JPS63292040A - 原子吸光分光光度計 - Google Patents
原子吸光分光光度計Info
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- JPS63292040A JPS63292040A JP62127793A JP12779387A JPS63292040A JP S63292040 A JPS63292040 A JP S63292040A JP 62127793 A JP62127793 A JP 62127793A JP 12779387 A JP12779387 A JP 12779387A JP S63292040 A JPS63292040 A JP S63292040A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、原子吸光分光光度計に係り、特に、複数の元
素を同時に測定分析するために、複数の光源からの光線
を一つの試料原子化部に効率的に導入する方式に関する
ものである。
素を同時に測定分析するために、複数の光源からの光線
を一つの試料原子化部に効率的に導入する方式に関する
ものである。
〔従来の技術〕
原子吸光分光光度計においては、第５図に示すように、
２個の光源から放射される２本の光線を半透過鏡により
１本の光線にして試料の原子化部に導く方式が知られて
いる（Ｅｌｉｋ Ｌｕｎｄｂｅｒｇ。
２個の光源から放射される２本の光線を半透過鏡により
１本の光線にして試料の原子化部に導く方式が知られて
いる（Ｅｌｉｋ Ｌｕｎｄｂｅｒｇ。
Ｇ１１ｌｓ Ｊｏｈａｎｓｓｏｎ、 Ａｎａｌ、 Ｃｈ
ｅｍ、、 ４８ 、１９２２−１９２５ （１９７６）
） 。
ｅｍ、、 ４８ 、１９２２−１９２５ （１９７６）
） 。
また、第７図に示すように、連続スペクトルを放射する
１個の光源を用いて、多元素同時測定を行う原子吸光分
光光度計がある（ Ｊ 、Ｍ、Ｈａｒｎｌｙ。
１個の光源を用いて、多元素同時測定を行う原子吸光分
光光度計がある（ Ｊ 、Ｍ、Ｈａｒｎｌｙ。
Ｔ、Ｃ，Ｏ’ Ｈａｖｅｒ、 Ｂ 、 Ｇｏｌｄｅｎ、
Ｗ、Ｒ，Ｗｏｌｆ、Ａｎａｌ。
Ｗ、Ｒ，Ｗｏｌｆ、Ａｎａｌ。
Ｃｈｅｍ、、５１．２００７−２０１４ （１９７９）
）。
）。
一方、化学燃焼炎を試料の原子化方法として。
これに３個の中空陰極ランプの３本の光線を導く方式の
マルチチャンネル原子吸光分光光度計が知られている。
マルチチャンネル原子吸光分光光度計が知られている。
第３図はその原理的構成を示すブロック図である（保田
和雄、長谷用敬彦、Ｉｉ’原子吸光分析Ｊ講談社サイエ
ンティフィック、頁１２１−１２２ （１９７２））。
和雄、長谷用敬彦、Ｉｉ’原子吸光分析Ｊ講談社サイエ
ンティフィック、頁１２１−１２２ （１９７２））。
原子吸取線の波長と他の元素の近接線の波長は、例えば
、Ｒ，Ｊ、Ｌｏｖｅｔｔ、 Ｄ、Ｌ、Ｖｅｌｃｈ、 Ｍ
、Ｌ。
、Ｒ，Ｊ、Ｌｏｖｅｔｔ、 Ｄ、Ｌ、Ｖｅｌｃｈ、 Ｍ
、Ｌ。
Ｐａｒｓｏｎ、 Ａｐｐｌｉｅｄ ５ｐｅｅｔｒｏｓｃ
ｏｐｙ、 ２９ 、４７０−４７７ （１９７５））に
記載されている。その主な波長を第９図に示す。
ｏｐｙ、 ２９ 、４７０−４７７ （１９７５））に
記載されている。その主な波長を第９図に示す。
多元素同時分析原子吸光分光光度計の従来の一例を示す
第５図において、１は電源、２，３，４゜５は電源１か
らの電力により点灯する空洞陰極放電管（光源）である
。光源２の空洞陰極は元素亜鉛（Ｚｎ）を含み、放電動
作時には、亜鉛の共鳴吸収線すなわち波長２１３．８５
６ ｎ ｍの輝線を放射する。同様に５光源３の空洞陰
極はカドミウム（Ｃｄ ）を含み、波長２２８．８０２
ｎ ｍの輝線を、光源４は鉛（ｐｂ）の波長２８３．
３ｎｍ の輝線を、光源５はひ素（Ａｓ）の波長１９３
．７ｎｍの輝線を放射する。６は反射鏡、７，８．９は
半透過反射鏡である。４本の光線はこれらの反射鏡によ
り１本の光線１０に合成され、円筒形加熱炉１１に入射
し透過して、多波長分光器１３の入射スリット１４に入
る。
第５図において、１は電源、２，３，４゜５は電源１か
らの電力により点灯する空洞陰極放電管（光源）である
。光源２の空洞陰極は元素亜鉛（Ｚｎ）を含み、放電動
作時には、亜鉛の共鳴吸収線すなわち波長２１３．８５
６ ｎ ｍの輝線を放射する。同様に５光源３の空洞陰
極はカドミウム（Ｃｄ ）を含み、波長２２８．８０２
ｎ ｍの輝線を、光源４は鉛（ｐｂ）の波長２８３．
３ｎｍ の輝線を、光源５はひ素（Ａｓ）の波長１９３
．７ｎｍの輝線を放射する。６は反射鏡、７，８．９は
半透過反射鏡である。４本の光線はこれらの反射鏡によ
り１本の光線１０に合成され、円筒形加熱炉１１に入射
し透過して、多波長分光器１３の入射スリット１４に入
る。
加熱炉１１には、分析試料液滴１２が導入される。この
試料１２は、温度制御装置１５の昇温プログラムに従い
制御される電源１６からの電力により、乾燥され、灰化
され、最後に最高温度に昇温される。こうして、分析試
料液滴１２に熔解していた溶質を加熱分解し、原子蒸気
を得る。
試料１２は、温度制御装置１５の昇温プログラムに従い
制御される電源１６からの電力により、乾燥され、灰化
され、最後に最高温度に昇温される。こうして、分析試
料液滴１２に熔解していた溶質を加熱分解し、原子蒸気
を得る。
入射スリット１４から入った光線は、回折格子１７によ
り波長の順に分散され、亜鉛の共鳴吸収線は、光電変換
器１８に入射し、増幅器１９で信号増幅され、信号処理
装置２３に入る。同様に、カドミウム、鉛、ひ素の共鳴
吸収線も、それぞれの光電変換器に入射し、増幅器２０
，２１．２２により増幅され、信号処理装置２３に入る
。信号処理装置２３は、加熱炉１１内で分析試料１２の
溶質元素を加熱原子化したときに、光線１０に含まれる
４つの波長の輝線の電気信号を読み取り、４種の元素の
量を計算し求め、表示装置２４にその結果を表示する。
り波長の順に分散され、亜鉛の共鳴吸収線は、光電変換
器１８に入射し、増幅器１９で信号増幅され、信号処理
装置２３に入る。同様に、カドミウム、鉛、ひ素の共鳴
吸収線も、それぞれの光電変換器に入射し、増幅器２０
，２１．２２により増幅され、信号処理装置２３に入る
。信号処理装置２３は、加熱炉１１内で分析試料１２の
溶質元素を加熱原子化したときに、光線１０に含まれる
４つの波長の輝線の電気信号を読み取り、４種の元素の
量を計算し求め、表示装置２４にその結果を表示する。
すなわち、原子蒸気の中に、亜鉛、カドミウム。
鉛、ひ素が含まれていると、光線１０の中でその元素の
共鳴吸収線９例えば亜鉛の場合は波長２１３．８５６
ｎ ｍのＭｌｌｆｌＡが吸収される。したがって、４つ
の光電変換器でそれらの波長におけるスペクトルの強度
を測定すれば１分析試料１２に含まれる微量の４種類の
元素を同時に測定できることになる。空洞陰極放電管２
，３，４．５を他の元素のものと交換し、多波長分光器
１３をそれら原子の共鳴吸収線の波長に設定し直すと、
他の４種類の元素も同時測定可能である。
共鳴吸収線９例えば亜鉛の場合は波長２１３．８５６
ｎ ｍのＭｌｌｆｌＡが吸収される。したがって、４つ
の光電変換器でそれらの波長におけるスペクトルの強度
を測定すれば１分析試料１２に含まれる微量の４種類の
元素を同時に測定できることになる。空洞陰極放電管２
，３，４．５を他の元素のものと交換し、多波長分光器
１３をそれら原子の共鳴吸収線の波長に設定し直すと、
他の４種類の元素も同時測定可能である。
本従来例の装置には、次のような２つの重大な欠点があ
る。
る。
第１の欠点は、２つの共鳴吸収線が接近している場合、
出射スリットの後に、光電変換器を直接設置するのが困
難なことである。
出射スリットの後に、光電変換器を直接設置するのが困
難なことである。
通常のエシエレット回折格子を用いる分光光度計の分解
能は、分解能の高いもので、約０．５ｎｍＺｍであるか
ら、第９図において、例えばＡＱ３０８．２１５ ｎ
ｍとＶ２Ｏ３，２１１ｎ ｍの波長差０．００４ｎｍは
、分光器の出射スリット位置において、距離０．００８
ｍである。一方、光電変換素子として、第９図の波長
領域すなわち紫外領域で使用される最も高感度かつ信号
のＳ／Ｎ比を高く保てるものとして、光電子増倍管が知
られている。この寸法は小さいものでも約５１ｍとなる
ので、上に示した２つの共鳴吸収線の出射スリット直後
に配置することは、極めて困難である。このような関係
にある波長の組み合わせは、第９図に示すように。
能は、分解能の高いもので、約０．５ｎｍＺｍであるか
ら、第９図において、例えばＡＱ３０８．２１５ ｎ
ｍとＶ２Ｏ３，２１１ｎ ｍの波長差０．００４ｎｍは
、分光器の出射スリット位置において、距離０．００８
ｍである。一方、光電変換素子として、第９図の波長
領域すなわち紫外領域で使用される最も高感度かつ信号
のＳ／Ｎ比を高く保てるものとして、光電子増倍管が知
られている。この寸法は小さいものでも約５１ｍとなる
ので、上に示した２つの共鳴吸収線の出射スリット直後
に配置することは、極めて困難である。このような関係
にある波長の組み合わせは、第９図に示すように。
多くある。従って、１個の分光器を用いて、任意の分析
元素の組み合わせを、高い吸収感度で同時に測定するこ
とは、実際的に困難であった。
元素の組み合わせを、高い吸収感度で同時に測定するこ
とは、実際的に困難であった。
分散能の高い回折格子として１例えば、ニジエル形の回
折格子を用いる分光光度計も知られている。しかし、高
次光を利用するために５出射スリツトから取り出せる光
の量は、エシエレット形の回折格子と比較して、極めて
少ないので、信号のＳ／Ｎ比が低下し、原子吸光光度計
として実用化されている例は少ない。
折格子を用いる分光光度計も知られている。しかし、高
次光を利用するために５出射スリツトから取り出せる光
の量は、エシエレット形の回折格子と比較して、極めて
少ないので、信号のＳ／Ｎ比が低下し、原子吸光光度計
として実用化されている例は少ない。
第２の欠点は、光源の光量が減少するために、光信号の
Ｓ／Ｎ比が低下することである。
Ｓ／Ｎ比が低下することである。
空洞陰極放電管２の光は、光透過鏡７，８を通過するた
めに、光量は多くとも１／４にならざるを得ない。実際
には、半透過鏡７，８による先の吸収損失および反射損
失もあるので、さらに大きな光量損失を見込まなければ
ならない。
めに、光量は多くとも１／４にならざるを得ない。実際
には、半透過鏡７，８による先の吸収損失および反射損
失もあるので、さらに大きな光量損失を見込まなければ
ならない。
４つの光源からの４本の光線を１本の光線に合成する際
の上記例の欠点を改善する方法として、第６図に示す合
成方法が知られている。異なる元素の空洞陰極をもつ空
洞陰極放電管２，３，４゜５から放射された異波長の光
線は、回折格子９Ａに入射し、１つの光線１０に合成さ
れる。
の上記例の欠点を改善する方法として、第６図に示す合
成方法が知られている。異なる元素の空洞陰極をもつ空
洞陰極放電管２，３，４゜５から放射された異波長の光
線は、回折格子９Ａに入射し、１つの光線１０に合成さ
れる。
良く知られているように１回折格子９Ａの法線と各光線
とのなす角度をθＺ、 ＯＳ、 θ４．θ６とし、
同じく法線と光線１０のなす角度をφとすると。
とのなす角度をθＺ、 ＯＳ、 θ４．θ６とし、
同じく法線と光線１０のなす角度をφとすると。
つぎの関係式が成立する。
λｓ＝ｄ ・（ｓｉｎθ＋＋ｓｉｎφ）（１）ただし、
ｄは回折格子の溝の間隔（圃）、λは光線の波長、ｉは
２，３，４，５である。したがって、放射される共鳴吸
収線の波長λ宣に応じて、光線の位置すなわち回折格子
９Ａの法線と入射する光線のなす角度θ１を予め定めて
おくと、４種類の方向から回折格子に入射する光線を１
つの光線１０に合成できる。
ｄは回折格子の溝の間隔（圃）、λは光線の波長、ｉは
２，３，４，５である。したがって、放射される共鳴吸
収線の波長λ宣に応じて、光線の位置すなわち回折格子
９Ａの法線と入射する光線のなす角度θ１を予め定めて
おくと、４種類の方向から回折格子に入射する光線を１
つの光線１０に合成できる。
この方法によれば、第５図の例にあって第２の欠点は解
消できる。しかし、回折格子に入射する光線と回折する
光線の間には、式（１）の関係があるから、第５図の例
の第１の欠点と同様に、光源側で空洞陰極放電管を相隣
合うように配置できない場合がしばしば発生する。しか
も、空洞陰極放電管の光線を取り出す方向に垂直な方向
の幅は、世界的に共通化されており、約３８ａ＋（１，
５インチ）と大きいから、分光器の出射スリットにおけ
る光電子増倍管の設置の困難さに比べて、実用化は更に
難しい。
消できる。しかし、回折格子に入射する光線と回折する
光線の間には、式（１）の関係があるから、第５図の例
の第１の欠点と同様に、光源側で空洞陰極放電管を相隣
合うように配置できない場合がしばしば発生する。しか
も、空洞陰極放電管の光線を取り出す方向に垂直な方向
の幅は、世界的に共通化されており、約３８ａ＋（１，
５インチ）と大きいから、分光器の出射スリットにおけ
る光電子増倍管の設置の困難さに比べて、実用化は更に
難しい。
上述の光源部の困難を解決するには、第７図に示すよう
に、連続スペクトル含む光線１０Ａを放射する光源１例
えばキセノンランプ２Ａを用いる例が知られている。他
の構成は第５図および第６図の従来例と同じである。
に、連続スペクトル含む光線１０Ａを放射する光源１例
えばキセノンランプ２Ａを用いる例が知られている。他
の構成は第５図および第６図の従来例と同じである。
キセノンランプ２Ａは、主として紫外域から可視域に分
布する連続スペクトルを放射し、第９図に示した元素の
共鳴吸収波長をほとんど含んでいる。したがって、光源
側での上記第２の欠点は改善されている。しかし、第１
の欠点すなわち光電変換器側の問題に対しては全く効果
がない６すべて、光源として空調陰極放電管を用いてい
る。
布する連続スペクトルを放射し、第９図に示した元素の
共鳴吸収波長をほとんど含んでいる。したがって、光源
側での上記第２の欠点は改善されている。しかし、第１
の欠点すなわち光電変換器側の問題に対しては全く効果
がない６すべて、光源として空調陰極放電管を用いてい
る。
それは、次の事情による。良く知られているように、原
子共鳴吸収線の波長幅は、原子の種類によりわずかな違
いがあるが、紫外域の１９０ｎｍから近赤外域の８６０
ｎｍの範囲にある。一方、エシエレット形の回折格子を
用いる分光光度計の分解能は、先に述べたように、高い
分解能を持つものでも、０．５ｎｍ／ｍｎの程度である
から、０．００４ ｎｍの原子のスペクトル幅程度の
スペクトルを出射スリットから取り出すには、約０．０
０８ｎｎのスリットが必要となる。また、分光器の波長
が、例えば設置環境の温度変動等により、０．０００４
ｎｍ （これは出射スリット位置において０．００
０８ ｎｗに相当する。）変化すると、出射スリットか
ら出る光の量は約１０％減少する。
子共鳴吸収線の波長幅は、原子の種類によりわずかな違
いがあるが、紫外域の１９０ｎｍから近赤外域の８６０
ｎｍの範囲にある。一方、エシエレット形の回折格子を
用いる分光光度計の分解能は、先に述べたように、高い
分解能を持つものでも、０．５ｎｍ／ｍｎの程度である
から、０．００４ ｎｍの原子のスペクトル幅程度の
スペクトルを出射スリットから取り出すには、約０．０
０８ｎｎのスリットが必要となる。また、分光器の波長
が、例えば設置環境の温度変動等により、０．０００４
ｎｍ （これは出射スリット位置において０．００
０８ ｎｗに相当する。）変化すると、出射スリットか
ら出る光の量は約１０％減少する。
このように極めて小さな値は１通常のエシエレット形の
回折格子を用いる分光光度計では、実用できる形では実
現しがたいものである。
回折格子を用いる分光光度計では、実用できる形では実
現しがたいものである。
そこで分析対象元素の共鳴吸収線の波長とそのスペクト
ル幅もほとんど等しい輝線スペクトルを放射する光源と
して、分析対象元素の材料を陰極に用いる空洞陰極放電
管が利用されてきた。
ル幅もほとんど等しい輝線スペクトルを放射する光源と
して、分析対象元素の材料を陰極に用いる空洞陰極放電
管が利用されてきた。
結局、キセノンランプを用いる第７図の例は、分光器に
対して分散能と波長安定性とに極めた過大な要求を伴い
、実用性に乏しい。
対して分散能と波長安定性とに極めた過大な要求を伴い
、実用性に乏しい。
第３図の従来例は、上記３例の加熱炉に代えて、化学燃
焼炎を用いる例である。本例においては、そ−れぞれ異
なる原子吸収線が、空洞陰極放電管２゜３．４から化学
燃焼炎３０の中央部に向けて放射される。水溶液分析試
料１２Ａは霧吹き３１により霧状にされて、化学燃焼炎
３０の中に導入され、蒸発気化し、原子状に解離される
。これら原子群の中に、前記空洞陰極放電管の空洞陰極
を構成する物質の元素と一致するものがあれば、原子吸
光現象により光が吸収される。空洞陰極放電管から放射
された原子スペクトル光線は、化学燃焼炎３０を透過し
て、それぞれ１つずつの分光器３２゜３３．３４に入射
し、前記原子吸収線の波長成分が選択される。その後の
処理は、上記従来例と同様であり、３つの異なる元素を
同時に測定できる。
焼炎を用いる例である。本例においては、そ−れぞれ異
なる原子吸収線が、空洞陰極放電管２゜３．４から化学
燃焼炎３０の中央部に向けて放射される。水溶液分析試
料１２Ａは霧吹き３１により霧状にされて、化学燃焼炎
３０の中に導入され、蒸発気化し、原子状に解離される
。これら原子群の中に、前記空洞陰極放電管の空洞陰極
を構成する物質の元素と一致するものがあれば、原子吸
光現象により光が吸収される。空洞陰極放電管から放射
された原子スペクトル光線は、化学燃焼炎３０を透過し
て、それぞれ１つずつの分光器３２゜３３．３４に入射
し、前記原子吸収線の波長成分が選択される。その後の
処理は、上記従来例と同様であり、３つの異なる元素を
同時に測定できる。
３つの光線を透過させる試料の原子化装置としての化学
燃焼炎は次の条件を備えなければならない。
燃焼炎は次の条件を備えなければならない。
化学燃焼炎３０を透過する３つの光線は、時間的にその
進行方向が変化しないことが必要である。
進行方向が変化しないことが必要である。
もし、光線の進行方向が変化すると、分光器に入射する
光量が変わり、原子吸収による光量の変化との区別が困
雑になるからである。したがって、化学燃焼炎は、安定
して時間的に連続し燃焼し続けなければならない。
光量が変わり、原子吸収による光量の変化との区別が困
雑になるからである。したがって、化学燃焼炎は、安定
して時間的に連続し燃焼し続けなければならない。
もう１つの条件としては、化学燃焼炎の内部およびその
周囲の温度勾配が、入射光線の進行方向に対して左右対
称であり、温度勾配によって作られる空気の密度勾配に
よる光の屈折現象が生じないか生じても変化しないこと
が必要である。
周囲の温度勾配が、入射光線の進行方向に対して左右対
称であり、温度勾配によって作られる空気の密度勾配に
よる光の屈折現象が生じないか生じても変化しないこと
が必要である。
上述の２つの条件を満たす化学燃焼炎としては、燃焼ガ
スと酸素または酸素を含む助燃ガスとの２種類のガスの
噴出孔を同心円状とし、温度分布が同心円状となる炎を
形成する方法が一般的に利用されている。この化学燃焼
炎の同心円の中心に向かって進行する光線は、炎を透過
する際に左右いずれかに屈折することが少ない。また、
炎が上下方向に長く伸びているため、上下方向の温度勾
配が少なく、したがって上下方向の屈折も僅かである。
スと酸素または酸素を含む助燃ガスとの２種類のガスの
噴出孔を同心円状とし、温度分布が同心円状となる炎を
形成する方法が一般的に利用されている。この化学燃焼
炎の同心円の中心に向かって進行する光線は、炎を透過
する際に左右いずれかに屈折することが少ない。また、
炎が上下方向に長く伸びているため、上下方向の温度勾
配が少なく、したがって上下方向の屈折も僅かである。
このような化学燃焼炎を、このごろ最も多く利用されて
いる黒鉛管電気炉（第５図〜第７図の加熱炉１１）と置
き換えることは困難である。
いる黒鉛管電気炉（第５図〜第７図の加熱炉１１）と置
き換えることは困難である。
電気炉方式の原子化装置においては、試料を装填しであ
る黒鉛管を約１〜３秒の短時間に室温から約３０００℃
まで加熱し、短時間ｉご密度の高い原子蒸気を作るよう
になっており、しかも光線の透過方向に制限があるから
である。
る黒鉛管を約１〜３秒の短時間に室温から約３０００℃
まで加熱し、短時間ｉご密度の高い原子蒸気を作るよう
になっており、しかも光線の透過方向に制限があるから
である。
以上述べたことを総合すると、上記従来例はいずれも、
学術的には意味があっても、実用性すなわち操作性９分
析元素の変更の容易性、測定性能等を考慮したとき、そ
れぞれ欠点があるため、同時多元素分析の実用化の要求
が強いにも拘わらず。
学術的には意味があっても、実用性すなわち操作性９分
析元素の変更の容易性、測定性能等を考慮したとき、そ
れぞれ欠点があるため、同時多元素分析の実用化の要求
が強いにも拘わらず。
今日まで実用に供せられていない。したがって、依然と
して、１元素ずつ逐次分析しているのが現状である。
して、１元素ずつ逐次分析しているのが現状である。
本発明の目的は、複数の光源からの光線を１つの試料原
子化部に効率的に導入し多元素を同時に分析可能な原子
吸光分光光度計を提供することである。
子化部に効率的に導入し多元素を同時に分析可能な原子
吸光分光光度計を提供することである。
本発明は、上記目的を達成するために、分析すべき試料
を加熱して乾燥、灰化、原子化し原子蒸気を生成する円
筒形加熱炉と、検出すべき元素の輝線スペクトルを含む
光線を同時に発生し加熱炉の中心軸に対して軸対称の一
定角度で入射させる前記各元素に対応した数の空洞陰極
放電管と、前記一定角度に対応して前記加熱炉の後方に
／軸対称に設置され原子蒸気により輝線スペクトルを吸
収された各光線をそれぞれ分光し受光する分光検出系と
、分光検出された輝線スペクトルの原子共鳴吸収の比率
から分析試料中の元素の濃度または量を演算し求める信
号処理装置とからなり種類の異なる複数の元素を同時に
測定する原子吸光分光光度計を提案するものである。
を加熱して乾燥、灰化、原子化し原子蒸気を生成する円
筒形加熱炉と、検出すべき元素の輝線スペクトルを含む
光線を同時に発生し加熱炉の中心軸に対して軸対称の一
定角度で入射させる前記各元素に対応した数の空洞陰極
放電管と、前記一定角度に対応して前記加熱炉の後方に
／軸対称に設置され原子蒸気により輝線スペクトルを吸
収された各光線をそれぞれ分光し受光する分光検出系と
、分光検出された輝線スペクトルの原子共鳴吸収の比率
から分析試料中の元素の濃度または量を演算し求める信
号処理装置とからなり種類の異なる複数の元素を同時に
測定する原子吸光分光光度計を提案するものである。
本発明はまた、分析すべき試料を加熱して乾燥。
灰化、原子化し原子蒸気を生成する円筒形加熱炉と、検
出すべき元素の輝線スペクトルを含む光線を同時に発生
する前記各元素に対応した数の空洞陰極放電管と、空洞
陰極放電管からの光線を折り返し加熱炉の中心軸の周り
に集中させ前記軸に対して軸対称の一定角度で入射させ
る光学系と、前記一定角度に対応して加熱炉の後方に設
置され原子蒸気により輝線スペクトルを吸収された各光
線を折り返し中心軸から遠ざける光学系と、それぞれの
透過光線を分光し受光する分光検出系と、分光検出され
た輝線スペクトルの原子共鳴吸収の比率から分析試料中
の元素の濃度または量を演算し求める信号処理装置とか
らなり種類の異なる複数の元素を同時に測定する原子吸
光分光光度計を提案するものである。
出すべき元素の輝線スペクトルを含む光線を同時に発生
する前記各元素に対応した数の空洞陰極放電管と、空洞
陰極放電管からの光線を折り返し加熱炉の中心軸の周り
に集中させ前記軸に対して軸対称の一定角度で入射させ
る光学系と、前記一定角度に対応して加熱炉の後方に設
置され原子蒸気により輝線スペクトルを吸収された各光
線を折り返し中心軸から遠ざける光学系と、それぞれの
透過光線を分光し受光する分光検出系と、分光検出され
た輝線スペクトルの原子共鳴吸収の比率から分析試料中
の元素の濃度または量を演算し求める信号処理装置とか
らなり種類の異なる複数の元素を同時に測定する原子吸
光分光光度計を提案するものである。
いずれの場合も、信号処理装置には、空洞陰極放電管か
ら円筒形加熱炉に入射した光線が加熱炉の温度上昇によ
り進行方向に曲げられ分光検出系に正確に入射しないこ
とによる誤差を補正する手段を備えることが望ましい。
ら円筒形加熱炉に入射した光線が加熱炉の温度上昇によ
り進行方向に曲げられ分光検出系に正確に入射しないこ
とによる誤差を補正する手段を備えることが望ましい。
第２図は本発明の基本的考え方を示すブロック図である
。本発明においては、円筒形加熱炉には光線を１本にし
て入射させなければならないという従来の固定的考え方
から離れて、互いにある小さな角度を持つ複数の光線を
円筒形加熱炉に入射させるようにして、従来技術の欠点
を根本的に解消しである。
。本発明においては、円筒形加熱炉には光線を１本にし
て入射させなければならないという従来の固定的考え方
から離れて、互いにある小さな角度を持つ複数の光線を
円筒形加熱炉に入射させるようにして、従来技術の欠点
を根本的に解消しである。
すなわち、各光源２，３等からの光線を小さな角度をも
って円筒形加熱炉１１に入射させ、それぞれを独立した
光電変換素子で受光し、信号処理するようにしである。
って円筒形加熱炉１１に入射させ、それぞれを独立した
光電変換素子で受光し、信号処理するようにしである。
したがって、２つの共鳴吸収線が接近していても、光電
変換器を出射スリットの後に設置する際の困難が解消さ
れる。また、各光源は独立しており、しかも半透過鏡の
ようなものを介在させないから、十分な光量が得られる
。
変換器を出射スリットの後に設置する際の困難が解消さ
れる。また、各光源は独立しており、しかも半透過鏡の
ようなものを介在させないから、十分な光量が得られる
。
［実施例］
次に、第１図、第３図、第４図を参照して、本発明の具
体的実施例を説明する。
体的実施例を説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。
空洞陰極放電管２から放射された光線４９は、球面鏡等
の凹面！４１．４２により、円筒形加熱炉１１に導かれ
る。加熱炉１１を透過した光線４９は、凹面鏡４３．４
４により、分光器１３Ａに導入される。分光器１３Ａで
選択された特定元素の共鳴吸収線は、光電変換器１８Ａ
により電気信号に変換され、増幅器１９から信号処理装
置２３に入る。一方の光源３からの光線も同様の経路を
通り、信号処理装置２３に入る。
の凹面！４１．４２により、円筒形加熱炉１１に導かれ
る。加熱炉１１を透過した光線４９は、凹面鏡４３．４
４により、分光器１３Ａに導入される。分光器１３Ａで
選択された特定元素の共鳴吸収線は、光電変換器１８Ａ
により電気信号に変換され、増幅器１９から信号処理装
置２３に入る。一方の光源３からの光線も同様の経路を
通り、信号処理装置２３に入る。
本装置の特徴は、光ＪｔＳ４９と５０とが、１本の光線
に合成されず、一定の小さな角度２５をもって交差した
状態で加熱炉１１に導入されていることである。
に合成されず、一定の小さな角度２５をもって交差した
状態で加熱炉１１に導入されていることである。
加熱炉１１には、分析試料液滴１２が導入される。この
試料１２は、温度制御装置１−５の昇温プログラムに従
い制御される電源１６からの電力により、乾燥され、灰
化され、最後に原子状態に解離される。したがって、空
洞陰極放電管２，３から放射された光線４９．５０は１
円筒形加熱炉１１の中に発生した原子蒸気の密度に応じ
て吸収される。信号処理装置２３は、光線４９．５０の
吸収による光量の変化に基づき１分析元素の密度を求め
、その結果を表示装置２４に表示させる。
試料１２は、温度制御装置１−５の昇温プログラムに従
い制御される電源１６からの電力により、乾燥され、灰
化され、最後に原子状態に解離される。したがって、空
洞陰極放電管２，３から放射された光線４９．５０は１
円筒形加熱炉１１の中に発生した原子蒸気の密度に応じ
て吸収される。信号処理装置２３は、光線４９．５０の
吸収による光量の変化に基づき１分析元素の密度を求め
、その結果を表示装置２４に表示させる。
空洞陰極放電管２．３からそれぞれ銅（Ｃｕ）とクロミ
ウム（Ｃｒ）の原子スペクトルが放射されるようにすれ
ば、２つの分析元素すなわち銅とクロミウムを同時に測
定できる。
ウム（Ｃｒ）の原子スペクトルが放射されるようにすれ
ば、２つの分析元素すなわち銅とクロミウムを同時に測
定できる。
第１図の実施形態は平面的であるが、これを第３図のよ
うに立体的に配置すれば、４つの元素を同時に測定可能
となる。ここでは、繁雑を避けるために、加熱炉１１を
出た後の光線を図示していないけれども、８個の凹面鏡
を配置し、それぞれの光線を４つの分光器に導入する。
うに立体的に配置すれば、４つの元素を同時に測定可能
となる。ここでは、繁雑を避けるために、加熱炉１１を
出た後の光線を図示していないけれども、８個の凹面鏡
を配置し、それぞれの光線を４つの分光器に導入する。
このようにすれば、４元素を同時に測定可能な原子吸光
分光光度計が得られる。
分光光度計が得られる。
さて、第１図の実施例において、円筒形加熱炉゛１１は
、一般的に、加熱最高温度を３０００℃以上に高めるた
めに、極力小さく作られ、外形８〜１０ｍｍφで、長さ
２０〜３Ｃ）ｅのものが多い。すなわち、電源１６から
供給される電力が例えば５ｋｗで一定としたとき、円筒
形加熱炉１１の温度は、その体積が小さいほど高くなる
。したがって、加熱炉１１に入射する２つの光線のなす
角度２５はあまり大きくできず、制限がある。
、一般的に、加熱最高温度を３０００℃以上に高めるた
めに、極力小さく作られ、外形８〜１０ｍｍφで、長さ
２０〜３Ｃ）ｅのものが多い。すなわち、電源１６から
供給される電力が例えば５ｋｗで一定としたとき、円筒
形加熱炉１１の温度は、その体積が小さいほど高くなる
。したがって、加熱炉１１に入射する２つの光線のなす
角度２５はあまり大きくできず、制限がある。
一方、空洞陰極放電管２，３は、既に述べたように、国
際的に共通化されていて、外径が３８１（１，５インチ
）である。そのため、第７図に示すごとく、空洞陰極放
電管２，３を直接配置したのでは、これらから放射され
る光線４９．５０の作る角度には、空洞陰極放電管２，
３の外径寸法で決まる制限があり、あまり小さくできな
い。
際的に共通化されていて、外径が３８１（１，５インチ
）である。そのため、第７図に示すごとく、空洞陰極放
電管２，３を直接配置したのでは、これらから放射され
る光線４９．５０の作る角度には、空洞陰極放電管２，
３の外径寸法で決まる制限があり、あまり小さくできな
い。
そこで、実際には、第１図に示すように、空洞陰極放電
管２，３から放射された光線４９．５０を、それぞれ凹
面鏡４１．４６を用いて、互いに揚力接近させて配置し
た２つの凹面鏡４２．４６に入射させる。こうすれば、
空洞陰極放電管２゜３をある程度離しながら、両光線４
９，５０め舜す角度２５を小さくできる。しかも、光線
を折り返すので、空洞陰極放電管２，３と加熱炉１１と
の距離を短縮可能である。
管２，３から放射された光線４９．５０を、それぞれ凹
面鏡４１．４６を用いて、互いに揚力接近させて配置し
た２つの凹面鏡４２．４６に入射させる。こうすれば、
空洞陰極放電管２゜３をある程度離しながら、両光線４
９，５０め舜す角度２５を小さくできる。しかも、光線
を折り返すので、空洞陰極放電管２，３と加熱炉１１と
の距離を短縮可能である。
第１図および第２図の実施例によれば、従来の例にあっ
た重大な２つの欠点が解消される。
た重大な２つの欠点が解消される。
まず、２つの共鳴吸収線の波長が極めて接近し、例えば
Ｃｄ ２２８．８０２ ｎ ｍとＡ ｓ ２２８．８０
１ ｎ ｍの組合せのように、その差が０．００１
ｎｍとなり、従来の分光器では分離して同時測光するこ
とが困難だった場合でも、容易に分離して同時に測光す
ることが可能である。
Ｃｄ ２２８．８０２ ｎ ｍとＡ ｓ ２２８．８０
１ ｎ ｍの組合せのように、その差が０．００１
ｎｍとなり、従来の分光器では分離して同時測光するこ
とが困難だった場合でも、容易に分離して同時に測光す
ることが可能である。
また、光源の空洞陰極放電管から放射される光量をほと
んど損失なく加熱炉に導入できる。
んど損失なく加熱炉に導入できる。
ここで、円筒形加熱炉１１には、その中心軸に−ｆｉさ
せて、１本の光線を入射させなければならないとする従
来の考え方を再検討してみる。第４図において、光源（
空洞陰極放電管）２から放射された光線４９は、円筒形
加熱炉１１の中心軸に対して、角度φで入射すると仮定
する。温度制御装置１５により制御された電源１６から
の電流が、円筒形加熱炉１１に供給される。加熱炉１１
の表面温度が常温の２０℃から３０００℃に上昇すると
、加熱炉表面層の空気に密度の勾配ができ、光線４９は
光線４９Ａとなり、光の進行方向に角度Δφの変化が生
ずる。円筒形加熱炉１１が軸対称の場合、その中心軸と
光線４９のなす角度φを小さくするほど、角度変化Δφ
が小さくなり、角度φが零のとき、角度変化Δφは零に
なることが経験的に知られている。
せて、１本の光線を入射させなければならないとする従
来の考え方を再検討してみる。第４図において、光源（
空洞陰極放電管）２から放射された光線４９は、円筒形
加熱炉１１の中心軸に対して、角度φで入射すると仮定
する。温度制御装置１５により制御された電源１６から
の電流が、円筒形加熱炉１１に供給される。加熱炉１１
の表面温度が常温の２０℃から３０００℃に上昇すると
、加熱炉表面層の空気に密度の勾配ができ、光線４９は
光線４９Ａとなり、光の進行方向に角度Δφの変化が生
ずる。円筒形加熱炉１１が軸対称の場合、その中心軸と
光線４９のなす角度φを小さくするほど、角度変化Δφ
が小さくなり、角度φが零のとき、角度変化Δφは零に
なることが経験的に知られている。
そのために、従来は、円筒形加熱炉には、その中心軸に
一致させ、１本の光線を入射させていたわけである。
一致させ、１本の光線を入射させていたわけである。
本発明の上記実施例においては、光線４９゜５０等は、
加熱炉１１に僅かながら斜めに入射し、分光器の入射ス
リットに向かうので、角度変化Δφが光量の減少として
測定されるおそれがある。
加熱炉１１に僅かながら斜めに入射し、分光器の入射ス
リットに向かうので、角度変化Δφが光量の減少として
測定されるおそれがある。
そのような見掛は上の光量変化は、試料を入れないで加
熱したときの見掛は上の光量変化を予め測定し、信号処
理装置に例えばＲＯＭ化し記憶しておき、実際の試料分
析時に得られる原子吸光信号を補正すれば、減殺できる
。温度の再現性は、もともと原子吸光測定の精度を維持
するために重要であり、毎回の温度には十分な再現性が
あるから、円筒形加熱炉の中心軸と各光線が一致しない
ことによる角度変化Δφを、上記補正方式により。
熱したときの見掛は上の光量変化を予め測定し、信号処
理装置に例えばＲＯＭ化し記憶しておき、実際の試料分
析時に得られる原子吸光信号を補正すれば、減殺できる
。温度の再現性は、もともと原子吸光測定の精度を維持
するために重要であり、毎回の温度には十分な再現性が
あるから、円筒形加熱炉の中心軸と各光線が一致しない
ことによる角度変化Δφを、上記補正方式により。
実質的に補正可能である。
もう１つの補正方法として、複光束測光法がある。各光
源からの光線を原子吸収する光線としないかまたは吸収
程度が低い光線とに分けて、２種類の光線が同時に放射
されるように工夫すれば、円筒形加熱炉の加熱時にこれ
を通過する光線が曲げられる効果は、上記２つの光線に
対して共通であり、同じ程度に影響するので、両光線の
信号に比を求め、補正できる。
源からの光線を原子吸収する光線としないかまたは吸収
程度が低い光線とに分けて、２種類の光線が同時に放射
されるように工夫すれば、円筒形加熱炉の加熱時にこれ
を通過する光線が曲げられる効果は、上記２つの光線に
対して共通であり、同じ程度に影響するので、両光線の
信号に比を求め、補正できる。
具体的方法の例として、円筒形加熱炉に磁場を印加し、
ゼーマン効果を利用する偏光２光束測光法が知られてい
る。
ゼーマン効果を利用する偏光２光束測光法が知られてい
る。
本発明においては、各光源からの光線を小さな角度をも
って円筒形加熱炉に入射させ、それぞれ独立した分光器
で分光し、光電変換素子で受光し、て、信号処理するよ
うにしであるので、２つの共鳴吸収線が接近していても
、光電変換器を出射スリットの後に設置する際の困難が
解消される。また、各光源が独立しており、半透過鏡の
ようなものを介在させないから、十分な光量が得られる
。
って円筒形加熱炉に入射させ、それぞれ独立した分光器
で分光し、光電変換素子で受光し、て、信号処理するよ
うにしであるので、２つの共鳴吸収線が接近していても
、光電変換器を出射スリットの後に設置する際の困難が
解消される。また、各光源が独立しており、半透過鏡の
ようなものを介在させないから、十分な光量が得られる
。
第１図は本発明による原子吸光分光光度計の一実施例を
示すブロック図、第２図ｉよ本発明の考えかたを示す図
、第３図は４つの空洞陰極放電管を用いる場合の光源側
の構成を示す斜７視図、第４図は光線が加熱炉に斜めに
入射することによる誤差を排除する方法を示す図、第５
図は半透過鏡を用いて１本の光線を合成する従来例を示
す図、第６図は回折格子を用いて１本の光線を合成する
従来例を示す図、第７図は光源に連続スペクトルを発生
するキセノンランプを用いる従来例を示す図。 第３図は化学燃焼炎を用いる従来例を示す図、第９図は
原子吸収線と他元素の近接線の波長の例を示す図である
。 ２〜５・・・空洞陰極放電管（光源）、２Ａ・・・キセ
ノンランプ、７〜９−・・半透過鏡、１０・・・合成光
線、１０Ａ・・・連続スペクトル光線、１１・・・円筒
形加熱炉、１２・・・試料、１２Ａ・・・水溶液分析試
料、１３・・・多波長分光器、１３Ａ、１３Ｂ・・・分
光器、１５・・・温度制御装置、１７・・・回折格子、
１８・・・光電子増倍管、１９〜２２・・・増幅器、２
３・・・信号処理袋ゝ−５ 置、２４・・・表示装置、３０・・・化学燃焼炎、３１
・・・霧吹き、３２〜３４・・・分光器、４１〜４８・
・・凹面鏡、４９．５０・・・光線。
示すブロック図、第２図ｉよ本発明の考えかたを示す図
、第３図は４つの空洞陰極放電管を用いる場合の光源側
の構成を示す斜７視図、第４図は光線が加熱炉に斜めに
入射することによる誤差を排除する方法を示す図、第５
図は半透過鏡を用いて１本の光線を合成する従来例を示
す図、第６図は回折格子を用いて１本の光線を合成する
従来例を示す図、第７図は光源に連続スペクトルを発生
するキセノンランプを用いる従来例を示す図。 第３図は化学燃焼炎を用いる従来例を示す図、第９図は
原子吸収線と他元素の近接線の波長の例を示す図である
。 ２〜５・・・空洞陰極放電管（光源）、２Ａ・・・キセ
ノンランプ、７〜９−・・半透過鏡、１０・・・合成光
線、１０Ａ・・・連続スペクトル光線、１１・・・円筒
形加熱炉、１２・・・試料、１２Ａ・・・水溶液分析試
料、１３・・・多波長分光器、１３Ａ、１３Ｂ・・・分
光器、１５・・・温度制御装置、１７・・・回折格子、
１８・・・光電子増倍管、１９〜２２・・・増幅器、２
３・・・信号処理袋ゝ−５ 置、２４・・・表示装置、３０・・・化学燃焼炎、３１
・・・霧吹き、３２〜３４・・・分光器、４１〜４８・
・・凹面鏡、４９．５０・・・光線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、分析すべき試料を加熱して乾燥、灰化、原子化し原
子蒸気を生成する円筒形加熱炉と、 検出すべき元素の輝線スペクトルを含む光線を同時に発
生し前記加熱炉の中心軸に対して軸対称の一定角度で入
射させる前記各元素に対応した数の空洞陰極放電管と、 前記一定角度に対応して前記加熱炉の後方に軸対称に設
置され前記原子蒸気により前記輝線スペクトルを吸収さ
れた前記各光線をそれぞれ分光し受光する分光検出系と
、 分光検出された輝線スペクトルの原子共鳴吸収の比率か
ら分析試料中の元素の濃度または量を演算し求める信号
処理装置と からなり種類の異なる複数の元素を同時に測定する原子
吸光分光光度計。 ２、特許請求の範囲第１項において、 前記信号処理装置が、 前記空洞陰極放電管から前記円筒形加熱炉に入射した光
線が加熱炉の温度上昇により進行方向を曲げられ前記分
光検出系に正確に入射しないことによる誤差を補正する
手段を備えたことを特徴とする原子吸光分光光度計。 ３、分析すべき試料を加熱して乾燥、灰化、原子化し原
子蒸気を生成する円筒形加熱炉と、 検出すべき元素の輝線スペクトルを含む光線を同時に発
生する前記各元素に対応した数の空洞陰極放電管と、 前記空洞陰極放電管からの光線を折り返し前記加熱炉の
中心軸の周りに集中させ前記軸に対して軸対称の一定角
度で入射させる光学系と、前記一定角度に対応して前記
加熱炉の後方に設置され前記原子蒸気により前記輝線ス
ペクトルを吸収された前記各光線を折り返し前記中心軸
から遠ざける光学系と、 それぞれの透過光線を分光し受光する分光検出系と、 分光検出された輝線スペクトルの原子共鳴吸収の比率か
ら分析試料中の元素の濃度または量を演算し求める信号
処理装置と からなり種類の異なる複数の元素を同時に測定する原子
吸光分光光度計。 ４、特許請求の範囲第３項において、 前記信号処理装置が、 前記空洞陰極放電管から前記円筒形加熱炉に入射した光
線が加熱炉の温度上昇により進行方向を曲げられ前記分
光検出系に正確に入射しないことにより誤差を補正する
手段を備えたことを特徴とする原子吸光分光光度計。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62127793A JPH0623691B2 (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 原子吸光分光光度計 |
| US07/196,263 US4867562A (en) | 1987-05-25 | 1988-05-20 | Atomic absorption spectrophotometer |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62127793A JPH0623691B2 (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 原子吸光分光光度計 |
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|---|---|
| JPS63292040A true JPS63292040A (ja) | 1988-11-29 |
| JPH0623691B2 JPH0623691B2 (ja) | 1994-03-30 |
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| JP62127793A Expired - Lifetime JPH0623691B2 (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | 原子吸光分光光度計 |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5035505A (en) * | 1989-08-02 | 1991-07-30 | Hitachi, Ltd. | Atomic absorption spectroscopy photometer |
| JPH03202754A (ja) * | 1989-10-18 | 1991-09-04 | Hitachi Ltd | 多元素同時分析原子吸光分光光度計 |
| JP2009041941A (ja) * | 2007-08-06 | 2009-02-26 | Fuji Electric Systems Co Ltd | ガス濃度測定装置およびガス濃度測定方法 |
Families Citing this family (8)
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|---|---|---|---|---|
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| US5095205A (en) * | 1991-03-01 | 1992-03-10 | Thermo Jarrell Ash Corporation | Spectroanalytical system |
| US5135305A (en) * | 1991-03-01 | 1992-08-04 | Thermo Jarrell Ash Corporation | Spectroanalytical system |
| DE4115401C2 (de) * | 1991-05-10 | 1994-04-14 | Rainer Dr Uhl | Fluoreszenz-Meßvorrichtung zum Bestimmen der Ionenkonzentration eines Untersuchungsobjekts, das mit einem Fluoreszenzfarbstoff eingefärbt ist, dessen Anregungsmaximum sich in Abhängigkeit von der zu bestimmenden Ionenkonzentration ändert |
| DE4413096B4 (de) * | 1994-04-15 | 2004-09-09 | Berthold Gmbh & Co. Kg | Multielement-Atomabsorptionsspektrometer sowie Meßverfahren unter Nutzung eines solchen Atomabsorptionsspektrometers |
| US6534768B1 (en) * | 2000-10-30 | 2003-03-18 | Euro-Oeltique, S.A. | Hemispherical detector |
| JP4491277B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2010-06-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料分析装置 |
| CN110579564B (zh) * | 2019-10-29 | 2021-03-23 | 长沙开元弘盛科技有限公司 | 一种同时测定汞、镉、锌、铅的装置和方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3552657A (en) * | 1967-02-20 | 1971-01-05 | Bausch & Lomb | Aspirator assembly for a premix burner |
| US3544789A (en) * | 1968-03-04 | 1970-12-01 | Irwin Wieder | Atomic absorption detection of given substances independent of absorption by background substances |
| JPS526587A (en) * | 1975-07-04 | 1977-01-19 | Hitachi Ltd | Light flux unifying device |
| JPS526586A (en) * | 1975-07-04 | 1977-01-19 | Hitachi Ltd | Atom extinction analyzer |
| DE2950105C2 (de) * | 1979-12-13 | 1982-05-19 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Atomabsorptionsspektrometer mit verschiedenen, wahlweise einsetzbaren Atomisierungsvorrichtungen |
| JPH05262493A (ja) * | 1992-03-19 | 1993-10-12 | Arai Jidosha Seibi Kojo:Kk | 移動クレーン用フック固定装置 |
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- 1988-05-25 DE DE3817739A patent/DE3817739A1/de active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5035505A (en) * | 1989-08-02 | 1991-07-30 | Hitachi, Ltd. | Atomic absorption spectroscopy photometer |
| JPH03202754A (ja) * | 1989-10-18 | 1991-09-04 | Hitachi Ltd | 多元素同時分析原子吸光分光光度計 |
| US5283624A (en) * | 1989-10-18 | 1994-02-01 | Hitachi, Ltd. | Multi-element simultaneous analysis atomic absorption spectroscopy photometer and multi-element simultaneous analytic method |
| JP2009041941A (ja) * | 2007-08-06 | 2009-02-26 | Fuji Electric Systems Co Ltd | ガス濃度測定装置およびガス濃度測定方法 |
Also Published As
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