DE3701783A1 - Atomabsorptionsspektrophotometer - Google Patents
AtomabsorptionsspektrophotometerInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft Atomabsorptions
spektrophotometer und insbesondere ein Atomabsorp
tionsspektrophotometer, das zur quantitativen Be
stimmung einer sehr kleinen Menge eines in einer
wässrigen Lösung gelösten metallischen Elements ge
eignet ist.
Wie in US-PS 43 77 342 beschrieben ist, wird in ei
nem Atomabsorptionsspektrophotometer
ein gewünschtes, in einer flüssigen Probe enthalte
nes Element mit einem Atomisierer wie einem Graphit
rohr in Atomdampf übergeführt und der Atomdampf wird
mit dem Licht einer Lichtquelle bestrahlt, um das
gewünschte Element quantitativ zu bestimmen auf der
Basis des Ausmaßes der Lichtabsorption durch den
Atomdampf. In einem solchen Falle nimmt die Dichte
des Atomdampfes innerhalb des Graphitrohrs zu, wenn
die Konzentration des gewünschten Elements in der
Probe größer ist, jedoch die Lichtabsorption durch
den Atomdampf geht bei einer Absorbanz von etwa 2,0
in die Sättigung, wenn dieser Wert auch geringfügig
variiert in Abhängikeit von der Art des gewünschten
Elementes. Es ist so unmöglich, das gewünschte, in
der Probe enthaltene Element bei Konzentrationen zu
bestimmen, die größer sind als ein gewisser Wert.
Um ein quantitatives Bestimmen eines gewünschten
Elementes zu ermöglichen, das in einer flüssigen
Probe mit hohen Konzentrationen enthalten ist und
die oben erwähnten Sättigungserscheinungen
verursacht, wird in der oben erwähnten US-PS
43 77 342 ein analytisches Verfahren vorgeschlagen.
Bei diesem Verfahren wird der Absorbanz/Zeit-Kurve
(d.h. dem Absorptionsprofil) des gewünschten Elemen
tes Beachtung geschenkt und das Element wird quanti
tativ bestimmt auf der Basis der Zeitbreite des Ab
sorptionsprofils bei einer vorbestimmten Absorbanz.
Dies bedeutet, daß das eine Zeitbreite des Absorp
tionsprofils verwendende analytische Verfahren auf
dem Umstand aufbaut, daß die Zeitbreite des Absorp
tionsprofils bei der vorbestimmten Absorbanz mit
zunehmender Konzentration des gewünschten Elements
zunimmt. Bei diesem Verfahren nimmt die Neigung der
Tangente an eine Arbeitskurve mit zunehmender Kon
zentration des gewünschten Elementes in hohem Ausmaß
ab, wie in den Fig. 6 und 7 des oben erwähnten
US-Patentes gezeigt ist und es ist deswegen nicht
immer möglich, das gewünschte Element genau zu be
stimmen.
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein
Atomabsorptionsspektrophotometer zur Verfügung zu
stellen, das in der Lage ist, mit hoher Genauigkeit
ein in einer flüssigen Probe mit hoher Konzentration
enthaltenes gewünschtes Element zu bestimmen.
Die Erfinder dieser Erfindung haben jene Absor
banz/Zeit-Kurven (d.h. die Absorptionsprofile) eines
gewünschten Elementes studiert, die man erhält durch
Messen einer Vielzahl von Proben, die das gewünschte
Element mit unterschiedlichen Konzentrationen ent
halten und haben folgende Fakten gefunden.
- 1. Die Absorptionsprofile haben die gleiche Halb wertsbreite.
- 2) Der Peakwert h eines Absorptionsprofils, dessen Halbwertsbreite w und die Zeitbreite v des Ab sorptionsprofils bei einer Absorbanz k sind miteinander durch die folgende Gleichung ver knüpft:
Die obigen Fakten ermöglichen ein quantitatives Be
stimmen eines gewünschten Elementes, selbst wenn das
Absorptionsprofil des gewünschten Elements, welches
in hoher Konzentration in einer Probe enthalten ist
eine Vielzahl von Peaks aufweist und es somit unmög
lich ist, unmittelbar aus dem Absorptionsprofil ei
nen wahren Absorbanzpeak zu finden. Dies bedeutet,
daß die Halbwertsbreite w vorgeschaltet aus dem Ab
sorptionsprofil bestimmt wird, welches erhalten wird
durch die Messung einer das gewünschte Element in
niedriger Konzentration enthaltenden Probe und wel
ches nur einen einzigen Peak aufweist und daß ein
wahrer Peakwert h aus der obigen Gleichung berechnet
wird.
Genauer gesagt kann gemäß der vorliegenden Erfindung
- selbst wenn ein oberer Teil des Absorptionsprofils
eines gewünschten Elementes, das in hoher Konzentra
tion in einer flüssigen Probe enthalten ist, inner
halb eines Absorbanz-Sättigungsbereiches liegt - der
wahre Peak des Absorptionsprofils bestimmt werden,
indem man die Tatsache ausnützt, daß die Halbwerts
breite des Absorptionsprofils unabhängig von der
Konzentration des gewünschten Elements konstant ist.
Es wird also die Halbwertsbreite w vorgeschaltet
bestimmt aus einem Absorptionsprofil, welches erhal
ten wird durch Messen einer Standardprobe, die das
gewünschte Element mit niedriger Konzentration ent
hält und es wird die Zeitbreite v des Absorptions
profils des gewünschten, in einer zu anaylsierenden
Probe enthaltenen Elementes bei einer vorbestimmten
Absorbanz k gemessen, um den wahren Peakwert h des
letzteren Absorptionsprofils aus den obigen Größen
w, k und v zu bestimmen.
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkei
ten der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus den
Unteransprüchen und der nachfolgenden Beschreibung
eines Ausführungsbeispiels in Verbindung mit der
Zeichnung; es zeigen:
Fig. 1A, 1B und 1C Auftragungen, die
Absorptionsprofile eines Elementes ent
sprechend dessen Konzentrationen C 1, C 2
und C 3 in einer flüssigen Probe zeigen,
Fig. 2 eine Auftragung zur Erläuterung eines
Verfahrens zum Berechnen des wahren Peaks
eines Absorptionsprofils,
Fig. 3 ein Blockdiagramm, das eine
Ausführungsform eines erfindungsgemäßen
Atomabsorptionsspektrophotometers zeigt,
und
Fig. 4 eine Auftragung, die die Beziehung
zwischen der Chromkonzentration und der
Absorbanz des Chromdampfes zeigen, die
durch die vorliegende Erfindung und durch
den Stand der Technik erhalten werden.
Das erfindungsgemäße Prinzip wird zunächst unter
Bezugnahme auf die Fig. 1A, 1B, 1C und 2 erläu
tert.
Fig. 1A bis 1C sind Auftragungen, die Absorptions
profile eines Elementes entsprechend dessen Konzen
trationen C 1, C 2 und C 3 in einer Probe zeigen; Fig.
1C zeigt einen Fall, bei dem das Absorptionsprofil
aufgrund der hohen Konzentration C 3 dieses Elementes
überläuft. Wenn das Absorptionsprofil von Fig. 1C
mit einem nichtlinearen Verfahren der kleinsten Qua
drate korrigiert wird auf der Grundlage von gemesse
nen Werten, die Absorbanzwerten von weniger als ei
nem Drittel eines wahren Peakwertes des obigen Ab
sorptionsprofils entsprechen, wird ein korrigiertes
Profil erhalten, wie es in Fig. 1C mit einer unter
brochenen Kurve gezeigt ist. Bei dem nichtlinearen
Verfahren der kleinsten Quadrate wird angenommen,
daß das Absorptionsprofil durch die folgende Funk
tion f ausgedrückt wird:
f = at b exp (-ct) (1)
worin a, b und c Koeffizienten darstellen, die durch
Messung zu bestimmen sind.
Wie vorstehend erläutert, haben Absorptionsprofile
eines Elementes, die unterschiedlichen Konzentratio
nen des Elementes entsprechen, die gleiche Halb
wertsbreite.
Als Ergebnis des detaillierten Studiums der obigen
Absorptionsprofile wurde weiter gefunden, daß der
Koeffizient a von Gleichung (1) der Konzentration
des Elementes proportional war, jedoch die Koeffi
zienten b und c unabhängig von der Konzentration des
Elementes konstant waren. Durch Anwenden der obigen
Tatsache kann der wahre Peak eines übergelaufenen
Absorptionsprofils bestimmt werden, ohne das Absorp
tionsprofil mit dem nichtlinearen Verfahren der
kleinsten Quadrate zu korrigieren. Es wird
nachfolgend unter Bezugnahme auf Fig. 2 ein neues
Verfahren zum Bestimmen des wahren Wertes eines Ab
sorptionsprofils erläutert.
Fig. 2 ist eine Auftragung zur Erläuterung eines
Verfahrens zum Berechnen eines Peakwertes eines Ab
sorptionsprofils. Im Hinblick auf Fig. 2 ist der
Peakwert h eines Absorptionsprofils, dessen Halb
wertsbreite w und die Zeitbreite v des Absorptions
profils bei einer gegebenen Absorbanz k durch die
folgende Gleichung verknüpft:
Entsprechend ergibt sich der Peakwert h durch die
folgende Gleichung:
Wie vorher erwähnt, ist die Halbwertsbreite w des
Absorptionsprofils bezüglich eines gewünschten Ele
mentes unabhängig von der Konzentration des ge
wünschten Elementes konstant. Somit kann der wahre
Peakwert eines Absorptionsprofils bestimmt werden
lediglich durch Messen der Zeitbreite des Absorp
tionsprofils bei einer geeigneten Absorbanz, voraus
gesetzt, daß die Halbwertsbreite w vorgeschaltet
bestimmt wird aus dem Absorptionsprofil, welches man
durch die Messung einer das gewünschte Element in
niedriger Konzentration enthaltenden Probe erhält
und welches nicht überläuft.
Es wird nun eine Ausführungsform eines erfindungsge
mäßen Atomabsorptionsspektrophotometers erläutert.
Fig. 3 ist ein die obige Ausführungsform erläutern
des Blockdiagramm. In Fig. 3 wird ein mit einem Per
manentmagneten 12 erzeugtes Magnetfeld an ein Gra
phitrohr 10 angelegt, in welches eine flüssige, das
gewünschte Element enthaltende Probe eingeführt
wird. Zum Erhitzen des gewünschten Elementes zu
Atomdampf wird einem Graphitofen, der das Graphit
rohr 10 enthält, elektrische Energie zugeführt. Ein
Lichtstrahl von einer Lichtquelle 14 läuft durch den
Atomdampf und tritt in ein Spektrometer 16 ein, um
aus ihm nur eine Wellenlängenkomponente herauszuneh
men, die einer vorbestimmten analytischen Linie ent
spricht. Der Lichtstrahl nach dem Spektrometer 16
wird mit einem fixierten Polarisator 18 aufgetrennt
in eine Lichtkomponente P 11 (in Fig. 3 nicht ge
zeigt). mit der Schwingungsebene parallel zu dem an
das Graphitrohr 10 angelegten Magnetfeld und in eine
weitere Lichtkomponente P 12 (in Fig. 3 nicht ge
zeigt) mit der Schwingungsebene senkrecht zu dem
oben erwähnten Magnetfeld. Die Lichtkomponenten P 11
und P 12 werden mit Hilfe eines Strahlwählers 20 ab
wechselnd von einem Detektor 22 empfangen. Es ist
darauf hinzuweisen, daß die Lichtkomponente P 11 der
Absorption durch den oben erwähnten Atomdampf und
der Hintergrundabsorption unterworfen wurde, jedoch
die Lichtkomponente P 12 nur der Hintergrundabsorp
tion unterworfen wurde. Durch Erfassen des Lichtmen
genunterschiedes zwischen den Komponenten P 11 und
P 12 kann die Lichtabsorption des Atomdampfes be
stimmt werden, ohne von der Hintergrundabsorption
beeinflußt zu sein. Das auf den Detektor 22 auffal
lende Licht wird in ein elektrisches Signal umgewan
delt, dessen Amplitude der Intensität des auffallen
den Lichts entspricht. Das elektrische Signal vom
Detektor 22 wird mit einem Vorverstärker 24 ver
stärkt und wird dann mit einem A/D-Wandler 26 in ein
digitales Signal umgewandelt, welches einem Rechner
28 zugeführt wird. Eine Eingabeeinrichtung 30 spei
chert einen Wert k der Absorbanz, bei dem die Zeit
breite v des Absorptionsprofils zu messen ist. Es
wird eine Reihe von Standardproben hergestellt, so
daß die Standardproben ein gewünschtes Element mit
unterschiedlichen Konzentrationen enthalten und daß
zumindest eines der Absorptionsprofile des gewünsch
ten Elementes, das den Standardproben entspricht,
nicht überläuft. Die oben erwähnten Standardproben
werden nacheinander gemessen und das nicht überlau
fende Absorptionsprofil wird zur Bestimmung der
Halbwertsbreite w verwendet. Der Rechner 28 berech
net also die Halbwertsbreite w aus Daten im Hinblick
auf das oben erwähnte Absorptionsprofil gemäß einem
Berechnungsprogramm, das Gleichung (2) entspricht
und in einem Programmspeicher 32 gespeichert ist.
Die so bestimmte Halbwertsbreite w wird in einem
Speicher 34 gespeichert zusammen mit der Beziehung
zwischen der Konzentration des gewünschten Elementes
und der Peakhöhe des Absorptionsprofils, die durch
die Messung der Standardprobe erhalten wird. Dann
wird eine unbekannte, das gewünschte Element enthal
tende Probe gemessen, um das Absorptionsprofil des
gewünschten Elementes zu erhalten. Die Zeitbreite v
dieses Absorptionsprofils bei dem in der Eingabeein
richtung 30 gespeicherten Absorbanzwert k wird ge
messen. Dann wird der wahre Peakwert h des Absorp
tionsprofils mit den oben erwähnten Größen w, k und
v gemäß einem anderen Berechnungsprogramm berechnet,
welches Gleichung (3) entspricht und im Programm
speicher 32 gespeichert ist und dann die Konzentra
tion des gewünschten Elementes aus dem so erhaltenen
wahren Peakwert bestimmt und die Konzentra
tions/Peak-Beziehung im Speicher 34 gespeichert. Die
so bestimmte Konzentration wird von einer Anzeige 36
angezeigt.
Fig. 4 ist eine Auftragung, die die Beziehung zwi
schen Chromkonzentration und Absorbanz für den Fall
zeigt, daß das in einer flüssigen Probe enthaltene
Chrom mit Atomabsorptionsspektroskopie bestimmt
wird. Eine durchgezogene Kurve in Fig. 4 zeigt die
obige Beziehung, die mit der vorliegenden Erfindung
erhalten wird und eine unterbrochene Kurve zeigt die
mit dem Stand der Technik erhaltene. Wie aus Fig. 4
ersichtlich ist, ist der meßbare Konzentrationsbe
reich gemäß der vorliegenden Erfindung zweimal oder
dreimal größer als der des Standes der Technik.
Wie vorstehend erläutert kann, bei der Atomabsorp
tionsspektroskopie eine meßbare Maximalkonzentration
im Vergleich zu der des Standes der Technik ver
größert werden.
Claims (9)
1. Atomabsorptionsspektrophotometer mit einer Ato
misiereinrichtung zum Heizen einer zu analysie
renden Probe zu Atomdampf, einer Lichtquelle
zum Bestrahlen des Atomdampfes mit Licht und
einem Detektor zum Erfassen von Licht, das
durch den Atomdampf gelaufen ist zum Bilden
eines Absorptionsprofils auf der Grundlage ei
nes Signals vom Detektor, wobei das Absorptions
profil eine Beziehung zwischen der Absorbanz
des Atomdampfes eines gewünschten, in der Probe
enthaltenen Elementes und der Zeit angibt zur
Bestimmung der Konzentration des gewünschten
Elementes aus dem Peakwert des Absorptionspro
fils,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Atomabsorptionsspektrophotometer eine
Einrichtung (28, 30, 32, 34) aufweist zum
vorgeschalteten Bestimmen der Halbwertsbreite w
des Absorptionsprofils aus Daten, die durch
Messen einer Standardprobe erhalten werden, und
zum Bestimmen des wahren Peakwertes h des
Absorptionsprofils des gewünschten, in der zu
analysierenden Probe enthaltenen Elementes auf
der
Grundlage der Zeitbreite v des Absorptionspro
fils bei einer vorbestimmten Absorbanz k und
der vorgeschaltet bestimmten Halbwertsbreite w.
2. Atomabsorptionsspektrophotometer nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß die Standardpro
be das gewünschte Element in niedriger Konzen
tration enthält.
3. Atomabsorptionsspektrophotometer nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß der wahre Peak
wert h mit folgender Gleichung berechnet wird:
4. Atomabsorptionsspektrophotometer nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß an die Atomisier
einrichtung (10) ein Magnetfeld angelegt ist.
5. Atomabsorptionsspektrophotometer nach Anspruch
4, dadurch gekennzeichnet, daß das Magnetfeld
durch einen Permanentmagneten (12) erzeugt ist.
6. Atomabsorptionsspektrophotometer nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß sich zwischen
der Atomisiereinrichtung (10) und dem Detektor
(22) ein Polarisator (18) befindet.
7. Atomabsorptionsspektrophotometer nach Anspruch
6, dadurch gekennzeichnet, daß der Polarisator
ein fixierter Polarisator ist.
8. Atomabsorptionsspektrophotometer nach Anspruch
6, dadurch gekennzeichnet, daß sich zwischen
dem Polarisator (18) und dem Detektor (22) ein
Strahlwähler (20) befindet.
9. Atomabsorptionsspektrophotometer nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß die Atomisier
einrichtung (10) ein Graphitrohr ist.
Applications Claiming Priority (1)
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JP61012012A JPS63118636A (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 原子吸光分析装置 |
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DE3701783C2 DE3701783C2 (de) | 1989-09-07 |
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US4728189A (en) | 1988-03-01 |
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