DE4421980A1 - Hochstrommikroschalter - Google Patents
HochstrommikroschalterInfo
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/06—Contacts characterised by the shape or structure of the contact-making surface, e.g. grooved
-
- H—ELECTRICITY
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- H01H1/00—Contacts
- H01H1/0036—Switches making use of microelectromechanical systems [MEMS]
-
- H—ELECTRICITY
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- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H71/00—Details of the protective switches or relays covered by groups H01H73/00 - H01H83/00
- H01H2071/008—Protective switches or relays using micromechanics
-
- H—ELECTRICITY
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- H01H9/00—Details of switching devices, not covered by groups H01H1/00 - H01H7/00
- H01H9/30—Means for extinguishing or preventing arc between current-carrying parts
- H01H9/40—Multiple main contacts for the purpose of dividing the current through, or potential drop along, the arc
-
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- H01H9/30—Means for extinguishing or preventing arc between current-carrying parts
- H01H9/42—Impedances connected with contacts
Landscapes
- Contacts (AREA)
Description
Hohe Ströme werden derzeit entweder mittels mechanischer
Schalter oder Hochstrom-Halbleiterelementen geschaltet.
Verschiedene andere Schalter, wie z. B. Elektrolytschalter,
sind ebenfalls bekannt.
Mechanische Schalter werden üblicherweise dargestellt, indem
metallisch leitende Kontaktflächen so getrennt werden, daß
der zwischen diesen Flächen entstehende Luftspalt eine sichere
Stromunterbrechung gewährleistet. Dabei entsteht in Abhängigkeit
von der Größe des Stromes, der Ausgestaltung und der Berührungs
fläche der Kontakte ein Abrißfunke, der die Lebensdauer des
Schalters begrenzt, sowie dessen Minimierung in Abhängigkeit
von der Größe des zu schaltenden Stromes die minimale Baugröße
des Schalters bestimmt. Zur Verbesserung des Verschleißverhaltens
durch den Abrißfunken kommen üblicherweise Sintermetalle zum
Einsatz, deren Leitfähigkeit jedoch deutlich unter der von reinen
metallischen Leitern liegt, was zu einem erhöhten Spannungsabfall
am Kontaktpaar führt.
Halbleiterschalter (Transistoren/Thyristoren etc.) werden von
ihren Kennlinien so ausgelegt, daß im durchgeschalteten Zustand
ein möglichst geringer Innenwiderstand erzielt wird. Dabei kann
jedoch die Leitfähigkeit eines metallischen Leiters nicht
erreicht werden (Grund: Elektronen/Lochmobilität).
Für den ausgeschalteten Zustand wird ein möglichst hoher Innen
widerstand angestrebt, das Widerstandsverhalten einer mechanischen
Kontakttrennung jedoch nicht erreicht (Leckstrom).
Abrißfunken treten bei Halbleiter-Schaltern nicht auf.
Elektrolyt-Schalter besitzen ähnliche Kennlinien wie Halbleiter-
Schalter, haben keinen Abrißfunken, sind jedoch wegen der
geringen Leitfähigkeit des Elektrolyts sehr groß.
Um die Nachteile der verschiedenen Schaltertypen zu vermeiden,
wird der Gesamtstrom auf eine Vielzahl von einzelnen
metallischen, mechanisch trennbaren Kontakten verteilt.
Damit wird der einzelne Kontakt mit einem im Verhältnis
zum Gesamtstrom sehr kleinen Teilstrom belastet.
Der bei der mechanischen Trennung am Einzelkontakt entstehende
Abrißfunke wird dadurch verringert beziehungsweise vermieden,
daß in die Zuleitung eines solchen Kontaktes eine Brücke
eingefügt wird, die aus einem Material besteht, das bei
einem Stromanstieg eine progressive Widerstandserhöhung
erfährt und damit den Strom begrenzt.
Die große Anzahl der Einzelkontakte wird durch Methoden der
Mikrostrukturtechnik erreicht, wodurch gleichzeitig der
Nachteil großer geometrischer Abmessungen vermieden wird
und sich die gewünschten Brückeneigenschaften durch geometrische
Optimierung mit gängigen Materialien erreichen lassen.
Durch die mittels der Microstrukturtechnik mögliche Optimierung
können für die Brücke sogar schlechte elektrische Leiter,
die dafür jedoch andere wichtige physikalische Eigenschaften
(z. B. hoher Schmelzpunkt etc.) besitzen, vorteilhaft, d. h. z. B.
ohne nennenswerten Übergangswiderstand, genutzt werden.
Ein solcher Schalter besitzt im eingeschalteten Zustand die
Eigenschaften der metallischen Leitung, im ausgeschalteten
Zustand den nahezu unendlichen Widerstand einer mechanischen
Kontakttrennung.
Die Lösung der beschriebenen Probleme erfolgt damit durch einen
"Hochstrommikroschalter" wie nachfolgend beschrieben.
Claims (4)
1. Hochstrommikroschalter,
dadurch gekennzeichnet, daß
er aus zwei Siliziumplatten besteht, die aufeinander angeordnet sind, deren sich gegenseitig berührende Flächen in Mikrostrukturen aufgeteilt sind und damit Mikroelemente ergeben, die so ausgestaltet sind, daß sich jeweils ein Paar solcher Mikroelemente gegenüberliegend befinden und bei gegenseitiger Anpressung zwischen ihnen inniger Kontakt entsteht (Ein solches Mikroelement kann im einfachsten Fall z. B. aus einem Pyramidenstumpf, der aus der planaren Fläche, die gleichzeitig die metallische Leiterebene darstellt) herausragt, und einer Metallinsel als Gegenstück, die ebenfalls erhaben auf einer planaren Fläche dargestellt ist, die wiederum dort die Leiterebene bildet, bestehen. Solche Pyramidenstümpfe im Mikrometer-Bereich werden mit den Methoden des "micro machining silicon" erzeugt, da sie planar sind; für die Gegenkontaktplatte genügt die übliche Metallbedampfungstechnik. Diese Beispielsstruktur ist gegenüber lateralen Verschiebungen innerhalb der durch die geometrischen Abmessungen vorgegebenen Grenzen unempfindlich),
dadurch gekennzeichnet, daß
er aus zwei Siliziumplatten besteht, die aufeinander angeordnet sind, deren sich gegenseitig berührende Flächen in Mikrostrukturen aufgeteilt sind und damit Mikroelemente ergeben, die so ausgestaltet sind, daß sich jeweils ein Paar solcher Mikroelemente gegenüberliegend befinden und bei gegenseitiger Anpressung zwischen ihnen inniger Kontakt entsteht (Ein solches Mikroelement kann im einfachsten Fall z. B. aus einem Pyramidenstumpf, der aus der planaren Fläche, die gleichzeitig die metallische Leiterebene darstellt) herausragt, und einer Metallinsel als Gegenstück, die ebenfalls erhaben auf einer planaren Fläche dargestellt ist, die wiederum dort die Leiterebene bildet, bestehen. Solche Pyramidenstümpfe im Mikrometer-Bereich werden mit den Methoden des "micro machining silicon" erzeugt, da sie planar sind; für die Gegenkontaktplatte genügt die übliche Metallbedampfungstechnik. Diese Beispielsstruktur ist gegenüber lateralen Verschiebungen innerhalb der durch die geometrischen Abmessungen vorgegebenen Grenzen unempfindlich),
- 1.1 seine Mikroelementpaare an den Berührungsflächen eine planare Metallisierung besitzen, die aus einem Werkstoff besteht, der metallisch leitend ist, geringen Widerstand besitzt und oxidations- und korrosionsbeständig ist, damit einen Mikrokontakt bilden, dessen elektrische Verbindung in der jeweiligen Leiterebene durch eine Flächenmetallisierung zum externen Anschluß geführt wird (Zum Beispiel kann die Flächenmetallisierung aus einer Al/Cu-Legierung bestehen, wobei die Kontaktfläche auf dem Pyramidenstumpf zusätzlich mit Gold überzogen wird),
- 1.2 er um jede Kontaktfläche der beschriebenen Mikrokontakte eine Unterbrechung besitzt, die durch eine elektrisch leitende Brücke überbrückt wird, deren Material so gewählt wird, daß bei einem Stromanstieg eine Widerstandserhöhung erfolgt und damit eine Strombegrenzung eintritt, und der Querschnitt dieser Brücken so ausgestaltet wird, daß bei dem Betriebsstrom der Widerstand gering ist, bei Stromanstieg jedoch steil ansteigt und damit eine Strombegrenzung in der Phase des Kontaktabrisses erreicht wird.
2. Hochstrommikroschalter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Anzahl und Ausgestaltung der Mikrokontakte die Aufteilung des Betriebsstroms in
einer Art erlaubt, die durch deren hinreichend kleinen Einzelkontaktströme alleine
oder in Verbindung mit der Strombegrenzung nach 1.2 das Problem des
Abrißfunkens am Mikrokontakt weitgehend unterdrückt.
3. Hochstrommikroschalter nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet
durch einen Hub der sich gegenüberliegenden Platten, dessen Maß durch die
Geometrie der Mikrokontakte und die gewünschten elektrischen Betriebsdaten
bestimmt wird, ein- oder ausgeschaltet wird. Die Platten werden so angebracht, daß
die Mikrokontakte in Ruhe geöffnet, mit elastischem Material in diesem Zustand
dauerhaft verbunden und gegenüber der Umgebung gekapselt sind und durch
Anwendung einer senkrecht zur Plattenebene wirkenden Anpreßkraft bei
Überwindung der elastischen Trennkraft Kontaktschluß erfolgt,
sowie dadurch gekennzeichnet, daß
- 3.1 dessen Anpreßkraft durch üblicherweise verfügbare mechanische Vorrichtungen aufgebracht wird (Beispielsweise kann der notwendige Anpreßdruck durch eine Feder, die durch Druckknopfbetätigung eingerastet wird, erzeugt und auch aufrechterhalten werden. Wird diese Feder durch erneute Betätigung ausgerastet, gehen die Kontaktplatten durch das elastische Material wieder auf Abstand),
- 3.2 dessen von außen angewandte Anpreßkraft durch die Geometrie der Mikrokontakte an den jeweiligen Kontaktflächen so verstärkt werden kann, daß ein sicherer Kontakt gewährleistet ist (Zum Beispiel können die Gegenkontaktflächen keilförmige Vertiefungen haben).
4. Hochstrommikroschalter nach Patentanspruch 1, 2 und 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
dadurch gekennzeichnet, daß
- 4.1 er zur Vervielfachung seiner Leistung zu einer Mehrfachstruktur gepackt wird, in der die Betätigung der Einzelschalter gemeinsam erfolgt und damit nahezu beliebige Ströme schaltet,
- 4.2 er je Einzelelement gemäß einer überschlägigen Betrachtung etwa folgende Leistungsdaten haben kann: Die Kantenlänge einer Pyramidenfläche sei 20 µm und hat zur nächsten Fläche einen Abstand von 40 µm. Damit ergibt sich eine Spalten- und Zeilenanzahl von jeweils ca. 160 Kontakten, gerechnet auf ein Chip mit einer Kantenlänge von jeweils 1 cm. Die Anzahl der Kontakte ist damit ca. 25.600. Die gesamte Kontaktfläche beträgt somit ca. 11 mm². Bei einer Metallisierungsdicke zwischen 5 µm und 10 µm können ca. 100 A bei einer Spannung von 120 V geschaltet werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944421980 DE4421980A1 (de) | 1994-06-23 | 1994-06-23 | Hochstrommikroschalter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944421980 DE4421980A1 (de) | 1994-06-23 | 1994-06-23 | Hochstrommikroschalter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4421980A1 true DE4421980A1 (de) | 1995-04-06 |
Family
ID=6521325
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944421980 Withdrawn DE4421980A1 (de) | 1994-06-23 | 1994-06-23 | Hochstrommikroschalter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4421980A1 (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997018574A1 (en) * | 1995-11-14 | 1997-05-22 | Smiths Industries Public Limited Company | Switches and switching systems |
EP0794543A2 (de) * | 1996-03-07 | 1997-09-10 | Sumitomo Electric Industries, Inc. | Elektromechanischer Schalter |
WO2000022638A1 (de) * | 1998-10-09 | 2000-04-20 | Abb Research Ltd | Neue elektrische schalteinrichtung |
WO2000026934A1 (de) * | 1998-11-02 | 2000-05-11 | Abb Research Ltd. | Elektrische mikromechanische fehlerstromschutz-schalteinrichtung |
US6127908A (en) * | 1997-11-17 | 2000-10-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Microelectro-mechanical system actuator device and reconfigurable circuits utilizing same |
SG83789A1 (en) * | 1999-04-30 | 2001-10-16 | Advantest Corp | Contact structure formed by microfabrication process |
-
1994
- 1994-06-23 DE DE19944421980 patent/DE4421980A1/de not_active Withdrawn
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997018574A1 (en) * | 1995-11-14 | 1997-05-22 | Smiths Industries Public Limited Company | Switches and switching systems |
EP0794543A2 (de) * | 1996-03-07 | 1997-09-10 | Sumitomo Electric Industries, Inc. | Elektromechanischer Schalter |
EP0794543A3 (de) * | 1996-03-07 | 1998-08-05 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Elektromechanischer Schalter |
US6127908A (en) * | 1997-11-17 | 2000-10-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Microelectro-mechanical system actuator device and reconfigurable circuits utilizing same |
US6646525B2 (en) | 1997-11-17 | 2003-11-11 | Massachusetts Institute Of Technology | Microelectro-mechanical system actuator device and reconfigurable circuits utilizing same |
WO2000022638A1 (de) * | 1998-10-09 | 2000-04-20 | Abb Research Ltd | Neue elektrische schalteinrichtung |
US6563683B1 (en) | 1998-10-09 | 2003-05-13 | Abb Research Ltd | Electrical switchgear |
WO2000026934A1 (de) * | 1998-11-02 | 2000-05-11 | Abb Research Ltd. | Elektrische mikromechanische fehlerstromschutz-schalteinrichtung |
SG83789A1 (en) * | 1999-04-30 | 2001-10-16 | Advantest Corp | Contact structure formed by microfabrication process |
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