Die Erfindung bezieht sich auf ein System zur Entfernungs
messung und insbesondere auf ein Entfernungsmeßsystem der
Gitterinterferenz-Bauart (Gitterinterferometer).
Wie in den JP-Patent-OS Nr. 59-1 91 906 und Nr. 59-
1 91 907 offenbart ist, werden herkömmliche Gitterinterferenz-
Entfernungsmeßvorrichtungen so angeordnet, daß ein
kohärentes Licht von einer Lichtquelle durch einen Spiegel
od. dgl. auf ein Beugungsgitter, das als ein Bezugsmaß
wirkt, gerichtet wird, und das Beugungslicht der positiven
Ordnung n sowie Beugungslicht der negativen Ordnung n, die von
diesem Beugungsgitter ausgehen, werden unter Verwendung
von Winkelspiegeln (Corner-Cubes) zurück parallel zu ihren
ankommenden Wegen reflektiert, so daß die reflektierten
Beugungslichtstrahlen wieder auf das Beugungsgitter einfallen,
an dem die beiden Beugungslichtstrahlen der positiven
und negativen Ordnung n in der gleichen Richtung gebeugt
werden, um eine gegenseitige Interferenz hervorzurufen,
wobei die Intensität dieses Interferenzlichts mittels eines
lichtelektrischen Fühlers ermittelt wird.
Bei der beschriebenen Anordnung ist der Winkelspiegel ein
optisches Glied, das nicht leicht zu fertigen ist, weshalb
es teuer ist. Auch ist die Justierung von optischen Gliedern,
wie Spiegeln, kompliziert. Deshalb ist es bei der herkömmlichen
Anordnung schwierig, den Aufbau einfach sowie
kompakt zu machen und die Herstellungskosten zu vermindern.
Mit einem solchen Interferometer kann der Meßbereich oder
Meßhub relativ groß ausgelegt werden, nämlich in der Größen
ordnung von nicht weniger als 100 mm. Andererseits wird
grundsätzlich die Entfernungsmessung unter Verwendung einer
bestimmten Teilung als eine Einheitslänge, die durch optische
Bedingungen, wie die Wellenlänge des Meßlichts, die
Ordnung des Beugungslichts und den Polarisationszustand,
bestimmt werden, durchgeführt. Demzufolge ist die Auflösung
niedrig, weshalb die Genauigkeit mäßig ist, wenn eine winzige
Entfernung in einer Größenordnung, die beispielsweise
nicht größer als Submikron ist, gemessen werden soll.
Es ist demzufolge die primäre Aufgabe der Erfindung, eine
Entfernungsmeßvorrichtung der Gitterinterferenz-Bauart zu
schaffen, die in ihrem Aufbau einfach ist und eine leichte
Justierung des Bausatzes zuläßt.
Ein Ziel der Erfindung ist hierbei darin zu sehen, eine
Entfernungsmeßvorrichtung der Gitterinterferenz-Bauart aufzuzeigen,
die eine Verminderung in den Größenabmessungen der
Vorrichtung, eine Unterdrückung des Rauschens und Verbesserungen
in der Meßgenauigkeit ermöglicht.
Ein weiteres Ziel der Erfindung liegt in der Schaffung einer
Entfernungsmeßvorrichtung der Gitterinterferenz-Bauart, die
gegen eine Änderung in der Wellenlänge einer Lichtquelle
ohne die Verwendung von irgendeinem Winkelspiegel (Corner-
Cube) stabil ist.
Darüber hinaus ist es ein Ziel der Erfindung, eine Entfernungs
meßvorrichtung der Gitterinterferenz-Bauart zu schaffen,
die einen großen Meßbereich oder -hub und eine sehr
hohe Meßgenauigkeit aufweist.
Die Aufgabe, die angegebenen und weitere Ziele wie auch die
Merkmale und Vorteile der Erfindung werden aus der folgenden,
auf die Zeichnungen Bezug nehmenden Beschreibung von bevorzugten
Ausführungsformen des Erfindungsgegenstandes
deutlich. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Ansicht des Aufbaus einer inter
ferometrischen Beugungsgitter-Entfernungsmeßvorrichtung
in einer Ausführungsform gemäß der Erfindung,
wobei kein Winkelspiegel verwendet wird;
Fig. 2 eine Wellenform, die die Ausgänge von bei der Vorrichtung
von Fig. 1 verwendeten lichtelektrischen
Fühlern darstellt;
Fig. 3 die Darstellung einer Wellenform von solchen Signalen,
wie sie durch Verarbeiten der in Fig. 2 gezeigten
Ausgänge zu erhalten sind;
Fig. 4 eine schematische Darstellung zur Erläuterung des
Zustandes von Beugungslicht, wenn sich die Ausgangs
wellenlänge einer Lichtquelle ändert, im Fall der
Entfernungsmeßvorrichtung in der Ausführungsform
von Fig. 1;
Fig. 5 eine Wellenform-Darstellung, die Ausgänge von den
lichtelektrischen Fühlern der Fig. 1 zeigt, wenn die
Wellenlänge eines Lichts von der Lichtquelle
verschoben wird;
Fig. 6 eine schematische Darstellung einer Beugungsgitter-
Entfernungsmeßvorrichtung in einer weiteren Ausführungsform
gemäß der Erfindung, wobei der Hauptteil
der Vorrichtung als ein integrierter Kreis
ausgebildet ist;
Fig. 7 eine vergrößerte Darstellung eines wesentlichen
Teils einer Entfernungsmeßvorrichtung in einer Abwandlung
der Ausführungsform von Fig. 6;
Fig. 8 eine Wellenform von Ausgängen von lichtelektrischen
Fühlern, die bei der Vorrichtung von Fig. 7 zur
Anwendung kommen;
Fig. 9 eine schematische Darstellung einer Entfernungsmeß
vorrichtung in einer gegenüber Fig. 6 weiter
abgewandelten Ausführungsform;
Fig. 10 eine schematische, perspektivische Darstellung einer
Gitterinterferenz-Entfernungsmeßvorrichtung in einer
weiteren Ausführungsform gemäß der Erfindung, wobei
ein Wollaston-Prisma zur Anwendung kommt;
Fig. 11 eine schematische Darstellung zur Erläuterung der
Funktion des Wollaston-Prismas der Vorrichtung von
Fig. 10;
Fig. 12 eine schematische Darstellung einer Gitterinterferenz-
Entfernungsmeßvorrichtung in einer noch weiteren
Ausführungsform gemäß der Erfindung, wobei Licht
durch ein Entfernungsmeß-Bezugsgitter viermal tritt,
um die Auflösung des Systems zu steigern.
Die Fig. 1 zeigt ein Beispiel für eine Beugungsgitter-Inter
ferenz-Entfernungsmeßvorrichtung, die ohne die Verwendung
eines Corner-Cube-Gliedes als die Impulssignal-Erzeugungs
einrichtung aufgebaut ist. Gemäß Fig. 1 ist ein relativ
bewegbares Beugungsgitter GS fest an einem von zwei Objekten,
die relativ zueinander bewegbar sind, angeordnet, während
ein Entfernungsmeßkopfteil MH fest am anderen der
beiden Objekte angebracht ist.
Ein von einer Lichtquelle LD, z. B. einem Halbleiterlaser,
des Entfernungsmeß-Hauptteils MH ausgesandter Lichtstrahl
wird in eine ebene Welle durch ein Kollimatorobjektiv CL
umgewandelt und dann in zwei Strahlen durch einen Halbspiegel
HM 20 geteilt. Die beiden zerlegten Lichtstrahlen LO 1
und LO 2 werden jeweils durch Spiegel MR 1 und MR 2 reflektiert
und zum Einfallen auf g/4-Plättchen QW 1 undQW 2 gebracht.
Hierauf werden sie durch stationäre Gitter GF 1 und
GF 2 jeweils gebeugt. Beugungslichtstrahlen LN 1 und LN 2 der
positiven und negativen Ordnung n werden auf das relativ
bewegbare Gitter GS projiziert, an dem sie wiederum reflektierend
gebeugt werden, so daß sie in derselben Richtung
verlaufen und miteinander vereinigt werden. Das auf diese
Weise erhaltene Licht wird durch Halbspiegel HM 21-HM 23
getrennt, und nach einer Umwandlung in elektrische Signale
mit Hilfe der Kombination von Polarisationsplatten PP 1-PP 4
und Fühlern (Photodetektoren) PD 1-PD 4 werden sie abgeleitet.
Die λ/4-Plättchen QW 1 und QW 2, die in den Wegen der
Lichtstrahlen LO 1 und LO 2 angeordnet sind, werden vorher
so festgelegt, daß ihre starken Achsen jeweils unter Winkeln
von +45° und -45° mit Bezug zu einer linear polarisierten
Lichtkomponente des Laserstrahls geneigt sind. Ferner
werden die Winkelstellungen der Polarisationsplatten
PP 1-PP 4 so festgesetzt, daß ihre Polarisationsaus
richtungen gleich 0°, 45°, 90° und 135° jeweils werden.
Bei dieser Anordnung wird die Menge eines jeden Lichts, das
auf einen entsprechenden Fühler PD 1-PD 4 auftrifft, mit
der Bewegung des relativ bewegbaren Gitters GS geändert,
wie in Fig. 2 gezeigt ist, und diese Änderungen werden als
Lichtmengen-Erfassungsausgänge ermittelt, d. h., von den
Fühlern PD 1-PD 4 gehen Ausgangssignale aus, deren Phasen
in Aufeinanderfolge um einen Phasenunterschied von 90°
verschoben sind.
Dann wird für jeweils zwei Signale, deren Phasen relativ
um 180° verschoben sind, ein Differenzsignal gebildet,
d. h., es werden zwei Differenzsignale gebildet. Diese beiden
Differenzsignale haben einen Phasenunterschied von 90°
und sind als R sowie S in den oberen beiden Teilen (a)
und (b) von Fig. 3 gezeigt.
Unter Verwendung von (nicht gezeigten) elektrischen Schaltungen
und auf der Grundlage eines vorbestimmten Pegels
werden diese beiden Signale R und S binär verarbeitet (binär
kodiert), wie es in den Teilen (c) und (d) von Fig. 3 dargestellt
ist. Vier Impulse für eine Periode werden zu den Zeitpunkten
eines Anstiegs und Abfalls der binär verarbeiteten
Signale erzeugt, wie im Teil (e) von Fig. 3 gezeigt ist.
Durch Zählen der Anzahl der Impulse ist es möglich, die
Größe der Relativbewegung zwischen dem Meßkopf MH und dem
Beugungsgitter GS zu messen. In diesem Fall ändert sich für
die Relativbewegung mit einem Wert, der einer Teilung (einem
regelmäßigen Abstand) des Beugungsgitters GS entspricht,
die Interferenz-Lichtintensität über vier Zyklen, so daß
16 Impulse erzeugt werden. Zur Zeit der Zählung der Impulse
wird auch die Richtung der Relativbewegung ermittelt, und
in Übereinstimmung mit dem Ergebnis der Ermittlung wird bestimmt,
ob die gezählte Anzahl addiert oder subtrahiert werden
soll oder nicht. Die Bewegungsrichtung kann von dem Pegel
eines jeden Signals, die in den Teilen (c) und (d) der
Fig. 3 gezeigt sind, der zum Zeitpunkt der Erzeugung eines
jeden im Teil (e) von Fig. 3 gezeigten Impulses hervorgerufen
wird, diskriminiert werden. Wenn beispielsweise der Pegel
des im Teil (d) gezeigten Signals, das zum Zeitpunkt
des Abfall des Signals, das im Teil (c) gezeigt ist, erzeugt
wird, "hoch" ist in einem Fall, da die Bewegung in der positiven
Richtung verläuft, wird dieser Pegel "niedrig" in
einem Falll, da die Bewegung in der negativen oder umgekehrten
Richtung verläuft.
Die Signale R und S, die in den Teilen (a) und (b) der Fig. 3
gezeigt sind, können addiert und subtrahiert werden, um
Signale "R+S" und "R-S" zu erzeugen, die Phasenunterschiede
von 45° mit Bezug zu den Signalen R und S jeweils haben.
Diese Signale können binär in einer gleichartigen Weise verarbeitet
werden, so daß zu den Zeitpunkten eines Anstiegs
und Abfalls Impulse erzeugt werden. Durch dieses Vorgehen
ist es möglich, 32 Impulse für die Bewegung mit einem Wert,
der einer Teilung des Beugungsgitters GS entspricht, zu
erhalten.
Die Fig. 4 zeigt den Zustand der Beugungslichtstrahlen,
wenn in dem Entfernungsmeßsystem der Ausführungsform von
Fig. 1 die Ausgangswellenlänge der Lichtquelle LD einer
Verschiebung unterliegt.
In Fig. 4 sind die Strahlengänge, wenn die Justierung im
wesentlichen perfekt ist, durch ausgezogene Linien dargestellt,
während die Strahlengänge, wenn die Wellenlänge verschoben
ist, durch gestrichelte Linien dargestellt sind.
Somit geben die Lichtströme, die mit L 11 und L 12 in dieser
Figur bezeichnet sind, die Beugungslichtstrahlen an, die
erzeugt werden, wenn die Wellenlänge verschoben worden ist.
Ausgänge der Fühler PD 1 - PD 4, wenn eine solche Wellenlängen
verschiebung auftritt, sind diejenigen, die in Fig. 5
dargestellt sind. Unabhängig von der Größe der Bewegung
des relativ bewegbaren Gitters GS wird in jeden der Ausgänge
der Fühler eine sog. Vorspannungskomponente einbezogen.
Der Grund hierfür liegt darin, daß ein Lichtstrombereich,
in dem ein Interferenzstreifen nicht gebildet
wird, anders als der Interferenzbereich, wie in
Fig. 4 schraffiert dargestellt ist, ansteigt und daß die
Ausdehnung des Lichtstrombereichs, in dem kein Inter
ferenzstreifen gebildet wird, sich mit der Größe in der
Verschiebung der Wellenlänge ändert. Demzufolge treten diejenigen
Änderungen auf, die in den Signal-Wellenformen
der Ausgänge der lichtelektrischen Fühler PD 1 - PD 4
in Fig. 5 gezeigt sind. In einem Fall, da die Verarbeitung
auf der Grundlage von vier Ermittlungssignalen die aufeinander
folgende Phasenunterschiede von 90° haben, vor sich
geht, kann jedoch die Teilung mit Bezug auf die Periode der
Signale mit einer guten Genauigkeit ausgeführt werden,
selbst wenn die Wellenlänge einer Verschiebung unterliegt.
Um gleichartige Änderungskomponenten in diesen vier Signalen
enthalten sind, ist es möglich, diese Änderungskomponenten
zu löschen, indem der Unterschied zwischen den zwei
Signalen, die einen Phasenunterschied von 180° haben, ermittelt
wird. Als Ergebnis dessen werden die Gleichstrompegel
V R und V S dieser Differenzsignale R und S nicht durch die
Änderung in der Wellenlänge beeinflußt, weshalb sie konstant
werden. Demzufolge wird eine hohe Genauigkeit gewährleistet,
wenn diese Signale für die Verarbeitung verwendet
werden.
Kommen lediglich zwei Fühler zur Anwendung und ist es
erwünscht, Impulse derselben Teilung zu erhalten wie im
Fall der Verwendung von vier Fühlern, indem zwei Arten
von Signalen mit Phasen von 0° und 90° elektrisch verarbeitet
werden, dann wird die Genauigkeit in der elektrischen
Teilung der Signale als Ergebnis irgendeiner
Verschiebung der Wellenlänge verschlechtert.
