DE4427495A1 - Sensoreinrichtung mit einem GMR-Sensorelement - Google Patents
Sensoreinrichtung mit einem GMR-SensorelementInfo
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- H10N50/10—Magnetoresistive devices
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Sensoreinrichtung zur Er
fassung eines äußeren Magnetfeldes mit einem einen sehr gro
ßen magnetoresistiven Effekt (GMR) zeigenden Sensorelement
und mit Mitteln zum Führen eines vorgegebenen Stromes über
die Einrichtung. Eine derartige Sensoreinrichtung ist der DE-
OS-42 32 244 zu entnehmen.
In ferromagnetischen Übergangsmetallen wie Nickel (Ni) Eisen
(Fe) oder Kobalt (Co) und deren Legierungen ist der elektri
sche Widerstand von der Größe und der Richtung eines das Ma
terial durchdringenden Magnetfeldes abhängig. Diesen Effekt
nennt man anisotropen Magnetowiderstand (AMR) oder anisotro
pen magnetoresistiven Effekt. Er beruht physikalisch auf den
unterschiedlichen Streuquerschnitten von Elektronen mit der
Spinpolarität des D-Bandes mit unterschiedlichem Spin, die
entsprechend als Majoritäts- bzw. Minoritätselektronen be
zeichnet werden. Für magnetoresistive Sensoren wird im all
gemeinen eine dünne Schicht aus einem solchen magnetoresisti
ven Material mit einer Magnetisierung in der Schicht ebene
verwendet. Die Widerstandsänderung bei Drehung der Magneti
sierung bezüglich der Stromrichtung kann einige Prozent des
normalen isotropen (ohmschen) Widerstandes betragen.
Ferner sind seit einiger Zeit magnetoresistive Mehrschicht
systeme bekannt mit mehreren, zu einem Stapel angeordneten
ferromagnetischen Schichten, die durch metallische Zwischen
schichten voneinander getrennt sind und deren Magnetisierun
gen jeweils in der Schichtebene liegen. Die jeweiligen
Schichtdicken sind dabei deutlich geringer als die mittlere
freie Weglänge der Leitungselektronen gewählt. In solchen
Schichtsystemen kann nun zusätzlich zu dem anisotropen magne
toresistiven Effekt (AMR) in den einzelnen Schichten ein so
genannter Giant-magnetoresistiver Effekt oder Giant-Magneto
widerstand (GMR) auftreten. Ein solcher GMR-Effekt beruht auf
der unterschiedlich starken Streuung von Majoritäts- und Mi
noritäts-Leitungselektronen an den Grenzflächen zwischen den
ferromagnetischen Schichten und den Zwischenschichten sowie
auf Streuungen innerhalb der Schichten, insbesondere bei Ver
wendung von Legierungen. Der GMR-Effekt ist ein isotroper Ef
fekt und kann erheblich größer sein als der anisotrope Effekt
AMR mit Werten bis zu 70% des normalen isotropen Widerstan
des.
Es sind zwei Grundtypen von entsprechenden magnetoresistiven
Mehrschichtsystemen bekannt. Bei dem ersten Typ sind die fer
romagnetischen Schichten über die Zwischenschichten antifer
romagnetisch miteinander gekoppelt, so daß sich die in den
Schichtebenen liegenden Magnetisierungen von zwei benachbar
ten ferromagnetischen Schichten ohne äußeres Magnetfeld anti
parallel zueinander ausrichten. Ein entsprechendes Beispiel
für diesen Typ sind Eisen-Chrom-Übergitter (Fe-Cr-Superlat
tices) mit ferromagnetischen Schichten aus Fe und antiferro
magnetischen Zwischenschichten aus Cr. Dieser Typ mit anti
ferromagnetisch gekoppelten, ferromagnetischen Schichten
zeigt eine Abhängigkeit der Strom- und der Transmissionskoef
fizienten für an den Grenzflächen gestreute Elektronen mit
Spin-up einerseits und mit Spin-down andererseits vom Winkel
zwischen den Magnetisierungen in benachbarten ferromagneti
schen Schichten. Dabei nimmt der GMR-Effekt bei von 0° auf
180° wachsendem Winkel zwischen den beiden Magnetisierungen
stetig zu und erreicht bei 180° sein Maximum ("Phys. Rev.
Lett.", Vol. 63, No. 6, Aug. 1989, Seiten 664 bis 667 oder
"IEEE Trans. Magn.", Vol. 28, No. 5, Sept. 1992, Seiten 2482
bis 2487).
Bei dem zweiten Grundtyp eines einen GMR-Effekt zeigenden
Mehrschichtsystems sind die nicht-magnetischen Zwischen
schichten zwischen den ferromagnetischen Schichten so dick
gewählt, daß die magnetische Austauschkopplung zwischen den
ferromagnetischen Schichten möglichst gering ist. Die Zwi
schenschichten können aus einem Metall, einem Halbleiter oder
auch einem Isolator bestehen. Jeweils benachbarte ferromagne
tische Schichten sollen dabei unterschiedliche Koerzitivfeld
stärken aufweisen. Die Abhängigkeit ihrer Magnetisierungen
von einem äußeren Magnetfeld ergibt sich aus den entsprechen
den Hysteresekurven des magnetisch weicheren bzw. magnetisch
härteren Materials. Wenn die Magnetisierungen der magnetisch
weicheren Schichten parallel zu den Magnetisierungen der ma
gnetisch härteren Schichten ausgerichtet sind, ist der Wider
stand des gesamten Mehrschichtsystems am kleinsten. Bei einer
antiparallelen Ausrichtung der Magnetisierungen ist der Wi
derstand hingegen am größten.
Um nun mit einem solchen Mehrschichtsystem vom zweiten Typ
ein auswertbares Sensorsignal zu erhalten, bringt man das
Schichtsystem zunächst in die magnetische Sättigung. Das be
deutet, daß bei einem Magnetfeld mit einer vorgegebenen Meß
richtung die Feldstärke des Magnetfeldes oberhalb der größe
ren der beiden Koerzitivfeldstärken der Schichten eingestellt
wird und die Magnetisierungen aller Schicht somit parallel zu
dieser Sättigungsfeldrichtung ausgerichtet werden. Es gibt
einen solchen Sättigungsbereich für ein in Meßrichtung ge
richtetes, positives Magnetfeld und einen weiteren, symme
trisch zum ersten liegenden Sättigungsbereich, indem das Ma
gnetfeld und damit auch alle Magnetisierungen umgekehrt ge
richtet und somit negativ sind. Das Widerstandssignal ist nun
abhängig davon, von welchem der beiden Sättigungsbereiche man
aus startet. Beginnt man im negativen Sättigungsbereich, so
bleibt das Widerstandssignal auf seinem minimalen Wert bis zu
einer positiven Feldstärke etwas unterhalb der positiven Ko
erzitivfeldstärke der magnetisch weicheren Schichten. Die Ma
gnetisierungen der weicheren Schichten werden nun gedreht, um
das Signal steigt bis etwas oberhalb der Feldstärke auf sei
nen maximalen Wert an. Nun sind die Magnetisierungen der ma
gnetisch unterschiedlich harten Schichten antiparallel ge
richtet, und das Widerstandssignal bleibt in einem Bereich
zwischen den beiden positiven Koerzitivfeldstärken etwa kon
stant. In einem Bereich um die positive Koerzitivfeldstärke
der magnetisch härteren Schichten werden nun auch die Magne
tisierungen der magnetisch härteren Schichten von dem Magnet
feld aus ihrer ursprünglichen Richtung gedreht und bei einer
Feldstärke oberhalb dieser Koerzitivfeldstärke wieder paral
lel zum Magnetfeld und zu den Magnetisierungen der anderen
Schichten gerichtet. In diesem positiven Sättigungsbereich
ist das Widerstandssignal wiederum minimal. Startet man hin
gegen im positiven Sättigungsbereich, so ergibt sich ein zu
dem vorstehend beschriebenen Widerstandssignal spiegelsymme
trisches Widerstandssignal, das seinen minimalen Wert bei
einer negativen Feldstärke etwas oberhalb der negativen Koer
zitivfeldstärke des magnetisch weicheren Materials und seinen
maximalen Wert in einem Bereich zwischen den beiden negativen
Koerzitivfeldstärken der beiden unterschiedlichen Materialien
annimmt (vgl. EP-A-0 483 373).
Bei einem solchen Mehrschichtsystem mit GMR-Effekt vom zwei
ten Grundtyp ist somit der spezifische Widerstand ρ abhängig
von dem Winkel ϕ zwischen den Magnetisierungsrichtungen auf
einanderfolgender ferromagnetischer Schichten. Dieser Wider
stand kann in zwei Anteile zerlegt werden, einen vom Winkel ϕ
unabhängigen Anteil ρ₀, der bei einer parallelen Ausrichtung
der Magnetisierungen erhalten wird, und einen winkelabhängi
gen Anteil Δρ. In empfindlichen Systemen beträgt Δρ typi
scherweise 15 bis 30% von ρ₀. Es zeigt sich jedoch, daß so
wohl ρ₀ wie auch in geringerem Umfang Δρ eine Abhängigkeit
von der Betriebstemperatur T besitzen. So ist bei Raumtempe
ratur Ta ρ₀, das von einem stark temperaturabhängigen Bei
trag der Phononen geprägt ist, annähernd proportional zu
T/Ta. Das bedeutet z. B., daß bei einer Temperaturerhöhung um
50°C über Ta sich eine Änderung von ρ₀ um etwa 17% ergibt.
Eine solche Änderung ist für die meisten Anwendung uner
wünscht. Andererseits ist die Temperaturabhängigkeit von Δρ
materialabhängig, wobei sie für Fe größer ist als für Ni oder
Co. Verglichen zu ρ₀ ist jedoch diese Abhängigkeit von Δρ,
das im wesentlichen durch Streuungen an Gitterdefekten her
vorgerufen wird, verhältnismäßig gering. Außerdem führen me
chanische Verspannungen entsprechender Sensorelemente zu
einer ρ₀-Änderung und könnten als Beitrag zu Δρ aufgefaßt
werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es deshalb, die Sen
soreinrichtung mit den eingangs genannten Merkmalen dahinge
hend auszugestalten, daß ihre Temperaturabhängigkeit deutlich
verringert ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch folgende Merkmale
gelöst:
- a) Es ist eine Brückenschaltung mit vier paarweise zugeordne ten diagonalen Brückenelementen in zwei zwischen Anschluß punkten für den Strom parallelgeschalteten Brückenzweigen vorgesehen,
- b) mindestens eines der Brückenelemente ist als das Sensor element mit großem magnetoresistiven Effekt ausgebildet,
und
- c) die Empfindlichkeit mindestens eines der Brückenelemente bezüglich des äußeren Magnetfeldes ist verschiedene gegen über der Magnetfeldempfindlichkeit mindestens eines anderen Brückenelementes.
Die Erfindung geht davon von der Überlegung aus, daß mit
einer Brückenschaltung eine Trennung der Summanden ρ₀ und Δρ
des spezifischen Widerstands ρ derart möglich ist, daß eine
Abhängigkeit der an den Meßpunkten der Brückenschaltung in
der Mitte jedes Brückenzweiges abzunehmenden Meßspannung
praktisch nur noch von Δρ besteht. Voraussetzung hierzu ist,
daß sich das Brückenelement mit GMR-Effekt praktisch nur hin
sichtlich dieses Summanden Δρ, der auf Streueffekte an Git
terdefekten zurückzuführen ist, von mindestens einem anderen
Element der Brücke unterscheidet. Da Δρ nur wenig tempera
turabhängig ist, läßt sich so mit der Brückenschaltung vor
teilhaft ein entsprechend temperaturkompensiertes Meßsignal
in Abhängigkeit von dem äußeren Magnetfeld erhalten, das ge
gebenenfalls auch bzgl. mechanischer Spannungen der Brücken
elemente zumindest teilweise kompensiert ist.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Sensorein
richtung gehen aus den sich dem Hauptanspruch unterordnenden
Ansprüchen hervor.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird nachfolgend auf
die Zeichnung Bezug genommen. Dabei zeigen jeweils schema
tisch
Fig. 1 das Schaltbild einer Brückenschaltung einer
erfindungsgemäßen Sensoreinrichtung,
Fig. 2 einen Querschnitt durch ein einzelnes Sensorelement
dieser Einrichtung,
Fig. 3 einen Querschnitt durch eine erfindungsgemäße
Sensoreinrichtung
und
und
Fig. 4 einen Querschnitt durch eine weitere erfindungsgemäße
Einrichtung.
In den Figuren sind sich entsprechende Teile mit denselben
Bezugszeichen versehen.
Für die erfindungsgemäße Sensoreinrichtung wird vorteilhaft
eine an sich bekannte Brückenschaltung vorgesehen, die aus
Fig. 1 hervorgeht. Die gezeigte Brücke B enthält zwei
Brückenzweige Z1 und Z2, die zwischen zwei Anschlußpunkten A1
und A2 der Brücke parallelgeschaltet sind. Über die Brücke B
soll an den Anschlußpunkten A1 und A2 ein Strom I₀ geführt
werden. Jeder der Brückenzweige Z1 und Z2 enthält zwei in
Reihe geschaltete Brückenelemente E11 und E12 bzw. E21 und E22.
Die Bezeichnungsweise der einzelnen Brückenelemente Eÿ
(mit 1 i 2 und 1 j 2) ist dabei so gewählt, daß mit i
der jeweilige Brückenzweig (Z1 oder Z2) und mit j die Elemen
te innerhalb eines einzelnen Brückenzweigs in Stromführungs
richtung durchnumeriert sind. Zwischen den beiden Elementen
Ei1 und Ei2 jedes Brückenzweigs liegt je ein Meßpunkt P1 bzw.
P2 der Brücke. An diesen Meßpunkten kann eine Meßspannung Um
abgenommen werden.
Erfindungsgemäß soll für die Brückenelemente Eÿ gelten, daß
die Empfindlichkeit mindestens eines der Brückenelemente be
züglich eines äußeren Magnetfeldes verschieden ist gegenüber
der Magnetfeldempfindlichkeit von mindestens zwei anderen
Brückenelementen. Nachfolgend seien diese Brückenelemente je
weils paarweise einander zugeordnet. Hierbei ist allgemein
außer Betracht zu bleiben, daß die Elemente E11 und E21 oder
E11 und E12 ein erstes Paar und die Elemente E12 und E22 bzw.
E21 und E22 ein zweites Paar mit jeweils gleicher Magnet
feldempfindlichkeit bilden. Es ist also auszuschließen, daß
die Elemente E11 und E21 eine erste Magnetfeldempfindlichkeit
und die Elemente E12 und E22 eine zweite Magnetfeldempfind
lichkeit aufweisen. Ebenso ist auszuschließen, daß die Ele
mente E11 und E12 eine erste und die Elemente E21 und E22
eine zweite Magnetfeldempfindlichkeit besitzen. In diesen ge
nannten Fällen ist der angestrebte Zweck einer Kompensation
der Temperaturabhängigkeit und/oder mechanischen Spannungsab
hängigkeit nicht zu erreichen.
Die Brückenelemente des betrachteten Ausführungsbeispieles
bilden zwei Paare von in der Brücke diagonal zueinander ange
ordneten, in verschiedenen Brückenzweigen liegenden Elemen
ten, nämlich das Paar E11-E22 und das Paar E12-E21. Gemäß dem
ausgewählten Ausführungsbeispiel sollen in einem der Paare,
beispielsweise in dem Paar E12-E21 die Elemente gleiche Ma
gnetfeldabhängigkeit bzw. -empfindlichkeit und damit gleichen
Widerstand R in einem Magnetfeld haben. Die Magnetfeld
abhängigkeit dieser Elemente kann auch praktisch Null sein,
so daß es sich bei diesen Elementen dann um rein ohmsche
Elemente handelt. Demgegenüber weisen die Elemente des ande
ren Paares E11-E22 nur im feldfreien Fall, d. h. ohne äußeres
Magnetfeld, einen gleichen Widerstand Rm auf. Dieser Wider
stand soll sich bei vorhandenem Magnetfeld um einen Anteil
ΔRm ändern. Hierzu wird zumindest für eines der Elemente E11
oder E22 ein Sensorelement mit sehr großem magnetoresistiven
Effekt (GMR) gewählt. Ein entsprechendes Sensorelement ist
z. B. aus der eingangs genannten DE-OS-42 32 244 bekannt. Der
prinzipielle Aufbau eines solchen Elementes ist in Fig. 2
veranschaulicht. Ein entsprechend aufgebautes Brückenelement,
z. B. das Element E22, enthält ein auf einem Substrat 2
aufgebrachtes, für ein GMR-Element typisches Schichtpaket S1.
Dieses Schichtpaket besitzt vorteilhaft als unterste Schicht
eine hartmagnetische Schicht 3, eine darauf aufgebrachte, als
Koppelschicht wirkende Zwischenschicht 4 sowie eine auf
dieser abgeschiedene ferro- oder ferrimagnetische Schicht 5.
Diese Schicht 5 stellt dabei eine Bias-Schicht mit im
Meßbereich zumindest annähernd konstanter Magnetisierung in
ihrer Schichtebene dar. Die Schichten 3 bis 5 bilden ein
sogenanntes Bias-Schichtsystem S′. Statt des Bias-Schichtsy
stems kann auch nur eine einzelne Bias-Schicht vorgesehen
sein. Gemäß dem angenommenen Ausführungsbeispiel ist das
Schichtsystem mit einer magnetisch wenigstens annähernd ent
koppelnden Zwischenschicht 6 abgedeckt, auf der sich eine
magnetfeldempfindliche Meßschicht 7 befindet. An dieser Meß
schicht sind in der Figur nicht dargestellte Anschlußkontakte
zum Führen des vorgesehenen Stromes I₀ über das Element
angebracht. Dieser Aufbau des Schichtpaketes S1 kann noch min
einer Schutzschicht überzogen sein.
Vorteilhaft kann der schichtförmige Aufbau des Sensorelemen
tes mit großem magnetoresistiven Effekt auch als sogenanntes
Multischichtensystem ausgeführt sein. Ein solches System
zeichnet sich dadurch aus, daß es neben dem vorstehend erläu
terten Schichtpaket noch weitere Schichten oder Schichtpakete
enthält und gegebenenfalls eine Folge von periodisch wieder
kehrenden Schichten besitzt.
Das dem vorstehend beschriebenen Sensorelement E22 mindestens
eine zugeordnete Element aus dem gleichen oder dem anderen
Elementenpaar (hier: E11) soll sich von dem Element E22 le
diglich durch einen bestimmten Anteil Δρ des spezifischen
Widerstandes ρ unterscheiden. Dabei soll es sich bei dem An
teil Δρ zumindest um den auf Streuungseffekte an Gitterde
fekten zurückzuführenden Anteil des spezifischen Widerstandes
handeln. Für die Meßspannung Um der Brücke B gemäß Fig. 1
gilt dann:
Um = (ΔRm + Rm -R)*I₀/2
bzw. Um = ΔRm * I₀/2, falls Rm = R.
bzw. Um = ΔRm * I₀/2, falls Rm = R.
D.h., für die angestrebte Trennung von ρ₀ und Δρ in ρ muß zum
einen der Strom über die Brücke konstant gehalten werden.
Außerdem müssen sich lediglich zwei Elemente der Brücke hin
sichtlich Δρ unterscheiden, während die anderen Elemente
gleich sind. So ist es insbesondere möglich, für die Brücke
drei gleiche Elemente zu wählen und das vierte Element so
auszugestalten, daß es hinsichtlich Δρ gegenüber den übrigen
drei Elementen verschieden ist. Ein entsprechendes Aus
führungsbeispiel zweier diagonaler Brückenelemente E11 und
E22 mit unterschiedlichem Δρ bzw. ΔR ist aus Fig. 3 er
sichtlich.
Gemäß dieser Fig. 3 weist das Brückenelement E22 einen Auf
bau mit dem aus Fig. 2 ersichtlichen Schichtpaket S1 auf.
Dieses Schichtpaket enthält darüber hinaus noch als oberste
Schicht eine Schutzschicht 8. Zur Ausbildung des dazu diago
nalen Brückenelementes E11 sind zwei sich weitgehend entspre
chende Schichtpakete S1 und S2 aufeinandergestapelt. Dabei
bleibt in diesem Element das Schichtpaket S1 magnetisch inak
tiv und ist nur aus Gründen einer einfachen Herstellung der
Brückenelemente vorhanden. Die laterale Geometrie des zweiten
Schichtpaketes S2 braucht dabei nicht identisch mit der des
darunterliegenden, ersten Schichtpaketes S1 zu sein. Zwischen
beiden Schichtpaketen S1 und S2 befindet sich eine Isolator
schicht 10. Die auf den obersten Meßschichten der Elemente
E11 und E22 auf zubringenden Stromanschlußkontakte sind in der
Figur aus Gründen der Übersichtlichkeit weggelassen.
Bei der Gestaltung der Elemente E11 und E22 wird von der
Überlegung ausgegangen, daß die Signalempfindlichkeit von R
gegenüber Rm von GMR-Elementen im allgemeinen weitgehend un
abhängig von der lateralen Geometrie dieser Elemente ist.
Folglich lassen sich mit einem Schichtpaket, wie es z. B. den
Aufbau des Paketes S1 hat, unterschiedliche Empfindlichkeiten
von R und Rm nicht ohne weiteres realisieren. Der erwünschte
Unterschied kann vorteilhaft mit zwei elektrisch getrennten,
übereinanderliegenden Schichtpakete erhalten werden. In Fig.
3 ist die Realisierung eines entsprechenden Ausführungs
beispieles in Planartechnik angedeutet. Dementsprechend wer
den zunächst die Schichtpakete S1 vorzugsweise aller Brücken
elemente, d. h. auch die der Elemente E12 und E21, erzeugt.
Für die Elemente E12 und E21 können jedoch gegebenenfalls
auch andere identische Elemente vorgesehen werden. In einem
zweiten Schritt wird dann das Schichtpaket S2 allein für das
Element E22 aufgebracht. Selbstverständlich ist es auch mög
lich, daß man für alle Elemente einen Stapel von zwei
Schichtpaketen S1 und S2 vorsieht und dann für ein einziges
Element dessen zweites Schichtpaket S2 wieder entfernt. Dar
über hinaus ist es auch möglich, zumindest für die Brücken
elemente E11 und E22 einen Stapel von einer größeren Anzahl
von Schichtpaketen vorzusehen, wobei für das Elementenpaar
E11-E22 eine unterschiedliche Anzahl der Schichtpakete ge
wählt wird.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn alle Schichtpakete der
Brückenelemente, zumindest aber jeweils ein Paar von Brücken
elementen (hier: E12-E22 und E11-E21 oder E11-E12 und
E21-E22) auf einem gemeinsamen Substrat angeordnet werden.
Dann ist nämlich zu gewährleisten, daß sich diese Brückenele
mente zumindest weitgehend auf dem gleichen Temperaturniveau
befinden, d. h. thermisch aneinandergekoppelt sind. Die tempe
raturabhängigen Anteile ρ₀ des spezifischen Widerstandes ρ
dieser Elemente gehen dann in die Meßspannung Um praktisch
nicht mehr ein. Durch geeignete Materialwahl für das gemein
same Substrat ist gegebenenfalls zusätzlich noch zu errei
chen, daß die Brückenelemente über das Substrat elastisch
gekoppelt sind.
In Fig. 3 ist eine Möglichkeit zur Beeinflussung der Signal
empfindlichkeit der einzelnen Brückenelemente unter Berück
sichtigung einer Stapelung von Schichtpaketen angedeutet.
Eine unterschiedliche Empfindlichkeit dieser Elemente läßt
sich beispielsweise einfach über die Dicke einzelner sich
entsprechender Schichten beeinflussen. D.h., die Maßnahmen
zur Wahl unterschiedlicher Dicke können sich jeweils auf eine
einzelne Schicht oder auf mehrere Schichten von Schichtpake
ten gleichzeitig beziehen. Gemäß dem in der Figur dargestell
ten Ausführungsbeispiel hat die Meßschicht 7 des Brückenele
mentes E22 eine beispielsweise größere Dicke d₇ als die Meß
schicht 7′ mit einer Dicke d₇′. Ebensogut könnten auch Bias-
Schichten und/oder Koppelschichten mit unterschiedlichen
Dicken vorgesehen werden. Im Extremfall könnte man z. B. in
einem Brückenelement eines diagonalen Elementpaares mit un
terschiedlicher Empfindlichkeit ganz auf die Meßschicht ver
zichten oder diese starr mit dem Biassystem koppeln.
Statt der in Fig. 3 veranschaulichten Möglichkeit zur Beein
flussung der Signalempfindlichkeiten der einzelnen Brücken
elemente können hierfür auch andere Maßnahmen ergriffen wer
den. So besteht als weitere Möglichkeit zur Beeinflussung von
Δρ bzw. ΔR eine entgegengesetzte Magnetisierung entsprechen
der Bias-Schichten. Solche entgegengesetzte Magnetisierungen
führen nämlich zu entgegengesetzten Vorzeichen von Δρ. Ent
sprechende Maßnahmen lassen sich selbstverständlich auch mit
der in Fig. 3 aufgezeigten Möglichkeit einer Wahl unter
schiedlicher Schichtdicken kombinieren. Ein entsprechendes
Ausführungsbeispiel geht aus Fig. 4 hervor, wobei für sich
entsprechende Bias-Schichten unterschiedliche Schichtdicken
vorgesehen sind.
In dieser Figur ist ein Paar von Brückenelementen E21′-E11′
einer Brückenschaltung veranschaulicht, die sich hinsichtlich
des Aufbaus der Bias-Schichtsysteme ihrer magnetfeldempfind
lichen Schichtpakete unterscheiden. Das Brückenelement E21′
weist wiederum nur ein einziges Schichtpaket S1′ mit einer
Schichtenfolge entsprechend S1 nach Fig. 2 auf. Seine hart
magnetische Schicht 3 hat eine Dicke d₃ und eine vorbestimmte
Ausrichtung der Magnetisierung M₃. Seine ferro- oder ferrima
gnetische Schicht (Biasschicht) 5 habe eine Dicke d₅ und eine
vorbestimmte Magnetisierung M₅. Das Brückenelement E11′ be
sitzt ebenfalls das jedoch magnetisch inaktive Schichtpaket
S1′, auf dem ein zweites Schichtpaket S2′ aufgebracht ist.
Dieses zweite Schichtpaket S2′ unterscheidet sich von dem
Schichtpaket S1′ durch die Dicke d₅′ seiner Biasschicht 5′
Die Magnetisierung dieser Biasschicht 5′ ist mit M′₅ bezeich
net. Bei einem solchen unterschiedlichen Aufbau der Bias-
Schichtsysteme von S1′ und S2′ der beiden Brückenelemente
richtet sich das Vorzeichen von Δρ nach der Richtung der Ma
gnetisierung in den an die Meßschichten 7 bzw. 7′ angrenzen
den Schichten des jeweiligen Bias-Schichtsystems, d. h., nach
den Magnetisierungen M₅ bzw. M₅′ der Biasschichten 5 bzw. 5′.
Diese Magnetisierungsrichtungen M₅ bzw. M₅′ werden vorein
gestellt mit Hilfe eines äußeren Magnetfeldes H₀. Eine entge
gengesetzte Ausrichtung der Magnetisierungen in den Bias
schichten ist z. B. möglich, indem man für das Brückenelement
E11′
d₅′ * M₅′ - d′₃*M′₃ < 0 und für das Gegenstück des
Schichtpaketes S1′ von Element E21′
d₅*M₅ - d₃ * M₃ < 0 wählt während der Einstellung. Gemäß dem
Ausführungsbeispiel nach Fig. 4 ist dies aufgrund der unter
schiedlichen Dicken d₅ bzw. d₅′ gewährleistet. Die resultie
renden, entgegengesetzten Magnetisierungen M₅ und M₅′ der
Biasschichten 5 bzw. 5′ sind dabei in der Figur mit Pfeilen
veranschaulicht. Die Gesamtwiderstände Rm′ = R₁ und R′ = R₂
in der Brückenschaltung gemäß Fig. 1 sind dann gegeben
durch:
Rm′ = R₁ = R₁′ + ΔR₁, R′ = R₂ = R₂′ - ΔR₂
mit R₁′ = R₂′ und ΔR₁ ≅ ΔR₂.
mit R₁′ = R₂′ und ΔR₁ ≅ ΔR₂.
Für die Spannung Um an den Meßpunkten der Brückenschaltung
folgt dann:
Um ≅ ΔR₁*I₀.
D.h., die Spannung hat sich bei einer Ausführungsform nach
Fig. 4 gegenüber der nach Fig. 3 verdoppelt.
Neben der anhand von Fig. 4 aufgezeigten Möglichkeit, unter
schiedliche Brückenelemente durch unterschiedlich ausgerich
tete Magnetisierungen in ihren Schichtsystemen zu erhalten,
bestehen noch weitere Möglichkeiten: So kann man z. B. Bias
schichten mit unterschiedlicher Koerzitivfeldstärke Hc vorse
hen, wobei beispielsweise im Brückenelement E11′ das Hc sei
ner Biasschicht des aktiven Schichtensystems S2′ größer ist
als im Brückenelement E21′, während in letzterem Element die
Koerzitivfeldstärke Hc von der hartmagnetischen Schicht grö
ßer gewählt wird als für die entsprechende Schicht von Ele
ment E11′. Auch ist es auf ähnliche Weise möglich, unter
schiedliche Vorzugsachsen und Anisotropien auf zuprägen und
für diesen Zweck auszunutzen. Darüber hinaus kann man auch
Schichten mit Materialien einsetzen, die sich hinsichtlich
ihrer Curie-Temperaturen unterscheiden.
Eine weitere Möglichkeit, zwei Brückenelemente mit Magnet
feldempfindlichkeiten unterschiedlichen Vorzeichens zu erhal
ten, besteht auch darin, daß man das eine Brückenelement
(beispielsweise das Element E11′), wie vorstehend erläutert,
als ein Sensorelement mit großem magnetoresistiven Effekt
ausbildet, während man das ihm zugeordnete Brückenelement
(E21′) mit anderem Vorzeichen der Magnetfeldempfindlichkeit
als ein Sensorelement mit großem inversen magnetoresistiven
Effekt gestaltet. Derartige Elemente sind z. B. aus "Phys.
Rev. Lett.", Vol. 72, No. 3, Jan. 1994, Seiten 408 bis 411
bekannt. Sie zeichnen sich dadurch aus, daß bei paralleler
Ausrichtung der Magnetisierung in benachbarten Schichten der
Widerstand gerade am größten ist.
Bei den vorstehend anhand der Fig. 1 bis 4 erläuterten
Ausführungsbeispielen wurde davon ausgegangen, daß zwei be
trachtete Brückenelemente, beispielsweise die Elemente E11
und E22 oder E11′ und E21′, unterschiedliche Magnetfeldemp
findlichkeiten aufweisen. Besonders vorteilhaft im Hinblick
auf eine große Signalspannung Um (vgl. Fig. 1) ist es, wenn
jedes der beiden Brückenelementpaare von zwei Elementen
gleicher Magnetfeldempfindlichkeit gebildet wird, aber die
Brückenelemente des ersten Paares gegenüber den Brücken
elementen des zweiten Paares verschieden sind. Gemäß Fig. 1
hätten beispielsweise dementsprechend die Elemente E11 und
E22 eine erste, z. B. positive Magnetfeldempfindlichkeit und
die anderen Elemente E12 und E21 eine zweite, dann negative
Magnetfeldempfindlichkeit.
Bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen wurde ferner von
Bias-Schichtsystemen mit zwei Magnetschichten (vgl. die
Schichten 3 und 5 gemäß Fig. 2) ausgegangen. Selbstverständ
lich sind auch periodische Anordnungen mit wenigstens drei Ma
gnetschichten pro Bias-Schichtsystem einsetzbar. Auch für
diese Systeme lassen sich analoge Maßnahmen ergreifen. Z.B.
könnte dann für die Bias-Schichtsysteme des Elementes E11′
und E21′ gelten:
dx * Mx - dy * My + dz * Mz < 0 (für S1 von E11′)
bzw.
dx * Mx - dy * My + dz * Mz < 0 (für S2 von E21′).
dx * Mx - dy * My + dz * Mz < 0 (für S2 von E21′).
Dabei sind mit x, y, z die einzelnen übereinander angeordne
ten Magnetschichten der Schichtsysteme, von unten nach oben
betrachtet, gekennzeichnet.
Zur Verschaltung der einzelnen Brückenelemente zu einer
Brückenschaltung gemäß Fig. 1 wird jedes Element mit seinem
mindestens einen GMR-Schichtsystem mit wenigstens zwei Kon
takten versehen. Diese Kontakte werden entweder beide, wie
bei den vorstehenden Ausführungsbeispielen angenommen, auf
der obersten Meßschicht des entsprechenden magnetfeldempfind
lichen Schichtsystems angeordnet, so daß der Strom I₀ im Mit
tel parallel zu den Schichtebenen fließt (sogenanntes
"Current-in-Plane(CIP)-System"); oder es wird jeweils ein
Kontakt auf der obersten und auf der untersten Schicht ange
ordnet, so daß dann der Strom I₀ im Mittel senkrecht zu den
Schichtebenen fließt (sogenanntes "Current-Perpendicular-to-
Planes(CPP)-System"). Die erfindungsgemäßen Maßnahmen sind
auch nicht nur für die vorgehend erwähnten CIP- und CPP-Sy
steme anwendbar. Ebenso lassen sich Magnetowiderstand-Tun
nelsysteme einsetzen.
Statt der für die Ausführungsbeispiele angenommenen Sensor
elemente (E11, E11′, E22, E21′) großen magnetoresistiven Ef
fektes mit schichtförmigen Aufbau sind ebensogut auch Typen
mit einem sogenannten granularen Aufbau geeignet. Entspre
chende Elemente sind beispielsweise aus "Phys. Rev. Lett.",
Vol. 71, No. 14, 1993, Seiten 2331 bis 2333 oder Vol. 68, No.
25, 1992, Seiten 3745 bis 3752 bekannt.
Claims (16)
1. Sensoreinrichtung zur Erfassung eines äußeren Magnetfeldes
mit einem einen sehr großen magnetoresistiven Effekt (GMR)
zeigenden Sensorelement und mit Mitteln zum Führen eines vor
gegebenen Stromes über die Einrichtung gekenn
zeichnet durch folgende Merkmale:
- a) Es ist eine Brückenschaltung (B) mit vier paarweise zuge ordneten diagonalen Brückenelementen (Eÿ) in zwei zwischen Anschlußpunkten (A1, A2) für den Strom (I₀) parallelge schalteten Brückenzweigen (Z1, Z2) vorgesehen,
- b) mindestens eines der Brückenelemente (E11, E11′) ist als das Sensorelement mit großem magnetoresistiven Effekt aus gebildet,
und
- c) die Empfindlichkeit mindestens eines der Brückenelemente (E11, E11′) bezüglich des äußeren Magnetfeldes ist ver schieden gegenüber der Magnetfeldempfindlichkeit anderer Brückenelemente (E22, E21′).
2. Sensoreinrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß das mindestens eine Brücken
element (E11, E11′, E22, E21′) mit großem magnetoresistiven
Effekt einen schichtförmigen Aufbau hat.
3. Sensoreinrichtung nach Anspruch 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß das mindestens eine Brücken
element mit großem magnetoresistivem Effekt ein Schichtpaket
(S1, S1′, S2, S2′) aufweist mit einer magnetfeldempfindlichen
Meßschicht und mit mindestens einer von der Meßschicht magne
tisch zumindest weitgehend entkoppelten Biasschicht.
4. Sensoreinrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Biasschicht (5, 5′) Teil
eines Biasschichtensystems (S′) ist, in dem benachbarte Ma
gnetschichten über eine zwischen ihnen angeordnete Zwischen
schicht antiferromagnetisch gekoppelt sind.
5. Sensoreinrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß das min
destens eine Brückenelement mit großem magnetoresistiven Ef
fekt als ein Multischichtensystem gestaltet ist.
6. Sensoreinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
gekennzeichnet durch mindestens zwei Brücken
elemente, deren Magnetfeldempfindlichkeiten verschiedene Vor
zeichen haben.
7. Sensoreinrichtung nach Anspruch 6, dadurch ge
kennzeichnet, daß die diagonalen Brückenelemen
te (E11, E22) des einen Paares an Brückenelementen eine posi
tive Magnetfeldempfindlichkeit und die diagonalen Brückenele
mente (E12, E21) des anderen Paares eine negative Magnetfeld
empfindlichkeit besitzen.
8. Sensoreinrichtung nach Anspruch 6, dadurch ge
kennzeichnet, daß zwei diagonale Brückenelemen
te (E11, E22 oder E11′, E21′) Magnetfeldempfindlichkeiten mit
unterschiedlichem Vorzeichen besitzen.
9. Sensoreinrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Brückenelemente mit Magnetfeldempfindlichkeiten unterschied
lichen Vorzeichens Biasschichten mit verschiedenen Magneti
sierungsrichtungen aufweisen.
10. Sensoreinrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß von zwei
Brückenelementen mit Magnetfeldempfindlichkeiten unterschied
lichen Vorzeichens eines als Sensorelement mit großem magne
toresistiven Effekt und das andere als Sensorelement mit in
versem großem magnetoresistiven Effekt gestaltet sind.
11. Sensoreinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10,
dadurch gekennzeichnet, daß minde
stens zwei diagonale Brückenelemente (E12, E21) eine zumin
dest weitgehend gleiche Magnetfeldempfindlichkeit aufweisen.
12. Sensoreinrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß zwei dia
gonale Brückenelemente (E11, E22; E11′, E22′) unterschiedli
cher Magnetfeldempfindlichkeit GMR-Schichtpakete (S1, S2;
S1′, S2′) aufweisen, die sich zumindest bezüglich einer ihrer
einander entsprechenden magnetischen Schichten unterscheiden.
13. Sensoreinrichtung nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die beiden diagonalen
Brückenelemente (E11, E22; E11′, E21′) unterschiedlicher Ma
gnetfeldempfindlichkeit mindestens zwei sich entsprechende
Schichten (5, 5′; 7, 7′) mit unterschiedlichen verschiedenen
Dicken (d₅, d₅′; d₇, d₇′) aufweisen.
14. Sensoreinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 13,
dadurch gekennzeichnet, daß alle
Brückenelemente auf einem gemeinsamen Substrat (2) angeordnet
sind.
15. Sensoreinrichtung nach Anspruch 14, dadurch
gekennzeichnet, daß die Brückenelemente (E11,
E22; E11′, E21′) mittels des Substrates (2) thermisch und ge
gebenenfalls elastisch gekoppelt sind.
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