JPS6041297B2 - 試料原子化装置 - Google Patents
試料原子化装置Info
- Publication number
- JPS6041297B2 JPS6041297B2 JP55035557A JP3555780A JPS6041297B2 JP S6041297 B2 JPS6041297 B2 JP S6041297B2 JP 55035557 A JP55035557 A JP 55035557A JP 3555780 A JP3555780 A JP 3555780A JP S6041297 B2 JPS6041297 B2 JP S6041297B2
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- graphite
- electrode
- sample
- electrodes
- tube
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/74—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は試料原子化装置に係り、特に発熱体にグラファ
ィト等の炭素、タングステン、あるいはタンタル等のチ
ュ−ブを用いた試料原子化装置に関する。
ィト等の炭素、タングステン、あるいはタンタル等のチ
ュ−ブを用いた試料原子化装置に関する。
試料原子化装置として、以下グラフアィトチューブを用
いたグラフアィトアトマィザを例にとり説明する。
いたグラフアィトアトマィザを例にとり説明する。
グラフアィトアトマイザは、グラフアィトチューブにこ
れに接続した一対の電極から大電流を与えて加熱し、グ
ラフアィトチューブ内に導入された試料を加熱してて分
解原子化し、その結果グラファィトチューブ内に形成さ
れた原子蒸気に原子スペクトル光源からの光を透過せし
め、源子吸光分析を行うものである。かかるグラフアイ
トチューブを用いた分析法は、微少試料で極めて高感度
の金属分析が行える利点がある反面、いまいま分析値の
良い再現性が得られない場合もあり、これが今一歩普及
をさまたげる原因となっていた。
れに接続した一対の電極から大電流を与えて加熱し、グ
ラフアィトチューブ内に導入された試料を加熱してて分
解原子化し、その結果グラファィトチューブ内に形成さ
れた原子蒸気に原子スペクトル光源からの光を透過せし
め、源子吸光分析を行うものである。かかるグラフアイ
トチューブを用いた分析法は、微少試料で極めて高感度
の金属分析が行える利点がある反面、いまいま分析値の
良い再現性が得られない場合もあり、これが今一歩普及
をさまたげる原因となっていた。
そこで本発明者は、かかるグラフアイトアトマィザの再
現性不良の原因を検討した。
現性不良の原因を検討した。
グラフアィトアトマィザの各部の抵抗値を測定したもの
を第１表に示す。
を第１表に示す。
第１表
第１表から明らかなように、回路系の主な抵抗は、発熱
体であるグラフアィトチューブの他に、グラフアィトチ
ューブとグラフアィト電極間の接触抵抗が大きくしめて
いることがわかる。
体であるグラフアィトチューブの他に、グラフアィトチ
ューブとグラフアィト電極間の接触抵抗が大きくしめて
いることがわかる。
このグラフアィトチューブとグラフアィト電極間の接触
抵抗を小さくするためには、両者を一体に横成すること
が考えられるが、グラフアイトチユーブの寿命は最高温
度で５０〜１００検体程度でひんぱんに交換が必要であ
り、グラフアィト電極と一体化することは困難である。
したがって、グラフアイトチューブは一対のグラフアィ
ト電極により両側からはさみこむ構造がとられている。
そこで、グラフアィトチューブを押し付ける圧力と、グ
ラフアィトチューブーグラファイト電極間の接触抵抗と
の関係を求めた結果、第１図に示す関係が得られた。
抵抗を小さくするためには、両者を一体に横成すること
が考えられるが、グラフアイトチユーブの寿命は最高温
度で５０〜１００検体程度でひんぱんに交換が必要であ
り、グラフアィト電極と一体化することは困難である。
したがって、グラフアイトチューブは一対のグラフアィ
ト電極により両側からはさみこむ構造がとられている。
そこで、グラフアィトチューブを押し付ける圧力と、グ
ラフアィトチューブーグラファイト電極間の接触抵抗と
の関係を求めた結果、第１図に示す関係が得られた。
すなわち、接触抵抗は圧力によって激しく変化する。圧
力が低いと、発熱体であるグラフアィトチューブ以上の
抵抗値を持つ。安定な発熱を得るため定電流電極を使用
する場合、グラフアィトチューブ自身の抵抗をＲＴ、援
触抵抗をＲｃ、回路に流れる電流を１とすると、発熱量
Ｑは、Ｑ＝Ｆ（ＲＴ＋Ｒｃ）となる。この発熱量Ｑによ
ってグラフアィトチュープ内部の温度が決定されるが、
上式から明らかなように接触圧がわずかでも変化すると
接触抵抗Ｒｃが変り、即温度が変化し得られる原子蒸気
密度が変化する。これはすなわち、得られる分析値が変
化することを意味している。この対策の１つの方法とし
ては、接触圧が変化してもできるだけ抵抗変化の小さい
領域を第１図の曲線から求めることである。０．５〜ｌ
ｋ９の付加圧変化では約１仇ｈＱの抵抗変化があるが、
４〜４．５ｋ９の付加圧変化では接触抵抗はわずかｌｍ
Ｑしか変化せず、１／１０にできる。
力が低いと、発熱体であるグラフアィトチューブ以上の
抵抗値を持つ。安定な発熱を得るため定電流電極を使用
する場合、グラフアィトチューブ自身の抵抗をＲＴ、援
触抵抗をＲｃ、回路に流れる電流を１とすると、発熱量
Ｑは、Ｑ＝Ｆ（ＲＴ＋Ｒｃ）となる。この発熱量Ｑによ
ってグラフアィトチュープ内部の温度が決定されるが、
上式から明らかなように接触圧がわずかでも変化すると
接触抵抗Ｒｃが変り、即温度が変化し得られる原子蒸気
密度が変化する。これはすなわち、得られる分析値が変
化することを意味している。この対策の１つの方法とし
ては、接触圧が変化してもできるだけ抵抗変化の小さい
領域を第１図の曲線から求めることである。０．５〜ｌ
ｋ９の付加圧変化では約１仇ｈＱの抵抗変化があるが、
４〜４．５ｋ９の付加圧変化では接触抵抗はわずかｌｍ
Ｑしか変化せず、１／１０にできる。
したがって、第１図から付加圧は約３ｋ９以上にすると
抵抗変化が少なく望ましい。それとともに、接触部は常
に一定の圧力が印加されているようにする必要がある。
抵抗変化が少なく望ましい。それとともに、接触部は常
に一定の圧力が印加されているようにする必要がある。
しかし、グラフアィトチューブは温度上昇に伴い膨張し
、温度降下に伴い収縮する。計算および実測によると、
長さ４仇奴のグラフアィトチューブは常温から３０００
℃に加熱される際、０．５肋膨張する。グラフアィトチ
ューブをはさみこむ電極部が固定されていると、膨張に
より極めて大きな力が接触部にかかる。このため本発明
では、少なくとも一方の電極部を可動とし、グラフアィ
トチューブの長さが変化しても常に約一定の接触圧が保
持されるように構成した。第２図に本発明の具体的一実
施例になるグラフアイトアトマイザの概略を示す。
、温度降下に伴い収縮する。計算および実測によると、
長さ４仇奴のグラフアィトチューブは常温から３０００
℃に加熱される際、０．５肋膨張する。グラフアィトチ
ューブをはさみこむ電極部が固定されていると、膨張に
より極めて大きな力が接触部にかかる。このため本発明
では、少なくとも一方の電極部を可動とし、グラフアィ
トチューブの長さが変化しても常に約一定の接触圧が保
持されるように構成した。第２図に本発明の具体的一実
施例になるグラフアイトアトマイザの概略を示す。
グラフアイトチューブ２は、その両側に設けられた一対
のグラフアイト電極４Ａ，４Ｂにはさみこまれて支持さ
れており、グラフアィト電極４Ａ，４Ｂは金属の電極６
Ａ，６Ｂに圧入され保持されている。
のグラフアイト電極４Ａ，４Ｂにはさみこまれて支持さ
れており、グラフアィト電極４Ａ，４Ｂは金属の電極６
Ａ，６Ｂに圧入され保持されている。
金属電極６Ａ，６８はそれぞれ電極支持台８Ａ，８８に
ボルト１６Ａ，１６Ｂにて固定され、電極支持台８Ａ，
８８は２本の平行な摺動軸１０を介して連結されている
。電極支持台８Ａ，８Ｂ間には、パージガス封入口１２
を有する部村１４が設けられている。摺動軸１０の一端
は電極支持台８Ｂにボルト１６Ｃにて固定され、摺動軸
１０と電極支持台８Ａとの間にはスライドベアリング１
８Ａ，１８Ｂが介在されている。したがって、グラフア
イト電極４Ａ，金属電極６Ａおよび電極支持台８Ａは摺
動軸１０上を摺動可能に構成されている。また、摺敷軸
１０にはストッパ２０が固定され、このストツパ２０と
スライドベアリング１８Ｂとの間にばね２２が設けられ
、スライドベアリング１８Ｂを介して、電極支持台８Ａ
、金属電極６Ａ、およびグラフアィト電極４Ａを常に第
２図の右方に押圧している。したがって、グラフアィト
チューブ２とグラフアィト電極４Ａ，４Ｂとの間には、
ばね２２により常に一定の圧力が印加されていることに
なる。印加圧力は、ストッパ２０を左右へ移動させるこ
とにより調節できる。２４は金属電極６Ａ，６Ｂ間に設
けられたカバーである。
ボルト１６Ａ，１６Ｂにて固定され、電極支持台８Ａ，
８８は２本の平行な摺動軸１０を介して連結されている
。電極支持台８Ａ，８Ｂ間には、パージガス封入口１２
を有する部村１４が設けられている。摺動軸１０の一端
は電極支持台８Ｂにボルト１６Ｃにて固定され、摺動軸
１０と電極支持台８Ａとの間にはスライドベアリング１
８Ａ，１８Ｂが介在されている。したがって、グラフア
イト電極４Ａ，金属電極６Ａおよび電極支持台８Ａは摺
動軸１０上を摺動可能に構成されている。また、摺敷軸
１０にはストッパ２０が固定され、このストツパ２０と
スライドベアリング１８Ｂとの間にばね２２が設けられ
、スライドベアリング１８Ｂを介して、電極支持台８Ａ
、金属電極６Ａ、およびグラフアィト電極４Ａを常に第
２図の右方に押圧している。したがって、グラフアィト
チューブ２とグラフアィト電極４Ａ，４Ｂとの間には、
ばね２２により常に一定の圧力が印加されていることに
なる。印加圧力は、ストッパ２０を左右へ移動させるこ
とにより調節できる。２４は金属電極６Ａ，６Ｂ間に設
けられたカバーである。
しかして今、グラフアィトチュ−ブ２内に試料２６を導
入し、電極支持台８Ａ，８Ｂに接続された電力ケーブル
（図示せず）から最大４００Ａの電流を供給すると、グ
ラファィトチューブ２が加熱されその中に導入された試
料が分解原子化する。
入し、電極支持台８Ａ，８Ｂに接続された電力ケーブル
（図示せず）から最大４００Ａの電流を供給すると、グ
ラファィトチューブ２が加熱されその中に導入された試
料が分解原子化する。
そこで、グラフアィトチューブ２内に形成された原子蒸
気に、グラフアィトチューブ２の中心を通る原子スペク
トル光源（図示せず）からの光東２８を透過せしめ、原
子吸光分析を行う。ところで、グラフアイトチューブ２
は加熱により軸万向に膨張するが、電極支持台８Ａは摺
動輪１０１こスライドベアリング１８Ａ，１８８を介し
て支持されているため、グラフアィト電極４Ａ、金属電
極６Ａ、および電極支持台８Ａが摺動軸１０上をばね２
２の力に抗して第２図の左方に摺動する。
気に、グラフアィトチューブ２の中心を通る原子スペク
トル光源（図示せず）からの光東２８を透過せしめ、原
子吸光分析を行う。ところで、グラフアイトチューブ２
は加熱により軸万向に膨張するが、電極支持台８Ａは摺
動輪１０１こスライドベアリング１８Ａ，１８８を介し
て支持されているため、グラフアィト電極４Ａ、金属電
極６Ａ、および電極支持台８Ａが摺動軸１０上をばね２
２の力に抗して第２図の左方に摺動する。
したがって、グラフアィトチユーブ２とグラフアィト電
極４Ａ，４Ｂとの間の接触圧力は若干の変化はあるがほ
ぼ一定に保つことができ、グラフアィトチューブ２の正
確な温度コントロールを可能とし、分析値の確実な再現
性を得ることができる。上記実施例では、摺動軸１０を
電極支持台８Ａ，８Ｂ間に設けたが、摺動軸１０を金属
電極６Ａ，６Ｂ間に設けても良い。
極４Ａ，４Ｂとの間の接触圧力は若干の変化はあるがほ
ぼ一定に保つことができ、グラフアィトチューブ２の正
確な温度コントロールを可能とし、分析値の確実な再現
性を得ることができる。上記実施例では、摺動軸１０を
電極支持台８Ａ，８Ｂ間に設けたが、摺動軸１０を金属
電極６Ａ，６Ｂ間に設けても良い。
特に、摺動軸１０を上記実施例の如く電極支持台８Ａ，
８Ｂ間に設けると、磁石をグラフアィトチューブ２の近
傍に設置するゼーマン効果を利用した原子吸光分析装置
の場合に有利である。第１図から、強い圧力をグラフア
イトチューフとグラフアィト電極の接触部に印加する程
、圧力変化に対する抵抗値変化が小さいことがわかるが
、７ｋ９以上の付加圧力を印加すると、高温状態でグラ
ファィトチューブが変形してしまう。
８Ｂ間に設けると、磁石をグラフアィトチューブ２の近
傍に設置するゼーマン効果を利用した原子吸光分析装置
の場合に有利である。第１図から、強い圧力をグラフア
イトチューフとグラフアィト電極の接触部に印加する程
、圧力変化に対する抵抗値変化が小さいことがわかるが
、７ｋ９以上の付加圧力を印加すると、高温状態でグラ
ファィトチューブが変形してしまう。
したがって、付加圧力は１．５〜７ｋｇの範囲にあるこ
とが必要である。接触面積を考慮すると、この数字は５
．６〜２６．３ｋ９／地の圧力に対応している。尚、異
なる寸法のグラフアィトチューブを用いた場合接触面積
が異なり付加圧力も変わるので、ストッパ位置を調節し
正規の圧力を印加するようにする。以上本発明によれば
、グラフアイトチュープ等の発熱体の膨張、収縮に応じ
て発熱体を支持している電極が動くので、発熱体と電極
との間の接触圧力を常にほぼ一定にでき、再現性の良い
試料原子化装置を得ることができる。
とが必要である。接触面積を考慮すると、この数字は５
．６〜２６．３ｋ９／地の圧力に対応している。尚、異
なる寸法のグラフアィトチューブを用いた場合接触面積
が異なり付加圧力も変わるので、ストッパ位置を調節し
正規の圧力を印加するようにする。以上本発明によれば
、グラフアイトチュープ等の発熱体の膨張、収縮に応じ
て発熱体を支持している電極が動くので、発熱体と電極
との間の接触圧力を常にほぼ一定にでき、再現性の良い
試料原子化装置を得ることができる。
第１図はグラフアイトチューブとグラフアイト電極にお
ける接触抵抗と付加圧との関係を示す図、第２図は本発
明の一実施例になるグラフアイトアトマイザの断面図で
ある。 ２……グラフアイトチユーブ、４Ａ，４Ｂ……グラフア
ィト電極、６Ａ，６Ｂ・・・・・・金属電極、８Ａ，８
Ｂ・…・・電極支持台、１０・…・・摺敷軸、１８Ａ，
１８Ｂ……スライドベアリング、２０……ストッパ、２
２・・・・・・ぱね、２６・・・・・・試料、２８・・
・・・・光東。 幕／図 弟Ｚ図
ける接触抵抗と付加圧との関係を示す図、第２図は本発
明の一実施例になるグラフアイトアトマイザの断面図で
ある。 ２……グラフアイトチユーブ、４Ａ，４Ｂ……グラフア
ィト電極、６Ａ，６Ｂ・・・・・・金属電極、８Ａ，８
Ｂ・…・・電極支持台、１０・…・・摺敷軸、１８Ａ，
１８Ｂ……スライドベアリング、２０……ストッパ、２
２・・・・・・ぱね、２６・・・・・・試料、２８・・
・・・・光東。 幕／図 弟Ｚ図
Claims (1)
- １ その内部に試料が導入される発熱体と、この発熱体
に電流を供給し前記試料を加熱して原子化する一対の電
極と、この一対の電極を支持する支持台と、前記原子化
された試料に光を供給する手段とからなる試料原子化装
置において、前記支持台に２本の平行な摺動軸を設け、
この摺動軸に前記一対の電極の少なくとも一方をスライ
ドベアリングを介して摺動可能に支持し、前記摺動軸に
前記摺動可能に支持された電極を押圧するばねを設けた
ことを特徴とする試料原子化装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55035557A JPS6041297B2 (ja) | 1980-03-19 | 1980-03-19 | 試料原子化装置 |
| US06/245,162 US4432643A (en) | 1980-03-19 | 1981-03-18 | Apparatus for atomizing a sample including a slidable pressure maintaining arrangement |
| DE19813110783 DE3110783A1 (de) | 1980-03-19 | 1981-03-19 | Vorrichtung zum zerstaeuben einer probe |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55035557A JPS6041297B2 (ja) | 1980-03-19 | 1980-03-19 | 試料原子化装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56132547A JPS56132547A (en) | 1981-10-16 |
| JPS6041297B2 true JPS6041297B2 (ja) | 1985-09-14 |
Family
ID=12445024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55035557A Expired JPS6041297B2 (ja) | 1980-03-19 | 1980-03-19 | 試料原子化装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4432643A (ja) |
| JP (1) | JPS6041297B2 (ja) |
| DE (1) | DE3110783A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3239253A1 (de) * | 1982-10-23 | 1984-04-26 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Rohrcuvette fuer die atomabsorptionsspektrometrie |
| JPS63118636A (ja) * | 1986-01-24 | 1988-05-23 | Hitachi Ltd | 原子吸光分析装置 |
| DE3802968A1 (de) * | 1988-02-02 | 1989-08-10 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Rohrfoermiger ofen fuer die elektrothermische atomisierung von proben |
| JPH0672841B2 (ja) * | 1988-03-04 | 1994-09-14 | 株式会社日立製作所 | 原子吸光分光光度計 |
| US20030087447A1 (en) * | 2001-11-08 | 2003-05-08 | Blouin Matthew R | Sample well strip |
| US7731899B2 (en) | 2007-02-08 | 2010-06-08 | Biokit, S.A. | Apparatus and methods for dispensing sample holders |
| US9116158B2 (en) * | 2012-10-18 | 2015-08-25 | Vuv Analytics, Inc. | Vacuum ultraviolet absorption spectroscopy system and method |
| CN208399371U (zh) | 2018-03-30 | 2019-01-18 | 株式会社岛津制作所 | 一种石墨炉锁紧装置 |
| US10677767B2 (en) | 2018-06-12 | 2020-06-09 | Vuv Analytics, Inc. | Vacuum ultraviolet absorption spectroscopy system and method |
| EP3629007B1 (de) * | 2018-09-26 | 2021-08-11 | Schunk Kohlenstofftechnik GmbH | Mantelelektrode |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2148783C3 (de) * | 1971-09-30 | 1974-05-09 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen | Graphitrohrküvette |
| US4022530A (en) * | 1974-03-22 | 1977-05-10 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co. Gmbh | Device for atomizing a sample for flameless atomic absorption measurements |
| DE2413782C3 (de) * | 1974-03-22 | 1980-07-31 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen | Vorrichtung zur Atomisierung einer Probe für flammenlose Atomabsorptionsmessungen |
| US3982834A (en) * | 1974-03-22 | 1976-09-28 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co. Gmbh | Device for atomization of a sample |
| JPS5518940Y2 (ja) * | 1974-12-28 | 1980-05-02 | ||
| JPS52117690A (en) * | 1976-03-29 | 1977-10-03 | Hitachi Ltd | Zeeman atomic absorption analysis and apparatus therefor |
| DE2617928C3 (de) * | 1976-04-23 | 1978-10-26 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen | Graphitrohrküvette für die flammenlose Atomabsorptions-Spektroskopie |
-
1980
- 1980-03-19 JP JP55035557A patent/JPS6041297B2/ja not_active Expired
-
1981
- 1981-03-18 US US06/245,162 patent/US4432643A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-03-19 DE DE19813110783 patent/DE3110783A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3110783C2 (ja) | 1988-03-31 |
| DE3110783A1 (de) | 1982-02-04 |
| US4432643A (en) | 1984-02-21 |
| JPS56132547A (en) | 1981-10-16 |
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