DE4417307A1 - Anordnung zur Bestimmung von Elementen und deren Konzentration in Objekten nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse - Google Patents
Anordnung zur Bestimmung von Elementen und deren Konzentration in Objekten nach der Methode der RöntgenfluoreszenzanalyseInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Bestimmung von
Elementen des Periodensystems der Elemente sowie zur
Bestimmung der Konzentration der Elemente in Objekten
nach der Methode der wellenlängendispersiven Röntgen
fluoreszenzanalyse, umfassend einen Strahlungsdetektor
zur Erfassung einer vom zu bestimmenden, auf einem
Probenträger angeordneten Element oder Objekt herrühren
den Fluoreszenzstrahlung sowie eine von einer Röntgen
röhre erzeugte Röntgenstrahlung, die auf das Element
oder das Objekt gerichtet ist.
Anordnungen dieser Art ermöglichen grundsätzlich die
Bestimmung von Elementen des Periodensystems mit einem
Instrument in einem Meßvorgang für die verschiedensten
Zwecke in einem weiten wissenschaftlich-technischen
Bereich, und zwar unter der Maßgabe vertretbarer Kosten
für derartige Instrumente.
Die bei der Untersuchung mit derartigen Anordnungen vom
zu untersuchenden Element bzw. dem zu untersuchenden
Objekt herrührende Fluoreszenzstrahlung wird grundsätz
lich auf zwei verschiedene Arten erfaßt und bestimmungs
gemäß ausgewertet. Entweder übernimmt der Detektor zwei
Aufgaben, die der Strahlungsdetektion und die der
Energieselektion, dann spricht man von energiedispersi
ven Systemen, oder der Detektor beschränkt sich auf den
Nachweis der Strahlung, während ein vorgeschalteter,
variabler Filter die Energie auswählt, dann handelt es
sich um ein wellenlängendispersives Instrument.
Als energieselektierende Filter in wellenlängendispersi
ven Instrumenten wird üblicherweise ein Bragg-Kristall
oder ein Multilayerspiegel eingesetzt. Eine Energietren
nung wird dadurch bewirkt, daß der Kristall bzw. der
Multilayerspiegel gegenüber der Strahlrichtung der
Fluoreszenzstrahlung verdreht wird, so daß die Fluores
zenzstrahlung über verschiedene Reflexionswinkel auf den
Detektor gelenkt wird.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Anord
nung zu schaffen, die die Energietrennung bei wellenlän
gendispersiven Systemen verbessert.
Gelöst wird die Aufgabe gemäß der Erfindung dadurch, daß
die vom Element oder dem Objekt ausgehende Fluoreszenz
strahlung vor dem Eintritt in den Strahlungsdetektor an
einem Paar voneinander beabstandeter Multilayerspiegel ,
die im Strahlengang zwischen Element und dem Objekt und
dem Strahlungsdetektor angeordnet sind, jeweils einmal
nacheinander reflektiert wird.
Der Vorteil der erfindungsgemäßen Anordnung besteht im
wesentlichen darin, daß durch die Einfügung des Multi
layerspiegelpaares in den Strahlengang zwischen Element
oder dem Objekt und dem Strahlungsdetektor eine beson
ders trennscharfe Bandpaß-Anordnung geschaffen wird, mit
der die Durchlaßenergie durch den Auftreffwinkel der
Fluoreszenzstrahlung auf die Multilayerspiegel und dem
Abstand der Spiegel auf einfache Weise bestimmbar ist,
der grundsätzliche Aufbau derartiger Röntgenfluoreszenz
analyse-Spektrometer aber beibehalten bleibt.
Bei einer vorteilhaften Ausgestaltung der Anordnung sind
die beiden voneinander beabstandeten Multilayerspiegel
aufeinander zu bzw. voneinanderweg bewegbar, wobei die
beiden Spiegel von einer entsprechenden Halterung, die
die Bewegung erlaubt, aufgenommen werden.
Weiterhin ist es vorteilhaft, die beiden voneinander
beabstandeten Multilayerspiegel gemeinsam relativ zur
Strahlenachse der Fluoreszenzstrahlung drehbar auszu
bilden, wobei dieses ebenfalls vorteilhafterweise
mittels des Trägers geschehen kann, der die beiden
Multilayerspiegel aufeinander zu bzw. voneinander weg
bewegbar aufnimmt.
Vorteilhafterweise ist im Strahlengang zwischen dem
Element oder dem Objekt und den beiden voneinander
beabstandeten Multilayerspiegeln der Fluoreszenzstrah
lung ein Kollimator angeordnet, mit dem zur Verbesserung
der Bestimmung der Durchlaßenergie durch die Multilayer
spiegel die Parallelität der vom Objekt herrührenden
Fluoreszenzstrahlung verbessert werden kann.
Gleichermaßen kann vorzugsweise auch im Strahlengang
zwischen den beiden voneinander beabstandeten Multi
layerspiegeln und dem Strahlungsdetektor ein Kollimator
angeordnet sein, mit dem die Parallelität der von den
Multilayerspiegeln reflektierten Fluoreszenzstrahlung
vor Eintritt in den Strahlungsdetektor verbessert wird.
Bei einer anderen Ausführungsform der Anordnung, bei der
die voneinander beabstandeten Multilayerspiegel einen
fortwährend festen Abstand voneinander haben, bei der
aber auch eine Drehung der beiden fest zueinander
beabstandeten Multilayerspiegel relativ zur Strahlen
achse der Fluoreszenzstrahlung möglich ist, ist es
schließlich vorteilhaft, zwischen erstem und zweitem
Multilayerspiegel eine relativ zu beiden Multilayer
spiegeln fest angeordnete Blende vorzusehen, die einen
direkten Durchgang der Fluoreszenzstrahlung durch den
Zwischenraum zwischen beiden Multilayerspiegeln verhin
dert, so daß nur Fluoreszenzstrahlung einer durch
Drehung der beiden voneinander beabstandeten Spiegel
einstellbaren Energie auf den Strahlungsdetektor trifft.
Die Erfindung wird nun unter Bezugnahme auf die nach
folgenden schematischen Zeichnungen anhand zweier
Ausführungsbeispiele beschrieben. Darin zeigen
Fig. 1 in stark schematisierter Form den
grundsätzlichen Aufbau eines Röntgen
fluoreszenzanalyse-Spektrometers,
Fig. 2a,b im Strahlengang zwischen dem Element
bzw. Objekt und dem Strahlungsdetektor
angeordnete Multilayerspiegel in
unterschiedlichen Abständen voneinan
ander und unterschiedlichen Winkeln
relativ zur Strahlenachse und
Fig. 3a,b zwischen Element bzw. Objekt und
Strahlungsdetektor angeordnete Multi
layerspiegel mit festem Abstand zuein
ander mit unterschiedlich eingestell
ten Auftreffwinkeln der Fluoreszenz
strahlung.
Die Anordnung 10 umfaßt einen Strahlungsdetektor 12 zur
Erfassung einer vom zu bestimmenden, auf einem Proben
träger 13 angeordneten Element bzw. Objekt 11 herrüh
renden Fluoreszenzstrahlung 14 sowie eine von einer
Röntgenröhre 15 erzeugte Röntgenprimärstrahlung 16, die
auf das Objekt gerichtet ist. Es sei darauf hingewiesen,
daß die in Fig. 1 dargestellte Anordnung 10 hier stark
schematisiert dargestellt ist und lediglich zum besseren
Verständnis der hier beschriebenen Anordnung 10 dient.
Im Strahlengang zwischen dem Element oder dem Objekt 11
und dem Strahlungsdetektor 12 ist ein Paar Multilayer
spiegel 17, 18 angeordnet, die einen Abstand 19 vonein
ander aufweisen. Dieser prinzipielle Aufbau gilt für die
in Fig. 2 und 3 angeordneten unterschiedlichen Ausge
staltungen der Anordnung 10 gleichermaßen.
Es wird zunächst Bezug genommen auf die in den Fig. 2
a,b dargestellte Ausführungsform der Anordnung 10. Die
von dem Objekt 11 bzw. dem Element ausgehende Fluores
zenzstrahlung 14 wird durch einen Kollimator 18 ausge
richtet und durch Reflexion an den beiden Multilayer
spiegeln 17, 18 energetisch selektiert und tritt dann
durch einen weiteren Kollimator 22 hindurch auf den
Strahlungsdetektor 12. Die Durchlaßenergie der durch die
Multilayerspiegel 16, 17 gebildeten Bandpaß-Anordnung
wird bestimmt durch den Auftreffwinkel der Fluoreszenz
strahlung 14 auf die Multilayerspiegel 17, 18 und den
Abstand 19 der Multilayerspiegel 18, 19. Gemäß der
Darstellung von Fig. 2a wird mit der dort dargestellten
Anordnung ein großer Auftreffwinkel und ein großer
Abstand 19 der Multilayerspiegel 18, 19 erreicht, d. h.
für eine verhältnismäßig niedrige Durchlaßenergie. Die
Anordnung gemäß Fig. 2b zeigt einen kleinen Auftreff
winkel und einen kleinen Abstand 19 der Multilayer
spiegel 18, 19, d. h. eine Einstellung mit vergleichs
weise hoher Durchlaßenergie.
Fig. 3a,b zeigt eine weitere Ausführungsform des durch
die Multilayerspiegel 17, 18 gebildeten Bandpaßfilters
für die Fluoreszenzstrahlung 14. Die Fluoreszenzstrah
lung 14 trifft den ersten Spiegel 17 in einem durch
Drehung einstellbaren Winkel, symbolisiert durch den
kreisförmig geschlossenen Pfeil 24. Die Multilayer
spiegel 17, 18 sowie eine Blende 23, auf die nachfolgend
noch eingegangen wird, können relativ fest zueinander
auf einer hier im einzelnen nicht dargestellten Hal
terung montiert sein und insgesamt um den Mittelpunkt
des Kreises bzw. Pfeiles 24 gedreht werden. Dieses ist
grundsätzlich auch bei der in den Fig. 2a,b darge
stellten Ausführungsform, obwohl dort im einzelnen auch
nicht dargesellt, möglich. Mitgedreht werden eine Blende
23 und somit auch der zweite Multilayerspiegel 18. Die
Blende 23 verhindert den direkten Durchgang der Fluores
zenzstrahlung 14 mit durch den Raum zwischen den beiden
Multilayerspiegeln 17, 18. Durch die doppelte Reflexion
an den Multilayerspiegeln 17, 18 treffen nur Fluores
zenzstrahlen 14 einer durch Drehung der Anordnung
einstellbaren Energie auf den Strahlungsdetektor 12. Die
Anordnung ist hier in zwei Einstellungen wiedergegeben,
die durch Drehung ineinander übergehen. Die Einstellung
gemäß Fig. 3a ist für höhere Energie und weist einen
niedrigeren Reflexionswinkel und einen früheren Auf
treffpunkt der Fluoreszenzstrahlung 14 auf den ersten
Spiegel 17 auf, während die Einstellung gemäß Fig. 3b
für eine niedrige Energie beispielhaft ist, die einen
höheren Reflexionswinkel und einen späteren Auftreff
punkt der Fluoreszenzstrahlung 14 auf dem ersten Multi
layerspiegel 17 zeigt.
Bezugszeichenliste
10 Anordnung
11 Objekt
12 Strahlungsdetektor
13 Probenträger
14 Fluoreszenzstrahlung
15 Röntgenröhre
16 Röntgenstrahlung
17 Multilayerspiegel
18 Multilayerspiegel
19 Abstand
20 Strahlenachse
21 Kollimator
22 Kollimator
23 Blende
24 Pfeil
11 Objekt
12 Strahlungsdetektor
13 Probenträger
14 Fluoreszenzstrahlung
15 Röntgenröhre
16 Röntgenstrahlung
17 Multilayerspiegel
18 Multilayerspiegel
19 Abstand
20 Strahlenachse
21 Kollimator
22 Kollimator
23 Blende
24 Pfeil
Claims (6)
1. Anordnung zur Bestimmung von Elementen des Perioden
systems der Elemente sowie zur Bestimmung der Konzen
tration der Elemente in Objekten nach der Methode der
wellenlängendispersiven Röntgenfluoreszenzanalyse,
umfassend einen Strahlungsdetektor zur Erfassung einer
vom zu bestimmenden, auf einem Probenträger angeordneten
Element oder Objekt herrührenden Fluoreszenzstrahlung
sowie eine von einer Röntgenröhre erzeugte Röntgenstrah
lung, die auf das Element oder das Objekt gerichtet ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die vom Element oder dem
Objekt (11) ausgehende Fluoreszenzstrahlung (14) vor dem
Eintritt in den Strahlungsdetektor (12) an einem Paar
voneinander beabstandeter (19) Multilayerspiegel (17,
18), die im Strahlengang zwischen Element oder dem
Objekt (11) und dem Strahlungsdetektor (12) angeordnet
sind, jeweils einmal nacheinander reflektiert wird.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden voneinander beabstandeten (19) Multi
layerspiegel (17, 18) aufeinander zu bzw. voneinander
weg bewegbar sind.
3. Anordnung nach einem oder beiden der Ansprüche 1 oder
2, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden voneinander
beabstandeten Multilayerspiegel (17, 18) gemeinsam
relativ zur Strahlenachse (20) der Fluoreszenzstrahlung
(14) drehbar sind.
4. Anordnung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlengang der
Fluoreszenzstrahlung (14) zwischen dem Element oder dem
Objekt und den beiden voneinander beabstandeten Multi
layerspiegeln (17, 18) ein Kollimator (21) angeordnet
ist.
5. Anordnung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlengang der
Fluoreszenzstrahlung (14) zwischen den beiden vonein
ander beabstandeten Multilayerspiegeln (17, 18) und dem
Strahlungsdetektor (12) ein Kollimator (22) angeordnet
ist.
6. Anordnung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen erstem und
zweitem Multilayerspiegel (17, 18) eine relativ zu
beiden Multilayerspiegeln (17, 18) fest angeordnete
Blende (23) vorgesehen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944417307 DE4417307A1 (de) | 1994-05-18 | 1994-05-18 | Anordnung zur Bestimmung von Elementen und deren Konzentration in Objekten nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944417307 DE4417307A1 (de) | 1994-05-18 | 1994-05-18 | Anordnung zur Bestimmung von Elementen und deren Konzentration in Objekten nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4417307A1 true DE4417307A1 (de) | 1995-11-23 |
Family
ID=6518320
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944417307 Ceased DE4417307A1 (de) | 1994-05-18 | 1994-05-18 | Anordnung zur Bestimmung von Elementen und deren Konzentration in Objekten nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4417307A1 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19738409A1 (de) * | 1997-09-03 | 1999-03-11 | Geesthacht Gkss Forschung | Vorrichtung zur wellenlängen-dispersiven Analyse von Fluoreszenzstrahlung |
DE19738408A1 (de) * | 1997-09-03 | 1999-03-11 | Geesthacht Gkss Forschung | Vorrichtung zur wellenlängen-dispersiven Analyse von Fluoreszenzstrahlung |
DE19908011A1 (de) * | 1999-02-25 | 2000-09-14 | Geesthacht Gkss Forschung | Anordnung zur Elementanalyse von Proben mittels primärer Strahlung |
DE19926056A1 (de) * | 1999-06-08 | 2000-12-28 | Geesthacht Gkss Forschung | Einrichtung und Verfahren zur Analyse atomarer und/oder molekularer Elemente mittels wellenlängendispersiver, röntgenspektrometrischer Einrichtungen |
JP2002022681A (ja) * | 2000-05-29 | 2002-01-23 | Koninkl Philips Electronics Nv | 多層鏡及び射出コリメータが設けられるx線分析装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4959848A (en) * | 1987-12-16 | 1990-09-25 | Axic Inc. | Apparatus for the measurement of the thickness and concentration of elements in thin films by means of X-ray analysis |
DE4015275A1 (de) * | 1990-05-12 | 1991-11-14 | Geesthacht Gkss Forschung | Anordnung mit beschichtetem spiegel zur untersuchung von proben nach der methode der roentgenfluoreszenzanalyse |
EP0456897A1 (de) * | 1990-05-15 | 1991-11-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Messanordnung für die Röntgenfluoreszenzanalyse |
-
1994
- 1994-05-18 DE DE19944417307 patent/DE4417307A1/de not_active Ceased
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4959848A (en) * | 1987-12-16 | 1990-09-25 | Axic Inc. | Apparatus for the measurement of the thickness and concentration of elements in thin films by means of X-ray analysis |
DE4015275A1 (de) * | 1990-05-12 | 1991-11-14 | Geesthacht Gkss Forschung | Anordnung mit beschichtetem spiegel zur untersuchung von proben nach der methode der roentgenfluoreszenzanalyse |
EP0456897A1 (de) * | 1990-05-15 | 1991-11-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Messanordnung für die Röntgenfluoreszenzanalyse |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
DESLATTES, R.D.: X-Ray Monochromator Development for Synchrotron Radiation Facilities, NIM 172 (1980) 201-208 * |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19738409A1 (de) * | 1997-09-03 | 1999-03-11 | Geesthacht Gkss Forschung | Vorrichtung zur wellenlängen-dispersiven Analyse von Fluoreszenzstrahlung |
DE19738408A1 (de) * | 1997-09-03 | 1999-03-11 | Geesthacht Gkss Forschung | Vorrichtung zur wellenlängen-dispersiven Analyse von Fluoreszenzstrahlung |
EP0905491A2 (de) * | 1997-09-03 | 1999-03-31 | Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh | Vorrichtung zur wellenlängen-dispersiven Analyse von Fluoreszenzstrahlung |
EP0905491A3 (de) * | 1997-09-03 | 2000-04-05 | Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh | Vorrichtung zur wellenlängen-dispersiven Analyse von Fluoreszenzstrahlung |
DE19738408C2 (de) * | 1997-09-03 | 2001-06-07 | Geesthacht Gkss Forschung | Vorrichtung zur wellenlängen-dispersiven Analyse von Fluoreszenzstrahlung |
DE19738409B4 (de) * | 1997-09-03 | 2004-03-25 | Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh | Vorrichtung zur wellenlängen-dispersiven Analyse von Fluoreszenzstrahlung |
DE19908011A1 (de) * | 1999-02-25 | 2000-09-14 | Geesthacht Gkss Forschung | Anordnung zur Elementanalyse von Proben mittels primärer Strahlung |
DE19908011C2 (de) * | 1999-02-25 | 2001-08-16 | Geesthacht Gkss Forschung | Anordnung zur Elementanalyse von Proben mittels primärer Strahlung |
DE19926056A1 (de) * | 1999-06-08 | 2000-12-28 | Geesthacht Gkss Forschung | Einrichtung und Verfahren zur Analyse atomarer und/oder molekularer Elemente mittels wellenlängendispersiver, röntgenspektrometrischer Einrichtungen |
DE19926056B4 (de) * | 1999-06-08 | 2004-03-25 | Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh | Einrichtung zur Analyse atomarer und/oder molekularer Elemente mittels wellenlängendispersiver, röntgenspektrometrischer Einrichtungen |
JP2002022681A (ja) * | 2000-05-29 | 2002-01-23 | Koninkl Philips Electronics Nv | 多層鏡及び射出コリメータが設けられるx線分析装置 |
DE10125454B4 (de) * | 2000-05-29 | 2008-04-17 | Panalytical B.V. | Gerät zur Röntgenanalyse mit einem Mehrschichtspiegel und einem Ausgangskollimator |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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8131 | Rejection |