JP3820153B2 - 光記録再生装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光記録再生装置、更に詳しくは記録パワーの設定部分に特徴のある光記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクは、近年急速に発展するマルチメディアの中核となる記億媒体として注目されており、例えば３．５インチの光磁気ディスクでは、近年にあっては、５４０ＭＢや６４０ＭＢ、１．３ＧＢや３．３ＧＢといった高密度記録の記録媒体も提供されつつある。
【０００３】
ところで、例えば３．５インチの光磁気ディスクにあっては、媒体トラックをゾーン分割し、ゾーン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録（ゾーン定角速度記録）を採用している。光磁気媒体のゾーン数は、従来の１２８ＭＢ媒体では１ゾーン、２３０ＭＢ媒体では１０ゾーンと限られていたが、近年実用化された５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度の記録媒体にあっては、記録密度の向上に伴って媒体のトラックピッチが狭くなり、ゾーン数も大幅に増加している。
【０００４】
即ち、６４０ＭＢ媒体は１１ゾーンとゾーン数は比較的少ないが、５４０ＭＢ媒体では１８ゾーンとゾーン数が従来の倍近くに増加している。通常、光磁気ディスクの場合、媒体毎に最適な記録パワーに相違があることから、媒体をローディングした際に、ゾーン毎に試し書きを行って最適な記録パワーに調整する発光調整を行っている。
【０００５】
なお、例えば特開平９−２９３２５９号公報に示されるように、内周側のゾーンと外周側のゾーンにおいて試し書きを行ってその間のゾーンにおける記録パワーを直線近似よって求めて発光調整を行うことができる。
【０００６】
また、従来の２３０ＭＢ媒体ではピットポジション変調（ＰＰＭ）による記録であり、発光パワーはイレーズパワーと記録パワーの２段階の変化でよいが、５４０ＭＢや６４０ＭＢ媒体では、記録密度を高めるためにパルス輻変調（ＰＷＭ）による記録を採用している。このＰＷＭ記録では、発光パワーを、第ｌライトパワー及び第２ライトパワー及び第３ライトパワー（イレーズパワー）の３段階に変化させる必要がある。
【０００７】
一例として、ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１で規定される、５４０／６４０ＭＢ容量光磁気ディスクでの記録を挙げる。５４０／６４０ＭＢ容量光磁気記録においては、従来の光磁気記録と異なり、「０」と「１」の２値記録のうち、記録値「１」を表すのに、記録信号そのものではなく、記録信号の書き始め及び書き終わり（以下エッジと記載する）を用いている。エッジ記録では、記録信号エッジ部の良好なジッタ特性が要求される。
【０００８】
このため、５４０／６４０ＭＢ光磁気ディスクでは、図１０に示すように、信号記録以前に媒体温度を上昇させるプレヒートパワー（以下Ｐ1と記載する）、前後エッジ部にそれぞれ独立した記録パワーである前エッジ部記録パワー（以下Ｐ2と記載する）及び後エッジ部記録パワー（以下Ｐ3と記載する）を設け、Ｐ1を基底として、前後エッジの熱的干渉をさけるため、Ｐ2及びＰ3を櫛歯状に配置した、いわゆる３値パワーによるパルス列記録により信号の記録を行う。
【０００９】
上述したように、光磁気ディスクの場合、温度や媒体毎に最適な記録パワーに相違があることから、ゾーン毎の記録パワーを試し書きにより決定する必要がある。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
今後、ディスク媒体の高密度化、各種ディスク回転数を考慮した場合、例えば特開２０００−２０９５６号公報等の従来技術では、マークエッジ記録パターンの熱的干渉を鑑み、ディスク媒体のゾーン毎に最適ピークパワー値を設定することについては考慮されているが、ディスクのゾーン全域での記録マークの生成については考慮されていないため、テストライトによる精度悪化およびテストライトパワーに対する諸バラツキを吸収する最適な記録可能なパワー範囲（以下、パワーマージン）を確保できなくなるこどが予想される。
【００１１】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、複雑なアルゴリズムや特別な構成を要せずに、ゾーン毎の線速度による熱的干渉を極力受けず、テストライトパワーのさらなる精度向上およびディスクのゾーン全域で最適な記録マークを生成し最適なパワーマージンを確保することのできる光記録再生装置を提供することを目的としている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明の光記録再生装置は、
レーザ光を発光し内周側から外周側にわたり複数のゾーンが形成されたディスク状の記録媒体上に該レーザ光を照射すると共に、前記記録媒体からの戻り光を受光する、任意のゾーン上に移動可能な光学ヘッドと、
前記光学ヘッドを少なくとも１つの所定のゾーン上に移動させ、該所定のゾーンのテストエリアに対して、前記レーザ光のビームパワーを順次可変にしてテストデータを書き込むドライブコントローラと、
前記ドライブコントローラにて書き込まれた前記テストエリア上の前記テストデータを読み出し再生するアナログ信号処理回路と、
前記アナログ信号処理回路が再生した再生信号の振幅を測定する振幅検出回路と、
前記振幅検出回路による振幅測定結果が所定の範囲に入ったときの前記ビームパワーをテスト記録パワーとして抽出すると共に、前記テスト記録パワーに、ゾーン毎にあらかじめ設定された値の記録パワー係数と、ゾーン毎に異なるパルス列記録パワーのパルス列パワー値の最大値を基準にしてあらかじめ決められ、格納されているパルス列パワー比とを、前記パルス列記録のパワーの前記パルス列パワー値毎に乗算することによってゾーン毎に異なり時系列的に連続した異なるパルス列パワー値からなるゾーン別パルス列記録パワーを算出する記録パワー演算回路と、
を備えたことを特徴とする。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について述べる。
【００１４】
図１ないし図９は本発明の一実施の形態に係わり、図１は光磁気ディスク装置の構成を示す構成図、図２は図１の光磁気ディスク装置に装着される光磁気ディスクの記録領域の構成を示す構成図、図３は図２のテストトラック及びバッファトラックの構成を示す構成図、図４は記録パワーの一例を示す図、図５はテストライトパワーに乗算される係数を説明する第１の説明図、図６は図１の光磁気ディスク装置の作用を説明するフローチャート、図７は振幅測定を行うためライトパターンを示す図、図８はライトパルス列記録におけるパルス波形を示す図、図９はテストライトパワーに乗算される係数を説明する第２の説明図である。
【００１５】
図１に示すように、本実施の形態の光磁気ディスク装置１では、情報を光磁気記録する光磁気ディスク２が挿入され、図示しないローディング機構によって光磁気ディスク２がスピンドルモータ３に装着され回転駆動するようになっている。スピンドルモータ３の近傍には光学へッドとしての光ピックアップ４が光磁気ディスク２の半径方向に移動可能なように設置されており、光磁気ディスク２に向かって記録再生用のレーザ光５を照射するようになっている。
【００１６】
光ピックアップ４にはレーザ光５を発光するレーザダイオード（以下、ＬＤと記す）６と、光磁気ディスク２からの反射光を受光するフォトディテクタ（以下、ＰＤと記す）７とが設けられ、ＬＤ６からのレーザ光５を微小なスポットに絞って出射すると共に光磁気ディスク２からの反射光をＰＤ７へ照射する図示しない光学系が設置されている。
【００１７】
また、ＬＤ６にはＬＤドライバ８が接続されており、このＬＤドライバ８によりＬＤ６に駆動電流が供給されるようになっている。一方、ＰＤ７にはへッドアンプ９を介してアナログ信号処理回路１０が接続されており、ＰＤ７の出力信号がヘッドアンプ９で増幅された後アナログ信号処理回路１０によって２値化されるようになっている。
【００１８】
アナログ信号処理回路１０で２値化された２値化信号はドライブコントローラ１１に送られ、ドライブコントローラ１１で復調及びエラー訂正処理が行われ、光磁気ディスク２に記録されていたデータとして読み出される。この読み出されたデータは、例えば図示しないホストコンピュータに送られ各種処理が行われる。
【００１９】
また、振幅検出回路１２はへッドアンプ９で増幅されたＰＤ７の出力信号の波高値を検出する。振幅検出回路１２で検出された波高値はドライブコントローラ１１に読み込まれ、例えば検出信号を２値化するのに適切な目標値と比較され図示しない可変ゲインアンプのゲインを調整し、アナログ信号処理回路１０において安定して２値化処理が行えるようになっている。
【００２０】
また、ドライブコントローラ１１には記録パワー演算回路１３及び記憶回路１４が接続されており、ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、後述する光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、このテストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行するようになっている。一方、記憶回路１４には、テストトラックでの試し書きを禁止するセクタが記憶されている。
【００２１】
なお、光磁気ディスク装置１には図示しないフォーカシング手段及びトラッキング手段が設けられている。
【００２２】
光磁気ディスク２は、例えば５４０ＭＢ媒体であって、図２に示すように、ゾーン０からゾーン１７の１８のゾーンが設けられている（ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１参照）。また、各ゾーンにはデータを記録するためのユーザエリアの他に隣接するゾーンとの間にバッファトラックが設けられ、さらに、ユーザエリアの最外周部分とバッファトラックとの間にテストトラックが設けられている。一般に、このテストトラックで試し書きを行い光磁気ディスクの記録パワーを決定するが、本実施の形態では、内周側ゾーンであるゾーン０のテストトラックでまず試し書きを行いゾーン０での記録パワーを決定し、次に外周側ゾーンであるゾーン１６のテストトラックで試し書きを行いゾーン１６での記録パワーを決定し、このゾーン０での記録パワー及びゾーン１６での記録パワーを用い直線近似することにより他のゾーンの記録パワーを決定するようになっている。
【００２３】
ここで、図３に示すように、同一ゾーン（ゾーン０またはゾーン１６）ではセクタが放射状に設けられていて径方向の同一位置にセクタのＩＤ部が設けられているが、隣接するゾーン（ゾーン１またはゾーン１７）ではセクタの構成が異なるためＩＤ部の径方向の位置が異なるため、テストトラックでの試し書きにおいては、セクタによっては読み出し時にこの隣接するゾーンのＩＤ部の信号が複屈折のため漏れ込んで、スパイクノイズ等が発生するため、振幅検出回路１２による信号振幅が正確に測定できないという問題がある。
【００２４】
そこで、本実施の形態では、表１に示すゾーン０におけるテストトラックでの試し書き禁止セクタと、表２に示すゾーン１６におけるテストトラックでの試し書き禁止セクタとが記憶回路１４に格納されている。
【００２５】
【表１】
【表２】
なお、上述したように、本実施の形態では、ゾーン０及びゾーン１６で試し書きを行うとしたが、これに限らず、１つのゾーン例えばゾーン０のみで試し書きを行い、決定した記録パワーに基づき直線近似することにより他のゾーンの記録パワーを決定するようにしても良くこの場合は記録パワーの設定時間が短縮でき、また、ゾーン０及びゾーン１６の２つのゾーン以外の１つまたは複数のゾーンに対して試し書きを行ってもよくこの場合各ゾーンの記録パワーを精度良く決定することができる。
【００２６】
ここで、図４に示すようなパルス列による多値記録の場合には、それぞれのピークパワー（Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3，…，Ｐn）について決定したテストライトパワーＰｔを係数倍（α1，α2，α3，…，αn）することで求める。なお、この係数α1，α2，α3，…，αnは、予め記録パワー演算回路１３に格納されている。
【００２７】
係数αi（ｉ＝１〜ｎ）の設定の第１の例を、３値パワー（Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3）によるパルス列記録により信号の記録を行う場合を例に説明する。
【００２８】
一般に、光ディスク記録の信号判定には、エラーレートによる判定が用いられている。上記３値をそれぞれ可変にした際、エラーレートはそれぞれ変動するが、光ディスクドライブの信号読み取りにおいてはエラー訂正（以下、ＥＣＣと記載する）が行われ、あるレベルまでのエラーレート特性を持つ記録信号であれば正常に信号読み取りが可能になる。Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3の比率を一定にして、Ｐ3についてパワーを可変にした際のエラーレート特性の変動を図５のグラフに記裁する。このとき、黒線にて記載したエラーレートを、ＥＣＣによる補正可能なエラーレート限界とすると、図５での良好な記録領域は、
Ｐｍｉｎ≦Ｐ３≦Ｐｍａｘ
で規定される（以下、この記録領域Ｐｍａｘ−Ｐｍｉｎをパワーマージンと記載する）。
【００２９】
以下、本実施の形態の作用について説明する。
図６に示すように、ステップＳ１で光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１にローディングされると、ドライブコントローラ１１は試し書きを行うテストトラックヘ光ピックアップ４を移動する。この場合テストトラックはゾーン０のテストトラックである。
【００３０】
ステップＳ２で試し書きを行うテストトラックの所定のセクタにライトし、ライトしたデータの振幅を振幅検出回路１２からの出力をモニタすることにより測定して、予め規定しておいたウィンドウ内に収束するようテストライトパワーＰｔ0を変化させる。
【００３１】
ライトするデータパターンは振幅測定を行うため単一パターンの繰り返しが望ましい。本実施の形態では図７に示すような２Ｔ繰り返しパターンを用いる。その際のプレヒートパワーＰｔ1はゾーン０におけるプレヒートパワーをＰｔ10、後にゾーン１６のテストトラックで行う試し書きで用いるプレヒートパワーをＰｔ 116 とすると、Ｐｔ10とＰ ｔ 116はディスク回転の線速度に比例させた値を用いる。このプレヒートパワーを適切な設定を行うことでテストライトパワーＰｔに対する振幅が適切な感度となりテストライトの精度を良くする。
【００３２】
ステップＳ３では、実際にデータをライトする際のライトパワーを設定するのだが、まず前記テストライトパワーＰｔ0に対して記録パワー係数α0を乗ずることでピークパワーＰ3を設定する。
【００３３】
この時のα0は、Ｐ1、Ｐ2、Ｐ3の比率を固定してＰ3についてパワーを可変させた際のエラーレート特性よりエラーレートがエラー訂正（ＥＣＣ）が可能なレベルの範囲（パワーマージン）を求め、例えばテストライトパワーＰｔ0の検出誤差やドライブ電気系の誤差をマージンとして見積もった目標値がＰ3となるようα0を設定する。
【００３４】
さらにＰ2、Ｐ1については、表３に示すように、後に説明する方法で求められた予め用意されておいたゾーン０における記録パルス列のパワー比ｋ1：ｋ2：ｋ3を前記設定したＰ3に乗ずることでそれぞれ設定する。この記録パワー係数と記録パルス列のパワー比は記録パワー演算回路１３に格納されている。
【００３５】
【表３】
ステップＳ４では、前記設定されたライトパワーにて所定のセクタにライトを行いライトが正常かどうか判断（ベリファイ時エラーとならない）し、できない場合はステップＳ１０でエラー処理を行い処理を終了し、できた場合は次の動作にうつる。
【００３６】
ステップＳ５で、ドライブコントローラ１１はゾーン１６の試し書きを行うテストトラックヘ光ピックアップ４を移動する。
【００３７】
ステップＳ６では、ステップＳ２同様試し書きを行う。その際ステップＳ２で説明したとおり、プレヒートパワーはＰ ｔ 116を設定する。
【００３８】
ステップＳ７では、ステップＳ３同様に予め用意されておいたゾーン１６における記録パワー係数α16 と記録パルス列パワー比ｋ1：ｋ2：ｋ3を前記テストライトパワーＰ ｔ 116に乗ずることで実際にデータをライトする記録パワーを設定する。
【００３９】
ステップＳ８では、ステップＳ７で設定された記録パワーにて所定のセクタにライトを行いライトが正常かどうか判断（ベリファイ時エラーとならない）し、できない場合はステップＳ１０でエラー処理を行い処理を終了し、できた場合は次の動作にうつる。
【００４０】
ステップＳ９では、ゾーン毎のＰ3を前記ゾーン０とゾーン１６のＰ3の値から直線近似で求め、その値に対して表３の記録パルス列のパワー比を乗じてゾーン毎の記録パワーを決定して処理を終了する。
【００４１】
ステップＳ３、ステップＳ７、ステップＳ９で用いた実際にデータをライトする記録パワーを求める表３に示した記録パルス列のパワー比は、図８で示される本実施の形態で用いられるライトパルス列記録におけるパルス波形のＰ1、Ｐ2、Ｐ3の比をそれぞれ変更してＰ3を可変した際のゾーン０とゾーン１７のエラーレートを測定し、各々の比に対するパワーマージンを表した図９により算出される。
【００４２】
ゾーン０ではＰ1：Ｐ2：Ｐ3は０．０６：１：１（図９（ａ））、ゾーン１７では０．１４ ： ０．９：１（図９（ｂ））の時がパワーマージンが最適であることがわかる。この結果をもとに各ゾーンにおける記録パルス列のパワー比を直線近似で求めたものが表３である。
【００４３】
これらの方法は６４０ＭＢ、１．３ＧＢ、ダイレクトオーバーライト（ＤＯＷ）についても同様の方法が適用できる。また、ランドグルーブ記録を行う２．３ＧＢにおいても、ランドとグループで媒体感度が違うため、ランドとグループと別々に記録パルスパワー比を設定することにも適用できる。
【００４４】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、複雑なアルゴリズムや特別な構成を要せずに、ゾーン毎の線速度による熱的干渉を極力受けず、テストライトパワーのさらなる精度向上およびディスクのゾーン全域で最適な記録マークを生成し最適なパワーマージンを確保することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係る光磁気ディスク装置の構成を示す構成図
【図２】図１の光磁気ディスク装置に装着される光磁気ディスクの記録領域の構成を示す構成図
【図３】図２のテストトラック及びバッファトラックの構成を示す構成図
【図４】記録パワーの一例を示す図
【図５】テストライトパワーに乗算される係数を説明する第１の説明図
【図６】図１の光磁気ディスク装置の作用を説明するフローチャート
【図７】振幅測定を行うためライトパターンを示す図
【図８】ライトパルス列記録におけるパルス波形を示す図
【図９】テストライトパワーに乗算される係数を説明する第２の説明図
【図１０】従来のパルス列記録における記録パワーの波形を示す図
【符号の説明】
１…光磁気ディスク装置
２…光磁気ディスク
３…スピンドルモータ
４…光ピックアップ
６…ＬＤ
７…ＰＤ
８…ＬＤドライバ
９…へッドアンプ
１０…アナログ信号処理回路
１１…ドライブコントローラ
１２…振幅検出回路
１３…記録パワー演算回路
１４…記憶回路
【発明の属する技術分野】
本発明は光記録再生装置、更に詳しくは記録パワーの設定部分に特徴のある光記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクは、近年急速に発展するマルチメディアの中核となる記億媒体として注目されており、例えば３．５インチの光磁気ディスクでは、近年にあっては、５４０ＭＢや６４０ＭＢ、１．３ＧＢや３．３ＧＢといった高密度記録の記録媒体も提供されつつある。
【０００３】
ところで、例えば３．５インチの光磁気ディスクにあっては、媒体トラックをゾーン分割し、ゾーン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録（ゾーン定角速度記録）を採用している。光磁気媒体のゾーン数は、従来の１２８ＭＢ媒体では１ゾーン、２３０ＭＢ媒体では１０ゾーンと限られていたが、近年実用化された５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度の記録媒体にあっては、記録密度の向上に伴って媒体のトラックピッチが狭くなり、ゾーン数も大幅に増加している。
【０００４】
即ち、６４０ＭＢ媒体は１１ゾーンとゾーン数は比較的少ないが、５４０ＭＢ媒体では１８ゾーンとゾーン数が従来の倍近くに増加している。通常、光磁気ディスクの場合、媒体毎に最適な記録パワーに相違があることから、媒体をローディングした際に、ゾーン毎に試し書きを行って最適な記録パワーに調整する発光調整を行っている。
【０００５】
なお、例えば特開平９−２９３２５９号公報に示されるように、内周側のゾーンと外周側のゾーンにおいて試し書きを行ってその間のゾーンにおける記録パワーを直線近似よって求めて発光調整を行うことができる。
【０００６】
また、従来の２３０ＭＢ媒体ではピットポジション変調（ＰＰＭ）による記録であり、発光パワーはイレーズパワーと記録パワーの２段階の変化でよいが、５４０ＭＢや６４０ＭＢ媒体では、記録密度を高めるためにパルス輻変調（ＰＷＭ）による記録を採用している。このＰＷＭ記録では、発光パワーを、第ｌライトパワー及び第２ライトパワー及び第３ライトパワー（イレーズパワー）の３段階に変化させる必要がある。
【０００７】
一例として、ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１で規定される、５４０／６４０ＭＢ容量光磁気ディスクでの記録を挙げる。５４０／６４０ＭＢ容量光磁気記録においては、従来の光磁気記録と異なり、「０」と「１」の２値記録のうち、記録値「１」を表すのに、記録信号そのものではなく、記録信号の書き始め及び書き終わり（以下エッジと記載する）を用いている。エッジ記録では、記録信号エッジ部の良好なジッタ特性が要求される。
【０００８】
このため、５４０／６４０ＭＢ光磁気ディスクでは、図１０に示すように、信号記録以前に媒体温度を上昇させるプレヒートパワー（以下Ｐ1と記載する）、前後エッジ部にそれぞれ独立した記録パワーである前エッジ部記録パワー（以下Ｐ2と記載する）及び後エッジ部記録パワー（以下Ｐ3と記載する）を設け、Ｐ1を基底として、前後エッジの熱的干渉をさけるため、Ｐ2及びＰ3を櫛歯状に配置した、いわゆる３値パワーによるパルス列記録により信号の記録を行う。
【０００９】
上述したように、光磁気ディスクの場合、温度や媒体毎に最適な記録パワーに相違があることから、ゾーン毎の記録パワーを試し書きにより決定する必要がある。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
今後、ディスク媒体の高密度化、各種ディスク回転数を考慮した場合、例えば特開２０００−２０９５６号公報等の従来技術では、マークエッジ記録パターンの熱的干渉を鑑み、ディスク媒体のゾーン毎に最適ピークパワー値を設定することについては考慮されているが、ディスクのゾーン全域での記録マークの生成については考慮されていないため、テストライトによる精度悪化およびテストライトパワーに対する諸バラツキを吸収する最適な記録可能なパワー範囲（以下、パワーマージン）を確保できなくなるこどが予想される。
【００１１】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、複雑なアルゴリズムや特別な構成を要せずに、ゾーン毎の線速度による熱的干渉を極力受けず、テストライトパワーのさらなる精度向上およびディスクのゾーン全域で最適な記録マークを生成し最適なパワーマージンを確保することのできる光記録再生装置を提供することを目的としている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明の光記録再生装置は、
レーザ光を発光し内周側から外周側にわたり複数のゾーンが形成されたディスク状の記録媒体上に該レーザ光を照射すると共に、前記記録媒体からの戻り光を受光する、任意のゾーン上に移動可能な光学ヘッドと、
前記光学ヘッドを少なくとも１つの所定のゾーン上に移動させ、該所定のゾーンのテストエリアに対して、前記レーザ光のビームパワーを順次可変にしてテストデータを書き込むドライブコントローラと、
前記ドライブコントローラにて書き込まれた前記テストエリア上の前記テストデータを読み出し再生するアナログ信号処理回路と、
前記アナログ信号処理回路が再生した再生信号の振幅を測定する振幅検出回路と、
前記振幅検出回路による振幅測定結果が所定の範囲に入ったときの前記ビームパワーをテスト記録パワーとして抽出すると共に、前記テスト記録パワーに、ゾーン毎にあらかじめ設定された値の記録パワー係数と、ゾーン毎に異なるパルス列記録パワーのパルス列パワー値の最大値を基準にしてあらかじめ決められ、格納されているパルス列パワー比とを、前記パルス列記録のパワーの前記パルス列パワー値毎に乗算することによってゾーン毎に異なり時系列的に連続した異なるパルス列パワー値からなるゾーン別パルス列記録パワーを算出する記録パワー演算回路と、
を備えたことを特徴とする。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について述べる。
【００１４】
図１ないし図９は本発明の一実施の形態に係わり、図１は光磁気ディスク装置の構成を示す構成図、図２は図１の光磁気ディスク装置に装着される光磁気ディスクの記録領域の構成を示す構成図、図３は図２のテストトラック及びバッファトラックの構成を示す構成図、図４は記録パワーの一例を示す図、図５はテストライトパワーに乗算される係数を説明する第１の説明図、図６は図１の光磁気ディスク装置の作用を説明するフローチャート、図７は振幅測定を行うためライトパターンを示す図、図８はライトパルス列記録におけるパルス波形を示す図、図９はテストライトパワーに乗算される係数を説明する第２の説明図である。
【００１５】
図１に示すように、本実施の形態の光磁気ディスク装置１では、情報を光磁気記録する光磁気ディスク２が挿入され、図示しないローディング機構によって光磁気ディスク２がスピンドルモータ３に装着され回転駆動するようになっている。スピンドルモータ３の近傍には光学へッドとしての光ピックアップ４が光磁気ディスク２の半径方向に移動可能なように設置されており、光磁気ディスク２に向かって記録再生用のレーザ光５を照射するようになっている。
【００１６】
光ピックアップ４にはレーザ光５を発光するレーザダイオード（以下、ＬＤと記す）６と、光磁気ディスク２からの反射光を受光するフォトディテクタ（以下、ＰＤと記す）７とが設けられ、ＬＤ６からのレーザ光５を微小なスポットに絞って出射すると共に光磁気ディスク２からの反射光をＰＤ７へ照射する図示しない光学系が設置されている。
【００１７】
また、ＬＤ６にはＬＤドライバ８が接続されており、このＬＤドライバ８によりＬＤ６に駆動電流が供給されるようになっている。一方、ＰＤ７にはへッドアンプ９を介してアナログ信号処理回路１０が接続されており、ＰＤ７の出力信号がヘッドアンプ９で増幅された後アナログ信号処理回路１０によって２値化されるようになっている。
【００１８】
アナログ信号処理回路１０で２値化された２値化信号はドライブコントローラ１１に送られ、ドライブコントローラ１１で復調及びエラー訂正処理が行われ、光磁気ディスク２に記録されていたデータとして読み出される。この読み出されたデータは、例えば図示しないホストコンピュータに送られ各種処理が行われる。
【００１９】
また、振幅検出回路１２はへッドアンプ９で増幅されたＰＤ７の出力信号の波高値を検出する。振幅検出回路１２で検出された波高値はドライブコントローラ１１に読み込まれ、例えば検出信号を２値化するのに適切な目標値と比較され図示しない可変ゲインアンプのゲインを調整し、アナログ信号処理回路１０において安定して２値化処理が行えるようになっている。
【００２０】
また、ドライブコントローラ１１には記録パワー演算回路１３及び記憶回路１４が接続されており、ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、後述する光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、このテストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行するようになっている。一方、記憶回路１４には、テストトラックでの試し書きを禁止するセクタが記憶されている。
【００２１】
なお、光磁気ディスク装置１には図示しないフォーカシング手段及びトラッキング手段が設けられている。
【００２２】
光磁気ディスク２は、例えば５４０ＭＢ媒体であって、図２に示すように、ゾーン０からゾーン１７の１８のゾーンが設けられている（ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１参照）。また、各ゾーンにはデータを記録するためのユーザエリアの他に隣接するゾーンとの間にバッファトラックが設けられ、さらに、ユーザエリアの最外周部分とバッファトラックとの間にテストトラックが設けられている。一般に、このテストトラックで試し書きを行い光磁気ディスクの記録パワーを決定するが、本実施の形態では、内周側ゾーンであるゾーン０のテストトラックでまず試し書きを行いゾーン０での記録パワーを決定し、次に外周側ゾーンであるゾーン１６のテストトラックで試し書きを行いゾーン１６での記録パワーを決定し、このゾーン０での記録パワー及びゾーン１６での記録パワーを用い直線近似することにより他のゾーンの記録パワーを決定するようになっている。
【００２３】
ここで、図３に示すように、同一ゾーン（ゾーン０またはゾーン１６）ではセクタが放射状に設けられていて径方向の同一位置にセクタのＩＤ部が設けられているが、隣接するゾーン（ゾーン１またはゾーン１７）ではセクタの構成が異なるためＩＤ部の径方向の位置が異なるため、テストトラックでの試し書きにおいては、セクタによっては読み出し時にこの隣接するゾーンのＩＤ部の信号が複屈折のため漏れ込んで、スパイクノイズ等が発生するため、振幅検出回路１２による信号振幅が正確に測定できないという問題がある。
【００２４】
そこで、本実施の形態では、表１に示すゾーン０におけるテストトラックでの試し書き禁止セクタと、表２に示すゾーン１６におけるテストトラックでの試し書き禁止セクタとが記憶回路１４に格納されている。
【００２５】
【表１】
【００２６】
ここで、図４に示すようなパルス列による多値記録の場合には、それぞれのピークパワー（Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3，…，Ｐn）について決定したテストライトパワーＰｔを係数倍（α1，α2，α3，…，αn）することで求める。なお、この係数α1，α2，α3，…，αnは、予め記録パワー演算回路１３に格納されている。
【００２７】
係数αi（ｉ＝１〜ｎ）の設定の第１の例を、３値パワー（Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3）によるパルス列記録により信号の記録を行う場合を例に説明する。
【００２８】
一般に、光ディスク記録の信号判定には、エラーレートによる判定が用いられている。上記３値をそれぞれ可変にした際、エラーレートはそれぞれ変動するが、光ディスクドライブの信号読み取りにおいてはエラー訂正（以下、ＥＣＣと記載する）が行われ、あるレベルまでのエラーレート特性を持つ記録信号であれば正常に信号読み取りが可能になる。Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3の比率を一定にして、Ｐ3についてパワーを可変にした際のエラーレート特性の変動を図５のグラフに記裁する。このとき、黒線にて記載したエラーレートを、ＥＣＣによる補正可能なエラーレート限界とすると、図５での良好な記録領域は、
Ｐｍｉｎ≦Ｐ３≦Ｐｍａｘ
で規定される（以下、この記録領域Ｐｍａｘ−Ｐｍｉｎをパワーマージンと記載する）。
【００２９】
以下、本実施の形態の作用について説明する。
図６に示すように、ステップＳ１で光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１にローディングされると、ドライブコントローラ１１は試し書きを行うテストトラックヘ光ピックアップ４を移動する。この場合テストトラックはゾーン０のテストトラックである。
【００３０】
ステップＳ２で試し書きを行うテストトラックの所定のセクタにライトし、ライトしたデータの振幅を振幅検出回路１２からの出力をモニタすることにより測定して、予め規定しておいたウィンドウ内に収束するようテストライトパワーＰｔ0を変化させる。
【００３１】
ライトするデータパターンは振幅測定を行うため単一パターンの繰り返しが望ましい。本実施の形態では図７に示すような２Ｔ繰り返しパターンを用いる。その際のプレヒートパワーＰｔ1はゾーン０におけるプレヒートパワーをＰｔ10、後にゾーン１６のテストトラックで行う試し書きで用いるプレヒートパワーをＰｔ 116 とすると、Ｐｔ10とＰ ｔ 116はディスク回転の線速度に比例させた値を用いる。このプレヒートパワーを適切な設定を行うことでテストライトパワーＰｔに対する振幅が適切な感度となりテストライトの精度を良くする。
【００３２】
ステップＳ３では、実際にデータをライトする際のライトパワーを設定するのだが、まず前記テストライトパワーＰｔ0に対して記録パワー係数α0を乗ずることでピークパワーＰ3を設定する。
【００３３】
この時のα0は、Ｐ1、Ｐ2、Ｐ3の比率を固定してＰ3についてパワーを可変させた際のエラーレート特性よりエラーレートがエラー訂正（ＥＣＣ）が可能なレベルの範囲（パワーマージン）を求め、例えばテストライトパワーＰｔ0の検出誤差やドライブ電気系の誤差をマージンとして見積もった目標値がＰ3となるようα0を設定する。
【００３４】
さらにＰ2、Ｐ1については、表３に示すように、後に説明する方法で求められた予め用意されておいたゾーン０における記録パルス列のパワー比ｋ1：ｋ2：ｋ3を前記設定したＰ3に乗ずることでそれぞれ設定する。この記録パワー係数と記録パルス列のパワー比は記録パワー演算回路１３に格納されている。
【００３５】
【表３】
【００３６】
ステップＳ５で、ドライブコントローラ１１はゾーン１６の試し書きを行うテストトラックヘ光ピックアップ４を移動する。
【００３７】
ステップＳ６では、ステップＳ２同様試し書きを行う。その際ステップＳ２で説明したとおり、プレヒートパワーはＰ ｔ 116を設定する。
【００３８】
ステップＳ７では、ステップＳ３同様に予め用意されておいたゾーン１６における記録パワー係数α16 と記録パルス列パワー比ｋ1：ｋ2：ｋ3を前記テストライトパワーＰ ｔ 116に乗ずることで実際にデータをライトする記録パワーを設定する。
【００３９】
ステップＳ８では、ステップＳ７で設定された記録パワーにて所定のセクタにライトを行いライトが正常かどうか判断（ベリファイ時エラーとならない）し、できない場合はステップＳ１０でエラー処理を行い処理を終了し、できた場合は次の動作にうつる。
【００４０】
ステップＳ９では、ゾーン毎のＰ3を前記ゾーン０とゾーン１６のＰ3の値から直線近似で求め、その値に対して表３の記録パルス列のパワー比を乗じてゾーン毎の記録パワーを決定して処理を終了する。
【００４１】
ステップＳ３、ステップＳ７、ステップＳ９で用いた実際にデータをライトする記録パワーを求める表３に示した記録パルス列のパワー比は、図８で示される本実施の形態で用いられるライトパルス列記録におけるパルス波形のＰ1、Ｐ2、Ｐ3の比をそれぞれ変更してＰ3を可変した際のゾーン０とゾーン１７のエラーレートを測定し、各々の比に対するパワーマージンを表した図９により算出される。
【００４２】
ゾーン０ではＰ1：Ｐ2：Ｐ3は０．０６：１：１（図９（ａ））、ゾーン１７では０．１４ ： ０．９：１（図９（ｂ））の時がパワーマージンが最適であることがわかる。この結果をもとに各ゾーンにおける記録パルス列のパワー比を直線近似で求めたものが表３である。
【００４３】
これらの方法は６４０ＭＢ、１．３ＧＢ、ダイレクトオーバーライト（ＤＯＷ）についても同様の方法が適用できる。また、ランドグルーブ記録を行う２．３ＧＢにおいても、ランドとグループで媒体感度が違うため、ランドとグループと別々に記録パルスパワー比を設定することにも適用できる。
【００４４】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、複雑なアルゴリズムや特別な構成を要せずに、ゾーン毎の線速度による熱的干渉を極力受けず、テストライトパワーのさらなる精度向上およびディスクのゾーン全域で最適な記録マークを生成し最適なパワーマージンを確保することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係る光磁気ディスク装置の構成を示す構成図
【図２】図１の光磁気ディスク装置に装着される光磁気ディスクの記録領域の構成を示す構成図
【図３】図２のテストトラック及びバッファトラックの構成を示す構成図
【図４】記録パワーの一例を示す図
【図５】テストライトパワーに乗算される係数を説明する第１の説明図
【図６】図１の光磁気ディスク装置の作用を説明するフローチャート
【図７】振幅測定を行うためライトパターンを示す図
【図８】ライトパルス列記録におけるパルス波形を示す図
【図９】テストライトパワーに乗算される係数を説明する第２の説明図
【図１０】従来のパルス列記録における記録パワーの波形を示す図
【符号の説明】
１…光磁気ディスク装置
２…光磁気ディスク
３…スピンドルモータ
４…光ピックアップ
６…ＬＤ
７…ＰＤ
８…ＬＤドライバ
９…へッドアンプ
１０…アナログ信号処理回路
１１…ドライブコントローラ
１２…振幅検出回路
１３…記録パワー演算回路
１４…記憶回路
Claims (2)
- レーザ光を発光し内周側から外周側にわたり複数のゾーンが形成されたディスク状の記録媒体上に該レーザ光を照射すると共に、前記記録媒体からの戻り光を受光する、任意のゾーン上に移動可能な光学ヘッドと、
前記光学ヘッドを少なくとも１つの所定のゾーン上に移動させ、該所定のゾーンのテストエリアに対して、前記レーザ光のビームパワーを順次可変にしてテストデータを書き込むドライブコントローラと、
前記ドライブコントローラにて書き込まれた前記テストエリア上の前記テストデータを読み出し再生するアナログ信号処理回路と、
前記アナログ信号処理回路が再生した再生信号の振幅を測定する振幅検出回路と、
前記振幅検出回路による振幅測定結果が所定の範囲に入ったときの前記ビームパワーをテスト記録パワーとして抽出すると共に、前記テスト記録パワーに、ゾーン毎にあらかじめ設定された値の記録パワー係数と、ゾーン毎に異なるパルス列記録パワーのパルス列パワー値の最大値を基準にしてあらかじめ決められ、格納されているパルス列パワー比とを、前記パルス列記録のパワーの前記パルス列パワー値毎に乗算することによってゾーン毎に異なり時系列的に連続した異なるパルス列パワー値からなるゾーン別パルス列記録パワーを算出する記録パワー演算回路と、
を備えたことを特徴とする光記録再生装置。 - 前記ゾーン別パルス列記録パワーは、ゾーン別３値パルス列記録パワーであって、前記ゾーン別３値パルス列記録パワーの前記パルス列パワー比をｋ１，ｋ２，ｋ３とし、ｋ３＝１とした場合、
０＜ｋ１＜ｋ２＜ｋ３であって、
前記複数のゾーンにおいて、
最外周に位置するゾーンの前記ｋ１の値は最内周に位置するゾーンの前記ｋ１の値より大きく、最外周と最内周の間に位置する任意の２つゾーンにおいては外周側に位置するゾーンの前記ｋ１の値が内周側に位置するゾーンの前記ｋ１の値より大きく、
最外周に位置するゾーンの前記ｋ２の値は最内周に位置するゾーンの前記ｋ２の値より小さく、最外周と最内周の間に位置する任意の２つゾーンにおいては外周側に位置するゾーンの前記ｋ２の値が内周側に位置するゾーンの前記ｋ２の値より小さく
設定されている
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002003747A JP3820153B2 (ja) | 2002-01-10 | 2002-01-10 | 光記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002003747A JP3820153B2 (ja) | 2002-01-10 | 2002-01-10 | 光記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003208714A JP2003208714A (ja) | 2003-07-25 |
| JP3820153B2 true JP3820153B2 (ja) | 2006-09-13 |
Family
ID=27643259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002003747A Expired - Fee Related JP3820153B2 (ja) | 2002-01-10 | 2002-01-10 | 光記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3820153B2 (ja) |
-
2002
- 2002-01-10 JP JP2002003747A patent/JP3820153B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2003208714A (ja) | 2003-07-25 |
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