JP2003132538A - 光情報記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＤＶＤ−ＲＡＭバージョン２．０にて、記憶
容量が２．６ギガバイト／面から４．７ギガバイト／面
と高密度化が進み、ＤＶＤ−ＲＡＭ媒体上の記録スポッ
トをより精度良く制御する必要がでてきた。しかし、Ｐ
ｗとＰｅの比を一定に保ったままパワーを変化させて再
生ジッタ最適値を求めるこれまでの方法では、所要のジ
ッタ以下に制御することが困難となった。 【解決手段】 ＤＶＤ−ＲＡＭディスクの最内周に備え
られたＤｒｉｖｅ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅの１トラック２
５セクタにおいて、少なくとも一部あるいは全部のセク
タに対して、セクタ毎に異なる記録パワー（Ｐｗ）と消
去パワー（Ｐｅ）の組み合わせで試し書きを行ない、再
生時のジッタに基づくエラーエッジ数を最小化する記録
パワーと消去パワーを求める記録パワー調整手段を備え
た。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク等の記
録媒体に対する記録パワー調整技術に係り、特に、高密
度情報記録に対応した光情報記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＤＶＤ−ＲＡＭの媒体では、レーザー光
を用いて書き込みを行ない、レーザー光の熱に基づく相
変化によって結晶質状態あるいはアモルファス状態のマ
ークを形成しており、前記マークが結晶質状態あるいは
アモルファス状態で光の反射率が異なることを利用して
情報の再生を行なっている。

【０００３】しかし、実際の光ディスク装置では、周囲
温度、レーザーの波長、光スポット歪等の動的な変動の
影響のために、光源の出力設定を一定に保ったとしても
情報記録面を所定の温度に保つことは難しく、実際には
ユーザデータを記録する前に、装填された媒体に用意さ
れたテスト領域に記録を行なってレーザーパワーを調整
する「試し書き」が実施されている。そして、この試し
書きは、媒体の装填時の他、装置の電源投入時、装置再
生においてＷｒｉｔｅ Ｅｒｒｏｒの疑義を生じた場
合、一定温度以上になった場合にも行なわれる為、短時
間でのチェックが要求される。一方、試し書きに対する
記録品質の評価は、再生時のジッタと呼ばれる位相誤差
分布を用いる。ジッタを数値化する為、例えば、再生信
号を二値化回路にてパルス化し、ＰＬＬ回路のチャネル
クロック信号と比較して一定時間幅以上ずれたエッジ数
をカウントするエラーエッジ数の手法が取られている。

【０００４】図３はジッタ分布とエラーエッジ数の関係
を示す模式図であり、横軸はジッタ分布（時間）を、縦
軸はジッタ数を示す。チャネルクロックがＴｗのジッタ
分布は曲線３１で示されている。ジッタ分布に対して、
ハッチング部分のエッジがエラーエッジ数としてカウン
トされ、ジッタの大きい再生パルスほどエラーエッジ数
を検出する確率が高い。即ち、ｔ１〜ｔ２、及び−ｔ１
〜−ｔ２の間のジッタは、例えば３チャンネルクロック
を２チャンネルクロックとして読み取られ、読み取り不
可になる可能性がある。再生信号を二値化した再生パル
スのエッジをＰＬＬ回路のチャネルクロック信号により
検出する光情報記録装置におけるジッタは、再生パルス
のエッジがチャネルクロックのエッジから時間ずれを起
こす為に生じ、そのずれ量が大きくなるほど再生信号の
誤検出を引き起こす確率が高くなる。そこで、誤検出を
引き起こさない範囲でずれ量に対するしきい値を設け
て、それ以上のずれ量を示す再生パルスに対しては、そ
のエッジ数をエラーエッジ数としてカウントする。この
エラーエッジ数を抑える為には、再生パルスのエッジを
チャネルクロックの中心付近に合わす必要があり、媒体
に対する記録をレーザーの熱でマークを形成させる記録
方式では、記録時のパワーが最も大きく関係する。そこ
で、試し書きでエラーエッジ数を最小化する記録時のパ
ワーを求める必要がある。

【０００５】図２は再生波形と記録波形の関係をしめす
波形図であり、図２（ａ）は再生波形５Ｔｗ（Ｔｗ；チ
ャネルクロック）を示し、図２（ｂ）はその記録波形を
示す。記録波形としては、図２（ｂ）に示すように、記
録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、ボトムパワーＰｂの３
種類のパワーを用いている。試し書きも、この３種類の
パワーを用いる。

【０００６】従って、試し書きは、厳密には、記録パワ
ーＰｗ、消去パワーＰｅ、ボトムパワーＰｂのそれぞれ
を組み合わせ、この組み合わせ変化させてエラーエッジ
数を最小とする組み合わせを求めるのであるが、組み合
わせ数が非常に多く時間がかかり過ぎて実用的ではな
い。そこで、最適パワーを簡便に得る方法として、例え
ば、特開平１０−３２０７７７号公報ではＰｗとＰｅの
比を一定としてエラーエッジ数を求めている。実際、記
憶容量が２．６ギガバイト／面のＤＶＤ−ＲＡＭバージ
ョン１．０では、この方法を用いてもあまり問題が無い
が、バージョン２．０では書けなくなる場合がある。

【０００７】また、特開２０００−２５１２５６号公報
には、ＯＰＣ動作において、まず、記憶パワーと消去パ
ワーの最適な比又は最適な組み合わせの近似式を求め、
それを利用して記録パワーと消去パワーの一方又は両方
を変化させて試し書きを行なうことによって最適な記録
パワー及び消去パワーを求めることが記載されている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ＤＶＤ−ＲＡＭバージ
ョン２．０になり、記憶容量が２．０になると、記憶容
量が２．６ギガバイト／面から４．７ギガバイト／面と
高密度化が進み、ＰｗとＰｅの比を一定に保ったままパ
ワーを変化させてエラーエッジ数を最小とするという、
これまでの方法では、エラーエッジ数を所要数以下に制
御することが困難となり、ＤＶＤ−ＲＡＭ媒体上の記録
マークを書くための記録パワー及び消去パワーをより精
度良く制御する必要がでてきた。

【０００９】図４はエラーエッジ数の特性図であり、図
４（ａ）は記録パワーを一定にして、消去パワーを変化
させた場合の特性図であり、図４（ｂ）は消去パワーを
一定にして記録パワーを変化させた場合の特性図であ
る。図４（ａ）において、横軸は消去パワーを示し、縦
軸はエラーエッジ数を示す。また、図４（ｂ）におい
て、横軸は記録パワーを示し、縦軸はエラーエッジ数を
示す。図４（ａ）において、曲線４１はＰｗ（記録パワ
ー）を１１．０ｍＷと一定にしてＰｅ（消去パワー）を
変化させた場合のエラーエッジ数を示し、及び曲線４２
はＰｗを１１．２ｍＷと一定にしてＰｅ（消去パワー）
を走査した場合のエラーエッジ数を示している。曲線４
１、４２より明らかなように、Ｐｗの違いによりエラー
エッジ数を最小化するＰｅが異なっている。Ｐｗが１
１．０ｍＷの場合は、曲線４１より明らかなように、Ｐ
ｅが５．０ｍＷの場合にエラーエッジ数が最小になり、
Ｐｗが１１．２ｍＷの場合は、曲線４２より明らかなよ
うに、Ｐｅが４．５ｍＷの場合にエラーエッジ数が最小
になる。一方、図４（ｂ）において、曲線４３は図４
（ａ）で求めたＰｅの内、Ｐｅを４．５ｍＷとしてＰｗ
を走査した場合のエラーエッジ数を示し、曲線４４はＰ
ｅを５．０ｍＷと一定にして、Ｐｗを走査した場合のエ
ラーエッジ数を示す。曲線４３、４４から明らかなよう
に、Ｐｅのわずかな違いにより最小エラーエッジ数が大
きく変動しており、Ｐｅが４．５ｍＷの場合、Ｐｗが１
１．２ｍＷのときにエラーエッジ数が８と最小になり、
Ｐｅが５．０ｍＷの場合、Ｐｗが１１．０ｍＷのときに
エラーエッジ数が１５と最小になる。すなわち、Ｐｗあ
るいはＰｅの一方を固定し他方を走査する記録パワー調
整手段では、始めに固定としたＰｗあるいはＰｅが最適
値でないとエラーエッジ数を最小化することが困難とな
る。

【００１０】特開２０００−２５１２５６号公報記載の
技術では、ＰｗとＰｅの両方を変化させて最適値をもと
めているため、最初に正確な値を求めようとすると時間
がかかると言う問題点がある。

【００１１】本発明の目的は上記の欠点を解決し、記録
パワーと消去パワーを独立に組み合わせてエラーエッジ
数を最小とし、かつ、短時間で試し書きを行なう技術を
提供することを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明ではＤＶＤ−ＲＡ
Ｍの最内周に備えられたテスト領域であるＤｒｉｖｅＴ
ｅｓｔ Ｚｏｎｅを用いて記録、再生を行なう試し書き
を実施する。ＤＶＤ−ＲＡＭバージョン２．０では、Ｄ
ｒｉｖｅ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅが１トラック２５セクタ
で構成されている。その少なくとも一部あるいは全部の
セクタに対して、セクタ毎に異なる記録パワー（Ｐｗ）
と消去パワー（Ｐｅ）の組み合わせで試し書きを行な
う。

【００１３】再生時のジッタの数値化は、前記各セクタ
の再生信号を二値化回路にてパルス化し、ＰＬＬ回路の
チャネルクロック信号と比較して一定時間幅以上ずれた
エッジ数をカウントしたエラーエッジ数として行ない、
セクタ毎にエラーエッジ数と記録パワー（Ｐｗ）と消去
パワー（Ｐｅ）をメモリに格納し、記録した全てのセク
タの再生を終えるとともに、前記メモリに格納している
各セクタの中から、予め設定したエラーエッジ基準値を
満足するセクタを選別し、このセクタの記録パワー（Ｐ
ｗ）と消去パワー（Ｐｅ）を用いてデータ記録のレーザ
ーパワーを最適化するレーザーパワー判別手段を備え
る。

【００１４】上記レーザーパワーを最適化において、ジ
ッタ最小を得るレーザーパワー判別手段として、メモリ
に格納している各セクタの中でエラーエッジ数が最小
で、かつ、予め設定したエラーエッジ基準値を満足する
セクタを選別することより最適な記録パワー（Ｐｗ）と
消去パワー（Ｐｅ）を実現する。

【００１５】また、温度等の変化が大きく、発光条件が
不安定化し易い条件下に対する、ジッタ許容範囲の大き
いレーザーパワー判別手段として、前記メモリに格納し
ている各セクタの中からエラーエッジ数最小値から少な
くとも３番目までのセクタを選択するとともに、前記複
数のセクタの記録パワー値（Ｐｗ）と消去パワー値（Ｐ
ｅ）の各々の平均値から最適な記録パワー（Ｐｗ）と消
去パワー（Ｐｅ）を実現する。

