DE4436354A1 - Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektrischen oder elektronischen Teilen - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektri­ schen oder elektronischen Teilen, mit den Prüflingen jeweils zugeordneten, prüflingsspezifi­ schen sowie in Form eines Prüffeldes angeordneten Prüflingsaufnahmen für die Prüflinge, mit einer gemeinsamen Prüfeinrichtung für die Prüflinge des Prüffeldes, die an die Prüflings­ aufnahmen angeschlossen ist, sowie mit zwischen den jeweiligen Prüflingsaufnahmen und der Prüfeinrichtung angeordneten Schaltern für die Sende- sowie Empfangsleitungen.

Die elektrischen oder elektronischen Teile sind im allgemeinsten Sinne zu verstehen. Die er­ findungsgemäße Prüfvorrichtung kann immer dort Anwendung finden, wo eine Mehrzahl von elektrischen oder elektronischen Elementen allgemeinster Art, welche nicht gleich sein müs­ sen, gleichzeitig getestet werden sollen.

Ein Anwendungsgebiet beispielsweise sind die Verdrahtungstester bei den sogenannten Ka­ belbäumen, bei denen Fertigungsprüfadapter, Endprüfadapter (oder artverwandte Adapter) Verwendung finden. Diese Prüfadapter dienen der Prüfung der elektrischen Kontakte der an den Kabeln kontaktierten elektrischen Stecker dahingehend, ob bei diesen Kabelbäumen die elektrischen Anschlüsse der Stecker richtig kontaktiert sowie innerhalb des Steckers richtig angeordnet sind. Das Grundprinzip bei diesen Verdrahtungstestern besteht darin, daß mittels der Testeinrichtung der Durchgang von einem Steckerende zum anderen Stecker­ ende der entsprechenden Leitung gemessen wird, wobei die entsprechenden Pole an das Testgerät angeschlossen werden. In der Zuleitung (Sender) sowie in der Ableitung (Empfänger) befindet sich jeweils ein Schalter. Erst bei geschlossenen Schaltern kann der jeweilige Meßvorgang durchgeführt werden.

Neben den beschriebenen Verdrahtungstestern ist das erfindungsgemäße Prüfsystem bei­ spielsweise auch für elektronische Schaltungen oder dgl. einsetzbar, also immer dort, wo ein elektrischer Test für eine Mehrzahl von Prüflingen gleichzeitig durchgeführt werden soll.

Bekannte Prüfvorrichtungen sehen eine sogenannte Prüftafel oder Prüftisch vor. Dieser bil­ det ein Prüffeld für die zu testenden Prüflinge, indem auf dem Prüftisch entsprechende Prüf­ lingsaufnahmen, beispielsweise die bereits erwähnten Adaptermodule angeordnet sind. Das Prüffeld ist dabei matrixartig aufgebaut, wobei sämtliche oder aber nur ein Teil dieser Felder durch Prüflingsaufnahmen belegt sein kann. Bislang ist es üblich, die Verbindungen zwi­ schen den Prüflingsaufnahmen und der Prüfeinrichtung mit Kabeln zu realisieren, indem je nach den Bedürfnissen von den Prüflingsaufnahmen zu der Prüfeinrichtung entsprechende Leitungen verlegt werden. Dies führt zu Problemen bei der Verteilung der Testpunkte (Splei­ sung), da oft nur wenige Testpunkte an einem Modul (teilweise sogar nur ein einziger Test­ punkt) benötigt werden. Da aber derartige Prüffelder oft umgerüstet werden müssen, ist dies sehr umständlich, zeitaufwendig und störanfällig.

Davon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektrischen oder elektronischen Teilen zu schaf­ fen, bei der die umständliche Kabelverlegung bei einer Umrüstung entfällt.

Als technische Lösung wird mit der Erfindung vorgeschlagen, daß den Prüflingsauf­ nahmen des Prüffeldes ein entsprechend aufgebautes, gemeinsames Meßbussystem zuge­ ordnet ist, das an die Prüfeinrichtung angeschlossen ist und wobei zwischen entsprechen­ den Steckplätzen dieses Meßbussystems und den Prüflingsaufnahmen Testpunktkarten mit darauf angeordneten Schaltern angeordnet sind.

Dadurch ist ein Prüfsystem geschaffen, bei dem bei einer Umrüstung eine umständliche Ka­ belverlegung entfällt. Die Erfindungsidee besteht darin, daß sich die Testpunkte direkt an der oder unter der Prüflingsaufnahme, beispielsweise dem Adaptermodul, befinden. Den in der Art eines Prüffeldes angeordneten Prüflingen ist somit ein gemeinsames Bussystem für sämtliche Prüfstellen zugeordnet, so daß an den entsprechend gewünschten, nämlich zu te­ stenden Positionen nur die jeweils benötigten Testpunktkarten eingebracht werden müssen, was sich sehr schnell bewerkstelligen läßt. Bei den Testpunktkarten handelt es sich um Lei­ terplatten, welche mit entsprechenden Anschlüssen einerseits zur Prüflingsaufnahme und andererseits zur Verbindung mit der gemeinsamen Buseinrichtung ausgestattet ist. Außer­ dem sind auf dieser Leiterplatte die Schalter angeordnet. Das Meßbussystem ist dabei ent­ sprechend dem Aufbau des Prüffeldes durch parallel zueinander ausgerichtete Busleisten gebildet. Die Testpunktkarten mit ihren Leiterplatten stellen somit die elektrische Verbindung zwischen der jeweiligen Prüflingsaufnahme und der Busleiste dar und tragen zudem die ent­ sprechenden Schaltelemente. Der besondere Vorteil dieses Meßbussystems besteht darin, daß bei einer Umrüstung des Prüffeldes nur die einzelnen Elemente entsprechend plaziert und zusammengesteckt werden müssen, was sich sehr schnell durchführen läßt. Bei einer Umrüstung ist es lediglich erforderlich, die entsprechende Prüflingsaufnahme an der ge­ wünschten Stelle zu positionieren und dabei in dieser Position die gewünschte Testpunkt­ karte in den dafür vorgesehenen Platz des Meßbussystems einzustecken und somit die elektrische Verbindung zwischen der Prüflingsaufnahme und der Meßeinrichtung herzustel­ len. Da es sich hier um fest vorgegebene Bauteile handelt, entfällt somit die umständliche individuelle Verdrahtung, wie dies bislang üblich war.

Vorzugsweise ist dabei das Meßbussystem mit seinen matrixartig angeordneten Steckplät­ zen unterhalb des Prüffeldes angeordnet. Der entsprechende Prüftisch mit seinem Prüffeld weist somit rückseitig bzw. unterseitig in einer dazu parallelen Ebene das Meßbussystem auf.

Eine weiter Weiterbildung der Erfindung schlägt vor, daß die Testpunktkarten direkt an den Prüflingsaufnahmen montiert sind. Die Prüflingsaufnahmen bilden somit zusammen mit den Testpunktkarten aufgrund der direkten Anbringung eine bauliche Einheit, d. h. die entspre­ chende Testpunktkarte ist der jeweiligen Prüflingsaufnahme fest zugeordnet. Dies bedeutet, daß bei einer Umrüstung die entsprechende Prüflingsaufnahme zusammen mit ihrer Test­ punktkarte in das Prüffeld in der entsprechenden Position eingeschoben und dabei gleich­ zeitig die Testpunktkarte mit dem entsprechenden Meßbus in einem Arbeitsgang kontaktiert wird. Es werden dabei nur so viele Schalter auf die Testpunktkarte gelötet und Testpunkte verdrahtet, wie für die jeweilige Prüflingsaufnahme benötigt werden.

Eine Alternative hiervon schlägt vor, daß die Testpunktkarten als separate Zwischenkarten ausgebildet sind. Die Testpunktkarten sind somit universell für eine Vielzahl von Prüflings­ aufnahmen verwendbar. Durch diese Auswechselbarkeit können entsprechend den ge­ wünschten Testpunkten spezielle Testpunktkarten verwendet werden, welche den jeweili­ gen Bedürfnissen genügen und auf den jeweiligen Anwendungsfall "zugeschnitten" sind. Die Montage sieht in der Praxis so aus, daß zunächst die gewünschte Testpunktkarte in den zu­ gehörigen Meßbus gesteckt wird, um anschließend die Prüflingsaufnahme aufzustecken.

Selbstverständlich ist es auch möglich, zunächst die Prüflingsaufnahme auf die Testpunkt­ karte aufzustecken und anschließend die so gebildete Einheit auf den zugehörigen Meßbus aufzustecken.

Eine weitere bevorzugte Weiterbildung der Erfindung schlägt vor, daß die Prüflingsaufnah­ men durch Steckerschnittstellen mit Verschleißstecker, durch pneumatische Kontaktelemen­ te oder durch Prüfadaptermodule gebildet sind. Bei den Steckerschnittleisten mit Verschleiß­ stecker handelt es sich um ganz normale, mehrpolige Steckerleisten, in die der Prüfling (allerdings unter Kraftaufwand wegen der Kontaktierung) eingesteckt werden kann. Eine Al­ ternative hiervon sind die pneumatischen Kontaktelemente, bei denen der Prüfling in die entsprechende Steckerbuchsenleiste ohne Kraftaufwand hineingeschoben wird, wobei die elektrische Kontaktierung durch eine Druckluftbeaufschlagung und damit Verschiebung der elektrischen Kontakte bewirkt wird. Die Prüfadaptermodule als weitere Prüflingsaufnahme sind bereits erwähnt worden. Sie dienen beispielsweise der Überprüfung von sogenannten Kabelbäumen, ob nämlich dessen elektrische Stecker richtig an den elektrischen Kabeln kontaktiert sind. Auch hier sind die Module prüflingsspezifisch ausgebildet und bilden ein Stecksystem, das in der Regel auf einer Tafel oder einem Tisch aufgebaut ist, wobei die zu testenden Stecker von Hand in die Module eingeführt werden.

Eine weitere bevorzugte Weiterbildung schlägt vor, daß die Testpunktkarten nur an den je­ weils benötigten Testpunkten mit Schaltern bestückt sind. Dies bedeutet, daß für nicht benö­ tigte Testpunkte auch keine Schalter auf der Testpunktkarte vorgesehen sind, was eine er­ hebliche technische und wirtschaftliche Einsparung bedeutet. Somit sind die Testpunktkarten, d. h. deren Polzahl variabel ausgeführt.

Eine weitere bevorzugte Weiterbildung der Testpunktkarten schlägt vor, daß diese mit Reedschaltern bestückt sind, wobei dem jeweiligen Steckplatz des Meßbussystems ein Spulenkörper zum Ansteuern der Reedschalter zugeordnet ist. Bei diesen Reedschaltern handelt es sich um elektromagnetische Schalter, welche durch ein magnetisches Feld ge­ schaltet werden. Die Reedschalter sind dabei derart auf der Leiterplatte der Testpunktkarte verlötet, daß die Körper dieser Reedschalter parallel zur Ebene der Leiterplatte ausgerichtet und mit ihren beiden Anschlüssen auf der Leiterplatte verlötet sind. Sämtliche Reedschalter der Testpunktkarte sind dabei parallel zueinander ausgerichtet, so daß die so mit den Reed­ schaltern bestückte Leiterplatte in die länglich ausgebildete Spule eingetaucht werden kann, um durch Erzeugung eines Magnetfeldes die Reedschalter gleichzeitig zu schalten. Da­ durch ist für diese Reedschalter ein einfaches Verdrahtungssystem geschaffen, wobei der besondere Vorteil darin besteht, daß die Reedschalter in einem Stecksystem integriert sind.

Außerdem können defekte Reedschalter ohne weiteres durch neue Reedschalter auf der Platine ersetzt werden. Ein weiterer Vorteil in der Verwendung dieser Reedschalter liegt dar­ in, daß sie sehr zuverlässig arbeiten und im Gegensatz zu Halbleiterschaltern in der Öff­ nungsstellung keinen Stromdurchgang aufweisen. Auch Kapazitätsprobleme bestehen bei den Reedschaltern nicht. In dem vorliegenden Anwendungsgebiet wird dabei jeweils ein Reedschalter für den Sender und ein Reedschalter für den Empfänger benötigt.

Eine Weiterbildung hiervon schlägt vor, daß die Reedschalter derart auf der Testpunktkarte angeordnet und verlötet sind, daß auf der einen Seite der Testpunktkarte die Anschlüsse für den Meßbus und auf der gegenüberliegenden Seite die Anschlüsse für die Prüflingsaufnah­ men angeordnet sind. Dadurch ist ein einfaches Stecksystem realisiert.

Alternativ zu den Reedschaltern können die Testpunktkarten auch mit Einzelrelais als Schal­ ter bestückt sein. Dabei werden die Einzelrelais vorzugsweise zu Vielpolrelais zusammen­ geschaltet. Vorzugsweise befinden sich auf der Testpunktkarte nur so viele Einzelrelais, wie auch benötigt werden. Die mit den Einzelrelais bestückten Testpunktkarten können auch dann verwendet werden, wenn das Meßbussystem mit Spulenkörpern für die Reedschalter ausgestattet ist. In diesem Fall werden die Testpunktkarten mit den Einzelrelais einfach durch die Spulenkörper gesteckt, ohne daß diese jedoch ein Magnetfeld erzeugen.

Eine dritte Alternative schlägt vor, daß die Testpunktkarten mit Halbleiterschaltern bestückt sind.

Schließlich wird in einer Weiterbildung vorgeschlagen, daß die Schalter mehrreihig auf der Testpunktkarte angeordnet sind. Dadurch läßt sich eine hohe Packungsdichte erreichen. Sofern es sich bei den Schaltern um Reedkontakte handelt, weist der entsprechende Meß­ bus mehrstöckige Spulenkörper auf, welche die jeweilige Reedkontaktreihe schalten.

Die zuvor beschriebenen Reedschalter, welche auf einer Leiterplatte verlötet sind, stellen für sich eine eigenständige Erfindung dar, ohne auf den vorliegenden Anwendungsbereich be­ schränkt zu sein. Bislang ist es nämlich so, daß bei der Verwendung von derartigen Reed­ schaltern deren Kontakte auf der Testpunktseite in eine Leiterplatte eingelötet und auf der anderen Busseite mit der Hand verdrahtet werden. Dies ist zum einen schwer zu fertigen und macht auch beim Service Probleme. Zum anderen werden heutzutage hohe Packungs­ dichten gefordert, was bedeutet, daß die Relais noch hochpoliger sein müssen. Bei hochpo­ ligen Relais allerdings ist das bekannte Verfahren, nämlich die Kontakte der Reedschalter einseitig in eine Leiterplatte einzulöten und auf der anderen Seite handzuverdrahten, nicht mehr möglich. Auch ist ein Auswechseln von defekten Reedschaltern bei dem bekannten Verdrahtungssystem nur sehr mühsam möglich. Aus diesem Grunde sieht diese eigenstän­ dige Erfindung vor, die Reedschalter axial auf einer Leiterplatte einzulöten. Die Anschlüsse können dabei auf zwei Steckern geführt werden, beispielsweise zwei Leiterplattendirektstecker. Selbstverständlich können aber auch andere Stecker benutzt werden. Die gesamte Lei­ terplatte mit den Reedkontakten wird dann in den Spulenkörper eingetaucht, so daß die Reedschalter zur gleichen Zeit elektromagnetisch betätigt werden können.

Ausführungsbeispiele der erfindungsgemäßen Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektrischen oder elektronischen Teilen wird nachfolgend anhand der Zeich­ nungen beschrieben. In diesen zeigt:

Fig. 1 eine schematische Ansicht einer ersten Ausführungsform der Prüfvorrichtung;

Fig. 2 eine Draufsicht auf das Meßbussystem der Vorrichtung in Fig. 1;

Fig. 3a und b zwei Ansichten einer mit Reedschaltern bestückten Testpunkt­ karte als Prinzipdarstellung;

Fig. 4a und b zwei Ansichten eines Adaptermoduls mit einer fest daran an­ geordneten sowie mit Reedschaltern bestückten Testpunktkar­ te;

Fig. 5a und b zwei Ansichten einer mit Reedkontakten bestückten Testpunkt­ karten als separate Karte;

Fig. 6 eine schematische Ansicht einer zweiten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung;

Fig. 7 eine Draufsicht auf das Meßbussystem der Ausführungsform in Fig. 6;

Fig. 8a und b zwei Darstellungen eines Adaptermoduls mit einer fest daran angeordneten Testpunktkarte, welche mit Einzelrelais bestückt ist;

Fig. 9a und b zwei Darstellungen einer mit Einzelrelais bestückten Test­ punktkarte, welche als separate Karte ausgebildet ist;

Fig. 10 eine schematische Ansicht einer dritten Ausführungsform der Prüfvorrichtung unter Verwendung von Halbleiterschaltern, Transistoren oder CMOS Analogschaltern.

In den Fig. 1 bis 5 ist eine in erster Ausführungsform, in den Fig. 6 bis 9 eine zweite Ausfüh­ rungsform und in Fig. 10 eine dritte Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektrischen oder elektronischen Teilen dar­ gestellt.

Die erste Ausführungsform der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung, wie sie in den Fig. 1 bis 5 dargestellt ist, zeigt verschiedene Varianten auf. Im obereren Bereich der Fig. 1 ist sche­ matisch eine Tafel oder Tisch mit unterschiedlich ausgebildeten Prüflingsaufnahmen darge­ stellt. Die Prüflingsaufnahmen bilden dabei ein matrixartiges Raster von 15 mm in der einen Richtung und von 120 mm in der dazu senkrechten Richtung, wie insbesondere auch die Draufsicht auf das Meßbussystem 1 in Fig. 2 erkennen läßt. Dieses Meßbussystem 1 befin­ det sich in einer darunter liegenden Ebene, also in Fig. 1 unten dargestellt. In Fig. 1 sind verschiedene Varianten der Prüflingsaufnahmen in einer einzigen Zeichnung angedeutet. In der Position P1 ist die Prüflingsaufnahme als Steckerschnittstelle 2 mit Verschleißstecker sowie Verschleißkopf ausgebildet. Auch in der Position P2 ist die Prüflingsaufnahme als Steckerschnittstelle 2 mit Verschleißstecker ausgebildet. In den Positionen P3 und P4 ist die Prüflingsaufnahme durch ein pneumatisches Kontaktelement 3 gebildet, während in den Po­ sitionen P5 und P6 die Prüflingsaufnahme ein Adaptermodul 4 ist.

Jeder dieser Prüflingsaufnahmen ist eine Testpunktkarte 5 zugeordnet, welche anhand des Adaptermoduls 4 in den Positionen P5 und P6 erläutert werden soll. Diese Testpunktkarte 5 ist als Leiterplatte ausgebildet und weist Reedschalter 6 auf, wie in Fig. 3a und b erkennbar ist. Die Reedschalter 6 sind dabei auf der Ebene der Leiterplatte aufliegend min dieser verlö­ tet, wobei die Leiterplatte an ihr einander gegenüberliegenden Enden entsprechende Leiter­ plattendirektstecker 7 aufweist. Diese sind mit entsprechenden, jedoch nicht dargestellten Steckerbuchsen in der üblichen Weise kontaktierbar. Weiterhin ist in Fig. 3a und b erkenn­ bar, daß zwei Reihen von Reedschaltern 6 vorgesehen sind, wobei die eine Reihe als Sen­ der dient, während die andere Reihe als Empfänger dient. Die in Fig. 3a und b dargestellte Testpunktkarte dient nur der grundsätzlichen Erläuterung des Systems, indem die Reed­ schalter 6 nicht mehr wie bisher nur mit dem einen Kontakt auf der Leiterplatte festgelötet und mit den anderen Kontakten verdrahtet sind, sondern daß vielmehr beide Anschlüsse der Reedschalter 6 auf der Leiterplatte verlötet sind, so daß die dadurch geschaffene Leiterplat­ tenkarte mit ihren Reedschaltern 6 Teil eines Stecksystems ist.

In den Fig. 4a und b ist die Anordnung der Testpunktkarte 5 an dem Adaptermodul 4 in der Position P5 in Fig. 1 dargestellt. Die Testpunktkarte 5 ist dabei fest am Adaptermodul 4 montiert, wobei die entsprechenden Anschlüsse dieser Testpunktkarte 5 mit den zugeordne­ ten Anschlüssen des Adaptermoduls 4 verdrahtet sind. Weiterhin ist erkennbar, daß bei die­ ser Testpunktkarte 5 nicht alle Positionen mit den Reedschaltern 6 bestückt sind. Es sind nur diejenigen Positionen mit den Reedschaltern 6 bestückt, die benötigt werden. Weiterhin ist erkennbar, daß zwei Reihen von Reedschaltern 6 vorgesehen sind.

Das darunter liegende Meßbussystem 1, wie es in Fig. 2 dargestellt ist, weist Steckplätze 8 in einer matrixartigen Rasterform auf. Diese Steckplätze 8 bilden zusammen das Meßbussy­ stem 1, welches über ein Ansteuerbuskabel 9 an eine gemeinsame Prüfeinrichtung 10 an­ geschlossen ist. Jedem Steckplatz 8 sind noch zwei längliche Spulenkörper 11 übereinan­ der zugeordnet, wie insbesondere Fig. 1 unten erkennen läßt, wobei der obere Spulenkörper 11 die Sendespule und der untere Spulenkörper 11 die Empfängerspule ist.

Die Ausführungsform in der Position P5 in Fig. 1 funktioniert wie folgt:

Bei einer Umrüstung des Prüffeldes wird das jeweils benötigte Adaptermodul 4 mit der zuge­ hörigen Testpunktkarte 5 in die vorgesehene Position eingeschoben. Die Testpunktkarte 5 wird dabei durch die beiden Spulenkörper 11 durchgeschoben und auf den zugehörigen Meßbus mit seinem Steckplatz 8 aufgeschoben und somit der elektrische Kontakt herge­ stellt. Auf diese Weise wird das gesamte Prüffeld mit Adaptermodulen 4 bedarfsweise be­ stückt. Anschließend kann der Prüfvorgang durchgeführt werden.

In Fig. 5a und b ist die Situation der Position P6 in Fig. 1 dargestellt. Bei dieser Ausfüh­ rungsform ist die Testpunktkarte 5 als separate Karte ausgebildet. Auch hier ist die Test­ punktkarte 5 mit Reedschaltern 6 bestückt. Der Unterschied zur vorherigen Ausführungs­ form besteht darin, daß diese separate Testpunktkarte 5 auf das Adaptermodul 4 (oder umgekehrt) aufgeschoben werden muß und bildet so mit dem Adaptermodul 4 eine Einheit. Hier kann jedem Adaptermodul 4 somit eine individuelle und speziell benötigte Testpunkt­ karte 5 auswechselbar zugeordnet werden.

Vom Grundprinzip her unterscheiden sich die Testpunktkarten 5 in den Positionen P1 bis P4 der Fig. 1 nicht von den Ausführungsformen in den Positionen P5 und P6. Der Unterschied besteht lediglich in der Ausbildung der Prüflingsaufnahmen. Während bei den Stecker­ schnittstellen 2 eine entsprechende Leiterplatte unter Kraftaufwand für die Kontaktierung eingeschoben werden muß, ist bei dem pneumatischen Kontaktelement 3 ein Einschieben unter Nullkraft möglich, wobei die elektrische Kontaktierung durch eine pneumatische Ver­ stellung der Kontaktelemente ermöglicht wird.

Die zweite Ausführungsform, wie sie in den Fig. 6 bis 9 dargestellt ist, unterscheidet sich von der ersten Ausführungsform lediglich durch die Ausbildung der Testpunktkarten 5. Bei dieser zweiten Ausführungsform sind statt der Reedschalter 6 Einzelrelais 12 vorgesehen. Entsprechend weist das Meßbussystem 1 auch keine Spulenkörper 11 für die Steckplätze 8 auf. Selbstverständlich ist es aber auch denkbar, daß das Meßbussystem 1 dennoch Spu­ lenkörper 11 wie in Fig. 2 aufweist. In diesem Fall sind die Testpunktkarten 5 mit ihren Ein­ zelrelais 12 durch diese Spulenkörper 11 hindurchsteckbar, ohne daß die Spulenkörper 11 aktiviert werden. In den Fig. 8a und b ist die Situation dargestellt, daß die Testpunktkarte 5 fest mit dem Adaptermodul verbunden ist (Position P5 in Fig. 6), während in Fig. 9a und b die Testpunktkarte 5 mit ihren Einzelrelais 12 als separate Karte ausgebildet ist (Position P6 in Fig. 6).

In Fig. 10 schließlich werden als Schalter Halbleiterschalter 13, Transistoren oder CNOS Analogschalter verwendet. Vom Grundprinzip her ändert sich jedoch bei dieser dritten Aus­ führungsform in Fig. 10 bezüglich der ersten beiden Ausführungsformen nichts.

Bezugszeichenliste

1 Meßbussystem
2 Steckerschnittstelle
3 pneumatisches Kontaktelement
4 Adaptermodul
5 Testpunktkarte
6 Reedschalter
7 Leiterplattendirektstecker
8 Steckplatz
9 Ansteuerbuskabel
10 Prüfeinrichtung
11 Spulenkörper
12 Einzelrelais
13 Halbleiterschalter
P1 bis P6 Positionen

Claims (11)

1. Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektrischen oder elektroni­ schen Teilen,
mit den Prüflingen jeweils zugeordneten, prüflingsspezifischen sowie in Form eines Prüffeldes angeordneten Prüflingsaufnahmen für die Prüflinge,
mit einer gemeinsamen Prüfeinrichtung (10) für die Prüflinge des Prüffeldes, die an die Prüflingsaufnahme angeschlossen ist,
sowie mit zwischen den jeweiligen Prüflingsaufnahmen und der Prüfeinrichtung ange­ ordneten Schaltern für die Sende- sowie Empfangsleitungen,
dadurch gekennzeichnet,
daß den Prüflingsaufnahmen des Prüffeldes ein entsprechend aufgebautes, gemeinsa­ mes Meßbussystem (1) zugeordnet ist, das an die Prüfeinrichtung (10) angeschlossen ist und wobei zwischen entsprechenden Steckplätzen (8) dieses Meßbussystem (1) und den Prüflingsaufnahmen Testpunktkarten (5) mit darauf angeordneten Schaltern ange­ ordnet sind.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Meßbussystem (1) mit seinen matrixartig angeordneten Steckplätzen (8) unterhalb des Prüffeldes angeordnet ist.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Testpunktkarten (5) direkt an den Prüflingsaufnahmen montiert sind.

4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Testpunktkarten (5) als separate Zwischenkarten ausgebildet sind.

5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüf­ lingsaufnahmen durch Steckerschnittstellen (2) mit Verschleißstecker, durch pneumati­ sche Kontaktelemente (3) oder durch Prüfadaptermodule (4) gebildet sind.

6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Test­ punktkarten (5) nur an den jeweils benötigten Testpunkten mit Schaltern bestückt sind.

7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Test­ punktkarten (5) mit Reedschaltern (6) bestückt sind, wobei dem jeweiligen Steckplatz (8) des Meßbussystems (1) ein Spulenkörper (11) zum Ansteuern der Reedschalter (6) zugeordnet ist.

8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Reedschalter (6) derart auf der Testpunktkarte (5) angeordnet und verlötet sind, daß auf der einen Seite der Testpunktkarte (5) die Anschlüsse für den Meßbus (1) und auf der gegenüberliegenden Seite die Anschlüsse für die Prüflingsaufnahmen angeordnet sind.

9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Test­ punktkarten (5) mit Einzelrelais (12) als Schalter bestückt sind.

10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Test­ punktkarten (5) mit Halbleiterschaltern (13) bestückt sind.

11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Schalter mehrreihig auf der Testpunktkarte (5) angeordnet sind.