JPH06259772A - 光ディスク装置の記録パワー決定方法 - Google Patents

光ディスク装置の記録パワー決定方法

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JPH06259772A
JPH06259772A JP4813593A JP4813593A JPH06259772A JP H06259772 A JPH06259772 A JP H06259772A JP 4813593 A JP4813593 A JP 4813593A JP 4813593 A JP4813593 A JP 4813593A JP H06259772 A JPH06259772 A JP H06259772A
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recording
power
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optimum
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JP4813593A
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Nobuhide Matsubayashi
宣秀 松林
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 過大なパワーを必要とせず、実際に情報の記
録を行う場所あるいはその近傍で試し書きを行うことが
でき、最適な記録パワーに設定できる。 【構成】 レーザー光の最適な記録パワーを決定する記
録パワー決定方法にあって、情報の記録に先立って、所
定のパルス幅τ0よりも長いパルス幅τ1に設定し、複数
の記録パワーで試し書きを行って最適な記録パワーP1
をスキャンして見つけた後、所定のパルス幅τ0での最
適なパワーP0を、前記パルス幅τ1と前記記録パワーP
1とから求める。尚、所定のパルス幅τ0での最適パワー
決定のための実測はしない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザー光を用いて情
報の記録を行う光ディスク装置における記録パワーの決
定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、大容量記憶装置として光磁気ディ
スク等を用いた書換え可能な光ディスク装置が実用化さ
れている。これらの装置において、情報の記録は、光記
録媒体である光ディスクに照射する光の強度を、情報に
応じて変調することにより行われる。
【0003】現在実用化されているISO規格に準拠し
た光磁気ディスクドライブ装置では、図6(a)ないし
(c)に示すように、情報を“1”と“0”に対応さ
せ、“1”のときにレーザーを発光させて記録マークを
形成するようになっている。いわゆる、マークポジショ
ン記録である。再生は、前記記録マークの位置を検出す
ることにより行われる。
【0004】図6(b)に示す記録時の発光時間(記録
パルス幅τ)は、図6(a)に示す1チャネルビットの
周期をTとすると、通常、2−7変調の最短周期3Tの
50%以下に設定される。また、記録パワーPは、光記
録媒体の種類や温度に応じて予め設定されたパワーが用
いられる。
【0005】記録パワーの最適値は記録媒体の種類や温
度、あるいは記録周波数や、媒体駆動(回転)時の線速
度などが異なると変わってくる。前記記録周波数や線速
度は、装置の仕様により条件が決まっているので、前記
装置毎の所定の適合値に合わせておくことが可能であ
る。しかし、光記録媒体の種類や温度が異なる場合に
は、それらの変化に応じて、記録パワーを細かく切り換
えなければならない。
【0006】一般に、光ディスクのコントロールゾーン
には、その媒体の最適な記録条件が書かれている。従っ
て、装置側では、前記記録された条件をコントロールゾ
ーンから読みとって、それらを参照して、記録パワーを
コントロールすることもできる。しかし、実際の装置で
使われる回転数等の条件が、コントロールゾーンに書き
込まれた条件を決定した際の設定と、異なっている場合
があり、正確な制御が難しい。
【0007】そこで、このような課題を解決するため
に、試し書きを行って最適な記録パワーを設定する方法
が、特開昭64−37745号公報や特開平3−911
24号公報等に提案されている。
