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Vorrichtung zur Prüfung verschiedenartiger Prüflinge mit Hilfe
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eines Verdrahtungs-Prüfautomaten.
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Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Prüfung verschiedenartiger
Prüflinge mit Hilfe eines Verdrahtungs-Prüfautomaten unter Verwendung einer Nadelplatte,
deren gefedert gelagerte Kontaktnadeln einerseits mit dem Verdrahtungs-Prüfautomaten
und andererseits mit den Kontakten der Prüflinge leitend verbunden sind.
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zur rationellen Prüfung der Verdrahtung von komplizierteren elektronischen
Schaltungsanordnungen werden bekanntlich programmierbare Verdrahtungs-Prüfautomaten
verwendet, die nach vorgegebenem Programm die Verdrahtung automatisch überprüfen,
beispielsweise dahingehend, ob gewisse Schaltungspunkte des Prüflings leitend miteinander
verbunden sind oder nicht, ob an bestimmten Widerständen vorgegebene Spannungen
abfallen und ob weitere vorgegebene Betriebsbedingungen eingehalten werden. Je größer
die Anzahl der Prüfeingänge des Prüflings ist, desto zeitraubender ist es, diese
Prüfeingänge mit den Eingängen des Verdrahtungs-Automaten elektrisch zu verbinden.
Wenn beispielsweise an die 5000 Anschlüsse hergestellt werden müssen, ist es insbesondere
dann zeitraubend, wenn verschiedene Arten von Prüflingen zeitlich nacheinander geprüft
werden müssen. Zum Anschluß der Eingänge des Verdrahtungs-Prüfautomaten an die Prüfeingänge
des Prüflings kann bekanntlich eine Kontaktnadelplatte verwendet werden, die in
den Verbindungswegen zwischen dem Verdrahtungs-Prüfautomaten und dem Prüfling angeordnet
ist, deren Eingangskontakte an die Eingangskontakte des Verdrahtungs-Prüfautomaten
angeschlossen sind und deren Ausgangskontakte
über gefedert gelagerte
Kontaktnadeln mit den Prüfeingängen des Prüflings verbunden sind. Da die Prüfeingänge
verschiedenartiger Prüflinge im allgemeinen an verschiedenen Stellen angeordnet
sind und da sich auch die Anzahl der herzustellenden Kontakte im allgemeinen von
Fall zu Fall unterscheidet, sind spezielle Kontaktnadelplatten für die verschiedenen
Arten der Prüflinge erforderlich und es ist ein erheblicher Arbeitsaufwand nötig,
um insbesondere die Eingänge des Verdrahtungs-Automaten mit den entsprechenden Eingängen
der Kontaktnadelplatte zu verbinden.
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Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde eine Vorrichtung anzugeben,
mit Hilfe der Prüflinge und insbesondere verschiedenartige Prüflinge in jeweils
kurzer Zeit an einen Verdrahtungs-PrUfautomaten anschließbar sind.
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Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe wird dadurch gelöst, daß
für alle Arten der Prüflinge je spezielle Adapter vorgesehen sind, die nach Annäherung
an die Nadelplatte mit mindestens einigen ihrer Eingangskontakte die gefederte gelagerten
Kontaktnadeln berühren und daß die Ausgangskontakte der Adapter an die betreffenden
Prüflinge anschließbar sind.
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Die erfindungsgemäße Vorrichtung zeichnet sich dadurch aus, daß damit
Prüflinge insbesondere auch verschiedenartige Prüflinge in relativ kurzer Zeit an
die Eingänge des Verdrahtungs-Prüfautomaten angeschlossen werden können, so daß
dieser relativ aufwendige Prüfautomat gut ausgelastet wird. Dabei können die leitenden
Verbindungen der Eingänge des Verdrahtungs-Prüfautomaten mit den Eingangskontakten
des Adapters schnell hergestellt werden, weil für alle Arten von Prüflinge immer
die gleiche Nadelplatte, beispielsweise in Form einer Normschnittstellenschaltung
verwendbar ist. Die leitenden Verbindungen der Prüfeingänge des Prüflings mit den
Ausgangskontakten des Adapters können ebenfalls schneller als bisher hergestellt
werden, weil die Adapter speziell zum Anschluß an die jeweiligen Arten der Prüflinge
ausgebildet sind. Außerdem kann dieser Anschluß der Prüfeinginge an die Ausgangskontakte
des Adapters bereits lange vor dem eigentlichen Prüfzustand vorgenommen werden,
so daß die Arbeitsweise des Verdrahtungs-Prüfautomaten durch diese Vorarbeiten nicht
belastet wird.
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Um einen besonders schnellen elektrischen Anschluß des Adapters an
die Prüfeingänge zu erzielen ist es zweckmäßig, daß die Adapter und die Prüflinge
vor der Prüfung zu einer Baueinheit vereinigt sind und daß die Ausgangskontakte
der Adapter über Steckerverbindungen an die Prüflinge angeschlossen sind.
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Um einen besonders schnellen elektrischen Anschluß des Adapters an
den Verdrahtungs-Prüfautomaten zu erzielen, ist es zweckmäßig, daß die Baueinheit
auf einem Adapterwagen angeordnet ist, daß die Nadeln der Nadelplatte lotrecht übereinander
in einer Ebene angeordnet sind und daß die Eingangskontakte des Adapters lotrecht
übereinander ebenfalls derart in einer Ebene angeordnet sind, daß im Prüfzustand
die Nadeln die Eingangskontakte berühren.
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Um die Verbindungsglieder zwischen der Nadelplatte einerseits und
dem Adapter andererseits rationell auszubilden, ist es zweckmäßig, daß die Nadelplatte
mehrere Kontaktleisten trägt, in die Nadelhülsen eingebettet sind, daß in den Nadelhülsen
Stifte mit den federnd gelagerten Kontaktnadeln befestigt sind, und daß die Adapter
eingangsseitig weitere Kontaktleisten aufweisen, in die weitere Hülsen eingebettet
und derart angeordnet sind, daß im Prüfzustand die Nadeln der Stifte die weiteren
Hülsen berühren.
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Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der
Figuren 1 und 2 beschrieben.
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Es zeigen: Fig. 1 eine Anlage zur Prüfung verschiedenartiger Prüflinge
mit Hilfe eines Verdrahtungs-Prüfautomaten und Fig. 2 einige Details von Verbindungsgliedern
zwischen der Nadelplatte einerseits und dem Adapter andererseits.
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Fig. 1 zeigt den Verdrahtungs-Prüfautomaten VPR, der über gestrichelt
dargestellte Leitungen und über die Nadelplatte K und über den Adapter A an Kontakte
eines Prüflings PR anschließbar ist.
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Der Verdrahtungs-Prüfautcmat VPR ist programmierbar und prüft automatisch
die Verdrahtung des angeschlossenen Prüflings PR. Die Verwendung eines derartigen,
verhältnismäßig aufwendigen Verdrahtungs-Prüfautomaten ist insbesondere dann zweckmäßig,
wenn verhältnis-
mäßig viele Prüfeingänge zu überprüfen sind. Beispielsweise
kann es sich um rund 5000 Prüfeingänge handeln.
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Die Nadelplatte K wird bei vorliegendem Ausführungsbeispiel aus der
Schnittstellenschaltung SCH, aus den Kontaktleisten KL1, KL2, aus den Nadelhülsen
NH und aus den Nadeln NA gebildet. Zwecks einfacherer Darstellung sind nur zwei
Kontaktleisten und nur insgesamt zwölf Nadeln NA eingezeichnet. Insgesamt könnten
etwa 5000 Nadeln NA erforderlich sein. Die Kontaktleisten haben gegenüber einer
kompakten Nadelplatte den Vorteil, daß sie als Teilstücke auswechselbar bzw. einsetzbar
sind. Eine Kontaktleiste z.B. in 1/10-Teilung könnte man als Norm-Kcntaktleiste
bezeichnen. Der Adapter A besteht aus den Kontaktleisten KL3, KL4, aus den Kontakthülsen
KH, aus dem Chassis CH und aus den Ausgangskontakten AK, die über entsprechende
Leitungen an die Kontakthülsen KH angeschlossen sind.
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Die Prüfeingänge des Prüflings PR sind über Steckverbindungen STK
an den Adapter A anschließbar. Je nach Beschaffung bzw. Anordnung des Prüflings
PR kann die Steckverbindung STK auch ohne Chassis CH eingesetzt werden. Der Adapter
A und der Prüfling PR ist auf dem Adapterwagen AW montiert und auf den Rädern RD
gelagert. Beim Anfahren werden die Kontaktleisten KL1 zu KL3 durch Konuse fixiert,
somit berühren die Nadeln NA im Prüf zustand die Kontakthülsen KH.
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Für alle Arten der Prüflinge PR sind spezielle Adapter A vorgesehen,
so daß einerseits die Chassis CH und die Ausgangskontakte AK speziell auf eine besondere
Art der Prüflinge PR ausgebildet und angeordnet sein können. Die Prüfeingänge des
Prüflings PR können somit an die Ausgangskontakte AK des Adapters bereits lange
Zeit vor der eigentlichen Prüfung angeschlossen werden, so daß die Arbeit des Verdrahtungs-Prüfautomaten
VPR nicht behindert wird.
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Es werden somit jeweils immer mehrere Adapter-Wagen AW zur Prüfung
vorbereitet und durch Annäherung des Adapterwagens AW an die Kontaktnadelplatte
K werden die leitenden Verbindungen der Nadeln NA mit den Eingangskontakten KH hergestellt.
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Fig. 2 zeigt Details der Kontaktleisten KL1 und KL3 und der mit ihnen
verbundenen Bauteile. In die Kontaktleiste KL1 sind die
Nadelhülsen
NH fest eingebettet. Im montierten Zustand sind die Stifte ST teilweise in die Nadelhülsen
NH eingeschoben. Die Nadeln NA sind mit Hilfe der Federn FE federnd gelagert und
axial verschiebbar. Die Kontakthülsen KH sind in die Kontaktleiste KL3 eingebettet
und entsprechen den Nadelhülsen NH. Dabei dient die Nadelhülse NH zur Führung des
Stiftes ST, wogegen die Kontakthülse KH zur Herstellung des Kontaktes dient, mit
der Nadel NA. Die gleichartige Ausbildung der Nadelhülsen NH einerseits und der
Kontakthülsen KH andererseits ist insofern vorteilhaft, weil auf diese Weise die
Kontaktnadelplatte K einerseits und der Adapter A andererseits rationell herstellbar
sind.
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4 Patentansprüche 2 Figuren