DE3643361C2 - Mehrschichtiger DFB-Halbleiterlaser - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen DFB-Halbleiterlaser gemäß der im
Oberbegriff des Patentanspruchs 1 beschriebenen Art, also auf einen
mehrschichtigen Halbleiterlaser mit verteilter Rückkopplung (distributed
feed back = DFB), in dem eine einzelne longitudinale Mode schwingen
kann. Ein Halbleiterlaser dieser Gattung ist aus der Druckschrift DE 34 45 725
A1 bekannt.
Ein derartiger Halbleiterlaser weist üblicherweise Gitter mit gleichmäßiger
Teilung bzw. gleichmäßigem Gitterabstand auf, um Licht durch Bragg-
Reflexion zurückzukoppeln. Es ist jedoch schwierig, nur eine einzelne longitudinale
Mode in diesem Laser zu erzeugen. Häufig bilden sich zwei longitudinale
Lichtmoden heraus, so daß ein sogenanntes Moden-Springen auftritt.
Um diesen Nachteil zu vermeiden und nur eine einzelne longitudinale Mode
im Laser erzeugen zu können, wurde bereits vorgeschlagen, die Gitterteilung
in der Nähe des Zentrums zur Erzeugung einer Phasendifferenz mit
dem Wert Π/2 zu verändern, also zur Erzeugung einer λ/4 Phasenverschiebung,
wobei λ die Schwingungswellenlänge ist.
Die Herstellung eines genauen Gitters mit einer im Gitterzentrum veränderten
Gitterkonstanten bzw. Gitterteilung ist jedoch außerordentlich
kompliziert, so daß sich Halbleiterlaser, die ein solches Gitter aufweisen,
nur mit hohen Ausschußraten herstellen lassen.
Aus der deutschen Auslegeschrift DE 27 03 907 B2, die diese Möglichkeit
zur Veränderung der Gitterkonstante erwähnt, ist es auch bekannt, eine
Verstärkung einer gewünschten stabilen Mode innerhalb des Stoppbandes
durch Einbringen einer Diskontinuität, beispielsweise in Form einer
stufenartigen Änderung der Dicke der Führungsschicht in der Mitte des
Rückkopplungswegs zu erreichen. Jedoch lassen sich genaue Schichtdickenänderungen
ohne Phasensprünge zur Änderung der Gitterkonstante
in definierten Bereichen ebenfalls nur sehr schwer herstellen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen DFB-Halbleiterlaser der
eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß es zur Erzeugung einer
einzelnen longitudinalen Modenschwingung weder erforderlich ist, die Gitterteilung
bzw. Gitterkonstante im Zentrum des Gitters noch die Dicke der
gittertragenden Schicht partiell zu verändern.
Die Lösung der gestellten Aufgabe ist im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs
1 angegeben. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind
den Unteransprüchen zu entnehmen.
Der Halbleiterlaser nach der Erfindung läßt sich mit sehr geringer Ausschußrate
herstellen. Er weist eine optische Wellenleitereinrichtung auf,
zu der ein erster und ein zweiter gerader Balkenbereich sowie ein abgebogener
Balkenzwischenbereich gehören, der zwischen den beiden geraden Balkenbereichen
liegt. Auf diese Weise wird erreicht, daß sich die Gitterteilung
bzw. Gitterkonstante für den abgebogenen Balkenzwischenbereich gegenüber den beiden
geraden Balkenbereichen etwas vergrößert bzw. verlängert, wodurch die
Phase des Lichts, das sich entlang der optischen Wellenleitereinrichtung
ausbreitet, um λ/4 verschoben wird, wobei λ die Schwingungswellenlänge
des Lichts ist. Aufgrund dieser Phasenverschiebung wird eine einzelne
longitudinale Schwingungsmode im Laser gebildet.
Obwohl die Kopplung zweier paralleler, auf Abstand voneinander angeordneter
Wellenleiter innerhalb einer mehrschichtigen Halbleiterlaseranordnung
durch ein gekrümmtes oder schräg verlaufendes Wellenleiterstück
in verschiedenen Ausführungen bereits bekannt ist (vgl. DE 33 06 085 A1,
insbesondere Fig. 3; DE 28 02 173 A1, insbesondere Fig. 2 und 3; EP
0 141 420 A2, insbesondere Fig. 3), kann diesem Stand der Technik nicht die
Lehre entnommen werden, welchen Bedingungen der Balkenzwischenbereich genügen
muß, um zuverlässig eine bestimmte gewünschte Longitudinalmode
des Laserlichts zu erzielen.
Ein Halbleiterlaser mit Rückkopplung nach der Erfindung zeichnet sich
aus durch eine erste Deckschicht, eine auf der oberen Fläche der ersten
Deckschicht liegende aktive Schicht, eine auf der oberen Fläche der aktiven
Schicht liegende Führungsschicht, die ein Gitter enthält, eine auf
der oberen Fläche der Führungsschicht liegende zweite Deckschicht
und eine Laserlicht übertragende optische Wellenleitereinrichtung
zur Verschiebung der Phase des in ihr
verlaufenden Lichts um den Wert λ/4, wobei λ die Schwingungswellenlänge
des Lichts ist. Die optische Wellenleitereinrichtung
liegt vorzugsweise auf der zweiten Deckschicht
und kann z. B. mit dieser einstückig verbunden sein. Innerhalb
der optischen Wellenleitereinrichtung befindet sich
eine Einrichtung zur Verschiebung der Phase des entlang der
optischen Wellenleitereinrichtung übertragenen Lichts um
den Wert λ/4.
Das genannte Gitter (optisches Gitter) weist eine gleichmäßige
Teilung bzw. einen gleichmäßigen Gitterabstand auf,
wobei die Gitterstrukturen in ihrer Längsrichtung gesehen
einen dreieckförmigen Querschnitt besitzen. Die optische
Wellenleitereinrichtung enthält folgende Elemente: einen
ersten geraden Balkenbereich, der senkrecht zu derjenigen
Richtung verlaufen kann, unter der Gitterfurchen des Gitters verlaufen,
einen Balkenzwischenbereich, der zum ersten geraden
Balkenbereich unter einem Winkel Θ verläuft, und einen zweiten geraden
Balkenbereich, der sich parallel zur Richtung des ersten geraden Balkenbereichs
erstreckt, jedoch nicht auf einer Geraden mit diesem bzw.
colinear zu diesem verläuft. Dabei ist der erste gerade Balkenbereich
über den Balkenzwischenbereich mit dem zweiten geraden Balkenbereich
verbunden.
Die Beziehung zwischen der Länge l des Balkenzwischenbereichs
und dem Winkel Θ, unter dem der Balkenzwischenbereich zum ersten
und zweiten geraden Balkenbereich verläuft, genügt
folgender Gleichung:
wobei Θ ≠ 0° ist und Λ0 die Teilung des Gitters bei Θ = 0°, n
die Gitterordnung und m eine ganze Zahl sind. Die Länge l
des Balkenzwischenbereichs ist vorzugsweise kleiner als etwa
1/10 der Gesamtlänge der Schicht bzw. des Halbleiterlasers.
Dagegen ist der Winkel Θ vorzugsweise kleiner als 10°. Das
Gitter kann auf der oberen Fläche der aktiven Schicht vorhanden
sein, wobei sich die optische Wellenleitereinrichtung
auf der oberen Fläche der zweiten Deckschicht befindet.
Vorzugsweise weist die optische Wellenleitereinrichtung
in ihrer Längsrichtung gesehen einen rechteckförmigen
Querschnitt auf. Sie kann beispielsweise als Stegwellenleitereinrichtung
ausgebildet sein. Es ist aber auch möglich,
die optische Wellenleitereinrichtung durch eine Indexwellenleiterstruktur
zu bilden, beispielsweise durch eine begrabene
Heterostruktur oder durch eine Rippe und eine kanalisierte
Substratplatte. Der Balkenzwischenbereich der optischen
Wellenleitereinrichtung kann an seinen Enden gleichmäßig
gekrümmt sein, um Lichtverluste aufgrund von Streueffekten
zu vermeiden. Zu diesem Zweck kann er als glatt gekrümmter
Balken ausgebildet sein.
Die Zeichnung stellt Ausführungsbeispiele der Erfindung
dar. Es zeigt
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines in Tiefenrichtung
unterteilten Halbleiterlasers mit Rückkopplung
gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel,
Fig. 2 eine Draufsicht auf den Halbleiterlaser nach Fig. 1,
Fig. 3 eine graphische Darstellung zur Erläuterung der
Erzeugung einer λ/4 Phasenverschiebung, und
Fig. 4 eine Draufsicht auf ein zweites Ausführungsbeispiel
eines in Tiefenrichtung unterteilten Halbleiterlasers
mit Rückkopplung.
Zunächst wird anhand der Fig. 1 das erste Ausführungsbeispiel
eines aufgeteilten bzw. in Tiefenrichtung unterteilten
Halbleiterlasers mit Rückkopplung (distributed feedback
semiconductor laser) näher beschrieben. Dieser Halbleiterlaser
enthält ein GaAS-Substrat 1 vom n-Typ, eine auf der
oberen Fläche des GaAS-Substrats 1 vom n-Typ liegende erste
Deckschicht 2 (cladding layer bzw. Plattierungsschicht), die
beispielsweise eine AlxGa1-xAs-Schicht vom n-Typ sein kann,
eine auf der oberen Fläche der aktivierenden Schicht 2 bzw.
Deckschicht liegende aktive Schicht 3, beispielsweise eine
AlyGa1-yAs-Schicht, wobei y ≦ωτ x ist, eine Führungsschicht 4
(guiding layer) aus z. B. AlzGa1-zAs vom p-Typ mit y ≦ωτ z ≦ωτx, die sich
auf der oberen Fläche der aktiven Schicht 3 befindet, sowie eine zweite
Deckschicht 5 (cladding layer bzw. Plattierungsschicht) aus
z. B. AlxGa1-xAs vom p-Typ, die auf der oberen Fläche der
Führungsschicht 4 angeordnet ist.
Auf der Oberfläche der Führungsschicht 4 sind Gitter 7 vorhanden
(Beugungsgitter bzw. optische Gitter). Die Gitter 7
weisen eine gleichmäßige Teilung sowie dreieckförmige Querschnitte
auf. Die oberen und unteren Kanten der Gitter bzw.
die Gitterfurchen erstrecken sich in einer Richtung parallel
zu den Endflächen 6a und 6b des Halbleiterlasers. Wie
den Fig. 1 und 2 zu entnehmen ist, weist die zweite Deckschicht
5 einen Stegwellenleiter 8 auf, der nach oben hervorsteht
bzw. an der oberen Seite der zweiten Deckschicht 5
liegt. Dieser Stegwellenleiter 8 besitzt einen rechteckförmigen
Querschnitt und erstreckt sich von der Endfläche 6a
zur gegenüberliegenden Endfläche 6b des Halbleiterlasers.
Der Stegwellenleiter 8 enthält insgesamt drei Abschnitte,
und zwar einen ersten geraden Balkenbereich 8a, einen relativ
zu diesem abgebogenen Balkenzwischenbereich 8b und einen weiteren
zweiten geraden Balkenbereich 8c. Der erste gerade Balkenbereich
8a erstreckt sich von der Endfläche 6a in Richtung
des Zentrums der oberen Fläche der zweiten Deckschicht 5
und verläuft in einer Richtung senkrecht zur Endfläche 6a.
Der abgebogene Balkenzwischenbereich 8b des Stegwellenleiters 8 verläuft
gegenüber dem ersten geraden Balkenbereich 8a unter einem
Winkel Θ, wobei die Länge des abgebogenen Balkenzwischenbereichs 8b den
Wert l aufweist. Der zweite gerade Balkenbereich 8c erstreckt
sich vom Ende des abgebogenen Balkenzwischenbereichs 8b in Richtung
der gegenüberliegenden Endfläche 6b und verläuft parallel
zum ersten geraden Balkenbereich 8a.
Es wurde bereits zuvor beschrieben, in welcher Weise die
Länge l des abgebogenen Balkenzwischenbereichs 8b des Stegwellenleiters 8
und der Winkel Θ bestimmt werden können, unter dem der erste
gerade Balkenbereich 8a und der zweite gerade Balkenbereich
8c des Stegwellenleiters 8 jeweils zum abgebogenen
Balkenzwischenbereich 8b verlaufen. Für den Fall, daß sich die oberen
Kanten und der Boden bzw. die Furchen der Gitter 7 in Richtung
parallel zu den Endflächen 6a und 6b erstrecken, wie
oben beschrieben, wird entsprechend der Fig. 3 im Gebiet
des abgebogenen Balkenzwischenbereichs 8b eine Gitterleitung Λ′ erhalten,
die sich durch folgende Formel ausdrücken läßt, und zwar
bezogen auf die Gitterteilung Λ0 bei einem Winkel von
Θ = 0°:
Wie anhand der Gleichung (1) erkannt werden kann, ist im
Bereich des Lichtverlaufs bzw. des Lichtdurchgangs die Gitterteilung
für dasjenige Gebiet, in dem sich der abgebogene
Balkenzwischenbereich 8b in der Nähe des Zentrums des Stegwellenleiters 8
befindet, ein wenig länger als diejenige im Bereich der geradlinig
verlaufenden Balkenbereiche 8a und 8c, wie der
Fig. 3(B) zu entnehmen ist. Weiterhin weist die Gitterteilung
im Falle eines geraden Stegwellenleiters keine Endabschnitte
auf, wie in Fig. 3(A) gezeigt ist.
Sind die Gitterphasen Ω1, Ω2 und Ω3 so wie in den Fig. 3(A)
und 3(B) festgelegt, so gelten folgende Gleichungen:
Der Ausdruck n gibt hierbei die Gitterordnung an. Mit Hilfe
der Gleichungen (2) und (3) läßt sich die Phasendifferenz
ΔΩ zwischen den Phasen Ω2 und Ω3 wie folgt bestimmen:
Diese Formel (4) ist unabhängig von Ω1. Nimmt ΔΩ den Wert
π + 2πm, wobei m eine ganze Zahl ist, so kann eine Phasenverschiebung
von λ/4 erzeugt werden. Mit ΔΩ = π + 2πm
gilt folgende Beziehung:
Mit Hilfe der Gleichungen (5) und (1) läßt sich dann folgende
Beziehung bilden:
Hierbei gilt Θ ≠ 0. Die Gleichung (6) zeigt, daß die Länge
l und der Winkel Θ des abgebogenen Balkenzwischenbereichs 8b voneinander
abhängen, so daß bei geeigneter Wahl der in ihr enthaltenen
Größe eine λ/4 Phasenverschiebung in Übereinstimmung mit
einer Phasenverschiebung um π innerhalb des Lichts erzeugt
werden kann, das entlang des Stegwellenleiters 8 übertragen
wird. Sind m = 0, Λ0/n = 0,125 µm, Θ = 5° und l = 16,4 µm,
so läßt sich die gewünschte Phasenverschiebung in einfacher
Weise erhalten.
Wie oben beschrieben, kann entsprechend dem bevorzugten
Ausführungsbeispiel nach der Erfindung eine λ/4 Phasenverschiebung
durch den abgebogenen Balkenzwischenbereich 8b des Stegwellenleiters
8 eingestellt werden, so daß auf diese Weise eine
einzelne longitudinale Schwingungsmode erzeugbar ist. Die
λ/4 Phasenverschiebung läßt sich dabei ohne Verschiebung
bzw. Veränderung der Phase des Gitters 7 in der Nähe des
Zentrumsbereichs des Stegwellenleiters 8 einstellen. Die
Herstellung des unterteilten Rückkopplungs-Halbleiterlasers
nach der Erfindung kann daher relativ problemlos erfolgen,
und zwar ohne großen Ausschuß.
Der erste gerade Balkenbereich 8a kann mit dem zweiten geraden
Balkenbereich 8c über einen abgebogenen Balkenzwischenbereich 8b
verbunden sein, der abgerundete Ecken aufweist oder glatt
bzw. leicht gekrümmte Balkenbereiche enthält. Dies ist insofern
vorteilhaft, als auf diese Weise Lichtverluste geringgehalten
werden können, wenn Licht durch den Stegwellenleiter
8 hindurchtritt. Die Länge l des abgebogenen Balkenzwischenbereichs
8b ist vorzugsweise kleiner als etwa 1/10 der Gesamtlänge
des Halbleiterlasers, also kleiner als etwa 1/10
des Abstandes zwischen den einander gegenüberliegenden Endflächen
6a und 6b.
Der Winkel Θ des abgebogenen Balkenzwischenbereichs 8b relativ zu den Bereichen
8a und 8c ist dagegen vorzugsweise kleiner als 10°,
um Lichtverluste aufgrund von Streueffekten so gering wie
möglich zu halten. Obwohl entsprechend dem bevorzugten Ausführungsbeispiel
nach der Erfindung ein Stegwellenleiter
als optischer Wellenleiter verwendet worden ist, können
auch im Bedarfsfall verschiedene Indexwellenleiter zum Einsatz
kommen, die beispielsweise durch eine begrabene Heterostruktur
(BH) gebildet werden. Andererseits lassen sich
zur Erzeugung eines unterteilten Halbleiterlasers mit Rückkopplung
nach der Erfindung auch eine Rippe und eine kanalisierte
Substratplatte (channeled-substrate planer (CSP))
verwenden. Im Zusammenhang mit den Ausführungsbeispielen
wurde beschrieben, daß die Deckschicht 2 eine AlxGa1-xAs-
Schicht vom n-Typ ist und daß die Deckschicht 5 durch eine
AlxGa1-xAs-Schicht vom p-Typ gebildet wird. Andererseits
wird als Aktivierungsschicht bzw. aktive Schicht eine
AlyGa1-yAs-Schicht 3 verwendet, während als Führungsschicht
eine AlzGa1-zAs-Schicht 4 vom p-Typ zum Einsatz kommt.
Falls erforderlich, können aber auch verschiedene und hiervon
abweichende Halbleiterschichten zum Aufbau des Halbleiterlasers
nach der Erfindung verwendet werden.
Die Fig. 4 zeigt ein weiteres Beispiel der Erfindung. Auch
hier liegen der erste gerade Balkenbereich 8a und der zweite
gerade Balkenbereich 8c parallel zueinander. Jedoch verlaufen
sie unter einem Winkel zur Senkrechten auf den Endflächen
6a und 6b, also unter einem Winkel zu den Endflächen
6a, 6b, der ≠ 90° ist. Auch auf diese Weise wird erreicht,
daß sich die Phase im abgebogenen Balkenzwischenbereich 8b
relativ zu derjenigen in den geraden Balkenbereichen
8a, 8c verschiebt, ähnlich wie bei der in den
Fig. 1 und 2 dargestellten Anordnung.
Claims (15)
1. Mehrschichtiger DFB-Halbleiterlaser mit
- - einer ersten Deckschicht (2),
- - einer auf der oberen Fläche der ersten Deckschicht (2) liegenden aktiven Schicht (3),
- - einer auf der oberen Fläche der aktiven Schicht (3) liegenden Führungsschicht (4), die ein Gitter (7) mit gleichmäßiger Teilung enthält,
- - einer auf der oberen Fläche der Führungsschicht (4) liegenden zweite Deckschicht (5), und
- - einer Laserlicht übertragenden optischen Wellenleitereinrichtung (8) zur Verschiebung der Phase des in ihr verlaufenden Lichts
dadurch gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung (8)
auf der zweiten Deckschicht (5) angeordnet ist und folgende Abschnitte
aufweist:
- - einen ersten geraden Balkenbereich (8a),
- - einen zweiten geraden Balkenbereich (8c), der sich parallel jedoch versetzt zur Längsrichtung des ersten geraden Balkenbereichs (8a) erstreckt, und
- - einen Balkenzwischenbereich (8b), der den ersten geraden Balkenbereich (8a) mit dem zweiten geraden Balkenbereich (8c) verbindet und die Phase des entlang der optischen Wellenleitereinrichtung (8) übertragenen Lichts um den Wert λ/4 dadurch verschiebt, daß die effektive Teilung des Gitters (7) in seinem Bereich etwas länger ist als in dem Lichtübertragungsbereich, der durch den ersten und zweiten geraden Balkenbereich (8a, 8c) gebildet ist, wobei die Beziehung zwischen der Länge l des Balkenzwischenbereichs (8b) und dem Winkel Θ, unter dem der Balkenzwischenbereich (8b) zum ersten und zweiten geraden Balkenbereich (8a, 8c) verläuft, der Gleichung genügt, in welcher Θ≠0° gilt und Λ₀ die tatsächliche Teilung des Gitters, n die Gitterordnung und m eine ganze Zahl angeben.
2. Halbleiterlaser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß sich der erste gerade Balkenbereich (8a) senkrecht zu derjenigen Richtung
erstreckt, unter der die Gitterfurchen des Gitters (7) verlaufen.
3. Halbleiterlaser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Länge l des Balkenzwischenbereichs (8b) kleiner als etwa 1/10 der Gesamtlänge
des Halbleiterlasers ist.
4. Halbleiterlaser nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der Winkel Θ kleiner als 10° ist.
5. Halbleiterlaser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Balkenzwischenbereich (8b) zwischen dem ersten und dem zweiten geraden
Balkenbereich (8a, 8c) als glatt gekrümmter Balken
ausgebildet ist.
6. Halbleiterlaser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Gitter (7) auf der oberen Fläche der aktiven Schicht (3) vorhanden
ist.
7. Halbleiterlaser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die Strukturen des Gitters (7) in Furchenrichtung gesehen, einen
dreieckförmigen Querschnitt aufweisen.
8. Halbleiterlaser nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Wellenleitereinrichtung (8), in ihrer Längsrichtung gesehen,
einen im wesentlichen rechteckförmigen Querschnitt aufweist.
9. Halbleiterlaser nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Wellenleitereinrichtung (8) stegförmig ausgebildet ist.
10. Halbleiterlaser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Wellenleitereinrichtung (8) durch eine Indexwellenleiterstruktur
gebildet ist.
11. Halbleiterlaser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Deckschicht (2) durch eine AlxGa1-xAs-Schicht vom n-Typ
gebildet ist.
12. Halbleiterlaser nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet,
daß die aktive Schicht (3) eine AlyGa1-yAs-Schicht enthält, wobei y < x ist.
13. Halbleiterlaser nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die Führungsschicht (4) eine AlzGa1-zAs-Schicht vom p-Typ enthält,
wobei y<z<x ist.
14. Halbleiterlaser nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite Deckschicht (5) eine AlxGa1-xAs-Schicht vom p-Typ enthält.
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