DE3817739C2 - - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Atomabsorptionsspektrometer zur gleichzeitigen
Bestimmung der Konzentration einer Vielzahl unterschiedlicher Elemente in
einer Probe gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches 1 bzw. dem des
Patentanspruchs 2.
Ein solches Atomabsorptionsspektrometer ist aus der JP 52-62 493 A (englisch
sprachiger Abstract) bekannt. Dort erfolgt die Atomisierung in einem Flammen
brenner.
Aus der DE 29 50 105 C2 ist es auch bekannt, den atomaren Dampf in einem
Graphitrohrofen zu erzeugen.
Es ist auch ein Atomabsorptionsspektrometer bekannt, in dem eine Vielzahl von
Lichtstrahlen, die von zugeordneten Lichtquellen emittiert werden, in einen einzigen
Lichtstrahl unter Verwendung von halbdurchlässigen Spiegeln zusammengefaßt
wird. Der einzige Lichtstrahl wird dann in eine Atomisierungskammer für eine
Probe eingeführt (Erik Lundberg, Gill's Johansson, Anal. Chem., 48,
1976, Seiten 1922-1926).
Es ist weiterhin ein Atomabsorptionsspektrometer bekannt, in dem ein einzelner
Lichtstrahl, der ein kontinuierliches Spektrum emittiert, verwendet wird, um eine
gleichzeitige Vielelementmessung auszuführen (J. M. Harnly, T. C. O' Haver, B.
Golden, W. R. Wolf, Anal. Chem., 51, 1979, Seiten 2007-2014).
Auf der anderen Seite ist ein Atomabsorptionsspektrometer vom Vielkanaltyp
bekannt, in dem eine chemische Verbrennungsflamme als Verfahren zum
Atomisieren einer Probe eingesetzt wird. Drei Lichtstrahlen von zugeordneten
Hohlkathodenlampen werden der chemischen Verbrennungsflamme zugeführt (Kazuo
Hotta und Takahiko Hasegawa, "Atomic Absorption Analysis", Kodan-Sha, Scientific, 1972,
Seiten 121-122).
Die Wellenlängen der Atomabsorptionslinien und die Wellenlängen
der Nachbarlinien von anderen Elementen sind z. B. in
R. J. Lovett, D. L. Welch, M. L. Parson, Applied Spectroscopy,
29, 1975, Seiten 470-477, beschrieben. Die typischen Wellenlängen
sind in der untenstehenden Tabelle angegeben.
Fig. 5 zeigt ein Atomabsorptionsspektrometer des Typs
für gleichzeitige Multielementanalyse, in dem eine Vielzahl
von Lichtstrahlen, die von einer Vielzahl von zugeordneten
Lichtstrahlen emittiert werden, zu einem einzelnen Lichtstrahl
unter Verwendung von halbdurchlässigen Spiegeln
zusammengefaßt wird. Der einzelne Lichtstrahl wird in
eine Atomisationskammer für eine Probe eingeführt.
Das Atomabsorptionsspektrometer nach Fig. 5 weist eine
Energiequelle 1A und eine Vielzahl von Hohlkathodenentladungsröhren
2A, 3A, 4A und 5A auf, die jeweils als Lichtquellen
dienen und die durch elektrische Energie von der
Energiequelle 1A versorgt werden. Die Hohlkathodenentladungsröhre
der Lichtquelle 2A enthält elementares Zink
(Zn) und emittiert beim Entladevorgang eine Resonanzabsorptionslinie
von Zink, d. h. Emissionslinien mit der Wellenlänge
von 213,856 nm (Nanometer). Ähnlich enthält die
Hohlkathodenentladungsröhre der Lichtquelle 3A Cadmium (Cd)
und emittiert Emissionslinien mit einer Wellenlänge von
228,802 nm; die Hohlkathodenentladungröhre der Lichtquelle
4A enthält Blei (Pb) und emittiert Emissionslinien mit einer
Wellenlänge von 283,3 nm; und die Hohlkathodenentladungsröhre
der Lichtquelle 5A enthält Arsen (As) und emittiert
Emmissionslinien mit einer Wellenlänge von 193,7 nm. Das
Bezugszeichen 6A bezeichnet einen reflektierenden Spiegel
und die Bezugszeichen 7A, 8A und 9A bezeichnen jeweils
halbdurchlässige reflektierende Spiegel. Die vier Lichtstrahlen
werden von diesen reflektierenden Spiegeln zu einem
einzelnen Lichtstrahl 10A zusammengefaßt. Der Lichtstrahl
10A trifft auf einen zylindrischen Heizofen 11A und durchquert
ihn. Danach fällt der Lichtstrahl 10A auf
einen Einfallsschlitz 14A eines Vielwellenlängenspektrometers
13A.
Flüssigkeitströpfchen einer Probe 12A, die analysiert wird,
befinden sich in dem Heizofen 11A. Die Probe 12A wird
getrocknet, verascht und schließlich in der Temperatur auf
einen maximalen Wert durch die elektrische Energie von der
Energiequelle 16A erhöht, die auf der Basis eines temperaturerhöhenden
Programms kontrolliert wird, das in einer
Temperaturkontrolleinrichtung 15A enthalten ist. Damit
werden Lösungsprodukte, die in der zu analysierenden Probe
12A gelöst sind, unter hoher Temperatur getrennt bzw.
zerlegt, wodurch atomarer Dampf entsteht.
Der Lichtstrahl 10A, der auf den Einfallsschlitz 14A fällt,
wird durch ein Diffraktionsgitter 17A in Abhängigkeit von
der Wellenlänge aufgespalten. Die Resonanzabsorptionslinie
von Zink trifft auf einen photoelektrischen Wandler 25A auf,
wird im Signal durch einen Verstärker 19A verstärkt und wird
einer Signalverarbeitungseinrichtung 23A zugeführt. Ähnlich
treffen die Resonanzabsorptionslinien von jeweils Cadmium,
Blei und Arsen auf jeweils ihnen zugeordnete photoelektrische
Wandler 26A, 27A und 28A auf, werden durch die
jeweiligen Verstärker 20A, 21A und 22A verstärkt und werden
der Signalverarbeitungseinrichtung 23A zugeführt. Die
Signalverarbeitungseinrichtung 23A liest die elektrischen
Signale aus, die repräsentativ für die Emissionslinien der
jeweiligen vier Wellenlängen enthalten in dem Lichtstrahl
10A sind, wenn die Lösungselemente der zu analysierenden
Probe 12A bei hoher Temperatur des Heizofens 11A
atomisiert werden. Auf der Basis der elektrischen Signale
führt die Signalverarbeitungseinrichtung 23A Berechnungen
aus, um die Quantitäten der jeweils vier Elemente zu erhalten.
Die Berechnungsergebnisse werden auf einer
Displayeinheit 24A angezeigt.
D. h., daß wenn Zink, Blei, Cadmium und Arsen in dem atomaren
Dampf enthalten sind, die Resonanzabsorptionslinien
dieser jeweiligen Elemente, z. B. die Emissionslinie mit der
Wellenlänge 213,856 nm im Fall von Zink, innerhalb des
Lichtstrahls 10A absorbiert werden. Die Intensitäten der
jeweiligen Spektren bei diesen Wellenlängen werden jeweils
mit den vier photoelektrischen Wandlern 25A bis 28A
gemessen. Somit können die vier Arten von Elementen, die in
der zu analysierenden Probe 12A enthalten sind, in extrem
kleinen Quantitäten gleichzeitig gemessen werden. Wenn die
Hohlkathodenentladungsröhren 2A, 3A, 4A und 5A durch welche
für andere Elemente ersetzt werden und wenn das
Vielwellenlängenspektrophotometer 13A auf Wellenlängen der
Resonanzabsorptionslinien der Atome der jeweils anderen
Elemente eingestellt wird, ist es damit möglich, die vier
Arten der anderen Elemente gleichzeitig zu messen.
Der herkömmliche Apparat nach Fig. 5 hat folgende zwei
schwergewichtige Nachteile.
Der erste Nachteil ist, daß wenn zwei Resonanzabsorptionslinien
nahe beieinander liegen, es schwierig ist, die photoelektrischen
Wandler 25A bis 28A direkt hinter jeweils
zugeordneten Ausgangsschlitzen 35A, 36A, 37A und 38A anzuordnen.
Das Aufspaltungsvermögen des Spektrometers, das ein
gewöhnliches Echelett-Diffraktionsgitter einsetzt, beträgt
ungefähr 0,5 nm/mm, sogar in einem Gerät mit hohem Auflösungsvermögen.
Dementsprechend entspricht in der Tabelle I
die Differenzwellenlänge von 0,004 nm zwischen 308,215 nm
von Al und 308,211 nm von V, z. B. einem Abstand von 0,008 mm
in der Lage der Austrittsschlitze bzw. der Ausgangsschlitze
des Spektrometers. Auf der anderen Seite ist
als photoelektrisches Wandlerelement eine
Photoverstärkerröhre bekannt, die im Wellenlängenbereich
der Tabelle I eingesetzt wird, d. h. in einem Bereich von
Ultraviolett, und die am höchsten in der Empfindlichkeit ist
und fähig ist, ein hohes S/N-Verhältnis aufrechtzuerhalten. Sogar die
kleinste erhältliche Photoverstärkerröhre ist ungefähr 5 mm groß.
Somit ist es extrem schwierig, die
Photoverstärkerröhren jeweils gerade hinter den Austrittsschlitzen
anzuordnen, durch die die oben genannten
zwei Resonanzabsorptionslinien jeweils hindurchgehen. Es
gibt viele Kombinationen von Wellenlängen, die jeweils eine
solche Beziehung, wie in der Tabelle I angegeben, haben.
Dementsprechend ist es in der Praxis schwierig gewesen, daß
ein einzelnes Spektrometer eingesetzt wird, um Elemente
in jeder Kombination mit hoher Absorptionsempfindlichkeit
und gleichzeitig zu messen.
Als ein Diffraktionsgitter mit hohem Zerlegungsvermögen ist
ein Spektrometer bekannt, das z. B. ein Diffraktionsgitter
bzw. ein Beugungsgitter vom Echelett-Typ verwendet. Da
jedoch das Spektrometer einen Diffraktionsstrahl hoher
Ordnung verwendet,
ist die Lichtintensität, die durch einen
Austrittsschlitz abgreifbar ist, extrem niedrig,
verglichen mit dem Gerät, das das Echelett-Diffraktionsgitter
verwendet. Dementsprechend ist das S/N-
Verhältnis erniedrigt. Aus diesem Grund gibt es einige
Beispiele, bei denen das Spektrometer mit
Diffraktionsgitter vom Echelett-Typ praktisch angewendet
wurde.
Der zweite Nachteil des bekannten Standes der Technik nach
Fig. 5 ist, daß, da die Lichtintensität des Lichtstrahls
von der Lichtquelle reduziert ist, das S/N-Verhältnis der
optischen Signale erniedrigt ist.
Da der Lichtstrahl von der Hohlkathodenentladungsröhre 2A
die halbdurchlässigen Spiegel 7A und 8A durchquert, reduziert
sich die Lichtintensität des Lichtstrahls nicht maximal
nur auf ein Viertel. Da es in der Praxis auch Absorptionsverluste
und Reflexionsverluste des Lichtstrahls wegen der
halbdurchlässigen Spiegel 7A und 8A gibt, muß ein höherer
Verlust der Lichtintensität in Betracht gezogen werden.
Eine Zusammenfassungsmethode nach Fig. 6 ist
z. B. aus Applied Optics, Vol. 7, 1968, Seiten 1281 bis 1285, bekannt, die
den Nachteil des oben erwähnten Standes der Technik zu dem
Zeitpunkt, wenn die vier Lichtstrahlen von den jeweiligen
vier Lichtquellen 2A bis 5A zu einem einzelnen Lichtstrahl
10A zusammengefaßt werden, verbessert. Lichtstrahlen, die
sich voneinander durch die Wellenlänge unterscheiden und von
den jeweiligen Hohlkathodenentladungsröhren 2B, 3B, 4B und
5B mit ihren jeweiligen Hohlkathoden, die unterschiedlich
voneinander im Element sind, emittiert werden, fallen auf
ein Diffraktionsgitter 9B und werden zu einem einzelnen
Lichtstrahl 10B zusammengefaßt.
Wie gut bekannt ist, vorausgesetzt, daß Winkel, die zwischen
einer Normallinie auf das Diffraktionsgitter 9B und den
jeweiligen Lichtstrahlen gebildet sind, jeweils R₂, R₃, R₄
und R₅ sind und daß ein Winkel, der zwischen der Normallinie
und dem Lichtstrahl 10B gebildet ist, Φ ist, existiert die
folgende Beziehung:
λi = d (sin Ri + sin Φ) (1)
wobei
d der Abstand zwischen jedem Paar von
benachbarten Rillen in dem
Diffraktionsgitter ist (mm);
λi die Wellenlängen der zugeordneten Lichtstrahlen sind; und
i 2, 3, 4 und 5 ist.
λi die Wellenlängen der zugeordneten Lichtstrahlen sind; und
i 2, 3, 4 und 5 ist.
Somit, wenn die Lagen der jeweiligen Lichtstrahlen, d. h.
die Winkel Ri, gebildet zwischen der Normallinie auf das
Diffraktionsgitter 9B und den jeweils auftreffenden Lichtstrahlen,
vorher bestimmt sind und entsprechend den Wellenlängen
λi der jeweils emittierten Resonanzabsorptionslinien, ist es
möglich, die Lichtstrahlen, die auf das Diffraktionsgitter
in vier verschiedenen Richtungen auftreffen, zu einem
einzelnen Lichtstrahl 10B zusammenzufassen.
Entsprechend der oben beschriebenen Methode ist es möglich,
den zweiten Effekt des Standes der Technik nach Fig. 5
betreffend die Verminderung der Lichtintensität des
Lichtstrahls von der Lichtquelle zu beseitigen. Da jedoch
die Beziehung der Gleichung (1) zwischen den auf das Diffraktionsgitter
9B auftreffenden Lichtstrahlen und dem
dadurch gebeugten Lichtstrahl besteht, tritt häufig dort ein
Fall auf, wobei die Hohlkathodenentladungsröhren 2B bis 5B
nicht in enger Lage zueinander auf der Seite der Lichtquellen
angeordnet werden können, wie beim ersten Nachteil
des Standes der Technik nach Fig. 5. Weiter ist die Abmessung
der Hohlkathodenentladungsröhre in Richtung senkrecht
zu der Richtung, in die der Lichtstrahl austritt, auf eine
wohlbekannte Größe gebracht und ist ungefähr 38 mm
lang. Dementsprechend ist es schwieriger die Anordnung
nach Fig. 6 in die Praxis umzusetzen, verglichen mit
der Schwierigkeit beim Anordnen der Photoverstärkerröhren
bei den jeweiligen Austrittsschlitzen des
Spektrometers, wie mit Bezug auf den illustrierten
Stand der Technik nach Fig. 5 diskutiert wurde.
Als ein Beispiel zur Lösung der oben erwähnten Schwierigkeit
auf Seiten der Lichtquellen ist ein Stand der Technik,
gezeigt in Fig. 7, bekannt, der eine Lichtquelle verwendet,
die einen Lichtstrahl 10C mit einem kontinuierlichen Spektrum
emittiert. z. B. eine Xenonlampe 2C. Andere Ausführungen
des Standes der Technik nach Fig. 7 sind die gleichen
wie die des Standes der Technik gezeigt, in Fig. 5 und 6.
Die Xenonlampe 2C emittiert das kontinuierliche Spektrum,
das im wesentlichen von dem ultravioletten Bereich zum
Bereich der sichtbaren Wellenlängen verteilt ist und das
fast alle der Resonanzabsorptionswellenlängen der jeweiligen
Elemente angegeben in der vorstehenden Tabelle I enthält.
Dementsprechend macht es der Gebrauch der Xenonlampe 2C
möglich, den zweiten Nachteil der Verminderung der Lichtintensität
des Lichtstrahls von der Lichtquelle, vorhergehend
beschrieben, mit Bezug auf den angegebenen Stand der Technik
in Fig. 5, zu verbessern.
Jedoch ist der Gebrauch der Xenonlampe 2C völlig unwirksam in
Hinblick auf den ersten Nachteil, d. h., die Schwierigkeit
beim Anordnen der photoelektrischen Wandler, wie
obenstehend beschrieben mit Bezug auf den Stand der Technik
nach Fig. 5.
Dort existiert auch der folgende Nachteil, der darin besteht,
daß fast alle der Atomabsorptionsspektrometer, die
bis jetzt zum praktischen Gebrauch eingesetzt
sind, die Hohlkathodenentladungsröhren als Lichtquellen
verwenden. Das ist durch die folgenden Umstände begründet.
Wie es gut bekannt ist, sind die Wellenlängenweiten der
Atomresonanzabsorptionslinien leicht unterschiedlich von Typ
zu Typ des Atoms aber sind in einem Bereich von 190 nm in
dem ultravioletten Gebiet bis 860 nm in dem Gebiet der nahen
Infrarotwellenlänge. Auf der anderen Seite ist das
Aufspaltungsvermögen bzw. Zerlegungsvermögen des
Spektrometers mit dem Echelett-Diffraktionsgitter von
der Ordnung von 0,5 nm/mm auch für das Spektrometer mit
einem hohen Auflösungsvermögen, wie vorhergehend beschrieben
wurde. Dementsprechend, um von dem Austrittsschlitz das
Spektrum der Größe einer atomaren Spektrumweite mit 0,004 nm
herauszunehmen, ist ein Austrittsschlitz mit einer Weite von
ungefähr 0,008 mm erforderlich. Zudem, wenn die Wellenlänge
des Spektrometers um 0,004 nm variiert (was einem
Abstand von 0,008 mm bei der Lage des Austrittsschlitzes
entspricht), wegen z. B. der Fluktuation in der Temperatur
der Einrichtungsumgebung, ist die Lichtintensität des
Lichtstrahls, der aus dem Austrittsschlitz herauskommt, um
ungefähr 10% erniedrigt.
Es ist schwierig, solche extrem kleinen Werte in einem
gewöhnlichen Spektrometer mit einem
Echelett-Diffraktionsgitter in einer für den praktischen
Gebrauch einsetzbaren Form zu realisieren.
In Anbetracht solcher Schwierigkeiten sind Hohlkathodenentladungsröhren,
in denen Materialien der zu analysierenden
Elemente als Kathoden eingesetzt werden, verwendet worden
als Lichtquellen, die Linienspektren im wesentlichen gleich
in der Spektrumweite mit den Wellenlängen der Resonanzabsorptionslinien
der jeweiligen zu analysierenden Elemente
emittieren.
Nach allem enthält der Stand der Technik nach Fig. 7, der
eine Xenonlampe verwendet, unvernünftige Forderungen an das
Auflösungsvermögen und die Wellenlängenstabilität des
Spektrometers und es fehlt ihr an Praktikabilität.
Fig. 8 zeigt den Stand der Technik, in dem eine chemische
Verbrennungsflamme eingesetzt wird als Ersatz für den
Heizofen in den obenstehenden drei Ausführungen. Im Stand
der Technik nach Fig. 8 werden Atomabsorptionslinien
unterschiedlich voneinander jeweils von Hohlkathodenentladungsröhren
2D, 3D und 4D in einem Zentralabschnitt einer
chemischen Verbrennungsflamme 30D emittiert. Eine wäßrige
Lösungsprobe 12D wird zum Analysieren durch einen Zerstäuber
31D geleitet und einer chemischen Verbrennungsflamme
30D zugeführt. Die Probe 12D ist verdunstet und verdampft
und wird dissoziiert in Form von Atomen. Wenn die Atome in
einer Gruppe welche enthalten, die gleich den Elementen des
Materials sind, das die jeweiligen Hohlkathoden der oben
erwähnten jeweiligen Hohlkathodenentladungsröhren bildet,
werden die Lichtstrahlen absorbiert aufgrund der Atomabsorptionsphänomene.
Die Atomspektrumlichtstrahlen, die jeweils
von den Hohlkathodenentladungsröhren emittiert werden,
durchqueren die chemische Verbrennungsflamme 30D und treffen
auf jeweils zugeordneten Monochromatoren 32D, 33D und 34D
auf, wo die jeweiligen Wellenkomponenten der Atomabsorptionslinien
ausgewählt werden. Der nachfolgende Ablauf ist
ähnlich zu dem des vorher beschriebenen Standes der Technik.
Damit ist es möglich, gleichzeitig die drei voneinander
unterschiedlichen Elemente zu messen.
Die Atomisationskammer für die Probe, durch die die drei
Linienstrahlen durchgeschickt werden, müssen mit den folgenden
zwei Bedingungen versehen sein.
Es ist notwendig, daß die drei Lichtstrahlen, die durch die
chemische Verbrennungsflamme 30D geschickt werden, nicht
ihre jeweiligen Fortpflanzungsrichtungen im Verlauf der Zeit
ändern. Wenn die Fortpflanzungsrichtungen der jeweiligen
Lichtstrahlen sich im Verlauf der Zeit ändern, variieren die
auf die jeweiligen Monochromatoren auftreffenden Lichtintensitäten,
was es schwierig macht, die Änderung der Lichtintensität
aufgrund der Atomabsorption von der Änderung der
Lichtintensität aufgrund der Änderung der Fortpflanzungsrichtung
der Lichtstrahlen zu unterscheiden. Dementsprechend
muß die chemische Verbrennungsflamme fortwährend auf eine
stabile Art im Verlauf der Zeit verbrennen.
Als eine andere Bedingung ist es notwendig, daß der Temperaturgradient
im Inneren der chemischen Verbrennungsflamme und
in der Umgebung davon symmetrisch zu der Fortpflanzungsrichtung
jedes auftreffenden Lichtstrahles ist, um ein Auftreten
des Brechungsphänomens des Lichtstrahls aufgrund des Dichtegradienten
der Luft, der durch den Temperaturgradienten
entsteht, zu verhindern und daß sogar, wenn dieses Brechungsphänomen
des Lichtstrahls auftritt, das Brechungsphänomen
nicht im Verlauf der Zeit variiert.
Um die chemische Verbrennungsflamme zu bilden, die die oben
beschriebenen zwei Bedingungen erfüllt, ist im allgemeinen
angewendet worden, daß ein Paar von Düsenbohrungen für zwei
Arten von Gasen, die Verbrennungsgas und Sauerstoff oder
Verbrennungsgas und stabilisierendes Gas enthalten, das
Sauerstoff enthält, in konzentrischer Beziehung zueinander
angeordnet sind, um eine Flamme mit einer konzentrischen
Temperaturverteilung zu bilden. Der Lichtstrahl, der in
Richtung des Zentrums der konzentrischen chemischen Verbrennungsflamme
fortschreitet, wird im wesentlichen nicht nach
rechts oder nach links gebrochen, wenn der Lichtstrahl die
Flamme durchquert. Zudem, da die Flamme sich vertikal erstreckt,
ist der Temperaturgradient in der vertikalen
Richtung niedrig. Somit ist die Brechung des Lichtstrahles
in der vertikalen Richtung nur geringfügig.
Es ist schwierig, eine solche chemische Verbrennungsflamme
durch einen Graphitröhrenelektroofen (Heizöfen 11A, 11C
gezeigt in den Fig. 5 bis 7) zu ersetzen, die bis vor
kurzem sehr zahlreich eingesetzt wurden. In der
Atomisationskammer des Elektroofensystems wird eine Graphitröhre,
beladen mit einer Probe, von der Raumtemperatur auf
ungefähr 3000°C für eine kurze Zeitdauer von ungefähr 1
bis 3 Sekunden aufgeheizt, um dadurch atomaren Dampf mit
hoher Dichte für die kurze Zeitdauer zu erzeugen. Dementsprechend
ist es schwierig für ein Elektroofensystem,
Wellenlängenkomponenten der jeweiligen Atomabsorptionslinien
entsprechend einer Vielzahl von jeweils zu analysierenden
Elementen auszuwählen. Zudem ist das Elektroofensystem
beschränkt auf die Durchquerungsrichtung des Lichtstrahls.
Faßt man das Obige zusammen, ist der gesamte Stand der
Technik bedeutsam aus einem wissenschaftlichen Standpunkt
heraus, aber er ist nachteilig, wenn Überlegungen in bezug
auf die Praktikabilität gemacht werden, d. h. Bedienbarkeit,
Leichtigkeit beim Wechsel der zu analysierenden Elemente,
Meßfähigkeiten und ähnliches. Aus diesen Gründen, trotz der
Tatsache, daß die Forderung danach, die gleichzeitige
Vielelementanalyse in den praktischen Einsatz zu bringen,
stark ist, ist solch eine Analyse bis jetzt noch nicht zum
praktischen Einsatz gebracht worden. Es entspricht den
tatsächlichen Zuständen, daß die Elemente noch sequentiell
eines nach dem anderen analysiert werden.
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Atomabsorptionsspektrometer
anzugeben, in dem eine Vielzahl von
Lichtstrahlen von jeweiligen Lichtquellen
in einen zylindrischen Heizofen eingeführt werden, um eine Vielzahl von
Elementen gleichzeitig zu analysieren.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt bei einem Atomabsorptions
spektrometer gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 bzw.
des Patentanspruchs 2 erfindungsgemäß jeweils
durch die im kennzeichnenden Teil dieser Patentansprüche
angegebenen Merkmale.
Bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich
aus den Unteransprüchen 3 und 4.
Die Signalverarbeitungseinrichtung enthält eine Einrichtung zum Korrigieren
von Fehlern, die aufgrund der Tatsache verursacht werden, daß die Licht
strahlen, die auf dem zylindrischen Heizofen von den zugeordneten Hohl
kathodenentladungsröhren auftreffen, jeweils in ihrer Fortpflanzungsrichtung
durch ein Erhöhen der Temperatur des Heizofens gebeugt werden und nicht
korrekt auf das zugeordnete Spektraldetektionssystem auftreffen. Ab
weichend von der herkömmlichen, eingefahrenen Denklinie, daß eine Vielzahl
von Lichtstrahlen, auftreffend auf einen zylindrischen Heizofen, zu einem
einzelnen Lichtstrahl zusammengefaßt werden müssen, ist die Anordnung der
Erfindung vorzugsweise so, daß die Vielzahl der Lichtstrahlen mit einem schmalen
kleinen Inklinationswinkel auf den zylindrischen Heizofen auftreffen, um die
Nachteile des Standes der Technik fundamental zu beseitigen.
Die Anordnung der Erfindung ist also vorzugsweise derart, daß die Vielzahl der Licht
strahlen von den jeweiligen Hohlkathodenentladungsröhren, die jeweils als
Lichtquellen dienen, auf den zylindrischen Heizofen in zugeordneten schmalen
Einfallswinkeln auftreffen, von den zugeordneten photoelektrischen Wandler
elementen unabhängig voneinander empfangen werden und als Signal ver
arbeitet werden. Dementsprechend ist es, sogar wenn zwei Resonanz
absorptionslinien nahe beieinander liegen, möglich, die Schwierigkeiten mit
Bezug auf die Anordnung der photoelektrischen Wandler hinter den jeweiligen
Austrittsschlitzen zu beseitigen. Zudem, da die Lichtquellen unabhängig
voneinander sind und da keine Komponententeile wie halbdurchlässige Spiegel
zwischengeschaltet sind, kann dort eine ausreichende Lichtintensität der
jeweiligen Lichtstrahlen erhalten werden.
Vorzugsweise ist ein optisches System zum Umlenken der Lichtstrahlen von
den zugeordneten Hohlkathodenentladungsröhren vorgesehen, um die Licht
strahlen um eine Zentralachse des Heizofens herum zu konzentrieren und um
die Lichtstrahlen auf den Heizofen in jeweiligen Einfallswinkeln mit Bezug
auf die Zentralachse des Heizofens auftreffen zu lassen, und ein weiteres
optisches System ist vorgesehen, das hinter dem Heizofen mit Bezug ent
sprechend den Einfallswinkeln angeordnet ist, zum Umlenken der Licht
strahlen, die ihr jeweiliges Linienspektrum von dem atomaren Dampf absor
biert haben, wodurch die Lichtstrahlen sich von der Zentralachse des Heiz
ofens wegbewegen.
Weitere Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der vorliegenden
Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausfüh
rungsbeispielen in Verbindung mit der Zeichnung. Darin zeigt
Fig. 1 eine diagrammartige Ansicht, die eine Ausführungsform eines
Atomabsorptionsspektrometers entsprechend der Erfindung
zeigt;
Fig. 2 eine Ansicht zum Erläutern des Prinzips der Erfindung;
Fig. 3 eine perspektivische Ansicht, die eine Anordnung auf der Seite
der Lichtquellen zeigt, die vier Hohlkathodenentladungsröhren
einsetzt;
Fig. 4 eine Ansicht zum Erläutern eines Fehlers, der durch die
Tatsache verursacht ist, daß ein Lichtstrahl auf einen Heizofen
in einer geneigten Art auftrifft,
Fig. 5 eine Ansicht, die den Stand der Technik zeigt,
wobei halbdurchlässige Spiegel verwendet werden,
um eine Vielzahl von Lichtstrahlen zu einem
einzelnen Lichtstrahl zusammenzufassen;
Fig. 6 eine Ansicht, die den Stand der Technik zeigt,
wobei ein Diffraktionsgitter eingesetzt wird, um
eine Vielzahl von Lichtstrahlen zu einem einzelnen
Lichtstrahl zusammenzufassen;
Fig. 7 eine Ansicht, die den Stand der Technik zeigt,
wobei eine Lichtquelle durch eine Xenonlampe
gebildet ist, die ein kontinuierliches Spektrum
emittiert; und
Fig. 8 eine Ansicht, die den Stand der Technik mit einer
chemischen Verbrennungsflamme zeigt.
Nach Fig. 1 ist ein Lichtstrahl 49, der von einer Hohl
kathodenentladungsröhre 2 emittiert wird, einem zylindrischen
Heizofen 11 über konkave Spiegel 41 und 42, wie z. B.
sphärische Spiegel oder ähnliches, zugeführt. Der Lichtstrahl
durchquert den Heizofen 11 und wird einem Monochromator
33 über konkave Spiegel 43 und 44 zugeführt. Eine
Resonanzabsorptionslinie eines bestimmten Elementes ausgewählt
von dem Monochromator 33 wird in ein elektrisches
Signal von den photoelektrischen Wandler 35 umgewandelt und
einer Signalverarbeitungseinrichtung 23 über einen Verstärker
19 zugeführt. Ein Lichtstrahl 50 von einer anderen
Hohlkathodenentladungsröhre 3 verläuft entlang eines Weges
(Monochromator 34, photoelektrischer Wandler 36, konkave
Spiegel 45, 46, 47, 48), der ähnlich zu dem des Lichtstrahls 49 ist, und wird der
Signalverarbeitungseinrichtung 23 zugeführt.
Das dargestellte Spektrophotometer hat Lichtstrahlen 49 und
50, die nicht zu einem einzelnen Lichtstrahl zusammengefaßt
werden, sondern dem Heizofen 11 so zugeführt werden, daß
jeder Lichtstrahl in einem festgelegten kleinen Inklinationswinkel
a mit einer Achse des Heizofens 11, wie in Fig. 2
gezeigt wird, zusammentrifft.
Der Heizofen 11 ist mit Tröpfchen einer zu analysierenden
Probe 12 beladen, die Probe 12 wird getrocknet, verascht und
schließlich dissoziiert in Form von Atomen durch elektrische
Energie von der Energiequelle 16, die auf der Basis eines
Temperaturanstiegsprogramms kontrolliert wird, das in einer
Temperaturkontrolleinrichtung 15 enthalten ist. Somit werden
die jeweils von den Hohlkathodenentladungsröhren 2 und 3
emittierten Lichtstrahlen 49 und 50 in Abhängigkeit von der
Dichte des atomaren Dampfes, innerhalb des zylindrischen
Heizofens 11 erzeugt. Die Signalverarbeitungseinrichtung 23
enthält die Dichten der jeweils zu analysierenden Elemente
auf der Basis von Änderungen in den Lichtintensitäten der
jeweiligen Lichtstrahlen 49 und 50 aufgrund der Absorption.
Die Berechnungsergebnisse werden auf einer Displayeinheit 24
angezeigt. Wenn die Hohlkathodenentladungsröhren 2 und 3,
z. B. Atomspektren von
jeweils Kupfer (Cu) und Chrom (Cr) emittieren, ist es möglich, gleich
zeitig zwei Elemente zu messen, d. h. das Kupfer und das
Chrom.
In Fig. 1 sind verschiedene Komponententeile in einer Ebene
angeordnet. Jedoch, wenn die Komponententeile in drei
Dimensionen, wie in Fig. 3 gezeigt wird, angeordnet sind,
ist es möglich, gleichzeitig vier Elemente zu messen. In
Fig. 3, obwohl vier Lichtstrahlen nach dem Austreten aus
dem Heizofen 11 nicht gezeigt sind, sind acht konkave
Spiegel angeordnet, um die vier Lichtstrahlen in die jeweiligen
Monochromatoren einzuführen. Hierdurch kann ein
Atomabsorptionsspektrometer erzeugt werden, das fähig
dazu ist, vier Elemente simultan zu messen.
Im allgemeinen ist der zylindrischen Heizofen 11 in einer
möglichst geringen Größe ausgebildet, da der Heizofen 11 auf die
Maximaltemperatur gleich oder um 3000 Grad C aufgeheizt
wird. Typischerweise ist der zylindrische Heizofen 11 von
solcher Größe, daß ein Außendurchmesser 10 mm und eine Länge
20 bis 30 mm beträgt. Das heißt, in der Ausführungsform nach
Fig. 1, angenommen, daß die elektrische Energie, die von
der Energiequelle 16 zugeführt wird, konstant 5 kW ist, je
schmäler die Abmessungen des zylindrischen Heizofens 11
sind, desto höher ist der Ofen auf ein hohes Niveau
aufgeheizt. Dementsprechend, wie in Fig. 2 gezeigt ist,
kann sich der Winkel a, der zwischen den zwei auf den
Heizofen 11 auftreffenden Lichtstrahlen ausgebildet ist,
nicht so erhöhen, vielmehr ist er beschränkt.
Auf der anderen Seite, wie oben beschrieben, sind die
Hohlkathodenentladungsröhren 2 und 3 auf eine wohlbekannte
Größe gebracht und der Außendurchmesser beträgt 38 mm.
Deshalb, wie in Fig. 2 gezeigt wird, wenn die
Anordnung so ist, daß die Lichtstrahlen 49 und 50 von den
jeweiligen Hohlkathodenentladungsröhren 2 und 3 direkt auf
den Heizofen 11 auftreffen, ist der Winkel a ausgebildet
zwischen den Lichstrahlen 49 und 50 durch die Abmessung des
Außendurchmessers der Hohlkathodenentladungsröhren 2 und 3
beschränkt und kann nicht so stark reduziert werden.
In Anbetracht des Obenstehenden, werden, wie in Fig. 1
gezeigt ist, in der Praxis konkave Spiegel 41 und 45 eingesetzt,
um die Lichtstrahlen 49 und 50, die jeweils von den
Hohlkathodenentladungsröhren 2 und 3 emittiert werden, dazu
zu zwingen, jeweils auf die konkaven Spiegel 42 und 46 zu
treffen, die so nah wie möglich zueinander angeordnet sind.
Damit wird es ermöglicht, den Winkel a, ausgebildet zwischen
den beiden Lichtstrahlen 49 und 50, zu reduzieren, wohingegen
die Hohlkathodenentladungsröhren 2 und 3 voneinander
einen bestimmten Abstand haben. Weiterhin, da jeder Lichtstrahl
zurückgeworfen bzw. umgelenkt wird, ist es möglich,
den Abstand zwischen dem Heizofen 11 und den Hohlkathoden
entladungsröhren 2 und 3 zu vermindern.
Entsprechend den jeweils in den Fig. 1 und 3 illustrierten
Ausführungsformen können die schwerwiegenden Nachteile
des Standes der Technik beseitigt werden.
Am Anfang, im Fall, wenn die Wellenlängen der jeweils zwei
Resonanzabsorptionslinien extrem lang beieinander liegen, z. B.
im Fall, wenn die Differenzwellenlänge 0,001 nm beträgt,
wie z. B. bei der Kombination von Cd mit der Wellenlänge von
228,802 nm und As mit der Wellenlänge von 228,801 nm, ist es
schwierig für ein herkömmliches Spektrometer gewesen,
diese Wellenlängen voneinander zu trennen, um eine gleichzeitige
Messung auszuführen. Jedoch ist es, wie vorstehend beschrieben,
leicht, die Wellenlängen
voneinander zu trennen, um eine gleichzeitige Messung
auszuführen.
Es ist auch möglich,
die Lichtintensitäten der jeweiligen Lichtstrahlen,
die jeweils von den Hohlkathodenentladungsröhren, die als
jeweilige Lichtquellen dienen, emittiert werden, in den
Heizofen im wesentlichen ohne jede Verluste einzuführen.
Der herkömmliche Denkweg, daß ein einzelner Lichtstrahl auf
den zylindrischen Heizofen 11 konform mit dessen Achse
auftreffen muß, wird hier überdacht. In Fig. 4 wird davon
ausgegangen, daß der Lichtstrahl 49 emittiert von der
Lichtquelle, d. h., der Hohlkathodenentladungsröhre 2, auf
den zylindrischen Heizofen 11 mit einem Winkel Φ gegenüber
der Zentralachse 1 des Heizofens 11 auftrifft. Elektrischer
Strom von der Energiequelle 16 gesteuert bzw. kontrolliert
von der Temperaturkontrolleinrichtung 15 wird dem zylindrischen
Heizofen 11 zugeführt. Wenn die Oberflächentemperatur
des Heizofens 11 von der Zimmertemperatur von 20°C auf
3000°C hochgeht, wird ein Dichtegradient in der Luft an
der Oberfläche des Heizofens 11 ausgebildet. Der Lichtstrahl
49 wird gebrochen und geht in einen Lichtstrahl 49′ über, so
daß eine Änderung von ΔΦ auftrifft in der Fortpflanzungsrichtung
des Lichtstrahls. Es ist empirisch bekannt gewesen,
daß, wenn der zylindrische Heizofen 11 symmetrisch um seine
Achse ist, daß, je kleiner der Winkel Φ ausgebildet zwischen
dem Lichtstrahl 49 und der Zentralachse 1 ist, desto
kleiner die Winkeländerung ΔΦ ist, und wenn der Winkel Φ
Null ist, die Winkeländerung ΔΦ auf Null gebracht wird.
Aus den obenstehenden Gründen ist herkömmlich ein einzelner
Lichtstrahl auf den zylindrischen Heizofen entlang dessen
Zentralachse geworfen worden.
In den obenstehenden Ausführungsformen der Erfindung treffen
die Lichtstrahlen 49, 50 und ähnliche auf den Heizofen 11
auf solche Art auf, daß sie leicht geneigt sind gegenüber
der Achse des Heizofens 11, und die Lichtstrahlen 49, 50
pflanzen sich jeweils in Richtung der Auftreffschlitze der
jeweiligen Monochromatoren fort. Dementsprechend besteht
eine Sorge, daß die Winkeländerung ΔΦ als eine Verminderung
der Lichtintensität gemessen wird.
Eine solche auftretende Änderung in der Lichtintensität kann
mit einem Korrekturverfahren unterbunden werden, bei dem
eine auftretende Änderung in der Lichtintensität zu der
Zeit, wenn der Heizofen ohne Probe beheizt wird, vorher
gemessen wird, die gemessenen Werte abgespeichert werden, z. B.
in einem ROM, der in der Signalverarbeitungseinrichtung
enthalten ist, und die Atomabsorptionssignale, erhalten zum
Zeitpunkt der tatsächlichen Analyse einer Probe, werden auf
der Basis der gemessenen Werte korrigiert. Die Reproduzierbarkeit
der Heizofentemperatur ist grundlegend wichtig, um
die Genauigkeit der Atomabsorptionsmessung einzuhalten und
die Temperatur bei jeder Messung hat eine ausreichende
Reproduzierbarkeit. Somit ist es möglich, im wesentlichen
die Winkeländerung ΔΦ zu korrigieren, wegen der Inkonsistenz
jedes Lichtstrahls mit der Zentralachse des zylindrischen
Heizofens, durch das oben beschriebene
Korrekturverfahren.
Als ein anderes Korrekturverfahren gibt es die Doppelstrahl
messung. Genauer wird eine Messung so ausgeführt, daß
ein Lichtstrahl von jeder Lichtquelle in einen Lichtstrahl,
der unter Praxisbedingungen eine Atomabsorption beinhaltet,
und in einen Lichtstrahl mit geringer atomarer Absorption
aufgeteilt wird und diese zwei Arten von Lichtstrahlen
werden gleichzeitig emittiert. Der Effekt, daß ein Lichtstrahl,
der den zylindrischen Heizofen durchquert, abgebeugt
wird, wenn der letztere geheizt wird, ist den obenstehenden
zwei Lichtstrahlen gemeinsam und hat auf die beiden Lichtstrahlen
einen Einfluß im gleichen Umfang. Dementsprechend
erhält man ein Verhältnis zwischen den Signalen der jeweiligen
Lichtstrahlen, und die oben erwähnte Winkeländerung ΔΦ
wird auf der Basis des Verhältnisses korrigiert.
Als ein Beispiel des speziellen Verfahrens ist eine Polari
sationsdoppelstrahlmessung bekannt, bei der ein magnetisches
Feld auf den zylindrischen Heizofen einwirkt, um den
Zeemanneffekt auszunutzen.
Die Anordnung ist so, daß die Lichtstrahlen
der jeweiligen Lichtquellen auf den zylindrischen
Heizofen mit jeweils kleinen Einfallswinkeln bzw.
Inklinationswinkeln auftreffen, spektral unabhängig
voneinander durch ihre jeweiligen Monochromatoren gebeugt
werden, von den jeweiligen photoelektrischen Wandlerelementen
empfangen werden und in Signalen mit der Signalverarbeitungseinrichtung
verarbeitet werden. Mit dieser Anordnung,
sogar wenn zwei Resonanzabsorptionslinien nahe beieinander
liegen, ist es möglich, die Schwierigkeit mit Hinsicht
auf die Anordnung der photoelektrischen Umwandler hinter den
jeweiligen Austrittsschlitzen zu beseitigen. Weiterhin, da
die Lichtquellen unabhängig voneinander sind, und da kleine
Komponententeile wie halbdurchlässige Spiegel dazwischengeschaltet
sind, kann man damit ausreichende Lichtintensitäten
der jeweiligen Lichtstrahlen erhalten.
Claims (6)
1. Atomabsorptionsspektrometer zur gleichzeitigen Bestimmung der Konzentration
einer Vielzahl unterschiedlicher Elemente in einer Probe, mit
- - einer Einrichtung zum thermischen Erzeugen eines atomaren Dampfes,
- - einer Vielzahl von Lichtquelleneinrichtungen entsprechend der Anzahl der unterschiedlichen Elemente, zum simultanen Emittieren von Licht strahlen, die jeweils Linienspektren der jeweiligen Elemente enthalten, wobei die Lichtstrahlen durch den atomaren Dampf in der Einrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes gelenkt werden,
- - einer Vielzahl von Spektraldetektionssystemen, entsprechend der An zahl der zu detektierenden Elemente, die im Strahlengang nach der Einrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes angeordnet sind, und die den Grad der Absorption der jeweiligen Linienspektren messen,
- - wobei die Lichtstrahlen unter jeweiligen Inklinationswinkeln gegenüber einer Zentralachse der Einrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes in diese eintreten und die Spektraldetektionssysteme im Strahlengang nach dieser Einrichtung in einer Lage entsprechend den Inklinationswinkeln angeordnet sind, und mit
- - einer Signalverarbeitungseinrichtung zum Ausführen von Berechnungen zur Bestimmung der Konzentration der jeweiligen Elemente in der Probe auf der Basis der jeweiligen Verhältnisse der Atomresonanz absorption der jeweiligen spektraldetektierten Linienspektren,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Einrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes ein Heizofen (11) zum Heizen der zu analysierenden Probe (12) ist, um die Probe (12) zu trocknen, zu veraschen und zu atomisieren, und
daß die Signalverarbeitungseinrichtung (23) eine Fehlerkorrekturein richtung hat, die Werte der auf den Spektraldetektionssystemen (Monochromator 33, 34, photoelektrischer Wandler 35, 36) auftreffenden Lichtintensität für den Fall gespeichert hat, wenn der Heizofen (11) ohne Probe (12) beheizt ist, und die die bei der Bestimmung der Konzentration von Elementen in der Probe (12) festgestellten Werte durch die gespeicherten Werte korrigiert.
die Einrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes ein Heizofen (11) zum Heizen der zu analysierenden Probe (12) ist, um die Probe (12) zu trocknen, zu veraschen und zu atomisieren, und
daß die Signalverarbeitungseinrichtung (23) eine Fehlerkorrekturein richtung hat, die Werte der auf den Spektraldetektionssystemen (Monochromator 33, 34, photoelektrischer Wandler 35, 36) auftreffenden Lichtintensität für den Fall gespeichert hat, wenn der Heizofen (11) ohne Probe (12) beheizt ist, und die die bei der Bestimmung der Konzentration von Elementen in der Probe (12) festgestellten Werte durch die gespeicherten Werte korrigiert.
2. Atomabsorptionsspektrometer zur gleichzeitigen Bestimmung der Konzentration
einer Vielzahl unterschiedlicher Elemente in einer Probe mit
- - einer Einrichtung zum thermischen Erzeugen eines atomaren Dampfes,
- - einer Vielzahl von Lichtquelleneinrichtungen entsprechend der Anzahl der unterschiedlichen Elemente, zum simultanen Emittieren von Licht strahlen, die jeweils Linienspektren der jeweiligen Elemente enthalten, wobei die Lichtstrahlen durch den atomaren Dampf in der Einrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes gelenkt werden,
- - einer Vielzahl von Spektraldetektionssystemen, entsprechend der An zahl der zu detektierenden Elemente, die im Strahlengang nach der Einrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes angeordnet sind, und die den Grad der Absorption der jeweiligen Linienspektren messen,
- - wobei die Lichtstrahlen unter jeweiligen Inklinationswinkeln gegenüber einer Zentralachse der Einrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes in diese eintreten und die Spektraldetektionssysteme im Strahlengang nach dieser Einrichtung in einer Lage entsprechend den Inklinationswinkeln angeordnet sind, und mit
- - einer Signalverarbeitungseinrichtung zum Ausführen von Berechnungen zur Bestimmung der Konzentration der jeweiligen Elemente in der Probe auf der Basis der jeweiligen Verhältnisse der Atomresonanz absorption der jeweiligen spektraldetektierten Linienspektren,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Vorrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes ein Heizofen (11) zum Heizen der zu analysierenden Probe (12) ist, um die Probe (12) zu trocknen, zu veraschen und zu atomisieren, und
daß die Signalverarbeitungseinrichtung (23) eine Fehlerkorrekturein richtung hat, die die Lichtstrahlen von jeder der Lichtquelleneinrich tungen (2, 3) in jeweils einen Lichtstrahl mit atomarer Absorption und einen Lichtstrahl mit geringer atomarer Absorption aufteilt, das Verhältnis der aus den beiden Lichtstrahlen gewonnenen Signale bildet und damit die bei der Bestimmung der Konzentration von Elementen in der Probe (12) festgestellten Werte korrigiert.
die Vorrichtung zum thermischen Erzeugen des atomaren Dampfes ein Heizofen (11) zum Heizen der zu analysierenden Probe (12) ist, um die Probe (12) zu trocknen, zu veraschen und zu atomisieren, und
daß die Signalverarbeitungseinrichtung (23) eine Fehlerkorrekturein richtung hat, die die Lichtstrahlen von jeder der Lichtquelleneinrich tungen (2, 3) in jeweils einen Lichtstrahl mit atomarer Absorption und einen Lichtstrahl mit geringer atomarer Absorption aufteilt, das Verhältnis der aus den beiden Lichtstrahlen gewonnenen Signale bildet und damit die bei der Bestimmung der Konzentration von Elementen in der Probe (12) festgestellten Werte korrigiert.
3. Atomabsorptionsspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß Inklinationswinkel der jeweiligen Lichtstrahlen
symmetrisch zu der Zentralachse des Heizofens (11) sind.
4. Atomabsorptionsspektrometer nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß ein optisches System konkave Spiegel (41, 42, 45, 46) zum Umlenken der Licht
strahlen von den jeweiligen Lichtquelleneinrichtungen (2 bis 5) derart vorgesehen
ist, daß die Lichtstrahlen mit kleinen Inklinationswinkel gegenüber der
Zentralasche des Heizofens (11) in diesen eintreten, und daß ein weiteres
optisches System konkave Spiegel (43, 44, 47, 48) hinter dem Heizofen (11) in entsprechender
Lage zu den Inklinationswinkeln angeordnet ist, zum Umlenken der Licht
strahlen derart, daß diese von der Zentralachse des Heizofens (11) wegbewegt
werden.
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DE3817739A1 (de) | 1988-12-08 |
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