DE4426808C1 - Vorrichtung zur Pegelumsetzung - Google Patents
Vorrichtung zur PegelumsetzungInfo
- Publication number
- DE4426808C1 DE4426808C1 DE19944426808 DE4426808A DE4426808C1 DE 4426808 C1 DE4426808 C1 DE 4426808C1 DE 19944426808 DE19944426808 DE 19944426808 DE 4426808 A DE4426808 A DE 4426808A DE 4426808 C1 DE4426808 C1 DE 4426808C1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- voltage level
- level
- circuit
- red
- bus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018507—Interface arrangements
- H03K19/018521—Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Dram (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung gemäß dem Oberbegriff
des Patentanspruchs 1.
Im Zuge von immer komplexeren integrierten Schaltungen, wie
beispielsweise VLSI-Schaltungen, kommt dem Leistungsver
brauch eine zunehmende Bedeutung zu. Generell wird bei jedem
Schaltvorgang Leistung verbraucht und Wärme abgeführt. Mit
höheren Integrationsdichten wird aber die Fläche zum Ab
führen der Wärme immer kleiner, und damit einhergehend auch
die Wärmeentwicklung des betreffenden Chips bzw. Bausteines
immer höher. Insbesondere kommt dieser Effekt bei bitbreiten
Bussystemen zum Tragen, da der Leistungs
verbrauch mit Länge und Breite der Busleitung, mit der Anzahl
der Gatter oder Zellen, die ihre Signale auf das Bussystem
geben sowie der Taktrate des Bussystems zunimmt. Diese Be
dingungen sind insbesondere bei Bausteinen erfüllt, die in
Kommunikationssystemen eingesetzt werden:
So werden hier insbesondere Bausteine mit sehr breiten Bussy
stemen eingesetzt. Typische Busbreiten liegen dabei etwa in
der Größenordnung von 16 bis zu 500 Bit. Da hierüber große
Bitwechsel mit einer hohen Taktrate durchgeführt werden, ist
damit auch ein entsprechend großer Leistungsverbrauch verbun
den.
Aus NTZ, Band 6, (1993), Heft 8, S. 592 bis 594, "ATM-Technik:
Systemarchitektur und Technologie-Anforderungen" sind Systemarchitek
tur sowie technologische Lösungsmöglichkeiten von ATM-Ein
richtungen (ATM Asynchronous Transfer Mode) beschrieben.
Darin wird ein ATM-Koppelbaustein angesprochen, der für die
ATM-Technik mit ihren typisch hohen Anforderungen an die
Schaltungskomplexität als Koppelbaustein eingesetzt wird.
Insbesondere für derartige Bausteine müssen Überlegungen im
Hinblick auf eine Leistungsreduzierung angestellt werden, da
hier zum einen die soeben genannten Bedingungen erfüllt sind
und zum anderen derartige Bausteine in einer solchen Vielzahl
eingesetzt werden, daß die Wärmeentwicklung an sich schon ein
Problem darstellt.
Bei den bisherigen Lösungsansätzen werden alle in einem Bau
stein integrierten Einrichtungen mit einem, gegenüber dem Pe
gel der Versorgungsspannung reduzierten Spannungspegel betri
eben. Damit wird eine Reduzierung des Leistungsverbrauchs des
gesamten Bausteins erreicht. Problematisch bei einer derarti
gen Anordnung ist jedoch, daß in diesem Fall im Baustein zu
sätzlich entsprechend stark dimensionierte Regler vorzusehen
sind, da alle integrierten Einrichtungen mit dem gleichen re
duzierten Spannungspegel betrieben werden. Diese Regler benö
tigen Chip-Fläche zum einen sowie Betriebsstrom zum anderen.
Allerdings bedeutet die Reduzierung der Versorgungsspannung
letztendlich einen Verlust an Treiberfähigkeit der im Bau
stein integrierten Einrichtungen, den es zu kompensieren
gilt. Derartige Lösungen werden beispielsweise in IEEE Jour
nal of Solid-State Circuits, Vol. 26, No. 4, April 1991, Seiten
465 bis 472, "Experimental 1.5-V 64-Mb DRAM" sowie in IGT Fachtagung,
März 1992, Seiten 327 bis 331, Mikroelektronik für die Informations
technik (Tagesband: "A CMOS Bandgap Reference Circuit for a 16 Mbit
DRAM) angesprochen.
Die Aufgabe der Erfindung liegt darin, eine Vorrichtung anzu
geben, mittels der eine Leistungsreduzierung in Bausteinen
erreicht wird, ohne zur Kompensation der oben angesprochenen
Nachteile zusätzliche Einrichtungen vorsehen zu müssen.
Die Erfindung wird, ausgehend vom Oberbegriff des Patentan
spruchs 1, durch die im kennzeichnenden Teil angegebenen
Merkmale gelöst.
Vorteilhaft an der Erfindung ist, daß insbesondere auf dem
Busleitungssystem der dort anliegende Spannungspegel deutlich
reduziert ist. Dies wird dadurch erreicht, daß ein reduzier
ter Spannungspegel einer auf dem Baustein mit integrierten er
findungsgemäßen Vorrichtung mit einem weiteren Spannungspegel
in Abhängigkeit von einem zugeführten Steuersignal beauf
schlagt wird. Dies geschieht über eine Auswahlschaltung, die
den reduzierten Spannungspegel einer Erzeugungsschaltung ent
nimmt. Der Ausgangspegel der Auswahlschaltung wird somit zwi
schen 0 und dem um den weiteren Spannungspegel beaufschlagten
reduzierten Spannungspegel geschaltet. Die Nutzsignale werden
somit auf dem Bussystem mit diesem reduzierten Spannungspegel
übertragen. Bevor sie weiteren Einrichtungen des Bausteins
zugeführt werden, erfolgt eine Anhebung um den zuvor redu
zierten Spannungspegel durch eine weitere mit integrierte er
findungsgemäße Vorrichtung. Diese sind als Schar von Bewer
tungsschaltungen ausgebildet, der eine Schar von Pegelstufen
zugeordnet ist.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteran
sprüchen vorgesehen:
Gemäß Anspruch 2 ist vorgesehen, daß an jedem der Schaltele mente ein Spannungsabfall entsteht, der in etwa dem weiteren Spannungspegel entspricht. Damit ist der Vorteil verbunden, daß beide Spannungspegel sich aufheben und somit sich allein der reduzierte Spannungspegel auf dem Bussystem einstellt.
Gemäß Anspruch 2 ist vorgesehen, daß an jedem der Schaltele mente ein Spannungsabfall entsteht, der in etwa dem weiteren Spannungspegel entspricht. Damit ist der Vorteil verbunden, daß beide Spannungspegel sich aufheben und somit sich allein der reduzierte Spannungspegel auf dem Bussystem einstellt.
Gemäß Anspruch 3 ist vorgesehen, daß die Schaltelemente MOS-
Transistoren sind. Damit ist der Vorteil verbunden, daß die
Schaltvorgänge schnell und energiesparend durchgeführt werden
können.
Gemäß Anspruch 4 ist vorgesehen, daß die Erzeugungsschaltung
wenigstens zwei Funktionsblöcke aufweist, und von einer ex
ternen Stromquelle hoher Konstanz gespeist wird, wodurch in
einem der Funktionsblöcke zwei Bezugsspannungen sowie in Ab
hängigkeit davon in dem verbleibenden Funktionsblock der re
duzierte Spannungspegel erzeugt werden. Damit ist der Vorteil
verbunden, daß bausteinintern auf bereits vorhandene Strom
generatoren zurückgegriffen werden kann.
Gemäß Anspruch 5 ist vorgesehen, daß dem Ausgang der Erzeu
gungsschaltung ein Kondensator nachgeschaltet ist. Damit ist
der Vorteil verbunden, daß Spannungsspitzen geglättet werden.
Gemäß Anspruch 6 ist vorgesehen, daß wenigstens zwei der
Transistoren bis auf die Kanallänge gleich sind. Damit ist
der Vorteil verbunden, daß die gesamte Schaltung querstrom
frei geregelt wird.
Gemäß Anspruch 7 ist vorgesehen, daß eine kleine Veränderung
des reduzierten Spannungspegels eine große interne Aussteuer
fähigkeit des Pegels der Ausgangsstufe des verbleibenden
Funktionsblocks bewirkt.
Gemäß Anspruch 8 ist vorgesehen, daß eine positive Tempera
turkompensation durchgeführt wird, indem das Ansteigen der
Temperatur eine Erhöhung des reduzierten Spannungspegels be
dingt. Damit wird der Vorteil erzielt, daß mit ansteigender
Temperatur eine Verringerung der Schaltgeschwindigkeit kom
pensiert wird.
Gemäß Anspruch 9 ist vorgesehen, daß der Auswahlpegel der
Auswahlschaltung aktiv gehalten wird, verbunden mit dem Vor
teil der Querstromfreiheit der Auswahlschaltung.
Gemäß Anspruch 10 ist vorgesehen, daß Steuersignal das n-te
Ausgangssignal eines mehrstufigen Schieberegisters oder eines
Decoders ist.
Gemäß Anspruch 11 ist vorgesehen, daß die interne Vorschrift
eine Hysterese ist. Damit ist der Vorteil verbunden, daß der
Signal-Störabstand vergrößert wird.
Gemäß Anspruch 12 ist vorgesehen, daß das wenigstens eine
Ausgangssignal zwei logische Signale umfaßt, die beide kom
plementär zueinander ausgebildet sind.
Gemäß Anspruch 13 ist vorgesehen, daß die Pegelstufe durch
eine Rückkopplung mit einem Transistor querstromfrei ge
steuert wird.
Gemäß Anspruch 14 ist vorgesehen, daß durch die Dimensio
nierung der Auswahlschaltung sowie der Bewertungsschaltung
die Nettostrombelastung am Ausgang des verbleibenden Funk
tionsblockes kleiner gehalten werden kann, als die der Aus
wahlschaltung bzw. der Bewertungsschaltung für sich alleine
betrachtet. Damit ist der Vorteil eines sehr geringen Bedarfs
an Chipfläche verbunden.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbei
spiels näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Anordnung,
Fig. 2 eine Auswahlschaltung, die den reduzierten Spannungs
pegel dem Bussystem zuführt,
Fig. 3 eine Bewertungsschaltung, und
Fig. 4 eine Erzeugungsvorrichtung, die einen reduzierten
Spannungspegel zur Verfügung stellt.
Fig. 1 zeigt ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Anord
nung. Dabei wurde erfindungsgemäß insbesondere auf eine weit
gehende Kompensierung der Einsatzspannungsschwankungen von
MOS-Transistoren, bedingt durch Prozeßschwankungen Wert ge
legt. Ab dieser Spannung setzt nämlich die Leitfähigkeit ein
es MOS-Transistors ein. Das Blockschaltbild nach Fig. 1 zeigt
weiter ein Bussystem BUS. Dieses weist in vorliegendem Aus
führungsbeispiel zur Veranschaulichung lediglich drei Bus
leitungen BUS₁, BUS₂, BUS₃ auf. Jeder dieser Busleitungen ist
jeweils eine der Einrichtungen L₁ . . . L₃ zugeordnet. Diese Ein
richtungen können beispielsweise Latch-Zellen sein, die eine
Speicherfunktionen für zu übertragende Nutzsignale aufweisen.
Sie werden über eine externe Versorgungsspannung VEXT ge
speist und sind über 3 MOS-Schalttransistoren Tr₁ . . . Tr₃ an
das Bussystem BUS angeschlossen.
Bei vorliegendem Ausführungsbeispiel sind somit die Latch-
Zelle L₁ über den Schalttransistor Tr₁ an die Busleitung
BUS₁, die Latch-Zelle L₂ über den Schalttransistor Tr₂ an die
Busleitung BUS₂ sowie die Latch-Zelle L₃ über den Schalttran
sistor Tr₃ an die Busleitung BUS₃ angeschlossen. Die Latch-
Zellen übergeben je nach Schaltzustand der Schalttransistoren
die empfangenen Nutzsignale dem Bussystem BUS bzw. entnehmen
diese demselben, und führen sie weiteren Einrichtungen zu.
Weiterhin bildet ein Schalttransistor in Einheit mit einer
Latch-Zelle einen Treiber. Ein Schalttransistor ist dabei mit
seinem SOURCE-Anschluß an der zugewiesenen Busleitung ange
schlossen, während er mit seinem DRAIN-Anschluß an die Latch-
Zelle herangeführt ist. Weiterhin werden alle Schalttransis
toren über ihren Steueranschluß G (GATE-Anschluß) mit dem
Ausgangspegel AUS einer Auswahlschaltung A gespeist. Der Aus
gangspegel AUS wird von der Auswahlschaltung A über einen
zugeordneten Ausgang OUT dem Steueranschluß G zur Verfügung
gestellt.
Weiterhin ist eine Erzeugungsschaltung E vorgesehen. Sie be
steht zum einen aus einer Referenzschaltung R sowie einem
Regler RG, und wird mit einem Strom hoher Konstanz Ikonst ge
speist. Dies ist insofern vorteilhaft, da chipintern ein sol
cher Strom in der Regel ohnehin bereitgestellt wird. Natürlich
läßt sich ein Strom hoher Konstanz auch durch eine externe
Spannungsquelle mit entsprechender Beschaltung entnehmen. Aus
diesem Bezugsstrom hoher Konstanz Ikonst erzeugt die Refer
enzschaltung R intern einen Bezugspegel Vref aus dem sie zwei
Signale VREF+, VREF- ableitet, die im folgenden dem Regler RG
zugeführt werden. Letzterer wird mit der externen Versorgungs
spannung VEXT gespeist. Weiterhin wird hier der reduzierte
Spannungspegel VRED erzeugt, der als Ausgangsgröße zum einen
der Auswahlschaltung A sowie zum anderen einer Schar von Be
wertungsschaltungen B zugeführt wird. Zur Glättung des redu
zierten Spannungspegels Vred sowie zur Vermeidung von Strom
spitzen wird weiterhin am Ausgang der Erzeugungsschaltung E
ein Kondensator C gegen Masse geschaltet.
Der reduzierte Spannungspegel Vred wird von der Auswahlschal
tung A übernommen und hier mit einem weiteren Spannungspegel
Utn beaufschlagt. Dies ist insofern vorteilhaft, da der redu
zierte Spannungspegel Vred in der Auswahlschaltung A nicht
belastet, sondern nur als Referenzspannung benötigt wird.
Weiterhin ist die Auswahlschaltung A querstromfrei. Von außen
wird der Auswahlschaltung A ein externes Steuersignal ST zu
geführt, das einem mehrstufigen Schieberegisters entnommen
sein kann. Generell bleibt anzumerken, daß im Normalbetrieb
das Bussystem BUS immer aktiv betrieben wird. Das bedeutet,
daß über eine Koordinierungssteuerung immer dafür Sorge ge
tragen wird, daß jeweils immer eine der Latch-Zellen L₁, L₂,
L₃ aktiv auf die betreffende Busleitung geschaltet ist.
Weiterhin ist eine Schar von Bewertungsschaltungen B vorge
sehen, die jeweils mit einer der Busleitungen verbunden ist.
Bei den im Ausführungsbeispiel aufgezeigten insgesamt drei
Busleitungen BUS₁, BUS₂, BUS₃ sind somit die drei Bewertungs
schaltungen B mit jeweils einer derselben verbunden. Der re
duzierte Spannungspegel Vred wird von der Erzeugungsschaltung
E den drei Bewertungsschaltungen B zugeführt. Jede Bewer
tungsschaltung B enthält ferner eine Eingangshysterese H.
Dies bedeutet, daß das Umschalten eines Signals mit dem Zu
stand "HIGH" auf den Zustand "LOW" und umgekehrt mit unter
schiedlichen Schaltpegeln erfolgt. Damit wird der Signal/Störabstand
vergrößert. Allerdings ist damit auch eine, wenn
auch nur geringfügige Verringerung der Schaltgeschwindigkeit
verbunden, die in vorliegendem Fall aber vernachlässigt
werden kann. Weiterhin übergibt jede der
Bewertungsschaltungen B einer, jeweils nachgeschalteten
Pegelstufe P zwei logische Signale Q, Qb. Beide Signale sind
komplementär zueinander ausgebildet. Darüberhinaus ist jede
der Pegelstufen P mit einer Strombegrenzung zur Verringerung
großer Stromspitzen ausgestattet. Eine Pegelstufe P ist
jeweils einer Bewertungsschaltung B zugeordnet, mit der sie
eingangsseitig verbunden ist und ausgangsseitig an weiteren
Einrichtungen des Bausteins herangeführt ist.
Im folgenden soll kurz die Funktionsweise der erfindungs
gemäßen Schaltungsanordnung anhand des Blockschaltbildes
näher erläutert werden:
In der Erzeugungsschaltung E wird nach Maßgabe des zuge führten Stromes hoher Konstanz Ikonst ein reduziert er Span nungspegel Vred erzeugt und der Auswahlschaltung A sowie den Bewertungsschaltungen B übergeben. Die Auswahlschaltung A be aufschlagt nach Maßgabe des externen Steuersignals ST densel ben mit dem Spannungspegel Utn. Dieser wird den Steuerein gängen G der Schalttransistoren Tr₁, Tr₂, Tr₃ zugeführt. Die Latch-Zellen L₁, L₂, L₃ werden weiterhin mit der externen Versorgungsspannung VEXT betrieben. Deren Spannungspegel liegt am DRAIN Eingang der betreffenden Schalttransistoren an. Nach Maßgabe des Steuersignals ST wird nun auf dem Bus system BUS der reduzierte Spannungspegel Vred erzeugt, indem die Steuereingänge G der Schalttransistoren Tr₁, Tr₂, Tr₃ mit dem Auswahlpegel AUS der Auswahlschaltung A angesteuert wer den. Dieser ergibt sich, wie bereits angesprochen, aus dem mit dem Spannungspegel Utn beaufschlagten reduzierten Span nungspegel Vred. Damit ist dann die DRAIN-SOURCE Strecke der Schalttransistoren durchgeschaltet.
In der Erzeugungsschaltung E wird nach Maßgabe des zuge führten Stromes hoher Konstanz Ikonst ein reduziert er Span nungspegel Vred erzeugt und der Auswahlschaltung A sowie den Bewertungsschaltungen B übergeben. Die Auswahlschaltung A be aufschlagt nach Maßgabe des externen Steuersignals ST densel ben mit dem Spannungspegel Utn. Dieser wird den Steuerein gängen G der Schalttransistoren Tr₁, Tr₂, Tr₃ zugeführt. Die Latch-Zellen L₁, L₂, L₃ werden weiterhin mit der externen Versorgungsspannung VEXT betrieben. Deren Spannungspegel liegt am DRAIN Eingang der betreffenden Schalttransistoren an. Nach Maßgabe des Steuersignals ST wird nun auf dem Bus system BUS der reduzierte Spannungspegel Vred erzeugt, indem die Steuereingänge G der Schalttransistoren Tr₁, Tr₂, Tr₃ mit dem Auswahlpegel AUS der Auswahlschaltung A angesteuert wer den. Dieser ergibt sich, wie bereits angesprochen, aus dem mit dem Spannungspegel Utn beaufschlagten reduzierten Span nungspegel Vred. Damit ist dann die DRAIN-SOURCE Strecke der Schalttransistoren durchgeschaltet.
Gleichzeitig tritt aber über die GATE-SOURCE Strecke ein
Spannungsabfall auf. Dieser entspricht exakt dem beaufschlag
ten Spannungspegel Utn. Die Spanungspegelbilanz auf dem Bus
system BUS ergibt sich somit zu:
UBUS = (Vred + Utn)-Utn
UBUS = Vred
UBUS = Vred
Da die Schalttransistoren der Auswahlschaltung A zu denen mit
den Latch-Zellen verbundenen identisch sind, ist sicherge
stellt, daß auch der angesprochene Spannungsabfall bei beiden
Schaltransistoren gleich groß ist. Selbst im Falle von Tempe
raturschwankungen ist damit sichergestellt, daß der Span
nungsabfall in etwa gleich groß ist und sich bei der Diffe
renzbildung aufhebt. Somit ist dann der reduzierte Spannungs
pegel Vred auf dem Bussystem BUS eingeführt. Die von den
Latch-Zellen auf das Bussystem BUS gesendeten Nutzsignale,
werden somit mit einem Spannungspegel Vred auf das Bussystem
BUS gegeben. Dies hat aber unmittelbare Auswirkungen auf das
Schaltverhalten weiterer am Bussystem BUS angeschlossener
Einrichtungen zur Folge, da die Schaltschwelle dieser Ein
richtungen unverändert geblieben ist, die Schaltspannung auf
dem Bussystem aber auf den Betrag der reduzierten Spannung
Vred vermindert worden ist. Insofern müssen die auf dem Bus
system BUS übertragenden und später durch diese Einrichtungen
weiter zu verarbeitenden Nutzsignale wieder mit höheren Span
nungspegel beaufschlagt werden, um damit die erforderlichen
Schaltspannungen zu erlangen und ein sicheres Ansprechen der
betreffenden Schaltschwellen zu gewährleisten.
Dies erfolgt über die Bewertungsschaltungen B, die zwischen
das Bussystem BUS und den weiteren Einrichtungen eingefügt
sind. Sie entnehmen der jeweiligen Busleitung die darüber ge
leiteten Nutzsignale und wandeln sie nach Maßgabe einer in
ternen Vorschrift in die beiden logischen Signale Q, Qb um,
die im folgenden der zugeordneten nachgeschalteten Pegelstufe
P übergeben werden. Letztere erzeugt abschließend aus den
beiden logischen Signalen Q, Qb den vollen CMOS-Hub und über
gibt damit die Nutzsignale wieder den weiteren Einrichtungen
des Bausteins.
Im folgenden werden die einzelnen Schaltungsteile detailliert
beschrieben:
Die Verhältnisse betreffend die Auswahlschaltung A ist in den Fig. 2a, 2b aufgezeigt. Die Auswahlschaltung A ist derart konzipiert, daß, falls das Steuersignal ST den Zustand "LOW" einnimmt, das Ausgangssignal AUS den Zustand "HIGH" mit dem Spannungspegel Vred + Utn aufweist. Dieser Spannungspegel wird über den Transistor T1 eingestellt. Darüber hinaus wird über die Inverter INV1 sowie INV2 in Verbindung mit den Tran sistoren T3 und T4 der Ausgang freigeschaltet, wobei über den Transistor T2 der Ausgangsspannungspegel des Auswahlsignals AUS kontrolliert wird. Hierzu wird der Knoten A2 des Transis tors T5 über den Transistor T6 im inaktiven Zustand der Aus wahlschaltung A auf den Spannungspegel Vext-Utn aufgeladen. Dies ist möglich, da der Transistor T5 als Kapazität geschal tet ist. Weiterhin ist der Transistor T5 sehr klein dimens ioniert; er weist somit keine große Kanallänge auf, und das kapazitive Verhalten hängt somit bei der niedrigen gespeich erten Spannung nicht vom Kanalwiderstand bei steilen Span nungsimpulsen ab. In diesem Zustand sind nun die Transistoren T2, T4 sowie der Transistor T7 im leitenden Zustand, während die Transistoren T8, T9 sperren. Dies ist möglich, da der Knotenpunkt A1 über den Inverter INV1 sowie den Transistor T7 auf Masse gehalten wird. Damit liegen aber auch der Knoten punkt A3 sowie der Ausgang OUT ebenfalls auf Masse. Weiterhin existiert kein Strompfad zu dem reduzierten Spannungspegel Vred, da der Transistor T1 ebenfalls sperrt. Im übrigen kann ein langsames Aufladen des Knotenpunktes A2 auf den externen Spannungspegel Vext durch eventuell vorhandene Leckströme nicht auftreten, da am Knotenpunkt A2 ausschließlich n-Kanal transistoren angeschlossen sind.
Die Verhältnisse betreffend die Auswahlschaltung A ist in den Fig. 2a, 2b aufgezeigt. Die Auswahlschaltung A ist derart konzipiert, daß, falls das Steuersignal ST den Zustand "LOW" einnimmt, das Ausgangssignal AUS den Zustand "HIGH" mit dem Spannungspegel Vred + Utn aufweist. Dieser Spannungspegel wird über den Transistor T1 eingestellt. Darüber hinaus wird über die Inverter INV1 sowie INV2 in Verbindung mit den Tran sistoren T3 und T4 der Ausgang freigeschaltet, wobei über den Transistor T2 der Ausgangsspannungspegel des Auswahlsignals AUS kontrolliert wird. Hierzu wird der Knoten A2 des Transis tors T5 über den Transistor T6 im inaktiven Zustand der Aus wahlschaltung A auf den Spannungspegel Vext-Utn aufgeladen. Dies ist möglich, da der Transistor T5 als Kapazität geschal tet ist. Weiterhin ist der Transistor T5 sehr klein dimens ioniert; er weist somit keine große Kanallänge auf, und das kapazitive Verhalten hängt somit bei der niedrigen gespeich erten Spannung nicht vom Kanalwiderstand bei steilen Span nungsimpulsen ab. In diesem Zustand sind nun die Transistoren T2, T4 sowie der Transistor T7 im leitenden Zustand, während die Transistoren T8, T9 sperren. Dies ist möglich, da der Knotenpunkt A1 über den Inverter INV1 sowie den Transistor T7 auf Masse gehalten wird. Damit liegen aber auch der Knoten punkt A3 sowie der Ausgang OUT ebenfalls auf Masse. Weiterhin existiert kein Strompfad zu dem reduzierten Spannungspegel Vred, da der Transistor T1 ebenfalls sperrt. Im übrigen kann ein langsames Aufladen des Knotenpunktes A2 auf den externen Spannungspegel Vext durch eventuell vorhandene Leckströme nicht auftreten, da am Knotenpunkt A2 ausschließlich n-Kanal transistoren angeschlossen sind.
Im folgenden soll die Funktionsweise der Auswahlschaltung A
näher erläutert werden. Weist das zugeführte Steuersignal ST
den Zustand "LOW" auf, wird damit die Auswahlschaltung A
aktiviert. In diesem Fall sperrt der Transistor T4. Der Fuß
punkt des als Kapazität geschalteten Transistors T5 wird mit
seinem Bezugspotential angehoben, so daß Knotenpunkt A2 auf
eine hohe Spannung gepumpt wird. Der Transistor T6 sperrt in
diesem Fall, während der Transistor T3 einen leitenden Zu
stand einnimmt. Erreicht der Knotenpunkt A2 den Span
nungspegel U₀ = Vred + Utn (T8) + Utn (T7), so wird
auch der Transistor T9 in einen leitenden Zustand versetzt
und begrenzt damit den Spannungspegel des Knotenpunktes A2
nach oben. Da es sich bei diesem Vorgang um einen dynamischen
Vorgang handelt, steigt die Spannung am Knotenpunkt A2 kurz
fristig noch leicht an, bevor dann der Wert U₀ wieder er
reicht ist.
Die entsprechenden Verhältnisse sind in Fig. 2b aufgezeigt.
Dies hat zur Folge, daß der Transistor T2 sicher durchschal
tet und am Ausgang OUT eine steile Flanke liefert. Damit
stellt sich am Ausgang OUT der Spannungspegel Vred + Utn (T8)
+ Utn (T7)-Utn (T2) ein. Da Utn (T2) = Utn (T7) sowie Utn (T8) =
Utn (TRn) gilt, ergibt sich somit auf den Busleitungen der re
duzierte Pegel Vred und somit exakt die Versorgungsspannung
der Schar der Bewertungsschaltungen B. Weiterhin weist der
Knotenpunkt A2 eine große Aussteuerungsreserve über die Ver
sorgungsspannung VEXT hinaus auf. Hat sich der Zustand am
Knotenpunkt A2 auf U₀ eingeschwungen, so werden die beiden
Transistoren T7, T8 an der Einsatzspannung betrieben und las
sen somit nur einen vernachlässigbar kleinen Strom von der
externen Versorgungsspannung VEXT zu dem reduzierten Span
nungspegel Vred zu. Letzterer kann durch eine entsprechende
Dimensionierung derart ausgelegt werden, daß er sich mit dem
Strom der Bewertungsschaltung B kompensiert und damit den
Nettostrom im Regler RG deutlich reduziert. Weiterhin ist die
Kanallänge des Transistors T9 etwas größer als die des Tran
sistors T8; damit kann der Transistor T9 im Unterschwellen
strombereich betrieben werden, wenn das zugeführte Steuer
signal ST aktiv ist und der Knotenpunkt A2 wird kaum ent
laden. Im übrigen stellt der Transistor T1 eine obere Span
nungsbegrenzung dar. Hierdurch kann der Ausgang OUT nicht auf
eine zu hohe Spannung kapazitiv aufgeladen werden, falls sich
der Spannungspegel U₀ nach dem Überschwingen nicht schnell
genug einpendelt. Der Pegel des Auswahlsignals AUS wird dann
über den Transistor T2 aktiv gehalten.
Weiterhin ist die Auswahlschaltung A derart ausgelegt, daß
sich keine Degradationsprobleme ergeben, da die SOURCE-DRAIN
Spannungspegel aller Transistoren kleiner als die Versor
gungsspannung VEXT in jedem Betriebszustand sind. Kurzfristig
erhöhte GATE-Oxidspannungen beeinflussen die Funktion und Zu
verlässigkeit nicht. Am Knotenpunkt A2 kann aufgrund der dort
angeschlossenen ausschließlichen n-Diffusionsgebieten kein
sog. Latch-Up auftreten. Darunter wird das selbständige
Durchschalten einer CMOS-Schaltung verstanden. Mit dem Über
gang des Zustandes des Steuersignals von "LOW" auf "HIGH"
wird die Auswahlschaltung A wieder rückgesetzt und der Kno
tenpunkt A2 muß in jedem Falle wieder aufgeladen werden, und
kann sich somit bei veränderter Versorgungsspannung VEXT
während der Aktivphase nicht von Zyklus zu Zyklus auf schau
keln.
Im weiteren soll die Bewertungsschaltung B detaillierter
erläutert werden. Die entsprechenden Verhältnisse sind zu
sammen mit der Pegelstufe P in Fig. 3 aufgezeigt. Die Bewer
tungsschaltung B weist einen Inverter mit eingebauter Hyste
rese H auf. Dabei handelt es sich um eine üblicherweise ver
wendete CMOS-Schaltung im Sinne eines Schmitt-Triggers, deren
prinzipielle Funktionsweise bis herunter zu dem größeren der
beiden Werte einer Versorgungsspannung UTN, UTP reicht. Dies
sind die beiden Einsatzspannungen eines n-Kanal bzw. p-Kanal
Transistortypes. Somit stellt die eingestellte Hysterese ein
en Kompromiß aus Schnelligkeit und Störsicherheit des Schalt
verhaltens dar. Ferner stellt der Transistor TL als hoch
ohmiges Lastelement sicher, daß sich im Fall der Hochohmig
keit der Busleitung der reduzierte Spannungspegel Vred aus
bildet. Dies wird über einen großen Substratsteuerfaktor in
Verbindung mit einem Langkanal-p-MOS Transistor erreicht.
Dies ist insbesondere im Falle eines Taktausfalls notwendig.
Die zwei zueinander komplementären, logischen Signale Q, Qb
der Bewertungsschaltung B steuern ihrerseits die jeweils
zugeordnete Pegelstufe P über die Transistoren PT1 . . . PT5
an. Dabei sind die Transistoren PT1, PT2 derart ausgelegt,
daß sie den Ausgangspunkt PA treiben können. Beide Transis
toren arbeiten im Sättigungsbereich und wirken damit näher
ungsweise als Stromquellen, da sie mit einer niedrigen
Steuerspannung angesteuert werden. Dies wird beim Transistor
PT2 insbesondere über die Stromspiegel der Transistoren PT3
und PT4 erreicht.
Das Verhältnis der Anstiegs- und Abfallzeiten des Ausgangs
signals der Pegelstufe P wird über die K-Verhältnisse der
Transistoren PT1 und PT3 eingestellt. Dabei bedeutet der
Faktor K das Verhältnis der Kanalweite eines Transistors zu
seiner Kanallänge. Die Stromergiebigkeit der p-Kanaltransis
toren PT2 und PT4 gehen aber dabei nicht ein, während die
Stromergiebigkeit der n-Kanaltransistoren PT1 und PT3 gleich
sinnig mit der Veränderung des redizierten Spannungspegels
Vred läuft (Referenzschaltung R). Eine mögliche Temperatur
erhöhung bedingt eine kleine Beweglichkeit der Ladungsträger
der Transistoren PT1 und PT3; diese wird durch einen vergröß
erten reduzierten Spannungspegel Vred kompensiert. Liegt bei
spielsweise der Spannungspegel Utn aufgrund von Prozeßschwan
kungen tiefer als der Nominalwert, so ist dies entsprechend
auch beim reduzierten Spannungspegel Vred der Fall. Der Strom
zum Auf- wie zum Entladen des Ausgangspunktes PA ändert dich
nicht. Dies bedeutet letztendlich eine Reduktion der Strom
spitzen. Es bildet sich bei diesem Prozeß ein Stromplateau,
das maximal der Hälfte der Stromspitze einer einfachen In
verterlösung entspricht. Um Querströme über die Transistoren
PT3 sowie PT4 zu vermeiden, unterbricht der Transistor PT5
diesen Pfad, sobald am Ausgang der Pegelstufe (z. B. am Punkt
PA) ein Spannungspegel von ca. 75% des Maximalwertes (ent
sprechend der externen Versorgungsspannung VEXT) erreicht
ist. Dieser Punkt wird durch das Verhältnis der K-Werte der
Transistoren PT6 und PT7 festgelegt. Der Transistor PT8 dient
als Pull-up Element, das den vollen CMOS-Spannungshub am
Ausgang erzeugt, allerdings mit kleinerer Anstiegsgeschwin
digkeit, da für nachfolgende Schaltungen mit diesem Span
nungspegel beispielsweise schon Inverterschwellen überschrit
ten sind und ein eindeutiges Umschalten somit möglich ist.
Der Transistor PT1 ist derart dimensioniert, daß der Tran
sistor PT8 ausgeschaltet werden kann. In jedem Betriebszu
stand arbeitet die Pegelstufe querstromfrei.
Im weiteren soll die Erzeugungsschaltung E näher erläutert
werden. Die entsprechenden Verhältnisse sind in Fig. 4 aufge
zeigt. Wie bereits eingangs erwähnt, besteht die Erzeugungs
schaltung E aus einer Referenzschaltung R sowie einer Regler
schaltung RG. Die Referenzschaltung R erzeugt aus der Summe
der Einsatzspannungen der Transistoren RT1, RT2 sowie dem im
Widerstandsbereich betriebenen Transistor RT3 einen Span
nungspegel VREF. Parallel dazu ist ein im Sättigungsbereich
betriebener Transistor RT4 geschaltet. Durch das Verhältnis
der Ströme in den beiden Zweigen des Transistors RT4 sowie
der Transistoren RT0 . . . RT3 läßt sich der negative Tempera
turkoeffizient der Einsatzspannung sowohl kompensieren als
auch derart einstellen, daß durch die Beweglichkeitsreduktion
der Ladungsträger im Transistorkanal des Transistors RT4 der
Pegel der Bezugsspannung VREF mit der Temperatur ansteigt.
Mit der Wahl der Transistoren RT1 und RT2 als p- bzw. n-
Kanaltransistoren und einem positiven Temperaturkoeffizienten
werden weitgehend die Parameterschwankungen kompensiert, was
zur Folge hat, daß ein temperaturabhängiges Verzögerungs
schalten in der Bewertungsschaltung B vermieden wird.
Weiterhin ist die n-Wanne des Transistors RT1 mit dem Pegel
des Bezugspotentials VREF beaufschlagt. Damit wird das Ein
koppeln von Störungen des externen Versorgungsspannungspegels
VEXT auf den Bezugspegel VREF vermieden. Parallel zu dem
Transistor RT3 ist weiterhin noch ein Transistor RT5 mit Be
trieb nahe seiner Einsatzspannung geschaltet, womit das Be
zugspotential VREF auf maximal Utn (RT5) + Utn (RT2) + Utp (RT1)
begrenzt ist. Im Normalfall leitet Transistor RT5 nicht. Die
Summe der Ströme in beiden Zweigen ist konstant und wird über
den konstanten Eingangsstrom IKonst eingestellt. Im Aus
führungsbeispiel werden für diesen konstanten Eingangsstrom
IKonst noch ein n-Kanal- und p-Kanal-Transistor Stromspiegel
paar vorgeschaltet. In Abhängigkeit von der zur Verfügung
stehenden maximalen Eingangsspannung (zur Einprägung des kon
stanten Stroms) können alternativ kaskadierte Stufen benutzt
werden. Bedingt durch vier logische Signale, die alternativ
durch Laser-Fuses aktiviert werden können, ist dann das Be
zugspotentials VREF im Bereich von ± 25% variierbar.
Als besondere Layout-Maßnahme für die Referenzschaltung R
werden erfindungsgemäß ein PI-Glied am Eingang, ein RC-Glied
für die n-Wanne der vorgeschalteten P-Kanal Transistorstrom
spiegel, Abblockkapazitäten für die Knoten VREF+ und VREF-,
Stromspiegeltransistoren mit großer Kanallänge, gleicher
Orientierung und ineinander gefalteter Transistoren mit mög
lichst gleicher Partitionierung vorgesehen. Darüber hinaus
sind großflächige Substratkontakte vorhanden. Die komplette
Schaltung wird von einer Metallschicht auf Massepotential ab
geschirmt. Die Reglerschaltung RG wird durch die Spannungen
VREF+ und VREF- gesteuert. Dabei sind die Transistorweiten
der Transistoren RT0 und RT6 sowie die der Transistoren RT1
und RT7 gleichartig ausgestaltet. Die Transistoren RT6 und
RT7 haben allerdings gegenüber den Transistoren RT0 und RT2
eine größere Kanallänge, so daß sie im Unterschwellenströmbe
reich betrieben werden können. Hierdurch kann der in der
Reglerschaltung RG auftretende Querstrom im Bereich von 100
µA gehalten werden, allerdings aber auch ± 25 mA an Aus
gangsstrom bei nur 0,3 Volt Ausgangsspannungsänderung lie
fern. Die Stromspiegelanordnungen über die Knotenpunkte P1,
N2 und P3 steuern den Ausgangs-p-Kanaltransistor. Über die
Knotenpunkte N1, P2 und N3 wird der n-Kanaltransistor ausge
steuert. Bei jedem Knotenpunkt haben paarweise die Gates 0,25
. . . 0,5 µm Kanallängen Unterschiede. Durch den Kurzkanal
effekt kann somit ein Aufschaukeln des Querstromes vermieden
werden. Im weiteren kann man die Gates über den vollen Be
reich des Pegels der Versorgungsspannung VEXT ansteuern und
braucht somit nur kleine Ausgangstransistoren. Gegenüber
einer reinen p-und n- Kanal Transistor Sourcefolgerschaltung
(also nur die Transistoren RT6 und RT7) mit der gleichen
Treiberfähigkeit von ± 25 mA benötigt man mit der erfind
ungsgemäßen Realisierung nur ca. 2 bis 3% der Layout-Fläche.
Das vorliegende Ausführungsbeispiel wurde unter Verwendung
von MOS-Transistoren erläutert. Abschließend sei erwähnt, daß
die Erfindung nicht darauf beschränkt ist, sondern auch auf
Bipolar-Transistoren anwendbar ist.
Claims (14)
1. Vorrichtung zur Pegelumsetzung in integrierten Schalt
kreisen, die ein für eine Mehrzahl von internen Einrichtungen
(L₁ . . . Ln) gemeinsames, aus einer Mehrzahl von Busleitungen
(BUS₁, BUS₂, BUS₃) bestehendes Bussystem (BUS) aufweisen, wo
bei die internen Einrichtungen (L₁ . . . Ln) mit einer externen,
einen bestimmten Spannungspegel definierenden Versorgungs
spannung (Vext) versorgt werden und wobei wenigstens eine der internen
Einrichtungen (L₁ . . . Ln) über wenigstens ein Schaltelement (Tr₁ . . . Trn)
an wenigstens eine der Busleitungen (BUS₁, BUS₂, BUS₃) ange
schlossen ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Erzeugungsschaltung (E) vorgesehen ist, die einen sich von der externen Versorgungsspannung (VEXT) unterschei denden, niedrigeren Spannungspegel (Vred) erzeugt, der einer Auswahlschaltung (A) sowie wenigstens einer Bewertungsschal tung (B) zugeführt ist,
daß die Auswahlschaltung(A) einen Auswahlpegel (AUS) erzeugt, indem sie den empfangenen niedrigeren Spannungspegel (Vred) in Abhängigkeit eines Steuersignals (ST) mit einem weiteren Spannungspegel (Utn) beaufschlagt, und der derart entstandene Auswahlpegel (AUS) einem Steueranschluß (G) des jeweiligen Schaltelementes (Tr₁ . . . Trn) zugeführt wird,
daß die jeweilige Bewertungsschaltung (B) an eine der Bus leitungen (BUS₁, BUS₂, BUS₃) des Bussystems (BUS) angeschlossen ist, wo sie die darüber übertragenen Nutzsignale entnimmt und nach Maßgabe einer internen Vorschrift als Ausgangssignale mit dem nied rigeren Spannungspegel (Vred) ausgibt und ein derart ent standenes Ausgangssignal (Q, Qb) einer nachgeschalteten Pe gelstufe (P) übergibt, die den ursprünglichen, von der Ver sorgungsspannung (VEXT) definierten Spannungspegel wieder herstellt.
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Erzeugungsschaltung (E) vorgesehen ist, die einen sich von der externen Versorgungsspannung (VEXT) unterschei denden, niedrigeren Spannungspegel (Vred) erzeugt, der einer Auswahlschaltung (A) sowie wenigstens einer Bewertungsschal tung (B) zugeführt ist,
daß die Auswahlschaltung(A) einen Auswahlpegel (AUS) erzeugt, indem sie den empfangenen niedrigeren Spannungspegel (Vred) in Abhängigkeit eines Steuersignals (ST) mit einem weiteren Spannungspegel (Utn) beaufschlagt, und der derart entstandene Auswahlpegel (AUS) einem Steueranschluß (G) des jeweiligen Schaltelementes (Tr₁ . . . Trn) zugeführt wird,
daß die jeweilige Bewertungsschaltung (B) an eine der Bus leitungen (BUS₁, BUS₂, BUS₃) des Bussystems (BUS) angeschlossen ist, wo sie die darüber übertragenen Nutzsignale entnimmt und nach Maßgabe einer internen Vorschrift als Ausgangssignale mit dem nied rigeren Spannungspegel (Vred) ausgibt und ein derart ent standenes Ausgangssignal (Q, Qb) einer nachgeschalteten Pe gelstufe (P) übergibt, die den ursprünglichen, von der Ver sorgungsspannung (VEXT) definierten Spannungspegel wieder herstellt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß an jedem der Schaltelemente (Tr₁ . . . Trn) ein Spannungs
abfall entsteht, der in etwa dem weiteren Spannungspegel
(Utn) entspricht.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltelemente (Tr₁ . . . Trn) MOS-Transistoren sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Erzeugungsschaltung (E) wenigstens zwei Funktions
blöcke (R, RG) aufweist und von einer externen Stromquelle
hoher Konstanz (Ikonst) gespeist wird, wobei in einem der
Funktionsblöcke (R) zwei Bezugsspannungen (Vref+, Vref-)
sowie in Abhängigkeit davon in dem verbleibenden Funktions
block (RG) der reduzierte Spannungspegel (Vred) erzeugt
werden.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem Ausgang der Erzeugungsschaltung (E) ein Kondensator C
nachgeschaltet ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß einer der Funktionsblöcke (RG) dadurch querstromfrei ge
regelt wird, daß wenigstens zwei der, als Impedanzfolger
fungierende Transistoren (RT0, RT6) bis auf die Kanallänge
gleich sind.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine kleine Veränderung des reduzierten Spannungspegels
(Vred) eine große interne Aussteuerfähigkeit des Pegels der
Ausgangsstufe des verbleibenden Funktionsblocks (RG) bewirkt.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine positive Temperaturkompensation durchgeführt wird,
indem das Ansteigen der Temperatur eine Erhöhung des
reduzierten Spannungspegels (Vred) bedingt.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswahlschaltung (A) querstromfrei geregelt wird, und
der Auswahlpegel (AUS) aktiv gehalten wird.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1, 3 oder 9, dadurch gekennzeichnet,
daß das Steuersignal (ST) das n-te Ausgangssignal eines
mehrstufigen Schieberegisters oder eines Decoders ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die interne Vorschrift eine Hysterese (H) ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3 oder 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß das wenigste eine Ausgangssignal zwei logische Signale
(Q, Qb) umfaßt, die beide komplementär zueinander ausgebildet
sind.
13. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3, 11 oder 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Pegelstufe (P) durch die Rückkopplung eines der Tran
sistoren (PT5) dadurch querstromfrei gesteuert wird, daß der
selbe den Strompfad für den oberen Stromspiegel unterbricht.
14. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß durch die Dimensionierung der Auswahlschaltung (A) sowie
der Bewertungsschaltung (B) die Nettostrombelastung am Aus
gang des verbleibenden Funktionsblockes (RG) der Erzeugungs
schaltung (E) kleiner gehalten werden kann, als die der Aus
wahlschaltung (A) bzw. der Bewertungsschaltung (B) für sich
alleine betrachtet.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944426808 DE4426808C1 (de) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | Vorrichtung zur Pegelumsetzung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944426808 DE4426808C1 (de) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | Vorrichtung zur Pegelumsetzung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4426808C1 true DE4426808C1 (de) | 1995-08-17 |
Family
ID=6524392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944426808 Expired - Fee Related DE4426808C1 (de) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | Vorrichtung zur Pegelumsetzung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4426808C1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0805387A1 (de) * | 1996-04-29 | 1997-11-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Integrierte Schaltungsanordnung zur Reduzierung der Stromaufnahme |
DE19924343A1 (de) * | 1999-05-27 | 2000-11-23 | Siemens Ag | Programmgesteuerte Einheit |
-
1994
- 1994-07-28 DE DE19944426808 patent/DE4426808C1/de not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 26, Nr. 4, April 1991, S. 465-472 * |
IGT Fachtagung, März 1992, Mikroelektronik für die Informationstechnik, Tagesband: "A CMOS Bandgap Reference Circuits for a 16 Mbit DRAM, S. 327-331 * |
NTZ, Bd. 6, 1993, Heft 8, S. 592-594 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0805387A1 (de) * | 1996-04-29 | 1997-11-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Integrierte Schaltungsanordnung zur Reduzierung der Stromaufnahme |
DE19617172C2 (de) * | 1996-04-29 | 1999-06-24 | Siemens Ag | Integrierte Schaltungsanordnung zur Reduzierung der Stromaufnahme |
DE19924343A1 (de) * | 1999-05-27 | 2000-11-23 | Siemens Ag | Programmgesteuerte Einheit |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4039524C2 (de) | Substratspannungserzeuger für eine Halbleitereinrichtung und Verfahren zum Erzeugen einer Substratspannung | |
DE69839067T2 (de) | Regelwandlerschaltung und integrierte Halbleiterschaltung, in der diese verwendet wird | |
DE69924173T2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung mit Schlafmodus mit geringem Stromverbrauch und geringem Flächenbedarf | |
DE4037206C2 (de) | Versorgungsspannungs-Steuerschaltkreis mit der Möglichkeit des testweisen Einbrennens ("burn-in") einer internen Schaltung | |
DE4439661C2 (de) | Wortleitungstreiberschaltkreis für eine Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE10352713B4 (de) | Flip-Flop-Schaltung | |
DE2555297C2 (de) | Digitalschaltung mit Feldeffekttransistoren | |
DE60307293T2 (de) | Verfahren zur verringerung der stromaufnahme in einer zustandshalteschaltung, zustandshalteschaltung und elektronische einrichtung | |
DE10235425A1 (de) | Ausgangsschaltung | |
DE19749602C2 (de) | Substratspannungs-Generatorschaltung | |
DE102007049001A1 (de) | Pegelumsetzer mit einer einzigen Spannungsquelle | |
DE19812270B4 (de) | Signalleitungstreiber und diesen verwendendes Halbleiterspeicherbauelement | |
DE10237995A1 (de) | Interne Spannungserzeugungsschaltung, zugehöriges Halbleiterspeicherbauelement und Leistungszufuhrverfahren | |
DE10220969A1 (de) | Halbleitervorrichtung mit Datenausgabeschaltung mit einstellbarer Ausgangsspannungsschwankung | |
DE4336907A1 (de) | Substratpotential-Erzeugungsschaltung zum Erzeugen eines Substratpotentials mit einem niedrigen Pegel und Halbleitervorrichtung mit einer solchen Schaltung | |
DE10022665A1 (de) | Halbleitereinrichtung | |
DE69725829T2 (de) | Halbleiterausgangpufferschaltung | |
DE102005025940A1 (de) | Auffüllung einer internen Spannung | |
DE102004024612A1 (de) | Spannungserzeugungsschaltung | |
DE4004771C2 (de) | ||
DE19813707C2 (de) | Spannungspegelumformschaltung | |
DE19937829A1 (de) | Schaltung, Verfahren und Vorrichtung zum Ausgeben, Eingeben bzw. Empfangen von Daten | |
DE19501535C2 (de) | Interne Stromversorgungsschaltung | |
DE19521730C2 (de) | Halbleitervorrichtung mit Programmierspannungserzeugung | |
DE4234667C2 (de) | Spannungserzeugungseinrichtung, Verwendung derselben in einem Halbleiterspeicher und Betriebsverfahren derselben zum Erzeugen einer konstanten Spannung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |