DE4007615A1 - Rom schaltung - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Festspeicherschaltung oder
ROM Schaltung, insbesondere eine ROM Schaltung mit Vorla
dung, die aufgrund eines einfacheren Schaltungsaufbaus einen
geringeren Flächenbedarf hat.
Ein ROM Speicher, der ein Festspeicher ist, wird in
weitem Umfang in verschiedenen elektrischen und elektroni
schen Vorrichtungen verwandt.
Mit der fortschreitenden Entwicklung der digitalen
Signalverarbeitung hat der Bedarf an ROM Speichern noch
zugenommen, wobei die Entwicklung der Halbleiterherstel
lungstechnik dazu geführt hat, daß Schaltungen zur Ausführung
bestimmter Funktionen in Form eines einzigen Schaltungsbau
steins oder Chips ausgebildet werden können.
Ein digitales Tonbandgerät (DAT), das eine ausgezeich
nete Tonqualität hat, da es ein Tonsignal digital verarbei
tet, umfaßt beispielsweise nur einen Digitalprozessorchip,
nämlich einen sog. DSP Chip.
Ein DSP Chip, der eine sehr hoch integrierte logische
CMOS Schaltung darstellt, enthält mehrere ROM und RAM
Speicher sowie mehrere logische Schaltungen innerhalb des
Chips. Bei einer ROM Schaltung, wie sie gegenwärtig in einem
DSP Chip in statischer CMOS Auslegung ausgebildet wird,
besteht die Schwierigkeit, daß die Größe des gesamten DSP
Chips aufgrund der Vergrößerung des erforderlichen Flächenbe
reiches zunimmt.
Fig. 2 der zugehörigen Zeichnung zeigt das Schaltbild
eines statischen 2×3 ROM Speichers, der nach dem bekannten
CMOS Verfahren ausgelegt ist. In Fig. 2 läßt sich die ROM
Schaltung grob in einen Decodierer 1 und einen Codierer 2
unterteilen.
Der Decodierer 1 erzeugt ein 4-Bit Wortsignal, indem er
das anliegende 2-Bit Adressensignal A0, A1 decodiert. Der
Decodierer 1 enthält vier UND-Glieder G1 bis G4, deren
Ausgänge mit den Wortleitungen W0 bis W3 verbunden sind, und
die jeweils nach Maßgabe ihrer Eingangssignalzustände
arbeiten.
Der Codierer 2 besteht aus einem UND-Gliedteil 3 aus MOS
Transistoren eines ersten Leitfähigkeitstyps, beispielsweise
aus P-Kanal MOS Transistoren und aus einem ODER-Gliedteil 4
aus MOS Transistoren eines zweiten Leitfähigkeitstyps,
beispielsweise aus N-Kanal MOS Transistoren.
Der UND-Gliedteil 3 und der ODER-Gliedteil 4 sind mit
drei Ausgangsleitungen D0 bis D2 verbunden. Am Schnittpunkt
der Wortleitungen W0 bis W3 und der Ausgangsleitungen D0 bis
D2 jeweils ist der ODER-Gliedteil 4 ein Bereich, an dem die
gewünschten Daten dadurch gespeichert werden, daß sie
entsprechend dem kombinierten Auftreten der N-Kanal MOS
Transistoren bei der Herstellung programmiert sind.
Die Drainelektrode der N-Kanal MOS Transistoren ist mit
der Ausgangsleitung verbunden, die Gateelektrode liegt an
einer Wortleitung und die Sourceelektrode ist mit einer
ersten Spannungsversorgungsquelle (VSS oder Massepotential)
verbunden.
Im UND-Gliedteil 3 sind P-Kanal MOS Transistoren in
einer Anzahl gleich der Bit-Zahl eines Adressensignales in
Reihe zueinander zwischen jede Ausgangsleitung und eine
zweite Spannungsversorgungsquelle (VDD) geschaltet, wobei die
Gateelektrode der P-Kanal MOS Transistoren mit einer Wortlei
tung (beispielsweise der Wortleitung W1, W2) verbunden ist,
die mit den N-Kanal MOS Transistoren am Schnittpunkt der
Wortleitungen W0 bis W3 und der Ausgangsleitung D0 bis D2
kombiniert ist, die über diese P-Kanal MOS Transistoren
betrieben werden.
Die Ausgangszustände, die den Adressensignalen der oben
beschriebenen ROM Schaltung entsprechen, sind in der
folgenden Tabelle 1 aufgeführt.
Die ROM Schaltung mit bekannter CMOS Auslegung, wie sie
oben beschrieben wurde, sollte daher gleichzeitig P-Kanal MOS
Transistoren entsprechend den N-Kanal MOS Transistoren
aufweisen.
Da weiterhin die Beweglichkeit der Träger in den P-Kanal
MOS Transistoren, verglichen mit der Beweglichkeit der Träger
in den N-Kanal MOS Transistoren, niedrig ist, nehmen die P-
Kanal MOS Transistoren einen noch größeren Flächenbereich
aufgrund der relativ großen Kanalbreite ein.
Da weiterhin ein Verdrahtungsbereich benötigt wird, um
die Wortleitungen entsprechend dem UND-Gliedteil 3 zu
verbinden, der die P-Kanal MOS Transistoren umfaßt, nimmt der
Verdrahtungsbereich proportional zur steigenden Speicherkapa
zität zu.
Durch die Erfindung soll eine ROM Schaltung mit
einfacherem Schaltungsaufbau geschaffen werden, die insbeson
dere einem DSP Chip für ein digitales Tonbandgerät einen
hohen Wert und einen hohen Standard gibt.
Dazu umfaßt die erfindungsgemäße ROM Schaltung, die
N Datenbits programmiert an den jeweiligen Schnittpunkten
von L (=2M) Wortleitungen durch Decodieren eines M-Bit
Adressensignals und von N Ausgangsleitungen (N ist eine
natürliche Zahl) erzeugt, einen Decodierer zum Erzeugen eines
L-Bit Wortsignals durch Eingabe des M-Bit Adressensignals,
eine Gattereinrichtung, die das L-Bit Wortsignal L Wortlei
tungen nach Maßgabe eines Taktsignals liefert, eine Speicher
zellengruppe, die die gewünschten Daten entsprechend dem
kombinierten Auftreten der MOS Transistoren an den jeweiligen
Schnittpunkten der L Wortleitungen und der N Ausgangsleitun
gen speichert, und eine vorgeladene Einrichtung zum Vorladen
der N Ausgangsleitungen nach Maßgabe des Taktsignals.
Die vorgeladene Einrichtung zeichnet sich dabei dadurch
aus, daß sie jede Ausgangsleitung über einen P-Kanal MOS
Transistor nach Maßgabe des Taktsignals vorlädt.
Eine ROM Schaltung gemäß der Erfindung, wie sie oben
beschrieben wurde, kann einen wesentlich einfacheren
Schaltungsaufbau im UND-Gliedteil haben und nimmt aufgrund
der Verkleinerung des Verdrahtungsbereiches eine geringere
Fläche ein.
Im folgenden werden anhand der zugehörigen Zeichnung ein
besonders bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung näher
beschrieben. Es zeigen
Fig. 1 das Schaltbild eines bevorzugten Ausführungsbei
spiels eines erfindungsgemäßen 2×3 ROM Speichers mit
vorgeladenem UND-Glied,
Fig. 2 das Schaltbild eines statischen 2×3 ROM
Speichers, der nach dem bekannten CMOS Verfahren ausgelegt
ist,
Fig. 3 das Schaltbild eines UND-Gliedes im einzelnen,
das bei der Gattereinrichtung von Fig. 1 verwandt wird, und
Fig. 4 das Schaltbild eines weiteren bevorzugten
Ausführungsbeispiels eines erfindungsgemäßen N×N ROM
Speichers mit vorgeladenem NOR-Glied.
Fig. 1 zeigt das Schaltbild eines Ausführungsbeispiels
eines erfindungsgemäßen 2×3 ROM Speichers mit vorgeladenem
UND-Glied. In Fig. 1 ist der Aufbau eines Decodierers 10 und
einer Speicherzellengruppe oder eines ODER-Gliedteils 24
gleich dem des Decodierers 1 und des ODER-Gliedteils 4 in
Fig. 2. Die jeweiligen Ausgangsleitungen des Decodierers 10
sind über eine Gattereinrichtung 22 mit den jeweiligen
Wortleitungen W0 bis W3 verbunden.
Diese Gattereinrichtung 22 besteht aus vier UND-Gliedern
G5 bis G8, wobei ein Taktsignal CK an einem Eingang und der
Ausgang des Decodierers 10 am anderen Eingang liegt.
Diese UND-Glieder G5 bis G8 liefern ein Ausgangssignal
des Decodierers 10 einer Wortleitung, wenn das Taktsignal CK
einen hohen Pegel hat.
Die jeweiligen Ausgangsleitungen D0 bis D2 sind
weiterhin mit einer zweiten Spannungsversorgungsquelle VDD
über eine vorgeladene Einrichtung 26 verbunden. Diese
vorgeladene Einrichtung besteht aus P-Kanal MOS Transistoren,
deren Sourceelektrode mit der zweiten Spannungsversor
gungsquelle VDD verbunden ist, deren Drainelektrode an der
entsprechenden Ausgangsleitung liegt und deren Gateelektrode
so geschaltet ist, daß das Taktsignal CK anliegt, um die
zweite Versorgungsspannung VDD an die Ausgangsleitungen
während des Zeitintervalls zu legen, in dem das Taktsignal CK
einen niedrigen Pegel hat.
Die Ausgangszustände, die den Eingangszuständen des oben
beschriebenen Ausführungsbeispiels der Erfindung entsprechen,
sind in der folgenden Tabelle 2 aufgeführt.
Was zum Beispiel die Arbeitsweise der ROM Schaltung
unter der Annahme anbetrifft, daß die Adressensignale A0, A1
gleich 00 sind, so bekommt nur der Ausgang des UND-Gliedes G1
des Decodierers 10 den logischen Zustand "1", während die
Ausgänge der übrigen UND-Glieder G2 bis G4 den logischen
Zustand "0" haben.
Wenn andererseits das Taktsignal CK den logischen
Zustand "0" hat, schalten die P-Kanal MOS Transistoren der
vorgeladenen Einrichtung 26 durch und fließt ein Strom zu den
Ausgangsleitungen D0 bis D2, so daß sie auf den logischen
Zustand "1" vorgeladen sind.
Wenn das Taktsignal CK vom logischen Zustand "0" auf den
logischen Zustand "1" umschaltet, sperren die P-Kanal MOS
Transistoren der vorgeladenen Einrichtung 26 und kommen alle
Signale, die an den beiden Eingangsleitungen des UND-Gliedes
G5 liegen, in den logischen Zustand "1", so daß die N-Kanal
MOS Transistoren einer Speicherzellengruppe oder eines ODER-
Gliedteils 24, der mit einer Wortleitung W0 verbunden ist,
deren Ausgangsleitung den logischen Zustand "1" hat, durch
schalten.
Eine erstes Spannungsversorgungsquelle (VSS oder
Massepotential) liegt an den Ausgangsleitungen D1, D2, die
mit den N-Kanal MOS Transistoren verbunden sind, so daß diese
den logischen Zustand "0" haben und die Ausgangsleitung D0
weiter in den logischen Zustand "1" vorgeladen ist. Der
Ausgangszustand wird daher gleich "100".
Wie es in Fig. 3 dargestellt ist, bestehen die UND-
Glieder G5 bis G8 der Gattereinrichtung 22 bei dem obigen
Ausführungsbeispiel der Erfindung aus einem CMOS NAND-Glied
28, das aus jeweils vier MOS Transistoren aufgebaut ist, und
aus einer CMOS Inverterschaltung 29, die aus zwei MOS
Transistoren aufgebaut ist, so daß insgesamt sechs MOS
Transistoren benötigt werden.
Obwohl somit die Anzahl der Transistoren aufgrund der
zusätzlich vorgesehenen Gattereinrichtung 22 zunimmt, nimmt
die Anzahl der Transistoren der gesamten ROM Schaltung
entsprechend der Erhöhung der Kapazität stark ab.
