JPH08129753A - 光記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、テスト領域内の特定領域の集中使
用を回避し、パラメータの不適性設定を解決し得る光記
録再生装置を提供することを目的とする。 【構成】 主制御回路１０はトラック制御回路１１にテ
ストトラック設定信号ｍを出力する。トラック制御回路
１１はテストトラック設定信号ｍが入力されると、テス
ト領域内の複数トラック群の中からランダムにトラック
選択を実行し、光へッド３の光ビームを選択指定された
テストトラック位置に設定する。この後、主制御回路１
０は記録電流ｃのレーザ駆動回路２への出力指示を行
い、更にテストデータｇを記録パルス補正回路１へ供給
することにより、当該テストトラックへのテストデータ
ｇのテスト記録を実行する。再生エラー率検出回路９
は、テストデータｇと読み出しデータ信号ｆと比較する
ことにより、再生エラー率が予め定められた所定規定値
以内であるか否かの判定を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光記録再生装置に係り、
特に二値のディジタル情報を光学的手段を用いて書き換
え型の円盤状記録媒体に記録し、再生する光記録再生装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスクなどの書き換え型の光記
録媒体、特に光学的円盤状記録媒体（光ディスク）に情
報を記録し、再生する光記録再生装置では、従来より情
報の記録再生手段に半導体レーザダイオード等を光源と
したレーザ光が使用され、このレーザ光を光学レンズに
よって極小の光スポットに集束されて光ディスク上に照
射する。

【０００３】この光ディスクが光磁気ディスクの場合、
情報の記録時には、入力される記録データに対応して強
度変調されたレーザ光が光ディスク面上に照射されて媒
体面上を局部的に昇温し、外部磁界が印加されている光
ディスクの磁性膜の磁化を反転させることで情報記録が
行われる。また、情報の再生時には、記憶情報を乱さな
い程度の所定一定強度のレーザ光が光ディスク面上に照
射され、上記の磁化反転に対応した反射光の偏光面変化
を電気信号として検出し、二値信号に変換した後再生ク
ロック信号を弁別基準とした再生タイミング弁別から情
報再生が行われる。

【０００４】上記の記録再生過程においては、情報再生
時のエラー率が以下に低く保たれるかが重要となる。特
に、記録時においては、レーザ光の記録パワー強度、記
録パルス幅等の記録回路パラメータを実使用媒体の記録
感度特性に適合させ、安定な磁化反転マーク形成を得る
ことが要求される。因みに、記録パワー強度、あるいは
記録パルス幅が媒体特性での適性値に対し不足した条件
では、未飽和記録に伴う再生信号レベル低下から信号対
雑音比（Ｓ／Ｎ比）の劣化が発生し、また適性値から増
大した条件では、信号干渉の増大から分解能低下、マー
ク位置ずれが発生し、いずれの場合も再生エラー率の増
大をもたらす結果となる。

【０００５】従来、上記の記録回路パラメータは、媒体
の記録感度ばらつき、フォーカスずれ等の装置ばらつき
を考慮して決定されるが、比較的容易にマージン確保が
可能であったため、実験的な検証をもとに上記ばらつき
を許容するパラメータ値が決定され、実装置の情報記録
処理ではこの値が固定的に使用されるものであった。

【０００６】しかし、近年の大容量／高性能化要求に伴
う高記録密度化、あるいは高速化と共に、上述の記録回
路パラメータに対する設定マージンは減少傾向にあり、
その対応策として一部の装置では、媒体の装填時等に媒
体上のユーザ使用領域外のテスト領域を利用してテスト
記録再生を実行し、再生信号品質を判定基準に上記記録
回路パラメータを実使用媒体に適合させる記録パラメー
タ最適化設定処理の手法が採用され始めている。

【０００７】例えば、テスト記録再生を行い、記録時の
レーザ光強度を再生エラーが最小、あるいは再生信号エ
ンベロープ変動が最小となる条件で最適化する方法（特
開昭６４−３７７４５号公報）、記録パワーを徐々に増
加させたテスト記録再生を繰り返し実行し、ビットエラ
ー等の再生信号良否判定から最適記録／消去パワーを得
る方法（特開平３−１７１４３７号公報）が知られてい
る。

【０００８】また、上記記録回路パラメータの最適化設
定に係るテスト領域については、従来は特に明確に言及
する文献はないが、因みにＩＳＯ／ＩＥＣ１００８９
（ＪＩＳ Ｘ ６２７１）規定の１３０ｍｍ書き換え型
光ディスクカートリッジを一例にすると、そのフォーマ
ット条件から図５に示すように、媒体半径３０．００ｍ
ｍ〜６０．００ｍｍのユーザ使用領域外の内外周エリア
の６０．００ｍｍ〜６０．１５ｍｍ及び２９．８０ｍｍ
〜２９．９０ｍｍの製造者試験領域と２９．９０ｍｍ〜
３０．００ｍｍの保護用領域が規定されており、これら
製造者試験領域及び保護用領域を上記のテスト領域とし
て用いることもできる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の光
記録再生装置において、特に大容量化／高性能化を指向
した書き換え型光記録再生装置では、テスト領域でのテ
スト記録再生で実使用媒体に適合した記録回路パラメー
タの設定から、低再生エラー率での情報記録が達成され
るものであるが、テスト領域設定に関しては以下の欠点
を有するものであった。

【００１０】まず、前者の従来装置である特開昭６４−
３７７４５号公報においては、特にテスト領域の設定に
関してテスト記録回数の管理、若しくは各テスト領域で
のテスト記録回数の平準化への配慮がなされるものでは
ないため、特定テスト領域でのテスト記録集中から媒体
特性が劣化してしまう問題がある。すなわち、この従来
装置では電源投入、媒体装填、規定以上の温度変化、あ
るいは記録再生エラー等を起動条件として、記録回路パ
ラメータ最適化に係るテスト記録再生が繰り返し実行さ
れるが、上記テスト領域での記録回数管理、あるいはテ
スト領域の分散がなされない条件下では、特定テスト領
域でのテスト記録集中から、同領域での記録回数はユー
ザ領域での記録回数に比べはるかに増大した状況が発生
する。

【００１１】一方、媒体特性は記録回数の増加に伴い特
性劣化の傾向を示し、上述の如きテスト領域の記録回数
がユーザ領域に比べ大きく増大した状況下では、特性劣
化した領域での記録回路パラメータの最適化設定から、
結果として設定パラメータ値が本来最適化の対象とした
いユーザ領域の媒体特性に合致しない問題が発生するこ
とになる。

【００１２】また、後者の従来装置である特開平３−１
７１４３７号公報においては、その実施例の中にテスト
領域内に累積テスト記録回数の管理情報を登録する方法
が提案され、記録パワーの最適化設定処理毎に更新を行
い、累積記録回数が規定以上となった場合にはテスト領
域を変更する方法が示されている。この累積テスト記録
回数を管理する方法では、上記前者の従来装置で問題と
なった特定テスト領域への記録集中に起因した媒体特性
劣化は回避されるが、媒体上に累積記録回数を管理情報
として登録、及び読み取るための管理情報の生成解読手
段、変復調手段等の特別な手段を具備する必要があり、
記録パラメータ最適化設定の一連の処理自体も複雑化す
る問題がある。

【００１３】本発明は以上の点に鑑みなされたもので、
テスト領域内の特定領域の集中使用を回避し、パラメー
タの不適性設定を解決し得る光記録再生装置を提供する
ことを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、試験開始時に書き換え型光記録媒体のテス
ト領域内にランダムに光ヘッドからの光ビームを設定す
るテスト領域設定手段と、光ヘッドからの光ビームを用
いてテストデータをテスト領域内に記録した後、記録し
たテストデータを再生するテストデータ記録再生手段
と、テストデータ記録再生手段により再生されたテスト
データと、記録する前のテストデータとを比較して再生
テストデータの品質判定を行う再生品質判定手段と、再
生品質判定手段の判定結果により記録回路パラメータの
最適化設定を行う設定手段とを有する構成としたもので
ある。

【００１５】また、本発明におけるテスト領域設定手段
は、書き換え型光記録媒体である光ディスクに設けられ
たテスト領域内の複数のテストトラック群の中の一のテ
ストトラックをランダムに設定する手段であり、設定手
段は、再生品質判定手段の判定結果が良好と判定される
までテストデータ記録再生手段により一のテストトラッ
クに対するテストデータの記録再生を記録回路パラメー
タの値を変更して実行した後、再生品質判定手段による
品質判定を繰り返すよう構成したものである。

【００１６】また、本発明におけるテスト領域設定手段
は、書き換え型光記録媒体である光ディスクに設けられ
たテスト領域内の複数のテストトラック群の中の一のテ
ストトラックが円周方向に分割されたテストセクタをラ
ンダムに設定する手段であり、設定手段は、再生品質判
定手段の判定結果が良好と判定されるまでテストデータ
記録再生手段により一のテストセクタに対するテストデ
ータの記録再生を記録回路パラメータの値を変更して実
行した後、再生品質判定手段による品質判定を繰り返す
ように構成したものである。

【００１７】また、本発明における再生品質判定手段
は、再生エラー率を検出して該再生エラー率が予め定め
られた所定規定値以内であるか否かをもって再生信号品
質判定を行う。

【００１８】また、本発明における設定手段は、記録回
路パラメータとして少なくとも記録レーザ光強度又は記
録パルス幅を含み、再生品質判定手段の品質判定結果に
応じて記録レーザ光強度又は記録パルス幅の最適化設定
を行うものである。

【００１９】

【作用】本発明では、テスト領域設定手段により試験開
始時に書き換え型光記録媒体のテスト領域内にランダム
に光ヘッドからの光ビームを設定するようにしたため、
記録回路パラメータの最適化設定に係るテスト領域設定
に際して、特定テスト領域での記録集中を、テスト領域
の記録回数管理をすることなく防止することができる。

【００２０】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図１は本発明になる光記録再生装置の一実
施例のブロック図を示す。本実施例は、同図に示すよう
に、記録パルス補正回路１、レーザ駆動回路２、光ヘッ
ド３、光ディスク４、スピンドルモータ５、アンプ６、
再生パルス化回路７、再生データ弁別回路８、再生エラ
ー率検出回路９、主制御回路１０、トラック制御回路１
１及びメモリ回路１２から構成されている。

【００２１】光ヘッド３は内部にレーザダイオード（Ｌ
Ｄ）３０１と光ディテクタ（ＰＤ）３０２とを有し、図
示しない移送機構により光ディスク４の半径方向に移動
可能な構成とされている。また、光ディスク４は光磁気
ディスクであり、その磁性膜には磁化反転マーク４０１
が形成されている。スピンドルモータ５はそのモータシ
ャフトが光ディスク４の中心孔に固定されて、例えば光
ディスク４を光ヘッド３による光スポットとの線速度が
一定となるように、図示しない回転制御手段の出力に基
づき回転する。

【００２２】次に、本実施例の動作について説明する。
まず、通常のユーザ情報に対する記録再生動作について
説明する。情報の書き込みに際しては、書き込みデータ
信号ａは記録パルス補正回路１に供給され、ここで媒体
記録感度特性、あるいは記録すべきトラック位置（媒体
半径位置）の線速条件から、光ディスク４に安定した磁
化反転マーク４０１を形成するよう最適化された記録パ
ルス幅への補正が行われる。

【００２３】記録パルス補正回路１により記録パルス幅
の補正がされた書き込みデータ信号ｂは、レーザ駆動回
路２に供給され、ここで同じく媒体記録感度、線速条件
から最適化された記録時光強度に相当した記録電流に変
換された後、光ヘッド３内のＬＤ３０１に供給されてこ
れを電流駆動する。

【００２４】ＬＤ３０１は供給される記録電流に比例し
た光強度のレーザ光を発光する。このレーザ光は、光ヘ
ッド３内に備えられた光学レンズ（図示せず）により集
光され、スピンドルモータ５によって回転駆動されてい
る光ディスク４の媒体面上に光スポットを形成して照射
される。一方、図１には図示を省略したが、バイアスコ
イルなどの磁界発生手段により、記録時には光ディスク
４の媒体面上には消去時と極性の異なる外部磁界が印加
されており、上述の光スポットが形成されている媒体部
分のみ局部的に温度が上昇し、外部磁界と同じ方向の磁
化反転マーク４０１が形成されるのに対し、光スポット
が形成されない部分は温度が上昇せず、磁化反転が行わ
れないために磁性膜の磁化の方向は消去時と同一方向の
状態を保つ。

【００２５】前述したように、上記のレーザ光は書き込
みデータ信号ａにより光強度が変調されており、光ディ
スク４の媒体面上には実質的には断続的に光スポットが
形成されることとなるため、光スポットと同程度の微小
領域の磁化反転マーク４０１が断続的に形成されること
により、書き込みデータａが光ディスク４に磁化の方向
変化として記録されるのである。

【００２６】次に、情報の再生時の動作について説明す
る。まず、レーザ駆動回路２によって光ディスク４の既
記録情報を乱さない程度の所定一定強度光出力に相当し
た駆動電流がＬＤ３０１に供給されてこれを電流駆動す
る。これにより、ＬＤ３０１から出射された上記の所定
の一定光強度のレーザ光は、光ディスク４の媒体面上に
照射された後反射される。

【００２７】この反射光はカー効果により、その偏光面
が磁化の向きに対応して回転するため、光ヘッド３は内
部に設けられた図示しない公知の偏光面検出手段により
上記の反射光の偏光面の変化を光量変化として取り出し
てＰＤ３０２に入射し、これにより電気信号に変換させ
る。

【００２８】このＰＤ３０２より取り出された電気信号
は、既記録情報に応じた再生アナログ信号ｄとしてアン
プ６に入力されて所要レベルにまで増幅された後、再生
パルス化回路７に供給され、ここで信号波形処理から二
値のディジタル信号である再生データパルスｅに変換さ
れる。この再生データパルスｅは再生データ弁別回路８
に供給され、同信号に位相同期した再生クロック信号の
生成と、同再生クロック信号を弁別基準とした再生タイ
ミング弁別から、読み出しデータ信号ｆが検出されて情
報の再生が行われる。

【００２９】以上は従来と同様の記録再生動作である
が、本実施例では、高記録密度化、記録再生処理の高速
化に伴い、上記のデータ弁別回路８での弁別マージンが
減少し、特に記録パルス幅、あるいは記録時レーザ光強
度（以下、記録パワーと称す。）等の記録回路パラメー
タは大きな影響を有していることに鑑み、更にユーザデ
ータ領域外のテスト領域においてテスト記録再生を実行
し、上記記録回路パラメータを実使用媒体の記録感度ば
らつきに適合させる記録回路パラメータの最適化設定処
理を行うようにしたものである。

【００３０】次に、この最適化設定処理について、最適
化対象記録回路パラメータが記録パワーあるいは記録パ
ルス幅である場合について説明する。

【００３１】装置電源投入、媒体装填、規定値以上の温
度変化、あるいは記録再生エラー等を起動条件として、
試験開始信号ｉが主制御回路１０に供給されると、主制
御回路１０はトラック制御回路１１にテストトラック設
定信号ｍを出力する。トラック制御回路１１はテストト
ラック設定信号ｍが入力されると、テスト領域内の複数
トラック群（例えば、図５の内周側製造者試験領域と保
護用領域の計１２５トラック）の中からランダムにトラ
ック選択を実行し、光へッド３の光ビームを選択指定さ
れたテストトラック位置に設定する。

【００３２】この後、主制御回路１０はメモリ回路１２
から初期記録パワーの読み出しを実行し、読み出した初
期記録パワー値から所定低域マージンパワー値を減算し
た初期下限記録パワーの決定と、同バワー相当の記録電
流ｃのレーザ駆動回路２への出力指示を行い、更にテス
トデータｇを記録パルス補正回路１へ供給することによ
り、前述した通常の情報記録処理と同様の動作で当該テ
ストトラックへのテストデータｇのテスト記録が実行さ
れる。

【００３３】なお、上記初期記録パワーとしては、当該
媒体と装置での組合せにおいて過去に記録パワー最適化
設定の実績がない場合には、実験結果から決定された固
定設定初期値が、他方、既に当該媒体での記録パワー最
適化設定が過去に実行されている場合には、直前に実行
された記録パワー最適化設定での最適化記録パワー値が
メモリ回路１２から読み出されて使用される。

【００３４】次に、当該テストトラックに初期下限記録
パワーで記録されたテストデータは、前述した通常の情
報再生と同様の手順によって光ディスク４のテストトラ
ックから読み出され、二値の読み出しデータ信号ｆとし
て再生データ弁別回路８から再生エラー率検出回路９に
供給される。

【００３５】再生エラー率検出回路９は、当該テスト記
録に用いられたテストデータｇそのものも主制御回路１
０から供給されており、これを上記の読み出しデータ信
号ｆと比較することにより、再生エラー率の検出と、同
再生エラー率が予め定められた所定規定値以内であるか
否かの判定を行ってエラー率判定信号ｈを生成し、この
信号ｈを再生エラー率判定結果として主制御回路１０に
報告する。

【００３６】主制御回路１０は、上記初期下限記録パワ
ーでの再生エラー率判定結果が良好である場合は下限記
録パワーを減少させ、良好でない場合には下限記録パワ
ーを増加させて、前述と同様のテスト記録再生を繰り返
し実行し、再生エラー率判定結果で良好の判定を得る最
小の下限記録パワー、すなわち最適下限記録パワーの検
出を行う。

【００３７】この後、主制御回路１０は、上記最適下限
記録パワー値に所定低域マージンパワー値を加算するこ
とにより最適記録パワーを算出し、この算出最適記録パ
ワーをメモリ回路１２に格納するか、若しくは更新処理
を実行して一例の記録パワー最適化設定処理を終了す
る。

【００３８】一方、最適化対象パラメータが記録パルス
幅である場合には、主制御回路１０はメモリ回路１２か
ら初期記録パルス幅の読み出しを実行し、初期記録パル
ス幅の出力指示を記録パルス補正回路１に行うと共に、
前述した記録パワー最適化設定と同様の動作からテスト
トラックへのテスト記録再生を行う。

【００３９】主制御回路１０はエラー率判定結果として
のエラー率判定信号ｈの供給を受け、記録パルス幅を上
記初期記録パルス幅から順次増加、減少方向に変化させ
て上記テスト記録再生の繰り返し実行を指示し、再生エ
ラー率判定結果が良好と判定される限界の下限記録パル
ス幅と上限記録パルス幅の検出を行い、両者の平均値か
ら最適記録パルス幅の決定を行う。この後、主制御回路
１０は、最適記録パルス幅をメモリ回路１２に格納する
か、若しくは更新処理を実行して記録パルス幅の最適化
設定処理を終了する。なお、以降のユーザー情報の記録
処理においては、上述の最適記録パワー、あるいは最適
記録パルス幅をもって行われることは勿論である。

【００４０】以上の実施例における最適記録パラメータ
の決定手法として、記録パワーにおいては、再生エラー
率判定で良好との結果を得る下限パラメータにマージン
量を加算した結果をもって最適パラメータとする方法が
示され、また、記録パルス幅においては、エラー率判定
で良好との結果を得る上下限パラメータの平均値をもっ
て最適パラメータとする方法が示されているが、最適化
手法については特にこれに限定されるものではない。

【００４１】次に、上述の最適化設定で対象とした記録
回路パラメータ制御について詳述する。図２は記録パル
ス補正回路１の一実施例の回路図、図３は図２の動作説
明用タイムチャートを示す。図２に示すように、記録パ
ルス補正回路１は、ＳＲフリップフロップ（Ｆ／Ｆ）１
０１と可変遅延回路１０２とから構成されている。可変
遅延回路１０２は記録パルス幅制御コードｊによりその
遅延時間が制御される構成であり、その遅延出力をＦ／
Ｆ１０１のリセット端子に入力する。

【００４２】この記録パルス補正回路１の動作について
説明するに、Ｆ／Ｆ１０１のセット端子と可変遅延回路
１０２には図３に示した書き込みデータ信号ａが供給さ
れる。また、可変遅延回路１０２には主制御回路１０よ
り記録パルス幅制御コードｊが供給されて遅延時間が例
えばＴ１に設定されている。これにより、可変遅延回路
１０２からは記録パルス幅制御コードｊにより定められ
た時間Ｔ１遅延された、図３に示す如き書き込みデータ
信号ｌが取り出されてＦ／Ｆ１０１のリセット端子に印
加される。

【００４３】Ｆ／Ｆ１０１は書き込みデータ信号ａの立
上りエッジでセットされて、そのＱ出力端子よりハイレ
ベルを出力し、遅延された書き込みデータ信号ｌの立上
りエッジでリセットされてＱ出力端子よりローレベルを
出力する。従って、Ｆ／Ｆ１０１の出力信号は図３にｂ
で示す如きパルス幅Ｔ１のパルスとなる。すなわち、Ｆ
／Ｆ１０１の出力である記録パルスｂのパルス幅は、記
録パルス幅制御コードｊで決定されることとなる。

【００４４】光ディスク４上に形成されるマーク径は、
記録膜の熱拡散速度、レーザ光との相対速度等に影響さ
れるものの、基本的には記録パルス幅が大である程マー
ク径は大きくなる。従って、光ディスク４の記録感度が
低感度である場合には記録パルス幅を大きく、高感度で
ある場合には記録パルス幅を小とすることで記録感度が
補正され、適正なマーク形成が可能となる。

【００４５】図４はレーザ駆動回路２内の記録電流供給
部の一実施例の回路図を示す。同図に示すように、記録
電流供給部は、電流スイッチ回路２０１と、記録パワー
制御コードｋが入力されるＤＡ変換回路（ＤＡＣ）２０
２と、電流供給回路２０３とから構成されている。

【００４６】この構成の記録電流供給部の動作について
説明するに、前記の記録パルスｂが電流スイッチ回路２
０１に供給される。また、主制御回路１０から出力され
た記録パワー制御コードｋがＤＡＣ２０２に供給されて
アナログ信号に変換された後、電流供給回路２０３に供
給され、ここで記録パワー制御コードｋの値に応じたレ
ベルの記録電流に変換される。電流スイッチ回路２０１
は上記の記録パルスｂの例えばハイレベル期間、電流供
給回路２０３よりの記録電流を通過させて記録電流ｃと
して光ヘッド３内のＬＤ３０１に供給する。

【００４７】記録時のレーザ光強度と記録電流ｃとは比
例関係にあり、更に記録電流値は記録パワー制御コード
ｋから決定されるため、記録感度のばらつきは先の記録
パルス幅補正と同様に、記録パワー制御コードｋでも補
正することができることになる。

【００４８】従って、媒体特性、あるいは温度等の環境
条件に起因した記録感度ばらつきを補正し最適な記録条
件を得るには、上述のように記録パルス幅の補正、記録
パワー（記録電流）の補正のいずれか、若しくは両者を
実行することでその最適条件設定が可能となる。特にレ
ーザダイオードの最大パワー出力定格に対して記録パワ
ーに十分設定余裕が得られる場合には、補正制御の容易
さから記録パワー補正が有利といえるし、十分なパワー
余裕が得られない場合には記録パルス幅補正が有利とな
る。

【００４９】なお、以上の実施例においては、テスト領
域は光ディスク４の一周に相当した１トラックであるも
のとしてテスト記録再生の実行例が示されているが、通
常光ディスクは１トラックが複数のセクタに分割されて
使用されるのが常であり、よってトラック内の媒体記録
感度に均一性が保証されるならば、セクタをテスト領域
の単位とすることもできる。

【００５０】また、実施例におけるテスト領域のランダ
ム選択設定は、記録回路パラメータ最適化設定処理の起
動時に実行するもので示されているが、最適化処理失敗
による再試行時はもとより、各最適化対象パラメータ個
々に対して実行されるものであってもよい。なお、若干
にしろテスト領域の特性ばらつきを考慮するなら、一連
のテスト記録再生は同一テスト領域で行うことが設定精
度の点で望ましく、従ってテスト領域のランダム選択設
定は記録回路パラメータの最適化設定処理起動時、若し
くは再試行時に限定し、一連のテスト記録再生では選択
された同一テスト領域を固定的に用いることが有効とい
える。

【００５１】また、以上の実施例においては、すべて記
録回路パラメータの最適化設定に際して再生エラー率検
出回路９での再生エラー率が規定値以内であることを判
定基準としているが、再生信号の信号品質を判定する手
段であれば特に限定されるものではなく、再生信号振幅
が規定値以上、あるいは再生分解能（最高記録密度と最
低記録密度での再生信号振幅比）が規定範囲内等をもっ
て判定することも可能である。再生信号振幅が判定基準
である場合には、再生信号振幅判定回路を、分解能が判
定基準である場合には再生分解能判定回路を、それぞれ
再生エラー率検出回路９の代わりに設けることで目的は
達成される。

【００５２】また、上記の実施例では記録回路パラメー
タは記録バワーあるいは記録パルス幅であるものとして
説明したが、これに限定されるものではなく、記録タイ
ミング等のパラメータであってもよい。また、最適化設
定の処理方法については、これらのパラメータをすべて
最適化対象として順次最適化設定するものであっても、
あるいは記録パワー等、最も影響の大きいパラメータの
みを最適化の対象とし、他のパラメータについては設計
評価から決定された固定値とするものであってもよい。

【００５３】また、以上の実施例においては、媒体上へ
の記録方式として磁化反転マークの中心位置を情報点と
するマーク位置記録について説明したものであるが、本
発明はこれに限定されるものではなく、磁化反転マーク
のエッジ位置を情報点とするマークエッジ記録において
も、同様の回路構成要件において同様の効果を得ること
ができる。更に、以上の実施例においては、光磁気記録
媒体を記録媒体とした書き換え型光記録再生装置につい
て示したが、結晶とアモルファスとの状態遷移から情報
の記録を行う相変化型記録媒体を対象とする場合におい
ても、同一の回路構成要件において記録回路パラメータ
の最適化設定は達成される。

【００５４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
テスト領域設定手段により試験開始時に書き換え型光記
録媒体のテスト領域内にランダムに光ヘッドからの光ビ
ームを設定することにより、テスト記録再生を実行する
テストトラック又はテストセクタ等のテスト領域を複数
のテスト領域群の中からランダムに選択設定できるた
め、記録回路パラメータの最適化設定に係るテスト領域
設定に際して、特定テスト領域での記録集中を、テスト
領域の記録回数管理をすることなく防止することがで
き、従って、特定テスト領域でのテスト記録再生集中に
起因した媒体特性劣化から誤った記録回路パラメータの
設定を防止することができる。

【００５５】また、本発明によれば、媒体上に累積記録
回数を管理情報として登録及び読み取るための管理情報
の生成解読手段、変復調手段等のテスト記録回数の管理
手段を不要とすることができると共に、記録回路パラメ
ータ最適化設定の処理の複雑化を低減できる。以上よ
り、本発明によれば、常に記録回路パラメータの適性設
定から低再生エラー率での情報記録を達成できる。

【００５６】また、記録回路パラメータとして少なくと
も記録レーザ光強度を含み、再生品質判定手段の品質判
定結果に応じて記録レーザ光強度の最適化設定を行う場
合は、補正制御を容易に行うことができ、また、記録回
路パラメータとして少なくとも記録パルス幅を含み、再
生品質判定手段の品質判定結果に応じて記録パルス幅の
最適化設定を行うようにした場合は光ヘッドから十分な
パワー余裕が得られない場合に好適であるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のブロック図である。

【図２】図１の記録パルス補正回路の一実施例の回路図
である。

【図３】図２の動作説明用タイムチャートである。

【図４】図１のレーザ駆動回路内の要部の一実施例の回
路図である。

【図５】使用領域に係る媒体のフォーマット構成例を示
す図である。

【符号の説明】

１ 記録パルス補正回路 ２ レーザ駆動回路 ３ 光ヘッド ４ 光ディスク ５ スピンドルモータ ７ 再生パルス化回路 ８ 再生データ弁別回路 ９ 再生エラー率検出回路 １０ 主制御回路 １１ トラック制御回路 １２ メモリ回路 １０１ ＳＲフリップフロップ（Ｆ／Ｆ） １０２ 可変遅延回路 ２０１ 電流スイッチ回路 ２０２ ＤＡ変換回路（ＤＡＣ） ２０３ 電流供給回路 ３０１ レーザダイオード（ＬＤ） ３０２ 光ディテクタ（ＰＤ）

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 試験開始時に書き換え型光記録媒体のテ
   スト領域内にランダムに光ヘッドからの光ビームを設定
   するテスト領域設定手段と、 該光ヘッドからの光ビームを用いてテストデータを該テ
   スト領域内に記録した後、記録した該テストデータを再
   生するテストデータ記録再生手段と、 該テストデータ記録再生手段により再生されたテストデ
   ータと、記録する前の前記テストデータとを比較して再
   生テストデータの品質判定を行う再生品質判定手段と、 該再生品質判定手段の判定結果により記録回路パラメー
   タの最適化設定を行う設定手段とを有することを特徴と
   する光記録再生装置。
2. 【請求項２】 前記テスト領域設定手段は、前記書き換
   え型光記録媒体である光ディスクに設けられた前記テス
   ト領域内の複数のテストトラック群の中の一のテストト
   ラックをランダムに設定する手段であり、前記設定手段
   は、前記再生品質判定手段の判定結果が良好と判定され
   る限界まで前記テストデータ記録再生手段により前記一
   のテストトラックに対する前記テストデータの記録再生
   を前記記録回路パラメータの値を変更して実行した後、
   前記再生品質判定手段による品質判定を行うことを繰り
   返すことを特徴とする請求項１記載の光記録再生装置。
3. 【請求項３】 前記テスト領域設定手段は、前記書き換
   え型光記録媒体である光ディスクに設けられた前記テス
   ト領域内の複数のテストトラック群の中の一のテストト
   ラックが円周方向に分割されたテストセクタをランダム
   に設定する手段であり、前記設定手段は、前記再生品質
   判定手段の判定結果が良好と判定される限界まで前記テ
   ストデータ記録再生手段により前記一のテストセクタに
   対する前記テストデータの記録再生を前記記録回路パラ
   メータの値を変更して実行した後、前記再生品質判定手
   段による品質判定を行うことを繰り返すことを特徴とす
   る請求項１記載の光記録再生装置。
4. 【請求項４】 前記再生品質判定手段は、再生エラー率
   を検出して該再生エラー率が予め定められた所定規定値
   以内であるか否かをもって再生信号品質判定を行うこと
   を特徴とする請求項１記載の光記録再生装置。
5. 【請求項５】 前記設定手段は、前記記録回路パラメー
   タとして少なくとも記録レーザ光強度を含み、前記再生
   品質判定手段の品質判定結果に応じて前記記録レーザ光
   強度の最適化設定を行うことを特徴とする請求項１記載
   の光記録再生装置。
6. 【請求項６】 前記設定手段は、前記記録回路パラメー
   タとして少なくとも記録パルス幅を含み、前記再生品質
   判定手段の品質判定結果に応じて前記記録パルス幅の最
   適化設定を行うことを特徴とする請求項１記載の光記録
   再生装置。