DE2810025C2 - - Google Patents
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- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (entsprechend
dem Oberbegriff des Anspruches 1) zur Messung
der Neigung an unterschiedlichen Stellen der
Oberfläche einer optischen Linse.
Bei der Herstellung des Phosphorbildschirmes einer
Farbfernseh-Bildröhre wird ein flüssiger Brei roten
Phosphors auf die Innenseite der Frontplatte
der Bildröhre aufgebracht. Eine Glaslinse, die die
Elektronenlinse der Bildröhre simuliert, wird vor
der inneren Frontplatte der Bildröhre angeordnet.
Sodann wird Licht durch die Linse und ein Lochgitter
auf die Bereiche der Phosphorschicht projiziert,
an denen roter Phosphor sein soll. Das
Licht läßt an den Auftreffpunkten den Brei roten
Phosphors erhärten; im übrigen wird der rote Phosphorbrei
dann abgewaschen. Dieser Vorgang wird sodann
für die Bereiche grünen Phosphors und blauen
Phosphors wiederholt.
Die geschilderte Arbeitsweise ist schematisch in
Fig. 1 veranschaulicht. Auf die Innenseite der
Frontplatte 1 der Bildröhre ist Phosphorbrei 2
aufgebracht. Das Lochgitter ist mit 3, die Lichtquelle
mit 4 und die Linse mit 5 bezeichnet. Die
Oberfläche 5 a der Linse 5 ist gekrümmt. Es ist nun
sehr wichtig, daß die Krümmung der Oberfläche 5 a
der Linse auf der dem Lochgitter 3 zugewandten
Seite innerhalb enger Toleranzgrenzen liegt. Die
Neigung der Oberfläche der Linse muß daher an den
einzelnen Stellen genau gemessen und erforderlichenfalls
korrigiert werden, um einen Phosphorbildschirm
hoher Qualität zu erzeugen.
Es sind bereits verschiedene Einrichtungen bekannt,
um die Oberflächenkontur eines Testobjektes,
insbesondere die Neigung einer gekrümmten
Linsenoberfläche, an verschiedenen ausgewählten
Stellen direkt oder indirekt zu messen. Eine Methode
besteht darin, die Dicke der Linse mechanisch
unter Verwendung einer Meßlehre zu ermitteln. Die
Umwandlung des gemessenen Dickenwertes in einen
Neigungswert erweist sich jedoch als schwierig.
Die Messung ist ferner nicht berührungsfrei, sondern
bringt die Gefahr einer Beschädigung der Linsenoberfläche
mit sich.
Es ist weiterhin ein optisches Winkelmeßverfahren
unter Verwendung eines Autokollimators bekannt.
Es erweist sich hierbei jedoch als schwierig, in
dem kleinen Betrachtungsfeld die sehr geringe
Neigung mit der notwendigen Genauigkeit zu messen.
Zur Qualitätsprüfung von optischen Linsen ist ferner
eine Projektionsmethode unter Verwendung eines
Laserstrahles bekannt. Dabei wird die Linse mit
Ausnahme bestimmter, zu untersuchender Punkte mit
einer Maske bedeckt, durch die der Laserstrahl
hindurchtritt, um Abbildungen in einer fotografischen
Schicht zu erzeugen. Nachteilig ist hierbei
die Notwendigkeit der Verwendung einer Maske. Durch
die Maske ist es ferner nicht möglich, beliebige
Stellen der Linsenoberfläche zu prüfen.
Durch die DE-OS 25 02 941 ist weiterhin ein (im
wesentlichen dem Oberbegriff des Anspruches 1 entsprechendes)
Gerät zum Messen der Oberflächenkontur
eines Testobjektes bekannt, bei dem die Nullposition
der Detektoranordnung ausgenutzt wird.
Der Detektor wird hierbei relativ zu der zu messenden
Oberfläche bewegt, um den auf der Oberfläche
des Detektors fokussierten Fleck der durch das
Testobjekt reflektierten Strahlung in die Nullposition
zu bewegen.
Gegenstand der FR-PS 21 06 824 ist ferner eine
Abstandsmeßvorrichtung mit zwei Fotodetektoren,
die eine Amplitudenmodulation des Lichtstrahles
erfassen und deren Ausgänge mit einem Differentialverstärker
verbunden sind. Die Eingänge eines
Synchrondetektors sind dabei einerseits mit dem
Ausgang des Differentialverstärkers und mit einem
Bezugssignalgenerator verbunden.
Gegenstand der US-PS 38 57 637 ist schließlich
eine Vorrichtung zur Bestimmung des Profiles einer
Glasoberfläche, die mit konstanter Geschwindigkeit
relativ zu einer Lichtquelle und einem Fotosensor
bewegt wird. Die vom Sensor erzeugten Signale erzeugen
ein Oberflächenprofil, das die konkave oder
konvexe Krümmung der Oberfläche sowie den Krümmungsradius
erkennen läßt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine
Vorrichtung entsprechend dem Oberbegriff des Anspruches
1 so auszubilden, daß eine besonders genaue
und kontinuierliche Messung der Neigung an
unterschiedlichen Stellen der Oberfläche einer
optischen Linse durchgeführt werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch das kennzeichnende
Merkmal des Anspruches 1 gelöst.
Zweckmäßige Ausgestaltungen der Erfindung sind
Gegenstand der Unteransprüche.
Bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung wird der
Differentialfotosensor so bewegt, daß seine Mitte
mit der Mitte des Auftreffpunktes des zum Differentialfotosensor
reflektierten Lichtstrahles übereinstimmt.
Der Sensor wird also auf das Maximum
des Lichtstrahles eingestellt. Die zur Herstellung
dieser Übereinstimmung erforderliche Bewegung des
Differentialfotosensors steht mit der zu messenden
Neigung der Linsenoberfläche an der gerade
betrachteten Stelle und mit der Länge des Lichtweges
in einer festen Beziehung. Mißt man daher
die Bewegung des Differentialfotosensors, so kann
man hieraus die Neigung der Linsenoberfläche an
der gerade betrachteten Stelle ermitteln. Bewegt
man ferner mittels der Antriebssteuerung die Tischplatte,
die die Linse trägt, so fällt der Lichtstrahl
auf unterschiedliche Punkte der Linsenoberfläche,
was eine Messung der Neigung an unterschiedlichen
Stellen der Linsenoberfläche ermöglicht.
Die erfindungsgemäße Meßvorrichtung zeichnet
sich dabei durch besonders hohe Genauigkeit
aus.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Fig. 1
bis 3 beispielsweise erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine schematische Darstellung der Herstellung
der Phosphorbeschichtung einer
Farbfernseh-Bildröhre,
Fig. 2 eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen
Vorrichtung zur Messung der Oberflächenneigung
an verschiedenen Stellen, und
Fig. 3 einen Differentialfotosensor, der in der Vorrichtung
der Erfindung verwendet wird.
Wie Fig. 2 schematisch zeigt, ist ein Laserstrahlgenerator
11, zum Beispiel ein He-Ne-Gaslaser, an einer festen Stelle
vorgesehen. Die zu prüfende optische Linse 12 ist auf einem Tisch
13 in einer bestimmten Lage angeordnet, die in X- und Y-
Koordinaten ausgedrückt wird. Der Tisch 13 ist auf einer
Tischplatte 14 eines numerisch steuerbaren Tisches 15 angeordnet.
Die Bewegung der Tischplatte 14 erfolgt unter der Steuerung
des Tisches 15 derart, daß die Linse 12 an einer
bestimmten, durch X-Y-Koordinaten ausgedrückten Stelle
angeordnet wird. Die Linse kann somit in einer Ebene in
X- und Y-Richtung entsprechend Steuersignalen einer Antriebssteuerung
16 bewegt werden. Der Laserstrahlgenerator 11 erzeugt
einen Strahl 17, der eine Linse 18 durchläuft. Danach
wird der Strahl von einem Spiegel 19 in Richtung des
Tisches 13 reflektiert. Der reflektierte Lichtstrahl durchläuft
dann einen Halbspiegel 20, bis er auf die
Oberfläche 12 a der Linse 12 trifft. Der Strahl wird
dann von der Linse reflektiert, wobei er unter einem Winkel
gegenüber dem einfallenden Lichtstrahl 19 a
abgelenkt wird, bis er auf den Halbspiegel 20 trifft. Der
reflektierte Laserstrahl der Linse 12 wird von dem Halbspiegel
20 so reflektiert, daß er auf
einen Spiegel 23 trifft. An dieser Stelle wird der Lichtstrahl
wie bei 17 a nach unten abgelenkt und bildet einen
Punkt auf einer Ebene des X-Y-Schreibers 21. Ein Differentialfotosensor
22 ist auf einem beweglichen ebenen Tisch 22′ des
X-Y-Schreibers 21 angeordnet. Der Tisch 22′ ist so ausgebildet,
daß er durch einen Antriebsregler 24 in der X- oder der Y-Richtung
bewegt wird, bis die
Mitte des Differentialfotosensors 22 mit der Mitte des durch den
reflektierten Laserstrahl gebildeten Punktes übereinstimmt.
Der Differentialfotosensor 22 ist vorgesehen, um die Auslenkung
des Strahlpunktes gegenüber der sogenannten Schreibstelle
des X-Y-Schreibers zu ermitteln, d. h. derjenigen Stelle,
an der der Lichtpunkt sein sollte, wenn die Neigung
an der Stelle, die untersucht wird, die gewünschte
Neigung ist. Der Differentialfotosensor 22 wird in eine Stellung
bewegt, in der die Mitte des Sensors mit der Mitte des
Lichtpunktes
übereinstimmt. Diese Bewegung
wird durch Rückkoppelung der Signale hervorgerufen,
die die Auslenkung des Lichtpunktes gegenüber dem Sensor
über eine Servoschaltung angeben, die in dem Antriebsregler
24 für den X-Y-Schreiber 21 enthalten ist. Der
Differentialfotosensor 22 besteht
aus vier Photodioden D₁ bis D₄ (Fig. 3).
Dabei wird ein Differenzsignal zwischen den Photodioden
D₁ und D₂ bei einer Auslenkung des Lichtpunktes
in X-Richtung in den X-Eingang des X-Y-Schreibers rückgekoppelt,
der die Bewegung des Sensors in der X-Richtung
steuert. In ähnlicher Weise wird ein Differenzsignal
zwischen den Photodioden D₃ und D₄ zu dem Y-Eingang
des X-Y-Schreibers rückgekoppelt, der die Bewegung des
Sensors in der Y-Richtung steuert. Wenn daher die
Ausgangslagebeziehung zwischen dem Sensor 22 und
dem Lichtpunkt 25 (Fig. 3) bei Auftreffen des Laserstrahles
auf dem Sensor 22 durch durchgehende Linien in Fig. 3
dargestellt wird, wird der Sensor 22 durch Verstellen
des Tisches 22′, der den Sensor trägt, in die durch
gestrichelte Linien in Fig. 3 gezeigte Lage
bewegt, in der das Differenzsignal in der X-Richtung,
das von den Photodioden D₁ und D₂ erhalten wird, und
das Differenzsignal in der Y-Richtung, daß von den Photodioden
D₃ und D₄ erhalten wird, jeweils zu Null wird. Dies bedeutet, daß
der Sensor 22 in eine Lage bewegt wird, in der die
Mitte O₁ des Sensors und die Mitte O₂ des Lichtstrahlauftreffpunktes
miteinander übereinstimmen.
Bei dieser Anordnung ist die Verstellung Δ X des Sensors zwischen
dem Strahlpunkt der Meßstelle auf
der Linse 12 und dem Strahlpunkt
der Bezugsstelle auf der Linse proportional der Neigung
der gekrümmten Fläche an der Meßstelle, solange der reflektierte
Strahl der Bezugsstelle senkrecht zur Ebene verläuft,
auf der sich der Sensor bewegt, d. h. der Ebene,
auf der die Verstellung Δ X gemessen wird. Diese Beziehung
wird wie folgt dargestellt:
|Δ X | = L tan 2 R ≃ 2 L R (R « 1)
wobei L die Länge des Lichtweges zwischen der Bezugsstelle
auf der Linse und dem Sensor ist, der dem
Strahlpunkt der Bezugsstelle entspricht. R ist die Neigung
der Linsenoberfläche an der Meßstelle.
Die Beziehung ist leicht verständlich,
wenn man sich eine Spiegelabbildung (durch den Spiegel 20) der Bezugsstelle
und der Stelle vorstellt, die der Messung
unterworfen wird, ferner Spiegelabbildungen (durch den Spiegel 23) der
Lichtpunkte von den Stellen aus, die der Messung unterworfen
sind, und von den Bezugsstellen.
Die Abbildung der Bezugsstelle und der Stelle, die der
Messung unterworfen ist, ist im wesentlichen identisch,
da der Laserstrahl fest ist und die Meßstelle bei der Messung zur Position
der Bezugsstelle bewegt
wird. Es ist zwar ein sehr geringer Höhenunterschied
zwischen der Bezugsstelle und der
Meßstelle der Linse vorhanden, jedoch
ist diese Abweichung vernachlässigbar klein. Drei Stellen,
die durch die obigen Abbildungen der Stelle auf
der Linse und die beiden Strahlpunkte gebildet werden,
ergeben ein rechtwinkliges Dreieck mit einem Winkel an
der Spitze von 2 R und einer Länge L und Δ X der beiden
Seiten an dem rechten Winkel.
Wenn sich der Sensor auf einer Ebene bewegt, die
um einen Winkel γ gegenüber der Ebene senkrecht zu dem von der Bezugsstelle
reflektierten Laserstrahl geneigt
ist, wird die Verschiebung Δ X außerdem mit einem
Korrekturkoeffizienten multipliziert, der eine Funktion
von γ und R ist. Die Lage des Lichtpunktes an der Meßstelle
wird durch die
Eingangsspannung des X-Y-Schreibers angegeben, wenn der
Lichtpunkt mit der Mitte des Sensors übereinstimmt; die Lage
wird von einem Monitor 26 angezeigt und aufgezeichnet.
Aufgrund der vorher ermittelten Beziehung zwischen dem
Neigungswert und der Eingangsspannung, die der Lage des
Lichtpunktes entspricht, wird die Neigung der Linsenoberfläche
an der Meßstelle
bestimmt.
Ein Signal, das die Beendigung der Bestimmung der Lage
des Strahlpunktes auf dem X-Y-Schreiber anzeigt, bewirkt
eine Eingangsspannung im X-Y-Schreiber, die die
Koordinaten (d. h. die Verschiebung) des Sensors
angibt; ein Signal, das die Beendigung
der Ausgabe der Eingangsspannung für den X-Y-Schreiber
anzeigt, ist ein Startsignal für die Lagebewegung
des Tisches 15, um die nächste
Meßstelle der Linse 12 einzustellen.
Bei dieser Anordnung wird die zu untersuchende
Linse 12 zunächst durch den Tisch 15 in eine bestimmte Lage bezüglich
des einfallenden Laserstrahles gebracht;
der Laserstrahl 17 fällt dann auf eine bestimmte
erste Stelle auf der gekrümmten Fläche 12 a der Linse
12, wird reflektiert und erzeugt einen Strahlpunkt auf dem
Sensor 22, der auf der Oberfläche
des X-Y-Schreibers 21 vorgesehen ist. Der Sensor
22 folgt dem Strahlpunkt, bis die Mitte des Sensors
mit der Mitte des Auftreffpunktes
übereinstimmt. Die Lage des Strahlpunktes wird dann als
Eingangssignal für den X-Y-Schreiber 21 abgelesen. Auf
diese Weise wird die Neigung der ersten Stelle auf der
Oberfläche der Linse 12 gemessen.
Nachdem die Messung dieser ersten Stelle beendet ist, verschiebt
der Tisch 15 automatisch die zu
messende Linse 12, so daß der Laserstrahl
17 auf eine zweite Stelle auf der Oberfläche der
Linse trifft. In der beschriebenen Weise wird dann die Neigung der
zweiten Stelle gemessen. Durch Fortsetzung des obigen
Vorganges, d. h. Abtastung der Oberfläche der Linse
durch den Laserstrahl, wird die Neigung der einzelnen
Stellen auf der gekrümmten Fläche 12 a kontinuierlich
gemessen.
Auf diese Weise ist es
möglich, die Neigung der gekrümmten
Fläche ohne Beschädigung zu messen, und es ist
auch möglich, die Neigung beider Seiten der Linse unabhängig
zu messen. Außerdem kann durch Bestimmung der
Lagebeziehung zwischen der Linse und dem Laserstrahl
durch Verwendung einer numerischen Steuerung eine beliebige
Stelle auf der zu messenden Oberfläche leicht und
genau ausgewählt werden.
Von Vorteil ist auch, daß ein Strahlpunkt ausreichender
Lichtintensität ohne Verwendung eines Laserstrahlgenerators
mit großem Ausgangssignal erhalten werden kann.
Es ist möglich, eine Messung mit hoher Genauigkeit durchzuführen und
eine Neigung von nur etwa 0,1 Milliradienten zu messen.
Dies bedeutet, daß eine Verschiebung des Phosphormusters
der Linse von weniger als 1 µ
ermittelt wird.
Es ist damit möglich, eine hohe Qualitätssteuerung zu erreichen und
dadurch eine geeignete Linse auszuwählen.
Unter Berücksichtigung der Meßergebnisse kann
man ferner einen Phosphorbildschirm hoher Genauigkeit
herstellen.
Die Vorrichtung zur Messung der Neigung der gekrümmten
Oberfläche kann zur Messung der Korrekturlinse benutzt werden,
die bei der Herstellung des Phosphorbildschirmes
einer Farbkathodenstrahlröhre verwendet wird;
es ist jedoch offensichtlich, daß diese Vorrichtung auch
für die Messung der Neigung verschiedener Stellen der gekrümmten
Oberfläche anderer Gegenstände anwendbar ist,
von denen Licht reflektiert werden kann.
Bei dem angegebenen Beispiel wurde ein Laserstrahl verwendet;
jedoch können andere Arten von Lichtquellen verwendet
werden, wenn sie in der Lage sind, einen parallelen
Lichtstrahl mit geringem Durchmesser und
ausreichender Intensität zu projizieren. Ein Beispiel
einer solchen anderen Lichtquelle ist die Kombination von
Quecksilberlicht und einer Schlitz- und Linseneinrichtung.
Claims (4)
1. Vorrichtung zur Messung der Neigung an unterschiedlichen
Stellen der Oberfläche (12 a) einer
optischen Linse (12), enthaltend
- a) einen numerisch gesteuerten Tisch (15) mit einer die Linse (12) tragenden, in einer Ebene drehbaren Tischplatte (14),
- b) eine Antriebssteuerung (16) für die Bewegung der drehbaren Tischplatte (14) an x- und y-Richtung
- c) einen Differentialfotosensor (22),
- d) einen Schreiber (21) mit einem den Differentialfotosensor (22) tragenden, in x- und y-Richtung bewegbaren Tisch (22′) sowie mit Einrichtungen zur Aufzeichnung der Position dieses Tisches (22′) in einem x-y-Koordinatensystem,
- e) Einrichtungen (11, 18, 19) zur Erzeugung eines auf den zu prüfenden Punkt der Linsenoberfläche (12 a) gerichteten, parallelgebündelten Lichtstrahles,
- f) einen im Weg des Lichtstrahles angeordneten Halbspiegel (20),
- g) einen weiteren Spiegel (23), der den von der Linsenoberfläche (12 a) reflektierten und durch den Halbspiegel (20) abgelenkten Lichtstrahl zum Differentialfotosensor (22) reflektiert,
gekennzeichnet durch folgendes Merkmal:
- h) es ist ein Antriebsregler (24) vorgesehen, der die Bewegung des Tisches (22′) derart steuert, daß die Mitte (O₁) des Differentialfotosensors (22) mit der Mitte (O₂) des Auftreffpunktes des zum Differentialfotosensor (22) reflektierten Lichtstrahles übereinstimmt, wobei die zur Herstellung dieser Übereinstimmung erforderliche Bewegung des Differentialfotosensors (22) gemessen und hieraus die Neigung (R ) der Linsenoberfläche an der gerade betrachteten Stelle ermittelt wird.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Differentialfotosensor (22)
aus vier Fotodioden (D₁ bis D₄) besteht, die
paarweise einander gegenüberliegen und die die
Auslenkung der Mitte (O₂) des Strahl-Auftreffpunktes
in der x- und y-Richtung erfassen.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ermittlung der Neigung (R )
der Linsenoberfläche (12 a) an der gerade betrachteten
Stelle der optischen Linse (12) nach
der Beziehung erfolgt:
wobei|Δ x | die zur Herstellung der Übereinstimmung
von Mitte des Differentialfotosensors
und Mitte des Auftreffpunktes
erforderliche Bewegung des Differentialfotosensors
undL die Länge des Lichtweges von der Bezugsstelle
auf der Linsenoberfläche bis zur Ebene des
Differentialfotosensors ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2513777A JPS53110553A (en) | 1977-03-08 | 1977-03-08 | Measurement apparatus of gradients of curved faces |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2810025A1 DE2810025A1 (de) | 1978-09-21 |
DE2810025C2 true DE2810025C2 (de) | 1989-02-09 |
Family
ID=12157572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782810025 Granted DE2810025A1 (de) | 1977-03-08 | 1978-03-08 | Vorrichtung zur messung der neigung einer flaeche |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4289400A (de) |
JP (1) | JPS53110553A (de) |
AU (1) | AU513414B2 (de) |
CA (1) | CA1130554A (de) |
DE (1) | DE2810025A1 (de) |
FR (1) | FR2383428A1 (de) |
GB (1) | GB1588085A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19651737A1 (de) * | 1996-11-26 | 1998-07-02 | Samsung Electronics Co Ltd | Vorrichtung zum Messen des Neigungsgrads einer für einen optischen Aufnehmer vorgesehenen Objektivlinse |
Families Citing this family (52)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5654307A (en) * | 1979-10-09 | 1981-05-14 | Inoue Japax Res Inc | Measuring instrument for work precision |
US4390277A (en) * | 1980-07-31 | 1983-06-28 | Mcdonnell Douglas Corporation | Flat sheet scatterometer |
JPS58202751A (ja) * | 1982-05-20 | 1983-11-26 | Agency Of Ind Science & Technol | 大口径金属鏡の超精密切削加工法 |
US5293211A (en) * | 1983-10-06 | 1994-03-08 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Microreflectometer system |
JPS60218016A (ja) * | 1984-04-13 | 1985-10-31 | Kajima Corp | 掘削面形状の計測装置 |
JPH064418B2 (ja) * | 1985-10-02 | 1994-01-19 | 株式会社豊田自動織機製作所 | 低温環境で使用される車両用のパワーステアリング装置 |
JPS62138585U (de) * | 1986-02-21 | 1987-09-01 | ||
JPS62161522U (de) * | 1986-03-31 | 1987-10-14 | ||
US4837449A (en) * | 1988-05-16 | 1989-06-06 | Maltby Jr Robert E | Inspecting for matching of paired sheets of transparent material |
JPH01295109A (ja) * | 1988-05-23 | 1989-11-28 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式変位測定装置 |
WO1992008104A1 (en) * | 1990-10-24 | 1992-05-14 | Therma-Wave, Inc. | Apparatus for generating surface topographical images |
GB9205655D0 (en) * | 1992-03-14 | 1992-04-29 | Roke Manor Research | Improvements in or relating to surface curvature measurement |
EP0561178B1 (de) * | 1992-03-14 | 1997-10-29 | Roke Manor Research Limited | Krümmungsmessung einer Oberfläche |
JPH1130508A (ja) * | 1997-07-11 | 1999-02-02 | Bridgestone Sports Co Ltd | ゴルフボールの表面形状測定方法及び装置 |
US6075604A (en) * | 1998-11-10 | 2000-06-13 | International Business Machines Corporation | Apparatus for measuring curvature of magnetic read/write head sliders |
US7433027B2 (en) * | 2004-12-22 | 2008-10-07 | Novartis Ag | Apparatus and method for detecting lens thickness |
US9057595B2 (en) | 2011-11-30 | 2015-06-16 | Novartis Ag | Combination of mirror images to improve signal quality for contact lenses |
US9542016B2 (en) | 2012-09-13 | 2017-01-10 | Apple Inc. | Optical sensing mechanisms for input devices |
US9086738B2 (en) * | 2013-03-12 | 2015-07-21 | Apple Inc. | Multi-surface optical tracking system |
US9753436B2 (en) | 2013-06-11 | 2017-09-05 | Apple Inc. | Rotary input mechanism for an electronic device |
KR101843940B1 (ko) | 2013-08-09 | 2018-05-14 | 애플 인크. | 전자 디바이스용 촉각 스위치 |
JP6284372B2 (ja) * | 2014-01-21 | 2018-02-28 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡および超解像画像生成方法 |
US10048802B2 (en) | 2014-02-12 | 2018-08-14 | Apple Inc. | Rejection of false turns of rotary inputs for electronic devices |
CN105093802A (zh) * | 2014-05-06 | 2015-11-25 | 宁波舜宇光电信息有限公司 | 一种转光三维成像装置及其投射装置和方法 |
US9797752B1 (en) | 2014-07-16 | 2017-10-24 | Apple Inc. | Optical encoder with axially aligned sensor |
US10190891B1 (en) | 2014-07-16 | 2019-01-29 | Apple Inc. | Optical encoder for detecting rotational and axial movement |
US9797753B1 (en) | 2014-08-27 | 2017-10-24 | Apple Inc. | Spatial phase estimation for optical encoders |
US10066970B2 (en) | 2014-08-27 | 2018-09-04 | Apple Inc. | Dynamic range control for optical encoders |
KR102414569B1 (ko) | 2014-09-02 | 2022-06-29 | 애플 인크. | 웨어러블 전자 디바이스 |
JP6515185B2 (ja) | 2015-03-05 | 2019-05-15 | アップル インコーポレイテッドApple Inc. | 方向依存光学特性を有する光学エンコーダを有する時計、手首装着型電子デバイス及びウェラブル電子デバイス |
JP6479997B2 (ja) | 2015-03-08 | 2019-03-06 | アップル インコーポレイテッドApple Inc. | 回転可能かつ並進可能な入力機構のための圧縮可能な封止 |
US9952682B2 (en) | 2015-04-15 | 2018-04-24 | Apple Inc. | Depressible keys with decoupled electrical and mechanical functionality |
US10018966B2 (en) | 2015-04-24 | 2018-07-10 | Apple Inc. | Cover member for an input mechanism of an electronic device |
US9891651B2 (en) | 2016-02-27 | 2018-02-13 | Apple Inc. | Rotatable input mechanism having adjustable output |
US10551798B1 (en) | 2016-05-17 | 2020-02-04 | Apple Inc. | Rotatable crown for an electronic device |
US10061399B2 (en) | 2016-07-15 | 2018-08-28 | Apple Inc. | Capacitive gap sensor ring for an input device |
US10019097B2 (en) | 2016-07-25 | 2018-07-10 | Apple Inc. | Force-detecting input structure |
US10664074B2 (en) | 2017-06-19 | 2020-05-26 | Apple Inc. | Contact-sensitive crown for an electronic watch |
US10962935B1 (en) | 2017-07-18 | 2021-03-30 | Apple Inc. | Tri-axis force sensor |
US11360440B2 (en) | 2018-06-25 | 2022-06-14 | Apple Inc. | Crown for an electronic watch |
US11561515B2 (en) | 2018-08-02 | 2023-01-24 | Apple Inc. | Crown for an electronic watch |
US11181863B2 (en) | 2018-08-24 | 2021-11-23 | Apple Inc. | Conductive cap for watch crown |
CN209560398U (zh) | 2018-08-24 | 2019-10-29 | 苹果公司 | 电子表 |
CN209625187U (zh) | 2018-08-30 | 2019-11-12 | 苹果公司 | 电子手表和电子设备 |
US11194298B2 (en) | 2018-08-30 | 2021-12-07 | Apple Inc. | Crown assembly for an electronic watch |
US11194299B1 (en) | 2019-02-12 | 2021-12-07 | Apple Inc. | Variable frictional feedback device for a digital crown of an electronic watch |
US11550268B2 (en) | 2020-06-02 | 2023-01-10 | Apple Inc. | Switch module for electronic crown assembly |
US11269376B2 (en) | 2020-06-11 | 2022-03-08 | Apple Inc. | Electronic device |
CN112325808B (zh) * | 2020-11-03 | 2022-05-13 | 北京石油化工学院 | 一种基于多psd的平面度实时校准补偿测量方法 |
US12092996B2 (en) | 2021-07-16 | 2024-09-17 | Apple Inc. | Laser-based rotation sensor for a crown of an electronic watch |
CN113532276B (zh) * | 2021-09-13 | 2021-12-17 | 南通泰胜蓝岛海洋工程有限公司 | 一种激光曲面测量仪及其测量方法 |
CN117367309B (zh) * | 2023-12-08 | 2024-02-13 | 中国飞机强度研究所 | 一种大展弦机翼薄壁管梁突风弯曲变形测量系统及方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3614238A (en) * | 1968-01-05 | 1971-10-19 | Itek Corp | Bright line reticle apparatus and optical alignment methods |
FR2106824A5 (de) * | 1970-09-25 | 1972-05-05 | Cilas | |
DE2111700A1 (de) * | 1971-03-11 | 1972-09-14 | Spindler & Hoyer Kg | Vorrichtung zum Messen planparalleler durchsichtiger Platten,Prismen od.dgl.auf Winkelfehler |
GB1378515A (en) * | 1971-03-15 | 1974-12-27 | Sira Institute | Electrooptical lens position detection apparatus |
US3857637A (en) * | 1973-01-10 | 1974-12-31 | Ppg Industries Inc | Surface distortion analyzer |
US3909131A (en) * | 1974-02-12 | 1975-09-30 | United Technologies Corp | Surface gauging by remote image tracking |
JPS51111076A (en) * | 1975-03-26 | 1976-10-01 | Hitachi Ltd | Exposure device |
US3986774A (en) * | 1975-05-08 | 1976-10-19 | United Technologies Corporation | Gauging surfaces by remotely tracking multiple images |
-
1977
- 1977-03-08 JP JP2513777A patent/JPS53110553A/ja active Granted
-
1978
- 1978-02-28 GB GB7908/78A patent/GB1588085A/en not_active Expired
- 1978-03-03 AU AU33817/78A patent/AU513414B2/en not_active Expired
- 1978-03-06 CA CA298,259A patent/CA1130554A/en not_active Expired
- 1978-03-08 DE DE19782810025 patent/DE2810025A1/de active Granted
- 1978-03-08 FR FR7806709A patent/FR2383428A1/fr active Granted
-
1980
- 1980-02-07 US US06/119,354 patent/US4289400A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19651737A1 (de) * | 1996-11-26 | 1998-07-02 | Samsung Electronics Co Ltd | Vorrichtung zum Messen des Neigungsgrads einer für einen optischen Aufnehmer vorgesehenen Objektivlinse |
DE19651737C2 (de) * | 1996-11-26 | 1999-02-18 | Samsung Electronics Co Ltd | Vorrichtung zum Messen des Neigungsgrads einer Linse |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2383428A1 (fr) | 1978-10-06 |
FR2383428B1 (de) | 1982-06-04 |
GB1588085A (en) | 1981-04-15 |
US4289400A (en) | 1981-09-15 |
CA1130554A (en) | 1982-08-31 |
JPS6127682B2 (de) | 1986-06-26 |
AU513414B2 (en) | 1980-11-27 |
DE2810025A1 (de) | 1978-09-21 |
JPS53110553A (en) | 1978-09-27 |
AU3381778A (en) | 1979-09-06 |
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