DE3643361A1 - Halbleiterlaser - Google Patents
HalbleiterlaserInfo
- Publication number
- DE3643361A1 DE3643361A1 DE19863643361 DE3643361A DE3643361A1 DE 3643361 A1 DE3643361 A1 DE 3643361A1 DE 19863643361 DE19863643361 DE 19863643361 DE 3643361 A DE3643361 A DE 3643361A DE 3643361 A1 DE3643361 A1 DE 3643361A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- laser according
- layer
- optical waveguide
- waveguide device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/1082—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region with a special facet structure, e.g. structured, non planar, oblique
- H01S5/1085—Oblique facets
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/124—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts
- H01S5/1243—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts by other means than a jump in the grating period, e.g. bent waveguides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/22—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4031—Edge-emitting structures
- H01S5/4056—Edge-emitting structures emitting light in more than one direction
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiterlaser gemäß
der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 beschriebenen Art.
Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf einen mehrschichtigen
bzw. in Tiefenrichtung unterteilten Halbleiterlaser
mit Rückkopplung, in dem eine einzelne longitudinale
Mode schwingen kann.
Ein derartiger Halbleiterlaser (distributed feedback semiconductor
laser) kommt in immer stärkerem Umfang zum Einsatz.
Er weist üblicherweise Gitter mit gleichmäßiger Teilung
bzw. gleichmäßigem Gitterabstand auf, um Licht durch
Bragg-Reflexion teilweise zurückzuführen. Es ist jedoch
schwierig, nur eine einzelne longitudinale Mode in diesem
Laser zu erzeugen. Häufig bilden sich zwei longitudinale
Lichtmoden heraus, so daß ein sogenanntes Moden-Hopping
auftritt.
Um diesen Nachteil zu vermeiden und nur eine einzelne longitudinale
Mode im Laser erzeugen zu können, wurde bereits
vorgeschlagen, die Gitterteilung in der Nähe des Gitterzentrums
zur Erzeugung einer Phasendifferenz mit dem Wert π zu
verändern, also zur Erzeugung einer λ/4 Phasenverschiebung,
wobei λ die Oszillations- bzw. Schwingungswellenlänge ist.
Die Herstellung eines genauen Gitters mit einer im Gitterzentrum
veränderten Gitterkonstanten bzw. Gitterteilung ist
jedoch außerordentlich kompliziert, so daß sich Halbleiterlaser,
die ein solches Gitter aufweisen, nur mit hohen Ausschußraten
herstellen lassen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Halbleiterlaser
der eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß es
zur Erzeugung einer einzelnen longitudinalen Modenschwingung
nicht erforderlich ist, die Gitterteilung bzw. Gitterkonstante
im Zentrum des Gitters zu verändern.
Die Lösung der gestellten Aufgabe ist im kennzeichnenden
Teil des Patentanspruchs 1 angegeben. Vorteilhafte Ausgestaltungen
der Erfindung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Der Halbleiterlaser nach der Erfindung läßt sich mit sehr
geringer Ausschußrate herstellen. Er weist eine optische
Wellenleitereinrichtung auf, zu der ein erster und ein
zweiter gerader Balkenbereich sowie ein abgebogener Bereich
gehören, der zwischen den beiden geraden Balkenbereichen
liegt. Auf diese Weise wird erreicht, daß sich die Gitterteilung
bzw. Gitterkonstante für den abgebogenen Bereich
gegenüber den beiden geraden Balkenbereichen etwas vergrößert
bzw. verlängert, so daß dadurch die Phase des Lichts,
das sich entlang der optischen Wellenleitereinrichtung ausbreitet,
um λ/4 verschoben wird, wobei λ die Schwingungswellenlänge
des Lichts ist. Aufgrund dieser Phasenverschiebung
wird eine einzelne longitudinale Schwingungsmode im
Laser gebildet.
Ein Halbleiterlaser mit Rückkopplung nach der Erfindung
zeichnet sich aus durch eine erste Deckschicht, eine auf
der oberen Fläche der ersten Deckschicht liegende aktive
Schicht, eine auf der oberen Fläche der aktiven Schicht
liegende Führungsschicht, die ein Gitter enthält, eine auf
der oberen Fläche der Führungsschicht liegende zweite Deckschicht
und eine Laserlicht übertragende optische Wellenleitereinrichtung
zur Verschiebung der Phase des in ihr
verlaufenden Lichts um den Wert λ/4, wobei λ die Schwingungswellenlänge
des Lichts ist. Die optische Wellenleitereinrichtung
liegt vorzugsweise auf der zweiten Deckschicht
und kann z. B. mit dieser einstückig verbunden sein. Innerhalb
der optischen Wellenleitereinrichtung befindet sich
eine Einrichtung zur Verschiebung der Phase des entlang der
optischen Wellenleitereinrichtung übertragenen Lichts um
den Wert g/4.
Das genannte Gitter (optisches Gitter) weist eine gleichmäßige
Teilung bzw. einen gleichmäßigen Gitterabstand auf,
wobei die Gitterstrukturen in ihrer Längsrichtung gesehen
einen dreieckförmigen Querschnitt besitzen. Die optische
Wellenleitereinrichtung enthält folgende Elemente: einen
ersten geraden Balkenbereich, der senkrecht zu derjenigen
Richtung verlaufen kann, unter der Gitterfurchen des Gitters verlaufen,
einen abgebogenen bzw. Zwischenbereich, der zum ersten geraden
Balkenbereich unter einem Winkel R verläuft, und einen zweiten geraden
Balkenbereich, der sich parallel zur Richtung des ersten geraden Balkenbereichs
erstreckt, jedoch nicht auf einer Geraden mit diesem bzw.
colinear zu diesem verläuft. Dabei ist der erste gerade Balkenbereich
über den abgebogenen Bereich mit dem zweiten geraden Balkenbereich
verbunden.
Die Beziehung zwischen der Länge l des abgebogenen Bereichs
und dem Winkel R, unter dem der abgebogene Bereich zum ersten
und zweiten geraden Balkenbereich verläuft, genügt
folgender Gleichung:
wobei R ≠ 0° ist und Λ 0 die Teilung des Gitters, z. B. bei R = 0°, n
die Gitterordnung und m eine ganze Zahl sind. Die Länge l
des abgebogenen Bereichs ist vorzugsweise kleiner als etwa
1/10 der Gesamtlänge der Schicht bzw. des Halbleiterlasers.
Dagegen ist der Winkel R vorzugsweise kleiner als 10°. Das
Gitter kann auf der oberen Fläche der aktiven Schicht vorhanden
sein, wobei sich die optische Wellenleitereinrichtung
auf der oberen Fläche der zweiten Deckschicht befindet.
Vorzugsweise weist die optische Wellenleitereinrichtung
in ihrer Längsrichtung gesehen einen rechteckförmigen
Querschnitt auf. Sie kann beispielsweise als Stegwellenleitereinrichtung
ausgebildet sein. Es ist aber auch möglich,
die optische Wellenleitereinrichtung durch eine Indexwellenleiterstruktur
zu bilden, beispielsweise durch eine begrabene
Heterostruktur oder durch eine Rippe und eine kanalisierte
Substratplatte. Der abgebogene Bereich der optischen
Wellenleitereinrichtung kann an seinen Enden gleichmäßig
gekrümmt sein, um Lichtverluste aufgrund von Streueffekten
zu vermeiden. Zu diesem Zweck kann er als glatt gekrümmter
Balken ausgebildet sein.
Die Zeichnung stellt Ausführungsbeispiele der Erfindung
dar. Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines in Tiefenrichtung
unterteilten Halbleiterlasers mit Rückkopplung
gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel,
Fig. 2 eine Draufsicht auf den Halbleiterlaser nach Fig. 1,
Fig. 3 eine graphische Darstellung zur Erläuterung der
Erzeugung einer λ/4 Phasenverschiebung, und
Fig. 4 eine Draufsicht auf ein zweites Ausführungsbeispiel
eines in Tiefenrichtung unterteilten Halbleiterlasers
mit Rückkopplung.
Zunächst wird anhand der Fig. 1 das erste Ausführungsbeispiel
eines aufgeteilten bzw. in Tiefenrichtung unterteilten
Halbleiterlasers mit Rückkopplung (distributed feedback
semiconductor laser) näher beschrieben. Dieser Halbleiterlaser
enthält ein GaAS-Substrat 1 vom n-Typ, eine auf der
oberen Fläche des GaAS-Substrats 1 vom n-Typ liegende erste
Deckschicht 2 (cladding layer bzw. Plattierungsschicht), die
beispielsweise eine Al x Ga1-x As-Schicht vom n-Typ sein kann,
eine auf der oberen Fläche der aktivierenden Schicht 2 bzw.
Deckschicht liegende aktive Schicht 3, beispielsweise eine
Al y Ga1-y As-Schicht, wobei y ≦ωτ x ist, eine Führungsschicht 4
(guiding layer) aus z. B. Al z Ga1-z As vom p-Typ mit y ≦ωτ z ≦ωτx, die sich
auf der oberen Fläche der aktiven Schicht 3 befindet, sowie eine zweite
Deckschicht 5 (cladding layer bzw. Plattierungsschicht) aus
z. B. Al x Ga1-x As vom p-Typ, die auf der oberen Fläche der
Führungsschicht 4 angeordnet ist.
Auf der Oberfläche der Führungsschicht 4 sind Gitter 7 vorhanden
(Beugungsgitter bzw. optische Gitter). Die Gitter 7
weisen eine gleichmäßige Teilung sowie dreieckförmige Querschnitte
auf. Die oberen und unteren Kanten der Gitter bzw.
die Gitterfurchen erstrecken sich in einer Richtung parallel
zu den Endflächen 6 a und 6 b des Halbleiterlasers. Wie
den Fig. 1 und 2 zu entnehmen ist, weist die zweite Deckschicht
5 einen Stegwellenleiter 8 auf, der nach oben hervorsteht
bzw. an der oberen Seite der zweiten Deckschicht 5
liegt. Dieser Stegwellenleiter 8 besitzt einen rechteckförmigen
Querschnitt und erstreckt sich von der Endfläche 6 a
zur gegenüberliegenden Endfläche 6 b des Halbleiterlasers.
Der Stegwellenleiter 8 enthält insgesamt drei Abschnitte,
und zwar einen ersten geraden Balkenbereich 8 a, einen relativ
zu diesem abgebogenen Bereich 8 b und einen weiteren
zweiten geraden Balkenbereich 8 c. Der erste gerade Balkenbereich
8 a erstreckt sich von der Endfläche 6 a in Richtung
des Zentrums der oberen Fläche der zweiten Deckschicht 5
und verläuft in einer Richtung senkrecht zur Endfläche 6 a.
Der abgebogene Bereich 8 b des Stegwellenleiters 8 verläuft
gegenüber dem ersten geraden Balkenbereich 8 a unter einem
Winkel R, wobei die Länge des abgebogenen Bereichs 8 b den
Wert l aufweist. Der zweite gerade Balkenbereich 8 c erstreckt
sich vom Ende des abgebogenen Bereichs 8 b in Richtung
der gegenüberliegenden Endfläche 6 b und verläuft parallel
zum ersten geraden Balkenbereich 8 a.
Es wurde bereits zuvor beschrieben, in welcher Weise die
Länge l des abgebogenen Bereichs 8 b des Stegwellenleiters 8
und der Winkel R bestimmt werden können, unter dem der erste
gerade Balkenbereich 8 a und der zweite gerade Balkenbereich
8 c des Stegwellenleiters 8 jeweils zum abgebogenen
Bereich 8 b verlaufen. Für den Fall, daß sich die oberen
Kanten und der Boden bzw. die Furchen der Gitter 7 in Richtung
parallel zu den Endflächen 6 a und 6 b erstrecken, wie
oben beschrieben, wird entsprechend der Fig. 3 im Gebiet
des abgebogenen Bereichs 8 b eine Gitterleitung Λ′ erhalten,
die sich durch folgende Formel ausdrücken läßt, und zwar
bezogen auf die Gitterteilung Λ 0 bei einem Winkel von
R = 0°:
Wie anhand der Gleichung (1) erkannt werden kann, ist im
Bereich des Lichtverlaufs bzw. des Lichtdurchgangs die Gitterteilung
für dasjenige Gebiet, in dem sich der abgebogene
Bereich 8 b in der Nähe des Zentrums des Stegwellenleiters 8
befindet, ein wenig länger als diejenige im Bereich der geradlinig
verlaufenden Balkenbereiche 8 a und 8 c, wie der
Fig. 3(B) zu entnehmen ist. Weiterhin weist die Gitterteilung
im Falle eines geraden Stegwellenleiters keine Endabschnitte
auf, wie in Fig. 3(A) gezeigt ist.
Sind die Gitterphasen Ω 1, Ω 2 und Ω 3 so wie in den Fig. 3(A)
und 3(B) festgelegt, so gelten folgende Gleichungen:
Der Ausdruck n gibt hierbei die Gitterordnung an. Mit Hilfe
der Gleichungen (2) und (3) läßt sich die Phasendifferenz
ΔΩ zwischen den Phasen Ω 2 und Ω 3 wie folgt bestimmen:
Diese Formel (4) ist unabhängig von Ω 1. Nimmt ΔΩ den Wert
π + 2π m, wobei m eine ganze Zahl ist, so kann eine Phasenverschiebung
von λ/4 erzeugt werden. Mit ΔΩ = π + 2π m
gilt folgende Beziehung:
Mit Hilfe der Gleichungen (5) und (1) läßt sich dann folgende
Beziehung bilden:
Hierbei gilt R ≠ 0. Die Gleichung (6) zeigt, daß die Länge
l und der Winkel R des abgebogenen Bereichs 8 b voneinander
abhängen, so daß bei geeigneter Wahl der in ihr enthaltenen
Größe eine λ/4 Phasenverschiebung in Übereinstimmung mit
einer Phasenverschiebung um π innerhalb des Lichts erzeugt
werden kann, das entlang des Stegwellenleiters 8 übertragen
wird. Sind m = 0, Λ 0/n = 0,125 µm, R = 5° und l = 16,4 µm,
so läßt sich die gewünschte Phasenverschiebung in einfacher
Weise erhalten.
Wie oben beschrieben, kann entsprechend dem bevorzugten
Ausführungsbeispiel nach der Erfindung eine g/4 Phasenverschiebung
durch den abgebogenen Bereich 8 b des Stegwellenleiters
8 eingestellt werden, so daß auf diese Weise eine
einzelne longitudinale Schwingungsmode erzeugbar ist. Die
λ/4 Phasenverschiebung läßt sich dabei ohne Verschiebung
bzw. Veränderung der Phase des Gitters 7 in der Nähe des
Zentrumsbereichs des Stegwellenleiters 8 einstellen. Die
Herstellung des unterteilten Rückkopplungs-Halbleiterlasers
nach der Erfindung kann daher relativ problemlos erfolgen,
und zwar ohne großen Ausschuß.
Der erste gerade Balkenbereich 8 a kann mit dem zweiten geraden
Balkenbereich 8 c über einen abgebogenen Bereich 8 b
verbunden sein, der abgerundete Ecken aufweist oder glatt
bzw. leicht gekrümmte Balkenbereiche enthält. Dies ist insofern
vorteilhaft, als auf diese Weise Lichtverluste geringgehalten
werden können, wenn Licht durch den Stegwellenleiter
8 hindurchtritt. Die Länge l des abgebogenen Bereichs
8 b ist vorzugsweise kleiner als etwa 1/10 der Gesamtlänge
des Halbleiterlasers, also kleiner als etwa 1/10
des Abstandes zwischen den einander gegenüberliegenden Endflächen
6 a und 6 b.
Der Winkel R des abgebogenen Bereichs 8 b relativ zu den Bereichen
8 a und 8 c ist dagegen vorzugsweise kleiner als 10°,
um Lichtverluste aufgrund von Streueffekten so gering wie
möglich zu halten. Obwohl entsprechend dem bevorzugten Ausführungsbeispiel
nach der Erfindung ein Stegwellenleiter
als optischer Wellenleiter verwendet worden ist, können
auch im Bedarfsfall verschiedene Indexwellenleiter zum Einsatz
kommen, die beispielsweise durch eine begrabene Heterostruktur
(BH) gebildet werden. Andererseits lassen sich
zur Erzeugung eines unterteilten Halbleiterlasers mit Rückkopplung
nach der Erfindung auch eine Rippe und eine kanalisierte
Substratplatte (channeled-substrate planer (CSP))
verwenden. Im Zusammenhang mit den Ausführungsbeispielen
wurde beschrieben, daß die Deckschicht 2 eine Al x Ga1-x As-
Schicht vom n-Typ ist und daß die Deckschicht 5 durch eine
Al x Ga1-x As-Schicht vom p-Typ gebildet wird. Andererseits
wird als Aktivierungsschicht bzw. aktive Schicht eine
Al y Ga1-y As-Schicht 3 verwendet, während als Führungsschicht
eine Al z Ga1-z As-Schicht 4 vom p-Typ zum Einsatz kommt.
Falls erforderlich, können aber auch verschiedene und hiervon
abweichende Halbleiterschichten zum Aufbau des Halbleiterlasers
nach der Erfindung verwendet werden.
Die Fig. 4 zeigt ein weiteres Beispiel der Erfindung. Auch
hier liegen der erste gerade Balkenbereich 8 a und der zweite
gerade Balkenbereich 8 c parallel zueinander. Jedoch verlaufen
sie unter einem Winkel zur Senkrechten auf den Endflächen
6 a und 6 b, also unter einem Winkel zu den Endflächen
6 a, 6 b, der ≠≠ 90° ist. Auch auf diese Weise wird erreicht,
daß sich die Phase im abgebogenen Bereich 8 b (Zwischenbereich)
relativ zu derjenigen in den geraden Balkenbereichen
8 a, 8 c verschiebt, ähnlich wie bei der in den
Fig. 1 und 2 dargestellten Anordnung.
Claims (20)
1. Mehrschichtiger Halbleiterlaser mit Rückkopplung,
gekennzeichnet durch
- eine erste Deckschicht (2),
- eine auf der oberen Fläche der ersten Deckschicht (2) liegende aktive Schicht (3),
- eine auf der oberen Fläche der aktiven Schicht (3) liegende Führungsschicht (4), die ein Gitter (7) enthält,
- eine auf der oberen Fläche der Führungsschicht (4) liegende zweite Deckschicht (5), und
- eine Laserlicht übertragende optische Wellenleitereinrichtung (8) zur Verschiebung der Phase des in ihr verlaufenden Lichts um den Wert λ/4, wobei λ die Schwingungswellenlänge des Lichtes ist.
- eine erste Deckschicht (2),
- eine auf der oberen Fläche der ersten Deckschicht (2) liegende aktive Schicht (3),
- eine auf der oberen Fläche der aktiven Schicht (3) liegende Führungsschicht (4), die ein Gitter (7) enthält,
- eine auf der oberen Fläche der Führungsschicht (4) liegende zweite Deckschicht (5), und
- eine Laserlicht übertragende optische Wellenleitereinrichtung (8) zur Verschiebung der Phase des in ihr verlaufenden Lichts um den Wert λ/4, wobei λ die Schwingungswellenlänge des Lichtes ist.
2. Halbleiterlaser nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung
(8) auf der zweiten Deckschicht (5) angeordnet
ist.
3. Halbleiterlaser nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß das Gitter (7) eine
gleichmäßige Teilung bzw. einen gleichmäßigen Gitterabstand
aufweist.
4. Halbleiterlaser nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung
(8) folgende Elemente enthält:
- einen ersten geraden Balkenbereich (8 a),
- einen zweiten geraden Balkenbereich (8 c), der sich parallel zur Längsrichtung des ersten geraden Balkenbereichs (8 a) erstreckt, jedoch nicht mit diesem auf einer Geraden verläuft, und
- einen abgebogenen bzw. Zwischenbereich (8 b), der den ersten geraden Balkenbereich (8 a) mit dem zweiten geraden Balkenbereich (8 c) verbindet.
- einen ersten geraden Balkenbereich (8 a),
- einen zweiten geraden Balkenbereich (8 c), der sich parallel zur Längsrichtung des ersten geraden Balkenbereichs (8 a) erstreckt, jedoch nicht mit diesem auf einer Geraden verläuft, und
- einen abgebogenen bzw. Zwischenbereich (8 b), der den ersten geraden Balkenbereich (8 a) mit dem zweiten geraden Balkenbereich (8 c) verbindet.
5. Halbleiterlaser nach Anspruch 4, dadurch
gekennzeichnet, daß sich der erste gerade
Balkenbereich (8 a) senkrecht zu derjenigen Richtung erstreckt,
unter der Gitterfurchen des Gitters (7) verlaufen,
und daß der abgebogene bzw. Zwischenbereich (8 b) unter einem
Winkel R relativ zum ersten geraden Balkenbereich (8 a) verläuft.
6. Halbleiterlaser nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, daß durch den abgebogenen Bereich
(8 b) die Phase des entlang der optischen Wellenleitereinrichtung
(8) übertragenen Lichts um den Wert λ/4 verschiebbar
ist.
7. Halbleiterlaser nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß der abgebogene Bereich
(8 b) so angeordnet ist, daß die effektive Teilung des Gitters (7) in
seinem Bereich etwas länger ist als in dem Lichtübertragungsbereich,
der durch den ersten und zweiten geraden Balkenbereich
(8 a, 8 c) gebildet ist.
8. Halbleiterlaser nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die Beziehung zwischen
der Länge l des abgebogenen Bereichs (8 b) und dem Winkel R,
unter dem der abgebogene Bereich (8 b) zum ersten und zweiten
geraden Balkenbereich (8 a, 8 c) verläuft, der folgenden
Gleichung genügt:
wobei
R ≠ 0° ist und Λ 0 die tatsächliche Teilung des Gitters, n die Gitterordnung und m ein ganze Zahl sind.
R ≠ 0° ist und Λ 0 die tatsächliche Teilung des Gitters, n die Gitterordnung und m ein ganze Zahl sind.
9. Halbleiterlaser nach Anspruch 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die Länge l des abgebogenen
Bereichs (8 b) kleiner als etwa 1/10 der Gesamtlänge des
Halbleiterlasers ist.
10. Halbleiterlaser nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß der Winkel R kleiner als
10° ist.
11. Halbleiterlaser nach Anspruch 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der abgebogene bzw. Zwischenbereich
(8 b) zwischen dem ersten und dem zweiten geraden
Balkenbereich (8 a, 8 c) stufenlos bzw. glatt gekrümmt
ist.
12. Halbleiterlaser nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, daß das Gitter (7) auf der
oberen Fläche der aktiven Schicht (3) vorhanden ist, und
daß sich die optische Wellenleitereinrichtung (8) auf der
oberen Fläche der zweiten Deckschicht (5) befindet.
13. Halbleiterlaser nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die Strukturen des Gitters
(7) in Furchenrichtung gesehen einen dreieckförmigen
Querschnitt aufweisen.
14. Halbleiterlaser nach Anspruch 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung
(8) in ihrer Längsrichtung gesehen einen im
wesentlichen rechteckförmigen Querschnitt aufweist.
15. Halbleiterlaser nach Anspruch 14, dadurch
gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung
stegförmig ausgebildet ist.
16. Halbleiterlaser nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die optische Wellenleitereinrichtung
durch eine Indexwellenleiterstrukur gebildet
ist, beispielsweise durch eine begrabene Heterostruktur,
eine Rippe oder eine kanalisierte Substratplatte.
17. Halbleiterlaser nach Anspruch 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die erste Deckschicht
(2) eine Al x Ga1-x As-Schicht vom n-Typ enthält.
18. Halbleiterlaser nach Anspruch 17, dadurch
gekennzeichnet, daß die aktive Schicht (3)
eine Al y Ga1-y As-Schicht enthält, wobei y ≦ωτ x ist.
19. Halbleiterlaser nach Anspruch 18, dadurch
gekennzeichnet, daß die Führungsschicht (4)
eine Al z Ga1-z As-Schicht vom p-Typ enthält, wobei y≦ωτz ≦ωτ x
ist.
20. Halbleiterlaser nach Anspruch 19, dadurch
gekennzeichnet, daß die zweite Deckschicht
(5) eine Al x Ga1-x As-Schicht vom p-Typ enthält.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60285295A JPS62144378A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | 分布帰還覆半導体レ−ザ− |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3643361A1 true DE3643361A1 (de) | 1987-06-19 |
DE3643361C2 DE3643361C2 (de) | 1996-02-29 |
Family
ID=17689672
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3643361A Expired - Fee Related DE3643361C2 (de) | 1985-12-18 | 1986-12-18 | Mehrschichtiger DFB-Halbleiterlaser |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4833687A (de) |
JP (1) | JPS62144378A (de) |
KR (1) | KR950003961B1 (de) |
DE (1) | DE3643361C2 (de) |
FR (1) | FR2591818B1 (de) |
GB (1) | GB2185149B (de) |
NL (1) | NL194219C (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4233500A1 (de) * | 1992-10-06 | 1994-04-07 | Ant Nachrichtentech | Lichtwellenleiter zur kontinuierlichen Phasenverschiebung der DFB-Gitterperiode für auf DFB-Gitterfeldern mit konstanter Gitterperiode basierende optoelektronische Komponenten |
DE4432410A1 (de) * | 1994-08-31 | 1996-03-07 | Deutsche Telekom Ag | Optoelektronisches Multi-Wellenlängen Bauelement |
DE19500136A1 (de) * | 1995-01-04 | 1996-07-11 | Deutsche Telekom Ag | Optoelektronisches Bauelement mit axialer Gitterperiodenmodulation |
DE19500135A1 (de) * | 1995-01-04 | 1996-07-11 | Deutsche Telekom Ag | Optoelektronisches Bauelement mit einem Rückkoppelungsgitter mit axial veränderbarer Korrugationsperiode |
DE19520819A1 (de) * | 1995-05-30 | 1996-12-05 | Deutsche Telekom Ag | Verfahren zur Ausnutzung scheibenförmigen Ausgangsmaterials bei der Herstellung optoelektronischer Bauelemente mit Gittern variabler Gitterperiode |
US6208793B1 (en) | 1997-03-01 | 2001-03-27 | Deutsche Telekom Ag | Wavelength-tunable optoelectronic apparatus |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01201977A (ja) * | 1988-02-08 | 1989-08-14 | Canon Inc | 半導体レーザー装置 |
US5052015A (en) * | 1990-09-13 | 1991-09-24 | At&T Bell Laboratories | Phase shifted distributed feedback laser |
CN1042368C (zh) * | 1993-07-07 | 1999-03-03 | 株式会社东金 | 光调制装置 |
EP0641053A1 (de) * | 1993-08-30 | 1995-03-01 | AT&T Corp. | Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle von der Wellenlänge in DFB Laser |
GB2379084B (en) * | 2001-08-24 | 2006-03-29 | Marconi Caswell Ltd | Surface emitting laser |
US6638773B1 (en) | 2002-05-31 | 2003-10-28 | Applied Optoelectronics, Inc. | Method for fabricating single-mode DBR laser with improved yield |
US6608855B1 (en) | 2002-05-31 | 2003-08-19 | Applied Optoelectronics, Inc. | Single-mode DBR laser with improved phase-shift section |
US7649916B2 (en) * | 2004-06-30 | 2010-01-19 | Finisar Corporation | Semiconductor laser with side mode suppression |
KR100568322B1 (ko) * | 2004-10-29 | 2006-04-05 | 삼성전기주식회사 | 다파장 반도체 레이저 소자 |
US7606284B2 (en) | 2005-12-05 | 2009-10-20 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Semiconductor laser structure including quantum dot |
CN103531700A (zh) * | 2013-10-25 | 2014-01-22 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 | 能提高超辐射发光二极管芯片工作温度范围的波导结构 |
CN114902507A (zh) * | 2020-01-23 | 2022-08-12 | 华为技术有限公司 | 带有成角度的中心波导部分的dfb激光器 |
CN115864134B (zh) * | 2023-02-17 | 2023-04-25 | 福建慧芯激光科技有限公司 | 一种多弯波导dfb激光器芯片 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2802173A1 (de) * | 1977-01-21 | 1978-07-27 | Nippon Telegraph & Telephone | Laseranordnung |
DE2703907B2 (de) * | 1976-02-02 | 1980-08-28 | Western Electric Co., Inc., New York, N.Y. (V.St.A.) | Vorrichtung fur stimulierte Strahlungsemission mit verteilter Rückkopplung |
DE3306085A1 (de) * | 1982-02-22 | 1983-09-01 | Western Electric Co., Inc., 10038 New York, N.Y. | Halbleiterlaser |
EP0141420A2 (de) * | 1983-11-08 | 1985-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Halbleiterlaservorrichtung |
DE3445725A1 (de) * | 1983-12-14 | 1985-07-04 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Halbleiter-laservorrichtung |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5456385A (en) * | 1977-10-14 | 1979-05-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Wavelength variable distribution feedback type semiconductor laser device |
US4178064A (en) * | 1978-04-27 | 1979-12-11 | Xerox Corporation | Real time grating clock for galvanometer scanners in laser scanning systems |
US4251780A (en) * | 1978-07-03 | 1981-02-17 | Xerox Corporation | Stripe offset geometry in injection lasers to achieve transverse mode control |
US4302729A (en) * | 1979-05-15 | 1981-11-24 | Xerox Corporation | Channeled substrate laser with distributed feedback |
US4518219A (en) * | 1980-01-25 | 1985-05-21 | Massachusetts Institute Of Technology | Optical guided wave devices employing semiconductor-insulator structures |
JPS5728385A (en) * | 1980-07-26 | 1982-02-16 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor laser |
JPS60178134A (ja) * | 1984-02-21 | 1985-09-12 | Toshiba Corp | 紙葉類送り出し装置 |
JPS6189690A (ja) * | 1984-10-09 | 1986-05-07 | Fujitsu Ltd | 半導体レ−ザ |
US4716570A (en) * | 1985-01-10 | 1987-12-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Distributed feedback semiconductor laser device |
JPS61195425A (ja) * | 1985-02-26 | 1986-08-29 | Canon Inc | 浮動小数点演算処理装置 |
JPS61216383A (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-26 | Nec Corp | 分布帰還型半導体レ−ザ |
-
1985
- 1985-12-18 JP JP60285295A patent/JPS62144378A/ja active Pending
-
1986
- 1986-11-12 KR KR1019860009527A patent/KR950003961B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1986-12-16 US US06/942,269 patent/US4833687A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-12-17 GB GB8630146A patent/GB2185149B/en not_active Expired
- 1986-12-18 FR FR8617746A patent/FR2591818B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1986-12-18 DE DE3643361A patent/DE3643361C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-12-18 NL NL8603229A patent/NL194219C/nl not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2703907B2 (de) * | 1976-02-02 | 1980-08-28 | Western Electric Co., Inc., New York, N.Y. (V.St.A.) | Vorrichtung fur stimulierte Strahlungsemission mit verteilter Rückkopplung |
DE2802173A1 (de) * | 1977-01-21 | 1978-07-27 | Nippon Telegraph & Telephone | Laseranordnung |
DE3306085A1 (de) * | 1982-02-22 | 1983-09-01 | Western Electric Co., Inc., 10038 New York, N.Y. | Halbleiterlaser |
EP0141420A2 (de) * | 1983-11-08 | 1985-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Halbleiterlaservorrichtung |
DE3445725A1 (de) * | 1983-12-14 | 1985-07-04 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Halbleiter-laservorrichtung |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4233500A1 (de) * | 1992-10-06 | 1994-04-07 | Ant Nachrichtentech | Lichtwellenleiter zur kontinuierlichen Phasenverschiebung der DFB-Gitterperiode für auf DFB-Gitterfeldern mit konstanter Gitterperiode basierende optoelektronische Komponenten |
DE4432410A1 (de) * | 1994-08-31 | 1996-03-07 | Deutsche Telekom Ag | Optoelektronisches Multi-Wellenlängen Bauelement |
US5600743A (en) * | 1994-08-31 | 1997-02-04 | Deutsche Telekom Ag | Optoelectronic multi-wavelength component |
DE4432410B4 (de) * | 1994-08-31 | 2007-06-21 | ADC Telecommunications, Inc., Eden Prairie | Optoelektronisches Multi-Wellenlängen-Bauelement |
DE19500136A1 (de) * | 1995-01-04 | 1996-07-11 | Deutsche Telekom Ag | Optoelektronisches Bauelement mit axialer Gitterperiodenmodulation |
DE19500135A1 (de) * | 1995-01-04 | 1996-07-11 | Deutsche Telekom Ag | Optoelektronisches Bauelement mit einem Rückkoppelungsgitter mit axial veränderbarer Korrugationsperiode |
DE19520819A1 (de) * | 1995-05-30 | 1996-12-05 | Deutsche Telekom Ag | Verfahren zur Ausnutzung scheibenförmigen Ausgangsmaterials bei der Herstellung optoelektronischer Bauelemente mit Gittern variabler Gitterperiode |
US5834158A (en) * | 1995-05-30 | 1998-11-10 | Deutsche Telekom Ag | Method for the optimum utilization of base material in the manufacture of optoelectronic components with variable-period grating |
US6208793B1 (en) | 1997-03-01 | 2001-03-27 | Deutsche Telekom Ag | Wavelength-tunable optoelectronic apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL194219C (nl) | 2001-09-04 |
GB8630146D0 (en) | 1987-01-28 |
US4833687A (en) | 1989-05-23 |
GB2185149A (en) | 1987-07-08 |
KR950003961B1 (ko) | 1995-04-21 |
NL194219B (nl) | 2001-05-01 |
JPS62144378A (ja) | 1987-06-27 |
FR2591818B1 (fr) | 1994-02-25 |
FR2591818A1 (fr) | 1987-06-19 |
NL8603229A (nl) | 1987-07-16 |
KR870006687A (ko) | 1987-07-14 |
GB2185149B (en) | 1989-10-18 |
DE3643361C2 (de) | 1996-02-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3643361C2 (de) | Mehrschichtiger DFB-Halbleiterlaser | |
EP0498170B1 (de) | Integriert optisches Bauelement für die Kopplung zwischen unterschiedlich dimensionierten Wellenleitern | |
EP0187198B1 (de) | Verfahren zur Herstellung einer integriert - optischen Anordnung | |
DE4328777B4 (de) | Optische Filtervorrichtung | |
DE69635410T2 (de) | Halbleiterlaser und dessen herstellungsverfahren | |
DE3445725C2 (de) | ||
EP0282878B1 (de) | Anordnung für ein integriert-optisches Spektrometer und Verfahren zur Herstellung eines solchen Spektrometers | |
DE69936615T2 (de) | Vorrichtung mit einer optischen Funktion, Herstellungsverfahren und optisches Kommunikationssystem | |
EP0284910B1 (de) | Integriert-optische Anordnung für die bidirektionale optische Nachrichten- oder Signalübertragung | |
DE3631971C2 (de) | Optische Verstärkungsvorrichtung mit Störschutzfilterfunktion | |
DE60200132T2 (de) | Sich verjüngender Wellenleiter (Taper) mit lateralen strahlbegrenzenden Rippenwellenleitern | |
DE60222824T2 (de) | Optischer Multiplexer/Demultiplexer | |
EP0464869A1 (de) | Monolithisch integrierter WDM-Demultiplexmodul und ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Moduls | |
DE19629916A1 (de) | Verteilter Bragg-Reflektorlaser mit Tastgitter und breiter Abstimmbarkeit durch Phasenänderung sowie Verwendungsverfahren dieses Lasers | |
DE10136727C2 (de) | Photonische Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
EP0238964B1 (de) | Kantenfilter für die integrierte Optik | |
DE60319314T2 (de) | Herstellungsverfahren eines Halbleiterbeugungsgitters | |
DE4034187A1 (de) | Optisches halbleiterelement | |
DE4442640A1 (de) | Optisches Bauelement mit einer Mehrzahl von Braggschen Gittern und Verfahren zur Herstellung dieses Bauelements | |
DE19708385A1 (de) | Wellenlängenabstimmbares optoelektronisches Bauelement | |
DE10245544B4 (de) | Distributed-Feedback-Laservorrichtung | |
DE3923755C2 (de) | ||
DE4423187A1 (de) | Abstimmbare optische Anordnung | |
EP0177828A2 (de) | Verbesserung zu einem Monomoden-Diodenlaser | |
DE4322164A1 (de) | Optoelektronisches Bauelement mit Rückkopplungsgitter, mit axial quasi-kontinuierlich und nahezu beliebig variierbarem Gitterkopplungs-Koeffizienten, mit quasi-kontinuierlich axial verteilbarer Brechungsindex-Variation, sowie mit axial nahezu beliebig verteilbarer und variierbarer Phasenverschiebung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: PATENTANWAELTE MUELLER & HOFFMANN, 81667 MUENCHEN |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |