DE3643361A1 - Halbleiterlaser - Google Patents

Halbleiterlaser

Info

Publication number
DE3643361A1
DE3643361A1 DE19863643361 DE3643361A DE3643361A1 DE 3643361 A1 DE3643361 A1 DE 3643361A1 DE 19863643361 DE19863643361 DE 19863643361 DE 3643361 A DE3643361 A DE 3643361A DE 3643361 A1 DE3643361 A1 DE 3643361A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semiconductor laser
laser according
layer
optical waveguide
waveguide device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19863643361
Other languages
English (en)
Other versions
DE3643361C2 (de
Inventor
Shoji Hirata
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Publication of DE3643361A1 publication Critical patent/DE3643361A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3643361C2 publication Critical patent/DE3643361C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/1082Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region with a special facet structure, e.g. structured, non planar, oblique
    • H01S5/1085Oblique facets
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/124Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts
    • H01S5/1243Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts by other means than a jump in the grating period, e.g. bent waveguides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/20Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
    • H01S5/22Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4031Edge-emitting structures
    • H01S5/4056Edge-emitting structures emitting light in more than one direction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiterlaser gemäß der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 beschriebenen Art.
Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf einen mehrschichtigen bzw. in Tiefenrichtung unterteilten Halbleiterlaser mit Rückkopplung, in dem eine einzelne longitudinale Mode schwingen kann.
Ein derartiger Halbleiterlaser (distributed feedback semiconductor laser) kommt in immer stärkerem Umfang zum Einsatz. Er weist üblicherweise Gitter mit gleichmäßiger Teilung bzw. gleichmäßigem Gitterabstand auf, um Licht durch Bragg-Reflexion teilweise zurückzuführen. Es ist jedoch schwierig, nur eine einzelne longitudinale Mode in diesem Laser zu erzeugen. Häufig bilden sich zwei longitudinale Lichtmoden heraus, so daß ein sogenanntes Moden-Hopping auftritt.
Um diesen Nachteil zu vermeiden und nur eine einzelne longitudinale Mode im Laser erzeugen zu können, wurde bereits vorgeschlagen, die Gitterteilung in der Nähe des Gitterzentrums zur Erzeugung einer Phasendifferenz mit dem Wert π zu verändern, also zur Erzeugung einer λ/4 Phasenverschiebung, wobei λ die Oszillations- bzw. Schwingungswellenlänge ist.
Die Herstellung eines genauen Gitters mit einer im Gitterzentrum veränderten Gitterkonstanten bzw. Gitterteilung ist jedoch außerordentlich kompliziert, so daß sich Halbleiterlaser, die ein solches Gitter aufweisen, nur mit hohen Ausschußraten herstellen lassen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Halbleiterlaser der eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß es zur Erzeugung einer einzelnen longitudinalen Modenschwingung nicht erforderlich ist, die Gitterteilung bzw. Gitterkonstante im Zentrum des Gitters zu verändern.
Die Lösung der gestellten Aufgabe ist im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegeben. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Der Halbleiterlaser nach der Erfindung läßt sich mit sehr geringer Ausschußrate herstellen. Er weist eine optische Wellenleitereinrichtung auf, zu der ein erster und ein zweiter gerader Balkenbereich sowie ein abgebogener Bereich gehören, der zwischen den beiden geraden Balkenbereichen liegt. Auf diese Weise wird erreicht, daß sich die Gitterteilung bzw. Gitterkonstante für den abgebogenen Bereich gegenüber den beiden geraden Balkenbereichen etwas vergrößert bzw. verlängert, so daß dadurch die Phase des Lichts, das sich entlang der optischen Wellenleitereinrichtung ausbreitet, um λ/4 verschoben wird, wobei λ die Schwingungswellenlänge des Lichts ist. Aufgrund dieser Phasenverschiebung wird eine einzelne longitudinale Schwingungsmode im Laser gebildet.
Ein Halbleiterlaser mit Rückkopplung nach der Erfindung zeichnet sich aus durch eine erste Deckschicht, eine auf der oberen Fläche der ersten Deckschicht liegende aktive Schicht, eine auf der oberen Fläche der aktiven Schicht liegende Führungsschicht, die ein Gitter enthält, eine auf der oberen Fläche der Führungsschicht liegende zweite Deckschicht und eine Laserlicht übertragende optische Wellenleitereinrichtung zur Verschiebung der Phase des in ihr verlaufenden Lichts um den Wert λ/4, wobei λ die Schwingungswellenlänge des Lichts ist. Die optische Wellenleitereinrichtung liegt vorzugsweise auf der zweiten Deckschicht und kann z. B. mit dieser einstückig verbunden sein. Innerhalb der optischen Wellenleitereinrichtung befindet sich eine Einrichtung zur Verschiebung der Phase des entlang der optischen Wellenleitereinrichtung übertragenen Lichts um den Wert g/4.
Das genannte Gitter (optisches Gitter) weist eine gleichmäßige Teilung bzw. einen gleichmäßigen Gitterabstand auf, wobei die Gitterstrukturen in ihrer Längsrichtung gesehen einen dreieckförmigen Querschnitt besitzen. Die optische Wellenleitereinrichtung enthält folgende Elemente: einen ersten geraden Balkenbereich, der senkrecht zu derjenigen Richtung verlaufen kann, unter der Gitterfurchen des Gitters verlaufen, einen abgebogenen bzw. Zwischenbereich, der zum ersten geraden Balkenbereich unter einem Winkel R verläuft, und einen zweiten geraden Balkenbereich, der sich parallel zur Richtung des ersten geraden Balkenbereichs erstreckt, jedoch nicht auf einer Geraden mit diesem bzw. colinear zu diesem verläuft. Dabei ist der erste gerade Balkenbereich über den abgebogenen Bereich mit dem zweiten geraden Balkenbereich verbunden.
Die Beziehung zwischen der Länge l des abgebogenen Bereichs und dem Winkel R, unter dem der abgebogene Bereich zum ersten und zweiten geraden Balkenbereich verläuft, genügt folgender Gleichung: wobei R ≠ 0° ist und Λ 0 die Teilung des Gitters, z. B. bei R = 0°, n die Gitterordnung und m eine ganze Zahl sind. Die Länge l des abgebogenen Bereichs ist vorzugsweise kleiner als etwa 1/10 der Gesamtlänge der Schicht bzw. des Halbleiterlasers. Dagegen ist der Winkel R vorzugsweise kleiner als 10°. Das Gitter kann auf der oberen Fläche der aktiven Schicht vorhanden sein, wobei sich die optische Wellenleitereinrichtung auf der oberen Fläche der zweiten Deckschicht befindet. Vorzugsweise weist die optische Wellenleitereinrichtung in ihrer Längsrichtung gesehen einen rechteckförmigen Querschnitt auf. Sie kann beispielsweise als Stegwellenleitereinrichtung ausgebildet sein. Es ist aber auch möglich, die optische Wellenleitereinrichtung durch eine Indexwellenleiterstruktur zu bilden, beispielsweise durch eine begrabene Heterostruktur oder durch eine Rippe und eine kanalisierte Substratplatte. Der abgebogene Bereich der optischen Wellenleitereinrichtung kann an seinen Enden gleichmäßig gekrümmt sein, um Lichtverluste aufgrund von Streueffekten zu vermeiden. Zu diesem Zweck kann er als glatt gekrümmter Balken ausgebildet sein.
Die Zeichnung stellt Ausführungsbeispiele der Erfindung dar. Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines in Tiefenrichtung unterteilten Halbleiterlasers mit Rückkopplung gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel,
Fig. 2 eine Draufsicht auf den Halbleiterlaser nach Fig. 1,
Fig. 3 eine graphische Darstellung zur Erläuterung der Erzeugung einer λ/4 Phasenverschiebung, und
Fig. 4 eine Draufsicht auf ein zweites Ausführungsbeispiel eines in Tiefenrichtung unterteilten Halbleiterlasers mit Rückkopplung.
Zunächst wird anhand der Fig. 1 das erste Ausführungsbeispiel eines aufgeteilten bzw. in Tiefenrichtung unterteilten Halbleiterlasers mit Rückkopplung (distributed feedback semiconductor laser) näher beschrieben. Dieser Halbleiterlaser enthält ein GaAS-Substrat 1 vom n-Typ, eine auf der oberen Fläche des GaAS-Substrats 1 vom n-Typ liegende erste Deckschicht 2 (cladding layer bzw. Plattierungsschicht), die beispielsweise eine Al x Ga1-x As-Schicht vom n-Typ sein kann, eine auf der oberen Fläche der aktivierenden Schicht 2 bzw. Deckschicht liegende aktive Schicht 3, beispielsweise eine Al y Ga1-y As-Schicht, wobei y ≦ωτ x ist, eine Führungsschicht 4 (guiding layer) aus z. B. Al z Ga1-z As vom p-Typ mit y ≦ωτ z ≦ωτx, die sich auf der oberen Fläche der aktiven Schicht 3 befindet, sowie eine zweite Deckschicht 5 (cladding layer bzw. Plattierungsschicht) aus z. B. Al x Ga1-x As vom p-Typ, die auf der oberen Fläche der Führungsschicht 4 angeordnet ist.
Auf der Oberfläche der Führungsschicht 4 sind Gitter 7 vorhanden (Beugungsgitter bzw. optische Gitter). Die Gitter 7 weisen eine gleichmäßige Teilung sowie dreieckförmige Querschnitte auf. Die oberen und unteren Kanten der Gitter bzw. die Gitterfurchen erstrecken sich in einer Richtung parallel zu den Endflächen 6 a und 6 b des Halbleiterlasers. Wie den Fig. 1 und 2 zu entnehmen ist, weist die zweite Deckschicht 5 einen Stegwellenleiter 8 auf, der nach oben hervorsteht bzw. an der oberen Seite der zweiten Deckschicht 5 liegt. Dieser Stegwellenleiter 8 besitzt einen rechteckförmigen Querschnitt und erstreckt sich von der Endfläche 6 a zur gegenüberliegenden Endfläche 6 b des Halbleiterlasers. Der Stegwellenleiter 8 enthält insgesamt drei Abschnitte, und zwar einen ersten geraden Balkenbereich 8 a, einen relativ zu diesem abgebogenen Bereich 8 b und einen weiteren zweiten geraden Balkenbereich 8 c. Der erste gerade Balkenbereich 8 a erstreckt sich von der Endfläche 6 a in Richtung des Zentrums der oberen Fläche der zweiten Deckschicht 5 und verläuft in einer Richtung senkrecht zur Endfläche 6 a. Der abgebogene Bereich 8 b des Stegwellenleiters 8 verläuft gegenüber dem ersten geraden Balkenbereich 8 a unter einem Winkel R, wobei die Länge des abgebogenen Bereichs 8 b den Wert l aufweist. Der zweite gerade Balkenbereich 8 c erstreckt sich vom Ende des abgebogenen Bereichs 8 b in Richtung der gegenüberliegenden Endfläche 6 b und verläuft parallel zum ersten geraden Balkenbereich 8 a.
Es wurde bereits zuvor beschrieben, in welcher Weise die Länge l des abgebogenen Bereichs 8 b des Stegwellenleiters 8 und der Winkel R bestimmt werden können, unter dem der erste gerade Balkenbereich 8 a und der zweite gerade Balkenbereich 8 c des Stegwellenleiters 8 jeweils zum abgebogenen Bereich 8 b verlaufen. Für den Fall, daß sich die oberen Kanten und der Boden bzw. die Furchen der Gitter 7 in Richtung parallel zu den Endflächen 6 a und 6 b erstrecken, wie oben beschrieben, wird entsprechend der Fig. 3 im Gebiet des abgebogenen Bereichs 8 b eine Gitterleitung Λ′ erhalten, die sich durch folgende Formel ausdrücken läßt, und zwar bezogen auf die Gitterteilung Λ 0 bei einem Winkel von R = 0°: Wie anhand der Gleichung (1) erkannt werden kann, ist im Bereich des Lichtverlaufs bzw. des Lichtdurchgangs die Gitterteilung für dasjenige Gebiet, in dem sich der abgebogene Bereich 8 b in der Nähe des Zentrums des Stegwellenleiters 8 befindet, ein wenig länger als diejenige im Bereich der geradlinig verlaufenden Balkenbereiche 8 a und 8 c, wie der Fig. 3(B) zu entnehmen ist. Weiterhin weist die Gitterteilung im Falle eines geraden Stegwellenleiters keine Endabschnitte auf, wie in Fig. 3(A) gezeigt ist.
Sind die Gitterphasen Ω 1, Ω 2 und Ω 3 so wie in den Fig. 3(A) und 3(B) festgelegt, so gelten folgende Gleichungen:
Der Ausdruck n gibt hierbei die Gitterordnung an. Mit Hilfe der Gleichungen (2) und (3) läßt sich die Phasendifferenz ΔΩ zwischen den Phasen Ω 2 und Ω 3 wie folgt bestimmen: Diese Formel (4) ist unabhängig von Ω 1. Nimmt ΔΩ den Wert π + 2π m, wobei m eine ganze Zahl ist, so kann eine Phasenverschiebung von λ/4 erzeugt werden. Mit ΔΩ = π + 2π m gilt folgende Beziehung: Mit Hilfe der Gleichungen (5) und (1) läßt sich dann folgende Beziehung bilden: Hierbei gilt R ≠ 0. Die Gleichung (6) zeigt, daß die Länge l und der Winkel R des abgebogenen Bereichs 8 b voneinander abhängen, so daß bei geeigneter Wahl der in ihr enthaltenen Größe eine λ/4 Phasenverschiebung in Übereinstimmung mit einer Phasenverschiebung um π innerhalb des Lichts erzeugt werden kann, das entlang des Stegwellenleiters 8 übertragen wird. Sind m = 0, Λ 0/n = 0,125 µm, R = 5° und l = 16,4 µm, so läßt sich die gewünschte Phasenverschiebung in einfacher Weise erhalten.
Wie oben beschrieben, kann entsprechend dem bevorzugten Ausführungsbeispiel nach der Erfindung eine g/4 Phasenverschiebung durch den abgebogenen Bereich 8 b des Stegwellenleiters 8 eingestellt werden, so daß auf diese Weise eine einzelne longitudinale Schwingungsmode erzeugbar ist. Die λ/4 Phasenverschiebung läßt sich dabei ohne Verschiebung bzw. Veränderung der Phase des Gitters 7 in der Nähe des Zentrumsbereichs des Stegwellenleiters 8 einstellen. Die Herstellung des unterteilten Rückkopplungs-Halbleiterlasers nach der Erfindung kann daher relativ problemlos erfolgen, und zwar ohne großen Ausschuß.
Der erste gerade Balkenbereich 8 a kann mit dem zweiten geraden Balkenbereich 8 c über einen abgebogenen Bereich 8 b verbunden sein, der abgerundete Ecken aufweist oder glatt bzw. leicht gekrümmte Balkenbereiche enthält. Dies ist insofern vorteilhaft, als auf diese Weise Lichtverluste geringgehalten werden können, wenn Licht durch den Stegwellenleiter 8 hindurchtritt. Die Länge l des abgebogenen Bereichs 8 b ist vorzugsweise kleiner als etwa 1/10 der Gesamtlänge des Halbleiterlasers, also kleiner als etwa 1/10 des Abstandes zwischen den einander gegenüberliegenden Endflächen 6 a und 6 b.
Der Winkel R des abgebogenen Bereichs 8 b relativ zu den Bereichen 8 a und 8 c ist dagegen vorzugsweise kleiner als 10°, um Lichtverluste aufgrund von Streueffekten so gering wie möglich zu halten. Obwohl entsprechend dem bevorzugten Ausführungsbeispiel nach der Erfindung ein Stegwellenleiter als optischer Wellenleiter verwendet worden ist, können auch im Bedarfsfall verschiedene Indexwellenleiter zum Einsatz kommen, die beispielsweise durch eine begrabene Heterostruktur (BH) gebildet werden. Andererseits lassen sich zur Erzeugung eines unterteilten Halbleiterlasers mit Rückkopplung nach der Erfindung auch eine Rippe und eine kanalisierte Substratplatte (channeled-substrate planer (CSP)) verwenden. Im Zusammenhang mit den Ausführungsbeispielen wurde beschrieben, daß die Deckschicht 2 eine Al x Ga1-x As- Schicht vom n-Typ ist und daß die Deckschicht 5 durch eine Al x Ga1-x As-Schicht vom p-Typ gebildet wird. Andererseits wird als Aktivierungsschicht bzw. aktive Schicht eine Al y Ga1-y As-Schicht 3 verwendet, während als Führungsschicht eine Al z Ga1-z As-Schicht 4 vom p-Typ zum Einsatz kommt. Falls erforderlich, können aber auch verschiedene und hiervon abweichende Halbleiterschichten zum Aufbau des Halbleiterlasers nach der Erfindung verwendet werden.
Die Fig. 4 zeigt ein weiteres Beispiel der Erfindung. Auch hier liegen der erste gerade Balkenbereich 8 a und der zweite gerade Balkenbereich 8 c parallel zueinander. Jedoch verlaufen sie unter einem Winkel zur Senkrechten auf den Endflächen 6 a und 6 b, also unter einem Winkel zu den Endflächen 6 a, 6 b, der ≠≠ 90° ist. Auch auf diese Weise wird erreicht, daß sich die Phase im abgebogenen Bereich 8 b (Zwischenbereich) relativ zu derjenigen in den geraden Balkenbereichen 8 a, 8 c verschiebt, ähnlich wie bei der in den Fig. 1 und 2 dargestellten Anordnung.

Claims (20)

1. Mehrschichtiger Halbleiterlaser mit Rückkopplung, gekennzeichnet durch
- eine erste Deckschicht (2),
- eine auf der oberen Fläche der ersten Deckschicht (2) liegende aktive Schicht (3),
- eine auf der oberen Fläche der aktiven Schicht (3) liegende Führungsschicht (4), die ein Gitter (7) enthält,
- eine auf der oberen Fläche der Führungsschicht (4) liegende zweite Deckschicht (5), und
- eine Laserlicht übertragende optische Wellenleitereinrichtung (8) zur Verschiebung der Phase des in ihr verlaufenden Lichts um den Wert λ/4, wobei λ die Schwingungswellenlänge des Lichtes ist.
2. Halbleiterlaser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung (8) auf der zweiten Deckschicht (5) angeordnet ist.
3. Halbleiterlaser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter (7) eine gleichmäßige Teilung bzw. einen gleichmäßigen Gitterabstand aufweist.
4. Halbleiterlaser nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung (8) folgende Elemente enthält:
- einen ersten geraden Balkenbereich (8 a),
- einen zweiten geraden Balkenbereich (8 c), der sich parallel zur Längsrichtung des ersten geraden Balkenbereichs (8 a) erstreckt, jedoch nicht mit diesem auf einer Geraden verläuft, und
- einen abgebogenen bzw. Zwischenbereich (8 b), der den ersten geraden Balkenbereich (8 a) mit dem zweiten geraden Balkenbereich (8 c) verbindet.
5. Halbleiterlaser nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß sich der erste gerade Balkenbereich (8 a) senkrecht zu derjenigen Richtung erstreckt, unter der Gitterfurchen des Gitters (7) verlaufen, und daß der abgebogene bzw. Zwischenbereich (8 b) unter einem Winkel R relativ zum ersten geraden Balkenbereich (8 a) verläuft.
6. Halbleiterlaser nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß durch den abgebogenen Bereich (8 b) die Phase des entlang der optischen Wellenleitereinrichtung (8) übertragenen Lichts um den Wert λ/4 verschiebbar ist.
7. Halbleiterlaser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der abgebogene Bereich (8 b) so angeordnet ist, daß die effektive Teilung des Gitters (7) in seinem Bereich etwas länger ist als in dem Lichtübertragungsbereich, der durch den ersten und zweiten geraden Balkenbereich (8 a, 8 c) gebildet ist.
8. Halbleiterlaser nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Beziehung zwischen der Länge l des abgebogenen Bereichs (8 b) und dem Winkel R, unter dem der abgebogene Bereich (8 b) zum ersten und zweiten geraden Balkenbereich (8 a, 8 c) verläuft, der folgenden Gleichung genügt: wobei
R ≠ 0° ist und Λ 0 die tatsächliche Teilung des Gitters, n die Gitterordnung und m ein ganze Zahl sind.
9. Halbleiterlaser nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Länge l des abgebogenen Bereichs (8 b) kleiner als etwa 1/10 der Gesamtlänge des Halbleiterlasers ist.
10. Halbleiterlaser nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Winkel R kleiner als 10° ist.
11. Halbleiterlaser nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der abgebogene bzw. Zwischenbereich (8 b) zwischen dem ersten und dem zweiten geraden Balkenbereich (8 a, 8 c) stufenlos bzw. glatt gekrümmt ist.
12. Halbleiterlaser nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter (7) auf der oberen Fläche der aktiven Schicht (3) vorhanden ist, und daß sich die optische Wellenleitereinrichtung (8) auf der oberen Fläche der zweiten Deckschicht (5) befindet.
13. Halbleiterlaser nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Strukturen des Gitters (7) in Furchenrichtung gesehen einen dreieckförmigen Querschnitt aufweisen.
14. Halbleiterlaser nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung (8) in ihrer Längsrichtung gesehen einen im wesentlichen rechteckförmigen Querschnitt aufweist.
15. Halbleiterlaser nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung stegförmig ausgebildet ist.
16. Halbleiterlaser nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung durch eine Indexwellenleiterstrukur gebildet ist, beispielsweise durch eine begrabene Heterostruktur, eine Rippe oder eine kanalisierte Substratplatte.
17. Halbleiterlaser nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Deckschicht (2) eine Al x Ga1-x As-Schicht vom n-Typ enthält.
18. Halbleiterlaser nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die aktive Schicht (3) eine Al y Ga1-y As-Schicht enthält, wobei y ≦ωτ x ist.
19. Halbleiterlaser nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Führungsschicht (4) eine Al z Ga1-z As-Schicht vom p-Typ enthält, wobei y≦ωτz ≦ωτ x ist.
20. Halbleiterlaser nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Deckschicht (5) eine Al x Ga1-x As-Schicht vom p-Typ enthält.
DE3643361A 1985-12-18 1986-12-18 Mehrschichtiger DFB-Halbleiterlaser Expired - Fee Related DE3643361C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60285295A JPS62144378A (ja) 1985-12-18 1985-12-18 分布帰還覆半導体レ−ザ−

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3643361A1 true DE3643361A1 (de) 1987-06-19
DE3643361C2 DE3643361C2 (de) 1996-02-29

Family

ID=17689672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3643361A Expired - Fee Related DE3643361C2 (de) 1985-12-18 1986-12-18 Mehrschichtiger DFB-Halbleiterlaser

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4833687A (de)
JP (1) JPS62144378A (de)
KR (1) KR950003961B1 (de)
DE (1) DE3643361C2 (de)
FR (1) FR2591818B1 (de)
GB (1) GB2185149B (de)
NL (1) NL194219C (de)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4233500A1 (de) * 1992-10-06 1994-04-07 Ant Nachrichtentech Lichtwellenleiter zur kontinuierlichen Phasenverschiebung der DFB-Gitterperiode für auf DFB-Gitterfeldern mit konstanter Gitterperiode basierende optoelektronische Komponenten
DE4432410A1 (de) * 1994-08-31 1996-03-07 Deutsche Telekom Ag Optoelektronisches Multi-Wellenlängen Bauelement
DE19500136A1 (de) * 1995-01-04 1996-07-11 Deutsche Telekom Ag Optoelektronisches Bauelement mit axialer Gitterperiodenmodulation
DE19500135A1 (de) * 1995-01-04 1996-07-11 Deutsche Telekom Ag Optoelektronisches Bauelement mit einem Rückkoppelungsgitter mit axial veränderbarer Korrugationsperiode
DE19520819A1 (de) * 1995-05-30 1996-12-05 Deutsche Telekom Ag Verfahren zur Ausnutzung scheibenförmigen Ausgangsmaterials bei der Herstellung optoelektronischer Bauelemente mit Gittern variabler Gitterperiode
US6208793B1 (en) 1997-03-01 2001-03-27 Deutsche Telekom Ag Wavelength-tunable optoelectronic apparatus

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01201977A (ja) * 1988-02-08 1989-08-14 Canon Inc 半導体レーザー装置
US5052015A (en) * 1990-09-13 1991-09-24 At&T Bell Laboratories Phase shifted distributed feedback laser
CN1042368C (zh) * 1993-07-07 1999-03-03 株式会社东金 光调制装置
EP0641053A1 (de) * 1993-08-30 1995-03-01 AT&T Corp. Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle von der Wellenlänge in DFB Laser
GB2379084B (en) * 2001-08-24 2006-03-29 Marconi Caswell Ltd Surface emitting laser
US6638773B1 (en) 2002-05-31 2003-10-28 Applied Optoelectronics, Inc. Method for fabricating single-mode DBR laser with improved yield
US6608855B1 (en) 2002-05-31 2003-08-19 Applied Optoelectronics, Inc. Single-mode DBR laser with improved phase-shift section
US7649916B2 (en) * 2004-06-30 2010-01-19 Finisar Corporation Semiconductor laser with side mode suppression
KR100568322B1 (ko) * 2004-10-29 2006-04-05 삼성전기주식회사 다파장 반도체 레이저 소자
US7606284B2 (en) 2005-12-05 2009-10-20 Electronics And Telecommunications Research Institute Semiconductor laser structure including quantum dot
CN103531700A (zh) * 2013-10-25 2014-01-22 中国电子科技集团公司第四十四研究所 能提高超辐射发光二极管芯片工作温度范围的波导结构
CN114902507A (zh) * 2020-01-23 2022-08-12 华为技术有限公司 带有成角度的中心波导部分的dfb激光器
CN115864134B (zh) * 2023-02-17 2023-04-25 福建慧芯激光科技有限公司 一种多弯波导dfb激光器芯片

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2802173A1 (de) * 1977-01-21 1978-07-27 Nippon Telegraph & Telephone Laseranordnung
DE2703907B2 (de) * 1976-02-02 1980-08-28 Western Electric Co., Inc., New York, N.Y. (V.St.A.) Vorrichtung fur stimulierte Strahlungsemission mit verteilter Rückkopplung
DE3306085A1 (de) * 1982-02-22 1983-09-01 Western Electric Co., Inc., 10038 New York, N.Y. Halbleiterlaser
EP0141420A2 (de) * 1983-11-08 1985-05-15 Sharp Kabushiki Kaisha Halbleiterlaservorrichtung
DE3445725A1 (de) * 1983-12-14 1985-07-04 Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo Halbleiter-laservorrichtung

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5456385A (en) * 1977-10-14 1979-05-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Wavelength variable distribution feedback type semiconductor laser device
US4178064A (en) * 1978-04-27 1979-12-11 Xerox Corporation Real time grating clock for galvanometer scanners in laser scanning systems
US4251780A (en) * 1978-07-03 1981-02-17 Xerox Corporation Stripe offset geometry in injection lasers to achieve transverse mode control
US4302729A (en) * 1979-05-15 1981-11-24 Xerox Corporation Channeled substrate laser with distributed feedback
US4518219A (en) * 1980-01-25 1985-05-21 Massachusetts Institute Of Technology Optical guided wave devices employing semiconductor-insulator structures
JPS5728385A (en) * 1980-07-26 1982-02-16 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor laser
JPS60178134A (ja) * 1984-02-21 1985-09-12 Toshiba Corp 紙葉類送り出し装置
JPS6189690A (ja) * 1984-10-09 1986-05-07 Fujitsu Ltd 半導体レ−ザ
US4716570A (en) * 1985-01-10 1987-12-29 Sharp Kabushiki Kaisha Distributed feedback semiconductor laser device
JPS61195425A (ja) * 1985-02-26 1986-08-29 Canon Inc 浮動小数点演算処理装置
JPS61216383A (ja) * 1985-03-20 1986-09-26 Nec Corp 分布帰還型半導体レ−ザ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2703907B2 (de) * 1976-02-02 1980-08-28 Western Electric Co., Inc., New York, N.Y. (V.St.A.) Vorrichtung fur stimulierte Strahlungsemission mit verteilter Rückkopplung
DE2802173A1 (de) * 1977-01-21 1978-07-27 Nippon Telegraph & Telephone Laseranordnung
DE3306085A1 (de) * 1982-02-22 1983-09-01 Western Electric Co., Inc., 10038 New York, N.Y. Halbleiterlaser
EP0141420A2 (de) * 1983-11-08 1985-05-15 Sharp Kabushiki Kaisha Halbleiterlaservorrichtung
DE3445725A1 (de) * 1983-12-14 1985-07-04 Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo Halbleiter-laservorrichtung

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4233500A1 (de) * 1992-10-06 1994-04-07 Ant Nachrichtentech Lichtwellenleiter zur kontinuierlichen Phasenverschiebung der DFB-Gitterperiode für auf DFB-Gitterfeldern mit konstanter Gitterperiode basierende optoelektronische Komponenten
DE4432410A1 (de) * 1994-08-31 1996-03-07 Deutsche Telekom Ag Optoelektronisches Multi-Wellenlängen Bauelement
US5600743A (en) * 1994-08-31 1997-02-04 Deutsche Telekom Ag Optoelectronic multi-wavelength component
DE4432410B4 (de) * 1994-08-31 2007-06-21 ADC Telecommunications, Inc., Eden Prairie Optoelektronisches Multi-Wellenlängen-Bauelement
DE19500136A1 (de) * 1995-01-04 1996-07-11 Deutsche Telekom Ag Optoelektronisches Bauelement mit axialer Gitterperiodenmodulation
DE19500135A1 (de) * 1995-01-04 1996-07-11 Deutsche Telekom Ag Optoelektronisches Bauelement mit einem Rückkoppelungsgitter mit axial veränderbarer Korrugationsperiode
DE19520819A1 (de) * 1995-05-30 1996-12-05 Deutsche Telekom Ag Verfahren zur Ausnutzung scheibenförmigen Ausgangsmaterials bei der Herstellung optoelektronischer Bauelemente mit Gittern variabler Gitterperiode
US5834158A (en) * 1995-05-30 1998-11-10 Deutsche Telekom Ag Method for the optimum utilization of base material in the manufacture of optoelectronic components with variable-period grating
US6208793B1 (en) 1997-03-01 2001-03-27 Deutsche Telekom Ag Wavelength-tunable optoelectronic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
NL194219C (nl) 2001-09-04
GB8630146D0 (en) 1987-01-28
US4833687A (en) 1989-05-23
GB2185149A (en) 1987-07-08
KR950003961B1 (ko) 1995-04-21
NL194219B (nl) 2001-05-01
JPS62144378A (ja) 1987-06-27
FR2591818B1 (fr) 1994-02-25
FR2591818A1 (fr) 1987-06-19
NL8603229A (nl) 1987-07-16
KR870006687A (ko) 1987-07-14
GB2185149B (en) 1989-10-18
DE3643361C2 (de) 1996-02-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3643361C2 (de) Mehrschichtiger DFB-Halbleiterlaser
EP0498170B1 (de) Integriert optisches Bauelement für die Kopplung zwischen unterschiedlich dimensionierten Wellenleitern
EP0187198B1 (de) Verfahren zur Herstellung einer integriert - optischen Anordnung
DE4328777B4 (de) Optische Filtervorrichtung
DE69635410T2 (de) Halbleiterlaser und dessen herstellungsverfahren
DE3445725C2 (de)
EP0282878B1 (de) Anordnung für ein integriert-optisches Spektrometer und Verfahren zur Herstellung eines solchen Spektrometers
DE69936615T2 (de) Vorrichtung mit einer optischen Funktion, Herstellungsverfahren und optisches Kommunikationssystem
EP0284910B1 (de) Integriert-optische Anordnung für die bidirektionale optische Nachrichten- oder Signalübertragung
DE3631971C2 (de) Optische Verstärkungsvorrichtung mit Störschutzfilterfunktion
DE60200132T2 (de) Sich verjüngender Wellenleiter (Taper) mit lateralen strahlbegrenzenden Rippenwellenleitern
DE60222824T2 (de) Optischer Multiplexer/Demultiplexer
EP0464869A1 (de) Monolithisch integrierter WDM-Demultiplexmodul und ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Moduls
DE19629916A1 (de) Verteilter Bragg-Reflektorlaser mit Tastgitter und breiter Abstimmbarkeit durch Phasenänderung sowie Verwendungsverfahren dieses Lasers
DE10136727C2 (de) Photonische Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
EP0238964B1 (de) Kantenfilter für die integrierte Optik
DE60319314T2 (de) Herstellungsverfahren eines Halbleiterbeugungsgitters
DE4034187A1 (de) Optisches halbleiterelement
DE4442640A1 (de) Optisches Bauelement mit einer Mehrzahl von Braggschen Gittern und Verfahren zur Herstellung dieses Bauelements
DE19708385A1 (de) Wellenlängenabstimmbares optoelektronisches Bauelement
DE10245544B4 (de) Distributed-Feedback-Laservorrichtung
DE3923755C2 (de)
DE4423187A1 (de) Abstimmbare optische Anordnung
EP0177828A2 (de) Verbesserung zu einem Monomoden-Diodenlaser
DE4322164A1 (de) Optoelektronisches Bauelement mit Rückkopplungsgitter, mit axial quasi-kontinuierlich und nahezu beliebig variierbarem Gitterkopplungs-Koeffizienten, mit quasi-kontinuierlich axial verteilbarer Brechungsindex-Variation, sowie mit axial nahezu beliebig verteilbarer und variierbarer Phasenverschiebung

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Free format text: PATENTANWAELTE MUELLER & HOFFMANN, 81667 MUENCHEN

8339 Ceased/non-payment of the annual fee