DE4205349C2 - Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung - Google Patents
Vakuum-BearbeitungsvorrichtungInfo
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- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 claims description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 14
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000036316 preload Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 210000003608 fece Anatomy 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009489 vacuum treatment Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32082—Radio frequency generated discharge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/02—Details
- H01J2237/022—Avoiding or removing foreign or contaminating particles, debris or deposits on sample or tube
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vakuum-Bearbeitungs
vorrichtung und insbesondere auf eine derartige Bearbei
tungsvorrichtung, die in Halbleiter-Fertigungsprozessen,
wie einem Trockenätzen, einer chemischen Dampfabscheidung,
einer Aufspritz- oder Zerstäubungstechnik u. dgl. zur Anwen
dung kommt, um ein Objekt zu behandeln, das auf einen Ob
jekttisch gepreßt wird.
Zur besseren Verständlichkeit der Erfindung ist in Fig. 2 eine interne Studie für eine
Trockenätzvorrichtung als eine Vakuum-Bearbei
tungsvorrichtung dargestellt. Eine Reaktionskammer 1 der Trockenätzvor
richtung ist ein luftdichter Behälter, der mit einem Gaszu
fuhrkanal 2 sowie einer Gasabfuhröffnung 3 ausgestattet
ist. Eine obere Elektrode 4 sowie ein Objekttisch 5, der
als eine untere Elektrode dient, sind in einem oberen bzw.
unteren Teil der Reaktionskammer 1 angeordnet. Diese Elek
troden sind elektrisch in Reihe derart geschaltet, daß ein
Hochfrequenzgenerator 6 und ein Kopplungskondensator 7 zwi
schen die Elektroden eingefügt sind. Ein Objekt 8, d. h.
ein Halbleiterplättchen (Wafer), befindet sich auf der Ober
fläche des Objekttisches 5, wobei die Außenseite des Ob
jekts von einem Klemmring 9 und Klemmringstiften 10, welche
dem Klemmring eine Auf- und Abbewegung vermitteln können,
umgeben ist. Außenseitig des Klemmtisches 5 ist eine Klemm
ring-Antriebseinheit 11 angeordnet, die die Klemmringstifte
10 betätigt. Eine nähere Erläuterung des Mechanismus der
Klemmring-Antriebseinheit 11 kann entfallen, da sich das
nicht direkt auf die Erfindung bezieht.
Bei der herkömmlichen Trockenätzvorrichtung mit dem vorste
hend beschriebenen Aufbau wird zuerst das Objekt 8 auf den
Objekttisch 5 aufgebracht, während sich der Klemmring 9
in einer angehobenen Position befindet. Die Klemmringstifte
10 werden durch die Antriebseinheit 11 nach unten bewegt,
hierbei kommt der Klemmring 9, der an den Stiften 10 gehal
ten ist, mit dem Außenumfang des Objekts 8 in Berührung.
Mit einem gewünschten Druck, der durch die Kraft der Klemm
ring-Antriebseinheit 11 geregelt wird, wird das Objekt 8
auf dem Objekttisch 5 festgehalten. In die Reaktionskammer
1 wird durch den Gaszufuhrkanal 2 ein reaktionsfähiges Gas
eingeleitet, und eine angemessene Gasmenge wird von der
Gasabfuhröffnung 3 abgezogen, so daß im lnneren der Reak
tionskammer 1 ein vorbestimmter Druck aufrechterhalten wird.
Durch den Hochfrequenzgenerator 6 wird eine Hochfrequenz
spannung zwischen dem Objekttisch 5, der eine untere Elek
trode bildet, und der oberen Elektrode 4 aufgebracht. Das
Anpassen einer lmpedanz wird durch den Kopplungskondensator
7 bewirkt, so daß Plasma des reaktionsfähigen Gases in der
Reaktionskammer 1 erzeugt und die Oberfläche des Objekts
8 geätzt wird. Dabei wird die Rückseite des Objekts 8 fest
durch den Druck des Klemmrings 9 auf die Oberfläche des
Objekttisches 5 gepreßt. Ein Thermokontakt-Gütegrad zwischen
dem Objekt 8 und dem Objekttisch 5 ist hoch, und die durch
das Plasma erhöhte Wärme des Objekts 8 wird in den Objekt
tisch 5 hinein absorbiert. Wenn durch eine Bedienungsperson
die Temperatur des Objekts 8 erforderlichenfalls höher oder
niedriger als Raumtemperatur einzustellen ist, so wird die
Temperatur des Objekttisches 5 auf einen gewünschten Wert
zuvor eingestellt, so daß die Temperatur des Objekts 8 auf
einen gewünschten Wert in einer kurzen Zeit wegen des Ther
mokontakt-Gütegrades verändert werden kann.
In der Trockenätzvorrichtung wird die Oberfläche eines Ob
jekts, wie einem Siliziumwafer, durch das in der Reaktions
kammer 1 erzeugte Plasma des reaktionsfähigen Gases geätzt,
wobei sich die Temperatur des Objekts 8 während des Prozes
ses wegen der Wärme von dem Plasma erhöht. Insofern besteht
bei der Trockenätzvorrichtung ein fundamentales Problem
darin, daß sich verschiedene Kennwerte, wie der Ätzgrad,
die Gleichförmigkeit des Ätzgrades an der Oberfläche des
Halbleiterwafers und die verschiedenen Ätzgrade in Überein
stimmung mit Materialunterschieden einer geätzten Folie,
mit einem Anstieg in der Temperatur des Objekts 8 verändern.
Überlegene Kennwerte oder Eigenschaften können festgestellt
werden, wenn das Objekt 8 auf eine optimale Temperatur,
die höher oder niedriger als die Raumtemperatur ist, einge
stellt wird. Wie oben erläutert wurde, ist die Temperaturre
gelung oder -kontrolle des Objekts 8 ein sehr bedeutendes,
schwerwiegendes Problem, und es wurden Bemühungen unternom
men, die Temperatur des Objekts 8 durch Kontrolle der Dich
te oder Festigkeit der Kontaktberührung zwischen dem Ob
jekt 8 sowie dem Objekttisch 5 zu regeln.
Bei der oben beschriebenen Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung
wird das Objekt 8, um dessen Temperatur zu regeln, d. h.
um dem Objekt 8 dieselbe Temperatur wie dem Objekttisch
5 zu vermitteln, auf den Objekttisch 5 unter Verwendung
eines Mechanismus gepreßt, wobei die Klemmringstifte 10
durch die Antriebseinheit 11 auf- und abbewegt werden.
Insofern ist der Aufbau der Bauteile, wie der Klemmring
stifte 10 und der Bohrungen, durch die sich diese Stifte
ziehen, kompliziert, und weil sehr viele Flächen hierbei
mechanisch miteinander in Berührung sind, wird die Menge
an erzeugtem Staub vergrößert. Das stellt ein Problem von
Vorrichtungen zur Halbleiterfertigung dar. Eine derartige
Stauberzeugung muß für zukünftige Vorrichtungen zur Herstel
lung von Halbleiterteilen, die eine erhöhte Präzision erfor
dern, ausreichend und wirksam unterdrückt bzw. kontrolliert
werden.
Aus der US
4,306,731 ist nunmehr eine Vakuum-
Bearbeitungsvorrichtung dieser Gattung bekannt.
Gemäß dieser Druckschrift wird ein
Halbleiterplättchen (Waver) mittels vier Blattfedern auf
einen Objekttisch gespannt, deren Federkräfte im
Randbereich des Halbleiterplättchens angreifen. Der
Anpreßdruck auf den Objekttisch wird dabei durch die
Vorspannkraft der Blattfedern bestimmt. Um ein Abnehmen des
Halbleiterplättchens zu ermöglichen, sind vier pneumatische
Stellvorrichtungen vorgesehen, welche die Blattfedern
entgegen ihrer Vorspannkraft verbiegen und somit vom
Halbleiterplättchen abheben. Dabei wird jedoch der
Rückhaltering nicht verschoben.
Dieser
Stand der Technik verwendet demnach eine Vielzahl von
technischen Bauteilen sowie einen pneumatischen
Verstellmechanismus, um ein Festlegen des
Halbleiterplättchens auf dem Objekttisch zu ermöglichen.
Aus der US 3,625,848 ist es gemäß der
darin enthaltenen Fig. 4 ferner
für sich bekannt, durch das Vorsehen eines
Elektromagneten sowie eines Permanentmagneten eine
Elektrode außer Kontakt mit einer Kathode zu bringen, um so
einen Energiestrahl zu erzeugen.
Schließlich zeigt die DE-OS 34 41 470 A1 eine
Spannvorrichtung zum Festlegen eines zu ätzenden
Halbleiterwafers, der mittels eines Klemmrings
vorzugsweise aus einem Isolationsmaterial an der
Spannvorrichtung gehalten ist. Insofern entspricht dieser
Stand der Technik hinsichtlich der Befestigungsweise des
Halbleiterwafers der in Fig. 2 dargestellten Vakuum-
Bearbeitungsvorrichtung.
Der Erfindung liegt insofern die Aufgabe zugrunde, eine
Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung derart weiterzuentwickeln,
daß ein Klemmechanismus vereinfacht wird, die Wartung der
Vorrichtung ohne Schwierigkeiten durchgeführt werden kann
und die Flächen, die mechanisch miteinander in Berührung
sind, soweit wie möglich vermindert werden, um weniger
Staub dadurch zu erzeugen.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung gelöst, indem
ein verschiebbarer Klemmring in Form eines
Permanentmagneten vorgesehen ist, der mittels einem im
Objekttisch untergebrachten Elektromagneten angezogen
beziehungsweise abgestoßen wird und dabei das
Halbleiterplättchen am Objekttisch fixiert werden kann. Mit
dieser Ausführung verringert sich nicht nur die Anzahl der
einzelnen Bauelemente und die damit unmittelbar verbundene
Staubentwicklung, sondern es wird durch dieses technische
Merkmal die Voraussetzung für jene erfindungsgemäße
Weiterentwicklung des Anmeldungsgegenstandes geschaffen,
die Temperatur im Halbleiterplättchen über die Einstellung
der Stromstärke im Elektromagneten durch den Anpreßdruck
des Permanentmagneten zu steuern. Ein derartiger Vorteil
ist mit den Ausführungsformen gemäß dem Stand der Technik
nicht erzielbar.
Die Erfindung wird anhand eines bevorzugten Ausführungsbeispiels
mit Bezug auf die Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine schematische lotrechte Schnittdarstellung einer
Trockenätzvorrichtung in einer erfindungsgemäßen
Ausführungsform;
Fig. 2 eine zu Fig. 1 gleichartige Schnittdarstellung einer
herkömmlichen Trockenätzvorrichtung, die bereits
eingangs besprochen wurde.
In den beiden Figuren bezeichnen gleiche Bezugszahlen durch
wegs gleiche oder gleichartige Teile.
Gemäß Fig. 1 ist in den Klemmring 9A ein Permanentmagnet
9B eingebettet, der so angeordnet ist, daß seine obere Flä
che als Nordpol und seine untere Fläche als Südpol dient.
In den Objekttisch 5 ist ein Elektromagnet 12 eingeglie
dert, dessen Spule konzentrisch zum Objekttisch liegt und
dessen Polorientierung verändert werden kann. Das bedeu
tet, daß die obere Fläche des Elektromagneten 12 zum Nord
pol sowie die untere Fläche dieses Magneten 12 zum Südpol
oder umgekehrt verändert werden kann. Auch kann die magne
tische Kraft des Elektromagneten 12 nach Wahl festgesetzt
werden, indem die durch die Spule geführte Strommenge ge
regelt wird.
Bei der erfindungsgemäßen Trockenätzvorrichtung mit dem
beschriebenen Aufbau wird zuerst das Objekt präzis im Zen
trum des Objekttisches 5 angeordnet. Der der Magnetspule
zugeführte Strom wird so geregelt, daß der obere Teil des
in den Objekttisch 5 eingegliederten oder eingebetteten
Elektromagneten 12 als Südpol arbeitet. Auf diese Weise
wird durch die abstoßende Kraft zwischen den Magneten 12
und 9B der Klemmring 9A in eine schwebende Position ange
hoben. Nachdem die magnetische Kraft des Elektromagneten
12 allmählich auf Null zurückgeführt ist, wird die der Spule
zugeführte Strommenge allmählich erhöht, so daß die obere
Fläche des Elektromagneten 12 als der Nordpol dient, wo
mit ein Zustand aufrechterhalten wird, in welchem die Spule
die gewünschte Magnetkraft erlangt. Dann wird das Objekt
8 zwischen den Klemmring 9A sowie den Objekttisch 5 mit
dem gewünschten Druck, der durch die Anziehung der beiden
Magneten erzeugt wird, eingebracht.
Wenn die Temperatur des Objekttisches 5 zur Raumtemperatur
unterschiedlich ist, so wird der Beginn des Ätzvorgangs
hinausgezögert, bis die Temperatur des Objekts 8 gleich
der Temperatur des Objekttisches 5 wird. Auf diese Weise
kann die Temperatur des Objekts 8 konstant und präzis auf
die Temperatur des Objekttisches 5 ohne einen Temperatur
unterschied zwischen diesen eingeregelt werden. Wenn das
Objekt 8 eine hohe Temperatur hält, dann kann das Objekt
8 mit einem geringen Druck auf den Objekttisch 5 gepreßt
werden. Hält das Objekt 8 eine niedrige Temperatur, so wird
es auf den Objekttisch 5 mit festem Druck gepreßt, so daß
die Wärme des Objekts 8 in ausreichender Weise zum Tisch
5 freigegeben werden kann. Das Objekt 8 kann auf der ge
wünschten Temperatur durch Regelung des Drucks gehalten
werden.
Ein reaktionsfähiges Gas, wie z. B. Cl2 und SF6, wird in
die Reaktionskammer 1 durch den Gaszufuhrkanal 2 eingeleitet,
und von der Gasabfuhröffnung 3 wird Gas abgezogen. Eine
durch den Hochfrequenzgenerator 6 sowie den Kopplungskonden
sator 7 geregelte Hochfrequenzspannung wird zwischen der
oberen Elektrode 4 und dem als untere Elektrode wirkenden
Objekttisch 5 angelegt. Das Plasma des reaktionsfähigen
Gases wird erzeugt, so daß ein Trockenätzen an einer Flä
che des Objekts 8, wie einem Polysiliziumfilm, durchgeführt
wird. Schließlich wird das Objekt 8 aus der Reaktionskammer
1 in zu seinem Einbringen umgekehrter Weise entnommen, wo
mit der gesamte Vorgang beendet ist.
Wenn der Permanentmagnet 9B und der Elektromagnet 12 mit
zur obigen Beschreibung umgekehrter Polarität betrieben
werden, kann dieselbe Wirkung erlangt werden. Der Elektro
magnet 12 ist innenseitig des Objekttisches 5 angeordnet,
er kann jedoch auch beispielsweise an dessen Peripherie
angebracht sein.
Vorstehend wurde ein Beispiel für eine Trockenätzvorrichtung
gemäß der Erfindung beschrieben. Der Erfindungsgegenstand
kann jedoch in gleichartiger Weise auf eine Vakuum-Behand
lungsvorrichtung Anwendung finden, wie eine mit chemischer
Dampfabscheidung oder mit einer Aufstäubungstechnik arbei
tende oder ähnliche Vorrichtung, in welcher ein Objekt bear
beitet wird, indem es auf einen Objekttisch gepreßt wird.
Durch die Erfindung können die Menge an erzeugtem Staub
und der Mechanismus, um das Objekt ein- sowie auszubringen,
ohne Schwierigkeiten ohne jegliche Stifte zur sicheren La
gerung des Klemmringes konstruiert werden. Die Erfindung
ist für eine präzise Regelung der Temperatur des Objekts
und für ein Aufrechterhalten der vorbestimmten Temperatur,
indem der Druck des Klemmrings geregelt wird, wirksam.
Erfindungsgemäß kommt bei einer Vakuum-Bearbeitungsvorrich
tung eine magnetisch betriebene Klemmeinrichtung zur Anwen
dung, die mit den abstoßenden und anziehenden Kräften zwi
schen Magneten arbeitet. Der Klemmechanismus für ein Objekt
wird vereinfacht, die Wartung der Vorrichtung kann ohne
Schwierigkeiten durchgeführt werden, und die Flächen, die
mechanisch miteinander in Berührung sind, werden soweit
wie möglich vermindert, so daß eine Vakuum-Bearbeitungs
vorrichtung erlangt werden kann, in welcher weniger Staub
erzeugt wird.
Claims (6)
1. Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung, die umfaßt:
- - einen Vakuumbehälter (1),
- - einen in dem Vakuumbehälter angeordneten Objekttisch (5), auf dem ein Objekt (8) angeordnet ist,
- - einen Klemmring (9A), in den ein Permanentmagnet (9B) eingebettet ist und der das auf dem Objekttisch befindli che Objekt einem Preßdruck unterwirft, und
- - einen konzentrisch zum Objekttisch angeordneten Elektromagneten (12) mit veränderbarer Polorientierung, der eine magnetische Kraft erzeugt, um den Klemmring (9A) rechtwinklig mit Bezug zum Objekttisch (5) anzuheben oder um den Klemmring gegen das Objekt und damit das Objekt gegen den Objekttisch zu pressen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Vakuumbehälter (1) mit einem Gaszufuhrkanal
(2) zur Einführung eines reaktionsfähigen Gases sowie
mit einer Gasabfuhröffnung (3) zur Abführung von Gas
aus dem Vakuumbehälter ausgestattet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Elektromagnet (12) außenseitig des
Objekttisches (5) angeordnet ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung
eine Trockenätzvorrichtung ist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung
eine chemische Dampfabscheidevorrichtung ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung
eine solche zur Durchführung einer Zerstäubungstechnik
ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3133905A JPH04358071A (ja) | 1991-06-05 | 1991-06-05 | 真空処理装置 |
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Family
ID=15115845
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4205349A Expired - Fee Related DE4205349C2 (de) | 1991-06-05 | 1992-02-21 | Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5203981A (de) |
JP (1) | JPH04358071A (de) |
DE (1) | DE4205349C2 (de) |
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1991
- 1991-06-05 JP JP3133905A patent/JPH04358071A/ja active Pending
-
1992
- 1992-02-14 US US07/835,331 patent/US5203981A/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-02-21 DE DE4205349A patent/DE4205349C2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5203981A (en) | 1993-04-20 |
DE4205349A1 (de) | 1992-12-10 |
JPH04358071A (ja) | 1992-12-11 |
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