DE3439304C2 - Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Feinfokussierung eines optischen Abbildungssystems - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Feinfokussierung eines optischen AbbildungssystemsInfo
- Publication number
- DE3439304C2 DE3439304C2 DE3439304A DE3439304A DE3439304C2 DE 3439304 C2 DE3439304 C2 DE 3439304C2 DE 3439304 A DE3439304 A DE 3439304A DE 3439304 A DE3439304 A DE 3439304A DE 3439304 C2 DE3439304 C2 DE 3439304C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- imaging system
- focusing
- distance
- optical
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/67—Focus control based on electronic image sensor signals
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff von
Anspruch 1 sowie eine Vorrichtung nach dem Oberbegriff von
Anspruch 8.
Eine Vorrichtung der vorstehenden Art ist Gegenstand der DE-
AS 22 34 448. Bei dieser Vorrichtung wird die Korrektur der
anfänglichen Grobeinstellung der Scharfeinstellungsentfernung
anhand des Vorliegens einer positiven oder negativen
Differenz beim stufenweisen Abtasten einer die Helligkeit bei
verschiedenen Einstellungsentfernungen wiedergebenden
Helligkeitskurve vorgenommen. Hierbei hängt die Genauigkeit
des Einstellergebnisses von der Größe der gewählten Stufen
und von deren zufälliger Lage gegenüber dem Scheitelpunkt der
besagten Helligkeitskurve ab.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein
Einstellsystem der vorstehenden Art in der Weise weiter zu
entwickeln, daß sich die Lage des Scharfstellpunktes mit
einfachen Mitteln und in kurzer Zeit theoretisch genau
ermitteln läßt. Die Scharfeinstellung soll dabei vorzugsweise
anhand einer Kante oder Linie des in der Objektebene des
optischen Abbildungssystems befindlichen Gegenstands
durchführbar sein, die tatsächlich mittels des optischen
Abbildungssystems betrachtet werden soll.
Diese Aufgabe wird durch die in den Patentansprüchen 1 und 8
gekennzeichnete Erfindung gelöst. Ausgestaltungen der
Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen und aus der
Beschreibung, in der einige Ausführungsbeispiele anhand der
Zeichnung erläutert sind.
Das Feinfokussiersystem nach der vorliegenden Erfindung kann
bei allen Arten von optischen Instrumenten verwendet werden,
die hohe Anforderungen an die Fokussierung stellen und einen
Bilddetektor verwenden, beispielsweise optische oder
Fernsehkamera-Systeme, Mikroskope oder abtastende
Densitometer. Bei Verwendung des erfindungsgemäßen Systems an
Geräten zur optischen Abtastung und Breitenmessung von sehr
feinen Linien ergibt sich dabei noch der Vorteil, daß
dieselben Recheneinrichtungen sowie optischen Detektoren, die
zur Bestimmung der Linienbreite eingesetzt werden, auch zur
Einstellung des optimalen Fokussierzustandes des optischen
Systems verwendet werden können.
Zur Erläuterung des Systems wird dies im folgenden anhand
eines Bildabtastdensitometers und eines Mikroskopes
beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines
optischen Mikroskops oder Bildabtastdensi
tometers mit einem Feinfokussiersystem
nach der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 Kurven der gemessenen Lichtintensität
als Funktion der horizontalen Abtastung
über das Bild mit Profilen für schlechte
Scharfeinstellung und gute Scharfeinstellung
einer vergrößerten feinen Linie;
Fig. 3 eine typische Kurve zweiter Ordnung von Kurven
werten, die über die vertikalen Positionen des
Tisches aufgetragen sind;
Fig. 4 die Schritte des Verfahrens zur Feinfokussie
rung nach der Erfindung; und
Fig. 5 eine schematische Darstellung eines Fein
fokussiersystems in einer Fernsehkamera.
Fig. 1 zeigt eine schematische Ansicht eines optischen
Mikroskops, das zur automatischen Abtastung und
Breitenmessung von sehr feinen Linien vorgesehen
ist, wie es beispielsweise in der US-Patentschrift
4,373,817 beschrieben ist. Das Mikroskop enthält
einen herkömmlichen Probentisch oder -schlitten 12,
der manuell, beispielsweise mittels eines Einstellknopfes 14, in X-
und Y-Richtung in der horizontalen Ebene verschoben werden kann.
Der Tisch 12 kann weiterhin in vertikaler Richtung mit einem
Schrittmotor 16 verschoben werden, der manuell mit
einem Einstellknopf 18 gedreht werden kann und außerdem
durch Signale eines digitalen Prozessors oder Computers
20 ansteuerbar ist. Bei einigen Anwendungen mag es
vorteilhafter sein, die Probe oder das Objekt in
einer festen Position zu lassen und mit dem Motor
16 das optische System in die entsprechende Lage
bezüglich des Objekts zu verschieben.
Eine Probe 22, die auf dem Tisch 12 befestigt ist,
soll sehr feine Linien enthalten, wie sie beispiels
weise in elektronischen Mikroschaltungen oder den
empfindlichen Masken enthalten sind, wie sie zur Herstellung
von solchen Schaltungen verwendet werden. Um die Breite
von derartigen Linien zu bestimmen, fokussiert ein
optisches System mit einer Objektivlinse 24 ein
Bild der feinen Linie auf die Oberfläche eines Ge
häuses 26 mit einem schmalen Abtastschlitz 28 vor
einem Photodetektor 30, der die Intensität des Lichtes
mißt, das durch den Schlitz hindurchtritt. Das Gehäuse
26 ist auf einer Mutter 32 befestigt, die über das
projizierte Bild des Probenkörpers gefahren wird;
dazu dient eine Spindel 34, die von einem Schrittmotor
36 unter Steuerung des Rechners 20 gedreht wird.
Das durch den Schlitz 28 hindurchtretende Licht
wird vom Photodetektor 30 abgefühlt und der dabei
entstehende Signalstrom verstärkt. Nach Umsetzung
in Digitalform wird dieser dem Rechner 20 zugeführt,
der die Breite der feinen Linie aus den Abtastsignalen
bestimmt, wie es in dem oben erwähnten Patent be
schrieben ist. Wenn das optische System nicht genau
fokussiert ist, treten Probleme auf, da eine kleine
Abweichung vom eigentlichen Fokus zu einem unscharfen
Bild der Linienkanten führt und es unmöglich macht,
die Kantenlage genau zu bestimmen, so daß Fehlmessungen
auftreten. Um also genaue Linienbreitenmessungen
mit diesem System zu erzielen, ist es unumgänglich,
den Fokus so genau als möglich einzustellen. In
der bevorzugten Ausführungsform bestimmt der Rechner 20,
der die Linienbreite bestimmt, auch den optimalen
Fokuszustand des optischen Systems und verwendet
dazu dieselben optischen und Detektor-Einrichtungen,
die bei der Messung der Linienbreiten eingesetzt
werden.
Fig. 1 zeigt eine typische vergrößerte feine Linie
38, die in die Brennpunktebene auf der Oberfläche
des Gehäuses 26 projiziert wird, wie sie beispiels
weise von einem Techniker gesehen werden kann,
der eine erste Scharfeinstellung durch ein Okular 40
vornimmt, das auf ein Fadenkreuz 42 fokussiert ist in
einem Strahlengang, der durch einen Strahlenteiler 44 in
Richtung auf das Okular projiziert wird. Durch
Betätigung des vertikalen Fokussierknopfes 18 wird
die Kante der feinen Linie 38 manuell in die an
scheinend beste anfängliche Scharfeinstellung gebracht.
Diese erste Scharfeinstellung wird aber nur selten
die ideale oder perfekte Scharfeinstellung sein,
die für genaue Messungen erforderlich ist; dies
wird aus der folgenden Diskussion noch deutlicher.
Fig. 2 zeigt die vergrößerte feine Linie 38 über
einer Kurve 46, die ein schlecht fokussiertes Bild
darstellt, wie es beispielsweise bei der ersten
manuellen Scharfeinstellung vorliegt, und eine zweite
Kurve 48, die eine Scharfeinstellung der Linie 38
darstellt. Beide Kurven 46 und 48 stellen etwas
übertriebene Darstellungen der optischen Intensität
dar, die vom Photodetektor 39 als Funktion der hori
zontalen Abtastung über die Linie 38 gemessen werden
und dienen zur Erläuterung der Ableitung der "Kantenwerte",
wie sie in Fig. 3 dargestellt sind. Die Kurve
46, die eine schlechte Scharfeinstellung der dunklen
Linie 38 darstellt, gehört zu der Art, die in der
Nähe der Kanten der Linie 38 unscharf erscheint.
Die Lichtanteile des Objekts in der Nähe der dunklen
Linie erzeugen hohe Ausgangsintensitäten an den
Punkten 50 in beiden Kurven 46 und 48. Wenn das
Gehäuse 26 in Fig. 1 über das Bild im Brennpunkt gefahren
wird, nehmen die Intensitäten des unscharf eingestellten
Bildes allmählich ab und erreichen ein Minimum bei
einem Punkt 51 innerhalb der Begrenzung der Linie.
Auf der anderen Seite weist das durch Kurve 48 darge
stellte scharf eingestellte Bild nahezu vertikale
Seiten 52 auf und fällt rasch von der maximalen
Intensität 50 zur minimalen Intensität 53 ab, wenn
der Abtastschlitz 28 im Gehäuse 26 in Fig. 1 die
Kanten des Bildes 38 der Linie überschreitet. Jede
der Kurven 46 und 48 von Fig. 2 hat eine Steigung,
wobei die beste Scharfeinstellung dann vorliegt,
wenn die Steigung der Kurve senkrecht ist oder den
Wert unendlich aufweist. Ein Wert für die Güte der
Scharfeinstellung, ein Meßwert, der im folgenden
als "Kantenwert" bezeichnet wird, ist auf der anderen
Seite proportional zum Reziproken der Steigung,
so daß die beste Scharfeinstellung beim kleinsten
Kantenwert auftritt, der numerisch definiert ist
als:
wobei K eine Normierungskonstante ist und dp/dx
die Änderungsrate der Helligkeit bezüglich der hori
zontalen Abtastlänge.
Fig. 3 zeigt eine Kurve des Kantenwerts als Funktion
der vertikalen Lage des Mikroskoptisches. Bei dem
Verfahren nach der vorliegenden Erfindung wird ein
Minimum von drei Kantenwerten gemessen bei verschiedenen,
aber bekannten Positionen des Tisches; im bevorzugten
Ausführungsbeispiel der Erfindung werden jedoch fünf Werte an
Tischpositionen gemessen, die gleiche Abstände zueinander
aufweisen.
Fig. 4 zeigt die Schritte, mit denen die Kantenwerte gemessen
und schließlich die genaue vertikale Tischposition bestimmt
wird, in der die beste Scharfeinstellung vorliegt. Zuerst
stellt die Bedienungsperson mit dem vertikalen
Fokussierungsknopf 18 die beste manuelle anfängliche
Fokussierung ein. Dann erfolgt eine horizontale Abtastung,
indem der Schlitz 28 über das Bild 38 der Probe geführt wird
und Rechner 20 den Kantenwert E.V. bei dieser ersten Position
e₀ bestimmt. Es sind beliebige Abtastfolgen möglich, im
bevorzugten Ausführungsbeispiel wird jedoch zuerst der
Schrittmotor 16 zur Absenkung des Tisches um zwei
vorbestimmte Schritte von jeweils 0,45 Mikrometer
angesteuert, wo eine zweite Abtastmessung durchgeführt und
der entstehende Kantenwert bei der Position e-2 bestimmt
wird. Der Tisch wird dann vom Schrittmotor 16 um einen
vorbestimmten festen Schritt nach oben verschoben und mit dem
Photodetektor hinter dem Abtastschlitz 28, der von der
Spindelmutter angetrieben wird, wird eine dritte Messung
durchgeführt. Der entstehende Kantenwert bei der Position e-1
wird dann bestimmt und der Tisch 12 um zwei vorbestimmte
feste Schritte angehoben, um den Kantenwert bei der Position
e₁ zu bestimmen; anschließend wird der Tisch um einen Schritt
angehoben, um einen fünften Kantenwert bei der Position e₂ zu
messen.
Die fünf gemessenen Kantenwerte werden dann entsprechend Fig. 3
aufgetragen und ergeben eine Kurve, die durch eine Kurve
zweiter Ordnung angenähert werden kann:
E.V. = ae²+be+c.
Die Werte der Koeffizienten a, b und c können dann
einfach nach der Methode der kleinsten Quadrate
bestimmt werden, die bei Statistikern und Mathematikern
gut bekannt ist. Die Gleichung, mit der die Koeffizienten
einer Kurve zweiter Ordnung abgeleitet werden können,
die über fünf Werten von "e" aufgetragen ist, lauten:
Wie schon erwähnt, tritt die beste Scharfeinstellung
beim minimalen Kantenwert auf. Um die genaue vertikale
Tischposition für die beste Scharfeinstellung aufzu
finden, ist es deshalb nur notwendig, den tiefsten
Punkt der Kurve in Fig. 3 festzustellen; dies läßt
sich leicht erreichen, wenn die Kurve zweiter Ord
nung differenziert und gleich Null gesetzt wird,
um somit Steigung O der Kurve zu ermitteln.
Die erste Ableitung der Kurve zweiter Ordnung
E.V. = ae² + be + c
lautet
d (E.V.)/dx = 2 ae + b.
Der Koeffizient c ist eine Konstante, die die Höhe
der Kurve von Fig. 3 über der Abszisse angibt und
vernachlässigt werden kann. Wenn die erste Ableitung
Null gesetzt und nach der Lage e des Tisches aufgelöst
wird, ergibt das Resultat die genaue Tischposition,
in der die beste Scharfeinstellung des Systems vorliegt.
Wenn also 2aebest + b = 0, dann ist ebest = -b/2a.
Fig. 4 zeigt eine Zusammenfassung der oben beschriebenen
Verfahrensschritte. Im bevorzugten Ausführungsbeispiel
steuert der Rechner 20 den Betrieb der beiden Schritt
motoren 16 und 36, liest die Ausgangswerte der Photo
detektoren 30 und legt sie im Speicher 58 ab, mißt
die Kantenwerte für jede der vertikalen Tischpositionen,
bestimmt die vertikale Tischposition für die beste
Scharfeinstellung nach der Methode der kleinsten
Quadrate und positioniert den Tisch in dieser optimalen
Lage. Es ist darauf hinzuweisen, daß die verwendeten
Gleichungen nicht schwierig oder komplex sind, und
daß auch eine manuelle Rechnung leicht durchgeführt
werden kann, wenn dies gewünscht wird.
Bei Betrachtung der Kurve in Fig. 3 kann man fest
stellen, daß die erste manuelle Einstellung 56 des
Tisches einen Kantenwert ergab, der außerordentlich
nahe am optimalen Wert 58 lag, der sich bei der
Feinfokussierung einstellte und deutlich innerhalb
des Schärfentiefenbereichs des optischen Systems
lag. Es ist aber festzustellen, daß eine manuelle
Schärfeneinstellung nicht genau sein kann, und daß
die Unterschiede zwischen dem anfänglichen Kanten
wert 60 und dem optimalen Kantenwert 62 zwar klein
sind, aber zu vertikalen Tischpositionen 56 bzw.
58 führen, die sich deutlich unterscheiden, so daß
die manuelle Scharfeinstellung nur selten genau
sein kann. Weiterhin ist festzustellen, daß die
Daten des Maximums, die zur Darstellung der Kurve
in Fig. 3 verwendet werden, an Tischpositionen erhalten
wurden, die sich von der Position der optimalen
Scharfeinstellung 58 unterscheiden und an Punkten
lagen, die weiten Abweichungen des Kantenwertes
entsprachen, wo sehr kleine Bewegungen des Tisches
den Unschärfegrad des beobachteten Bildes stark
ändern. Die Kurve zweiter Ordnung, die aus Daten
aufgebaut ist, die sich außerhalb der Schärfeposition
ergeben, kann also trotzdem verwendet werden, um
den genauen Abstand eines Objekts zu bestimmen,
bei dem sich dieses in optimaler Scharfeinstellung
befindet.
Wie schon erwähnt, kann das Feinfokussierungssystem
nach der Erfindung bei jeder Art von optischen oder
elektrooptischen Instrumenten verwendet werden,
die eine Scharfeinstellung erfordern und einen Bild
detektor verwenden, beispielsweise optische oder
elektronenoptische Mikroskope, optische oder Video-
Kamerasysteme, photoempfindliche Filmgeräte usw.
Fig. 5 zeigt eine schematische Darstellung eines
Feinfokussiersystems in einer Fernsehkamera 66 mit
einer lichtempfindlichen Fläche 68, beispielsweise
einer Vidicon-Röhre, einer Festkörpermatrix (CCD)
oder einer ähnlichen lichtempfindlichen Fläche.
Bei der Beobachtung durch ein Okular 70 oder mit
einem Fernsehmonitor 83 stellt die Bedienungsperson
oder ein Hilfsfokussiersystem manuell oder auto
matisch die beste visuelle Schärfe ein, indem der
Knopf 72 zur Drehung der Welle 74, der Zahnräder
76 und der Spindel 78 betätigt wird, um die Objektiv
linse 80 zu verschieben. Das Bild eines unterscheidbaren
Merkmales auf dem betrachteten Objekt 82 wird dadurch
auf der lichtempfindlichen Fläche 68 der Fernseh
kamera 66 scharf abgebildet.
Die Kamera ist mit einer Bilddigitalisiereinrichtung
84 verbunden, die eine oder mehrere Rasterabtastzeilen
des Videosignals der Kamera in eine digitale Form
umsetzt, die für die Recheneinheit 86 geeignet ist.
Die Rasterabtastzeilen sind analog den Abtastzeilen
der Photomultiplier-Röhre, die anhand von Fig. 1
beschrieben wurde; im Fall der Rasterabtastung können
jedoch viele Linien auftreten, und die effektive
Abtastung, die für die Scharfeinstellung herangezogen
wird, kann aus mehreren individuellen Abtastzeilen
zusammengesetzt sein. Die Abtastposition wird von
der Recheneinheit 86 genau aus den Synchronisiersignalen
der Fernsehkamera bestimmt, und die Speicherschaltkreise
der Rechnereinheit koordinieren die Information
der Abtastposition mit den Bildintensitätsdaten
in jeder Abtastung auf ähnliche Weise, wie es anhand
des optischen Mikroskopsystems von Fig. 1 beschrieben
wurde.
Claims (15)
1. Verfahren zur automatischen Feinfokussierung eines
optischen Abbildungssystems nach anfänglicher
Grobeinstellung der Scharfeinstellungsentfernung des
Abbildungssystems durch Abtastung der Abbildung eines
eine Kante aufweisenden Bereiches eines in der
Objektebene befindlichen Gegenstands, bei welchem
- a. ausgehend von der anfänglich gewählten Scharfstellentfernung die Einstellung des Abbildungssystems in mehreren Stufen verändert wird,
- b. die mit der Veränderung der Scharfstellentfernung verbundenen Helligkeitsänderungen mittels mindestens eines Photodetektors festgestellt werden, und
- c. die Feinfokussierung des Abbildungssystems in Abhängigkeit von der festgestellten Größe der relativen Helligkeitsänderungen vorgenommen wird,
gekennzeichnet durch folgende
Verfahrensschritte:
- d. die Messung der relativen Helligkeiten wird mittels eines durch mindestens eine Schlitzblende (28) abgeschatteten oder mittels eines rasterförmig abgetasteten Photodetektors (30, 66) vorgenommen,
- e. die in mindestens drei Scharfstellentfernungen zustande kommenden die Bildschärfe repräsentierenden Kantenwerte (E.V.) jeder Abtastung der Kante werden als Funktion der entsprechenden Distanz (e) in einer durch die Formel E.V. = ae² + be + cangenäherten quadratischen Funktion festgehalten,
- f. die Werte der Koeffizienten "a" und "b" dieser Funktion werden bestimmt,
- g. der optimale Scharfstellabstand "ebest" wird entsprechend der Beziehung ebest = -b/2abestimmt, und
- h. der Scharfstellabstand des Abbildungssystems wird entsprechend dem optimalen Scharfstellabstand "ebest" eingestellt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Koeffizientenbestimmung nach dem bekannten
Annäherungsverfahren der kleinsten Quadrate erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die zur Bestimmung des optimalen Scharfstellabstandes
erforderlichen Verfahrensschritte mittels eines digitalen
Prozessors (20, 86) durchgeführt werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das optische Abbildungssystem Teil
einer Kamera ist.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das optische Abbildungssystem Teil
eines Mikroskopes ist, bei welchem das zu betrachtende
Objekt auf einem quer zur Schlitzblende beweglichen Tisch
(12) angebracht ist.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das optische System Teil eines
abtastenden Densitometers ist.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß der Photodetektor Teil einer
Fernsehkamera (66) ist, die mit einer
Bilddigitalisiereinrichtung (86) verbunden ist, die eine
oder mehrere Rasterzeilen des Videosignals der Kamera in
eine digitale Form umsetzt.
8. Vorrichtung zur automatischen Feinfokussierung eines
optischen Abbildungssystems nach anfänglicher
Grobeinstellung der Scharfeinstellungsentfernung des
Abbildungssystems durch Abtastung der Abbildung eines
eine Kante aufweisenden Bereiches eines in der
Objektebene befindlichen Gegenstands mit
- a. einer Einrichtung zur Veränderung der anfänglich gewählten Scharfstellentfernung des Abbildungssystems in mehreren Stufen,
- b. mindestens einem Photodetektor zur Messung der mit der Veränderung der Scharfstellentfernung verbundenen Helligkeitsänderungen, und
- c. einer Einrichtung zur Feinfokussierung des Abbildungssystems in Abhängigkeit von der festgestellten Größe der relativen Helligkeitsänderungen,
gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
- d. ein durch mindestens eine Schlitzblende (28) abgeschatteter oder rastermäßig abgetasteter Photodetektor (30, 66) zur Messung der relativen Helligkeiten,
- e. ein digitaler Prozessor (20, 86) zum Aufzeichnen der durch die in mindestens drei Scharfstellentfernungen zustande kommenden, die Bildschärfe repräsentierenden Kantenwerte (e.V.) als Funktion der entsprechenden Distanz (e) in einer durch die Formel E.V. = ae² + be + c angenäherten quadratischen Funktion, zur Bestimmung der Werte der Koeffizienten "a" und "b" dieser Funktion und des optimalen Scharfstellabstands "ebest" entsprechend der Beziehung ebest = -b/2a, und
- f. eine Einrichtung zur Einstellung des optimalen Scharfstellabstandes des optischen Systems entsprechend dem ermittelten Wert "ebest".
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Einrichtung zur Koeffizientenbestimmung nach dem
bekannten Annäherungsverfahren der kleinsten Quadrate
vorgesehen ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch
gekennzeichnet, daß das optische Abbildungssystem Teil
einer Kamera ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch
gekennzeichnet, daß das Abbildungssystem Teil eines
optischen Mikroskopes ist, bei welchem das zu
betrachtende Objekt auf einem quer zum Schlitz
beweglichen Tisch (12) angeordnet ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch
gekennzeichnet, daß das Abbildungssystem Teil eines
abtastenden Densitometers ist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch
gekennzeichnet, daß das Abbildungssystem Teil einer
Fernsehkamera (66) ist, die mit einer
Bilddigitalisiereinrichtung (86) verbunden ist, die eine
oder mehrere Rasterzeilen des Videosignals der Kamera in
eine digitale Form umsetzt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/546,437 US4600832A (en) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | Method and apparatus for automatic optical focusing on an optically discernible feature on an object |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3439304A1 DE3439304A1 (de) | 1985-05-09 |
DE3439304C2 true DE3439304C2 (de) | 1994-02-24 |
Family
ID=24180422
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3439304A Expired - Fee Related DE3439304C2 (de) | 1983-10-28 | 1984-10-26 | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Feinfokussierung eines optischen Abbildungssystems |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4600832A (de) |
JP (1) | JPS60115906A (de) |
DE (1) | DE3439304C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012025220A1 (de) | 2010-08-23 | 2012-03-01 | Euroimmun Medizinische Labordiagnostika Ag | Verfahren und vorrichtung zur automatischen fokussierung von substraten bei der fluoreszenzmikroskopie |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4748335A (en) * | 1985-04-19 | 1988-05-31 | Siscan Systems, Inc. | Method and aparatus for determining surface profiles |
US4804831A (en) * | 1985-10-30 | 1989-02-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting apparatus independent of object image contrast |
US5055665A (en) * | 1985-10-30 | 1991-10-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting apparatus jointly employing outputs of plural diverse detectors |
EP0298725A3 (de) * | 1987-07-07 | 1989-10-18 | Konica Corporation | Scharfeinstellgerät für Kamera |
US4908645A (en) * | 1988-02-05 | 1990-03-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Automatic focus adjusting device |
US4959552A (en) * | 1988-02-09 | 1990-09-25 | Carl-Zeiss-Stiftung | Microscope arranged for measuring microscopic structures |
JP2713978B2 (ja) * | 1988-05-13 | 1998-02-16 | キヤノン株式会社 | カメラのための自動焦点調節装置 |
DE3828381C2 (de) * | 1988-08-20 | 1997-09-11 | Zeiss Carl Fa | Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung eines optischen Systems |
US4945220A (en) * | 1988-11-16 | 1990-07-31 | Prometrix Corporation | Autofocusing system for microscope having contrast detection means |
US5042949A (en) * | 1989-03-17 | 1991-08-27 | Greenberg Jeffrey S | Optical profiler for films and substrates |
US4931630A (en) * | 1989-04-04 | 1990-06-05 | Wyko Corporation | Apparatus and method for automatically focusing an interference microscope |
US5122648A (en) * | 1990-06-01 | 1992-06-16 | Wyko Corporation | Apparatus and method for automatically focusing an interference microscope |
DE4105001C2 (de) * | 1991-02-19 | 1995-03-23 | Hell Ag Linotype | Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines optischen Abbildungs-Systems |
DE4105002C2 (de) * | 1991-02-19 | 1995-03-23 | Hell Ag Linotype | Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines optischen Abbildungs-Systems |
JP2851713B2 (ja) * | 1991-04-03 | 1999-01-27 | シャープ株式会社 | オートフォーカス装置 |
US5647025A (en) * | 1994-09-20 | 1997-07-08 | Neopath, Inc. | Automatic focusing of biomedical specimens apparatus |
US5784164A (en) * | 1997-03-20 | 1998-07-21 | Zygo Corporation | Method and apparatus for automatically and simultaneously determining best focus and orientation of objects to be measured by broad-band interferometric means |
JPH11258484A (ja) * | 1998-03-09 | 1999-09-24 | Sanyo Electric Co Ltd | オートフォーカスカメラ |
US6974938B1 (en) | 2000-03-08 | 2005-12-13 | Tibotec Bvba | Microscope having a stable autofocusing apparatus |
DE10108827C2 (de) * | 2001-02-23 | 2003-01-30 | Infineon Technologies Ag | Messverfahren zur Bestimmung der Breite einer Struktur auf einer Maske |
US6533721B1 (en) * | 2001-07-27 | 2003-03-18 | Stryker Corporation | Endoscopic camera system with automatic non-mechanical focus |
JP2003303564A (ja) * | 2002-04-10 | 2003-10-24 | Seiko Instruments Inc | 走査型荷電粒子顕微鏡における自動焦点システム |
JP2006106378A (ja) * | 2004-10-06 | 2006-04-20 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
CN112697789B (zh) * | 2020-12-09 | 2023-01-13 | 山东志盈医学科技有限公司 | 数字切片扫描仪的图像聚焦方法及装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2222666B1 (de) * | 1973-03-19 | 1976-11-05 | Thomson Brandt | |
US4373817A (en) * | 1978-05-22 | 1983-02-15 | Nanometrics Incorporated | Computerized micromeasuring system and method therefor |
DE2910875C2 (de) * | 1979-03-20 | 1985-11-14 | Kernforschungszentrum Karlsruhe Gmbh, 7500 Karlsruhe | Verfahren zur automatischen Scharfeinstellung |
-
1983
- 1983-10-28 US US06/546,437 patent/US4600832A/en not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-10-26 DE DE3439304A patent/DE3439304C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1984-10-27 JP JP59225157A patent/JPS60115906A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012025220A1 (de) | 2010-08-23 | 2012-03-01 | Euroimmun Medizinische Labordiagnostika Ag | Verfahren und vorrichtung zur automatischen fokussierung von substraten bei der fluoreszenzmikroskopie |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0364044B2 (de) | 1991-10-03 |
US4600832A (en) | 1986-07-15 |
JPS60115906A (ja) | 1985-06-22 |
DE3439304A1 (de) | 1985-05-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3439304C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Feinfokussierung eines optischen Abbildungssystems | |
EP1618426B1 (de) | Verfahren und anordnung zur bestimmung der fokusposition bei der abbildung einer probe | |
DE2312978C3 (de) | Vorrichtung zur automatischen Fokussierung von bilderzeugenden optischen Systemen | |
DE102005002537B4 (de) | Vorrichtung für einen Strahl geladener Teilchen zum Messen eines Abbildungsvergrösserungsfehlers | |
DE2810025C2 (de) | ||
DE4106987C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Einstellen des Spaltabstands zwischen zwei Objekten auf eine vorbestimmte Größe | |
DE69737862T2 (de) | Automatische justierung eines energiefiltrierenden transmissionselektronenmikroskops | |
DE2910875C2 (de) | Verfahren zur automatischen Scharfeinstellung | |
DE112010002934T5 (de) | Mikroskop mit einem Strahl geladener Teilchen und Messverfahren dafür | |
DE10257766A1 (de) | Verfahren zur Einstellung einer gewünschten optischen Eigenschaft eines Projektionsobjektivs sowie mikrolithografische Projektionsbelichtungsanlage | |
DE3707487A1 (de) | Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierung | |
EP0144732B1 (de) | Einrichtung zum automatischen Fokussieren von optischen Geräten | |
WO2005031251A1 (de) | Optisches verfahren und vorrichtung zum bestimmen der struktur einer oberfläche | |
EP0013325A2 (de) | Optische Messeinrichtung zur Bestimmung des Abstands zwischen kantenförmigen Strukturen auf Oberflächen | |
DE4125537C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Scharfeinstellen eines Abbildungssystems | |
DE4105001A1 (de) | Verfahren und einrichtung zur scharfeinstellung eines optischen abbildungs-systems | |
DE2458868B2 (de) | Anordnung zur Messung des Fokussierungszustandes in optischen Systemen, insbesondere in photographischen Kameras | |
DE2016753C3 (de) | Vorrichtung zur Justierung des Objektfeldes in Elektronenmikroskopen | |
DE10033483C1 (de) | Verfahren zur Autofokussierung für Fernrohre von Vermessungsgeräten | |
EP3961287A2 (de) | Autofokussystem für eine optische mess- oder mikroskopievorrichtung, verfahren zur fokuseinstellung bei einer optischen mess- oder mikroskopievorrichtung sowie optische mess- oder mikroskopievorrichtung | |
CH695958A5 (de) | Verfahren zur Einstellung einer Lage eines Messgegenstandes bei der Schichtdickenmessung mit Röntgenfluoreszenz. | |
DE10018312C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Fokussieren eines Bildes | |
DE3527853C2 (de) | ||
CH672376A5 (de) | ||
EP4227636B1 (de) | Bestimmung von tiefenwerten eines oberflächenbereichs eines werkstücks |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: DIEHL, H., DIPL.-PHYS. DR.RER.NAT., PAT.-ANW., 800 |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G02B 7/36 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |