DE474951C - Mikrometer mit Kontrolle des Messdruckes nach der Interferenzmethode - Google Patents

Mikrometer mit Kontrolle des Messdruckes nach der Interferenzmethode

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DE474951C
DE474951C DET30746D DET0030746D DE474951C DE 474951 C DE474951 C DE 474951C DE T30746 D DET30746 D DE T30746D DE T0030746 D DET0030746 D DE T0030746D DE 474951 C DE474951 C DE 474951C
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DET30746D
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers

Description

  • Mikrometer mit Kontrolle des meßdruckes nach der Interferenzmethode Bei feineren Messungen ist die Einstellung eines bestimmten, gleichen Meßdruckes eine wichtige Voraussetzung; ferner wird bedingt, daß während der Messung eine subjektive Beeinflussung durch den Beobachter ausgeschaltet ist. Beide Momente werden bei den bekannten Mikrometerschrauben nicht gleichzeitig erfüllt. Die Ratsche genügt höheren Anforderungen nicht, bei zu schnellem Einstellen kann infolge des großen Drehmomentes sogar die Ablesung von ö,oi mm ungenau werden. Bei anderen Einrichtungen bemüht man sich, diese Nachteile zu beseitigen, sie schließen aber die subjektive Beeinflussung nicht aus, wie Ablesung und Verkantung während der Messung.
  • Die Erfindung sucht beideBedingungen gleichzeitig zu erfüllen und damit die Möglichkeit zu schaffen, mit Hilfe der Mikrometerschraube kleinere Bruchteile als o,oi mm einwandfrei abzulesen. Sie besteht in der Anordnung von unter Federdruck stehenden, sich abwälzenden, interferenz- und kontaktstrichgebenden Flächen zur Einstellung eines bestimmten, gleichen Meßdruckes und in der Verbindung mit einem bekannten Nonius für die feinere Ablesung sowie in der zwanglosen Lagerung des Prüfstückes auf einem beweglichen Meßtisch.
  • Die Abbildung stellt ein Mikrometer mit Kontaktlängenmessung dar. Der Ambos ist in axialer Richtung der Meßschraube beweglich. Das der Kontaktfläche g gegenüberliegende Ende des Ambosses berührt ein durchsichtiges Prisma d, welches in einer an dem Stativ angeschraubten Fassung c beweglich ist. Die dem Stativ zugekehrte interferenzgebende Kontaktfläche f des Prismas d ist je nach der Empfindlichkeit mit einem bekannten Radius zylindrisch, konvex gewölbt, die Gegenfläche am Stativ dagegen ist plan. Der Radius ist zu groß, um zeichnerisch dargestellt werden zu können. Die plane Fläche ist der besseren Wiedergabe halber schwarz gebeizt. Vor d sitzt fest in der Fassung c eine ausgesparte Blattfeder e, die auf das Prisma d mit einem genormten Meßdruck drückt. Eine Glasscheibe dient zur Abdichtung gegen Staub. Auf der zylindrisch konvexen Fläche des Prismas d ist ein Linienkreuz eingeätzt, welches als Teilung mit einem vertikalen Strich und mehreren horizontalen Linien gedacht ist. i ist eine Schraube mit konischem Hals, der mit Spiel in den Amboß eindringend, ein Zertrümmern des Prismas d bei einem zu schnellen und festen Einstellen verhindert. Vor der Interferenzeinrichtung ist in der Abb. der Spiegel h gezeichnet, dessen Befestigungsweise auf einem gesonderten Stativ mit Kugelgelenk der Einfachheit wegen fortgelassen ist. Er dient zur besseren Ablesung der Interferenzstreifen. Diese kann auch durch eine andere, geeignete Optik, je nachdem die Interferenzablesung augenscheinlich gemacht werden soll, vergrößert oder weitergeleitet werden. Zur Beleuchtung genügt weißes Licht.
  • Die Teiltrommel a bewegt sich in bekannter Weise über den Indexträger b und verstellt die Meßschraube mit ihrer Kontaktfläche g1. Die Teiltrommel sowohl wie der Indexträger sind justierbar angedeutet. Die Teilstriche des Nonius sind im Anscbluß an den Index in axialer Richtung der Meßschraube in der ganzen Länge des Meßbereiches gezogen und umfassen einen solchen Bruchteil des Indexträgers b, daß der entstehende Winkel eine für die Ablesung günstige Blickrichtung bei unveränderlicher Stellung des Meßwerkzeuges und Beobachters einschließt.
  • Der Meßtisch, von Hand vertikal verstellbar, ist mit Hilfe einer Klemmschraube feststellbar und besitzt doppelte Kugellagerungen, um die gleitende Reibung zu vermeiden.
  • Die Messung geschieht in folgender Weise Das Meßobjekt wird auf den Meßtisch gelegt oder gekittet. Durch die Kugellagerung des Meßtisches ist es möglich, daß während der Messung das Objekt nicht berührt, eine Temperaturveränderung und ein Verkanten vermieden wird. Ist der Temperaturausgleich erfolgt, so kann die Messung in üblicher Weise beginnen. In dem Augenblick der Berührung des Meßobjektes mit den Kontaktflächengundgl tritt ein Wandern des grauen Kontaktstreifens und der zu beiden Seiten vorhandenen Interferenzstreifen in Erscheinung, deren Farben-oder Formveränderung durch Abwälzen der zylindrisch konvexen Fläche des Prismas d auf der planen Gegenfläche langsam entwickelt werden kann. Das Abwälzen der zylindrischen, konvexen Fläche auf der planen Gegenfläche wird durch den Gegendruck der auf den genormten Meßdruck einjustierten Blattfeder e bewirkt. Steht der graue Kontaktstreifen mit einer bestimmten Horizontalen des Linienkreuzes in Übereinstimmung, was in dem Spiegel 1a erkennbar ist, so ist der genormte Meßdruck vorhanden und damit die richtige Einstellung der Teiltrommel a gegeben. Infolge der Ablesung des Druckes mittels der Interferenzstreifen ist die subjektive Beeinflussung der Beobachtung des Längenmeßwertes ausgeschaltet und damit dieser erstrebte Vorteil erreicht.
  • Nunmehr erfolgt die Ablesung an der bekannten Längenteilung sowie der Teiltrommel und dem Index, außerdem an dem vorgesehenen Nonius b3, dessen Wert gegebenenfalls durch eine Fehlertafel der Schraube zu korrigieren ist. In dem dargestellten Beispiel ist ein vortragender Nonius gewählt, dessen Angabe ein Zehntel von der Maßteilung der Teiltrommel ist. Beträgt die Steigung der Meßschraube 0,5 mm, die Längsteilung 0,5 mm und ist die Teiltrommel a 5oteilig, so ist ein Wert von o,ooz mm ablesbar und 0,5 #t schätzbar. Feinere Unterteilungen als in dem gewählten Beispiel sind je nach Zweck und Ausführung des Mikrometers denkbar.
  • Durch eine Lupe über dem Nonius sind o,z I. besser schätzbar. Die Meßgenauigkeit wird dabei mit Sicherheit ± 0,5 11 betragen, eine Toleranz, die in der Industrie genügt.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Mikrometer mit Kontrolle des Meßdruckes nach der Interferenzmethode, dadurch gekennzeichnet, daß der längsverschiebbare Amboß bei der Messung gegen eine unter Federdruck stehende Glasplatte drückt und diese dabei mit ihrer konvexen Fläche auf einer ebenen Fläche abwälzt.
DET30746D 1925-08-29 1925-08-29 Mikrometer mit Kontrolle des Messdruckes nach der Interferenzmethode Expired DE474951C (de)

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