DE3822143A1 - Verschiebungssensor mit optischer abtastung - Google Patents
Verschiebungssensor mit optischer abtastungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Verschiebungssensor mit optischer
Abtastung unter Anwendung der Triangulierung. Insbesondere
betrifft die Erfindung einen Verschiebungssensor,
bei dem eine optische Abtastung der Oberfläche eines zu erfassenden
Objektes in einem Triangulierungssystem erfolgt,
um das zweidimensionale Oberflächenprofil des Objektes zu
erfassen.
Ein solcher Verschiebungssensor kann das Oberflächenprofil
eines Objektes mit hoher Genauigkeit erfassen und mit besonderem
Vorteil bei Fertigungsstraßen für Kraftfahrzeuge und
dergleichen angewendet werden, bei denen eine automatische
Bearbeitung erfolgt, z. B. das Lichtbogenschweißen mittels
Robotern.
Es wurden bereits verschiedene Arten von Sensoren zur optischen
Vermessung eines Objektes mittels Triangulierung vorgeschlagen.
So ist in der US-PS 36 12 890 eine Anordnung zur
Erfassung der Verschiebungsstrecke des Objektes beschrieben.
Bei dieser Anordnung wird ein Lichtstrahl aus einer Lichtquelle
auf das Objekt projiziert, und das vom Objekt reflektierte
Licht wird durch eine Sammellinse auf einen Fotosensor
eines Lichtempfängers konzentriert. Eine Auswerteeinrichtung
liefert Signale, welche die Verschiebungsstrecke anzeigen,
wenn irgendeine Verschiebung des reflektierten Lichtes
auf dem Fotosensor stattfindet. Die Triangulierungsanordnung
nach dieser US-Patentschrift ermöglicht eine hochgenaue Messung
der Verschiebungsposition des Objektes und kann grundsätzlich
als zufriedenstellend arbeitende Anordnung angesehen
werden.
Bei einer solchen Erfassungsanordnung besteht zwischen einer
Veränderung der relativen Position des Objektes bezüglich
des Fotosensors oder, in anderen Worten, einer Veränderung
der Entfernung zwischen dem Objekt und dem Fotosensor aufgrund
einer Verschiebung des Objektes oder einer Abtastung,
bei welcher der Lichtstrahl über ein gewelltes Oberflächenprofil
des Objektes geführt wird, und der Verschiebungsstrecke
Δ l des Objektes die im folgenden erläuterte Beziehung.
Die Entfernung l zwischen der Lichtquelle und dem Objekt
sei gleich l c +Δ l (worin l c die Entfernung zwischen
Lichtquelle und Objekt ist, wenn das reflektierte Licht nach
Durchlaufen der Sammellinse auf dem Mittelpunkt des Fotosensors
fokussiert wird, während Δ l eine Strecke ist, um welche
das Objekt verschoben wurde), F sei die Entfernung zwischen
der Linse und dem Fotosensor, Δ z sei eine Verschiebungsstrecke,
um welche das die Linse durchquerende reflektierte
Licht aus dem Mittelpunkt des Fotosensors aufgrund der Verschiebung
des Objektes verlagert wurde, und R sei der
Schnittwinkel zwischen der optischen Achse der Lichtquelle
und der optischen Achse von Linse und Fotosensor:
(l c /cos R+Δ l cos R) Δ z = (Δ l sin R) F
Δ z = (tan R) F Δ l/(l c /cos² R+Δ l)
Δ z = (tan R) F Δ l/(l c /cos² R+Δ l)
Wenn a = (tan R) F und b = l c /cos² R, so gilt
Δ z = a Δ l/(b+Δ l) (1)
Hieraus ist ersichtlich, daß die Verschiebungsstrecke Δ z
über eine nichtlineare Beziehung von der Verschiebungsstrecke
Δ l abhängt.
Die Auswerteeinrichtung ermöglicht zwar die Gewinnung eines
die Auftreffposition des reflektierten Lichtes auf dem Fotosensor
anzeigenden Signals, jedoch besteht zwischen der Verschiebungsstrecke
Δ z und diesem Auftreffpositionssignal die
in der folgenden Gleichung (2) angegebene Beziehung, worin
I A ein Auftreffpositionssignal für eine Verschiebung des
auftreffenden reflektierten Lichtes aus dem Mittelpunkt des
Fotosensors heraus in einer Richtung, I B ein Auftreffpositionssignal
für eine Verschiebung in einer anderen Richtung
und 2l p die effektive Länge des Fotosensors ist:
(I A -I B )/(I A +I B ) = Δ z/l p (2)
Aus diesen Gleichungen (1) und (2) ist ersichtlich, daß das
die gemessene Entfernung angebende Signal Lo aus der Auswerteeinrichtung,
welches die Information über die Verschiebungsstrecke
Δ l des Objektes beinhaltet, nicht in linearer
Weise von der Verschiebungsstrecke Δ l abhängt. Von einem solchen
System, welches zumeist unter den Bedingungen eingesetzt
wird, daß die Entfernung zwischen Lichtquelle und Meßobjekt
sich entweder in großem oder kleinem Ausmaße ändert, erwartet
man, daß eine hohe Meßgenauigkeit bezüglich der Verschiebungsstrecke
Δ l bei guter Linearität der Beziehung zu dem
die gemessene Verschiebungsstrecke anzeigenden Signal gewährleistet
ist.
Um dies zu erreichen, wurde eine verbesserte Anordnung vorgeschlagen,
die eine hochgenaue Messung der variablen Entfernung
zwischen Lichtquelle und Objekt durchführen kann und
ein die gemessene Entfernung anzeigendes Signal liefert,
welches ausreichend linear von jeder Veränderung der Entfernung
abhängt. Bei dieser verbesserten Anordnung wurde weiterhin
angestrebt, daß ein Korrektursignal auf das die gemessene
Entfernung anzeigende Signal Lo aus der Auswerteeinrichtung
angewendet wird; dieses Korrektursignal stammt aus einer
digitalen Operationsschaltung, die einen Speicher besitzt,
um einen zuvor gewonnenen Korrekturwert abzuspeichern, durch
den eine im voraus angenommene Nichtlinearität des Signals
Lo korrigiert werden soll. Diese Korrektur wird durch eine
zentrale Prozessoreinheit (ZPU) verwirklicht. Bei einer solchen
Anordnung besteht jedoch die Schwierigkeit, daß zur Erzielung
einer hohen Auflösung und hohen Genauigkeit der Entfernungsmessung
eine Speichereinrichtung benötigt wird, die
ein sehr großes Speichervolumen aufweisen muß; weiterhin muß
der Korrekturwert optimal im Hinblick auf die Herstellungstoleranzen
der Bestandteile des Systems eingestellt werden.
Durch diese Forderungen wird das System teuer, kompliziert
in der Einstellung und ungeeignet für Massenfertigung.
Zur Behebung dieser Schwierigkeiten wurden die in der DE-OS
36 40 159 beschriebenen Maßnahmen vorgeschlagen. Danach wird
insbesondere eine Operationseinrichtung verwendet, um eine
Addition und Subtraktion für jedes Paar Positionsausgangssignale
durchzuführen, so daß ein Verhältnis zwischen beiden
Ausgangssignalen gewonnen wird, um ein die Objektentfernung
anzeigendes Meßsignal zu gewinnen; eine mathematische Korrekturzahl
wird durch eine Linearitätskorrektureinrichtung
auf eines der beiden Positionsausgangssignale angewendet, um
jegliche Nichtlinearität des die gemessene Entfernung anzeigenden
Signals zu korrigieren. Bei einem solchen System wird
kein Speicher von hoher Speicherkapazität benötigt. Das die
gemessene Entfernung anzeigende Signal Lo wird mit der gewünschten
Linearität und hohen Genauigkeit auf einfachere
Weise und mittels einer kostengünstigen Anordnung gewonnen.
Dieses System liefert gute Ergebnisse bei einer eindimensionalen
Positionserfassung mittels eines eindimensionalen Positionsdetektorelementes,
vorzugsweise ein PSD-Element, wobei
die Entfernung zwischen dem Positionsdetektorelement und
dem Objekt als Funktion angesetzt wird. Es steht aber noch
keine zweidimensionale Positionsdetektoreinrichtung zur Verfügung,
die nicht nur die Funktion der Entfernung zwischen
dem Positionsdetektorelement und dem Objekt anwendet, sondern
auch die Abtastlänge als zusätzliche Funktion. Diese
Abtastlänge ist die eines Lichtstrahls in einer Richtung,
welche die Richtung der eindimensionalen Positionserfassung
rechtwinklig schneidet. Es besteht ein Bedarf, z. B. für die
Erfassung des Oberflächenprofils eines Objektes, eine zweidimensionale
Positionsdetektion zu ermöglichen, während zugleich
das die gemessene Entfernung anzeigende Signal ausreichend
linear ist.
Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung eines Verschiebungssensors
mit optischer Abtastung, der eine zweidimensionale
Positionserfassung ermöglicht und weiterhin die benötigte
Speicherkapazität zum Speichern der Korrekturdaten für die
Linearitätskorrektur des Entfernungsmeßsignals minimal hält
sowie die Durchführung eines Abgleichs ermöglicht.
Gemäß der Erfindung wird dies durch einen Verschiebungssensor
erreicht, der die Triangulierung anwendet und bei welchem
ein Lichtstrahl aus einer Lichtprojiziereinrichtung auf
ein zu erfassendes Objekt nach Ablenkung durch eine Ablenkeinrichtung
projiziert wird, das am Objekt reflektierte Licht
über eine optische Sammel- und Empfangseinrichtung auf einen
Positionsdetektor fällt, der zwei Ausgangssignale von einander
entgegengesetzter Größe erzeugt, während eine Operationseinrichtung
eine Addition und Subtraktion mit jedem der beiden
Positionsausgangssignale durchführt, um ein Entfernungsmeßsignal
zu gewinnen, welches die Entfernung des Objektes
angibt; eine Linearitätskorrektureinrichtung korrigiert die
Nichtlinearität, mit welcher das Entfernungsmeßsignal behaftet
ist; diese Linearitätskorrektureinrichtung berechnet
eine inverse Funktion aus einem ersten Entfernungsmeßsignal,
welches proportional zu dem Ausgangssignal des Positionsdetektors
ist, und einem zweiten Entfernungsmeßsignal, welches
proportional zur Entfernungsänderung des Objektes ist, durch
Multiplizieren des ersten Entfernungsmeßsignals mit einem
Signal, welches die Summe der inversen Funktion und einer
Konstanten ist.
Mit der oben angegebenen, erfindungsgemäßen Ausbildung des
mit optischer Abtastung arbeitenden Verschiebungssensors ist
es möglich, eine zweidimensionale Positionserfassung durchzuführen,
bei welcher das Entfernungsmeßsignal die gewünschte
Linearität aufweist, ohne daß eine Speichereinrichtung
benötigt wird, die ein relativ großes Speichervolumen aufweist,
und ohne Verwendung von relativ aufwendigen Teilen
wie Zentralprozessoren oder dergleichen, die an die Speichereinrichtung
angekoppelt sind, wobei darüber hinaus der Sensor
für einen Hochgeschwindigkeits-Operationsprozessor ausgelegt
werden kann, um ein zweidimensionales Oberflächenprofil
des Objektes schnell und genau zu erfassen.
Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus
der folgenden Beschreibung mehrerer Ausführungsformen und
aus der Zeichnung, auf die Bezug genommen wird. In der Zeichnung
zeigt
Fig. 1 eine Skizze zur Erläuterung der Entfernungsmessung
mittels Triangulierung, wie sie bei dem Verschiebungssensor
nach der Erfindung angewendet wird;
Fig. 2 eine schematische Perspektivansicht einer Entfernungsmeßanordnung,
die nach dem in Fig. 1 gezeigten
Prinzip arbeitet;
Fig. 3 ein Blockschaltbild eines Signalprozessors für die
Anordnung nach Fig. 1;
Fig. 4 ein Flußdiagramm, welches die Signalverarbeitungsschritte
in der Linearitätskorrektureinrichtung
zeigt, welche gemäß der Erfindung in der Entfernungsmeßanordnung
nach Fig. 1 verwendet wird;
Fig. 5 und 6
Skizzen zur Erläuterung der Wirkungsweise der Linearitätskorrektureinrichtung
nach Fig. 4;
Fig. 7 ein Blockdiagramm, welches bestimmte Einzelheiten
der Funktion der Linearitätskorrektureinrichtung
nach Fig. 4 zeigt;
Fig. 8 eine Ansicht zur Erläuterung des in einem Speicher
der Linearitätskorrektureinrichtung nach Fig. 4
gespeicherten Inhalts;
Fig. 9 eine Skizze zur Erläuterung der Wirkungsweise der
Einrichtung nach Fig. 4;
Fig. 10 eine Perspektivansicht eines im auseinandergebauten
Zustand gezeigten anamorphotischen optischen
Systems, das bei dem erfindungsgemäßen Sensor benutzt
wird;
Fig. 11 eine Ansicht zur Erläuterung der Wirkungsweise des
anamorphotischen optischen Systems nach Fig. 10;
Fig. 12 eine Skizze zur Erläuterung einer Funktion des erfindungsgemäßen
Sensors, während dieser bei einem
Schweißvorgang an zwei Arbeitsstücken verwendet
wird;
Fig. 13 ein Flußdiagramm eines Algorithmus zur Erfassung
einer Stufe oder eines Höhenunterschiedes bei
einem Werkstück mittels des erfindungsgemäßen Sensors;
Fig. 14 ein Blockdiagramm einer Signalverarbeitungsschaltung,
die bei dem Sensor nach Fig. 13 verwendet
wird;
Fig. 15 ein Flußdiagramm eines weiteren Algorithmus zur
Erfassung einer Höhendifferenz bei einem Werkstück
mittels des erfindungsgemäßen Sensors;
Fig. 16 bis 19
Ansichten zur Erläuterung der Wirkungsweise des
Sensors;
Fig. 20 und 21
Perspektivansichten einer demontierten Schutzabdeckung
für verschiedene Funktionen bei dem Sensor
nach der Erfindung;
Fig. 22 eine im Schnitt gezeigte Teilansicht eines Gehäuses
für den Sensor nach Fig. 21.
Es wird nun auf die Fig. 1 und 2 Bezug genommen. Der erfindungsgemäße
Verschiebungssensor 10, bei dem eine mit Triangulierung
arbeitende Entfernungsmeßanordnung verwendet
wird, umfaßt eine Lichtquelle 11, die durch einen Halbleiterlaser,
eine Leuchtdiode oder dergleichen verwirklicht ist,
eine Ablenkeinrichtung 12 zum Ablenken eines reflektierten
Lichtstrahls, der von der Lichtquelle 11 ausgeht und auf
einem zu erfassenden Objekt auftreffen soll, ein optisches
Lichtempfangssystem 13, das geeignet ist, um am Objekt reflektiertes
und gestreutes Licht zu empfangen und dieses zu
konzentrieren, sowie einen Detektor 14, der durch ein eindimensionales
Positionsdetektorelement gebildet ist, insbesondere
durch ein PSD-Element, worauf das Lichtempfangssystem
13 einen konzentrierten Lichtfleck S erzeugt. In dem
Detektor bzw. Positionsdetektor 14 werden zwei Positionsdetektionssignale
I A und I B erzeugt, ansprechend auf die Lage
des konzentrierten Lichtflecks S; aus diesen Positionssignalen
wird mittels Triangulierung die Entfernung des Objektes
OBJ durch Ausführung verschiedener Operationen erzeugt. Wenn
die Position des Objektes OBJ von A nach B wandert und dann
zu C gelangt, wobei sich die Entfernung zwischen der Lichtquelle
11 und dem Objekt OBJ ändert, so bewegt sich die Lage
des konzentrierten Lichtflecks S auf der Lichtempfangsoberfläche
des Detektors 14 von a nach b und dann c; die zwei
Positionsdetektionssignale I A und I B ändern sich dabei jeweils
umgekehrt proportional zueinander; die Änderung der
Entfernung des Objektes kann aus den sich so verändernden
Positionsdetektionssignalen I A und I B abgeleitet werden.
Wenn der Lichtstrahl die Oberfläche des Objektes OBJ abtastet,
wie in Fig. 2 gezeigt, kann eine zweidimensionale Positionserfassung
erfolgen, wie oben kurz erläutert wurde.
Unter Bezugnahme auf Fig. 3 werden nun Einzelheiten der oben
beschriebenen Anordnung beschrieben. Die einen Lichtstrahl
erzeugende Lichtquelle 11 des Sensors 10 umfaßt einen Oszillator
21, welcher die Taktsteuerung der Lichtprojektion übernimmt,
einen Lichtsender 22 zur Projektion eines Lichtstrahls,
eine Treiberstufe 23 für diesen Lichtsender 22 und
ein optisches System 24 zum Projizieren des vom Lichtsender
22 abgegebenen Lichtes in Form eines Lichtstrahls oder Lichtbündels.
Wenn das Objekt OBJ durch diesen Lichtstrahl in
Richtung der Achse x (Fig. 2) mittels der Ablenkeinrichtung
12 abgetastet wird, so wird das am Objekt OBJ reflektierte
und gestreute Licht durch das Lichtempfangssystem 13 konzentriert;
der konzentrierte Lichtfleck S bildet sich auf dem
Detektor 14 ansprechend auf die Position oder das Oberflächenprofil
des Objektes OBJ. Der Detektor 14 liefert als
Ausgangssignale die zueinander entgegengesetzten Signals I A
und I B ansprechend auf die Position des Lichtflecks S. Diese
Positionssignale I A und I B sind durch elektrische Ströme gebildet,
die jeweils in einer Eingangsschaltung 25, 25 a verstärkt
und darin in elektrische Spannungssignale umgesetzt
werden. Diese Spannungssignale werden an Pegeldetektorschaltungen
26, 26 a abgegeben. Dort werden sie einer Pegeldiskriminierung
unterzogen, synchron mit Taktimpulsen aus dem Oszillator
21. Dann gelangen sie zu einer Additionsschaltung
27, um die Summe der Signale I A und A B zu bilden, sowie zu
einer Subtraktionsschaltung 28, um die Differenz zwischen
diesen Signalen zu bilden. Auf diese Weise entstehen die
Signale I A -I B und I A +I B . Das Verhältnis zwischen diesen beiden
Signalen wird in einer Teilerschaltung 29 gewonnen. Diese
Teilerschaltung 29 gibt als Ausgangssignal das Entfernungsmeßsignal
Lo={(I A -I B )/(I A +I B )} aus. Die Verschiebungsstrecke
Δ l des Objektes OBJ und die Verschiebungsstrecke Δ z
weisen die bereits erläuterte nichtlineare Beziehung auf.
Wenn die Ablenkeinrichtung 12 in geeigneter Weise durch
einen Spiegelantrieb 30 angesteuert wird, um die Oberfläche
des Objektes OBJ mittels des Lichtstrahls abzutasten, so beschreibt
der konzentrierte Lichtfleck S den in Fig. 5 gezeigten
Ort Sa, solange die Objektoberfläche eine flache
Ebene ist, die auf der Achse z in Fig. 2 senkrecht steht. In
Fig. 1 besitzt eine Achse z′ die Richtung, in welcher sich
der konzentrierte Lichtfleck S ansprechend auf eine Änderung
der Entfernung des Objektes OBJ verschiebt, wenn der Lichtstrahl
keine Abtastung in Richtung der Achse x ausführt; ferner
ist eine Achse x′ senkrecht zur Achse z′ auf der Lichtempfangsoberfläche.
Der Ort Sa des konzentrierten Lichtflecks
S müßte theoretisch bei der Auslenkung des Lichtstrahls parallel
zur Achse x′ auf dem Detektor 14 verschoben werden. In
der Praxis treten aber verschiedene Fehler auf, sowie Verzerrungen
im Bereich des Detektors 14, Fehler der optischen
Achse des Systems 13 oder des projizierten Lichtstrahls usw.,
so daß der Ort eine Neigung bezüglich der Achse x′ aufweist.
Bei Verschiebung des Objektes OBJ in Richtung der Achse z′
vollführt andererseits der Ort Sa keine parallele Verlagerung
in Richtung der Achse z unter Beibehaltung einer unveränderten
Neigung, sondern es tritt eine Verlagerung in Richtung
der Achse z′ unter Änderung der Neigung auf. Wenn also
der Lichtstrahl eine Abtastung in Richtung der Achse x vornimmt,
so bilden die Fehler, mit denen das Entfernungsmeßsignal
Lo behaftet ist, Funktionen sowohl der Achse x als auch
der Achse z.
Der Linearitätsfehler, der in dem Positionsdetektor 15 selbst
auftritt, weist die in Fig. 6 als durchgehende Linie eingezeichnete
Form auf, wobei in Fig. 6 ein Vergleich mit der
Linearität des Entfernungsmeßsignals Lo für den Fall dargestellt
ist, daß der konzentrierte Lichtfleck S auf den Positionsdetektor
14 um die Strecke Δ z in Richtung der Achse z′
verlagert wurde. Wenn die Verschiebungsachse des konzentrierten
Lichtflecks S in Richtung der Achse x′ des Positionsdetektors
14 um den Betrag x verschoben wird, so besitzt der
Linearitätsfehler die in Fig. 6 durch eine gestrichelte Kurve
gezeigte Form, und der konzentrierte Lichtfleck S, der
auf der Achse z′ des Positionsdetektors 14 verschoben wird,
zeigt eine verschiedene Charakteristik. Dies beruht darauf,
daß eine Widerstandsschicht des Positionsdetektors 14 eine
ungleichförmige Widerstandsverteilung aufweist, die in das
Entfernungsmeßsignal Lo als Fehler eingeht; da diese ungleichförmige
Widerstandsverteilung auch in Richtung der
Achse x′ des Positionsdetektors 14 vorhanden ist, verursacht
eine andere Verschiebungsachse für den konzentrierten Lichtfleck
S auch eine Änderung der Charakteristik des Linearitätsfehlers.
Zur Korrektur dieser Linearitätsfehler wird die in 7
gezeigte Korrekturschaltung 31 verwendet. Diese Linearitätskorrekturschaltung
31 empfängt das Entfernungsmeßsignal Lo
aus der Teilerschaltung 29 sowie ein Abtastwinkel-Signal Xm
aus dem Winkelantrieb 30 der Ablenkeinrichtung 12, die den
Lichtstrahl ablenkt, wie in Fig. 3 gezeigt. Diese Eingangssignale
Lo und Xm werden in den Umsetzern 32 und 32 a in Digitalsignale
umgesetzt, die dann an eine Zentralprozessoreinheit
(CPU) 33 angelegt werden, welche die Korrekturdaten
aus einem Speicher 34 ausliest, die bei der Auswertung des
Entfernungsmeßsignals Lo und des Abtastwinkel-Signals Xm berücksichtigt
werden. Die Korrekturdaten für die Linearitätskorrektur
des Entfernungsmeßsignals Lo und zur Korrektur des
Linearitätsfehlers bezüglich der Richtung der Achse x durch
das Abtastwinkelsignal Xm werden zunächst in dem Speicher 34
abgelegt. Die Zentralprozessoreinheit 33 korrigiert beide
Eingangsdaten auf der Grundlage der aus diesem Speicher 34
ausgelesenen Korrekturdaten. Die korrigierten Signale werden
an einen Digital/Analog-Umsetzer 35 angelegt, worin die nun
korrigierten Digitalsignale in Analogsignale rückgewandelt
werden. Der Digital/Analog-Umsetzer 35 gibt ein linearitätskorrigiertes
Entfernungsmeßsignal L aus.
Gemäß einem besonderen Merkmal der Erfindung wird der Wert
einer Umkehrfunktion Δ l(Lo) einer Funktion Lo (Δ l) zur Berechnung
des ersten Signals, welches das Entfernungsmeßsignal Lo
ist, während die Verschiebungsstrecke Δ l eine Variable für
das Objekt OBJ ist, berechnet, und ein zweites Signal, welches
das korrigierte Entfernungsmeßsignal L ist, das proportional
zur Verschiebungsstrecke Δ l des Objektes OBJ ist,
wird berechnet, indem das erste Signal mit einem Signal multipliziert
wird, das erhalten wird, indem eine Konstante b
zu der Umkehrfunktion Δ l(Lo) hinzuaddiert wird.
Das Entfernungsmeßsignal Lo kann aufgrund der oben angegebenen
Formeln (1) und (2) auf folgende Weise dargestellt werden:
(I A -I B )/(I A +I B ) = Δ z/l P = a · Δ l/{l P (b+Δ l)} (3)
Das Entfernungsmeßsignal Lo ist also die Funktion Lo (Δ l)
der Entfernung Δ l. Durch Auflösen der Formel (3) nach Δ l
ergibt sich:
Δ l(Lo) = (b · Lo)/{(a/l P )-Lo) (4)
Die Entfernung Δ l ist dann eine Funktion des Signals Lo.
Diese Funktion Δ l(Lo) ist eine Umkehrfunktion der Funktion
Lo (Δ l) nach Formel (3), und man erhält einen Korrekturwert
durch Addieren der Konstante b zu der Umkehrfunktion:
α (Lo) = Δ l(Lo)+b (5)
Dieser Korrekturwert kann theoretisch aus dem Wert des Entfernungsmeßsignals
Lo gewonnen werden; durch Multiplizieren
der Formel (3) mit Formel (5) erhält man:
L = Lo · α (Lo) = [(a · Δ l)/{l P (b+Δ l)}] · (Δ l+b) = (a/l P ) · Δ l (6)
Wie aus dieser Formel (6) ersichtlich ist, wird das Entfernungsmeßsignal
Lo linearisiert, und man erhält ein Entfernungsmeßsignal
L, welches proportional zur Verschiebungsstrecke
Δ l ist. Die Linearisierung erfolgt also durch Anwendung
der Formeln (4) und (5) auf das Entfernungsmeßsignal
Lo, um den Korrekturwert α (Lo) zu gewinnen, und Multiplizieren
dieses Entfernungsmeßsignals Lo mit dem Korrekturwert
α (Lo). Die Linearisierung kann also so lange in vollkommener
Weise ausgeführt werden, wie alle Komponenten des Sensors
keine Genauigkeitsschwankungen aufweisen und die Konstanten
a und b konstruktiv vorgegebene Größen sind.
In der Praxis können aber die Komponenten des Sensors nicht
allgemein von Genauigkeitsschwankungen frei sein. Auch dies
muß berücksichtigt werden. Aufgrund der Formel (1) ist ersichtlich,
daß diese Genauigkeitsschwankungen oder Montagefehler
Beiträge zu den Konstanten a und b liefern. Wenn man
annimmt, daß die Konstanten, an welchen solche Schwankungen
auftreten, die Größen a′ und b′ sind, so wird die Formel (3)
folgende:
Lo = (a′ · Δ l)/{l p (b′+Δ l)} (7)
Es wird hier angenommen, daß ein Korrekturwert für die Konstante
b durch β gegeben ist und ein Korrekturwert für die
andere Konstante a durch γ gegeben ist. Diese sind folgendermaßen
definiert:
β = b′-b, γ = a/a′ (8)
Wenn beide Seiten der Formel (7) mit α, β bzw. γ multipliziert
werden, so ergibt sich:
L = Lo{α (Lo)+β} · γ
= [a′ · Δ l/{l p (b′+Δ l)}] · (Δ l-b+b′-b) · (a/a′)
= (a/l p ) · Δ l (9)
Auf diese Weise wird das Entfernungsmeßsignal Lo linearisiert.
Das Entfernungsmeßsignal Lo wird also einer Behandlung
nach den Formeln (4) und (5) unterworfen, um den theoretischen
Korrekturwert α (Lo) zu gewinnen. Die weiteren Korrekturwerte
β und γ, welche für die Schwankungen der Komponenten
gewonnen werden, werden zu dem Korrekturwert α (Lo)
hinzuaddiert; es wird dann die durch Formel (9) angegebene
Operation ausgeführt. Auf diese Weise wird der Linearitätsfehler
in Richtung der Achse z korrigiert.
Es wird weiterhin die Korrektur des Linearitätsfehlers in
Richtung der x-Achse besprochen. Der Ort Sa des konzentrierten
Lichtflecks S auf der Lichtempfangsoberfläche des Positionsdetektors
14 ist wie in Fig. 5 gezeigt. Der Entfernungsmeßwert
für den Zeitpunkt, zu welchem der konzentrierte
Lichtfleck S durch die z-Achse während der Abtastung mittels
des Lichtstrahls verläuft, kann durch Anwendung der Formel
(9) linearisiert werden. Unter der Annahme, daß der konzentrierte
Lichtfleck S auf der z′-Achse des Positionsdetektors
14 durch den Mittelpunkt dieses Detektors verläuft, so ist
die Ablenkung in Richtung der Achse z′ bei einer Verschiebung
x des Lichtflecks S in Richtung der Achse x′ die Größe
Ac(x); wenn weiterhin angenommen wird, daß die Konstanten a
und b der Formel (1) mit x′=x gleich a″ bzw. b″ sind, so
wird die Formel (3) zu:
Lo′ = Lo+Ac(x) = [a″ · Δ l/{l p (b″+Δ l}]+Ac(x) (10)
Der Korrekturwert der Konstanten b wird hier als b (x) angenommen;
der Korrekturwert für die Konstante a soll γ (x) sein.
Diese Werte sind folgendermaßen definiert:
β (x) = b″-b und γ (x) = a/a″ (11)
Wenn beide Seiten der Formel (11) mit a (Lo), β (x), γ (x) und
Ac(x) multipliziert werden, so gilt:
L = {Lo′-Ac(x)} {α (Lo)+β (x)}γ (x)
= (a″ · Δ l)/{l p (b″+Δ l} · (Δ l+b+b″-b) · (a/a″)
= (a/l p ) · Δ l (12)
Wie diese Formel (12) zeigt, ist das Entfernungsmeßsignal Lo′
linearisiert. Die Linearisierung in Richtung der Achse x wird
verwirklicht, indem das Entfernungsmeßsignal Lo=Lo′-Ac(x)
aus dem Signal Lo′ und das Abtastwinkel-Signal Xm für dieses
Signal gewonnen wird, zu dem Korrekturwert α (Lo) die Korrekturwerte
β (x) und γ (x) addiert werden, welche aufgrund der
Schwankungen der Komponentenkenndaten erhalten werden, und
die Formel (12) angewendet wird.
In dem Speicher 34 sind dann die Konstanten für die Anwendung
der Formel (12), nämlich a/l p , b, β (x), γ (x) und Ac(x), vorab
gespeichert. Bei diesen Konstanten werden a/l p und b durch
Berechnungen mit eingestellten Werten bestimmt, während
β (x), γ (x) und Ac(x) Korrekturkonstanten sind, welche für
die Komponenten des Sensors 10 spezifisch sind; da die Operationen
entsprechend dem Flußdiagramm nach Fig. 4 unter Verwendung
dieser Konstanten aufgeführt werden können, reicht
es aus, nur diese Konstanten als Korrekturwertdaten abzuspeichern.
Unter der Voraussetzung, daß der Speicher 34 diese
Daten in Form einer herkömmlichen Matrix speichern soll und
ein Auflösungsvermögen von 1/4000 in Richtung der z-Achse
und 1/1000 in Richtung der x-Achse bei natürlichem Maßstab
verlangt wird, so muß der Speicher 34 4000000 Daten als
Korrekturwerte speichern. Die Speicherkapazität ist also
sehr groß, so daß die gesamte Vorrichtung ebenfalls umfangreich
wird. Gemäß der vorliegenden Erfindung kann hingegen
die Speicherkapazität erheblich vermindert werden, wie sich
aus den obigen Ausführungen ergibt. Die Korrekturwerte β (x),
γ (x) und Ac(x) sind die Konstanten, welche von dem Abtastwinkel-Signal
Xm abhängen, und die erforderliche Anzahl derselben
hängt vom Auflösungsvermögen für das Winkelsignal Xm
ab; der Fehler bei der Abtastung in Richtung der Achse x ist
normalerweise nicht sehr groß, so daß der erforderliche Speicherraum,
wenn die Konstanten für jede geeignete Wahl des
Winkelsignals Xm eingestellt werden, erheblich reduziert
werden kann. Zum Beispiel muß das Winkelsignal Xm in 100 Abschnitte
für ein Auflösungsvermögen 1/1000 des Winkelsignals
unterteilt werden, so daß 100 Korrekturkonstanten für die
jeweiligen Abschnitte gespeichert werden, woraus sich ergibt,
daß der Speicherraum erheblich vermindert werden kann.
Auch der Einstellaufwand kann in großem Ausmaß vermindert
werden. Wenn angenommen wird, daß eine Verschiebung auf einer
entfernt liegenden Seite in bezug auf eine Referenzentfernung
lc gleich Δ l F ist und eine Verschiebung auf der naheliegenden
Seite gleich Δ l N ist, wie in Fig. 9 gezeigt, und
daß ein Objekt OBJ sich in Positionen befindet, die folgende
Bedingung erfüllen:
Δ l F = Δ l N (13)
also die Positionen, in denen die Verschiebungen auf der entfernt
liegenden Seite und auf der naheliegenden Seite einander
gleich sind, so haben die entsprechenden gemessenen Entfernungssignale
L F und L N die Größe |L F |=|L N |, wenn sie korrekt
linearisiert sind. Da L F <0 und L N <0, kann die oben angegebene
Formel folgendermaßen dargestellt werden:
L F = -L N (14)
L F = -L N (14)
Indem der Abgleich unter Anwendung dieser Charakteristik erfolgt,
können die erforderlichen Einstellarbeiten erheblich
vereinfacht werden. Für diesen Fall können die Entfernungsmeßsignale
L F und L N unter Zuhilfenahme der Formel (12) folgendermaßen
dargestellt werden:
L F = {L OF′ -Ac(x)} {α F+β (x)} γ (x), und
L N = {L ON′ -Ac(x)} {α N+β (x)} γ (x) (15)
L N = {L ON′ -Ac(x)} {α N+β (x)} γ (x) (15)
Ersetzen der Formel (15) durch die Formel (14) und Eliminieren
der Größe γ (x) ergibt den Korrekturwert b (x):
-{L OF′ -Ac(x)} {α F+β (x)} = {L ON′ -Ac(x)} {α N+β (x)}
β (x) = -[{(L OF′ -Ac(x)) α F+(L ON′ -Ac(x)) α N } /(L OF′ +L ON′ -2Ac(x))] (16)
β (x) = -[{(L OF′ -Ac(x)) α F+(L ON′ -Ac(x)) α N } /(L OF′ +L ON′ -2Ac(x))] (16)
Durch Anwendung der Formel (12) mit diesem Korrekturwert
β (x), der aus der Formel (16) gewonnen werden kann, wird das
Entfernungsmeßsignal Lo′ linearisiert. Wenn weiterhin angenommen
wird, daß ein korrektes Entfernungsmeßsignal bei der
Verschiebung Δ l F den Wert L FT aufweist, so kann der Korrekturwert
γ (x) für die Neigung in Abhängigkeit von dem Abtastwinkel-Signal
Xm durch folgende Formel gewonnen werden:
γ (x) = L FT /{(L OF′ -Ac(x)) · (α F+β (x))} (17)
Die Neigung wird mittels der so erhaltenen Größe q (x) korrigiert,
und man erhält ein linearisiertes Entfernungsmeßsignal
L. Bei der Durchführung des Abgleichs bzw. der Einstellarbeiten
wird daher ein Ursprung bestimmt, indem ein flacher
Gegenstand in die Position der Referenzentfernung lc gebracht
und senkrecht zur Achse des Lichtstrahls eingestellt wird;
der Korrekturwert Ac(x) für die Abtastung mittels des Lichtstrahls
wird zu Anfang gewonnen; dann kann der Neigungs-Korrekturwert
γ (x) über die Formel (16) gewonnen werden aus den
Entfernungsmeßsignalen L OF′ und L ON′ , jeweils bezüglich des
Abtastwinkel-Signals Xm für jeden Fall der beiden gleichen
Verschiebungen, nämlich auf der entfernt liegenden Seite und
der nahe liegenden Seite mit den Positionen Δ l F =Δ l N , wobei
der flache Gegenstand, insbesondere eine Platte, in diese
Positionen gebracht wurde, die zueinander parallel sind.
Die Korrekturwerte β (x), γ (x) und Ac(x), die spezifisch für
die Komponenten des Verschiebungssensors 10 sind, können also
einfach gewonnen werden, indem die Daten L ON′ , L OF′ und
Ac(x) bezüglich des Abtastwinkel-Signals Xm gewonnen werden,
indem das Objekt OBJ zweimal verschoben wird und anschließend
β (x) und γ (x) über die Formeln (16) und (17) berechnet
werden. Der Zeitaufwand für Abgleich- und Einstellarbeiten
und die Herstellungskosten können so beträchtlich vermindert
werden.
Bei bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung wird ein
Hochgeschwindigkeitsprozessor verwendet, insbesondere ein
digitaler Signalprozessor vom Typ MN1911, in Verbindung mit
der Ausführungsform nach Fig. 4. Wenn man annimmt, daß das
Objekt OBJ in abwechselnden Hin- und Rückläufen 50mal pro
Sekunde abgetastet wird und die erforderliche Abtastzeit für
die eine Richtung 10 ms beträgt sowie der Bereich für die
Abtast-Hin- und Herbewegung in 1000 Abschnitte unterteilt
wird, so ist jedem Abschnitt eine Zeitspanne von 10 µs zugeordnet.
Für die Durchführung der Linearisierung unter den
oben genannten Bedingungen wird es dann erforderlich, den in
Fig. 4 gezeigten Ablauf innerhalb von 10 µs auszuführen. Bei
Verwendung eines Hochgeschwindigkeitsprozessors ist dies
möglich. Mittels des beschriebenen Sensors 10 kann offensichtlich
nicht nur die Verschiebung des Objektes OBJ, sondern
auch sein Oberflächenprofil erfaßt werden, wenn dieses
beispielsweise die in Fig. 2 gezeigte Höhendifferenz aufweist
oder wenn eine Lücke zwischen zwei Arbeitsstücken vorhanden
ist. Die Erfassung dieser Einzelheiten bereitet keinerlei
Schwierigkeiten.
Gemäß einem weiteren besonderen Merkmal der Erfindung ist
eine Maßnahme dafür getroffen, daß die Verschiebungsbreite
des konzentrierten Lichtflecks auf der Lichtempfangsoberfläche
des Detektors 14 vermindert wird, so daß die Größe des
optischen Lichtaufnahmesystems minimiert werden kann, zusätzlich
zu der bereits erwähnten Reduzierung des Umfangs der
Operationseinrichtungen. Es wird auf die Fig. 10 und 11
Bezug genommen. Dort wird als optisches Lichtaufnahmesystem
13 ein anamorphotisches optisches System verwendet, das eine
übliche Konvexlinse 13 a, eine zylindrische Konkavlinse 13 b
und eine zylindrische Konvexlinse 13 c umfaßt. In diesem optischen
System weisen die zylindrische konkave Linse 13 b und
die konvexe Linse 13 c jeweils eine gekrümmte Oberfläche auf,
die einer Umfangsoberfläche einer Säule entspricht, deren
Achse parallel zur Längsachse des Positionsdetektors 14 verläuft,
wodurch die Verschiebungsbreite des konzentrierten
Lichtflecks in seitlicher Richtung bzw. Richtung der Breite
komprimiert wird und die Vergrößerung in dieser seitlichen
Richtung verschieden von der in Längsrichtung ist. Die Positionen
der Hauptpunkte sind aber verschieden, so daß die
Bilderzeugungspositionen in beiden Richtungen miteinander
übereinstimmen.
Wie aus Fig. 11 ersichtlich, verbleibt der Bereich, in welchem
der konzentrierte Lichtfleck auf die Lichtempfangsoberfläche
des Detektors 14 projiziert wird, in bezug auf den
Bereich der Lichtstrahlverschwenkung auf der Oberfläche des
Objektes OBJ, innerhalb der Breite bzw. seitlichen Abmessung
des Detektors 14; die Entfernungsänderung zwischen der Lichtquelle
11 und der Oberfläche des Objektes ist also in Richtung
der Breite des Detektors 14 relativ klein, während die
Abtastbreite des projizierten Lichtstrahls relativ größer
ist. An dem Positionsdetektor 14 wird hingegen die Verschiebungsbreite
des Lichtstrahls bezüglich der Entfernungsänderung
des Objektes OBJ vergrößert, um die Erfassungsgenauigkeit
zu steigern, und die empfangene Lichtmenge kann vergrößert
werden, indem die Verschiebungsbreite des konzentrierten
Lichtflecks aufgrund der Lichtstrahlverschwenkung kleiner
gemacht wird. Bei Verwendung des anamorphotischen optischen
Systems zum Aufnehmen des reflektierten Lichtes wird es somit
ermöglicht, praktisch das gesamte reflektierte Licht in
Richtung der Breite des Positionsdetektors aufzunehmen,
selbst dann, wenn eine zweidimensionale Positionserfassung
mittels des abtastenden Lichtstrahls durchgeführt wird, wodurch
die Lichtausbeute beträchtlich gesteigert wird. Es ist
daher auch möglich, die Empfindlichkeit der Schaltung zur
Verarbeitung der Ausgangssignale des Positionsdetektors 14
zu vermindern und so unerwünschte Einflüsse von störendem
Außenlicht weitgehend auszuschalten.
Gemäß einem weiteren besonderen Merkmal der Erfindung wird
der mit optischer Abtastung arbeitende Verschiebungssensor
zur Erfassung einer Lücke zwischen zwei Werkstücken verwendet,
insbesondere um das Verschweißen dieser Werkstücke zu
unterstützen. Die Verschweißung von zwei zueinander passenden
Werkstücken unter der Annahme, daß sich keine Lücke zwischen
ihnen befindet, führt zu einem Mangel an Festigkeit
der Schweißnaht besonders an Stellen, wo sich ein relativ
breiter Spalt zwischen diesen Werkstücken befindet. Wenn andererseits
unterstellt wird, daß ein Spalt von vorbestimmter
Größe vorhanden ist, so wird das Schweißgerät unnötig lange
über Stellen geführt, an denen sich kaum ein Spalt befindet,
wodurch die Schweißzeit unnötig verlängert wird. Wenn es also
gelingt, das Vorhandensein oder Fehlen eines Spaltes oder
einer Lücke genau zu erfassen, bevor die Schweißarbeit durchgeführt
wird, so läßt sich eine optimale Verschweißung der
Werkstücke erzielen.
In Fig. 12 projiziert eine Lichtprojektionseinrichtung 51,
die durch eine Steuerung 50 angesteuert wird, einen Lichtstrahl,
der auf einer Lichtablenkeinrichtung 52 auftrifft,
die gleichfalls durch die Steuerung 50 angesteuert wird. Der
durch die Ablenkeinrichtung 52 reflektierte Lichtstrahl
durchquert einen halbdurchlässigen Spiegel 52 a und fällt auf
zwei Werkstücken OBJ auf. Durch Streuung an den Werkstücken
OBJ zurückreflektiertes Licht wird durch ein optisches Lichtempfangssystem
53 konzentriert und bildet einen konzentrierten
Lichtfleck auf einem Positionsdetektor 54 ansprechend
auf die Position der Objekte bzw. Werkstücke. Der von der
Ablenkeinrichtung 52 ausgehende Lichtstrahl wird teilweise
am halbdurchlässigen Spiegel 52 a reflektiert und trifft auf
einem weiteren Positionsdetektor 54 a auf. Der erstgenannte
Positionsdetektor 54 liefert ein Ausgangssignal in Form eines
elektrischen Stromes, der die Positionsinformation in Richtung
der z-Achse wiedergibt, während der Lichtstrahl über
die Werkstücke OBJ geführt wird; der Positionsdetektor 54 a
liefert ein Verschiebungssignal in Richtung der Achse x des
Lichtstrahls.
Die beiden Positionssignale aus den Positionsdetektoren 54
und 54 a werden Operationsschaltungen 65, 65 a zugeführt, um
ein Entfernungsmeßsignal Lo zu gewinnen; diese Operationsschaltungen
65, 65 a liefern ein vorzugsweise linearisiertes
Entfernungsmeßsignal L an eine "Stufe"-Operationsschaltung
66. Wenn eine Stufe h an den beiden gepaarten Werkstücken
OBJ vorhanden ist, so wird die entsprechende Information
an eine "Spalt"-Operationsschaltung 67 in der darauffolgenden
Stufe geführt. In dieser "Spalt"-Operationsschaltung 67
wird zunächst ein Signal t erzeugt, welches die Dicke der
betreffenden Werkstücke OBJ angibt; dann wird eine Operation
(S=h-t) zur Bestimmung eines Spalts S zwischen den gepaarten
Gegenständen durchgeführt. Bei dieser Anordnung kann daher
der Spalt S zwischen den gepaarten Gegenständen leicht durch
eine berührungslose optische Messung erfaßt werden. Die beiden
gepaarten Gegenstände können somit unter optimalen Bedingungen
miteinander verschweißt werden, da die Schweißbedingungen
ansprechend auf den festgestellten Spalt S richtig
eingestellt werden können.
Es ist weiterhin ersichtlich, daß mittels einer solchen Anordnung
das Oberflächenprofil oder irgendein gestufter Bereich
eines Werkstückes erfaßt werden kann, um Schweißarbeiten
mit hoher Genauigkeit ansprechend auf das Oberflächenprofil
in der Schweißzone auszuführen.
Bei der Erfassung des stufenförmigen Teils unter den obigen
Bedingungen können verschiedene Algorithmen gemäß der Erfindung
angewendet werden. Bei dem in Fig. 13 gezeigten Algorithmus
zur Erfassung eines stufenförmigen Teiles wird
vorausgesetzt, daß ein linearisiertes Entfernungsmeßsignal L
und Entfernungsdaten Z(I) bereits durch den mit optischer
Abtastung arbeitenden Verschiebungssensor 10 geliefert wurden.
Wenn der Algorithmus gestartet wird, werden im Schritt
(1) Variablen initialisiert, die für spätere Diskriminierschritte
benötigt werden. Eine Variable DZSUM, die einen
Additionswert einer Differenz bezeichnet, wird auf 0 gesetzt;
eine Variable DZMAX, welche den Maximalwert des Additionswertes
bezeichnet, wird auf 0 gesetzt; eine aktuelle
Abtastposition I wird auf 1 gesetzt; eine Abtastposition J,
an welcher die Addition der Differenz erfolgt, wird initiiert
und auf 1 gesetzt. Im Schritt (2) wird die Differenz
(DZ)I=Z(I+1)-Z(I) zwischen den Entfernungsdaten (Z(I) und
einer Abtastposition I und weiteren Entfernungsdaten Z(I+1)
an der Nachbarposition (I+1) bestimmt. Im nächsten Schritt
(3) erfolgt eine Diskriminierung dahingehend, ob die Differenz
DZ(I) gleich Null ist; wenn DZ(I)=0, so geht der Algorithmus
direkt zum Schritt (9) zur Entscheidung über das
Löschen der Daten über, denn jede weitere Verarbeitung zur
Unterscheidung übereinstimmender Codes oder einer Addition
der Differenz wäre bedeutungslos; der Algorithmus geht hingegen
zum Schritt (4) über, wenn DZ(I)≠0, um die Diskriminierung
bezüglich der Codeübereinstimmung auszuführen.
Im Schritt (4) erfolgt also die Diskriminierung dahingehend,
ob der Code der Differenz DZ(I) in der aktuellen Abtastposition
I mit einem früheren Code der Differenz DZ(I-1) für die
letzte Position übereinstimmt; bei Übereinstimmung geht der
Algorithmus zum Schritt (5) über. Bei fehlender Übereinstimmung
geht er zum Schritt (6) über. Der Schritt (5) wird erreicht,
wenn DZ(I)xDZ(I-1)<0. Der Schritt (6) wird erreicht,
wenn DZ(I)xDZ(I-1)<0. Weiterhin wird der Schritt (5) ohne
Bedingung erreicht, wenn I=1 ist. Wenn die letzte Differenz
DZ(I-1) gleich Null ist, so erfolgt ein Vergleich mit der
vorletzten Differenz DZ(I-2). Im Schritt (5) wird der Absolutwert
|DZ (1)| der Differenz DZ(I) für die aktuelle Abtastposition
I zu einer Variablen DZSUM hinzuaddiert, woraufhin
der Schritt (9) erreicht ist. Wenn die Übereinstimmung der
Differenz DZ(I) im Schritt (4) andauert, so wird die Addition
des Absolutwerts |DZ(I) | der Differenz DZ(I) zu der Variablen
DZSUM fortgesetzt, so daß man fortwährend die Summe dieser
Variablen DZSUM und der Differenz (DZ(I) erhält.
Im Schritt (6) wird bestimmt, ob die Variable DZSUM größer
als die Variable DZMAX ist oder nicht. Wenn DZSUM<DZMAX, geht
man zum Schritt (7) über; wenn hingegen nicht festgestellt
wird, daß DZSUM<DZMAX, so schreitet die Prozedur zu dem nächsten
Schritt (8) fort. Im Schritt (7), für DZSUM<DZMAX, erfolgt
eine Substitution der Variablen DZMAX mit dem Wert der
Variablen DZSUM, um den Summenwert der Differenzen bis zur
aktuellen Abtastposition I zu dem maximalen Summenwert zu
machen. Um weiterhin einen Wert J für die Abtastposition,
bei welcher die Addition initiiert wurde, als vorgeschlagene
Position N 1 für den Anfangsrand eines gestuften Teils abzuspeichern
sowie die aktuelle Abtastposition I, bei welcher
die Addition beendet wurde, als vorgeschlagene Position N 2
für den Endrand des gestuften Teiles abzuspeichern, erfolgt
eine Substitution der Variablen N 1 und N 2 mit den Werten der
Variablen J und I.
Im Schritt (8) wird die Addition der Differenz erneut gestartet
mit einer Substitution des Summendifferenzwertes DZSUM
durch den Absolutwert |DZ(I) | der Differenz DZ(I) an der aktuellen
Abtastposition I und mit einer Substitution der Abtastposition
J, bei welcher die Addition begonnen hat, durch
die aktuelle Abtastposition I. Im Schritt (9) wird festgestellt,
ob die Verarbeitung für alle Daten abgeschlossen ist.
Insbesondere wird festgestellt, ob die Abtastposition I=N-1
erreicht worden ist oder nicht. Wenn I≠N-1, wird zum Schritt
(10) übergegangen, damit die Abtastposition I fortschreitet,
woraufhin die Verarbeitung im Schritt (2) und den folgenden
Schritten wiederholt wird. Wenn I=N-1, so ist hingegen die
Erfassung des stufenförmigen Teiles beendet, und die vorgeschlagenen
Positionen N 1 und N 2 werden gegebenenfalls als
praktische Werte für den Anfangsrand und den Endrand des
stufenförmigen Teiles behandelt, wozu die Koordinaten X(N 1)
und Z(N 1) sowie X(N 2) und Z(N 2) ausgegeben werden. Unter
diesen Koordinaten werden die Größen Z(N 1) und Z(N 2) für die
Entfernungsdaten miteinander verglichen, um die kleinere
Entfernung als Aufspürkoordinate zu verwenden; der Absolutwert
der Differenz dieser Entfernungsdaten wird ausgewertet,
um die Größe h=|Z(N 2)-Z(N 1)| zu bestimmen. Durch Subtrahieren
der Plattendicke t von der Größe h erhält man die Größe
S=h-t für den Spalt zwischen den gepaarten Werkstücken, die
miteinander verbunden werden sollen. Diese Daten werden
einem automatischen Schweißroboter zugeführt.
Zur Gewinnung der Entfernungsdaten X und Z kann eine in Fig.
14 gezeigte Operationsschaltung verwendet werden. Diese
Schaltung entspricht im wesentlichen einer parallelen Nebeneinanderordnung
von zwei Schaltungen der in Fig. 3 gezeigten
Art, wobei zusätzlich noch die in Fig. 14 nicht gezeigten
Einrichtungen zur Linearisierung des Entfernungsmeßsignals L
vorhanden sind. Bei der in Fig. 14 gezeigten Ausbildung sind
zwei Positionsdetektoren 114, 114 a, beispielsweise von gleicher
Art wie die Positionsdetektoren 54 und 54 a des Verschiebungssensors
nach Fig. 12, vorgesehen, die Positionssignale
I₁, I₂ sowie I₃, I₄ abgeben, welche an Strom/Spannungs-Umsetzer
125, 125 a sowie 125 b, 125 c angelegt werden, um dann über
Hochpaßfilter 125′-125 c′ an Pegeldiskriminierungs-Detektoren
126-126 c synchron mit Taktimpulsen eines Oszillators 121 angelegt
zu werden. Die Positionssignale I₁-I₄, die von den
Detektoren 126-126 c geliefert werden, gelangen über Tiefpaßfilter
126-126 c am Addierer 127, 127 a und an Subtrahierschaltungen
128, 128 a, um Additionen und Subtraktionen auszuführen:
I₁-I₂, I i +I₂, I₃-I₄, I₃+I₅. Dann gelangen sie zu
Teilern 129, 129 a, um folgende Operationen auszuführen:
(I₁-I₂)/(I₁+I₂); (I₃-I₄)/(I₃+I₄). Schließlich gelangen sie
nach Linearisierung an Umsetzer 129′ und 129 a′, um dort aus
dem Digitalbereich in Analogsignale umgesetzt zu werden und
als Entfernungsdaten X, Z ausgegeben zu werden. Bei der Ausführungsform
nach Fig. 14 ist die Wirkung des Oszillators
121, der über einen Modulator 121 a und eine Ansteuerschaltung
123 ein lichtemittierendes Element 122 ansteuert, um
einen Lichtstrahl mittels eines Projektionssystems 124 zu
erzeugen, während eine Lichtablenkeinrichtung 112 durch eine
Spiegel-Ansteuerschaltung angesteuert wird, im wesentlichen
dieselbe wie bei den zuvor beschriebenen Ausführungsformen.
Bei der Erfindung wird weiterhin ein die Differenzen kumulierendes
System verwendet, wie in Fig. 16 gezeigt, um die
Erfassung eines stufenförmigen Teiles zu gewährleisten und
den oben beschriebenen Algorithmus auszuführen. Dieses System
ist so ausgelegt, daß für die Entfernungsdaten Z(I) die Differenz
DZ(I)=Z(I+1)-Z(I) für I=1, 2, . . . N-1 gebildet wird
und die so gewonnenen Differenzen kumulativ addiert werden,
solange ihr Code aufeinanderfolgend gleich ist; wenn ihr
Summenwert ein Maximum erreicht hat, wird die entsprechende
Abtastposition I als Stufengröße bestimmt. Bei diesem System
ist es möglich, die größte Stufe Z (10)-Z (7) zuverlässig auch
dann zu bestimmen, wenn eine relativ große Differenz DZ (2)
oder DZ (4), wie in Fig. 16 gezeigt, vorhanden ist, ohne fehlerhafte
Entscheidung, daß letztere die Stufe ist, so daß
die Abtastpositionen I=7, 10 dann als Stufenteil erkannt
worden sind.
In Fig. 15 ist ein Algorithmus zur Erfassung der Stufe nach
einer weiteren Ausführungsform gezeigt. Bei dieser Ausführungsform
ist die Verarbeitungszeit insofern abgekürzt, als
die Differenzen der Entfernungsdaten DZ(I)=(I+Δ N)-Z(I) für
jeden vorbestimmten Abtastabschnitt Δ N in den Entfernungsdaten
Z(I) in den Schritten #1 bis #10 bestimmt werden und
diese addiert werden, solange ihre Codes gleich sind. Man
erhält einen Abtastabschnitt M 1 bis M 2, wenn der Summenwert
der aufaddierten Differenzen ein Maximum erreicht hat. Abgesehen
davon, daß das Intervall zur Abnahme der Differenzen
von einem Rastermaß auf N Rastermaße erweitert wurde, sind
diese verarbeiteten Inhalte in den Schritten #1 bis #10 im
wesentlichen dieselben wie bei der Verarbeitung nach Fig. 13.
Die Erfassung einer Stufe kann aber mit höherer Geschwindigkeit
erfolgen, weil das Intervall für die Differenzbildung
vergrößert wurde. Auf diese Weise wird der Abtastabschnitt
M 1 bis M 2, in welchem die Erfassung der Stufe erfolgte, im
voraus eingegrenzt, und dieselben Verarbeitungsschritte (1)
bis (10), wie in Fig. 13 gezeigt, werden dann erneut bezüglich
des Abtastbereichs M 1-Δ N bis N 2+Δ N, der etwas breiter ist
als der Abschnitt M 1 bis M 2, ausgeführt. Die Differenz
DZ(I)=Z(I+1)-Z(I) der jeweiligen Entfernungsdaten Z(I) wird
also nur bezüglich des Abtastbereichs M 1-Δ N bis M 2+Δ N bestimmt,
und dann erfolgt die Addition so lange, wie ihr Code
derselbe ist; dann werden die Abtastpositionen N 1 und N 2,
bei denen der Absolutwert der Summe DZSUM das Maximum erreicht,
als Stufenteil bestimmt. Da die Verarbeitung in den
Schritten (1) bis (10) mit einem schmalen Intervall für die
Differenzbildung erfolgt, kann eine Stufenerfassung mit hoher
Genauigkeit erfolgen.
Mittels des in Fig. 15 gezeigten Algorithmus kann, wie ein
Vergleich der Fig. 17 und 18 miteinander zeigt, eine Stufenerfassung
mit hoher Geschwindigkeit und doch mit hoher
Genauigkeit erfolgen, indem eine erste Stufenerfassung mit
grobem Teilungsmaß bzw. Raster erfolgt und dann eine zweite
Erfassung in einem feinen Raster durchgeführt wird, wobei
derselbe Algorithmus angewendet wird. Bei der ersten Stufenerfassung
reicht es weiterhin aus, nur den Bereich zu berücksichtigen,
in welchem sich der Stufenteil N 1 und N 2 tatsächlich
befindet, wobei lediglich noch ein bestimmter fester Bereich
vor und hinter einem Punkt erfaßt wird, wo der Absolutwert
der Differenz DZ(I)=DZ(I+N)-DZ(I) maximal ist; er wird
als Bereich bestimmt, in welchem sich die Stufe befindet.
Es wird nun auf Fig. 19 Bezug genommen. Bei dem dort gezeigten,
weiteren Algorithmus erfolgt die Diskriminierung des
Stufenteils mit noch höherer Genauigkeit. Die Entfernungsdaten
für den oberen Teil Z AV 1 und den unteren Teil Z AV 2 werden
über eine Mittelung über eine vorbestimmte Anzahl von
Daten vor der Anfangsposition und hinter der Endposition des
angenommenen Stufenteils für einen Abschnitt N 1 bis N 2 ermittelt,
worin der Summenwert der addierten Differenzen ein
Maximum erreicht hat; man leitet dann aus diesem angenommenen
Stufenteil einen Neigungswinkel α ab, indem eine Mittelung
einer vorbestimmten Anzahl von Daten in einem Zwischenteil
des angenommenen Stufenteils erfolgt. Die beiden Endpositionen
eines tatsächlich vorhandenen Stufenteils werden
dann auf der Grundlage dieser Daten berechnet.
Insbesondere werden die Anfangsstelle und die Endstelle des
angenommenen Stufenteils über den Algorithmus nach Fig. 13
bestimmt. Dann werden die Entfernungsdaten Z AV 1 für den oberen
Teil durch Mittelung der vorbestimmten Anzahl von Daten
für die Außenseite ab der Anfangsstelle N 1 des angenommenen
Stufenteiles in folgender Weise bestimmt:
In gleicher Weise werden die Entfernungsdaten Z AV 2 für den
unteren Teil durch eine Mittelung einer vorbestimmten Anzahl
von Daten für die Außenseite ab der Endstelle N 2 des angenommenen
Stufenteiles in folgender Weise bestimmt:
Ein Mittelwert dieser Entfernungsdaten Z AV 1 und Z AV 2 für den
oberen und den unteren Teil wird dann gebildet:
Z c = (Z AV 1+Z AV 2)/2
Eine Abtastposition I=Nc mit den Entfernungsdaten Z(I), welche
der gemittelten Entfernung Z c für den oberen und den unteren
Teil am nächsten kommt, wird dann als Mittelpunkt des
Stufenteils bestimmt. Unter Verwendung aller Koordinaten
{X(Nc-n 2), Z(Nc-n 2)} bis {-x(Bc+n 2), Z(Nc+n 2)} des Mittelpunktes
Nc des Stufenteils sowie ±n 2 Punkten vor und hinter
den Mittelpunkt werden die Konstanten α und β eines Linearitäts-
Approximierungs-Ausdrucks X=α Z+β bestimmt. Durch die
Substitution Z=Z AV 1, Z AV 2 für diesen Ausdruck werden die
beiden genauen Enden des Stufenteils berechnet: (α Z AV 1+β),
(Z AV 1) und (α Z AV 2+β, Z AV 2). Weiterhin erhält man das Maß
h=|Z AV 1-Z AV 2| für die Stufe.
In diesem Algorithmus werden die Konstanten und β für den
Linearitäts-Approximierungs-Ausdruck auf der Grundlage von
(2 n 2+1) Koordinatendaten abgeleitet. Die Approximation kann
mittels einer geraden Linie erfolgen, welche zwei Punkte
verbindet, wenn keine ausreichend lange Operationszeit zur
Verfügung steht. So kann in Fig. 9 eine Linie die Koordinatenpunkte
{(Nc-n 3), Z(Nc-n 3)} und {X(Nc+n 3), Z(Nc+n 3)} miteinander
verbinden, um die Approximation zu erhalten.
Gemäß einem weiteren besonderen Merkmal der Erfindung ist
eine Schutzhaube vorgesehen, die den Verschiebungssensor
nach der Erfindung schützt, wenn er beim Schweißen von Werkstücken
eingesetzt wird. In Fig. 20 umfaßt ein mit optischer
Abtastung arbeitender Verschiebungssensor 210 ein Gehäuse
211, das an der Stirnfläche 212 mit einer Lichtdurchtrittsöffnung
213 versehen ist, um einen Lichtstrahl aus der Lichtquelle
(nicht gezeigt) innerhalb des Gehäuses austreten zu
lassen. Ferner ist eine Lichteintrittsöffnung 214 vorgesehen,
durch welche hindurch das reflektierte Licht eintritt, um
auf einem (nicht gezeigten) optischen Lichtempfangssystem im
Inneren des Gehäuses aufzutreffen. Neben den beiden Seiten
dieser Öffnungen 213, 214 befinden sich zwei Paare 215, 215 a
und 216, 216 a von Permanentmagneten, die am Gehäuse befestigt
sind. Schutzplatten 217, 218, die jeweils aus einem lichtdurchlässigen
Plastikmaterial bestehen, sind auf die Öffnungen
213, 214 aufgesetzt. Montagerahmen 219, 220 aus ferromagnetischem
Material mit Öffnungen 219 a, 220 a, welche den
Öffnungen 213, 214 des Gehäuses angepaßt sind, sind über die
Schutzplatten 217, 218 entsprechend der Anordnung der Permanentmagneten
215, 215 a und 216, 216 a aufgesetzt, so daß die
Abdeckplatten 217, 218 zwischen der Stirnoberfläche 212 des
Gehäuses 211 und den Montagerahmen 219, 220 gesichert sind.
Wenn die Rahmen 219, 220 mit Ansätzen ausgebildet werden und
das Gehäuse 211 entsprechende Aussparungen besitzt, so können
die Ansätze in den Ausnehmungen aufgenommen werden, damit
die Montagerahmen leicht in Stellung gebracht und montiert
werden können. Wenn andererseits diese Montagerahmen
219, 220 an ihren Außenrändern abgeschrägt werden und die
Stirnoberfläche 212 des Gehäuses 211 mit Ausnehmungen versehen
wird, um die abgeschrägten Ränder der Montagerahmen aufzunehmen,
so kann eine Montage ohne Permanentmagneten erfolgen.
Bei Verwendung einer Schutzhaube der oben beschriebenen Art
ist auch ein Austausch dieser Haube leicht möglich, wenn
Spritzer des Schweißmaterials sich auf den Schutzabdeckungen
217, 218 ablagern. Es werden dann einfach die Montagerahmen
219, 220 gelöst, was auch dann leicht geschehen kann, wenn
der Sensor unter engen Raumverhältnissen eingebaut ist. Bei
Verwendung einer Schutzhaube oder Schutzabdeckung aus lichtdurchlässigem
Plastikmaterial anstelle von herkömmlichem
Glas wurde überraschenderweise aufgefunden, daß die Ablagerung
von Spritzern auf den Schutzabdeckungen 217, 218 erheblich
langsamer erfolgt.
Claims (8)
1. Optisch abtastender Verschiebungssensor, der mit Triangulierung
arbeitet, bei welchem ein Lichtstrahl durch eine
Lichtprojektionseinrichtung abgegeben und durch eine Ablenkeinrichtung
über ein zu erfassendes Objekt abgelenkt wird,
weiterhin das an dem Objekt reflektierte Licht eine optische
Lichtempfangseinrichtung durchläuft, um durch diese konzentriert
zu werden und auf einer Positionsdetektoreinrichtung
aufzutreffen, die zwei Ausgangssignale von zueinander entgegengesetztem
Wert ansprechend auf die Position des konzentrierten
Lichtflecks auf der Positionsdetektoreinrichtung
Lichtflecks auf der Positionsdetektoreinrichtung
erzeugt, und wobei eine Operationseinrichtung ein die Entfernung
des Objektes angebendes Entfernungsmeßsignal liefert,
indem die zwei Positions-Ausgangssignale der Positionsdetektoreinrichtung
einer Addition und einer Subtraktion unterzogen
werden, wobei eine Linearitätskorrektureinrichtung jegliche
Nichtlinearität des Entfernungsmeßsignals beseitigt,
dadurch gekennzeichnet, daß die Linearitätskorrektureinrichtung
eine Umkehrfunktion aus einem ersten Entfernungsmeßsignal
berechnet, das proportional zu den Ausgangssignalen der
Positionsdetektoreinrichtung ist, und ein zweites Entfernungsmeßsignal,
das proportional zu einer Verschiebung der
Entfernung des Objektes ist, berechnet, indem das erste Entfernungsmeßsignal
mit einem Signal multipliziert wird, das
die Summe der Umkehrfunktion und einer Konstanten ist.
2. Verschiebungssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß für jeden Abtastwinkel der Ablenkeinrichtung
folgende Korrekturwerte definiert werden: Ein erster Korrekturwert,
der zu dem ersten Entfernungsmeßsignal hinzuaddiert
wird, ein zweiter Korrekturwert, der zu der Umkehrfunktion
hinzuaddiert wird, und ein dritter Korrekturwert, der zu der
Konstanten hinzuaddiert wird.
3. Optisch abtastender Verschiebungssensor, der mit Triangulierung
arbeitet, und eine Lichtprojektionsquelle, die
einen Lichtstrahl abgibt, eine Ablenkeinrichtung zum Ablenken
des Lichtstrahls auf ein zu erfassendes Objekt und zum
Abtasten dieses Objektes, eine optische Lichtempfangseinrichtung,
die das Licht des am Objekt reflektierten Lichtstrahls
konzentriert und durchtreten läßt, eine Positionsdetektoreinrichtung,
die zwei Positions-Ausgangssignale von entgegengesetztem
Wert ansprechend auf die Position des konzentrierten
Lichtflecks auf der Positionsdetektoreinrichtung, eine Operationseinrichtung,
die aus den zwei Positions-Ausgangssignalen
die Entfernung des Objektes erzeugt und ein Entfernungsmeßsignal
abgibt, indem die zwei Positions-Ausgangssignale
addiert und subtrahiert werden sowie das Verhältnis
zwischen den Positions-Ausgangssignalen gebildet wird, und
eine Linearitätskorrektureinrichtung enthält, um jegliche
Nichtlinearität des Entfernungsmeßsignals zu korrigieren,
dadurch gekennzeichnet, daß die optische Lichtempfangseinrichtung
eine anamorphotische optische Einrichtung aufweist,
welche die Verschwenkungsbreite des konzentrierten Lichtflecks
auf der Lichtempfangsoberfläche der Positionsdetektoreinrichtung
bei der Abtastung des Lichtstrahls über das zu
erfassende Objekt im wesentlichen innerhalb der Breite der
Positionsdetektoreinrichtung hält.
4. Sensor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
anamorphotische optische Einrichtung ein System aus einer
Konvexlinse, einer zylindrischen Konkavlinse und einer zylindrischen
Konvexlinse umfaßt.
5. Sensor nach einem der vorstehenden Ansprüche, gekennzeichnet
durch seine Verwendung zur Unterstützung des Schweißens
von Werkstücken, die das Objekt bilden, wobei die Operationseinrichtung
die Größe eines gestuften Teils der Werkstücke
bestimmt und die Verschweißung an diesem gestuften
Teil erfolgt, wobei die Größe eines Spaltes zwischen den
Werkstücken bestimmt wird, indem ein Wert für die Dicke der
betreffenden Werkstücke von der Größe des gestuften Teils
subtrahiert wird.
6. Sensor nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Linearitätskorrektureinrichtung
einen Hochgeschwindigkeits-Operationsprozessor umfaßt.
7. Optisch abtastender Verschiebungssensor, der mit Triangulierung
arbeitet und ein Gehäuse aufweist, das mit einer
Lichtaustrittsöffnung und einer Lichteintrittsöffnung versehen
ist, mit einer innerhalb des Gehäuses angeordneten Einrichtung,
die einen Lichtstrahl projiziert, einer in dem Gehäuse
angeordneten Einrichtung zur Ablenkung des Lichtstrahls
zu einem zu erfassenden Objekt, einer in der Lichteintrittsöffnung
des Gehäuses angeordneten optischen Lichtaufnahmeeinrichtung,
die das am Objekt reflektierte Licht konzentriert,
einer Positionsdetektoreinrichtung, auf die der konzentrierte
Lichtfleck fällt, um zwei Ausgangssignale von zueinander
entgegengesetztem Wert ansprechend auf die Position des konzentrierten
Lichtflecks auf der Lichtdetektoreinrichtung zu
erzeugen, einer Operationseinrichtung, um aus den zwei Positions-Ausgangssignalen
die Entfernung des Objektes zu bestimmen
und ein Entfernungsmeßsignal zu erzeugen, indem die zwei
Positions-Ausgangssignale addiert und subtrahiert werden, um
ein Verhältnis zwischen den Positionssignalen zu bilden,
und mit einer Linearitätskorrektureinrichtung, welche jegliche
Nichtlinearität des Entfernungsmeßsignals korrigiert,
dadurch gekennzeichnet, daß eine aus optischem Kunststoffmaterial
gefertigte Schutzabdeckung sowohl an der Lichtaustrittsöffnung
als auch an der Lichteintrittsöffnung des Gehäuses
angebracht ist und jede dieser Schutzabdeckungen mittels
eines Rahmenteils demontierbar an der Stirnfläche des
Gehäuses befestigt ist.
8. Sensor nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das
Gehäuse weiterhin mit Permanentmagneten versehen ist, die
neben der Lichtaustrittsöffnung und der Lichteintrittsöffnung
angeordnet sind, und daß die Rahmenteile aus ferromagnetischem
Material gefertigt sind, so daß sie durch Magnetkraft
an den Permanentmagneten anhaften und die Schutzabdeckungen
demontierbar festhalten.
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