SE522366C2 - Avståndsmätare - Google Patents
AvståndsmätareInfo
- Publication number
- SE522366C2 SE522366C2 SE9900695A SE9900695A SE522366C2 SE 522366 C2 SE522366 C2 SE 522366C2 SE 9900695 A SE9900695 A SE 9900695A SE 9900695 A SE9900695 A SE 9900695A SE 522366 C2 SE522366 C2 SE 522366C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- light
- detector
- detectors
- light source
- polynomial
- Prior art date
Links
- 229910001374 Invar Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/87—Combinations of systems using electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/0011—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight
- G01B5/0014—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight due to temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
- G01S17/48—Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/497—Means for monitoring or calibrating
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
. . - . .- 522 366 REDoGöRELsE FÖR UPPFINNINGEN Det är ett syfte med föreliggande uppfinning att lösa problemen som beskrivs ovan och särskilt att åstadkomma ett trianguleringsavståndsmätningssystem som är billigt att tillverka och som samtidigt har en hög upplösning.
Detta syfte och andra uppnås genom ett trianguleringsavståndsmätningssystem med flera lägesavkännande organ anordnade att avkänna en viss förutbestämd del av det totala mätområdet var. En central enhet sammanställer sedan mätsignalerna från de olika mätområdena till en total mätsignal för hela mätområdet.
Härigenom kan upplösningen ökas utan att kostnaden ökar pga dyrare detektor element i form av t ex PSD-element eller CCD- arrayer och dyrare linsarrangemang med höga krav på noggrannhet.
Dessutom kan en i princip godtycklig upplösning erhållas genom att fler detektorelement anordnas för ett givet mätområde.
KORTFATTAD BESKRIVNING AV RITNINGARNA Uppfinningen kommer nu att beskrivas närmare med hänvisning till de bilagda ritningarna, på vilka: - Fig. 1 visar ett trianguleringsavståndsmätningssystem med flera detektorelement.
- Fig. 2 visar principen hos ett endimensionellt PSD-element.
- Fig. 3a och 3b visar signalformer vid detektor respektive i en modulerad laser.
BESKRIVNING AV FÖREDRAGNA UTFÖRINGSFORMER I Fig. 1 visas ett trianguleringsavståndsmätningssystem 101 med flera detektor element. Systemet består av en ljusutsändande anordning, 103 t ex laser, minst två ljusdetekternade element, och i detta exempel fyra stycken element 105, 107, 109 och 111, t ex i form av PSD-element och en styr- beräkningsenhet 113, t ex i form av en mikroprocessor med ett tillhörande minne.
Detektorelementen 105, 107, 109 och 111 är anordnade att detektera ljus längs en given mätsträcka 115. Detektorelementen . . 4 . .- 522 366 3 är företrädesvis anordnade att detektera ljus på en given delsträcka av den totala mätsträckan. Detta kan åstadkommas genom att arrangera ett linssytem (ej visat) av konventionellt slag för varje detektor element så att ett första element 105 mäter en första delsträcka 117, ett andra element 107 mäter en andra delsträcka 119, ett tredje detektorelement 109 mäter en tredje delsträcka 121, etc.
I en föredragen utföringsform är öppningsvinklarna och brännvidden för de olika detektorelementen olika. Särskilt är öppningsvinklarna anordnade så att de olika delsträckorna som varje detektorelement mäter är väsentligen lika långa. Således kommer vid ett arrangemang såsom det som visas i Fig. 1, där detektorerna är anordnade i en rad vinkelrät mot den utsända strålen, vinkeln A att vara större än vinkeln B som i sin tur är större än vinkeln C som i sin tur är större än vinkeln D. Vidare kan det vara fördelaktigt att låta de olika delsträckorna något överlappa varandra så att man säkert undviker "blinda" fläckar i mätområdet.
I Fig. 2 visas den principiella uppbyggnaden av ett endimensionellt PSD-element. Ett PSD-element är en kiselplatta 201 vilken avger en summaström (X1 + X2). Denna summaström är väsentligen proportionell mot den infallande ljusmängden och delströmmarna X1 och X2 bestäms av var på PSD-elementet en infallande ljusstråle träffar. Vidare finns en referenselektrod L anordnad på PSD-elementet.
Genom att använda formeln: (X2-X1)/(x1+x2) kan koordinaten på PSD-elementet härledas oberoende av ljusintensiteten.
Ett kvarstående problem är dock att koordinaten som ges av PSD- elementet inte är oberoende av infallande ströljus. Därför moduleras i en fördragen utföringsform laserljuset såsom visas i Fig. 3b, dvs under en första halvperiod utsänds laserljus och - . n - -o 522 366 4 under andra halvperiod utsänds inget laserljus. Genom att sedan mäta svaret från PSD-elementet två gånger per helperiod kan bidraget från ströljus elimineras genom att bilda differensen: Xlpos - Xlneg Dvs först mäts laserljus+ströljus och sedan mäts enbart ströljus och därefter bildas differensen mellan de två mätvärdena.
Härigenom erhålls enbart den nyttiga signalen filtrerad från ströljus som annars kommer att störa mätningen. För att förfarandet skall fungera krävs att mätningen av svaret från detektorelementet mäts synkront med de utsända modulerade laserpulserna. Detta åstadkoms genom styrning av styr- och beräkningsenheten 113.
Styrenheten 113 sammanställer informationen från de olika detektorerna och avger ett mätvärde som svarar mot dels vilken detektor som avkänner laser strålen och dels vilket mätvärde som denna detektor för närvarande avger. I de fall då flera detektorer samtidigt avkänner den reflekterande laserstrålen, dvs i de fall då de olika detektorernas delmätområden överlappar varandra, kan styrenheten 113 antingen välja en av de två detektorerna, t ex den som mäter det bortre området, eller så kan styrenheten vara anordnad att avge ett medelvärde för de två härledda mätvärdena.
I ytterligare en föredragen utföringsform används kurvanpassning med ett polynom i styrenheten 113 för att kalibrera och linjärisera optiska och andra ofullkomligheter i mätsystemet.
Således kalibreras mätsystemet mot att antal mätvärden och ett polynom av lämplig storlek ansätts för att modellera data mellan kalibreringspunkterna. Kurvanpassning görs lämpligen med ett särskilt polynom för varje detektor genom kalibrering i ett lämpligt antal punkter. Kurvanpassningen kompenserar för geometriska, optiska och elektriska olinjäriteter samt för eventuella andra avvikelser. Exempelvis kan polynom av storlek 5 eller 6 användas för att åstadkomma en lämplig kurvanpassning. 522 366 " 5 Vidare kan den mekaniska struktur som används för att hålla systemets olika delar på plats utformas för att minska risken för mätfel orsakade av att geometrin i systemet ändras. Således anordnas i en föredragen utföringsform en yttre rörprofil, i vilken två genomgående bultar monteras, mellan två gavelstycken.
En temperaturstabil platta, t ex invar, är monterad på bultarna.
Plattan uppbär sedan för mätnoggrannheten väsentliga delar såsom ljuskälla och ljusdetektorer. Genom att använda en platta fäst i tre punkter och som fritt löper på två förspända axlar som är inspända mellan mätarnas gavlar, vilka hålls isär av mätarens hus, t ex utfört som ett runt eller kantigt rör åstadkoms att mätarens bas inte påverkas av variationer i temperatur, tryck eller mekaniska krafter. Således blir arrangemanget en temperaturstabil och robust enhet som uppfyller de högt ställda krav som idag är vanligt förekommande vid t ex industribruk.
Genom att använda trianguleringsmätsystemet som beskrivs häri kan upplösningen ökas utan att kostnaden ökar pga dyrare detektorelement i form av t ex PSD-element eller CCD-arrayer och dyrare linsarrangemang med höga krav på noggrannhet. Dessutom kan en i princip godtycklig upplösning erhållas genom att fler detektorelement anordnas för ett givet mätområde. Systemet kan vidare enkelt göras okänsligt för temperaturväxlingar och ströljus.
Claims (1)
1. 0 15 20 25 30 35 522 366 Patentkrav Trianguleringsmätsystem innefattande en ljuskälla (103) som utsänder en ljusstràle, en första ljuskänslig detektor (105) anordnad att avkänna ljus som reflekteras av ett föremål som befinner sig inom ett avstånd som kan detekteras av den första detektorn (105) och som är en första delsträcka (117) inom en given mätsträcka (115), kånnetecknad av minst en andra ljuskänslig detektor (107, 109, 111) anordnad att avkänna reflekterat ljus från minst en andra delsträcka (119, 121, 123) inom den givna mätsträckan (115), nämnda delsträckor (117, 119, 121, 123) nágot överlappande varandra. .System enligt krav 1, kännetecknat av att ljuskällan är en modulerad laser anordnad att omväxlande avge perioder med laserljus och omväxlande perioder utan laserljus. .System enligt krav 1 eller 2, kännetecknat av en styr- eller beräkningsenhet (113) anordnad att sammanställa mätvärdena fràn de olika detektorerna till en enda utsignal svarande mot det för närvarande uppmätta avståndet. .System enligt krav 3, kännetecknat av att enheten (113) är anordnad att kalibreras med hjälp av ett polynom för varje detektor för att linjärisera detektorernas mätomràde. .System enligt krav 4, kännetecknat av att polynomet är ett polynom av grad 3 - 10, exempelvis 5 eller 6. .System enligt krav 3, 4 eller 5, dä dessa är underordnade krav 2, kännetecknat av att enheten( 113) är anordnad att använda differensen mellan detektorutsignalerna dà den modulerade lasern avger ljus och dä den inte avger ljus som insignal från detektorerna för att undvika inverkan frän ströljus. lO 522 366 7 I .System enligt något av kraven 1-6, kânnetecknat av att ljuskällan och detektorerna är monterade på en gemensam temperaturstabil platta. .System enligt krav 7, kännetecknat av att plattan är gjord av invar. .System enligt krav 7 eller 8, kännetecknat av att plattan är fäst i tre punkter och fritt löper pà tvà förspända axlar som är inspända mellan mätarnas gavlar, vilka hålls isär av mätarens hus, t ex utfört som ett runt eller kantigt rör.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE9900695A SE522366C2 (sv) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | Avståndsmätare |
| AU33407/00A AU3340700A (en) | 1999-02-26 | 2000-02-25 | An apparatus for measuring distance |
| PCT/SE2000/000374 WO2000050842A1 (en) | 1999-02-26 | 2000-02-25 | An apparatus for measuring distance |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE9900695A SE522366C2 (sv) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | Avståndsmätare |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SE9900695D0 SE9900695D0 (sv) | 1999-02-26 |
| SE9900695L SE9900695L (sv) | 2000-08-27 |
| SE522366C2 true SE522366C2 (sv) | 2004-02-03 |
Family
ID=20414648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SE9900695A SE522366C2 (sv) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | Avståndsmätare |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| AU (1) | AU3340700A (sv) |
| SE (1) | SE522366C2 (sv) |
| WO (1) | WO2000050842A1 (sv) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004042466A1 (de) | 2004-09-02 | 2006-03-23 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Distanzmessung |
| DE102017216155A1 (de) * | 2017-09-13 | 2019-03-14 | Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg | Sensor zur Messung eines Abstandes eines Objekts mittels Triangulation |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4349274A (en) * | 1980-07-23 | 1982-09-14 | General Electric Company | Optical triangulation apparatus and method |
| GB2206690B (en) * | 1987-06-30 | 1991-12-11 | Matsushita Electric Works Ltd | Optically scanning displacement sensor |
| CH683381A5 (fr) * | 1990-05-23 | 1994-02-28 | Charles Rheme | Procédé de mesure d'un angle d'incidence d'un faisceau lumineux, dispositif de mesure pour la mise en oeuvre du procédé et utilisation du dispositif pour la mesure de distances. |
| JP3288754B2 (ja) * | 1992-06-15 | 2002-06-04 | 旭光学工業株式会社 | 測距装置 |
| EP0942293B1 (fr) * | 1998-02-10 | 2002-05-29 | Optosys SA | Dispositif de mesure de distances ou de l'angle d'incidence d'un faisceau lumineux |
-
1999
- 1999-02-26 SE SE9900695A patent/SE522366C2/sv not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-02-25 WO PCT/SE2000/000374 patent/WO2000050842A1/en not_active Ceased
- 2000-02-25 AU AU33407/00A patent/AU3340700A/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SE9900695D0 (sv) | 1999-02-26 |
| AU3340700A (en) | 2000-09-14 |
| SE9900695L (sv) | 2000-08-27 |
| WO2000050842A1 (en) | 2000-08-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4698491A (en) | Device for ascertaining alignment errors in shafts arranged in tandem | |
| CN102661709B (zh) | 一种大行程运动台位移测量方法 | |
| JP3644687B2 (ja) | 2つの物体の相対的な変位を測定する光電式距離及び角度測定装置 | |
| JPS6126601B2 (sv) | ||
| JPH02129518A (ja) | 光電位置測定装置 | |
| US5379651A (en) | Point optical beam electronic rotometer | |
| US7145131B2 (en) | Absolute encoder | |
| SE522366C2 (sv) | Avståndsmätare | |
| SE427584B (sv) | Kombinerad hastighets- och dimensionsgivare | |
| JPH08178613A (ja) | 干渉計用光検出器 | |
| CN105783738B (zh) | 一种增量式小量程位移传感器的测量方法 | |
| EP3749926B1 (en) | Sensor device for distance offset measurements | |
| JP2009271076A (ja) | 位置および/または速度を検出する測定装置 | |
| JP2009271076A6 (ja) | 位置および/または速度を検出する測定装置 | |
| US6525311B1 (en) | Scanning unit for optical position measuring device | |
| JP2002122419A (ja) | 平坦度測定装置 | |
| ES2524321T3 (es) | Encoder óptico | |
| US6446350B1 (en) | Method and arrangement for reducing temperature-related dimensional discrepancies in measurement systems arranged in parallel | |
| CN221147640U (zh) | 基于psd位置传感器的激光标线仪检测装置 | |
| JPH06241783A (ja) | 三角測距式光電センサ | |
| JP2003121127A (ja) | 測定装置 | |
| ES2704325T3 (es) | Sistema que comprende un dispositivo optoelectrónico configurable y dos elementos desplazables uno con respecto al otro | |
| JPS6321509A (ja) | 測長装置 | |
| SU901816A1 (ru) | Устройство дл определени малых рассто ний | |
| JP3273201B2 (ja) | 光学式インクリメンタルエンコーダ装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| NUG | Patent has lapsed |