DE4007615A1 - Rom schaltung - Google Patents

Rom schaltung

Info

Publication number
DE4007615A1
DE4007615A1 DE4007615A DE4007615A DE4007615A1 DE 4007615 A1 DE4007615 A1 DE 4007615A1 DE 4007615 A DE4007615 A DE 4007615A DE 4007615 A DE4007615 A DE 4007615A DE 4007615 A1 DE4007615 A1 DE 4007615A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
clock signal
mos transistors
rom circuit
circuit according
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE4007615A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4007615C2 (de
Inventor
Hyeong-Keun An
Young-Cheol Kim
Seok-Jeong Lee
Jung-Jae Yu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of DE4007615A1 publication Critical patent/DE4007615A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4007615C2 publication Critical patent/DE4007615C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/08Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
    • G11C17/10Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
    • G11C17/12Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/12Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store

Description

Die Erfindung betrifft eine Festspeicherschaltung oder ROM Schaltung, insbesondere eine ROM Schaltung mit Vorla­ dung, die aufgrund eines einfacheren Schaltungsaufbaus einen geringeren Flächenbedarf hat.
Ein ROM Speicher, der ein Festspeicher ist, wird in weitem Umfang in verschiedenen elektrischen und elektroni­ schen Vorrichtungen verwandt.
Mit der fortschreitenden Entwicklung der digitalen Signalverarbeitung hat der Bedarf an ROM Speichern noch zugenommen, wobei die Entwicklung der Halbleiterherstel­ lungstechnik dazu geführt hat, daß Schaltungen zur Ausführung bestimmter Funktionen in Form eines einzigen Schaltungsbau­ steins oder Chips ausgebildet werden können.
Ein digitales Tonbandgerät (DAT), das eine ausgezeich­ nete Tonqualität hat, da es ein Tonsignal digital verarbei­ tet, umfaßt beispielsweise nur einen Digitalprozessorchip, nämlich einen sog. DSP Chip.
Ein DSP Chip, der eine sehr hoch integrierte logische CMOS Schaltung darstellt, enthält mehrere ROM und RAM Speicher sowie mehrere logische Schaltungen innerhalb des Chips. Bei einer ROM Schaltung, wie sie gegenwärtig in einem DSP Chip in statischer CMOS Auslegung ausgebildet wird, besteht die Schwierigkeit, daß die Größe des gesamten DSP Chips aufgrund der Vergrößerung des erforderlichen Flächenbe­ reiches zunimmt.
Fig. 2 der zugehörigen Zeichnung zeigt das Schaltbild eines statischen 2×3 ROM Speichers, der nach dem bekannten CMOS Verfahren ausgelegt ist. In Fig. 2 läßt sich die ROM Schaltung grob in einen Decodierer 1 und einen Codierer 2 unterteilen.
Der Decodierer 1 erzeugt ein 4-Bit Wortsignal, indem er das anliegende 2-Bit Adressensignal A0, A1 decodiert. Der Decodierer 1 enthält vier UND-Glieder G1 bis G4, deren Ausgänge mit den Wortleitungen W0 bis W3 verbunden sind, und die jeweils nach Maßgabe ihrer Eingangssignalzustände arbeiten.
Der Codierer 2 besteht aus einem UND-Gliedteil 3 aus MOS Transistoren eines ersten Leitfähigkeitstyps, beispielsweise aus P-Kanal MOS Transistoren und aus einem ODER-Gliedteil 4 aus MOS Transistoren eines zweiten Leitfähigkeitstyps, beispielsweise aus N-Kanal MOS Transistoren.
Der UND-Gliedteil 3 und der ODER-Gliedteil 4 sind mit drei Ausgangsleitungen D0 bis D2 verbunden. Am Schnittpunkt der Wortleitungen W0 bis W3 und der Ausgangsleitungen D0 bis D2 jeweils ist der ODER-Gliedteil 4 ein Bereich, an dem die gewünschten Daten dadurch gespeichert werden, daß sie entsprechend dem kombinierten Auftreten der N-Kanal MOS Transistoren bei der Herstellung programmiert sind.
Die Drainelektrode der N-Kanal MOS Transistoren ist mit der Ausgangsleitung verbunden, die Gateelektrode liegt an einer Wortleitung und die Sourceelektrode ist mit einer ersten Spannungsversorgungsquelle (VSS oder Massepotential) verbunden.
Im UND-Gliedteil 3 sind P-Kanal MOS Transistoren in einer Anzahl gleich der Bit-Zahl eines Adressensignales in Reihe zueinander zwischen jede Ausgangsleitung und eine zweite Spannungsversorgungsquelle (VDD) geschaltet, wobei die Gateelektrode der P-Kanal MOS Transistoren mit einer Wortlei­ tung (beispielsweise der Wortleitung W1, W2) verbunden ist, die mit den N-Kanal MOS Transistoren am Schnittpunkt der Wortleitungen W0 bis W3 und der Ausgangsleitung D0 bis D2 kombiniert ist, die über diese P-Kanal MOS Transistoren betrieben werden.
Die Ausgangszustände, die den Adressensignalen der oben beschriebenen ROM Schaltung entsprechen, sind in der folgenden Tabelle 1 aufgeführt.
Tabelle 1
Die ROM Schaltung mit bekannter CMOS Auslegung, wie sie oben beschrieben wurde, sollte daher gleichzeitig P-Kanal MOS Transistoren entsprechend den N-Kanal MOS Transistoren aufweisen.
Da weiterhin die Beweglichkeit der Träger in den P-Kanal MOS Transistoren, verglichen mit der Beweglichkeit der Träger in den N-Kanal MOS Transistoren, niedrig ist, nehmen die P- Kanal MOS Transistoren einen noch größeren Flächenbereich aufgrund der relativ großen Kanalbreite ein.
Da weiterhin ein Verdrahtungsbereich benötigt wird, um die Wortleitungen entsprechend dem UND-Gliedteil 3 zu verbinden, der die P-Kanal MOS Transistoren umfaßt, nimmt der Verdrahtungsbereich proportional zur steigenden Speicherkapa­ zität zu.
Durch die Erfindung soll eine ROM Schaltung mit einfacherem Schaltungsaufbau geschaffen werden, die insbeson­ dere einem DSP Chip für ein digitales Tonbandgerät einen hohen Wert und einen hohen Standard gibt.
Dazu umfaßt die erfindungsgemäße ROM Schaltung, die N Datenbits programmiert an den jeweiligen Schnittpunkten von L (=2M) Wortleitungen durch Decodieren eines M-Bit Adressensignals und von N Ausgangsleitungen (N ist eine natürliche Zahl) erzeugt, einen Decodierer zum Erzeugen eines L-Bit Wortsignals durch Eingabe des M-Bit Adressensignals, eine Gattereinrichtung, die das L-Bit Wortsignal L Wortlei­ tungen nach Maßgabe eines Taktsignals liefert, eine Speicher­ zellengruppe, die die gewünschten Daten entsprechend dem kombinierten Auftreten der MOS Transistoren an den jeweiligen Schnittpunkten der L Wortleitungen und der N Ausgangsleitun­ gen speichert, und eine vorgeladene Einrichtung zum Vorladen der N Ausgangsleitungen nach Maßgabe des Taktsignals.
Die vorgeladene Einrichtung zeichnet sich dabei dadurch aus, daß sie jede Ausgangsleitung über einen P-Kanal MOS Transistor nach Maßgabe des Taktsignals vorlädt.
Eine ROM Schaltung gemäß der Erfindung, wie sie oben beschrieben wurde, kann einen wesentlich einfacheren Schaltungsaufbau im UND-Gliedteil haben und nimmt aufgrund der Verkleinerung des Verdrahtungsbereiches eine geringere Fläche ein.
Im folgenden werden anhand der zugehörigen Zeichnung ein besonders bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung näher beschrieben. Es zeigen
Fig. 1 das Schaltbild eines bevorzugten Ausführungsbei­ spiels eines erfindungsgemäßen 2×3 ROM Speichers mit vorgeladenem UND-Glied,
Fig. 2 das Schaltbild eines statischen 2×3 ROM Speichers, der nach dem bekannten CMOS Verfahren ausgelegt ist,
Fig. 3 das Schaltbild eines UND-Gliedes im einzelnen, das bei der Gattereinrichtung von Fig. 1 verwandt wird, und
Fig. 4 das Schaltbild eines weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiels eines erfindungsgemäßen N×N ROM Speichers mit vorgeladenem NOR-Glied.
Fig. 1 zeigt das Schaltbild eines Ausführungsbeispiels eines erfindungsgemäßen 2×3 ROM Speichers mit vorgeladenem UND-Glied. In Fig. 1 ist der Aufbau eines Decodierers 10 und einer Speicherzellengruppe oder eines ODER-Gliedteils 24 gleich dem des Decodierers 1 und des ODER-Gliedteils 4 in Fig. 2. Die jeweiligen Ausgangsleitungen des Decodierers 10 sind über eine Gattereinrichtung 22 mit den jeweiligen Wortleitungen W0 bis W3 verbunden.
Diese Gattereinrichtung 22 besteht aus vier UND-Gliedern G5 bis G8, wobei ein Taktsignal CK an einem Eingang und der Ausgang des Decodierers 10 am anderen Eingang liegt.
Diese UND-Glieder G5 bis G8 liefern ein Ausgangssignal des Decodierers 10 einer Wortleitung, wenn das Taktsignal CK einen hohen Pegel hat.
Die jeweiligen Ausgangsleitungen D0 bis D2 sind weiterhin mit einer zweiten Spannungsversorgungsquelle VDD über eine vorgeladene Einrichtung 26 verbunden. Diese vorgeladene Einrichtung besteht aus P-Kanal MOS Transistoren, deren Sourceelektrode mit der zweiten Spannungsversor­ gungsquelle VDD verbunden ist, deren Drainelektrode an der entsprechenden Ausgangsleitung liegt und deren Gateelektrode so geschaltet ist, daß das Taktsignal CK anliegt, um die zweite Versorgungsspannung VDD an die Ausgangsleitungen während des Zeitintervalls zu legen, in dem das Taktsignal CK einen niedrigen Pegel hat.
Die Ausgangszustände, die den Eingangszuständen des oben beschriebenen Ausführungsbeispiels der Erfindung entsprechen, sind in der folgenden Tabelle 2 aufgeführt.
Tabelle 2
Was zum Beispiel die Arbeitsweise der ROM Schaltung unter der Annahme anbetrifft, daß die Adressensignale A0, A1 gleich 00 sind, so bekommt nur der Ausgang des UND-Gliedes G1 des Decodierers 10 den logischen Zustand "1", während die Ausgänge der übrigen UND-Glieder G2 bis G4 den logischen Zustand "0" haben.
Wenn andererseits das Taktsignal CK den logischen Zustand "0" hat, schalten die P-Kanal MOS Transistoren der vorgeladenen Einrichtung 26 durch und fließt ein Strom zu den Ausgangsleitungen D0 bis D2, so daß sie auf den logischen Zustand "1" vorgeladen sind.
Wenn das Taktsignal CK vom logischen Zustand "0" auf den logischen Zustand "1" umschaltet, sperren die P-Kanal MOS Transistoren der vorgeladenen Einrichtung 26 und kommen alle Signale, die an den beiden Eingangsleitungen des UND-Gliedes G5 liegen, in den logischen Zustand "1", so daß die N-Kanal MOS Transistoren einer Speicherzellengruppe oder eines ODER- Gliedteils 24, der mit einer Wortleitung W0 verbunden ist, deren Ausgangsleitung den logischen Zustand "1" hat, durch­ schalten.
Eine erstes Spannungsversorgungsquelle (VSS oder Massepotential) liegt an den Ausgangsleitungen D1, D2, die mit den N-Kanal MOS Transistoren verbunden sind, so daß diese den logischen Zustand "0" haben und die Ausgangsleitung D0 weiter in den logischen Zustand "1" vorgeladen ist. Der Ausgangszustand wird daher gleich "100".
Wie es in Fig. 3 dargestellt ist, bestehen die UND- Glieder G5 bis G8 der Gattereinrichtung 22 bei dem obigen Ausführungsbeispiel der Erfindung aus einem CMOS NAND-Glied 28, das aus jeweils vier MOS Transistoren aufgebaut ist, und aus einer CMOS Inverterschaltung 29, die aus zwei MOS Transistoren aufgebaut ist, so daß insgesamt sechs MOS Transistoren benötigt werden.
Obwohl somit die Anzahl der Transistoren aufgrund der zusätzlich vorgesehenen Gattereinrichtung 22 zunimmt, nimmt die Anzahl der Transistoren der gesamten ROM Schaltung entsprechend der Erhöhung der Kapazität stark ab.
Um das zu bestätigen, wird im folgenden eine Verdichtung des erforderlichen Flächenbereiches betrachtet.
Es sei beispielsweise angenommen, daß die Anzahl der Wortleitungen einer ROM Schaltung mit M-Bit Eingängen und N-Bit Ausgängen gleich 2M=L ist. Die Anzahl der Transistoren eines Codierers in einer ROM Schaltung mit dem bekannten statischen CMOS Aufbau wird gleich 2LN. Es sei angenommen, daß die Anzahl der Transistoren eines UND-Gliedteils und eines ODER-Gliedteils gleich ist, und daß trotz der Tatsache, daß im ODER-Gliedteil ein Transistor nicht an allen Schnitt­ punkten ausgebildet ist, der gleiche Flächenbereich am Schnittpunkt vorgesehen ist, an dem kein Transistor ausgebil­ det ist, so daß die Anzahl der Transistoren gleich ist.
Bei der erfindungsgemäßen ROM Schaltung mit vorgeladenem UND-Glied ist die Anzahl der Transistoren des Codierers gleich LN+6L+N. Dabei ist LN die Anzahl der N-Kanal MOS Transistoren einer Speicherzellengruppe oder eines ODER- Gliedteils 24, ist 6L die Anzahl der MOS Transistoren einer Gattereinrichtung 22 und ist N die Anzahl der P-Kanal MOS Transistoren der vorgeladenen Einrichtung 26.
Wenn somit die Ungleichung nach Maßgabe der Bedingung LN+6L+N<2LN gebildet wird, wird diese gleich 6L+N<LN, so daß unter der Voraussetzung, daß L annähernd gleich N ist, die Bedingung L (=2m)<7 erhalten wird.
Wenn folglich M größer als 3 ist, d. h. wenn die Zahl der Eingangsbits über 3 Bits liegt, und die Zahl der Ausgangsbits über 8 Bits liegt, dann ist die Größe der ROM Schaltung mit vorgeladenem UND-Glied kleiner als die Größe einer bekannten statischen CMOS ROM Schaltung.
Fig. 4 zeigt das Schaltbild eines weiteren Ausfüh­ rungsbeispiels der erfindungsgemäßen ROM Schaltung mit vorgeladenem NOR-Glied.
Die ROM Schaltung in Fig. 4 besteht aus einer Gatterein­ richtung 32, die ein UND-Glied der Gattereinrichtung 22 von Fig. 2 als Inverter ersetzt, und einem NOR-Glied zum Vorladen beim logischen Zustand "1" eines Taktsignales CK und zum normalen Arbeiten auf dem Zustand "0".
Um das umgekehrte Taktsignal CK einer vorgeladenen Einrichtung 36 zu liefern, ist der Ausgang eines NOR-Gliedes (NOR1) der Gattereinrichtung 32 mit der Gateelektrode der P-Kanal MOS Transistoren der vorgeladenen Einrichtung 36 verbunden.
Die ROM Schaltung von Fig. 4 ist daher auf den logischen Zustand "1" eines Taktsignals CK vorgeladen und arbeitet normal auf dem logischen Zustand "0". Das Maß an Verdichtung ist identisch mit dem bei der oben beschriebenen ROM Schaltung mit vorgeladenem UND-Glied.
Dadurch, daß bei der oben beschriebenen erfindungsge­ mäßen Ausbildung der UND-Gliedteil aus P-Kanal MOS Transis­ toren bei einer CMOS ROM Schaltung durch P-Kanal MOS Transistoren der Ausgangsleitungen, die über ein Taktsignal betrieben werden und NOR-Glieder und Inverter gleich der Anzahl der Wortleitungen ersetzt sind, kann die Größe der ROM Schaltung mit dem Format 3×8, wie es oben beschrieben wurde, verglichen mit der bekannten statischen CMOS ROM Schaltung proportional zur Speicherkapazität herabgesetzt werden.
Die Abnahme des erforderlichen Flächenbereiches einer ROM Schaltung innerhalb eines ausschließlich benutzten DSP Chips in einem digitalen Tonbandgerät usw. erlaubt es eine Schaltung mit verschiedenen Funktionen innerhalb des gleichen Chipbereiches auszubilden, so daß eine hohe Güte und ein hoher Standard erzielt werden können.

Claims (10)

1. ROM Schaltung, die N Datenbits programmiert an den jeweiligen Schnittpunkten von L(=2M) Wortleitungen durch Decodieren von M-Bit Adressensignalen und N Ausgangsleitungen (N ist eine natürliche Zahl) erzeugt, gekennzeichnet durch einen Decodierer (10), der L Bit Wortsignale durch Eingeben der M-Bit Adressensignale erzeugt, eine Gattereinrichtung (22, 32), die jeweils die L-Bit Wortsignale L Wortleitungen (W0 bis W3) nach Maßgabe eines Taktsignales (CK) liefert, eine Speicherzellengruppe (24), die die gewünschten Daten nach Maßgabe des kombinierten Auftretens der MOS Transistoren an den jeweiligen Schnittpunkten der L Wortleitungen (W0 bis W3) und der N Ausgangsleitungen (D0 bis D2) speichert, und eine vorgeladene Einrichtung (26, 36) zum Vorladen der N Ausgangsleitungen (D0 bis D2) nach Maßgabe des Taktsignals (CK).
2. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die vorgeladene Einrichtung (26, 36) eine Schaltein­ richtung umfaßt, die zwischen eine erste Spannungsversor­ gungsquelle und die jeweiligen Ausgangsleitungen (D0 bis D2) geschaltet ist und nach Maßgabe des Taktsignals (CK) an- und ausgeschaltet wird.
3. ROM Schaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich­ net, daß die Schalteinrichtung MOS Transistoren eines ersten Leitfähigkeitstyps umfaßt, wobei die MOS Transistoren der Speicherzellengruppe (24) von einem zweiten Leitfähigkeitstyp sind.
4. ROM Schaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich­ net, daß die MOS Transistoren vom ersten Leitfähigkeitstyp P-Kanal MOS Transistoren und die MOS Transistoren vom zweiten Leitfähigkeitstyp N-Kanal MOS Transistoren sind.
5. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die Gattereinrichtung (22) L UND-Glieder (G5 bis G8) umfaßt, an deren einem Eingang das Taktsignal (CK) und an deren anderem Eingang ein dem Decodierer (10) entsprechendes Ausgangssignal liegen und mit deren Ausgänge die Wortleitun­ gen (W0 bis W3) verbunden sind.
6. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die Gattereinrichtung (32) L NOR-Glieder (NOR1 - NORL) umfaßt, an deren einen Eingängen das Taktsignal (CK) und an deren anderen Eingängen das dem Decodierer (10) entsprechende Ausgangssignal über einen Inverter (INV1 - INVL) liegen, und mit deren Ausgängen die Wortleitun­ gen (W0 - WL-1) verbunden sind, wobei das Taktsignal in umgekehrter Form an der vorgeladenen Einrichtung (36) liegt.
7. ROM Schaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich­ net, daß das Taktsignal der vorgeladenen Einrichtung (32) über eines der NOR-Glieder (NORl) der L NOR-Glieder (NOR1 - NORL) geliefert wird.
8. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die Adressensignale mehr als 3 Bits und die Ausgangsleitungen mehr als 8 Bits haben.
9. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die Gattereinrichtung (22, 32) den Ausgangszustand "1" der Decodiereinrichtung (10) einer Wortleitung beim logischen Zustand "1" des Taktsignales liefert, und daß die vorgeladene Einrichtung (26, 36) eine Ausgangsleitung auf den logischen Zustand "0" des Taktsignals vorlädt.
10. ROM Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die Gattereinrichtung (22, 32) den Ausgangszustand "1" des Decodierers (10) an eine Wortleitung beim logischen Zustand "0" des Taktsignals legt und die vorgeladene Einrichtung (26, 36) eine Ausgangsleitung auf den logischen Zustand "1" des Taktsignals vorlädt.
DE4007615A 1990-02-20 1990-03-09 ROM Schaltung Expired - Lifetime DE4007615C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019900002072A KR930000815B1 (ko) 1990-02-20 1990-02-20 Rom 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4007615A1 true DE4007615A1 (de) 1991-08-29
DE4007615C2 DE4007615C2 (de) 1994-02-03

Family

ID=19296224

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4007615A Expired - Lifetime DE4007615C2 (de) 1990-02-20 1990-03-09 ROM Schaltung

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5012451A (de)
JP (1) JPH03252995A (de)
KR (1) KR930000815B1 (de)
DE (1) DE4007615C2 (de)
FR (1) FR2658652A1 (de)
GB (1) GB2241095A (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940005688B1 (ko) * 1991-09-05 1994-06-22 삼성전자 주식회사 메모리 소자에 있어서 데이터 라인의 프리챠아지 자동 검사 장치
JPH06196746A (ja) * 1992-12-25 1994-07-15 Canon Inc 光電変換装置、駆動回路、半導体発光素子駆動回路、記憶装置、及びシーケンシャルアクセスメモリー
US7177212B2 (en) * 2004-01-23 2007-02-13 Agere Systems Inc. Method and apparatus for reducing leakage current in a read only memory device using shortened precharge phase
US7623367B2 (en) * 2006-10-13 2009-11-24 Agere Systems Inc. Read-only memory device and related method of design

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4404660A (en) * 1980-05-23 1983-09-13 National Semiconductor Corporation Circuit and method for dynamically adjusting the voltages of data lines in an addressable memory circuit
US4426686A (en) * 1980-05-08 1984-01-17 Fujitsu Limited Read-only memory device

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3691538A (en) * 1971-06-01 1972-09-12 Ncr Co Serial read-out memory system
US4044341A (en) * 1976-03-22 1977-08-23 Rca Corporation Memory array
FR2535886A1 (fr) * 1982-11-09 1984-05-11 Labo Cent Telecommunicat Procede d'acces rapide a une memoire a lecture seule et memoire a acces rapide utilisant ce procede
JPS60187997A (ja) * 1984-03-06 1985-09-25 Nec Corp 読み出し専用メモリ
EP0179351B1 (de) * 1984-10-11 1992-10-07 Hitachi, Ltd. Halbleiterspeicher
US4804871A (en) * 1987-07-28 1989-02-14 Advanced Micro Devices, Inc. Bit-line isolated, CMOS sense amplifier
JPH01119982A (ja) * 1987-10-31 1989-05-12 Toshiba Corp スタティック型ランダムアクセスメモリ
US4922461A (en) * 1988-03-30 1990-05-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Static random access memory with address transition detector

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4426686A (en) * 1980-05-08 1984-01-17 Fujitsu Limited Read-only memory device
US4404660A (en) * 1980-05-23 1983-09-13 National Semiconductor Corporation Circuit and method for dynamically adjusting the voltages of data lines in an addressable memory circuit

Also Published As

Publication number Publication date
GB2241095A (en) 1991-08-21
KR910016006A (ko) 1991-09-30
JPH03252995A (ja) 1991-11-12
GB9005372D0 (en) 1990-05-02
KR930000815B1 (ko) 1993-02-05
US5012451A (en) 1991-04-30
FR2658652A1 (fr) 1991-08-23
DE4007615C2 (de) 1994-02-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3936676C2 (de)
DE19650715B4 (de) Unterwortleitungstreiberschaltung und diese verwendende Halbleiterspeichervorrichtung
DE19740695C2 (de) Datenspeicher mit Mehrebenenhierarchie
DE4238063C2 (de) Integrierte Speicherzellenschaltung mit Set-/Reset-Funktion
DE3930932C2 (de)
DE3716518A1 (de) Halbleiterspeichervorrichtung
DE19904786A1 (de) Nur-Lese-Speicher und Verfahren zum Herstellen eines Nur-Lese-Speichers
EP0104442A2 (de) Monolithisch integrierte digitale Halbleiterschaltung
DE19920603A1 (de) Verfahren und Schaltung zum Bestimmen der Redundanz einer Halbleiterspeichervorrichtung
DE10219649C1 (de) Differentielle Strombewerterschaltung und Leseverstärkerschaltung zum Bewerten eines Speicherzustands einer SRAM-Halbleiterspeicherzelle
DE19733396A1 (de) Wortleitungstreiberschaltung für Halbleiterspeicherbauelement
DE3347306A1 (de) Speichereinrichtung
DE69627152T2 (de) Leseschaltung für Halbleiter-Speicherzellen
DE4018296A1 (de) Elektrische schaltung fuer einen parallelschreibtest eines breiten mehrfachbytes in einer halbleiterspeichereinrichtung
DE19654577A1 (de) Verfahren zum Treiben von Wortleitungen in Halbleiter-Speichervorrichtungen
EP0224887B1 (de) Gate Array Anordnung in CMOS-Technik
DE4138102C2 (de) Halbleiterspeichereinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer Halbleiterspeichereinrichtung
EP1119859B1 (de) Dual-port speicherzelle
DE19947976A1 (de) Layoutkonstruktionsverahren auf Halbleiterchip zum Vermeiden einer Umwegverdrahtung
DE4007615C2 (de) ROM Schaltung
DE19611212C2 (de) Halbleiter-Speichereinrichtung
EP0393434B1 (de) Statischer Speicher
DE19823687A1 (de) Fuselatch-Schaltung
DE69630203T2 (de) Synchron mit Taktsignalen arbeitende Verriegelungsschaltung
EP0021084B1 (de) Monolithisch integrierter Halbleiterspeicher

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition