DE4115704A1 - Verfahren zum messen von glanzprofilen - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen eines Glanz
profils der Oberfläche von solchen Materialien wie Papier,
Kunstharzfilmen, Metallen und dergleichen.
Verschiedene Materialien haben einen Glanz, und in den mei
sten Fällen ist es wünschenswert, daß der Glanz gleichförmig
ist. Das Glanzprofil kann, in Abhängigkeit von seinem Grad,
den Wert des jeweiligen Produkts beeinträchtigen.
Beim Papier zum Beispiel wird die sichtbare Gleichmäßigkeit
seiner Oberfläche als "Blattaussehen" oder "Aussehen des
Blatts" bezeichnet, welches ein sehr wichtiger Faktor für
die Beurteilung der Papierqualität ist. Das Aussehen des
Blatts wird im wesentlichen von der Gleichförmigkeit der
Weiße und des Glanzes der Papieroberfläche und der Papier
dicke her beurteilt. Wenn in diesen Faktoren oder Parametern
irgendwelche Ungleichmäßigkeiten vorhanden sind, wird das
Papier dahingehend beurteilt, daß das Aussehen des Blatts
geringwertig ist. Die Gründe für Oberflächenungleichmäßig
keiten von Papier umfassen Schwankungen in dem Grundgewicht
und in der Dicke, die während des Papierherstellungsprozes
ses auftreten und zu einem geringwertigen Aussehen des
Blatts führen. Bei beschichtetem Papier, das auf der Ober
fläche mit Pigmenten beschichtet ist, besteht der Grund für
die Beschichtung darin, die Oberflächenglatt- und/oder
-ebenheit, den Oberflächenweißgrad und die Opazität, insbe
sondere der Oberfläche, zu verbessern. Daher bedeutet ein
ungleichförmiges Glanzprofil einen mangelhaften Beschich
tungsvorgang und/oder eine mangelhafte Beschichtungswirkung,
der bzw. die ein mangelhaftes Produkt zur Folge hat. Insbe
sondere steht eine sogenannte "Orangenschale", eine feine
Ungleichmäßigkeit, die in einer beschichteten Oberfläche
auftritt, in hohem Maße in Beziehung mit dem Glanzprofil.
Unter diesen Umständen hat das Vorhandensein und der Grad
des Glanzprofils bei beschichtetem Papier eine große Bedeu
tung bei der Prozeßsteuerung und/oder -kontrolle der Her
stellung von beschichtetem Papier. Jedoch wird das Glanzpro
fil in der aktuellen Prozeßsteuerung und/oder -kontrolle
nicht direkt beurteilt, sondern der Schwerpunkt oder die
Betonung der Beurteilung wird mehr auf das Aussehen des
Blatts gelegt. Jedoch hängt die Beurteilung in hohem Maße
von den subjektiven, weniger übereinstimmenden Beurteilungs
kriterien der inspizierenden Person ab. Daher wird ein ob
jektiveres und exakteres Beurteilungsverfahren gefordert.
Bisher wird ein Oberflächenrauhigkeitstester in einem Ver
fahren zum Messen der Oberflächenrauhigkeit mittels eines
körperlichen Kontakts verwendet. Dieses Verfahren ist zwar
zur Messung der Rauhigkeit im Mikron-Niveau effektiv, jedoch
für das Messen von Glanzprofilen relativ ungeeignet, da
feine Oberflächenunregelmäßigkeiten eine kleinere regelmä
ßige Teilung haben als diejenigen, die als Glanzprofil mit
tels des menschlichen Auges detektierbar sind. Daher hat
dieses Verfahren keine direkte Verbindung mit dem Glanzpro
fil.
Weiterhin ist in der japanischen Patentveröffentlichung Nr.
1-24 256 eine dreidimensional arbeitende optische Einrichtung
bekannt, die eine Lichtquelle und einen Lichtempfänger um
faßt und in der Lage ist, den Einfallswinkel und den Refle
xionswinkel der Probe zu variieren. Diese Einrichtung wird
dazu benutzt, den Farbton aus der Brillanz und der Hellig
keit einer metallischen Beschichtung zu messen.
Da das Glanzprofil ein Fluktuations- oder Variationszustand
des Glanzes ist, kann es als eine Verteilung des Glanzes be
stimmt werden. Daher ist es möglich, das Glanzprofil unter
Verwendung der oben beschriebenen dreidimensional arbeiten
den optischen Einrichtung zu messen. Jedoch ist diese opti
sche Einrichtung, da sie eine Wolframlampe als Lichtquelle
verwendet, deren Licht zum Erhalten von weißem Licht gefil
tert wird, zwar dazu geeignet, den Farbton zu messen, aber
sie ist nicht immer dazu geeignet, das Glanzprofil zu mes
sen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher insbeson
dere, unter Überwindung der obigen Mängel des Standes der
Technik ein Verfahren zum Messen des Glanzprofils einer Pro
benoberfläche zur Verfügung zu stellen, und vorzugsweise
soll mit der vorliegenden Erfindung ein einfaches Verfahren
zum schnellen und genauen Messen des Blattaussehens von be
schichtetem Papier zur Verfügung gestellt werden.
Im Rahmen der Untersuchungen, welche zu der vorliegenden Er
findung geführt haben, wurden von den Erfindern eine Licht
quelle und eine Wellenlänge gefunden, die am geeignetsten
zum Messen des Glanzprofils sind. Als Ergebnis dieser Unter
suchungen wurde nämlich gefunden, daß monochromatisches Ul
traviolettlicht, insbesondere Ultraviolettlicht in der Nähe
und/oder im Bereich von 220 nm Wellenlänge, das eine Fleck
größe von 0,1 bis 3,0 mm hat, vorzugsweise von 0,1 bis 1,0 mm,
in überraschender Weise am meisten und mit hohem Vorteil
für die Messung von Glanzprofilen geeignet ist.
Infolgedessen wird gemäß der vorliegenden Erfindung in einer
ersten bevorzugten Ausführungsform, die auf den obigen Ent
deckungen basiert, ein Verfahren zum Messen eines Glanzpro
fils zur Verfügung gestellt, das die folgenden Verfahrens
schritte umfaßt: Anwenden, insbesondere Projizieren, Auf
strahlen o. dgl., eines Flecks von monochromatischem Ultra
violettlicht auf die Oberfläche einer zu messenden Probe,
reguläres, insbesondere regelmäßiges, Bewegen des Flecks auf
der Oberfläche eines vorbestimmten Bereichs oder einer
vorbestimmten Fläche der Probe, photoelektrisches Umwandeln
des von jedem Fleck, insbesondere von dem Fleck an aufeinan
derfolgenden Orten, reflektierten Lichts, und Vergleichen
des Reflexionsvermögens, insbesondere des Reflexionsfaktors
und/oder der Reflexionsstärke, von individuellen Flecken zum
Bestimmen der Gleichförmigkeit des Glanzes.
In einer zweiten bevorzugten Ausführungsform, zusätzlich zu
der ersten Ausführungsform, zeichnet sich die vorliegende
Erfindung weiter dadurch aus, daß der Fleck von monochroma
tischem Ultraviolettlicht ein polygonaler Fleck von 0,1 bis
3,0 mm an der längsten Seite ist, oder ein kreisförmiger
oder elliptischer Fleck, der einen größten Durchmesser im
Bereich von 0,1 bis 3,0 mm hat.
In einer dritten Ausführungsform, zusätzlich zu der ersten
und/oder zweiten Ausführungsform, zeichnet sich die vorlie
gende Erfindung weiterhin dadurch aus, daß die Wellenlänge
des monochromatischen Lichts 210 bis 230 nm beträgt oder im
Bereich von 210 bis 230 nm liegt.
In dem Verfahren nach der vorliegenden Erfindung ist es not
wendig, daß der Einfallswinkel und der Reflexionswinkel mit
Bezug auf die Probenoberfläche einander gleich sind. Ein
Winkel von 75° kann im weitesten Umfang für das Messen des
Glanzes von Papier verwendet werden, welcher am geeignetsten
für diesen Zweck ist. Jedoch ist der Winkel nicht hierauf
beschränkt, vielmehr können grundsätzlich alle anderen Win
kel verwendet werden, zum Beispiel 60°, 45°, 30°, usw.
Da der Glanz ein Problem ist, das bei sichtbarem Licht vor
handen ist, benutzen die Glanzmeßgeräte nach dem Stande der
Technik im Hinblick hierauf sichtbares Licht mit Wellenlän
gen von 400 bis 800 nm, und es wird weißes sichtbares Licht
verwendet. Im Gegensatz hierzu wird gemäß der vorliegenden
Erfindung monochromatisches ultraviolettes Licht verwendet.
Die Fig. 1 ist ein Diagramm, in dem Korrelationskoeffizien
ten aufgetragen sind, und dieses Diagramm zeigt die Bezie
hung zwischen einem Signalwert, der einem Strom proportional
ist, welcher durch photoelektrische Umwandlung von reflek
tiertem Licht von 10 Proben beschichteten Papiers erhalten
worden ist, und zwar bei Beleuchtung mit monochromatischem
Licht unterschiedlicher Wellenlängen in einem Bereich, der
sich vom sichtbaren Licht bis zu Ultraviolettlicht er
streckt, und gemessen mittels des Verfahrens gemäß der vor
liegenden Erfindung einerseits, sowie des Glanzes, wie er
mit einem Glanzmeßinstrument gemäß JIS P-8 142 (Japanische
Industrienorm) gemessen worden ist.
Aus Fig. 1 ist deutlich zu ersehen, daß die Korrelation bei
Ultraviolettlicht höher als bei sichtbarem Licht ist, und
daß Ultraviolettlicht in einem Wellenlängenbereich von 210
bis 230 nm am meisten zu bevorzugen ist. Daher ist zur ge
nauen und schnellen Messung des Glanzprofils Ultraviolett
licht nach den Entdeckungen der vorliegenden Erfindung ge
genüber sichtbarem Licht bei weitem zu bevorzugen, welches
Glanzprofil das Verhalten des Glanzes auf der Oberfläche der
Probe zeigt.
Weiterhin kann eine genaue Messung besonders gut dadurch er
zielt werden, daß man einen polygonalen Fleck von monochro
matischem Ultraviolettlicht benutzt, dessen längste Seite
0,1 bis 3,0 mm beträgt, oder einen kreisförmigen oder ellip
tischen Fleck, der einen größten Durchmesser von 0,1 bis 3,0 mm
hat. Das stimmt gut mit der Tatsache überein, daß sich
die visuelle Bestimmung hauptsächlich auf feine Unregelmä
ßigkeiten von weniger als 3 mm Abmessung bezieht.
Die vorstehenden sowie weitere Vorteile und Merkmale der Er
findung seien nachfolgend anhand einiger besonders bevorzug
ter Ausführungsformen des Verfahrens nach der Erfindung
unter Bezugnahme auf die Figuren der Zeichnung näher be
schrieben und erläutert; es zeigen:
Fig. 1 ein Diagramm, in dem die Korrelationskoef
fizienten aufgetragen sind, welche die Beziehung zwischen
einem Signalwert und einem Glanzwert zeigen, wobei der
Signalwert proportional einem Strom ist, welcher durch pho
toelektrische Umwandlung des reflektierten Lichts von 10
Proben von beschichtetem Papier erhalten wurde, wobei das
aufgestrahlte Licht monochromatisches Licht unterschiedli
cher Wellenlängen im Bereich von sichtbarem Licht bis zu ul
traviolettem Licht war, und wobei die Messung gemäß dem Ver
fahren nach der vorliegenden Erfindung erfolgte, während der
Glanzwert jeweils mittels eines Glanzmeßgeräts gemäß JIS P-8 142
(Japanische Industrienorm) gemessen wurde; und
Fig. 2 eine schematische Ansicht, welche die An
ordnung und Ausbildung einer Einrichtung zeigt, die zur
Durchführung des Verfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung
verwendbar ist.
In der Zeichnung ist mit 1 ein Detektor bezeichnet, 4 bedeu
tet eine Deuteriumlampe, das Bezugszeichen 5 ist einem Fil
ter zugeordnet, mit 7 ist ein halbdurchlässiger Spiegel be
zeichnet, das Bezugszeichen 10 bedeutet eine Probenbasis,
und mit 21 ist ein Schrittmotor bezeichnet.
Es seien nun im einzelnen bevorzugte Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung beschrieben und erläutert:
Zunächst sei auf Fig. 2 Bezug genommen, in der in einer
schematischen Ansicht die Anordnung und Ausbildung einer
Einrichtung gezeigt ist, wie sie für die Ausführung von Mes
sungen gemäß der vorliegenden Erfindung verwendbar ist.
Diese Einrichtung umfaßt hauptsächlich einen Detektor 1,
einen Umsetzer-Verstärker 2 und eine externe Ausgabeeinheit
3.
Der Detektor 1 umfaßt eine Deuteriumlampe 4, ein Filter 5,
eine Blende 6, einen halbdurchlässigen Spiegel 7, einen Be
zugslicht-Elektrophotomultiplier 8, einen Reflexionslicht-
Elektrophotomultiplier 9, und eine Probenbasis 10.
Um den Glanz zu messen, wird Ultraviolettlicht, das von der
Deuteriumlampe 4 emittiert worden ist, mittels des Filters 5
gefiltert, so daß man am Ausgang des Filters monochromati
sches Licht mit einer spezifischen Wellenlänge erhält. Aus
dem monochromatischen Licht wird mittels der Blende 6 ein
Lichtfleck-Bündel ausgeblendet und dann mittels des halb
durchlässigen Spiegels in zwei Teilbündel aufgetrennt. Das
eine Teilbündel des aufgetrennten Lichts wird als Bezugs
licht mittels des Bezugslicht-Elektrophotomultipliers 8
detektiert. Das andere Teilbündel oder der Rest des abge
trennten Lichts wird auf eine Probe gerichtet, die auf der
Probenbasis 10 angeordnet ist, und dieses Teilbündel wird
reflektiert. Das reflektierte Licht oder ein Teil des re
flektierten Lichts wird mittels des Reflexionslicht-Elektro
photomultipliers 9 detektiert. Im vorliegenden Falle müssen
der Einfallwinkel und der Reflexionswinkel des Lichts mit
Bezug auf die Probe einander gleich sein, und sie müssen
sich in der gleichen Ebene befinden. Die Probenbasis 10 hat
einen X-Y-Getriebegang, der mit dem Schrittmotor 21 versehen
ist und welcher infolgedessen vertikal und horizontal in
vorbestimmten Intervallen bewegt werden kann bzw. in einer
X-Richtung und einer hierzu senkrechten Y-Richtung in der
Probenebene.
Das Bezugslicht und das reflektierte Licht oder Reflexions
licht, die detektiert werden, werden mittels der Elektropho
tomultiplier 8 und 9 in elektrische Ströme umgesetzt, welche
dann durch Operationsverstärker 11 und 12 in dem Umsetzer-
Verstärker 2 in Spannungen umgesetzt werden. Die erhaltenen
Spannungen E1 und E2 werden in einer Subtraktionsschaltung
13 subtrahiert und dann mittels einer Analog-zu-Digital-
Umsetzerschaltung 14 der externen Ausgabeeinheit 3 in Digi
talsignale umgewandelt. Die digitalisierten Signale werden
einer Datenverarbeitungseinheit zugeführt, die einen Compu
ter oder Rechner, ein Aufzeichnungsgerät und dergleichen um
faßt, wo die Signale umgewandelt bzw. ausgewertet werden.
In der vorliegenden Erfindung können die Digitalsignale, die
in der Analog-zu-Digital-Umsetzerschaltung 14 erhalten wor
den sind, in einen normalen Glanzwert umgewandelt werden,
und zwar unter Bezugnahme auf eine Eichkurve des Glanzes,
die vorher durch Messungen an einer Standardprobe erhalten
worden ist.
Als nächstes sei das Verfahren gemäß der vorliegenden Erfin
dung in Anwendungsbeispielen der Messung des Glanzprofils
unter Verwendung der oben beschriebenen Meßeinrichtung in
näheren Einzelheiten beschrieben und erläutert:
Aus einem japanischen superkalandriertem beschichteten Pa
pier von der Qualität A2 wurden acht Arten von kommerziellem
Papier, die ein Grundgewicht von 84,9 g/m2 hatten, als Pro
ben ausgewählt. Monochromatisches Ultraviolettlicht von 220 nm
Wellenlänge wurde als ein Fleck von 0,4 mm×0,4 mm ange
wandt bzw. auf die Proben projiziert, wobei der Einfallswin
kel und der Reflexionswinkel auf 75° eingestellt wurden und
156 Flecken über eine Länge von 102 mm innerhalb einer Probe
angewandt wurden bzw. der vorgenannte Fleck an 156 Stellen
über eine Länge von 102 mm auf eine Probe projiziert wurde,
um das Glanzprofil zu messen.
Der mittlere Glanz und die Änderungen im Glanz, d. h. die
Standardabweichung von der Glanzverteilung für die individu
elle Probe sind in Tabelle 1 angegeben, und zwar zusammen
mit dem Glanz, der gemäß JIS P-8 142 (Japanischer Industrie
standard) gemessen worden war.
Andererseits wurde eine visuelle Inspektion des Blattausse
hens von einem Personenkreis von 12 Inspektionspersonen aus
geführt. Ihre Einstufungen hinsichtlich des Blattaussehens,
die auf den Gesamtpunkten basierten, welche die 12 In
spektoren erteilten, ist auch in Tabelle 1 wiedergegeben.
Wie man aus der Tabelle 1 ersieht, zeigte sich, daß die
Standardabweichung des Glanzes um so kleiner ist, je besser
das Blattaussehen ist. Demgemäß kann mit dem Verfahren gemäß
der vorliegenden Erfindung nicht nur das Glanzprofil gemes
sen werden, sondern es ist auch möglich, damit das Blattaus
sehen objektiver zu messen.
In den Beispielen 2, 3 und 4 wurden ein japanisches superka
landriertes beschichtetes Papier von A2-Qualität, das ein
Grundgewicht von 127,9 g/m2 hatte, und mattierte Qualitäten,
die jeweils ein Grundgewicht von 81,4 g/m2 und 127,9 g/m2
hatten, verwendet. Für diese drei Arten von Papier wurden 8,
6 und 7 kommerzielle Papiere als Proben ausgewählt.
Diese Proben wurden hinsichtlich des mittleren Glanzes und
der Standardabweichung unter Verwendung des gleichen Vor
gangs wie in Beispiel 1 gemessen. Die Ergebnisse sind in Ta
belle 1 angegeben, und zwar zusammen mit der Einstufung des
Blattaussehens, basierend auf den Gesamtpunkten, die von den
12 Inspektionspersonen erteilt wurden, und dem JIS-Glanz.
Aus den oben beschriebenen Beispielen 1 bis 4 ist deutlich
zu erkennen, daß die Standardabweichung des Glanzes und das
Blattaussehen miteinander übereinstimmen. Die gleichen Pro
ben wurden hinsichtlich anderer Eigenschaften, welche als in
Bezug zum Blattaussehen angesehen werden, untersucht, näm
lich hinsichtlich Glanz, Opazität, Weißgrad, Bekk-Glattheit,
und Parker-Druckwellen-Glattheit (PPS-Glattheit). Weiterhin
wurden die Korrelationskoeffizienten zwischen den Untersu
chungsergebnissen und der Einstufung hinsichtlich des Blatt
aussehens für die individuellen Proben bestimmt. Die Ergeb
nisse sind in Tabelle 2 angegeben. Die Korrelationskoeffizi
enten sind auch zwischen der Standardabweichung des Glanzes
gemäß der vorliegenden Erfindung und der Einstufung der
Blattaussehensbeurteilung angegeben.
Als Ergebnis ist insbesondere festzustellen, daß der einzige
Fall, in dem stets eine Korrelation von 0,8 oder höher beob
achtet wurde derjenige der Standardabweichung des Glanzes,
bestimmt durch die vorliegende Erfindung, ist. Jedoch kann
das Blattaussehen nicht aus dem absoluten Wert des Glanzes,
der Opazität oder dem Weißgrad noch aus der Bekk- oder PPS-
Glattheit beurteilt werden.
Eine schwarz bemalte Stahlplatte wurde als eine Probe ver
wendet, die mit einem fleckbildenden monochromatischen Ul
traviolettlichtbündel mit einer Wellenlänge von 280 nm be
strahlt wurde, wobei der Lichtfleck eine Abmessung von
0,2 mm×0,2 mm hatte und wobei der Einfallswinkel und der Re
flexionswinkel in Bezug auf die Probe auf 60° eingestellt
worden waren. Die Messung wurde über einen Bereich von
15 mm×15 mm in 1-mm-Intervallen (vertikal und horizontal bzw. in
X-Richtung und in Y-Richtung) ausgeführt. Die Anzahl der ge
messenen Flecke war 16×16 (vertikal und horizontal bzw. in
X-Richtung und in Y-Richtung), so daß sich eine Gesamtheit
von 256 Flecken, die gemessen wurden, ergab.
Die Testergebnisse zeigten einen mittleren Glanz von 88,57
und eine Standardabweichung des Glanzes von 0,78. Es wurde
durch diese Werte bestätigt, daß diese Probe ein relativ
kleines Glanzprofil hatte, und zwar bei einem ziemlich guten
Oberflächenzustand.
Mit dem Verfahren zum Messen des Glanzprofils gemäß der vor
liegenden Erfindung kann das Glanzprofil optisch unter Ver
wendung von monochromatischem Ultraviolettlicht gemessen
werden. Weiterhin korrespondiert die Standardabweichung des
Glanzes, welche eine bzw. die Verteilung des Glanzes angibt,
gut mit dem Blattaussehen von beschichtetem Papier, bei dem
es bisher ein Problem war, daß die Beurteilung des Blattaus
sehens sehr stark auf der visuellen Inspektion durch indivi
duelle Inspektionspersonen beruhte. Demgemäß ist es mit der
vorliegenden Erfindung möglich, das Glanzprofil und das
Blattaussehen objektiv, schnell und genau zu messen.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf das oben angegebene
beschichtete Papier beschränkt, sondern sie kann auch auf
andere Materialien, wie insbesondere Papier, Kunstharze, Me
talle, Glas und dergleichen, angewandt werden, deren Glanz
profil mit dem erfindungsgemäßen Verfahren gemessen werden
kann.
Mit der Erfindung wird ein Verfahren zum Messen des Glanz
profils der Oberfläche von Materialien, wie beispielsweise
Papier, speziell beschichtetes Papier, Kunstharzfilm, Metal
len und dergleichen, zur Verfügung gestellt. Dieses Verfah
ren umfaßt den Verfahrensschritt des Anwendens, insbesondere
Projizierens, eines Flecks von monochromatischem Ultravio
lettlicht auf die Oberfläche der Probe, des Bewegens des
Flecks auf der Oberfläche der Probe, des photographischen
bzw. photoelektrischen Umwandelns von reflektiertem Licht
von jedem Fleck, das bei dem gleichen Reflexionswinkel er
halten wurde, wie es der Einfallswinkel ist, und des Ver
gleichens und Berechnens des Reflexionsvermögens zur Bestim
mung des Glanzprofils.
Claims (3)
1. Verfahren zum Messen eines Glanzprofils, umfassend die
Verfahrensschritte des Anwendens, insbesondere Projizierens,
eines Flecks aus einem monochromatischen Ultraviolettlicht
auf die Oberfläche einer zu messenden Probe; des regulären,
insbesondere gleichmäßigen, Bewegens des Flecks auf der
Oberfläche eines vorbestimmten Bereichs der Probe; des pho
tographischen, insbesondere elektrophotographischen, Umwan
delns von Licht, das von jedem Fleck reflektiert worden ist
und bei einem Reflexionswinkel erhalten worden ist, der
gleich dem Einfallswinkel ist; und des Vergleichens und Be
rechnens des Reflexionsvermögens zur Bestimmung des Glanz
profils.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Fleck von monochromatischem Ul
traviolettlicht ein polygonaler Fleck von 0,1 bis 3,0 mm an
der längsten Seite ist, oder ein kreisförmiger oder ellipti
scher Fleck, der einen größten Durchmesser von 0,1 bis 3,0 mm
hat.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß das monochromatische Ultra
violettlicht eine Wellenlänge von 210 bis 230 nm hat oder im
Wellenlängenbereich von 210 bis 230 nm liegt.
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