DE2606292C3 - Optische Halbleiter-Bildabtastvorrichtung - Google Patents
Optische Halbleiter-BildabtastvorrichtungInfo
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 25
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 17
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 11
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 2
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 235000010678 Paulownia tomentosa Nutrition 0.000 description 1
- 240000002834 Paulownia tomentosa Species 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
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- Computer Hardware Design (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft eine optische Halbleiter-Bildabtastvorrichtung
mit einer Anzahl von MOS-Feldeffcktlransistcrer!,
mit einer Anzahl fotoempfindücher
Elemente, die jeweils mit den Stromleiterelektroden eines zugeordneten MOS-Feldeffekttransistors in Reihe
zwischen eine Ausgangsleitung und einen ersten Anschluß einer Stromversorgung geschaltet sind, mit
einer Anzahl weiterer MOS-Halbleiterelemente, die jeweils mit einer Steuerelektrode an die Steuerelektrode
eines zugeordneten MOS-Feldeffekttransistors und einer zweiten Elektrode an eine zweite Ausgangsleitung
angeschlossen sind, mit einer ersten Last, die die erste Ausgangsleitung mit dem zweiten Anschluß der
Stromversorgung verbindet, mit einer zweiten Last, die die zweite Ausgangsleitung mit dem zweiten Anschluß
der Stromversorgung verbindet, und mit einem Differenzverstärker, mit dessen Eingängen die beiden
Ausgangsleitungen verbunden sind.
Eine solche Bildabtastvorrichtung ist bekannt (IEEE International Solid-State Circuits Conference, 1973,
Seiten 128, 129). Bei der bekannten Bildabtastvorrichtung sind die Steuerelektroden der MOS-Feldeffekttransistoren
(nachstehend mit MOST bezeichnet) an einen Abtastimpulsgenerator angeschlossen, der an
diese Steuerelektroden der Reihe nach Abtastimpulse anlegt Die zusätzlichen MOS-Halbleiterelemente sind
bei der bekannten Bildabtastvorrichtung ebenfalls MOST, deren eine Stromleitelektrode mit der zweiten
Ausgangsleitung und deren andere Stromleitelektrode jeweils an einem Verbindungspunkt zwischen einem
fotoempfindlichen Element und einem der ersten MOST angeschlossen sind. Die Anzahl dieser ersten MOST ist
um 1 kleiner als die Anzahl der fotoempfindlichen Elemente und die der zusätzlichen MOST. Ein
lichtempfindliches Element liegt nur in Reihe mit den Stromleitelektroden eines der zusätzlichen MOST, ohne
mit einem der ersten MOST verbunden zu sein. Außerdem ist die Steuerelektrode eines anderen
zusätzlichen MOST nicht mit einer Steuerelektrode eines zugeordneten ersten MOST, sondern direkt mit
einem gesonderten Ausgang des Abtastimpulsgenerators verbunden.
Die bekannte Bildabtastvorrichtung wurde dazu entwickelt, Probleme zu beseitigen, die bei früheren
eindimensionalen oder zweidimensionalen optischen Serienauslese-Bildabtastvorrichtungen mit integrierter
MOS-Schaltung durch ungewollte Störspitzen auftraten. Diese Störspitzen ergaben sich infolge der
Einstreuung eines Signalauslese-Abtastimpulses auf eine Video-Ausgangsleitung über die Gate-Drain-Kapazität
eines schaltenden MOST beim Anlegen des Abtastimpulses an die Gate-Elektrode dieses MOST.
Insbesondere bei geringer optischer Eingabe an die optische Bildabtastvorrichtung war das Signal in die
Störung eingelagert, so daß die Störung auf irgendeine Weise unterdrückt werden mußte.
Die bekannte Bildabtastvorrichtung ermöglicht es, die genannten Störungen zu beseitigen. Dabei bringt die
bekannte Vorrichtung jedoch neue Probleme mit sich, die im einzelnen später anhand einer Schaltung erläutert
werden und insbesondere zu einem relativ hohen Schaltungsaufwand führen, der unter anderem keine
optimale Packungsdichte einer Schaltung in integrierter Form erlaubt.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine optische Halbleiter-Bildabtastvorrichtung
mit einem großen Störabstand gemäß der eingangs genannten Gattung so auszugestalten, daß ein einfacherer Schaltungsaufbau
verbunden mit einer höheren Packungsdichte erreicht wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß tr.it den
Merkmalen des Kennzeichenteils des Patentanspruchs 1 gelöst Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind
in den Unteransprüchen enthaltea
Die erfindungsgemäße Bildabtastvorrichtung geht davon aus, daß die Spitzenstörung in einer Gate-Drain-Kapazität
des MOST erzeugt wird. 3ei der erfindungsgemäßen Bildabtastvorrichtung können die die Störung
aufnehmenden MOS-Kondensatoren so ausgebildet werden, daß sie dieselbe Kapazität wie die Gate-Drain-Kapazität
der schaltenden MOST haben. Dies führt zum Ergebnis, daß die MOS-Kondensatoren irgendwo auf
dem Substrat angeordnet werden können. Es besteht daher im Gegensatz zu der später noch näher
erläuterten bekannten Vorrichtung keine Einschränkung hinsichtlich der Lage der Elemente, so daß der von "5
ihnen eingenommene Oberflächenbereich reduziert werden kann. Infolge der erfindungsgemäßen Verwendung
von MOS-Kondensatoren entfällt auch die bei der bekannten Vorrichtung erforderliche Vei bindung zwischen
der einen Stromleitelektrode (Source-Elektrode) der zusätzlichen MOST und der Anode der als
fotoempfindliche Elemente dienenden Fotodioden. Dadurch wird die Anzahl erforderlicher Verbindungen
reduziert Pro Bildelement sind bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung nur noch zwei Verbindungen anstelle
von drei Verbindungen bei der bekannten Vorrichtung erforderlich, wodurch eine hohe Packungsdicht e ermöglicht
wird. Schließlich erfordert die erfindungsgemäße Bildabtastvorrichtung nur ein fotoempfindliches Element
etwa in Form einer Fotodiode, pro Stufe. Gegenüber der bekannten Vorrichtung werden damit
die Löschdiode einer ersten Stufe, ein zusätzlicher Lösch-MOST einer letzten Stufe und die Löschimpulserzeugung
für diesen zusätzlichen Lösch-MOST eingespart. Infolge der hohen Packungsdichte kann eine
eindimensionale oder zweidimensionale optische Bildabtastvorrichtung mit hohem Auflösungsvermögen,
großer Bit-Anzahl und hoher Dichte geschaffen werden.
Die bekannte Bildabtastvorrichtung und ein Ausftihrungsbeispiel
der Erfindung werden nachfolgend anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 ein Schaltbild der bekannten optischen Halbleiter-Bildabtastvorrichtung,
F i g. 2 ein Schaltbild eines Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen optischen Halbleiter-Büdabtastvorrichtung
und
Fig.3 eine Teil-Schnittansicht des Aufbaus der in F i g. 2 gezeigten Vorrichtung.
Fig. 1 zeigt einen kennzeichnenden Schaltungsaufbau der bekannten optischen Bildabtastvorrichtung
unier Verwendung eines Differenzverstärkers zeigt. Die Bildabtastvorrichtung enthält Fotodioden PDi ... PDn,
eine Lösch- oder Entstör-Fotodiode CD, die optisch abgeschirmt und normalerweise in einem IDunkelzustand
ist, Signalauslese-Schalt-MOST SA/, ... SMn und
Störauslese- oder Lösch-Schalt-MOST NM0 ... NMn.
Eine Signalleitung 1 und eine Störungsleitung 2 sind an die Drain-Elektroden der Signalauslese-Schalt-MOST
SMi... SMn bzw. die Drain-Elektroden der Störauslese-Schalt-MOST
NM0 ... NMn angeschlossen. Die Signalleitung
1 und die Störungsleitung 2 sind auch an die Eingangsanschlüsse eines Differenzverstärkers 3 mit
einem Ausgangsanschluß 4 und ferner über Lastwiderstände RL\ bzw. RLi an eine Stromversorgung B
angeschlossen. Wenn ein erster Abtastimpuls SPi von einem Abtastimpulsgenerator 5 gleichzeitig an die
Gate-Elektroden des Störauslese-Schalt-MOST NM0
und des Signalauslese-Schalt-MOST SMt angelegt wird.
leiten die MOST NM0 und SMi. An der Signalleitung 1
erscheint die Summe aus einem in der Fotodiode PDi gespeicherten optischen Signal und aus einer Spitzenstörung,
die auf eine Gate-Drain-Kapazität des MOST SM: zurückzuführen ist Da sich die Entstörfotodiode
CD in dem Dunkelzustand befindet erscheint an der Störungsleitung 2 nur auf eine Gate-Drain-Kapazität
des Störauslese-Schalt-MOST NM0 zurückzuführende Spitzenstörung auf. Der Störauslese-Schalt-MOST NM0
und der Signalauslese-Schalt-MOST SMi sind ganz
identisch aufgebaut so daß die auf der Signalleitung 1 und der Störungsleitung 2 auftretende Spitzenstörung
im wesentlichen gleich sind. Dementsprechend wird nur die optische Signalkomponente erzeugt wenn die auf
der Signalleitung 1 und der Störungsleitung 2 erscheinenden Ausgangssignale mittels des Differenzverstärkers
3 verstärkt werden. Wenn dann ein zweiter Abtastimpuls SP2 zugleich an die Gate-Elektroden des
Störauslese-Schalt-MOST NMi und den Signalauslese-Schalt-MOST
SM2 angelegt wird, leiten der Störauslese-Schalt-MOST
NM1 und der Signalauslese-Schalt-MOST
SM2. An der Signalleitung 1 erscheint die Summe aus
einem in der Fotodiode PDi gespeicherten, optischen
Signal und aus einer Spitzenstörung, die auf eine Gate-Drain-Kapazität des Signalauslese-Schait-MOST
SM2 zurückzuführen ist. Da in diesem Fall das in der
Fotodiode PDi gespeicherte Signal gerade ausgelesen
worden ist, erscheint auf der Störungsleitung 2 nur die auf eine Gate-Diain-Kapazität des Störauslese-Schalt-MOST
NMi zurückzuführende Spitzenstörung. Wenn die Ausgangssignale auf der Signalleilung 1 und der
Störungsleitung 2 in Differenzform verstärkt werden, wird nur eine optische Signalkomponente erzeugt. Auf
die gleiche Weise werden zum Auslesen der in den Fotodioden PDj ... PDn gespeicherten optischen
Signale die auf der Signalleitung 1 und der .Störungsleitung 2 erscheinenden Ausgangssignale aufeinanderfolgend
in Differenzform verstärkt. Bei der optischen Bildabtastvorrichtung dieser Art ist es notwendig, den
Störauslese-Schalt-MOST NMn in der Endstufe an die
Fotodiode PDn anzuschließen und einen Lösch- bzw.
Schlußimpuls CP an die Gate-Elektrode des Störauslese-Schalt-MOST NMn anzulegen, um die Fotodiode PDn
in der Endstufe in dem gleichen Zustand wie die anderen Fotodioden zu halten. Bei der bekannten optischen
Bildabtastvorrichtung dieser Anordnung ergeben sich Schwierigkeiten dadurch, daß die Source-Elektroden
der Störauslese-Schalt-MOST NM0 ... NMn jeweils an
die Anoden der Fotodioden CD, PD^ ... PDn
angeschlossen werden müssen und daher Einschränkungen hinsichtlich der räumlichen Anordnung der
Störungsauslese-Schalt-MOST NM0 .. . NMn bestehen,
daß ferner der Abschlußimpuls CP notwendig ist oder die Fotodiode CD und der Endstufen-Störauslese-Schalt-MOST
NMn erforderlich sind, die auf einer Substratfläche unnötigen Raum einnehmen, daß trotz
des optischen Abschirmens der EntstörfotoJiode CD in der Anfangsstufe in dieser ein nicht optisches, auf
thermische Erregung oder dergleichen zurückzuführendes Signal gespeichert wird, wobei der Differenzverstärker
3 bei der Verstärkung dieses nicht optischen Signals in Differenzform ein unerwünschtes Signal
desselben als Störung erzeugt, und daß, obgleich durch den Löschimpuls CPzum Löschen der Endstufen-Fotodiode
PDn auf der Störungsleitung 2 eine auf die Gate-Drain-Kapazität des Endstufen-Störungsauslese-Schalt-MOST
NMn zurückzuführende Spitzenstömng
erscheint, zu diesem Zeitpunkt keine derartige SDitzen-
störung auf der Signalleitung 1 auftritt, so daß daher bei dem Verstärken der Ausgangssignale auf der Signalleitung
und der Störungsleitung in Differenzform nur die Spitzenstörung an dem Ausgangsanschiuß 4 des
Differenzverstärkers 3 auftritt.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Nach F i g. 2 sind fotoempfindliche Elemente PDi ...
PDn jeweils an Source Elektroden von Schalt-MOST Mx
...Mn angeschlossen, während eine erste Ausgangslei- )0
tung 1 mit den Drain-Elektroden der Schalt-MOST Mx ...Mn verbunden ist. Gate-Elektroden von MOS-Kondensatoren
Q ... Cn sind mit den Gate-Elektroden
jeweiliger Schalt-MOST M1... Mn, verbunden, während
Drain-Elektroden der MOS-Kondensatoren Cx ... Cn, an
eine zweite Ausgangsleitung 2 angeschlossen sind. Die erste Ausgangsleitung 1 und die zweite Ausgangsleitung
2 sind außerdem an Eingangsanschlüsse eines Differenzverstärkers 3 angeschlossen und ferner über Lastwiderstände
RLx bzw. Rhi mit einer Stromversorgung B
verbunden. Die fotoempfindlichen Elemente PDi ... PDn können durch Fotodioden oder Fototransistoren
gebildet sein.
Wenn von einem Abtastimpulsgenerator 5 aufeinanderfolgend Abtastimpulse 5Pi... SPn an die Gate-Elektroden
der Schalt-MOST M\ ... Mn angelegt werden, werden die Schalt-MOST Mx... Mn aufeinanderfolgend
leitend, so daß während einer Speicherperiode in den fotoempfindlichen Elementen PDi... PDn gespeicherte,
den optischen Signalen entsprechende Ladungen von einer an einen Lastwiderstand RL\ angeschlossenen
Stromversorgung B zugeführt werden. Zu diesem Zeitpunkt tritt an der an den Lastwiderstand RLx
angeschlossenen 1. Ausgangsleitung 1 über die MOST Mi... Mn die Summe aus dem optischen Signal und einer ^5
Spitzenstörung auf, während an der an den anderen Anschluß des Lastwiderstands RLa angeschlossenen
zweiten Ausgangsleitung 2, über die MOS-Kondensatoren Cx... Cn nur die Spitzenstörung erscheint. Wenn die
MOS-Kondensatoren Ci ... Cn in der gleichen Gestal- 4„
tung wie der Gate-Drain-Aufbau der Schalt-MOST Mx
...Mn aufgebaut sind, sind die Spitzenstörkomponente
auf der ersten Ausgangsleitung und die Spitzenstörkomponente auf der zweiten Ausgangsleitung identisch.
Wenn das Ausgangssignal auf der ersten Ausgangsleitung 1 und das Ausgangssignal auf der zweiten
Ausgangsleitung 2 mittels eines Differenzverstärkers 3 verstärkt werden, erscheint daher an einem Ausgangsanschluß 4 des Differenzverstärkers 3 eine Signalkomponente,
die von der Störkomponente befreit ist.
Nach F i g. 3 ist zwischen einem n-leitenden monokristallinen
Halbleitersubstrat 6 und einer ρ+ -Diffusionsschicht 7 eine Fotodiode ausgebildet, während mit der
p + -Diffusionsschicht 7 als Source-Zone, einer p+-Diffusionsschicht
8 als Drain-Zone und einer Elektrode 9 als Gate-Elektrode ein schaltender MOST gebildet ist.
Zwischen einer p+-Diffusionsschicht 11 und einer Gate-Elektrode 12 ist ein MOS-Kondensator gebildet.
Die Gate-Elektrode 9 des schaltenden MOST und die Gate-Elektrode 12 des MOS-Kondensators sind miteinander
verbunden. Eine Drain-Elektrode 15 des schaltenden MOST und eine Drain-Elektrode 16 des MOST-Kondensators
sind mittels einer loslierschicht 14 isoliert und an die erste Ausgangsleitung 1 bzw. die zweite
Ausgangsleitung 2 angeschlossen. Ein gleichartiger Aufbau kann verwendet werden, wenn an Stelle des
η-leitenden monokristallinen Halbleitersubstrats ein p-leitendes monokristallines bzw. Einkristall-Halbleitersubstrat
verwendet wird.
Wie die Fig.3 zeigt, kann bei der optischen Bildabtastvorrichtung nach vorgenanntem Aufbau des
Signal-Stör-Verhältnis dadurch beträchtlich erhöht werden, daß die MOS-Kondensatoren in derselben
Gestaltung wie die Gate-Source-Gebilde der schaltenden
MOST aufgebaut sind, wobei die MOS-Kondensatoren beliebig irgendwo auf dem Einkristallsubstrai
angeordnet werden können. Auf diese Weise bestehl hinsichtlich der Anordnungsposition keine Einschränkung
und der eingenommene Flächenbereich ist dabe klein, was eine hohe Packungsdichte zuläßt Die
Erfindung kann insbesondere bei einer zweidimensiona len optischen Bildabtastvorrichtung mit hoher Pak·
kungsdichte sehr wirksam angewendet werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (8)
1. Optische Halbleiter-Bildabtastvorrichtung mit einer Anzahl von MOS-Feldeffekttransistoren, mit
einer Anzahl fotoempfindlicher Elemente, die jeweils mit den Stromleiterelektroden eines zugeordneten
MOS-Feldeffekttransistors in Reihe zwischen eine Ausgangsleitung und einen ersten
Anschluß einer Stromversorgung geschaltet sind, «° mit einer Anzahl weiterer MOS-Halbleiterelemente,
die jeweils mit einer Steuerelektrode an die Steuerelektrode eines zugeordneten MOS-Feldeffekttransistors
und einer zweiten Elektrode an eine zweite Ausgangsleitung angeschlossen sind, mit 1S
einer ersten Last, die die erste Ausgangsleitung mit dem zweiten Anschluß der Stromversorgung verbindet,
mit einer zweiten Last, die die zweite Ausgangsleitung mit dem zweiten Anschluß der
Stromversorgung verbindet, und mit einem Diffe- *>
renzverstärker, mit dessen Eingängen die beiden Ausgangsleitungen verbunden sind, dadurch
gekennzeichnet, daß die weiteren MOS-Halbleiterelemente MOS-Kondensatoren (Q, C2,
Cn) sind und daß jeweils gleich viele MOS-Feldef- *5
fekttransistoren (Mu M2, Mn), MOS-Kondensatoren
und fotoempfindliche Elemente (PDi, PD2, PDn)
vorhanden sind.
2. Bildabtastvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die MOS-Kondensatoren (C)in 3<
> der gleichen Gestaltung aufgebaut sind, wie die ersten Stromleitelektroden (15) und die Steuerelektroden
(9) der MOS-Feldeffekttransistoren (M).
3. Bildabtastvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß an die Steuerelektroden
(9) ein Abtastimpulsgenerator (5) angeschlossen ist.
4. Bildabtastvorrichtung nacii einem der vorangehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die fotoempfindlichen Elemente (PD) Fotodioden sind.
5. Bildabtastvorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
ersten Stromleitelektroden Drain-Elektroden (15) und die zweiten Stromleitelektroden Source-Elektroden
(7) sind.
6. Bildabtastvorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
MOS-Feldeffekttransistoren (M), die fotoempfindlichen Elemente (PD) und die MOS-Kondensatoren
(C) auf ein und demselben Halbleitersubstrat (6) 5<>
ausgebildet sind.
7. Bildabtastvorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die fotoempfindlichen
Elemente (PD) in Source-Zonen (7) der MOD-FeIdeffekttransistoren
(M) ausgebildet sind.
8. Bildabtastvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß jeweils ein
MOS-Feldeffekttransinor (Mu M2, Mn) ein fotoempfindliches
Element (PDU PD2, PDn) und ein
MOS-Kondensator (Q, C2, Cn) ein Bildelement
bilden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2163375A JPS5619786B2 (de) | 1975-02-20 | 1975-02-20 |
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Family
ID=12060459
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Country | Link |
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JP (1) | JPS5619786B2 (de) |
CA (1) | CA1080345A (de) |
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1976
- 1976-02-12 GB GB5568/76A patent/GB1492708A/en not_active Expired
- 1976-02-12 US US05/657,697 patent/US4045817A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-02-17 DE DE2606292A patent/DE2606292C3/de not_active Expired
- 1976-02-19 CA CA246,131A patent/CA1080345A/en not_active Expired
- 1976-02-19 FR FR7604601A patent/FR2301983A1/fr active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2606292A1 (de) | 1976-09-02 |
JPS5196220A (de) | 1976-08-24 |
US4045817A (en) | 1977-08-30 |
JPS5619786B2 (de) | 1981-05-09 |
FR2301983B1 (de) | 1980-03-14 |
FR2301983A1 (fr) | 1976-09-17 |
CA1080345A (en) | 1980-06-24 |
DE2606292B2 (de) | 1977-09-08 |
GB1492708A (en) | 1977-11-23 |
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