【００１６】１回の試し書きで所要数以下のエラーエッ
ジ数に達しない場合は、１回目の試し書きでエラーエッ
ジ数が最も少なかった近傍にて再度ＰｗとＰｅを詳細に
組み合わせてセクタ毎の試し書きを行ない、エラーエッ
ジ数を最小化するＰｗとＰｅを求める。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、一例として、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置の試し書
き方法に適用した場合について、図を参照しながら説明
する。図１は記録パワーと消去パワーの組み合わせと組
み合わせ毎のエラーエッジ数を示すテーブルであり、図
１（ａ）は記録パワー調整を行なうための記録パワーと
消去パワーの設定例を示すテーブルであり、図１（ｂ）
は記録パワーと消去パワーの各設定毎のエラーエッジ数
を示すテーブルである。図１（ａ）において、パワー１
〜パワー１８は試し書き時のＰｗとＰｅの組み合わせを
示しており、本実施例では試し書き時にＰｗとＰｅの２
つの値を調整する。試し書きに使用する領域は最内周に
備えられたＤｒｉｖｅ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅである。

【００１８】図５はドライブ、テスト、ゾーンにおける
試し書きの使用領域及びパワー設定例をしめす模式図で
ある。図５に示すように、Ｄｒｉｖｅ Ｔｅｓｔ Ｚｏ
ｎｅは１トラックに２５セクタ設けられている。本実施
例では、１８通りのパワーの組み合わせをセクタ毎に割
り当てている。パワーの組み合わせ数はＤｒｉｖｅＴｅ
ｓｔ Ｚｏｎｅの１トラックで試し書きを行なえること
ができる２５セクタ以下の任意の数が好適である。図１
（ｂ）の中の数値は図１（ａ）に示す各パワー１〜１８
のＰｗとＰｅの組み合わせで試し書きを行った際のエラ
ーエッジ数である。

【００１９】図６はジッタに対するエラーエッジ数の特
性図であり、横軸に光ディスク装置で発生するジッタ
（％）を、縦軸にエラージッタ数を示す。図より明らか
なように、ジッタの増加に対してエラーエッジ数は２次
関数的に増加している。ＤＶＤ−ＲＡＭバージョン２．
０の規格では、再生時のジッタが８％以下になるように
記録することが定義されていることから、実施例の光デ
ィスク装置ではエラーエッジ数が１５以下の場合にジッ
タの規格を満たすことができる。

【００２０】図７は記録パワーと消去パワーの組み合わ
せによるエラーエッジ数の関係を示す等高線図であり、
横軸に記録パワー（Ｐｗ（ｍＷ））を、縦軸に消去パワ
ー（Ｐｅ（ｍＷ））を示す。図において、７１はエラー
エッジ数が０〜１５の領域を示し、同様に、７２はエラ
ーエッジ数が１５〜３０の領域を、７３はエラーエッジ
数が３０〜４５の領域を、７４はエラーエッジ数が４５
〜６０の領域を、７５はエラーエッジ数が６０〜７５の
領域を、７６はエラーエッジ数が７５〜９０の領域を、
７７はエラーエッジ数が９０〜１０５の領域を、７８は
エラーエッジ数が１０５〜１２０の領域を、７９はエラ
ーエッジ数が１２０〜１３５の領域を、８０はエラーエ
ッジ数が１３５〜１５０の領域を示す。

【００２１】本等高線図はエラーエッジ数とＰｗとＰｅ
の関係を精度良く得る目的で、ＰｗとＰｅを詳細に変化
させてエラーエッジ数を測定して、エラーエッジ数を等
高線にしたものである。図に示すように、エラーエッジ
数はＰｗ＝１１ｍＷ、Ｐｅ＝４．５ｍＷ付近を極小値と
して外側に向けて放射状に高くなる分布が得られた。次
に、図１（ａ）に示すパワーの組み合わせを用いて試し
書きを行なった結果が図１（ｂ）であり、最もエラーエ
ッジ数の小さいパワーの組み合わせはＰｗ＝１１．２ｍ
Ｗ、Ｐｅ＝４．８ｍＷでエラーエッジ数は８となり、図
７のパワーの組み合わせにおおよそ一致した。

【００２２】しかし、求められる再生品質がより高い場
合、あるいは、媒体の特性によっては、１回の試し書き
で所要のエラーエッジ数に達しないために、最適パワー
の組み合わせが決定できない場合がある。このような場
合、パワーの範囲、変化量を変化させて試し書きを繰り
返す。図８に試し書きを２回行なう例を示す。図８は記
録パワーと消去パワーの組み合わせと組み合わせ毎のエ
ラーエッジ数を示すテーブルであり、図８（ａ）は記録
パワーと消去パワーの設定例に対する1回目のエラーエ
ッジ数を示すテーブルであり、図８（ｂ）はエラーエッ
ジ数が最小の点を中心に記録パワーと消去パワーを変え
た場合の設定毎のエラーエッジ数を示すテーブルであ
る。１回目の試し書きではＰｗ、Ｐｅを各々０．５ｍＷ
ずつ変化させて記録を行ない、再生して得られた最小エ
ラーエッジ数は２０であり、許容エラーエッジ数１５以
下を満足することが出来なかった。そこで２回目の試し
書きでは、パワー範囲を狭めて綿密な試し書きを実施し
た。即ち、１回目の結果から条件を満たすパワーの組み
合わせとしてＰｗ＝１０〜１１ｍＷ、Ｐｅ＝４〜５ｍＷ
を予測し、二回目はＰｗ＝１０．３〜１０．８ｍＷ、Ｐ
ｅ＝４．３〜４．８ｍＷの範囲でパワー変化量をＰｗ＝
０．１ｍＷ、Ｐｅ＝０．１ｍＷとして試し書きを行な
い、Ｐｗ＝１０．７ｍＷ、Ｐｅ＝４．７ｍＷにてエラー
エッジ数７を実現できた。

【００２３】一方、外部温度等の要因によりレーザー発
光が安定しにくい条件等で記録を行なう場合の試し書き
では、Ｐｗ、Ｐｅ許容範囲の広い最適パワーを選択した
方が実用性に富む。例えば、発光パワーが設定値に対し
てばらつく場合、エラーエッジ数の最小のパワーより発
光パワーずれの許容範囲の広いパワーを選択した方が良
い。

【００２４】図９はエラーエッジ数が最小になった３点
を記録パワー、消去パワーを軸として座標化した模式図
であり、図１（ｂ）の試し書きにおいてエラーエッジ数
が１５以下のＰｗ、Ｐｅの組み合わせから、エラーエッ
ジ数が最小から３番目までのＰｗ、Ｐｅを座標上に表し
たものである。即ち、エラーエッジ数が８となるＰｗ＝
１１．２ｍＷ、Ｐｅ＝４．５ｍＷ、エラーエッジ数が１
４となるＰｗ＝１１．４ｍＷ、Ｐｅ＝４．０ｍＷ、エラ
ーエッジ数が１５となるＰｗ＝１１．４ｍＷ、Ｐｅ＝
５．０ｍＷを、横軸にＰｗ（ｍＷ）を、縦軸にＰｅ（ｍ
Ｗ）を表した場合の図形を示す。図７の結果から、Ｐｗ
とＰｅに対するエラーエッジ数はある１点のＰｗとＰｅ
を極小値とする等高線で表せることから、エラーエッジ
数が１５以下の隣り合う３つのＰｗ及びＰｅの間もエラ
ーエッジ数１５以下のパワーの組み合わせであると予測
される。従って、本実施例では、エラーエッジ数が１５
以下で、かつ、エラーエッジ数が最小値から３番目まで
の３点で構成される三角形の重心９１を、許容範囲の大
きいＰｗとＰｅとして、Ｐｗ＝１１．３ｍＷ、Ｐｅ＝
４．５ｍＷを得た。三角形の重心９１は各辺の中点とそ
の対角を結んだ直線の交点であり、三角形の重心は頂点
がいかなる点を取った場合でも三角形の内部に位置する
性質を利用している。

【００２５】図１０は本発明による光ディスク装置の一
実施例を示す構成例である。記録データ信号は、エンコ
ーダ１００１でＮＲＺＩ信号に、記録パルス発生器１０
０２でＰｗ、Ｐｅ、Ｐｂの３値で構成されるパルス信号
に変換された後、レーザードライバ１００４に入力され
てレーザー駆動電流としてピックアップ１０１３に送ら
れる。

【００２６】一方、再生信号はピックアップ１０１３内
のフォトダイオードで光信号が電気信号に変換された
後、アンプ１００５に入力されて増幅され、イコライザ
１００６によって波形等化、二値化回路１００７にて二
値化され、エラーエッジ測定部１００９にて、二値化さ
れた信号とＰＬＬ１００８で発生するクロック信号の差
をエラーエッジ数として、エラーエッジ解析部１０１０
のメモリに格納されると共に、このエラーエッジ数はパ
ワー制御部１００３に供給され、レーザードライバ１０
０４のパワーが制御される。

【００２７】図１１はメモリに格納される記録パワー、
消去パワー及びエラーエッジ数のテーブルの一実施例を
示す模式図である。エラーエッジ数は記録したセクタ順
にＰｗ及びＰｅと共に配列してエラーエッジ解析部１０
１０のメモリ格納される。そして、任意のセクタ数の再
生が終了すると、エラーエッジ解析部１０１０は、エラ
ーエッジ数と記録パワーの関係を解析し最適パワーを求
める。１回目で最適パワーが求まらない場合は１回目の
最小エラーエッジ数近傍にて詳細に試し書きを行なう為
のパワーの範囲と変化量をパワー制御部１００３に設定
し、１回目と同様にセクタ毎に試し書きを行ない、エラ
ーエッジ数を最小とするＰｗ、Ｐｅを求める。

【００２８】図１２は試し書き制御の処理動作の一実施
例を示すフローチャートである。図において、ステップ
１２０１で図１（ａ）に示すような設定パワーと記録セ
クタ番号のパターンを決定し、図１１に示したメモリの
セクタ番号、Ｐｗ、Ｐｅの項目に格納する。ステップ１
２０２で指定セクタに対する記録指示を行ない、ステッ
プ１２０３で記録指示されたパワーをレーザードライバ
に設定する。ステップ１２０４で各セクタの記録終了を
監視し、終了したらステップ１２０５で記録済セクタ数
を加算する。ステップ１２０６で記録済セクタ数とステ
ップ１２０１で決定した記録セクタ数を比較し、記録セ
クタ数に達した場合ステップ１２０７以降の再生処理に
移行する。ステップ１２０６で記録セクタ数に達してい
ない場合（Ｎｏの場合）、ステップ１２０３で前記メモ
リに格納した各セクタの設定パワーのうち次セクタに該
当するパワーをレーザードライバに設定する。記録セク
タ数に達するまでステップ１２０３〜１２０６で各セク
タの記録を繰り返す。ステップ１２０６で記録セクタ数
の記録が終了すると、ステップ１２０７で記録した各セ
クタにー対し再生指示を発行する。ステップ１２０８で
各セクタの再生終了を監視し、終了したらステップ１２
０９で再生済セクタ数を加算する。ステップ１２１０で
エラーエッジ測定部１００９からエラーエッジ数を取得
し前記メモリに格納する。ステップ１２０８〜１２１１
で各セクタの再生を繰り返す。ステップ１２１１で記録
済の全セクタの再生が終了すると、ステップ１２１２に
おいてメモリに格納している各セクタの記録パワーとエ
ラーエッジ数の情報から最適Ｐｗ、Ｐｅパワーの選択処
理を行なう。ステップ１２１２で所要のエラーエッジ数
を満足するＰｗとＰｅを求めることができた場合はステ
ップ１２１３の判定で試し書き終了となるが、決定でき
なかった場合は、実際のリトライ回数と任意のリトライ
制限回数を比較しリトライ可能な場合はステップ１２０
１の処理に戻る。ステップ１２０１はメモリに格納され
たエラーエッジ数情報とＰｗ、Ｐｅ設定情報から次記録
パワー設定を決定する。２回目以降の試し書き時の記録
パワー設定は前回記録したセクタのうち最小エラーエッ
ジ数であったＰｗ、Ｐｅを高パワー方向及び低パワー方
向のパワー変化の中心値とし、パワーの走査範囲はＰ
ｗ、Ｐｅともに前記で定めた中心パワーから、前回の記
録でのパワー変化の最小単位程度の幅を高パワー方向及
び低パワー方向に変化させる程度で良い。次設定パワー
は図１１で示したＰｅ、Ｐｗの項目にセクタ番号ごとに
格納され、１回目の試し書きと同様の１２０２以降の処
理へと移行する。１２１３でリトライ回数が制限回数を
越えた場合は、試し書きはエラー終了処理を行なう。

【００２９】なお、本発明による試し書きの趣旨は、試
し書き時に２値のパワーレベルの組み合わせで記録した
マークの再生時のジッタを評価することで最適な記録パ
ワーを求める事であり、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの相変化光
ディスクに限定するものではなく、ＤＶＤ−Ｒなどの穴
あけ型のライトワンス媒体にも適応可能である。

【００３０】以上述べたように、本発明によれば、Ｄｒ
ｉｖｅ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅの各セクタごとに異なるＰ
ｗとＰｅを組み合わせて試し書きを行ない、再生時のジ
ッタをエラーエッジ数に置き換えて、エラーエッジ数を
最小とするＰｗとＰｅの組み合わせを得ることよりＤＶ
Ｄ−ＲＡＭバージョン２．０の４．７ギガバイト／面と
高密度に対しても所望のジッタを実現するとともに、試
し書きの所要時間負担も軽減することができる。更に、
パワーずれ余裕を加味したＰｗとＰｅを選択することに
よって、レーザー発光が不安定化し易い条件に対して記
録品質の安定化を実現する。

【００３１】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、Ｄ
ｒｉｖｅ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅのセクタ毎に異なるＰｗ
とＰｅを組み合わせて試し書きを行ない、再生時のジッ
タをエラーエッジ数に置き換えて、エラーエッジ数を最
小とするＰｗとＰｅの組み合わせを得ることより、高密
度の記録ディスクにたいしても所望のジッタを実現する
とともに、試し書きの所要時間負担も軽減することがで
きる。また、パワーずれ余裕を加味したＰｗとＰｅを選
択することによって、レーザー発光が不安定化し易い条
件に対して記録品質の安定化を実現する。

【図面の簡単な説明】

【図１】記録パワーと消去パワーの組み合わせと組み合
わせ毎のエラーエッジ数を示すテーブルである。

【図２】再生波形と記録波形の関係をしめす波形図であ
る。

【図３】ジッタ分布とエラーエッジ数の関係を示す模式
図である。

【図４】記録パワーを一定にして、消去パワーを変化さ
せえた場合及び消去パワーを一定にして記録パワーを変
化させた場合の特性図である。

【図５】ドライブ、テスト、ゾーンにおける試し書きの
使用領域及びパワー設定例をしめす模式図である。

【図６】ジッタに対するエラーエッジ数の特性図であ
る。

【図７】記録パワーと消去パワーの組み合わせによるエ
ラーエッジ数の関係を示す等高線図である。

【図８】記録パワーと消去パワーの組み合わせと組み合
わせ毎のエラーエッジ数を示すテーブルである。

【図９】エラーエッジ数が最小になった３点を記録パワ
ー、消去パワーを軸として座標化した模式図である。

【図１０】本発明による光ディスク装置の一実施例を示
す構成例である。

【図１１】メモリに格納される記録パワー、消去パワー
及びエラーエッジ数のテーブルの一実施例を示す模式図
である。

【図１２】は試し書き制御の処理動作の一実施例を示す
フローチャートである。

【符号の説明】

１００１…エンコーダ、１００２…記録パルス発生器、
１００３…パワー制御部、１００４…レーザードライ
バ、１００５…アンプ、１００６…イコライザ、１００
７…二値化回路、１００８…ＰＬＬ、１００９…エラー
エッジ測定部、１０１０…エラーエッジ解析部、１０１
１…デコーダ、１０１３…ピックアップ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D044 BC04 CC04 DE03 EF03 FG11 5D090 AA01 BB04 CC01 CC05 CC16 CC18 EE01 FF11 FF21 HH01 JJ12 KK03 LL08 5D119 AA23 AA26 BA01 BB03 DA01 DA09 EC09 HA16 HA19 HA45 HA52 5D789 AA23 AA26 BA01 BB03 DA01 DA09 EC09 HA16 HA19 HA45 HA52

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】レーザーの記録パワーと消去パワーの複数
   の組み合わせを記憶するメモリと、該組み合わせ毎のパ
   ワーで、記録媒体のテスト領域の異なるセクタに記録す
   る手段と、該記録されたセクタ毎のジッタから最適の記
   録パワーと消去パワーを判別する判別手段と、該判別手
   段の出力によって該レーザーのパワーを設定する記録制
   御手段とを備えることを特徴とする光情報記録装置。
2. 【請求項２】レーザー光を出力して、記録媒体に対して
   データの記録を行なう光ヘッドと、該記録媒体のテスト
   領域の少なくとも一部あるいは全てのセクタに対して、
   セクタ毎に異なる記録パワーと消去パワーの組み合わせ
   で試し書き記録を行なう手段と、該各セクタの再生時の
   ジッタを最適化する記録パワーと消去パワーを判別する
   レーザーパワー判別手段と、該光ヘッドで該記録媒体に
   データ記録を行なう際に、該レーザーパワー判別手段で
   得られたレーザーパワーの設定を行なう記録制御手段と
   を備えることを特徴とする光情報記録装置。
3. 【請求項３】請求項１記載の光情報記録装置において、
   該各セクタの再生信号をパルス化する二値化回路と、チ
   ャネルクロック信号を出力するＰＬＬ回路と、該パルス
   化された再生信号とチャネルクロックを比較して一定時
   間幅以上ずれたエッジ数をカウントしてエラーエッジ数
   とするエッジ数カウント手段とを設けることによってジ
   ッタの定量化を行ない、メモリを設け、該メモリに、セ
   クタ毎の該エラーエッジ数、記録パワー及び消去パワー
   を格納し、該レーザーパワー判別手段は、記録した全て
   のセクタの再生が終えると、該メモリに格納している各
   セクタの中から、予め設定したエラーエッジ基準値を満
   足するセクタを選別し、該セクタの記録パワーと消去パ
   ワーを用いてデータ記録のレーザーパワーを設定するこ
   とを特徴とする光情報記録装置。
4. 【請求項４】請求項３記載の光情報記録装置において、
   該レーザーパワー判別手段は、記録した全てのセクタの
   再生を終えると、該メモリに格納されている各セクタの
   中からエラーエッジ数が最小なセクタを選別し、該セク
   タの記録パワーと消去パワーをデータ記録のレーザーパ
   ワーとすることを特徴とする光情報記録装置。
5. 【請求項５】請求項３記載の光情報記録装置において、
   該レーザーパワー判別手段は、該メモリに格納している
   各セクタの中からエラーエッジ数が最小値から少なくと
   も３番目までのセクタを選択し、該複数のセクタの記録
   パワー値と消去パワー値の各々の平均値を記録パワーと
   消去パワーとして設定することを特徴とする光情報記録
   装置。