DE3537922C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Lampe nach dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1. Eine solche Lampe kann selektiv Licht eines gewünschten
Wellenlängenbereichs emittieren.
Bei einer bekannten Halogenlampe ist auf der Oberfläche des
röhrenförmigen Kolbens ein Infrarotstrahlung reflektierender
Film, der sichtbares Licht durchläßt, vorgesehen. Von
dem durch den Glühfaden (im folgenden auch "Faden" genannt)
emittierten Licht wird von dem reflektierenden Film Infrarotlicht
reflektiert und zum Faden zurückgeschickt. Auf
diese Weise erwärmt das zurückgeschickte Infrarotlicht den
Faden, wodurch der Emissionsgrad verbessert wird. Gleichzeitig
wird die Menge des aus der Lampe heraus emittierten
Infrarotlichts verringert.
Ein solcher, Infrarotstrahlung reflektierender Film ist
schichtförmig aus einer einen niedrigen Brechungsindex
aufweisenden Schicht aus Siliziumdioxid (SiO₂) und dergl.
und einer einen hohen Brechungsindex aufweisenden Schicht
aus Titanoxid (TiO₂) und dergl. gebildet. Der Film kann
aufgrund einer Lichtinterferenz, insbesondere durch
Steuern der Dicke jeder Schicht, selektiv Licht einer
gewünschten Wellenlänge durchlassen oder reflektieren.
Ein derartiger Film wird als Lichtinterferenzfilm bezeichnet.
Bei einer üblichen Lampe dieser Art kann es bei längerdauerndem
Betrieb zu einem Reißen oder einer Ablösung
des Lichtinterferenzfilms kommen. Diese Erscheinung
tritt insbesondere bei Halogenlampen hoher Betriebstemperatur
und Glühlampen, die in aufeinanderfolgenden
kurzzeitigen Ansteuerintervallen betrieben werden, auf.
Aus der JP-OS 57-1 24 301 ist zur Lösung dieses Problems
ein Film bekannt, der durch abwechselndes Aufeinanderschichten
einer einen niedrigen Brechungsindex aufweisenden
Schicht aus Siliziumdioxid und
einer einen hohen Brechungsindex aufweisenden Schicht
aus Aluminiumoxid (Al₂O₃), Zirkoniumoxid (ZrO₂) und/oder
Titanoxid gebildet ist. Der einen niedrigen Brechungsindex
aufweisenden Siliziumdioxidschicht ist Zinn
und/oder Zirkonium einverleibt.
Wird ein derartiger Lichtinterferenzfilm auf eine
Halogenlampe mit einem Kolben aus Hartglas, z. B.
Quarz- oder Borsilikatglas aufgebracht, ist bei häufigen
An- und Abschaltvorgängen oder bei längerdauerndem
Betrieb eine Rißbildung im Lichtinterferenzfilm oder
eine Ablösung desselben feststellbar. Wird ein Lichtinterferenzfilm
dieses Typs bei einer derartigen Lampe
benutzt, erreicht man kein akzeptables Leistungsvermögen.
Aus der JP-OS 57-1 61 809 ist ein dreischichtiger
TiO₂/SiO₂/TiO₂-Film zur Verwendung in einem Reflektor,
einem dekorativen Farbglas, einem Spiegel oder einem
Filter bekannt. Ferner ist aus dieser Literaturstelle
die Mitverwendung von Phosphorpentoxid in einer Menge
von 0,5-3 Gew.-%, bezogen auf das Gewicht des SiO₂,
bekannt. Wird jedoch ein derartiger dreischichtiger
Film in einer Lampe der beschriebenen Art benutzt, erreicht
man keine akzeptable Lichtinterferenzwirkung, d. h. das
Reflexionsvermögen für Infrarotlicht ist schwach. Schließlich
vermag dieser dreischichtige Film die geschilderten Probleme
nicht zu lösen.
Aus der DE-OS 32 27 096 ist eine Lampe der eingangs genannten
Art mit einem Glaskolben und einem darin eingesiegelten Faden
bekannt, bei der auf der Außenfläche des Kolbens ein aus zahlreichen
Schichten bestehender Lichtinterferenzfilm vorgesehen
ist, der durch abwechselndes Aufeinanderschichten von Siliziumdioxidschichten
und Tantalpentoxidschichten erhalten ist. Damit
soll eine Lampe geschaffen werden, die insbesondere an
Hochtemperaturbedingungen angepaßt ist.
Aus der AT-PS 1 69 192 ist ein Verfahren zur Erzeugung einer
Überzugsschicht aus feinkörnigen Pulverstoffen auf den Glasgefäßen
elektrischer Lampen und dergleichen bekannt, wobei die
Glaswandung mit einer die feinkörnigen Pulverstoffe enthaltenden
Suspension beschlämmt und nach dem Ablaufen der überschüssigen
Suspension die zurückbleibende Überzugsschicht getrocknet
wird. Die Suspension besteht aus einer kolloidalen
Lösung, der noch zusätzliche Stoffe, wie beispielsweise
Spiritus, Borsäure, Phosphorsäure oder Alkalisalze zugemischt
sind, die die erforderliche Viskosität der Suspension länger
aufrechterhalten bzw. die Ausbildung eines dünnen und gleichmäßig
gut haftenden Überzuges begünstigen.
Weiterhin ist aus der DE-AS 23 63 812 ein thermisch hochbelastbarer Lampenkolben bekannt, der einen lichtundurchlässigen
Überzug aufweist, welcher aus einer Suspension hergestellt
ist, die eine spezielle Zusammensetzung mit Borsilikatglas
als ein Bestandteil hat.
Aus der AT-PS 1 93 016 ist eine elektrische Glühlampe bekannt,
bei der lichtstreuendes Material aus in Wasser unlöslichem
Erdalkaliphosphat besteht.
Schließlich ist in der US-PS 41 79 181 ein infrarotlicht-reflektierender
Gegenstand beschrieben, bei dem jeweils
Silberschichten zwischen dielektrischen Schichten gelagert
sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Lampe mit
Lichtinterferenzfilm hohen Lichtinterferenzgrades und Infrarotlichtreflexionsvermögens,
der auch bei häufigen An- und Abschaltvorgängen
oder bei längerer Betriebsdauer weder reißt
noch sich ablöst, bereitzustellen.
Diese Aufgabe wird bei einer Lampe nach dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1 erfindungsgemäß durch die in dessen kennzeichnendem
Teil enthaltenen Merkmale gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus
den Patentansprüchen 2 bis 4.
Bei einem Versuch, die oben geschilderten Schwierigkeiten zu
lösen, wurden umfangreiche Untersuchungen darüber angestellt,
welche Zusätze man Siliziumdioxid einverleiben kann, um den
Unterschied im thermischen Ausdehnungskoeffizienten zwischen
üblichen Schichten mit niedrigem und hohem Brechungsindex
zu vermindern. Dies geschah insbesondere auch im Hinblick
darauf, daß die Volumenschrumpfung bei thermischer Zersetzung
einer organischen Siliziumverbindung beträchtlich ist und daß
die üblichen Schichten mit niedrigem oder hohem Brechungsindex
deutlich unterschiedliche thermische Ausdehnungskoeffizienten
aufweisen. Es hat sich nun überraschenderweise gezeigt, daß
man die gewünschte Wirkung mit Phosphorpentoxid und/oder
Bortrioxidzusätzen zu Siliziumdioxid erreicht.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnung
näher erläutert. Im einzelnen zeigt
Fig. 1 einen Querschnitt durch eine Lampe gemäß der
Erfindung und
Fig. 2 einen Querschnitt durch einen bei der erfindungsgemäßen
Lampe vorgesehenen Lichtinterferenzfilm.
Die in Fig. 1 dargestellte kleine Halogenlampe
besitzt einen röhrenförmigen Kolben 1
aus hitzebeständigem, durchsichtigem Glas, z. B. durchsichtigem
Quarzglas. Ein Ende 3 des Kolbens 1 ist versiegelt.
In das versiegelte Ende 3 sind Molybdänleiterfolien
4a und 4b eingelassen und mit Innenleitungen 5a
und 5b verbunden. Zwischen den Innenleitungen 5a und 5b ist
im Zentrum des Kolbens 1 eine Wolframwendel 6 vorgesehen.
Am versiegelten Ende 3 ist schließlich eine Fassung
7 befestigt. Der Kolben 1 ist mit einem Inertgas,
z. B. gasförmigem Argon, oder einem gasförmigen Halogen
gefüllt.
Auf der Außenseite des Kolbens 1 ist als Lichtinterferenzfilm
ein sichtbares Licht durchlassender und
Infrarotstrahlung reflektierender Film vorgesehen.
Der Film 2 besteht aus mindestens fünf Schichten, beispielsweise
neun bis dreizehn Schichten, wobei abwechselnd
eine einen hohen Brechungsindex aufweisende
Schicht 21 und eine einen niedrigen Brechungsindex
aufweisende Schicht 22 aufeinandergeschichtet sind.
Die unterste Schicht des Films 2 besteht ebenso wie
dessen oberste Schicht aus einer einen hohen Brechungsindex
aufweisenden Schicht 21. Die Schicht 21 enthält
mindestens ein Metalloxid mit hohem Brechungsindex, z. B.
Titanoxid, Tantaloxid oder Zirkonoxid. Die Schicht 22
besteht aus Siliziumdioxid und enthält eine gegebene
Menge Phosphor und/oder Bor. Der Film 2 läßt sichtbares
Licht durch und reflektiert durch Lichtinterferenz
Infrarotlicht. Beträgt die Anzahl der Schichten im
Film 2 weniger als 5, erreicht man keine akzeptable
Lichtinterferenz, d. h. die Reflexion von Infrarotlicht
ist schlecht, so daß man keine qualitativ hochwertige
Lampe erhält.
Die Schichten 21 und 22 besitzen normalerweise eine
optische Dicke von 0,2-0,4 µm.
Die Zusatzmenge an Phosphor und/oder Bor in der Schicht
22 beträgt etwa 3-20 Gew.-%, ausgedrückt als Phosphorpentoxid
(P₂O₅) und/oder Bortrioxid (B₂O₃), d. h. die
Menge an Phosphor ist auf P₂O₅, die Menge an Bor auf
B₂O₃ berechnet. Wenn die Zusatzmenge unterhalb von
3 Gew.-% liegt und der Film 2 mehr als fünf Schichten
umfaßt, kommt es bei wiederholten An- und Abschaltzyklen
oder bei langdauerndem Betrieb zu einem Reißen oder Ablösen
des Films 2. Bei einer Erhöhung der Zusatzmenge
steigt auch der Brechungsindex der einen niedrigen
Brechungsindex aufweisenden Schichten 22, wobei man
die Anzahl der Schichten des Films 2 erhöhen muß, um
die gewünschte Wirkung zu erreichen. Wird die Zusatzmenge
über 20 Gew.-% erhöht, erhöht sich auch der
Brechungsindex von Siliziumdioxid in unangemessener
Weise (über 1,500). Hierbei erhält man dann keine
Lichtinterferenzwirkung mehr. Zusätzlich ist der gebildete
Film ungleichmäßig. Die bevorzugte Zusatzmenge
beträgt 5-10 Gew.-%.
Im folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung des
Lichtinterferenzfilms 2 anhand eines Films, bei dem
die einen hohen Brechungsindex aufweisenden Schichten
aus Titanoxid bestehen, näher erläutert. Zunächst wird
ein Titanalkoxid, beispielsweise Tetraisopropoxytitan
oder Tetramethoxytitan, in einem alkoholischen
Lösungsmittel, z. B. Ethanol, gelöst, worauf ein Kolben
1 in die erhaltene Lösung eingetaucht wird. Nach
dem Herausziehen des Kolbens 1 mit konstanter Geschwindigkeit,
beispielsweise 20-30 cm/min, wird er
getrocknet und etwa 10 min lang an Luft bei einer
Temperatur von etwa 500°C bis 600°C gebrannt. Beim
Brennen zersetzt sich das Titanalkoxid zu Titanoxid
unter Bildung einer einen hohen Brechungsindex aufweisenden
Schicht 21. Danach wird ein Tetraalkoxysilan,
z. B. Tetraethoxysilan oder Tetramethoxysilan, in einem
alkoholischen Lösungsmittel, z. B. Ethanol, gelöst und
zur Bildung einer Tetraalkoxysilankondensatlösung
einer Siliziumkonzentration (ausgedrückt aus SiO₂-Konzentration)
von beispielsweise 5,0 Gew.-% reagieren
gelassen. Schließlich wird der Lösung eine Phosphor-
und/oder Borverbindung in einer Menge entsprechend dem
angegebenen Mengenbereich einverleibt.
Als Phosphorverbindung wird Phosphorpentoxid und als Borverbindung
wird Bortrioxid verwendet. In die erhaltene Lösung
wird danach der bereits eine einen hohen Brechungsindex
aufweisende Schicht 21 enthaltende Kolben 1
eingetaucht. Nach dem Herausziehen des Kolbens 1 mit konstanter
Geschwindigkeit, z. B. 30-40 cm/min, wird er
getrocknet und etwa 10 min lang an Luft bei einer
Temperatur von etwa 500°C bis 600°C gebrannt. Hierbei
bildet sich auf der Schicht 21 eine Phosphor und/oder
Bor enthaltende und aus Siliziumdioxid bestehende,
einen niedrigen Brechungsindex aufweisende Schicht 22.
Zur Herstellung des Films 2 werden die geschilderten
Maßnahmen mehrmals wiederholt.
Das folgende Beispiel soll die Erfindung näher veranschaulichen.
Zunächst werden mehrere in Fig. 1 dargestellte Halogenlampen
hergestellt. Danach werden in der im folgenden
geschilderten Weise auf die Lampen Filme mit hohem
Brechungsindex aufgebracht. Zu diesem Zweck wird zunächst
als Titanverbindung Tetraisopropoxytitan in
Ethanol in einer Konzentration von 3% gelöst, worauf
in die erhaltene Lösung der Kolben 1 (der Halogenlampen)
eingetaucht wird. Nach dem Herausziehen des Kolbens 1 mit
konstanter Geschwindigkeit von 25 cm/min wird er getrocknet
und dann etwa 10 min lang bei einer Temperatur
von etwa 500-600°C gebrannt. Die verschiedenen, einen
niedrigen Brechungsindex aufweisenden Schichten werden
in der folgenden beschriebenen Weise gebildet. Zunächst
wird in Ethanol ein Tetraethoxysilan gelöst und
zur Herstellung einer Lösung von kondensiertem Tetraethoxysilan
mit 5% Silizium (ausgedrückt als SiO₂)
reagieren gelassen. In der erhaltenen Lösung werden in
unterschiedlichen Konzentrationen die in der folgenden
Tabelle angegebenen Zusätze gelöst. Nach dem Eintauchen
der Kolben 1 in die Lösung werden die Kolben 1 mit konstanter
Geschwindigkeit von 35 cm/min aus der jeweiligen
Lösung herausgezogen, getrocknet und dann etwa 10 min
lang an Luft bei einer Temperatur von etwa 500-600°C
gebrannt. Die verschiedenen Verfahrensmaßnahmen werden
zur Herstellung des jeweiligen Films 2 abwechselnd
wiederholt. Zur Bewertung wird die Gesamtzahl an einen
hohen bzw. einen niedrigen Brechungsindex aufweisenden
Schichten des Films, bei denen während des Betriebs der
Lampe eine Rißbildung oder ein Ablösen erfolgt, ermittelt.
Die Ergebnisse finden sich in der folgenden
Tabelle.
Die Zusatzmengen errechnen sich nach folgender Gleichung
aus den Mengen P₂O₅, B₂O₃ und SiO₂:
Zusatzmenge (in Gew.-%)=(P₂O₅+B₂O₃) : (SiO₂+P₂O₅+B₂O₃)
Die Anzahl an Schichten bedeutet die Gesamtzahl an Schichten
21 und 22.
Aus der Tabelle geht hervor, daß der
Lichtinterferenzfilm 2 kaum reißt bzw. sich
kaum ablöst. Insbesondere dann, wenn die Menge an zugesetztem
Phosphor und/oder Bor 3,0 Gew.-% übersteigt,
läßt sich die Anzahl der Schichten ohne Rißbildung
oder Ablösung beträchtlich steigern, so daß man die gewünschte
optische Wirkung bei ausreichender Anzahl an
Schichten erreicht. Wenn jedoch die Menge an Phosphor
oder Bor steigt, erhöht sich auch der Brechungsindex,
so daß man die Anzahl an Schichten erhöhen muß. Wenn
die Zusatzmenge 20,0 Gew.-% übersteigt, übersteigt der
Brechungsindex 1,500. Derartige Filme sind aus optischen
und wirtschaftlichen Gesichtspunkten unerwünscht.
Darüber hinaus wird der Film hierbei ungleichmäßig.
Bei einem Versuch wird ein Gemisch aus Phosphor und Bor
verwendet. In diesem Falle muß auch die Gesamtmenge an
Phosphor und Bor im Bereich von 3-20 Gew.-% liegen.
Es wurde experimentell bestätigt, daß die einen hohen
Brechungsindex aufweisende Schicht 21 aus Tantaloxid
oder Zirkonoxid oder einem Gemisch aus mehr als zwei der
Verbindungen Titanoxid, Tantaloxid und Zirkonoxid bestehen
kann. Auch in diesem Fall muß die Gesamtmenge an
zugesetztem Phosphor und/oder Bor im Bereich von
3-20 Gew.-% liegen. Den Lichtinterferenzfilm kann
man, außer in der geschilderten Weise, auch beispielsweise
durch Vakuumbedampfen herstellen. Darüber hinaus können
als Ausgangsmaterialien auch noch andere als die genannten
Phosphor- oder Borverbindungen verwendet werden.
Bei einer erfindungsgemäßen Lampe ist auf der Innen-
oder Außenseite des Lampenkolbens ein abwechselnd aus
Schichten hohen und niedrigen Brechungsindex gebildeter
Lichtinterferenzfilm vorgesehen. Jede einen niedrigen
Brechungsindex aufweisende Schicht besteht aus Siliziumdioxid
und enthält als Zusatz Phosphor und/oder Bor.
Selbst dann, wenn der Lichtinterferenzfilm aus einer größeren
Anzahl von Schichten besteht, kommt es weder zu
einem Reißen noch zu einer Ablösung des Films.
Claims (4)
1. Lampe mit einem Glaskolben (1), in den ein Glühfaden
(6) eingesiegelt ist, und mit einem auf der Oberfläche
des Glaskolbens (1) ausgebildeten Lichtinterferenzfilm
(2) aus mindestens fünf Schichten, wobei der Lichtinterferenzfilm
(2) durch abwechselndes Aufeinanderschichten
einer einen Zusatz aufweisenden und aus
Siliziumdioxid bestehenden Schicht (22) eines niedrigen
Brechungsindex und einer Schicht (21) eines hohen
Brechungsindex, der höher ist als der Brechungsindex
der einen niedrigen Brechungsindex aufweisenden
Schicht (22), gebildet ist, dadurch gekennzeichnet,
daß der in der Schicht (22) des niedrigen Brechungsindex
enthaltene Zusatz aus Phosphorpentoxid
und/oder Bortrioxid besteht
und die Gesamtmenge an Phosphorpentoxid und/oder
Bortrioxid etwa 3-20 Gew.-% beträgt.
2. Lampe nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
jede der einen niedrigen Brechungsindex aufweisenden
Schichten (22) 5-10 Gew.-% an Zusatz enthält.
3. Lampe nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß jede der einen hohen Brechungsindex aufweisenden
Schichten (21) Titanoxid, Tantaloxid und/oder Zirkonoxid
enthält.
4. Lampe nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß der Lichtinterferenzfilm (2) auf
der Außenseite des Kolbens (1) vorgesehen ist.
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Cited By (1)
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