【0008】これは記録を行う前に複数の記録パワーで
情報を記録し、それを再生してエラーレートを測る等し
て、最適な記録パワーを決定するものである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これま
でに提案されている試し書きの方法には、以下に述べる
欠点がある。
【0010】試し書きを行う場合、図7に示すような記
録パワーとエラーレートの関係を測定し、エラーレート
が最小になる記録パワーの範囲を見つける必要がある。
そのためには、記録パワーを最適な値よりも、かなり大
きな範囲まで変化させなければ、最適値を決定するに十
分なデータが得られない。従って、光源となる例えば半
導体レーザーの素子には、必要以上に高出力の仕様のも
のが要求される。その上、記録パワーを大きくすると、
記録ドメインの幅が広がってしまうことになる。
【0011】前記記録ドメイン幅が広がると、隣接トラ
ックとの間で、トラック間クロストークが増加する原因
となる。また、この記録ドメインを完全に消去する場
合、隣接トラックの情報の一部が消されてしまう危倹が
ある。従って、試し書きを行うトラックは実際にユーザ
ーがデータを記録する場所にはできず、テストゾーン等
の実際にデータを記録する場所と異なるところで実行せ
ざるをえない。
【0012】現在実用化されているディスクのフォーマ
ットでは、ユーザーがデータを記録するデータゾーンに
対して、テストゾーンは、その内側および外側に設けら
れている。このため、データゾーンとテストゾーンとで
は線速度や記録密度の条件が異なるので、正確なパワー
決定が難しい。
【0013】また、次世代の90mm書換えディスクと
して標準化が進められているフォマーット(ECMA/TC/92
/100)は、記録密度が内外周でもほぼ一定になるよう
に、半径方向の位置によりクロック周波数が異なるバン
ドに分かれている。しかし、内外周のテストゾーンのク
ロックは、データゾーンのものよりも低くなっている。
従って、テストゾーンではデータゾーンより記録密度が
低いため、前記次世代のものでも、試し書きを行って
も、データゾーンの各バンドの最適パワーを決めるのは
極めて難しい。
【0014】本発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、過大なパワーを必要とせず、実際に情報の記録を行
う場所あるいはその近傍で試し書きを行うことができ、
最適な記録パワーに設定できる光ディスク装置の記録パ
ワー決定方法を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、繰り返し記録
が可能な光記録媒体に、所定のパルス幅τ0でレーザー
光をスポット状に照射させて情報の記録を行う際に、前
記レーザー光の最適な記録パワーを決定する光ディスク
装置の記録パワー決定方法において、前記記録に先立っ
て、前記所定のパルス幅τ0よりも長いパルス幅τ1に設
定し、複数の記録パワーで試し書きを行って最適な記録
パワーP1を見つけた後、前記所定のパルス幅τ0での最
適なパワーP0を、前記パルス幅τ1と前記記録パワーP
1とから求めている。
【0016】
【作用】図1(A),(B)には、パルス幅を相対的に
短くした場合と、長くした場合とで、それぞれ記録パワ
ーを変化させて、記録を行ったときに形成されるマーク
の形状を模式的に示してある。
【0017】図1(A)に示すように、前記パルス幅が
短いときは、光が照射されている間に媒体が移動する距
離が短いため、記録マークは円形に近くなる。これに対
し、図1(B)に示すように、パルス幅が長いときは、
相対的に光の当たる距離が長くなるため、記録マークは
楕円もしくは長円形状になる。従って、同じマーク長が
得られた場合の各パワーを比較すると、パルス幅が長い
ときの方がパワーが小さく、ドメイン幅は狭くなる。こ
のことは、図1(A),(B)に示す通りである。
【0018】記録パワーを大きくしていったときにエラ
ーレートが増大する原因は、パワー増大に伴ってマーク
長が長くなるにつれ、図2(a)に示すように、記録方
式例えば2−7変調における3T信号を記録したときの
マーク間の距離が詰まり、再生時の分解能が悪くなるた
めである。尚、図2(b)には、比較のため、最適パワ
ーにおける記録マークを示してある。
【0019】図3に、記録パルス幅が長いときと短いと
きの記録パワーに対するエラーレートの関係を示してあ
る。前述した理由により、パルス幅が長いときの方が小
さいパワーで且つエラーレートが最小になり、エラーレ
ートが増大するパワーも小さい。つまり、パワーが小さ
い段階から、エラーレートの増大が生じることになる。
また、パルス幅が長いときの方が、ドメイン幅も相対的
に狭くなる。従って、エラーレートが小さくなるパワー
の(最小値を含む)範囲はパルス幅が長いときの方が狭
くなり、相対的にエラーレートも高い傾向にある。
【0020】前述した傾向から分かるように、パルス幅
を長くした方がパワーを小さくできると共に、試し書き
をする場合に最適パワーを見つけやすく、ドメイン幅も
隣接トラックに影響を及ぼすほど広がらない。
【0021】一方、パルス幅を短くした方がパワーマー
ジンが広がると共に、エラーレートが下がるため実際の
記録には有利であることがわかる。
【0022】本発明の記録パワー決定方法では、記録に
先立って、所定のパルス幅τ0よりも長いパルス幅τ1に
設定し、複数の記録パワーで試し書きを行って、その時
の最適な記録パワーP1を見つけるようにしている。従
って、前述のように、パルス幅を短くして試し書きした
時よりも、前記最適パワーP1は見つけやすく、ドメイ
ン幅も隣接トラックに影響を及ぼすほど広がることがな
い。
【0023】前記最適パワーP1を見つけた後、前記パ
ルス幅τ1より幅の短い前記所定のパルス幅τ0における
最適なパワーP0は、前記パルス幅τ1と前記記録パワー
P1とを用いて求める。このため、前記最適なパワーP0
は前記所定のパルス幅τ0に設定して実測をする必要が
ないので、過大なパワーを必要としない。つまり、本発
明の方法においては、実際に情報の記録を行う場所ある
いはその近傍で、試し書きを行うことができることを意
味している。
【0024】
【実施例】以下、本発明に係る光ディスク装置の記録パ
ワー決定方法の一実施例について述べる。
【0025】まず、本実施例の概略について述べる。前
記記録パワー決定方法は、試し書きを行う際の記録パル
ス幅を実際の記録のときよりも長くし、従来の試し書き
のときよりも小さなパワーの範囲で記録パワーをスキャ
ンして仮の最適パワーを求めた後、実際のパルス幅で記
録を行うときのパワーに換算することにより、実際の最
適パワーを決定するようにしたものである。
【0026】前記実際の最適パワーは、光記録媒体上に
照射されるレーザー光のスポットの径を考慮して、以下
に述べる式を用いて求める。
【0027】ここで、記録時において、光記録媒体上に
照射される光のエネルギーは、P×τに比例する。尚、
Pは記録パワー、τは照射したレーザー光のパルス幅で
ある。
【0028】記録するマークの長さがレーザー光のスポ
ット径と略同じか、それ以下の場合、マークの大きさ
は、ほぼ照射光のエネルギー量に比例する。従って、最
適な記録を行うときの記録パワーとパルス幅の関係は、 P∝1/τ …(1) で表される。従って、実際の記録の際に使用するパルス
幅をτ0、試し書きのときのパルス幅をτ1、試し書きの
ときの最適パワーをP1とすると、実際の最適パワーP0
は、 P0=P1×τ1/τ0 …(2) で求められる。
【0029】一方、記録マークの長さがスポット径に対
して大きくなる場合、図4(b),(c)に示すよう
に、パワーの大小により、記録マークのエッジの部分が
影響を受け、長さが変化する。尚、図4(a)は前記ス
ポットの移動を示しており、図4(b)値(c)は、そ
の移動に伴う記録マークを示してある。図4(b)は、
記録パワーが相対的に小さい場合、図4(c)は記録パ
ワーが大きい場合のマークをそれぞれ示してある。また
図4(a)に示す符号Wはスポット10の直径である。
【0030】記録マークの中心部に当たるパワーの大小
は、マークの長さに無関係になるため、その部分の時間
を記録パルス幅から差し引いて考えればよい。
【0031】マーク長に関係するのは、図4(d)に示
すように、マークの前後でスポット10のほぼ半分の距
離(W/2)だけ移動する時間tbに相当する。つま
り、前記(2)式は、 P0=P1×(τ1−ta)/(τ0−ta) …(3) となる。
【0032】尚、taは照射時間のうちマークの長さに
無関係な時間であり、 ta=(L−W)/V …(4) で求められる時間である。そして、Lはマーク長,Vは
光記録媒体の移動速度である。
【0033】前記(3)式では、各パルス幅τ1,τ0か
ら、マーク長に関係する時間帯を除き、マーク長に無関
係な各パルス幅(τ1−ta),(τ0−ta)を用いて、
実際の最適パワーが得られるようになっている。
【0034】前記(3)式を用いれば、記録マークの長
