DE3811791C2 - Mikroskop - Google Patents
MikroskopInfo
- Publication number
- DE3811791C2 DE3811791C2 DE3811791A DE3811791A DE3811791C2 DE 3811791 C2 DE3811791 C2 DE 3811791C2 DE 3811791 A DE3811791 A DE 3811791A DE 3811791 A DE3811791 A DE 3811791A DE 3811791 C2 DE3811791 C2 DE 3811791C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lamp
- circuit
- diagnosis
- microscope
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 83
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 40
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 24
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 7
- 238000011022 operating instruction Methods 0.000 claims 1
- 210000002105 tongue Anatomy 0.000 claims 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 31
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 3
- 238000001356 surgical procedure Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- NQLVQOSNDJXLKG-UHFFFAOYSA-N prosulfocarb Chemical compound CCCN(CCC)C(=O)SCC1=CC=CC=C1 NQLVQOSNDJXLKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000011477 surgical intervention Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0012—Surgical microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/082—Condensers for incident illumination only
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/18—Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
- G02B21/20—Binocular arrangements
- G02B21/22—Stereoscopic arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Surgery (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, mit einer Beleuch
tungseinrichtung zum Beleuchten des zu untersuchenden
Objektes und einer motorisch angetriebenen Vergrößerungs-
und Fokussiereinrichtung, sowie einer Schaltungsanordnung
zur Einstellung von Betriebsvorgaben und zur Ermittlung
und Anzeige von Funktionswerten.
Ein derartiges Mikroskop ist durch die US 4,643,540
bekannt. Bei diesem Mikroskop können durch einen Mikro
prozessor elektrische und optische Vorgaben eingestellt
werden. Hierdurch wird bei einem Wechsel des zu beobach
tenden Objektes eine automatische Anpassung der Einstel
lung des Mikroskops ermöglicht, was die Handhabung des
Mikroskops erleichtert und Fehlbedienungen verhindert. Von
Nachteil bei diesem Mikroskop ist, daß keine Fehlerdiag
noseeinrichtungen zur automatischen Überprüfung der Funk
tionsfähigkeit des Mikroskops vorgesehen sind. Störungen
von Funktionen des Mikroskops werden daher erst bei dessen
Betrieb bemerkt, was insbesondere bei einem Einsatz als
Operationsmikroskop als unangenehm empfunden wird.
In der DE-OS 34 10 201 wird ein Mikroskop beschrieben, bei
dem die Fokussierung einfach und schnell und der Wechsel
von Objektiven und Proben sicher durchführbar sein soll.
Hierzu ist eine Schrittmotorregelung für die Revolver
drehung und die Tischhöhenverstellung des Mikroskops vor
gesehen. Eine Fehlerdiagnoseschaltung zur Überprüfung der
Mikroskopfunktionen ist ebenfalls nicht vorgesehen.
Die Ausbildung einer Korrekturschaltung ist z. B. für einen Halbleiterspeicher durch die DE 34 12 677 A1 be
kannt. Durch diese Schaltung werden falsch gesetzte Bits
invertiert. Die Selbstdiagnoseschaltung ist auf dem
gleichen Halbleiterchip befestigt wie die Speicheranord
nung selbst. Ein weiteres Diagnosegerät ist in der
DE 32 33 018 A1 beschrieben, das zur Überprüfung der Funktions
fähigkeit bzw. des Schädigungszustandes von Elektrogeräten
dient. Bei diesem Diagnosegerät, das einen Mikroprozessor
aufweist, laufen Testroutinen ab. Es werden über mitein
ander verschaltete Meßfühler sowohl die elektrotechnischen
Funktionsparameter wie auch weitere für die Funktion
charakteristische-physikalische Größen gleichzeitig ge
messen.
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, das Mikroskop der
eingangs genannten Art so zu verbessern, daß durch eine
geräteeigene Fehlerdiagnose der Betrieb des Mikroskopes
sicherer gestaltet werden kann.
Erfindungsgemäß erfolgt die Lösung der Aufgabe durch die
kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1. Vorteilhafte
Ausgestaltungen der Erfindung werden in den abhängigen
Ansprüchen beschrieben. Durch die erfindungsgemäße Aus
bildung des Mikroskops ist es möglich, frühzeitig eigene
Fehlerdiagnosen durchführen und Fehler an der Beleuch
tungseinrichtung und der Vergrößerungs- und Fokussier
einrichtung ermitteln zu können. Hierdurch wird die Be
triebszuverlässigkeit des Mikroskops verbessert und die
Wartung vereinfacht. Da fehlerhafte Bauelemente einfach
ermittelt werden können, sind eventuell erforderliche
Reparaturen sicher und schnell durchführbar. Bei einem
Einsatz als Operationsmikroskop besteht der große Vorteil,
daß die Sicherheit für den Patienten während eines chirur
gischen Eingriffs erhöht wird.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von in den Zeich
nungen dargestellten bevorzugten Ausgestaltungen beschrie
ben. Es zeigt
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Mikroskopes,
Fig. 2 ein Blockdiagramm der Fehlerdiagnoseschaltung
für eine elektrische Vergrößerungseinrichtung
und eine elektrische Fokussiereinrichtung,
Fig. 3 ein Blockdiagramm einer Fehlerdiagnoseschaltung
für eine Beleuchtungseinrichtung,
Fig. 4 tabellarisch anhand eines Beispiels die ge
speicherten Logikzustände einer Auswerteschal
tung für die elektrische Vergrößerungs- (oder
Fokussier-)einrichtung,
Fig. 5 tabellarisch anhand eines Beispiels die ge
speicherten Logikzustände einer Auswerteschal
tung für die Beleuchtungseinrichtung,
Fig. 6 ein Beispiel einer Anzeigetafel,
Fig. 7 ein Schaltschema einer Beleuchtungseinrichtung
mit einer Fehlerdiagnoseschaltung,
Fig. 8 bis 10 Flußdiagramme zur Erstdiagnose mittels der
Fehlerdiagnoseschaltung in der Beleuchtungs einrichtung,
Fehlerdiagnoseschaltung in der Beleuchtungs einrichtung,
Fig. 11 ein Flußdiagramm zur Betriebsdiagnose mittels
der Fehlerdiagnoseschaltung in der Beleuchtungs
einrichtung,
Fig. 12 ein Zeitdiagramm der Erstdiagnose mittels der
Fehlerdiagnoseschaltung in der Beleuchtungs
einrichtung,
Fig. 13 ein Zeitdiagramm der Betriebsdiagnose mittels
der Fehlerdiagnoseschaltung in der Beleuchtungs
einrichtung und
Fig. 14 ein weiteres Blockdiagramm einer Fehlerdiagnose
schaltung.
Fig. 1 zeigt ein als Operationsmikroskop ausgebildetes
Mikroskop 40. Das Mikroskop 40 besteht aus einem Fuß 41
für eine elektrische Vorrichtung, einem senkrecht auf dem
Fuß 41 angeordneten Ständer 43, einem am oberen Ende des
Ständers 43 angeordneten Lampengehäuse 44, einem an dem
Ständer 43 angebrachten Ausleger 46, einer am freien Ende
des Auslegers 46 über eine elektrische Fokussiereinrich
tung 47 angeordneten optischen Einheit 48, einem Licht
leiter 45 zur Lichtversorgung eines nicht näher darge
stellten und in der optischen Einheit angeordneten Be
leuchtungssystems mit Licht aus dem Lampengehäuse 44 sowie
einem Fußschalter 42 zur Betätigung einer elektrischen
Vergrößerungseinrichtung 49, die in der elektrischen Fo
kussiereinrichtung 47 und der optischen Einheit 48 ange
ordnet ist. Nicht näher dargestellte Schaltungen sind im
Fuß 41 für die elektrische Vorrichtung angeordnet.
Die Vergrößerungseinrichtung 49 und die Fokussiereinrich
tung 47 werden durch die Betätigung des Fußschalters 42
betrieben und das zu betrachtende Objekt 50 wird während
des chirurgischen Eingriffs mittels einer Beleuchtungs
einrichtung beleuchtet.
Für den Fall, daß die elektrische Vergrößerungseinrichtung
49 oder die elektrische Fokussiereinrichtung 47 nicht über
den Fußschalter 42 zu betätigen ist, können ein oder
mehrere Fehler in der elektrischen Anlage vorliegen, so
z. B.
- i) ein Fehler im Fußschalter 42,
- ii) ein Fehler in der Schaltung zur elektrischen Ver größerungseinrichtung 49 oder der elektrischen Fo kussiereinrichtung, die in dem Fuß 41 für die elek trische Vorrichtung angeordnet sind und
- iii) ein Fehler in der elektrischen Vergrößerungseinrich tung 49 oder der elektrischen Fokussiereinrichtung 47.
Fig. 2 zeigt ein Beispiel einer Fehlerdiagnoseschaltung
für die elektrische Vergrößerungseinrichtung 49 und die
elektrische Fokussiereinrichtung 47. Die Fehlerdiagnose
schaltung weist eine Prüfschaltung 1 für die Stromquelle
auf, die das Signal "normal" ausgibt, wenn der hier nicht
dargestellte Schalter für die Stromquelle eingeschaltet
ist und die an der Kontrollschaltung für die elektrische
Vergrößerung anliegende Spannung sich innerhalb voreinge
stellter Grenzen befindet und die das Signal "abnormal"
ausgibt, wenn die Spannung die Grenzwerte überschreitet.
Die Prüfschaltung 2 gibt bei Betätigung des Fußschalters
42 und sich innerhalb voreingestellter Grenzen befindli
cher Spannung das Signal "normal" und außerhalb dieser
Grenzen das Signal "abnormal" aus. Die Prüfschaltung 3 zur
Prüfung der bei Betätigung des Fußschalters 42 am An
triebsmotor der Vergrößerungseinrichtung 49 anliegenden
Spannung gibt bei innerhalb voreingestellter Grenzen be
findlicher Spannung zwischen den Anschlüssen des der Ver
größerungseinrichtung 49 zugeordneten Antriebsmotors das
Signal "normal" aus und außerhalb der Grenzen das Signal
"abnormal". Die Prüfschaltung 4 zur Prüfung der dem Motor
bei Betätigung des Fußschalters 42 zuzuführenden Strom
stärke gibt das Signal "normal" aus, wenn sich die Strom
stärke innerhalb voreingestellter Grenzen befindet und
außerhalb dieser Grenzen das Signal "abnormal". Ferner ist
eine Auswerteschaltung 5 für die elektrische Ver
größerungseinrichtung 49 vorhanden, die, wie unten näher
dargestellt, entsprechend der über die Prüfschaltungen 1,
2, 3, 4 erhaltenen Eingangsdaten logische Operationen
durchführt, deren Ergebnisse der Anzeigeschaltung 6 zuge
führt werden. Die Fehlerdiagnoseschaltung für die elek
trische Fokussiereinrichtung 47 ist wie die Fehlerdiag
noseschaltung für die elektrische Vergrößerungseinrichtung
49 ausgebildet.
Fig. 3 zeigt ein Beispiel einer Fehlerdiagnoseschaltung
für die Beleuchtungseinrichtung. Diese Fehlerdiagnose
schaltung weist eine Prüfschaltung 7 für eine Stromquelle
auf, die nach Einschalten der Stromquelle und bei sich
innerhalb voreingestellter Grenzen einer an dem Stromkreis
für die Lampe anliegenden Spannung das Signal "normal" und
außerhalb dieser Grenzen das Signal "abnormal" ausgibt.
Die weitere Prüfschaltung 8 dient zur Prüfung der an der
Lampe anliegenden Spannung und gibt das Signal "normal"
aus, wenn sich die an den Lampenanschlüssen anliegende
Spannung innerhalb voreingestellter Grenzen befindet und
das Signal "abnormal", wenn die Spannung außerhalb der
Grenzen liegt. Die Prüfschaltung 9 dient zur Prüfung der
der Lampe zuzuführenden Stromstärke und gibt das Signal
"normal" aus, wenn sich die Stromstärke innerhalb vorein
gestellter Grenzen befindet und das Signal "abnormal",
wenn die Stromstärke außerhalb dieser Grenzen liegt. Die
Auswerteschaltung 10 für die Beleuchtungseinrichtung
führt, wie unten näher dargestellt, entsprechend der über
die Prüfschaltungen 7, 8 und 9 erhaltenen Eingangsdaten
logische Operationen durch, deren Ergebnisse der Anzeige
schaltung 11 zugeführt werden. Anstelle der Ausgabesignale
"normal" und "abnormal" bei jeder der oben dargestellten
Schaltungen können im Falle logischer Verknüpfungen "high"
und "low" treten, bzw. bei Verwendung einer LED in einem
Fotokoppler die Signale "on" und "off". Eine Beschreibung
für diese an sich bekannten Schaltungen wird hier nicht
vorgenommen. Ferner können die oben genannten Auswerte
schaltungen 5, 10 entweder als logischer Schaltkreis oder
als CPU-Schaltung mit angepaßter Software und die An
zeigeschaltungen 6, 11 mit 7-Segment LEDs oder üblicher
kreisförmiger LEDs ausgebildet sein.
Fig. 4 zeigt ein Beispiel gespeicherter Logikzustände aus
der Auswerteschaltung 5 für die elektrische Vergrößerungs
einrichtung 49 bzw. die elektrische Fokussiereinrichtung
47. Die Fehlerdiagnose ergibt als Ergebnis "normal", wenn
nach der Auswertung eine Ausgabe gemäß A oder B erfolgt,
während die Prüfschaltungen 2, 3 gemäß C, D oder E "ab
normal" ausweist, gemäß F der Motor durchbrennt, gemäß G
die Prüfschaltung 4 "abnormal" ausgibt, gemäß H ein Kurz
schluß im Motor vorliegt und gemäß 1 die Prüfschaltung 1
"abnormal" ausgibt.
Fig. 5 zeigt ein Beispiel gespeicherter Logikzustände aus
der Auswerteschaltung 10 der Beleuchtungseinrichtung, wobei
nach durchgeführter Fehlerdiagnose a den Normalzustand der
Beleuchtungseinrichtung anzeigt, b auf einen Kurzschluß
hinweist, c ein Durchbrennen der Lampen symbolisiert, d
einen Fehler in der Schaltung der Beleuchtungseinrichtung
anzeigt und e einen Fehler in der Prüfschaltung 7 kenn
zeichnet. In Übereinstimmung mit den eben beschriebenen
Ausgabewerten nach einer Fehlerdiagnose weisen die An
zeigeschaltungen 6, 11 die Fehler aus, wobei gemäß eines
Beispiels nach Fig. 6 die von der jeweiligen Anzeigeschal
tung ausgegebenen Meßwerte über LEDs angezeigt werden.
In Fig. 6 ist ein Anzeigefeld 12 dargestellt, das auf der
Rückseite des in Fig. 1 gezeigten Fußes 41 deutlich sicht
bar angebracht ist, wodurch der Benutzer des Mikroskops 40
nicht behindert wird. Auf dem Anzeigefeld 12 sind LEDs 13
bis 21 S und 200 angeordnet. Die LEDs 13, 14, 15 dienen zur
Anzeige von Fehlerquellen im Bereich der elektrischen
Vergrößerungseinrichtung 49, die LEDs 16, 17, 18 zur An
zeige von Fehlerquellen im Bereich der elektrischen Fo
kussiereinrichtung 47, die LEDs 19, 20 m, 20 s, 21 m, 21s zur
Anzeige von Fehlerquellen im Bereich der Beleuchtungsein
richtung und die LED 200 zur Anzeige dafür, daß die Ergeb
nisse der Erstdiagnose normal sind. Für den Fall, daß die
Ausgabe nach durchgeführter Fehlerdiagnose aus der Auswer
teschaltung 5 für die elektrische Vergrößerungs- oder
Fokussiereinrichtung 49 oder 47 den Logikzuständen 1 (Fig.
4) entspricht, leuchtet auf dem Anzeigefeld 12 LED 13 oder
16, während LED 14 oder 17 bei Erreichen der Logikzustände
C, D, E oder G aufleuchtet, LED 15 oder 18 im Falle von F
oder H und keine der LEDs bei A und B. Dagegen leuchtet
auf dem Anzeigefeld 12 LED 19, wenn nach durchgeführter
Fehlerdiagnose von der Auswerteschaltung 10 der Beleuch
tungseinrichtung eine Ausgabe gemäß e (Fig. 5) erfolgt,
sowie LED 20 M bei d, LED 21 M bei b oder c und keine der
LEDs im Falle von a.
Die zuvor beschriebene Betriebsdiagnose dient zur Fehler
diagnose nach Einschalten der Stromquelle, während eben
falls eine Erstdiagnose zur Überprüfung der Beleuchtungs
einrichtung vor der Betriebsdiagnose durchgeführt wird,
z. B. im Zeitpunkt des Einschaltens der Stromquelle. Diese
Schaltungsanordnung der Beleuchtungseinrichtung ein
schließlich einer Fehlerdiagnose zur Durchführung der
Erstdiagnose und Betriebsdiagnose der Beleuchtungsein
richtung wird im folgenden beschreiben.
Fig. 7 zeigt anhand eines Beispiels ein Schaltschema einer
Beleuchtungseinrichtung, bei der eine Helligkeitssteuer
schaltung 22 die Lampenspannung regelt und die bereits in
Fig. 3 dargestellte Prüfschaltung 7 zur Prüfung der an den
Schaltungen 23 m und 23 s anliegenden Spannung aufweist.
Desweiteren ist zur Beleuchtung eine Hauptlampe Lm vorge
sehen, eine Ersatzlampe LS sowie Spannungsmesser VM und
VS, die sich zwischen den Anschlüssen der Hauptlampe LM
bzw. der Ersatzlampe LS befinden und mit einer Kontroll
schaltung 27 zur Prüfschaltung 8 verbunden sind, wobei
letztere gemäß Fig. 3 zur Erfassung der an der Lampe an
liegenden Spannung dient. Ferner befindet sich ein Strom
messer Id zwischen den Anschlüssen der Hauptlampe LM und
der Ersatzlampe LS und ist mit der Helligkeitssteuerschal
tung 22 verbunden, die ebenfalls mit der Kontrollschaltung
27 zur Prüfschaltung 9 verbunden ist und gemäß Fig. 3 zur
Prüfung der Stromstärke an der Lampe dient. Darüber hinaus
ist am Lampengehäuse 25 für die Hauptlampe LM und die
Ersatzlampe LS ein Verschlußsensor 24 vorgesehen, so daß
das Mikroskop nur in Betrieb genommen werden kann, wenn
sichergestellt ist, daß das Lampengehäuse 25 selbst über
eine bestimmte Zeit hinaus ständig geschlossen ist. Hier
durch werden Fehlfunktionen verhindert, z. B. dadurch, daß
der Verschlußsensor 24 vibriert. Ein Temperatursensor 26
erfaßt die Temperatur im Innern des Lampengehäuses 25
und die mit dem Temperatursensor 26 verbundene Kontroll
schaltung 27 bildet eine Temperaturprüfschaltung zur Ver
meidung von Überhitzungen. Wenn die Temperatur im Lampen
gehäuse 25 einen voreingestellten Wert überschreitet,
betätigt die Temperaturprüfschaltung eine Alarmanlage WL,
die aufblinkt und den Benutzer warnt. Darüberhinaus ist
ein Schalter S1 vorgesehen, der entweder zu dem Anschluß a
der Helligkeitssteuerschaltung 22 oder dem Anschluß b der
Auswerteschaltung 10 überleitet, wobei bei einer Verbin
dung mit dem Anschluß a ein definierter Strom bei defi
nierter Spannung der Hauptlampe LM zugeführt wird, während
bei einer Verbindung zum Anschluß b an den Lampen LM und
LS nur eine geringe Stromstärke zur Erstdiagnose anliegt.
Zur Erstdiagnose wird die Stromstärke deswegen auf ein
Minimum begrenzt, damit die Lampe nicht schon leuchtet
bevor das Mikroskop 40 verwendet wird. Ferner ist ein
Schalter S2 vorgesehen, der wahlweise entweder mit dem
Anschluß c der Hauptlampe LM oder dem Anschluß d der Er
satzlampe LS verbunden ist. Die bereits genannte Kontroll
schaltung 27, die die Stellung der Schalter S1, S2
steuert, ist mit der Helligkeitssteuerschaltung 22 zur
Spannungsregelung sowie mit den Spannungsmessern VM, VS
verbunden, während die Fernbedienung SW, die z. B. als
Fußschalter 42 ausgebildet ist, die Hauptlampe LM und die
Ersatzlampe LS über die Kontrollschaltung 27 steuert, ein
Lampenwählschalter 28 die Lampen wahlweise ein- oder aus
schaltet oder die Erstdiagnose ermöglicht, ein Hellig
keitsschalter 29 die Lichtstärke regelt, der Lampenwählschal
ter 28 die Lampe, insbesondere die Hauptlampe LM, auch
ausschaltet und ein Ein-/Ausschalter 30 die EIN-AUS-Schal
tung der gewählten Hauptlampe LM übernimmt. Die Lampen
wählschalter 28, Helligkeitsschalter 29 und Ein-/Aus
schalter 30 können auch über die Fernbedienung SW betätigt
werden. Mittels der Auswerteschaltung 10 können die über
die Prüfschaltung 7 ausgegebenen Signale "normal" und
"abnormal" überprüft werden, kann die Prüfschaltung 8 zur
Überprüfung der an der Lampe anliegenden Spannung und die
Prüfschaltung 9 zur Überprüfung der an der Lampe anliegen
den von der Kontrollschaltung 27 kommenden Stromstärke
z. B. durch die logischen Operationen nach Fig. 5 gesteuert
werden, wobei eine Speicherschaltung 31 die Ergebnisse aus
der vorangegangenen Prüfung aufnimmt. Dieser Speicher wird
aber gelöscht, wenn der Strom abgeschaltet oder der Deckel
des Lampengehäuses 25 geöffnet wird. Die Ergebnisse der
Fehlerdiagnose werden mittels der Auswerteschaltung 10 auf
dem Anzeigefeld 12 über die Anzeigeschaltung 11 angezeigt.
Nachfolgend werden die Funktionen der zuvor genannten
Ausführungsbeispiele von Fehlerdiagnosen erläutert. Zu
nächst wird mit Bezug auf Fig. 8 bis 13 die Prüfung der
Beleuchtungseinrichtung beschrieben. Gemäß Fig. 8 wird
nach Einschalten der Stromquelle bei 100 die Erstdiagnose
über die Kontrollschaltung 27 automatisch begonnen
(Schritt 101). Zuvor wird mittels der Kontrollschaltung 27
über den Lampenwählschalter 28 der Schalter S1 auf den
Anschluß b und der Schalter 52 auf den Anschluß c seitlich
der Hauptlampe LM gelegt. Hiernach fließt ein minimaler
Strom über die Auswerteschaltung 10 zur Hauptlampe LM.
Spannung und Stromstärke werden sodann vom Spannungsmesser
VM bzw. vom Strommesser Id erfaßt und als Impulssignal an
die Kontrollschaltung 27 weitergegeben, wobei der normal-
oder abnormal-Zustand gemäß eines jeden Ausgabewertes
überprüft wird von einem Signal, das von der Auswerte
schaltung 10 zur Kontrollschaltung 27 ausgesandt wird und
mit dem Eingangsimpulssignal an der Auswerteschaltung 10
(Schritt 103) übereinstimmt. Selbst wenn Spannung oder
Stromstärke an der Hauptlampe LM abnormal sind, wird dies
dann nicht als abnormaler Zustand angezeigt, wenn der
abnormale Zustand zeitlich so kurz ist, daß ein voreinge
stelltes Zeitintervall nicht überschritten wird, so daß
(bei Schritt 104) auf Schritt 103 zurückgegangen wird. Für
den Fall jedoch, daß die an der Lampe anliegende Spannung
abnormal ist, wird der abnormale Zustand von der Schaltung
23 M bei Schritt 106 unabhängig von dem normal- oder abnor
mal-Zustand der Stromstärke an der Lampe erfaßt, so daß
auf dem Anzeigefeld 12 LED 20 M aufleuchtet. Für den Fall,
daß nur die Stromstärke an der Lampe abnormal ist, wird
bei Schritt 107 ein Durchbrennen der Hauptlampe LM festge
stellt und es leuchtet auf dem Anzeigefeld 12 LED 21 M,
wenn die Erstdiagnose der Lampe LM bei Schritt 116 fortge
führt wird.
Als nächstes wird der Schalter S2 auf den Anschluß d ge
legt, so daß zur Durchführung der Erstdiagnose der Ersatz
lampe LS bei Schritt 108 ein nur minimaler Strom fließt.
Wie bei der Erstdiagnose der Hauptlampe LM wird anschlie
ßend ermittelt, ob die an der Ersatzlampe LS anliegende
Spannung oder Stromstärke normal ist und, für den Fall daß
diese abnormal ist und die Abweichungen bei Schritt 110
als zeitlich begrenzt festgestellt wurden, wird der ab
normal-Zustand über die Schaltung 23 S ausgegeben (Schritt
112), wobei im Falle einer Spannungsabweichung die
Lampe LED 20 S auf dem Anzeigefeld 12 aufleuchtet. Anderer
seits läßt lediglich eine Abweichung in der Stromstärke
bei Schritt 113 erkennen, daß die Ersatzlampe LS durchge
brannt ist, so daß auf dem Anzeigefeld 12 LED 21 S auf
leuchtet und die Erstdiagnose der Ersatzlampe LS bei
Schritt 116 abgeschlossen wird. Wird bei Schritt 109 für
die Ersatzlampe LS ebenfalls der normal-Zustand festge
stellt, leuchtet auf dem Anzeigefeld 12 LED 200 und die
Erstdiagnose wird bei Schritt 116 abgeschlossen.
Fig. 12 zeigt ein Zeitdiagramm zur Erstdiagnose. Der
Start (a-2) der Erstdiagnose erfolgt abhängig von dem
Einschaltvorgang (a-1) der Stromquelle. Spannung und
Stromstärke werden z. B. auf 5 V bzw. 5 mA eingestellt. Die
Spannung wird für 300 ms sowohl an die Hauptlampe LM als
auch an die Ersatzlampe L5 angelegt (a-3, a-4), wobei
während der Erstdiagnose (a-5 bzw. a-6) beim Anlegen der
Spannung die Impulse von Spannung und Stromstärke hoch
sind, wenn der normal-Zustand gegeben ist. Das für die
Entscheidung erforderliche Impulssignal wird ständig an
die Auswerteschaltung 10 weitergegeben und weist 32 Im
pulse pro Zeitintervall von knapp 10 ms auf (a-7), (a-5)
und (a-6), wenn beispielsweise im Vergleich zur Strom
stärke (a-6) an der Hauptlampe LM über die Auswerteschal
tung 10 festgestellt wird, daß die Stromstärke normal ist,
wenn die volle Impulsamplitude mehr als fünfzehnmal ge
messen wird (a-8). Auch wenn der Stromfluß durch die
Hauptlampe LM während des Anlegens der Spannung niedrig
wird, wird ein Impulssignal ausgegeben. Wenn dieses Signal
regelmäßig mehr als fünfzehnmal ausgegeben wird, bedeutet
dies, daß die Stromstärke abnormal und die Hauptlampe LM
durchgebrannt ist. Wenn dagegen das Impulssignal regel
mäßig den niedrigen Wert nicht mehr als fünfzehnmal an
gibt, werden diese Abweichungen nur als vorübergehend
betrachtet und die Stromstärke an der Hauptlampe LM wird
nicht als abnormal angezeigt. Gleiches gilt für die Er
satzlampe LS (a-9 und a-12).
Wird ein abnormaler Zustand im Rahmen der Erstdiagnose
angezeigt und kann dieser anschließend behoben werden,
wird die Stromquelle eingeschaltet und die Erstdiagnose
erneut vorgenommen. Ferner ist das Mikroskop 40 so ausge
bildet, daß die Erstdiagnose jederzeit durchgeführt werden
kann, unabhängig davon, ob das Mikroskop 40 in Betrieb ist
oder nicht. Die Erstdiagnose erfolgt somit nicht nur dann,
wenn die Stromquelle eingeschaltet ist, sondern auch bei
Verschluß des Lampengehäuses 25, was mittels des Ver
schlußsensors 24 erfaßt wird, oder wenn die Temperatur im
Lampengehäuse 25 die voreingestellte Temperatur über
schreitet, was mittels des Temperaturfühlers 26 gemessen
wird.
Nachstehend wird die Fehlerdiagnose im Rahmen der Be
triebsdiagnose beschrieben, die sich an die Erstdiagnose
anschließt.
Zur Durchführung der Betriebsdiagnose der Beleuchtungs
einrichtung wird nach Abschluß der Erstdiagnose der Schal
ter S1 über die Kontrollschaltung 27 angesteuert und auf
den Anschluß a der Helligkeitssteuerschaltung 22 gelegt.
Der Schalter S2 liegt auf dem Anschluß c, wenn die Haupt
lampe LM eingeschaltet werden soll, bzw. auf Anschluß d
beim Betrieb der Ersatzlampe LS. Nachfolgend wird die
Prüfung zunächst für die Hauptlampe LM und anschließend
für die Ersatzlampe LS beschrieben. Zunächst wird über die
Prüfschaltung 7 in der Helligkeitssteuerschaltung 22 dieje
nige Spannung erfaßt, die an der Schaltung 23 M anliegt.
Danach wird gemäß des Fließschemas in Fig. 11 bei Schritt
117 festgestellt, ob Spannung oder Stromstärke an der
Hauptlampe LM normal sind und für den Fall, daß diese
abnormal sind, bei Schritt 118 geprüft, ob der abnormal-
Zustand ein voreingestelltes Zeitintervall überschreitet.
Für den Fall, daß die Spannung an der Lampe tatsächlich
abnormal ist, wird über die Schaltung 23 M der abnormal-
Zustand ausgegeben, ausgenommen der Helligkeitsschalter 29
befindet sich in der "AUS"-Position (Schritt 120), wobei
LED 20M auf dem Anzeigefeld 12 aufleuchtet und ein Rück
sprung nach Schritt 117 erfolgt. Wenn dagegen nur die
Stromstärke an der Hauptlampe LM abnormal ist, wird bei
Schritt 123 festgestellt, daß die Hauptlampe LM durchge
brannt ist, und es leuchtet LED 21 M auf dem Anzeigefeld
12. Wird über den Lampenwählschalter 28 jedoch der Schal
ter S2 mit dem Anschluß d der Ersatzlampe LS verbunden,
leuchten entsprechend der Fehlerdiagnose der Hauptlampe LM
die LEDs 20 S und 21 S auf dem Anzeigefeld 12 (Schritte 121,
124). Sind bei Schritt 117 Spannung und Stromstärke an der
Hauptlampe LM normal, wird die Betriebsdiagnose weiterge
führt. Fig. 13 zeigt das Zeitdiagramm der Betriebsdiagnose
ähnlich nach Fig. 12, wobei nach Beendigung der Erst
diagnose (b-2) eine Spannung an die Lampe angelegt wird
(b-3). Selbst wenn der durch die Lampe fließende Stromim
puls (b-5) zeitweilig eine nur geringe Impulsamplitude bei
x1 aufweist und dies zu einer Fehleranzeige führt (b-6),
wird von der Auswerteschaltung 10 noch keine abnormal-
Zustand registriert, sofern das Impulssignal regelmäßig
nicht mehr als fünfzehnmal ausgesandt wird (b-7). Wenn
allerdings der Stromimpuls für die Lampe (b-5) die Impuls
amplitude bei x2 für längere Zeit beibehält, wird ein
Impulssignal (b-7) stetig und mehr als fünfzehnmal aus
gesandt, worauf die Auswerteschaltung 10 den abnormal-
Zustand erfaßt und ein Durchbrennen der Lampe kennzeich
net.
Über die in Fig. 2 dargestellte Fehlerdiagnoseeinrichtung
kann die Betriebsdiagnose der elektrischen Vergrößerungs
einrichtung 49 und der elektrischen Fokussiereinrichtung
47 ebenso durchgeführt werden.
Auf diese Weise kann bei einem aufgetretenen Fehler wäh
rend der Verwendung des Mikroskops 40 der Benutzer durch
Blick auf das Anzeigefeld 12 sofort feststellen, in wel
chem Bereich der Fehler aufgetreten ist. So zeigt bei
spielsweise das Aufleuchten der LED 15, daß der Antriebs
motor für die elektrische Vergrößerungseinrichtung 49
fehlerhaft ist.
Wie bereits zuvor erläutert, wird die Erstdiagnose der
Beleuchtungseinrichtung nach Einschalten der Stromquelle
automatisch durchgeführt, so daß Mängel im Bereich der
Beleuchtungseinrichtung festgestellt werden können und
entsprechende Fehler noch vor Beginn der Benutzung des
Mikroskops 40 z. B. bei einem chirurgischen Eingriff be
hoben werden können. Selbst anschließend, nach Öffnen und
Schließen des Lampengehäuses 44 und einem Anstieg der
Temperatur im Inneren des Lampengehäuses 44, kann eine
Erstdiagnose noch durchgeführt werden, wodurch Fehler z. B.
an der Ersatzlampe, eine falsch eingesetzte Lampe und
solche Fehler an der Beleuchtungseinrichtung erfaßt und
jederzeit behoben werden können, die auf eine zu hohe
Temperatur zurückzuführen sind. Hierdurch wird von vorn
herein vermieden, daß während der Benutzung des Mikroskops
40 z. B. bei einem chirurgischen Eingriff ein Fehler in der
Beleuchtungseinrichtung auftritt. Darüberhinaus können
noch nach durchgeführter Erstdiagnose Fehler in der Be
leuchtungseinrichtung, der elektrischen Vergrößerungs
einrichtung 49 und der elektrischen Fokussiereinrichtung
47 nacheinander im Rahmen der Betriebsdiagnose ermittelt
werden. Ferner lassen sich die Fehler differenzieren, so
daß der Benutzer im Falle erforderlicher Reparaturen die
Fehler dem Servicepersonal mitteilen kann und gemäß der
angezeigten Fehler entsprechend erforderliche Teile des
Mikroskops 40 bereitgestellt werden können, so daß eine
schnelle und gezielte Reparatur ermöglicht wird.
Bei den zuvor beschriebenen Ausführungen kann allerdings
dann ein Problem auftreten, wenn die Fehlerdiagnoseein
richtung die elektrische Vergrößerungseinrichtung 49, die
elektrische Fokussiereinrichtung 47 und die Beleuchtun
gseinrichtung erfaßt und an eine herkömmliche Stromquelle
angeschlossen ist und die angezeigten Fehler auf die Feh
lerdiagnoseeinrichtung oder die Stromquelle selbst zurück
zuführen sind und sich andere Fehlerdiagnoseeinrichtungen
nicht verwenden lassen. Dieses Problem kann jedoch dadurch
gelöst werden, daß eine Fehlerdiagnoseeinrichtung gemäß
Fig. 14 verwendet wird. Fig. 14 zeigt anhand eines Bei
spiels eine Ausführung mit zwei Funktionen, bei der z. B.
sowohl die Beleuchtungseinrichtung als auch die elektri
sche Vergrößerungseinrichtung 49 jeweils mit einer Fehler
diagnoseeinrichtung verbunden sind, wobei die Auswerte
schaltung 34 gemeinsam verwendet wird. Diese Abbildung
zeigt als Beispiel ein Teil 32 der Beleuchtungseinrichtung
mit dazugehöriger Fehlerdiagnoseeinrichtung, bestehend aus
einer unabhängigen Stromquelle 32a, einer Kontrollschal
tung 32b und einer hiermit verbundener Prüfschaltungs
anordnung 32c mit verschiedenen Prüfschaltungen gemäß Fig.
3 und einer Steuereinheit 32d (insbesondere für die
Lampe), die mit der Kontrollschaltung 32b verbunden ist.
Ferner besteht das Teil 33 der elektrischen Vergrößerungs
einrichtung 49 mit zugehöriger Fehlerdiagnoseeinrichtung
aus einer unabhängigen Stromquelle 33a, einer Kontroll
schaltung 33b und einer hiermit verbundenen Prüfschal
tungsanordnung 33c insbesondere aus mehreren Prüfschaltun
gen gemäß Fig. 2, sowie einer Steuereinheit 33d (insbe
sondere für den Antriebsmotor), die mit der Kontrollschal
tung 33b verbunden sind. Von den Prüfschaltungen der Prüf
schaltungsanordnung 32c und 33c ausgehende Prüfsignale
werden über Trennschalter 32e, 33e wie z. B. Fotokoppler,
getrennt und auf die Auswerteschaltung 34 übertragen. In
diesem Fall werden die Auswerteschaltung 34 und die An
zeigeschaltung 35 durch eine unabhängige Stromquelle 36
versorgt. Da in diesem Abschnitt die Beleuchtungseinrich
tung und die elektrische Vergrößerungseinrichtung 49 mit
ihren Fehlerdiagnoseeinrichtungen als zwei funktionelle
Einheiten beschrieben wurden, kann darauf verzichtet wer
den, die elektrische Fokussiereinrichtung 47 mit ihrer
Fehlerdiagnoseeinrichtung als weitere Einheit zu beschrei
ben.
Mit dieser Ausbildung einer Fehlerdiagnoseeinrichtung kann
vermieden werden, daß beim Versagen einer Funktion die
anderen Funktionen hiervon berührt werden, wodurch Zuver
lässigkeit und Sicherheit weiter erhöht werden. Ferner
kann der abnormal-Zustand solange erfaßt werden, wie die
Stromquelle 36 in Betrieb ist, da die Einrichtungen zur
Fehlererfassung selbst dann von unabhängigen Stromquellen
versorgt werden, wenn beide Stromquellen 32a und 33a aus
bestimmten Gründen ausfallen und die Funktionen der Teile
32 und 33 unterbleiben. Wenn in diesem Fall, dargestellt
in Fig. 14 mittels unterbrochener Linien, die Stromquelle
über Reservemittel BU, wie z. B. Batterien verfügt, sind
die Voraussetzungen noch günstiger.
Claims (5)
1. Mikroskop, mit einer Beleuchtungseinrichtung zum Be
leuchten des zu untersuchenden Objektes und einer moto
risch angetriebenen Vergrößerungs- und Fokussierein
richtung, sowie einer Schaltungsanordnung zur Ein
stellung von Betriebsvorgaben und zur Ermittlung und
Anzeige von Funktionswerten, dadurch gekennzeichnet,
daß das Mikroskop (40) eine Fehlerdiagnoseschaltung
aufweist, welche den Strom und die Spannung regi
striert, die der Vergrößerungs- und Fokussiereinrich
tung (49, 47) sowie der Beleuchtungseinrichtung zuge
führt werden und die Abweichung dieses Stromes und
dieser Spannung von vorgegebenen Werten ermittelt und
somit eine Fehlerdiagnose durchführt und eine Fehler
meldung dann ausgibt, wenn diese Abweichungen vorge
gebene Abweichungen überschreiten, und welche beim
erstmaligen Einschalten des Mikroskops (40) eine Erst
diagnose sowie während des Betriebes des Mikroskops
(40) eine Betriebsdiagnose durchführt, wobei bei der
Erstdiagnose nur die Beleuchtungseinrichtung und bei
der Betriebsdiagnose zusätzlich auch die Vergröße
rungs- und Fokussiereinrichtung (49, 47) überprüft
werden.
2. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Fehlerdiagnoseschaltung eine Prüfschaltung (1, 2,
3, 4; 7, 8, 9) und eine Auswerteschaltung (5, 10)
aufweist, die optisch miteinander gekoppelt sind.
3. Mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß am Lampengehäuse (25) der Beleuchtungsein
richtung ein Verschlußsensor (24) angeordnet ist,
durch den bei einem Schließen des Lampengehäuses (25)
die Durchführung einer Erstdiagnose und einer Be
triebsdiagnose veranlaßt wird.
4. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß am Lampengehäuse (25) ein Temperatur
sensor (26) angeordnet ist, durch den bei einer Über
hitzung des Lampengehäuses (25) eine Fehleranzeige
erfolgt.
5. Mikroskop nach Anspruch 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Beleuchtungseinrichtung eine Haupt
lampe (LM) und eine alternativ zu der Hauptlampe (LM)
betriebene Ersatzlampe (LS) umfaßt, und daß die Prüf
schaltung (7 bis 9) zur Prüfung dieser beiden Lampen
(LM, LS) eine Kontrollschaltung (27) aufweist, die
von einem Ein-/Ausschalter (30), einem Lampenwähl
schalter (28) und einem Helligkeitsschalter (29) für
die ausgewählte Lampe (LM, LS) angesteuert wird und
neben den beiden Lampenspannungen (VM, VS) den durch
die ausgewählte Lampe (LM, LS) fließenden Strom
sowie die Signale des Verschlußsensors (24) und des
Temperatursensors (26) registriert, und die neben
einer Helligkeitssteuerschaltung (22) für den Lam
penstrom und der Auswerteschaltung (10) zur Vorkon
trolle der Lampenfunktion zwei serielle, über ihre
beiden Schaltzungen miteinander verbundene Umschalter
(S1, S2) ansteuert, welche alternativ die Hauptlampe
(LM) oder die Ersatzlampe (LS) wahlweise über die
Helligkeitssteuerung (22) oder die Auswerteschaltung
(10) mit Strom versorgen.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8742187 | 1987-04-09 | ||
JP62256518A JPH0748090B2 (ja) | 1987-04-09 | 1987-10-12 | 手術用顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3811791A1 DE3811791A1 (de) | 1988-10-27 |
DE3811791C2 true DE3811791C2 (de) | 1994-09-29 |
Family
ID=26428697
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3811791A Expired - Fee Related DE3811791C2 (de) | 1987-04-09 | 1988-04-08 | Mikroskop |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4878746A (de) |
JP (1) | JPH0748090B2 (de) |
DE (1) | DE3811791C2 (de) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0756003Y2 (ja) * | 1988-10-07 | 1995-12-25 | オリンパス光学工業株式会社 | 手術用顕微鏡 |
DE3933343C2 (de) * | 1988-10-07 | 1996-11-14 | Olympus Optical Co | Operationsmikroskop |
US5446584A (en) * | 1989-09-11 | 1995-08-29 | Kensington Laboratories, Inc. | Compact specimen processing station |
WO1995006283A1 (en) * | 1993-08-24 | 1995-03-02 | Downs Roger C | Topography processor system |
GB2319688B (en) * | 1993-08-24 | 1998-09-09 | Downs Roger C | Topography processor system |
US6466432B1 (en) * | 1999-07-12 | 2002-10-15 | Frank Beger | Instrument and service unit for a surgical operating area |
US6507433B2 (en) | 1999-10-08 | 2003-01-14 | Westover Scientific, Inc. | Method and apparatus for preventing application of excessive force between microscope objective and stage |
EP1124150B2 (de) * | 2000-02-12 | 2015-02-18 | Leica Microsystems (Schweiz) AG | Operationsmikroskop |
US6639789B2 (en) | 2000-07-12 | 2003-10-28 | Karl Storz Gmbh & Co. Kg | Instrument and service unit for a surgical operating area |
DE102005013152B4 (de) * | 2005-03-22 | 2007-11-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Automatisiertes Mikroskop |
DE102006047723A1 (de) * | 2006-08-25 | 2008-02-28 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Operationsmikroskop mit Beleuchtungseinrichtung |
JP2009244561A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Olympus Corp | 顕微鏡撮影システム |
DE102011087454A1 (de) * | 2011-11-30 | 2013-06-06 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Optische Vorrichtung zum Einsatz in der Medizintechnik |
DE102018133196A1 (de) * | 2018-12-20 | 2020-06-25 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Bildbasierte wartungsvorhersage und detektion von fehlbedienungen |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3987463A (en) * | 1974-09-03 | 1976-10-19 | Olympus Optical Co., Ltd. | Automatic exposure control circuit for photomicrographic apparatus |
JPS57175209A (en) * | 1981-04-22 | 1982-10-28 | Tokyo Tatsuno Co Ltd | Malfunction detector of display meter |
DD201228A1 (de) * | 1981-11-19 | 1983-07-06 | Axel Lorenz | Diagnosegeraet |
JPS58127352U (ja) * | 1982-02-22 | 1983-08-29 | 株式会社チノ− | 光学的測定装置 |
JPS59172617A (ja) * | 1983-03-22 | 1984-09-29 | Olympus Optical Co Ltd | 自動制御式照明光学系を備えた顕微鏡 |
DE3410201A1 (de) * | 1983-03-22 | 1984-10-04 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo | Mikroskop |
JPS59185098A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-20 | Oki Electric Ind Co Ltd | 自己診断回路内蔵型半導体メモリ装置 |
JPS60249015A (ja) * | 1984-05-24 | 1985-12-09 | Chino Works Ltd | デジタル計器 |
-
1987
- 1987-10-12 JP JP62256518A patent/JPH0748090B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-04-07 US US07/178,967 patent/US4878746A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-04-08 DE DE3811791A patent/DE3811791C2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6419318A (en) | 1989-01-23 |
US4878746A (en) | 1989-11-07 |
JPH0748090B2 (ja) | 1995-05-24 |
DE3811791A1 (de) | 1988-10-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3811791C2 (de) | Mikroskop | |
DE3621212C2 (de) | ||
DE2854302C3 (de) | Zentrales Alarmsystem für Fahrzeuge | |
DE3906886A1 (de) | Laststeuereinrichtung | |
EP1695055B1 (de) | Messeinrichtung, insbesondere temperaturmessumformer | |
DE102005038084B4 (de) | Verfahren zur Detektion des Ausfalls eines Zündschaltkreises für eine Lampe in einem Projektionsgerät mit zwei Detektionsschaltkreisen und zwei Anzeigen, entsprechendes System und entsprechendes Projektionsgerät | |
DE19707986B4 (de) | Schaltungsanordnung zum Betreiben einer Entladungslampe | |
EP0416408A2 (de) | Prüfungseinrichtung für Endoskopausrüstungen | |
DE2535143A1 (de) | Elektronisches ueberwachungssystem fuer kraftfahrzeuge | |
DE102005010671B4 (de) | Vorrichtung zur Überwachung der Funktion eines Anzeigeelements | |
DE3041206C2 (de) | Prüfschaltung zum Feststellen und Anzeigen von Unterbrechungen in elektrischen Verbraucherstromkreisen | |
DE19801132B4 (de) | Stromversorgungsschaltung für eine Entladungslampe mit Leuchtzustandsdetektor | |
DE10236165B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Symmetrieren der Kondensatoren einer Kondensatorbatterie | |
EP1302805A2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Helligkeit einer Lichtquelle in einem Mikroskop | |
DE102008034524A1 (de) | Notlichteinheit | |
EP0501110B1 (de) | Beleuchtungseinrichtung für optische Geräte mit separaten Beleuchtungsstrahlengängen | |
DE4303808A1 (de) | Selbsttätige Beleuchtungssteuerung mit Warneinrichtung und vor Kunstlicht geschützten Detektoren | |
EP0349673A2 (de) | Gerät zur Messung des Füllstands eines Kraftstofftanks | |
DE3121311C2 (de) | ||
EP3541149A1 (de) | Leuchte und verfahren zur erkennung von led-modulen | |
DE2124356A1 (de) | Vorrichtung zum automatischen Erregen und Behandeln von Permanentmagneten einer elektrischen Einrichtung | |
DE102007016640B4 (de) | Elektrisch verstellbares Möbel und Verfahren zur Diagnose eines Betriebszustands für ein elektrisch verstellbares Möbel | |
DE3206345C2 (de) | ||
DE2745398C2 (de) | Einäugige Spiegelreflexkamera mit Zeit- und Blendenautomatik | |
DE102008020667A1 (de) | Verfahren zur Fehlerüberwachung an einem Beleuchtungsausgang eines Kraftfahrzeuges |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |