DE2920226C2 - Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen - Google Patents
Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden PrüflingenInfo
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
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- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten
Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen, wie Leiterplatten, an Prüfeinrichtungen mit in rasterförmig über
eine Lochplatte verteilten, diese durchdringenden Löchern, axial beweglich und beidseitig aus der
Lochplatte herausragend gelagerten Kontaktnadeln und mit einer dem Muster der Anschlußpunkte des
Prüflings angepaßten Kontaktträgerplatte zum Anschluß einer Auswahl von Kontaktnadeln an die
Prüfeinrichtung sowie einer prüflingskonformen Lochmaske auf der dem Prüfling zugewandten Seite der
Lochplatte.
Bei der Prüfung von unbestückten Leiterplatten (Verdrahtungsprüfung) sowie bei der Bestückungs- oder
Funktionsprüfung von Flachbaugruppen müssen Anschlußpunkte der Leiterplatte bzw. Flachbaugruppe mit
einer Prüfeinrichtung verbunden werden. Alle Anschlußpunkte des Prüflings, die nicht an besondere
Anschlußstecker geführt sind, werden üblicherweise über Adaptiervorrichtungen an die Prüfeinrichtung
angeschlossen.
Für die Adaptierung einer Leiterplatte im Europaformat (100 χ 160 mm) sind z. B. zur vollständigen Kontaktierung aller möglichen Anschlußpunkte des Rasters
dieser Platten (Abstand Vi0 Zoll) etwa 2500 Adapterkontakte notwendig. Für häufig vorkommende Prüflinge ist gewöhnlich eine wesentlich geringere Anzahl von
Adapterkontakten erforderlich. Zum Beispiel werden bei einer Bestückungsprüfung nur etwa 10% aller
möglichen Rasterpunkte kontaktiert.
Für diese mehrheitlich vorkommenden Fälle wäre die Verwendung von an allen Rasterpunkten mit Kontaktnadeln bestückten Adaptern äußerst unwirtschaftlich,
denn es müßte auch das für die Weiterverbindung der Kontaktnadeln an die Prüfeinrichtung notwendige
Koppelfeld entsprechend ausgebaut werden.
Andererseits erfordert eine Reduzierung des Koppelfeldes auf die zur Prüfung üblicher Prüflinge benötigte
Anzahl von Anschlußpunkten für jeden Prüfling mit einem besonderen Anschlußpunktmuster einen speziellen Adapter, der nur an den den Anschlußpunkten
entsprechenden Stellen mit Kontaktnadeln bestückt ist. Die Kontaktnadeln dieser Adapter sind über eine
spezielle Verdrahtung mit einem Anschlußstecker für
das Koppelfeld verbunden. Diese Einheit müßte beim
Umrüsten auf die Prüfung eines Prüflings mit anderem Anschlußpunktmuster jedesmal ausgetauscht werden.
In der Zeitschrift »IBM Technical Disclosure Bulletin«, VoL 17, No. 2, Juli 1974, Seiten 459 bis 460 ist
ein Adapter für Leiterplatten beschrieben, der als wesentliches Bestandteil eine im Rastermaß mit
Kontaktnadeln vollständig besetzte Lochplatte enthält Die Kontaktnadeln sind in die Löcher der Lochplatte
ίο gegen Federkraft längsbeweglich eingesetzt Die Kontaktnadeln werden durch Druckstifte betätigt, die in
einer zweiten Lochplatte im Rastennaß gelagert sind. Eine prüflingskonforme Auswahl der zu betätigenden
Kontaktnadeln wird durch eine zwischen die zwei Lochplatten eingelegte Lochmaske getroffen. Die
Bohrungen der Lochmaske entsprechen dem Prüfstellenmuster der zu prüfenden Schaltkarte. Elektrische
Anschlüsse zu einem Testautomaten oder dergleichen erfolgen über eine in dieser Literaturstelle nicht
dargestellte Verteilerplatte, mit welcher die entsprechenden Druckstifte kontaktiert werden.
Ein eingangs beschriebener Adapter ist der DE-OS 27 07 900 zu entnehmen. Dort werden prüflingsseitig
aus einer im Rastermaß voll mit Kontaktnadeln besetzten Lochplatte die dem Muster der Prüfpunkte
auf dem Prüfling entsprechenden Kontaktnadeln ebenfalls durch eine Lochmaske ausgewählt An den
dem Prüfling abgewandten Enden der Kontaktnadeln werden die ausgewählten Nadeln durch eine dem
Prüfpunktmuster entsprechende Kontaktträgerplatte mit einem Koppelfeld zu einem Prüfautomaten
verbunden. Zweifellos ist diese Lösung bei häufig sich ändernden Prüflingen und kleinen Stückzahlen ökonomischer als eine eigens für jedes Prüflingsmuster
erstellte Lochplatte mit individuell dem Prüfling entsprechendem Kontaktnadelmuster. Es ist jedoch
nicht zu leugnen, daß bei dieser Lösung viele der alle Rasterpunkte besetzenden Kontaktnadeln überflüssig
sind.
Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, einen leicht für verschiedene Prüflinge umrüstbaren Adapter auf der
Basis von mit Kontaktnadeln bestückten Lochplatten zu schaffen, bei dem die Bestückung mit Kontaktnadeln auf
rationellere Weise erfolgen kann.
Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe bei einem eingangs beschriebenen Adapter dadurch gelöst daß
die mit der Lochmaske abgedeckte Lochplatte durch Anlegen an ein Kontaktnadeln vorrätip haltendes, dem
Lochraster entsprechend gerastertes Magazin mit Kontaktnadeln bestückt wird.
Mit Hilfe der Erfindung ist es möglich, für verschiedene Prüflinge eine einzige Kontaktnadeln
aufnehmende Lochplatte zu verwenden, ohne daß diese Lochplatte von vornherein mit Kontaktnadeln an jedem
vorkommenden Rasterpunkt bestückt ist Auch das Koppelfeld braucht nur so weit ausgebaut zu sein, daß
die Anzahl der Koppelpunkte der für übliche Prüflinge auftretenden Anzahl von Anschlußpunkten entspricht
Die Erfindung wird an drei Figuren erläutert
F i g. 1 stellt einen Querschnitt durch einen Adapter dar, auf den die Erfindung angewendet wird. In den
F i g. 2 und 3 wird die Bestückung einer Lochplatte mit Kontaktnadeln aus einem Nadelmagazin dargestellt.
In der Schnittdarstellung der F i g. 1 ist eine Lochplatte 1 an jedem möglichen Rasterpunkt mit einer
durchgehenden Bohrung 2 zur Aufnahme von Kontaktnadeln 3 versehen. Die Oberseite der Lochplatte 1 ist
mit einer Lochmaske 4 abgedeckt, die nur an den den
Anschlußpunkten eines nicht dargestellten Prüflings entsprechenden Rasterpunkten Durchbrechungen 5
aufweist Durch die Durchbrechungen 5 wird die Lochplatte 1 mit den Kontaktnadeln 3 bestückt Die
Unterseite der Lochplatte 1 ist mit einer Kontaktträgerplatte 6 bedeckt Die Kontaktträgerplatte 6 ist auf ihrer
Unterseite mit Kontaktpunkten 7 versehen, deren Lage der Lage von Kontaktstiften 8 entspricht, die in einem
Kontaktstiftträger 9 fest angeordnet sind. Die Anzahl der Kontaktstifte 8 entspricht der Anzahl der
Koppelpunkte eines nicht dargestellten Koppelfeldes, zu dem Ve/bindungsleitungen 10 führen. Die Kontaktpunkte
7 auf der Unterseite der Kontaktträgerplatte 6 sind bis zu deren Oberseite durchkontaktiert und stellen
so eine Verbindung zu einer gedruckten Schaltung 11 ib
auf der Oberseite der Kontaktträgerplatte dar. Die gedruckte Schaltung verbindet die durchkontaktierten
Kontaktpunkte 7 mit den Kontaktnadeln 3. Die Lochmaske 4 und die Kontaktträgerplatte 6 stellen die
einzigen prüflingsspezifischen Bauteile des Adapters dar.
In Fig.2 steht der mit einer Lochmaske 4 abgedeckten Lochplatte 1 ein Nadelmagazin 15
gegenüber. Das Nadelmagazin enthält in Bohrungen 16, deren Anordnung dem Lochraster der Lochplatte 1
entspricht, Kontaktnadeln 3. Werden die Lochplatte 1 und das Nadelmagazin 15 aneinandergelegt, wobei
Zentrierstifte 17 in entsprechende, nicht dargestellte Bohrungen der Lochplatte 1 eintreten, so können
diejenigen Nadeln, für die in der Lochmaske 4 Durchbrechungen vorhanden sind, in die Lochplatte
eindringen. Die übrigen Kontaktnadeln 3 werden infolge einer federnden Verkürzung in das Nadelmagazin
zurückgedrückt Wird nun die Lochplatte 1 und das Nadelmagazin um 90° gedreht, so fallen die von der
Lochmaske aufgenommenen Nadeln in die Lochplatte 1 und berühren mit ihrem unteren Ende die gedruckte
Schaltung 11 auf der Kontaktträgerplatte 6. Diese Stellung ist in Fig.3 gezeigt Nach einer weiteren
Drehung um 90° können Lochplatte 1 und Nadelmagazin 15 wieder voneinander getrennt werden. Die
Lochplatte 1 ist dann entsprechend dem prüflingsspezifischen Muster der Lochmaske 4 mit Kontaktnadeln 3
bestückt
Auf ähnliche Weise können die Nadeln auch wieder in das Magazin zurückgeführt werden.
Von Fertigungsunterlagen für die Prüflingsleiterplatten (Ätzvorlagen, Bestückungsvorlagen) können zweckmäßig
die Anschlußpunkte auf eine Klarsichtfolie übertragen werden, die als Bohrvorlage für die
Lochmaske 4 dient
Auf einer zweiten Folie, die alle Kontaktpunkte 7 enthält, wird das Anschlußpunktmuster ebenfalls aus
den Fertigungsunterlagen des Prüflings eingetragen und mit den Kontaktpunkten 7 verbunden. Die Zeichnungen
auf den Folien sind mittels eines rechnergesteuerten Automaten herstellbar.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen, wie Leiterplatten, an Prüfeinrichtungen mit in rasterförmig über eine Lochplatte verteilten, diese durchdringenden Löchern, axial beweglich und beidseitig aus der Lochplatte herausragend gelagerten Kontaktnadeln und mit einer dem Muster der Anschlußpunkte des Prüflings angepaßten Kontaktträgerplatte zum Anschluß einer Auswahl von Kontaktnadeln an die Prüfeinrichtung sowie einer prüflingskonforme.i Lochmaske auf der dem Prüfling zugewandten Seite der Lochplatte, dadurch gekennzeichnet, daß die mit der Lochmaske (4) abgedeckte Lochplatte (1) durch Anlegen an ein Kontaktnadeln (3) vorrätig haltendes, dem Lochraster entsprechend gerastertes Magazin (15) mit Kontaktnadeln (3) bestückt wird.
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