Wenn Licht auf ein Gitter bei einer Anordnung projiziert
wird, wie sie in den JP-Patent-OS Nr. 58-1 91 906 und
Nr. 58-1 91 907 beschrieben sind, dann ändert sich dessen
Beugungsrichtung, d. h. der Winkel, mit einer Änderung in der
Wellenlänge des Lichts. Um derartigen charakteristischen
Eigenschaften zu entsprechen, werden Winkelspiegel (Corner-
Cube) verwendet. Der Winkelspiegel ist ein derart ausgebildetes
Prisma, daß ein Winkel von 90° zwischen mehrfachen
Flächen bestimmt wird, so daß das reflektierte Licht in der
gleichen Richtung wie das einfallende Licht zurückgeht.
Für einen Winkelspiegel ist eine hohe Bearbeitungsgenauigkeit
erforderlich, so daß er teuer ist. Ferner hat er eine
große Abmessung.
Bei der Vorrichtung von Fig. 1 sind zusätzlich zum bewegbaren
Gitter GS Beugungsgittereinrichtungen (stationäre
Gitter GF 1 und GF 2) auch auf der Seite des Entfernungsmeß
kopfteile MH vorgehesen, so daß die Beugungslichtstrahlen
der positiven und negativen Ordnung n von den stationären
Gittern wieder durch das bewegbare Gitter gebeugt werden,
wobei die zuletzt gebeugten Lichtstrahlen längs desselben
Weges zum Fühler gehen. Demzufolge kann ohne die Verwendung
von irgendeinem oben beschriebenen Winkelspiegel Interferenzlicht,
dessen Helligkeit sich mit der Bewegung des bewegbaren
Gitters ändert, erhalten werden, wenn die Wellenlänge
einer Änderung unterliegt. Das bedeutet, daß das beschriebene
Gitterinterferenz-Entfernungsmeßgerät eine gute Stabilität
gegenüber der Änderung in der Wellenlänge ohne die
Verwendung von irgendeinem Winkelspiegel hat. Deshalb können
die Kosten wie auch die Größenabmessungen der Vorrichtung
vermindert werden. Ferner erleichtert die beschriebene Konstruktion
die Zusammenfassung oder Integration der Bauteile
zu einer kompakten Vorrichtung, worauf noch eingegangen
werden wird.
Wenn eine Gitterinterferometer-Entfernungsmeßvorrichtung
durch eine Lichtquelle, einen Halbspiegel, Winkelspiegel,
Polarisationsplatten, Fühler usw., die dreidimensional zusammen
gesetzt sind, gebildet wird, dann besteht einen Möglichkeit
einer Verschlechterung der Genauigkeit in der Entfernungs
messung auf Grund der Einbeziehung eines Fehlers in
das Interferenzsignal als Folge einer mechanischen Änderung
zwischen den optischen Bauteilen, einer Temperaturänderung
oder einer unregelmäßigen Luftströmung. Die getrennte Anordnung
der Lichtquelle, des Ermittlungssystems usw. führt auch
zu einer Vergrößerung im Volumen, was Raum beansprucht. Es
ist schwierig, die Konstruktion kompakt auszubilden. Darüber
hinaus wird wegen der räumlichen Entfernung vom Ermittlungs
system zur Verarbeitungsschaltung leicht ein Rauschen
in das Signal gemischt, was eine Verschlechterung in der
Meßgenauigkeit hervorruft.
Die Fig. 6 zeigt ein Beispiel, wobei die wesentlichen Teile
eines Beugungsgitter-Entfernungsmeßgeräts als ein "integrierter
Kreis" ausgebildet sind. Bei diesem Beispiel sind
ein Teil, der einem optischen System des Entfernungsmeßkopf
teils MH des Entfernungsmeßgeräts von Fig. 1 entspricht,
und ein elektrisches Signalverarbeitungssystem, das dazu
dient, Impulse in Übereinstimmung mit der Helligkeit/Dunkelheit
des Interferenzlichts zu erzeugen, an einer Basisplatte
aus GaAs ausgebildet.
Wie die Fig. 6 zeigt, ist eine dielektrische Wellenleiter
schicht WG an dem GaAs-Basisteil SB ausgestaltet, wobei die
Lichtwelle sich längs eines vorgegebenen optischen Weges
fortpflanzt.
Die Lichtquelle LD kann an der GaAs-Basisplatte SB
beispielsweise unter Anwendung eines molekularen Strahl-
Epitaxieverfahrens ausgebildet werden. Ein Objektiv-
und Strahlenteilerteil LS, das in der Wellenleiterschicht
WG ausgebildet ist, dient dazu, ein divergierendes Licht
von der Lichtquelle LD in ein paralleles Licht umzusetzen
und dann dieses längs zweier Richtungen zu teilen. Gitterkoppler
GC 1 und GC 2 wirken jeweils dahingehend, die durch
den Dünnschichtwellenleiter WG fortgepflanzte Lichtwelle
unter einem bestimmten Winkel nach außen zum äußeren Raum
hin auszusenden.
Das Bezugsbeugungsgitter GS entspricht dem bewegbaren Gitter
GS des Entfernungsmeßgeräts der Ausführungsform von Fig. 1
und wirkt dahingehend, die Lichtwellen von den Gitterkopplern
GC 1 und GC 2 zur selben Richtung hin zu beugen. Ein
Photodetektor PD ist dazu vorgesehen, die Interferenzlicht
intensität des Beugungslichts vom Bezugsbeugungsgitter GS
zu ermitteln.
Im folgenden wird die Arbeitsweise beschrieben.
Die Lichtwelle von der Lichtquelle LD wird durch den Wellen
leiter WG fortgepflanzt, und mit Hilfe des Objektiv- und
Strahlenteilerteils LS wird es in zwei parallele Lichtstrahlen
LO 1 und LO 2 umgesetzt, die durch den Wellenleiter WG
in unterschiedlichen Richtungen ausgebreitet werden. Jeder
der Lichtstrahlen LO 1 und LO 2 wird innerhalb des Wellenleiters
WG durch einen zugeordneten Spiegel MR 1 und MR 2 umgelenkt,
so daß er parallel zur Längsrichtung des Bezugsgitters
WS weitergeht. Die von den Spiegeln MR 1 und MR 2 reflektierten
Lichtstrahlen fallen auf die Gitterkoppler GC 1 und
GC 2. Jeder dieser Gitterkoppler wirkt dahingehend, die Lichtwelle
die durch den Wellenleiter WG fortgepflanzt worden ist,
von der Oberfläche der Basisplatte zur Außenseite hin
unter einem vorbestimmten Winkel und durch die Wellenleiter
oberfläche auszusenden. Dieser Winkel ist auf die Teilung
oder den regelmäßigen Abstand des Bezugsgitters GS und die
Wellenlänge des Lichts bezogen. Wenn ein Bezugsgitter mit
einer Teilung p = 1,6 µm verwendet wird und wenn die Wellenlänge
λ = 0,83 µm ist, dann ist der Emissionswinkel 58,8°.
Die beiden Lichtwellen von den Gitterkopplern GC 1 und GC 2
werden durch das Bezugsbeugungsgitter GS rechtwinklig gebeugt
und fallen auf den Photodetektor PD, der die Interferenz
intensität der beiden gebeugten Lichtstrahlen photoelektrisch
umwandelt.
Im folgenden wird das Prinzip der Arbeitsweise als ein
Entfernungsmeßgerät erläutert.
Die zum Äußeren hin durch die Gitterkoppler GC 1 und GC 2
ausgesandten Lichtwellen werden, wie gesagt wurde, durch
das Bezugsgitter GS gebeugt. Die Intensitätsverteilung des
hierbei erzeugten Beugungslichts kann durch die folgende
Gleichung ausgedrückt werden:
I = I₀ + I₁ cos [2π · X/{p/(m - n}]
worin ist:
X:der Wert der relativen Änderung zwischen der Basis
platte und dem Bezugsgitter,p:die Teilung oder der regelmäßige Abstand des Bezugs
beugungsgitters,m:die Beugungsordnung des Lichts vom Gitterkoppler GC 1
durch das Beugungsgitter,n:die Beugungsordnung des Lichts vom Gitterkoppler GC 2
durch das Beugungsgitter,I₀:der Gleichstrompegel,
I₁:die Signalamplitude.
Es sei angenommen, daß m = +1, n= -1 und p = 1,6 µm sind, dann
kann die Intensitätsverteilung I bestimmt werden durch:
I = I₀ + I₁ [cos 2π(X/0,8)]
Hieraus ist zu erkennen, daß jedesmal, wenn das Bezugsgitter
GS sich um eine Teilung von 0,1 µm bewegt, ein Sinus
wellensignal mit einer Periode erzeugt wird. Der Detektor
PD zählt die Perioden dieser Sinuswellensignale, so daß die
Größe der Bewegung des Bezugsgitters GS gemessen werden kann.
Das Entfernungsmeßgerät der Gitterinterferenz-Bauart der
vorliegenden Erfindung hat eine Lichtquelle, optische Glieder
und einen Ermittlungssystem-Verarbeitungskreis, die integriert
auf derselben Basisplatte zusammengefaßt sind.
Demzufolge kann die Größe vermindert und das Rauschen unterdrückt
werden, womit folglich eine höhere Genauigkeit zu
erlangen ist.
Im folgenden wird die Einrichtung zur Ermittlung der
Bewegungsrichtung des Bezugsgitters GS erläutert.
Um die Bewegungsrichtung zu ermitteln, ist es notwendig,
zwei Signale zu erhalten, deren Phasen relativ um einen
einem Viertel der Periode entsprechenden Wert verschoben
sind.
Ein spezielles Beispiel ist in Fig. 7 dargestellt, wobei
das Bezugsgitter GS durch zwei Gitterreihen GL 1 und GL 2
gebildet ist, deren Phasen relativ mit Bezug zur Bewegungs
richtung des Bezugsgitters GS um einen Wert, der
¼ × (m-n) der Gitterteilung entspricht, verschoben
sind. Zusätzlich sind an der Basisplatte SB zwei lichtelektrische
Fühler PD 1 und PD 2 ausgebildet, die den beiden Gitter
reihen zugeordnet sind.
Die Beugungslichtstrahlen von den Gitterreihen GL 1 und GL 2
werden jeweils von einem der Fühler PD 1 und PD 2, die räumlich
getrennt sind, empfangen. Dadurch sind Signale, deren
Phasen relativ um ¼ der Periode verschoben sind, wie in
Fig. 8 gezeigt ist, zu erhalten.
Die Fig. 9 zeigt ein Beispiel, wobei ein Entfernungsmeßgerät
der Gitterinterferenz-Bauart als eine optische
Überlagerungs-(Heterodyn-)Meßvorrichtung vorgesehen ist.
Bei diesem Beispiel ist eine Frequenzverschiebeeinrichtung
FS, die beispielsweise eine akustische Oberflächenwellen
vorrichtung umfaßt, in der Mitte des Strahlenganges angeordnet,
so daß eine Lichtwelle, deren Frequenz mit Bezug
zur Frequenz f₀ des Ausgangslichts von der Lichtquelle LD
um einen Wert Δ f, der der Schwingfrequenz eines Oszillators
OSC entspricht, verschoben. Lichtwellen der Frequenz
f₀ und der Frequenz f₀ + Δ f werden auf Gitterkoppler GC 1
und GC 2 projiziert und über diese Koppler auf ein Bezugsgitter
GS, das eine einzelne Gitterreihe hat, geworfen.
Das durch das Bezugsgitter GS gebeugte Licht wird von einem
Photodetektor PD empfangen.
Das Signal, das unmittelbar durch den Photodetektor PD erhalten
werden kann, kann ausgedrückt werden, wie folgt:
I = I₀ + I₁ cos[2 f Δ ft - 2π X/{p/(m - n)}]
Hieraus ist zu sehen, daß durch Ermitteln einer Phasendifferenz
mit Bezug zu einem Ausgangssignal vom Oszillator
OSC unter Verwendung eines Phasenermittlungskreises PSD
die Größe der Bewegung des Bezugsgitters GS und dessen Bewegungs
richtung wie bei der vorherigen Ausführungsform ermittelt
werden kann.
Eines der Merkmale der Vorrichtung gemäß der in Rede stehenden
Ausführungsform liegt darin, daß keine Notwendigkeit
zur Verwendung eines speziellen Gitters (s. beispiels
weise Fig. 7) für die Unterscheidung der Bewegungs
richtung besteht. Zusätzlich ist in einer kurzen Zeitspanne
die Mittelwertbildung mit Bezug zur Zeit zu erlangen.
Deshalb kann die Größe oder der Wert der Bewegung sehr genau
ermittelt werden.
Bei den Entfernungsmeßvorrichtungen der Ausführungsformen
von Fig. 6 und 9, die als integrierte Kreise ausgebildet
sind, wird als Basisplatte SB ein GaAs-Bauteil verwendet,
jedoch kann das Basisteil auch aus Si gefertigt werden.
In diesem Fall kann die Lichtquelle LD außerhalb vorgesehen
werden.
Wie beschrieben wurde, wird durch die integrierte Ausbildung
eines optischen Systems (ausschließlich eines Bezugsgitters)
und eines elektrischen Signalverarbeitungssystems
auf einem einzigen Basisteil in einer Entfernungsmeßvorrichtung
der Gitterinterferenz-Bauart die Notwendigkeit
der Justierung der Baugruppe beseitigt und kann die Vorrichtung
gegen eine Störung stabil ausgebildet werden. Ferner
können die Größe und das Gewicht der Vorrichtung vermindert
werden, während eine Messung mit hoher Präzision
gewährleistet wird.
Üblicherweise enthält ein optisches System in einem Entfernungs
meßgerät der Gitterinterferenz-Bauart Spiegel oder
Winkelspiegel (Corner-Cubes). Insbesondere werden Spiegel
od. dgl. in einem optischen System zur Projektion von Licht
auf ein Gitter verwendet. Das führt jedoch zu einer Schwierigkeit
in der Justierung der Anordnung oder Baugruppe und
in einer kompakten Ausbildung der Vorrichtung.
Die Fig. 10 zeigt ein Beispiel, wobei ein Doppelbrechungs
prisma, wie ein Wollaston-Prisma, verwendet wird, um Licht
auf ein relativ sich bewegendes Gitter zu projizieren, so
daß ein optisches System, um das Licht auf das Gitter zu
richten, in seinem Aufbau vereinfacht wird.
Gemäß Fig. 10 wird ein von einer Lichtquelle LD, z. B. einem
Halbleiterlaser od. dgl., ausgesandtes Licht in eine ebene
Welle mit Hilfe eines Kollimatorobjektivs CL umgewandelt,
worauf die auf diese Weise gebildete ebene Welle rechtwinklig
auf ein Wollaston-Prisma WP einfällt. Das Wollaston-
Prisma wird durch Verkitten von zwei Gliedern, z. B. Kalzit
gliedern, aus einem doppeltbrechenden Material, die wie
ein Prisma ausgestaltet sind, gebildet. Das auf das Wollaston-
Prisma einfallende Licht wird in zwei polarisierte,
zueinander rechtwinklige Lichtkomponenten zerlegt, die beide
abgeleitet werden können, wie die Fig. 11 zeigt. Das
auf das Wollaston-Prisma WP zu projizierende Licht kann
ein linear polarisiertes Licht, das eine um 45° mit Bezug
zu einem p-polarisierten Licht LOp und einem s-polarisierten
Licht LOs geneigte Polarisationsrichtung hat, oder
alternativ ein zirkular polarisiertes Licht, das durch
Einfügen eines λ/4-Plättchens zwischen das Kollimatorobjektiv
CL und das Wollaston-Prisma WP erzeugt wird, sein.
In Fig. 11 sind die vom Wollaston-Prisma WP austretenden
Lichtstrahlen solche, daß ihre p-polarisierten Lichtkomponenten
und s-polarisierten Lichtkomponenten den gleichen
Einfallswinkel mit Bezug zum Gitter GS haben, wobei jedoch
die Einfallswinkel dieser polarisierten Lichtkomponenten
entgegengesetzte Vorzeichen haben. Wenn diese Lichtstrahlen
durch ein λ/4-Plättchen QW treten, werden das p- und
das s-polarisierte Licht in zirkular polarisiertes Licht
mit entgegengesetzten Drehrichtungen umgewandelt. Diese
zirkular polarisierten Lichtstrahlen können räumlich miteinander
interferieren. Das interferierende Licht wird durch
einen Strahlenteiler BS in zwei Strahlen geteilt, die auf
zwei Photodetektoren PD 1 bzw. PD 2, vor denen jeweils
Polarisationsplatten PP 1 und PP 2 angeordnet sind, gerichtet
werden. Durch diesen Vorgang werden Signalausgänge,
wie sie in Fig. 3 dargestellt sind, erhalten, und durch
die Ausführung der elektrischen Verarbeitung, die mit Bezug
auf die Vorrichtung von Fig. 1 beschrieben wurde, werden
Signale des Entfernungsmeßgeräts der Gitterinterferenz-Bauart
erlangt. Die Polarisationsachsen der Polarisationsplatten
PP 1 und PP 2 sind um 45° mit Bezug zueinander verschoben.
Bei der Vorrichtung von Fig. 10 können als das Doppelbrechungs
prisma ein Rochon-Prisma, ein Glan-Thompson-Prisma
od. dgl. verwendet werden. Wenn diese Prismen zur Anwendung
kommen, so weicht jedoch die Beziehung zwischen dem
verwendeten Prisma und dem darauf einfallenden Licht von
der Beziehung (rechtwinkliger Einfall), die bei Verwendung
eines Wollaston-Prismas festgesetzt wird, ab.
Die Fig. 12 zeigt ein Beispiel einer Entfernungsmeßvorrichtung
der Gitterinterferenz-Bauart, wobei Winkelspiegel
(Corner-Cubes) verwendet werden, um die Strahlengänge abzulenken
oder zu brechen, so daß jedes Beugungslicht zweimal
hin- und hergeht, wodurch die Zahl der Lichtteilungen
durch ein Entfernungsmeß-Bezugsgitter GS auf 8 erhöht wird
mit dem Ergebnis einer gesteigerten Auflösung.
Bei einem Entfernungsmeßgerät der in den eingangs erwähnten
JP-Patent-OS Nr. 58-1 91 906 und Nr. 58-1 91 907
beispielsweise offenbarten Bauart ändert sich die Lichtmenge
an einem Lichtfühler mit Intervallen, die ¼ der Teilung
eines verwendeten Gitters entsprechen, wie durch die
Signale R und S, die in den Teilen (a) und (b) von Fig. 3
gezeigt sind, dargestellt ist. Bei dem in diesen JP-Patent
anmeldungen offenbarten Entfernungsmeßgerät der Gitterinter
ferenz-Bauart wird die Periode eines solchen Lichtmengen
erfassungssignals (R oder S) elektrisch geteilt, um
die Anzahl der Impulssignale pro einer Teilung des Gitters
zu erhöhen und dadurch die Auflösung zu verbessern. Wenn
die Teilung durch eine elektrische Verarbeitung erfolgt,
so besteht jedoch die Möglichkeit, daß sich der Impulsabstand
mit der Änderung in der Amplitude eines Signals oder
im Gleichstrompegel ändert. Wenn das eintritt, wird die
Genauigkeit verschlechtert.
Bei der in Rede stehenden Ausführungsform ist im Vergleich
dazu das optische System des Meßgeräts so angeordnet, daß
die Anzahl der Lichtbeugungen am Entfernungsmeß-Bezugs
gitter GS erhöht wird, was zum Ergebnis hat, daß die Licht
menge an einem Lichtfühler sich um viele Male (z. B. achtmal)
während einer Zeitperiode ändert, in welcher das Bezugs
gitter GS sich um einen einer Teilung von diesem entsprechenden
Wert bewegt. Bei dieser Anordnung ändert sich
die Lichtmenge am Lichtfühler in sehr kurzen Intervallen,
wie beispielsweise einem Achtel der Teilung des Bezugsgitters.
Dadurch wird durch die optische Anordnung selbst die
Anzahl der Teilungen mit Bezug auf das Gitter (Gitterteilung)
erhöht.
In Fig. 12 wird das von einer Lichtquelle LD, die beispielsweise
einen Halbleiter umfaßt, des optischen Entfernungssystems
der Gitterinterferenz-Bauart ausgehende
Licht in ein ebenwelliges Licht LO durch ein Kollimator
objektiv CL umgewandelt und fällt dann auf einen Punkt P 1
am Entfernungsmeß-Bezugsgitter GS, das in einer relativ
bewegbaren Beziehung zum optischen Entfernungsmeßsystem
steht. Das auf das Bezugsgitter GS einfallende Licht wird
durch dieses gebeugt. Beugungslichtstrahlen L 11 und L 12
von positiver und negativer Ordnung n, die dadurch erzeugt
werden, treten jeweils in die Winkelspiegel CC 1 und CC 2
ein, durch die sie reflektiert werden, und jedes reflektierte
Licht pflanzt sich in einer zu seinem ankommenden Weg
parallelen und umgekehrten Richtung fort. Die von den Winkel
spiegeln CC 1 und CC 2 reflektierten Lichtstrahlen fallen wieder
auf das Bezugsgitter GS an den jeweiligen Punkten P 2 sowie
P 3 und werden erneut durch das Gitter GS gebeugt. Diese
gebeugten Lichtstrahlen L 21 und L 22 treten durch Phasenplatten
FP 1 und FP 2, so daß der Polarisationszustand eines jeden
Lichts geändert wird. Nach der Reflexion durch die Winkelspiegel
CC 3 und CC 4 gelangen die Lichtstrahlen L 21 und L 22
zurück zum Gitter GS an den Punkten P 4 sowie P 5 und werden
erneut durch das Gitter GS gebeugt. Diese gebeugten Lichtstrahlen
L 31 und L 32 werden wiederum durch die Winkelspiegel CC 1
bzw. CC 2 gebeugt, kehren zurück zum Gitter GS und fallen am
selben Punkt P 6 ein, an dem sie wiederum gebeugt werden (vierte
Beugung). Diese vierten Beugungslichtstrahlen L 41 und L 42 inter
ferieren miteinander. Das interferierende Licht gelangt über
einen Spiegel MR zu einem Strahlenteiler HM, wo eine Trennung
in zwei Lichtstrahlen erfolgt, die durch Polarisationsplatten
PP 1 bzw. PP 2 zu Fühlern PD 1 bzw. PD 2 gerichtet werden.
Die Phasenplatten FP 1 und FP 2 können beispielsweise λ/4-
Plättchen umfassen und sind so festgesetzt, daß ihre starken
Achsen mit Winkeln von +45° und -45° mit Bezug zu den linear
polarisierten Komponenten der Laserstrahlen L 21 und L 22 geneigt
sind. Auch können die Polarisationsplatten PP 1 und PP 2
so festgelegt werden, daß sie jeweils Winkel mit 0° und 45°
haben. Mit der oben beschriebenen Anordnung sind solche Signale
mit Intensitäten, welche sich mit einem Phasenunterschied
von 90° unterscheiden, an den beiden Fühlern PD 1 und PD 2 zu
erhalten. Ferner werden, wenn die Teilung des Entfernungsmeß-
Bezugsgitters 2,4 µm beträgt und wenn die Beugungsordnung
an jedem der verschiedenen Punkte und bei jeden Zeiten
"± 1. Ordnung" ist, an den Fühlern PD 1 und PD 2 solche
Signale erzeugt, die einen 0,3 µm-Abstand haben, der
⅛ der Teilung des Gitters beträgt. Durch Teilung des
auf diese Weise bestimmten Impulsintervalls in Übereinstimmung
mit dem elektrischen Teilungsverfahren, das beispielsweise
unter Bezugnahme auf die Fig. 1 beschrieben wurde,
sind Impulssignale in einer Anzahl, die zweimal größer ist
als die oben beschriebene Impulszahl, zu erhalten, d. h.,
es können 32 Impulse pro einer Teilung mit einem Abstand
von 0,075 µm erhalten werden.
Erfindungsgemäß wird eine Vorrichtung zur Messung einer
Relativ-Bewegungstrecke von zwei relativ sich bewegenden
Objekten offenbart. Die Vorrichtung umfaßt ein erstes Beugungs
gitter, das am einen der beiden Objekte vorgesehen
und längs der relativen Bewegungsrichtung der zwei Objekte
angeordnet ist, und ein am anderen Objekt vorgesehenes Meßteil,
das ein zweites Beugungsgitter, eine Lichtquelle und
ein Photodetektorsystem enthält. Die Lichtquelle liefert
Lichtstrahlen, die auf zwei Punkte am zweiten Beugungsgitter
projiziert werden, so daß sie von den zwei Punkten in
Form von Beugungslicht mit unterschiedlichen Beugungsordnungen
austreten. Die Beugungslichtstrahlen werden auf denselben
Punkt am ersten Beugungsgitter gerichtet und durch dieses
erste Beugungsgitter erneut gebeugt, so daß sie in der
gleichen Richtung ausgesandt werden. Das Photodetektorsystem
ist imstande, eine Änderung in der Lichtintensität,
die durch die Interferenz der beiden vom ersten Beugungsgitter
austretenden Lichtstrahlen erzeugt wird, zu ermitteln.
Die Vorrichtung umfaßt des weiteren ein Ermittlungssystem,
das die Relativ-Bewegungsstrecke der beiden Objekte
auf der Basis der Ermittlung durch das Photodetektorsystem
feststellt.
Obwohl die Erfindung anhand ihrer bevorzugten Ausführungs
formen wörtlich und bildlich erläutert wurde, so ist sie
auf die dargelegten Einzelheiten keineswegs beschränkt,
da dem Fachmann bei Kenntnis der vermittelten Lehre
Abwandlungen und Abänderungen der verschiedensten Art an die
Hand gegeben worden sind, die jedoch als in den Rahmen der
Erfindung fallend anzusehen sind.