DE2920226C2 - Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen - Google Patents

Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen

Info

Publication number
DE2920226C2
DE2920226C2 DE19792920226 DE2920226A DE2920226C2 DE 2920226 C2 DE2920226 C2 DE 2920226C2 DE 19792920226 DE19792920226 DE 19792920226 DE 2920226 A DE2920226 A DE 2920226A DE 2920226 C2 DE2920226 C2 DE 2920226C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contact
test
perforated plate
grid
connection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19792920226
Other languages
English (en)
Other versions
DE2920226A1 (de
Inventor
Heinz Ing.(grad.) 7500 Karlsruhe Topolar
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19792954194 priority Critical patent/DE2954194C2/de
Priority to DE19792920226 priority patent/DE2920226C2/de
Publication of DE2920226A1 publication Critical patent/DE2920226A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2920226C2 publication Critical patent/DE2920226C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
    • G01R1/07378Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen, wie Leiterplatten, an Prüfeinrichtungen mit in rasterförmig über eine Lochplatte verteilten, diese durchdringenden Löchern, axial beweglich und beidseitig aus der Lochplatte herausragend gelagerten Kontaktnadeln und mit einer dem Muster der Anschlußpunkte des Prüflings angepaßten Kontaktträgerplatte zum Anschluß einer Auswahl von Kontaktnadeln an die Prüfeinrichtung sowie einer prüflingskonformen Lochmaske auf der dem Prüfling zugewandten Seite der Lochplatte.
Bei der Prüfung von unbestückten Leiterplatten (Verdrahtungsprüfung) sowie bei der Bestückungs- oder Funktionsprüfung von Flachbaugruppen müssen Anschlußpunkte der Leiterplatte bzw. Flachbaugruppe mit einer Prüfeinrichtung verbunden werden. Alle Anschlußpunkte des Prüflings, die nicht an besondere Anschlußstecker geführt sind, werden üblicherweise über Adaptiervorrichtungen an die Prüfeinrichtung angeschlossen.
Für die Adaptierung einer Leiterplatte im Europaformat (100 χ 160 mm) sind z. B. zur vollständigen Kontaktierung aller möglichen Anschlußpunkte des Rasters dieser Platten (Abstand Vi0 Zoll) etwa 2500 Adapterkontakte notwendig. Für häufig vorkommende Prüflinge ist gewöhnlich eine wesentlich geringere Anzahl von Adapterkontakten erforderlich. Zum Beispiel werden bei einer Bestückungsprüfung nur etwa 10% aller möglichen Rasterpunkte kontaktiert.
Für diese mehrheitlich vorkommenden Fälle wäre die Verwendung von an allen Rasterpunkten mit Kontaktnadeln bestückten Adaptern äußerst unwirtschaftlich, denn es müßte auch das für die Weiterverbindung der Kontaktnadeln an die Prüfeinrichtung notwendige Koppelfeld entsprechend ausgebaut werden.
Andererseits erfordert eine Reduzierung des Koppelfeldes auf die zur Prüfung üblicher Prüflinge benötigte Anzahl von Anschlußpunkten für jeden Prüfling mit einem besonderen Anschlußpunktmuster einen speziellen Adapter, der nur an den den Anschlußpunkten entsprechenden Stellen mit Kontaktnadeln bestückt ist. Die Kontaktnadeln dieser Adapter sind über eine spezielle Verdrahtung mit einem Anschlußstecker für das Koppelfeld verbunden. Diese Einheit müßte beim Umrüsten auf die Prüfung eines Prüflings mit anderem Anschlußpunktmuster jedesmal ausgetauscht werden.
In der Zeitschrift »IBM Technical Disclosure Bulletin«, VoL 17, No. 2, Juli 1974, Seiten 459 bis 460 ist ein Adapter für Leiterplatten beschrieben, der als wesentliches Bestandteil eine im Rastermaß mit Kontaktnadeln vollständig besetzte Lochplatte enthält Die Kontaktnadeln sind in die Löcher der Lochplatte ίο gegen Federkraft längsbeweglich eingesetzt Die Kontaktnadeln werden durch Druckstifte betätigt, die in einer zweiten Lochplatte im Rastennaß gelagert sind. Eine prüflingskonforme Auswahl der zu betätigenden Kontaktnadeln wird durch eine zwischen die zwei Lochplatten eingelegte Lochmaske getroffen. Die Bohrungen der Lochmaske entsprechen dem Prüfstellenmuster der zu prüfenden Schaltkarte. Elektrische Anschlüsse zu einem Testautomaten oder dergleichen erfolgen über eine in dieser Literaturstelle nicht dargestellte Verteilerplatte, mit welcher die entsprechenden Druckstifte kontaktiert werden.
Ein eingangs beschriebener Adapter ist der DE-OS 27 07 900 zu entnehmen. Dort werden prüflingsseitig aus einer im Rastermaß voll mit Kontaktnadeln besetzten Lochplatte die dem Muster der Prüfpunkte auf dem Prüfling entsprechenden Kontaktnadeln ebenfalls durch eine Lochmaske ausgewählt An den dem Prüfling abgewandten Enden der Kontaktnadeln werden die ausgewählten Nadeln durch eine dem Prüfpunktmuster entsprechende Kontaktträgerplatte mit einem Koppelfeld zu einem Prüfautomaten verbunden. Zweifellos ist diese Lösung bei häufig sich ändernden Prüflingen und kleinen Stückzahlen ökonomischer als eine eigens für jedes Prüflingsmuster erstellte Lochplatte mit individuell dem Prüfling entsprechendem Kontaktnadelmuster. Es ist jedoch nicht zu leugnen, daß bei dieser Lösung viele der alle Rasterpunkte besetzenden Kontaktnadeln überflüssig sind.
Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, einen leicht für verschiedene Prüflinge umrüstbaren Adapter auf der Basis von mit Kontaktnadeln bestückten Lochplatten zu schaffen, bei dem die Bestückung mit Kontaktnadeln auf rationellere Weise erfolgen kann.
Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe bei einem eingangs beschriebenen Adapter dadurch gelöst daß die mit der Lochmaske abgedeckte Lochplatte durch Anlegen an ein Kontaktnadeln vorrätip haltendes, dem Lochraster entsprechend gerastertes Magazin mit Kontaktnadeln bestückt wird.
Mit Hilfe der Erfindung ist es möglich, für verschiedene Prüflinge eine einzige Kontaktnadeln aufnehmende Lochplatte zu verwenden, ohne daß diese Lochplatte von vornherein mit Kontaktnadeln an jedem vorkommenden Rasterpunkt bestückt ist Auch das Koppelfeld braucht nur so weit ausgebaut zu sein, daß die Anzahl der Koppelpunkte der für übliche Prüflinge auftretenden Anzahl von Anschlußpunkten entspricht
Die Erfindung wird an drei Figuren erläutert F i g. 1 stellt einen Querschnitt durch einen Adapter dar, auf den die Erfindung angewendet wird. In den
F i g. 2 und 3 wird die Bestückung einer Lochplatte mit Kontaktnadeln aus einem Nadelmagazin dargestellt. In der Schnittdarstellung der F i g. 1 ist eine Lochplatte 1 an jedem möglichen Rasterpunkt mit einer durchgehenden Bohrung 2 zur Aufnahme von Kontaktnadeln 3 versehen. Die Oberseite der Lochplatte 1 ist mit einer Lochmaske 4 abgedeckt, die nur an den den
Anschlußpunkten eines nicht dargestellten Prüflings entsprechenden Rasterpunkten Durchbrechungen 5 aufweist Durch die Durchbrechungen 5 wird die Lochplatte 1 mit den Kontaktnadeln 3 bestückt Die Unterseite der Lochplatte 1 ist mit einer Kontaktträgerplatte 6 bedeckt Die Kontaktträgerplatte 6 ist auf ihrer Unterseite mit Kontaktpunkten 7 versehen, deren Lage der Lage von Kontaktstiften 8 entspricht, die in einem Kontaktstiftträger 9 fest angeordnet sind. Die Anzahl der Kontaktstifte 8 entspricht der Anzahl der Koppelpunkte eines nicht dargestellten Koppelfeldes, zu dem Ve/bindungsleitungen 10 führen. Die Kontaktpunkte 7 auf der Unterseite der Kontaktträgerplatte 6 sind bis zu deren Oberseite durchkontaktiert und stellen so eine Verbindung zu einer gedruckten Schaltung 11 ib auf der Oberseite der Kontaktträgerplatte dar. Die gedruckte Schaltung verbindet die durchkontaktierten Kontaktpunkte 7 mit den Kontaktnadeln 3. Die Lochmaske 4 und die Kontaktträgerplatte 6 stellen die einzigen prüflingsspezifischen Bauteile des Adapters dar.
In Fig.2 steht der mit einer Lochmaske 4 abgedeckten Lochplatte 1 ein Nadelmagazin 15 gegenüber. Das Nadelmagazin enthält in Bohrungen 16, deren Anordnung dem Lochraster der Lochplatte 1 entspricht, Kontaktnadeln 3. Werden die Lochplatte 1 und das Nadelmagazin 15 aneinandergelegt, wobei Zentrierstifte 17 in entsprechende, nicht dargestellte Bohrungen der Lochplatte 1 eintreten, so können diejenigen Nadeln, für die in der Lochmaske 4 Durchbrechungen vorhanden sind, in die Lochplatte eindringen. Die übrigen Kontaktnadeln 3 werden infolge einer federnden Verkürzung in das Nadelmagazin zurückgedrückt Wird nun die Lochplatte 1 und das Nadelmagazin um 90° gedreht, so fallen die von der Lochmaske aufgenommenen Nadeln in die Lochplatte 1 und berühren mit ihrem unteren Ende die gedruckte Schaltung 11 auf der Kontaktträgerplatte 6. Diese Stellung ist in Fig.3 gezeigt Nach einer weiteren Drehung um 90° können Lochplatte 1 und Nadelmagazin 15 wieder voneinander getrennt werden. Die Lochplatte 1 ist dann entsprechend dem prüflingsspezifischen Muster der Lochmaske 4 mit Kontaktnadeln 3 bestückt
Auf ähnliche Weise können die Nadeln auch wieder in das Magazin zurückgeführt werden.
Von Fertigungsunterlagen für die Prüflingsleiterplatten (Ätzvorlagen, Bestückungsvorlagen) können zweckmäßig die Anschlußpunkte auf eine Klarsichtfolie übertragen werden, die als Bohrvorlage für die Lochmaske 4 dient
Auf einer zweiten Folie, die alle Kontaktpunkte 7 enthält, wird das Anschlußpunktmuster ebenfalls aus den Fertigungsunterlagen des Prüflings eingetragen und mit den Kontaktpunkten 7 verbunden. Die Zeichnungen auf den Folien sind mittels eines rechnergesteuerten Automaten herstellbar.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen, wie Leiterplatten, an Prüfeinrichtungen mit in rasterförmig über eine Lochplatte verteilten, diese durchdringenden Löchern, axial beweglich und beidseitig aus der Lochplatte herausragend gelagerten Kontaktnadeln und mit einer dem Muster der Anschlußpunkte des Prüflings angepaßten Kontaktträgerplatte zum Anschluß einer Auswahl von Kontaktnadeln an die Prüfeinrichtung sowie einer prüflingskonforme.i Lochmaske auf der dem Prüfling zugewandten Seite der Lochplatte, dadurch gekennzeichnet, daß die mit der Lochmaske (4) abgedeckte Lochplatte (1) durch Anlegen an ein Kontaktnadeln (3) vorrätig haltendes, dem Lochraster entsprechend gerastertes Magazin (15) mit Kontaktnadeln (3) bestückt wird.
DE19792920226 1979-05-18 1979-05-18 Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen Expired DE2920226C2 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19792954194 DE2954194C2 (de) 1979-05-18 1979-05-18 Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen
DE19792920226 DE2920226C2 (de) 1979-05-18 1979-05-18 Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19792920226 DE2920226C2 (de) 1979-05-18 1979-05-18 Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2920226A1 DE2920226A1 (de) 1980-11-20
DE2920226C2 true DE2920226C2 (de) 1983-04-07

Family

ID=6071149

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19792920226 Expired DE2920226C2 (de) 1979-05-18 1979-05-18 Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2920226C2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3606865A1 (de) * 1986-03-03 1987-09-10 Siemens Ag Vorrichtung zum bestuecken eines adapters mit kontaktnadeln fuer eine pruefeinrichtung fuer leiterplatten und flachbaugruppen
EP0238886A1 (de) * 1986-03-03 1987-09-30 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Bestücken eines Adapters mit Kontaktnadeln für eine Leiterplatten-Prüfeinrichtung

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3143768C2 (de) * 1981-11-04 1987-04-16 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Adapter zur Verbindung von in einer Ebene angeordneten Kontaktpunkten eines Prüflings mit den Anschlüssen einer Prüfeinrichtung
FR2524649A1 (fr) * 1982-04-02 1983-10-07 Thomson Csf Dispositif de controle de cartes de circuits imprimes
DE3312436A1 (de) * 1982-10-29 1984-05-03 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktiervorrichtung
US4535536A (en) * 1983-11-03 1985-08-20 Augat Inc. Method of assembling adaptor for automatic testing equipment
US4551675A (en) * 1983-12-19 1985-11-05 Ncr Corporation Apparatus for testing printed circuit boards
US4774462A (en) * 1984-06-11 1988-09-27 Black Thomas J Automatic test system
US4724383A (en) * 1985-05-03 1988-02-09 Testsystems, Inc. PC board test fixture
DE3674000D1 (de) * 1986-06-25 1990-10-11 Mania Gmbh Verfahren und vorrichtung zum elektrischen pruefen von leiterplatten.
DE3630548A1 (de) * 1986-09-08 1988-03-10 Mania Gmbh Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten mit kontaktpunkten im 1/20 zoll-raster
DE3823928A1 (de) * 1987-07-15 1989-01-26 Siemens Ag Verfahren und anordnung zur feststellung von geometriedaten bei der elektrischen pruefung von leiterplatten
DE4338135C2 (de) * 1993-11-09 2001-05-03 Testware Gmbh Ges Fuer Testsys Adaptereinrichtung zum Anschluß von Kontaktpunkten eines Prüflings an eine Prüfeinrichtung
DE19511565A1 (de) * 1995-03-29 1996-10-02 Atg Test Systems Gmbh Prüfadapter
DE102006053446A1 (de) * 2006-11-12 2008-05-15 Christian Ratzky Prüfvorrichtung für Schaltungen

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2707900C3 (de) * 1977-02-24 1980-09-04 Ante 6980 Wertheim Milkovic Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3606865A1 (de) * 1986-03-03 1987-09-10 Siemens Ag Vorrichtung zum bestuecken eines adapters mit kontaktnadeln fuer eine pruefeinrichtung fuer leiterplatten und flachbaugruppen
EP0238886A1 (de) * 1986-03-03 1987-09-30 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Bestücken eines Adapters mit Kontaktnadeln für eine Leiterplatten-Prüfeinrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
DE2920226A1 (de) 1980-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2920226C2 (de) Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen
DE3236229A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum befestigen von baugruppen mit integrierter schaltung auf einer gedruckten schaltungsplatte
DE2707900C3 (de) Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen
DE68915983T2 (de) Führungsvorrichtung für Vielfachstecker.
EP0142119B1 (de) Anordnung zur Veränderung der Kontaktabstände eines Kontaktfeldrasters an einem Leiterplattenprüfgerät
EP0224471B1 (de) Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
DE1800657C3 (de) Kontaktvorrichtung, insbesondere zur elektrischen Prüfung der Leitungszüge gedruckter oder geätzter Schaltungsplatten
EP0184619B1 (de) Leiterplatten-Prüfeinrichtung
DE2851749C2 (de)
DE2954194C2 (de) Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen
DE3148285C2 (de) Prüfadapter zum Anschließen von zu prüfenden Elektronik-Flachbaugruppen an ein Universal-Prüfgerät
DE68906982T2 (de) Adapterrahmen zum pruefen von gedruckten schaltungen hoher dichte.
DE4428797C2 (de) Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen
EP0350609A2 (de) Leiterplattenprüfgerät
EP0062833A1 (de) Adaptereinrichtung und Verfahren zur elektrischen Verdrahtungsprüfung von unbestückten Leiterplatten
DE2109067A1 (de) Einrichtung zur lösbaren Verbindung von Schaltungsmodulen mit einer Schaltungsplatte
DE7914507U1 (de) Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen
DE7031415U (de) Vorrichtung zur elektrischen pruefung von gedruckten schaltungsplatten.
DE4009296C2 (de)
WO1990012323A1 (de) Vorrichtung zum prüfen von leiterplatten
DE2229784C2 (de) Einrichtung zum Bestücken von Leiterplatten mit elektrischen bzw. elektronischen Bauelementen
DE3240415A1 (de) Nadelfelder fuer pruefautomaten
DE69634506T2 (de) Gerät zur Umsetzung eines Testrasters einer Vorrichtung zum elektrischen Prüfen von unbestückten gedruckten Schaltungen
EP0294592B1 (de) Anschlussausführung in der Leiterplattenprüftechnik
DE29817517U1 (de) Einrichtung zum Prüfen eines mit Kabeln versehenen Steckers

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
8172 Supplementary division/partition in:

Ref country code: DE

Ref document number: 2954194

Format of ref document f/p: P

Q171 Divided out to:

Ref country code: DE

Ref document number: 2954194

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
AH Division in

Ref country code: DE

Ref document number: 2954194

Format of ref document f/p: P

8339 Ceased/non-payment of the annual fee