DE3439287C2 - Lasermikrostrahlanalysiergerät - Google Patents
LasermikrostrahlanalysiergerätInfo
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- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
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Applications Claiming Priority (1)
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| JP20208883A JPS6093336A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | レ−ザ微量分析装置 |
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|---|
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| DE19637480A1 (de) * | 1996-09-13 | 1998-03-26 | Bergmann Thorald | Massenspektrometrische Analyse von Oberflächen |
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| GB2080027B (en) * | 1980-07-10 | 1985-02-27 | Hughes Technology Pty Ltd | Laser particle generator |
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- 1984-10-26 GB GB08427104A patent/GB2149569B/en not_active Expired
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4325724A1 (de) * | 1993-07-30 | 1995-02-02 | Paul Dr Debbage | Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung eines Objektes und zur Einwirkung auf das Objekt |
| DE19637480A1 (de) * | 1996-09-13 | 1998-03-26 | Bergmann Thorald | Massenspektrometrische Analyse von Oberflächen |
| DE19637480C2 (de) * | 1996-09-13 | 2001-02-08 | Thorald Bergmann | Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse von Oberflächen |
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Also Published As
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Legal Events
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| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
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