JP3762920B2 - 光記録媒体の最適記録光量の決定方法 - Google Patents

Description

本発明は、光記録媒体への最適記録光量及び再生光量を決定する方法に関し、さらに詳細には、ランドグルーブ型光記録媒体の最適記録光量及び再生光量を決定するため方法並びに当該決定方法を用いたランドグルーブ型光記録媒体の記録再生方法に関する。

光磁気記録媒体は、透明基板上に、絶縁膜を介して少なくとも一層の磁気記録膜及び反射膜等から構成される多層膜が形成されている。基板は、射出成型により予めグルーブ及びプリピットがトラック方向に形成されており、グルーブ間にランド部（凸部）が画成されている。ランド部には情報を記録するデータ記録領域とアドレス信号等がプリピットの形で記録されたヘッダ領域が存在する。グルーブは光ヘッドのトラッキングを行うための案内溝として機能するため、情報は記録されない。

近年の情報処理量の増大に伴い高密度記録が可能な光記録媒体が要求されており、グルーブを幅の広いグルーブとして形成し、ランド部のみならずグルーブ内にも情報を書き込むいわゆるランドグルーブ型の光磁気記録媒体が考案されている。

ランドグルーブ型光磁気記録媒体の場合、トラックピッチが０．５〜０．８μｍと狭く、しかもグルーブ部にも情報が記録されるため、記録光のパワーを高精度に調整して記録ドメインを各トラックを構成するランド部及びグルーブ部内にそれぞれ最適な大きさで形成する必要がある。記録パワーがオーバーパワーであると、グルーブ部（またはランド部）に記録したドメインは隣接するランド部（またはグルーブ部）にまではみ出して形成され、隣接するトラックに記録された情報を破壊することになる（クロスライト／クロスイレーズ）。一方、記録パワーがアンダーパワーであると、ドメインがトラック幅に対して小さくなるため再生信号のＳ／Ｎが低下する。さらに、ランド部とグルーブ部はフォーカス位置が異なるため、最適な記録光パワーが異なり、それぞれ独立して調整することが望ましい。

ところで、光磁気記録はヒートモード記録であるため、同一記録条件で記録を行っても記録装置温度や媒体温度の影響によって記録磁区の大きさが変化してしまう。このため、記録装置温度や媒体温度の影響を記録条件にフィードバックしながら記録を行う必要がある。また、光ヘッドの収差やデフォーカスに伴う光スポット形状の違い、レーザ光源の特性の違いなどによる記録装置のばらつき、あるいは記録媒体のロット間ばらつき等も記録条件に大きく影響する。

本発明者らは、特願平８−１１８４９４号において、上記のような種々の要因による記録条件の違いにかかわらず一定の大きさの磁区を得るために、実際の記録を行う前にテスト信号を種々の記録レーザパワーで試し書きし、それを再生することによって記録光の最適パワーを決定する方法を開示した。この方法では、レーザ光パワーまたはレーザ光パルス幅を増減しつつ、テスト用データに応じた極性の磁界印加の下で、記録される磁区同士が重なり合わないような周期Ｔ1のレーザ光パルスと記録される磁区同士が重なり合う周期Ｔ2のレーザ光パルスをそれぞれ照射することにより孤立磁区群と連続磁区群を形成する。次いで、それらの磁区群を再生して再生信号の平均値の差Δ1を求め、基準値Δ0に最も近いΔ1に対応するレーザ光パワーまたはレーザ光パルス幅を選択する。選択されたレーザ光パワーまたはレーザ光パルス幅を用いて光磁界変調記録を行うことにより調整された磁区幅がトラック上に形成される。

前記のようにランド部及びグルーブ部内にそれぞれ最適な大きさで磁区を形成する必要があるランドグルーブ型光磁気記録媒体においても、なんらかの方法で試し書きを行って記録光のパワー等を最適化することが望ましい。さらに、試し書きを行う領域では、通常のユーザーデータ領域よりも高出力の記録レーザーで記録を行う部分があるため、何度も試し書きを繰り返すと、記録媒体が熱的にダメージを受け、試し書きを行う領域の記録特性が変化してしまう。このため試し書きから得られた記録条件は実際に記録が行われる記録領域の最適条件を反映しない場合も生じる。

また、光磁気記録媒体の高密度化を達成する技術の一つとして磁気超解像による再生方法が知られている。この方法では記録層上に積層されたマスク層の温度分布を利用して一つの微小磁区のみを検出することができる。しかしながら、マスク層のマスクの大きさは再生光のパワーにより変化するため、再生光のパワーを最適化しなければＳ／Ｎが低下し、また磁気超解像による高分解能は得られない。従って、磁気超解像をランドグルーブ型光磁気記録媒体に用いた場合には、記録パワーのみならず再生パワーも緻密に制御する必要がある。

本発明の第１の目的は、ランドグルーブ型光記録媒体の記録時のクロスライトを防止するための最適記録光量を決定する方法を提供することにある。本発明の第２の目的は、ランドグルーブ型光磁気記録媒体を最適な記録光量で記録するためのランドグルーブ型光磁気記録媒体の記録方法及び記録再生装置を提供することにある。

また、本発明の第３の目的は、ランドグルーブ型光記録媒体の記録時のクロスライトを防止し且つ再生時のＳ／Ｎを向上するための最適記録光量を決定する方法を提供することにある。本発明の第４の目的は、ランドグルーブ型光磁気記録媒体を最適な記録光量及び再生光量でそれぞれ記録・再生するためのランドグルーブ型光磁気記録媒体の記録再生方法及び記録再生装置を提供することにある。

本発明の第５の目的は、試し書きを行う領域の過度の使用を防止して、試し書きによる最適記録光量及び／または最適再生光量の決定を確実に行なうことができる方法を提供することにある。

本発明の態様に従えば、ランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する方法であって、
第ｎトラックに予め定めた記録光量でパターンＡを記録し、
第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックに、上記パターンＡの一部を挟むように種々の記録光量でそれぞれパターンＢを記録し、
第ｎトラックに記録されたパターンＡのうち、パターンＢに挟まれたパターンＡの部分からの再生信号と、パターンＢに挟まれていないパターンＡの部分からの再生信号との差を、パターンＢの記録光量毎に求め、
上記パターンＢに挟まれたパターンＡの部分からの再生信号とパターンＢに挟まれていないパターンＡの部分からの再生信号との差が所定の範囲内である場合のパターンＢを記録する記録光量を最適記録光量として決定することを含むランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する方法が提供される。

本発明のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する方法によれば、第ｎトラック、例えば、ランド部に予め定めたパターン（テストパターン）Ａを記録し、その両側に隣接するグルーブ部に種々の記録光量、例えば、記録パワーでパターン（テストパターン）Ｂを記録する（試し書き：図９〜１１参照）。そしてランド部からのパターンＡのうちパターンＢで挟まれた部分からの再生信号と挟まれていない部分から再生信号とをそれぞれ再生しその差を求める。この差を求める操作を種々の記録光量でパターンＢが記録された部分についてそれぞれ行う。ここで、もし、グルーブ部のパターンＢがグルーブ部に挟まれたランド部のテストパターン（マーク）をクロスライトまたはクロスイレーズしていなければ、上記再生信号の差は所定の極めて小さな範囲、例えば、検出誤差範囲あるいは実質的になくなる。上記再生信号の差が上記範囲内あるいは実質的になくなるグルーブ部への記録光量、例えば記録光量のうち最大記録光量がトラック幅内に最も有効にテストパターンを記録することができる光量、すなわち、最もＳ／Ｎを高くする記録光量とみなすことができる。こうして最適記録光量を決定することができる。

上記試し書きは最初にランドまたはグルーブの一方（第ｎ＋１及び第ｎ−１トラック）の最適記録光量を決定した後に、その記録光量でランドまたはグルーブの一方を第ｍトラックに記録し、次いでその両側に隣接するランドまたはグルーブの他方（第ｍ＋１及び第ｍ−１トラック）を種々の記録光量で記録し、上記と同様の操作に従ってランドまたはグルーブの他方の最適記録光量を決定することができる。こうすることによって、ランド部とグルーブ部について、それぞれ、クロスライトを生じない範囲で且つ最大Ｓ／Ｎをもたらすように独立して最適記録光量を決定することができる。

本発明では、特願平８−１１８４９４号に記載されたような方法で最初にランド部またはグルーブ部に記録する記録光量（記録パワーまたはパルス幅）を決定することができる。すなわち、第ｎトラックに相当するランド部またはグルーブ部に孤立磁区群と連続磁区群を種々の記録光量で形成し、孤立磁区群からの再生信号レベルの平均値と連続磁区群からの再生信号レべルの平均値の差Δ1がゼロとなる記録光量を求め、それを上記パターンＡの予め定めた記録光量として用いることができる。こうすることによって、最初にランド部またはグルーブ部に記録されるマークの幅を容易に制御することができる。

本発明の方法において、記録光の量または記録光のパルス幅を変更することによって記録光量を種々の光量に調整することができる。記録光のパルス幅を変更することには一つの記録マークを記録する際に記録光を複数のパルスに分割したり、一つの記録光パルスのパルス長を変更する場合を含む。

上記本発明の態様に従う方法において、上記光記録媒体が上記パターン（テストパターン）を記録する領域を複数有し、パターンを記録する際に、該複数のパターン記録領域から一つのパターン記録領域を選択するための補助情報を、パターン領域とは異なる領域に格納することが好ましい。こうすることによって同一のパターン記録領域の過度の使用による劣化が防止される。

本発明では、上記補助情報に、各パターン記録領域への記録が許容されるか否かを判別できる情報が含まれていることが好ましい。また、上記補助情報に、パターンの記録が許容されているパターン記録領域を用いて記録を行った回数が含まれていることが好ましい。さらに、上記パターンの記録が許容されているパターン記録領域を用いて、パターンの記録を行った回数が予め設定した回数より大きい場合に、上記パターン記録領域へのそれ以上の書き込みが許容されないように補助情報を書き換え得る。

本発明では、同一トラック上に複数のパターンの記録領域を有し得る。また、同一セクタ上に複数のパターンの記録領域を有し得る。さらに、再生条件を最適化するための信号が記録されている光記録媒体を用いて試し読みを行い、再生条件を設定してもよい。

本発明では、上記態様の方法で決定された最適記録光量でランドグルーブ型の光記録媒体に情報を記録する記録方法が提供される。

以下、本発明の実施の形態及び実施例を図面を参照しながら具体的に説明する。

図１に、ランドグルーブ型光磁気記録媒体の最適記録光パワー及び再生光パワーを決定する方法に用いることができる記録再生装置（ドライブ）の概要を示す。この装置は、後述するランドグルーブ型光磁気ディスク２１にコードデータと同期した一定周期でパルス化された光を照射するためのレーザ制御系と、光磁気ディスク２１に印加する磁界を制御する磁界制御系と、光磁気ディスク２１からの信号を検出する信号検出系と、それらの制御系を統括するドライブコントローラ３２０から主に構成されている。レーザ制御系において、レーザ２２はレーザ駆動回路３２に接続されており、レーザ駆動回路３２は、ＰＬＬ回路３９から後述するクロック信号を受けてレーザ２２を制御する。磁界制御系において、磁界を印加する磁気コイル２９は磁気コイル駆動回路３４と接続されており、磁気コイル駆動回路３４はデータが入力される符号器３０から位相調整回路３１を通じて入力データを受けて磁気コイル２９を制御する。

信号検出系において、レーザ２２と光磁気ディスク２１との間には第１の偏光プリズム２５が配置され、その側方には第２の偏光プリズム２５１及び検出器２８及び２８１が配置されている。検出器２８及び２８１は、それぞれ、Ｉ／Ｖ変換器３１１及び３１２を介して、共に、減算器３０２及び加算器３０１に接続される。加算器３０１はクロック抽出回路３７を介してＰＬＬ回路３９に接続されている。減算器３０２は再生信号検出回路３３を介して複号器３８に接続されている。

ドライブコントローラ３２０は、クロック源３２２及びテストデータタイミング生成回路３２４を備え、テストデータタイミング生成回路３２４は後述するサンプルホールドパルス、タイミングパルスを発生する。

上記装置構成において、レーザ２２から出射した光はコリメータレンズ２３によって平行光にされ、偏光プリズム２５を通って対物レンズ２４によってディスク１上に集光される。ディスク２１からの反射光は偏光プリズム２５によって偏光プリズム２５１の方向に向けられ、１／２波長板２６を透過した後、偏光プリズム２５１で二方向に分割される。分割された光はそれぞれ検出レンズ２７で集光されて光検出器２８及び２８１に導かれる。ここで、ディスク２１上にはトラッキングエラー信号及びクロック信号生成用のピットが予め形成されている。クロック信号生成用ピットからの反射光を示す信号が検出器２８及び２８１で検出された後、クロック抽出回路３７において抽出される。次いでクロック抽出回路３７に接続されたＰＬＬ回路３９においてデータチャネルクロックが発生される。

データ記録の際に、レーザ２２はレーザ駆動回路３２によってデータチャネルクロックに同期するように一定周波数で光変調され、幅の狭い連続したパルス光を放射し、回転するディスク２１のデータ記録エリアを等間隔に局部的に加熱する。また、データチャネルクロックは、磁界制御系の符号器３０を制御して、基準クロック周期の整数倍のデータ信号を発生させる。データ信号は位相調整回路３１を経て磁気コイル駆動装置３４に送られる。磁気コイル駆動装置３４は、磁界コイル２９を制御してデータ信号に対応した極性の磁界をデータ記録エリアの加熱部分に印加する。

光磁気ディスク２１の構造の一例を図２に示す。光磁気ディスク２１は、幅広のグルーブ部１１４を有し、ランド部１１２及グルーブ部１１４の両方に磁区１１０が形成されるランドグルーブ型の光磁気ディスクである。基板１０１上には、通常、誘電体層、磁気光学効果を奏する記録層、誘電体層、反射層及び保護層を含む積層部１０３が形成されている（ここでは、説明を簡単にするために各層の構成は省略する）。

この実施例では、図２に示したランドグルーブ型光磁気ディスク２１に図１に示した記録再生装置（ドライブ）を用いて種々の記録光パワーのレーザ光を照射することによってテスト信号を記録し（試し書き）、それらを再生することによって、ランド部及びグルーブ部のそれぞれに最適な記録用レーザパワーを決定する方法を説明する。

〔第１工程：試し書きのための仮の記録光パワー設定〕
まず、図１の記録再生装置にランドグルーブ型光磁気ディスク２１を搭載し、回転駆動した後、レーザ２２を含む光学ヘッドをテストパターンの試し書きが行われるランド部のトラック（第ｎトラック）に、磁気コイル２９を含む磁気ヘッドを上記トラックの近傍にそれぞれ位置付ける。次いで、図３に示したテスト信号用の記録外部磁界及び記録レーザパルスに従って、ディスク１に外部磁界を印加しつつ、レーザビームを照射してテスト信号を記録する。

光磁界変調記録方式において実際に記録信号を記録する際、図３の磁区群６５に示すようにすべての記録クロックでレーザを発光させて互いに重なりあった磁区列を形成させる。この実施例では適正記録光パワー決定用のテスト信号を記録するために（試し書き）、レーザ発光の周期を記録クロックが間引きされるように調整し、テスト信号用記録トラック領域に孤立した短い磁区６４（以下、孤立磁区６４という）をいくつか形成する（図３の磁区パターン左側）。孤立磁区６４の間隔は、記録される磁区幅をトラックピッチよりも狭く且つ狭すぎないようにするためにトラックピッチの約２倍の長さに調整した。また、テスト記録領域には孤立磁区６４に加えて、記録クロックでレーザを発光させて得られた互いに重なりあった磁区列６５（以下、連続磁区６５という）を形成した。

かかる孤立磁区６４及び連続磁区６５を、上記領域とは別のいくつかのテスト信号用記録トラックのランド部の領域で、記録光パワーを変化させてテスト記録を行った。種々の記録光パワーで記録された孤立磁区６４及び連続磁区６５からの再生信号を図４に示す。図４において適正パワーとは、後述するΔ1がΔ1＝０になるパワーとし、それより大きいレーザパワー及び小さいレーザパワーをそれぞれをオーバパワー及びアンダーパワーとした。連続磁区６５からの再生信号は磁区が互いに重なっているために、レーザパワーが低くても各磁区からの再生信号の波形も重なっており、レーザパワーを変化させても各信号の振幅は殆ど変化しない。

一方、孤立磁区６４の方は、レーザパワーにより、隣合う磁区からの信号波形の重なりの度合いが変化するために、図４中、水平破線で示した信号レベルの平均値は大きく変動する。ここで、孤立磁区６４の再生信号レベルの平均値と連続磁区６５のからの再生信号レべルの平均値の差Δ1は、記録光パワーの変化に伴って大きく変化している。このΔ1のレーザパワーに対する変化量は、図５に示すように連続磁区６５の信号、すなわち、すべての記録クロックで記録を行った場合の信号レベルの変化量Δ2よりも大きいことがわかる。従って、通常の光磁界変調記録方式にて記録された磁区（連続磁区）から得られる再生信号レベルに基づいてレーザパワー等を調整して磁区幅を制御するよりも、上記Δ1に基づいてレーザパワー等を調整することによって磁区幅を制御する方がより高精度な制御が可能である。上記のようにして得られた各レーザパワーでのΔ1(p)を、レーザパワーと対応させて制御系（図示しない）に記憶させておく。

ここで、上記Δ1(p)を検出するための検出系の一例を図６のブロック図で示す。種々のレーザパワーの下で記録された上記孤立磁区６４及び連続磁区６５から再生されたテスト記録信号を、信号周波数より低いカットオフ周波数を持ったローパスフィルタに通し、サンプルホールドパルスによりピーク値及びボトム値を得、その差を減算器から求めることにより孤立磁区６４及び連続磁区６５の信号レベルの平均値の差を得る。各レーザパワーでのピーク値及びボトム値の差（振幅Δ1(p)）をＡ／Ｄ変換した後、それらのΔ1(p)値と基準値（基準信号振幅）Δ0とを比較して、基準値Δ0に最も近い値のΔ1(p)を検索し、それに対応するレザーパワーｐを得る。ここで、基準値Δ0はランド部における目標とする磁区幅に対応する理想的なΔ1値であり、クロストーク、トラックピッチ等を考慮して予め設計段階で決定される一定値である。この基準値Δ0は、光磁気記録媒体のカー回転角のばらつきによる信号振幅変化が回路のＤＣオフセット等の影響を受けにくいという理由からΔ0＝０になるようにした。

上記得られたレーザ光パワーｐがランド部へのテストパターンの記録時に基準値Δ0＝０に対応する所定の磁区幅を得るためのレーザパワーとなる。

次いで、グルーブ部においても、上記と同様の方法で種々のレーザパワーでテストパターンの磁区を試し書きして、Δ1(p)が基準値Δ0＝０となるようなレーザパワーｐを決定する。こうして、ランド部及びグルーブ部についてそれぞれ独立に決定されたレーザパワーｐをそれぞれＰＬ（０）及びＰＧ（０）と表す。これらのレーザパワーＰＬ（０）及びＰＧ（０）はランド部とグルーブ部において独立して決定されたパワーであるため、それぞれ隣接するトラックに対してクロスライトを生じない範囲の最適パワーであるかどうかはわからない。そこで、以下の工程ではＰＬ（０）及びＰＧ（０）を初期値として、それぞれグルーブ部に記録する際のパワーとランド部に記録する際のパワーを隣接するトラックからの再生信号を参照することにより調整する。

なお、前記テスト信号用記録トラックとしては、図７に示したようにディスク最内周或いはおよび最外周のユーザエリア４２外の一部４１、または、図８に示したようにＺＣＡＶフォーマットであればユーザの使用しないゾーン境界部近傍の非ユーザトラックの一部４１であってもよい。

〔第２工程：グルーブ部の記録光パワーＰＧ（ｉ）の設定〕
最初に、第１工程で決定された初期パワー値ＰＬ（０）でテスト信号を記録するランド部とその両側に隣接するグルーブ部を各々ＰＬ（０）及びＰＧ（０）より大きな記録光パワーで初期化して各磁区の磁化の向きを一方向にそろえる。そして、図９に示したように、中央のランド部９０にレーザパワーＰＬ（０）で単一繰り返しパターン９６を記録し、その後、両側に隣接するグルーブ部９２，９４に１０バイト程度おきに初期化された磁化の向きと同じ向きに連続パターン９８，９９を記録する。グルーブ部９２，９４を記録する際、記録光パワーは、ＰＧ（０）を中心にパワーを増減させる。例えば、セクタ毎にＰＧ（０）−２．０ｍＷ、ＰＧ（０）−１．０ｍＷ、ＰＧ（０）、ＰＧ（０）＋０．１ｍＷ、ＰＧ（０）＋０．２ｍＷのように順次パワーを変えながら同一パターン９８，９９を記録する。図９は、グルーブ部をＰＧ（０）＋０．２ｍＷ(b)のパワーで記録した場合を示し、図１０は，グルーブ部をＰＧ（０）のパワーで記録した場合を示し、図１１は、グルーブ部をＰＧ（０）−０．２ｍＷ(b)のパワーで記録した場合を示す。

上記のように種々のパワーで両側のグルーブ部９２，９４を記録した後に、中央のランド部９０のテストパターン９６を再生する。図９〜１１の磁区パターンの下方に再生信号の波形をそれぞれ示した。図９では、オーバーパワーでグルーブ部９２，９４にパターン９８，９９が記録されたと考えられるために、パターン９８，９９に挟まれたランド部の磁区８０からの再生信号の振幅はクロスライトの影響でグルーブ部９２，９４にパターン９８，９９が記録されていないランド部の磁区８２からの再生信号の振幅よりも小さい。図１０では、適性パワーでグルーブ部９２，９４にパターン９８，９９が記録されたと考えられるために、パターン９８，９９に挟まれたランド部の磁区８０からの再生信号の振幅はパターン９８，９９に挟まれていないランド部の磁区８２からの再生信号の振幅とほぼ等しくなっている。また、図１１では、アンダーパワーでグルーブ部９２，９４にパターン９８，９９が記録されたと考えられるために、パターン９８，９９に挟まれたランド部の磁区８０からの再生信号の振幅は、両側のパターン９８，９９からの影響を受けておらず、再生信号の振幅は、磁区８０と磁区８２において再生信号の振幅は等しい。従って、隣接グルーブ部が記録されているランド部の磁区８０からの再生信号の振幅から、隣接グルーブ部が記録されていないランド部の磁区８２からの再生信号の振幅を差し引いて０となるグルーブ部の記録光パワーＰＧのうち最大のパワーが適正パワーである（図１０の場合の記録光パワー）。

図１２(a)にＰＬ（０）のパワーで記録されたランド部の磁区８０と磁区８２からの再生信号の比（相対振幅）と、隣接するグルーブ部へ記録した記録光パワーの関係を示す。図１２(a)に示したように、グルーブ部への記録光パワーが適正パワーを超えるとランド部の磁区８０と磁区８２からの再生信号の比（相対振幅）は低下してくる。

上記第２工程で決定されたグルーブ部記録用の適正パワーをＰＧ（１）とする。

〔記録光パワーＰＧ（ｉ）決定のための回路〕
ここで、上記第２工程において記録光パワーＰＧ（ｉ）決定のための回路について説明する。図１３は、記録光パワーＰＧ（ｉ）決定のための回路の一例である。図１３において、テスト波形のピーク値とボトム値をピークホールド回路とボトムホールド回路（負のピークホールド回路）で求め、その２つの回路の出力の差を差分検出回路で求める。差分検出回路はローパスフィルタの機能をも備える。得られた差信号をサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ回路）でサンプルホールドした後、Ａ／Ｄ変換して隣接したグルーブ部に記録が行われていた部分と記録が行われていなかった部分からの信号レベルを比較器で比較する。比較器の比較結果に基づいて記録光パワー設定回路においてランド部（またはグルーブ部）に記録される記録光パワーが設定される。記録光パワー設定回路にはメモリが接続されており、一旦設定された記録光パワー値を一時的にメモリに記憶しておき、次回の記録時にＰＧ（０）（またはＰＬ（０））として用いることができる。

図１４に、図１３に示したサンプルホールド回路に供給されるサンプルホールドパルス及びタイミングパルス１，２の波形を図９に示したランド部の磁区パターン及び再生信号波形とともに示した。また、図１４には、差分検出回路からの出力波形を同時に示した。

図１３に示した回路の変形例として、２つのサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ回路）を用いてピークホールドとボトムホールドを実行する例を図１５に示す。図１５に示した２つのサンプルホールド回路に入力されるサンプルホールドパルス１及びサンプルホールドパルス２及びレベル比較器に入力されるタイミングパルス１及びタイミングパルス２の波形をそれぞれ図１６に示す。図１５に示した回路は、図１３に示した回路よりも多くの点で信号をサンプリングするためにＰＧ（ｉ）（またはＰＬ（ｉ））を一層高精度に決定することができる。

図１７に、図１３に示した回路の別の変形例を示す。図１７に示したブロック図は、テスト信号の再生波形をサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ回路）にてＰＬＬクロックのタイミングでサンプルホールドして、さらにＡ／Ｄ変換して各磁区におけるデジタル化した振幅データを得る。隣接したグルーブ部に記録を行ったランド部での初期化方向（白）の磁区のデータの振幅データをＤ0、同じく記録方向（黒）の磁区（図９の８０）の振幅データをＤ1とする。隣接したグルーブ部に記録を行っていない部分での初期化方向（白）の磁区のデータの振幅データをＤ2、同じく記録方向（黒）の磁区（図９の８２）の振幅データをＤ3とする。これらのデータＤ3，Ｄ2，Ｄ1，Ｄ0をＭＰＵ内の４つのメモリにそれぞれ格納しておき、演算処理部で（ΣＤ3−ΣＤ2）−（ΣＤ1−ΣＤ0）＝ΔＤの演算を行って、隣接グルーブ部に記録を行った場所と行っていない場所の振幅の差ΔＤを求める。図１７に示したようにΔＤが所定の値ａ以下でない場合には、記録光パワー設定回路において再び記録光パワーを設定して記録及び再生を行った後、上記演算を再び行う。そしてΔＤが所定の値ａ以下になるまで記録光パワーを変更しながら上記演算を繰り返し、それによってグルーブ部への適正記録光パワーを設定することができる。

また、図１７に示した回路を用いて、隣接したグルーブ部からのクロスライトの影響を受けた場所ではＳ／Ｎの低下、ジッタの増加が生じるのでＭＰＵにおいてＤ0〜Ｄ3の標準偏差を演算してそれを比較しても良い。あるいは、信号の振幅の差の代わりにエラー率の差で比較しても良い。

〔第３工程：ランド部の記録光パワーＰＬ（ｉ）の設定〕
第２工程で決定されたグルーブ部記録用の適正パワーＰＧ（１）を用いてランド部記録用の適正パワーを調整する。

この工程での操作は第２工程で行ったのと同様の操作を中央のグルーブ部がランド部により挟まれた３つのトラックについて行う。最初に、グルーブ部とそれに両側に隣接するランド部を各々ＰＧ（１）及びＰＬ（０）より大きな記録光パワーで初期化して磁化の向きを一方向にそろえる。そして、中央のグルーブ部にＰＧ（１）の記録光パワーで単一繰り返しパターンを記録する。その後、両側に隣接するランド部に１０バイト程度おきに初期化された磁化の向きと同じ向きに記録を行う（図９参照）。なお、このときランド部に記録する記録光パワーは、ＰＬ（０）を中心にパワーを増減させる。例えば、セクタ毎にＰＬ（０）−２．０ｍＷ、ＰＬ（０）−１．０ｍＷ、ＰＬ（０）、ＰＬ（０）＋０．１ｍＷ、ＰＬ（０）＋０．２ｍＷのように順次パワーを変えながら同一テストパターンを記録する。

その後、中央のグルーブ部を再生し、隣接ランド部に記録を行った場所と行っていない場所の振幅を比較して適正パワーＰＬ（１）を決める。適正パワーＰＬ（１）は、前記の適正パワーＰＧ（１）を決定したのと同様にして、隣接ランド部に記録を行ったグルーブ部の磁区と隣接ランド部に記録を行っていないグルーブ部の磁区からの再生信号の振幅の差が０となる最大のパワーとする。図１２(b)にＰＧ（１）のパワーで記録された隣接ランド部に記録を行ったグルーブ部の磁区と隣接ランド部に記録を行っていないグルーブ部の磁区からの再生信号の比（相対振幅）と、隣接するランド部へ記録した記録光パワーの関係を示す。図１２(b)に示したように、グルーブ部への記録光パワーが適正パワーを超えるとグルーブ部からの再生信号の比（相対振幅）は低下してくる。適正パワーの検出方法は第２工程と同様であり、図１３、図１５または図１７に示した回路を用いることができる。

こうして決定されたランド部への適正記録光パワーＰＬ（１）が最適であるかどうかは、ＰＬ（１）とＰＬ（０）の差を求めることによって調べることができる。すなわち、ＰＬ（１）とＰＬ（０）の差が十分小さいとき、例えば、｜ＰＬ（０）−ＰＬ（１）｜＜１ｍＷのときは、これまでに得られたＰＧ（１）とＰＬ（１）を最適な記録光パワーとして一連の試し書き動作を終了する。

ＰＬ（１）とＰＬ（０）の差が予め決めておいた設定値より大きな場合は、ＰＬ（１）を用いて第２工程を再度行いＰＧ（２）を決定し、ＰＧ（２）を用いて第３工程における適正記録光パワーＰＬを決定し直す。

〔操作手順の例〕
ランド部及びグルーブ部に記録するための最適記録光パワーを決定するための操作手順の一例を図１８のフローチャートに示した。このフローチャートは、ランドグルーブ型光磁気記録媒体に記録を行う際や記録再生装置の電源がオンにされたときにスタートする（ステップ２００）。前述の第１工程に従ってＰＬ（０）とＰＧ（０）を決定する（ステップ２０２及び２０４）。次いで、上記第２工程に従ってＰＬ（０）を用いて適正パワーＰＧ（ｉ）（ｉ＝１）を決定する（ステップ２０６）。そして、ＰＧ（ｉ）が最適パワーであるかどうかを、｜ＰＧ（ｉ）−ＰＧ（ｉ−１）｜＜ΔG（ΔGは予め設定した値であり、例えば１ｍＷ）を満足するか否かによって調べる（ステップ２０８）。満足しない場合または満足するがｉ＝１の場合（ステップ２２４）、ステップ２１０に進み、ｉ＞Ｎを判別する（ここで、Ｎは繰り返し回数の最大値であり、通常３〜４である）。ｉ＞Ｎである場合には異常終了する（ステップ２３０）。

ｉ≦Ｎである場合には、上記第３工程で説明した方法に従って、ステップ２１２でＰＧ（ｉ）を用いてランド部の適正パワーＰＬ（ｉ）を決定する。次いで、適正パワーＰＬ（ｉ）が最適か否かを、｜ＰＬ（ｉ）−ＰＬ（ｉ−１）｜＜ΔL（ΔLは予め設定した値であり、例えば１ｍＷ）を満足するか否かによって調べる（ステップ２１４）。満足する場合で且つＰＧ（ｉ）が最適である場合には、ＰＬ（ｉ）及びＰＧ（ｉ）の両方のパワーが最適であるために正常終了する（ステップ２３２）。｜ＰＬ（ｉ）−ＰＬ（ｉ−１）｜＜ΔLは満足するが、ステップ２０６で決定したＰＧ（ｉ）が最適でない場合、及び｜ＰＬ（ｉ）−ＰＬ（ｉ−１）｜＜ΔLを満足しない場合には、ステップ２１６に進みｉ＞Ｎが判断される。

ステップ２１６でｉ≦Ｎである場合には、ｉ＝ｉ＋１（ステップ２１８）とした後、ステップ２０６に戻り、再びＰＧ（ｉ）を決定し、ステップ２０８以降の操作を続ける。そして、ステップ２０８で条件を満足し且つ｜ＰＬ（ｉ−１）−ＰＬ（ｉ−２）｜＜ΔLを満足する場合にはいずれの最適パワーＰＬ，ＰＧも決定されたために正常終了する（ステップ２３４）。ステップ２１６でｉ＞Ｎである場合には異常終了する（ステップ２３０）。

図１８に示した操作手順は一例にすぎず、種々の手順でランド部及びグルーブ部の最適パワーを決定することができる。例えば、前記第１工程の操作（ステップ２０２及び２０４）において、ＰＬ（０）及びＰＧ（０）として予め設定した値を用いてもよい。この設定値は記録再生装置（ドライブ）のメモリ等に格納しておくことができる。また、上記フローチャートに従って一旦最適記録光パワーＰＬ（ｉ）及びＰＧ（ｉ）が決定された場合には、一定の条件下で、次の記録を行うときにその最適記録光パワーＰＬ（ｉ）及びＰＧ（ｉ）をＰＬ（０）及びＰＧ（０）の値として使用することができる。最適記録光パワーＰＬ（ｉ）及びＰＧ（ｉ）の値は、例えば、図１３及び図１５に示した記録光パワー設定回路に接続されたメモリに格納しておくことができる。

上記実施例では、ランド部にパワーＰＬ（０）でテストパターンを記録するとともにその両側のグルーブ部に記録するパワーを変更してグルーブ部の適正記録光パワーを決定する操作と、グルーブ部にパワーＰＧ（０）でテストパターンを記録するとともにその両側のランド部に記録するパワーを変更してランド部の適正記録光パワーを決定する操作とを連続して行ったが、いずれか一方の操作だけを行ってもよい。いずれか一方の操作だけでもクロスライトを防止するためには有効となる。

上記実施例で説明した試し書きによる最適記録光パワーを決定する方法を、ランドグルーブ型光磁気記録媒体が装着された記録再生装置の動作開始時点で実行することが好ましい。または、上記方法を、光磁気記録媒体を記録再生装置に装着した時点あるいは光磁気記録媒体を記録再生装置に装着した時点から１分〜１０分の間隔で実行してもよい。さらに、媒体の内周または外周から順に長時間記録を行う場合、記録開始前に実行してもよい。ＺＣＬＶで内周または外周から順に長時間記録を行う場合、ゾーン境界部で毎回あるいは数ゾーン毎に実行することもできる。

実施例１ではランドグルーブ型光磁気記録媒体の記録光の最適パワーを決定したが、この実施例では試し書きにより記録光のみならず再生光の最適パワーを同時に決定する方法を説明する。

図２に示したランドグルーブ型光記録媒体に以下のような第１工程から第４工程に従ってテストパターンを記録再生する。ここで、ランドグルーブ型光記録媒体の一周（１トラック）をＢ個のブロックに区画する。セクタ数をＬとすると、各ブロックにはＢ／Ｌ個のセクタが含まれる。

〔第１工程：テストパターンＡの記録〕
テスト信号を記録する領域の第ｎトラック（ランド部とする）に光ヘッドを位置づけた後、第０ブロック（第０セクタ）から第Ｂブロックまでブロックが変わるごとに順次記録光パワーを上げながらテストパターンＡを記録する。例えば、第０ブロックをパワーＰ０で記録し、第１ブロックをパワーＰ０＋Δ、第２ブロックをパワーＰ０＋２Δで記録し、・・・・・、第ｍブロックをパワーＰ０＋ｍΔで記録する。同一番号のブロックに含まれる各セクタには同一のパワーのレーザ光で記録が行われる。第ｎトラックの第ｍブロックの記録光パワーＰｗを、Ｐｗ（ｎ，ｍ）＝Ｐ０＋ｍΔで表す。

〔第２工程：テストパターンＢの記録〕
次に、上記のようにしてテストパターンＡが記録されたランド部（第ｎトラック）の両側に隣接するグルーブ部、すなわち、第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックに、ランド部の各ブロックに記録したパワーと同一パワーでテストパターンＢを記録する。ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックの記録光パワーＰｗ（ｎ＋１，ｍ）＝Ｐｗ（ｎ−１，ｍ）＝Ｐ０＋ｍΔ。この例では、Ｂ＝５、Ｌ＝２０、Ｐ０＝５ｍＷ，Δ＝１ｍＷとした。

〔第３工程：テストパターンＡの再生〕
上記のようにして両側のグルーブ部にテストパターンＢを記録した後、第ｎトラックの各ブロックに記録したパターンＡを再生する。再生光のパワーＰｒを種々の強度、この例では、Ｐｒ＝１．０ｍＷ、１．５ｍＷ，２．０ｍＷ，２．５ｍＷ，３．０ｍＷに変更しながら、第ｎトラックを再生した。

〔第４工程：最適記録・再生光パワーの決定〕
再生信号からエラー数を測定し、各ブロック内のセクタのエラー数が基準値を超えないセクタ数Ｓ（Ｐｒ）を求めた。この操作を各再生光パワーＰｒ毎に行い、種々の記録光パワー及び種々の再生光パワーにおけるＳ（Ｐｒ）を図２０のテーブルに示した。テーブルの右端には各再生光パワーにおけるすべてのブロックからＳ（Ｐｒ）の合計Ｓを表示した。Ｓが最も大きくなるＰｒを最適再生光パワーＰｒbestとすることができ、テーブルの結果よりＰｒbest＝２．０ｍＷであることがわかる。また、最適記録光パワーＰｗbestはＰｒbestにおけるＳ（Ｐｒ）内で最も大きなＳ（Ｐｒ）をもたらす記録光パワーとすることができる。テーブル中、Ｐｒ＝２．０ｍＷの場合、Ｐｗ＝６ｍＷ，７ｍＷ，８ｍＷにおいていずれもＳ（Ｐｒ）＝４であるため、中央のパワーとしてＰｗ＝７ｍＷを最適記録光パワーＰｗbestとした。こうして最適再生光パワーＰｒbest＝２．０ｍＷ及び最適記録光パワーＰｗbest＝７ｍＷが求められた。

上記第１工程において、最初に、同一記録光パワーでパターンＡを第ｎトラックの各ブロックを記録した後、各セクタのエラー測定し、予め不良セクタを除外しておいてもよい。こうすることで、欠陥などの初期不良に基づく再生信号のエラーをクロスライトによる再生信号によるエラーから取り除いておくことができ、最適記録及び再生光パワーを一層正確に決定することができる。

上記第４工程において、各再生光パワーにおけるすべてのブロックからＳ（Ｐｒ）の合計Ｓを求め、Ｓが最大のＰｒを最適再生光パワーとしたが、記録光パワー毎に全ての再生光パワーで再生された信号からのＳ（Ｐｒ）の合計Ｓ’を求め、最大Ｓ’となる記録光パワーを最適記録光パワーＰｗbestとすることができる。図２０のテーブルにおいて最適記録光パワーＰｗbestは７ｍＷとなる。そして、最適再生光パワーＰｒbestは、最適記録光パワーＰｗbestにおけるＳ（Ｐｒ）が最大になるパワー、すなわち、２．０ｍＷまたは２．５ｍＷにすることができる。このように最適記録光パワー及び最適再生光パワーを選択すると、記録光パワーマージンを最大に設定できる。

上記実施例では、テストパターンＡをランド部（第ｎトラック）を記録するとともにその両側のグルーブ部（第ｎ＋１及び第ｎ−１トラック）にテストパターンＢを記録した後に、ランド部を再生してランド部への最適記録及び再生光パワーをこのランドグルーブ型光記録媒体の最適記録光パワー及び最適再生光パワーとした。しかしながら、グルーブ部（例えば、第ｎ＋１トラック）にテストパターンＡを記録し、その両側のランド部（例えば、第ｎ及び第ｎ＋２トラック）にテストパターンＢを記録して、上記第３及び第４工程に準じてグルーブ部からの再生信号を検出してグルーブ部への記録及び再生のための最適パワーを決定することができる。すなわち、ランド部及びグルーブ部についてそれぞれ最適な記録及び再生光パワーを決定することができ、ランド部及びグルーブ部への記録及び再生光のフォーカスの相違に対処することが可能となる。

上記の第１から第４工程の操作は、ドライブの始動時等の所定のタイミングで繰り返して行われる。あるタイミングで第１から第４工程の操作を行った後、次のタイミングで第１から第４工程の操作を再び行う場合には、第１の工程において記録光パワー順次減少させることが好ましい。例えば、上記第１の工程で定めた第ｎブロックの記録光パワーＰｗ（ｎ，ｍ）＝Ｐ０＋ｍΔを、Ｐｗ（ｎ，ｍ）＝Ｐ０＋（Ｌ−ｍ）Δとすることができる。このように試し書きのたびに記録光パワーの順序を入れ替えることによって、最大記録光パワー部が同一トラック内の２ヶ所のブロックに分散されるので試し書き領域の劣化が少なくなる。

実施例２の変形例
実施例２の変形例を図２７に示す。実施例２の第２工程ではテストパターンＡが記録されたランド部の両側に隣接するグルーブ部に同一の記録光パワーでテストパターンＢを記録したが、この変形例では両側に隣接するグルーブ部にそれぞれ異なる記録光パワーでテストパターンを記録する例を示す。図２７は、ランドグルーブ型光記録媒体のテストパターンが記録される（試し書きが行われる）領域のセクタ配置図であり、図面横方向にセクタＮ，Ｎ＋１，Ｎ＋２・・Ｎ＋Ｑが配列され、図面縦方向にトラックｍ，ｍ＋１，ｍ＋２・・・ｍ＋Ｒが配列しているものとする。各トラックのセクタにテストパターンがそれぞれ異なる記録光パワーで記録されている。

記録光パワーは、例えば、Ｗｒ１０＜Ｗｒ１１＜Ｗｒ１２＜Ｗｒ１３・・・＜Ｗｒ１Ｑ、Ｗｒ１Ｑ＜Ｗｒ１０、Ｗｒ１０＜Ｗｒ２０＜Ｗｒ３０＜Ｗｒ４０・・・ＷｒＲ０になるように一定の変化率で変化させて、セクタ番号及びトラック番号に従って増大するものとする。例えば、セクタ毎の記録光パワーの変化率をαとしトラック毎の記録光パワーの変化率をβ（α＜β）とすることができる。すなわち、全てのセクタはそれぞれ異なる記録光パワーで記録されているために、例えば、第ｍ＋１のトラック（例えば、ランド部とする）の第Ｎセクタと、それに隣接する第ｍトラック（この場合、グルーブ部）の第Ｎセクタと、第ｍ＋２トラック（この場合、グルーブ部）の第Ｎセクタとはそれぞれ異なる記録光パワーで記録されている。この場合、隣接するセクタ間の記録光パワーの関係によってはクロスライトが発生する。そして、上記実施例２と同様に各セクタについて再生光パワーを種々の値に変調して再生する。

各セクタについて再生光パワーを種々の値に変調する場合、再生光パワーを全領域を再生する毎に変化させることができる。そして、図２０に示したように、記録光パワーと再生光パワーとの関係を示すマトリック条件を作成する。前述のような手法で最適記録光パワーと最適再生光パワーを決定することができる。最適記録光パワーは、エラーレートの最も少ないセクタの両側のセクタの記録光パワーの平均を採ることで求めることができる。この変形例では実施例２の場合に比べてテスト領域の縮小とテスト時間の短縮を図ることができる。また、グルーブ部とランド部とについてそれぞれ独立して最適記録光パワーを決定することができる。

この実施例２及び変形例では図２に示したランドグルーブ型光記録媒体に光磁気記録を行う場合について説明してきたが、本発明は磁気超解像による再生が可能な光磁気記録媒体に有効である。磁気超解像再生方式はマスク層の温度特性を利用することにより光学的分解能を飛躍的に高めることができる。すなわち、再生光のスポット径の１／２未満の大きさの微小磁区でさえも独立に再生することができる。しかしながら、再生光から他の微小磁区をマスクするマスク層のマスク形状は再生光の強度によっても変化する。そのため、再生光強度が適切でなければ、磁気超解像再生方式による高分解能は得られず、また、再生信号のＳ／Ｎが低下するおそれもある。そこで、この実施例の方法を磁気超解像による再生が可能な光磁気記録媒体に適用して、磁気超解像の再生光の最適パワー強度を図２０に示したようなテーブルを用いて求めることができる。これにより、磁気超解像再生方式のランドグルーブ型光磁気記録媒体から高分解能且つ高Ｓ／Ｎの再生信号が得られる。

前記実施例１及び２では最適記録パワー及び最適再生パワーを決定するためにテストパターンの試し書きを行った。本実施例では、試し書き領域の過度の使用による劣化を防止することができる光磁気記録媒体の記録再生方法を説明する。

図２１を用いて本発明の方法を説明する。図２１は、図２に示したような光記録媒体の第ｎトラック内の配置の一部を概念的に示した図である。図中、第ｎトラック内には複数の試し書き領域が存在し、各試し書き領域の後方にはデータ領域が配置されている。本発明においては、複数の試し書き領域から一つの試し書き領域を選択するための補助情報が、試し書き領域とは異なる領域に記録される。また、補助情報のアドレスには、通常のユーザーはユーザーデータを記録することができないようにする。

図２１では、補助情報の後方に、試し書き領域Ａ、データ領域Ａ、試し書き領域Ｂ、データ領域Ｂが配置されている。以下、簡単のため、複数の試し書き領域としては試し書き領域Ａ及び試し書き領域Ｂのみがあるものとして、図２２（ａ）及び（ｂ）に示された二つのタイプの補助情報の例を用いながら説明する。

図２２（ａ）においては、補助情報は、各試し書き領域を用いて試し書きを行った回数と、各試し書き領域への試し書きが許容されるか、否かを判別できる情報から構成される。すなわち、図２２（ａ）に示す補助情報は、試し書き領域Ａを用いて試し書きを行った回数を示すＣＮＴ＿Ａと、試し書き領域Ａへの試し書きが許容されるか、否かを判別できる情報ＦＬＧ＿Ａ、試し書き領域Ｂを用いて試し書きを行った回数を示すＣＮＴ＿Ｂと、試し書き領域Ｂへの試し書きが許容されるか、否かを判別できる情報ＦＬＧ＿Ｂとから構成されている。

ＦＬＧ＿Ａには、試し書き領域Ａへの試し書きが許容される場合は“１”が、試し書き領域Ａへの試し書きが許容されない場合は“０”が記録される。同様に、ＦＬＧ＿Ｂには、試し書き領域Ｂへの試し書きが許容される場合は“１”が、試し書き領域Ｂへの試し書きが許容されない場合は“０”が記録される。

図２２（ａ）に示した補助情報を用いて試し書き領域Ａと試し書き領域Ｂの二つの領域から一つの試し書き領域を選択する手順を、図２３及び図２５を参照して説明する。図２３は、図２２（ａ）に示した補助情報から、試し書き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領域を選択する手順の一例をフローチャートで示す。図２５は、補助情報の内容と、使用される試し書き領域の関係を示している。

試し書きが許容されている試し書き領域Ａを用いて、試し書きを行った回数が、あらかじめ設定した回数以上となった場合に、試し書き領域Ａへのこれ以上の書き込みが許容されないように、補助情報が書き換えられる。ここでは、ＣＮＴ＿Ａが１６進数のＦＦＦＦに達した場合に、ＦＬＧ＿Ａが“１”から“０”に変更されることが相当する。また、試し書きが許されている試し書き領域を用いて、試し書きを行った回数が、あらかじめ設定した回数より大なる場合に、過去に試し書きが行われていない別の試し書き領域を、新しい試し書き領域として試し書きを許容できるように補助情報を書き換える。ここでは、ＣＮＴ＿Ａが１６進数のＦＦＦＦに達した場合に、ＦＬＧ＿Ｂが“０”から“１”に変更されることが相当する。次いで、試し書き領域Ｂにおいて領域Ａと同様に試し書き回数がその上限に達するまで試し書きが行われる。そして領域Ｂでの試し書き回数がその上限に達したならば、ＦＬＧ＿Ｂが再び“０”に書き換えられ、次の試し書き領域（Ｃ）で試し書きが行われる。

このように、各試し書き領域は、試し書き回数の上限が設定されているため、何度も試し書きを繰り返して、記録媒体が熱的にダメージを受け、記録特性が変化する前に、別の試し書き領域を用いることができる。このため、安定した記録特性を有する試し書き領域を用いての試し書きが可能となり、記録条件の最適化が図れる。

一方、図２２（ｂ）においては、試し書きが許容された試し書き領域を用いて試し書きを実行した回数ＣＮＴと、試し書きが許容される試し書き領域を指定する情報ＤＳＴから構成される。

図２２（ｂ）に示した補助情報を用いて、試し書き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領域を選択する手順を、図２４と図２６を参照して説明する。図２４は、図２２（ｂ）に示した補助情報から、試し書き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領域を選択する手順のフローチャートを示す。図２６は、補助情報の内容と、使用される試し書き領域の関係を示している。

図２６において、ＤＳＴが“１”の場合は試し書き領域Ａを使用し、ＤＳＴが“２”の場合は試し書き領域Ｂを使用して試し書きを行う。試し書きが許容されている試し書き領域を用いて、試し書きを行った回数ＣＮＴが、あらかじめ設定した回数より大なる場合に、過去に試し書きが行われていない別の試し書き領域を、新しい試し書き領域として試し書きを許容できるように補助情報を書き換える。ここでは、ＣＮＴが１６進数のＦＦＦＦに達した場合に、ＤＳＴが“１”から“２”に変更されて、使用される試し書き領域が試し書き領域Ａから試し書き領域Ｂに変更されることが相当する。このように、各試し書き領域は、試し書き回数の上限が設定されているため、何度も試し書きを繰り返して、記録媒体が熱的にダメージを受け、記録特性が変化することを回避でき、安定した試し書きが可能となるのは、図２２（ａ）の場合と同様である。

なお、図２１の説明において、同一トラック上に複数の試し書き領域を有することを想定したが、同一セクタ上に複数の試し書き領域を有することも可能であり、本発明の範囲に包含される。

上記実施例１〜３において、試し書き領域の近傍、または試し書き領域の一部に、試し読み領域を設けることもできる。試し読み領域においては、記録周波数等を変えた記録磁区を出荷時に記録しておく。試し読み領域は、通常のユーザーは消去も記録もできない領域とする。試し読み領域に記録された再生条件設定用信号を用いて、クロックマークを基準にジッターを測定することが可能となり、再生信号の振幅も評価できる。また、ビット誤り率を測定してもよい。これらの試し読みの結果を用いて、再生レーザーの出力、照射タイミング等、必要な場合は外部磁界の印加タイミングや強度等を最適に調整し、かかる最適条件でユーザーデータを再生することが可能となる。試し読み領域への、再生条件設定用信号は、出荷前にメーカーが行うことができる。磁気超解像やランドグルーブ記録では、再生条件が最適化されていることが望まれるので、これらの用途には再生条件を含む情報を予め媒体に記録しておき、それを試し読みすることは特に有効である。

本発明の実施例をランドグルーブ型の光磁気記録媒体を用いて光磁界変調方式で記録する場合を例に挙げて説明してきたが、光変調方式または磁界変調方式を用いることもできる。また、光記録媒体は、図２に示したランドグルーブ型光磁気記録媒体に限定されず、ランドグルーブ型の相変化型光記録媒体等の種々の書換え可能なランドグルーブ型の光記録媒体の記録及び再生に本発明を適用することができる。

本発明のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光パワーを決定する方法によれば、ランド部またはグルーブ部の両側に隣接するグルーブ部またはランド部に記録する際にクロスライトまたはクロスイレーズが起こらずしかも最もＳ／Ｎを最大にすることができる記録光パワーを選択することができる。

本発明のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光パワー及び最適再生パワーを決定する方法によれば、ランド部の両側のグルーブ部を記録する際に、記録光パワーを種々の値に変調するのみならずランド部を再生する際の再生光パワーも種々のパワーに変調し、種々の記録光パワー及び再生光パワーの組合せで得られた複数の再生信号の中から、エラーレートを最低にする最適記録光パワー及び最適再生光パワーの組合せを決定することができる。この方法では記録光パワーのみならず再生光パワーも同時に最適化することができるために、再生光のパワーにより分解能及びＳ／Ｎが著しく変化する磁気超解像再生方式を用いた光磁気記録媒体に極めて好適である。

また、本発明では、該複数のテストパターン記録領域から一つのテストパターン記録領域を選択するための補助情報をテストパターン領域とは異なる光記録媒体の領域に格納させたため、特定の試し書き領域の過度の使用による劣化を防止することができる。本発明の記録再生装置は本発明の最適記録光量の決定方法並びに最適記録及び光量の決定方法を実行させるのに好適な装置であり、決定された最適光量により情報の記録及び再生を行うことにより、ランドグルーブ型の光記録媒体のランド及びグルーブ間のクロスライトがなく、しかも高Ｓ／Ｎの再生を実現することができる。

本発明の実施例で用いたランドグルーブ型光磁気記録媒体用の記録再生装置の全体構成を示す図である。 本発明の実施例で用いたランドグルーブ型の光磁気ディスクの構造を示す模式図である。 実施例１の第１工程におけるＰＬ（０）を決定する方法を説明する図であり、光磁界記録方法の記録レーザパルス、記録外部磁界、記録磁区及びそれから再生された信号の関係を示すタイミングチャートである。 実施例１の第１工程において記録された記録磁区からの再生信号と記録レーザパワーの関係を示す図である。 実施例１の第１工程において光磁界記録方法で記録された記録磁区からの再生信号におけるΔ1及びΔ2とレーザ記録パワーとの関係を示すグラフである。 実施例においてΔ1を求めるための検出系のブロック図である。 本発明の実施例において光磁気記録方式によりテスト信号が記録されるテスト記録領域を示すランドグルーブ型の光磁気ディスクの平面図である。 本発明の実施例において光磁気記録方法によりテスト信号が記録されるテスト記録領域を示すランドグルーブ型の光磁気ディスクの平面図である。 実施例１の第２工程においてランド部を挟むグルーブ部へオーバーパワーで記録した場合の記録磁区のパターン及びランド部から得られた再生信号波形を示す図である。 実施例１の第２工程においてランド部を挟むグルーブ部へ適正パワーで記録した場合の記録磁区のパターン及びランド部から得られた再生信号波形を示す図である。 実施例１の第２工程においてランド部を挟むグルーブ部へアンダーパワーで記録した場合の記録磁区のパターン及びランド部から得られた再生信号波形を示す図である。 ＰＬ（０）のパワーで中央のトラックの磁区からの相対振幅と、隣接するトラックへ磁区を記録した記録パワーとの関係を示すグラフであり、図１２(a)は中央のトラックがランドの場合であり、図１２(b)は中央のトラックがグルーブである場合の結果を示す。 実施例１で用いた記録パワーＰＧ（ｉ）を決定するための回路を示す図である。 図１３の回路に使用するサンプルホールドパルス及びタイミングパルス並びに差分検出回路からの出力を示す減算後の信号波形を示すタイミングチャートである。 実施例１で用いた記録パワーＰＧ（ｉ）を決定するための回路の別の例を示す図である。 図１５の回路に入力されるサンプルホールドパルス及びタイミングパルスを示すタイミングチャートである。 実施例１で用いた記録パワーＰＧ（ｉ）を決定するための別の回路ブロック図である。 実施例１の最適記録光パワーを決定するための手順の一例を示すフローチャートである。 実施例２で用いたランドグルーブ型の光記録媒体のトラックのブロック及びセクタの区分並びに各セクタに記録されるテストパターンＡ／Ｂを示す。 実施例２において各ブロックにテストパターンを記録する際に用いた種々の記録光パワー及び各記録パワーで記録したテストパターンを再生する際に用いた種々の再生光パワーの組合せを示すテーブルである。 実施例３において使用した光記録媒体の第ｎトラックの一部の区分を概念的に示す図である。 図２１に示した第ｎトラック中に格納された補助情報の内容を示す概念図であり、２種類の補助情報の内容を示す（(a)及び(b)）。 図２２(a)に示した補助情報を用いて試し書き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領域を選択する手順の一例を示すフローチャートである。 図２２(b)に示した補助情報を用いて試し書き領域Ａと試し書き領域Ｂから一つの試し書き領域を選択する手順の一例を示すフローチャートである。 図２２(a)に示した補助情報の内容と使用される試し書き領域との関係を示すテーブルである。 図２２(b)に示した補助情報の内容と使用される試し書き領域との関係を示すテーブルである。 実施例２の変形例において用いたランドグルーブ型光記録媒体のセクタの配置を概念的に示す図である。

符号の説明

２１ 光磁気ディスク
２２ レーザ
２５ 偏光プリズム
２８ 光検出器
２９ 磁気コイル
３１ 位相調整回路
３７ 埋め込みクロック抽出回路
３８ 復号器
３９ ＰＬＬ回路
４１ テスト領域
４２ ユーザ領域
６１ トラッキングピット
６２ 埋め込みロックピット
６４ 孤立磁区
６５ 連続磁区
９０，１１２ ランド部
９４，１１４ グルーブ部
１１０ 記録磁区
３２２ クロック源
３２４ テストデータタイミング生成回路

Claims (12)

1. ランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する方法であって、
   第ｎトラックにパターンＡを記録光で記録し、
   第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックに、上記パターンＡの一部を挟むようにパターンＢを記録光で記録し、
   第ｎトラックに記録されたパターンＡのうち、パターンＢに挟まれたパターンＡの部分からの再生信号と、パターンＢに挟まれていないパターンＡの部分からの再生信号との差を求め、
   上記パターンＢに挟まれたパターンＡの部分からの再生信号とパターンＢに挟まれていないパターンＡの部分からの再生信号との差が所定の範囲内である場合のパターンＢを記録する記録光量のうち最大記録光量を最適記録光量として決定することを含むランドグルーブ型光記録媒体の最適記録光量を決定する方法。
2. 第ｎトラックがランド部またはグルーブ部の一方であり、第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックがランド部またはグルーブ部の他方であることを特徴とする請求項１に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する方法。
3. 記録光のパワーまたは記録光のパルス幅を変更することによって記録光量を種々の光量に調整することを特徴とする請求項１または２に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量を決定する方法。
4. 上記光記録媒体が上記パターンを記録する領域を複数有し、パターンを記録する際に、該複数のパターン記録領域から一つのパターン記録領域を選択するための補助情報を、上記パターン記録領域とは異なる領域に格納することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方法。
5. 上記補助情報に、各パターン記録領域への記録が許容されるか否かを判別できる情報が含まれていることを特徴とする請求項４に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方法。
6. 上記補助情報に、パターンの記録が許容されているパターン記録領域を用いて記録を行った回数が含まれていることを特徴とする請求項４または５に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方法。
7. 上記パターンの記録が許容されているパターン記録領域を用いて、パターンの記録を行った回数が予め設定した回数より大きい場合に、上記パターン記録領域へのそれ以上の書き込みが許容されないように補助情報を書き換えることを特徴とする請求項６に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方法。
8. 同一トラック上に複数のパターンの記録領域を有することを特徴とする請求項１に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方法。
9. 同一セクタ上に複数のパターンの記録領域を有することを特徴とする請求項１に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方法。
10. 再生条件を最適化するための信号が記録されている光記録媒体を用いて、試し読みを行い、再生条件を設定する請求項１に記載のランドグルーブ型の光記録媒体の最適記録光量の決定方法。
11. 請求項１に記載の方法で決定された最適記録光量でランドグルーブ型の光記録媒体に情報を記録する記録方法。
12. ランドグルーブ型の光記録媒体の記録再生装置において、
    記録光及び再生光を上記光記録媒体に照射する光ヘッドと、
    上記記録光及び再生光の少なくとも一方の光量を調整する光量調整系と、
    記録された情報を上記再生光から検出する再生信号検出系と、
    第ｎトラックに予め定めた記録光量でパターンＡを記録し、第ｎ＋１トラック及び第ｎ−１トラックに、上記パターンＡの一部を挟むように種々の記録光量でそれぞれパターンＢを記録するように上記光ヘッド及び光量調整系を制御する制御系と、
    第ｎトラックに記録されたパターンＡのうち、パターンＢに挟まれたパターンＡの部分からの再生信号とパターンＢに挟まれていないパターンＡの部分からの再生信号との差を記録光量毎に演算する演算手段と、
    上記パターンＢに挟まれたパターンＡの部分からの再生信号とパターンＢに挟まれていないパターンＡの部分からの再生信号との差が所定の範囲内である場合のパターンＢを記録する記録光量を最適記録光量として決定する手段とを含むランドグルーブ型の光記録媒体の記録再生装置。

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