DE3410682A1 - Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops - Google Patents

Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops

Info

Publication number
DE3410682A1
DE3410682A1 DE19843410682 DE3410682A DE3410682A1 DE 3410682 A1 DE3410682 A1 DE 3410682A1 DE 19843410682 DE19843410682 DE 19843410682 DE 3410682 A DE3410682 A DE 3410682A DE 3410682 A1 DE3410682 A1 DE 3410682A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
detectors
image
image plane
photomicroscope
display unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19843410682
Other languages
English (en)
Inventor
Friedrich Dr. 7080 Aalen Möllring
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH, Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Priority to DE19843410682 priority Critical patent/DE3410682A1/de
Publication of DE3410682A1 publication Critical patent/DE3410682A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/361Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/18Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Einrichtung zur Erfassung der Beleuchtungsstärkeverteilung in der Bild-
  • ebene eines Photomikroskops Einer der häufigsten Fehler, die bei der Herstellung mikrophotographischer Aufnahmen gemacht werden, ist in der ungleichmößigen Ausleuchtung des Objekts zu sehen. Insbesondere dann, wenn mit schwachen Vergrößerungen gearbeitet wird (z.B. um Übersichtsphotos von histologischen Schnitten zu machen), ist es schwierig einen Helligkeitsabfall zum Bildrand hin zu vermeiden. Dieser Fehler tritt deshalb auf, weil die Fähigkeit des menschlichen Auges verlaufende Helligkeitsunterschiede wahrzunehmen, nicht besonders hoch ist und die in der Filmebene auftretenden Helligkeitsunterschiede durch den photographischen Prozeß noch verstärkt werden, so daß sie auf der entwickelten Photographie umso mehr in Erscheinung treten.
  • Nun ist es bekannt, zur gleichmäßigen Einstellung der Beleuchtungsstärke streng nach den Köhler'schen Regeln zu verfahren. Dieses Vorgehen ist aber einmal für viele Benutzer zu kompliziert und außerdem dann nicht durchführbar, wenn große Objektfelder ausgeleuchtet werden müssen, da de meisten mikroskopie das Einstellen Köhler'sche Bedingungen nur bis zu einer bestimmten Objektfeldgröße gestattet. Für die Ausleuchtung größerer Felder wird vom Benutzer das Einbringen zusätzlicher Hilfsmittel wie z.B. Streuscheiben und Hilfslinsen in den Beleuchtungsstrahlengang gefordert.
  • Aus der DE-OS 26 44 341 und der DE-PS 31 22 538 sind Einrichtungen zur automatischen Einstellung Köhler'scher Beleuchtungsbedingungen bekannt, die mehrere in der Bildebene angeordnete, photoelektrische Detektoren besitzen, durch die die Beleuchtungsstärke in unterschiedlichen Bildbereichen gemessen wird.
  • Diese Detektoren erlauben jedoch nicht die Erfassung kleiner Helligkeitsabfälle zum Bildrand hin. Die Signale der beiden jeweils in der Bildmitte und am Bildrand angeordneten Detektoren des Ausführungsbeispiels nach Figur 2 der DE-OS 26 44 341 dienen nämlich zur Steuerung unterschiedlicher Blenden und die Detektoren der Einrichtung nach der DE-PS 31 22 538 sind überhaupt nur am BildranJ angeordnet und dienen dozu, die zentrische Lage der Lichtquelle festzustellen. Zudem sind die Detektoren der genannten Einrichtungen am Rande des durch die Okulare beobachteten, kreisförmiy begrenzten Zwischenbildes im Mikroskop angeordnet und liegen daher außerhalb des durch den Formatrohmen für die Mikrophotogrsphie ausgewählten Bildausschnittes.
  • Es ist weiterhin bekannt, zur Einstellung der korrekten Belichtungszeit bei der Herstellung photographischer Aufnahmen einen in der Bildebene verschiebbaren Sensor bzw. mehrere, einzeln anwählbare Detektoren vorzusehen, durch den die Belichtungszeit für den interessierenden, ausgewählten Bildbereich durch Messung der Bildhelligkeit ermittelt wird. Ein Ausmessen der Beleuchtungsstärke bei nicht vorhandenem Objekt mit Hilfe eines solchen Sensors ist zwar prinzipiell möylich, wäre jedoch mühsam und zeitraubend, da die den einzelnen Bildbereichen zugeordneten Anzeigewerte vom Benutzer selbst verylichen und beurteilt werden müßten.
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Einrichtung zur Erfassung der Beleuchtungsstärkeverteilung in der Bildebene eines Photomikroskops zu schaffen, durch die Inhomogenitäten in dem schließlich photographisch abgebildeten Bildbereich schnell und mit hoher Empfindlichkeit erkannt werden.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Ausbildung gemäß den im Kennzeichen des Anspruchs 1 onyegebenen Merkmalen gelöst.
  • Der Vorteil der erfindungsgemäßen Einrichtung ist darin zu sehen, daß dem Benutzer sofort eine eindeutige Information über die Gleichmäßigkeit der Bildausleuchtung im Sinne einer Ja/Nein-Aussage dargeboten wird, der damit schnell in die Lage versetzt wird, durch Manipulation am Beleuchtungsstrshlengang Inhomogenitäten der Bildhelligkeit zu beseitigen und dumit die Qualität der mikrophotographischen Aufnahme zu verbessern.
  • Es ist zweckmäßig, mindestens fünf z.B. auf einer in die Zwischenbildebene des Mikroskops einschiebbaren Platte, jeweils in den Bildecken und in der Bildmitte angeordnete Detektoren vorzusehen und jedem Detektor ein Anzeiyeelement zuzuordnen, das eine Überschreitung maximal zulassiger Differenzen der Beleuchtungsstärke anzeigt. Da die zulässigen Abwei- chungen der Beleuchtungsstärke für ein gleichmäßig ausgeleuchtetes Bild jedoch von der Gradation des Filmmaterials abhängt, ist es zusätzlich vorteilhaft, die Ansprechschwelle der Anzeigeeinheit einstellbar auszubilden.
  • Außerdem kann anstelle oder ergänzend zu der vorgenannten, optischen Spignolanzeige dem Beobachter auch ein akustisches Signal dorgeboten werden.
  • Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen sowie den Unteransprüchen entnehmbar.
  • Fig. 1 zeigt eine Prinzipskizze eines Photomikroskops mit einer Einrichtung gemäß eines ersten Ausführungsbeispiel; Fig. 2 ist eine im geänderten Maßstab ausgeführte Darstellung des Sensorteils 6 aus Figur 1; Fig. 3 ist eine Prinzipskizze einer Einrichtung gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel; Fig. 4 ist ein Blockschaltbild der die Signale der Sensoren aus Fig. 3 und Fig. 2 verarbeitenden Elektronik.
  • Das in Fig. 1 dargestellte Photomikroskop besteht aus einem Stativ 1, auf das anstelle des üblichen Binokulartubus ein Phototubus 2 aufgesetzt ist. Dieser Phototubus enthält einen Strshiteilerprisma bzw. einen schaltbaren Umlenkspiegel, durch den der Strahlengang in ein an den Tubus 2 angesetztes Einstellokular 11 umgelenkt wird. Der Tubus 2 trägt außerdem die hinter einem elektrisch schaltbaren Verschluß 4 angeordnete Aufsatzkamera 5.
  • An der Stelle des Okularansatzes 11, in der das Zwischenbild entsteht, ist eine in ihren Abmessungen üblichen Okularstrichplstten entsprechende Platte 6 eingesteckt, die in Figur 2 detaillierter dargestellt ist.
  • Diese Platte 6 enthält 5 jeweils an den vier Fck<n und der Mitte inner- halb des durch den Formatrahmen 19 begrenzten Bildbereiches angeordnete, licht-empfindliche Detektoren 12a-e. Die Ausgänge dieser Detektoren sind über eine Signalleitung 10 mit dem die Belichtungszeit der Kamera 5 steuernden Pult 9 verbunden (Fig.1). In das Pult 9 ist ein Anzeigefeld 7 integriert, das aus ebenfalls fünf, den Detektoren 12a-e zugeordneten Leuchtdioden 8a-e besteht.
  • Zur Ansteuerung dieser Dioden dient die in Fig. 4 dargestellte Schaltuny. Sie besteht aus einem ersten Analogmultiplexer 20, dessen Eingänge mit den Detektoren 12 verbunden sind, einem Mikroprozessor 21, der den Multiplexer 20 steuert und aus den Signolen der nacheinander abgefragten Detektoren 12a-e jeweils die Signaldifferenz der äußeren Detektoren 12a-e zu dem in der Bildmitte angeordneten Detektor 12e bildet und diese Differenzen mit einem über eine Tastatur 22 digital eingegebenen Schwellwert vergleicht, der von der Gradation des verwendeten Films abhängt.
  • Der Prozessor 21 steuert außerdem einen zweiten Multiplexer 22, über den sein Signal ausgang mit den Leuchtdioden 8a-e der Anzeigeeinheit verbunden ist. Der Prozessor 21 ist so programmiert, daß die roten Leuchtdioden 8a-d jeweils dann aufleuchten, wenn die durch den entsprechenden Sensor 12a-d gemessene Beleuchtungsstärke über das durch den Schwellwert vorgegebene Maß von der Beleuchtungsstärke abweicht, die der Sensor 12e mißt. Lieyen die vier Meßwerte innerhalb des Schwellwertes, dann leuchtet die grüne Leuchtdiode 8e auf und signalisiert das Vorliegen ausreichend homogener Beleuchtungsbedingungen.
  • Nach dem in Figur 3 dargestellten, zweiten Ausführungsbeispiel ist die Platte 6 durch einen Schieber 13 ersetzt, der zwei Schaltstellungen aufweist. In der ersten Schaltstellung befindet sich im Strahlengang vor dem Okular 11 ein freier Durchgang 15, durch den die Bedienperson das Zwischenbila und damit das Objekt direkt beobachten kann. In der zweiten Schaltstellung befindet sich eine wieder aus fünf Detektoren bestehende Sensorplatte 16 in der Zwischenbildebene. Auf den herausragenden Teil des mittels der Candhube 14 betdtigborer1 Schiebf r5 13 ist außercism direkt die im Ausführungsbeispiel nach Figur 1 in du Pult integrierte Anzeigeeinheit 17 aufgesetzt. Deren Leuchtdioden 18 werden von einer entsprechend dem Schaltbild in Figur 4 aufgebauten Elektronik angesteuert, die von einer ebenfalls direkt im Schieber 13 enthaltenen Batterie gespeist wird. Anstelle der Leuchtdioden 18a-e kann jedoch auch eine Flüssigkristallanzeige (LCD-Disploy) eingesetzt werden, die einen geringeren Stromverbrauch besitzt.
  • - Leerseite -

Claims (6)

  1. Patentansprüche: 1. Einrichtung zur Erfassung der Beleuchtungsstarkeverteilung in der Bildebene eines Photomikroskops mit Hilfe mehrerer, in unterschiedlichen Bereichen einer Bildebene angeordneter photoelektrischer Detektoren, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren (12) innerhalb des durch den Formatrahmen begrenzten Bildbereichs angeordnet sind und mit einer Anzeigeeinheit (7) verbunden sind, die dem Benutzer ein aus den Differenzen der gemessenen Beleuchtungsstärke, die einen tolerierbaren Schwellwert überschreiten, abgeleitetes Signal darbietet.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens fünf in den Bildecken (12a-d) und der Bildmitte (12e) angeordnete Detektoren vorgesehen sind.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1-2, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren (12) auf einer in die Zwischenbildebene einschiebbaren Platte (6,13) angeordnet sind.
  4. 4. Einrichtung nach Anspruch 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß jedem Detektor (12a-e) ein Anzeigeelement (Leuchtdiode 8a-e) zugeordnet ist.
  5. 5. Einrichtung nach Anspruch 1-4, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren (16) und die Anzeigeneinheit (17) gemeinsam auf einem Schieber (13) angeordnet sind, der eine batterieversorgte Steuerelektronik enthält.
  6. 6. Einrichtung nach Anspruch 1-5, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwellwert der Anzeigeeinheit (7,17) einstellbar ist.
DE19843410682 1984-03-23 1984-03-23 Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops Ceased DE3410682A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19843410682 DE3410682A1 (de) 1984-03-23 1984-03-23 Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19843410682 DE3410682A1 (de) 1984-03-23 1984-03-23 Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3410682A1 true DE3410682A1 (de) 1985-09-26

Family

ID=6231384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19843410682 Ceased DE3410682A1 (de) 1984-03-23 1984-03-23 Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3410682A1 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5579156A (en) * 1994-05-18 1996-11-26 Carl-Zeiss-Stiftung Photomicroscope with a video camera and an exposure time control for a still camera
DE19543585C1 (de) * 1995-11-23 1997-04-03 Zeiss Carl Jena Gmbh Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes
EP0775926A1 (de) 1995-11-23 1997-05-28 Carl Zeiss Jena GmbH Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes
EP1519211A1 (de) * 2003-09-26 2005-03-30 CARL ZEISS JENA GmbH Frei platzierbare Anzeigeeinrichtung für Mikroskop- und/oder Bilddaten

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2639020A1 (de) * 1976-08-30 1978-03-02 Leitz Ernst Gmbh Belichtungsmessvorrichtung fuer aufsatzkamera an mikroskopen
US4309091A (en) * 1979-05-30 1982-01-05 Nippon Kogaku K.K. Exposure display device in a camera

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2639020A1 (de) * 1976-08-30 1978-03-02 Leitz Ernst Gmbh Belichtungsmessvorrichtung fuer aufsatzkamera an mikroskopen
US4309091A (en) * 1979-05-30 1982-01-05 Nippon Kogaku K.K. Exposure display device in a camera

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Firmenschrift 111.512-122d 1/81/LX/B Zeiss, Aufsetzkamera- Programm für Mikrophotographie, 41-400-d AW IX/70 Boo *
Leitz Ortholyt *
Leitz Ortholyt, Firmenschrift 111.512-122d 1/81/LX/B Zeiss, Aufsetzkamera- Programm für Mikrophotographie, 41-400-d AW IX/70 Boo

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5579156A (en) * 1994-05-18 1996-11-26 Carl-Zeiss-Stiftung Photomicroscope with a video camera and an exposure time control for a still camera
DE19517476B4 (de) * 1994-05-18 2004-08-12 Carl Zeiss Photomikroskop
DE19543585C1 (de) * 1995-11-23 1997-04-03 Zeiss Carl Jena Gmbh Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes
EP0775926A1 (de) 1995-11-23 1997-05-28 Carl Zeiss Jena GmbH Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes
EP1519211A1 (de) * 2003-09-26 2005-03-30 CARL ZEISS JENA GmbH Frei platzierbare Anzeigeeinrichtung für Mikroskop- und/oder Bilddaten

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4439557C2 (de) Verfahren und Einrichtung zum Eichen der Vergrößerung von Zoomoptik-Systemen
DE2829312C2 (de) Linsenmeßgerät und Verfahren zum Messen der Ablenkung eines zu untersuchenden optischen Systems
DE256051T1 (de) Bildverarbeitungsvorrichtung zur kontrolle der transferfunktion eines optischen systems.
DE2156617B2 (de) Einrichtung zur bildkorrelation
DE4122817B4 (de) Automatische Linsenmeßeinrichtung zum automatischen Messen von optischen Kenndaten einer Brechkraft aufweisenden Linse
DE102013018547B4 (de) Einrichtung zur Ausrichtung eines Fokussierobjektivs
DE3202816C2 (de)
DE3138122C2 (de)
DE3215675C2 (de)
DE2847718A1 (de) Vorrichtung zur gleichzeitigen fluchtungs- und richtungsmessung
DE2717033C2 (de) Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung
DE19501415A1 (de) Sehtestgerät
DE4328277C2 (de) Kamera mit einer Sehachsen-Detektorvorrichtung
DE3410682A1 (de) Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops
DE2021324C3 (de) Photometer für Beobachtungsgeräte, insbesondere für Mikroskope
DE69114660T2 (de) Gerät zur Messung der Brechkraft eines Auges.
DE4205350C2 (de) Kamera mit Blickpunktmeßeinrichtung
DE1472292A1 (de) Optisches Geraet zum gleichzeitigen Messen des Wanderns zweier Bilder
DE828019C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Auswahl des Farbfilters fuer tonwertrichtige photographische Aufnahmen
DE720422C (de) Photographische Kamera mit elektrischem Belichtungsmesser
DE1472292C (de) Autokollimator
EP0302182A2 (de) Vorrichtung zur selektiven Lichtmessung
AT265697B (de) Zusatz-Gerät für optische Instrumente, insbesondere für Mikroskope
DE3903861C1 (de)
DE2543563B2 (de) Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung der Autokollimation

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8131 Rejection