JPS63118636A - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
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- JPS63118636A JPS63118636A JP61012012A JP1201286A JPS63118636A JP S63118636 A JPS63118636 A JP S63118636A JP 61012012 A JP61012012 A JP 61012012A JP 1201286 A JP1201286 A JP 1201286A JP S63118636 A JPS63118636 A JP S63118636A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は原子吸光分析装置に係シ１％に水溶液中に溶解
している微量元素を定量分析するのに好適な原子吸光分
析装置に関するものである。
している微量元素を定量分析するのに好適な原子吸光分
析装置に関するものである。
従来の装置は、 ＵＫ Ｐａｔｅｎｔ ＧＢ ２０
７０２３７Ｂに記載のように、黒鉛炉を用いて得られる
原子吸光信号の横方向の時間幅ΔＴを測定するものであ
った。しかしながら、この方法の場合、試料の濃度が高
い場合に原子吸光信号が飽和するが、これに対する配慮
がなされていなかった。
７０２３７Ｂに記載のように、黒鉛炉を用いて得られる
原子吸光信号の横方向の時間幅ΔＴを測定するものであ
った。しかしながら、この方法の場合、試料の濃度が高
い場合に原子吸光信号が飽和するが、これに対する配慮
がなされていなかった。
予成光分析装置の一例を示す講成図である。第抄図にお
いて、１１は黒鉛→で、黒鉛管１１は磁石１２によって
磁場が印加されている。黒鉛管１１内に置かれた試料は
、黒鉛管１１を内蔵する黒鉛炉に供給される電力によっ
て発生するジュール熱で加熱されて原子蒸気となる。こ
の蒸気中を光源ランプ１３からの光束を通過させ１分光
器１４によって分析線波長が選び出された後、偏光子１
５によって磁場に平行な振動面を持つ光ｐＨとそれに垂
直な振動面を持つ光Ｐｔｚとに分離される。次に、ビー
ムセレクタ１６によって光ｐｔｔと元Ｐ１２とが交互に
検知器１７に入射桝して検知される。
いて、１１は黒鉛→で、黒鉛管１１は磁石１２によって
磁場が印加されている。黒鉛管１１内に置かれた試料は
、黒鉛管１１を内蔵する黒鉛炉に供給される電力によっ
て発生するジュール熱で加熱されて原子蒸気となる。こ
の蒸気中を光源ランプ１３からの光束を通過させ１分光
器１４によって分析線波長が選び出された後、偏光子１
５によって磁場に平行な振動面を持つ光ｐＨとそれに垂
直な振動面を持つ光Ｐｔｚとに分離される。次に、ビー
ムセレクタ１６によって光ｐｔｔと元Ｐ１２とが交互に
検知器１７に入射桝して検知される。
次に、原子吸光分析法におけるバックグラウンド吸収が
補正される様子を第６図を用いて説明する。黒鉛管１１
の内部に発生した蒸気は１分析目的元素とマトリックス
成分とからなっておシ、前者によるものは原子吸光でア
シ、後者によるものがバックグラウンド吸収である。こ
れらの蒸気に磁場が印加されるとゼーマン効果が生じ、
原子吸収線が分裂するとともに、偏光特性が生ずる。す
なわち、蒸気中を通過するのが光Ｐ１！の場合、光源ラ
ンプ１３か−ら放射される分析線１８と同波長のところ
に原子吸収線１９があシ、これがバックグラウンド吸収
２０に乗っている。この場合１分析線１８は、原子吸収
成分２１およびパックグラウンド吸収成分２２の合計が
測定される。これに対して、蒸気中を通過するのが光ｐ
ｔｚの場合、バックグラウンド吸収２３は磁場によって
影響を受けないため、光ｐＨの場合と全く同じであるが
。
補正される様子を第６図を用いて説明する。黒鉛管１１
の内部に発生した蒸気は１分析目的元素とマトリックス
成分とからなっておシ、前者によるものは原子吸光でア
シ、後者によるものがバックグラウンド吸収である。こ
れらの蒸気に磁場が印加されるとゼーマン効果が生じ、
原子吸収線が分裂するとともに、偏光特性が生ずる。す
なわち、蒸気中を通過するのが光Ｐ１！の場合、光源ラ
ンプ１３か−ら放射される分析線１８と同波長のところ
に原子吸収線１９があシ、これがバックグラウンド吸収
２０に乗っている。この場合１分析線１８は、原子吸収
成分２１およびパックグラウンド吸収成分２２の合計が
測定される。これに対して、蒸気中を通過するのが光ｐ
ｔｚの場合、バックグラウンド吸収２３は磁場によって
影響を受けないため、光ｐＨの場合と全く同じであるが
。
原子吸収線２４は分裂している。しかし１分裂した原子
吸収線２４は、分析線１８の位置において完全に消滅し
ていない。このため、光Ｐ１２の場合。
吸収線２４は、分析線１８の位置において完全に消滅し
ていない。このため、光Ｐ１２の場合。
光ｐＨの場合と同じ大きさのバックグラウンド吸収成分
２５と光ｐｔｔの場合よシ小さな原子吸収成分２６の合
計が測定される。次に、光ｐＨによる測定値から光Ｔ’
ｔｚによる測定値を差し引くと、原子吸収成分２７が残
る。このようにしてバックグラウンド吸収が消却され、
原子吸光分析が行われる。
２５と光ｐｔｔの場合よシ小さな原子吸収成分２６の合
計が測定される。次に、光ｐＨによる測定値から光Ｔ’
ｔｚによる測定値を差し引くと、原子吸収成分２７が残
る。このようにしてバックグラウンド吸収が消却され、
原子吸光分析が行われる。
第７図は原子吸光分析における試料中の分析目的元素の
濃度とこれによる吸光度との関係を模式的に示した線図
である。分析目的元素の濃度が高くなるにしたがって黒
鉛管１１内に生成される原子蒸気密度が高まるが、これ
によって吸収される強さは吸光度２０前後（元素によっ
て異なる］で飽和するという性質を持っている。そして
、光ｐｔｔは光Ｐ１□に比べて強く原子吸光されること
は第６図を用いて説明した通シであ）、第７図に示すよ
うに、濃度・吸光度曲線は前者が急峻でるる。したがっ
て、光ｐＨによる測定値から光ｐｉｇによる測定値を差
し引いた結果（Ｐｌｔ ＰＩ３）は、第７図に実線で
示してろるように、濃ＫＣｚを境にして濃度が高くなる
にしたがって吸光度が低下する。この現象は一般にロー
ルオーバーと呼ばれている。
濃度とこれによる吸光度との関係を模式的に示した線図
である。分析目的元素の濃度が高くなるにしたがって黒
鉛管１１内に生成される原子蒸気密度が高まるが、これ
によって吸収される強さは吸光度２０前後（元素によっ
て異なる］で飽和するという性質を持っている。そして
、光ｐｔｔは光Ｐ１□に比べて強く原子吸光されること
は第６図を用いて説明した通シであ）、第７図に示すよ
うに、濃度・吸光度曲線は前者が急峻でるる。したがっ
て、光ｐＨによる測定値から光ｐｉｇによる測定値を差
し引いた結果（Ｐｌｔ ＰＩ３）は、第７図に実線で
示してろるように、濃ＫＣｚを境にして濃度が高くなる
にしたがって吸光度が低下する。この現象は一般にロー
ルオーバーと呼ばれている。
ここで、第７図における濃度Ｃ３の試料によって生成さ
れる原子蒸気の吸光度の時間的変化を模式的に示した線
図を第８図に示す。濃度の高低に抱わらず原子蒸気の密
度は点線２８に示すように０から始まシ、最高値に達し
た後再び０に戻るが、濃度がある値以上の高濃度になる
と、実線２９で示すような吸光度対時間曲線が得られる
。すなわち、第７図に実線で示したＣ ｐＨ−ＰＩ３
）の値は、その試料によって生ずる蒸気の密度が最高
値に達した時点における吸光度でアシ、その前後におい
て濃度Ｃ２における吸光度と等しい値を経由することに
なる。したがって、！１度０２以上の濃度の試料におい
て、その値は同一になる。市販の原子吸光分析装置にお
いては、原子蒸気発生中の吸光度の最高値を検出してい
るので、ｄｋＬＣ＊以上において同一値となυ、第７図
に点線で示したような濃度・吸光度曲線になっている。
れる原子蒸気の吸光度の時間的変化を模式的に示した線
図を第８図に示す。濃度の高低に抱わらず原子蒸気の密
度は点線２８に示すように０から始まシ、最高値に達し
た後再び０に戻るが、濃度がある値以上の高濃度になる
と、実線２９で示すような吸光度対時間曲線が得られる
。すなわち、第７図に実線で示したＣ ｐＨ−ＰＩ３
）の値は、その試料によって生ずる蒸気の密度が最高
値に達した時点における吸光度でアシ、その前後におい
て濃度Ｃ２における吸光度と等しい値を経由することに
なる。したがって、！１度０２以上の濃度の試料におい
て、その値は同一になる。市販の原子吸光分析装置にお
いては、原子蒸気発生中の吸光度の最高値を検出してい
るので、ｄｋＬＣ＊以上において同一値となυ、第７図
に点線で示したような濃度・吸光度曲線になっている。
したがって、原子吸光分析できるのは、！Ｉ度０２以下
ということになる。すなわち、＊度Ｃ２以上の試料の分
析を行うことができない。
ということになる。すなわち、＊度Ｃ２以上の試料の分
析を行うことができない。
また、偏光ゼーマン効果を利用しない原子吸光分析装置
における濃度・吸光度曲線は、第７図中にに’ｕで示し
た実線に相当し、濃度０２以上の試料の分析を行うこと
ができないことは同じである。
における濃度・吸光度曲線は、第７図中にに’ｕで示し
た実線に相当し、濃度０２以上の試料の分析を行うこと
ができないことは同じである。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目的とする
ところは、原子吸光分析における試料の分析目的元素の
測定可能上限濃度を高めることができる原子吸光分析装
置を提供することにある。
ところは、原子吸光分析における試料の分析目的元素の
測定可能上限濃度を高めることができる原子吸光分析装
置を提供することにある。
本発明の特徴は１分析目的元素の濃度が萬＜。
吸光度対時間曲線が高吸光度において飽和的傾向を示す
ときに、上記吸光度対時間曲線の吸光度の真の最高値の
２分の１の吸光度における上記の時間幅が分析目的元素
の濃度に無関係に一定になることから、上記時間幅をあ
らかじめ求めておき。
ときに、上記吸光度対時間曲線の吸光度の真の最高値の
２分の１の吸光度における上記の時間幅が分析目的元素
の濃度に無関係に一定になることから、上記時間幅をあ
らかじめ求めておき。
被測廻試料の分析目的元素の吸光度対時間曲線の任意の
吸光度と、この吸光度における上記曲線の時間幅と、上
記吸光度の真の最褐値の２分の１の吸光度における時間
１娼とから上記吸光度対時間曲線の真の吸光度の最高値
を演算する演算手段を具備する構成とした点にろる。
吸光度と、この吸光度における上記曲線の時間幅と、上
記吸光度の真の最褐値の２分の１の吸光度における時間
１娼とから上記吸光度対時間曲線の真の吸光度の最高値
を演算する演算手段を具備する構成とした点にろる。
以下本発明を第１図に示した実施例および第２図〜第４
図を用いて詳細に説明する。
図を用いて詳細に説明する。
まず、第２図、第３図を用いて発明の原理について説明
する。第２図は′ｉｇ７図において述べた濃５）は濃度
Ｃｚ、（Ｃ）は濃度Ｃ３の場合である。＠２図（Ｃ）に
おいては、濃度Ｃ３が高いためロールオーバーしている
。そこで、吸光度の真の最高値の３分の２以下の測定値
だけを用いて非線形最小二乗法でロールオーバーを修正
すると、第２図＜ｃ＞に点線で示したものが得られる。
する。第２図は′ｉｇ７図において述べた濃５）は濃度
Ｃｚ、（Ｃ）は濃度Ｃ３の場合である。＠２図（Ｃ）に
おいては、濃度Ｃ３が高いためロールオーバーしている
。そこで、吸光度の真の最高値の３分の２以下の測定値
だけを用いて非線形最小二乗法でロールオーバーを修正
すると、第２図＜ｃ＞に点線で示したものが得られる。
なお、非線形最小二乗法では、吸収プロファイルが次式
に示す関数ｙにしたがっているものとして。
に示す関数ｙにしたがっているものとして。
ｙ＝ｍｔ”ｅ”” ・・・・・・・・・
α）実際の測定礒から定数ｍ、ｎ、ａを決める。ここで
、各濃度におけるピーク値の２分の１の高さにおけるプ
ロファイルの時間幅（半値幅）ＷＯを調べてみると、い
ずれも等しい値になっている。また、１及収ブｏフアイ
ルを詳細に調べてみると、α）式はｍが濃度に比例して
おシ、ｎ、ａｆｉ濃度によらない一定値であることがわ
かった。この性質を利用すると、非線形最小二乗法によ
ってロールオーバーを修正゛しなくてもプロファイルの
最高値を求めることができる。これを第３図によって説
明する。第３図は吸収プロファイルの最高値の演算方法
の説明図で、プロファイルの最高値り、手直＠Ｗ、任意
の高さｋおよびその高さにおける半値＋ｍ ｖとすると
、それらの間には１次式のような関係がおる。
α）実際の測定礒から定数ｍ、ｎ、ａを決める。ここで
、各濃度におけるピーク値の２分の１の高さにおけるプ
ロファイルの時間幅（半値幅）ＷＯを調べてみると、い
ずれも等しい値になっている。また、１及収ブｏフアイ
ルを詳細に調べてみると、α）式はｍが濃度に比例して
おシ、ｎ、ａｆｉ濃度によらない一定値であることがわ
かった。この性質を利用すると、非線形最小二乗法によ
ってロールオーバーを修正゛しなくてもプロファイルの
最高値を求めることができる。これを第３図によって説
明する。第３図は吸収プロファイルの最高値の演算方法
の説明図で、プロファイルの最高値り、手直＠Ｗ、任意
の高さｋおよびその高さにおける半値＋ｍ ｖとすると
、それらの間には１次式のような関係がおる。
これよりｈは次式によって計算できる。
ここで、Ｗは一度に抱らず一足であるから、ロールオー
バーしないことが明白な標準液によってＷを却っておけ
ば、各試料について任意の吸光度の位置におけるプロフ
ァイルの時間幅を測定するだけでプロファイルの真の最
高１直を算出することができる。
バーしないことが明白な標準液によってＷを却っておけ
ば、各試料について任意の吸光度の位置におけるプロフ
ァイルの時間幅を測定するだけでプロファイルの真の最
高１直を算出することができる。
第１図は本発明の原子吸光分析装置の検知器以降の演算
処理部の一実施例を示すブロック図である。第１図にお
いて、１は検知器で、検知器１に入射した光束は一１検
知器１でその強弱に対応した電気信号に変換され、前置
増幅器２によって増幅された後、Ａ−Ｄ変換６３によっ
てディジタル信号に変換され、コンピュータ４に入力す
る。５は入力部で、入力ｔｆｌＳｓには第３図で説明し
た吸収プロファイルの時間幅ｖを測定すべき吸光度が入
力されている。そこで、吸収プロファイルがロールオー
バーしないことが確実な濃度のものを少なくとも１つ以
上含む標準液系列を準備し、Ｉ＠次測測定行う。そして
、（３）式の演算がプログラムされている演算プログラ
ム６によってコンピュータ４でプロファイルの最高値り
の２分の１の吸光度におけるプロフィルの時間１嘔ＷＱ
を演算し、これと濃度とｈとの関係をメモリ７に記憶す
る。次に、未知の高濃度の試料の測定を行い、にとＶを
求め。
処理部の一実施例を示すブロック図である。第１図にお
いて、１は検知器で、検知器１に入射した光束は一１検
知器１でその強弱に対応した電気信号に変換され、前置
増幅器２によって増幅された後、Ａ−Ｄ変換６３によっ
てディジタル信号に変換され、コンピュータ４に入力す
る。５は入力部で、入力ｔｆｌＳｓには第３図で説明し
た吸収プロファイルの時間幅ｖを測定すべき吸光度が入
力されている。そこで、吸収プロファイルがロールオー
バーしないことが確実な濃度のものを少なくとも１つ以
上含む標準液系列を準備し、Ｉ＠次測測定行う。そして
、（３）式の演算がプログラムされている演算プログラ
ム６によってコンピュータ４でプロファイルの最高値り
の２分の１の吸光度におけるプロフィルの時間１嘔ＷＱ
を演算し、これと濃度とｈとの関係をメモリ７に記憶す
る。次に、未知の高濃度の試料の測定を行い、にとＶを
求め。
さらに上記のＷＱ を用いて演算プログラム６によって
ブＦファイルの真の最高値りを演算し、メモリ７に記憶
しである濃度とｈとの関係を参照して濃就を求め１表示
計８に光示する。
ブＦファイルの真の最高値りを演算し、メモリ７に記憶
しである濃度とｈとの関係を参照して濃就を求め１表示
計８に光示する。
第４図は本発明に係る原子吸光分析装置によつてクロム
の測定を行った場合の濃度・吸光度関係線図であって、
図の点線は従来法によるものでらシ、実線は本発明に係
る装置によるもので、測定可能な濃度範囲が２倍以上に
拡大されていることがわかる。
の測定を行った場合の濃度・吸光度関係線図であって、
図の点線は従来法によるものでらシ、実線は本発明に係
る装置によるもので、測定可能な濃度範囲が２倍以上に
拡大されていることがわかる。
上記したように、本発明の実施例によれば、原子吸光分
析における試料の分析目的元素の測定可能上限濃度を高
めることができる。
析における試料の分析目的元素の測定可能上限濃度を高
めることができる。
工発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、原子吸光分析に
おける試料の分析目的元素の測定可能上限濃度を高める
ことができるという効果がある。
おける試料の分析目的元素の測定可能上限濃度を高める
ことができるという効果がある。
第１図は本発明の原子吸光分析装置の検知器以降の演算
処理部の一実施例を示すブロック図、第２図は濃度Ｃ１
，Ｃ２、Ｃｓ （Ｃｔ ＜Ｃｍ ＜Ｃ３）における吸
収ピークを示した線図、第３図は吸収プロファイルの最
高値の演算方法の説明図、第４図は本発明に係る原子吸
光分析装置によってクロムの測定を行った場合の濃度・
吸光度関係線図、第５図は従来の偏光ゼーマン効果を利
用した原子吸光分析装置の一例を示す構成図、第６図は
第９図におけるパックグラウンド吸収補正の説明図、第
７図はそれによって得られる濃度・吸光度関係線図、第
８図は高濃度試料における吸光度対時間曲線の線図であ
る。 １・・・検知器、３・・・Ａ−Ｄ変換器、４ 、コンピ
ュータ、５・・・入力部、６・・・演算プログラム、７
・・・メモ軽讐翅
処理部の一実施例を示すブロック図、第２図は濃度Ｃ１
，Ｃ２、Ｃｓ （Ｃｔ ＜Ｃｍ ＜Ｃ３）における吸
収ピークを示した線図、第３図は吸収プロファイルの最
高値の演算方法の説明図、第４図は本発明に係る原子吸
光分析装置によってクロムの測定を行った場合の濃度・
吸光度関係線図、第５図は従来の偏光ゼーマン効果を利
用した原子吸光分析装置の一例を示す構成図、第６図は
第９図におけるパックグラウンド吸収補正の説明図、第
７図はそれによって得られる濃度・吸光度関係線図、第
８図は高濃度試料における吸光度対時間曲線の線図であ
る。 １・・・検知器、３・・・Ａ−Ｄ変換器、４ 、コンピ
ュータ、５・・・入力部、６・・・演算プログラム、７
・・・メモ軽讐翅
Claims (1)
- １、一定量の試料を導入し、電気的に加熱して前記試料
の原子蒸気を生成する黒鉛管と、該黒鉛管内の前記原子
蒸気を通過した光源ランプからの光束を導びく分光器と
、該分光器からの光を検知する検知器とを備え、該検知
器からの信号を入力して前記試料中の分析目的元素の原
子蒸気による吸光度対時間曲線を求め、該吸光度対時間
曲線の最高値から前記分析目的元素の濃度を求める構成
とした原子吸光分析装置において、前記分析目的元素の
濃度が高く、前記吸光度対時間曲線が高吸光度において
飽和的傾向を示すときに、前記吸光度対時間曲線の吸光
度の真の最高値の２分の１の吸光度における前記曲線の
時間幅が分析目的元素の濃度に無関係に一定になること
から、前記時間幅をあらかじめ求めておき、前記試料の
分析目的元素の吸光度対時間曲線の任意の吸光度と、該
吸光度における前記曲線の時間幅と、前記吸光度の真の
最高値の２分の１の吸光度における時間幅とから前記吸
光度対時間曲線の真の吸光度の最高値を演算する演算手
段を具備することを特徴とする原子吸光分析装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61012012A JPS63118636A (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 原子吸光分析装置 |
| DE19873701783 DE3701783A1 (de) | 1986-01-24 | 1987-01-22 | Atomabsorptionsspektrophotometer |
| US07/006,170 US4728189A (en) | 1986-01-24 | 1987-01-23 | Atomic absorption spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61012012A JPS63118636A (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 原子吸光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63118636A true JPS63118636A (ja) | 1988-05-23 |
Family
ID=11793676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61012012A Pending JPS63118636A (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4728189A (ja) |
| JP (1) | JPS63118636A (ja) |
| DE (1) | DE3701783A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0285359U (ja) * | 1988-12-21 | 1990-07-04 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3809212A1 (de) * | 1988-03-18 | 1989-10-05 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Atomabsorptions-spektrometer |
| DE3905782A1 (de) * | 1989-02-24 | 1990-08-30 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Verfahren zur konzentrationsbestimmung mittels atomabsorptions - spektroskopie |
| US10557792B2 (en) * | 2015-12-31 | 2020-02-11 | Abb, Inc. | Spectral modeling for complex absorption spectrum interpretation |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56117149A (en) * | 1980-02-22 | 1981-09-14 | Hitachi Ltd | Zeeman atomic absorption photometer |
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| JPS6051054B2 (ja) * | 1980-09-24 | 1985-11-12 | 株式会社日立製作所 | ゼ−マン原子吸光光度計 |
-
1986
- 1986-01-24 JP JP61012012A patent/JPS63118636A/ja active Pending
-
1987
- 1987-01-22 DE DE19873701783 patent/DE3701783A1/de active Granted
- 1987-01-23 US US07/006,170 patent/US4728189A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0285359U (ja) * | 1988-12-21 | 1990-07-04 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4728189A (en) | 1988-03-01 |
| DE3701783A1 (de) | 1987-07-30 |
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