DE2017151A1 - Testadapter für Schaltungskarten - Google Patents
Testadapter für SchaltungskartenInfo
- Publication number
- DE2017151A1 DE2017151A1 DE19702017151 DE2017151A DE2017151A1 DE 2017151 A1 DE2017151 A1 DE 2017151A1 DE 19702017151 DE19702017151 DE 19702017151 DE 2017151 A DE2017151 A DE 2017151A DE 2017151 A1 DE2017151 A1 DE 2017151A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- contact
- measuring
- test adapter
- probe
- guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07342—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being at an angle other than perpendicular to test object, e.g. probe card
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07371—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
IBM Deutschland
Internationale Büro-Maschinen Geeelhehaft mbH
Böblingen, den 26. März 1970 Ar-ba
Anmelderin: ~. International Business Machines
Corporation, Armonk, N.Y. 10504
Amtliches Aktenzeichen: Neuanmeldung Aktenzeichen der Anmelderin: Docket EN 9-68-002
Diese Erfindung betrifft einen Testadapter für Schaltungskarten zum wahlweisen Anschluß wenigstens einer Meßsonde an die auf der
Rückseite einer Schaltungskarte befindlichen Meßstellen, wobei die Schaltungskarten in einer großen Packungsdichte auf einem
Schaltungskarten-Träger angeordnet sein können.
Testadapter die als Meßhilfsmittel an Schaltungskarten aufschiebbar
oder ansteckbar sind, ermöglichen unter Betriebsbedingungen, ohne daß ein Eingriff in die Schaltungsanlage erforderlich ist,
das Austesten bzw. Prüfen von Datenverarbeitungsgeräteh, Steuerungsanlagen usw. sowie eine erleichterte Fehlersuche an einer
gestörten Anlage. ;
Bei der Fabrikation und Wartung von elektronischen Datenverarbeitungsanlagen,
Rechengeräten oder Steuerungsanordnungen bzw. bei I der Fehlersuche sur Beseitigung von Störungen werden die Spannungspegel
und elektrischen Signale überprüft inwieweit sie den Sollwerten bei den verschiedenen Betriebszuständen entsprechen, ^T
um Unsicherheiten die zu Störungen führen können zu erkennen. 9<
r
009848/1600 Original inspected
_ ο — '
Durch die amerikanische Patentschrift 3 137 815 ist ein rationelles
Verfahren zur Analysierung der Störungsursachen bei kleinen
Radios, die eine gedruckte Schaltungskarte enthalten, bekanntgeworden , das darauf beruht, daß auf die plane Oberflächenseite der
Schaltungskarte die die Leitungszüge und die Anschlußstellen für
die Bauelemente enthält, eine Kontaktschablone aufgelegt wird, in der die Meß- und Kontrollpunkte als öffnungen und die Schaltungssymbole der Bauelemente enthalten sind. .
Eine Testeinrichtung zur Prüfung von mit Bauelementen bestückten
W Schaltungskarten wurde durch die amerikanische Patentschrift 3
489 bekannt. Bei dieser Testeinrichtung liegt die zu testende Schaltungskarte
mit ihrer planen Rückseite, die ebenfalls die Anschlußstellen
für die Bauelemente und die Leitungszüge enthält, fest auf einer Kontaktschablone, welche ebenfalls an den Meß- bzw.
TeststeIlen öffnungen aufweist, in denen sich bewegliche Kontaktstifte
befinden, die durch eine Membran-Einrichtung an die Rückseite der Schaltungskarte gedrückt werden.
Obwohl die einzelnen Bauelemente, Baugruppen, Schaltungskrelse
und die Schaltungskarten vor ihrer Montage geprüft wurden und sie den statischen Sollwerten entsprechen, ergeben sich in der kom-P
plettierten Anlage bzw. Maschine noch Unsicherheiten durch verschiedene Elnflüße, z. B. Übergangswiderstände, induktive oder
kapazitive Koppelungen, Kontaktunsicherheiten, Temperatureinflüsse usw. Die komplettierte Anlage bzw. Maschine wird deshalb zur
Erkennung der Unsicherheiten an vielen verschiedenen Punkten der einzelnen Stromkreise, insbesondere an den kritischen Stellen,
durch eine Kontrolle der Signale und Spannungspegel überprüft bzw.
getestet. Bei einem derartigen Test sollte das Auftrennen von Schaltungskreisen oder eine Änderung der Leitungsführung
vermieden werden um die wirklichen Verhältnisse nicht zu verfälschen.
Bei der derzeitig gebräuchlichen Fertigungstechnik bei der die
Bauelemente und die Schaltungsweise in Miniatur- oder Mikrobau*·
Docket· m 9-68-002 Q 0 9-β 4 8 / 1 β0θ'
weise sehr eng gepackt auf Schaltungskarten angeordnet werden,
derart daß sich die Bauelemente auf der einen Oberflächenseite der Schaltungskarte befinden und die Leitungszüge sowie die Anschlußstellen
für die Bauelemente bzw. Baugruppen auf der Rückseite der Schaltungskarte, ist die Zugänglichkeit zu den einzelnen
Meß- bzw. Testpunkten, die zum Teil sehr nahe nebeneinanderliegen
könnnen, sehr erschwert, insbesondere dadurch, daß die in den Schaltungskartenträger gesteckten Schaltungskarten eine sehr
große Packungsdichte aufweisen. Der jeweilige Abstand von zwei einander benachbarten Schaltungskarten ist sehr klein, und er
wird im wesentlichen durch die Temperatureinflüsse und durch die erforderliche Kanalgröße für die Luftzirkulation bestimmt. Bei .
einer derartigen kompakten Bauweise ist die Sicht auf die Meßbzw. Teststellen schwierig, und das Ansetzen der Meßsonden auf
diese Meß- bzw. Teststellen ist ein Problem.
Zur Lösung dieses Problems werden zur Zeit Verlängerungsstücke
benutzt, die zwischen die zu testende Schaltungskarte und den Schaltkartenträger, meistens eine Schaltungstafel, eingesetzt
werden. Durch dieses eingesetzte Verlängerungsstück ragt die zu
testende Schaltungskarte mit ihrer ganzen Länge aus dem Kartenstapel
heraus, so daß ihre Meß- bzw. Teststellen auf der Kartenrückseite
gut zugänglich sind. Derartige Verlängerungsstücke werden manchmal auch als Extender oder Testadapter bezeichnet. Durch
die amerikanischen Patentschriften 2 951 185, 2 952 810 und 2 019 wurden verschiedene Ausfuhrungsformen von derartigen Verlänge
rungsstücken bekannt.
Durch die Verwendung dieser Verlängerungsstücke wird wohl eine gute Zugänglichkeit zu den Meß- bzw. Teststellen ermöglicht, jedoch
ergibt sich dadurch der Nachteil, daß die zu testende Schaltungskarte von dem ihr zugeordneten Platz entfernt werden muß und
daß sich dadurch ihre Umgebungszustände ändern, z.B. die Temperaturverhältnisse,
induktive und kapazitive Koppelungen, Kontaktübergangswiderstände in den Steckkontakten u. a. mehr. Ein weiterer
wesentlicher Nachteil ist, daß vor dem Einsetzen der Ver-
Docket EN 9-68-002 009848/1600
längerungsstücke jeweils der Maschinenbetrieb unterbrochen und
die Maschine bzw. die Anlage abgeschaltet werden muß. Durch diese erforderliche Abschaltung kommt es vor, daß eine nur sporadisch
auftretende Störung oder Funktionsunsicherheit verlorengeht und daß dadurch z. B. keine Oszilloskop-Aufnahmen erstellt werden
können um die Störungsursache zu analysieren. .
Da die bekannten Testadapter die gestellten Forderungen nicht voll
erfüllen und bei ihrer Verwendung die vorgenannten wesentlichen Nachteile bestehen, ist es eine Aufgabe der Erfindung, einen neuen
und besseren Testadapter zu schaffen, bei dem diese Nachteile beseitigt sind. Dieser erfindungsgemäße Testadapter soll so beschaffen
sein, daß er auf jede der zu testenden Schaltungskarten bequem aufsetzbar ist., daß dabei die Schaltungskarte in ihrer Position
verbleiben kann und daß dabei keine Abschaltung des Gerätes oder der Anlage erforderlich ist. Der Testadapter soll außerdem
so gestaltet sein, daß je nach den Erfordernissen eine oder mehrere
Meßsonden ohne Schwierigkeit an den Meß- bzw. Teststellen der Schaltungskarte angesetzt werden können, wobei die Gewähr einer
guten Kontaktverbindung zwischen der Meßsondenspitze und der
Test- bzw. Meßstelle gegeben sein muß. Eine weitere Forderung ist, daß der Testadapter die zu testende Schaltungskarte nicht belastet,
so daß Unsicherheiten in den Steckkontakten zwischen der Schaltungskarte
und der Schaltungstafel vermieden werden.
Diese Aufgabe wurde erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß auf einem
auf die Schaltungskarte aufschiebbaren Rahmen der Rückseite der
Schaltungskarte gegenüberliegend eine Kontaktschablone angeordnet
ist, die über den Meßstellen liegende Öffnungen aufweist, daß die Kontaktschablone durch eine Indexplatte verlängert ist, deren Oberfläche
mit einem den Meßstellen zugeordneten Muster von Indexmarken
versehen ist, und
daß über der Kontaktschablone Führungszüge angeordnet sind, in die
in axialer Richtung verschiebbar wenigstens eine mit einer Einstellmarke versehene Meßsonde eingesetzt ist, deren federnde Kon-Docke
t en 9-68-002 009848/1600 bad
mm E\ «
taktspitze eine Öffnung durchdringt, wenn sich die Einstellmarke
auf der der öffnung zugeordneten Indexmarke befindet.
Der erfindungsgemäße Testadapter enthält einen leicht auf die
Schmalseiten der Schaltungskarte aufschiebbaren Rahmen, der etwa
1,5 bis 2 mal so lang ist wie eine Schaltungskarte. Anstelle des Rahmens sind auch Führungsleisten verwendbar. Der Rahmen ist an
seinem unteren Ende mit Ausschnitten versehen, die in Nasen oder Ansätze einrasten, die an dem Schaltungskartenträger oder an dem *
Konstant^sockel in den die Schaltungskarte eingesteckt ist, befestigt sind. Durch diese Halterung ist die Schaltungskarte von dem "
Testadapter entlastet. Im Bereich der Schaltungskarte, wo sich
die Anschlußstellen der Bauelemente bzw. die Meß- oder Teststellen befinden, ist der Rahmen mit einer plattenförmigen Kontaktschablone
versehen, die an den Stellen, die den Meß- bzw. Teststellen auf der Schaitungskarte .gegenüberliegen, mit- vorzugsweise trichterförmigen öffnungen versehen ist. Ist der Testadapter
auf eine Schaitungskarte aufgeschoben., dann liegt die Kontaktschablone möglichst dicht auf der Rückseite der Schaltungskarte.
Neben der Kontaktschablone in der gleichen Ebene liegend, ist im
oberen Teil des Rahmens eine Indexplatte befestigt, die mit einem
Muster versehen ist, den sogenannten Indexmarken, welche den Meßbzw, den Teststellen auf der Schaltungskarte bzw. den öffnungen -.Ja
in der Kontaktschablone zugeordnet sind. Dieses Muster dient zusammen
mit einer Einstellmarke in der Sondenstange als Index und
erleichtert das Einstellen der Meßsonde auf die gewählte Meßbzw. Teststelle. Bei auf dieSchaitungskarte aufgesetzten Testadaptern ragt die Indexplätte über die Schaltungskarten heraus* in
den freien Raum,:die Indexmarken sind somit gut sichtbar und die
Indexplatte sowie die Meßsonde ist gut zugänglich. Über der Kontaktschablone
ist eine aus Isoliermatörial' bestehende Führungsplatte angeordnet, die diese teilweise oder ganz abdeckt. Diese "":"■"
Führungsplatte 1st mit offenen Fülirungszügen die als Führung?-■.
kanülegestaltetsind versehen,-deren Mittelachse mit den ReihenkontaRfcateilen
auf der Rücksette der Schaltungskarten übereinst unman* In jeden' Ftthru'riipskanal ist eine MeBnonde sinschJ,efobar,
diese kann in einem gewissen Bereich in axialer Richtung von einer Meßstelle zu einer anderen Meßstelle in der Kontaktreihe verschoben
werden. Die Meßsonde besteht aus einer Sondenstange, an deren vorderem Ende isoliert von der Sondenstange eine Blattfeder
befestigt ist, deren Spitze mit einem vorzugsweise konischen Kontaktstück bestückt ist. Eine sehr flexible Meßleitung verbindet
die Meßsonde mit der Testapparatur. Die Meßsonde wird auf eine Meß- bzw. Teststelle durch eine axiale Verschiebung der Sondenstange
eingestellt, indem die Einstellmarke auf der Sondenstange auf
die entsprechende Indexmarke in der Indexplatte geschoben wird. In dieser Stellung durchdringt das unter Federdruck stehende Kontaktstück
der Sondenspitze die öffnung in der Kontaktschablone, die über der gewählten Meß- bzw. Teststelle liegt und stellt eine
sichere Kontaktverbindung her. Die Meßsonde wird in dieser Einstellung
durch zwei Klammern, die auf der Indexplatte angeordnet sind, in ihrer Position fixiert.
Dieser erfindungsgemäße Testädapter hat außer den Vorteilen, daß
die Schaltungskarten an denen die Signale und Pegel geprüft werden, nicht aus ihrer Halterung und Kontaktkupplung herausgezogen
werden müssen und daß keine Abschaltung des Betriebsvörgariges
mehr erforderlich ist, hoch die weiteren Vorzüge, daß die-Meßsonden eine gute Kontaktverbindung mit der Meß- bzw. Teststelle auf
der Schaltungskarte bilden und daß die Meßsonde durch die'Klammern
sicher festgehalten werden, so daß die Bedienungsperson sich
der Testapparatur voll zuwenden kann.
Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Testadapters ist in seinem Aufbau und in seiner Wirkungsweise im folgenden
an Hand von Zeichnungen (Fig. 1 bis 4) ausführlicher beschrieben.
Es stellen dar:
Fig. l Eine isometrische Ansicht, eines erfindungsgemäßen
Testadapters für Schaltüngskarten, der
unter anderem eine Meßsonde, eine Führungseinrichtung und eine Kontaktschablone enthält*
^Docket KN B--6H-OO2 0 0 r) B 4 8 / 1 G Öü · BAD ORIGINAL
Flg. 2 Eine Kontaktverbindung des Testadapters zwischen
der Spitze der Meßsonde, die durch eine Öffnung
in der Kontaktschablone ragt und an einer Kontaktwarze
auf der Rückseite einer Schaltungskarte auf-. ; - ,■'■ ; . . liegt. \ . .■"■"*■ " - : " - " ;■■■■ -
Fig. 3 V Eine Draufsieht auf den Rahmen des Testadapters,
der mit einer matrizenförmigen Kontaktschablone versehen ist. Das Führungsteil und die Meßsonde
wurden zwecks besserer Anschaulichkeit vom Rahmen entfernt. . %
Fig. 4 Eine Untersicht des Führungsteils im Testadapter
mit den kanalförmigen Zügen zur Aufnahme und • Führung der Meßsonde.
Aus den Figuren 1, 2 und 3 ist zu ersehen, daß der erfindungsgemäße Testadapter wenigstens eine in Führungszügen (folgend Führung skanä Ie 18 genannt) in Längsrichtung verschiebbare Meßsonde
und eine plane Kontaktschablone 10 enthält. Die Kontaktschablone
10 besteht aus elektrisch nichtleitendem Material und hat die
Form einer Karte, deren Größe etwa der Größe einet zu testenden
Schaltungskarte 11 oder Schalttafel entspricht. Die Kontaktscha- λ
blone 10 liegt bei aufgeschobenem Testadapter genau fixiert unmittelbar
neben der die die Anschlußpunkte ^- die als Meßstellen
dienen - enthaltenden Rückseite der Schaltungskarte 11. Die Vorderseiten der Schaltungskarten 11 sind mit den elektrischen Bauelementen bestückt. Entsprechend der jeweiligen Testaufgabe ist
die Kontaktschablone 10 an den Stellen, die über den Meßstellen
auf der Schaltungskarte 11 liegen, mit Löchern 12 versehen. Die Kontaktschablone 10 weist somit ein Muster von Löchern 12 auf,
die genau und deckungsgleich über den auf der Rückseite der Schaltungskarte
11 befindlichen Meßstellen der gedruckten Schaltung liegen und die diesen Meßstellen zugeordnet sind. Zwecks Herstellung
einer Kontaktverbindung zwischen einer gewählten Meßstelle
auf der kartenrückseite und dem Test™, bzw.. Meßgerät durchdringt
Docket EN 9-68-002 009848/1800 SÄDQR{GfNAL
bei richtiger Einstellung der Meßsonde das Kontaktstück auf der
federnden Sondenspitze 13, das über der Meßstelle liegende Loch
12 in der Kontaktschablone .10 und liegt mit einem vorbestimmten Kontaktdruck auf der Meßstelle auf (Fig. 2). Die Meßsonde besteht
aus einer Sondenstange 15, an deren vorderem Ende ein federnder Sondenarm 14, der eine Blattfeder sein kann, elektrisch isoliert
befestigt ist und in dessen Spitze auf der Unterseite als Sondenspitze 13 ein Kontaktstück eingesetzt ist. An der Sondenstange
ist eine sehr flexible, zur Test- oder Meßeinrichtung führende, Meßleitung 16 befestigt, deren Leitungsader mit dem Sondenarm
verbunden ist und somit auch mit dem Kontaktstück der Sondenspitze
13. Die in Längsrichtung verschiebbare Sondenstange 15 hat bevorzugt einen kreisförmigen oder rechteckförmigen Querschnitt, jedoch
ist eine andere Querschnittsform, ebenfalls geeignet. Der Sondenarm
14 ist eine an den beiden Endseiten leicht gekröpfte Blattfeder aus elektrisch leitendem Material.
Der Testadapter in diesem Ausführungsbeispiel enthält außer den
bereits vorstehend erwähnten Teilen noch eine Führungsplatte 17, die zweekmäßigerweise aus einem elektrisch nicht leitendem Material
bestehen sollte. Diese Führungsplatte 17 ist an ihrer Unterseite mit einer Anzahl offener, sich in Längsrichtung erstreckender
Führungskanäle 18 versehen, die als Führungszüge für die Meßsonde dienen und die jeweils zueinander den gleichen Abstand aufweisen,
entsprechend dem Abstand der Meß- bzw. der Anschlußstellen auf der Rückseite der Schaltungskarte 11. Die Führungsplatte
17 ist über der Kontaktschablone 10 angeordnet und deckt diese ganz oder teilweise ab, je nachdem wie die Meßstellen auf der
Schaltungskarte 11 liegen. In jeden Führungskanal 18 der Füh- . rungsplatte 17 ist den Erfordernissen entsprechend eine Meßsonde
einsetzbar, deren Führungsstange 15 im Führungskanal 18 in Längsrichtung
verschiebbar ist. Beim Test wird die Meßsonde so verschoben, daß die Sondenspitze 13 das Loch 12 über der gewählten
Meßstelle auf der Schaltungskarte 11 durchdringt und die gewünschte Kontaktverbindung zwischen dem Prüfling und der Testein-
Docket EN 9-68-002 QÜ'9 848/16 00
richtung herstellt. Der Testadapter enthält in seinem Rahmen eine Indexplatte 19, die in der gleichen Ebene wie die kontaktschablone
10 liegt, und neben dieser und der Führungsplatte 17 angeordnet
ist. In diesem Ausführungsbeispiel liegt die Indexplatte 19 in Längsrichtung der Schaltungskarte 11, also vor der Kontaktschablone
10. Die Indexplatte 19 kann jedoch auch seitlich neben der Kontaktplatte 10 angeordnet werden, so daß die Meßsonde senkrecht zur Längsachse der Schaltungskarte 11 liegt. Auf der Indexplatte
19 sind Klammern 20 befestigt, von denen jeweils ein paar einem Führungskanal 18 zugeordnet und so angeordnet sind, daß sie g
in Längsrichtung zu einem Führungskanal 18 liegen. Die Klammern 20 dienen zum Festhalten der Sondenstange 15, wenn sich die Meßsonde
in einer gewählten Testposition befindet und eine Kontaktverbindung
zwischen der Sondenspitze 13 und der gewählten Meßstelle besteht. Sehr zweckmäßig ist es, daß die zur Meßsonde zeigende
Oberfläche der Indexplatte 19 mit einem Muster von Indexmarken versehen ist, das in gleicher Relation die Meßstellen auf
der Schaltungskarte 11 zeigt. Durch eine Einstellmarke auf der Sondenstange 15, welche bei der Einstellung einer Meßstelle auf
die dieser Meßstelle zugeordnete Indexmarke deckungsgleich zu
bringen ist, wird die Einstellung der Meßsonde auf die gewählte Meßstelle sehr erleichtert. Da die Indexmarken und die Indexplatte
19 für die Bedienungsperson gut sichtbar sind, ergeben sich ™
keine Einstellschwierigkeiten für die Meßsonden.
Der Rahmen bzw. die Führungsleisten des Testadapters sind am unteren
Ende, das über die Schaltungskarte 11 bis zur Steckkupplung geschoben
wird, mit rec'hteckförmigen Ausschnitten 21 versehen. Diese Ausschnitte 21 dienen als Teil einer Halteeinrichtung zur Fixierung
des Testadapters,wenn dieser auf eine Schaltungskarte 11 aufgesetzt
i3t, indem in die Ausschnitte Nasen oder sonstige Ansätze einrasten, die vorzugsweise am Stecksockel der die Schaltungskarte 11 aufnimmt
oder am Träger für die Schaltungskarten befestigt sind.Durch diese einrastende und lösbare Halteeinrichtung wird die zu testende
Schaltungskarte 11 sicher in ihrer Betriebslage gehalten, und es sind keine zusätzlichen Wackelkontakte bzw. Kontaktunsi-
Docket EN 9-68-002 QQ9848/16D0 . BAD ORIGINAL
Sicherheiten zu erwarten die durch den aufgesetzten Testadapter
verursacht werden. Die Schaltungskarte kann somit in ihrer normalen
Betriebsposition getestet werden.
Der Testadapter kann jeweils auf die zu testende Schaltungskarte
11 aufgesetzt werden, ohne daß diese von der Schalttafel auf die sie aufgesteckt ist herausgezogen werden muß. Die Schaltungskarte
braucht beim Anbringen des Testadapters auch ihre seitliche Lage nicht verändern, sondern kann in der Lage verbleiben, in der sie
_ in die Schalttafel eingesetzt wurde. Beim Test liegen somit noch
™ die gleichen Verhältnisse vor, wie sie auch beim Betrieb der
Schaltungskarte 11 in einem datenverarbeitenden Gerät oder in
einer Steuerungsanlage bestehen bzw. bestanden. Wenn der-erfindungsgemäße
Testadapter richtig auf die Schaltungskarte -11 aufgesetzt und die Halterung eingerastet ist, wird je nach der vorliegenden
Testaufgabe wenigstens eine Meßsonde in den Führungskanal
18 der Führungsplatte 17 eingesetzt, und die Sonäemstange
15 wird in axialer Richtung so verschoben, bis deren Sonöeaspitze
13 in die öffnung 12 der Kontaktschablone 10 einrastet, die der
Test- bzw. Meßstelle der Schaltungskarte 11 zugeordnet ist. Die
richtige Test- bzw. Meßstelle ist mit Hilfe der Indexnsarkem auf
der Indexplatte 19 gut zu finden, da die Indexplatte 19 über die
^ anderen benachbarten Schaltungskarten 11 hervorragt, demzufolge
ist das Indexmuster gut sichtbar und auch die Sondenstange 15
ist bequem zugänglich.
Die Löcher 12 in der Kontaktschablone sind möglichst klein gehalten
und das seitliche Spiel der eingerasteten Sondenspit&e auf ein Mindestspiel zu reduzieren und um die Gewähr zn haben,
daß durch die Sondenspitze 13 die Meßstelle auf der ''Schal tongs karte
11 richtig erfaßt wird und daß eine sichere Kontaktwsrhindung
besteht. Um dieses Ziel zu erreichen ist es zweckmäßig, sowohl
das Kontaktstück der Sondenspitze 13 als auch die Löcher
in der Kontaktschablone 10 konisch zu gestalten um eine Selbstzentrierung zu bekommen, wenn die Sohdenspitze 13 in eines der Löcher
12 einragt bzw. durchdringt.
• BAD ORIGINAL
Docket EN 9-68-002 009848/1 G 00'
- - :' .-;■'-■ ■■".■ ■-.'... ■■: .■ ' ■■ - 11 - ; .-,■'. . ■ ■ ' - ■-■■■■"■.'■ . -..^v
Während in dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Testadapters die Kontaktschablone und die
Indexplatte so angeordnet sind, daß die Meßsonde in Längsrichtung der Schaltungskarte liegt, kann der Testadapter in einer anderen
Ausführungsart auch so gestaltet werden, daß die Indexplatte 19
seitlich neben der Kontaktschablone 10 angeordnet ist,so daß die
Meßsonde, eine oder mehrere, seitlich in den Testadapter eingeschoben
werden. Ebenfalls kann anstelle der Führungsplatte 17 für die,
Führungszüge eine andere Ausführungsart gewählt werden, z. B. derart, daß die Führungszüge durch mit der Kontaktschablone verbun- "—'■■*
dene Führungsleisten gebildet werden.
Docket EN 9-68-002 009848/1600
Claims (9)
- -12 .-PATENTANSPRÜCHETestadapter für Schaltungskarten zum wahlweisen Anschluß wenigstens einer Meßsonde an die auf der Rückseite einer Schaltungskarte befindlichen Meßstellen,dadurch gekennzeichnet, daß auf einem auf die Schaltungskarte (11) aufschiebbaren Rahmen der Rückseite der Schaltungskarte gegenüberliegend eine Kontaktschablone (10) angeordnet ist, die über den Meßstellen liegende öffnungen (12) aufweist, daß die Kontaktschablone durch eine Indexplatte (19) verlängert "ist, deren Oberfläche mit einem den Meßstellen zugeordneten Muster von Indexmarken versehen ist, unddaß über der Kontaktschablone Führungszüge (18) angeordnet sind, in die in axialer Richtung verschiebbar wenigstens eine mit einer Einstellmarke versehene Meßsonde eingesetzt ist, deren federnde Kontaktspitze eine öffnung durchdringt,. wenn sich die Einstellmarke auf der der öffnung zugeordneten Indexmarke befindet.
- 2. Testadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßsonde aus einer Sondenstange (15.) und einer daran elektrisch isoliert befestigten Sondenspitze (13) besteht. die mit einer flexiblen Meßleitung (16) verbunden ist,daß die Sondenstange mit der Einstellmarke versehen ist, und daß die Sondenspitze aus einer leitenden Blattfeder besteht und einem,in deren freiem Ende eingesetzten Kontaktstück.
- 3. Testadapter nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, oiaß zur Selbstzentrierung das KontaktstückDocket EN 9-68-002 0098487 1600 . ... BADORiGlNALin der Sondenspitze und die öffnungen in der Kontaktschablone konisch sind.. .
- 4. Testadapter nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf der Indexplatte (19) für jeden Führungszug (18) zur Fixierung der Meßsonde Halteklammern (20) angeordnet sind.
- 5. Testadapter nach einem der Ansprüche 1 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Führungszüge als Führungfekanäle gestaltet und in einer Führungsplatte (17) aus isolieren- g dem Material enthalten sind, daß die Führungszüge zueinander den gleichen Abstand wie die öffnungen in der Kontaktschablone aufweisen und daß die Führungsplatte über der Kontaktschablone angeordnet ist.
- 6. Testadapter nach einem der Ansprüche 1, 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Indexplatte (19) neben der Kon-; ' taktschablone (10) in der gleichen Ebene liegend und die Führungszüge (18) in Längsrichtung zur Schaltungskarte:'"'··. (11). angeordnet sind.■ '..'■■
- 7. ;;.;;. .rTestädapter nach einem der Ansprüche 1, 4 oder 5,dadurchgekennzeichnet, daß die Indexplatte (19) neben der Kontakt- Λ schablone (10) in der gleichen Eben liegend und die Führungszüge (18) quer zur Längsrichtung der Schaltungskarte (11) angeordnet sind.
- 8. Testadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Rahmen mit einer lösbaren Halteeinrichtung versehen ist, die in eine an dem Schaltungskartenträger angeordnete Vorrichtung einrastet. . ■ = .
- 9. Testadapter nach einem der Ansprüche 1 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Rahmen an seinem unteren Ende Ausschnitte (21) aufweist, in die auf dem SchaTtüngskartenträger angeordnete nasenförmige Ansätze eingreifen.Docket EN,9-63-002 O09848Z16U0-;
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US82481869A | 1969-05-15 | 1969-05-15 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2017151A1 true DE2017151A1 (de) | 1970-11-26 |
Family
ID=25242393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19702017151 Pending DE2017151A1 (de) | 1969-05-15 | 1970-04-10 | Testadapter für Schaltungskarten |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3684960A (de) |
JP (1) | JPS515506B1 (de) |
CA (1) | CA921119A (de) |
DE (1) | DE2017151A1 (de) |
FR (1) | FR2046216A5 (de) |
GB (1) | GB1246608A (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3847479A (en) * | 1972-12-05 | 1974-11-12 | Xerox Corp | Cover for wire wrapped card chassis |
CA1163721A (en) * | 1980-08-18 | 1984-03-13 | Milan Slamka | Apparatus for the dynamic in-circuit testing of electronic digital circuit elements |
FR2521305A1 (fr) * | 1982-02-10 | 1983-08-12 | Crouzet Sa | Dispositif de controle de l'isolement des circuits imprimes |
US4812745A (en) * | 1987-05-29 | 1989-03-14 | Teradyne, Inc. | Probe for testing electronic components |
US4895033A (en) * | 1987-12-21 | 1990-01-23 | Voss Jorgen T | Sample holder for use in the grinding or polishing of samples |
US4858479A (en) * | 1987-12-21 | 1989-08-22 | Struers A/S | Methods and means for use in examining the quality of plated-through holes in circuit boards |
US20030048108A1 (en) * | 1993-04-30 | 2003-03-13 | Beaman Brian Samuel | Structural design and processes to control probe position accuracy in a wafer test probe assembly |
JP2001056346A (ja) * | 1999-08-19 | 2001-02-27 | Fujitsu Ltd | プローブカード及び複数の半導体装置が形成されたウエハの試験方法 |
-
1969
- 1969-05-15 US US824818A patent/US3684960A/en not_active Expired - Lifetime
-
1970
- 1970-04-10 DE DE19702017151 patent/DE2017151A1/de active Pending
- 1970-04-16 FR FR7014117A patent/FR2046216A5/fr not_active Expired
- 1970-04-20 JP JP45033061A patent/JPS515506B1/ja active Pending
- 1970-04-27 CA CA081128A patent/CA921119A/en not_active Expired
- 1970-05-04 GB GB21303/70A patent/GB1246608A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS515506B1 (de) | 1976-02-20 |
CA921119A (en) | 1973-02-13 |
FR2046216A5 (de) | 1971-03-05 |
GB1246608A (en) | 1971-09-15 |
US3684960A (en) | 1972-08-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0285799B1 (de) | Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten | |
DE2360801A1 (de) | Pruefeinrichtung mit kontaktiereinrichtung | |
EP0915342B1 (de) | Prüfkopf für Mikrostrukturen mit Schnittstelle | |
DE2744299C2 (de) | Verfahren zum elektrischen Prüfen eines Leiterbahnmusters auf einem Substrat | |
EP0250620B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum elektrischen Prüfen von Leiterplatten | |
DE3320418A1 (de) | Auf einer gemeinsamen tragschiene montierter apparatesatz | |
EP0838688A2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten | |
DE2017151A1 (de) | Testadapter für Schaltungskarten | |
DE1490751B2 (de) | Tafel fuer schaltgeraete zur selbsttaetigen steuerung elektrischer anlagen | |
DE2046430C3 (de) | Prüfanordnung zum Anschalten von zu prüfenden Ausrüstungen, wie Relaisschutz- und Automatikausrüstungen, an Prüfapparate | |
DE2654487A1 (de) | Vorrichtung zur elektrischen absicherung des elektrischen leitungsnetzes in motorfahrzeugen | |
EP0238801A1 (de) | Mehrpolige elektrische Steckverbindung | |
DE2633175A1 (de) | Verfahren zur durchfuehrung von arbeitsschritten an mehreren schaltkreistraegern und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens | |
DE102020130345A1 (de) | Klemme für elektrische Leitungen | |
DE2051052A1 (de) | Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten | |
EP1166395B1 (de) | Gerät mit einer kontaktierungseinrichtung für ein formkodiertes flachkabel | |
DE3722485C2 (de) | ||
DE3507619C2 (de) | Adapter für ein Leiterplattenprüfgerät | |
DE3904542C2 (de) | Kontaktvorrichtung | |
DE2053225C3 (de) | Gedruckte Schaltungsplatte | |
DE2019493B2 (de) | Vorrichtung zum auftrennen einer leiterbahn auf einer leiterplatte und zum anschliessen eines stromkreises an dieselbe | |
DE2019493C (de) | Vorrichtung zum Auftrennen einer Leiterbahn auf einer Leiterplatte und zum Anschließen eines Stromkreises an dieselbe | |
DE1615576B1 (de) | Drahthaltevorrichtung | |
DE3533810A1 (de) | Adapter zum pruefen von leiterplatten-baugruppen | |
DE102018221660A1 (de) | Universell einsetzbares Isoliereinsatzteil, mehrpolige Steckeranordnung mit einem Isoliereinsatzteil |