DE10125454B4 - Gerät zur Röntgenanalyse mit einem Mehrschichtspiegel und einem Ausgangskollimator - Google Patents

Gerät zur Röntgenanalyse mit einem Mehrschichtspiegel und einem Ausgangskollimator Download PDF

Info

Publication number
DE10125454B4
DE10125454B4 DE10125454A DE10125454A DE10125454B4 DE 10125454 B4 DE10125454 B4 DE 10125454B4 DE 10125454 A DE10125454 A DE 10125454A DE 10125454 A DE10125454 A DE 10125454A DE 10125454 B4 DE10125454 B4 DE 10125454B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
collimator
preparation
ray
mirror
radiation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE10125454A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10125454A1 (de
Inventor
Vladimir Kogan
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Malvern Panalytical BV
Original Assignee
Panalytical BV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panalytical BV filed Critical Panalytical BV
Publication of DE10125454A1 publication Critical patent/DE10125454A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10125454B4 publication Critical patent/DE10125454B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Gerät zur Röntgenanalyse eines Präparats (4), wobei diese Analyse mit den nachfolgenden Elementen durchgeführt wird:
– einer Röntgenquelle (2) zum Bestrahlen des Präparats mit Röntgenstrahlung (6),
– einem Röntgendetektor (16) zum Detektieren von dem Präparat herrührender Röntgenstrahlung (12),
– einem in dem Strahlengang zwischen dem Präparat und dem Detektor angeordneten parabelförmigen Mehrschichtenspiegel (14) mit einem zugeordneten Bereich des Reflexionswinkels αmax, und
– einem im Brennpunkt (20) des parabelförmigen Mehrschichtenspiegels angeordneten ersten Kollimator (22, 28),
dadurch gekennzeichnet,
– dass der erste Kollimator (22, 28) derart eingerichtet ist, dass dieser von jedem reflektierenden Punkt (A, B) des Mehrschichtenspiegels (14) nahezu die gleiche Winkelgröße (γ, δ) der Durchlaßbreite aufweist, und
– dass die genannte Winkelgröße, von jedem reflektierenden Punkt des Mehrschichtenspiegels aus gesehen, kleiner ist als der maximale Winkelbereich der Reflexion αmax.

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Gerät zur Röntgenanalyse eines Präparats, wobei diese Analyse mit den nachfolgenden Elementen durchgeführt wird:
    • – einer Röntgenquelle zum Bestrahlen des Präparats mit Röntgenstrahlung,
    • – einem Röntgendetektor zum Detektieren von dem Präparat herrührender Röntgenstrahlung,
    • – einem in dem Strahlengang zwischen dem Präparat und dem Detektor angeordneten parabelförmigen Mehrschichtspiegel mit einem zugeordneten Bereich des Reflexionswinkels αmax und
    • – einem im Brennpunkt des parabelförmigen Mehrschichtspiegels angeordneten ersten Kollimator.
  • Bei Geräten zur Röntgenanalyse, wie Geräten für Röntgenfluoreszenz oder für Röntgendiffraktion wird ein Präparat mit von einer Röntgenquelle, im Allgemeinen von einer herkömmlichen Röntgenröhre, herrührender Röntgenstrahlung bestrahlt. Dabei ist es manchmal von Bedeutung, die auf das Präparat treffende Strahlung möglichst parallel zu machen, d. h., dass die verschiedenen Strahlrichtungen in dem Röntgenbündel nur einen geringen Winkel miteinander einschließen. Dabei wird dann erreicht, dass die Messungen für Formabweichungen des Präparats nahezu unempfindlich werden, (so braucht beispielsweise bei Röntgen-Pulverdiffraktion die dem eintreffenden Bündel zugewandte Präparatoberfläche nicht weitgehend flach zu sein), dass sie für Lagenabhängigkeit in der Röntgenabsorption durch das Präparat und dass sie für Lagenabweichungen des Präparats als Ganzes auch nahezu unempfindlich werden. Außerdem ist der Eintreffwinkel der Röntgenstrahlung dann durchaus definiert, was insbesondere für Röntgendiffraktion mit hoher Auflösung von Bedeutung ist.
  • Aus einen Artikel mit dem Titel: "Modem X-ray mirrors for perfect parallel beams" in "Materials World", Oktober 1999, Seiten 616–618, ist es bekannt, die von einer Röntgenquelle herrührende Röntgenstrahlung mit Hilfe eines parabelförmigen Mehrschichtspiegels parallel und monochromatisch zu machen und mit diesem parallelen, monochromatischen Bündel das zu untersuchende Präparat zu bestrahlen. Die von dem Präparat herrührende Strahlung trifft auf einen anderen parabelförmigen Mehrschichtspiegel, der die Strahlung in der Richtung eines vor dem Röntgendetektor angeordneten Kollimatorspaltes reflektiert und der zugleich dafür sorgt, dass unerwünschte Wellenlängen aus dem reflektierten Bündel entfernt werden. Der genannte Kollimatorspalt befindet sich im Brennpunkt dieses anderen parabelförmigen Mehrschichtspiegels.
  • Die DE 198 33 524 A1 beschreibt ein Gerät zur Röntgenanalyse eines Präparats mit einem Gradienten-Vielfachschicht-Spiegel. Dabei wird das Präparat von einer Röntgenquelle mit Röntgenstrahlung bestrahlt, wobei ein Röntgendetektor zum Detektieren der vom Präparat herrührenden Röntgenstrahlung vorgesehen ist. Im Strahlengang sind zwischen dem Präparat und dem Detektor der Gradienten-Vielfachschicht-Spiegel und im Brennpunkt des Spiegels ein erster Kollimator angeordnet.
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine bessere Auflösung zu erhalten als diejenige, die mit der aus dem Stand der Technik bekannten Anordnung erhalten wird. Dazu ist das Gerät zur Röntgenanalyse derart ausgebildet,
    dass der erste Kollimator derart eingerichtet ist, dass dieser von jedem. reflektierenden Punkt des Mehrschichtspiegels nahezu die gleiche Winkelgröße der Durchlaßbreite aufweist, und
    dass die genannte Winkelgröße von jedem reflektierenden Punkt des Mehrschichtspiegels aus gesehen kleiner ist als der maximale Winkelbereich der Reflexion αmax.
  • Der Erfindung liegt die nachfolgende Erkenntnis zugrunde: Ein Mehrschichtspiegel für Röntgenstrahlung hat nur einen beschränkten Bereich des Reflexionswinkels, wobei dieser Bereich durch αmax bezeichnet wird. Bei den in der Praxis verwendeten Mehrschichtspiegeln kann dieser Bereich einen Wert in der Größenordnung von 0,05° haben. Wenn der parabelförmige Mehrschichtspiegel einen Brennabstand F hat, bedeutet dies, dass ein eintreffender quasi-paralleles Bändel mit Winkelstreuung αmax in der Nähe des Brennpunktes der Parabel mit einer Breite F·αmax abgebildet wird. Wenn die Durchlaßbreite des Kollimators größer ist als diese Breite der Abbildung hat diese Durchlaßbreite keinen Einfluss auf die Auflösung des Geräts.
  • Die Durchlaßbreite hat aber einen Einfluß auf die Entfernung der Hintergrundstrahlung: die auf den ersten Kollimator treffende Röntgenstrahlung besteht aus gewünschter, von dem Präparat herrührender Strahlung und aus unerwünschter Strahlung. Die gewünschte Strahlung ist diejenige Strahlung, die in einem gewünschten Winkel von dem Präparat herrührt. Alle andere Strahlung (die Hintergrundstrahlung), herrührend von dem Präparat in einem nicht erwünschten Winkel, sowie herrührend von der Umgebung, soll vom ersten Kollimator möglichst gesperrt werden.
  • Wenn nun die Durchlaßbreite kleiner gemacht wird als die Breite der genannten Abbildung, dann wird ein Teil der in der Abbildung vorhandenen Strahlung entgegengehalten. Dies kann beispielsweise mit einem üblichen Kollimator durchführen, wie dieser durch zwei in derselben Ebene liegende flache Messerkanten gebildet wird. Die Messerkanten haben einen bestimmten Abstand voneinander, so dass dadurch eine spaltförmige Durchlassöffnung mit einer bestimmten Spaltbreite entsteht. Damit könnte man Strahlung, die mit einer der genannten Breite entsprechenden Winkelstreuung auf den Mehrschichtspiegel trifft, entgegenhalten, wodurch man auf diese Weise einen noch kleineren Winkelbereich als der genannte αmax selektieren und damit die Winkelauflösung des Geräts steigern kann.
  • Diese letztgenannte Möglichkeit würde jedoch beschränkt, wenn jeder reflektierende Punkt des Mehrschichtspiegels eine andere Größe der genannten Abbildung verursachen würde. In dem Fall ist die Auflösung nicht mehr gut definiert und diese wird dann in hohem Maße durch denjenigen Punkt bestimmt, der den größten Abstand von dem Brennpunkt hat. Für einen derartigen Punkt gilt ja, dass die Größe der Abbildung zu dem Abstand des betreffenden reflektierenden Gebietes von der Stelle der Abbildung proportional ist. Dadurch, dass der erste Kollimator nun derart eingerichtet ist, dass dieser von jedem reflektierenden Punkt des Mehrschichtspiegels aus nahezu das gleiche Winkelmaß für die Durchlaßbreite zeigt, zeigt auf diese Weise jeder Punkt einen gleichen Beitrag zu der Auflösung des Geräts.
  • Bei einer bevorzugten Ausführungsform des Geräts ist die von der reflektierenden Spiegeloberfläche aus gesehene Winkelgröße für die Durchlaßbreite des ersten Kollimators einstellbar. Diese Ausführungsform hat den Vorteil, dass nicht nur alle Gebiete des ganzen Mehrschichtspiegels die gleiche Auflösung ergeben, sondern auch, dass die Eigenschaften des Geräts an die Meßverhältnisse angepasst werden können oder dass der Kollimator an verschiedene Mehrschichtspiegel, die in dem Gerät angeordnet werden können, angepasst werden kann.
  • Bei einer anderen vorteilhaften Ausführungsform des Geräts wird der erste Kollimator durch zwei zueinander parallele Messerkanten gebildet, die gegenüber den reflektierenden Punkten des Mehrschichtspiegels verschiedene Abstände haben. Diese Ausführungsform lässt sich auf einfache Art und Weise herstellen und gewünschtenfalls leicht einstellbar machen.
  • Bei einer weiteren Ausführungsform des Geräts sind die Messerkanten des Kollimators gegenüber einander verlagerbar durch Verlagerung quer zu der Richtung des Strahlengangs durch den Kollimator. Auf diese Weise wird die Durchlaßbreite des Kollimators und damit die Auflösung des Geräts geregelt, ohne dass dadurch Abweichungen in der Größe des Winkels eingeführt werden, in dem der Kollimatorspalt von den jeweiligen Punkten der reflektierenden Oberfläche gesehen werden.
  • Bei einer anderen Ausführungsform des Geräts ist das Gerät mit einem zweiten, einstellbaren Kollimator versehen, der in dem Strahlengang zwischen dem Präparat und dem Detektor vorgesehen ist. Diese Maßnahme ist insbesondere von Bedeutung für diejenigen Situationen, in denen der Winkel zwischen dem auf das Präparat treffenden Bündel und dem von dem Präparat herrührenden Bündel einen geringen Wert hat. In solchen Fällen kann es leicht passieren, dass der Querschnitt des auf das Präparat treffenden Bündels größer wird als das Präparat. Die von dem Präparat herrührende Menge an Strahlungsenergie wird dann abhängig von dem Auftreffwinkel und der Form des Präparats, was für Intensitätsmessungen eine nur schwer korrigierbare Situation ergibt. Auch mit Hilfe der in diesen Geräten verwendeten Datenverarbeitungsprogramme lässt sich eine Korrektur nur schwer durchführen. An sich ist es bekannt, zum Korrigieren dieses Problems bei analytischen Röntgengeräten ein Bündelbegrenzungselement in dem auftreffenden Bündel vorzusehen, aber oft ist der dazu erforderliche Raum nicht verfügbar. Dadurch, dass dieser Kollimator nun in dem austretetenden Bündel vorgesehen und die Durchlaßbreite desselben an den Auftreffwinkel angepasst wird, kann immer dafür gesorgt werden, dass der Detektor einen definierten Teil des Präparats sieht, so dass ein auf diese Weise bekannter Korrekturfaktor für die Datenverarbeitungsprogramme erhalten wird.
  • Ausführungsbeispiele des Geräts sind in der Zeichnung dargestellt und werden im Folgenden näher beschrieben. Es zeigen:
  • 1 eine schematische Darstellung einer bekannten Anordnung zur Röntgenanalyse mit zwei parabelförmigen Mehrschichtspiegeln,
  • 2 eine schematische Darstellung einer Einzelheit einer Anordnung zur Röntgenanalyse nach der vorliegenden Erfindung,
  • 3 eine schematische Darstellung einer weiteren Ausführungsform der Vorrichtung.
  • 1 zeigt eine schematische Darstellung einer bekannten Anordnung zur Röntgenanalyse mit zwei parabelförmigen Mehrschichtspiegeln. Insbesondere eignet sich diese Anordnung für Röntgendiffraktion. Die Anordnung ist mit einer Röntgenquelle 2 zum Bestrahlen eines mit der Anordnung zu untersuchenden Präparats versehen. Damit die auf das Präparat 4 auftreffende Strahlung 6 möglichst parallel gemacht wird, ist in dem Strahlengang zwischen der Röntgenquelle und dem Präparat eine Anordnung vorgesehen um die Strahlen in dem Strahlenbündel parallel zu machen, in dem vorliegenden Beispiel ein Mehrschichtspiegel 8 zur Röntgenreflexion. Die reflektierende Oberfläche dieses Mehrschichtspiegels hat eine Parabelform, wie durch eine punktierte Linie 10 schematisch angegeben ist. Die auf der Oberfläche des Mehrschichtspiegels vorgesehenen Reflexionsschichten können eine langenabhängige Dicke haben, so dass ein sog. graduierter Mehrschichtspiegel entsteht. Die Graduierung ist dabei derart durchgeführt, dass bei Bestrahlung des Spiegels aus einer (zweidimensional betrachtet) punktförmigen Quelle (dreidimensional gesehen) eine linienförmige Quelle senkrecht zu der Zeichenebene in jedem Punkt des Mehrschichtspiegels der Braggschen Reflexionsbedingung erfüllt ist, mit der Folge, dass dadurch eine große reflektierende Oberfläche des Mehrschichtspiegels erhalten wird.
  • Nach Diffraktion der Röntgenstrahlung an dem Präparat 4 verlässt ein im Wesentlichen paralleles Bündel von Röntgenstrahlung 12 das Präparat. Durch Interaktion der Röntgenstrahlung mit dem Präparat oder der Umgebung können jedoch auch andere Richtungen als die vorwiegend parallele Richtung in dem von dem Präparat ausgehenden Bündel auftreten. Die Röntgenstrahlung mit diesen abweichenden Richtungen beeinträchtigt im Allgemeinen die Genauigkeit der Messung; man wird daher versuchen, diese abweichenden Strahlenrichtungen aus dem Bündel 12 zu entfernen. Dazu ist in dem Strahlengang zwischen dem Präparat 4 und einem Röntgendetektor 16 einweiterer Mehrschichtspiegel 14 zur Röntgenreflexion vorgesehen. Ebenso wie der Mehrschichtspiegel 8 ist der Mehrschichtspiegel 14 als graduierter Mehrschichtspiegel ausgebildet, wobei die Oberfläche eine Parabelform hat, wie dies durch die punktierte Linie 18 angegeben ist.
  • Durch die Parabelform der Mehrschichtspiegel 8 und 14 wird das von der Röntgenquelle 2 herrührende Röntgenbündel vor dem Präparat 4 in ein nahezu paralleles Bündel umgewandelt und nach dem Präparat wieder in ein fokussiertes Bündel umgewandelt, wobei der Fokussierpunkt in dem Brennpunkt 20 des Mehrschichtspiegels 14 liegt. An der Stelle dieses Brennpunktes ist ein Kollimatorspalt 22 vorgesehen.
  • 2 zeigt eine schematische Form einer Einzelheit einer Anordnung zur Röntgenanalyse nach der vorliegenden Erfindung. In dieser Figur ist mit Hilfe einer Anzahl Hilfslinien 24a, 24b, 26a und 26b dargestellt, wie aus jedem reflektierenden Punkt des Mehrschichtspiegels nahezu das gleiche Winkelmaß für die Durchlaßbreite des Kollimators 28 gesehen wird. (Der Deutlichkeit halber sei erwähnt, dass die genannten Hilfslinien keine Strahlen aus dem Röntgenbündel, herrührend von dem Mehrschichtspiegel 14 darstellen, sondern nur die Begrenzung des Winkels darstellen, in dem aus den Punkten A bzw. B die Winkelgröße der Durchlaßbreite des Kollimatorspaltes 28 gesehen wird). In dem Ausführungsbeispiel nach 2 hat der Kollimator die Form eines durch zwei Messerkanten gebildeten Kollimatorspaltes, wobei die Messerkanten gegenüber den reflektierenden Punkten des Mehrschichtspiegels verschiedene Abstände haben. Für den genannten Abstand kann man den Abstand des betreffenden reflektierenden Punktes (beispielsweise Punkt B) von der Mitte 32 der Durchlaßbreite des Kollimators 28 nehmen, wie beispielsweise durch die Länge des Linienabschnitts 30 angegeben. Durch eine richtige Wahl der genannten Differenz in den Abständen kann dann eine Situation erreicht werden, in der die Winkelgröße γ oder δ der Durchlaßbreite für die sich an der Reflexion beteiligenden Punkte der Oberfläche des Mehrschichtspiegels 14 nahezu konstant ist. (Der Deutlichkeit halber ist dieser reflektierende Teil der Oberfläche in 2 wesentlich größer dargestellt als einer praktischen Situation entspricht).
  • Der gewünschte Effekt einer Verbesserung der Auflösung wird nur dann erreicht, wenn die Winkelgröße (γ oder δ) der Durchlaßbreite des ersten Kollimators, von den reflektierenden Punkten des Mehrschichtspiegels aus gesehen, kleiner ist als der maximale Winkelbereich der Reflexion αmax Da bei in der Praxis verwendeten Mehrschichtspiegeln dieser Wert des maximalen Winkelbereichs in der Größenordnung von 0,05° liegt, dürfte es einleuchten, dass die in 2 angegebenen Winkel γ und δ viel zu groß wiedergegeben sind.
  • Auf in der Figur nicht dargestellte Art und Weise sind die Messerkanten. des Kollimators gegenüber einander in einer Richtung quer zu der Richtung des Strahlengangs durch den Kollimator verlagerbar. Dadurch wird die Durchlaßbreite des Kollimators, also die Auflösung des Geräts geregelt, ohne dass dadurch Abweichungen in der Größe des Winkels, in dem der Kollimatorspalt von den jeweiligen Punkten der reflektierenden Oberfläche gesehen wird, eingeführt werden.
  • 3 zeigt eine schematische Wiedergabe einer weiteren Ausführungsform des Geräts. In dieser Figur hat der Kollimator 28 ebenso wie in 2 die Form eines durch zwei Messerkanten gebildeten Kollimatorspaltes, wobei die Messerkanten gegenüber den reflektierenden Punkten des Mehrschichtspiegels unterschiedliche Abstände haben, so dass jeder reflektierende Punkt des Mehrschichtspiegels dieselbe Winkelgröße der Durchlaßbreite sieht. Zugleich ist das Gerät nach 3 mit einem zweiten Kollimator 34 versehen, der in dem Strahlengang zwischen dem Präparat 4 und dem Röntgendetektor 16 vorgesehen ist. Dieser zweite Kollimator 34 ist auf in der Figur nicht dargestellte Art und Weise dadurch einstellbar, dass die Messerkanten quer zu der Richtung des Strahlengangs durch den Kollimator gegenüber einander verlagerbar sind. Dadurch, dass die Durchlaßbreite an den Auftreffwinkel der Strahlung auf das Präparat angepasst wird, kann immer dafür gesorgt werden, dass der Detektor einen definierten Teil des Präparats sieht.

Claims (5)

  1. Gerät zur Röntgenanalyse eines Präparats (4), wobei diese Analyse mit den nachfolgenden Elementen durchgeführt wird: – einer Röntgenquelle (2) zum Bestrahlen des Präparats mit Röntgenstrahlung (6), – einem Röntgendetektor (16) zum Detektieren von dem Präparat herrührender Röntgenstrahlung (12), – einem in dem Strahlengang zwischen dem Präparat und dem Detektor angeordneten parabelförmigen Mehrschichtenspiegel (14) mit einem zugeordneten Bereich des Reflexionswinkels αmax, und – einem im Brennpunkt (20) des parabelförmigen Mehrschichtenspiegels angeordneten ersten Kollimator (22, 28), dadurch gekennzeichnet, – dass der erste Kollimator (22, 28) derart eingerichtet ist, dass dieser von jedem reflektierenden Punkt (A, B) des Mehrschichtenspiegels (14) nahezu die gleiche Winkelgröße (γ, δ) der Durchlaßbreite aufweist, und – dass die genannte Winkelgröße, von jedem reflektierenden Punkt des Mehrschichtenspiegels aus gesehen, kleiner ist als der maximale Winkelbereich der Reflexion αmax.
  2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die von der reflektierenden Spiegeloberfläche aus gesehene Winkelgröße für die Durchlaßbreite des ersten Kollimators (22, 28) einstellbar ist.
  3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Kollimator (22, 28) durch zwei zueinander parallele Messerkanten gebildet ist, die zu den reflektierenden Punkten (A, B) des Mehrschichtenspiegels verschiedene Abstände haben.
  4. Gerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Messerkanten des ersten Kollimators (22, 28) durch Verlagerung quer zu der Richtung des Strahlengangs durch den Kollimator gegeneinander verlagerbar sind.
  5. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, das ein zweiter einstellbarer Kollimator (34) in dem Strahlengang zwischen dem Präparat (4) und dem Detektor (16) angeordnet ist.
DE10125454A 2000-05-29 2001-05-25 Gerät zur Röntgenanalyse mit einem Mehrschichtspiegel und einem Ausgangskollimator Expired - Lifetime DE10125454B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP00201887 2000-05-29
EP00201887.7 2000-05-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10125454A1 DE10125454A1 (de) 2001-12-06
DE10125454B4 true DE10125454B4 (de) 2008-04-17

Family

ID=8171568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10125454A Expired - Lifetime DE10125454B4 (de) 2000-05-29 2001-05-25 Gerät zur Röntgenanalyse mit einem Mehrschichtspiegel und einem Ausgangskollimator

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6704390B2 (de)
JP (1) JP4868660B2 (de)
DE (1) DE10125454B4 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6917667B2 (en) * 2002-09-03 2005-07-12 Rigaku Corporation Method and apparatus for making parallel X-ray beam and X-ray diffraction apparatus
CN1864062B (zh) * 2003-08-04 2011-11-02 X射线光学系统公司 使用在固定角位置的源和检测器的原位x射线衍射系统
US7085355B1 (en) * 2005-05-10 2006-08-01 General Electric Company Systems, methods, and apparatus of a collimator
JP4278108B2 (ja) * 2006-07-07 2009-06-10 株式会社リガク 超小角x線散乱測定装置
US7470907B2 (en) * 2006-12-15 2008-12-30 General Electric Company Cross-slit collimator method and system
JP5081556B2 (ja) * 2007-09-28 2012-11-28 株式会社リガク デバイシェラー光学系を備えたx線回折測定装置とそのためのx線回折測定方法
US7889845B2 (en) * 2007-12-20 2011-02-15 Morpho Detection, Inc. Secondary collimator and method of assembling the same
ATE545858T1 (de) * 2007-12-31 2012-03-15 Xenocs S A Röntgenstrahlvorrichtung
JP6025211B2 (ja) * 2013-11-28 2016-11-16 株式会社リガク X線トポグラフィ装置
EP3987279B1 (de) * 2019-06-24 2023-11-08 SMS Group GmbH Vorrichtung und verfahren zum bestimmen der werkstoffeigenschaften eines polykristallinen produkts

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1986003005A1 (en) * 1984-11-17 1986-05-22 Erno Raumfahrttechnik Gmbh Method for the non destructive testing of parts of non homogeneous material
DE4417307A1 (de) * 1994-05-18 1995-11-23 Geesthacht Gkss Forschung Anordnung zur Bestimmung von Elementen und deren Konzentration in Objekten nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse
DE19931298A1 (de) * 1998-07-16 2000-02-17 Koninkl Philips Electronics Nv Verfahren und Gerät zur Analyse dünner Schichten mit Röntgenfluoreszenz
DE19833524A1 (de) * 1998-07-25 2000-02-24 Bruker Axs Analytical X Ray Sy Röntgen-Analysegerät mit Gradienten-Vielfachschicht-Spiegel

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3221619B2 (ja) * 1992-04-20 2001-10-22 株式会社マック・サイエンス X線回折装置
DE69728258T2 (de) * 1996-12-20 2004-12-30 Panalytical B.V. Röntgenstrahlspektrometer mit kristallanalysator mit teilweise konstantem und ilweise variablem krümmungsradius

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1986003005A1 (en) * 1984-11-17 1986-05-22 Erno Raumfahrttechnik Gmbh Method for the non destructive testing of parts of non homogeneous material
DE4417307A1 (de) * 1994-05-18 1995-11-23 Geesthacht Gkss Forschung Anordnung zur Bestimmung von Elementen und deren Konzentration in Objekten nach der Methode der Röntgenfluoreszenzanalyse
DE19931298A1 (de) * 1998-07-16 2000-02-17 Koninkl Philips Electronics Nv Verfahren und Gerät zur Analyse dünner Schichten mit Röntgenfluoreszenz
DE19833524A1 (de) * 1998-07-25 2000-02-24 Bruker Axs Analytical X Ray Sy Röntgen-Analysegerät mit Gradienten-Vielfachschicht-Spiegel

Also Published As

Publication number Publication date
US6704390B2 (en) 2004-03-09
US20020003859A1 (en) 2002-01-10
JP2002022681A (ja) 2002-01-23
DE10125454A1 (de) 2001-12-06
JP4868660B2 (ja) 2012-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0311177B1 (de) Anordnung zur Untersuchung eines Körpers mit einer Strahlenquelle
DE3913228C2 (de) Spektroskopiesystem diffuser Reflexion und Verfahren zum Erhalten eines diffusen Reflexionsspektrums
EP2793056B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der energetischen Zusammensetzung von elektromagnetischen Wellen
EP0462658A2 (de) Anordnung zum Messen des Impulsübertragsspektrums von Röntgenquanten
EP1647840B1 (de) Röntgen- oder neutronenoptisches Analysegerät mit variabel ausgeleuchtetem Streifendetektor
DE10125454B4 (de) Gerät zur Röntgenanalyse mit einem Mehrschichtspiegel und einem Ausgangskollimator
DE3304780C2 (de)
DE2714397A1 (de) Verfahren und vorrichtung fuer messungen an duennen filmen mit spiegelnden oberflaechen unter verwendung von infrarotstrahlung
DE3147689A1 (de) Zusatzgeraet zur durchfuehrung von reflexionsmessungen mit einem ir-spektrometer
DE2748501C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erstellung von Texturtopogrammen
DE1497525A1 (de) Vertikale Multireflexionszelle mit zurueckkehrendem Buendel fuer Spektroskopie mittels innerer Reflexion
DE2912210C2 (de) Szintillatoranordnung mit einem Szintillatorkörper von trapezförmigem Querschnitt
DE10035917B4 (de) Gerät zur Strahlungsanalyse mit variablem Kollimator sowie variabler Kollimator
DE1473380A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung der Spannungen in Koerpern aus durchsichtigem Werkstoff,z.B. aus Glas
WO2006063849A1 (de) Anordnung zum messen des impulsübertragungsspektrums von elastisch gestreuten röntgenquanten
EP1100092B1 (de) Vorrichtung zur Führung von Röntgenstrahlen
DE10031636B4 (de) Spektrometer
EP3136401A1 (de) Vorrichtung zur korrektur des längsfehlers der chromatischen aberration von strahlung massebehafteter teilchen
EP0418587A2 (de) Gerät zur Messung der Strahlendosis eines Fluoreszenzglasdosimeters
DE19603000A1 (de) Verfahren zum Kalibrieren einer Anordnung zur Ermittlung des Impulsübertragsspektrums und Kalibriereinheit zur Durchführung des Verfahrens
DE4137673C2 (de) Röntgenreflektometer
DE4430615C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur abbildenden Pulverdiffraktometrie
EP0201507A1 (de) Verfahren zum zerstörungsfreien prüfen von bauteilen inhomogener werkstoffe
DE2003753A1 (de) Blendenanordnung zur Begrenzung eines Roentgenstrahlenbuendels
DE3213533A1 (de) Infrarot-spektrometer

Legal Events

Date Code Title Description
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: PANALYTICAL B.V., ALMELO, NL

8110 Request for examination paragraph 44
8364 No opposition during term of opposition
R071 Expiry of right