Um das zu bestätigen, wird im folgenden eine Verdichtung
des erforderlichen Flächenbereiches betrachtet.
Es sei beispielsweise angenommen, daß die Anzahl der
Wortleitungen einer ROM Schaltung mit M-Bit Eingängen und
N-Bit Ausgängen gleich 2M=L ist. Die Anzahl der Transistoren
eines Codierers in einer ROM Schaltung mit dem bekannten
statischen CMOS Aufbau wird gleich 2LN. Es sei angenommen,
daß die Anzahl der Transistoren eines UND-Gliedteils und
eines ODER-Gliedteils gleich ist, und daß trotz der Tatsache,
daß im ODER-Gliedteil ein Transistor nicht an allen Schnitt
punkten ausgebildet ist, der gleiche Flächenbereich am
Schnittpunkt vorgesehen ist, an dem kein Transistor ausgebil
det ist, so daß die Anzahl der Transistoren gleich ist.
Bei der erfindungsgemäßen ROM Schaltung mit vorgeladenem
UND-Glied ist die Anzahl der Transistoren des Codierers
gleich LN+6L+N. Dabei ist LN die Anzahl der N-Kanal MOS
Transistoren einer Speicherzellengruppe oder eines ODER-
Gliedteils 24, ist 6L die Anzahl der MOS Transistoren einer
Gattereinrichtung 22 und ist N die Anzahl der P-Kanal MOS
Transistoren der vorgeladenen Einrichtung 26.
Wenn somit die Ungleichung nach Maßgabe der Bedingung
LN+6L+N<2LN gebildet wird, wird diese gleich
6L+N<LN, so daß unter der Voraussetzung, daß L annähernd
gleich N ist, die Bedingung L (=2m)<7 erhalten wird.
Wenn folglich M größer als 3 ist, d. h. wenn die Zahl
der Eingangsbits über 3 Bits liegt, und die Zahl der
Ausgangsbits über 8 Bits liegt, dann ist die Größe der ROM
Schaltung mit vorgeladenem UND-Glied kleiner als die Größe
einer bekannten statischen CMOS ROM Schaltung.
Fig. 4 zeigt das Schaltbild eines weiteren Ausfüh
rungsbeispiels der erfindungsgemäßen ROM Schaltung mit
vorgeladenem NOR-Glied.
Die ROM Schaltung in Fig. 4 besteht aus einer Gatterein
richtung 32, die ein UND-Glied der Gattereinrichtung 22 von
Fig. 2 als Inverter ersetzt, und einem NOR-Glied zum Vorladen
beim logischen Zustand "1" eines Taktsignales CK und zum
normalen Arbeiten auf dem Zustand "0".
Um das umgekehrte Taktsignal CK einer vorgeladenen
Einrichtung 36 zu liefern, ist der Ausgang eines NOR-Gliedes
(NOR1) der Gattereinrichtung 32 mit der Gateelektrode der
P-Kanal MOS Transistoren der vorgeladenen Einrichtung 36
verbunden.
Die ROM Schaltung von Fig. 4 ist daher auf den logischen
Zustand "1" eines Taktsignals CK vorgeladen und arbeitet
normal auf dem logischen Zustand "0". Das Maß an Verdichtung
ist identisch mit dem bei der oben beschriebenen ROM
Schaltung mit vorgeladenem UND-Glied.
Dadurch, daß bei der oben beschriebenen erfindungsge
mäßen Ausbildung der UND-Gliedteil aus P-Kanal MOS Transis
toren bei einer CMOS ROM Schaltung durch P-Kanal MOS
Transistoren der Ausgangsleitungen, die über ein Taktsignal
betrieben werden und NOR-Glieder und Inverter gleich der
Anzahl der Wortleitungen ersetzt sind, kann die Größe der ROM
Schaltung mit dem Format 3×8, wie es oben beschrieben
wurde, verglichen mit der bekannten statischen CMOS ROM
Schaltung proportional zur Speicherkapazität herabgesetzt
werden.
Die Abnahme des erforderlichen Flächenbereiches einer
ROM Schaltung innerhalb eines ausschließlich benutzten DSP
Chips in einem digitalen Tonbandgerät usw. erlaubt es eine
Schaltung mit verschiedenen Funktionen innerhalb des gleichen
Chipbereiches auszubilden, so daß eine hohe Güte und ein
hoher Standard erzielt werden können.
Claims (10)
1. ROM Schaltung, die N Datenbits programmiert an den
jeweiligen Schnittpunkten von L(=2M) Wortleitungen durch
Decodieren von M-Bit Adressensignalen und N Ausgangsleitungen
(N ist eine natürliche Zahl) erzeugt, gekennzeichnet durch
einen Decodierer (10), der L Bit Wortsignale durch Eingeben
der M-Bit Adressensignale erzeugt, eine Gattereinrichtung
(22, 32), die jeweils die L-Bit Wortsignale L Wortleitungen
(W0 bis W3) nach Maßgabe eines Taktsignales (CK) liefert,
eine Speicherzellengruppe (24), die die gewünschten Daten
nach Maßgabe des kombinierten Auftretens der MOS Transistoren
an den jeweiligen Schnittpunkten der L Wortleitungen (W0 bis
W3) und der N Ausgangsleitungen (D0 bis D2) speichert, und
eine vorgeladene Einrichtung (26, 36) zum Vorladen der
N Ausgangsleitungen (D0 bis D2) nach Maßgabe des Taktsignals
(CK).
2. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die vorgeladene Einrichtung (26, 36) eine Schaltein
richtung umfaßt, die zwischen eine erste Spannungsversor
gungsquelle und die jeweiligen Ausgangsleitungen (D0 bis D2)
geschaltet ist und nach Maßgabe des Taktsignals (CK) an- und
ausgeschaltet wird.
3. ROM Schaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Schalteinrichtung MOS Transistoren eines ersten
Leitfähigkeitstyps umfaßt, wobei die MOS Transistoren der
Speicherzellengruppe (24) von einem zweiten Leitfähigkeitstyp
sind.
4. ROM Schaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, daß die MOS Transistoren vom ersten Leitfähigkeitstyp
P-Kanal MOS Transistoren und die MOS Transistoren vom zweiten
Leitfähigkeitstyp N-Kanal MOS Transistoren sind.
5. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Gattereinrichtung (22) L UND-Glieder (G5 bis G8)
umfaßt, an deren einem Eingang das Taktsignal (CK) und an
deren anderem Eingang ein dem Decodierer (10) entsprechendes
Ausgangssignal liegen und mit deren Ausgänge die Wortleitun
gen (W0 bis W3) verbunden sind.
6. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Gattereinrichtung (32) L NOR-Glieder (NOR1 -
NORL) umfaßt, an deren einen Eingängen das Taktsignal (CK)
und an deren anderen Eingängen das dem Decodierer (10)
entsprechende Ausgangssignal über einen Inverter
(INV1 - INVL) liegen, und mit deren Ausgängen die Wortleitun
gen (W0 - WL-1) verbunden sind, wobei das Taktsignal in
umgekehrter Form an der vorgeladenen Einrichtung (36) liegt.
7. ROM Schaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich
net, daß das Taktsignal der vorgeladenen Einrichtung (32)
über eines der NOR-Glieder (NORl) der L NOR-Glieder (NOR1 -
NORL) geliefert wird.
8. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Adressensignale mehr als 3 Bits und die
Ausgangsleitungen mehr als 8 Bits haben.
9. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Gattereinrichtung (22, 32) den Ausgangszustand
"1" der Decodiereinrichtung (10) einer Wortleitung beim
logischen Zustand "1" des Taktsignales liefert, und daß die
vorgeladene Einrichtung (26, 36) eine Ausgangsleitung auf
den logischen Zustand "0" des Taktsignals vorlädt.
10. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Gattereinrichtung (22, 32) den Ausgangszustand
"1" des Decodierers (10) an eine Wortleitung beim logischen
Zustand "0" des Taktsignals legt und die vorgeladene
Einrichtung (26, 36) eine Ausgangsleitung auf den logischen
Zustand "1" des Taktsignals vorlädt.
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