DE3801297C2 - Verfahren zur automatischen Erfassung der Oberflächenstruktur eines Werkstückes - Google Patents
Verfahren zur automatischen Erfassung der Oberflächenstruktur eines WerkstückesInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur automatischen Erfassung
der Oberflächenstruktur eines Werkstückes, bei dem mittels
einer Tastvorrichtung an einer Vielzahl entlang einer
Meßstrecke angeordneter Meßpunkte Meßwerte erfaßt werden, die
als digitale Meßdaten in einem Speicher abgelegt und nach dem
Abtasten der Meßstrecke einer digitalen Rechnereinheit zur
Erstellung einer auf den Verlauf der Oberflächenstruktur
bezogenen Meßkurve zugeführt werden, wobei unerwünschte
Schwingungsanteile der Meßkurve durch einen Filter gedämpft
werden.
Bei der Erfassung einer Oberflächenfeinstruktur eines
Werkstückes besteht ein Problem darin,
daß die Oberflächenfeinstruktur eines Werksstücks möglichst
genau erfaßt werden muß, wobei auch etwaige in eine Richtung
von der Oberfläche weggerichtete sog. Meßwertausreißer mit
aufgenommen werden müssen. Das besondere Problem besteht
darin, daß die Meßwertausreißer die Meßkurve stören und nur
schwer zu eliminieren sind. Dies liegt daran, daß die Meß
wertausreißer, insbesondere am Anfang bzw. am Ende der Meß
kurve mit den bekannten Meßverfahren nicht zu eliminieren
sind. Ein besonderes Problem der Messung von stochastischen
Meßgrößen liegt in der Reproduzierbarkeit der Darstellung,
die i. a. in Form von Kennwerten erfolgt, weil die Meßkurve
nur statistisch beschreibbar ist.
Zur Beurteilung der Rauheit, daß heißt der Oberflächenfeinge
stalt technischer Oberflächen, werden im allgemeinen Rau
heitskennwerte herangezogen, die mit Tastschnittgeräten
ermittelt werden. Bei diesen Geräten wird das Oberflächen
profil aufgenommen, indem z. B. eine Tastspitze aus Diamant
geradlinig mechanisch über die Oberfläche geführt wird und
deren senkrechte Auslenkungen mittels eines Wegaufnehmers
in ein elektrisches Signal umgeformt werden. Mit Hilfe eines
Analog/Digital-Wandlers wird das Oberflächenprofil digitali
siert und im Speicher des Meßgeräts abgelegt. Eine Be
schreibung dieses Verfahrens findet man z. B. in der Fach
zeitschrift "Antriebstechnik", 26 (1987) Nr. 9, Seite 65 ff.
Ein anderes Verfahren besteht darin, daß die Oberflächen
feinstruktur optisch, z. B. mit Hilfe eines Laserstrahls
abgetastet wird, und dann die optoelektronisch erzeugten
Signale digitalisiert gespeichert und dann weiterverarbeitet
werden.
Bei diesen Verfahren werden naturgemäß nicht nur die Rau
heit, d.h. die sehr kurzwelligen Formabweichungen der Ober
fläche von der idealgeometrischen Oberfläche, sondern auch
die Welligkeit, d.h. die längerwelligen Abweichungen erfaßt.
Zur Ermittlung der die Rauheit korrekt beschreibenden Kenn
zahlen ist es daher notwendig, mittels eines Filters, das
auch Wellentrenner oder cut-off genannt wird, die Welligkeit
aus dem aufgenommenen Oberflächenprofil zu eliminieren.
Hierzu wird mit einem digitalen Tiefpaßfilter eine dem lang
welligen Profilanteil folgende Mittellinie bestimmt, die als
Referenz in den ungefilterten Profilschnitt gelegt wird.
Damit die Rauheit nicht durch die langwelligen Abweichungen
verfälscht wird, muß die so berechnete Mittellinie die Refe
renz für die Ordinatenwerte der Rauheit sein.
Die Auswertung der rein stochastischen Meßgröße, die z. B.
die Temperatur einer Triebwerksschaufel im Flugbetrieb oder
auch die Rauheit einer Oberfläche sein kann, erfolgt bei
spielsweise, indem die sich aus der Mittellinie ergebenden
Referenzwerte von den Ordinatenwerten der Meßkurve subtra
hiert werden.
Eine Möglichkeit, um die Mittellinie zu bestimmen, ist im
Neuentwurf der DIN 4776 vom November 1985 beschrieben.
Obwohl dieses Verfahren gegenüber den früher verwendeten,
phasenverschiebenden RC-Filtern bereits einen Fortschritt
darstellt, besitzt es auch Nachteile, z. B. bei der Rauheits
messung einer Oberfläche. Es kann nicht die gesamte Tastlän
ge der Taststrecke ausgewertet werden, weil am Anfang und
am Ende eine gewisse Strecke abzuziehen ist, die zwar Spei
cherplatz benötigt, aber zur Auswertung nicht herangezogen
werden kann. Diese an sich unnötige Verlängerung der Tast
strecke ist insbesondere bei kleinen Werkstücken mit kurzer
zur Verfügung stehender Taststrecke problematisch.
Zum anderen ergeben sich bei Oberflächen mit asymmetrischem
Profilcharakter, d.h. bei an sich glatten Oberflächen mit
nur einzelnen Riefen oder Poren, wie sie z. B. bei feinbear
beiteten Sinterwerkstoffen auftreten, Profilverzerrungen,
die die Auswertung der Rauheit verfälschen. Dies ist darauf
zurückzuführen, daß die Mittellinie den Riefen andeu
tungsweise folgt, und dadurch bei Ermittlung der Rauheit zu
beiden Seiten der Riefen Materialaufwürfe vorgetäuscht wer
den. Um diesem Problem abzuhelfen, sind Filterverfahren mit
Riefenunterdrückung bekannt, die allerdings an Oberflächen
mit kritischen Profileigenschaften, wie den erwähnten fein
bearbeiteten Sinterwerkstoffen, kein befriedigendes Meßer
gebnis liefern, weil die Riefen falsch bewertet werden.
Es hat sich gezeigt, daß die bekannten Verfahren, die z. B.
aus dem DIN-Entwurf 4776 zu entnehmen sind, erheblichen
Aufwand an Speicherplatz und eine sehr lange Rechnerzeit
benötigen, und trotzdem keine reproduzierbaren Ergebnisse
liefern. Für eine möglichst gute, d.h. möglichst genaue
Messung wird der Aufwand so groß , daß große und damit
teure Datenverarbeitungsanlagen erforderlich werden. Deshalb
sind diese Meßverfahren nicht geeignet, um auf den heute
üblichen Kleincomputern installiert zu werden.
Neben den vorstehend erörterten Verfahren zur Ermittlung eines
Oberflächenprofils anhand stochastischer Meßgrößen ist aus der
deutschen Offenlegungsschrift DE 33 06 929 A1 ein Verfahren
bekannt, bei dem zur Beurteilung der Oberflächenrauhigkeit ein
Kennwert aus den aufgenommenen Meßwerten des
Tastschnittprofils einer Bauteiloberfläche entlang einer Linie
bestimmt wird. Bei diesem bekannten Verfahren werden aus den
beim Abtasten der Oberfläche ermittelten Meßwerten mittels
eines Hoch- und eines Tiefpaßfilters nach Art eines Fensters
nur diejenigen Welligkeitsanteile des Tastschnittprofils
ausgefiltert, die innerhalb des interessierenden
Frequenzbereichs der Welligkeit liegen, wobei die außerhalb
dieses Bereichs liegenden Frequenzen abgeschnitten werden. Aus
den derart ausgefilterten, einem bestimmten spektralen Fenster
zugeordneten Werten wird anschließend durch lineare oder
quadratische Mittelwertbildung der auf die jeweilige Oberfläche
bezogene Kennwert bestimmt. Verschiedene auf diese Weise für
einzelne Oberflächen ermittelte Kennwerte können dann zum
Vergleich der Beschaffenheit verschiedener Oberflächen
herangezogen werden.
Schließlich ist auch aus dem in der Zeitschrift
"Antriebstechnik", 26. Jg., Nr. 10, S. 55-59 erschienenen Artikel
"Funktionsgerechte Rauheitskennwerte durch Auswertung der
Abbott-Kurve Teil II: Entwicklung von Rauheitskennwerten" ein
Verfahren zur Bestimmung von zur Beschreibung einer Oberfläche
dienenden Kennwerten bekannt. Bei diesem Verfahren wird der
Einfluß tiefer Oberflächenriefen auf das Auswertergebnis
dadurch unterdrückt, daß, nachdem alle Meßwerte mit einem
phasenkorrekten Filter einer Vorfilterung unterzogen worden
sind, die unterhalb der Mittellinie dieser korrigierten Werte
liegenden Werte abgeschnitten werden. Anschließend werden die
so bearbeiteten Meßwerte noch einmal mittels des vorgenannten
phasenkorrekten Filters bewertet und so eine Referenzlinie für
die Bestimmung des Kennwertes bestimmt, die kaum noch durch die
ehemals im Meßergebnis enthaltenen Riefen-Meßwerte beeinflußt
wird.
Der gemeinsame Nachteil der bekannten Verfahren besteht darin,
daß bei ihnen jeweils der Anfangs- und Endbereich der
Meßstrecke unberücksichtigt bleibt bzw. bei der Nachbehandlung
der Meßwerte verloren geht. Dieser Informationsverlust hatte in
der Vergangenheit keine praktische Bedeutung, da es bei den
bisherigen Anforderungen an die Rauhigkeit von Oberflächen der
beispielsweise für Gleitlager oder Gleitringdichtungen
eingesetzten Werkstoffe nicht notwendig war, auch die Anfangs-
oder Endbereiche der Meßstrecke zu berücksichtigen. Erst nach
Einführung neuer Werkstoffe, z. B. Keramiken oder Sintermetalle,
die in hydrodynamischen Gleitlagern oder -dichtungen eingesetzt
werden sollen, ist festgestellt worden, daß die bekannten
Verfahren nicht mehr praxisgerecht sind.
Der Erfindung liegt dagegen die Aufgabe zugrunde, ein
praxisgerechtes Verfahren zur Bestimmung eines Abbilds der
Rauhigkeit von Oberflächen zu schaffen, daß die unverfälschte
Beurteilung der gesamten Meßstrecke erlaubt.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit den Merkmalen des
Anspruchs 1 gelöst.
Ein Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens liegt darin, daß
jeder einzelne Summand
des Approximations- bzw. Interpolationspolynoms mit einem
eigenen Dämpfungsfaktor multipliziert werden kann, so daß
eine sehr gute Trennung der stochastischen Meßgröße, die
z. B. die Profilabweichung einer Oberfläche eines Werkstücks
sein kann, in die Anteile der einzelnen Wellenlängen erfol
gen kann. Um beispielsweise die Welligkeit herauszufiltern,
wird vorgeschlagen, daß die langwelligen Anteile stärker
gedämpft werden, als die kurzwelligen Anteile, die vor
zugsweise wenig bzw. nicht gedämpft werden oder umgekehrt
zum Herausfiltern der Rauheit.
Insbesondere beim Aufbau von hydrodynamischen Tragkräften muß im Zuge einer Optimierung der
Oberflächenstruktur heutzutage auch die sogenannte Mikrostruktur reproduzierbar gefertigt werden können.
Hierzu werden nachvollziehbare Meßergebnisse für die Darstellung der Meßkurve benötigt, die aufgrund ihrer
statistischen Eigenschaften eine sehr große Anzahl von Meßwerten voraussetzen. Die bisher bekannten Verfahren
eignen sich nicht für die Anwendung auf einem Kleincomputer. Weil die bekannten Verfahren keine
reproduzierbaren Meßergebnisse liefern, kann auch keine Optimierung der Oberflächenmikrostruktur rechnerisch
simuliert werden. Deshalb ist man insbesondere auf den zeitraubenden Einsatz von Versuchen angewiesen.
Das erfindungsgemäße Verfahren schafft hier auf überrachend einfache Weise Abhilfe, wenn man eine Zufallsoberfläche
rechnerisch simuliert, weil insbesondere durch die digitale Darstellung der Profilordinaten im Speicher
der ständige Zugriff und Datenaustausch zwischen den Oberflächendaten und den Verfahren ermöglicht
wird.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 2 ergibt sich eine Verfah
rensvariante, die den Vorteil bietet, daß sie besonders
einfach die Dämpfung der einzelnen Anteile ermöglicht.
Hierzu wird vorgeschlagen, daß die langwelligen Anteile mit
einem sehr kleinen Dämpfungsfaktor multipliziert werden,
etwa in der Größenordnung Null, sodaß deren Amplituden sehr
klein werden. Die kurzwelligen Anteile werden mit einem
großen Dämpfungsfaktor, vorzugsweise in der Größenordnung
von Eins, multipliziert, sodaß deren Amplituden erhalten
bleiben. Es laßt sich also auf diese Weise das tatsächliche
von der Welligkeit befreite Rauheitsprofil direkt und nicht
über vorangegangene Berechnung der Welligkeit bestimmen.
Die eingangs erwähnten Dämpfungsfaktoren können als unter
schiedliche Frequenzgänge aufgetragen werden. Es hat sich
als günstig erwiesen, die Frequenzgänge nach Anspruch 3
und/oder 4 zu verwenden, weil sie eine besonders gute
Trennung von Welligkeit und Rauheit bewirken. Der besondere
Vorteil dieser Dämpfungsfaktoren liegt daran, daß sie sich
besonders zu einer numerischen Auswertung eignen, und des
halb leicht auf einem geeigneten kleinen Computer instal
liert werden können.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 5 ergibt sich eine Ver
fahrensvariante, die den Meßtechnikern einen Freiraum bei
der Auswahl des geeignetsten Frequenzgangs läßt. Hierzu
wird vorgeschlagen, daß für die zu dämpfenden Anteile eine
Toleranz vorgegeben wird; es kann z. B. gefordert werden, daß
die Welligkeit nicht mehr mit bloßem Auge erkennbar sein
soll oder weniger als Strichstärke betragen soll. Dann
können die Dämpfungsfaktoren so knapp außerhalb des durch
die Funktionen eingeschlossenen Bereichs liegen, daß die
geforderte Toleranz erfüllt wird. Wie weit im Einzelfall die
Dämpfungsfaktoren außerhalb liegen können, kann z. B. auch
durch Versuch ermittelt werden . Die am besten geeigneten
Frequenzgänge liegen jedoch im Bereich der beiden Frequenz
gänge nach Anspruch 5 bzw. knapp außerhalb.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 6 ergibt sich eine Verfah
rensvariante, die sich besonders zur schnellen Berechnung
der Welligkeit eignet. Dies wird dadurch erreicht, daß durch
den inversen Dämpfungsfaktor (1-Kn) die kurzwelligen Anteile vor
rangig stark gedämpft werden, sodaß sich aus der Meßkurve
schließlich die Welligkeit ergibt, weil die kurzwelligen
Anteile nicht mehr ins Gewicht fallen.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 7 ergibt sich eine Ver
fahrensvariante, die sich besonders zur Verwendung in einer
EDV-Anlage eignet. Aus diesem Grunde ist diese Verfahrens
variante besonders geeignet, wenn es darum geht, bei gerin
gem Programmieraufwand beste und vor allem reproduzierbare
Ergebnisse zu erhalten. Es können verschiedene Algorithmen
Anwendung finden. Vorteilhafterweise wird die Meßkurve
zunächst in ihre einzelnen harmonischen Bestandteile analy
tisch zerlegt; nachdem die stark zu dämpfenden Anteile fest
stehen, werden diese durch starke Dämpfung sozusagen unter
drückt. Dies erfolgt in einer Verfahrensvariante dadurch,
daß die Amplituden mit so kleinen Dämpfungsfaktoren multi
pliziert werden, daß diese sehr klein werden, vorzugsweise
so klein, daß diese Anteile bei der anschließenden Synthese
der Meßkurve praktisch nicht mehr ins Gewicht fallen.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 8 ergibt sich eine Ver
fahrensvariante mit dem Vorteil der besonders einfachen
Zerlegung der Meßkurve in ihre einzelnen Wellenlängenan
teile, wobei die Dämpfungsfaktoren bereits bei den Approxi
mations- bzw. Interpolationspolynomen berücksichtigt werden.
Hierzu werden in einem Beispiel bei äquidistanten Stützstel
len die diskretisierten Profilordinaten zur Erstellung des
Interpolationspolynoms verwendet.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 9 ergibt sich eine Ver
fahrensvariante, die besonders den Vorteil bietet, daß nur
eine sehr geringe Rechenzeit zur Durchführung der Analyse
der Meßkurve benutzt wird. Hierzu müssen die Stütz- bzw.
Abtaststellen äquidistant angeordnet werden, um die Quadran
tensymmetrien der harmonischen Funktionen ausnutzen zu kön
nen. Ihre Anzahl N wird so gewählt, daß die folgende
Gleichung erfüllt ist:
N = 2 hoch n, und n eine natürliche Zahl.
In einem Ausführungsbeispiel wurde eine Oberflächenmessung
durchgeführt. Hierzu wurden 8192 = 2 hoch 13 Stützstellen
äquidistant abgetastet. Die Forderung nach äquidistanten
Stützstellen kann z. B. durch einen Taktgeber erfüllt wer
den.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 10 ergibt sich eine Ver
fahrensvariante, die sich dadurch vorteilhaft auszeichnet,
daß trotz vorhandener Meßwertausreißer, die die Meßkurve
stark verfälschen, trotzdem eine schnelle, präzise und ge
naue Messung erfolgen kann. Die Meßwertausreißer ergeben
sich z. B. aus Lagefehlern.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 11 ergibt sich eine Aus
führungsvariante der Erfindung, bei der sich der besondere
Vorteil ergibt, daß eine Lageabweichung der Meßkurve, die
z. B. eine Schiefstellung sein kann oder auch die Ein
spannlageabweichung des zu vermessenen Werkstücks zulässig
ist, und trotzdem das erfindungsgemäße Verfahren anwendbar
ist.
Hierzu wird bei einer evtl. Schiefstellung bzw. einer groben
Formabweichung die an sich bekannte Methode der Linearen
Regression entlang der zu vermessenen Strecke angewandt. Die
Lage der Regressionsgeraden legt sozusagen die Lage des
Werkstücks fest. Anschließend werden dann die Werte der
Meßkurve auf die Regressionsgerade umgerechnet.
Wie sich aus den Kennzeichen des Anspruchs 12 ergibt, können
mit dem Verfahren auf besonders einfache Weise z. B. die
ungewollten Riefen in der Oberflächenmessung eliminiert
werden. Insbesondere bei den sogenannten kritischen Oberflä
chen tragen die Riefen nicht zum Welligkeitsprofil bei,
verfälschen aber das Meßergebnis z. T. stark. Unter kriti
schen Oberflächen sind geläppte oder gehohnte Oberflächen zu
verstehen, die gleichwohl aus metallischen wie keramischen
Werkstoffen bestehen können. In einem Beispiel wurde ermit
telt, daß ein zweimaliges Anwenden der Methode der linearen
Regression und ein einmaliges Anwenden der Methode nach
Anspruch 1 zu einem rechnerisch horizontalem Ausrichten
einer schiefgestellten Oberfläche mit starkem Riefeneinfluß
führte. Dieser Vorteil ergibt sich, wenn die Welle, die sich
aus der harmonischen Analyse und anschließender Dämpfung
ergibt, im Bereich der Riefenbreite als Ersatz für die Riefe
verwendet wird. Hierdurch fallen die Riefen weniger ins
Gewicht, bzw. verfälschen das Meßergebnis nur unwesentlich.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 14 ergibt sich eine
Verfahrensvariante, bei der vorteilhaft sowohl für die
Riefeneinflußunterdrückung als auch für das anschließende
Verfahren zur Auswertung der Meßkurve ein einziger Program
modul einsetzbar ist, sodaß ein besonders effektiver Einsatz
eines üblichen Kleincomputers ermöglicht wird.
Aus den Kennzeichen des Anspruchs 15 ergibt sich eine Ver
fahrensvariante, die den Vorteil bietet, daß insbesondere
die hydrodynamisch hoch beanspruchten Oberflächen von Gleit
ringdichtungen reproduzierbar bezüglich ihrer Mikrostruktur
vermessen werden können. Deshalb bietet das Verfahren den
besonderen Vorteil, daß die auch chemisch hochbeanspruchten
Gleitringdichtungen von Pumpen in reproduzierbarer Qualität
gefertigt werden können. Bei diesen Dichtungen wird eine
besonders hohe Zuverlässigkeit erwartet, weil sie äußerst
aggressive Medien in dem Pumpeninnenraum bei hohen Drücken
gegenüber der Umwelt abzudichten haben.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Zeichnungen er
läutert.
Es zeigt
Fig. 1 die Zerlegung einer Meßkurve in langwellige und
kurzwellige Anteile, die unterschiedlich stark
bzw. schwach gedämpft werden;
Fig. 2 den Ausgleich einer Fehllage der Meßkurve
infolge Schiefstellung, wobei die Meßkurve
erhebliche Riefen aufweist, die in eine Richtung
von der Meßkurve weggerichtet sind, mit An
wendung des Verfahrens zur Unterdrückung der
Riefen;
Fig. 3 den Bereich des optimalen Frequenzgangs.
Fig. 1a zeigt eine von einem Meßgerät aufgenommene Meßkurve,
welche deutlich erkennbar aus einem langwelligen Anteil
besteht. Dem langwelligen Anteil sind überlagert ein oder
mehrere kurzwellige Anteile. Da man nicht erkennen kann,
wieviel langwellige Anteile diese Kurve enthält, muß ein
rechnerisches Verfahren zur Zerlegung der Meßkurve in alle
ihre einzelnen Anteile angewandt werden. Das erfindungsgemäße
Verfahren, welches sich besonders eignet, zerlegt die Meß
kurve in harmonische Anteile. Wendet man nun zur Zerlegung
der Meßkurve M das erfindungsgemäße Verfahren, z. B. mit
Hilfe der sogenannten Fourieranalyse an, so wird die Meßkurve
in eine Anzahl N/2 einzelner harmonischer Anteile zerlegt.
Fig. 1b zeigt die sich aus der Meßkurve M ergebenden N/2
einzelnen harmonischen Anteile. Man erkennt, daß alle An
teile eine unterschiedliche Wellenlänge λ besitzen.
Gleichwohl sind auch die Amplituden der einzelnen Anteile
ungleich. Für den zuerst errechneten Anteil, in der Fig. 1b
mit dem Index 1 bezeichnet, werden die der Rechnung zugrunde
gelegten Bestimmungsgrößen im folgenden beschrieben. Bei
dieser Darstellung handelt es sich um eine qualitative, die
der Erläuterung der Erfindung dient.
Die Welle des 1. Anteils besteht aus einer vollständigen
Schwingung, die innerhalb der Taststrecke T eine harmonische
Schwingung durchläuft. Die Mittellinie m liegt symmetrisch,
d.h., daß die Amplituden A beidseits zur Mittellinie den
gleichen Betrag besitzen. Hier bei dieser Kurve entspricht
die Taststrecke T also genau der Wellenlänge λ₁ der
Anteilskurve. Bei der weiteren Analyse der Meßkurve M ent
steht sodann die in Fig. 1b gezeigte 2. Anteilskurve. Man
erkennt, daß die Wellenlänge λ₂ erheblich kürzer ist,
als die Wellenlänge λ₁ der 1. Anteilskurve. Dies liegt
daran, daß sich die Wellenlänge jedes einzelnen Anteils
dadurch ergibt, daß die Taststrecke jeweils durch die
Ordnung des Anteils dividiert wird. Unter Ordnung des An
teils ist eine natürliche Zahl zu verstehen, die innerhalb
der Grenzen 1 bis N/2 liegt. Demzufolge ergibt sich also für
die dritte Anteilskurve die Wellenlänge λ₃ aus der
Gleichung λ₃ = T/3, für die vierte Anteilskurve
ergibt sich weiterhin die Wellenlänge λ₄ = T/4 und
so fort, bis sich schließlich für die N/2-te Anteilskurve
die Wellenlänge λN/2 = T/N/2 ergibt.
Die Amplituden ergeben sich aus den jeweiligen Fourierkoef
fizienten ak, bk. Nachdem die Meßkurve M in ihre einzelnen
harmonischen Bestandteile zerlegt wurde, werden in dem in
Fig. 1c dargestellten Fall die langwelligen Anteile stark
gedämpft und die kurzwelligen Anteile nur schwach, bzw.
garnicht gedämpft. Die Indizierung der Anteilskurven ent
spricht der Indizierung der Anteilskurven aus Fig. 1b. Man
erkennt deutlich, daß die langwelligen Kurven, die mit 1
bzw. 2 indiziert sind, durch die starke Dämpfung der Ampli
tuden nunmehr auf der Mittellinie m bzw. innerhalb der
Strichstärke der Mittellinie m liegen. D.h., daß sie zwi
schen ihren Enden geradlinig verlaufen. Durch die schwache
Dämpfung der kurzwelligen Anteilskurven bleiben diese prak
tisch identisch mit den kurzwelligen Anteilskurven aus Fig.
1b. Nachdem nun die Dämpfung in der gewünschten Weise
durchgeführt wurde, wobei auch ausdrücklich im Gegensatz zum
bisher gesagten die kurzwelligen Anteile stark und die lang
welligen Anteile schwach gedämpft werden können, muß die
Meßkurve nunmehr in bereinigter Form aus den einzelnen An
teilskurven wieder zusammengesetzt werden.
Fig. 1d zeigt den qualitativen Verlauf einer aus einzelnen
Anteilskurven zusammengesetzten "Meßkurve" M′, die in
ihrem Verlauf dem Verlauf der kurzwelligen Anteile aus der
Meßkurve M entspricht. An einer derart berechneten Meßkurve
M′ lassen sich nunmehr fehlerfrei und reproduzierbar die
gewünschten Statistikdaten ermitteln.
Wenn man nun, anstatt wie in den Beispielen der Fig. 1a
bis 1d mit einem Dämpfungsfaktor Kn, nunmehr mit dem inver
sen Dämpfungsfaktor 1-Kn die Zerlegung der Meßkurve
durchführt, erhält man, wie in Fig. 1e ersichtlich, als
Ergebnis die langwelligen Anteile der Meßkurve M. Die lang
welligen Anteile können aus einer oder mehreren Anteils
kurven bestehen, die nach erfolgter Durchführung des Däm
pfungsverfahrens zu einer gemeinsamen Welligkeitskurve W
zusammengesetzt werden.
Zur weiteren Erläuterung des Verfahrens wird im folgenden
eine Formel angegeben, die, wie sich gezeigt hat, mit großem
Erfolg angewandt werden kann.
Diese Formel wurde bei der Auswertung einer mit dem Computer
generierten Oberfläche benutzt. Hierbei haben die einzelnen
Parameter folgende Bedeutung:
a0 entspricht einem konstanten Anteil der Meßkurve, der
oberhalb bzw. unterhalb der Nullinie verläuft.
T entspricht in diesem Fall der Taststrecke, die der Ab
taster auf der Oberfläche geradlinig zurückgelegt hat.
x sind die aufeinanderfolgenden äquidistanten Abzissenwerte
auf der Oberfläche.
Die diskreten Fourierkoeffizienten werden gemäß der nachfol
genden Gleichungen berechnet.
Die xj bzw. fj bezeichnen hierbei wiederum die äquidistanten
Stützstellen und die zu den äquidistanten Stützstellen ge
hörenden Funktionswerte, die in diesem Beispiel den Profil
ordinaten entsprechen.
Fig. 2 zeigt, wie das Verfahren erfolgreich zur Ausrichtung
eines Werkstücks, an dem eine Oberflächenrauheitsmessung
durchgeführt werden soll, anzuwenden ist.
In Fig. 2a ist eine zur Horizontalen geneigte Meßkurve M
gezeigt, bei der eine Anzahl von Riefen R1 bzw. R2 einseitig
von der Meßkurve weggerichtet sind. Die Auswertung der so
gezeigten Meßkurve führt zu erheblichen Schwierigkeiten,
bzw. läßt sich garnicht durchführen, weil die Riefen das
Ergebnis stark verfälschen. Wie nämlich in Fig. 2b zu sehen,
führt die Anwendung der Methode der Linearen Regression,
welche zur Regressionsgeraden G1 führt, zum Ausrichten des
Werkstücks in die Horizontalebene nicht zum gewünschten
Erfolg, sodaß die Meßkurve weiterhin zur Horizontalebene
geneigt bleibt. Dies ist auf den Einfluß der Riefen zurück
zuführen. Wendet man nun, nach erfolglosem Anwenden der
Methode der Linearen Regression, das erfindungsgemäße Ver
fahren in der im folgenden beschriebenden Art und Weise an,
so läßt sich die Schiefstellung des Werkstücks, die z. B.
auch ein Lagefehler der Meßkurve im allgemeinen Fall sein
kann, erfolgreich kompensieren. Hierzu werden, wie in Fig.
2c gezeigt, beispielsweise die sich aus dem langwelligen
Anteil der Meßkurve ergebenden Anteilskurven im Bereich der
Riefen R1 und R2, d. h. über die Längen der Riefen in dieser
Schnittebene als Ersatzlänge E1 bzw. E2 anstatt der Riefen
an die Meßkurve angehängt. Für dieses Verfahren müssen die
langwelligen Anteile als Ersatz für die Meßkurve im Bereich
der Riefen eingesetzt werden. Die sich hieraus ergebende
Ersatzkurve für die Meßkurve ist in Fig. 2d gezeigt. Die
gestrichelt gezeigten ursprünglichen Riefen sind nicht mehr
im digitalisierten Datensatz der Meßkurve vorhanden, sondern
müssen in geeigneter Weise zwischengespeichert werden, da
sie für das weitere Verfahren natürlich benötigt werden. Bei
dem beschriebenen Verfahrensschritt geht es lediglich darum,
den negativen Einfluß der Riefen bei der Kompensation von
Lagefehlern des Werkstücks zu unterdrücken. Deshalb kann
dieser Verfahrensschritt auch als Riefenunterdrückung be
zeichnet werden. Wendet man nun an der Ersatzmeßkurve nach
Fig. 2d erneut das Verfahren der Linearen Regression an, so
erhält man auf überraschend einfache Weise den rechnerischen
Ausgleich von Lagefehlern, daß das Werkstück dann wirklich
exakt horizontal ausgerichtet ist. Dies ist in Fig. 2e
dargestellt. Wie sich erkennen läßt, wurden mit der Neigung
der Meßkurve in die Horizontale um den Winkel α eben
falls die Ersatzkurven im Bereich der Riefen um den Winkel
α heruntergezogen.
Nach horizontalem Ausrichten der Meßkurve werden die vorher
auf einem Datensatz zwischengespeicherten digitalisierten
Werte der Riefen nunmehr wieder an die Meßkurve angehängt
werden und gleichzeitig die Ersatzkurven von der Meßkurve
abgekuppelt. Sie werden nun nicht mehr benötigt. Nachdem nun
eine wirklich sehr genaue Ausrichtung der Meßkurve in die
Horizontale erfolgt ist, kann nunmehr das erfindungsgemäße
Verfahren erneut zur statistischen exakten Auswertung der
Meßkurve herangezogen werden. Hierzu wird auf die Fig. 1
verwiesen.
Fig. 3 zeigt in einem Diagramm den Verlauf zweier verschiedener
Dämpfungsfaktoren Kn. Auf der Abzisse ist das Verhältnis der jeweils
vorliegenden Wellenlänge zu einer Referenzwellenlänge λ₀ aufgetragen.
Die Referenzwellenlänge λ₀
bestimmt
sich abhängig von der Länge der Taststrecke, und kann bei
spielsweise aus dem DIN-Entwurf 4776 entnommen werden.
Grundsätzlich kann auch jede andere Wellenlänge als Referenz
herangezogen werden, durch die einheitliche Verwendung ist
jedoch sichergestellt, daß die Ergebnisse vergleichbar sind.
Die Ordinate ist in 20 gleiche Abstände unterteilt, wobei
jeder Abschnitt die Länge 0,05 hat. Es ergibt sich somit eine
sehr genaue Auflösung für den aufgetragenen Wert des
Dämpfungsfaktors Kn.
Man erkennt den Verlauf zweier unterschiedlicher Funktionen,
die sich bei dem Wert Kn ungefähr gleich 0,7 schneiden. Die
Kurve I verläuft zunächst oberhalb der Kurve II. Dann ver
läuft die Kurve II oberhalb der Kurve I. Für beide Kurven
sind die zugehörigen Funktionen jeweils angegeben. Die Werte
für ε bzw. σ sind für jede Funktion einzeln vorgegeben.
Durch Einsetzen von verschiedenen Werten für x läßt sich der
Funktionsverlauf in der dargestellten Weise erhalten. Mit
den nach dieser Methode bestimmten Frequenzgängen wurde eine
gute Trennung der lang- bzw. kurzwelligen Anteile der Meß
kurve erreicht, es soll jedoch gesagt werden, daß die mögli
chen Frequenzgänge auch innerhalb der von beiden Kurven
eingeschlossenen Flächen liegen können. Weiterhin können
auch Frequenzgänge verwendet werden, die knapp außerhalb der
eingeschlossenen Flächen liegen, wobei die vorab geforderte
Toleranz für die Dämpfung der einzelnen Anteile die maximal
mögliche Entfernung des Dämpfungsfaktors von den einge
schlossenen Flächen festlegt.
Bezugszeichenaufstellung:
M Meßkurve
A Amplitude
m Mittellinie
1 . . . N/2 Index für den i-ten Anteil an der Meßkurve
λ₀ Bezugswellenlänge
λ₁, λ₂, . . . Wellenlänge, die sich durch Division der Taststrecke durch den jeweiligen Index 1 bis N ergibt
M′ von den langwelligen Anteilen befreite Meßkurve
W langwelliger Anteil an der Meßkurve
R1, R2 Riefe in der Meßkurve
E1, E2 Ersatzlänge für die Riefe
α Neigungswinkel
A Amplitude
m Mittellinie
1 . . . N/2 Index für den i-ten Anteil an der Meßkurve
λ₀ Bezugswellenlänge
λ₁, λ₂, . . . Wellenlänge, die sich durch Division der Taststrecke durch den jeweiligen Index 1 bis N ergibt
M′ von den langwelligen Anteilen befreite Meßkurve
W langwelliger Anteil an der Meßkurve
R1, R2 Riefe in der Meßkurve
E1, E2 Ersatzlänge für die Riefe
α Neigungswinkel
Claims (15)
1. Verfahren zur automatischen Erfassung der
Oberflächenstruktur eines Werkstückes, bei dem mittels einer
Tastvorrichtung an einer Vielzahl entlang einer Meßstrecke
angeordneter Meßpunkte Meßwerte erfaßt werden, die als
digitale Meßdaten in einem Speicher abgelegt und nach dem
Abtasten der Meßstrecke einer digitalen Rechnereinheit zur
Erstellung einer auf den Verlauf der Oberflächenstruktur
bezogenen Meßkurve zugeführt werden, wobei unerwünschte
Schwingungsanteile der Meßkurve durch einen Filter gedämpft
werden, dadurch gekennzeichnet, daß
die Meßkurve durch ein Approximations- oder
Interpolationspolynom aus trigonometrischen Funktionen
angenähert wird und daß die Koeffizienten des
Approximations- oder Interpolationspolynoms zur Ausfilterung
unerwünschter Schwingungsanteile der Meßkurve durch
Multiplikation mit Dämpfungsfaktoren Kn bewertet werden,
deren Werte in Abhängigkeit von der zu dem jeweiligen
Koeffizienten gehörenden Wellenlänge λn aus einer
vorgebbaren Gleichung bestimmt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß für die Dämpfungsfaktoren
Kn folgende Beziehung gilt:
NULL kleiner oder gleich Kn kleiner oder gleich EINS.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die einzelnen
Dämpfungsfaktoren Kn gemäß der Funktion
mit
ε = 0,05
σ = 0,35
ξ = λn/λ₀
bestimmt werden, wobei λ₀ eine Referenzwellenlänge ist.
ε = 0,05
σ = 0,35
ξ = λn/λ₀
bestimmt werden, wobei λ₀ eine Referenzwellenlänge ist.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die einzelnen
Dämpfungsfaktoren Kn gemäß der Funktion
mit
ε = 0,05
σ = 0,3
ξ = λn/λ₀
bestimmt werden, wobei λ₀ eine Referenzwellenlänge ist.
ε = 0,05
σ = 0,3
ξ = λn/λ₀
bestimmt werden, wobei λ₀ eine Referenzwellenlänge ist.
5. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die einzelnen
Dämpfungsfaktoren Kn innerhalb oder am Rand eines Bereiches
liegen, der durch die in den Ansprüchen 3 und 4 definierten
Funktionen zur Bestimmung von Kn eingeschlossen wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß anstelle der
Dämpfungsfaktoren Kn alternative Dämpfungsfaktoren verwendet
werden, die sich durch Subtraktion der Dämpfungsfaktoren Kn
von Eins ergeben.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Erstellung des
Approximations- oder Interpolationspolynoms ein Algorithmus
für eine numerische harmonische Analyse und/oder Synthese
verwendet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, daß äquidistante Werte der
Meßkurve erfaßt werden und daß zur Erstellung des
Approximations- oder Interpolationspolynoms die diskrete
Fouriertransformation (DFT) benutzt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, daß äquidistante Meßwerte
erfaßt werden und daß zur Erstellung des Approximations-
oder Interpolationspolynoms die schnelle Fourier-
Transformation (FFT) benutzt wird.
10. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß vor Auswertung der Meßkurve die Lagefehler, z. B. die
Schiefstellung der Meßkurve, durch ein Ausgleichsverfahren
korrigiert werden.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch
gekennzeichnet, daß das Ausgleichsverfahren
darin besteht, daß vor Erstellung des Approximations- oder
Interpolationspolynoms eine Schiefstellung oder grobe
Formabweichung der Meßkurve korrigiert wird, indem mit
Hilfe einer linearen Regression eine Ausgleichsgerade
ermittelt wird und die Meßkurve auf eine auf der
Ausgleichsgeraden liegende Abszisse umgerechnet wird.
12. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch
gekennzeichnet, daß das Ausgleichsverfahren
aus ein- oder mehrfacher Anwendung der Linearen Regression
in Verbindung mit der Anwendung einer die Meßkurve gut
approximierenden Kurve besteht, indem die Meßkurve im
Bereich von einseitig von der Meßkure weggerichteten
Meßwertausreißern (z. B. Riefen) durch die approximierende
Kurve zunächst ersetzt wird, anschließend mit Hilfe einer
linearen Regression eine Ausgleichsgerade zur Korrektur von
Lagefehlern (z. B. Schiefstellungen) ermittelt wird, indem
die die ersetzten Bereiche aufweisende Meßkurve auf eine
auf der Ausgleichsgeraden liegenden Abszisse umgerechnet
wird, und dann die umgerechnete Meßkurve im Bereich der
einseitig von der Meßkurve weggerichteten Meßwertausreißer
wieder durch die zwischengespeicherten Daten der
Meßwertausreißer ersetzt wird.
13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die approximierende
Kurve ein mit Dämpfungsfaktoren bewertetes Approximations-
oder Interpolationspolynom gemäß der Definition in
Anspruch 1 ist.
14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch
gekennzeichnet, daß nach dem Ausgleich der
Lagefehler der Meßkurve (z. B. Schiefstellung) eine die
korrigierte Meßkurve gut approximierende Kurve derart
angewandt wird, daß die einseitig von der Meßkurve
weggerichteten Meßwertausreißer erneut durch den Verlauf
der approximierenden Kurve ersetzt werden, wobei die
approximierende Kurve ein Approximations- oder
Interpolationspolynom gemäß der Festlegung nach einem oder
mehreren der Ansprüche 1 bis 9 ist.
15. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 14,
dadurch gekennzeichnet, daß es zum
Messen der Rauheiten von sogenannten kritischen Oberflächen
mit Riefen, vorzugsweise von geläppten oder gehonten
Oberflächen, verwendet wird.
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DE19883801297 DE3801297C2 (de) | 1988-01-19 | 1988-01-19 | Verfahren zur automatischen Erfassung der Oberflächenstruktur eines Werkstückes |
Applications Claiming Priority (1)
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DE3801297A1 DE3801297A1 (de) | 1989-07-27 |
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