DE3148285A1 - Pruefadapter zum ankontaktieren von zu pruefenden elektronik-flachbaugruppen (leiterplatten) an ein universal-pruefgeraet - Google Patents
Pruefadapter zum ankontaktieren von zu pruefenden elektronik-flachbaugruppen (leiterplatten) an ein universal-pruefgeraetInfo
- Publication number
- DE3148285A1 DE3148285A1 DE19813148285 DE3148285A DE3148285A1 DE 3148285 A1 DE3148285 A1 DE 3148285A1 DE 19813148285 DE19813148285 DE 19813148285 DE 3148285 A DE3148285 A DE 3148285A DE 3148285 A1 DE3148285 A1 DE 3148285A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- test
- test adapter
- tested
- contact
- universal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
- Prüfadapter zum Ankontaktieren von zu prüfenden Elektronik-
- Flachbaugruppen (Leiterplatten) an ein Universal-Prüfgerät Die Erfindung betrifft einen Prüfadapter zum Ankontaktieren von zu prüfenden Elektronik-Flachbaugruppen (Leiterplatten) an ein Universal-Prüfgerät, wobei außer den am Rand einer zu prüfenden Flachbaugruppen befindlichen, über Stecker zugänglichen Kontaktstellen auch innerhalb der Baugruppe befindliche individuell beliebig angeordnete Schaltpunkte -beispielsweise auch Bauelemente-Anschlüsse integrierter Schaltkreise - ankontaktiert werden, und wobei die Flachbaugruppe zu diesem Zweck pneumatisch angesaugt wird.
- Zur Prüfung elektronischer Flachbaugruppen (Leiterplatten) ist es bekannt, automatisch arbeitende, durch Programme gesteuerte Prüfautomaten einzusetzen. Damit werden die Prüfzeiten gegenüber manuellen Prüfmethoden drastisch verkürzt. Es wird somit sehr schnell festgestellt, ob eine Baugruppe Fehler aufweist, oder in Ordnung ist, und außerdem werden Hinweise auf gefundene Fehler so angezeigt oder ausgedruckt, daß diese leicht und schnell beseitigt werden k§nnen.
- Bin Prilfautomat zum Prüfen von Verdrahtungen ist an verschiedenen Stellen in der Siemens-Zeitschrift 44 (1970) Reft 11 (Seiten 604 b1s 609, 674 bis 676 und 680 bis 683) beschrieben. Über die Adaptierung der Prüflinge wird berichtet auf den Seiten 680 bis 683. Es werden dort die verschiedenen Möglichkeiten der partiellen idaptierung, der kompletten Adaptierung und der individuellen Adaptierung angesprochen. Für bestückte elektronische Flachbaugruppen wird überwiegend die individuelle Adaptierung angewendet, weil dabei nicht nur die Prüfung der Verbindungsbeziehungen, wie sie in den o.a. Literaturstellen beschrieben wird, sondern auch gleichzeitig eine Funktionsprüfung vorgenommen wird.
- Um solche an sich relativ teuere Spezialadapter preißwert zu gestalten, wird in der DS-AS 27 07 900 angegeben, wie ein Universal-Prüfadapter zur individuellen Adaptierung benutzt werden kann. Dem-gemäB besteht eine solche Universal-Adaptiervorrichtung aus einem Universalteil, das ein Maximum an Kontaktpunkten aufweisen muß, und einem Spezialteil, das dem Prüfling zugeordnet angepaßt ist. Dabei ist das Universalteil dem Prüfling räumlich zugeordnet. Die besondere Ausgestaltung des Spezialteiles bezogen auf den Prüfling ist am Verbindungsteil zum Prüfgerät angeordnet. Entsprechend diesem Konzept muß beim Übergang von der Prüfung eines Typs von Flachbaugruppen zu einem anderen Typ'die Adaptiervorrichtung auseinander gebaut, und die den Baugruppen zugeordneten Spesialteile müssen ausgewechselt werden. Dies erfordert eine gewisse Geschicklichkeit und auch einen erheblichen Zeitaufwand bei der Umrüstung, wodurch die Prüfzeiten sich verlängern.
- Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, einen Prüfadapter vorzustellen, der speziell an die zu prüfende Flachbaugruppe angepaßt ist und mit einem Handgriff in die Anschlußeinrichtung des Prtfgerätes eingesetzt werden kann. Die Ankontaktierung des Prüflinge soll dabei weitgehend automatisch erfolgen.
- Die Lösung-dieser Aufgabe geschieht durch eine Merkmalskombination, wie sie im kennzeichnenden Teil des Patentanspruches 1 angegeben ist. Dadurch wird in vorteilhafter Weise erreicht, daß eine optimale Anpassung des Prtflings an die Gegebenheiten des Prüfsystems erreicht werden kann.
- Durch die spezielle Ausgestaltung des aus einheitlichen Teilen fertig zusammengesetzten Prüfadapters können auch besondere Eigenheiten eines Prüflinge berücksichtigt werden, die u.U. eine besonders schwierige Gestaltung des prüfprogrammes erforderlich machen würden. Durch die einheitlich gefertigten mechanischen Teile des Prüfadaptere wird gewährleistet, daß alle Prüfadapter gleichmäßig gut an das Universal-Prüfgerät angepaßt sind und mit einem Handgriff in die Kontaktvorrichtung des Prüfgerätes eingesetzt werden können.
- Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben und können eine zusätzliche Vereinfachung und Verkürzung der Prüfzeit bewirken. Es werden dadurch Handgriffe eingespart und es ist möglich, Prüfvorgänge so zu steuern, daß nur ein Teil der insgesamt auf einer Baugruppe vorhandenen Kontaktpunkte mit dem Prüfgerät elektrisch verbunden werden.
- Ei Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand einer Zeichnung näher erläutert0 In der Zeichnung ist dargestellt, wie der einer zu prüfenden Flachbaugruppe FBG zugeordnete Prüfadapter PA von oben in das Universal-Prüfgerät UPG eingesetzt ist. Wenn mit dem Prüfen einer bestimmten Type von Flachbaugruppen FBG begonnen wird, so wird der zugehörige Prüfadapter ganz einfach von oben in das Universal-Prüfgerät UPG eingesetzt, wobei nicht dargestellte Führungsschienen die richtige Positionierung garantieren. Sodann wird durch eine Tastenbetätigung bewirkt, däß die durch die Druckzylinder DZ1 undflzZbstätigten Kupplungsklauen K den Prüfadapter PA an das Universal-Prüfgerät UPG andrücken. Dabei wird ein elektrischer Kontakt hergestellt, zwischen den federnden Stiften des Universal-Prüfgerätes UPG und den in einer Lochplatte bestückten Buchsen B1 bis Bn des Prüfadapters PA. Im Prüfadapter PA müssen nur soviele Buchsen B bestückt sein, wie zur Prüfung der zugehörigen Flachbaugruppe FBG benötigt werden. Von Jeder einzelnen Buchse B führt eine Verbindungsleitung entweder direkt zu einem beliebigen Kontakt- stift ES in der oberen Ebene des Prüfadapters PA oder zu einer Zwischenebene, wo. besondere zur Prüfung dienende Schaltmittel S untergebracht sind. Mit diesen Schaltmitteln S können spezielle Prüfvorgänge so gestaltet werden, daß bestehende Prüfprogramme für das Universal-Prüfgerät UPG nicht unnötigerweise kompliziert ausgeführt sein müssen.
- Die in der oberen Ebene des Prüfadapters PA eingesetzten Kontaktstifte KS1 bisKSn sind beliebig, auch außerhalb eines eventuell bestehenden Rastersangeordnet, und nur in einer der Anzahl der Schaltpunkte auf der Flachbaugruppe FBG entsprechenden Anzahl vorhanden. Dabei ist sowohl die Lage des Kontaktstiftes ES als auch seine speziell auszuführende Art frei wählbar, so wie es den Gegebenheiten auf der Flachbaugruppe FBG am besten entspricht.
- Wenn der Prüfadapter PA auf die beschriebene Weise in das Universal-Prüfgerät UPG eingesetzt und angekuppelt ist, kann mit dem Prüfen des entsprechenden Typs von Flachbaugruppen FBG begonnen werden. Dabei wird Jede Flachbaugruppe FBG auf den mit Dichtungsstreifen D versehenen oberen Rand des Universal-Prüfgertes UPG aufgelegt und danach ein Schalter betätigt, der auf nicht dargestellte Weise bewirkt, daß ein Vakuum erzeugt wird, womit die Flachbaugruppe FBG so angesaugt wird, daß die Kontaktstifte ES mit einem ausreichenden Druck gegen die Schaltpunkte der Flachbaugruppe FBG gedrückt werden. Damit sind einwandfreie elektrische Verbindungen zwischen dem Universal-Prüfgerät UPG und den Schaltpunkten der Flachbaugruppe FBG hergestellt. Nach dem Ansaugvorgang wird automatisch ein Kontakt Ko geschlossen, womit durch einen Druckzylinder DZ3 Außenstecker ST pneumatisch auf die Steckkontaktleiste der Flachbaugruppe FBG geschoben wird. Wenn dies geschehen ist, kann der Start des Prüfprogrammes folgen.
- Während der Prüfvorgänge ist es möglich, entweder die Kontaktierung über die Kontaktstifte KS zu den Schaltpunkten oder auch die Kontaktierung über den Außenstecker ST vorübergehend zu lösen. Dies kann entweder manuell geschehen, oder auch vom Prüfprogramm direkt gesteuert werden. Es ist aug diese Weise möglich, spezielle Prüfvorgänge zu steuern, bei denen die Verbindung der jeweils anderen Kontaktart Schwierigkeiten bereiten würde.
- Nit Hilfe dieses speziell ausgeführten Prüfadapters, der im Wesentlichen aus einheitlich ausgeführten mechanischen Teilen besteht, ist es möglich, die Umrüstzeit beim Ubergang der Prüfung auf einen anderen Typ von Flachbaugruppen FBG auf ein Minium zu reduzieren. Auch das Ankontaktieren jeder einzelnen Plachbaugruppe BBG geht sehr einfach vor sich, und die Prüfzeiten werden dadurch kurz gehalten.
- L e e r s e i t e
Claims (5)
- Prüfadapter zum Ankontaktieren von zu prüfenden Elektronik-Flachbaugruppen (Leiterplatten) an ein Universal-Prüfgerät P a t e n t a n s p r ü c h e 1. Prüfadapter zum Ankontaktieren von zu prüfenden Elektronik-Flachbaugruppen (Leiterplatten) an ein Universal-Prüfgerät, wobei außer den am Rand einer zu prüfenden Flachbaugruppe befindlichen, über Stecker zugänglichen Kontaktstellen auch innerhalb der Baugruppe befindliche, individuell beliebig angeordnete Schaltpunkte - beispielsweise auch Bauelemente-Anschlüsse integrierter Schaltkreise - ankontaktiert werden, und wobei die Flachbaugruppe zu diesem Zweck pneumatisch angesaugt wird, dadurch gekennzeichnet, daß für jede Art von zu prüfenden Flachbaugruppen (FBG) ein nur in seinen äußeren Abmessungen einheitlich ausgeführter, an das Universal-Prüfgerät (UPG) angepasster, aus mehreren Ebenen bestehender Prüfadapter (PA) vorgesehen ist der in seiner untersten Ebene entsprechend dem Raster der Kontakte des Universal-Prüfgerätes (UPG) angeordnete Kontaktbuchsen (B1 bis Bn) enthält, über die beim Befestigern des Prüfadapters (PA) an dem Universal-Prüfgerät (UPG) mittels einer pneumatisch angetriebenen Kupplungseinrichtung (K) elektrische Verbindungen zwischen dem Universal-Prüfgerät (UPG) und dem Prüfadapter (PA) hergestellt werden, daß in der obersten Ebene des Prüfadapters (PA) einzelne federnde Kontaktstifte (KS1 bis KSn) so angeordnet sind, wie es die Lage der zu kontaktierenden Schaltpunkte auf der zu prüfenden Flachbaugruppe (FBG) erfordert, und daß zwischen den Kontaktbuchsen (B1 bis Bn) der untersten Ebene und den Kontaktstiften- (KS1 bis KSn) der obersten Ebene beliebig einbringbare, spezifisch auf die zugehörige Flachbaugruppe (FBG) bezogen, ausgeführte Verdrahtungsverbindung bestehen.
- 2. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Auflegen und Ansaugen der Plachbaugruppe (FBG) auf den Prüfadapter (PA) zum Ankontaktieren der Kontaktstifte (KS1 bis KSn) auf die Schaltpunkte ein Kontakt (go) betätigt wird, der veranlaßt, daß Außenstecker (ST) pneumatisch angetrieben auf die Flachbaugruppe (FBG) geschoben werden.
- 3. Prüfadapter nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß durch Aufheben der Ansaugkraft die Ankontaktierung der Kontaktstifte (KS1 bis KSn) auf die Schaltpunkte unterbrochen werden kann, um Prüfvorgänge ausschließlich über den Außenstecker (ST) zu steuern.
- 4. Prüfadapter nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß Außenstecker (ST) pneumatisch abziehbar sind, um Prüfvorgänge ausschließliche über die Schaltpunkte zu steuern.
- 5. Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in einer Zwischenebene des Prüfadapters (PA) Schaltmittel (S) angeordnet sind, mit denen eine spezielle Anpassung einzelner Prüfvorgänge an die Gegebenheiten der zu prüfenden Flachbaugruppe vorgenommen wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813148285 DE3148285C2 (de) | 1981-12-05 | 1981-12-05 | Prüfadapter zum Anschließen von zu prüfenden Elektronik-Flachbaugruppen an ein Universal-Prüfgerät |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813148285 DE3148285C2 (de) | 1981-12-05 | 1981-12-05 | Prüfadapter zum Anschließen von zu prüfenden Elektronik-Flachbaugruppen an ein Universal-Prüfgerät |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3148285A1 true DE3148285A1 (de) | 1983-06-16 |
DE3148285C2 DE3148285C2 (de) | 1985-05-30 |
Family
ID=6148040
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813148285 Expired DE3148285C2 (de) | 1981-12-05 | 1981-12-05 | Prüfadapter zum Anschließen von zu prüfenden Elektronik-Flachbaugruppen an ein Universal-Prüfgerät |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3148285C2 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0131375A1 (de) * | 1983-06-09 | 1985-01-16 | Texas Instruments Incorporated | Vorrichtung zum Prüfen von integrierten Schaltkreisen |
DE3638372A1 (de) * | 1986-11-11 | 1988-05-26 | Lang Dahlke Helmut | Vorrichtung zum pruefen von elektrischen leiterplatten |
DE3819884A1 (de) * | 1988-06-10 | 1989-12-14 | Kriwan Ind Elektronik Gmbh | Geraet zum pruefen von elektronischen baugruppen |
DE3823367A1 (de) * | 1988-07-09 | 1990-01-11 | Manfred Prokopp | Leiterplattenpruefgeraet |
PL126882U1 (pl) * | 2017-12-15 | 2019-06-17 | Fitech Spółka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością | Zespół złącza mechaniczno-elektrycznego adaptera testera płytek obwodów drukowanych |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2707900B2 (de) * | 1977-02-24 | 1978-12-14 | Ante 6980 Wertheim Milkovic | Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen |
US4230985A (en) * | 1978-01-12 | 1980-10-28 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Fixturing system |
-
1981
- 1981-12-05 DE DE19813148285 patent/DE3148285C2/de not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2707900B2 (de) * | 1977-02-24 | 1978-12-14 | Ante 6980 Wertheim Milkovic | Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen |
US4230985A (en) * | 1978-01-12 | 1980-10-28 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Fixturing system |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Siemens-Zeitschrift 44 (1970) H.10 (S.604-609) H.11 (S.674-676 u.680-683) * |
WO 80/02599 * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0131375A1 (de) * | 1983-06-09 | 1985-01-16 | Texas Instruments Incorporated | Vorrichtung zum Prüfen von integrierten Schaltkreisen |
DE3638372A1 (de) * | 1986-11-11 | 1988-05-26 | Lang Dahlke Helmut | Vorrichtung zum pruefen von elektrischen leiterplatten |
DE3819884A1 (de) * | 1988-06-10 | 1989-12-14 | Kriwan Ind Elektronik Gmbh | Geraet zum pruefen von elektronischen baugruppen |
DE3823367A1 (de) * | 1988-07-09 | 1990-01-11 | Manfred Prokopp | Leiterplattenpruefgeraet |
PL126882U1 (pl) * | 2017-12-15 | 2019-06-17 | Fitech Spółka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością | Zespół złącza mechaniczno-elektrycznego adaptera testera płytek obwodów drukowanych |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3148285C2 (de) | 1985-05-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3812654C2 (de) | ||
DE19616810C2 (de) | Halbleiter-Prüfvorrichtung | |
DE2707900C3 (de) | Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen | |
DE2920226C2 (de) | Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen | |
DE3148285A1 (de) | Pruefadapter zum ankontaktieren von zu pruefenden elektronik-flachbaugruppen (leiterplatten) an ein universal-pruefgeraet | |
DE2905175A1 (de) | Adaptiervorrichtung fuer das verbinden von zu pruefenden elektronikbaugruppen mit pruefgeraeten | |
DE4441347C2 (de) | Verfahren zum Prüfen von elektronischen Schaltungen auf Leiterplatten und Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens | |
EP0118689A2 (de) | Bestückungstisch zum manuellen Bestücken von Schaltungsträgern | |
DE3238949A1 (de) | Einrichtung zum pruefen von mit steckern versehenen leitungen | |
DE2427118A1 (de) | Adapter zum verbinden einer elektrischen baugruppe mit einer messchaltung | |
DE3405568C2 (de) | ||
EP0350609A2 (de) | Leiterplattenprüfgerät | |
DE4428797A1 (de) | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen | |
DE3212456C2 (de) | Vorrichtung zur Herstellung einer Steckverbindung zwischen den Kontaktelementen einer Flachbaugruppe und den Kontaktelementen eines Adapters | |
DE2954194C2 (de) | Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen | |
DE3839539A1 (de) | Multikompatible halteeinrichtung fuer zu pruefende leiterplatten bzw. flachbaugruppen, und fuer kontaktstift-traegerplatten und niederhalteplatten zur verwendung in pruefgeraeten | |
DE7031415U (de) | Vorrichtung zur elektrischen pruefung von gedruckten schaltungsplatten. | |
DE3248798C2 (de) | Vorrichtung zur automatischen Prüfung von Flachbaugruppen | |
EP0062833A1 (de) | Adaptereinrichtung und Verfahren zur elektrischen Verdrahtungsprüfung von unbestückten Leiterplatten | |
DE4436354A1 (de) | Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektrischen oder elektronischen Teilen | |
EP0406764B1 (de) | Adaptiervorrichtung zur Prüfung von filmmontierten integrierten Bausteinen | |
DE19814312C2 (de) | Vorrichtung zum automatischen Testen von Baugruppen oder Bauateilen | |
DE4009296C2 (de) | ||
DE3240415A1 (de) | Nadelfelder fuer pruefautomaten | |
DE3642587A1 (de) | Vorrichtung zum voraltern von ic-baueinheiten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8330 | Complete disclaimer |