さがスポット径に対して大きくなった場合でも、マーク
長に関係無く、最適な記録パワーを求めることができ
る。
【0035】本実施例では、試し書きを行うときにパル
ス幅を長く設定してあるので、前述のように、実際の最
適パワーより大きなパワーを必要としないため、レーザ
ーの出力が小さくてすむ。さらに、最適パワーより大き
なパワーで試し書きを行っても、ドメイン幅が広がりに
くいため、隣接トラックのデータ破壊をおこす危険性が
ない。従って、データゾーンでの試し書きが可能とな
り、実際の条件に則した最適パワーを求めることができ
る。
【0036】また、パルス幅を長く設定する効果とし
て、試し書きのときのパワーマージンが実際の記録のと
きより狭くなるので、仮の最適パワーを実測するための
スキャンをする幅が小さくてすむ。さらに、エラーレー
トが最小になるパワーを見つけやすくなる。
【0037】以上の点をまとめると、常に最適なパワー
で記録を行うことができるため、本方法を適用した装置
の信頼性を向上させることができると共に、感度特性の
異なる様々な光記録媒体を使用することが可能となる。
【0038】次に、具体的な記録フォーマットの例をあ
げて、本実施例に係る記録パワー決定方法について説明
する。
【0039】光記録媒体として、現行で使用されている
90mmの書換え可能な光磁気ディスクを用いた場合を
例に、本実施例の方法を用いた試し書きについて述べ
る。
【0040】前記光磁気ディスクの場合、内外周でクロ
ック周波数は一定で、回転数も一定であるため半径方向
の位置によって記録密度が異なり、且つ外周にいくほど
密度が小さくなる。従って、1チャネルビットの周期T
に対応する物理的な長さは、外周にいくほど長くなる。
このため、通常は、半径方向の位置によって記録パルス
幅を切り換え、外周では長くする方法が用いられる。
【0041】ここで、半径24mmから40mmまであ
るデータゾーンを3つに分けており、24〜29mmで
は3Tの30%、29〜34mmでは35%、34〜4
0mmでは40%のパルス幅を使うものとする。
【0042】これに対して、試し書きでは、各領域で内
周側から40%,50%,60%のパルス幅で行うよう
に設定する。
【0043】例えば、半径26mmの位置にデータを記
録する場合、パルス幅を40%とし、記録パワーを低パ
ワーから徐々に上げながら記録を行ってエラーレートを
測定し、最適パワーPS1を見つける。尚、試し書きの記
録位置は、データゾーンの最内周に限らず最外周側でも
良い。あるいは、目的とするデータゾーン内であれば、
いずれの位置でもよいが、通常のデータ記録を行う際
に、特に邪魔にならない位置としては最内周または最外
周側が適切である。
【0044】次に、記録パルス幅を30%に設定し、パ
ワーを前記(2)式から求め、つまりPS0=PS1×40
/30を求める。こうして得られたパワーPS0を最内周
側のデータゾーンにおける最適パワーとして設定し、正
規の記録を行う。
【0045】外周側の各データゾーンではマーク長が長
くなるため、同様の試し書きの後、前記(3)式から最
適パワーを求めればよい。
【0046】例えば、中央のデータゾーンにおける、試
し書きによる最適パワーをPM1とすると、求めるべき最
適パワーPM0は、 PM0=PM1×(50−ta)/(35−ta) で求められる。
【0047】また、最外周のデータゾーンにおける、試
し書きによる最適パワーをPL1とすると、求めるべき最
適パワーPL0は、 PL0=PL1×(60−ta)/(40−ta) で求められる。
【0048】以上のようにして求めて設定した各ゾーン
に対応した各最適パワーは、図示しない装置のメモリに
記憶するか、あるいは図示しない記録媒体のテストゾー
ンやブッファゾーン等に記録しても良い。また、記憶せ
ずに、データの記録の際に、毎回試し書きを行って決定
するようにしても良い。毎回試し書きを行う場合は、時
間はかかるが、より正確な最適パワーを求めることがで
きる。また、実際の最適パワーを求める際は、演算によ
り求めて良いし、ROM等のテーブルを用いても良い。
【0049】また、温度が変わったときは最適パワーも
変わる。この対策として、例えば装置内にあって、媒体
が装着された場合、この媒体近傍に配置した図示しない
温度センサーにより温度を計測し、その変化の度合、例
えば所定の温度変化以上の場合に、再度、試し書きを行
うようにしても良い。
【0050】本実施例では、前述のように、試し書きの
ときの記録パルス幅が実際にデータを記録するときより
長く設定してあるので、パワーが小さい範囲でスキャン
すればよく、つまりパワーの可変範囲が狭くてすむの
で、ドメイン幅が広がることも防げる。このため、本実
施例では、データゾーン内で試し書きを行っても、隣接
トラックのデータに影響を及ぼすことはない。従って、
テストゾーンを使用すること無く、実際に記録を行う場
所(ゾーン)で、最適パワーを求めることができる。
【0051】次に、次世代用として提案されている、容
量230MBの90mmディスクを例に、本実施例の記
録パワーの決定について説明する。ここで用いられるデ
ィスクのフォーマットを表1に示す。
【0052】
【表 1】 表1からわかるよに、データゾーンは10個のバンド
(Band 0ないし9)に分けられ、それぞれのゾーンでク
ロック周波数(Clock Frequency)が異なる。
【0053】記録密度は各バンドにおいて一定で、外周
にいくほど周波数が高くなる。各ゾーンでの記録パルス
幅τ0を3Tの30%とし、試し書きのときのパルス幅
τ1を40%とする。各バンドのデータゾーン、または
バンドの境界に設けられたバッファートラックを用い
て、試し書きを行う。
【0054】前記フォーマットでは、記録マークの大き
さは全周にわたって略スポット径と同じ程度なので前記
(2)式を用いて、実際の最適パワーを求めることがで
きる。試し書きは、各バンドで行ってもよいし、内外周
のバンドで行って途中は直接近似して最適パワー求め
て、求めた値を例えば記憶しても良い。あるいは、前記
実施例と同様に、記録の度に行うことも可能である。
【0055】本第2実施例でも、第1実施例と同様に、
実際のデータゾーンあるいはそれに隣接したバッファー
トラックで試し書きを行うことができるため、正確なパ
ワー設定が可能である。
【0056】特に、このフォーマットでは、内外周に設
けられたテストゾーンの周波数がデータゾーン(バン
ド)と大きく異なり、テストゾーンで試し書きを行って
も正確な最適パワーを見つけられないため、本方式を用
いることの効果は大きい。
【0057】いずれにしても、前記各実施例では、情報
の記録を行うときの記録パワーを前もって試し書きを行
うことによって求める際、実際に情報の記録を行うとき
よりも長いパルス幅で記録して、仮の最適パワーを求め
る。このとき、従来の試し書きのときよりも小さな記録
パワーの範囲で、記録パワーを変化させて、パワーを求
めることができ、求めた仮の最適パワーを用いて、実際
のパルス幅で記録を行うときの最適パワーに換算して、
実際の最適パワーを決定することができる。
【0058】従って、本実施例の方法を用いて光記録を
行う場合には、過大なパワーを必要とせず、実際に情報
の記録を行う場所あるいはその近傍で試し書きを行い、
常に最適な記録パワーに設定して良好な記録を行うこと
ができる。
【0059】尚、前記実施例は、いわゆるマークポジシ
ョン記録に適用したものであるが、本発明はマークの長
さを情報とするマークエッジ記録にも適用可能である。
マークエッジ記録では、記録パルス幅が情報によってこ
となるが、同様の考え方でパルス幅を一定の割合で長く
して、試し書きを行えばよい。
【0060】また、図5(a)に示すように、複数のパ
ルスを用いて記録を行う方法もある。この記録方法に対
しては、同図(b)に示すように、パルス幅を長くして
試し書きを行えば、前記同様に最適パワーが決定でき
る。
【0061】さらに、本発明は、光記録媒体も光磁気デ
ィスクに限られることなく、書換え可能な相変化媒体な
どに適用することも可能である。
【0062】
【発明の効果】前述したように本発明によれば、過大な
パワーを必要とせず、実際に情報の記録を行う場所ある
いはその近傍で試し書きを行うことができ、且つ最適な
記録パワーに設定できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はパルス幅の変化に伴う記録マーク及びパ
ワーの相違に関する説明図。
【図2】図2は記録パワーの違いによるマーク間距離の
変化を示す説明図。
【図3】図3はパルス幅の相違による記録パワーとエラ
ーレートとの関係グラフ。
【図4】図4はレーザー照射時間において、マーク長が
影響する時間に関する説明図。
【図5】図5は複数パルスを用いて記録する方法におけ
る試し書きの方法の説明図。
【図6】図6はチャンネルビットと記録パワーと記録マ
ークの関係を示す説明図。
【図7】図7は記録パワーとエラーレートの関係を示す
グラフ。
【符号の説明】
10…光スポット τ0…実際の記録におけるパルス幅 P0…実際の記録における記録パワー τ1…試し書きにおけるパルス幅 P1…試し書きにおける記録パワー ta…マーク長に関係しない時間 tb…マーク長に関係する時間 W…スポット径 V…光記録媒体の移動速度 L…マーク長
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年5月25日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0019
【補正方法】変更
【補正内容】
【0019】図3に、記録パルス幅が長いときと短いと
きの記録パワーに対するエラーレートの関係を示してあ
る。前述した理由により、パルス幅が長いときの方が小
さいパワーでエラーレートが最小になり、且つエラーレ
ートが増大するパワーも小さい。つまり、パワーが小さ
い段階から、エラーレートの増大が生じることになる。
また、パルス幅が長いときの方が、ドメイン幅も相対的
に狭くなる。従って、エラーレートが小さくなるパワー
の(最小値を含む)範囲はパルス幅が長いときの方が狭
くなり、相対的にエラーレートも高い傾向にある。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0048
【補正方法】変更
【補正内容】
【0048】以上のようにして求めて設定した各ゾーン
に対応した各最適パワーは、図示しない装置のメモリに
記憶するか、あるいは図示しない記録媒体のテストゾー
ンやバッファゾーン等に記録しても良い。また、記憶せ
ずに、データの記録の際に、毎回試し書きを行って決定
するようにしても良い。毎回試し書きを行う場合は、時
間はかかるが、より正確な最適パワーを求めることがで
きる。また、実際の最適パワーを求める際は、演算によ
り求めて良いし、ROM等のテーブルを用いても良い。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 繰り返し記録が可能な光記録媒体に、所
    定のパルス幅τ0でレーザー光をスポット状に照射させ
    て情報の記録を行う際に、前記レーザー光の最適な記録
    パワーを決定する光ディスク装置の記録パワー決定方法
    において、 前記記録に先立って、前記所定のパルス幅τ0よりも長
    いパルス幅τ1に設定し、複数の記録パワーで試し書き
    を行って最適な記録パワーP1を見つけた後、前記所定
    のパルス幅τ0での最適なパワーP0を、前記パルス幅τ
    1と前記記録パワーP1とから求める、 ことを特徴とした光ディスク装置の記録パワー決定方
    法。
  2. 【請求項2】 前記光記録媒体上に記録される記録マー
    クの長さが、前記レーザー光のスポットの径と略同じか
    あるいは小さいときには、前記試し書きを行った後、前
    記最適パワーP0を求める際には、 P0=P1×τ1/τ0 の関係式を用いる、ことを持徴とする請求項1記載の光
    ディスク装置の記録パワー決定方法。
  3. 【請求項3】 前記光記録媒体上に記録される記録マー
    クの長さLが、前記レーザー光のスポットの径Wに比べ
    て十分大きいときは、前記試し書きを行った後、前記最
    適パワーP0を求める際には、 前記光記録媒体の移動速度がVで、(L−W)/V=t
    aとすると、 P0=P1×(τ1−ta)/(τ0−ta) の関係式を用いる、 ことを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置の記録
    パワー決定方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08129753A (ja) * 1994-10-31 1996-05-21 Nec Corp 光記録再生装置
US8121004B2 (en) 2008-08-08 2012-02-21 Hitachi-Lg Data Storage, Inc. Method for adjusting recording power and optical disk apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH08129753A (ja) * 1994-10-31 1996-05-21 Nec Corp 光記録再生装置
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