DE3928836A1 - Massenspektrometer - Google Patents
MassenspektrometerInfo
- Publication number
- DE3928836A1 DE3928836A1 DE19893928836 DE3928836A DE3928836A1 DE 3928836 A1 DE3928836 A1 DE 3928836A1 DE 19893928836 DE19893928836 DE 19893928836 DE 3928836 A DE3928836 A DE 3928836A DE 3928836 A1 DE3928836 A1 DE 3928836A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- mass spectrometer
- ion
- spectrometer according
- secondary electron
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/28—Static spectrometers
- H01J49/30—Static spectrometers using magnetic analysers, e.g. Dempster spectrometer
- H01J49/305—Static spectrometers using magnetic analysers, e.g. Dempster spectrometer with several sectors in tandem
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/025—Detectors specially adapted to particle spectrometers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Massenspektrometer mit einem
oder mehreren magnetischen Sektorfeldern zur Ablenkung von
Ionenstrahlen, deren Ionen in entlang der Bildkurve ange
ordneten Ionenauffängern aufgefangen werden.
Bei einer bestimmten Art von Massenspektrometern, soge
nannten Multikollektoren, werden mehrere Ionenstrahlen
gleichzeitig registriert wozu entsprechend viele Ionenauf
fänger vorhanden sind. Als Ionenauffänger werden in der
Regel Faraday-Töpfe verwendet, die allerdings zur Regis
trierung kleinerer Ionenströme nicht geeignet sind.
Kleinere Ionenströme können dagegen grundsätzlich mit Sekun
därelektronenvervielfachern als Ionenauffänger gemessen
werden, wobei die Ionen gezählt werden können.
Eine andere Schwierigkeit bei der Messung mit Massenspektro
metern besteht darin, daß die Ionenauffänger jeweils einen
gewissen Durchmesser aufweisen, normalerweise einige Zenti
meter, während die zu registrierenden Ionenstrahlen meist
sehr viel geringere Abstände voneinander besitzen, bei
spielsweise 1 bis 3 mm. Noch enger zusammen liegen die
Ionenstrahlen von Isobaren, also Ionen gleicher ganzen
Massenzahl, von unterschiedlichen Ionen gleicher Ladungs
zahl bzw. von Istopen. Ein solcher Abstand ist, je nach
Dispersion des Massenspektrometers und des Massenunter
schieds der Isobaren, meist nur den Bruchteil eines Milli
meters groß. Da bei Isobaren die ganze Massenzahl überein
stimmt, ist die Massendifferenz kleiner als eine Massenein
heit und resultiert lediglich aus Massendefekten durch die
unterschiedlichen Bindungsenergien innerhalb der Isobaren.
Angesichts der vielfältigen Schwierigkeiten, die bei der
Messung mit einem Massenspektrometer auftreten können,
liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Massenspektro
meter hinsichtlich der Meßmöglichkeiten, insbesondere auch
im Hinblick auf die Meßgenauigkeit, zu verbessern.
Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß dadurch gelöst worden,
daß die Ionenauffänger Sekundärelektronenvervielfacher
einer Sekundärelektronenvervielfacherplatte (Channel Plate)
aus dicht aneinander gepackten Sekundärelektronenverviel
fachern (Channeltrons) sind, daß vor der Sekundärelektro
nenvervielfacherplatte Eintrittsspalte für die für die
jeweilige Messung interessierenden Ionenstrahlen angeordnet
sind und daß hinter der Sekundärelektronenvervielfacher
platte den Auftreffbereichen der Ionenstrahlen zugeordnete
Elektronenauffänger für die Sekundärelektronen angeordnet
sind.
Die Channeltrons bilden zusammen die Channel Plate, indem
die Channeltrons dicht an dicht angeordnet sind. Dabei sind
die Channeltrons in der Regel wabenförmig ausgebildet und
aneinandergefügt. Jeder auf diese Channel Plate auftref
fende Ionenstrahl löst durch sein Auftreffen Sekundärelek
tronen aus, egal an welcher Stelle der Channel Plate er auf
trifft. Zum Nachweis der ausgelösten Sekundärelektronen
werden jeweils den Bereichen, in denen ein Auftreffen von
Ionenstrahlen erwartet wird und nachgewiesen werden soll,
Elektronenauffänger zugeordnet, die von Ionenstrahlrichtung
aus gesehen hinter der Channel Plate angeordnet sind.
Da die Channeltrons der Channel Plate nahezu lückenlos an
einander angeordnet sind, kann der nachzuweisende Ionen
strahl in einem derartigen Sekundärelektronenvervielfacher
nachgewiesen werden, was den Vorteil hat, daß auch Ionen
strahlen mit kleinen Ionenströmen nachgewiesen werden
können, indem quasi die Ionen einzeln gezählt werden. Für
jeden der Ionenstrahlen kann somit ein eigener Zählkanal ge
schaffen werden. Dies ist mit herkömmlichen Sekundärelek
tronenvervielfachern nicht möglich, da sich derartige Sekun
därelektronenvervielfacher aufgrund ihrer Baugrößen und Aus
bildungen nicht so dicht an dicht anordnen lassen, daß
jeder Ionenstrahl in ihnen nachweisbar ist.
Zudem können mit dem erfindungsgemäßen Massenspektrometer
auch jeweils bestimmte Ionenstrahlen aus einer Vielzahl von
Isobarenstrahlen nachgewiesen werden, obwohl derartige
Strahlen meist nur Bruchteile von Millimetern auseinander
liegen, weil jeweils die interessierenden Ionenstrahlen
beim erfindungsgemäßen Massenspektrometer durch die zuvor
eingestellten Eintrittsspalte in die Channel Plate gelassen
werden, während die übrigen Ionenstrahlen ausgeblendet
werden. Hierdurch ist auch das Auflösungsvermögen des er
findungsgemäßen Massenspektrometers verbessert.
Um die Eintrittsspalte auf die zu erwartenden Positionen
der zu messenden Ionenstrahlen jeweils einstellen zu
können, sind die Eintrittsspalte vorzugsweise entlang der
Bildkurve verschiebbar angeordnet, und zwar vorzugsweise ge
meinsam mit den ebenfalls verschiebbaren, zugeordneten
Elektronenauffängern.
Da mit zunehmendem Auflösungsvermögen des Massenspektro
meters gleichzeitig die Empfindlichkeit abnimmt, also bei
engem Eintrittsspalt nur noch wenige Ionen, das heißt ein
kleiner Ionenstrom, in die Channel Plate gelassen werden,
sind die Eintrittsspalte vorzugsweise in ihrer Spaltbreite
veränderbar, damit zur Erreichung höchstmöglicher Empfind
lichkeit des Massenspektrometers jeweils nur das gerade
notwendige Auflösungsvermögen eingestellt werden kann.
Auch bei der Channel Plate sind die Channeltrons nicht
völlig lückenlos aneinander angeordnet, da sich zwischen
den einzelnen Channeltrons von beispielsweise etwa 30 µm
Durchmesser jeweils die Wände dieser Channeltrons von bei
spielsweise ca. 5 µm Dicke befinden. Treffen Ionen auf
diese Wände auf, so entstehen keine Sekundärelektronen. Um
eine derartige Messungenauigkeit zu verhindern, ist beim er
findungsgemäßen Massenspektrometer bei einer bevorzugten
Ausführungsform vorgesehen, daß es eine Ablenkeinrichtung
aufweist, die zwischen einem Spalt und Channel Plate ange
ordnet ist, um den eintreffenden Ionenstrahl auf einen
nächstgelegenen Bereich höchster Empfindlichkeit der
Channel Plate abzulenken. Hierdurch wird erreicht, daß auch
nach einer Verschiebung eines Eintrittsspaltes der Ionen
strahl immer einem empfindlichen Bereich der Channel Plate
zugelenkt wird.
Eine andere bevorzugte Ausbildung des erfindungsgemäßen
Massenspektrometers sieht vor, daß im Bereich der Bildkurve
in unterschiedlichen Ebenen eine Channel Plate, aber auch
herkömmliche Ionenauffänger, wie zum Beispiel Fa
raday-Töpfe, angeordnet sind. Die eintreffenden Ionen
strahlen können wahlweise auf eine dieser Arten von Ionen
auffängern gelenkt werden, so daß wahlweise Ionenstrahlen
mit kleinen Ionenströmen oder mit großen Ionenströmen ge
messen werden können.
Ausführungsbeispiele, aus denen sich weitere erfinderische
Merkmale ergeben, sind in der Zeichnung dargestellt. Es
zeigen schematisch:
Fig. 1 eine Draufsicht auf ein erstes Ausführungsbeispiel
eines erfindungsgemäßen Massenspektrometers,
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht eines Ausschnittes
aus einer Channel Plate,
Fig. 3 eine Seitenansicht eines zweiten Ausführungsbei
spiels eines erfindungsgemäßen Massenspektrome
ters mit unterschiedlichen Ionenauffängern in
unterschiedlichen Ebenen,
Fig. 4 eine Draufsicht auf die untere Ebene des Massen
spektrometers gemäß Fig. 3 und
Fig. 5 ein Blockschaltbild einer Verstärkerschaltung für
einen Elektronenauffänger zur Verwendung mit einer
Channel Plate gemäß Fig. 2.
Die Fig. 1 zeigt eine Draufsicht auf einen Bereich eines er
findungsgemäßen Massenspektrometers.
Von Ionenstrahlen 10a bis d, die von einem nicht darge
stellten magnetischen Sektorfeld eintreffen, werden Ionen
strahlen 10a bis c von einer Sekundärelektronenverviel
facherplatte 11 (Channel Plate) aufgefangen.
Die Sekundärelektronenvervielfacherplatte 11 besteht aus
dicht aneinander angeordneten Sekundärelektronenverviel
fachern 12 (Channeltrons). Die auftreffenden Ionen der
Ionenstrahlen 10a bis c lösen in diesen Sekundärelektronen
vervielfachern 12 Sekundärelektronen 13 aus, die von Elek
tronenauffängern 14 aufgefangen werden. Die Elektronenauf
fänger 14 sind in Ionenstrahlrichtung hinter der Sekundär
elektronenvervielfacherplatte 11 angeordnet. Dabei sind sie
unterschiedlichen Ionenauftreffbereichen zuortbar, indem
sie in Richtung der Doppelpfeile 15 entlang der Channel
Plate 11 verschiebbar angeordnet sind.
In Ionenstrahlrichtung vor der Sekundärelektronenverviel
facherplatte 11 sind Eintrittsspalte 16 angeordnet. Mit
Hilfe dieser Eintrittsspalte 16, die vorzugsweise in ihrer
Spaltbreite veränderbar sind, sind störende Ionenstrahlen
10d, die für die Messung nicht interessant sind, ausblend
bar, während die zu messenden Ionenstrahlen 10a bis c durch
gelassen werden. Um unterschiedliche Ionenstrahlen wahl
weise ausblenden zu können, sind die Eintrittsspalte 16
über Verbindungselemente 17 mit den zugeordneten Elektronen
auffängern 14 verschiebbar gekoppelt. Dadurch lassen sich
die Eintrittsspalte 16 zusammen mit den Elektronenauffän
gern 14 in Richtung der Doppelpfeile 15 verschieben.
Die beiden Ionenstrahlen 10c und 10d, von denen der Ionen
strahl 10d ausgeblendet wird, könnten Ionenstrahlen von iso
baren Ionen sein, die in der Ebene der Eintrittsspalte 16
nur Bruchteile von Millimetern auseinanderliegen.
So können zum Beispiel bei der Masse 44 bei Elektronenstoß
ionisation sowohl einfach geladene Kohlendioxydionen als
auch einfach geladene Propanionen auftreten. Für die
Messung interessant ist jedoch meist nur jeweils eine der
Ionenspezies, also beispielsweise Kohlendioxyd. Die andere
Spezies führt zu Störlinien.
Da bei Isobaren Ionen nur die ganze Massenzahl, nicht je
doch das genaue Atom-/Molekulargewicht gleich sind, kann
man die Ionenspezies durch ausreichend hohe Auflösung des
Massenspektrometers voneinander trennen. Zum Beispiel hat
das Kohlendioxydion das Molekurlargewicht 43,989828 und das
Propanion hat 44,0626. Der Massenunterschied ist somit
0,07277 Masseneinheiten. Der Abstand der Ionenstrahlen
richtet sich nach der Dispersion des Massenspektrometers,
die beispielsweise 2 mm pro 1% Massenunterschied ist. Die
beiden Ionenstrahlen im obigen Beispiel (ca. 0,17% Massen
unterschied) wären also etwa 0,34 mm voneinander entfernt.
Die Ionenstrahlen 10c und d lassen sich trotz dieser ge
ringen Distanzen voneinander trennen, indem der Ionenstrahl
10d vom Eintrittsspalt 16 ausgeblendet wird.
Die Empfindlichkeit der Sekundärelektronenvervielfacher
platte 11 variiert entlang der Oberfläche, weil die Einzel
elemente, die Sekundärelektronenvervielfacher 12, einen
endlichen Durchmesser haben, der von Wänden des Sekundär
elektronenvervielfachers 12 begrenzt wird. In diesen Grenz
bereichen können keine Sekundärelektronen von auftreffenden
Ionen erzeugt werden. Obwohl sich dieser Effekt mit größer
werdender Breite und Höhe des Ionenbündels immer weniger
bemerkbar macht, könnte es vorkommen, daß ein durch den Ein
trittsspalt 16 hindurchtretender Ionenstrahl 10a bis c je
nach Justierung auf eine unempfindlichere Stelle der
Channel Plate 11 trifft. Um dies zu vermeiden, sind
zwischen den Eintrittsspalten 16 und der Sekundärelektronen
vervielfacherplatte 11 kleine Ablenkelemente 18 angeordnet,
die mittels elektrischer Spannungen die Ionenstrahlen auf
die nächstgelegenen Stellen höchster Empfindlichkeit
lenken. Dies ist in der Fig. 1 beim Ionenstrahl 10b
gezeigt.
An die Elektronenauffänger 14 sind Verstärker 19 angeschlos
sen, die die von den Elektronenauffängern 14 registrierten
Elektronenströme verstärken.
In Fig. 2 ist perspektivisch ein Bereich einer Sekundärelek
tronenvervielfacherplatte 11 mit Sekundärelektronenverviel
fachern 12 dargestellt. Insbesondere ist der Fig. 2 zu ent
nehmen, daß die Sekundärelektronenvervielfacher 12 dicht an
dicht aneinander angeordnet sind. Dabei sind die Sekundär
elektronenvervielfacher 12 wabenförmig ausgebildet. Es ist
aus der Fig. 2 aber auch zu entnehmen, daß die Sekundärelek
tronenvervielfacher 12 Wände 20 aufweisen, aus denen auf
treffende Ionen keine Sekundärelektronen auslösen können.
Fig. 3 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel eines erfin
dungsgemäßen Massenspektrometers in einer Seitenansicht. An
gedeutet ist ein magnetisches Sektorfeld 21 mit Magnetpolen
22a, b. Zwischen diesen Magnetpolen 22a, b verläuft eine
Ebene für die Ionenstrahlen 10. Im Bereich der Bildkurve
sind übereinander unterschiedliche Ionenauffänger 23a, b an
geordnet, der obere Ionenauffänger 23a ist eine Sekundär
elektronenvervielfacherplatte 11. Der untere Ionenauffänger
23b weist Faraday-Töpfe auf. Mittels eines elektrischen Ab
lenkkondensators 24 können die Ionenstrahlen 10 wahlweise
einem der beiden Ionenauffänger 23a oder b zugelenkt
werden, beispielsweise je nach dem, ob kleine oder große
Ionenströme gemessen werden sollen. Die Auswahl der Ionen
auffänger 23a, b ist mittels der Polung des Kondensators 24
durchführbar.
Fig. 4 zeigt eine Draufsicht auf die untere Ebene des
Massenspektrometers gemäß Fig. 3, also auf die Ebene des
Ionenauffängers 23b. Gleiche Elemente sind mit den gleichen
Bezugszahlen bezeichnet wie in Fig. 3. Der Ablenkkondensa
tor 24 ist der Anschaulichkeit halber fortgelassen worden.
Der Ionenauffänger 23b weist Faraday-Töpfe 25 auf, an die
Verstärker 26 angeschlossen sind.
Die Faraday-Töpfe 25 sind besser zum Messen großer Ionen
ströme, die Sekundärelektronenvervielfacher 12 sind besser
zum Messen kleiner Ionenströme geeignet.
Die Meßwiderstände in den Gleichstromverstärkern 26, die an
die Faraday-Töpfe 25 angeschlossen sind, sind normalerweise
1011 Ohm, so daß ein Ionenstrom von 1×10-16 A gerade ein
Ausgangsspannungssignal von 10 µV erzeugt. Ungefähr ebenso
groß, nämlich 5-10 µV, ist die effektive Rauschspannung
am Verstärkerausgang, verursacht durch das Rauschen der
Verstärkereingangsstufe und das Rauschen des
Arbeitswiderstandes.
Damit ist aber bei ca. 10-16A das Signal/Rauschverhältnis
= 1, das heißt die Nachweisgrenze ist erreicht.
Anders liegen die Verhältnisse bei Sekundärelektronenver
vielfachern 12. Jedes einzelne am Sekundärelektronenverviel
facher 12 eintreffende Ion löst einen Ausgangsimpuls von
5-10 nsec Breite aus, so daß Ionenströme von z. B.
10-14A einfach durch Zählen gemessen werden können. Das
Rauschen des zählenden Sekundärelektronenvervielfachers
äußert sich als sogenannter Dunkelstrom. Es werden nämlich
auch Impulse am Ausgang registriert, ohne daß ein Ionen
strom in den Sekundärvervielfacher fällt. Diese Impulsrate
ist normalerweise etwa 2 Impulse pro Minute. Das entspricht
einem Dunkelstrom von 5,3×10-21A. Das Signal/Rausch
verhältnis ist deshalb sehr viel günstiger als beim
Faraday-Topf 25, so daß sehr kleine Ionenströme genau ge
messen werden können.
Auf der anderen Seite ist aber der zählende Sekundärelek
tronenvervielfacher bei großen Ionenströmen begrenzt, da
die Ausgangsimpulsbreite ca. 10 nsec beträgt. Das heißt,
daß der Sekundärelektronenvervielfacher nach Eintreffen
eines Ions für ca. 10 nsec unempfindlich ist für die Re
gistrierung eines weiteren Ions. Der Sekundärelektronenver
vielfacher hat also eine eine Totzeit von ca. 10 nsec.
Somit könnte man Impulsraten von 100 MHz (entsprechend
1,6×10-11A) messen, falls die Ionen in gleichem zeit
lichen Abstand einträfen. Das tun sie aber nicht. Vielmehr
sind die zeitlichen Abstände der Ionen verteilt nach einer
Poisson-Verteilung. Das heißt, daß zum Beispiel schon bei
1,6×10-13A etwa 1% aller eintreffenden Ionen weniger
als 10 nsec Abstand haben, also (bei 10 nsec Aus
gangsimpulsbreite) nicht mehr als Einzelereignisse regis
triert werden.
Bis zu einem gewissen Grad kann man den Totzeiteffekt bei
nicht zu hohen Zählfrequenzen wegkorrigieren, da man die
Wahrscheinlichkeit, mit der enge Pulsabstände vorkommen,
kennt (Poisson-Statistik).
Fig. 5 zeigt ein Schaltbild eines Verstärkers 19 für einen
Elektronenauffänger 14. Für den Zählbetrieb weist der Ver
stärker 19 einen Impulsverstärker 27 auf. Um auch einen
Analogbetrieb zu ermöglichen, ist diesem Impulsverstärker
27 ein Gleichstromverstärker 28 parallelgeschaltet. Dem
Impulsverstärker 27 ist ein Kondensator 29 vorgeschaltet,
vorzugsweise mit 50 pF. Die Verbindung zwischen Kondensator
29 und Impulsverstärker 27 ist über einen Widerstand 30
geerdet, der vorzugsweise 50 Ohm hat. Dem Gleichstromver
stärker 28 ist ein Widerstand 31 parallelgeschaltet, der
vorzugsweise 108 Ohm hat.
Bezugszeichenliste
10a Ionenstrahlen
10b Ionenstrahlen
10c Ionenstrahlen
10d Ionenstrahlen
11 Sekundärelektronenvervielfacherplatte
12 Sekundärelektronenvervielfacher
13 Sekundärelektronen
14 Elektronenauffänger
15 Doppelpfeile
16 Eintrittsspalte
17 Verbindungselement
18 Ablenkelement
19 Verstärker
20 Wände
21 magnetisches Sektorfeld
22a Magnetpole
22b Magnetpole
23a Ionenauffänger
23b Ionenauffänger
24 Ablenkkondensator
25 Faraday-Töpfe
26 Verstärker
27 Impulsverstärker
28 Gleichstromverstärker
29 Kondensator
30 Widerstand
31 Widerstand
10b Ionenstrahlen
10c Ionenstrahlen
10d Ionenstrahlen
11 Sekundärelektronenvervielfacherplatte
12 Sekundärelektronenvervielfacher
13 Sekundärelektronen
14 Elektronenauffänger
15 Doppelpfeile
16 Eintrittsspalte
17 Verbindungselement
18 Ablenkelement
19 Verstärker
20 Wände
21 magnetisches Sektorfeld
22a Magnetpole
22b Magnetpole
23a Ionenauffänger
23b Ionenauffänger
24 Ablenkkondensator
25 Faraday-Töpfe
26 Verstärker
27 Impulsverstärker
28 Gleichstromverstärker
29 Kondensator
30 Widerstand
31 Widerstand
Claims (14)
1. Massenspektrometer mit einem oder mehreren magne
tischen Sektorfeldern zur Ablenkung von Ionenstrahlen,
deren Ionen in entlang der Bildkurve angeordneten Ionenauf
fängern aufgefangen werden, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Ionenauffänger (23a) Sekundärelek
tronenvervielfacher (12) einer Sekundärelektronenverviel
facherplatte (11) (Channel Plate) aus dicht aneinander ge
packten Sekundärelektronenvervielfachern (12) (Channel
trons) sind, daß vor der Sekundärelektronenvervielfacher
platte (11) Eintrittsspalte (16) für die für die jeweilige
Messung interessierenden Ionenstrahlen (10a-c) angeordnet
sind und daß hinter der Sekundärelektronenvervielfacher
platte (11) den Auftreffbereichen der Ionenstrahlen
(10a-c) zugeordnete Elektronenauffänger (14) für die
Sekundärelektronen (13) angeordnet sind.
2. Massenspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß wenigstens ein Eintrittsspalt (16) entlang
der Bildkurve verschiebbar angeordnet ist.
3. Massenspektrometer nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß wenigstens ein Eintrittsspalt (16) gemeinsam
mit dem zugeordneten Elektronenauffänger (14) verschiebbar
angeordnet ist.
4. Massenspektrometer nach einem oder mehreren der vor
hergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
wenigstens die Spaltbreite eines der Eintrittsspalte (16)
veränderbar ist.
5. Massenspektrometer nach einem oder mehreren der vor
hergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Ablenkein
richtung (18) wenigstens zwischen einem Eintrittsspalt (16)
und der Sekundärelektronenvervielfacherplatte (11) zur Ab
lenkung des eintreffenden Ionenstrahls (10b) auf einen
nächstgelegenen Bereich höchster Empfindlichkeit der Sekun
därelektronenvervielfacherplatte (11).
6. Massenspektrometer nach Anspruch 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß an der Ablenkeinrichtung (18) eine elek
trische Ablenkspannung angelegt ist.
7. Massenspektrometer nach einem oder mehreren der vor
hergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Aus
gang wenigstens eines Elektronenauffängers (14) zur Abnahme
eines Impuls- und eines Analogsignals eingerichtet ist.
8. Massenspektrometer nach Anspruch 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß zum Impulsverstärker (27) des Ausgangs des
Elektronenauffängers (14) ein entsprechender Gleichstromver
stärker (28) parallel geschaltet ist.
9. Massenspektrometer nach einem oder mehreren der vor
hergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch Faraday-Töpfe
(25) als zusätzliche Ionenauffänger (23b) zu den Sekundär
elektronenvervielfachern (12) zur wahlweisen Verwendung
einer der Arten von Ionenauffängern (23a, b).
10. Massenspektrometer nach Anspruch 9, dadurch gekenn
zeichnet, daß die beiden Arten von Ionenauffängern (23a, b)
im Bereich der Bildkurve in unterschiedlichen Ebenen ange
ordnet sind, welche parallel zur Ablenkebene des magne
tischen Sektorfeldes (21) verlaufen.
11. Massenspektrometer nach Anspruch 10, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Ebenen der beiden Arten von Ionenauf
fängern (23a, b) symmetrisch zur Ablenkebene angeordnet
sind.
12. Massenspektrometer nach Anspruch 10 oder 11, gekenn
zeichnet durch ein Ablenkelement zwischen dem magnetischen
Sektorfeld (21) und den Ionenauffängern (23a, b) zur Ablen
kung der Ionenstrahlen (10) wahlweise in eine der beiden
Auffängerebenen.
13. Massenspektrometer nach Anspruch 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Ablenkelement mit einer elektrischen Ab
lenkspannung beaufschlagt ist.
14. Massenspektrometer nach Anspruch 13, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Ablenkelement ein Ablenkkondensator (24)
ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893928836 DE3928836A1 (de) | 1989-06-14 | 1989-08-31 | Massenspektrometer |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3919426 | 1989-06-14 | ||
DE19893928836 DE3928836A1 (de) | 1989-06-14 | 1989-08-31 | Massenspektrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3928836A1 true DE3928836A1 (de) | 1990-12-20 |
DE3928836C2 DE3928836C2 (de) | 1993-01-21 |
Family
ID=25881921
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19893928836 Granted DE3928836A1 (de) | 1989-06-14 | 1989-08-31 | Massenspektrometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3928836A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0762472A1 (de) * | 1995-09-07 | 1997-03-12 | Micromass Limited | Detektoren für geladene Teilchen sowie diese verwendende Massenspektrometer |
US5808314A (en) * | 1995-09-08 | 1998-09-15 | France Telecom | Semiconductor emission device with fast wavelength modulation |
US6297501B1 (en) | 1998-04-20 | 2001-10-02 | Micromass Limited | Simultaneous detection isotopic ratio mass spectrometer |
DE10156275A1 (de) * | 2001-11-16 | 2003-06-05 | Leo Elektronenmikroskopie Gmbh | Detektoranordnung und Detektionsverfahren |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004061442B4 (de) * | 2004-12-17 | 2017-01-19 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Ionen |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2508402A1 (de) * | 1975-02-17 | 1976-08-26 | Nat Res Dev | Ionen- oder photonenspektrumdetektor |
US4808818A (en) * | 1986-04-23 | 1989-02-28 | Finnigan Mat Gmbh | Method of operating a mass spectrometer and a mass spectrometer for carrying out the method |
-
1989
- 1989-08-31 DE DE19893928836 patent/DE3928836A1/de active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2508402A1 (de) * | 1975-02-17 | 1976-08-26 | Nat Res Dev | Ionen- oder photonenspektrumdetektor |
US4808818A (en) * | 1986-04-23 | 1989-02-28 | Finnigan Mat Gmbh | Method of operating a mass spectrometer and a mass spectrometer for carrying out the method |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
"Nucl. Instr. and Methods" 139(1976) 73-78 * |
"Rev. Sci. Instrum." 55(1984) 1756-1759 * |
"Rev. Sci. Instrum." 58(1987) 20-25 * |
Abstract zu JP 62-234 861 (A) * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0762472A1 (de) * | 1995-09-07 | 1997-03-12 | Micromass Limited | Detektoren für geladene Teilchen sowie diese verwendende Massenspektrometer |
US5903002A (en) * | 1995-09-07 | 1999-05-11 | Micromass Limited | Charged-particle detectors and mass spectrometers employing the same |
US5808314A (en) * | 1995-09-08 | 1998-09-15 | France Telecom | Semiconductor emission device with fast wavelength modulation |
US6297501B1 (en) | 1998-04-20 | 2001-10-02 | Micromass Limited | Simultaneous detection isotopic ratio mass spectrometer |
DE10156275A1 (de) * | 2001-11-16 | 2003-06-05 | Leo Elektronenmikroskopie Gmbh | Detektoranordnung und Detektionsverfahren |
US7084406B2 (en) | 2001-11-16 | 2006-08-01 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Detector arrangement and detection method |
DE10156275B4 (de) * | 2001-11-16 | 2006-08-03 | Leo Elektronenmikroskopie Gmbh | Detektoranordnung und Detektionsverfahren |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3928836C2 (de) | 1993-01-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10206173B4 (de) | Hochauflösende Detektion für Flugzeitmassenspektrometer | |
DE4019005A1 (de) | Einrichtung und verfahren zur analyse von ionen hoher masse | |
DE4041871C2 (de) | Massenspektrometer mit Plasmaionenquelle | |
DE102009029899A1 (de) | Massenspektrometer und Verfahren zur Isotopenanalyse | |
DE2628422C3 (de) | Verfahren zur Massenspektroskopie | |
DE102010006731A1 (de) | Detektionseinrichtungen in Massenspektrometern und Detektionsverfahren | |
DE2458025C2 (de) | Analysevorrichtung für eine Oberflächenschicht | |
CH617869A5 (de) | ||
DE3428944A1 (de) | Laufzeit-ionenmasse-analysator | |
DE2646394C2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung des Spinpolarisationsgrades eines Elektronenstrahls | |
DE3928836C2 (de) | ||
DE19635645A1 (de) | Hochauflösende Ionendetektion für lineare Flugzeitmassenspektrometer | |
EP0172477A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Registrierung von Teilchen oder Quanten mit Hilfe eines Detektors | |
DE4233830C2 (de) | Strahlpositionsmonitor | |
WO2009027252A2 (de) | Vorrichtung zur messung eines teilchenstroms | |
DE4002849C2 (de) | ||
DE2461224A1 (de) | Vorrichtung zum elektrischen nachweis von ionen zur massenspektroskopischen bestimmung der massenwerte und/oder der massenintensitaeten der ionen | |
DE102020113814A1 (de) | Schüttgutanalysevorrichtung, Schüttguttrennvorrichtung sowie Verfahren zur Analyse und/oder Trennung von Schüttgütern | |
EP0858674A1 (de) | Flugzeit-massenspektrometer mit positionssensitiver detektion | |
DE3702696A1 (de) | Verfahren zur elektronenstrahl-fuehrung mit energieselektion und elektronenspektrometer | |
DE2539161C2 (de) | Massenspektrometer | |
DE3532326A1 (de) | Elektronenspektrometer | |
DE1698199C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Nachregeln der Lage der Ionenstrahlen in einem Massenspektrometer | |
DE7639431U1 (de) | Massenspektrometer | |
DE10351010B4 (de) | Massenspektrometer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition |