DE4429434C1 - Bildsensor - Google Patents
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- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 239000000543 intermediate Substances 0.000 claims 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
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- H01L27/146—Imager structures
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Description
Für die Anfertigung von Röntgenbildern können hochauflösende
Bildsensoren mit einer Matrix von lichtempfindlichen
Detektorelementen verwendet werden (Circuits and Devices
(Juli 1993), Seiten 38 bis 42). Diese Bildsensoren benötigen
eine große Zahl von Ein- und Ausgängen
zur Signalverarbeitung.
Ein Bildsensor gemäß dem Oberbegriff
des Anspruchs 1 ist aus der EP 0 622 851 A1,
Fig. 5, bekannt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einem derartigen Bildsensor
die Anzahl der Signalleitungen zu vermindern.
Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale
des Patentanspruchs 1. Bei dem erfindungsgemäßen
Bildsensor ist die Zahl der Ansteuerleitungen reduziert,
da über die Polarität der Steuersignale
eine Unterscheidung der unterschiedlich gepolten Photodioden vorgenommen wird, so daß
sich eine Halbierung der Zahl der Anschlüsse gegenüber dem
Fall, in dem Steuersignale nur einer Polarität benutzt werden,
ergibt.
Die Erfindung ist nachfolgend anhand der Zeichnung näher er
läutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen Bildsensor,
Fig. 2 und 3 den physikalischen Aufbau eines Detektorelemen
tes bei dem Bildsensor gemäß Fig. 1, und
Fig. 4 bis 7 Varianten des Bildsensors gemäß Fig. 1.
In der Fig. 1 ist ein Bildsensor mit einer Matrix von
lichtempfindlichen Detektorelementen 1, 2, 3, 4 usw. dar
gestellt. Beispielsweise enthält der Bildsensor 512 Zeilen
und 540 Spalten. Für je zwei benachbarte Zeilen ist eine ge
meinsame Ansteuerleitung 5 vorgesehen. Auf der Leitung 5 sind die
für einen Bildzyklus notwendigen Pulsfolgen dargestellt. Nach
einem Rücksetzlichtimpuls der Zeit t1 werden mit VP1+ nur die
Detektorelemente 3, 4 usw. und mit VP1- nur die Detektorele
mente 1, 2 usw. geladen, da die Diodenrichtungen gegeneinan
der liegen. Danach erfolgt die Röntgenbestrahlung während der
Zeit t2. Mit dem positiven Puls VP2+ auf der Leitung 5 werden die
Detektorelemente 3, 4 und folgende auf derselben Zeile ausge
lesen. Wird auf derselben Leitung der negative Impuls VP2-
appliziert, so werden die Detektorelemente 1, 2 ff. angespro
chen, weil die Diodenrichtungen - verglichen mit den Detek
torelementen 3, 4 - umgekehrt sind. Die Auslesung erfolgt auf
den bisherigen Spaltenleitungen. Sowohl das Auslese-IC 6 als
auch das Ansteuer-IC 7 müssen für bipolaren Betrieb ausgelegt
sein.
Wie die Detektorelemente mit unterschiedlicher Diodenrichtung
aufgebaut sein könnten, zeigen die Fig. 2 und 3.
In der Fig. 2 ist der Aufbau eines Detektorelementes für
negative VP1- bzw. VP2-Ansteuerung dargestellt. Die Isola
tionsschichten, die Passivierung usw. sind nicht gezeigt. Die
Fig. 2 zeigt ein Glassubstrat 8, auf dem die Zeilenleitung 9
und die Spaltenleitung 10 aufgebracht ist. Mit 11 ist die
Schaltdiode und mit 12 die Photodiode des Detektorelementes 1
bezeichnet. Die Detektorelemente 2 usw. der ersten Zeile sind
entsprechend aufgebaut.
Die Fig. 3 zeigt den Aufbau eines Detektorelementes für posi
tive VP1- bzw. VP2-Ansteuerung. Die Schaltdiode des Detek
torelementes 3 ist mit 13 und die Photodiode mit 14 bezeich
net. Die Detektorelemente der zweiten Zeile sind entsprechend
aufgebaut.
In Fig. 4 sind auf den Ansteuerleitungen 15, 16, 17 usw. wie
der die Pulsfolgen dargestellt. Die Aufladung der Detektor
elemente 18, 19, 20, 21 erfolgt - wie vorher geschildert -
bipolar mit VP1+ und VP1- vor der Röntgenstrahlung. Mit dem
positiven Puls VP2+ auf Linie 15 wird das Detektorelement 18
und jedes übernächste auf derselben Zeile ausgelesen. Wird
auf derselben Leitung der negative Ausleseimpuls VP2- appli
ziert, so wird das Detektorelement 19 und jedes übernächste
angesprochen, weil die Diodenrichtungen - verglichen mit dem
Detektorelement 18 - umgekehrt sind. Sowohl das Auslese-IC 6
als auch das Ansteuer-IC 7 müssen auch hier für bipolaren Be
trieb ausgelegt sein. Die Auslesezeit verdoppelt sich gegen
über der vorigen Lösung bei gleichbleibender Dauer von VP2,
so daß sich die Bildrate etwa halbiert.
Ein Nachteil der halbierten Zahl von Ausleseleitungen besteht
in der erhöhten parasitären Kapazität durch die doppelte An
zahl anliegender Detektorelemente. Dies führt zu erhöhtem
Rauschen. Zur Vermeidung wird die Variante gemäß Fig. 5 vor
geschlagen. Eine Reduzierung der Zahl der Spaltenanschlüsse
wird über Paare von Dioden 26, 27 usw. erst am Rand des Bild
sensors vorgenommen. Diese Dioden 26, 27 usw. sind ähnlich
wie die Schaltdioden 11, 13, 22, 24 auf einem Substrat aus
amorphem Silizium aufgebaut. Sie sind elektrisch mit den
Schaltdioden 11, 13, 22, 24 in Serie geschaltet. Dies erhöht
den Widerstand und führt zu Verschlechterungen im Zeitverhal
ten und Rauschen. Da die Dioden 26, 27 aber weniger häufig
vorkommen, können sie großflächiger ausgelegt sein, so daß
ihre Durchlaßkennlinien niederohmiger sind und die obenge
nannten Verluste klein bleiben können.
In der Fig. 4 sind noch für die Detektorelemente 18 und 20
die Schaltdioden 22 und 24 sowie die Photodioden 23 und 25
dargestellt. Entsprechend sind die weiteren Detektorelemente
aufgebaut.
Die Fig. 6 zeigt den Bildsensor gemäß Fig. 1, der zur Spal
tenabfrage mit zwei gekoppelten Brückengleichrichtern 28, 29
versehen ist. Damit kann die Zahl der an das Auslese-IC 6
anzuschließenden Spalten zur Kostenreduktion halbiert werden.
Die Auslesezeit verdoppelt sich damit. Die Ansteuerung der
Brückengleichrichter 28, 29 als Schalter erfolgt über eine
potentialfreie Stromquelle. Diodenschalter haben den Vorteil,
keine zusätzlichen Maskenschritte zu erfordern, wie bei der
nachfolgenden Lösung.
Die Fig. 7 zeigt ebenfalls den Bildsensor gemäß Fig. 1, der
zur Spaltenabfrage mit zwei gekoppelten Feldeffekttransisto
ren 30, 31 versehen ist. In der Ladephase (VP1+, VP1-) sind
alle Feldeffekttransistoren leitend; in der Auslesephase nur
einer von einem Paar benachbarter Feldeffekttransistoren.
Claims (4)
1. Bildsensor mit matrixartig angeordneten Detektorelementen
(1, 2, 3, 4, 18, 19, 20, 21), die jeweils aus einer Reihen
schaltung einer Photodiode (12, 14, 23, 25) mit einer umge
kehrt wie die Photodioden (12, 14, 23, 25) gepolten
Schaltdiode (11, 13, 22, 24, 26, 27) bestehen und die zwi
schen zeilenweise angeordneten Ansteuerleitungen (5, 15, 16,
17) und spaltenweise angeordneten Ausleseleitungen geschaltet
sind, wobei die Detektorelemente (1, 2, 3, 4, 18, 19, 20, 21)
teils in der einen und teils in der anderen Polarität vorlie
gen, dadurch gekennzeichnet,
daß an jede Ansteuerleitung (5, 15, 16, 17) Detektorelemente
(1, 2, 3, 4, 18, 19, 20, 21) beider Polaritäten angeschaltet
sind und daß jede Ansteuerleitung (5, 15, 16, 17) mit bipola
ren Signalen beaufschlagt wird, von denen die Signale der
einen Polarität zum Auslesen der Detektorelemente (1, 2, 3,
4, 18, 19, 20, 21) der einen Polarität und die Signale der
anderen Polarität zum Auslesen der Detektorelemente (1, 2, 3,
4, 18, 19, 20, 21) der anderen Polarität dienen.
2. Bildsensor nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß auf eine Zeile der Matrix
mit Detektorelementen (1, 2) der einen Polarität eine Zeile
mit Detektorelementen (3, 4) der anderen Polarität folgt.
3. Bildsensor nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß auf eine Spalte der Matrix
mit Detektorelementen (18, 20) der einen Polarität eine
Spalte mit Detektorelementen (19, 21) der anderen Polarität
folgt.
4. Bildsensor nach Anspruch 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Ausleseleitungen von je
zwei benachbarten Spalten über zwei entgegengesetzt gepolte
Dioden (26, 27) an einem gemeinsamen Ausleseverstärker
liegen.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4429434A DE4429434C1 (de) | 1994-08-19 | 1994-08-19 | Bildsensor |
US08/505,662 US5532491A (en) | 1994-08-19 | 1995-07-21 | X-ray image sensor |
JP7208870A JPH0868860A (ja) | 1994-08-19 | 1995-08-16 | X線画像センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4429434A DE4429434C1 (de) | 1994-08-19 | 1994-08-19 | Bildsensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4429434C1 true DE4429434C1 (de) | 1995-12-21 |
Family
ID=6526088
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4429434A Expired - Fee Related DE4429434C1 (de) | 1994-08-19 | 1994-08-19 | Bildsensor |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5532491A (de) |
JP (1) | JPH0868860A (de) |
DE (1) | DE4429434C1 (de) |
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-
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- 1995-08-16 JP JP7208870A patent/JPH0868860A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8100 | Publication of patent without earlier publication of application | ||
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |