DE3820063C1 - Strukturkörper und Verfahren zu ihrer Herstellung - Google Patents
Strukturkörper und Verfahren zu ihrer HerstellungInfo
- Publication number
- DE3820063C1 DE3820063C1 DE3820063A DE3820063A DE3820063C1 DE 3820063 C1 DE3820063 C1 DE 3820063C1 DE 3820063 A DE3820063 A DE 3820063A DE 3820063 A DE3820063 A DE 3820063A DE 3820063 C1 DE3820063 C1 DE 3820063C1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- silicon
- silicon nitride
- oxidation
- coating
- intermediate layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 45
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 80
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 80
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 45
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 35
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 33
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 29
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 27
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 27
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 25
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 19
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 19
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 15
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 15
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000000462 isostatic pressing Methods 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- -1 nitrogenous compound Chemical class 0.000 claims description 5
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 5
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 4
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 claims description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- HMDDXIMCDZRSNE-UHFFFAOYSA-N [C].[Si] Chemical compound [C].[Si] HMDDXIMCDZRSNE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 22
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 17
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 7
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 3
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 2
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 2
- XPDWGBQVDMORPB-UHFFFAOYSA-N Fluoroform Chemical compound FC(F)F XPDWGBQVDMORPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003910 SiCl4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000036760 body temperature Effects 0.000 description 1
- DKOQGJHPHLTOJR-WHRDSVKCSA-N cefpirome Chemical compound N([C@@H]1C(N2C(=C(C[N+]=3C=4CCCC=4C=CC=3)CS[C@@H]21)C([O-])=O)=O)C(=O)\C(=N/OC)C1=CSC(N)=N1 DKOQGJHPHLTOJR-WHRDSVKCSA-N 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000001513 hot isostatic pressing Methods 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005055 methyl trichlorosilane Substances 0.000 description 1
- JLUFWMXJHAVVNN-UHFFFAOYSA-N methyltrichlorosilane Chemical compound C[Si](Cl)(Cl)Cl JLUFWMXJHAVVNN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- OBCUTHMOOONNBS-UHFFFAOYSA-N phosphorus pentafluoride Chemical compound FP(F)(F)(F)F OBCUTHMOOONNBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007750 plasma spraying Methods 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N silicon tetrachloride Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)Cl FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/009—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone characterised by the material treated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/45—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
- C04B41/52—Multiple coating or impregnating multiple coating or impregnating with the same composition or with compositions only differing in the concentration of the constituents, is classified as single coating or impregnation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/53—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone involving the removal of at least part of the materials of the treated article, e.g. etching, drying of hardened concrete
- C04B41/5338—Etching
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/80—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone of only ceramics
- C04B41/81—Coating or impregnation
- C04B41/89—Coating or impregnation for obtaining at least two superposed coatings having different compositions
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/80—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone of only ceramics
- C04B41/91—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone of only ceramics involving the removal of part of the materials of the treated articles, e.g. etching
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft Verbesserungen bei Strukturkörpern für Hochtempera
turanwendungen. Im besonderen betrifft die Erfindung einen Körper aus Sili
ziumnitrid, der eine konforme äußere Beschichtung aus Siliziumnitrid oder
Siliziumcarbid aufweist.
Während der vergangenen Jahre wurden beträchtliche Anstrengungen unter
nommen, verschiedene Typen keramischer Strukturen zur Anwendung bei hohen
Temperaturen herzustellen, wie zum Beispiel Gasturbinen, Raketendüsen und
Turbolader. Das verhältnismäßig leichte Gewicht keramischer Strukturen,
verglichen mit Strukturen aus Metallegierungen, führt in zahlreichen Fällen
zu erheblichen Verbesserungen. Eine solche Verbesserung ist besonders auf
fällig bei beweglichen Teilen, da die träge Masse der Struktur beträchtlich
geringer ist, wenn sie aus keramischen Materialien bestehen. Solche Materia
lien weisen auch einen hohen Elastizitätsmodul und einen niedrigen thermi
schen Expansionskoeffizienten auf, also wünschenswerte Eigenschaften mit der
Hochtemperaturdynamik.
Eines der keramischen Materialien, das auf seine Anwendbarkeit in Strukturen
für hohe Temperaturen untersucht wurde, ist Siliziumnitrid. Siliziumnitrid
körper mit engen Dimensionstoleranzen werden aus Siliziumnitridpulver her
gestellt. Es war jedoch bei der Herstellung von Siliziumnitridkörpern die
Verwendung von Bindemitteln, Sinterhilfen oder Arbeitsweisen der Reaktions
sinterung erforderlich. Ein Beispiel der Anwendung solcher Arbeitsweisen
wird in der US-Patentschrift 3 193 399 beschrieben, in der granuliertes
Siliziumcarbid mit fein verteiltem Silizium und einer fein verteilten Cyan
amidverbindung vermischt und das Gemisch in einer oxidierenden Atmosphäre
gebrannt wird. Das bei dieser Arbeitsweise erhaltene Material enthält Sili
ziumcarbid, das an Siliziumnitrid gebunden ist und wahrscheinlich Silizium
oxynitrid darstellt. Die Möglichkeit, mit Hilfe dieser Arbeitsweisen bei
geringen Kosten Teile herzustellen, die der gewünschten Endform sehr nahe
kommen, stellt einen beträchtlichen Fortschritt dar.
Ein Nachteil von gebundenem und gesintertem Siliziumnitrid besteht darin,
daß es oxidativen Angriffen unterliegt. Dies kann zu einer Verschlechterung
der Oberfläche eines Siliziumnitridkörpers, im besonderen bei hohen Tempe
raturen führen. Auch die Festigkeit bei Raumtemperatur kann niedriger als
gewünscht sein. Aus diesem Grund wurden Versuche unternommen, auf Körper aus
partikelförmigem Siliziumnitrid oxidationsbeständige äußere Beschichtungen
aufzubringen. Siliziumnitrid und Siliziumcarbid sind bei hohen Temperaturen
oxidationsbeständige Materialien, die erwünschte äußere Überzüge ergeben.
Beispielsweise wurde Siliziumnitrid zum überziehen von anderen Materialien
als Siliziumnitrid verwendet (vgl. US-Patentschrift 4 090 851 und US-Patent
schrift 4 356 152). Auch Siliziumcarbid wurde zum überziehen von anderen
Materialien als Siliziumnitrid verwendet (vgl. Report of Oak Ridge National
Laboratories, ORNL/TM-9673, S. 104, veröffentlicht September 1985 unter dem
Titel "Ceramic Technology for Heat Engines Project Semiannual Progress
Report for Period October 1984-March 1985"). Es war jedoch bislang nicht
möglich, brauchbare Überzüge aus Siliziumnitrid auf Körper aus teilchenför
migem Siliziumnitrid mit Hilfe konventioneller Prozesse der Dampfabscheidung
herzustellen. Ähnliche Probleme bestehen mit Überzügen aus Siliziumcarbid
auf Körpern aus teilchenförmigem Siliziumnitrid. In beiden Fällen ist die
Adhäsion sehr gering, was bei minimaler Beanspruchung zu einer Ablösung oder
Absplitterung des Überzuges führt.
Zusätzlich zur Oxidationsbeständigkeit werden dimensionserhöhende Überzüge
auf teilweise konsolidierten Keramikkörpern aus Partikeln zur Verfügung
gestellt, beispielsweise durch chemische oder physikalische Dampfabschei
dung, um einen runden Überzug zu erhalten und zur Unterstützung beim iso
statischen Pressen des Körpers bei hohen Temperaturen. Dieses Pressen ver
dichtet anfänglich den Körper und verbessert seine mechanischen Eigenschaf
ten. Ohne eine umhüllende Beschichtung dringt das unter hohen Druck stehende
Gas, wie es beim isostatischen Pressen Anwendung findet, in den porösen
Körper ein und kann während des Preßvorganges zu einer Auflösung des Kör
pers führen. Überzüge aus verschiedenen Materialien wurden angewandt, um
teilweise konsolidierte Körper aus partikelförmigem Siliziumnitrid zu kon
solidieren, um ein heißes isostatisches Pressen zu ermöglichen. Wenn der
Überzug im Endprodukt nicht brauchbar ist, beispielsweise wenn er bei hohen
Temperaturen nicht oxidiationsbeständig ist, muß er nach dem isostatischen
Pressen von dem Körper entfernt werden. Wenn es möglich wäre, teilweise
konsolidierte, teilchenförmige Siliziumnitridkörper mit Siliziumcarbid oder
Siliziumnitrid zu überziehen, würde ein solcher Überzug nicht nur das heiße
isostatische Pressen des Körpers erleichtern, ein solcher Überzug könnte
auch nach dem isostatischen Pressen belassen werden und ergäbe eine bei
hohen Temperaturen oxidationsbeständige Oberfläche für den Körper.
Es wurde oben bereits erwähnt, daß die bisherigen Versuche, Körper aus par
tikelförmigem Siliziumnitrid mit entweder Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid
unter Verwendung chemischer Dampfabscheidung (CVD) oder physikalischer
Dampfabscheidung (PVD) nicht zum Erfolg geführt haben. Dies vor allem des
halb, weil eine ausreichende Haftung der abgeschiedenen Beschichtung auf der
Oberfläche des gesinterten oder reaktionsgebundenen Substrates aus Silizium
nitrid nicht erreichbar war.
In dem oben genannten Bericht der Oak Ridge National Laboratories, supra,
wird auf den Seiten 104-105 ein Verfahren zur Verbesserung der Adhäsion von
Beschichtungen aus Zirkonoxidmaterialien beschrieben, die mittels physikali
scher Dampfabscheidung, Aufsprühen oder Plasmasprühen auf die Oberfläche von
reaktionsgebundenem oder gesintertem Siliziumnitrid erhalten wurden. Dieses
Verfahren beinhaltet das Ätzen der wie erhaltenen und oxidierten Oberflächen
des Substrates mit wäßrigem Fluorwasserstoff (HF) bevor der äußere Überzug
aufgebracht wird. Ganz allgemein wird bei der Durchführung des erfindungs
gemäßen Verfahrens ein aus partikelförmigem Siliziumnitrid gebildeter Kör
per mit einer konformen Zwischenbeschichtung enthaltend eine silizium-,
sauerstoff- und stickstoffhaltige Verbindung, von der angenommen wird, daß
sie u. a. Siliziumoxynitrid ist, gebunden an den Körper. Eine konforme
äußere Beschichtung aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid wird dann an die
Zwischenschicht chemisch gebunden. Das erhaltene Produkt wird ein Struktur
körper, der für Anwendungen bei hohen Temperaturen geeignet ist und minde
stens teilweise aus verfestigtem, teilchenförmigen Siliziumnitrid besteht,
überzogen mit einer konformen äußeren Beschichtung aus Siliziumnitrid oder
Siliziumcarbid, die an den Körper mittels einer konformen Zwischenschicht,
enthaltend Siliziumoxynitrid, gebunden ist.
Siliziumnitridkörper, die aus teilchenförmigem Siliziumnitrid hergestellt
werden, werden üblicherweise durch sogenannte Reaktionsbindung oder heißes
Verpressen geformt. Reaktionsgebundenes Siliziumnitrid ist für Anwendungen
geeignet, die geringes Gewicht, einen niedrigen Elastizitätsmodul und ther
mischen Ausdehnungskoeffizienten, eine gute Schockbeständigkeit und die
Fähigkeit aufweisen, ihre strukturelle Unversehrtheit bei hohen Arbeits
temperaturen beizubehalten.
Die Wünschbarkeit einer Beschichtung aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid
auf Körpern aus Siliziumnitrid wurde vorgeschlagen, jedoch bislang nicht
wirkungsvoll verwirklicht. Der Vorteil dieses Konzepts besteht darin, die
Erosionsbeständigkeit des Siliziumnitridkörpers zu verbessern. Weiterhin
kann eine äußere Beschichtung aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid im
wesentlichen dazu verwendet werden, das Teil einzukapseln und ein isostati
sches Verpressen bei hoher Temperatur zu ermöglichen, das Teil weiter zu
verdichten und seine mechanischen Eigenschaften zu verbessern. Beim iso
statischen Verpressen bei hohen Temperaturen wird das Teil in einen Hoch
temperaturofen eingebracht, der dann einem hohen Fluiddruck ausgesetzt wird.
Ein weiterer Vorteil dieses Konzepts der Aufbringung einer äußeren Beschich
tung aus Siliziumcarbid oder Siliziumnitrid auf einen Siliziumnitridkörper
besteht darin, ein isostatisches Verpressen bei hohen Temperaturen zu er
reichen und gleichzeitig die Erosions- und Abnützungsbeständigkeit zu ver
bessern und möglicherweise die oberflächliche Kontaminierung des beschich
teten Körpers während des Arbeitsganges zu vermindern.
Die Erfindung wird nachfolgend im Zusammenhang mit den Zeichnung beschrie
ben, in denen:
Fig. 1 ein Mikrophoto bei etwa 10-facher Vergrößerung einer äußeren Ober
fläche einer mit CVD-Siliziumnitrid beschichteten Siliziumnitrid-
Versuchsstücks darstellt, das mit dem erfindungsgemäßen Verfahren
hergestellt wurde (vgl. Beispiel I);
Fig. 2 ein Mikrophoto bei etwas 10-facher Vergrößerung der äußeren Ober
fläche eines CVD-Siliziumnitrid beschichteten Siliziumnitrid-
Versuchsstücks darstellt, das gemäß dem Verfahren des Standes der
Technik hergestellt wurde (vgl. Kontrolle I);
Fig. 3 ist ein Mikrophoto bei etwa 10-facher Vergrößerung der äußeren Ober
fläche eines CVD-Siliziumcarbid beschichteten Siliziumnitrid-
Versuchsstücks, das gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren her
gestellt wurde (vgl. Beispiel II);
Fig. 4 ist ein Mikrophoto bei etwa 10-facher Vergrößerung der äußeren Ober
fläche eines CVD-Siliziumcarbid beschichteten Siliziumnitrid-
Versuchsstücks, das gemäß dem Verfahren des Standes der Technik her
gestellt wurde (vgl. Kontrolle II).
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird die Oberfläche des teilweise konsoli
dierten Körpers aus teilchenförmigem Siliziumnitrid zuerst oxidiert, um eine
Schicht auszubilden, die Siliziumoxynitrid enthält, das an den Körper gebun
den ist. Eine bevorzugte oxidierende Umgebung besteht darin, den Silizium
nitridkörper auf eine Temperatur im Bereich von 1000 bis 1500°C
an der Luft oder in einer anderen oxidierenden Atmosphäre zu erhitzen. Jede
geeignete Kombination aus Druck, Sauerstoffgehalt der oxidierenden Atmo
sphäre, der Zeit, innerhalb dieses Temperaturbereiches, kann angewandt wer
den, abhängig von der Dicke der gewünschten Zwischenschicht.
Ohne an eine bestimmte Theorie gebunden zu sein, ist anzunehmen, daß als Er
gebnis der vorangehenden Oxidationsstufe eine zweifache Schicht auf der
Oberfläche des Siliziumnitridkörpers ausgebildet wird, die aus Siliziumoxy
nitrid benachbart dem Siliziumnitridkörper und einer Schicht aus Silizium
dioxid auf der äußeren Oberfläche der Siliziumoxynitridschicht besteht. (Das
Siliziumdioxid wird durch weitere Oxidation des Siliziumoxynitrids während
der Oxidationsstufe gebildet und kommt in gewissem Umfang sogar in der Luft
bei Raumtemperatur vor.) Siliziumoxynitrid (Si₂ON₂) hat sehr ähnliche
thermische Eigenschaften wie Siliziumnitrid. Tatsächlich wandert die Sili
ziumoxynitridschicht in den Siliziumnitridkörper ein und die Siliziumdioxid
schicht baut sich dahinter auf. Die Oxidationsstufe wird so lange fort
gesetzt, bis der Siliziumnitridkörper gleichmäßig mit der Siliziumoxynitrid
schicht bedeckt ist. Als natürliche Folge der Oxidationsstufe wird die Sili
ziumoxynitridschicht gleichmäßig mit einer Siliziumdioxidschicht bedeckt.
Unter den vorgenannten Bedingungen liegen typische Dicken der Siliziumoxy
nitridschicht im Bereich von 1 bis 100 µm, vorzugsweise im Bereich von 5 und
50 µm.
Nach der oben beschriebenen Oxidationsstufe wird das Substrat geätzt.
Wiederum gemäß der oben gegebenen theoretischen Erklärung ist anzunehmen, daß
durch das Ätzen die Schicht aus Siliziumoxynitrid durch Entfernung der
Schicht aus Siliziumdioxid auf der äußeren Oberfläche des Siliziumnitrid
körpers freigelegt wird. Die zur Entfernung des Siliziumdioxids verwendete
Verfahren können solche sein, von denen einige in der Halbleiterindustrie
bekannt sind. Eine Methode der Ätzung besteht darin, eine wäßrige Lösung von
Fluorwasserstoffsäure (HF) aufzubringen, d. h. 10 Teile konzentriertes HF
auf 1 Teil destilliertes Wasser auf den Körper während 30 Sekunden. Nach dem
Ätzen wird die Oberfläche in Wasser abgespült und weiter mit wasserfreiem
Alkohol in einem Ultraschallreiniger während etwa 15 Minuten. Diese Art und
ähnliche Arten des Ätzens sind allgemein als chemisches Ätzen bekannt.
Obwohl ein chemisches Ätzen für viele Verwendungen ausreichend ist, wird
vorgezogen, das Siliziumdioxid durch Ätzung in der Gasphase zu entfernen.
Beispielsweise kann das beschichtete Substrat in einer geeigneten reduzie
renden Umgebung wie beispielsweise Wasserstoff, der SiO₂ zu gasförmigem
SiO reduziert, erwärmt werden, wobei das SiO verflüchtigt wird (vgl. Am.
Ceram. Soc. Bulletin, 65, Seiten 1171-76 (1986) mit dem Titel "Surface
Characterization of Silicon Nitride and Silicon Carbide Powders", von M. N.
Rahaman, Y. Boiteux und L. C. De Jonghe. Das Siliziumnitrid oder Silizium
carbid wird dann durch CVD auf dem Substrat in dem gleichen Reaktor ab
geschieden. Der Vorteil der Durchführung des Ätzens in der Gasphase in situ
auf diese Weise besteht darin, die Bildung von sogenanntem nativen Oxid auf
der frisch geätzten Oberfläche zu verhindern. Die Bildung von nativem Oxid
erfolgt häufig in Gegenwart von Sauerstoff.
Als Alternative zu den vorstehenden Verfahren der Entfernung des Silizium
dioxids kann auch das Ätzen mit Plasma unter Verwendung fluorierter Verbin
dungen geschehen, wie es in der Halbleiterindustrie angewandt wird (Proceed
ings of the Third Symposium on Plasma Processing, S. 217 (1982) "Parameter
and Reactor Dependence of Selective Oxide RIE in CF₄ + H₂", von L. M.
Ephrath und E. J. Petrilio, und S. 146 "Phosphorus Pentafluoride and Sul
furyfluoride Applied to Etch SiO₂" in "Search for Higher Selectivities"
von K. M. Eisele.
Als Alternative zur Oxidationsstufe kann die Siliziumoxynitridschicht auch
direkt durch CVD unter geeigneten Bedingungen abgeschieden werden. Im An
schluß hieran ist üblicherweise eine Ätzung erforderlich infolge der Neigung
des Siliziumoxynitrids zu Siliziumdioxid zu oxidieren. Außerdem ist anzuneh
men, daß die Ätzung mechanische Zwischenräume schafft, welche die chemische
Bindung erhöhen, die zwischen der Zwischenschicht aus Siliziumoxynitrid und
dem endgültigen Überzug aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid stattfindet.
Nach der Ätzstufe wird ein Überzug aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid
auf der Zwischenschicht abgeschieden. Der Siliziumnitrid- oder Siliziumcar
bidüberzug wird durch geeignete CVD-Verfahren abgeschieden und ergibt eine
äußere Schicht. Die äußere Schicht wird mit Dicken im Bereich von zwischen
1 und 5 µm abgeschieden. Vorzugsweise beträgt die Dicke der äußeren Schicht
5 bis 100 µm.
Das vorstehend beschriebene Verfahren kann in jedem geeigneten Reaktor
durchgeführt werden. Vorzugsweise wird das erfindungsgemäße Verfahren in ei
nem CVD-Reaktor durchgeführt, der jedem Fachmann bekannt ist. Ein solcher
Reaktor umfaßt eine Quarzkammer, Vorrichtungen innerhalb der Kammer zum Trä
gern des zu überziehenden Körpers, Vorrichtungen zum Einführen der gewünsch
ten Kombination der Gase bei der gewünschten Fließgeschwindigkeit in die
Kammer und eine geeignete Heizvorrichtung, welche die Quarzkammer umgibt, um
die Temperatur des Körpers auf der gewünschten Höhe zu halten.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Beispielen beschrieben.
Siliziumnitridstäbe, die oberflächlich poliert waren, wurden einer Oxidation
bei einer Temperatur von 1365°C während 5 Minuten bei einem Luftfluß von
1,4 l/min ausgesetzt. Dies ergab eine Oxynitrid- und Oxidschicht auf der
Oberfläche mit einer geschätzten Dicke von etwa 10 µm. Nach Abkühlen des
Substrates wurde die äußere Oberfläche mit 10 Teilen konzentrierter Fluor
wasserstoffsäure zu 1 Teil destilliertes Wasser während 30 Sekunden geätzt;
anschließend mit wasserfreiem Alkohol in einem Ultraschallreiniger während
15 Minuten abgespült und gereinigt. Nach dieser Ätzung wurde Siliziumnitrid
durch CVD mit einer Temperatur des Teils von 1150°C während 60 Minuten ab
geschieden. Die Fließgeschwindigkeiten waren: N₂-1000 cm³/min, NH₃-924
cm³/min und SiCl₄-924 cm³/min. Unter diesen Bedingungen wurde ein Überzug
von etwa 100 µm Dicke abgeschieden. Der Augenschein ergab eine Anhaftung
der äußeren Beschichtung auf den meisten Teilen. Ein weiterer CVD-Durchgang
unter identischen Bedingungen ergab eine 100%ige Haftung in allen Fällen.
Fig. 1 ist ein Mikrophoto eines der Siliziumnitridteststäbe, behandelt gemäß
diesem erfindungsgemäßen Beispiel und zeigt die Haftung zwischen der Sili
ziumnitridbeschichtung und dem Siliziumnitridsubstrat.
Als Kontrolle wurden Siliziumnitridstäbe oberflächlich poliert und in einem
CVD-Reaktor eingebracht. Siliziumnitrid wurde durch chemische Dampfabschei
dung abgeschieden mit einer Teiltemperatur von 1150°C während 60 Minuten.
Die Fließgeschwindigkeiten waren identisch mit denen, wie sie in Beispiel I
angegeben sind. Die Haftung in einem Satz von Proben war praktisch Null bis
gering. Es war klar zu erkennen, daß die nicht vorbehandelten Substrate, d. h.
nicht oxidiert und geätzt gemäß der Erfindung, nicht ausreichend an die
Abscheidungen gebunden waren. Fig. 2 ist ein Mikrophoto einer der Silizium
nitridteststäbe, behandelt gemäß dieser Kontrolle, und zeigt deutlich den
Mangel der Haftung zwischen der Siliziumnitridbeschichtung und dem Silizium
nitridsubstrat.
Die Haftung der Proben in Beispiel I und in Kontrolle I wurde unter Verwen
dung eines Kratztests bestimmt. In einem Kratztest wird ein Diamantstift
über die Oberfläche einer Probe bei einer konstant zunehmenden Belastung
gezogen. Ein Versagen der Beschichtung wird bestimmt durch die akustische
Emission, welche den Prozeß des Versagens begleitet und mit einem akusti
schen Detektor gemessen wird, der an der Diamantnadel befestigt ist. Die
aufgewandte Last, die dem Beginn des Bruchs entspricht, ist die Haftung der
Beschichtung (in Newtons). Da für Vergleichszwecke keine Standards zur Ver
fügung stehen, ist die durch den Kratztest erhaltene Zahl nicht als absolute
Messung geeignet. Trotzdem ergibt diese Nummer einen brauchbaren Vergleich
zwischen zwei oder mehr Beschichtungen, die mit dem gleichen Verfahren
getestet werden und ist allgemein akzeptiert als eine der besten zur Ver
fügung stehenden Möglichkeiten für die Messung der relativen Adhäsion kera
mischer Beschichtungen.
Unter Verwendung des Kratztests wurden Proben aus den Beispielen I und
Kontrolle I verglichen. Bei den Proben der Kontrolle I variierten die Haf
tungswerte zwischen 0 bis 3 Newtons mit einem möglichen Fehler von
plus oder minus 1,17 Newtons. Die Messungen mit dem Kratztest bei-den Proben
des Beispiels I variierten von einem niederen Wert von 4,0 Newtons mit einem
Fehler von plus oder minus 0,7 Newtons bis zu einem oberen Wert von 10 New
tons mit einem Fehler von plus oder minus 1 Newton. Die mittleren Haftwerte
der Proben des Beispiels I betrugen mehr als 7.
Das Substrat und die Bearbeitung der Oberfläche einschließlich der Oxidation
und des Ätzens waren identisch mit denen, wie sie in Beispiel I angegeben
sind. Eine äußere Beschichtung aus Siliziumcarbid wurde sodann durch CVD ab
geschieden bei einer Substrattemperatur von 1175°C während 45 Minuten,
einem Wasserstofffluß von 5600 cm³/min, einem Stickstofffluß von 5600 cm³/
min und einem Methyltrichlorsilanfluß von 1,55 cm³/min. Die erhaltene
Beschichtung war etwa 80 µm dick. Die Ergebnisse waren im wesentlichen
Identisch denen, wie sie für Beispiel I erhalten wurden. Fig. 3 ist ein
Mikrophoto eines der Siliziumnitridteststäbe, die gemäß diesem Beispiel
behandelt wurden und zeigt die Adhäsion zwischen der Siliziumcarbidbeschich
tung und dem Siliziumnitridsubstrat.
Als Kontrolle wurden Siliziumnitridstäbe oberflächlich poliert und in einem
CVD-Reaktor eingebracht. Siliziumcarbid wurde durch chemische Dampfabschei
dung mit einer Teiltemperatur von 1175°C während 45 Minuten abgeschieden.
Die Fließgeschwindigkeiten waren identisch mit jenen des Beispiels II. Auch
bei dieser Kontrolle war erkennbar, daß die nicht vorbehandelten, d. h.
nicht oxidierten und geätzten, Substrate gemäß der Erfindung nicht aus
reichend aus die Überzüge gebunden waren. Fig. 4 ist ein Mikrophoto eines
der Siliziumnitridteststäbe, behandelt gemäß der Kontrolle und zeigt deut
lich die schwache Haftung zwischen der Siliziumcarbidbeschichtung und dem
Siliziumnitridsubstrat.
Oberflächlich polierte Siliziumnitridstäbe können unter Verwendung einer
RF-Plasmaätzung anstelle der HF-Ätzung wie in Beispiel I behandelt werden.
In diesem Fall können die Stäbe oberflächlich bei 1345°C oxidiert werden
unter Anwendung eines Luftflusses von 1400 Standard-cm³ (sccm) während
5 Minuten und ergeben eine Oxidschicht wie in Beispiel I. An die Oxidation
schließt sich eine reaktive Ionenätzung bei mehr als 25 °C bis weniger als
100°C und 25 m Torr unter Verwendung einer Fließgeschwindigkeit von 2400
sccm CF₄ und 1600 sccm Wasserstoff an. Die angewandten Parameter können
variiert werden, wie dies von Eprath und Petrill (supra) angegeben ist. Nach
dem Ätzen und Spülen mit trockenem Argon wird die Siliziumnitridabscheidung
durch CVD wie in Beispiel I erzeugt
Das Verfahren gemäß Beispiel 3 kann unter Verwendung von CHF₃ oder
C₂F₆ als Ätzmittel durchgeführt werden.
Dem Verfahren gemäß Beispiel III kann gefolgt werden, mit Ausnahme, daß die
Ätzstufe durch Erhitzen der Stäbe auf eine Temperatur von 1300-1500°C bei
einem Wasserstofffluß von etwa 1 l/min durchgeführt wird. Nach 10 Minuten
wird die äußere Siliziumdioxidschicht durch Reduktion und Verflüchtigung zu
gasförmigem Siliziumoxid entfernt, was die Siliziumoxynitridschicht frei
legt. Es schließt sich dann die Abscheidung von Siliziumcarbid oder Sili
ziumnitrid durch CVD an, wobei CVD unmittelbar nach der Gasätzung durch
geführt werden soll, um die Bildung eines Films vor der Abscheidung zu ver
meiden.
Oberflächlich polierte Siliziumnitridstäbe, die in einem üblichen CVD-Reak
tor eingebracht sind, werden mit einem Niederschlag von Siliziumoxynitrid
beschichtet, wobei eine Substrattemperatur von 1150°C und Fließgeschwindig
keiten von gasförmigem SiCl₄ bei etwa 924 cm³/min und gasförmigem NH₃
bei etwa 025 cm³/min zur Anwendung kommen. Ein oxidierendes Gas wie bei
spielsweise O₂, CO₂ und CO wird mit einer Fließgeschwindigkeit von min
destens 3 bis 10 cm³/min zugeführt; nach etwa 60 Minuten wird eine
Siliziumoxynitridbeschichtung von 50 bis 100 µm Dicke chemisch er
halten, die an das Siliziumnitridsubstrat gebunden ist. An diesem Punkt kann
eine Ätzung mit Wasserstoff mit einer Substrattemperatur von etwa 1330 bis
1500°C und einer Fließgeschwindigkeit von etwa 100 cm³/min während minde
stens 10 Minuten durchgeführt werden. Hieran schließt sich eine CVD-
Beschichtung aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid an, wie dies oben
beschrieben wurde.
Es ist erkennbar, daß die vorliegende Erfindung ein verbessertes Verfahren
und einen verbesserten Gegenstand zur Verfügung stellt, wobei eine konforme
äußere Beschichtung aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid auf einem Körper
aus partikelförmigem Siliziumnitrid erhalten wird. Verschiedene Modifikatio
nen der Erfindung zusätzlich zu den gezeigten und beschriebenen sind dem
Fachmann erkennbar aus der vorangehenden Beschreibung und den sich an
schließenden Ansprüchen.
Claims (23)
1. Verfahren zur Herstellung eines Strukturkörpers für die Verwendung bei
hohen Temperaturen, dadurch gekennzeichnet, daß auf einem Körper aus
mindestens teilweise konsolidiertem teilchenförmigem Siliziumnitrid
eine konforme Zwischenschicht aus Silizium, Sauerstoff und einer stick
stoffhaltigen Verbindung, die an den Körper gebunden ist, und eine
konforme äußere Beschichtung aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid
ausgebildet wird, die an die Zwischenschicht chemisch gebunden ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischen
schicht durch Oxidation der Oberfläche des Körpers gebildet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die oxidierte
Oberfläche des Körpers vor der Ausbildung der konformen Außenschicht
geätzt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Ätzmittel ein
chemisches Ätzmittel ist.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das chemische
Ätzmittel wäßrige Fluorwasserstoffsäurelösung ist.
6. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Oxidation
der Körper bei Atmosphärendruck an der Luft erhitzt wird.
7. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Körper während
der Oxidation für einen Zeitraum von mehr als einer Minute auf eine Tem
peratur oberhalb 1000°C erhitzt wird.
8. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Silizium,
Sauerstoff und Stickstoff enthaltende Verbindung Siliziumoxynitrid ist.
9. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Beschichtung
aus Siliziumnitrid oder Siliziumcarbid durch chemische Dampfabscheidung
gebildet wird.
10. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischen
schicht durch chemische Dampfabscheidung gebildet wird.
11. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß aus der oxidier
ten Oberfläche des Körpers Siliziumdioxid entfernt wird.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß während der Ent
fernung des Siliziumdioxids ein chemisches Ätzmittel zur Anwendung
kommt.
13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß das chemische
Ätzmittel wäßrige Fluorwasserstoffsäurelösung ist.
14. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß als chemisches
Ätzmittel gasförmiger Wasserstoff verwendet wird.
15. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß während der Ent
fernung des Siliziumdioxids eine Plasmaätzung stattfindet.
16. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Oxidie
rung der Körper an der Luft erhitzt wird.
17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Körper auf
eine Temperatur im Bereich von 1000°C bis 1500°C mindestens 1 Minute
lang erhitzt wird.
18. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die oxidierte
Oberfläche des Körpers zur Entfernung von Siliziumdioxid und zur Frei
legung von Siliziumoxynitrid vor der Abscheidung von Siliziumnitrid
geätzt wird.
19. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Entfernung
des Siliziumdioxids in situ unter Verwendung einer gasförmigen chemi
schen oder Plasmaätzung durchgeführt wird und sich daran die konforme
äußere Beschichtung mit Siliziumcarbon anschließt, so daß die Bildung
von Oxid in der frisch oxidierten Oberfläche vermieden wird.
20. Strukturkörper, erhältlich nach einem Verfahren gemäß den Ansprüchen 1
bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischenschicht eine Dicke zwi
schen 1 und 100 µm aufweist.
21. Strukturkörper nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß die äußere
Schicht eine Dicke zwischen 1 und 500 µm aufweist.
22. Strukturkörper nach Anspruch 20 zur Verwendung bei isostatischen Preß
vorgängen.
23. Verwendung des Strukturkörpers nach den Ansprüchen 20 und 21 bei iso
statischen Preßvorgängen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/062,292 US5260096A (en) | 1987-06-11 | 1987-06-11 | Structral articles |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3820063C1 true DE3820063C1 (de) | 1995-12-21 |
Family
ID=22041527
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3820063A Expired - Lifetime DE3820063C1 (de) | 1987-06-11 | 1988-06-13 | Strukturkörper und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5260096A (de) |
JP (1) | JPH0725688A (de) |
DE (1) | DE3820063C1 (de) |
FR (1) | FR2714049A1 (de) |
IT (1) | IT8848074A0 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008033977A1 (de) * | 2008-07-21 | 2010-02-04 | Iplas Innovative Plasma Systems Gmbh | Verfahren zur Oberflächenbeschichtung mit Schichtmaterialien |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4405331C2 (de) * | 1994-02-21 | 1999-04-01 | Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt | Verfahren zur Herstellung eines Keramikbauteils |
US5549786A (en) * | 1995-08-29 | 1996-08-27 | Advanced Micro Devices, Inc. | Highly selective, highly uniform plasma etch process for spin-on glass |
US6060132A (en) * | 1998-06-15 | 2000-05-09 | Siemens Aktiengesellschaft | High density plasma CVD process for making dielectric anti-reflective coatings |
US6444564B1 (en) | 1998-11-23 | 2002-09-03 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and product for improved use of low k dielectric material among integrated circuit interconnect structures |
US6825051B2 (en) * | 2002-05-17 | 2004-11-30 | Asm America, Inc. | Plasma etch resistant coating and process |
US20070074653A1 (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-05 | Memc Electronic Materials, Inc. | Apparatus for preparation of silicon crystals with reduced metal content |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3193399A (en) * | 1960-07-28 | 1965-07-06 | Norton Co | Siliconoxynitride bonded silicon carbide article and method |
US4090851A (en) * | 1976-10-15 | 1978-05-23 | Rca Corporation | Si3 N4 Coated crucible and die means for growing single crystalline silicon sheets |
US4356152A (en) * | 1981-03-13 | 1982-10-26 | Rca Corporation | Silicon melting crucible |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3924024A (en) * | 1973-04-02 | 1975-12-02 | Ncr Co | Process for fabricating MNOS non-volatile memories |
US3874919A (en) * | 1974-03-13 | 1975-04-01 | Ibm | Oxidation resistant mask layer and process for producing recessed oxide region in a silicon body |
US4560589A (en) * | 1982-09-22 | 1985-12-24 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for providing a coating layer of silicon carbide on substrate surface |
US4476234A (en) * | 1983-08-12 | 1984-10-09 | Norton Company | Refractory cement |
US4746480A (en) * | 1986-08-11 | 1988-05-24 | Hoechst Celanese Corporation | Process for providing a protective oxide coating on ceramic fibers |
-
1987
- 1987-06-11 US US07/062,292 patent/US5260096A/en not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-06-10 JP JP63800003A patent/JPH0725688A/ja active Pending
- 1988-06-13 FR FR8807845A patent/FR2714049A1/fr not_active Withdrawn
- 1988-06-13 IT IT8848074A patent/IT8848074A0/it unknown
- 1988-06-13 DE DE3820063A patent/DE3820063C1/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3193399A (en) * | 1960-07-28 | 1965-07-06 | Norton Co | Siliconoxynitride bonded silicon carbide article and method |
US4090851A (en) * | 1976-10-15 | 1978-05-23 | Rca Corporation | Si3 N4 Coated crucible and die means for growing single crystalline silicon sheets |
US4356152A (en) * | 1981-03-13 | 1982-10-26 | Rca Corporation | Silicon melting crucible |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008033977A1 (de) * | 2008-07-21 | 2010-02-04 | Iplas Innovative Plasma Systems Gmbh | Verfahren zur Oberflächenbeschichtung mit Schichtmaterialien |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2714049A1 (fr) | 1995-06-23 |
US5260096A (en) | 1993-11-09 |
IT8848074A0 (it) | 1988-06-13 |
JPH0725688A (ja) | 1995-01-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3616572C2 (de) | ||
DE60023392T2 (de) | Substrat auf der Basis von Silizium mit einer Yttriumsilikat enthaltenden Wärmedämmschicht und Verfahren zur Herstellung eines Gegenstands daraus | |
EP0698584B1 (de) | Beschichtetes Bauteil aus Quarzglas | |
DE60021464T2 (de) | Substrat auf der Basis von Silizium mit einer Wärmedämmschicht | |
DE3931767C2 (de) | Beschichtete Artikel aus Kohlenstoff und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE2642554C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von a- Siliziumnitrid | |
DE4331877A1 (de) | Verbundmaterial auf der Basis von Zirconiumoxid und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE3820063C1 (de) | Strukturkörper und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
EP0553110A1 (de) | Schichtsystem für gassensoren und verfahren zu dessen herstellung. | |
DE69629231T2 (de) | Verwendung einer gegen Fluor-Plasma beständigen Keramik aus Aluminiumoxid und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE19704454C2 (de) | Verfahren zur Herstellung oberflächenmikromechanischer Strukturen mittels Ätzung in der Dampfphase | |
DE3426911C2 (de) | ||
EP0757362A1 (de) | Röntgenstrahlendurchlässiges Schichtmaterial, Verfahren zu seiner Herstellung sowie deren Verwendung | |
DE4302407A1 (de) | ||
DE2835203A1 (de) | Polykristalline magnetooptische kobaltferritschicht und verfahren zu deren herstellung | |
DE4407421C2 (de) | Verfahren zum Verbessern des Oxidationswiderstandes von kohlenstoffhaltigen Materialien | |
EP0266641A2 (de) | Verfahren zur Herstellung von ingenieurkeramischen Pulvern mit Additiven | |
DE60209295T2 (de) | Hitzebeständiges beschichtetes Element | |
EP0366687A1 (de) | Herstellung von inerten, katalytisch wirksamen oder gassensitiven keramikschichten für gassensoren | |
DE3913237C1 (de) | Oxidationsbeständiger Kohlenstoff und Verfahren zu seiner Herstellung | |
CH391198A (de) | Verfahren zur Herstellung dünner Oxydschichten | |
EP0145059B1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Gitters und Verwendung des hergestellten Gitters | |
DE3902628A1 (de) | Duennschichtmaterial fuer sensoren oder aktuatoren und verfahren zu dessen herstellung | |
DE2635167B1 (de) | Verfahren zur Verminderung der Gasdurchlaessigkeit von poroesen Koerpern aus reaktionsgesintertem Siliziumnitrid | |
DE4140404C2 (de) | Bondverfahren für die Aufbau- und Verbindungstechnik |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8100 | Publication of patent without earlier publication of application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8330 | Complete renunciation |