は、ビーム入出射口27
7を有し、固定光学系78との間で光ビームの入出射を
行っている。キャリッジ76に搭載された光ヘッド可動
部218は、その対物レンズ80を一部破断して示す光
ディスク72の下側の媒体面の半径方向にビームスポッ
トを移動させる。
00、モニタ用ディテクタ102、ID/MO用ディテ
クタ32、FES用ディクタ45及びTES用ディテク
タ47が装着されている。図5は図4の固定光学系78
の詳細である。この光学系には、往路および復路の2つ
の光学系が存在する。まず往路光学系を説明する。レー
ザダイオード100から出射される発散したレーザ光
は、コリメータレンズ302で平行光に変換される。コ
リメータレンズ302後の平行光は、ビームスプリッタ
304を透過し、対物レンズ80に入射する。
され、ディスク媒体72上でビームスポットを形成す
る。ディスク媒体72は、基板72−1上にMO層72
−2を設け、円周方向の溝72−3によって磁化反転ピ
ット84を形成している。次に復路光学系を説明する。
ディスク媒体72から反射されたビーム光は、往路と同
じ対物レンズ80、ビームスプリッタ304の経路を逆
にたどり、ビームスプリッタ304で反射され、ビーム
スプリッタ306に入射する。ビームスプリッタ306
は、入射したビーム光を検出レンズ308への透過光
と、ウォラストンユニット310への反射光に分割す
る。
は、偏向成分に応じて更に分割され、ID/MO用ディ
テクタ(2分割ディテクタ)32に入射する。ID/M
O用ディテクタ32は、受光部32−1,32−2を有
する。受光部32−1,32−2の受光信号M1,M2
は、オペアンプ322,324に入力され、MO信号と
ID信号を出力する。即ち、MO=ID=M2−M1と
なる。
08への透過光は、フーコユニット314で分割され、
TES用ディテクタ(2分割ディテクタ)47とFES
用ディテクタ(4分割ディテクタ)45に入射する。T
ES用ディテクタ47は、受光部47−1,47−2を
有し、受光信号T1,T2を出力する。受光部47−
1,47−2の受光信号T1,T2は、オペアンプ32
6に入力され、TES=T1−T2となるTES信号を
出力する。
交差プリズム320によって更に分割され、FES用デ
ィテクタ45に入射する。FES用ディテクタ45は、
4分割した受光部45−1,45−2,45−3,45
−4を有し、受光信号P1〜P4を出力する。受光部4
5−1〜45−4の受光信号P1〜P4は、オペアンプ
328に加算入力され、FES信号を出力する。即ち、 FES=(P1+P3)−(P2+P4) となる。
リッタ304の間にはハーフミラー303が配置され、
レーザ光の一部を分離してモニタ用ディテクタ102に
入射している。 2.発光調整 図6は図2のコントロールユニット10のライトLSI
回路20に設けたレーザダイオード制御回路22の回路
ブロック図であリ、イレーズを必要とする通常のMOカ
ートリッジ媒体を例にとっている。尚、イレーズを必要
としないダイレクトオーバライト対応型のカートリッジ
媒体については、イレーズパワーに代えてライトパワー
を高速に立ち上げるためのアシストパワーが設定され
る。
30にはレーザダイオード100とフォトダイオードを
用いたモニタ用ディテクタ102が一体に設けられてい
る。レーザダイオード100は電源電圧Vccにより駆動
電流Iを受けて発光し、光学ユニットによりレーザビー
ムを生成して媒体面に照射して記録再生を行う。モニタ
用ディテクタ102はレーザダイオード100からの光
の一部を入射し、レーザダイオード100の発光パワー
に比例した受光電流I0 を出力する。レーザダイオード
100に対しては、リードパワー電流源104、イレー
ズパワー電流源106、第1ライトパワー電流源10
8、第2ライトパワー電流源110が並列接続されてお
り、それぞれリードパワー電流I0 、イレーズパワー電
流I1、第1ライトパワー電流I2、及び第3ライトパ
ワー電流I3を流すようにしている。
ー電流I0 が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパ
ワー電流I0 にイレーズパワー電流I1を加えた電流
(I0+I1)が流れ、第1ライトパワー発光時には更
に第1ライトパワー電流I2を加えた電流(I0 +I1
+I2)が流れる。また第2ライトパワー発光時には第
2ライトパワー電流I3をリードパワー電流I0 及びイ
レーズパワー電流I1に加えた電流(I0 +I1+I
3)が流れる。
動パワー制御部(以下「APC」という)138が設け
られている。APC138に対しては目標DACレジス
タ120及びDAコンバータ(以下「DAC」という)
136を介して、目標パワーとして規定の目標リードパ
ワーが設定されている。このAPC138は、外部信号
によりホールド状態に切り替えることができる。APC
138をホールドに切り替えると、ホールド切替時の出
力を維持し、目標リードパワーと測定パワーとの偏差に
基づくフィードバック制御が停止する。
EP電流指示部としてEP発光DACレジスタ122及
びDAC140が設けられる。WP1電流源108に対
してはWP1電流指示部としてWP1発光DACレジス
タ124及びDAC142が設けられ、更に第2ライト
パワー電流源110に対してもWP2電流指示部として
WP2発光DACレジスタ126及びDAC144が設
けられる。
8,110の電流は、対応するレジスタ120,12
2,124,126に対するDAC指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
DAC及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。APC138による制御は、フォトダイオー
ド102の受光電流i0 から得られたモニタ電流im が
目標リードパワーに対応したDAC136の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタ用ディテクタ102に対し、リードパワーを超える
イレーズパワー、第1ライトパワー及び第2ライトパワ
ーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパワー
相当のモニタ電流im をAPCに帰還するため、差引電
流源112,114,116を設けている。
ては、EP差引電流指示部としてのEP差引DACレジ
スタ128及びDAC146により任意の差引電流i1
を設定することができる。第1ライトパワー用差引電流
源114に対しては、WP1差引電流指示部としてのW
P1差引DACレジスタ130及びDAC148により
任意の差引電流i2を設定することができる。更に第2
ライトパワー差引電流源116に対しても、WP2差引
電流指示部としてのWP2差引DACレジスタ132及
びDAC150によって任意の差引電流i3を設定する
ことができる。
発光モードにおけるモニタ電流imは次のようになる。 リード発光時 ;im =i0 イレーズ発光時 ;im =i0 −i1 第1ライトパワー発光時;im =i0 −(i1+i
2) 第2ライトパワー発光時;im =i0 −(i1+i
3) したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワ
ー、第1または第2ライトパワーのいずれの発光時にあ
っても、対応する差引電流を受光電流i0 から引くこと
で、モニタ電流im はリードパワー相当の電流としてモ
ニタ電圧検出用抵抗118に流れ、APC138に帰還
される。
に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリ
ードパワー電流源104を制御し、これによって規定の
イレーズパワー、第1ライトパワー及び第2ライトパワ
ーの自動パワー制御が実現される。この差引電流につい
ても、レジスタ、DACおよび定電流源によって、差引
電流源回路が構成されている。
ートリッジ媒体を対象としているが、イレーズを必要と
しないダイレクトオーバライト対応のカートリッジ媒体
の場合には、イレーズパワーEP用のレジスタ122,
146、DAC140,146及び電流源106,11
2を、各々、アシストパワーPA用として使用すればよ
い。勿論、アシストパワーPA専用のレジスタ、ADC
及び電流源を設けてもよい。
リッジ媒体の場合には、リードパワー発光時にはリード
パワー電流I0 が流れ、アシストパワー発光時にはリー
ドパワー電流I0 にアシストパワー電流I1を加えた電
流(I0 +I1)が流れる。第1ライトパワー発光時に
は、更に第1ライトパワー電流I2をリードパワー電流
I0 及びアシストパワー電流I1に加えた加えた電流
(I0 +I1+I2)が流れる。皿第2ライトパワー発
光時には、第2ライトパワー電流I3をリードパワー電
流I0 及びイレーズパワー電流I1に加えた電流(I0
+I1+I3)が流れる。
抵抗118によるモニタ電圧は、ADコンバータ(以下
「ADC」という)152によりディジタルデータに変
換され、モニタADCレジスタ134に入力された後、
MPU14側に読み出される。このため、ADC152
及びモニタADCレジスタ134はモニタ電流im の測
定部を構成する。
によりダイレクトオーバライト対応型の540MB又は
640MB媒体のPWM記録の信号、発光電流、差引電
流及びタイムチャートである。いま図7(A)のライト
ゲートに同期して図7(B)のライトデータが与えられ
たとすると、図7(C)のライトクロックに同期してラ
イトデータは図7(D)のパルス幅データに変換され
る。このパルス幅データに基づき、図7(E)のように
ライトパワーへの立ち上げを高速にできるにするための
アシストパルスが生成され、更に図7(F)のように第
1ライトパルスが生成される。更に図7(G)の第2ラ
イトパルスが生成される。
ス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば
先頭のパルス幅データについては4クロックのパルス幅
であり、次のパルス幅データは2クロックであり、次の
パルス幅データは3クロックである。これに対応して図
7(G)の第2ライトパルスは、図7(F)の第1ライ
トパルスに続いて先頭データの4クロック幅については
2パルス発生し、次の2クロック幅については0パルス
であり、3番目の3クロック幅については1パルスを発
生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしてい
る。
(G)のアシストパルス、第1ライトパルス及び第2ラ
イトパルスに基づいた発光電流とパワーである。まずリ
ード電流は常時流してリードパワーRPでDC発光させ
ている。このため、アシストパルスに同期して発光電流
(I0 +I1)が流れ、これによってアシストパワーP
A分アップとなり、第1ライトパルスのタイミングで発
光電流I2が加算されて(I0 +I2 +I3 )て第1ラ
イトパワーWP1分アップとなり、更に第2ライトパル
スのタイミングで発光電流I3が加算されて(I0 +I
1+I3)となって第2ライトパワーWP2分アップす
る。
7(I)に示す差引電流が図6の差引電流源112,1
14,116に流れる。即ち、アシストパワーPA分の
アップに対応する差引電流i1が流れ、次の第1ライト
パワーWP1分のアップ分に対応する差引電流i2を加
算して差引電流(i1+Ii)が流れ、更に第2ライト
パワーWP2分のアップに対応する差引電流i3を加算
して差引電流(i1+i3)が流れる。
図7(H)の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流i0 から図7(H)の差引電流を差し引いた値とな
り、発行中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、APC138に帰還される。図8は、ダイ
レクトオーバライト対応型の540MB又は640MB
媒体のPWM記録時の信号発光電流、差引電流及びモニ
タ電流のタイミングチャートである。図8(A)Aのラ
イトゲートに同期して図8(B)のライトデータが与え
られたとすると、図8(C)のライトクロックに同期し
て図8(D)のピットエッジパルスが生成される。この
ピットエッジパルスに対応して、図8(E)のアシスト
パルスと図8(F)の第1ライトパルスが作られる。P
PM記録にあっては、図8(G)の第2ライトパルスは
使用されない。
パルスによる図8(H)の発光電流をレーザダイオード
に流すことで、発光パワーPが得られる。PPM記録に
あっては、例えばアシストパワーPAはリードパワーR
Pと同じであることから、アシストパルスのタイミング
であってもリードパワー電流I0 によるリードパワーR
Pによる発光が維持される。
流が(I1+I2)に増加して第1ライトパワーWP1
分にアシストパワーPA分を加算したパワーとなる。図
8(H)の差引電流は第1ライトパルスの発光タイミン
グで差引電流(i1+i2)を流す。これによって図6
(J)のモニタ電流im は常にリードパワーの受光電流
相当に維持される。
レーザダイオードの発光制御及び発光調整の機能ブロッ
ク図であり、本発明のオントラック状態で行われる発光
微調整の処理機能も含まれる。図9において、レーザダ
イオード100のレーザダイオード制御回路22は、発
光電流源回路152、自動パワー制御部138(AP
C)、モニタパワー測定部155及び差引電流源回路1
56で構成され、詳細は図6のようになる。このレーザ
ダイオード制御回路22は、パワー設定処理部160に
よりリード・ライトの際にパワー設定を受けて制御され
る。パワー設定処理部160で使用する最適パワーは、
イレーズ/アシストパワーテーブル196、第1ライト
テーブル198、及び第2ライトテーブル200に格納
されている。尚、イレーズ/アシストパワーテーブル1
96は、専用のイレーズパワーテーブルとアシストパワ
ーテーブルに別けてもよい。
明は、発光粗調整処理部162と発光微調整処理部16
4を設けている。発光粗調整処理部162はフォーカス
サーボ及びトラックサーボをオフした状態で発光調整を
実行するのに対し、発光微調整処理部164はフォーカ
スサーボ及びトラックサーボをオンし、媒体に対するビ
ームスポットのオントラック制御状態で発光調整を実行
する点が相違する。
にあっては、更に、自動パワー制御ホールド部166、
発光タイミング制御部168及びテストゾーン確認部1
70を設ている。発光粗調整処理部162と発光微調整
処理部164に対しては、レジスタ175によってロー
ディングされた媒体種別、アクセストラックから求めら
れたゾーン番号、更に図2のエンクロージャ11側に設
けている温度センサ36による装置内温度がセットさ
れ、発光調整及び通常の動作時におけるパワー設定処理
に使用される。
処理部164に対しては、パワーテーブル情報として、
モニタADC係数テーブル182、EP/PA発光DA
C係数テーブル184、EP/PA差引DAC係数テー
ブル186、WP1発光DAC係数テーブル188、W
P1差引DAC係数テーブル190、WP2発光DAC
係数テーブル192及びWP2差引DAC係数テーブル
194が設けられている。尚、EP/PA発光DAC係
数テーブル184とEP/PA差引DAC係数テーブル
186は、各々、EP専用とPA専用のテーブルに別け
てもよい。
のモニタ用のADC152における入力モニタ電圧を与
える任意のパワーに対する測定パワー値としてのADC
出力の直線近似による関係式を発光調整処理で求め、こ
の関係式の傾きa0 とy軸交点b0 を登録している。ま
たテーブル184,186,188,190,192,
194のそれぞれは、図6のDAC140,142,1
44,146,148,150のそれぞれにおける任意
の発光パワーに対するレジスタ指示値(発光DAC値)
の関係を、発光調整による測定結果の直線近似により求
めた関係式につき、その傾きとy軸交点を格納してい
る。
パワーx[mW]に対するレジスタ指示値としての発光
ADC値yの関係であり、発光調整にあっては、Q1と
Q2の2点の発光パワー3mWと9mWで発光し、その
測定パワーが正確に3mWと9mWとなるように発光D
AC値yを調整し、調整が済んだ2点Q1,Q2を直線
の式 y=a・x+b から傾きaとy軸交点bを求めてテーブルに登録する。
88,192については、直線近似の関係式をy=ax
+bで設定していることから、係数a1,a2,a3及
びy軸交点b1,b2,b3を登録している。これに対
し差引電流用の係数テーブル186,190,194に
ついては、直線近似の関係式y=cx+dを定義してい
ることから、傾きc1,c2,c3とy軸交点b1,b
2,b3を登録している。
ワー設定を行うパワー設定処理部160に対し設けたイ
レーズ/アシストパワーテーブル196、第1ライトパ
ワーテーブル198は、本来、媒体の全ゾーンに対応し
て固有のパワー値を格納しているものであるが、本発明
にあっては、媒体をローディングした初期状態にあって
は全てのゾーンのパワーはもっておらず、発光調整に必
要な少なくともインナ側とアウタ側の2つのゾーンのパ
ワー値のみが格納されている。
ーブルに初期設定された2つのゾーンのパワー値を使用
した発光調整によりゾーン番号に対する各パワーを直線
近似する関係式を求め、この関係式から全ゾーンの対応
するパワーを算出してテーブル登録するようになる。具
体的には、発光粗調整処理部162によるADCやDA
Cの調整結果を使用して、発光微調整処理部164が初
期設定された2ゾーンの発光パワーを使用した発光調整
による測定処理と測定結果に基づく直線近似の関係式に
従った各パワーのゾーンごとの設定を実行する。
た際には、発光調整終了後の状態で調整された各パワー
を使用したテストライトによって、そのときの装置内温
度に対応した各ゾーンの最適ライトパワーを求めて媒体
書込みを行う。図11は発光粗調整処理において、図6
のモニタADC152の正規化処理で得られた直線近似
の関係式である。このモニタADC152の正規化処理
は、目標ADCレジスタ120にADC指示値y0に規
定のリードパワーをセットして発光駆動し、モニタAD
Cレジスタ134の値x0をリードする。
指示値y1=2mWをセットして発光駆動し、モニタA
DCレジスタ134の値x1をリードする。更に目標D
ACレジスタ120に指示値y2=4mWをセットして
発光駆動し、モニタADCレジスタ134の値x2をリ
ードする。この処理により、リードパワー、2mW及び
4mWの3点のパワーに対するADC152の測定値が
得られる。そこで3つの関係式から係数として傾きa0
とy軸交点b0 を算出して図9のモニタADC係数テー
ブル182に登録する。したがって、この正規化が済む
と、それ以降はモニタADCレジスタ134から得られ
た測定値xを関係式y=a0 ×x+b0 に代入して測定
パワーyを算出することになる。なお、この場合には、
3点Q0 ,Q1,Q2を求めて関係式の精度を高めてい
るが、2点の測定であってもよい。
光電流を指示するDAC140とイレーズ用の差引電流
を指示するDAC146の発光粗調整で得られた直線近
似の関係式である。まずモニタADC134をリードし
ながら測定パワーx1=2mWとなるようにEP電流D
ACレジスタ122に対するレジスタ値yを増加し、図
12のQ1(x1,y1)を取得する。次にモニタAD
Cレジスタ134をリードしながら測定パワーがリード
パワーとなるようにEP差引DACレジスタ128のレ
ジスタ値zを増加し、図13のQ3(x1,z1)を取
得する。
しながら測定パワーx2=4mWとなるようにEP電流
DACレジスタ122のレジスタ値yを増加し、図12
のQ2(x2,y2)を取得する。更にモニタADCレ
ジスタ134をリードしながら測定パワーがリードパワ
ーとなるようにEP差引DACレジスタ128のレジス
タ値zを増加し、図13のQ4(x2,z2)を取得す
る。
ば、図12の2点Q1(x1,y1),Q2(x2,y
2)について、パワーxに対するEP電流DACレジス
タ値yの直線近似の関係式y=a1・x+b1に代入
し、この2つの代入式から傾きa1とy軸交点b1を算
出する。次に図13のように、Q3(x1,z1),q
4(x2,z2)を、2点を結ぶ直線を近似して関係式
z=c1・x+d1に代入して傾きc1とy軸交点d1
を算出する。
るDAC140の任意のパワーに対するレジスタ指示値
の直線近似の関係式の傾きaとy軸交点bは、図9のE
P/PA電流DAC係数テーブル184に登録される。
また図13のイレーズパワーに対する差引電流用のDA
C146に対するレジスタ値yを求める直線近似の関係
式の傾きcとy軸交点bは、図9のEP/PA差引DA
C係数テーブル186に登録される。
においてはEP用のDAC140,146を代替使用す
ることから、イレーズパワーの調整結果をそのまま使用
できる。またPA専用の回路を設けている場合には、イ
レーズパワーと同様な発光微調整によりアシスト発光電
流とアシスト差引電流の直線近似の傾きとy軸交点を求
めて専用テーブルに登録する。
ーWP1と第2ライトパワーWP2についても同様に行
う。第1ライトパワーWP1にあっては、基本的にはイ
レーズ用の発光粗調整と同じであるが、WP1電流DA
Cレジスタ124に対する指示パワーが4mWと8mW
の2点としている点が相違する。そして、任意の第1ラ
イトパワーxに対するレジスタ値yの直線近似の関係式
の傾きa2とy軸交点b2を算出し、また第1ライトパ
ワーxに対する差引電流のレジスタ値zの直線近似の関
係式の傾きc2とy軸交点d2を算出し、それぞれ図9
のWP1電流DAC係数テーブル188とWP差引DA
C係数テーブル190に登録する。
ズ発光粗調整と同じであるが、第1ライトパワーと同様
に4mWと8mWの2点で発光調整し、続いてリードパ
ワーとなるように差引電流を調整している。そして第2
ライトパワー発光の電流指示を行うDAC44について
の直線近似の関係式の傾きa3とy軸交点b3を算出
し、また第2ライトパワー発光時の差引電流を指示する
DAC150についての直線近似の関係式の傾きc3と
y軸交点d3を算出し、それぞれ図9のWP2電流DA
C係数テーブル192及びWP2差引係数テーブル19
4に登録する。
れた図9の各係数テーブル182〜194の登録内容で
あり、これらの傾き及びy軸交点の値を使用して直線近
似の関係式を作ることで、任意のモニタ電圧測定値から
測定パワーへの変換、及び任意のパワーからADCに対
する電流指示値への変換が実現できる。 3.発光微調整 次に図9に設けた発光微調整処理部164による本発明
の発光微調整処理を説明する。発光微調整処理部164
は、発光粗調整処理部162による粗調整が完了した後
に、フォーカスサーボ及びトラックサーボをオンした媒
体に対するビームスポットのオントラック状態でレーザ
ダイオード100の発光調整を行う。
同じであり、イレーズを必要とするMOカートリッジ媒
体にあっては、イレーズパワー、第1ライトパワー及び
第2ライトパワーのそれぞれについて、オントラック制
御を有効とした状態で媒体のテストゾーンにシークし、
予め定めた2点のテストパワーでの発光を発光電流源回
路154に順次指示してレーザダイオード100を発光
駆動する。
点のテストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、
モニタパワー測定部155の測定パワーが目標テストパ
ワーとなるように発光電流源回路154に対するレジス
タ指示値を調整する。そして、この2点のテストパワー
の調整結果に基づき、任意の発光パワーxに対する発光
電流源回路154のレジスタ指示値yとの関係を直線近
似により求めて、その傾きとy軸交点を登録したテーブ
ル情報を補正する。
ーバライト対応型のカートリッジ媒体の発光微調整は、
(アシストパワー)+(第1ライトパワー)及び(アシ
ストパワー)+(第2ライトパワー)それぞれについ
て、オントラック制御を有効とした状態で媒体のテスト
ゾーンにシークし、予め定めた2点のテストパワーでの
発光を発光電流源回路154に順次指示してレーザダイ
オード100を発光駆動する。
点のテストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、
モニタパワー測定部155の測定パワーが目標テストパ
ワーとなるように発光電流源回路154に対するレジス
タ指示値を調整する。そして、この2点のテストパワー
の調整結果に基づき、任意の発光パワーxに対する発光
電流源回路154のレジスタ指示値yとの関係を直線近
似により求めて、その傾きとy軸交点を登録したテーブ
ル情報を補正する。
て本発明にあっては、自動パワー制御ホールド部16
6、発光タイミング制御部168及びテストゾーン確認
部170を設けている。自動パワー制御ホールド部16
6は、発光微調整処理部164によりレーザダイオード
100を発光駆動する際に、発光期間に亘り自動パワー
制御部(APC)138をホールド状態に制御する。
オード100の発光中は、自動パワー制御部138によ
る目標リードパワーに測定パワーを一致させるためのフ
ィードバック制御は行われず、モニタパワー測定部15
5においてレーザダイオード100の指示パワーに基づ
く実際の発光パワーを測定し、発光微調整処理部164
による発光電流源回路154に対する指示値の調整を正
確にできるようにする。
処理部164によるレーザダイオードのテスト発光によ
る調整時に、ビームスポットの現在位置が予め定めた媒
体のテストゾーンの範囲内か否か判断し、テストゾーン
の範囲内にあることを確認して発光調整を起動する。媒
体のテストゾーンとしては、例えば128MB媒体を例
にとると、図15のようになる。
トゾーン、コントロールトラックゾーン、データゾーン
(ユーザゾーン)、及びコントロールトラックゾーンに
分けられており、それぞれについて半径位置とトラック
番号が決まっている。このうち本発明の発光微調整の際
にシークするテストゾーンは、媒体半径位置にあっては
23.53〜23.75mmの範囲にあり、トラック番
号は−292〜−17の範囲となる。このテストゾーン
は、230MB媒体、540MB媒体及び640MB媒
体についても、基本的には最インナの非ユーザゾーンを
使用することができる。
部170によるテストゾーンの確認は、レジスタ174
に格納されているテストゾーンにシークした際のトラッ
クセクタの読取りによるID情報、または図3のように
キャリッジ76の絶対位置を検出するために設けている
キャリッジ位置センサ56のキャリッジ検出位置を用い
ることができる。
ることから、このトラック番号と予め割り当てられたテ
ストゾーンのトラック番号の範囲とを比較することによ
り、現在位置がテストゾーンの範囲内か否か判断でき
る。また、図3のキャリッジ位置センサ56の媒体位置
に対する検出特性は図16のようになる。この検出特性
において、横軸に示す媒体位置の中のユーザゾーン25
0に対し、インナ側に位置するテストゾーン252に対
応したキャリッジ位置センサ56のテストゾーン検出範
囲254が定まっていることから、テストゾーンにシー
クしたときのキャリッジ位置センサ56の検出値とテス
トゾーン検出範囲254を比較することで、現在位置が
テストゾーンか否か判別できる。
ジ検出位置による現在位置の認識は、ID情報がトラッ
ク単位に正確にテストゾーンか否かを判断できるのに対
し、キャリッジ検出位置にあっては、キャリッジ位置検
出センサ56の分解能によりテストゾーンの判別精度が
決まる。通常、キャリッジ位置センサ56として使用す
るPSDの検出距離の分解能は100ミクロクオーダと
なることから、例えば図15に示したテストゾーンとな
る半径位置23.53〜23.75mmの範囲内にある
か否かの検出は確実にできる。またテストゾーン確認部
170による確認処理としてはID情報とキャリッジ検
出位置の両方を使用し、例えばID情報から現在位置が
認識できなかった場合にキャリッジ検出位置により現在
位置を認識するようにしてもよい。逆にキャリッジ検出
位置を優先させ、キャリッジ検出位置から現在位置が認
識できなかった場合にID情報から現在位置を認識する
ようにしてもよい。
る。発光タイミング制御部168は、発光微調整処理部
164によりレーザダイオード100をテストパワーで
発光調整する場合、オントラック状態にあるテストゾー
ンのトラックセクタの各々について、各セクタのID部
を避けてデータ部(MO部)でのみレーザダイオードの
テストパワーによる発光調整を行わせる。
による処理動作のタイムチャートであり、イレーズパワ
ーの発光微調整を例にとっている。即ち、図17(A)
はセクタ情報、図17(B)はID検出信号、図17
(C)はライトゲート信号、図17(D)はAPCホー
ルド信号、図17(E)はイレーズパワー用差引DAC
値、図17(F)はイレーズパワー用発光DAC値、更
に図17(G)はモニタADC値を表している。
ように、図17(A)のセクタ情報はID部とデータ部
で構成されており、ID部については物理的なピットの
形成で情報を記録しており、データ部については光磁気
記録によるピット形成であることから、物理的には媒体
表面は鏡面となっている。このため、オントラック状態
でレーザダイオード100を発光駆動した場合、媒体ト
ラック上に対するビームスポットの照射による戻り光
は、ID部ではその物理的なピットの凹凸により変動す
るが、データ部にあっては物理的な凹凸はないことから
一定レベルに安定している。
学系の説明図から明らかなように、ハーフミラー303
で反射されてモニタ用ディテクタ102に入力してお
り、その結果、図9のモニタパワー測定部155で測定
されるテストパワーによる発光時のレーザダイオード1
00の測定パワーが戻り光により変動する。そこで本発
明にあっては、セクタ情報のうちのID部を避けてデー
タ部についてのみレーザダイオード100を発光駆動し
て発光調整を行う。このようなセクタ情報のデータ部で
の発光駆動を可能とするため、図17(B)のようなI
D検出完了信号を生成している。
置でオフからオンに立ち上がり、データ部の中で発光調
整可能な時間に亘ってオン状態を維持してオフとなる。
このID検出完了信号のオン期間は、データ部の物理的
長さ、媒体の半径位置及びスピンドルモータによる媒体
回転数に基づいて、その長さが予め決められている。図
17(C)のライトゲート信号はID検出完了信号がオ
ンとなったタイミングで有効となり、オン期間の間に例
えば3回のテストパワーによる発光駆動を行わせる。こ
のライトゲート信号のデータ部に対応したオン・オフ期
間における図7(G)のモニタパワー(モニタADC
値)の測定タイミングは、最初のオフ期間P1のリード
パワーの測定とそれ以降のライトゲート信号のオン状態
におけるP2,P3,P4の各点でのテストパワーによ
るモニタパワーの測定を行う。
7(D)のように、自動パワー制御部138に対するA
PCホールド信号として出力される。即ち、ライトゲー
ト信号のオンタイミングに同期して自動パワー制御部1
38のAPCホールド信号もオンし、テストパワーによ
るレーザダイオードの発光タイミングで自動パワー制御
部138をホールド状態に切り替え、目標リードパワー
を維持するためのフィードバック制御を解除し、テスト
パワーによるモニタパワーの測定を可能としている。
C値は、イレーズパワーの発光調整の間、一定値に維持
される。また図17(F)のイレーズパワー用発光DA
C値は、例えば1セクタごとにそのときの図17(G)
のモニタADC値とリードパワーの目標値との誤差を求
め、次のセクタのデータ部の発光調整で発光DAC値を
修正して発光調整を行っている。図17の場合には、3
セクタに亘るデータ部での発光調整によりモニタADC
値が目標値に一致するイレーズ用発光DAC値の調整状
態が行われている。
の処理動作をフローチャートを参照して説明する。図1
8は本発明の発光微調整処理が行われる媒体投入処理の
フローチャートである。この媒体投入処理にあっては、
媒体投入に伴い、まずステップS1で装置内温度をチェ
ックし、続いてステップS2でスピンドルモータの回転
制御を開始する。
付けによるVCMの粗調整を行う。次にステップS4で
レーザダイオード100をオンし、図9の発光粗調整処
理部162によってレーザダイオードの発光粗調整を実
行する。続いてステップS5で媒体がフルROMか否か
チェックする。フルROMか否かのチェックは媒体カー
トリッジのライトプロテクトノブの有無でチェックでき
る。即ち、フルROMはライトプロテクトノブの部分が
空きとなっていることから、これを検出してフルROM
であることを認識し、フルROMの場合には書替え可能
な媒体に対しリードパワーを下げる。またライトパワー
及びイレーズパワーは使用しないことから、調整は不要
とする。
ンタ付近に移動する。このキャリッジ移動は、ステップ
S3でアウタ側に押し付けていたVCMの粗調整状態で
規定の加速、定速、減速電流を加えることで行う。次に
ステップS3でフォーカスサーボをオンする。続いてス
テップS8でトラッキングエラー信号のオフセット調整
を行った後、ステップS9でトラッキングエラー信号の
最大振幅が得られるようにフォーカス位置を制御し、最
大振幅が得られたフォーカス位置をフォーカス最適線と
するオフセットを検出し、このオフセットをフォーカス
サーボにセットする。
のオフセット検出が済んだ状態でずれたトラッキングエ
ラー信号のオフセットを調整する。続いてステップS1
1で、投入した媒体の種別に応じたトラッキングエラー
信号の振幅調整を行う。トラッキングエラー信号の振幅
調整が済んだならば、ステップS12で再度、トラッキ
ングエラー信号のオフセット調整を行う。続いてステッ
プS13でスピンドルモータの回転が規定回転に達した
か否かチェックする。
ンし、これによってビームスポットのオントラック制御
状態が得られる。続いてステップS15でイレーズ発光
確認用スライスレベル(エコースライスレベル)を設定
する。このイレーズ発光確認用スライスレベルの設定
は、媒体の書込みがイレーズ発光、ライト発光、ベリフ
ァイのためのリード発光の3段階で行われ、イレーズ発
光が行われていないと次のライト発光で正常なデータ記
録書込みができないことから、イレーズパワーとリード
パワーの間にイレーズ発光を確認するためのスライスレ
ベルを設定する。
ールトラックにシークしてその内容をリードする。続い
てステップS17で、図9の発光微調整処理部164に
よるレーザダイオード駆動電流の発光微調整を実行す
る。最終的にステップS18で、媒体の交代情報をリー
ドしてRAMに展開する。図19は本発明の発光微調整
処理が実行されるシークリトライ処理のフローチャート
である。上位コマンドに基づく目標トラックへのシーク
が失敗してシークエラーになると、図19のシークリト
ライ処理が実行される。このシークリトライ処理は、ス
テップS1でフォーカスオン状態か否かチェックし、ま
たステップS2でトラックオン状態か否かチェックし、
いずれかがオフであればステップS6以降の媒体投入処
理と同等な初期化処理を実行した後に、シークリトライ
としての飛び直しを実行する。
にあり、またステップS2でトラックオン状態にあった
場合には、ステップS3でトラックサーボをオンした後
に、ステップS4で正常終了か否かチェックし、正常終
了であれば、ステップS5で目標トラックに対する飛び
直しとしてのリトライシークを実行する。これに対しス
テップS3でトラックサーボをオンしてもステップS4
で目標トラックにオントラックする正常終了とならなか
った場合には、ステップS6以降の処理に進む。ステッ
プS6〜S8の処理は、図9の媒体投入処理におけるス
テップS6〜S17と同じであり、ステップS17には
本発明によるレーザダイオードの発光微調整の処理が含
まれている。
S17の調整処理が正常終了した場合で、目標トラック
への飛び直しとなるシークリトライを実行する。またス
テップS6〜S17の調整処理のいずれかで異常となっ
た場合には異常終了とする。図20は図9の媒体投入処
理のステップS17及び図19のシークリトライ処理の
ステップS17で行われる本発明によるレーザダイオー
ドの発光微調整の概略的なフローチャートである。この
レーザダイオード発光微調整にあっては、まずステップ
S1でビームスポットを媒体の最インナのテストゾーン
にシークし、ステップS2でリードパワーのADCモニ
タ値を読み取って自動パワー制御のAPC目標値に設定
する。
発光微調整を実行し、続いてステップS4で第1ライト
パワーWP1の発光微調整を実行し、更にステップS5
で第2ライトパワーWP2の発光微調整を実行し、ステ
ップS6で調整値を保存して処理を終了する。もちろん
ステップS3〜S5のイレーズパワー、第1ライトパワ
ー及び第2ライトパワーの発光微調整は、投入媒体がP
WM記録を採用し、イレーズを必要とする540MB媒
体または640MBのMOカートリッジセ媒体の場合で
ある。
のPWM記録を採用したイレーズを必要としない540
MB媒体または640MBの場合には、ステップS4,
S5の第1ライトパワーと第2ライトパワーの発光微調
整を行い、ステップS2のイレーズパワーの発光微調整
はスキップする。またPPM記録の128MB媒体及び
230MB媒体にあっては、ステップS3,S4のイレ
ーズパワーと第1ライトパワーの発光微調整を行い、ス
テップS5の第2ライトパワーの発光微調整はスキップ
する。
のイレーズパワー発光微調整のフローチャートである。
図21において、まずステップS1で発光粗調整で求め
たイレーズパワーEPの発光DAC値の関係式 y=a1・x+b1 と差引DAC値の関係式 z=c1・x+d1 をセットし、続いてステップS2で最初のイレーズパワ
ーの発光のためテストパワーx1=3mWを設定して、
ステップS1の関係式から発光DAC値y1を算出す
る。
差引DAC値の関係式から差引DAC値z1を算出す
る。この場合、第1及び第2ライトパワーWP1,WP
2の発光DAC値及び差引DAC値はクリアする。次に
ステップS3で、テストパワーで発光した際のモニタ測
定値を平均化するためのループ回数n、即ち測定回数を
設定する。次にステップS4で、ID部の検出時間を設
定するIDタイマに所定のタイマ値を設定してスタート
する。
をチェックし、ID部が検出されるまで、ステップS6
でIDタイマのタイムアウトをチェックしており、もし
IDタイマがタイムアウトした場合には異常終了とす
る。ステップS5でID検出が認識されると、ステップ
S7に進み、ID部の読取りを行う。このID部の読取
りにより現在位置のトラック番号が認識できることか
ら、ステップS8で、予め定めたテストゾーンの境界の
トラック番号との比較によりテストゾーン範囲内か否か
チェックする。
はステップS9に進み、テストゾーンへのシークを再度
行う。ステップS8で現在位置がテストゾーン範囲内で
あった場合には、ステップS10に進み、1セクタ内で
のテストパワーによる発光のループ回数mを設定する。
続いてステップS11で、ライトゲートのオンによりス
テップS2で設定したテストパワー3mWに対応する発
光DAC値y1によるレーザダイオードのイレーズ発光
を行う。
ADC値yを読み取り、次のステップS13のライトゲ
ートのオフで発行を停止する。続いてステップS14
で、イレーズパワーの発光調整を行うための平均化回
数、即ちイレーズパワーの発光調整を行うセクタ数nが
規定回数に達したか否かチェックし、規定回数未満であ
れば、ステップS16で1セクタ内での発光回数mが規
定回数か否かチェックする。
り、次のライトゲートオンでイレーズ発光を行い、ステ
ップS12でそのときのモニタADC値yを読み取り、
ステップS13のライトゲートオフで発行を停止する処
理を繰り返す。ステップS15で1セクタ内の発行回数
mが規定回数に達した場合には、ステップS4に戻り、
再度IDタイマにタイマ値を設定してスタートし、新た
なID検出とテストゾーン範囲の認識に基づく次のセク
タでのテストパワーによるイレーズ発光を行う。
繰返しにより、ステップS14で平均化に使用するモニ
タADC値yの数、即ち平均化回数nが規定回数に達し
たら、ステップS16に進み、それまでに得られたモニ
タADC値yの平均化を行う。続いて図22のステップ
17に進み、図20のステップS2でAPC目標値とし
て求めているゲートパワーのモニタ測定値である目標値
と平均化モニタADC値が略一致するか否か比較する。
超える誤差の場合には、ステップS18に進み、目標値
が平均化モニタADC値より大きいか否かチェックす
る。目標値が大きい場合には平均化モニタADC値が小
さいことから、ステップS20に進み、テストパワーを
設定している発光DAC値y1を所定の1単位増加させ
る修正を行い、図21のステップS3にリターンして、
修正後の発光DAC値y1を用いたイレーズパワーの発
光微調整を実行する。
値が目標値を超えていた場合には、ステップS19に進
み、発光DAC値y1を1単位減少させる修正を行い、
同様に図21のステップS3にリターンして、修正後の
発光DAC値y1を用いたイレーズパワーの発光微調整
を実行する。ステップS17で目標値と平均化モニタA
DC値が規定誤差範囲で略一致している場合には、最初
のテストパワーx1=3mWによる微調整が終了したも
のと判断し、次のステップS21に進み、イレーズパワ
ーEPのテストパワーを2点目のx2=5mWに設定
し、同様にして発光DAC値y2を算出し、且つ差引D
AC値z2を算出する。
WP1,WP2の発光DAC値及び差引DAC値はクリ
ア状態とする。続いてステップS22で、テストパワー
x2=5mWとなる2点目のイレーズ発光微調整処理を
実行する。このステップS22の2点目のイレーズ発光
微調整処理は、1点目のステップS3〜S20の処理と
同じになる。
整処理が終了したならば、ステップS23に進み、発光
調整で得た2点(x1,y1),(x2,y2)の関係
式からイレーズパワーxとそのレジスタ指示値となる発
光DAC値yとの関係式 y=a1・x+b1 の係数a1とy軸交点b1を算出し、図9に示したEP
発光DAC係数テーブル184に更新登録する。
の第1ライトパワーWP1の発光微調整のフローチャー
トである。図23において、第1ライトパワー発光微調
整は、まずステップS1で図21のイレーズパワー微調
整のステップS1と同様、発光粗調整で求めたイレーズ
パワーEPの発光DAC値及び差引DAC値の関係式を
セットした後、のように第1ライトパワーWP1の粗
調整で求めた同じく発光DAC値と差引DAC値の関係
式をセットする。続いてステップS2で、1点目のテス
トパワーとして WP1+EP=3mW+2mW=5mW をセットする。
め、第1ライトパワーWP1=3mWについてステップ
S1でセットした関係式から発光DAC値と差引DAC
値を算出し、またイレーズパワーEP=2mWについて
ステップS1でセットした関係式から発光DAC値と差
引DAC値を算出する。この場合、第2ライトパワーW
P2の発光DAC値及び差引DAC値はクリアしてい
る。
20までの処理は図21,図22のイレーズパワー発光
微調整と基本的に同じである。即ち、ステップS21で
ライトゲートのオンによるレーザダイオードの発光に第
1ライトパワーWP1とイレーズパワーEPの発光DA
C指示値のそれぞれによる電流加算で5mWの発光を行
う点が相違する。また図24のステップS19,S20
において、目標値と平均化モニタDAC値が一定誤差範
囲で不一致となった場合の修正が、第1ライトパワーW
Pの発光DAC値y1を修正する点で相違する。
モニタDAC値が規定範囲内で目標値に一致した場合に
は、ステップS21に進み、2回目のテストパワーの設
定を行う。2点目についてはイレーズパワー=2mWと
同じであるが、第1ライトパワーWP1=7mWに増加
し、テストパワーは9mWとしている。この2点目のテ
ストパワーについても同様にして、設定したそれぞの発
光パワーの発光DAC値と差引DAC値を算出した後、
ステップS22で2点目の第1ライトパワーの発光調整
処理を行う。
処理は、図23のステップS3から図24のステップS
20の処理と同じになる。ステップS22の2点目の第
1ライトパワーの発光調整処理が終了したならば、ステ
ップS23で、発光調整で得た第1ライトパワーに関す
る2点(x1,y1),(x2,y2)の関係式から第
1ライトパワーの関係式 y=a2・x+b2 の係数a2とy軸交点b2を算出し、図9のWP1発光
DACテーブルを更新登録する。
の第2ライトパワーWP2の発光微調整のフローチャー
トである。図25において、第2ライトパワーの発光微
調整は、まずステップS1で第1ライトパワーの発光微
調整と同様、イレーズパワーEPの発光微調整で求めた
発光DAC値と差引DAC値の関係式をセットした後、
発光粗調整で求めた第2ライトパワーWP2の発光DA
C値と差引DAC値の関係式をセットする。
ワーとして WP2+EP=3mW+2mW=5mW とし、それぞれの発光DAC値と差引DAC値を、ステ
ップS1でセットした関係式から算出し、ステップS3
〜ステップS20により、1回目の第2ライトパワーの
発光微調整を行う。この1回目の第2ライトパワーの発
光微調整は、図23,図24の第1ライトパワー発光調
整と同じである。
イトパワーの発光調整で平均化モニタDAC値が目標値
に対する規定誤差範囲内で一致すると、ステップS21
に進み、2点目のテストパワー9mWを設定し、それぞ
れに対応した発光DAC値と差引DAC値を算出した
後、ステップS22で2点目の第2ライトパワー発光調
整処理を実行する。
整で得た2点の関係式から第2ライトパワーWP2の関
係式 y=a3・x+b3 の係数a3とy軸交点b3を算出し、図9のWP2発光
DACテーブル192に更新登録する。
0MB、640MBカートリッジ媒体の場合には、図2
1乃至図26におけるイレーズパワーEPを、アシスト
パワーPAに代替し発光微調整を行えばよい。図21〜
図26に示したイレーズパワー、第1ライトパワー及び
第2ライトパワーの発光微調整は、ステップS7でID
部の読取情報からトラック番号を認識し且つID読取情
報からID部のID部の終了位置を認識して発光微調整
を行っているが、本発明の別の実施形態として、ID部
の終了検出をID部に含まれているセクタマーク、アド
レスマーク、更にはID部のRF検出信号等を使用して
検出することもできる。またテストゾーン範囲の判定
も、ID部の検出情報によらず、キャリッジの絶対位置
を検出するために設けているキャリッジ位置センサ56
の検出信号を使用してもよい。
64に対し設けている発光タイミング制御部168でI
D部の終了位置の検出のために得られるID検出情報を
示したブロック図である。図27において、リードLS
I回路24はMO/ID用ディテクタ32からのID信
号及びMO信号に基づき、リードクロック及びリードデ
ータを復調して光ディスクコントローラ14に供給して
いる。光ディスクコントローラ14は、ID部のリード
データからID部更新通知、サーボマーク検出通知、更
にはアドレスマーク検出通知をMPU12に対し行う。
またリードLSI回路24は、MO/ID用ディテクタ
32から得られたIDの処理信号により、MPU12に
対しID−RF検出通知を行うことができる。
ドLSI回路24に対しては、MPU12よりリードア
クセスのためのアドレスデータ例えばトラック番号とセ
クタ番号が与えられ、これに対応したID情報及びリー
ドデータが得られる。図28は図27のリードLSI回
路24のと光ディスクコントローラ14のリード系統の
ブロックである。リードLSI回路24において、ディ
テクタ側からのID信号はAGC回路400で増幅され
た後、マルチプレクサ404に入力している。またMO
信号もAGC回路402で増幅された後、マルチプレク
サ404に入力している。マルチプレクサ404は、I
D/MO切替信号によりAGC回路400,402のい
ずれか一方を選択して出力する。
は、マルチプレクサ404はAGC回路400側に切り
替えられ、ID信号を微分回路406に出力している。
微分回路406はID信号のピークをゼロクロスタイミ
ングで検出し、この検出パルスをPLL回路408に入
力し、ID部の期間についてはリードデータ信号を出力
する。またPLL回路408は、データ部の期間につい
てはMO信号からリードデータを出力する。
0に与えられており、2回微分した信号を比較回路41
2で所定の閾値と比較することで、ID部に含まれてい
るセクタパルス信号を得ている。またID信号を入力し
たAGC回路400の出力は比較回路414に与えられ
ており、所定の高周波成分でなるID信号を所定のスラ
イスレベルでカットすることで、ID信号の期間に亘り
オン状態となるRF検出信号を得ることができる。
は、RLLデータ復調回路416、シンクバイト検出回
路418、アドレスマーク検出回路420、ECC回路
422、CRCチェック回路424、ID検出回路42
6及びセクタマーク検出回路428を備える。リードL
SI回路24からのリードデータは、まずRLLデータ
復調回路416で例えば1−7RLL逆変換される。即
ち、光ディスクコントローラ14のライト系統ではライ
トデータを例えば1−7RLL変換していることから、
リード時には逆変換する。この場合、シンクバイト検出
回路418によるID部のシンバイト検出及びアドレス
マーク検出回路420のアドレスマーク検出の結果が使
用され、セクタ内のデータ部が認識される。
はECC回路422に与えられる。ここでライト系統
は、ライトデータからECCコードを生成した際に(ラ
イトデータ+ECCコード)を対象にCRCコードを生
成して付加している。このためCRCチェック回路42
4がリードデータのCRCチェックを行ってEEC回路
422にチェック結果を伝え、CRCチェック・エラー
がなければECC回路422はリードデータのエラー検
出訂正を行ってNRZデータとして出力する。
ードデータからID部を検出し、MPU12に対しID
部の終了タイミングでID検出の更新通知信号を出力す
る。またアドレスマーク検出回路420がID部のリー
ドデータに含まれるアドレスマークを検出し、アドレス
マーク検出信号をMPU12に出力する。更にセクタク
ーク検出回路428がID部の先頭位置にあるセクタマ
ークを検出し、セクタマーク検出信号をMPU12に出
力している。
のセクタ情報に対するID信号、RF検出信号、セクタ
マーク検出信号、第1アドレスマーク検出信号、第2ア
ドレスマーク検出信号及びID検出完了信号である。ま
ず図29(A)のセクタ情報にあっては、セクタ先頭の
ID部に、サーボマークSM、VFO、第1アドレスマ
ークAM1、第1ID情報1、第2アドレスマークAM
2及び第2ID情報2が記録されている。
例にとっている。PPM記録媒体の場合には、アドレス
マークが第1〜第3アドレスマークAM1〜AM3の3
つとなる。このようなID部について、図29(D)の
ように、ID部信号が記録ピットの間隔で決まる高周波
信号として得られる。図29(C)のRF検出信号は、
所定のスライスレベルを設定することによってID部の
間に亘ってオン状態となる。したがって、RF検出信号
がオンからオフに切り替わるタイミングでID部の終了
を検出することができる。
セクタマークの終了時点でオンする。図29(E)の第
1アドレスマーク検出信号は、第1アドレスマークAM
1の終了時点でオンする。図29(F)の第2アドレス
マーク検出信号は、第2アドレスマークAM2の終了時
点でオンする。ここで、セクタマーク検出信号、第1ア
ドレスマーク検出信号、第2アドレスマーク検出信号が
オンしてからセクタ情報のID部の終了時点までの時間
T1,T2,T3は、予め定まっている。この時間T1
〜T3は、セクタ情報を読み取っているトラックの媒体
半径位置、ID部の円周方向の長さ、スピンドルモータ
による媒体の回転数により定まる時間となる。
ては、セクタマーク検出信号、第1アドレスマーク検出
信号、第2アドレスマーク検出信号がオンしてから予め
定まった規定時間T1,T2,T3の待ち時間を経過し
た時点で、図29(G)のようにID検出完了信号をオ
ンすればよいことが分かる。もちろん図29(C)のR
F検出信号については、オンからオフに切り替わったタ
イミングでID検出完了をオンすればよい。
マーク検出信号とアドレスマーク検出信号を使用し、且
つテストゾーン範囲の判断に図3のキャリッジ位置セン
サ56の検出信号を使用した場合の発光微調整のフロー
チャートである。この発光微調整のフローチャートは、
図21,図23,図25のイレーズパワー,第1ライト
パワー及び第2ライトパワーの発光微調整におけるステ
ップS3とステップS10の間の処理を破線で示す代替
ルーチン500に置き換えることで、それぞれの発光微
調整が実現できる。
ずステップS101でID部の検出に使用するID検出
タイマ値を設定してスタートし、次のステップS102
でセクタマークの検出の有無をチェックしている。セク
タマークを検出するまでは、ステップS103でタイム
アウトをチェックしている。ステップS102で正常に
セクタマークが検出されると、ステップS110に進
み、キャリッジ位置センサの位置情報を読み取って、ス
テップS111でテストゾーン範囲内か否かチェックす
る。テストゾーン範囲内にあれば、ステップS113
で、この場合にはセクタマークの検出であることからセ
クタマーク検出時について予め定めた待ち時間T1の時
間町を行った後、ID部検出完了を認識してステップS
10以降の処理に進む。
検出できずに、ステップS3でタイムアウトとなった場
合には、ステップS104で再度ID検出タイマ値を設
定してスタートした後、ステップS105で第1アドレ
スマークAM1の検出をチェックする。第1アドレスマ
ークが正常に検出できると、ステップS110でキャリ
ッジ位置センサの位置情報を読み取って、ステップS1
11でテストゾーンにあることを認識すると、ステップ
S113でデータ部先頭までの規定時間として、この場
合には第1アドレスマーク検出時の規定時間T2を待っ
た後、ID部の終了検出と判断して、ステップS10以
降の処理に進む。
クAM1が検出できずに、ステップS106でタイムア
ウトとなった場合には、ステップS107でID検出タ
イマ値を再度設定してスタートした後、ステップS10
8で第2アドレスマークAM2を検出する。第2アドレ
スマークAM2が検出できれば、ステップS110,S
111を介してステップS113に進み、第2アドレス
マーク検出時にはデータ部先頭までの規定時間T3を待
ってID部の終了を検出し、ステップS10以降の処理
に進む。
検出できず、ステップS109でタイムアウトとなった
場合には、異常終了とする。また、ステップS111に
おけるキャリッジ位置センサの位置情報に基づきテスト
ゾーン範囲内か否かの判断でテストゾーン範囲を外れて
いた場合には、ステップS112に進んでテストゾーン
に対する再シークを行った後、ステップS101からの
処理を繰り返す。
部の終了位置を検出する他の実施形態のフローチャート
であり、図31と同様、図21,図23,図25のステ
ップS3〜S10の間に置き変える代替ルーチン600
として表している。この代替ルーチン600にあって
は、まずステップS201でID検出タイマ値を設定し
てスタートし、ステップS202でID部のRF検出を
チェックする。
うにID部の読取りでオンすることから、これによりI
D部のRF検出を認識してステップS204に進み、キ
ャリッジ位置センサの位置情報を読み取って、ステップ
S205でテストゾーン範囲内であることを認識する
と、ステップS206でRF検出終了まで待つ。ID部
が終了すると、図29(C)のようにRF検出信号はオ
ンからオフとなることでRF検出終了を認識し、ステッ
プS10以降の処理に進む。
が行われずステップS203でタイムアウトとなれば、
異常終了とする。またステップS205でテストゾーン
範囲を外れていた場合にはステップS206に戻り、テ
ストゾーンへシークした後にステップS201からの処
理を繰り返す。更に、ID部の終了位置の検出の他の実
施形態として、図29(C)(D)(E)(F)のRF
検出信号、セクタマーク検出信号、第1,第2アドレス
マーク検出信号の1または複数の適宜の組合せ、複数の
検出信号のうちの特定のものが検出できなかった場合に
は、他の検出信号によりID部終了位置を検出すること
で冗長性を高め、確実にID部の終了位置を検出してデ
ータ部のみでの発光微調整のための発光駆動を行い、戻
り光の変動を受けずに正確な発光調整ができる。
値による限定は受けない。また発光微調整の処理はMP
Uによるプログラム制御で実現してもよいし、専用のフ
ァームウエアあるいはDSPのプログラム制御で実現す
るようにしてもよい。
ば、媒体のテストゾーンにシークした後のオントラック
制御を有効とした状態で、レーザダイオードの発光タイ
ミングに同期して自動発光制御(APC)をホールドさ
せながらレーザダイオードの発光パワーの微調整を行う
場合、テストパワーによる発光の際に現在位置がテスト
ゾーンの範囲内か否か判断し、テストゾーン範囲外にあ
る場合には再度テストゾーンの先頭にシークすることに
よって、オントラック状態で行う発光微調整の際に誤っ
てユーザデータを破壊してしまうことを確実に防止でき
る。
ついて、セクタのID部の終了を検出した時点、即ちデ
ータ部の先頭からレーザダイオードの発光駆動による発
光微調整を行うことによって、ID部での発光駆動によ
る戻り光の変動を測定して調整誤差を発生してしまう問
題を確実に防止でき、高精度の発光微調整を要求される
PWM記録の高密度記録媒体に適合した高精度のレーザ
ダイオードによる発光パワーの制御を実現し、高密度記
録媒体の記録再生の信頼性を大幅に向上できる。
構造の説明図
った本発明のPWM記録による信号、発光電流、差引電
流及びモニタ電流のタイムチャート
った本発明のPPM記録における信号、発光電流、差引
電流及びモニタ電流のタイムチャート
AC指示値の特性図
の関係式の説明図
関係式の説明図
関係式の説明図
ル登録内容の説明図
の説明図
ッジ位置センサの検出特性図
なう初期化処理のフローチャート
イ処理のフローチャート
ーチャート
チャート
チャート(続き)
ーチャート
ーチャート(続き)
ーチャート
ーチャート(続き)
検出に必要な光ディスクドライブの生成情報を示した回
路ブロック図
ントローラのリード系統のブロック図
部の検出情報のタイムチャート
D部終了を検出し且つテストゾーンをキャリッジ位置セ
ンサにより検出する処理ルーチンのフローチャート
を検出し且つテストゾーンをキャリッジ位置センサによ
り検出する処理ルーチンのフローチャート
レジスタ) 124:第1ライトパワー電流レジスタ(WP1電流D
ACレジスタ) 126:第2ライトパワー電流レジスタ(WP2電流D
ACレジスタ) 128:イレーズパワー差引DAレジスタ(EP差引D
ACレジスタ) 130:第1ライトパワー差引DAレジスタ(WP1差
引DACレジスタ) 132:第2ライトパワー差引DAレジスタ(WP2差
引DACレジスタ) 134:モニタADCレジスタ 136,140,142,144,146,148,150 :DAコンバータ(DA
C) 138:自動パワー制御部(APC) 152:ADコンバータ(ADC) 154:発光電流源回路 155:モニタパワー測定部 156:差引電流源回路 160:パワー設定処理部 162:発光粗調整状態部 164:発光微調整処理部 166:自動パワー制御ホールド部 168:発光タイミング制御部 170:テストゾーン確認部 172,174,175:レジスタ 182:モニタADC係数テーブル 184:EP/PA発光DAC係数テーブル 186:EP/PA差引DAC係数テーブル 188:WP1発光DAC係数テーブル 190:WP1差引DAC係数テーブル 192:WP2発光DAC係数テーブル 194:WP2差引DAC係数テーブル 196:イレーズ/:アシストパワーテーブル 198:第1ライトパワーテーブル 200:第2ライトパワーテーブル 400,402:AGC回路 404:マルチプレクサ 406,410:微分回路 408:PLL回路 412,414:比較回路
定して行うためにレーザダイオードの発光パワーを、そ
の時の温度、媒体種別、媒体上の位置(ゾーン)等によ
って適切に設定することが重要である。一般的に高温の
場合は必要とする発光パワーは低くなり、低温では高く
なる。媒体種別は、ピットポジション変調(PPM)に
より記録した128MB媒体及び230MB媒体と、記
録密度を高めるためにパルス幅変調(PWM)により記
録した540MB媒体及び640MB媒体とに分けられ
る。
ドライバ42によりエンクロージャ11側に設けた電磁
石44を制御する。電磁石44は装置内にローディング
されたMOカートリッジのビーム照射側と反対側に配置
されており、記録時及び消去時に媒体に外部磁界を供給
する。DSP16は、媒体に対しレーザダイオードユニ
ット30からのビームの位置決めを行うためのサーボ機
能を実現する。このため、エンクロージャ12側の光学
ユニットに媒体からのビーム戻り光を受光するFES用
ディテクタ45を設け、FES検出回路(フォーカスエ
ラー信号検出回路)46が、FES用ディテクタ45の
受光出力からフォーカスエラー信号E1を作成してDS
P16に入力している。
に媒体からのビーム戻り光を受光するTES用ディテク
タ47を設け、TES検出回路(トラッキングエラー信
号検出回路)48がTES用ディテクタ47の受光出力
からトラッキングエラー信号E2を作成し、DSP16
に入力している。トラッキングエラー信号E2はTZC
検出回路(トラックゼロクロス検出回路)50に入力さ
れ、トラックゼロクロスパルスE3を作成してDSP1
6に入力している。
ーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検出す
るレンズ位置センサ54が設けられ、そのレンズ位置検
出信号(LPOS)E4をDSP16に入力している。
またエンクロージャ11側には、対物レンズを搭載した
可動光学系系を媒体の半径方向に移動するキャリッジの
絶対位置を検出するキャリッジ位置センサ56が設けら
れ、そのキャリッジ位置検出信号E5をDSP16に入
力している。
のMO媒体72の下側には、VCM68により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ76が設けら
れている。キャリッジ76の位置は、絶対位置としてキ
ャリッジ位置センサ56により検出することができる。
キャリッジ76上には対物レンズ80が搭載され、固定
光学系78に設けているレーザダイオードからのビーム
をプリズム82を介して入射し、MO媒体72の媒体面
にビームスポットを結像している。
は、偏光成分に応じて更に分割され、ID/MO用ディ
テクタ(2分割ディテクタ)32に入射する。ID/M
O用ディテクタ32は、受光部32−1,32−2を有
する。受光部32−1,32−2の受光信号M1,M2
は、オペアンプ322,324に入力され、MO信号と
ID信号を出力する。即ち、MO=ID=M2−M1と
なる。
8,110の電流は、対応するレジスタ120,12
2,124,126に対するDAC指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
DAC及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。APC138による制御は、フォトディテク
タ102の受光電流i0 から得られたモニタ電流im が
目標リードパワーに対応したDAC136の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタ用ディテクタ102に対し、リードパワーを超える
イレーズパワー、第1ライトパワー及び第2ライトパワ
ーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパワー
相当のモニタ電流im をAPCに帰還するため、差引電
流源112,114,116を設けている。
ートリッジ媒体を対象としているが、イレーズを必要と
しないダイレクトオーバライト対応のカートリッジ媒体
の場合には、イレーズパワーEP用のレジスタ122,
128、DAC140,146及び電流源106,11
2を、各々、アシストパワーPA用として使用すればよ
い。勿論、アシストパワーPA専用のレジスタ、DAC
及び電流源を設けてもよい。
リッジ媒体の場合には、リードパワー発光時にはリード
パワー電流I0 が流れ、アシストパワー発光時にはリー
ドパワー電流I0 にアシストパワー電流I1を加えた電
流(I0 +I1)が流れる。第1ライトパワー発光時に
は、更に第1ライトパワー電流I2をリードパワー電流
I0 及びアシストパワー電流I1に加えた加えた電流
(I0 +I1+I2)が流れる。更に第2ライトパワー
発光時には、第2ライトパワー電流I3をリードパワー
電流I0 及びイレーズパワー電流I1に加えた電流(I
0 +I1+I3)が流れる。
によりダイレクトオーバライト対応型の540MB又は
640MB媒体のPWM記録の信号、発光電流、差引電
流及びモニタ電流のタイムチャートである。いま図7
(A)のライトゲートに同期して図7(B)のライトデ
ータが与えられたとすると、図7(C)のライトクロッ
クに同期してライトデータは図7(D)のパルス幅デー
タに変換される。このパルス幅データに基づき、図7
(E)のようにライトパワーへの立ち上げを高速にでき
るにするためのアシストパルスが生成され、更に図7
(F)のように第1ライトパルスが生成される。更に図
7(G)の第2ライトパルスが生成される。
(G)のアシストパルス、第1ライトパルス及び第2ラ
イトパルスに基づいた発光電流とパワーである。まずリ
ード電流は常時流してリードパワーRPでDC発光させ
ている。このため、アシストパルスに同期して発光電流
(I0 +I1)が流れ、これによってアシストパワーP
A分アップとなり、第1ライトパルスのタイミングで発
光電流I2が加算されて(I0 +I1 +I2 )て第1
ライトパワーWP1分アップとなり、更に第2ライトパ
ルスのタイミングで発光電流I3が加算されて(I0 +
I1+I3)となって第2ライトパワーWP2分アップ
する。
図7(H)の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流i0 から図7(H)の差引電流を差し引いた値とな
り、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、APC138に帰還される。図8は、ダイ
レクトオーバライト対応型の540MB又は640MB
媒体のPWM記録時の信号発光電流、差引電流及びモニ
タ電流のタイミングチャートである。図8(A)Aのラ
イトゲートに同期して図8(B)のライトデータが与え
られたとすると、図8(C)のライトクロックに同期し
て図8(D)のピットエッジパルスが生成される。この
ピットエッジパルスに対応して、図8(E)のアシスト
パルスと図8(F)の第1ライトパルスが作られる。P
PM記録にあっては、図8(G)の第2ライトパルスは
使用されない。
レーザダイオードの発光制御及び発光調整の機能ブロッ
ク図であり、本発明のオントラック状態で行われる発光
微調整の処理機能も含まれる。図9において、レーザダ
イオード100のレーザダイオード制御回路22は、発
光電流源回路154、自動パワー制御部138(AP
C)、モニタパワー測定部155及び差引電流源回路1
56で構成され、詳細は図6のようになる。このレーザ
ダイオード制御回路22は、パワー設定処理部160に
よりリード・ライトの際にパワー設定を受けて制御され
る。パワー設定処理部160で使用する最適パワーは、
イレーズ/アシストパワーテーブル196、第1ライト
パワーテーブル198、及び第2ライトパワ−テーブル
200に格納されている。尚、イレーズ/アシストパワ
ーテーブル196は、専用のイレーズパワーテーブルと
アシストパワーテーブルに別けてもよい。
パワーx[mW]に対するレジスタ指示値としての発光
ADC値yの関係であり、発光調整にあっては、Q1と
Q2の2点の発光パワー3mWと9mWで発光し、その
測定パワーが正確に3mWと9mWとなるように発光D
AC値yを調整し、調整が済んだ2点Q1,Q2を通る
直線の式 y=a・x+b から傾きaとy軸交点bを求めてテーブルに登録する。
た際には、発光調整終了後の状態で調整された各パワー
を使用したテストライトによって、そのときの装置内温
度に対応した各ゾーンの最適ライトパワーを求めて媒体
書込みを行う。図11は発光粗調整処理において、図6
のモニタADC152の正規化処理で得られた直線近似
の関係式である。このモニタADC152の正規化処理
は、目標DACレジスタ120のADC指示値y0に規
定のリードパワーをセットして発光駆動し、モニタAD
Cレジスタ134の値x0をリードする。
指示値y1=2mWをセットして発光駆動し、モニタA
DCレジスタ134の値x1をリードする。更に目標D
ACレジスタ120に指示値y2=4mWをセットして
発光駆動し、モニタADCレジスタ134の値x2をリ
ードする。この処理により、リードパワー、2mW及び
4mWの3点のパワーに対するADC152の測定値が
得られる。そこで3つの関係式から係数として傾きa0
とy軸交点b0 を算出して図9のモニタADC係数テー
ブル182に登録する。したがって、この正規化が済む
と、それ以降はモニタADCレジスタ134から得られ
た測定値xを関係式y=a0 ×x+b0 に代入して測定
パワーyを算出することになる。なお、この場合には、
3点Q0 ,Q1,Q2を求めて関係式の精度を高めてい
るが、2点の測定であってもよい。
ば、図12の2点Q1(x1,y1),Q2(x2,y
2)を、パワーxに対するEP電流DACレジスタ値y
の直線近似の関係式y=a1・x+b1に各々代入し、
この2つの代入式から傾きa1とy軸交点b1を算出す
る。次に図13のように、Q3(x1,z1),Q4
(x2,z2)を、2点を結ぶ直線を近似して関係式z
=c1・x+d1に代入して傾きc1とy軸交点d1を
算出する。
ーWP1と第2ライトパワーWP2についても同様に行
う。第1ライトパワーWP1にあっては、基本的にはイ
レーズ用の発光粗調整と同じであるが、WP1電流DA
Cレジスタ124に対する指示パワーが4mWと8mW
の2点としている点が相違する。そして、任意の第1ラ
イトパワーxに対するレジスタ値yの直線近似の関係式
の傾きa2とy軸交点b2を算出し、また第1ライトパ
ワーxに対する差引電流のレジスタ値zの直線近似の関
係式の傾きc2とy軸交点d2を算出し、それぞれ図9
のWP1電流DAC係数テーブル188とWP1差引D
AC係数テーブル190に登録する。
ズ発光粗調整と同じであるが、第1ライトパワーと同様
に4mWと8mWの2点で発光調整し、続いてリードパ
ワーとなるように差引電流を調整している。そして第2
ライトパワー発光の電流指示を行うDAC144につい
ての直線近似の関係式の傾きa3とy軸交点b3を算出
し、また第2ライトパワー発光時の差引電流を指示する
DAC150についての直線近似の関係式の傾きc3と
y軸交点d3を算出し、それぞれ図9のWP2電流DA
C係数テーブル192及びWP2差引係数テーブル19
4に登録する。
ストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、モニタ
パワー測定部155の測定パワーが目標テストパワーと
なるように発光電流源回路154に対するレジスタ指示
値を調整する。そして、この2点のテストパワーの調整
結果に基づき、任意の発光パワーxに対する発光電流源
回路154のレジスタ指示値yとの関係を直線近似によ
り求めて、その傾きとy軸交点を登録したテーブル情報
を補正する。
ーバライト対応型のカートリッジ媒体の発光微調整は、
(アシストパワー)+(第1ライトパワー)及び(アシ
ストパワー)+(第2ライトパワー)それぞれについ
て、オントラック制御を有効とした状態で媒体のテスト
ゾーンにシークし、予め定めた2点のテストパワーでの
発光を発光電流源回路154に順次指示してレーザダイ
オード100を発光駆動する。
ジ検出位置による現在位置の認識は、ID情報がトラッ
ク単位に正確にテストゾーンか否かを判断できるのに対
し、キャリッジ検出位置にあっては、キャリッジ位置セ
ンサ56の分解能によりテストゾーンの判別精度が決ま
る。通常、キャリッジ位置センサ56として使用するP
SDの検出距離の分解能は100ミクロンオーダとなる
ことから、例えば図15に示したテストゾーンとなる半
径位置23.53〜23.75mmの範囲内にあるか否
かの検出は確実にできる。またテストゾーン確認部17
0による確認処理としてはID情報とキャリッジ検出位
置の両方を使用し、例えばID情報から現在位置が認識
できなかった場合にキャリッジ検出位置により現在位置
を認識するようにしてもよい。逆にキャリッジ検出位置
を優先させ、キャリッジ検出位置から現在位置が認識で
きなかった場合にID情報から現在位置を認識するよう
にしてもよい。
学系の説明図から明らかなように、ハーフミラー303
で反射されてモニタ用ディテクタ102に入力してお
り、その結果、図9のモニタパワー測定部155で測定
されるテストパワーによる発光時のレーザダイオード1
00の測定パワーが戻り光により変動する。そこで本発
明にあっては、セクタ情報のうちのID部を避けてデー
タ部についてのみレーザダイオード100を発光駆動し
て発光調整を行う。このようなセクタ情報のデータ部で
の発光駆動を可能とするため、図17(B)のようなI
D検出信号を生成している。
ンタ付近に移動する。このキャリッジ移動は、ステップ
S3でアウタ側に押し付けていたVCMの粗調整状態で
規定の加速、定速、減速電流を加えることで行う。次に
ステップS7でフォーカスサーボをオンする。続いてス
テップS8でトラッキングエラー信号のオフセット調整
を行った後、ステップS9でトラッキングエラー信号の
最大振幅が得られるようにフォーカス位置を制御し、最
大振幅が得られたフォーカス位置をフォーカス最適線と
するオフセットを検出し、このオフセットをフォーカス
サーボにセットする。
ADC値yを読み取り、次のステップS13のライトゲ
ートのオフで発光を停止する。続いてステップS14
で、イレーズパワーの発光調整を行うための平均化回
数、即ちイレーズパワーの発光調整を行うセクタ数nが
規定回数に達したか否かチェックし、規定回数未満であ
れば、ステップS15で1セクタ内での発光回数mが規
定回数か否かチェックする。
り、次のライトゲートオンでイレーズ発光を行い、ステ
ップS12でそのときのモニタADC値yを読み取り、
ステップS13のライトゲートオフで発光を停止する処
理を繰り返す。ステップS15で1セクタ内の発光回数
mが規定回数に達した場合には、ステップS4に戻り、
再度IDタイマにタイマ値を設定してスタートし、新た
なID検出とテストゾーン範囲の認識に基づく次のセク
タでのテストパワーによるイレーズ発光を行う。
繰返しにより、ステップS14で平均化に使用するモニ
タADC値yの数、即ち平均化回数nが規定回数に達し
たら、ステップS16に進み、それまでに得られたモニ
タADC値yの平均化を行う。続いて図22のステップ
S17に進み、図20のステップS2でAPC目標値と
して求めているゲートパワーのモニタ測定値である目標
値と平均化モニタADC値が略一致するか否か比較す
る。
モニタDAC値が規定範囲内で目標値に一致した場合に
は、ステップS21に進み、2回目のテストパワーの設
定を行う。2点目についてはイレーズパワー=2mWと
同じであるが、第1ライトパワーWP1=7mWに増加
し、テストパワーは9mWとしている。この2点目のテ
ストパワーについても同様にして、設定したそれぞれの
発光パワーの発光DAC値と差引DAC値を算出した
後、ステップS22で2点目の第1ライトパワーの発光
調整処理を行う。
0MB、640MBカートリッジ媒体の場合には、図2
1乃至図26におけるイレーズパワーEPを、アシスト
パワーPAに代替し発光微調整を行えばよい。図21〜
図26に示したイレーズパワー、第1ライトパワー及び
第2ライトパワーの発光微調整は、ステップS7でID
部の読取情報からトラック番号を認識し且つID読取情
報からID部の終了位置を認識して発光微調整を行って
いるが、本発明の別の実施形態として、ID部の終了検
出をID部に含まれているセクタマーク、アドレスマー
ク、更にはID部のRF検出信号等を使用して検出する
こともできる。またテストゾーン範囲の判定も、ID部
の検出情報によらず、キャリッジの絶対位置を検出する
ために設けているキャリッジ位置センサ56の検出信号
を使用してもよい。
ドLSI回路24に対しては、MPU12よりリードア
クセスのためのアドレスデータ例えばトラック番号とセ
クタ番号が与えられ、これに対応したID情報及びリー
ドデータが得られる。図28は図27のリードLSI回
路24と光ディスクコントローラ14のリード系統のブ
ロックである。リードLSI回路24において、ディテ
クタ側からのID信号はAGC回路400で増幅された
後、マルチプレクサ404に入力している。またMO信
号もAGC回路402で増幅された後、マルチプレクサ
404に入力している。マルチプレクサ404は、ID
/MO切替信号によりAGC回路400,402のいず
れか一方を選択して出力する。
は、RLLデータ復調回路416、シンクバイト検出回
路418、アドレスマーク検出回路420、ECC回路
422、CRCチェック回路424、ID検出回路42
6及びセクタマーク検出回路428を備える。リードL
SI回路24からのリードデータは、まずRLLデータ
復調回路416で例えば1−7RLL逆変換される。即
ち、光ディスクコントローラ14のライト系統ではライ
トデータを例えば1−7RLL変換していることから、
リード時には逆変換する。この場合、シンクバイト検出
回路418によるID部のシンクバイト検出及びアドレ
スマーク検出回路420のアドレスマーク検出の結果が
使用され、セクタ内のデータ部が認識される。
はECC回路422に与えられる。ここでライト系統
は、ライトデータからECCコードを生成した際に(ラ
イトデータ+ECCコード)を対象にCRCコードを生
成して付加している。このためCRCチェック回路42
4がリードデータのCRCチェックを行ってECC回路
422にチェック結果を伝え、CRCチェック・エラー
がなければECC回路422はリードデータのエラー検
出訂正を行ってNRZデータとして出力する。
ードデータからID部を検出し、MPU12に対しID
部の終了タイミングでID検出の更新通知信号を出力す
る。またアドレスマーク検出回路420がID部のリー
ドデータに含まれるアドレスマークを検出し、アドレス
マーク検出信号をMPU12に出力する。更にセクタマ
ーク検出回路428がID部の先頭位置にあるセクタマ
ークを検出し、セクタマーク検出信号をMPU12に出
力している。
ては、セクタマーク検出信号、第1アドレスマーク検出
信号、第2アドレスマーク検出信号がオンしてから予め
定まった規定時間T1,T2,T3の待ち時間を経過し
た時点で、図29(G)のようにID検出完了信号をオ
ンすればよいことが分かる。もちろん図29(C)のR
F検出信号については、オンからオフに切り替わったタ
イミングでID検出完了信号をオンすればよい。
ずステップS101でID部の検出に使用するID検出
タイマ値を設定してスタートし、次のステップS102
でセクタマークの検出の有無をチェックしている。セク
タマークを検出するまでは、ステップS103でタイム
アウトをチェックしている。ステップS102で正常に
セクタマークが検出されると、ステップS110に進
み、キャリッジ位置センサの位置情報を読み取って、ス
テップS111でテストゾーン範囲内か否かチェックす
る。テストゾーン範囲内にあれば、ステップS113
で、この場合にはセクタマークの検出であることからセ
クタマーク検出時について予め定めた待ち時間T1の時
間待ちを行った後、ID部検出完了を認識してステップ
S10以降の処理に進む。
が行われずステップS203でタイムアウトとなれば、
異常終了とする。またステップS205でテストゾーン
範囲を外れていた場合にはステップS207に戻り、テ
ストゾーンへシークした後にステップS201からの処
理を繰り返す。更に、ID部の終了位置の検出の他の実
施形態として、図29(C)(D)(E)(F)のRF
検出信号、セクタマーク検出信号、第1,第2アドレス
マーク検出信号の1または複数の適宜の組合せ、複数の
検出信号のうちの特定のものが検出できなかった場合に
は、他の検出信号によりID部終了位置を検出すること
で冗長性を高め、確実にID部の終了位置を検出してデ
ータ部のみでの発光微調整のための発光駆動を行い、戻
り光の変動を受けずに正確な発光調整ができる。
ば、媒体のテストゾーンにシークした後のオントラック
制御を有効とした状態で、レーザダイオードの発光タイ
ミングに同期して自動発光パワー制御(APC)をホー
ルドさせながらレーザダイオードの発光パワーの微調整
を行う場合、テストパワーによる発光の際に現在位置が
テストゾーンの範囲内か否か判断し、テストゾーン範囲
外にある場合には再度テストゾーンの先頭にシークする
ことによって、オントラック状態で行う発光微調整の際
に誤ってユーザデータを破壊してしまうことを確実に防
止できる。
Claims (25)
- 【請求項1】ビーム光を発光するレーザダイオードと、 複数のパワーに応じた駆動電流を前記レーザダイオード
に流す発光電流源回路と、 前記レーザダイオードの発光パワーを規定の目標パワー
に制御する自動パワー制御部と、 前記レーザダイオードのレーザ光を受光して測定パワー
を検出するためのモニタ用ディテクタと、 前記モニタ用ディテクタから得られたモニタ電流をパワ
ー測定値として読み込むモニタパワー測定部と、 所定のテストゾーンにシークした後、オントラック制御
を有効とした状態で予め定めたテストパワーでの発光を
前記発光電流源回路に順次指示して前記レーザダイオー
ドを発光駆動し、前記測定パワーが前記目標パワーとな
るように前記発光電流源回路の指示値を調整し、該調整
結果に基づき、任意の発光パワーに対する前記発光電流
源回路の指示値との関係を求める発光微調整処理部と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り前記自動パワー制
御部の制御をホールドさせる自動パワー制御ホールド部
と、 前記発光微調整処理部によるレーザダイオードの発光調
整開始時に現在位置が前記テストゾーンの範囲内か否か
判断し、テストゾーンの範囲内の場合に発光調整を起動
するテストゾーン確認部と、を備えたことを特徴とする
光学的記憶装置。 - 【請求項2】請求項1記載の光学的記憶装置に於いて、
更に、前記モニタ用ディテクタの受光電流から発光パワ
ーと目標パワーの差に相当する規定の差引電流を差し引
いてモニタ電流に変換し、該モニタ電流を前記自動パワ
ー制御部に帰還させる差引電流源回路を設け、 前記モニタパワー測定部は、前記差引電流源回路から得
られたモニタ電流をパワー測定値として読み込み、 前記発光微調整処理部は、所定のテストゾーンにシーク
した後、オントラック制御を有効とした状態で予め定め
た少なくとも2点のテストパワーでの発光を前記発光電
流源回路に順次指示して前記レーザダイオードを発光駆
動すると共に、前記差引電流源回路に前記2点のテスト
パワーに対応する規定の差引電流を指示し、前記モニタ
パワー測定部の測定パワーが前記目標パワーとなるよう
に前記発光電流源回路の指示値を調整し、該調整結果に
基づき、任意の発光パワーに対する前記発光電流源回路
の指示値との関係を求めることを特徴とする光学的記憶
装置。 - 【請求項3】請求項1記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、媒体トラックのID部を読
み取ることにより現在位置が前記トラックゾーンの範囲
内か否か判断することを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項4】請求項1記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、位置センサにより媒体の径
方向に光ビームの結像位置を移動させるポジショナの絶
対位置を検出して現在位置が前記トラックゾーンの範囲
内か否か判断することを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項5】請求項1記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、現在位置がテストゾーン範
囲外にある場合は、再度テストゾーンへシーク動作を行
わせることを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項6】請求項1記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、現在位置が認識できない場
合は、前記レーザダイオードの発光調整を禁止すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項7】請求項1記載の光学的記憶装置に於いて、
前記テストゾーン確認部は、現在位置を認識する項目と
して、媒体トラックのID部の読取りと、位置センサに
より検出した対物レンズの光ビーム結像位置を媒体の径
方向に移動させるポジショナの絶対位置とを有し、該複
数の項目のいずれか1つを選択して現在位置を認識する
と共に、選択した項目では現在位置が認識できなかった
場合は、他の項目に切り替えて現在位置を認識すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項8】請求項1記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光微調整処理部及びテストゾーン確認部は、媒体
カートリッジが挿入された直後のイニシャル動作でテス
トゾーンの確認を伴う前記レーザダイオードの発光微調
整を行うことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項9】請求項1記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光微調整処理部及びテストゾーン確認部は、リト
ライ動作でテストゾーンの確認を伴う前記レーザダイオ
ードの発光微調整を行うことを特徴とする光学的記憶装
置。 - 【請求項10】請求項1記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部及びテストゾーン確認部は、
上位装置からのコマンドが発行されていない状態の場
合、一定の時間間隔でテストゾーンの確認を伴う前記レ
ーザダイオードの発光微調整を行うことを特徴とする光
学的記憶装置。 - 【請求項11】請求項1記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、 装置にローディングされた媒体がピットボジション変調
(PPM)の記録媒体の場合、前記イレーズパワー及び
第1ライトパワーの各々を調整し、 装置にローディングされた媒体がパルス幅変調(PW
M)の記録媒体の場合、前記イレーズパワー、第1ライ
トパワー、及び第2ライトパワーの各々を調整すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項12】ビーム光を発光するレーザダイオード
と、 複数のパワーに応じた駆動電流を前記レーザダイオード
に流す発光電流源回路と、 前記レーザダイオードの発光パワーを規定の目標パワー
に制御する自動パワー制御部と、 前記レーザダイオードのレーザ光を受光して測定パワー
を検出するためのモニタ用ディテクタと、 前記モニタ用ディテクタから得られたモニタ電流をパワ
ー測定値として読み込むモニタパワー測定部と、 所定のテストゾーンにシークした後、オントラック制御
を有効とした状態で予め定めたテストパワーでの発光を
前記発光電流源回路に順次指示して前記レーザダイオー
ドを発光駆動し、前記測定パワーが前記目標パワーとな
るように前記発光電流源回路の指示値を調整し、該調整
結果に基づき、任意の発光パワーに対する前記発光電流
源回路の指示値との関係を求める発光微調整処理部と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り前記自動パワー制
御部の制御をホールドさせる自動パワー制御ホールド部
と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光調整する場合、オントラック制御しているトラックセ
クタの各々につき、ID部を避けてデータ部でのみ前記
レーザダイオードの発光調整を行わせる発光タイミング
制御部と、を設けたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項13】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、更に、前記モニタ用ディテクタの受光電流から発光
パワーと目標パワーの差に相当する規定の差引電流を差
し引いてモニタ電流に変換し、該モニタ電流を前記自動
パワー制御部に帰還させる差引電流源回路を設け、 前記モニタパワー測定部は、前記差引電流源回路から得
られたモニタ電流をパワー測定値として読み込み、 前記発光微調整処理部は、所定のテストゾーンにシーク
した後、オントラック制御を有効とした状態で予め定め
た少なくとも2点のテストパワーでの発光を前記発光電
流源回路に順次指示して前記レーザダイオードを発光駆
動すると共に、前記差引電流源回路に前記2点のテスト
パワーに対応する規定の差引電流を指示し、前記モニタ
パワー測定部の測定パワーが前記目標パワーとなるよう
に前記発光電流源回路の指示値を調整し、該調整結果に
基づき、任意の発光パワーに対する前記発光電流源回路
の指示値との関係を求めることを特徴とする光学的記憶
装置。 - 【請求項14】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、ID検出の更新を通
知した時点で、ID部が終了してデータ部の先頭である
と認識して前記レーザダイオードの発光調整を行わせる
ことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項15】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、前記ID部に含まれ
るセクタマークを検出してから規定時間経過した時点
で、ID部が終了してデータ部の先頭であると認識して
前記レーザダイオードの発光調整を行わせることを特徴
とする光学的記憶装置。 - 【請求項16】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、前記ID部に含まれ
るアドレスマークを検出してから規定時間経過した時点
で、ID部が終了してデータ部の先頭であると認識して
前記レーザダイオードの発光調整を行わせることを特徴
とする光学的記憶装置。 - 【請求項17】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、ID部の読取信号を
所定のスライスレベルと比較した出力が変動しなくなっ
た時点で、ID部が終了してデータ部の先頭であると認
識して前記レーザダイオードの発光調整を行わせること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項18】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、媒体種別で決まるデ
ータ部の物理的な長さ及びスピンドルモータによる媒体
回転数に基づいて定めた回数に従って、前記レーザダイ
オードをデータ部のタイミングで間欠的に発光駆動し、
発光期間毎に前記モニタ測定部でパワー測定を行うこと
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項19】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、前記ID部の終了を
認識できなかった場合は、前記レーザタイオードの発光
調整を禁止することを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項20】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光タイミング制御部は、前記ID部の終了を
判断する項目として、ID検出の更新時点、セクタマー
ク検出から所定時間の経過時点、アドレスマーク検出か
ら所定時間の経過時点、及びID信号を所定スライスレ
ベルと比較した信号が変動しなくなった時点を有し、該
複数の判断項目のいずれか1つを選択してID部の終了
を判断すると共に、選択した判断項目でID部の終了を
判断できなかった場合は、他の判断項目に切り替えてI
D部の終了を判断することを特徴とする光学的記憶装
置。 - 【請求項21】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部及び発光タイミング制御部
は、媒体カートリッジが挿入された直後のイニシャル動
作で、ID部を避けてデータ部でのみ前記レーザダイオ
ードの発光微調整を行うことを特徴とする光学的記憶装
置。 - 【請求項22】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部及び発光タイミング制御部
は、リトライ動作でID部を避けてデータ部でのみ前記
レーザダイオードの発光微調整を行うことを特徴とする
光学的記憶装置。 - 【請求項23】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部及び発光タイミング制御部
は、上位装置からコマンドが発行されていない状態の場
合、一定時間間隔でID部を避けてデータ部でのみ前記
レーザダイオードの発光微調整を行うことを特徴とする
光学的記憶装置。 - 【請求項24】請求項12記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、 装置にローディングされた媒体がピットボジション変調
(PPM)の記録媒体の場合、前記イレーズパワー及び
第1ライトパワーの各々を調整し、 装置にローディングされた媒体がパルス幅変調(PW
M)の記録媒体の場合、前記イレーズパワー、第1ライ
トパワー、及び第2ライトパワーの各々を調整すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項25】ビーム光を発光するレーザダイオード
と、 複数のパワーに応じた駆動電流を前記レーザダイオード
に流す発光電流源回路と、 前記レーザダイオードの発光パワーを規定の目標パワー
に制御する自動パワー制御部と、 前記レーザダイオードのレーザ光の一部を受光して受光
電流を出力するモニタ用ディテクタと、 前記モニタ用ディテクタの受光電流から発光パワーと目
標パワーの差に相当する規定の差引電流を差し引いてモ
ニタ電流に変換し、該モニタ電流を前記自動パワー制御
部に帰還させる差引電流源回路と、 前記差引電流源回路から得られたモニタ電流をパワー測
定値として読み込むモニタパワー測定部と、 オントラック制御を有効とした状態で所定のテストゾー
ンにシークし、予め定めた2点のテストパワーでの発光
を順次指示して前記レーザダイオードを発光駆動すると
共に、前記差引電流源回路に前記2点のテストパワーに
対応する規定の差引電流を指示し、前記モニタパワー測
定部の測定パワーが前記目標パワーとなるように前記発
光電流源回路の指示値を調整し、該調整結果に基づき、
任意の発光パワーに対する前記発光電流源回路の指示値
との関係を求める発光微調整処理部と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光駆動する際に、発光駆動期間に亘り前記自動パワー制
御部の制御をホールドさせる自動パワー制御ホールド
と、 前記発光微調整処理部によるレーザダイオードの発光調
整開始時に現在位置が前記テストゾーンの範囲内か否か
判断し、テストゾーンの範囲内の場合に発光調整を起動
するテストゾーン確認部と、 前記発光微調整処理部により前記レーザダイオードを発
光調整する場合、オントラック制御しているトラックセ
クタの各々につき、ID部を避けてデータ部でのみ前記
レーザダイオードの発光調整を行わせる発光タイミング
制御部と、を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23215997A JP3429165B2 (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 光学的記憶装置 |
US09/022,800 US6072761A (en) | 1997-08-28 | 1998-02-13 | Optical storage apparatus having an automatic laser power control with light emission fine control |
DE19813871A DE19813871C2 (de) | 1997-08-28 | 1998-03-29 | Optisches Speichergerät |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23215997A JP3429165B2 (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 光学的記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1173668A true JPH1173668A (ja) | 1999-03-16 |
JP3429165B2 JP3429165B2 (ja) | 2003-07-22 |
Family
ID=16934928
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23215997A Expired - Fee Related JP3429165B2 (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 光学的記憶装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6072761A (ja) |
JP (1) | JP3429165B2 (ja) |
DE (1) | DE19813871C2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7126893B2 (en) | 2002-06-19 | 2006-10-24 | Pioneer Corporation | Information recording apparatus and control method thereof |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6285692B1 (en) * | 1998-08-05 | 2001-09-04 | Advantest Corporation | Method and apparatus for driving laser diode |
JP2002025139A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-25 | Fujitsu Ltd | 情報記憶装置及び情報記憶方法 |
US6775216B2 (en) * | 2000-08-29 | 2004-08-10 | Zoran Corporation | Method and apparatus for restarting a write operation in a disk drive system |
WO2002049031A1 (fr) * | 2000-12-11 | 2002-06-20 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Dispositif servant a reproduire un disque |
US6636468B2 (en) | 2001-03-26 | 2003-10-21 | Oak Technology, Inc. | Method and apparatus for laser power control during recording |
JP3768415B2 (ja) * | 2001-05-30 | 2006-04-19 | 富士通株式会社 | 書き込み/消去方法及び記憶装置 |
US7782731B2 (en) * | 2001-07-23 | 2010-08-24 | Joseph Reid Henrichs | Optical hard disk drive having a phase-change microhead array chip |
AU2003228301A1 (en) * | 2002-03-06 | 2003-09-22 | Rigel Pharmaceuticals, Inc. | Novel method for delivery and intracellular synthesis of sirna molecules |
JP4278922B2 (ja) * | 2002-05-30 | 2009-06-17 | パイオニア株式会社 | パワーコントロール装置 |
JP3858772B2 (ja) * | 2002-06-27 | 2006-12-20 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク記録装置 |
US20040017749A1 (en) * | 2002-07-24 | 2004-01-29 | Plasmon Lms, Inc. | Rewritable optical storage device with extended life |
US7274882B2 (en) * | 2002-10-30 | 2007-09-25 | Finisar Corporation | Method and apparatus for monitoring the power level of two or more optical transmitters |
TWI289301B (en) * | 2004-04-30 | 2007-11-01 | Mediatek Inc | Compensation method for front monitor diode |
CN101006499A (zh) * | 2004-08-19 | 2007-07-25 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 控制激光束的写入功率的方法以及光学记录器 |
US20070253308A1 (en) * | 2004-10-05 | 2007-11-01 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Device Comprising a Feedback Control Loop for a Signal of an Optical Pickup |
US20060181989A1 (en) * | 2005-01-27 | 2006-08-17 | Hanks D M | System and/or method for adjusting a laser beam |
JP5393821B2 (ja) * | 2012-02-27 | 2014-01-22 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像形成装置 |
JP5915426B2 (ja) * | 2012-07-10 | 2016-05-11 | 住友電気工業株式会社 | 光受信器および受光電流モニタ方法 |
US9741385B1 (en) * | 2016-02-16 | 2017-08-22 | Seagate Technology Llc | Digital automatic power control |
US10381036B1 (en) | 2016-02-16 | 2019-08-13 | Seagate Technology Llc | Laser bias calibration |
US10056132B1 (en) | 2016-02-16 | 2018-08-21 | Seagate Technology Llc | Assignable registers on a preamp chip |
WO2021032009A1 (en) * | 2019-08-16 | 2021-02-25 | Mediatek Inc. | Automatic gain control for serving cell activation based on two different reference signals |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2615553B2 (ja) * | 1985-11-14 | 1997-05-28 | 富士通株式会社 | レーザ制御装置 |
US5161144A (en) * | 1989-04-28 | 1992-11-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | System for recording information on an optical recording medium |
JP2656979B2 (ja) * | 1989-06-26 | 1997-09-24 | 富士通株式会社 | 光ディスク装置のレーザダイオード駆動電流の調整方法 |
EP0559391B1 (en) * | 1992-03-03 | 1998-06-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Magnetooptical recording/reproducing method and apparatus |
US5450383A (en) * | 1994-05-26 | 1995-09-12 | International Business Machines Corporation | Monitoring and adjusting laser write power in an optical disk recorder using pulse-width modulated power level checking signals |
US5602814A (en) * | 1994-10-06 | 1997-02-11 | International Business Machines Corporation | Calibration of write-once disks using a single disk sector |
JPH08129753A (ja) * | 1994-10-31 | 1996-05-21 | Nec Corp | 光記録再生装置 |
-
1997
- 1997-08-28 JP JP23215997A patent/JP3429165B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-02-13 US US09/022,800 patent/US6072761A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-03-29 DE DE19813871A patent/DE19813871C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7126893B2 (en) | 2002-06-19 | 2006-10-24 | Pioneer Corporation | Information recording apparatus and control method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3429165B2 (ja) | 2003-07-22 |
DE19813871C2 (de) | 2000-03-23 |
US6072761A (en) | 2000-06-06 |
DE19813871A1 (de) | 1999-03-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3429165B2 (ja) | 光学的記憶装置 | |
JP3457463B2 (ja) | 光学的記憶装置 | |
JP2683462B2 (ja) | 光学装置およびその初期化方法 | |
JP3579214B2 (ja) | 光学的記憶装置 | |
JP3654069B2 (ja) | 光学的記憶媒体及びその処理方法と光学的記憶媒体処理装置 | |
US6519213B1 (en) | Method and apparatus for reading data from a disk | |
CN101174434B (zh) | 光学记录介质驱动设备和球面像差调节方法 | |
JPH11259925A (ja) | 光学的記憶装置及び光記憶媒体の記録再生方法 | |
US7307926B2 (en) | Apparatus and method for tracking control | |
JP3017382B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
US6985419B2 (en) | Tracking control method and storage apparatus | |
EP1385156B1 (en) | Spherical aberration correcting method and apparatus | |
EP1014344B1 (en) | Tracking control method and storage unit | |
JP2002358666A (ja) | シーク制御方法及び記憶装置 | |
JP2523165B2 (ja) | 光ディスクのサ―ボ制御装置 | |
US6721245B1 (en) | Optical recording medium processing apparatus and seek control method therefor | |
JPH0757267A (ja) | 光ディスク装置 | |
JP3262706B2 (ja) | 情報の記録再生装置 | |
JP3560837B2 (ja) | トラッキング補正方法及び記憶装置 | |
JPH07262590A (ja) | 光学式情報再生装置 | |
JP3589963B2 (ja) | ディスク再生装置 | |
JP3392193B2 (ja) | 光学式情報再生装置 | |
JP3609791B2 (ja) | フォーカス制御装置と光ディスク装置及びこれらの方法 | |
JP2735430B2 (ja) | 移動制御装置 | |
JP3766994B2 (ja) | 情報の記録再生制御方法およびその装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20030408 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080516 Year of fee payment: 5 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080516 Year of fee payment: 5 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090516 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100516 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120516 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120516 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130516 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |