DE19543585C1 - Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes - Google Patents

Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes

Info

Publication number
DE19543585C1
DE19543585C1 DE19543585A DE19543585A DE19543585C1 DE 19543585 C1 DE19543585 C1 DE 19543585C1 DE 19543585 A DE19543585 A DE 19543585A DE 19543585 A DE19543585 A DE 19543585A DE 19543585 C1 DE19543585 C1 DE 19543585C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
image
exposure control
exposure
receiver arrangement
control according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19543585A
Other languages
English (en)
Inventor
Dirk Dipl Biol Kohle
Johannes Dr Ing Knoblich
Hans Dipl Ing Tandler
Bernd Dr Faltermeier
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Carl Zeiss Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Jena GmbH filed Critical Carl Zeiss Jena GmbH
Priority to DE19543585A priority Critical patent/DE19543585C1/de
Priority to US08/752,313 priority patent/US5838425A/en
Priority to EP96118662A priority patent/EP0775926A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19543585C1 publication Critical patent/DE19543585C1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/361Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/099Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
    • G03B7/0993Arrangement of photoelectric elements in or on the camera in the camera
    • G03B7/0997Through the lens [TTL] measuring
    • G03B7/09979Multi-zone light measuring

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

Die in der Mikrofotografie bei Mikroskopen bekannten Spotmessungen unterschiedlicher Meßflächen (z. B. 3%, 1%, 0.1% der Kleinbild-Formatfläche) dienen der exakten, auf ein Objektdetail bezogenen Belichtungsmessung mittels Sensoren, insbesondere bei mikroskopischen Objekten hoher Dynamik, wie z. B. Fluoreszenz-, Dunkelfeld- und Pol- Präparaten.
Dazu wird das zu messende Objektdetail entweder in die durch eine Einstellmarke gekennzeichnete Sehfeldmitte von Mikroskopokular oder Mikroskopkamera-Einstellfernrohr gerückt (durch Objektzentrierung am Mikroskoptisch) oder durch eine verschiebbare Meßblende eingefangen.
Beide Methoden setzen eine exakte Zentrierung von Objektdetail (Spot-Meßfläche) und Einstellmarke zu dem die Belichtungszeit messenden Sensor voraus.
Diese Zentrierung garantiert jedoch - auch wenn sie vom Anwender exakt ausgeführt wurde - nicht in jedem Fall eine eindeutige Spotpositionierung und damit die richtige Belichtung auf das gewünschte Objektdetail.
Diese Spot-Fehlpositionierung tritt dann auf, wenn durch die Summation der Zentriertoleranzen der einzelnen mechanischen Systemkomponenten-Schnittstellen (Okular → Mikroskop- Okularrohr bzw. Einstellfernrohr → Mikroskopkamera; Fotoausgang Mikroskoptubus → Anschlußadapter für Mikroskopkameras; Fotookular bzw. Projektiv → Anschlußadapter für Mikroskopkameras; Mikroskopkamera → Anschlußadapter Mikroskopkameras) ein systematischer Summenzentrierfehler des Systems Mikroskop-Mikroskopkamera entsteht, der in der Größenordnung des Spot-Durchmessers liegt.
Neben dem vom Anwender nicht beeinflußbaren, systematischen Summenzentrierfehler des Systems Mikroskop-Mikroskopkamera wirkt noch ein subjektiver, zufälliger Zentrier- Einstellfehler, der von den Einstellfertigkeiten des Anwenders, d. h. seiner Fertigkeit, das zu belichtende Objektdetail (Spotposition) tatsächlich in der markierten Meßposition (Strichkreuzmitte der Einstellhilfe, z. B. Okular oder Einstellfernrohr) zu positionieren.
Beide beschriebenen Fehleranteile werden insbesondere beim "0.1%-Spot"-Meßverfahren zu einem grundsätzlichen Problem, häufig sind Fehlbelichtungen die Folge.
In DE-A1 34 10 682 sind in der Bildebene eines Photomikroskopes mehrere photoelektrische Detektoren im Bildbereich in unterschiedlichen Bereichen positioniert, um dem Benutzer Inhomogenitäten der Beleuchtungsstärkeverteilung anzuzeigen.
In DE 35 06 492 A1 ist eine Mehrfeldmatrix mit steuerbarer Transmission in Strahlengang eines optischen Gerätes angeordnet, die von einem Prozessor felderweise hellgeschaltet wird und der ein Fotoempfänger oder eine Fotoempfängermatrix nachgeordnet ist, wobei die einzelnen gemessenen Helligkeitssignaie ausgewertet werden. Aus den Feldern, die Objektstrukturen enthalten, wird rechnerisch eine optimale Belichtungszeit durch Bestimmung des Verhältnisses der hellgesteuerten Felder zur Gesamtzahl aller Felder ermittelt.
In EP 380904 B1 wird die übliche angesetzte Videokamera an ein Mikroskop durch einen in der primären Bildebene eines Objektives mit einem ultraweitem geebneten Feld und großer numerischer Apertur vorgesehenen zweidimensionalen Halbleiter- Bildempfänger ersetzt, um Echtzeit-Digitalbilder ohne weitere dazwischengeschaltete optische Elemente zu erzeugen.
In der nicht vorveröffentlichten DE 195 17 476 A1 dient eine an das Mikroskop angesetzte Videokamera zur Ermittlung der Belichtungszeit einer angeschlossenen Photokamera, wobei unterschiedliche Bildbereiche des erzeugten Videobildes zur Belichtungssteuerung herangezogen werden, die vom Betrachter ausgewählt werden.
Die Bestimmung der Belichtungszeit erfolgt durch Mittelwertbildung, wobei stets eine angesetzte Videokamera erforderlich ist.
Beim Ansatz einer Videokamera muß jedoch jeweils das optische System bezüglich der Aufnahmeparameter der jeweiligen Kamera geeicht werden.
Aufgabe der Erfindung ist es, auf einfache Art eine exakte, zentrierfehlerfreie Zuordnung der einzustellenden Belichtungszeit zu dem tatsächlich interessierenden Objektdetail zu gewährleisten.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
Wird der auf die CCD-Matrix projizierte, für die Belichtung relevante Bildausschnitt über einen Algorithmus (Computerprogramm) in ein Clusterbildformat in Form eines Intensitäts-Rasterbildes umgerechnet und auf einem Computerbildschirm (oder Laptop- oder Notebookdisplay) als Grauwert- oder Farbrasterbild, auf dem noch die Objektdetails erkennbar sind, zur Darstellung gebracht, kann bei entsprechender Größe des Rasterbildes auf dem Monitor und einer sich damit ergebenden minimalen Einzelclustergröße mit Einzelclusterauflösung das gewünschte Objektdetail auf der Bedienoberfläche angeclickt werden.
Die erfindungsgemäße Lösung wird im Folgenden anhand der schematischen Darstellungen in Fig. 1 und 2 näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen optischen Strahlengang für die Mikrofotografie von der Tubuslinse eines Mikroskopes aus in Richtung eines Aufnahmesystems,
Fig. 2 ein durch Bildverarbeitung auf einem Monitor dargestelltes Bild betrachteter Objektstrukturen.
Das von einer Tubuslinse 1 eines Mikroskopes geformte Zwischenbild 2 wird in einem Fotostrahlengang (Fototubus), der einem Strahlteilerelement ST nachgeordnet ist, über ein Fotookular 3 vergrößert.
Dem Fotookular 3 ist ein Schwenkspiegel 7 nachgeordnet, wobei bei aus dem Strahlengang ausgeschwenktem Spiegel 7 und geöffnetem Zentralverschluß 4 ein Objektiv 5 ein vergrößertes Zwischenbild 6 in der Filmebene einer Aufzeichnungseinheit erzeugt.
Zur Belichtungssteuerung wird der Schwenkspiegel 7 in den Strahlengang eingeschwenkt, wodurch über eine Belichtungsoptik 8 ein Zwischenbild 9 auf einer CCD-Matrix erzeugt wird, die über eine nicht dargestellte Logikschaltung mit einer Auswerteeinheit verbunden ist, zu der ein PC gehört. Über den Strahlteiler ST und einen Binokulartubus 10 erfolgt die Betrachtung des Zwischenbildes 2 durch das Beobachterauge 11.
Schwenkspiegel 7, Verschluß 4, Objektiv 5 sowie Filmebene 6, aber auch Belichtungsoptik 8 und die CCD-Matrix sind hierbei integrierter Bestandteil eines an den Fotoausgang nach dem Fotookular 3 bzw. einem Projektiv, je nach optischem System, ansetzbaren Aufsetzkamerasystems AK, so daß eine gegenseitige Justierung oder Eichung der Einzelelemente oder die beim separaten Ansatz von Videokameras erforderliche Neueichung entfällt.
Nachfolgend erfolgt beispielhaft ein Dimensionierungsbeispiel zur Abschätzung der Clustergröße auf einem PC-Monitor:
Bei Anwendung eines 1/3′′-CCD-Chips der Sensorfläche 3.6 × 4.8 mm und einer Pixelanzahl von 500 × 680 Einzelpixeln ist beim Einsatz einer entsprechenden Optik die Abbildung des Kleinbildformates der Größe 2.4 × 3.6 mm = 8.64 mm² auf die Chipoberfläche möglich. Für die Belichtungsmessung wird üblicherweise nur ein Bildausschnitt (meistens nur 30% der Bildformatfläche) verwendet.
Werden nun beispielsweise 9 × 14 Einzelpixel zu einem Cluster zusammengefaßt, entsteht eine Cluster-Empfängerfläche von 88 × 88 µm. Mit dieser Clustergröße wird eine 0.1%ige Spotgröße erreicht und bei Zusammenfassung von z. B. 21 × 21 Clustern (resultierende Empfängerfläche: 3.42 mm²) ergibt sich eine Integralmeßfläche von 44%.
Bei einem Spot-Meßformat von z. B. 17 × 26 Cluster = 442 Cluster auf der Chipoberfläche, d. h. 442 einzelnen Spot- Positionen, ergibt sich das Clusterbild-Format von 1.5 × 2.3 mm = 3.45 mm².
Bei Umrechnung des Clusterbild-Formates auf einen 10.4′′- Monitor (über das KB-Gesamtformat von 2.4 × 3.6 mm) mit der wahlweisen Darstellung des Clusterbildes in Hoch- oder Querformat auf dem Monitor ergibt sich ein gerastertes Grauwert- Clusterbild der Größe 66 × 99 mm und der zur Spotmessung anclickbaren Einzelcluster der Größe von 3.8 × 3.8 mm. Dieses Grauwert-Clusterbild ist in Fig. 2 schematisch dargestellt.
Mit der erfindungsgemäßen Lösung des Anclickens von erkennbaren Clusterbild-Objektdetails als ein neuartiges Spot- Meßverfahren ist ein eindeutiger Bezug von dem zu belichtenden Objekt und dem Belichtungssensor gegeben und damit sind die Zentriertoleranzprobleme und damit verbundene Fehlbelichtungen, die bei konventionellen Spotmessungen häufig auftreten können, ausgeschlossen.
Bildverarbeitende Mittel zur Clusterbildung und Darstellung und damit zur Verfremdung und Kontrastvergrößerung von Objektstrukturen sind bisher im Stand der Technik durch ihre Anwendung beispielsweise bei der Erkennung von Objekten durch Bildaufnahmesysteme von Industrierobotern, bei der verfremdeten Darstellung von Personen im Fernsehen oder auch als PC-Bildschirmschoner bekannt geworden.

Claims (7)

1. Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes,
mit einer zweidimensionalen fotoelektrischen Empfängeranordnung zur Erfassung der Bildhelligkeit des Mikroskopbildes, die Bestandteil eines am Standard-Fotoausgang eines Mikroskopes ansetzbaren Kamerasystems ist,
wobei diese Empfängeranordnung eine Schnittstelle zur Übertragung der durch die Empfängeranordnung erfaßten Bildinformation vom mikroskopischen Objekt zu einer Betrachtungseinheit aufweist und die Betrachtungseinheit mit ersten Eingabemitteln zur manuellen Auswahl mindestens eines beliebigen Bildbereiches einer bestimmten Mindestgroße auf der Empfängeranordnung verbunden ist, dessen intensitätswert das Steuersignal für die Belichtungszeit der fotografischen Aufnahme bildet.
2. Belichtungssteuerung nach Anspruch 1, wobei zweite Eingabemittel zur Veränderung des Bildkontrastes des auf der Betrachtungseinheit sichtbaren Bildes vorgesehen sind.
3. Belichtungssteuerung nach Anspruch 1 oder 2, wobei mittels elektronischer Bildverarbeitung jeweils mehrere lichtempfindliche Bereiche der Empfängeranordnung auf der Betrachtungseinheit zu einem Cluster zusammengefaßt werden und durch Auswahl mindestens eines Clusters dessen Intensitätswert das Steuersignal für die Belichtungszeit bildet.
4. Belichtungssteuerung nach einem der Ansprüche 1-3, wobei das mikroskopische Objekt als Grauwert-Rasterbild auf der Betrachtungseinheit angezeigt wird und der Intensitätswert eines Grauwertrasters das Steuersignal für die Belichtungszeit bildet.
5. Belichtungssteuerung nach einem der Ansprüche 1-4, wobei durch Veränderung der Clustergröße die Bildauflösung verändert wird.
6. Belichtungssteuerung nach einem der Ansprüche 1-5, wobei die Empfängeranordnung eine CCD-Matrix ist.
7. Belichtungssteuerung nach einem der Ansprüche 1-6, wobei erste und/oder zweite Eingabemittel über einen PC-Monitor angesteuert werden.
DE19543585A 1995-11-23 1995-11-23 Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes Expired - Fee Related DE19543585C1 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19543585A DE19543585C1 (de) 1995-11-23 1995-11-23 Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes
US08/752,313 US5838425A (en) 1995-11-23 1996-11-19 Exposure control for the photographic recording of a microscope image
EP96118662A EP0775926A1 (de) 1995-11-23 1996-11-21 Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19543585A DE19543585C1 (de) 1995-11-23 1995-11-23 Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19543585C1 true DE19543585C1 (de) 1997-04-03

Family

ID=7778154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19543585A Expired - Fee Related DE19543585C1 (de) 1995-11-23 1995-11-23 Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19543585C1 (de)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3410682A1 (de) * 1984-03-23 1985-09-26 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops
DE3506492A1 (de) * 1985-02-23 1986-08-28 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Verfahren und vorrichtung zum eingeben, sichtbarmachen und/oder registrieren eines variablen messfleckes in einen strahlengang einer kamera fuer optische geraete
EP0380904A1 (de) * 1987-08-20 1990-08-08 Xillix Technologies Corporation Halbleiter Mikroskop
DE19517476A1 (de) * 1994-05-18 1995-11-23 Zeiss Carl Fa Photomikroskop

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3410682A1 (de) * 1984-03-23 1985-09-26 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Einrichtung zur erfassung der beleuchtungsstaerkeverteilung in der bildebene eines photomikroskops
DE3506492A1 (de) * 1985-02-23 1986-08-28 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Verfahren und vorrichtung zum eingeben, sichtbarmachen und/oder registrieren eines variablen messfleckes in einen strahlengang einer kamera fuer optische geraete
EP0380904A1 (de) * 1987-08-20 1990-08-08 Xillix Technologies Corporation Halbleiter Mikroskop
DE19517476A1 (de) * 1994-05-18 1995-11-23 Zeiss Carl Fa Photomikroskop

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19635666C1 (de) Integriertes Mikroskop
EP2396623B1 (de) Geodätisches vermessungsgerät
DE69919383T2 (de) System für die blickrichtung der augen
EP1150096B1 (de) Fernrohr für geodätische Geräte, insbesondere für Videotachymeter
DE102010023108B4 (de) Projektor mit automatischer Fokussierung und Abbildungsverfahren
DE3439304C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Feinfokussierung eines optischen Abbildungssystems
DE10214191A1 (de) Mikroskopsystem
WO2018134141A2 (de) Bildwandlungsmodul für ein mikroskop und mikroskop
DE112017001464B4 (de) Abstandsmessvorrichtung und Abstandsmessverfahren
CN101900876A (zh) 在屏幕上按准确倍率显示与标示显微镜镜下景象的方法
DE19517476B4 (de) Photomikroskop
DE102020106535A1 (de) Verfahren zum Anpassen einer Bildmaske
EP1779171B1 (de) Vorrichtung zum vergrössernden betrachten eines objekts
EP1220004A2 (de) Einrichtung zur Helligkeitssteuerung von überlagerten Zusatzinformationen in einer optischen Betrachtungseinrichtung
EP1293817B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Fokuskontrolle in einem Mikroskop mit digitaler Bildgebung, vorzugsweise einem konfokalen Mikroskop
WO2018141560A1 (de) Verfahren zum bestimmen einer abweichung auf einem verschiebeweg einer zoom-optik und verfahren zur korrektur sowie bildaufnahmevorrichtung
DE19543585C1 (de) Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes
DE1918958C3 (de) Kamera mit einer Einrichtung zur Anzeige des Schärfentiefenbereichs
DE102013211286A1 (de) Verfahren zur Vermessung eines Werkstücks mit einem optischen Sensor
WO2014198245A1 (de) Kamera mit opto-elektronischem entfernungsmesser
EP0775926A1 (de) Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes
DE10135321B4 (de) Mikroskop und Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Mikroskop
DE102014107445A1 (de) Optisches Beobachtungsgerät, Verfahren zum Einstellen eines Parameterwertes für ein optisches Beobachtungsgerät und Verfahren zum Aufnehmen von Bild- oder Videodaten von einem Beobachtungsobjekt mit Hilfe eines optischen Beobachtungsgerätes
DE19646962A1 (de) Belichtungssteuerung für die fotografische Aufnahme eines Mikroskopbildes
DE10018312C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Fokussieren eines Bildes

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee