DE3405568A1 - Vorrichtung zur kontaktierung von kontakteinheiten zur automatischen pruefung von flachbaugruppen - Google Patents

Vorrichtung zur kontaktierung von kontakteinheiten zur automatischen pruefung von flachbaugruppen

Info

Publication number
DE3405568A1
DE3405568A1 DE19843405568 DE3405568A DE3405568A1 DE 3405568 A1 DE3405568 A1 DE 3405568A1 DE 19843405568 DE19843405568 DE 19843405568 DE 3405568 A DE3405568 A DE 3405568A DE 3405568 A1 DE3405568 A1 DE 3405568A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contact
test
flat
printed
circuit boards
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19843405568
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE3405568C2 (https=
Inventor
Klaus-Dieter 1000 Berlin Müller
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens AG
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG, Siemens Corp filed Critical Siemens AG
Priority to DE19843405568 priority Critical patent/DE3405568A1/de
Publication of DE3405568A1 publication Critical patent/DE3405568A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3405568C2 publication Critical patent/DE3405568C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/082—Integration of non-optical monitoring devices, i.e. using non-optical inspection means, e.g. electrical means, mechanical means or X-rays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
DE19843405568 1984-02-14 1984-02-14 Vorrichtung zur kontaktierung von kontakteinheiten zur automatischen pruefung von flachbaugruppen Granted DE3405568A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19843405568 DE3405568A1 (de) 1984-02-14 1984-02-14 Vorrichtung zur kontaktierung von kontakteinheiten zur automatischen pruefung von flachbaugruppen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19843405568 DE3405568A1 (de) 1984-02-14 1984-02-14 Vorrichtung zur kontaktierung von kontakteinheiten zur automatischen pruefung von flachbaugruppen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3405568A1 true DE3405568A1 (de) 1985-08-22
DE3405568C2 DE3405568C2 (https=) 1989-02-09

Family

ID=6227916

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19843405568 Granted DE3405568A1 (de) 1984-02-14 1984-02-14 Vorrichtung zur kontaktierung von kontakteinheiten zur automatischen pruefung von flachbaugruppen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3405568A1 (https=)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3819884A1 (de) * 1988-06-10 1989-12-14 Kriwan Ind Elektronik Gmbh Geraet zum pruefen von elektronischen baugruppen
EP0479915A4 (en) * 1989-06-30 1993-09-22 Poqet Computer Corporation Portable low power computer
US7154257B2 (en) 2002-09-30 2006-12-26 Intel Corporation Universal automated circuit board tester
GB2414606B (en) * 2003-03-21 2007-04-04 Intel Corp Automated circuit board test actuator system
DE102014015147A1 (de) * 2014-10-13 2016-04-14 Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh Testkontaktor, Verwendung eines Testkontaktor und Verfahren zum Prüfen einer Leiterplatte

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3409828A (en) * 1964-10-30 1968-11-05 Phillips Petroleum Co Apparatus for testing electrical circuit boards

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3409828A (en) * 1964-10-30 1968-11-05 Phillips Petroleum Co Apparatus for testing electrical circuit boards

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3819884A1 (de) * 1988-06-10 1989-12-14 Kriwan Ind Elektronik Gmbh Geraet zum pruefen von elektronischen baugruppen
EP0479915A4 (en) * 1989-06-30 1993-09-22 Poqet Computer Corporation Portable low power computer
US7154257B2 (en) 2002-09-30 2006-12-26 Intel Corporation Universal automated circuit board tester
US7421365B2 (en) 2002-09-30 2008-09-02 Intel Corporation Automated circuit board test actuator system
US7523010B2 (en) 2002-09-30 2009-04-21 Intel Corporation Automated circuit board test actuator system
GB2414606B (en) * 2003-03-21 2007-04-04 Intel Corp Automated circuit board test actuator system
DE102014015147A1 (de) * 2014-10-13 2016-04-14 Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh Testkontaktor, Verwendung eines Testkontaktor und Verfahren zum Prüfen einer Leiterplatte
EP3009852A1 (de) * 2014-10-13 2016-04-20 Yamaichi Electronics Deutschland GmbH Testkontaktor, verwendung eines testkontaktors und verfahren zum prüfen einer leiterplatte
DE102014015147B4 (de) 2014-10-13 2018-04-26 Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh Testkontaktor, Verwendung eines Testkontaktors und Verfahren zum Prüfen einer Leiterplatte

Also Published As

Publication number Publication date
DE3405568C2 (https=) 1989-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3812654C2 (https=)
DE112004000480T5 (de) Automatisiertes Prüfaktuatorsystem für Schaltungsplatinen
DE2707900A1 (de) Universal-adaptiervorrichtung fuer geraete zur elektrischen pruefung unterschiedlicher gedruckter schaltungen
EP2015087A1 (de) Vorrichtung zum Testen von elektronischen Bauelementen, insbesondere IC's, mit innerhalb einer Drucktestkammer angeordnetem Abdichtboard
DE2628428B2 (de) Adapter zum Verbinden von Anschluß- und/oder Prüfpunkten einer Baugruppe mit einer MeBschaltung
EP1186898A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
EP0256368B1 (de) Prüfeinrichtung für beidseitige, zweistufige Kontaktierung bestückter Leiterplatten
DE3405568A1 (de) Vorrichtung zur kontaktierung von kontakteinheiten zur automatischen pruefung von flachbaugruppen
DE2905175C2 (de) Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten
DE2637878C3 (de) Anordnung zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer elektrischen Baugruppe
DE3148285C2 (de) Prüfadapter zum Anschließen von zu prüfenden Elektronik-Flachbaugruppen an ein Universal-Prüfgerät
DE2427118A1 (de) Adapter zum verbinden einer elektrischen baugruppe mit einer messchaltung
DE3839539A1 (de) Multikompatible halteeinrichtung fuer zu pruefende leiterplatten bzw. flachbaugruppen, und fuer kontaktstift-traegerplatten und niederhalteplatten zur verwendung in pruefgeraeten
DE3405566C2 (de) Verriegelungseinrichtung für eine Vorrichtung zur automatischen Prüfung von Flachbaugruppen
DE3040340A1 (de) Pruefaufnahme fuer plattenfoermige baugruppen
DE3045882A1 (de) Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe mit kontaktstiften sowie kontaktstift dafuer
DE3405567A1 (de) Einrichtung zur lagegenauen positionierung von flachbaugruppen auf pruefadaptern (pendelnde fuehrungsnadeln)
DE19716945C2 (de) Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen
EP3009852B1 (de) Testkontaktor, verwendung eines testkontaktors und verfahren zum prüfen einer leiterplatte
DE3248796C2 (de) Pneumatische Kontaktiereinrichtung zur automatischen Prüfung von Flachbaugruppen
DE19508213B4 (de) Fügeüberprüfung
DE2813906C2 (de) Vorrichtung zur Halterung und Kontaktierung von zu prüfenden Flachbaugruppen in Einschubtechnik
DE2748590A1 (de) Vorrichtung zur pruefung verschiedenartiger prueflinge mit hilfe eines verdrahtungs-pruefautomaten
DE4338135C2 (de) Adaptereinrichtung zum Anschluß von Kontaktpunkten eines Prüflings an eine Prüfeinrichtung
DE102004027675A1 (de) Leiterplatten-Prüfvorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee