RU2456558C1 - Устройство для определения альбедо деятельной поверхности материала - Google Patents
Устройство для определения альбедо деятельной поверхности материала Download PDFInfo
- Publication number
- RU2456558C1 RU2456558C1 RU2011109327/28A RU2011109327A RU2456558C1 RU 2456558 C1 RU2456558 C1 RU 2456558C1 RU 2011109327/28 A RU2011109327/28 A RU 2011109327/28A RU 2011109327 A RU2011109327 A RU 2011109327A RU 2456558 C1 RU2456558 C1 RU 2456558C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- albedo
- active surface
- plates
- heat
- receiving
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
Изобретение является универсальным устройством для определения альбедо деятельной поверхности материалов любого типа. Устройство включает в себя два идентичных тепловоспринимающих элемента. Последние состоят из гладких металлических пластин, приемная поверхность и боковые грани которых покрыты черной влагонепроницаемой краской. Задняя поверхность каждой пластины закрыта слоем теплогидроизоляции со светоотражательной пленкой. В центральной части металлических пластин закреплены спаи термопар, которые регистрируют температурное состояние каждой пластины при нагреве под воздействием источника инфракрасного излучения и отражающего лучистые потоки материала. По соотношению интенсивности нагрева пластин во времени рассчитывают альбедо деятельной поверхности исследуемого материала. Техническим результатом изобретения является упрощение конструкции устройства и повышение точности измерений альбедо деятельной поверхности материала. 5 ил.
Description
Устройство может быть использовано в сельском хозяйстве, метеорологии, климатологии, строительной промышленности, а также в любой отрасли, где необходима информация об отражательных и поглощательных способностях поверхностей материалов.
Известен альбедометр Калитина в комплекте с гальванометром или потенциометром для определения альбедо деятельной поверхности материала [А.Г.Гиндоян. Пособие по обследованию строительных конструкций зданий. - М.: АО «ЦНИИпромзданий», 1997. - С.100-101]. Основным конструктивным элементом устройства является пиранометр под полусферическим стеклянным колпаком, закрепленный на трубке с рукояткой для вращения прибора. При радиационных наблюдениях альбедометр устанавливают таким образом, чтобы приемная поверхность пиранометра была параллельна поверхности материала. Методика измерения сводится к последовательному определению падающей и отраженной радиации. После замеров падающей радиации альбедометр переворачивают на 180° и производят замер отраженной радиации. По полученным данным, расчетным способом определяют альбедо поверхности исследуемого материала.
Использование одного пиранометра для определения альбедо поверхности материала нарушает синхронность измерений входных и выходных потоков лучистой энергии. Применение одной приемной поверхности для последовательного определения падающего и отраженного лучистого потока также требует дополнительного времени для снятия эффекта памяти прибора между первым и вторым измерениями.
Наиболее близким изобретением, которое лежит в основе заявленного устройства, является измерительная система, состоящая из двух идентичных тепловоспринимающих элементов - пиранометров [Е.В.Шеин. Курс физики почв. - М.: МГУ, 2005. - С.334-335]. Каждый пиранометр содержит участки черных и белых тел, которые соответственно поглощают и отражают потоки инфракрасного излучения. К черным и белам телам пиранометра подведены концы дифференциальных термопар, соединяющих элементы устройства с микроамперметром. За счет разности нагрева черных и белых участков в цепи возникает ток, который измеряют микроамперметром. Ток будет тем больше, чем больше разность температур между черной и белой поверхностью, которая в свою очередь будет определять интенсивность лучистого потока. Приемная поверхность одного пиранометра обращена к источнику инфракрасного излучения и регистрирует величину поступающей лучистой энергии, а приемная поверхность другого - к поверхности исследуемого материала и воспринимает идущий от материала отраженный лучистый поток. Через соотношение полученных потоков определяют альбедо деятельной поверхности материала.
Недостатком прототипа является применение черных и белых тел в составе пиранометра для нахождения альбедо деятельной поверхности материала. Абсолютно черных и белых тел в природе не существует, и поэтому как черное, так и белое тело пиранометра вносят погрешности при измерении поступающей и отраженной радиации.
Целью изобретения является упрощение конструкции устройства и повышение точности измерений альбедо деятельной поверхности материала.
Поставленная цель достигается применением устройства для определения альбедо деятельной поверхности материала, состоящего из двух идентичных тепловоспринимающих элементов и термопар. Приемная поверхность одного тепловоспринимающего элемента направлена в сторону источника инфракрасного излучения, приемная поверхность другого - к поверхности исследуемого материала для поглощения лучистых потоков. Приемные поверхности и боковые грани металлических пластин тепловоспринимающих элементов покрыты черной влагонепроницаемой краской. Поверхности пластин, противоположные приемным поверхностям (задние поверхности), закрыты слоем теплогидроизоляции со светоотражательной пленкой. В центральной части металлических пластин закреплены спаи термопар, регистрирующие нагрев пластин во времени, по которому рассчитывают альбедо деятельной поверхности материала согласно формуле:
где qinf и qref - потоки теплоты соответственно от источника инфракрасного излучения и исследуемого материала; t0 и t1 - температуры пластин, обращенных приемными поверхностями соответственно к источнику инфракрасного излучения и исследуемому материалу; τ - время.
На фиг.1 показана принципиальная схема тепловоспринимающего элемента заявленного устройства.
На фиг.2 показана схема распределения лучистых потоков.
На фиг.3 показан режим нагрева металлических пластин под воздействием лучистых потоков.
На фиг.4 показан режим нагрева металлических пластин под воздействием лучистых потоков (аппроксимация).
На фиг.5 показано заявленное устройство в оригинале.
Устройство для определения альбедо деятельной поверхности материала включает в себя два идентичных тепловоспринимающих элемента (фиг.1). Тепловоспринимающий элемент состоит из гладкой металлической пластины 1, приемная поверхность и боковые грани которой покрыты черной влагонепроницаемой краской 2. Задняя поверхность пластины 1 закрыта слоем теплогидроизоляции 3 со светоотражательной пленкой 4. В центральной части пластины 1 закреплен спай термопары 5, который регистрирует нагрев пластины во времени. Приемные поверхности пластин тепловоспринимающих элементов установлены на одном уровне, параллельно поверхности исследуемого материала. Тепловоспринимающие элементы расположены на расстоянии между источником излучения и материалом.
Устройство работает следующим образом.
Приемные поверхности тепловоспринимающих элементов соответственно воспринимают падающий qinf от источника инфракрасного излучения и отраженный qref от исследуемого материала лучистый тепловой поток (фиг.2). Благодаря черной влагонепроницаемой краске 2 приемная поверхность поглощает поток лучистой энергии без отражений. Слой теплогидроизоляции 3 со светоотражательной пленкой 4 на задней поверхности металлической пластины 1 предотвращает нагрев последней через заднюю поверхность. Под воздействием источника инфракрасного излучения пластины нагреваются: первая пластина - за счет падающего на приемную поверхность прямого лучистого потока плотностью qinf, а вторая - за счет отраженного от поверхности материала инфракрасного излучения плотностью qref. Нагрев металлической пластины 1 тепловоспринимающего элемента регистрирует термопара 5, которая передает информацию на компьютер (условно не показан) через аналого-цифровой преобразователь (АЦП) и конвертер (условно не показаны). По соотношению скоростей изменения температур пластин в режиме нагрева рассчитывают альбедо деятельной поверхности материала согласно формуле (1).
Достоинством заявленного изобретения является простота и компактность конструкции, так как согласно формуле (1) для определения альбедо деятельной поверхности материала требуется только регистрация нагрева пластин через приемные поверхности, покрытые черной влагонепроницаемой краской. Использование заявленного устройства повышает точность измерений благодаря покрытию задних поверхностей пластин слоем теплогидроизоляции со светоотражательной пленкой.
Пример конкретного применения устройства
Определим альбедо деятельной поверхности материала на примере фрезерного торфа в лабораторных условиях. В качестве источника инфракрасного излучения использован электрический инфракрасный излучатель суммарной мощностью 3 кВт, расположенный на расстоянии 2,5 м от поверхности торфяной почвы. Период нагрева алюминиевых пластин заявленного устройства составил τht=1800 с. Регистрация температурных данных с устройства произведена с дискретностью измерений χ=30 с.
Температурные поля алюминиевых пластин по данным хромель-алюмелевых термопар представлены на фиг.3.
Нагрев пластин устройства, обращенных приемной поверхностью соответственно к источнику инфракрасного излучения t0 и торфу t1, описывают графики линейных функций на фиг.4, °С:
Тогда альбедо деятельной поверхности фрезерного торфа А с учетом формулы (1) составит:
Claims (1)
- Устройство для определения альбедо деятельной поверхности материала, состоящее из двух идентичных тепловоспринимающих элементов, приемные поверхности которых разнонаправлено обращены в сторону источника инфракрасного излучения и к поверхности исследуемого материала для поглощения лучистых потоков, и термопар, отличающееся тем, что приемные поверхности и боковые грани металлических пластин тепловоспринимающих элементов покрыты черной влагонепроницаемой краской, поверхности пластин, противоположные приемным поверхностям, закрыты слоем теплогидроизоляции со светоотражательной пленкой, термопары регистрируют нагрев пластин во времени, по которому рассчитывают альбедо деятельной поверхности материала, согласно формуле
где t0 и t1 - температуры пластин, обращенных приемными поверхностями соответственно к источнику инфракрасного излучения и исследуемому материалу; τ - время.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2011109327/28A RU2456558C1 (ru) | 2011-03-11 | 2011-03-11 | Устройство для определения альбедо деятельной поверхности материала |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2011109327/28A RU2456558C1 (ru) | 2011-03-11 | 2011-03-11 | Устройство для определения альбедо деятельной поверхности материала |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2456558C1 true RU2456558C1 (ru) | 2012-07-20 |
Family
ID=46847500
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2011109327/28A RU2456558C1 (ru) | 2011-03-11 | 2011-03-11 | Устройство для определения альбедо деятельной поверхности материала |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2456558C1 (ru) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU1030756A1 (ru) * | 1981-05-22 | 1983-07-23 | Filippov Vladimir A | Калориметр |
US5146097A (en) * | 1990-05-15 | 1992-09-08 | Jujo Paper Co., Ltd. | Method for measuring gloss profile |
RU2145077C1 (ru) * | 1998-08-04 | 2000-01-27 | Селиванов Сергей Николаевич | Способ определения альбедо |
CN101915660A (zh) * | 2010-08-10 | 2010-12-15 | 杭州科汀光学技术有限公司 | 具有对称性和自校准的垂直入射薄膜反射率计 |
-
2011
- 2011-03-11 RU RU2011109327/28A patent/RU2456558C1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU1030756A1 (ru) * | 1981-05-22 | 1983-07-23 | Filippov Vladimir A | Калориметр |
US5146097A (en) * | 1990-05-15 | 1992-09-08 | Jujo Paper Co., Ltd. | Method for measuring gloss profile |
RU2145077C1 (ru) * | 1998-08-04 | 2000-01-27 | Селиванов Сергей Николаевич | Способ определения альбедо |
CN101915660A (zh) * | 2010-08-10 | 2010-12-15 | 杭州科汀光学技术有限公司 | 具有对称性和自校准的垂直入射薄膜反射率计 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Albatici et al. | Assessment of the thermal emissivity value of building materials using an infrared thermovision technique emissometer | |
Ohlsson et al. | Quantitative infrared thermography imaging of the density of heat flow rate through a building element surface | |
Datcu et al. | Improvement of building wall surface temperature measurements by infrared thermography | |
Ballestrın et al. | Systematic error in the measurement of very high solar irradiance | |
Krenzinger et al. | Accurate outdoor glass thermographic thermometry applied to solar energy devices | |
CN103675019A (zh) | 一种红外热像仪快速测量材料表面发射率的方法 | |
Larsen et al. | Determining the infrared reflectance of specular surfaces by using thermographic analysis | |
Reddy et al. | In-situ prediction of focal flux distribution for concentrating photovoltaic (CPV) system using inverse heat transfer technique for effective design of receiver | |
RU2456558C1 (ru) | Устройство для определения альбедо деятельной поверхности материала | |
Ballestrín et al. | Heat flux and temperature measurement technologies for concentrating solar power (CSP) | |
CN103528963B (zh) | 采用多频调制激光加热与光热信息重建技术的半透明材料辐射特性测量方法 | |
US9816952B2 (en) | Method and apparatus for implementing material thermal property measurement by flash thermal imaging | |
Bastidon et al. | Quantum efficiency characterization and optimization of a tungsten transition-edge sensor for ALPS II | |
RU2630857C1 (ru) | Эталонный источник лазерного излучения для калибровки измерителей мощности | |
Haeffelin et al. | Predicted dynamic electrothermal performance of thermistor bolometer radiometers for Earth radiation budget applications | |
Ballestrín et al. | Heat flux and high temperature measurement technologies for concentrating solar power | |
Weckmann | Dynamic electrothermal model of a sputtered thermopile thermal radiation detector for earth radiation budget applications | |
Ruffa et al. | Monitoring of Thermal Dispersion in Indoor Environments: An InfraRed Scanner Technique | |
Plasser et al. | Enhanced photothermal parameter estimation of thick cfrp in reflection mode for rectangular pulse excitation by halogen lamps | |
JPH0737911B2 (ja) | 開口部の熱流計測装置及び熱流計測方法 | |
Hao et al. | Study on the infrared lens-free irradiation thermometer based on InGaAs detector at NIM | |
Riou et al. | Thermal study of an aluminium nitride ceramic heater for spray CVD on glass substrates by quantitative thermography | |
Hafid et al. | A Thermopile Based Pyranometer for Large Spectrum Sunlight Measurement | |
Shafa et al. | Low cost pyranometer for broad range and its credibility check with standard pyranometer | |
RU2434207C1 (ru) | Тепловой трап-детектор |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20130312 |